金属膜量仪

1．金属膜反射镜:A镀铝膜反射镜: 命名规则:OMAlxxx(直径)-xx(厚度)P(保护)E(增强)UVE(紫外增强型)铝膜的特性铝膜的特性: ◆反射特性曲线平坦,波长范围较宽,反射率高,价格便宜  ◆反射率受波长及入射角变化的影响小  ◆膜表面的机械硬度都不高,保护铝膜(Al+MgF2)可用含有有机溶剂的棉棒清洁，但纯铝膜(普通铝膜)，比较软,不可擦拭,需要定期更换 ◆不适用于强激光 铝膜的反射率指标（供参考）种类200 ～ 400nm400 ～ 700nm700 ～ 1000nm1 ～ 10&mu mAl&ge 85% (平均值)&ge 90% (平均值)&ge 90% (平均值)&ge 95% (平均值)Al+MgF2(保护铝) &ge 85% (平均值)&ge 80% (平均值)&ge 95% (平均值) 1)铝膜及保护铝膜反射镜选型表OMAL系列镀铝膜反射镜型号名称面精度直径厚度OMAL20-4镀铝膜反射镜&lambda /4&phi =20mmT=4OMAL25-4镀铝膜反射镜&lambda /4&phi =25mmT=4OMAL25.4-4镀铝膜反射镜&lambda /4&phi =25.4mmT=4OMAL30-4镀铝膜反射镜&lambda /4&phi =30mmT=4OMAL50-6镀铝膜反射镜&lambda /4&phi =50mmT=6OMAL20-4P保护铝膜反射镜&lambda /4&phi =20mmT=4OMAL25-4P保护铝膜反射镜&lambda /4&phi =25mmT=4OMAL25.4-4P保护铝膜反射镜&lambda /4&phi =25.4mmT=4OMAL30-4P保护铝膜反射镜&lambda /4&phi =30mmT=4OMAL50-4P保护铝膜反射镜&lambda /4&phi =50mmT=6注:增强铝膜反射镜和紫外增强铝膜反射镜可批量定制或选择我公司代理的进口产品.2)增强铝膜及紫外增强铝膜反射镜（进口）选型表：EAV-PM系列增强铝膜反射镜（CVI Melles Griot）型号名称面精度直径（mm）厚度（mm）EAV-PM-0537-C增强铝膜反射镜&lambda /1012.79.5EAV-PM-1037-C增强铝膜反射镜&lambda /1025.49.5EAV-PM-2037-C增强铝膜反射镜&lambda /1050.89.5PAUV-PM系列紫外增强铝膜反射镜（CVI Melles Griot）型号名称面精度直径（mm）厚度（mm）PAUV-PM-0537-C紫外增强铝膜反射镜&lambda /1012.79.5PAUV-PM-1037-C紫外增强铝膜反射镜&lambda /1025.49.5PAUV-PM-2037-C紫外增强铝膜反射镜&lambda /1050.89.5B.镀银膜反射镜:1)OMAg系列保护银膜反射镜: 命名规则: OMAgxxx(直径)-xx(厚度)P(保护) 保护银膜反射率参考曲线OMAg系列镀银膜反射镜型号名称面精度直径厚度OMAg20-4P保护银膜反射镜&lambda /4&phi =20mmT=4OMAg25-4P保护银膜反射镜&lambda /4&phi =25mmT=4OMAg25.4-4P保护银膜反射镜&lambda /4&phi =25.4mmT=4OMAg30-4P保护银膜反射镜&lambda /4&phi =30mmT=4OMAg50-6P保护银膜反射镜&lambda /4&phi =50mmT=62)保护银膜反射镜（进口）反射曲线： PS-PM系列保护银膜反射镜（CVI Melles Griot）选型表：型号名称面精度直径（mm）厚度（mm）PS-PM-0537-C保护银膜反射镜&lambda /1012.79.5PS-PM-1037-C保护银膜反射镜&lambda /1025.49.5PS-PM-2037-C保护银膜反射镜&lambda /1050.09.5PS-PM-4050-C保护银膜反射镜&lambda /10101.612.7 C.镀金膜反射镜: 命名规则:OMAuxxx(直径)-xx(厚度)P(保护)镀金膜反射镜反射率参考曲线: 镀金膜的反射特性(供参考):带域可见光可见光可见光可见光可见光可见光红外红外红外红外波长 (nm)450500550600650700750800850900Au膜反射率(%)32456880868992949596带域红外红外红外红外红外红外红外红外红外红外波长 (nm)9501000150020002500300040005000550010000Au膜反射率(%)97989898989898989898OMAu系列镀金膜反射镜选型表：OMAu20-4镀金膜反射镜&lambda /4&phi =20mmT=4OMAu25-4镀金膜反射镜&lambda /4&phi =25mmT=4OMAu25.4-4镀金膜反射镜&lambda /4&phi =25.4mmT=4OMAu30-4镀金膜反射镜&lambda /4&phi =30mmT=4OMAu50-6镀金膜反射镜&lambda /4&phi =50mmT=6　　　　　OMAu20-4P保护金膜反射镜&lambda /4&phi =20mmT=4OMAu25-4P保护金膜反射镜&lambda /4&phi =25mmT=4OMAu25.4-4P保护金膜反射镜&lambda /4&phi =25.4mmT=4OMAu30-4P保护金膜反射镜&lambda /4&phi =30mmT=4OMAu50-6P保护金膜反射镜&lambda /4&phi =50mmT=6D.其他金属膜反射镜离轴抛物面反射镜（镀铑膜） 尺寸对照表及选型表(CVI)：

ANDalyze便携式重金属测量仪可测量饮用水、地表水和工业废水中可溶性的重金属含量，包含铜、铅、汞、镉、铀和锌等。 DNA酶测试技术ANDalyze独有的DNA传感器在接触目标污染物（比如铅）时存在时会产生荧光。荧光计检测产生荧光的强度以测定待测重金属的浓度，并给出ppb或ppm为单位的测试结果。测试方法是取1毫升的水样，通过传感器注射到荧光计内的比色皿中，荧光计在一分钟内自动完成分析并给出待测物浓度。 赢得美国环保局(EPA)奖项ANDalyze手持式测试技术可在几十秒内在现场对重金属污染物完成准确的测试分析，符合美国的EPA测试标准。这是一种具有突破性的产品，它高效、准确和使用方便，不需要特别的专业技能或化学知识便能熟练操作。它不含任何有害有害材料或副作用。此外，该产品通过简化测试过程可降低测试费用。 功能特点：? 操作简单——非专业人员也能熟练操作? 高灵敏性和选择性——低ppb级测量范围? 扩展性强——单台主机可测量多个重金属参数? 一分钟测试——快速、简洁的菜单显示，一键启动样品分析? 荧光传感器——通过DNA酶反应产生定量荧光给出结果? 传感器测试包——不同颜色标记的传感器可测试不同的重金属，测试包标配所有需要的备件? 数据采集与报告——测量结果带日期、时间及地点。可通过USB数据线下载数据及充电? 零维护及安全性——CE认证，保护等级IP54。并可通过USB数据线从网上进行免费下载软件升级? 视频培训——主机上可观看教学培训视频，无需培训文档? 支持多语言——可选择中文操作界面? 环保——不含有毒有害试剂，废弃物无需特殊处理 测量参数及范围金属参数量程金属形态颜色标记铅2 - 100 ppbPb2+绿（参考下图给每个颜色加底色）铜（高量程）0.6 - 3 ppmCu+/Cu2+蓝铜（低量程）40 - 200 ppbCu+/Cu2+蓝铀2 - 60 ppb四价铀，UO22+橙汞2 ppb (阴性/阳性)Hg2+银灰锌1 - 15 ppmZn2+白镉0.1 - 1 ppmCd2+黄即将推出 铬，砷，及其它测试包 订货指南订货号描述AND002AND1100便携式重金属测量仪AND010铅套装（25次），范围：2 ~ 100 ppb Pb2+AND011铀套装（25次），范围：2 ~ 60 ppb UO2+AND012铜（低浓度）套装（25次），范围：40 ~ 200 ppb Cu2+AND013铜（高浓度）套装（25次），范围：0.6 ~ 3.0 ppm Cu2+AND014汞套装（25次），阳性表示水样中汞浓度大于2ppb，阴性表示汞浓度低于2ppbAND015锌套装（25次），范围：1 ~ 15 ppm Zn2+AND016镉套装（25次），范围：0.1 ~ 1.0 ppm Cd2+AND900过滤套装（25次），包含针头过滤器、20mL注射器、50mL样品试管，操作手册AND901稀释套装（25次），包含5mL固定式移液器，5mL移液枪头，50mL样品试管，操作手册AND902铁离子干扰屏蔽套装，铁浓度较高30ppb时使用AND903pH调节套装

1. 产品概述LMEC-300&trade 是鲁汶仪器针对特种金属膜层刻蚀而推出的 12 英寸集成设备，应用于新兴存储器件的制备。此类器件的核心功能单元含有成分复杂的金属叠层，例如磁存储器的磁隧道节（MTJ）、相变存储器中的合金相变层、阻变存储器中的阻变叠层。其副产物不易挥发，图形化挑战很大。 LMEC-300&trade 反应离子刻蚀与离子束刻蚀协同工艺，可规避 RIE 路径的侧壁沾污问题，也可突破 IBS 路径的工艺线宽局限。薄膜沉积腔室可以不脱离真空环境为器件覆盖钝化层，避免侧壁金属氧化、水化，从而改善可靠性。这种 RIE、IBS与原位钝化工艺集成方案，使 LMEC-300&trade 成为新兴存储器件关键工艺的优选。2. 系统特性设备集成了 Chimera® N 反应离子刻蚀（RIE）腔室、Pangea® A 离子束塑形（IBS）腔室、Basalt® A 原位（in-situ）沉积腔室，工艺不离开真空环境对于磁隧道结等难于形成挥发性产物的金属/合金叠层，该设备可实现等离子体刻蚀、干法清洗和原位钝化保护的功能可提供不同工艺解决方案，满足磁存储器（MRAM）、相变存储器（PCRAM）、阻变存储器（ReRAM）、磁传感器等器件的图形化需求可选配硬掩模刻蚀腔室 Chimera® A，形成从金属硬掩模到器件功能层的一体化刻蚀方案适用于12英寸晶圆

可见 - 近红外金属镀膜中性密度滤光片， 采用光学级浮法玻璃经过精密加工抛光，表面光学质量及 平行度都达到较高等级。这类滤光片由于其基片特性，光 谱范围从可见到近红外都有平坦的光谱响应。可广泛应用于光谱测量，成像光学系统，机器视觉系统，以及低功率 激光器的光输出衰减等应用。（我公司提供标准 OB 光桥 系统滤光片安装环。标准螺纹接口极大地方便了不同光密 度滤光片之间的互连，互配

名称：四探针电阻测量仪图片：品牌：KLA 集团旗下品牌 Filmetreics型号：R50用途：金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测。优势 :1)接触式四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)2) 100mm Z行程，高精度控制 3)导体和半导体薄膜电阻，10个数量级范围适用 4)测试点自定义编辑，包括矩形、线性、极坐标 以及自定义配置 5)200mm XY电动平台 6)RSMapper软件灵活易用 7)兼容KLA所有电阻测试探针应用市场：1）半导体 2）化合物半导体 3）先进封装4）平板和VR显示 5）印刷电路 6）穿戴设备 7）导电材料8）太阳能

薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪无纺布材料厚度检测仪是一种专业设备，用于精确测量无纺布以及其他薄型材料的厚度。这类仪器设计精密，确保在生产、质量控制和研究中提供准确的厚度数据。以下是基于通用参数和功能的详细介绍：薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪基本参数与特点：测量范围：0～2 mm（标准量程）（0-6mm，0-12mm可选，其它行程可订制）。分辨率：高精度仪器的分辨率可达到1微米（um），确保测量的细微差异也能被捕捉。测量原理：采用接触式测量技术，接触式通常通过压头轻触材料表面。重复性：高质量的检测仪重复性误差小于0.5%，保证每次测量的一致性。显示与操作：配备清晰的LCD显示屏，显示即时测量结果，操作界面简单直观，便于快速读取和操作。兼容标准：设计符合GB/T 3820等国家标准，确保测试结果的标准化和可比性。适用材料：不仅限于无纺布，还适用于薄膜、纸张、金属箔、纺织品等薄型材料。稳定性与耐用性：具有良好的稳定性和耐用性，适合在实验室和生产线上长期使用。数据处理：部分高级型号可能支持数据存储、输出至电脑，便于数据分析和记录管理。校准功能：内置校准机制，确保长期使用的准确性，用户可定期进行校准以维持测量精度。薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪操作流程：准备样品：确保无纺布样品平整无皱。放置样品：将样品置于测量区域，保持稳定。启动测量：按下测量按钮，仪器自动进行厚度读取。读取结果：显示屏上显示即时的厚度数据。记录与分析：根据需要记录数据，进行进一步的质量评估或分析。

四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。能便携全自动测量导线、棒材电阻率、电导率等参数。应用电流–电压降四端子测量法、单片机技术及自动检测技术。其性能完全符合GB/T3048.2及GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于冶金、电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C方阻计算和测试原理如下：　　直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：　　当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C工作原理图　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C步骤及流程　　1. 开启电源，预热5分钟.　　2. 装配好探头和测试平台.　　3. 设定所需参数.　　4. 测量样品　　5. 导出数据.　　优点描述：　　1. 自动量程　　2. 准确稳定性.　　3. 双电组合测试方法　　4. 标准电阻校准仪器　　5. PC软件运行　　6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.　　7. 可显示5位数字.　　8. 中、英文界面四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C性能特点1. 体积小巧、重量轻。2. 全中文菜单操作，操作简单方便。3. 测量速度快，数据精确稳定。4. 具有自动放电和放电指示功能，减少误操作，保证设备及人员安全。

厂家授权代理商——岱美仪器技术服务（上海）有限公司岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内于16年已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness 生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量 轻轻一按即可实现测量！ 请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！ 优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

EddyCus® TF 系列 (thin-film) 是非接触式的实时测量薄膜电阻的检测设备，它利用非接触式涡旋电流检测技术。该系统也可用于表征薄膜，玻璃内部的导电层，晶圆以及金属箔片。此产品应用如下:薄膜电阻测量: 0,1 mOhm/sq to 3.000 Ohm/sq金属膜厚度测量: 5 nm to 500 microns电导率扫描绘图: 1% IACS (0,6 MS/m)URAGUS 2525 方阻测试仪 薄膜电阻和厚度测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻（方块电阻）及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像 高解析度成像（25 至1,000,000 点）缺陷成像封装层的地图参数 薄膜电阻（欧姆/平方）金属层厚度（nm、μm）金属基板厚度（nm、μm）各向异性 缺陷完整性评定应用建筑玻璃（LowE）触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔 光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料 材料金属薄膜和栅格导电氧化物 纳米线膜石墨烯、CNT（碳纳米管）、石墨打印薄膜导电聚合物（PEDOT:PSS）其他导电薄膜及材料规格参数测量技术：非接触式涡流传感器基板：例如：薄膜、玻璃、晶圆，等等 最大扫描面积：10 inch / 254 x 254 mm（根据要求可以更大）边缘效应修正/排除：对于标准尺寸，排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙：2 / 5 / 10 / 25 mm（由最厚的样本确定）薄膜电阻的范围：低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量（例如：铝、铜）：2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距：1 / 2 / 5 / 10 mm （根据要求的其它尺寸）每单位时间内测量点（二次形）：5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间：4 inch / 100 x 100 mm，在0.5至5分钟内（1-10mm 间距）8 inch / 200 x 200 mm，在1.5至15分钟内（1-10mm 间距） 装置尺寸（宽/厚/深）：549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量： 27 kg可用特色：薄膜电阻成像各向异性电阻传感器

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

LAwave 是基于镭射声波原理测量涂层以及表面的一种精密测量仪器 应用领域: 硬模、半导体材料、薄型聚合物膜、传感器膜、等离子喷膜 测量数据： 测量以下材料的弹性模量 硬质和超硬模、金属膜、薄型聚合物膜、低K溶胶膜 大批量材料的弹性模量 膜厚 半导体材料的损伤程度 特点：无损伤检测 超硬超薄都能检测 检测整个面，并非某个点 可测膜范围广：从纳米到毫米 快速可靠 样品无需特殊处理 无需校正 作用： 薄膜沉积、涂层喷涂及成品材料表面的过程控制 薄膜和涂层机械参数的精确测量 膜材料上微结构的无损评估（如键合情况、多孔性和组成） 测探垂直于表面的弹性和密度梯度

超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪是一款利用超声波测量原理，采用高速处理器、高集成芯片设计，实现便携式、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度便携式测厚仪。能以恒定速度穿透物体且产生反射波的材料都可以使用。　　适用于各种材料的高精度厚度测量需求，可应用于各种金属(钢铁、不锈钢、铝、铜、等)石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上，既可以迅速准确测量出被测物体厚度。　　 超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪功能特征：　　几乎适合于所有材质的厚度测量,如：金属,玻璃,塑料等材料 　　仪器精美，小巧，直观，采用2.3寸大彩屏显示，手持式携带方便,适合现场检测　　两种测量模式：标准模式/穿透模式(穿透型专用)　　测量精度高，测量范围大，一个标准探头完成全量程　　中英文双语言版本　　蓝牙互联数据传输功能(适用于蓝牙版测厚仪)　　校准：探头标准块校准,声速校准，可通过已知厚度求声速, 通过方向键自由调整数值　　手动关机和自动关机两种，用户可随意选择 　　内置7种常用材料的声速，并可编辑，方便用户使用 　　人性化数据保存模式：大容量存储，并且可分组保存数据，可存储10组数据，每组可保存200个数据，可存储2000个数据，手动保存更有自主性，利于结果分析 　　大容量存储，查看，删除操作，方便简单　　多探头配合使用，高温环境测量可选配高温探头耐高温(300℃)

MXD-02金属箔片摩擦系数测定仪 材料表面爽滑性试验仪 摩擦系数测量仪适用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节材料生产质量工艺指标，满足产品使用要求。另外还可用于化妆品、滴眼液等日化用品的滑爽性能测定。技术特征：一次试验便可同时测定试样的动、静摩擦系数试验速度可设、可调；支持任意滑块质量该仪器满足GB、ISO、ASTM多种测试标准，测试方法可按客户需求任意选择仪器试验台面和测试滑块均经过消磁处理和剩磁检测，有效地降低了系统测试误差设备由微电脑控制，搭配菜单式操作界面，PVC控制面板和液晶显示屏，方便用户进行试验操作及数据查看系统配件均采用世界知名进口元器件，性能稳定可靠专业软件可以自动进行单件、成组试验的结果统计分析和原始数据再分析、成组曲线叠加比较，以及多种报告模式直观快速地将测试结果展示给客户配备微型打印机和标准的RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 8295、GB 10006、ASTM D1894、TAPPI T816MXD-02金属箔片摩擦系数测定仪 材料表面爽滑性试验仪 摩擦系数测量仪技术指标：负荷范围：0～5 N精度：0.5级 行程：70 mm、150 mm 滑块质量：200g (标准）；注：其他质量滑块可定制试验速度：100 mm/min、150 mm/min；注：其他速度可调环境要求：温度：23±2℃；湿度：20%RH～70%RH 电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：630mm(L)×360mm(W)×230mm(H) 净重：33kg仪器配置：标准配置：主机、微型打印机、200g滑块选购件：专业软件、通信电缆、500g非标滑块

达宏美拓 贵金属纯度含量检测仪DH系列DH-300K DH-600K DH-900K DH-1200K DH-2000K DH-3000K DE-120K DE-200K本系列产品贵金属纯度检测仪是业界采用较为广泛的贵金属纯度检测仪器，不损坏样品、能快速、简单、准确的区别与检测黄金的K数、铂金PT值、其它贵金属纯度%、及密度值。适用于：珠宝业、典当业、贵金属回收、珠宝检测中心、贵金属研究实验室。依据：阿基米德原理水中浮力法、贵金属检测标准GB/T1423…方法与标准。可测量：黄金、K金、白金、铂金、银等贵金属。功能特点：快速测试黄金、铂金、其它贵金属纯度，区分赝品无损检测，清洁环保，测试后不会损坏样品原型测试时间快速，方便快捷，性能稳定，结果准确 多模式，黄金模式、铂金模式、其它贵金属模式可自由转换多功能，其它贵金属纯度皆能测量，如锡、铜、银等，亦可当精密天平便用具有上下限功能，合格显示OK、超出显示HI、小于显示LO，并提示报警不能测空心，镶有宝石的样品全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能使用水作介质，也可使用其它液体介质，可设定实际水温与传统掉水法相比，本机采用一体成形大容量测量配件，水槽防腐蚀、耐摔、耐破，吊线不会影响测量结果含RS-232输出接口，可选购DE-40打印机，直接打印测试结果；配置专用防风防尘罩，组合方便DE-120K为高精度的黄金纯度检测仪，适合小型样品与要求高的场合提供三年品质保障服务标准测量步骤：先测量黄金在空气中重量，按ENTER键记忆。再放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示黄金K值、纯度%、密度。标准附件：机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥砝码、⑦防风防尘罩、⑧测金沙配件一套、⑨电源变压器一个技术指标：（如尺寸、重量超出以下范围，可选择定制规格）型 号DH-300KDH-600KDH-900KDH-1200KDH-2000KDH-3000KDE-120K称重标准误差0.005g0.005g0.01g0.01g0.01g0.01g0.001g最大称重300g600g900g1200g2000g3000g120g精细称重标准误差0.001g0.002g-----最大称重30g120g-----密度可读性0.001g/cm30.001g/cm30.0001g/cm3测试平台一体成型大容量塑胶测试平台免翻盖高精密铝合金测试平台最大测量尺寸一体成型耐磨、耐腐蚀、透明水槽（最大尺寸：长15.3 cm×宽10.7 cm×高9.3cm）并可根据产品实际尺寸，定制不同尺寸的水槽测量种类黄金模式：黄金K值、%含量、密度值；铂金模式：铂金PT值、%含量、密度值；银模式：银S值、%含量、密度值；其它模式：其它合金的%含量、密度值黄金K值（9 、10、11、12、13、14、15、16、17、18、19、20、21、22、23、24）K &含量%铂金PT600 、PT650、PT700、PT750、PT800、PT850、PT900、PT950、PT1000 & 含量%银S600 、S650、S700、S750、S800、S850、S900、S950、S1000 & 含量%参数设定水温设定、测量介质密度设定、空气密度设定、主要材料及次要材料密度设定、铜银比例设定原 理阿基米德原理测量时间约5秒~20秒测量步骤先测量空气中重量，按ENTER键； ②再放入水中测水中重量，按ENTER键，显示结果记忆方式二个步骤记忆方式标准附件①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥砝码、⑦防风防尘罩、⑧清除气泡用吸管一支、⑨电源变压器一个电源电压AC100V~240V 50HZ/60HZ （默认欧规标准插头，或选择其它国别标准插头）毛重/尺寸4.5kg/长42.5 cm×宽17.5 cm×高32.5cm

一、产品简介本模板辅助切取玻璃纤维，碳纤维，芳纶纤维制品等产品的一定面积试样，以测定其单位面积质量。正反两面光滑平整，符合GB/T 9914.3-2013《增强制品试验方法 第3部分：单位面积质量的测定》的要求。二、主要技术参数1.面积为1000cm2的正方形用于毡2.面积为100cm2的正方式用于织物

可以用于蒸镀半导体、金属膜，纳米级单层及多层功能膜。1、真空室：1.1、真空室内腔尺寸：600×600×700mm3。1.2、真空室材料： 整个真空室采用钢铁 SUS304 不锈钢材料制造，内表面抛 光，外表面喷丸处理；极限真空度高。1.3、真空室结构：真空室四周配有不锈钢防污染屏蔽板（提供两套、一套 备用）；前开门后置抽气系统结构， 四壁壳体外壳水冷，采用不锈钢水冷槽通水冷却。1.4、观察窗： Φ100mm 观察窗 2 个，观察窗内有遮挡活动板，配有两套防辐 射射玻璃（一套备用）。1.5、CF35 陶瓷封接引线法兰：2 个（照明及内烘烤引线 1 个、预留空置 6 芯电极法兰 1 个）。1.6、晶振膜厚仪接口 1 个。2、工件架旋转与烘烤：2.1、采用调速电机调节转速、磁流体密封；3 到 60rpm 无级调速。2.2、样品托盘尺寸分别为：可放 4 片 6 英寸样片且样品可公转可自转 2.3、样品加热温度。2.4、基片与蒸发源之间距离 350～550mm 可调，由腔外电动波纹管调节机构 在线控制。3、电子束蒸发源：3.1、用超高真空 E 型电子枪；3.2、270 °E 型电子枪及高压电源，电子枪功率 0--10KW 可调； 3.3、电子枪阳极电压：4kv、10 kv；两挡；3.4、电子束可二维扫描调节，最大扫描正负 15mm（X，Y）；3.5、六工位水冷式电动坩埚；每穴容积 11-22ml；3.6、可调角度气动控制蒸发挡板，采用磁流体密封；3.7、电子枪配有触摸屏，可远控； 3.8、带有高压灭弧自动复位功能。 电阻式蒸发源；配备一套电阻蒸发源，含一套 3KW 数字式蒸发电源。 4、真空抽气系统4.1、低温泵： 可达 8.0×10-6Pa，真空漏率≤10-7Pa.l/s，真空室从大气到 抽到≤6.0×10-4Pa，小于 20min；4.2、低温泵与真空室连接采用 DN250 气动插板阀门； 4.3、机械泵和低温泵连接采用不锈钢金属波纹管；4.4 系统漏率：系统停泵关机 12 小时后，真空室的真空度≤10Pa。5、石英晶体测厚仪：采用石英晶体振荡膜厚监控仪◇用于监控镀膜蒸发速率及控制膜层物理厚度◇配单个水冷探头◇监测膜厚显示范围：0～99 μ9999&angst ◇厚度分辨率：0.01&angst ◇速率显示分辨率： 0～9999.9 &angst ◇控制精度： 0.01 &angst ◇监测时间显示范围：1 分～99 小时6、真空测量系统：莱宝 PTR90N 全量程真空计。7、水冷系统配备水冷循环系统：满足设备需求（功率大于 2kW）。8、其他：8.1 不锈钢紧固螺栓、螺母、垫片等；8.2 产品相关的金属密封铜圈及氟橡胶密封圈 1 套8.3 电子枪灯丝 58.4 坩埚 108.5 配一套质量流量计（0-100sccm），用来控制工艺气体通断。 二 主要技术性能指标。

中图仪器Novator金属塑胶件全自动影像测量仪智能化和自动化程度高，使测量变得简单。仪器具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。Novator金属塑胶件全自动影像测量仪具有的频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。在机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域中，可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。高度测量Novator金属塑胶件全自动影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。 1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。 部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

TB-300智能金属箔电阻率测量仪 TB-300智能金属箔电阻率测量仪是我公司推出的专利产品， 国内外唯一能便携全自动测量金属导线、 箔电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。应用电流 – 电压降四端子测 量法、先进的电子技术、单片机技术及自动检测技术设计的高新产品。其性能完全符合 GB/T3048.2及 GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于金属箔、金属薄带、电池极 耳等新能源领域及电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。TB-300型仪器主要特点 用于测量金属箔、金属薄带及线材的电导率、电阻率、米电阻及电机、变压器等直流电阻。集先进电子技术、单片机技术、自动检测技术于一体、自动化功能强，操作简单； 仅按一次键， 所有测量数值即可获得， 无需任何计算， 适合于连续、快速、准确检测； 电池供电设计，体积小，容易携带，适用于现场及野外使用；大屏幕， 大字体， 可同时显示电阻率、电导率、电阻等测量值及温度， 测试电流、温 度补偿系数等辅助参数，非常直观；一机多用，拥有3种测量界面， 既导体电阻率、电导率测量界面， 金属箔电阻率测量 界面；每次测量， 具有自动选定恒流电流， 自动电流换向， 自动零点校正， 克服热电压到线 电阻引起的误差， 保证每次测量值的精确性；仪器自带环境温度传感器及内设有多种材料温度系数供选择，完成温度自动补偿；可选配系列校准电阻，搭配相关软件，方便地实现仪器自动校准；独特的携带式四端子测试夹具， 适用于对不同材料， 不同规格的线材或棒材快速测量； 内置有数据存储器， 可记录保存1000组测量数据及测量参数， 连接上位计机生成完整 报告。 TB-300A 型主要技术参数参数值 项目名称电阻率电导率电阻测量范围0.01μΩm ～2.5μΩm0.4MS/m～100MS/m 0.69%IACS～172%IACS0.1μΩ～150Ω分辨率－4 10－6μΩm0.01～0.001%IACS0.1μΩ（ I=1A）精度±0.25%±0.25%100μΩ ～ 150Ω ： ±0.15%温度测量－10℃～＋55℃ 精度±0.2℃(0℃～＋40℃)仪器内部 恒流电流16μA 档～1A 档（依据测量要求仪器自动选择）测试夹具配 TBJ-300（300mm） 便携测试夹具 测量条形金属箔和金属薄带自动温度 补偿测量值自动矫正为20℃时数值测量项目质量电阻率ρm、导体电阻率 ρv、电导率 σ、电阻 R打印输出 数据日期、时间、温度修正系数 α 、规格、 金属箔和线材的各项测量数值正常工作 环境温度0℃～＋40℃ 相对湿度0～80%显示大屏幕液晶，可同时显示多项测量参数，带背光供电7Ah/7.4V 充电锂电池。电池单独供电，平均工作时间超过15小时内部存储 器可保存1000组测量数据PC 机 通 讯方式RS232串口重量主机： 2.2Kg 便携测试夹具： 1Kg主机尺寸285(W)*158(H)*120(D)主机外壳抗冲击工程塑料包装及防 护内装主机、测试架、充电器、通讯电缆、校正电阻、操作手册、微型打 印机

美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪产品简介：ANDalyze便携式重金属测量仪可测量饮用水、地表水和工业废水中可溶性的重金属含量，包含铜、铅、汞、镉、铀和锌等。DNA酶测试技术ANDalyze的DNA传感器在接触目标污染物(比如铅)时存在时会产生荧光。荧光计检测产生荧光的强度以测定待测重金属的浓度，并给出ppb或ppm为单位的测试结果。测试方法是取1毫升的水样，通过传感器注射到荧光计内的比色皿中，荧光计在一分钟内自动完成分析并给出待测物浓度。赢得美国环保局(EPA)奖项ANDalyze手持式测试技术可在几十秒内在现场对重金属污染物完成准确的测试分析，符合美国的EPA测试标准。这是一种具有突破性的产品，它准确和使用方便，不需要特别的专业技能或化学知识便能熟练操作。它不含任何有害有害材料或副作用。此外，该产品通过简化测试过程可降低测试费用。美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪产品特点：操作简单——非专业人员也能熟练操作高灵敏性和选择性——低ppb级测量范围扩展性强——单台主机可测量多个重金属参数一分钟测试——快速、简洁的菜单显示，一键启动样品分析荧光传感器——通过DNA酶反应产生定量荧光给出结果传感器测试包——不同颜色标记的传感器可测试不同的重金属，测试包标配所有需要的备件数据采集与报告——测量结果带日期、时间及地点。可通过USB数据线下载数据及充电维护——CE认证，保护等级IP54。并可通过USB数据线从网上进行免费下载软件升级视频培训——主机上可观看教学培训视频，无需培训文档支持多语言——可选择中文操作界面环保——不含有毒有害试剂，废弃物无需特殊处理美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪测量参数及范围：金属参数量程金属形态颜色标记铅2 - 100 ppbPb2+绿铜（高量程）0.6 - 3 ppmCu+/Cu2+蓝铜（低量程）40 - 200 ppbCu+/Cu2+蓝铀2 - 60 ppb四价铀，UO22+橙汞2 ppb (阴性/阳性)Hg2+银灰锌1 - 15 ppmZn2+白镉0.1 - 1 ppmCd2+黄即将推出 铬，砷，及其它测试包美国ANDalyze AND1100便携式重金属测量仪标准配置：1、荧光光度计主机 2、数据线 3、100微升定量移液枪一支 4、一次性枪头 5、PH试纸 6、说明书 订货指南： 订货号描述AND002AND1100便携式重金属测量仪AND010铅套装（25次），范围：2 ~ 100 ppb Pb2+AND011铀套装（25次），范围：2 ~ 60 ppb UO2+AND012铜（低浓度）套装（25次），范围：40 ~ 200 ppb Cu2+AND013铜（高浓度）套装（25次），范围：0.6 ~ 3.0 ppm Cu2+AND014汞套装（25次），阳性表示水样中汞浓度大于2ppb，阴性表示汞浓度低于2ppbAND015锌套装（25次），范围：1 ~ 15 ppm Zn2+AND016镉套装（25次），范围：0.1 ~ 1.0 ppm Cd2+AND900过滤套装（25次），包含针头过滤器、20mL注射器、50mL样品试管，操作手册AND901稀释套装（25次），包含5mL固定式移液器，5mL移液枪头，50mL样品试管，操作手册AND902铁离子干扰屏蔽套装，铁浓度较高30ppb时使用AND903pH调节套装

菲希尔台式镀层测量仪膜厚仪 手持式、台式、在线：XAN500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。 它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。 在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。 基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。 手持式便携X射线荧光仪器为镀层厚度测量和合金分析而优化3点支撑，保证每次测量时的位置准确带有WinFTM软件的平板电脑WiFi和蓝牙接口可选的测试箱 应用:在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可准确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控 准确货期&价格请与客服咨询为准！谢谢

一、水的接触角怎么测试？晟鼎接触角测定仪软件采用windows操作界面结构设计。美观新颖、操作简单大方。做到使用者一目了然，主要功能键全部安放在界面上方的工具栏内。操作者选取十分方便。不常用的功能放在工具栏内的处理栏的子菜单中，操作者可以根据实验要求提取使用。开始试验前先将计算机及显示器的电源接好，请确保所使用计算机系统为Windows XP或者Windows 7（32位），显示器分辨率为1024*768及以上。软件主界面窗口主要分为：A 菜单栏、B 工具栏、C 信息栏、D 自动滴液设置与控制栏、E 动态图片区、F 测试结果数据显示区、G、视频图像操作区共H. 手动拟合8个栏位，如下图所示。测量工具中的自动椭圆拟合法是测量接触角最常用到的一种方法，也是我们产品主打的一种方法，用于测试20度以上的接触角，精度非常准确。但仅针对水平面测试。操作如下，首先按“1”键滴液，上升样品平台接液，按“2”键一键测量。测试结果将出具由左右接触角两个测试数据，然后再计算出平均值。然后可以点击空格键或者软件摄像头进行第二次样品测试。水平拟合法测定接触角。打开保存的接触角图像照片，点击方法图标，显示一条水平线，将其移动到液体的底面。在液体轮廓上点击两点，包括液体外线，点击一下。接触角值自动显示。点击右键保存测量值即可。斜面拟合法测定接触角，打开保存的接触角图像照片，点击方法图标，在图像的左端点击一下， 然后再在轮廓上任意一点点击一下，最后再在图像的另一端点击一下，接触角会自动的测量出来。 宽高法测量接触角：将被测液体图像截图，在测量窗口上进行测量，选取宽高法，也叫圆法，测试方法和椭圆法一样，但圆法较适应于低于20度的接触角测量，因此时水滴较小，不受重力影响而变形，更接近于一个真实的圆形。二、接触角测量仪怎么用对于理想的平面固体表面，当液滴在表面达平衡后。只有一个符合Young方程的接触角。但实际固体表面是非理想的，因而会出现滞后现象，致使接触角的测量往往很难重复。但经过精心制备和处理的表面，有可能得到较重复的数据，特别是高分子的表面。表面的制备和处理的目的是要得到较光滑、干净的理想表面，但具体的工艺因样品而异，这里不作更多的介绍。这里主要介绍一些常用的接触角测定方法，它们都是针对气—液—固体系的接触角而设计的。但其中有些方法，只需略加修改，亦适用于液—液—固体系接触角的测定。测定接触角有多种方法，可根据直接测定物理量分为四类：⑴静滴法（角度测量法）、⑵高度、长度测量法⑶力测法⑷透过测量法。前三种适用于连续的平滑固体表面，后一种方法可用于粉末固体表面接触角的测定。 量角法液滴角度测量法是测量接触角的最常用的方法之一，如下嵊所示。该方法是将固体表面上的液滴，或将浸入液体中的固体表面上形成的气泡投影到屏幕上，然后直接测量切线与相界面的夹角，直接测量接触角的大小。（a）停滴（b）停泡如果液体蒸气在固体表面发生吸附，影响固体的表面自由能，则应把样品放入带有观察窗的密封箱中，待体系达平衡后再进行测定。此法的优点是：样品用量少，仪器简单，测量方便。准确度一般在土1o左右。量高法如果液滴很小，重力作用引起液滴的变形可以忽略不计，这时的躺滴可认为是球形的一部分。接触角可通过高度的测量按下式计算：式中h是液滴高度，d是滴底的直径。若液滴体积小于10-4mL，此方法可用。若接触角小于90o，则液滴稍大亦可应用。量高法示意图液滴在纤维上的接触角也可用量角法测量，把纤维水平拉直．置于样品槽内，然后投影到电脑屏幕，直接测定液滴与纤维表面的夹角。如果液滴很小，接触角也可用量高法测量，通过式（8）来计算。实际固体表面几乎都是非理想的，或大或小总是会出现接触角滞后现象．因此，需同时测定前进角和后退角。对于躺滴法，可用增减液滴体积的办法来测定。增加液滴体积时测出的是前进角，如图5(a)所示；减少液滴体积时为后退角，如图所示。前进角和后退角的测定方法为了避免增减液滴体积时可能引起液滴振动和变形，在测定时可将改变液滴体积的毛细管尖端插入液滴中，尖端插入液滴不影响接触角的数值。三、接触角测量仪使用时的注意事项：１、滴液量尽量控制在1-5微升以内，因为滴液过多，液滴受重力影响会产生变化，不是一个正规的圆形或者椭圆形，如果少于这个滴液量，除非是测试样品非常小，需要小滴液的情况，需跟厂家沟通好购买微小级注液器。２、北光源明暗度需根据实际操作情况调节，大亮会导致液滴外轮廓不清晰，太暗则导致液滴变大或才周围太多黑点，影响测试数据的准确性。３、基线位置，原则上晟鼎精密一键式测量是自动找出基线进行测试。特殊情况无法识别出基线的，需要操作人员手动找寻基线。４、任何一台仪器都不是完美的，我们只能最大限度的保证测试数据接触真实的角度，仪器本身的能力和测量的方法都会影响接触角数据，特别是疏水和亲水性强的材料测试数据，晟鼎精密可以保证，根据长期的实验结果得出，允许正常的误差范围在正负1度以内。

膜介电常数介质损耗仪下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。烧嬌金属电极烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，最好采 用金。喷镀金属电极锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它 们不穿透非常小的孔眼。阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本 方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明，汞电极和其他液体金属电极把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极 不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的.伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素.这些 合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于10。笆以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。导电漆无论是气干或低温烘干的高电导率的银漆都可用作电极材料。因为此种电极是多孔的，可透过湿 气，能使试样的条件处理在涂上电极后进行，对研究湿度的影响时特别有用。此种电极的缺点是试样涂 上银漆后不能马上进行试验，通常要求12 h以上的气干或低温烘干时间，以便去除所有的微量溶剂，否 则，溶剂可使电容率和介质损耗因数增加。同时应注意漆中的溶剂对试样应没有持久的影响.要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。 但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。石墨一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显 著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。电极的选择板状试样考虑下面两点很重要：a） 不加电极，测量时快而方便,并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。膜介电常数介质损耗仪管状试样对管状试样而言，最合适的电极系统将取决于它的电容率、管壁厚度、直径和所要求的测量精度。 一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极两端的保护电极组成，外电 极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条箔带或 沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。内电极可用汞，沉积金 属膜或配合较好的金属芯轴。高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极，大直径的管状或圆筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试 验。这种试样可按板状试样对待，金属箔、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属箔或沉积金 属膜的外电极和保护电极一起使用。如采用金属箔做内电极，为了保证电极和试样之间的良好接触，需 在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相 对电容率％不超过10的管状试样，最方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以 上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试 样的全部圆周或部分圆周上。膜介电常数介质损耗仪试验报告试验报告中应给出下列相关内容：绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度 和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；试样条件处理的方法和处理时间；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；测量仪器；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的电压；施加的频率；相对电容率&（平均值）亍介质损耗因数也海（平均值试验日期；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温 度和频率的关系°表1真空电容的计算和边缘校正(1)极间法向电容（单位：皮法和厘米）（2）边缘电容的校正（单位；皮法和厘米）（3）1.有保护环的圆盘状电极-stA 4Co = = 0* 088 54 &bull =h hA =于(廿】+ G'G = 0/ i试样2,没有保护环的圆盘状电极a）电极直径=试样直径 p /试样C—=宜69 5驾当时c碧=0. 029 — 0. 058时P = 214dlb）上下电极相等，但比试样小 扩 w% = 0. 01— 0, 058也五 + 0.010P =其中：G是试样相对电容率的近似值，并且t1 z r - 试样 」爲q对于低介质损耗因数的待测液体，电极系统最重要的特点是：容易清洗、再装配（必要时）和灌注液 体时不移动电极的相对位置。此外还应注意：液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电极 材料，温度易于控制，端点和接线能适当地屏蔽；支撑电极的绝缘支架应不浸沉在液体中，还有，试验池 不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量精度。满足上述要求的试验池见图2〜 图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘.图2 和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，IEC 60247：1978对此已详细叙述。由于有些液体如氯化物，其介质损耗因数与电极材料有明显的关系，不锈钢电极不总是最合适的。 有时，用铝和杜拉铝制成的电极能得到比较稳定的结果。膜介电常数介质损耗仪应用一种或几种合适的溶剂来清洗试验池，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过 化学试验方法检查其纯度，或通过一个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。 当试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清 洁试验池的表面。若使用一系列溶剂清洗时则最后要用最大沸点低于100笔的分析级的石油醍来再次 清洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体测量能给出正确值的溶剂来清洗，并且 这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的，推荐使用下述方法进行清洗。试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用溶剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法 均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在左右的温度下烘干30 mino待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注入一些待试的液体，停几分钟后，倒出 此液体再重新倒人待试液体，此时绝缘支架不应被液体弄湿。膜介电常数介质损耗仪精度要求在第5章和附录A中所规定的精度是：电容率精度为±1%,介质损耗因数的精度为士(5% 士 0.000 5)。这些精度至少取决于三个因素：即电容和介质损耗因数的实测精度；所用电极装置引起的这 些量的校正精度w极间法向真空电容的计算精度(见表1).在较低频率下，电容的测量精度能达士(0. 1%±0.02 pF),介质损耗因数的测量精度能达±(2%士 0. 000 05) o在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±(0.5%±0・ 1 pF),介质损耗因数的测量 精度为士(2%±0. 000 2)o对于带有保护电极的试样，其测量精度只考虑极间法向真空电容时有计算误差。但由被保护电极 和保护电极之间的间隙太宽而引起的误差通常大到百分之零点几，而校正只能计算到其本身值的百分 乏几。如果试样厚度的测量能精确到土0.005 mm,则对平均厚度为1. 6 mm的试样，其厚度测量误差 能达到百分之零点几。圆形试样的直径能测定到士 0」％的精度，但它是以平方的形式引入误差的，综 合这些因素，极间法向真空电容的测量误差为±0. 5%。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则 只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的 计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%〜 40%。根据目前有关这些电容资料, 计算边缘电容的误差为10%,计算对地电容的误差为25%。因此带来总的误差是百分之几十到百分之 几。当电极不接地时,对地电容误差可大大减小。

高品质镀膜中性密度滤光片，采用紫外熔 融石英基片，表面光学质量及平行度都达到极高等级。我 公司这类滤光片的宽光谱特性，为从紫外到短波红外的应 用提供了极为平坦的光谱响应。可广泛应用于光谱测量成像光学系统，机器视觉系统，以及低功率激光器的光输 出衰减等应用。（我公司提供标准 OB 光桥系统滤光片安 装环。标准螺纹接口极大地方便了不同光密度滤光片之间 的互连，互配）

货期：现货 品牌：北斗仪器 型号：CA100S产地：广东东莞 名称：自动型光学接触角测量仪 接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。设备采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。测量方法 固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃（包括塑料或金属等固体）表面润湿性研究等。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域，接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。设备整体参数型号CA100S名称自动型光学接触角测量仪类型自动型机身材质航空铝输入电源220V 50-60Hz功率10W仪器尺寸约655mm（W）*180mm(L)* 500mm(H)仪器重量约14KG样品平台系统左右X移动手动：行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动：行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动：行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整，摄像头水平调整（配送专业级XY水平仪）样品台尺寸130*150mm（可定制）可放置最大样品200（W）*∞(L)*30(H)mm样品台材质航空铝注射系统注液移动行程Y行程：40mm Z行程：35mm，精度0.1mm（针头对中及液滴转移）滴样控制移动行程：60mm,精度：0.01mm滴样速度0.01-25ul/s滴样方式自动滴液精度0.1ul加液方式自动（配送5ml玻璃烧杯加液）微量进样器容量：1000ul（全自动液位实时检测）针头标配0.5mm不锈钢针头（可替换）10个、超疏水针头0.25mm（可替换）10个采集系统相机中国大恒 (Onsemi行曝光)镜头0.7x-4.5x传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280×1024焦距±2.5mm可调图像拍摄方法单张、间隔、连续拍摄间隔时间500-3600000ms视频录制方式录像、回播、合成清晰度测量全自动软件对焦最大拍摄速度30帧/s光源系统光源国产工业级白色冷光源组合方式采用国产石英扩散膜使用寿命2万小时以上亮度调节PWM无极调节+软件调节亮度识别通过北斗独家算法自动识别亮度保证最佳亮度光源波长400～760nm功率1W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法等测量软件CA V2.0静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法（static contact angle）自动拟合法（ms级别一键全自动拟合，不存在人工误差）、三点拟合、五点拟合、自动测量（包括圆拟合法/斜圆拟合法（Circle method/ Oblique Circle）、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)、凹凸面测量等动态接触角测量（Dynamic contact angle）前进角（Advancing angle），后退角（receding angle），滞后角（hysteresis angle）(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°＜θ＜180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法，OWRK法，Zisman法，EOS法，Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法（软件中预装37种液体数据库，可自行建立液体性能参数）数据可直接调入用于表面能估算，液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位mJ/m² 众所皆知，软件是一台仪器的灵魂所在，组成系统的硬件虽为测量提供了基础，但只有在软件的支持下，才能完美地实现硬件的功能，充分发挥其潜力，使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用，经过多年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合，已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统（行业内极少），在对以后软件升级，新标准更换的时候起到一个很大的优势。软件主界面图版权声明：广东北斗精密仪器有限公司拥有光学静动态接触角分析测量仪CA V1.2.1软件的所有知识产权，本计算机程序受版本法/著作权法和国际公约保护，未经书面授权擅自传播本程序部分或者全部可能遭受严厉的民事刑事制裁，并将在法律允许的范围内受到最大可能的起诉测试报告1.精细机械：系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理，所有的其它主要组件也都是由铝合金，不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2.精密定位：系统所有的线性移动单元，包括三维样品台（xy-轴），(Z-轴)注射器/针头的移动调节，均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动，确保传动平稳、轻松和精细。3.配置齐全的进样器与针头选择：提供数十种不同规格的进样器供使用者选择，如不同规格（25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….）,不同材质（气密玻璃进样器/塑料进样器），不同品牌（Hamilton/boli….）以满足不同客户需求。提供各种规格（10-34#）以及不同材质（不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头）以及特殊针头（弯曲针头），可用于常规接触角测量，也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4.成像系统：采用了行曝光（Rolling Shutter）高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴，即使是非常小的液滴。5.领 先 的 软 件 平 台 ：软 件 是 整 个 测 量 系 统 的 灵 魂 和大 脑 。 CA V1.2.1软件 为用户 提 供 了 范 围 广 泛 的功 能 和 特 性 ，而 且 其 中 的 许 多 项目 在 这 一 领 域 均是 出类拔萃 。作 为 一 光 学 方 法 ，测 量 的 精 度 取 决于 成 像 的 质 量 和 后 着 的 处 理 、 分析 和 计 算 方 法 。 其 中 采 用 的 亚 像 素 （ sub-pixel） 液 滴 坐标 检 测 ，自 动 液 /固 /流 -三 相 接 触 线 识 别 ， 液 滴 全 轮 廓 分析 ，和 基 于 连 续 信 息 反 馈 的 液 滴 监 视 功能 等构成了 软 件 的 核 心 组 件 ， 而且 这 一 切 又 都 能 实 时 完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能，分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6.软件自动生成报告，其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7.基线自动倾斜功能，可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。8.分级管理系统，权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。9.具备双边接触角测量快速拟合功能，更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况；10.动态拍摄、视频快速测试数据，可以连续性记录测试接触角的变化，再由软件自动批量拟合；11.具备历史数据库功能，记录每一次的测试结果，可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个2.连续变倍光学系统 1个3.手动加样系统 1套4.手动CCD倾斜系统 1套5.表界面分析测量系统应用软件 1套6.说明书纸质一份及说明书电子版 1份7.保修卡及合格证1份8.亲水进样针10个，疏水进样针10个9.1000ul进样器1个10.电源线及数据线1条11.XY专用水平仪1个(电脑为选配件 客户可以自配)物料名称品牌物料名称品牌CPU英特尔i3处理器鼠标键盘力拓主板 英特尔 H61主板机箱金和田内存华硕8G DDR3 1600电源长城硬盘七彩虹 250G显示器HUYINIUDA 19寸