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导电薄量仪

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导电薄量仪相关的仪器

  • 请通过我们伯英科技联系我们!水泥导电性测量仪  Electrical conductivity measurement of cement suspensions and pure pastesOverview - Description水泥导电性测量仪MonoCAD and MultiCAD are 2 instruments dedicated to the measurement of the electrical conductivity of cement suspensions or pure pastes. MonoCAD is a single-station instrument whereas MultiCAD is multi-station one giving the possibility to measure 4 samples conductivity in parallel depending on their parameters. MultiCAD is designed to monitor electrical conductivity of cement suspensions using CEMOT cells or pure pastes PAP cells in parallel. A special cell for mortars is also available. You can have up to 4 positions simultaneously. This electrical conductivity can be measured during setting or hardening.水泥导电性测量仪ApplicationsKinetic of cement paste: hardening, hydration parametersReactivity of admixtures or fillersStudy of pure pastes during chemical reactionSoftware for measuring electrical conductivity vs.time independently for all samplesData export and treatment with .txt file水泥导电性测量仪图片:水泥导电性测量仪数据:
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  • 光束诱导电流成像检测系统 LBIC激光诱导电流测量仪该设备可以执行各种太阳能电池的光电电流分布和光电转换元素的测量,比如测量SiPD、CCD和CMOS。该设备是采用激光诱导电流测量(LBIC)方法。作为标准,提供532nm的绿色激光系统,在x - y方向移动样品,然后再短路测试(Isc)。该系统有10μm空间分辨率,并且能够测量50 x 50mm的样品。尤其针对钙钛矿的太阳能电池等等,钙钛矿太阳能电池是用旋涂机表面涂层方法做出来的,那么在样品的中心和边缘就会存在均匀性差异的问题。针对这样的样品评估,该系统就是最理想的评估系统。这个系统也可以用来评估SiPD、CCD和CMOS涂层或镀膜材料的均匀性。l 评估钙钛矿太阳能电池平面光电流和涂层分布的理想系统l 根据选择的激光,在375 ~ 900nm的范围内,它能测量不同波长l 区域的详细说明来源于获得的数据和两个表面不均匀性[( max. value - min. value) /(max.value + min.value) ],并且也能够得到平均值[ Total effective data / number of effective data ]技术参数激光波长 : 532nm输出 : 1mW稳定性 : ±5%/h标准 : Class 2在国际标准内XY stage : ±25mm, 0.01mm minimum step电流测量 : 10fA~ 20mA软件 : Windows 7, 32 bit规格大小 : W750 x D270 x H650mm( excluding the electrometer, stage controller and the PC )标准设备配备1. 激光灯源 ( 波长 532nm ) 2. XY stage 3. 静电计4. 样品室 ( 带手动快门 ) 5. 个人电脑 ( Windows 7 32 bits )6. LBC-2专用软件选配激光(375/406/445/473/488/635/650/670/785/808/830/850/904/980nm) 用SMA 连接器可以切换各种激光可视相机和监测器 监测激光辐照的样品自动快门机制 通过软件机制来控制快门Si 光电二极管 探测器用于量子效率的计算软件
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  • 光束诱导电流成像检测系统 LBIC激光诱导电流测量仪该设备可以执行各种太阳能电池的光电电流分布和光电转换元素的测量,比如测量SiPD、CCD和CMOS。该设备是采用激光诱导电流测量(LBIC)方法。 作为标准,提供532nm的绿色激光系统,在x - y方向移动样品,然后再短路测试(Isc)。该系统有10μm空间分辨率,并且能够测量50 x 50mm的样品。尤其针对钙钛矿的太阳能电池等等,钙钛矿太阳能电池是用旋涂机表面涂层方法做出来的,那么在样品的中心和边缘就会存在均匀性差异的问题。针对这样的样品评估,该系统就是最理想的评估系统。这个系统也可以用来评估SiPD、CCD和CMOS涂层或镀膜材料的均匀性。 评估钙钛矿太阳能电池平面光电流和涂层分布的理想系统 根据选择的激光,在375 ~ 900nm的范围内,它能测量不同波长 区域的详细说明来源于获得的数据和两个表面不均匀性[( max. value - min. value) /(max.value + min.value) ],并且也能够得到平均值[ Total effective data / number of effective data ] 技术参数激光波长 : 532nm输出 : 1mW稳定性 : ±5%/h标准 : Class 2在国际标准内XY stage : ±25mm, 0.01mm minimum step电流测量 : 10fA~ 20mA软件 : Windows 7, 32 bit规格大小 : W750 x D270 x H650mm( excluding the electrometer, stage controller and the PC ) 标准设备配备1. 激光灯源 ( 波长 532nm ) 2. XY stage 3. 静电计4. 样品室 ( 带手动快门 ) 5. 个人电脑 ( Windows 7 32 bits )6. LBC-2专用软件 选配激光(375/406/445/473/488/635/650/670/785/808/830/850/904/980nm) 用SMA 连接器可以切换各种激光可视相机和监测器 监测激光辐照的样品自动快门机制 通过软件机制来控制快门Si 光电二极管 探测器用于量子效率的计算 软件
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  • 非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪EddyCus TF Series,这款非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪可以非接触式实时测量,对导电薄膜和金属方块电阻精确测量,表征已被隐藏和封装的导电层,并把测量数据保存和导出。 可用于方块电阻,方阻测量。非接触式方块电阻方阻测量替代四探针传统测量非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪主要测试对象:镀膜建筑玻璃,如LowE显示器,触摸屏和平板显示器OLED和LED智能玻璃石墨烯层光伏晶圆和电池半导体晶片金属化层和晶圆金属化电池电极导电涂布纸和导电纺织品非接触式单点方阻测试仪EddyCus TF Lab 2020SREddyCus TF Lab 2020SR是非接触式单点薄层电阻测量系统。该装置包含一个涡流传感器组,感应弱电流到导电薄膜和材料。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪试样中的感应电流产生与测量对象的片电阻相关的电磁场。电涡流技术不依赖于表面特征或形貌。此外,非接触式单点方阻测试仪不需要如已知的2或4点探针测试(2PP, 4PP)或霍尔效应或范德波测量一样进行任何形式的充分的样品接触或备样。非接触式单点方阻测试仪既不需要设置测试结构,也不受表面粗糙度或非导电封装或钝化层的影响。此外,测量不会对被测薄膜产生物理影响。涡流仪器不存在机械磨损,使用寿命长。它的独立性与接触质量和它的高速允许实现高重复性和准确性,有利于在研发和测试实验室的各种薄膜的系统质量保证。EddyCus工具可以由具有各种数据记录和导出功能的SURAGUS软件驱动,也可以由SURAGUS软件开发套件驱动的客户软件驱动。非接触式单点方阻测试仪软件和设备控制:非常用户友好的软件直观的触摸显示导航实时测量板材电阻和层厚软件辅助手动映射选项各种数据保存和导出选项非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪产品规格表Measurement technologyNon-contact eddy current sensorsubstratesFoils, glass, wafer, etc.Substrate area8 inch / 204 mm x 204 mm (open on three sides)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement range of metal films (e.g. copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance (cf. our calculator))Device dimensions (w/h/d)11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mmWeight10 kgFurther available featuresSheet resistance measurement / metal thickness monitor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 20001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.3% 0.5% 0.3%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistanc非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map 2530SREddyCus TF Map 2530SR是一种非接触式薄层电阻映射系统。该设备配备了一个运动的涡流传感器,每次扫描可测量高达90000 (300 x 300)测量点的方块电阻。由于这种技术不需要与标本进行物理接触,该设备可以在飞行运动中进行测量。此外,非接触式单点方阻测试仪具有很高的准确性,因为它是独立于任何接触质量。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪样品中测量点的高密度确保了没有遗漏任何效果或缺陷。此外,综合分析功能支持生产和研发实验室中各种薄膜的系统质量保证。产品规格:Measurement technologyNon-contact eddy current sensorSubstratesWafer, glass, foils etc.Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 15 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement of metal films (e.g. aluminum, copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance ())Scanning pitch1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm (other upon request)Measurement points per time (square shaped samples)100 measurement points in 0.5 minutes10,000 measurement points in 3 minutesScanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1 to 10 minutes (1 – 10 mm pitch)12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 6 minutes (2.5 – 25 mm pitch)Device dimensions (w/h/d)31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mmWeight90 kgFurther available featuresMetal thickness imaging, anisotropy and sheet resistance sensor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 2,0001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.5% 1% 0.5%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistance便携式方块电阻测试仪EddyCus TF便携式1010SR专用于工业环境中的接触片电阻测量。它使各种行业的手工质量保证成为可能。Measurement technologyEddy current sensorMeasurement modeRealtime at constant distance / contactSubstratesGlass, foils etc.Substrate sizesFlat samples 150 mm x 150 mm (6 inch x 6 inch)Curved editions are available for several applications (windshields etc.)Measurement spot / high sensitivity zone40 mm diameter (1.6 inch)PowerLithium ion battery up to 20 hSheet resistance range (five setups available)Type very low: 0.001 – 0.1 Ohm/sqType low: 0.04 – 0.1 Ohm/sqType standard: 0.3 – 30 Ohm/sqType high: 0.3 – 50 Ohm/sqType very high: 0.3 – 100 Ohm/sqThickness measurement of thin films (e.g. copper)Additional feature, available range is 5 nm – 500 µ m (in accordance with sheet resistance)Emissivity rangeAdditional feature, available range is 0.003 – 0.5Accuracy (for planar solid surfaces, e.g. glass)0.001 – 50 Ohm/sq: 3%50 – 100 Ohm/sq: 5%DISPlay2.8 inch colored touch screenDevice dimensions (w/h/d)3.5” x 7” x 1.9” / 87 mm x 178 mm x 48 mmWeight340 gInterfacesBluetooth (optional) + data center更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • 主要设备组成:可调电源、AZ-991静电计、AZ-991电流测试、测试屏蔽箱 1. 测试导电材料、防静电材料接线图:  将可调电源的电源正和电流测量仪的正极接好;电流测量仪的负极和测试屏蔽箱的电源正接好;可调电源的电源负和测试屏蔽箱的电源负接好;将测试屏蔽箱的测量正和测量负分别与静电计的正负极连接。2. AZ-991导电和防静电材料体积电阻率测量装置重要使用注意事项: 2.1 开机前按图接好线,为仪器安全,开机前可调电源调到较低的电压,Z好是0V。2.2 将静电计和电流测试仪输入线拔出后调好。 3、AZ-991导电和防静电材料体积电阻率测量装置使用方法3.1、概述  在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与被测量材料表面电阻而影响测量准确性,本装置采用四电极法测量导电和防静电材料体积电阻率,可以克服表面接触电阻造成的误差影响。 3.2、测量操作:a. 将电流测试仪和静电计上电。b. 调整可调电源输入,待电流测试仪和静电计出现数值并且稳定后读取数值。如果只有电流值,则通过调整电压的倍数来保证电压读数稳定,记录电压值,单位是V;同时记录电流值,电流值单位为选择对应档位的量程单位。c. 通过公式计算。4. 试样准备(根据不同标准用不同的试样大小)将要测量的试样切成长度和宽度能在电流电极夹住,建议110mm, 宽为50mm。电压电极应平行放置在材料表面上,有些材料在用水清洗后要进行烘干后进行测量,可以根据不同标准或规范进行。 5.注意事项a. 接线不能接错。红线接红接线柱或插红插座,黑线接黑接线柱接黑插座b. 测量导电材料时,如果材料的导电性能很好,则加电压不能大高,否则电流会很大,有可能发热,在材料上消耗的Z大功率不要超过0.1W。c. 电压电极应平行放置在材料表面的。6.导电材料电阻率计算导电材料电阻率测量计算公式材料宽度W=0.05m,试样厚度t=0.001m, 本测试箱中电压电极之间的距离为d=0.02m测试结果:AZ-991静电计测量的电压V=1.701V, AZ-991皮安表的电流为106.0×10-6A,计算电阻率:=≈40.00(Ω.m) 上例子中,如果试样的单位改用cm时的计算过程如下:=≈4000(Ω.cm)上述两个结果是相同的,因为1m=100cm
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  • 导电和防静电材料体积电阻率测量装置 产品型号:AZ-991 使用说明书 *(使用前请详细阅读使用说明书)* 北京中航鼎力仪器设备有限公司 主要设备组成:可调电源、AZ-991静电计、AZ-991电流测试、测试屏蔽箱 1. 测试导电材料、防静电材料接线图:  将可调电源的电源正和电流测量仪的正极接好;电流测量仪的负极和测试屏蔽箱的电源正接好;可调电源的电源负和测试屏蔽箱的电源负接好;将测试屏蔽箱的测量正和测量负分别与静电计的正负极连接。2. AZ-991导电和防静电材料体积电阻率测量装置重要使用注意事项: 2.1 开机前按图接好线,为仪器安全,开机前可调电源调到较低的电压,zui好是0V。2.2 将静电计和电流测试仪输入线拔出后调好。 3、AZ-991导电和防静电材料体积电阻率测量装置使用方法3.1、概述  在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与被测量材料表面电阻而影响测量准确性,本装置采用四电极法测量导电和防静电材料体积电阻率,可以克服表面接触电阻造成的误差影响。 3.2、测量操作:a. 将电流测试仪和静电计上电。b. 调整可调电源输入,待电流测试仪和静电计出现数值并且稳定后读取数值。如果只有电流值,则通过调整电压的倍数来保证电压读数稳定,记录电压值,单位是V;同时记录电流值,电流值单位为选择对应档位的量程单位。c. 通过公式计算。4. 试样准备(根据不同标准用不同的试样大小)将要测量的试样切成长度和宽度能在电流电极夹住,建议110mm, 宽为50mm。电压电极应平行放置在材料表面上,有些材料在用水清洗后要进行烘干后进行测量,可以根据不同标准或规范进行。 5.注意事项a. 接线不能接错。红线接红接线柱或插红插座,黑线接黑接线柱接黑插座b. 测量导电材料时,如果材料的导电性能很好,则加电压不能大高,否则电流会很大,有可能发热,在材料上消耗的zui大功率不要超过0.1W。c. 电压电极应平行放置在材料表面的。6.导电材料电阻率计算导电材料电阻率测量计算公式材料宽度W=0.05m,试样厚度t=0.001m, 本测试箱中电压电极之间的距离为d=0.02m测试结果:AZ-991静电计测量的电压V=1.701V, AZ-991皮安表的电流为106.0×10-6A,计算电阻率:=≈40.00(Ω.m) 上例子中,如果试样的单位改用cm时的计算过程如下:=≈4000(Ω.cm)上述两个结果是相同的,因为1m=100cm
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  • 导电泡棉压缩电阻测试仪、Z方向压缩电阻测试仪、泡棉胶带压缩电阻测试仪垂直方向电阻率测试仪主要用于膜燃料电池炭纸电池炭纸、双极板、全钒液流电池电极、铁-铬液流电池用电极材料或其他材料的垂直电阻率、接触电阻测量,以碳纤维作为原料生产的多孔性碳纸,,简称碳纸,具有透气性与导电性。该机也叫碳纸垂直电阻率测试仪,双极板接触电阻测试仪。一、垂直方向电阻率测试仪依据标准:GB/T20042.7质子交换膜燃料电池第7部分:炭纸特性测试方法GB/T20042.6质子交换膜燃料电池第6部分:双极板特性测试方法NB/T 42082-2016 全钒液流电池 电极测试方法NB/T42007-2013全钒液流电池用双极板测试方法T/CEEIA 577—2022 铁-铬液流电池用电极材料技术要求及测试方法二、垂直方向电阻率测试仪试验原理: 样品放置在两块电极之间,在电极两侧施加一定的压强,测试过程中仪器通过自动记录不同压强下的电阻值。三、垂直方向电阻率测试仪技术特点:1、触摸彩屏显示器,实时显示压力、压强、电阻等,全自动完成测试。2、采用数字调速高性能电机,驱动精密丝杠副,传动精准,运行平稳。3、采用美国CHCONTECH高精度传感器,测试精度高。4、标配微型打印机,随时打印,可统计处理多次试验结果,最大值,最小值,平均值。5、上、下压板使用优质铜镀金,导电性能好,误差小。6、大屏显示试验过程每增加001mpa,对应的电阻值,并保存在屏幕,一目了然。7、实验数据可保存,可按批号查询实验结果。8、一机两用,菜单可选择碳纸垂直电阻率测试或者双极板接触电阻测试。9、专业测控软件,本机操控软件具有国家版权局颁发的软件著作权证书。四、垂直方向电阻率测试仪技术参数: 测量范围 :(30~5000)N (0.05~5.0MPa) ;1μΩ-20kΩ 分辨力 :0.1N 准确度 :±0.5%压力传感器:美国CHCONTECH电阻分辨率:1μΩ 、0.001mΩ 试验速度: (1-300) mm/min样品面积:4cm ² ,20x20mm 上、下压板平行度: 0.025mm 上、下压板直径 :80 mm(可定制) 外形尺寸 :560×560×780mm 质量: 65kg 电源 :220V, 50Hz五、垂直方向电阻率测试仪基础配置:主机 、镀金电极、低电阻测量仪、合格证、说明书、保修卡、电源线。导电泡棉压缩电阻测试仪、Z方向压缩电阻测试仪、泡棉胶带压缩电阻测试仪
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  • F40薄膜厚度测量仪 400-860-5168转3827
    Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。 当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,F40是你的好选择。使用先前足部校正显微镜的物镜,再进行测量,即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件,F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头,可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。* 取决于材料1.使用5X物镜参考2.是基于连续20天,每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2 薄膜样品连续测量100次所得厚度值的标准偏差的平均值3.是基于连续20天,每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2薄膜样品连续测量100次所得厚度值的2倍标准偏差的平均值选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量的专家24小时电话,E-mail和在线支持所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效地存储,重现与绘制测试结果相关应用半导体制造 生物医学原件&bull 光刻胶 &bull 聚合物/聚对二甲苯&bull 氧化物/氮化物 &bull 生物膜/球囊壁厚度&bull 硅或其他半导体膜层 &bull 植入药物涂层微电子 液晶显示器&bull 光刻胶 &bull 盒厚&bull 硅膜 &bull 聚酰亚胺&bull 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜 &bull 导电透明膜
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  • LE-4001 LE-4002 LE-4002T电导电极,铂黑产品简介:电导电极仪器特点:铂黑电导电极可有效防止在测定较高电导率溶液时出现极化现象仪器参数:型号常数电极尺寸外形尺寸温度元器件插件电极外壳电缆长度应用范围LE-40011Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×165无三芯航空塑料1m(0-200) mS/cmLE-40021Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×165无八芯塑料1m(0-200) mS/cmLE-4002T1Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×16510K八芯塑料1m(0-200) mS/cm
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  • LE-4001 LE-4002 LE-4002T电导电极,铂黑产品简介:电导电极仪器特点:铂黑电导电极可有效防止在测定较高电导率溶液时出现极化现象仪器参数:型号常数电极尺寸外形尺寸温度元器件插件电极外壳电缆长度应用范围LE-40011Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×165无三芯航空塑料1m(0-200) mS/cmLE-40021Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×165无八芯塑料1m(0-200) mS/cmLE-4002T1Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×16510K八芯塑料1m(0-200) mS/cm
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  • 中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,具备超高的测量精度和测量重复性。它主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。应用场景适应性强,对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位。中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,它对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料;2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数;3)翘曲与形状:能够测量样品表面的2D形状或翘曲,如在半导体晶圆制造过程中,因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化,或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。 2.数采与分析系统1)自定义测量模式:支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式;2)导航图智能测量模式:支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机,可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示,进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率,结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰,确保仪器具有良好的测量精度及重复性;2.超微力恒力传感器1-50mg可调,以适应硬质或软质样品表面,采用超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的接触式测量;3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200采用LVDC电容传感器,具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景,CP200台阶仪提供如下便捷功能:1)结合了360°旋转台的全电动载物台,能够快速定位到测量标志位;2)对于批量样件,提供自定义多区域测量功能,实现一键多点位测量;3)提供SPC统计分析功能,直观分析测量数值变化趋势;部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动,360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器NS系列沉积薄膜台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器,具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景,NS200沉积薄膜台阶高度测量仪提供如下便捷功能:1)结合了360°旋转台的全电动载物台,能够快速定位到测量标志位;2)对于批量样件,提供自定义多区域测量功能,实现一键多点位测量;3)提供SPC统计分析功能,直观分析测量数值变化趋势;工作过程NS系列沉积薄膜台阶高度测量仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面,测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号,数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料;2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数;3)翘曲与形状:能够测量样品表面的2D形状或翘曲,如在半导体晶圆制造过程中,因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化,或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1)自定义测量模式:支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式;2)导航图智能测量模式:支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机,可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示,进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。产品应用NS系列台阶仪应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率,结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰,确保仪器具有良好的测量精度及重复性;2.超微力恒力传感器1-50mg可调,以适应硬质或软质样品表面,采用超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的接触式测量;3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动,360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 中图仪器NS系列国产薄膜台阶高度测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料;2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数;3)翘曲与形状:能够测量样品表面的2D形状或翘曲,如在半导体晶圆制造过程中,因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化,或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1)自定义测量模式:支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式;2)导航图智能测量模式:支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机,可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示,进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能 NS系列国产薄膜台阶高度测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。NS系列国产薄膜台阶高度测量仪是一种常用的膜厚测量仪器,它是利用光学干涉原理,通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度,具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。如针对测量ITO导电薄膜的应用场景,NS200台阶仪提供如下便捷功能:1)结合了360°旋转台的全电动载物台,能够快速定位到测量标志位;2)对于批量样件,提供自定义多区域测量功能,实现一键多点位测量;3)提供SPC统计分析功能,直观分析测量数值变化趋势;性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率,结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰,确保仪器具有良好的测量精度及重复性;2.超微力恒力传感器 1-50mg可调,以适应硬质或软质样品表面,采用超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的接触式测量;3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。NS系列台阶仪应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时(测量1μm台阶高度,1δ)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • LE-DJS-1D电导电极,铂黑产品简介:电导电极仪器特点:铂黑电导电极可有效防止在测定较高电导率溶液时出现极化现象仪器参数:温度范围(℃): (5-60)℃外壳材质: 玻璃敏感材质: 纯铂片(镀黑/发亮)接插件: 三芯航空插头尺寸(mm): φ12×120
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  • LE-4001 LE-4002 LE-4002T电导电极,铂黑产品简介:电导电极 仪器特点:铂黑电导电极可有效防止在测定较高电导率溶液时出现极化现象仪器参数:型号常数电极尺寸外形尺寸温度元器件插件电极外壳电缆长度应用范围LE-40011Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×165无三芯航空塑料1m(0-200) mS/cmLE-40021Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×165无八芯塑料1m(0-200) mS/cmLE-4002T1Φ1.6*5.5mm感应棒(镀铂黑)Φ12×16510K八芯塑料1m(0-200) mS/cm
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  • 7501A涡流导电仪使用说明书一、概述 涡流导电仪用于测量有色金属材料的电导率。其中,7501A适用于金、银、铜、铝、镁、锌黄铜等金属及其合金。7502A适用于青铜、钛合金、不锈钢等。 涡流导电仪也用于与测量电导率直接有关性质的间接测量。例如:7501A可用于铜、铝等铸件的检验,铜铸件中某元素含量(如磷含量、氧含量)的分析,铝合金铸锭中的铜偏析,不同牌号合金的混料分选,某些合金的硬度、抗拉强度检验,热处理状态,过烧检验等,7502A适用于青铜、钛合金、不锈钢等不同牌号的混料分选,钛合金时效处理控制、硬度、抗拉强度检验。仪器具有精度高、轻便、稳定、耗电省等优点。适用于实验室、车间及野外作快速无损检验。二、技术条件1、测量频率:7501A 60KC 7502 A 500KC2、测量范围:7501A 5~60MS/m 7502A 0.5~5.5MS/m3、测量误差:在额定测量范围内不大于分度盘端值的±2%4、适当温度:0~+40℃5、电池电压:3V±10%6、外形尺寸:220×153×96mm37、重量:2.2Kg三、结构 振荡器是由3DG6晶体三极管及石英晶体谐振器组成电感反馈三点式振荡器。由于采用了石英晶体这种具有高Q值的谐振元件,故具有较高的频率稳定度(可达10-9)。 为减小负载对谐振回路的影响,仪器设有缓冲级(功率放大器),它由二只(3DG6)三极管组成乙类推挽放大,以保证有足够的振幅和稳定的频率,并减小波形的失真。交流电桥是本仪器的核心部分,电路结构如图所示: L1为探测线圈,L2为补偿线圈,C2为可调电容,根据电桥原理;当L1=L2,C1=C2时,桥路达到平衡,输出电压为零。 若探测线圈L1放在金属块上,线圈电磁场就在金属表面感生涡流,涡流大小与被测金属电性有关。涡流磁场(或称感生磁场)将减弱探测线圈的磁场,被测金属导电性不同,减弱程度也不一样,探测线圈磁场的变化势必破坏电桥的平衡,当重新调节C2时,可使电桥达到新的平衡,如果把C2的量值同金属导电率联系起来,就可以从C2的转角分度上直接读出经过预先校准的电导率绝对值。 电桥输出的交流信号经两只2CK4晶体二级管分别检波后送入差动直流放大器进行比较放大。直流放大器由两只3DG6晶体三极管组成。电桥的平衡由电表指示。四、使用方法1、准备工作(1)用拇指下掀,上推机盖下端,打开仪器盖,取下带探头的电缆。(2)把右下方的旋钮扳向“电池"位置,电表指针应指于红色标记区,如果指针在红色区域左方,应更换电池。(3)把旋钮扳到“测量Ⅰ"或“测量Ⅱ"位置。后一位置电表指示灵敏度较高,更适于相对值测量。2、仪器校正 校正工作目的是使电导率分度盘读数和标准试块的电导率对准。两个标准试块的电导率已打印在试块边缘上,一个试块电导率较高,另一个电导率值较低,分别校准电导率分度盘上对应的红线标记,为此(1)把探头放在高值电导率试块上的中心位置,转动电导率分度盘旋钮,对准高值端红线,用电表右下方“高值校正"旋钮调节电表指针到零位。(2)把探头放在低值电导率试块上的中心位置,转动电导率分度盘旋钮,对准低值端红线,用电表右下方“低值校正"旋钮调节电表指针到零位。反复上述步骤操作2~3次,仪器即校正好了,就可用于电导率试块的测量。仪器使用时间若较长,应经常重复校正操作。3、试件测量(1)电导率值的测量: 如果试件材料厚度在1mm以上,且有一个不大的平坦面积(直径大于10mm)即可进行电导率值的测量,把探头放在试件的平坦部位,转动电导率分度盘,使电表指针为零,电导率值即可从分度盘上读出。(2)电导率相对值测量: 如果试件材料较薄,且无平坦表面时,只能进行比较试验。这时探头应放在同形状,同尺寸试件上的同一部位,转动电导率分度盘,使电表指针为零,可比较电导率的差异。(3)“偏转法": 在快速分选中(如混料、硬度、金属纯度、过热过烧等),不必在每次测量时旋转导电率平衡表指示,只需要对此感兴趣的电导率将电表指示调到零,其后测试仅观察电表指针的偏转。这种方法适用于对电导率微小变化需高精度分辩,而对电导率值无需了解的情况。五、注意事项1、电池无电压时的故障现象表头指针无指示:即面板上“波段开关"扳到“电池"档或在“Ⅰ"档时,表针不对。排除:检查电池盒内电池是否接触良好。2、电池供电不足的故障现象表头指针指示不正常:①微起 即在“电池"档及“Ⅰ"档表头指针偏离量较小;②突起 即在测量“Ⅰ"档时指针会突然跳动;③缓慢 即在测量“Ⅰ"档时指针慢慢位移。排除:更换新电池。六、仪器配置1、主机一台2、探头一只(附在主机上)3、校正试块2块(随机配置、单机配套)4、校正袋及皮套各一只5、使用说明书、产品合格证、保修卡以及产品装箱单各一份七、附件—金属电导率及电阻率单位的解释1、电阻率{体积电阻率(电阻系数)} 单位横截面积、单位长度金属导体的电阻值称为体积电阻率(简称电阻率),也称电阻系数,用符号ρ表示,单位为欧姆毫米2/米(Ωmm2/m),或微欧姆米(μΩm)研究金属时采用单位。2、电导率 体积电阻率的倒数称为体积电导率(简称电导率),也称电导系数,用符号σ表示,单位为兆西门子/米(MS/m),电导率与电阻率关系:σ=(MS/m)。3、导电率 试样电导率与某一标准值的比值的百分数称为该试样的导电率。1913年,国际退火铜标准确定:采用密度为8.89g/cm3、长度为1m、重量为1g、电阻为0.15328欧姆的退火铜线作为测量标准;在20℃温度下,上述退火铜线的电阻系数为0.017241Ωmm2/m或电导率为58.0MS/m时,确定为100%IACS(国际退火铜标准),其他任何材料的导电率(%IACS)可用下式进行计算:导电率与电阻率关系:导电率(%IACS)=0.017241/ρ*100%导电率与电导率关系:导电率(%IACS)=σ/58.0*100%也即:58MS/m=100%IACS 1%IACS=0.58MS/m1MS/m=1.7241%IACS八、公司简介 武汉雷科电力有限公司坐落于国家网络安全人才与创新基地东西湖区,是一家专注于智能电网诊断技术的高新技术企业。专注于电力系统二次测试、在线监测、检测设备的研发、生产与销售,集电力系统检测方案、电气试验及新能源检测服务于一体。经过多年匠心耕耘,公司已成为分布式故障诊断技术行业的标准制定者和领航者,公司“输电线路分布式故障诊断系统”在长达23余万公里的输电线路上累计应用超过2.8万套,成功诊断线路故障3300余次,产品质量及应用成熟度在行业内受高度认可。 雷科电力秉承“专业专注,创新创业”的企业精神。在技术上不断开拓、创新,雷科电力产品先后获得了包括国家科技进步奖、中国电力科技进步一等奖、中国南方电网公司科技进步一等奖在内的众多荣誉 在服务上周到、细致,公司建立了覆盖全国的服务网络,为客户提供7*24小时快捷、专业、标准的技术服务。雷科电力致力于成为全球智能电网诊断技术解决方案提供商。销售服务电话:、公司电话: 手机号码: 微信号码: 同手机号 网址:
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  • 综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面,只要薄膜有 一定程度的透射,SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度,以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等,其厚度最大测绘范围可以 达到1nm~250um。SM200自动光学薄膜厚度测绘仪由测绘主机、测 绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成,核心器件 采用高分辨率、高灵敏度光谱仪结合奥谱天成独有的 算法技术,为用户提供的全新一代领先的自动光学薄 膜厚度测量仪。产品特征  非接触式、非破坏性的测试系统; 超长寿命光源,更高的发光效率;  高分辨率、高灵敏度光谱仪,测量结果更准确可靠; 软件界面直观,操作方便省时;  历史数据存储,帮助用户更好掌握结果;  桌面式分布设计,适用场景丰富;  维护成本低,保养方便;应用领域 基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测绘,这几乎包含了所有的电介质和半导体材料,包括: 氧化硅、氮化层、类钻薄膜、多晶硅、光刻胶、高分子、聚亚酰胺、非晶硅等。  半导体镀膜:光刻胶、氧化物、淡化层、绝缘体上硅、晶片背面研磨  液晶显示:间隙厚度、聚酰亚胺、ITO 透明导电膜  光学镀膜:硬涂层、抗反射层;  微电子系统:光刻胶、硅系膜状物、印刷电路板;  生物医学:医疗设备、Parylene产品外观
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  • 硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层,方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量,但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件,测量两内操针之间的电位差,引人与试样几何形软有关的修正因子,计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件,其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5",测量装置测量装置的典型电路叉图1,范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。
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  • 四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。能便携全自动测量导线、棒材电阻率、电导率等参数。应用电流–电压降四端子测量法、单片机技术及自动检测技术。其性能完全符合GB/T3048.2及GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于冶金、电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C方阻计算和测试原理如下:  直线四探针测试布局如图8,相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理:  当电流通过1、4探针,2、3探针测试电压时计算如下:  四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C工作原理图  四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C步骤及流程  1. 开启电源,预热5分钟.  2. 装配好探头和测试平台.  3. 设定所需参数.  4. 测量样品  5. 导出数据.  优点描述:  1. 自动量程  2. 准确稳定性.  3. 双电组合测试方法  4. 标准电阻校准仪器  5. PC软件运行  6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.  7. 可显示5位数字.  8. 中、英文界面四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C性能特点1. 体积小巧、重量轻。2. 全中文菜单操作,操作简单方便。3. 测量速度快,数据精确稳定。4. 具有自动放电和放电指示功能,减少误操作,保证设备及人员安全。
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  • LE-DJS-1DT电导电极,铂黑,带温补产品简介:电导电极仪器特点:铂黑电导电极可有效防止在测定较高电导率溶液时出现极化现象仪器参数:温度范围(℃): (5-90)℃外壳材质: 玻璃敏感材质: 纯铂片(镀黑/发亮)接插件: 三芯航空+Q6插头尺寸(mm): φ12×155
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  • 泡棉胶带测试仪器 导电泡棉压缩电阻测试仪 导电胶带压缩电阻测试仪YL-S70CR新款泡棉压缩电阻测试仪用途:导电泡棉压缩电阻测试仪专业用测试导电泡棉, 导电膜等产品压缩电阻测试。 1.全电脑操作,外置电阻计与软件进行通讯,时时采集电阻数值,保证数据准;产品用途:压缩电阻测试仪专业用测试导电泡棉,导电膜等产品压缩电阻测试。安全装置:1.行程保护:设为上、下限位保护开头,防止超过预设行程;2.力量保护:系统可设定力值,防止超过传感器标定值。测试软件说明:1.实现电脑一体化操作,外置电阻计与软件进行通讯,时时采集电阻数值;2.能显示压力/变形曲线图3. 能显示电阻/力值/应变曲线图4. 能显示电阻/变形曲线图5.测试报告显示压缩率/高度/压缩力值/电阻测试结果机台结构交流伺服马达驱动,精密滚珠丝杆传动;丝杆护罩采用铝型材挤压成型,表面喷砂、阳极亮银处理,工艺精美 外壳选用高级ABS吸塑喷涂处理,经久耐用,美观大方;上下行程微调开关;快拆式接头,可轻松更换不同的功能夹具;机台保护超行程、超容量保护、紧急制动开关;机台功能强大的数据分析统计和曲线图形分析辅助工具,具备放大、缩小、平移、十字光标、取点等功能。多次历史测试数据可调入图形同时显示做对比分析。多达7个区间设置、40个手动取点、120个自动取点功能。具备大值、最小值、平均值、去高低平均值、中位数、标准差、总体标准差、CPK值等多种统计功能。测试软件测试曲线显示测试过程中实时且可以同时显示力量-位移、力量-时间、位移-时间、应力-应变等曲线,可随意切换到想看的曲线画面;自定义测试方法具备定速度、定位移、定力量、定力量速率、定应力、定应力速率、定应变、定应变速率等各种控制模式,可实现复杂的多步嵌套循环控制.可设置自动返回、自动判断断裂、自动归零等功能。传感器正反受力可切换;技术参数型号YL-S70YL-S71YL-S72YL-S73容量选择10N、20N、50N、100N、200N、500N、1KN、2KN、5KN(可选双容量配制,并具备快速更换要求)控制方式全电脑控制方式,软件功能强大力量单位N、kN、gf、kgf、lbf、kP、tf(SI)、tf(long)等长度单位mm、cm、Inch、m、km、um等应力单位Pa、Kpa、Mpa、Gpa、KN/㎡、N/㎡等力量分辨率1/500,000精度优于0.5级行程分辨率1/500,000mm采集速率50次/S有效行程450mm700mm1000mm1300mm速度范围0.01~500mm/min(可定制)测试空间?140mm停机模式过载停机、紧急停止键、试件破坏自动停机、上下限设定自动停机机台动力伺服马达驱动机台尺寸(宽×深×高)520×590×1061mm520×590×1325mm520×590×1530mm520×590×1880mm机台净重45KG50KG55KG70KG功率400W电源220V 50~60HZ机台配备USB\232连接线1条、软件1份选购两点延伸计、夹具、电脑
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  • 环氧导电银胶 400-860-5168转2205
    产品名称:环氧导电银胶产品简介:该胶为改性环氧、改性胺类和银粉组成双组份银胶。按比例配制的导电胶性能稳定,粘结强度较高,工艺简便,室温成形,也可加温固化。体积电阻率10-3~10-4Ωcm。广泛用于电子电器工业中金属、陶瓷、玻璃、电极、薄膜电阻间的导电性能粘接。产品特点:技术指标:固化条件:25℃×12h 或者 60℃×2h 或者 90℃×30min抗剪Al-Al:>50kg/cm2 >80kg/cm2 >80kg/cm2 体积电阻率:5.0*10-3Ωcm 3.0*10-4Ωcm 3.0*10-4Ωcm工作温度:-55℃~200℃操作工艺:1.将A组分搅拌3-5min,使其为均匀粘稠体。2.按比例A:B=10:1(重量)混合均匀。3.将上述胶体涂在需要胶合的两个部件上,厚度0.1~0.2mm。然后两个部件合拢,用夹具夹紧。室温下固化12h即可或60℃×2h或90℃×30min也可。 标准包装:本品包装为 55g/套(A组分50克、B组分5克)110g/套(A组分100克、B组分10克) 550g/套(A组分500克、B组分50克)1.1kg/套(A组分1000克、B组分100克) 温馨提示:本品储存期为6个月,阴凉干燥处储存,避免阳光直射。本品为非危险品,可按一般化学品储存运输。 相关产品:A-Z系列晶体 A-Z系列靶材 加热平台系列
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  • 导电材料电阻测试仪 400-860-5168转3024
    导电材料电阻测试仪BEST-300C一、导电橡胶电阻测试仪适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。 二、导电橡胶电阻测试仪特点本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。 三、导电橡胶电阻测试仪功能本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.提供中文或英文两种语言操作界面选择,满足国内及国外客户需求 四、导电橡胶电阻测试仪电阻测量范围: 1、电阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、电 阻:1×10-5~2×105Ω电导率:5×10-6~1×108ms/cm分辨率: 最小1μΩ 测量误差±5%2、测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±(0.1%读数)分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV3、⑴电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。 ⑵量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA, ⑶误差:±0.2%读数±2字4. 主机外形尺寸:330mm*340mm*120mm5、显示方式:液晶显示6、电源:220±10% 50HZ/60HZ 7、标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。 五、导电橡胶电阻测试仪 售后服务培训:1、仪器安装调试期间,厂家安排工程技术人员在业主现场进行技术指导和培训,包括:仪器构造,工作原理,仪器操作使用,样品分析,日常的维护保养等方面的内容,直到业主操作人员能够独立使用,进行维护保养并提供仪器操作规程为止。2、厂家工程师根据业主要求进行定期回访,每年不少于2次(dianhua或上门),对维修人员进行专业仪器维修培训,并对仪器的常见故障的诊断及处理提出建议。售后服务:1、自仪器调试验收合格签字之日起, 北京北广精仪仪器设备有限公司 免费提供三年的现场保修服务(回访),解决排除故障,保证良好正常使用。质保期限自双方签字验收之日起计算。2、零备件乙方保证在10年内以优惠的价格提供给业主。3、如产品软件升级,乙方为甲方免费进行软件的升级。4、保修期过后至10年内,仪器出现故障,需要更换零件时,甲方支付零部件的成本费;需要乙方工程师前往维修时,维修费用包括乙方工程师的差旅费和食宿费,免除人工费用。若甲方因设备急需,乙方应能及时提供所需零配件,保证设备正常运行。六、其他相关产品BDJC-50KV电压击穿强度试验仪BEST-212体积表面电阻测试仪GDAT-A介电常数介质损耗测试仪GDAT-C高频介电常数 测试仪BQS-37A工频介电常数介质损耗测试仪BDH-20KV耐电弧试验仪BLD-600V低压漏电起痕测试仪BLD-6000V高压漏电起痕测试仪CZF-5水平垂直燃烧测试仪BWK-300热变形维卡测试仪BRT-400Z熔融指数测试仪BWN-50KN拉力试验机M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪 七、公司简介北京北广精仪仪器设备有限公司 注册资金2000万,是集研发、设计、生产、销售、服务、管理于一体的高科技企业。拥有一支专业从事研发、制造、安装、调试及售后服务的团队,主要致力于绝缘材料、橡胶塑料、薄膜塑料、陶瓷玻璃、树脂、电线电缆料等固体材料的电压击穿试验仪、介电强度测试仪、电气强度测试仪、击穿强度测试仪、表面电阻率测试仪、介电常数测试仪、介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪、氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、热变形维卡温度测定仪,熔体流动速率测定仪、电子拉力试验机、制样机等仪器设备的研发与制造,积极采用先进的设计理念,依据国家标准、国际标准、德国标准、日本标准、美国标准,研发出更加精密、精zhun的仪器。公司自创建以来,一直保持着健康稳定的发展态势,并以超过30%的年均增长速度快速持续发展,完善的客户服务体系,确保了北京北广产品的设计先进,质量稳定,供货及时和服务周到。八、产品维护保养1 .使用者的维护为了防止意外发生,请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件, 不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生,请直接与瑞柯仪器公司厂家联系或其指定的经销商给予维护。2. 使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件,如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改,将机器的电路和零件修复回原来设计的状态,并收取修护费用。3.测试工作站3.1工作位置工作站的位置选择必须安排在一般人员非必经的处所,使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时,必须将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站”。如果工作站与其它作业站非常接近时,必须特别注意安全的问题。在测试时必须标明“测试执行中,非工作人员请勿靠近” 4.输入电源输入:220V±10% 使用频率:50Hz4.3.3工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。4.3.4人员资格本仪器为精密仪器,必须由训练合格的人员使用和操作。4.3.5安全守则操作人员必须随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。4.3.6衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等,这些金属饰物很容易造成意外的感电。4.3.7医学规定绝dui不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。4.4测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。4.5安全要点● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。● 万一发生问题,请立即关闭电源并及时处理故障原因。九、使用说明1.使用前期准备--测试前准备工作:1.1.开机预热:将220V电源插头插入电源插座,打开电源开关,让仪器预热15分钟,保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动,请按以下步骤检查:①检查电源线是否接触良好;②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断,如有必要,请更换保险丝④ 如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。1.2.准备好被测物,链接好测试探头,把测试探头接口与主机接口相连接,并锁定,防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源,开启电源开关,待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后,如图3,按“显示”键进入,1.4.进入测试功能界面如图4、图5;如测试方阻时,请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”,则进入方阻测试界面;如测试其他材料时,请选择“材料”则进入材料电阻,电阻率,电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数,把被测物放于测试治具平台上操作,测试完毕直接显示测试数据。如配置软件,软件操作说明书同安装软件在一起,请注意查看操作步骤.
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  • 1000系列水质测量仪pH ORP 离子 导电率水质分析是各种实验室与检测中心毎日不可或缺的基础测量项目。LAQUA系列高端的台式水质分析仪,彻底追求使用的简便性。高端台式, 更舒适、自由的pH?水质分析。 功能特点1. 直观操作,使用简便 轻触式操作面板 大显示屏–5.5 英寸 防刻划的耐化学性玻璃面板 附带保护盖 占地小–170(长) x 174(宽) x 73(高) mm2. 360o全方位操控性 *还可提供安装有伸缩轴的加高电极架 (650 mm) 可将轻型电极架单独放置或与测量仪集成为一体。 电极架底座可用作放置烧杯的便携式平台。高度调节块控制着电极架臂的垂直滑动。3. 电极状态 可编程的校准提醒* 每次校准后均可更新电极条件,可随时查看所储存的信息。 使用时若电极损坏则发出报警。4. 稳定性功能利于存档 模糊逻辑确定测量值何时稳定,并锁定 LCD 显示屏上的读数5. 诊断信息 测量仪在不同阶段进行诊断并上报错误。多达 10 种错误编码便于排除特定故障。6. 数据管理 RS232C 或 USB* 用于数据输出 具有索引数据的内部存储器 利用自动记录 (Auto Log) 功能将测量值自动记录到存储器 样品 ID 实现更简单的样品查询 具有实时时钟的日期/时间戳*输出到打印机、计算机或 USB 盘* 7. 单台测量仪测定pH/ORP/EC/TDS/Res/Sal/Temp (oC)8. PH 1200 和 EC 1100组合9. 双通道同时测量同步观察 套装包含 PC1100 测量仪 电极架 电源适配器 可再填充, 带温度传感器的玻璃机身pH电极(58702-50), 1m 电缆, BNC & 音频插座 塑料机身, k=1.0带温度传感器的电导电极(93004-25), 1m 电缆, BNC & 音频插座 pH 4.01, 7.01, 10.01, 3.33M KCl 溶液 (250ml / 瓶) 84uS/cm, 1413 uS/cm, 12.88 mS/cm, 111.8 mS/cm溶液(250ml / 瓶)*经要求可申请带NIST pH的套装。请来电咨询。
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  • 菲希尔膜厚测量仪 400-860-5168转2189
    菲希尔膜厚测量仪菲希尔膜厚测量仪X-RAY系列产品主要用于检测各产品部件上的涂层,镀层,膜厚,元素等的测量分析。其在各个环节中的用途如下:菲希尔膜厚测量仪产品用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 菲希尔膜厚测量仪产品特点:快速无损的镀层厚度测量(单层或多镀层)分析固态,粉末或液态样品有害特痕量分析高精度和准确度十分广泛的应用准确测量基材是磁性和导电的材料样品制备非常简单测试方法安全,没有使用危害环境的化学制品无耗品,物超所值 菲希尔膜厚测量仪应用领域:钟表,首饰,眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB更多关于菲希尔膜厚测量仪请致电咨询。我司不仅是菲希尔膜厚测量仪代理商,同时也是一家PCB精密检测仪器及材料的生产厂家。
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  • MDpicts微波探测光诱导电流瞬态谱仪 灵敏度:半导体材料电学缺陷分析的高灵敏度温度范围:液氮(77k)至500k。可选:液氦(4k)或更高温度衰减常数范围:20纳秒到几毫秒沾污检测:电学陷阱基本性能确定:激活能和陷阱的俘获截面,受温度和注入水平影响的少子寿命参数等重复性: 99.5%,测量时间: 60分钟。液氮消耗:2升/次灵活性:从365 nm 到1480nm,根据不同材料选择不同波长激发光源可访问性:基于IP的系统允许来自世界任何地方的远程操作和技术支持 图1. 与温度有关的载流子发射瞬态 图2.不同缺陷的评价 图3.Arrhenius曲线图 从Arrhenius斜率(图3)可以确定活化能。利用这种新型MDPpicts设备,可在20~500k范围内测量温度依赖性的瞬态光电导。Si, GaAs, InP, SiC和其他很多半导体材料已成功采用了这种方法进行研究。 图4. 不同温度的Cz-Si晶圆片的MD-PICTS图谱
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  • 该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件,其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5",测量装置测量装置的典型电路叉图1,范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层,方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量,但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件,测量两内操针之间的电位差,引人与试样几何形软有关的修正因子,计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。
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  • 半导体电材料电阻率试验仪满足标准:GB_T3048.3-2007电线电缆电性能试验方法_第03部分:半导电橡塑材料体积电阻率试验GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法GB/T 15662-1995 导电、防静电塑料体积电阻率测试方法GB/T2439-2001硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定产品概述:半导体电材料电阻率试验仪-主要用于测 量电缆用橡胶和塑料半导电材料中间试样电阻率以及各种导电橡塑产品电阻,也可使用四端子测试夹,对金属导体材料及产品的低、中值电阻进行测量。仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源,测量结果采用LED数字直接显示,分为3个窗口:电压显示窗口,材料厚度显示窗口(用户根据实测输入),电阻率显示窗口。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点,符合国际和国家标准的要求。仪器适用于电缆厂、导电橡塑材料厂、计算机厂、电子表厂、高等院校、科学研究等部门,对于导电橡塑材料及产品的电阻性能测试、工艺检测,是必需的测试设备。仪器主要技术指标:一、测量范围:测量半导电电阻率时: 电阻率10-4--105Ω-cm;分辩率10-6Ω-cm测量其他(电线电缆)电阻时: 电阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ二、 数字电压表:1. 量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V2. 测量误差 2mA档±(0.5%读数+8字);20mV—2V挡±(0.5%读数+2字)3. 显示4 1/2 位数字显示0—19999具有极性和过载自动显示,小数点、单位自动显示。三、 恒流源:1. 电流输出:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.2. 电流误差:±(0.5%读数+2字)四、 测量电极:1、电极材质:测试电极-黄铜,支架-不锈钢2、电极与试样接触宽度:5mm3、电极与试样接触压力:0.6N五、试样要求:1、试样宽度:(10±0.2)mm 长度:(70-150)mm 推荐厚度:(3-4)mm,试样任何一点的厚度余平均值的差不得大于5%。2、试样数量:3个六、电源要求:1、220±10% 50HZ或60HZ 功率消耗50W
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  • 导电橡塑电阻测试仪 400-860-5168转3024
    导电橡塑电阻测试仪测量装置完全符合并优于以下标准:国家标准GB11210《硫化橡胶抗静电和导电制品电阻的测定》国际标准ISO1853 《导电和防静电橡胶-电阻率测量》 国际标准ISO 3915 《导电塑料体积电阻率测试方法》国家标准GB2439 《导电和抗静电橡胶电阻率(系数)的测定方法》国家标准GB/T15662《导电、防静电塑料体积电阻率测试方法》交通行业标准JT230-95 汽车导静电橡胶拖地带美国ASTM D991标准《橡胶特性---导电材料及防静电产品的体积电阻的标准测试方法》导电橡塑电阻测试仪技术参数:1 测量范围:10-9Ω.m~1011Ω.m (世界上超宽测量范围,达20个数量级),几乎可以测量从金属导体到所有静电导体材料及静电消电等全部材料。2 准确度:1%~5%3 静电计(静电电压表):100mV~±200V,输入电阻≥1014Ω(100TΩ),0.5~2%4 皮安电流表:1×10-15A (1fA), 0.5~3%5 数字可调电压源:1%6 测试屏蔽箱(送标准四电极)(注:不同的标准有不同的电极,可以免费送符合国家标准的一套四电极。7 绝缘板 ≥100TΩ.m (1014Ω.m)8 电流电极距离:100mm9 电压电极距离:20mm 重量:331g, 压力约为 3.25 N接线方法:测试导电材料、防静电材料接线图:a. 将电源地(黑)与BEST-12地相接b.电源正 (红) 与电流电极相接c. BEST-12皮安表的输入与电流电极的另一端相接d. BEST-13静电计的输入与电压电极两端相接,测试时靠近电流正极性端的电压电极接静电计输入芯线,另一电压电极接BEST-13的地线。静电基本知识:在空气干燥的季节,当你开门时偶尔会有电击的感觉,这就是静电放电(ESD)。当你感觉电击时,你身上的静电电压已超过2000伏!当你看到放电火花时你身上的静电已高达5000伏!当你听到放电声音时,你身上的静电已高达8000伏!但是现代许多高速超大规模集成电路碰到仅几十伏或更低的静电就会遭到损坏。也就是说当你接触这些电路时,你既没有感觉到又没有看到更没有听到静电放电时,这块电路就已部分损伤或完全损坏,而你可能还在找其硬件或软件的原因。由于人体及周围物体极易带电几千甚至几万伏静电,如果静电放电或使用不当,将损坏仪器或使仪器性能下降。在测量导电材料电阻率若采用三电极或二电极测量时会因为电极与被测量材料表面电阻而影响测量准确性,本装置采用四电极法测量导电和防静电材料体积电阻率,可以克服表面接触电阻造成的误差影响
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  • 空间电荷测量仪 400-860-5168转4543
    空间电荷测量仪 传导电流可以反映电介质中载流子运输过程的许多微观特性。为了研究传导电流与空间电荷分布之间的关系,本单位基于电声脉冲法(PEA)开发研制了一套可以同步测量电介质材料空间电荷与传导电流的系统。该测试系统重点设计了电极系统,通过将下电极分区域进行设计,实现了同步测量传导电流和空间电荷的功能。利用本系统分别对PE材料和ZnO材料进行了空间电荷及传导电流的测试,测量结果与相关文献的测试结果对比表明,该系统可以很好地对电介质材料进行空间电荷的测试,并能够同步测量材料的传导电流。 空间电荷测试仪系统采用声学技术的空间电荷测量已成为研究固体材料介电性能的常用方法。应用于材料的内部电荷、电场和电势分布的研究和分析。例如用于离子导电材料的评估,高压绝缘材料评估,材料的内部电荷、电场和电势分布的研究和分析,可以实时检测电荷分布并将其转换为空间电荷分布,用于绝缘体,静电树脂,有机光电导体,离子迁移等。 典型的PEA系统可以以毫秒级的重复速率测量样品厚度方向上的空间电荷分布,分辨率约为10微米。 学科领域高技术服务 主要功能应用于材料的内部电荷、电场和电势分布的研究和分析主要技术指标测量灵敏度(检测量)为0.2uC/cm3 ,输出电压0~1kV,脉宽5ns-200ns阶梯可调,脉冲重复频率可达30kHz,响应时间20s,重复测量误差率:小于5%应用领域 系统特点:1、 无损检测方式2、 可以在高压下和辐照下测量样品。3、 测试重现性好,误差小于5%。4、 操作方便,只需将样品放在两个电极之间。 系统构成:整套系统由测量单元、脉冲发生器、放大器电源、高速高压放大器、数字示波器及软件组成。 部分客户名单:西安交通大学、哈尔滨工业大学、华北电力大学、深圳大学、中科院光机所。
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