进口衍射仪

XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计，测角仪扫描半径连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线强度之间进行均衡选择，自行设定需要的试验条件，满足不同情况试验需求。XD6提高了快速转动速度，从而提高实验效率。 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。 采用细分驱动电源技术,扫描半径连续可调。 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。 X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度更快，故障率更低，射线阻断性更好，机柜外辐射剂量低。 X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。 中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。

1.双波长透镜双波长透镜组的主要功能为将两个不同波长的入射光聚焦到相同的焦点上，如下图所示，采用常规的硒化锌材料透镜，将CO2激光以及HeNe激光的聚焦点整合到一起。示意图：选型表：型号波长（nm）输入孔径 1/e2（mm）工作距离（mm）直径（mm）材料镀膜DW-201-A-Y-A10600, 6334~1212515ZnSe防反射多层膜DW-202-A-Y-A10600, 6334~122019ZnSe防反射多层膜 2.平顶光束整形衍射平顶光束整形元件用于将一个高斯入射光变为强度均匀的平顶光束，具有很锐利的边缘，可以是圆形或方形。主要的应用包括激光烧蚀、激光焊接、激光打孔、激光显示器、激光医学及激光医疗等。示意图:相关参数： 区域内光束能量 (1/e² )光斑均匀性工作距离（mm）输入光束直径（mm）波长（nm）整形后光斑尺寸 下限 75%± 0.5%250.826615 &mu m 上限 75~98%± 20%Infinity25 mm10600100× 100mm选型表：型号波长（nm）直径（mm）输出孔径1/e2（mm）工作距离（mm）像尺寸1/e2光斑形状材料TH-205-A-Y-A1060025.441001.5mmRoundZnSeTH-003-A-Y-A1060012.73.742.5300× 100 µ mLineZnSeTH-215-I-Y-A106425.46infinity1mRadRoundFused SilicaTH-013-I-Y-A106425.47infinity1× 1degreeSquareFused SilicaTH-016-K-Y-A98025.47infinity0.9× 0.9degSquareFused SilicaTH-033-X-Y-A80025.46200.293 mmRoundFused SilicaTH-032-Q-Y-A53225.410.92002 mm @FWHMRoundFused SilicaTH-036-Q-Y-A53225.43.599.5200× 200 µ mSquareFused SilicaTH-209-U-Y-A35525.49x6200100 µ mRoundFused SilicaTH-217-U-Y-A35512.72100100× 100 µ mSquareFused SilicaTH-044-V-Y-A33720849.39520 µ mRoundFused SilicaTH-051-W-Y-A26625.454215 µ mRoundFused Silica 3.衍射校正聚焦镜常规的平凸透镜会产生不同位置的入射光焦点不一的问题。采用衍射校正透镜，是在常规平凸透镜的平面端刻蚀像差校正的衍射微结构，从而达到整个入射光的焦点归一，提高激光效率。示意图： 普通聚焦镜 衍射矫正聚焦镜选型表（部分）:型号波长（&mu m）有效焦距（英寸）直径（英寸） SE-1511 10.61.51.1 SE-2511 10.62.51.1 SE-2515 10.62.51.5

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器进口二维双能阵列光子计数衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

瑞士进口EIGER2 R 250K二维面阵2D衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

产品简介：D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史。高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证。先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。产品参数：型号D8 ADVANCETheta立式测角仪角度范围-110-168°角度精度0.0001°Cr/Co/Cu靶标准尺寸光管探测器林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器仪器尺寸1868x1300x1135mm重量770Kg产品特点：TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。应用范围：物相定性分析结晶度及非晶相含量分析结构精修及解析物相定量分析点阵参数精确测量无标样定量分析应变分析晶粒尺寸分析原位分析残余应力低角度介孔材料测量织构及ODF分析薄膜掠入射薄膜反射率测量小角散射

产品简介：D8 DISCOVER X射线衍射仪是材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD(HRXRD)外延多层膜厚度晶胞参数晶格错配组份应变及弛豫过程横向结构镶嵌度X射线反射率(XRR)薄膜厚度组份粗造度密度孔隙度倒易空间图谱(RSM)晶胞参数晶格错配组份取向弛豫横向结构面内掠入射衍射 (in-plane GID)掠入射小角X射线散射(GISAXS)晶胞参数晶格错配横向关联性取向物相组成孔隙度应力和织构分析取向分布取向定量应变外延关联硬度物相鉴定(Phase ID)物相组成d值确定择优取向晶格对称性晶粒大小应用案例： HRXRD 硬件设置 LEPTOS(布鲁克公司高分辨数据分析软件)分析多层膜数据

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

TD系列衍射仪承载了通达科技多年来在研发中的精髓，随着时代的需求而进化 X射线衍射仪主要应用于粉末、块状或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析、晶体的取向性分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等。丹东通达科技有限公司生产的TD-3500型X射线衍射仪采用进口西门子PLC控制，使TD-3500型X射线衍射仪具有精度高、准确度高、稳定性好、寿命长、易升级、操作简便和智能化的特点，能灵活地适应各种行业的测试分析与研究！ X射线发生器（高频高压固态发生器、工频发生器可选）；采用具有自主知识产权，并获得国家发明专利的可编程序控制器(PLC)控制技术（专利号：ZL 2010 1 0177596.4，专利种类：发明专利）；自动化程度高、故障率极低、抗干扰能力强、系统稳定性好、可延长整机使用寿命。PLC与计算机接口自动控制光闸的开关，自动控制管压、管流的升降，具有自动训练X光管的功能。采用触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；先进的记录控制单元，采用PLC控制线路；采用先进的PLC控制技术及真彩触摸屏实现人机交互，系统硬件均采用了模块化设计理念，使系统抗干扰能力大大增加，系统更加稳定。由于采用大规模高精度自动化程度极高的进口西门子PLC控制线路，使得该系统可长时间无故障地稳定地运行。该系统较其他公司采用的单片机线路有以下几方面的优势 ；线路控制简单，便于调试、安装；由于采用模块化设计，使得该系统维修非常简单，用户无需厂家技术人员在场的情况下可自行维修与调试；采用先进的真彩色触摸屏实现人机交互，保护功能齐全，操作非常方便，立体感极强的动画设计更加人性化，更加直观，便于 操作者的使用及判断故障信息等；大大提高了该系统的计数的稳定性，从而提高整机的综合稳定度；由于PLC扩展能力强，可方便地扩展多种功能附件，而无需另外增加任何硬件线路。探测器正比探测器（PC）或 闪烁探测器（SC）。高精度测角仪 TD系列测角仪采用进口高精度轴承传动，运动控制由一套高精度全闭环矢量驱动伺服系统来完成，智能驱动包含32位RISC微处理器、高分辨率磁性编码器，能将极小的运动位置误差自动修正，可保证测量结果的高精度、高准确度，角度重现性可达到0.0001度，较小步进角可达到0.0001度。采用的中空轴结构的测角仪，具有国家发明专利（专利号：ZL 2014 1 0301527.8，专利种类：发明专利）。电子铅门联锁装置，双重防护，光闸窗口与铅门联动，铅门打开光闸自动关闭，确保使用者安全。X射线管（玻璃管、波纹陶瓷管、金属陶瓷管可选）

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。技术指标：1、 可选微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同时可选针对高压实验的高能液态金属In光源（24 kev），X 射线光源具有聚焦后样品处光斑小，光通量大和波长短等特点。2、 大面积、单光子计数探测器提高衍射数据分辨率，获得更多的衍射峰数量，提高晶体结构的分辨率。配备CdTe单光子计数型探测器，大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、 采用在同步辐射实验装置上所使用的先进旋转中心定位法，在此基础上进行优化。利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。液态金属In靶E1型X射线光源参数高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 ×107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μmFWHM通量1.0 ×106 ph/s发散度2 mrad位移台参数XY轴重复定位精度±0.2 μm；行程±10 mm；Z轴重复定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm；Ф 轴重复定位精度≤0.002°；行程±135°；X1Y1重复定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm；应用领域：1、高压下的结构相变、状态方程、弹性、织构等研究2、涉及的材料包括高温超导体、纳米材料、超硬材料、矿物、大块金属玻璃、半导体、各种功能材料等3、应用领域包括物理、化学、地球/行星科学、材料等

产品简介：D6 PHASER是德国布鲁克AXS公司新推出全球首款用于X射线粉末衍射反射与透射几何、掠入射衍射与反射法薄膜分析以及块体样品应力和织构分析的台式衍射仪平台。 D6 PHASER是一个开创性的台式X射线衍射平台，它兼具可操作性与灵活性。与传统台式衍射仪不同的是，D6 PHASER提供了超越粉末衍射的先进分析方法。凭借广泛的应用，D6 PHASER为X射线衍射技术开辟了新的市场和用户群体。产品参数：型号D6 PHASER几何构型Theta/Theta or Omega/2Theta最大角度范围-3 to 152° 2Theta精度在整个测量范围内为 ±0.01°可实现的峰值宽度 0.03° (FWHM)X 射线波长Cr, Co, Cu, standard ceramic sealed tube (Mo and others on request)X 射线发生器选项540 W (30 kV, 18 mA)600 W (40 kV, 15 mA) 1.2 kW (40 kV, 30 mA)探测器选项SSD 160-2LYNXEYE-2 LYNXEYE XE-T阶段选项反射/传输平台样品旋转台，转速可编程12位样品更换器，直径32毫米，带可编程转速毛细管平台，转速可编程非环境平台：RT至500℃ 或 -10℃至150℃用于材料分析的通用平台，可选配 phi 旋转平台样品架各种腔体、有腔体和无腔体的低背景、气密、密封、过滤样品、 回装、定向载玻片（粘土）外部尺寸（H*D*W）700 x 667 x 885 mm最大重量160 kg电源100 V – 240 V (600 W and 540 W), 200 V – 240 V (1.2 kW）冷却水供应方案内部水-空气冷却（540 W、600 W、1.2 kW）连接实验室电源，3.6 升/分钟，3 - 4.5 ba计算机通过局域网接口连接电脑产品特点：强大功率高达1.2千瓦，包含内部冷却系统久经考验的测角仪LYNXEYE XE-T能量分辨探测器可选配电动光学器件多功能适用于基本粉末衍射以外的多种测量类型，是D6 PHASER的标志性特色之一，使其成为能支持各种实验的真正通用平台。反射和透射非环境衍射掠入射衍射、X射线反射、应力、织构易于使用用户无需经过培训，基于布鲁克简单易用的软件及其对XRD分析方法的广泛了解，以及价格合理的自动化附件，D6 PHASER 能够以直观的方式，指导用户实施这些分析方法。动态光束优化（DBO）触摸面板操作样品台和光学器件切换

SHINE便携式X射线衍射仪是浪声科学结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景生物医药环境监测地质勘探教育与研究金属化合物化学与催化剂规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

SHINE便携式X射线衍射仪（地球化学版）是浪声科学专为矿物现场物相分析而研制的一款便携式X射线衍射设备。其融合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，可快速对矿物样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有测试速度快、价格低、精准度高等优点。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF 技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。良好的环境适应性专为地质考察而研制，仪器可防雾、防尘、防震动，能适应恶劣的使用环境。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景地质勘探/追踪矿床矿物研究/品位分析锂矿石、铍矿石品位分析等尾矿回收再利用矿物冶炼/制造钛白粉、萤石等规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

这款台式X射线衍射仪是一种多用途多功能的实时测量的台式X射线衍射系统，特别为科研院校和企业应用而研发。这款实时台式X射线衍射仪与其它采用&ldquo 机械扫描测角仪器&rdquo 的X射线衍射仪不同，它采用独特的具有专利技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。台式X射线衍射系统具有多种样品测量模式和多用户分析技术，使用最新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型。该台式X射线衍射仪具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究。台式X射线衍射仪具有独特的110度角范围和180度曲率半径的弧度探测器，具有无以伦比的可靠性，非常适合大量测量任务的需要。台式X射线衍射系统产品特色* 不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本，* 操作简餐，非常可靠，* 摆脱了机械扫描式的测角仪器；* 高灵敏度弧型X射线探测器* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；* 实时测量实时分析结果；* 超高分辨率：0.10FWHM 台式X射线衍射系统操作情况：不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高安全性测量。台式X射线衍射仪使用成本：使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。先进的技术：测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。超大样品室：由于替代了测角仪，这个台式X射线衍射仪以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。样品尺寸要求：可以测量任何尺寸的样品，而其他产品一般完成分析测量的样品最大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的X射线源。X射线安全性：对样品的尺寸无要求，因此X射线安全性显著提高，传统的X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的安全防护装置和X射线窗口，但是整体的安全性依然得不到严格保证。单晶/粉末衍射功能：这套台式X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。X射线荧光测量功能：提供标准的X射荧光测量软件模块，支持特殊的X射线荧光和X射线衍射测量。矿产和冶金特殊应用： 该台式X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它卓越的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。台式X射线衍射仪技术参数： 分辨率： 0.10度 FWHM探测器曲率半径：180mm2 theta：110度X射线源: 50W , 60KV/3KW电源功率：最大50W重量： 200Kg尺寸： 95x650x150cm台式X射线衍射系统可选附件：拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。

Thorlabs提供三种反射光栅:刻线光栅刻线光栅由于其闪耀角，可以达到比全息光栅更高的效率。它们是以光栅闪耀角为中心的应用的理想选择。Thorlabs提供各种尺寸和闪耀角的刻划光栅。全息光栅全息光栅有较低的周期错误，基本消除了刻划光栅无法避免的鬼线。这些光栅的低杂散光特性让其成为需要高信噪比应用的理想选择，例如拉曼光谱仪。阶梯光栅阶梯光栅是为高阶应用设计的低周期光栅。它通常配合另一个光栅或棱镜一起使用，实现重叠衍射级次的分离。是高分辨率光谱学应用的理想选择。 Thorlabs提供三种透射光栅：紫外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的紫外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在紫外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与紫外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。可见光透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的可见光透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在可见光范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与可见光反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。近红外透射光栅关于透射光栅，Thorlabs的近红外透射光栅使入射光束在光栅背面以固定角度发生色散。它们是在近红外范围内有最佳效率的刻划和闪耀光栅，偏振不敏感，具有与近红外反射光栅相当的效率。它们是需要固定光栅应用的理想选择，例如光谱仪。 选择光栅需要考虑很多因素，下面列举了一些：效率：通常，刻划光栅比全息光栅具有更高的衍射效率。然而，全息光栅由于其刻槽的制备方法，其表面效率变化很小。荧光激发和其它辐射诱导反应方面的应用可能需要刻划光栅。闪耀波长：刻划光栅通过有序的蚀刻光栅基底表面形成，带有锯齿型槽光栅剖面。因此在闪耀波长附近有相对尖锐的峰。而全息光栅很难闪耀，其正弦曲线状的槽使其在特定波长的光谱响应不那么尖锐。窄带范围内的相关应用更适合选用刻划光栅。波长范围：光栅的光谱范围取决于槽间距，并且对于光栅常数相同的刻划光栅和全息光栅，其光谱范围相同。根据经验，光栅的一级效率从0.66&lambda B到1.5&lambda B降低50% ，其中&lambda B是闪耀波长。注意：没有光栅可以衍射波长大于槽间距2倍的光。杂散光：由于光栅制作方法的不同，全系光栅相比于刻划光栅，其杂散光更低。刻划光栅的刻槽是机械制作，因此有更高的错误率。全息光栅一次成型，基本没有失误。对于像拉曼光谱仪这种对信噪比要求很高的应用，全息光栅固有的低杂散光具有很大的优势分辨率：光栅的分辨率是指其具有的在空间上分开两个波长的能力。它是采用瑞利判据决定衍射极大值；当一个波长的最大值与第二波长的最小值重合时，认为两个波长是分开的。分辨率（R）是由R=&lambda /&Delta &lambda = nN定义的，其中&Delta &lambda 是可分辨的波长差，n为衍射级次，N是刻线数。刻线式衍射光栅 全息衍射光栅 中阶梯光栅 UV透射光栅 透射率可变光栅 近红外透射型光栅 300纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*300 nm Blaze WavelengthGR25-03033002° 34' 3.3325 x 25GR50-06036005° 9' 1.6750 x 50GR13-1203120010° 22' 0.8212.7 x 12.7*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。 400纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*400 nm Blaze WavelengthGR25-1204120013° 53' 0.8125 x 25GR50-1204120013° 53' 0.8150 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。500纳米闪耀波长Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*500 nm Blaze WavelengthGR13-03053004° 18' 3.3212.7 x 12.7GR25-03053004° 18' 3.3225 x 25GR50-03053004° 18' 3.3250 x 50GR13-06056008° 37' 1.6512.7 x 12.7GR25-06056008° 37' 1.6525 x 25GR50-06056008° 37' 1.6550 x 50GR13-1205120017° 27' 0.8012.7 x 12.7GR25-1205120017° 27' 0.8025 x 25GR50-1205120017° 27' 0.8050 x 50GR13-1850180026° 44' 0.5012.7 x 12.7GR25-1850180026° 44' 0.5025 x 25GR50-1850180026° 44' 0.5050 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。750纳米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*750 nm Blaze WavelengthGR13-060860013° 0' 1.6212.7 x 12.7GR25-060860013° 0' 1.6225 x 25GR50-060860013° 0' 1.6250 x 50GR13-1208120026° 44' 0.7412.7 x 12.7GR25-1208120026° 44' 0.7425 x 25GR50-1208120026° 44' 0.7450 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。1微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*1 µ m Blaze WavelengthGR13-03103008° 36' 3.3012.7 x 12.7GR25-03103008° 36' 3.3025 x 25GR50-03103008° 36' 3.3050 x 50GR13-061060017° 27' 1.5912.7 x 12.7GR25-061060017° 27' 1.5925 x 25GR50-061060017° 27' 1.5950 x 50GR13-1210120036° 52' 0.6712.7 x 12.7GR25-1210120036° 52' 0.6725 x 25GR50-1210120036° 52' 0.6750 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。10.6微米闪耀波长衍射光栅Zoom Item #Grooves/mmBlaze AngleDispersion (nm/mrad)Size (mm)Efficiency Curves*10.6 µ m Blaze WavelengthGR1325-071067521° 12.312.5 x 25GR2550-071067521° 12.325 x 50GR1325-1010610027° 8.512.5 x 25GR2550-1010610027° 8.525 x 50GR1325-1510615035° 4.212.5 x 25GR2550-1510615035° 4.225 x 50*所有光栅都是在Littrow结构下测量的；所有光栅镀有铝（Al）反射膜。平行的偏振平行于光栅槽。反射式全息光栅特性峰值波长下效率可达45％至65％优化了在紫外光谱、可见光谱下的性能不依赖于入射角基底材质：Borofloat玻璃三种尺寸规格：12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mmThorlabs提供一系列专为需要高信噪比的高端应用而优化设计的全息衍射光栅。全息光栅具有杂散光少的特点，基本消除了刻线光栅所无法避免的鬼线，使其成为拉曼光谱学等需要高信噪比的应用的理想解决方案。我们的全息光栅对紫外光谱和可见光谱段的性能进行了优化，并有刻线密度从600线/mm到3600线/mm不等的三种不同尺寸规格。三种尺寸分别是12.7x12.7x6.0mm，25x25x6.0mm以及50x50x9.5mm，尺寸公差± 0.5mm。 阶梯光栅的特别注意事项光栅方程: 一般光栅方程如下： n&lambda = d(sin &theta + sin &theta ' )其中n是衍射级次，&lambda 是衍射波长，d是光栅常数（两个刻槽间的距离）&theta 是入射角，&theta ' 是衍射角自由光谱范围: 自由光谱范围是指没有和相邻衍射级次发生干涉（重叠）时的指定级次的最大带宽。自由光谱范围随着光栅间距的减小而增加，随着级次的增加而较小。如果&lambda 1，&lambda 2分别是感兴趣的波长下限和上限，那么：自由光谱范围=&lambda 2 - &lambda 1 = &lambda 1/n阶梯光栅的使用: 阶梯光栅极高的衍射角度将能量集中在高级次上。最简单的情况是光束以0° 角入射到光栅上，光栅方程简化为n&lambda = d sin &theta ' ，解方程得：sin &theta ' = n&lambda / d由此推论，在高阶中，两个波长之间的角距离变得更大。想象一下有两条线，一条为600 纳米，另一条为605 纳米，入射到31.6线/ 毫米的光栅上。从上面的方程可以得到，在N=1时角距离为0.009 ° ，但在N=40时角距离为0.6 ° 。缺点就是自由光谱范围的降低，从630纳米（630 纳米/1）降至15.8纳米（630 纳米/40）。通常，配合使用分光棱镜和阶梯光栅进行级次分离。

苏州锂影科技有限公司 X射线衍射仪用多位薄膜样品架产品信息X射线衍射仪用多位薄膜样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件，已经申请专利。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。 该样品架配合衍射仪的XY样品台使用，可以实现8个粉末样品的自动位置切换以及XRD的测试，大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试，可以提高仪器测试效率。 苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

产品介绍：1.产品概述 STADI P是一款灵活、多功能型粉末晶体衍射仪，同时具有两套衍射系统，分别进行透射/德拜-谢乐模式衍射和反射/布拉格-布伦坦诺模式衍射，两套系统可以共用一个光源，配备多种形式样品架和自动进样器，可以满足各种样品的衍射实验需求。 2.产品特点 四种几何衍射模式：透射/德拜-谢乐模式，透射高通量微区模式，反射高通量微区模式，反射模式； 通过改变光源和样品之间的距离来进行衍射模式之间的切换，切换后不需要重新调节光路； 所有衍射几何模式下，均可采用Co、Cu、Mo或者Ag靶的纯Kα1射线（100%纯Kα1）； 可搭配:STOE位敏探测器、STOE弧形成像板探测器、混合像素MYTHEN1K探测器（零噪音单光子计数能力）； 配备的毛细管模式非常适合对空气/水分敏感，或有毒性的微量样品测试； 2θ范围：-10°~140°。

应时代而生 TD-3700高分辨X射线衍射仪是TD系列迎来的新成员，搭载了高速一维阵列探测器（MYTHEN2R）或SDD探测器，将快速分析、便捷操作和用户安全融为一体，模块化的硬件体系结构和为客户量身定制的软件系统实现了完美结。传承TD-3700高分辨X射线衍射仪在拥有TD-3500型X射线衍射仪所有优势下，配置的是高性能阵列探测器。相对于闪烁探测器或者正比探测器，可以提高衍射计算强度几十倍以上,可以在较短的采样周期内获取完整的高灵敏度、高分辨率的衍射图谱和更高的计数强度。 新特性TD-3700高分辨X射线衍射仪除了支持常规衍射的数据扫描方式外,还可以支持透射的数据扫描方式。透射模式的分辨率远高于衍射模式,适合用于结构解析等领域,衍射模式衍射信号强,更适合实验室常规物相鉴定使用。另外透射模式时,粉末样品可以是微量的,适合样品量比较少,不满足衍射方式的样品制备要求的情况进行数据获取。 高性能一维阵列探测器一维阵列探测器充分运用了混合光子计数技术，无噪音，快速数据采集，超过闪烁探测器十几倍以上的速度，优异的能量分辨率，能有效的去除荧光效应。640通道的探测器具有较快的读出时间，形成较优的信噪比。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统，有效的完成系统的同步。仪器特点：具有自主知识产权，并获得国家发明专利的可编程序控制器(PLC)控制技术（专利号：ZL 2010 1 0177596.4，专利种类：发明专利）；操作方便，一键式采集系统 模块化设计，仪器配件即插即用，无需校准 采用触摸屏实时在线监测，显示仪器状态 电子铅门联锁装置，双重防护，确保使用者安全 高频高压X射线发生器，性能稳定可靠 先进的记录控制单元，抗干扰能力强。

产品介绍：1.产品概述 STADI MP是德国STOE公司推出的新一代粉末衍射仪，配备100%高纯度的Kα1单色器，采用透射模式、反射模式、高通量反射模式，能够满足各种实验条件，STADI MP是一款真正意义上能够实现透射模式的衍射仪，保证了微量样品的衍射实验。2.产品特点 四种几何衍射模式：透射/德拜-谢乐模式，透射高通量微区模式，反射高通量微区模式，反射模式； 通过改变光源和样品之间的距离来进行衍射模式之间的切换，切换后不需要重新调节光路； 所有衍射几何模式下，均可采用Co、Cu、Mo或者Ag靶的纯Kα1射线； 可搭配闪烁计数器，位敏探测器，成像板探测器 和 混合像素MYTHEN 1K探测器（零噪音单光子计数能力） 配备的毛细管模式非常适合对空气/水分敏感，或有毒性的微量样品测试； 2θ范围：-10°~140°。STOE STADI MP粉末衍射仪具备多种衍射模式，可以达到更广泛的研究和应用领域。3.透射模式适合：微量粉末、凝胶样品测试，特别是极小2θ角数据的测量采集；对X射线吸收性强的样品4.毛细管模式适合：特别适合精细粉末样品、液体、胶体样品测试；可以对取向性样品进行定向测试；对空气/水分敏感，或者有毒的样品测试。 5.反射模式适合：对大尺寸样品，如金属块状材料、板状材料，或加工成品的测试。

我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。非常期待能够得到您的回复，如有需求请随时与我联系，谢谢您！

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门，节约桌面空间，适合每一台办公桌，有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率，让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×10^7CPS，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门，可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧

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