达蓄测量仪

目前用于安全防护检测的大电流接地电阻测量仪已越来越广泛地运用于家用电器、绝缘材料、电动电热器具等产品的质量检测中,而此种仪器本身的量值传递却由于其大电流的限制,存在许多问题。普通的接地电阻测量仪检定装置不能用于这种仪器的检测,下面百检检测介绍两种检测方法。 1　直接法 这里所谓的直接法就是电阻法,利用大功率标准电阻直接接于被测大电流接地电阻测量仪的测量端,原理框图如图1所示,用标准电阻值与测量仪表头所显示的电阻值作比较。 设标准电阻值为RN,即实际值,被检表显示读数为RX,则被检表的绝对误差为: Δ＝RX－RN 被检表的相对误差为: r＝［(RX-RN)/RN］×100% 用此方法检测时应注意测量仪恒流输出所限制的电阻范围,超出该范围,将不再恒流且测量不正确。由于所测均为小电阻,导线及接触电阻的消除、四端钮接线等都是必须注意的,同时注意不可引入别的哪怕是很微小的附加电阻。 用此方法检测,简单直观方便,测量准确,但应当具备一套不同阻值(并非均为十进制变化)的大功率标准电阻,由于它的特殊要求,这种电阻需由厂家定做。 2　间接法 所谓间接法就是利用电流电压的方法来进行测量。 2.1　用标准电压源法进行测量 接地电阻测量仪的基本原理为以已知恒定电流通过被测电阻RX的压降来代表所测电阻值。根据这一原理,可用标准电压源和标准电流表来检测接地电阻测量仪,检测框图如图2所示。 标准电压源输出一个标准电压UN,同时读出标准电流表显示的电流IN,此时被检测量仪表头显示值为RX值,则实际值为: R＝UN／IN 绝对误差为: Δ＝RX－R＝RX－UN／IN 相对误差为: r＝［（RX－UN／IN）／（UN／IN)］×100% 通过输出不同的标准电压值,便可测得一系列电阻值。用此方法检测时应注意测量仪在恒定电流下所限定的电阻范围对应的电压值范围,使标准源输出的电压在此范围内。 2.2　用标准电压表法进行测量 利用标准电压表、标准电流表以及大电流电阻对大电流接地电阻测量仪进行测量,其检测接线框图如图3所示。 测量时,接上一电阻值R,立即读取标准电流表和标准电压表的读数IN、VN,此时被检接地电阻测量仪表头也显示出所测电阻值RX。而标准电流表、标准电压表所测值对应的电阻值可认为是所测电阻的真值,即: R＝VN／IN 绝对误差为 Δ＝RX－R＝RX－VN／IN 相对误差为 r＝［（RX－VN／IN）／（VN／IN)］×100% 通过接入不同的电阻值,便可测得一系列的值。从而确定出被检接地电阻测量仪的误差情况。 用此方法检测时应注意接地电阻测量仪所能测量的电阻范围,接入的电阻不可超出此电阻范围 由于所测电阻均为小电阻,因此必须采用四端测量 因是大电流测量,测量时间应尽量短。 3　误差分析 3.1　直接法的误差 直接法测量时,误差的主要来源是标准电阻引入的。在消除了引线电阻的影响后,只要标准电阻的误差为被检表允许误差的1/3～1/5即可。 3.2　间接测量的误差 3.2.1　标准电压源法测量时的误差 装置的主要误差来源: (1)标准电流表引入的误差S1:由于被检电流最高精度为0.5%,因此选用0.1级标准电流表即可。 (2)标准电压源带来的误差S2:由于被检表精度不高,在选用标准电压源时,一般采用实验室现有的三用表校验仪D030的交流电压信号输出便可满足要求,考虑到所需电压较小,其输出值误差一般不超过±0.5%。 (3)标准电压源输出漂移带来的误差S3：一般D030稳定性误差为±0.05%,考虑小电压情况,其漂移误差一般也不会超过±0.1%。 装置的总误差为: 由于被测接地电阻测量仪电阻精度最高为2%读数±2个字,可见装置总误差能满足要求。 3.2.2　标准电压表法测量时的误差 (1)标准电流表引入的误差S1:由于被检电流最高精度为0.5%,因此选用0.1级标准电流表即可。 (2)标准电压表带来的误差S2:由于被检表精度不高,选用0.05级标准电压表即可满足要求。考虑到所测电压较小,其测量误差一般不超过±0.5%。 (3)标准电压表输入阻抗带来的误差S3:因所测电阻均为1Ω以下,相对而言,标准电压表输入阻抗带来的误差完全可以忽略不记。 (4)电阻引入的误差S4:用此法检测,接入的电阻并不作为标准,仅作为被检表与标准表测量的一个载体,因此该电阻的精度并不影响测量结果,影响测量结果的主要因素是电阻的稳定性,由于所接电阻大电流的要求,此电阻通常是由专门的材料和工艺定做而成,对其稳定性有一定的要求,加之被检表和标准表几乎是同时测量,因此电阻稳定性引入的误差可忽略不记。

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

测量仪器的计量特性 测量仪器的计量特性是指其影响测量结果的一些明显特征，其中包括测量范围、偏移、重复性、稳定性、分辨力、鉴别力和示值误差等。为了达到测量的预定要求，测量仪器必须具有符合规范要求的计量学特性。 确定测量仪器的特性，并签发关于其法定地位的官方文件，称为测量仪器控制。这种控制可包括对测量仪器的下列运作中的一项、两项或三项： ——型式批准； ——检定； ——检验。 这些工作的目的是要确定测量仪器的特性是否符合相关技术法规中规定的要求。型式批准是由政府计量行政部门做出的承认测量仪器的型式符合法定要求的决定。所谓型式，是指某一种测量仪器的样机及(或)它的技术文件(例如：图纸、设计资料等)，实质上就是该种测量仪器的结构、技术条件和所表现出来的性能。 检定是查明和确认测量仪器是否符合法定要求的程序，它包括检查、加标记和(或)出具检定证书。检验是对使用中测量仪器进行监督的重要手段，其内容包括检查测量仪器的检定标记或检定证书是否有效、保护标记是否损坏、检定后测量仪器是否遭到明显改动，以及其误差是否超过使用中最大允许误差等。