进力分析仪

激光粒度分析仪，是指以激光作为探测光源的粒度分析仪器，通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小，已成为当今比较流行的粒度测量仪器之一，，具有测量动态范围大、测量速度快、重复性好、操作方便等优点，尤其适合测量粒度分布范围宽的固体颗粒和液体雾滴。激光粒度仪作为一种测试性能优异和适用领域极广的粒度测试仪器，已经在其他粉体加工与应用领域得到广泛的应用。激光粒度进样方式分为干法、湿法两种。湿法是利用水或其它试剂将样品颗粒分散后测量，湿法又包括微量进样池和超声循环池两种附件。超声循环池具有不同的循环速度，可提供超声以增加样品的分散性，根据样品特性自由选择，可针对样品优化分散条件；微量进样池具有不同的搅拌速度，搅拌速度均匀且样品需求量小。干法测定部件采用气旋方式样品抽吸结构，抽吸与喷射2段作用，从而出色实现样品的稳定气相分散，可实现高灵敏度、高重现性、高分辨率的测定干燥样品的粒径分布。岛津激光粒度（SALD）系列包含多款产品，主要包括SALD-2300、SALD-7500nano、IG-1000、SALD-7500和DIA-10等众多型号，适合多种粒度范围测量。除光学系统，不同机型也有相应多种规格的进样器可供选用进样器，根据样品特性可以选择湿法（微量进样池和超声循环池）和干法测试样品粒径，可以帮助客户大大提高分析速度和工作效率。

土壤团粒分析仪分析土壤操作步骤

卡路里分析仪是专门为食品标签和食物能量值测定开发的仪器，主要用于测定食品中的能量值和水分及蛋白质、脂肪、碳水化合物，为人们日常科学饮食提供科学数据．在我国食品化学成分的测定标准中一般规定水分、蛋白质、脂肪、总糖含量的测定相对偏差不大于15%．卡路里分析仪测定值接近这一要求，如果进行适当校正，能符合要求．因此可以作为成分的测定方法．另外我国食品营养标签标示规定: 对于蛋白质、碳水化合物≥ 80%标示值，对于脂肪、糖类≤ 120%标示值，都符合要求．因此卡路里分析仪测定水分、糖类、脂肪是可用的快速测定设备．

微粒分析仪能够准确快速地检测出洗脱液中的微粒数量和大小，确保实验的精准性和可重复性。无论是生物实验室、制药工厂，还是电子工业领域，微粒分析仪都将在洗脱液处理中发挥关键作用，提升产品质量，降低生产成本。

很多轻元素（原子序数较低的元素）可以很容易通过激光诱导击穿光谱（LIBS）技术进行测量，但是却很难通过其它的技术进行测量，硼（B）元素就是其中之一。在以下测试中，使用了美国TSI 台式LIBS分析仪对样品进行分析，这些被用于分析的样品中，玻璃是直接取样于一个美国的矿业公司。为了做对照，实验还进行了硼硅酸盐玻璃（Borosilicate glasses）的重复分析。

本实验以两种梨子的脆度作为分析指标，利用孔隙分析仪分析孔隙分析梨子的粗细并用于判断脆性，并与质构仪数据进行对比分析，进一步判断梨子的脆性。

为了考察CAMSIZER数字成像颗粒分析仪用于聚丙烯粉料测试的可行性，采用CAMSIZER数字成像颗粒分析仪对聚丙烯粉料样品的粒度分布进行了测试，考察了测试结果的重复性，并对该仪器在粒度分布测试同时获得颗粒球形度数据和颗粒照片的功能进行了验证。结果表明：粒度分布测试自动化程度高，测试速度快，结果重复性好，与筛分法比较，工作量大大降低；在进行粒度分布测试的同时，可获得颗粒的球形度数据和颗粒投影照片。

岛津公司作为综合性的仪器生产商，为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪（XPS）以光电效应为基础，致力于材料表面和界面的元素状态分析，不仅可以给出元素成分的半定量信息，还可以通过化学位移给出元素的价态信息，采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息，同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测；电子探针显微分析仪（EPMA）以聚焦电子束为探针，可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息，和SEM-EDS相比，EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术，提供更高分辨率的元素信息，在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用；扫描探针显微镜（SPM）可以查看纳米尺度上的样品形貌，追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况，为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段；X 射线衍射仪（XRD）致力于提供样品的晶体结构信息，可以实现原位充放电过程中的结构变化监测；能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点，通过工作曲线法，以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试，可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外，还有多种成分及结构分析 手段，如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

岛津公司作为综合性的仪器生产商，为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪（XPS）以光电效应为基础，致力于材料表面和界面的元素状态分析，不仅可以给出元素成分的半定量信息，还可以通过化学位移给出元素的价态信息，采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息，同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测；电子探针显微分析仪（EPMA）以聚焦电子束为探针，可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息，和SEM-EDS相比，EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术，提供更高分辨率的元素信息，在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用；扫描探针显微镜（SPM）可以查看纳米尺度上的样品形貌，追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况，为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段；X 射线衍射仪（XRD）致力于提供样品的晶体结构信息，可以实现原位充放电过程中的结构变化监测；能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点，通过工作曲线法，以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试，可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外，还有多种成分及结构分析 手段，如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

ST-Z16纹理分析仪 质构仪 物性分析仪是一种纹理测量系统，可以向上或向下方向移动以压缩或拉伸样品。行走臂装有测力传感器，并记录样品对施加在其上的变形的力响应。收集力，距离和时间数据，通常将其显示为曲线图，分析后即可指示样品的质地。

在YH-FIPS系列微流成像颗粒分析仪中，样品通过流通池后，会被明亮的光脉冲照亮。粒子运动/图像使用具有明确放大倍率和扩展景深的自定义放大，系统会对此进行记录。原始图像被保存下来，粒子参数保存到数据库中，并可导出为电子表格。粒子数据库的实验后软件分析可生成有关计数、浓度和特征分布 (例如数字加权 PSD) 的信息。实现亚微米到微米级颗粒的计数功能，还可以得到样品的实际颗粒形貌信息，以达样品颗粒的最真实统计。

岛津公司作为综合性的仪器生产商，具有较为完整的产品链，可以为催化材料的结构表征以及催化性能测试提供综合的解决方案。XPS以光电效应为基础，致力于材料表面和界面的元素状态分析，可以给出元素成分的半定量信息并通过化学位移给出元素化学状态信息，采用多模式氩离子刻蚀技术可以对催化剂表面进行清洁处理，且可以提供沿深度的二维元素分布信息；扫描探针显微镜（SPM）可以查看纳米尺度上的催化剂样品形貌以及片层材料厚度，在碳纳米管、石墨烯等材料中应用广泛；电子探针显微分析仪（EPMA）以聚焦电子束为探针，可以提供纳米尺度上的催化剂形貌像和微米尺度上相关元素分布信息，和SEM-EDS相比，EPMA 具有更高的分辨率的元素信息，在催化材料的开发领域尤其是汽车尾气催化剂研究方面有着重要的作用；其他如ICP、XRF、EDX可用于催化剂材料组分的检测、色谱—质谱技术可用于催化反应原料及产物的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、DSC可用于催化剂表面积碳行为等研究。此外，岛津公司可以根据您的分析需求提供定制化的系统气相产品，针对二氧化碳光、电、热催化还原系统，可实现H2、O2、N2、CH4、CO等气体以及水中甲酸、甲醛、甲醇、乙醇、丙酮等液体的分析；针对费托合成、合成气转化、甲烷转化等催化反应，可实现无人值守采样取样进样分析，高沸点样品的在线分析。

测试设备面临的挑战：在过去，XRF （x 射线荧光）和 OES （光发射光谱）都可用于物料验证。在早期的测试作业中，只有实验室配备了物料验证所需的各种仪器。然而，随着实验室技术的小型化，工艺过程中测试和现场测试已经成为现实。碳（C）是一种重要的合金元素，常常被添加到不锈钢中以增加其硬度和强度。迄今为止，碳的分析一直是一个具有挑战性的工作。最流行的物料验证方法是采用手持式 X 射线荧光（XRF），但其无法检测碳含量。光学发射光谱法（OES）可以检测碳，但需要依托于大型笨重的推车，这也限制了其在棘手的环境中（梯子、狭小通道、沟渠、狭窄的空间等）的应用。根据不锈钢的等级，碳当量要求在 0.005％ 至 1.2％ 之间。在某些不锈钢中，不允许碳含量过高，尤其是由于碳化物沉淀而可能威胁焊接性时。由于这些原因，碳含量的测定对于随时间推移全面验证等级和安全操作至关重要。Niton Apollo 手持式 LIBS 分析仪：现在，我们成功推出新的工具可供专业人员进行物料检验。Thermo Scientific™ Niton™ Apollo™ 手持式 LIBS 分析仪利用激光诱导击穿光谱技术（LIBS）在生产过程中对物料进行检验。Niton Apollo 分析仪重量仅为 6.4 磅（2.9 千克），专门用于提供方便、便携式碳含量检测方案– 在许多情况下，无需使用笨重的光学发射光谱（OES）推车。Niton Apollo 分析仪具有高效的激光和高纯度的氩气吹扫功能，可以确认或更新错误的MTR 报告，消除与焊接操作时不兼容合金相关的风险，甚至可以区分相似等级的合金。

测试设备面临的挑战：在过去，XRF （x 射线荧光）和 OES （光发射光谱）都可用于物料验证。在早期的测试作业中，只有实验室配备了物料验证所需的各种仪器。然而，随着实验室技术的小型化，工艺过程中测试和现场测试已经成为现实。碳（C）是一种重要的合金元素，常常被添加到不锈钢中以增加其硬度和强度。迄今为止，碳的分析一直是一个具有挑战性的工作。最流行的物料验证方法是采用手持式 X 射线荧光（XRF），但其无法检测碳含量。光学发射光谱法（OES）可以检测碳，但需要依托于大型笨重的推车，这也限制了其在棘手的环境中（梯子、狭小通道、沟渠、狭窄的空间等）的应用。根据不锈钢的等级，碳当量要求在 0.005％ 至 1.2％ 之间。在某些不锈钢中，不允许碳含量过高，尤其是由于碳化物沉淀而可能威胁焊接性时。由于这些原因，碳含量的测定对于随时间推移全面验证等级和安全操作至关重要。Niton Apollo 手持式 LIBS 分析仪：现在，我们成功推出新的工具可供专业人员进行物料检验。Thermo Scientific™ Niton™ Apollo™ 手持式 LIBS 分析仪利用激光诱导击穿光谱技术（LIBS）在生产过程中对物料进行检验。Niton Apollo 分析仪重量仅为 6.4 磅（2.9 千克），专门用于提供方便、便携式碳含量检测方案– 在许多情况下，无需使用笨重的光学发射光谱（OES）推车。Niton Apollo 分析仪具有高效的激光和高纯度的氩气吹扫功能，可以确认或更新错误的MTR 报告，消除与焊接操作时不兼容合金相关的风险，甚至可以区分相似等级的合金。

颗粒尺寸分析仪用于测量颗粒的形状和大小分布。本分析仪用于实验室测试。样品必须手动取自目标产品的颗粒流，然后放置到分析仪测量器皿中。采用计算机可视化技术进行分析，先对样品进行图像快照，并存贮于计算机中，然后对图像进行分析。

很多轻元素（原子序数较低的元素）可以很容易通过激光诱导击穿光谱（LIBS）技术进行测量，但是却很难通过其它的技术进行测量，硼（B）元素就是其中之一。硬硼钙石（Colemanite）和硼钠钙石（Ulexite）就是两种一般作为玻璃工业原料的含硼矿物。在以下测试中，使用了美国TSI 台式LIBS分析仪对样品进行分析，这些被用于分析的样品中，硬硼钙石样品来自于一家跨国的玻璃公司，而硼钠钙石样品是直接取样于一个美国的矿业公司。为了做对照，实验还进行了硼硅酸盐玻璃（Borosilicate glasses）的重复分析。

机制砂粒形粒貌分析仪主要适用于机制砂、河砂的粒形粒貌分析。机制砂是指通过机械破碎、筛分和清洗等工艺过程，得到的粒径小于4.75毫米的细骨料。机制砂在建筑、道路、桥梁、隧道等领域得到广泛应用，其质量直接关系到工程的安全性和稳定性。因此，对机制砂进行严格的检测和控制是十分必要的。

HORIBA CN-300 离心式纳米粒度分析仪通过记录颗粒到达检测器的所需时间计算颗粒大小，显著提升了仪器的表征复杂样品的能力，可帮助解决粒度分析难题。

丹东百特研制的BettersizeC400光学颗粒计数分析仪具有检测水中不溶性微粒尺寸和个数的能力，它采用国际先进的光阻与角散射结合技术，配合高灵敏度检测器和高速信号采集与传输系统，可准确的分析0.5-400μm之间的颗粒尺寸、个数和粒度分布

很多轻元素（原子序数较低的元素）可以很容易通过激光诱导击穿光谱（LIBS）技术进行测量，但是却很难通过其它的技术进行测量，硼（B）元素就是其中之一。硬硼钙石（Colemanite）和硼钠钙石（Ulexite）就是两种一般作为玻璃工业原料的含硼矿物。在以下测试中，使用了美国TSI 台式LIBS分析仪对样品进行分析，硼钠钙石样品是直接取样于一个美国的矿业公司。为了做对照，实验还进行了硼硅酸盐玻璃（Borosilicate glasses）的重复分析。

有许多测量玻璃转移温度Tg方法的仪器，包括热示差扫描卡量计DSC、同步式热重/热示差分析仪STA (TG/DSC)、热机械分析仪TMA及动态机械黏弹分析仪DMA，以上都可以量测Tg，但理论与方式并不相同，而同一材料的量测Tg温度点也不同。以下分享三种热分析仪量测同一标准品PMMA高分子材料的Tg玻璃转移温度差异。

岛津公司作为综合性的仪器生产商，为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪（XPS）以光电效应为基础，致力于材料表面和界面的元素状态分析，不仅可以给出元素成分的半定量信息，还可以通过化学位移给出元素的价态信息，采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息，同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测；电子探针显微分析仪（EPMA）以聚焦电子束为探针，可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息，和SEM-EDS相比，EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术，提供更高分辨率的元素信息，在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用；扫描探针显微镜（SPM）可以查看纳米尺度上的样品形貌，追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况，为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段；X 射线衍射仪（XRD）致力于提供样品的晶体结构信息，可以实现原位充放电过程中的结构变化监测；能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点，通过工作曲线法，以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试，可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外，还有多种成分及结构分析 手段，如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

岛津公司作为综合性的仪器生产商，为电池材料的性能测试和结构表征提供综合解决方案。X 射线光电子能谱仪（XPS）以光电效应为基础，致力于材料表面和界面的元素状态分析，不仅可以给出元素成分的半定量信息，还可以通过化学位移给出元素的价态信息，采用多模式氩离子刻蚀技术还可以提供沿深度的二维元素分布信息，同时可以实现原位充放电过程中的元素追踪检测；电子探针显微分析仪（EPMA）以聚焦电子束为探针，可以提供纳米尺度上的形貌像和微米尺度上元素分布信息，和SEM-EDS相比，EPMA 以其高稳定性的电子束流和波长色散的分光技术，提供更高分辨率的元素信息，在新材料开发和失效分析等领域有着不可替代的作用；扫描探针显微镜（SPM）可以查看纳米尺度上的样品形貌，追加可控气氛分析室可以观察不同气氛时样品表面情况，为表面分析和界面分析提供强有力的表征手段；X 射线衍射仪（XRD）致力于提供样品的晶体结构信息，可以实现原位充放电过程中的结构变化监测；能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）具有高灵敏度、高分辨率以及卓越的通用性的特点，通过工作曲线法，以及具有专利的FP和背景FP法快速地进行元素的定性和定量测试，可应对电池三元材料及原材料的成分测试。此外，还有多种成分及结构分析 手段，如ICP、EDX用于正负极组分的检测、GC/GCMS用于电解液添加成分的检测、FTIR用于表面有机基团的检测、SALD用于材料粒径的检测等。

力可RC612多相碳水分析仪，可以直接检测有机碳和无机碳含量，水分含量，表面碳水含量等。利用程序升温电阻炉和释放峰型可区分有机碳无机碳

采用微粒分析仪对中药注射液成品进行检测。随着医学领域的迅速发展，中药作为我国传统医药也得到了极大的发展，新增了中药注射液成品，彻底改变了中药见效慢的传统观念。在从2000年版《中国药典》开始已正式将中药注射液中不溶性微粒检查法收载于附录中。采用GWF-8JD微粒分析仪可以对中药注射液成品中进行不溶性微粒的检测。

利用力可LECO SC832碳硫分析仪分析水泥、土壤、石灰石等样品中的碳硫含量获得良好效果，该仪器采用电阻炉，最高温度1550℃。

ZETA电位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），是表征胶体分散系稳定性的重要指标。Zeta电位的重要意义在于其绝对值与检测对象的稳定性呈正相关，即Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度度量，在一定程度上来讲，分子或分散粒子越小，Zeta电位绝对值越高，则体系越稳定。反之，若Zeta电位绝对值越低，分子之间则越倾向于凝结或凝聚。Zeta电位测量技术已经被广泛的应用于工业和科研各个领域，比如陶瓷生产领域，我们需要测量陶瓷浆料的Zeta电位来考察浆料的存储稳定性；在生物制药领域，我们需要测试蛋白溶液的Zeta电位以尽量避免蛋白大分子的团聚；而在水处理领域则恰恰相反，需要加絮凝剂并将其电位调节到等电点附近，从而让其变得更容易絮凝沉淀以便去除水中的颗粒杂质。Zeta电位既然如此重要，那我们如何才能得到一个悬液体系准确的Zeta电位数据呢？胤煌科技将通过美国MAS系列的高浓度Zeta电位分析仪带您了解Zeta电位分析的具体过程。

YH-MIP-0103显微计数图像法粒度分析仪已解决传统显微镜法测试数据准确性不足、操作繁琐、对人眼伤害较大、检测结果不可追溯等问题，全新一代YH-MIP-0205 Pro型显微计数图像法粒度分析仪在上一代仪器已有的技术优势下，进行了全新优化，新一代产品能够以全自动的方式实现样品中的不溶性微粒检测！

显微镜法作为0982检查的第一法，在软膏剂、乳膏剂、凝胶剂等其他剂型中得到了广泛应用，显微镜法粒度分析仪，作为0982粒度检查方法的第一法显微镜法的相关检测设备，得到了越来越多的关注。胤煌科技YinHuang Technology自主研发的显微镜法粒度分析仪YH-MIP-0982在软膏剂、乳膏剂、凝胶剂等得到了广泛的应用。

很多轻元素（原子序数较低的元素）可以很容易通过激光诱导击穿光谱（LIBS）技术进行测量，但是却很难通过其它的技术进行测量，硼（B）元素就是其中之一。硬硼钙石（Colemanite）和硼钠钙石（Ulexite）就是两种一般作为玻璃工业原料的含硼矿物。在以下测试中，使用了美国TSI 台式LIBS分析仪对样品进行分析，这些被用于分析的样品中，硬硼钙石样品来自于一家跨国的玻璃公司，而硼钠钙石样品是直接取样于一个美国的矿业公司。为了做对照，实验还进行了硼硅酸盐玻璃（Borosilicate glasses）的重复分析。