进口膜厚仪

光学膜厚仪干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度，干涉条纹每移动一个条纹间距，光程差就改变一个波长(～10-7米)，所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的，其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。应用领域：1、半导体晶片2、液晶产品（CS,LGP,BIU） 3、微机电系统4、光纤产品5、数据存储盘（HDD,DVD,CD）6、材料研究7、精密加工表面8、生物医学工程FR-pRo是一个模块化和可扩展的测量仪器系列，可根据客户需求量身定制，能够通过标准的吸光度/透射率和反射率测量，在温度和环境受控环境下进行薄膜表征，用于各种不同的应用。FR-pRo 工具经过精心设计，可通过以下方式组装：核心单元和测量配置和附件列表中的模块和套件。通过选择或组合各种核心单元和不同的模块和套件，用户可以根据他们的需要进行最合适的测量和表征设置。核心单元核心单元包含一个小型高性能光谱仪、一个合适的光源和所有必要的电子模块（电源和控制器）。该光源提供高稳定性的发射光谱、软件控制的光强度和非常长的操作时间。核心单元外壳由优质工业阳极氧化铝制成，具有坚固的模块化结构。核心单元的顶盖是一块光学面包板带有预钻孔的 M6（或 ?”）螺纹，尺寸为 340mm x 200mm。顶盖用作样品、测量设备和标准 SMA-905 连接器的支架，用于将来自光源的光传输到光谱仪的光纤。核心单元在 200-2500nm 波长范围内有多种配置可供选择，并且可以进一步调整以满足某些应用需求。产品特点1 、非接触式测量：避免物件受损。2 、三维表面测量：表面高度测量范围为 2nm ---500μm。 3 、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。4 、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达0.1nm。5、高速数字信号处理器：实现测量仅需几秒钟。6 、扫描仪：闭环控制系统。7、工作台：气动装置、抗震、抗压。8 、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算技术参数FR -监控软件用于控制的FR -扫描仪、执行数据采集和分析薄膜的厚度。该系统简单易学，对于初学者能很快掌握适用于各种windows系统。典型案例4英寸硅片退火处理后二氧化硅膜厚映射8英寸硅片上沉积多晶硅层的膜厚映射 3英寸硅片SU-8胶薄膜厚度映射

新的NGO3-W测量头用于移动过程中的非接触水膜测量。对公司改善其能源平衡的要求不断增加。轧制板坯需要高能量的投入。在轧制过程之后，带材被卷起。在这里，轧制所需的乳剂被吹掉，费用很高，而带材则使用辐射加热器和风扇进行干燥。我们的NGO3-水测量头在带钢以生产速度收卷时实时测量带钢上的剩余水量。在200毫米的距离内，测量头可以安装在例如后一个支架和卷轴之间。关于皮带上的水和润滑剂的测量量，你可以在mg/m2的单独显示中得到，并直接显示在操作员的显示器上。通过这种方式，可以根据测量值来调整皮带的干燥，而且不必过度加热和吹气。水被包裹起来的巨大危险成为历史。特点非接触式的实时测量内部自动连续验证检查彩色图形显示皮带速度独立胶带振动补偿测量头和皮带之间有200毫米的安全距离独立的残油IP65等级应用领域用于测量乳剂的特殊传感器。该传感器被用于例如重板轧机连铸厂热轧机热轧机。详细参数测量方式：红外光谱测量对象（测量变量）：油膜厚度或水分含量（单位g/m2, mg/m2)测量间距：200 mm公允带钢高度偏差：±20mm尺寸：519 x 264 x 100 mm重量：8kg工作温度：0°C up to +55°C 测量频率： ≤120hz板带材质：所有金属和陶瓷

仪器简介：产 品 介 绍: 订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 （涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题） (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：应用范围： 磁性基材上的非磁性涂层，例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层，例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法：磁感应或涡流式 ●测量精度：1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率：0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量：12，400条读数 ●低铁和无铁层厚度：12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池） ●单位：英制和公制，可转换 ●电池：9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口：RS-232串行输出端口 ●显示：1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键 ●扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值） ●品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国主要特点：品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头：配备有世界上的检测探头 □测量精度：1%或± 0.1&mu m依照参考标准片，分辨率：0.1&mu m □测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

INSIGHT 镀层分析仪使用微聚焦X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑，照射在样品位置，从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号，通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光信号，得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和精准分析，是对不均匀或形状不规则的未知样品以及微观物体进行元素分析的理想方法。INSIGHT 镀层分析仪是一款上照式镀层分析仪，具有外观紧凑、节约空间、易于操作、分析快速、检测精准等特点，被广泛应用于常规和复杂镀层结构的样品进行元素分析和厚度检测，尤其是对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，确保客户获得可靠、可重复结果以满足数百种应用，包括：珠宝首饰、小零件、连接器镀层、普通电路板等。使用优势多准直器多准直器可选或多种准直器组合由软件自动切换，可灵活应对不同尺寸的零件。一键式测量配备直观而智能的分析软件，操作简单，任何人无需培训都可以测试样品，仅仅需要点击“开始测试”，数十秒即可获得检测结果啦。自动对焦高低大小样品可快速清晰对焦，视频图像可放大、含十字线、自动聚焦。超大测量室仪器壳体的开槽设计（C型槽）使得测量空间宽大，样品放置便捷，可以测量如印刷线路板类大而平整的物品，也可以放置形状复杂的大样品。无损检测X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。高性能进口探测器选用适合于多元素镀层的大面积Si-PIN探测器，比起传统的封气正比计数器，Si-PIN具有更佳分辨率、更低的背景噪声（最高 S/N 比）长期稳定性以及更长的使用寿命。可编程自动位移样品台可选配固定或电动型自动平台，并且可编程以适应广泛的零件尺寸和测试量。固定样品台足以对易于定位检测面积的电路板上一个或几个位置进行点检。用户可以使用固定样品台手动定位样品，但是对于具有复杂设计和极小特征的电路板，在电动样品台上的处理效果会更好，这种样品台可提供更好的精确度来进行微调。此外，INSIGHT还允许创建、保存和调用多点程序，以便对多个部件进行自动化测试。可编程 XY 载物台与内置模式识别软件相结合，使大容量样品测试既高效又一致。应用场景普通PCB行业PCB表面处理工艺，常见的是热风整平、有机涂覆OSP、化学镀镍/浸金、浸银、浸锡和电镀镍金等工艺。晓INSIGHT可对不同形状的PCB镀层厚度与成分进行快速、高效、无损和准确的分析。珠宝首饰电镀工艺能起到保护首饰金属表面的作用，又可使金属首饰表面更加美观。不同国家首饰电镀标准不同，目前我国执行的标准为《贵金属覆盖层饰品 电镀通用技术条件 QB T 4188-2011》，为满足市场质量要求，确保符合行业规范，晓INSIGHT适用于不同形状的珠宝首饰的单镀层和多镀层厚度和成分检测。电子元器件镀层技术和电子元件的发展互相协同，随着社会发展节奏的加快，对电子元件的性能要求逐渐提高，镀层技术也显得尤为重要。为保证电子产品稳定可靠，对电子元件的镀层进行检测筛选是一个重要环节。常见的电子元件镀层有锡-银(Sn-Ag)镀层、锡-铋(Sn-Bi)镀层、锡-铜(Sn-Cu)镀层、预镀镍-钯-金(Ni-Pd-Au)等。通用小零件和小结构随着科技的快速发展，各个行业中零件都趋于小型化，镀层工艺作为小零件的重要表面处理方法，分为挂镀、滚镀、接连镀和刷镀等方法。规格参数特点自上而下的测量结构，XYZ测量平台，Muti-FP多层算法元素范围Na(钠)—Fm(镄) 分析层数5层（4层+基材）每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素X射线管50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）探测器Si-PIN大面积探测器准直器φ0.05-φ1可选，多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素手动样品XY平台移动范围：100 x 150 mm可编程XY平台(可选配)Z轴移动范围150 mm样品仓尺寸564×540×150mm（L×W×H）外形尺寸664×761×757mm（L×W×H）重量120KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W

德国KAWE卡威光纤喉镜进口喉镜特点：卡威光纤喉镜的手柄，采用网纹设计，防止操作者有汗或水导致滑落。喉镜采用冷光源设计，灯泡光源在手柄灯座内，通过光纤光亮，使用疝气灯泡，使光源更亮，麻醉师和医生看的更清楚。难度带弯钩光纤叶片：可更换光纤导管设计，叶片顶端可活动，便于抬起患者会厌，帮助麻*醉师和医生能更清楚的观察，进行插管。杠杆的原理，弯度可达到60度，降低了喉部和牙齿损伤的风险。可在134℃高压进行4000次以上消毒。可更换光纤叶片（Mc）：可更换光纤导管设计，经济、环保，高品质的不锈钢（表面亚光处理），防止光线反射，强大的光纤线束，放置了不小于5500束极光米以上线束，光纤导管为直径4mm，光纤传导测量距离35mm。可在134℃高压进行4000次以上消毒。内嵌光纤叶片MAC:无残留，易于清洗，高品质的不锈钢（表面亚光处理），可用134℃高压进行4000次以上消毒。强大的光纤线束，截面（3.0*7.0mm)，放置了不小于8000束极光米以上线束，让麻醉师和医生看得更清楚。上海飞斯特医疗器械有限公司是一家研发、销售各类急救医疗设备的现代型企业。公司与国内知名厂家合作开发FST飞斯特担架和急救箱包产品。另外代理经销：意大利MEBER米博担架art.631,art.7230,art.7210,art.670,art.894,art.886,art.9010,art.630,art.7070,art.7076,art.659B，art.658 德国普美康除颤监护系列、美国德百世吸痰器、英国美科瑞急救呼吸机及德国KAWE麻醉喉镜，耳镜，检眼镜英国MICROVENT（美科瑞）急救 &呼@*&吸&机、美国鹰牌706 呼&*吸&*机、加拿大O-TWO 呼&* 吸&*机、台湾VADI呼吸皮球、医疗器械、医疗设备、医疗、急救、救援设备、呼&*吸&*机、韩国美迪安纳D500除颤监护仪、席勒SCHILLER除颤仪DG4000、FRED easy、DG5000、ZOLL祖尔、Cardioserv美敦力电除颤、德国PRIMEDIC太空曼吉世除颤仪、挪威LAERDAL吸引器,席勒心电图机，Reanibex除颤监护仪、Defi-B、AED、PAD、XD1XE、XD100XE、XD10XE、XD330XE、AED-M除颤、电除颤仪、电除颤器、除颤仪、除颤监护仪、除颤器、心脏除颤器、心脏除颤仪 、心脏除颤监护仪、体外除颤仪、自动体外除颤仪、自动体外心脏除颤仪、自动体外心脏除颤器 、除颤监护仪、体外除颤器、自动体外除颤器、全自动除颤器、品牌有：普美康、席勒、GE、美敦力、飞利浦、卓尔ZOLL专业供应监护仪、多参数监护仪、心电监护仪、无创监护仪、病人监护仪、重症监护仪、胎儿监护仪、母亲胎儿监护仪、胎心监护仪、多普勒胎心监护仪、母婴监护仪、床边监护仪、床旁监护仪、便携式监护仪、中央监护仪、麻醉深度监护仪、监护仪探头、导联线、绑带等耗材；英国麦氏MCGRATH MAC可视视频喉镜、心电图机、德国HEINE海涅海尼检耳镜，皮肤镜，电耳镜，急救中心、医院、颈托、颈椎固定器、 西班牙HERSILL禾赛V7 plus b emergency吸引器、供应喉镜、难度插管喉镜、视频喉镜、可视光纤喉镜、内藏光纤喉镜、麻*醉喉镜、麻醉咽喉镜、一次性麻*醉咽喉镜、弯钩麻*醉咽喉镜、光导纤维喉镜、新生儿喉镜、婴儿型喉镜、儿童喉镜、不锈钢喉镜、喉镜叶片、喉镜灯泡耗材等，品牌有以色列SHUCMAN、英国Timesco、德国KAWE、英国Penlon、美国Welch Allyn、德国HEINE、上海跃进专业供应喉罩 喉罩 单管喉罩 双管喉罩 一次性喉罩 重复用喉罩 插管型喉罩 可弯曲喉罩 医疗盲插喉罩 双腔喉罩 加强型喉罩 硅胶喉罩 硅橡胶喉罩 PVC喉罩 一次性单管喉罩 一次性双管喉罩 英国LMA喉罩 新加坡莱吉喉罩 型号有Unique Classic Supreme ProSeal Flexible Fastrach ；奔驰FORD福特V380救护车、心肺复苏仪、心肺复苏机、心肺复苏器、心肺复苏系统、心肺复苏急救盒、多功能心肺复苏机、气动心肺复苏机、充气式心肺复苏机、自动胸外按压心肺复苏器、紧急心肺复苏机、心肺复苏模拟人、心肺复苏模型、心肺复苏板、便携式心肺复苏急救箱、手动胸外按压复苏仪、心脏按压泵、胸外心脏按压泵；意大利MEMEBER真空夹板、真空担架、FERNO复苏治疗裤、ALLIED软夹板、LAERDAL皮球、日新协和上车担架、链轨担架，捷克ROYAX楼梯担架、laerdal挪度板式担架、SPENCER脊椎板、西班牙KARTSANA卡斯塔纳铲式担架、万事兴电动担架仓、婴儿保温箱担架车、卷式夹板、多功能担架、真空垫、吊篮担架、水上救援担架、救生吊床、睡眠呼吸机、抗休克裤、捷克EGOZlin 正负压隔离担架、EMMA急救二氧化碳监测仪、GE迈心诺血氧仪、里斯特Riester喉镜、英国TIMESCO泰美科喉镜、福田光电迈瑞心电图机、强生血糖仪、丹麦AMBU、美国NONIN燕牌脉搏血氧仪、美国FLAMBEAU急救箱联系电话： 联系人：肖先生 电话： 微信同号

薄膜厚度测厚仪 PTT-03A普创paratronix产品简介：薄膜厚度测厚仪 PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜厚度测厚仪 PTT-03A普创paratronix产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：薄膜厚度测厚仪 PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置薄膜厚度测厚仪 PTT-03A普创paratronix 薄膜厚度测厚仪 PTT-03A普创paratronix

TCK-02 测厚仪TCK-02 测厚仪 采用机械接触式测量方式，严格符合相关标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征&bull 工业级高清彩色电阻触摸屏，菜单式操作界面，方便用户控制和展示实时数据及曲线&bull 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制&bull 采用高精度测厚传感器，有效保障测量数据的准确性和重复性&bull 进口高速高精度采样芯片，保证测试数据的实时性和准确性&bull 测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差&bull 支持手动和自动两种模式，方便用户使用&bull 标配微型打印机，可实时打印试验数据&bull 标配标准量块，方便用户标定传感器，更好地保障测量数据的准确性&bull 支持历史数据可进行快速查看及报告打印测试原理采用机械接触式测量方式，将试样放置于测试平台上，通过传动装置落下测量头，在一定的测量压力和接触面积下，通过高精度传感器读取试样的厚度。参照标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817技术指标指标参数量程0～2mm（标配）0～6mm、0～12mm（选配）分辨率0.1um重复性0.5um测试速度1～20次/min测量压力17.5±1 KPa（薄膜）；100±1 KPa（纸张）接触面积50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源AC 220V 50Hz / AC 120V 60 Hz外形尺寸320mm (L)×400 mm (W)×420 mm (H)约净重33kg产品配置标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件选 配 件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码注：中科仪器始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格、外观亦会相应改变，上述情况恕不另行通知。本公司保留修改权与最终解释权。

高精度薄膜片材测厚仪 厚度测量仪 仪器简介：行业标准中关于薄膜、片材、铝箔铜箔片等厚度的测量采用的接触式测量方式，济南赛成科技根据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等标准研发的CHY-CA薄膜测厚仪即为该测量方式。CHY-CA仪器采用进口优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。赛成 CHY-CA高精度薄膜、片材测厚仪 性能特点： （1）严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制?（2）测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差?支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。（3）实时显示测量结果的大小极限值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断?（4）系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪测试标准ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 应用领域基础应用：薄膜、薄片、隔膜 、纸张、纸板 、箔片、硅片 、金属片 、纺织材料 、固体电绝缘体 、无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 技术指标测试范围： 0～2 mm（常规）0～6 mm；10 mm（可选）分辨率 ：0.1 μm测量速度 ：10 次/min （可调）测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距 ：0～1000 mm进样速度 ：0.1～99.9 mm/s电 源 ：AC 220V 50Hz外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)净重 ：32 kg

【仪器介绍】SGC-10型薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量，是天津港东与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要整机进口。【产品配置及参数】编号名称规格1厚度范围20nm-50um（只测膜厚），100nm-10um（同时测量膜厚和光学常数n，k）根据薄膜材料的种类，其范围有所不同。2准确度1nm或0.5%3重复性0.1nm4波长范围380nm-1000nm5可测层数1-4层6样品尺寸样品镀膜区直径1.2mm7测量速度5s-60s8光斑直径1.2mm-10mm可调9样品台290mm*160mm10光源长寿命溴钨灯（2000h）11光纤纯石英宽光谱光纤12探测器进口光纤光谱仪13电源AC100V-240V，50HZ-60HZ14重量18kg15尺寸300mm*300mm*350mm 【强大的软件功能】界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。 【产品功能适用性】该仪器适用于多种介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。 【典型的薄膜材料】SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。 【典型的基底材料】SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。 仪器具有开放性设计，仪器的光纤探头可很方便地取出，通过仪器附带的光纤适配器（如图所示）连接到带C-mount适用于微区（10μm，与显微镜放大率有关）薄膜厚度的显微镜（显微镜需另配），就可以使本测量仪测量。

纸、薄膜厚度测定仪本机是TH-101,102系列的数码万分表类型。因为是数码类型、自动回零、有抓头儿等的功能、校正也简便。根据选项能打印所需求的数据。配 置纸用型 式 ：A 型 精 度 ：1 /1000mm 行 程 ：8mm 载 重 ：550g /cm 加压尺寸：14.3mm￠ 薄膜用型 式 ：A 型’精 度 ：1 /1000mm行 程 ：8mm载 重：125g加压尺寸： 5mm￠ 参考规格……JISP-8111 (纸用) JISK-6781(薄膜用)付属品 ……回收箱机体尺寸……约(正面的宽度)9x(深)14x(高度)27ｃｍ

产品简介：SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用相应的软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。产品型号SGC-10薄膜测厚仪主要特点1、非接触式测量，用光纤探头来接收反射光，不会破坏和污染薄膜；2、测量速度快，测量时间为秒的量级；3、可用来测薄膜厚度，也可用来测量薄膜的折射率n和消光吸收k；4、可测单层薄膜，还可测多层膜系；5、可广泛应用于各种介质，半导体，液晶等透明半透明薄膜材料；6、软件的材料库中整合了大量材料的折射率和消光系数，可供用户参考；7、内嵌微型光纤光谱仪，结构紧凑, 光纤光谱仪也可单独使用。8、强大的软件功能：界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。9、仪器具有开放性设计，仪器的光纤探头可很方便地取出，通过仪器附带的光纤适配器（如图所示）连接到带C-mount适用于微区（10μm，与显微镜放大率有关）薄膜厚度的显微镜（显微镜需另配），就可以使本测量仪测量。技术参数1、厚度范围： 20nm-50um（只测膜厚），100nm-25um（同时测量膜厚和光学常数n，k），根据薄膜材料的种类，其范围有所不同。2、准确度： 1nm或0.5%3、重复性： 0.1nm4、波长范围： 380nm-1000nm5、可测层数： 1-4层6、样品尺寸： 样品镀膜区直径1.2mm7、测量速度： 5s-60s8、光斑直径： 1.2mm-10mm可调9、样品台： 290mm*160mm10、光源： 长寿命溴钨灯（2000h）11、光纤： 纯石英宽光谱光纤12、探测器： 进口光纤光谱仪13、电源：AC110V-240V，50HZ-60HZ产品规格尺寸：300mm*300mm*350mm，重量：18kg

普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A

光声无损膜厚仪随着电子和纳米科学时代的兴起，电子元件的小型化已成为其几乎呈指数级性能的重要因素。将技术层和涂层减薄到纳米级，可以在各种领域取得进步。复杂的制造流程推动控制变得越来越准确。光声无损膜厚仪为这些演变相关的许多问题提供了解决方案。缺陷检测现在在许多行业中非常必要，以避免在生产过程中遇到问题并提高质量水平。我们使用的光声技术设计了光声无损测量系统。 技术源自法国CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用深入物质的核心。我们的非破坏性和非接触式技术将光转换为声频超过100GHz 的声波。 目的在于表征涂层，例如不同类型材料的厚度和附着力。特别适用于测量从几纳米到几微米的薄层，无论是不透明的（金属、金属氧化物和陶瓷），还是半透明和透明的。 这种光学技术不受样品形状的影响。 产品特点非破坏性和非接触式技术薄膜的表征：厚度、附着力、热性能快速且可重复的测量超精密测量许多材料可用能检测的膜厚度从 2纳米～20微米扫描方式：单点、XY扫描、表面声波测样样品种类： 不透明、半透明、透明均可测试。平坦和弯曲的样品均可 系统构成：仪器使用两个同步的超快激光器。会产生大约100飞秒的不同波长的激光脉冲。使用这些脉冲进行非破坏性和非接触式测量。这些都集中在所研究的样品表面。 能使用的材料广泛的材料及其在许多应用中的使用使这一材料方面变得非常必要。自产品问世以来，我们的技术已证明其有能力测量许多金属材料。也适用于陶瓷和金属氧化物，并且不受外形因素的影响。 无损检测 (NDT) 具体应用案例半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积。 问题？在任何工艺过程中，不透明薄膜的沉积，无论是单层还是多层，都需要质量控制。无论是检测还是计量，厚度测量和界面表征都是确保其质量的关键问题。 我们的解决方案？- 高速控制。- 非破坏性和非接触式测量。- 单层和多层厚度测量。 显示器行业今天，不同的技术竞争主导显示器的生产，而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上，由于未来UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺，这个不断扩大的行业存在技术限制。问题？一个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面，控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致最终产品出现质量缺陷。 我们的解决方案？- 对此类层的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。 薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域，技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。问题？无论是法律限制还是技术限制，破坏性测试的采样方法通常提供不完整的答案。此外，由于形状因素、曲率等原因，很难控制3D作品。 我们的解决方案？- 非破坏性和非接触式测试- 快速测试厚度数据- 现在可以进行在线生产控制

天津瑞利光电科技有限公司优势经销德国QNIX膜厚仪4500产品介绍用于标准应用的测量，容易，安全和快速的测量。单手操作，只有一个按钮无校准自动开/关在整个测量范围内的准度高：Fe 0 - 5000μm，NFe 0 - 3000μm钢，铁和有色金属如铝，锌，铜和黄铜的非破坏性测量的广泛用途经过验证的技术：霍尔传感器和涡流技术声信号确认了测量耐磨型红宝石探针头长期使用QNix 4500被开发用于汽车和油漆行业的广泛应用，这种紧凑型测量仪允许对钢和铁以及有色金属（如铝，锌或铜）上的油漆和防腐蚀保护厚度进行非常准确的测量。使用QNix 4500，钢，铁和有色金属的准确测量是 的。只需按下按钮即可在测量程序之间切换，无需校准。 在整个测量范围内准度高：Fe 3000μm和NFe 3000μm。灵敏的QNix 4500测量探头完全集成到这个非常小，轻便的测量仪中 - 可选电缆探头。其可读取的LCD会显示读数，电池状态，操作模式和序列号。产品参数测量原理：两磁测量原理Fe：磁通/霍尔效应参考FeNFe：涡流标准与规定：DIN EN ISO 2808，ISO2178，ASTM B 499，ASTM D 7091探头类型：集成或可选 - 带1米电缆的电缆探头测量范围Fe：0.0至3000μmNFe：0.0至3000μm公制系统μm/ mil：是测量间隔单次测量：850 ms解析度：在max999μm的范围内为1μm，从1 mm为0.01 mmmin测量区域：直径25mmmin曲率凸：5mm，凹：25mmmin基材厚度Fe：0.2mmNFe：0.05 mm显示：图形LCD温度范围：0至50° C (32至122° F)允许的存储温度：-10至60°C（14至140°F）电源2 x电池：1.5 V（AA型碱性）尺寸（长x宽x高，毫米）：100 x 60 x 27（带集成探头）重量（包括电池）带集成探头：105 g带电缆探头：147 g天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家原装进口的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

品牌：德国EPK名称：超声波测厚仪型号：超声波测厚仪MiniTest 420/430/440产品描述：超声波测厚仪MiniTest 420/430/4401.超声波测厚仪2.高阻抗双晶探头3.脉冲－回波方式　量程达0.65-500mm4.回波－回波方式(透过涂层测量)　量程达3-25mm5.坚固的防火塑料外壳。6.快速测量金属、塑料、玻璃、陶瓷等材料的厚度。7.适合实验室及工业现场使用。8.适用于各种板材、管材、油罐、输油管、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的检测。 9.适用于炼油、钢铁、冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验。10.MiniTest 400系列是德国EPK公司推出的型超声波测厚仪。该系列产品具有使用简便，速度快，可靠性高等特点。标准配置 仪器主机 带连接电缆的探头一支 耦合剂(75ml) 2节5号电池 通讯电缆，通讯软件（限430/440）塑料手提箱中英文说明书保修卡 技术参数项目参数420430440零位校准开机自动零位校准●●测量参数发射－回波模式，量程0.65-500mm标准测量：满足常用的检测要求●●●最小值测量：满足曲面或需要选择最小值的测量环境●　●●差分测量：显示实际测量值与设定标准值的差值●●平均测量：提供2-9点的测量平均值●●上下限测量：极限报警●●回波－回波模式，量程3-25mm透过涂层测量基体厚度●快速扫查模式适用于高温或需要提高测量速度的测量环境，每秒10次的测量，可以同时显示测量中的值和最小值●●数据存储10组5000个数据，动态分配●●数据输出USB接口，通过USB接口上传仪器中存储的数据到计算机●●显示信息测量值，声速值，探头型号，电池电量，当前数据组示值精度小于99.99mm时为0.01mm 大于100mm时为0.1mm单位公制/英制声速范围1000m/s - 9999m/s增益自动；手动可调声速测量确定未知声速材料的声速，预置9种常用材料声速值探头识别自动识别探头关机选择可选择2分钟，5分钟自动关机或选择不自动关机外形尺寸130 × 73 × 24 mm(L×W×H)重量约190g工作温度-20至50摄氏度电池两节5号电池，电量显示，电量不足报警工作时间不间断测量不少于80小时显示屏128×64 背光可选探头：型号晶体直径频率测量范围工作温度简介U5.0E8MM5.0MHZ3-25MM(E-E)0.8-300MM(T-E)-12～+60℃440标配探头，440独有探头，具有透过涂层测量模式。最小测量管外径20mmU10.04MM10.0MHZ0.65-20MM-12～+60℃小管径探头。最小测量管外径10mmU7.56MM7.5MHZ0.65-50MM-12～+60℃主要用于薄壁及小弧面的测量. 最小测量管外径15mmU5.08MM5.0MHZ0.8-350MM-12～+60℃420,430标配探头，主要用于测量表面为平面或者较大弧度的材料。最小测量管外径20mmU2.012MM2.0MHZ2.0-500MM-12～+60℃粗晶探头，主要用于铸铁等粗晶材质的测量。最小测量管外径30mmU5.0HT13MM5.0MHZ3.0-200MM-12～+350℃高温探头，主要用于测量温度小于350℃的材料的测量，注：测量时晶体与被测高温物体的接触时间不得大于5S。最小测量管外径25mm

为了保证功能涂层在任何工作环境中都能发挥其作用，油漆涂装技术正在朝着精细化控制优化生产工艺和确保经济可持续发展方向努力。例如：家电行业希望油漆涂层更加耐用，能够适应各种各样家用电器和厨房器具的要求；而建筑行业则期望粉末涂层能够耐用且适应不同环境，特别是防腐涂料，期望能够经受得住太阳暴晒和风雨冲刷。过薄涂层无法保证涂料充分发挥功能作用；过厚涂层则会造成表面不平整，导致光泽度不同；对于机械阻力而言，越厚涂层硬度越大，则越容易断裂，因此生产厂家必须严格控制涂装工艺质量，令产品膜厚快速精准控制在合格范围内，从而满足不同的使用需求。目前市场上普遍使用的是几十年前开发的接触式磁性测厚仪和涡流测厚仪，或者是超声波测厚仪，这些测厚仪器虽然是非破坏式测厚，但是只能等待涂层固化后才能测量膜厚，无法在湿膜状态下测出固化后干膜厚度。为了更好实现测湿膜直接显示干膜厚度功能，瑞士涂魔师非接触无损测厚仪应运而生。涂魔师膜厚测量仪是一款非接触无损涂层测厚仪，不管漆膜是烘干后还是未烘干，粉末涂料是固化前还是固化后，涂魔师都可以轻松测出其干膜厚度。涂魔师膜厚测量仪工作原理涂魔师膜厚测量仪采用ATO光热法原理和数字信息处理技术(DSP），通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层，其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师膜厚测量仪优势---精准协助厂家提高产线的喷涂效率及产品合格率湿膜状态下测出干膜厚度涂魔师膜厚测试仪能在涂层烘干前测出干膜的真实厚度，并实时直接传入ERP/MES系统，可全程数据化监控，也便于下次调用生产或回溯分析。自动监控，减少次品率全程数据化追溯涂装工艺，有效协助涂装部门在生产过程中及时发现喷涂厚度问题，马上调整设备参数，优化工艺过程和消耗品的更换频率。快速研发，提高质量研发中心不必等待涂层干透，快速确保样品干膜厚度达标而做出测试样品，大幅缩短研发周期，助力制定新的质量标准、生产工艺，使产品更加有竞争力。喷涂厂家使用涂魔师膜厚测量仪测量未固化涂层即时得出固化后涂层厚度，并且全程能实现生产工艺的统计及不间断追溯，高效监控膜厚真实情况，进行数据的不间断监控记录和智能统一管理。翁开尔是涂魔师中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。

设备咨询 吴先生反射膜厚测量仪型号：-HS-100；波长范围：380 - 1000 nm；测量范围：10nm-100um型号：-HS-200；波长范围：250 - 1000 nm；测量范围：2nm-100um型号：-HS-300；波长范围：700 - 1200 nm；测量范围25nm-1mm光斑尺寸：0.4 - 2 mm膜厚测量范围1nm到1毫米测量反射率，膜厚，颜色，折射率透射测量仪型号：A3-ST-100：波长范围380 - 780 nm型号：A3-ST-200：波长范围250 - 1000 nm光斑尺寸：0.4 - 2 mm膜厚测量范围1nm到1毫米测量透射率，膜厚，颜色，折射率

薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试金属片：适用于金属片的厚度测试纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm， 10mm：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头：满足特殊要求的厚度测试薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪技术参数测试范围：0 ～ 2 mm（常规）、0 ～ 6 mm、10 mm（可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距：0 ～ 1000 mm进样速度：0.1 ～ 99.9 mm/s电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：400mm (L)×310 mm (W)×460mm (H)净重：32 kg测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

高精度涂层测厚仪• 所有金属基材上的非破坏性测量• 多种图形显示选项• 菜单控制界面，更强的数据和配置管理• 用于简易配置评估和数据设置报告的PC软件• 测量厚度高达35mm的各种耐磨探头• SIDSP技术提升精确度和重现性MiniTest 7400 探头可选探头种类繁多的可换探头，满足各种应用要求。可以通过推拉式连接系统轻松地更换探头。两用型FN探头自动识别基体材料。与表面接触后，仪器自动切换到合适的测量原理。 因此，应用错误会被淘汰，加快了测量进程。探头技术参数标准探头HD探头量程低端分辨率误差重复性(标准偏差)最小曲率半径(凸/凹)最小测量区域直径(无测量标准)最小测量区域直径(有测量标准)最小基体厚度F05F05HD0~0.5mm0.02μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm0.3mmF1.5F1.5HD0~1.5mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm0.3mmF1.5-900~1.5mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)平面/5mm10mm5mm0.3mmF2HD0~2mm0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm-0.5mmF5F5HD0~5mm0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm10mm0.5mmF150-15mm1μm±(5μm±0.75%)±(2.5μm±0.5%)5/25mm25mm25mm1.0mmF350-35mm5μm±(20μm±0.75%)±(10μm±0.5%)50/50mm100mm-1.5mmN0.2N0.2HD0~0.7mm0.02μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm40μmN0.7N0.7HD0~0.7mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm40μmN0.7-900~0.7mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)平面/5mm10mm5mm40μmN2.5N2.5HD0~2.5mm0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm10mm40μmN70~2.5mm1μm±(5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)15/25mm23mm20mm40μmFN1.5FN1.5HDF：0~1.5mmN：0~0.7mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mmF：0.3mmN：40μmFN1.5-90F：0~1.5mmN：0~0.7mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)平面/5mm10mm5mmF：0.3mmN：40μmFN5FN5HDF：0~5mmN：0~2.5mm0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm10mmF：0.5mmN：40μm注：HD探头是针对于油漆或粉尘污染等恶劣环境设计的坚固探头，F2HD特别适用于粗糙表面。1.多点校准,在实验室条件下符合提供的标准2.零点校准，并且校准值和预期的涂层厚度接近3.使用精密支架，不适用HD探头4.如果选择“快速”，测量速度主要取决于操作5.根据 DIN 55350第13部分6.多点校准值优于获得的指定数据.7.包括涂层探头设计选择不同的线缆插口类型更加灵活，来适应测试要求。每个标准探头都可以提供直线缆插口或直角设计，后者可以测量难以进入的类似管和中空零件。对由于油漆或粉尘污染的恶劣坏境需要特殊的探头。为了给在恶劣环境中提供最终保护，MiniTest 7400提供了一个特制的坚固探头系列（HD探头）。这些探头具有特殊的灌浆密封用来保护探头设备。外部的弹簧装置使探头易于清洗。 F 2 HD 探头对于粗糙表面，“F2 HD”型探头是特别适用于粗糙表面的探头。MiniTest 7400 主机技术参数技术参数MiniTest7400数据记忆组数500存储数据量约250000个读数统计值(每批组)读数个数，最大值，最小值，平均值，标准偏差，变异系数，组统计值(标准设置/自由配置)，过程能力指数CP和CPK，直方图，趋势图校准程序符合国际标准和规范ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准校准模式最多5点校准，使用者可调节补偿值极限值监控声音、视觉报警提示超过极限值测量单位μm，mm，cm，mils，inch，thou操作/存放温度-10℃~60℃/-20℃~70℃数据接口IrDA1.0红外接口，可选USB和RS232适配器电源4节AA(LR06型)电池，或可选外接电源(90－240V～/48－62Hz)规范和标准160x160像素LCD带背光显示153mmx89mm32mm尺寸重量310g；(主机包括电池)MiniTest 7400 可选配件

农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪（CHY-C2A型号）采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告 执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机以上信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

三工精密激光调阻仪 厚膜电路激光修阻机　　薄膜电阻和厚膜电阻之间的渊源：　　1、膜厚的区别，厚膜电路的膜厚一般大于10μm，薄膜的膜厚小于10μm，大大多处于小于1μm 　　2、制造工艺的区别，厚膜电路一般采用丝网印刷工艺，薄膜电阻采用的是真空蒸发、磁控溅射等工艺方法。厚膜电阻一般精度较差，10%，5%，1%是常见精度，而薄膜电阻则可以做到0.01%万分之一精度，0.1%千分之一精度等。　　同时厚膜电阻的温度系数很难控制，一般较大，同样的，薄膜电阻则可以做到非常低的温度系数，如5PPM/℃,10PPM/℃这样电阻阻值随温度变化非常小，阻值稳定可靠。所以薄膜电阻常用于各类仪器仪表，医疗器械，电源，电力设备，电子数码产品等。价格相对厚膜电阻来说会比较贵一些。　　厚膜电阻还是薄膜电阻两者都需要达到一定的精度跟稳定度，只是两者的要求不一样。武汉三工精密生产的激光调阻机就解决了厚膜电阻跟薄膜电阻在精度跟稳定度上不易控制上的问题，并且具有调阻效率高、使用成本低、高自动化运行的优点。激光调阻机加工优势呢?　　1、激光调阻机在加工过程中属于非接触性加工，不产生机械挤压，因此加工工件不会被破坏，聚焦的激光光束如刀具，尺寸小，热影响区域小，加工精细。　　2、激光加工调阻机先进的系统应用了大量的LSI、VLSI电路，以软件操作代替硬件功能，利用激光器光束定位，分步重复及测量等系统衔接。　　3、激光调阻机相对于手工换电阻、电位器调整等传统方式，其采用了高速实时测量及自动化程序控制技术，激光调阻加工时间缩短至几十毫秒，效率更高。　　4、激光调阻可以满足更小器件的微调，缩小加工产品的体积，激光束可聚焦到35um甚至10um，电路微型化意味着在同样的基板上能生产出更多的产品，降低了成本。LT7130激光调阻机 设备特点　　适用厚膜电路调阻，电子模块功能修调　　高精度，高速度，高可靠性　　订制的进口激光器，切口质量高　　直线电机XY平台分步重复　　矩阵测量系统，配备IEEE-488(GPIB)接口　　强大软件编程功能，满足各种不同应用 LT7130激光调阻机应用行业　　适用于厚膜、薄膜电阻的激光调阻，电子电路的功能修调、输出信号的修调。广泛应用于厚膜电路、汽车电子、传感器等领域。设备配置高，适合大规模量产。温馨提示：本产品不支持网上订购，产品均以实际配置计价为准，网上标价均为统一虚价，给您造成的不便还请谅解！具体价格请沟通后计算配置而定，谢谢！

普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A 普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A

薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品简介：薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix 薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix

普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A 普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A

薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

仪器介绍：广州标际所生产的高端测厚仪，测厚仪，薄膜测厚仪适用于包装薄膜，片材等的氧气透过率的检测。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪，操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜，纸张等直接测量或比较测量。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪产品特点测量精确，运行可靠，测量分辨率高达0.1微米；支持手动、自动双重测量模式；可单点测试也可多点测试自动进样间距、测量点数可调；液晶显示，可微机打印测试结果；测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值 可连接计算机,专业软件支持（可选）。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪技术参数测量范围：0~5mm分 辨 率：0.1&mu m进样间距：0~1000mm测量点数：0~10点

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜：适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板：适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片：适用于箔片、硅片的厚度测试金属片：适用于金属片的厚度测试纺织材料：适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体：适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm， 10mm：适用于无纺布材料的厚度测试，如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头：满足特殊要求的厚度测试测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

FKS2088GM进口隔膜压力变送器描述 美国FAWKES（福克斯）FKS2088GM隔膜压力变送器用于测量液体、气体或蒸汽的液位、密度、压力，然后将其转变成4-20mAHART电流信号输出，也可与HART375或BST Modem相互通信，通过他们进行参数设定、过程控制。与传统压力变送器的区别在于它使用的是纳米单晶硅作为传感器材料FKS2088GM进口隔膜压力变送器特点 采用先进的 MEMS技术制成的单晶硅传感器芯片、独创的单晶硅双梁悬浮式设计，高准确度、超高过压性能优异的稳定性。内嵌智能信号处理模块，实现静压与温度补偿的完美结合，可在大范围内的静压和温度变化下提供极高的测量精度和长期稳定性。1.精度高：0.5%、0.1% 2.量程、零点外部连续可调，量程比100:1 3.正迁移可达500%、负迁移可达600% 4.稳定性能好，稳定性：0.25%60个月5.接触膜片材料可选；抵押浇铸铝合金壳体，全不锈钢法兰，易于安装。6.过程连接于其它产品兼容，实现zui佳测量FKS2088GM进口隔膜压力变送器参数 产 品 名 称:FKS2088GM隔膜压力变送器 测 量 类 型:压力/绝压 测 量 范 围:-100kpa- 100kpa-35MPA准 确 度 等 级:0.2级、0.5级 膜 片 材 质：316L/钽膜片/蒙乃尔膜片/哈氏合金膜片/镀金膜片/四氟喷涂智能 显 示 类 型:智能显示 输 出 类 型:4-20mA/4-20mA+HART/1-5V/RS485防 爆 类 型:普通型/隔爆型ExdICT6 Gb/本安型ExiaIIC T6 Ga过 程 连 接:DN50/DN80/支持定制 安 装 支 架:B1/B2/B3支架外形尺寸FKS2088GM进口隔膜压力变送器电路接线

ASM825A静摩擦系数测试仪 一、产品简介:为了监测地面安全,人们需要一种经过验证的摩擦磨损试验机来检测,以前就有很多类型和设计的防滑测定仪或者静摩擦系数测定仪,但是很多都比较笨重。美国进口静摩擦系数测试仪用于迅速的测试瓷砖石材等地面静摩擦系数值，以确定地面或人行道是否安全,对于评价地面防滑能力有很大帮助。它是一个被公认的测试传感器材料。二、操作步骤： 操作前做好一切准备工作，并且清扫干净传感器后，轻轻平放测滑仪为正式测试做准备。在仪器的末端轴上连上尼龙丝线的链子。用两个手指拉动丝线，手的其余部分与钩子垂直，线必须撑直。用食指勾住线的环，卷曲食指拉动测滑仪，然后读出测滑仪显示的数据。然后按一下重置按钮2次，在4个垂直方向重复以上测试方式，直到抽样测到一个安全的数值可以记录。一个不正常的，或高，或低的数值都要被舍弃，然后重新测出另外一个数值。美国保险商实验所（UL）和美国产品材料试验学会共同采用0.50静摩擦系数或以上,均被公认是提供安全表面的标准。三、注意事项:每次使用前和使用后，都经常清洁感应器，通过砂纸的打磨以及刷子的清扫（循环测试）以防止每次测量从测量表面带来的灰尘的累积。 四、配件介绍：数字式测滑仪手提箱使用说明书 感应器，清扫的刷子安全日志感应器垫子（3组）配件收纳盒合成橡胶感应器（5组）校准链子丝线链子胶水十进制对照表 400#的砂纸重量：3.35kg建议使用9V的锂电池。 五、静摩擦测试仪ASM825A测试操作程序[步骤一].将仪器装上三个感测器,已完成感测器脚垫的打磨及清洁,然后将仪器轻放在测试区域表面。[步骤二].蓝色右边的按键选择测试表面状态:干燥(Dry)或潮湿(Wet)。[步骤三].蓝色左边的按键( Test(+)/Calbrite )按一下,荧幕左边出现 "+"符号,按二次此测试键。[步骤四].取出拉力尼龙线组,一端有S型钩环钩在仪器下方拉力轴,另一端圆环由食指弯曲钩住,其余四指弯曲握拳,慢慢把尼龙线拉直(右图1,2)。控制线应平直和水平。使用中环食指，食指慢慢地卷曲朝手掌方向，平稳的用力拉到仪器开始移动。此时注意荧幕上的读数变化,当仪器移动瞬间的读数-就是测试到*大静磨擦系数,读数会停止,并记录此测试数据。按下测试按钮(Test/Calbrite) 2次，并重复此过程及记录测试数据.

产品名称：聚酰亚胺膜(HN Kapton 进口材料) 产品简介：薄膜呈黄色透明，相对密度1.39～1.45，有突出的耐高温、耐辐射、耐化学腐蚀和电绝缘性能，可在250～280℃空气中长期使用。20℃时拉伸强度为200MPa，200℃时大于100MPa。特别适宜用作柔性印制电路板基材和各种耐高温电机电器绝缘材料。 产品规格：长：12″宽：12″、25″、或者50″；厚度：0.001″、0.002″、0.003″、0.0003″、0.005″注：可按照客户要求加工尺寸 标准包装：1000级超净100级超净袋包装