聚亮光学仪

产品描述Zeta-388光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。 Zeta-388继承了Zeta-300的功能，并增加了晶圆盒至晶圆盒机械臂，可实现全自动测量。该系统采用获得专 利的ZDot&trade 技术和Multi-Mode (多模式)光学系统，可以对各种不同的样品进行测量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的纹理，以及纳米至毫米级别的台阶高度。Zeta-388的配置灵活并易于使用，并集合了六种不同的光学量测技术。ZDot&trade 测量模式可同时收集高分辨率3D扫描和True Color无限远焦距图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量、Nomarski干涉对比显微镜和剪切干涉测量。ZDot或集成宽带反射计都可以对薄膜厚度进行测量。Zeta-388也是一款高端显微镜，可用于样品检查或自动缺陷检测。Zeta-388通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度的测量以及缺陷检测功能，以及晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送，适用于研发及生产环境。主要功能采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件的简单易用的光学轮廓仪，具有广泛的应用可用于样品复检或缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像ZXI：白光干涉测量技术，适用于z向分辨率高的广域测量ZIC：干涉对比度，适用于亚纳米级别粗糙度的表面并提供其3D定量数据ZSI：剪切干涉测量技术提供z向高分辨率图像ZFT：使用集成宽带反射计测量膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，并对样品上的缺陷进行量化生产能力：通过测序和图案识别实现全自动测量晶圆传送机械臂: 自动加载直径为50mm至200mm的不透明（如硅）和透明（如蓝宝石）样品主要应用台阶高度：纳米到毫米级别的3D台阶高度纹理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波纹度外形：3D翘曲和形状应力：2D薄膜应力薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度缺陷检测：捕获大于1μm的缺陷缺陷复检：采用KLARF文件作为导航以测量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置工业应用LED：发光二极管和PSS（图案化蓝宝石基板）半导体和化合物半导体半导体 WLCSP（晶圆级芯片级封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB和柔性PCBMEMS（微机电系统）医疗设备和微流体设备还有更多：请与我们联系以满足您的要求应用台阶高度Zeta-388可以提供纳米级到毫米级的3D非接触式台阶高度测量。ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件提供了一系列测量台阶高度的方法。主要的测量技术是ZDot，可以快速测量从几十纳米到几毫米的台阶高度。ZXI干涉测量技术可以在大范围面积上对台阶高度进行纳米级到毫米级的测量。ZSI剪切干涉测量技术可用于测量小于80nm的台阶高度。薄膜厚度Zeta-388可以利用ZDot或ZFT测量技术对透明薄膜进行厚度测量。ZDot适用于测量大于10μm的透明薄膜，例如在折射率较高的基板上涂覆的光阻或微流体器件层。ZFT则采用集成宽带反射仪适用于测量30nm至100μm的薄膜。 这既适用于单层薄膜也适用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜属性或者采用模型针对色谱进行匹配。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-388可以对3D纹理进行测量，并对样品的粗糙度和波纹度进行量化。ZDot可测量从几十纳米到非常粗糙表面的粗糙度。ZSI和干涉测量技术可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件过滤功能将测量值分离为粗糙度和波纹度部分，并计算诸如均方根（RMS）粗糙度之类的参数。Nomarski干涉对比度显微镜可以通过发现斜率的微小变化对非常精细的表面细节进行可视化。外形：翘曲和形状Zeta-388可以测量表面的2D和3D的形状或翘曲。这包括对晶圆翘曲的测量，例如半导体或化合物半导体器件生产中的多层沉积期间由于层与层的不匹配是导致这种翘曲的原因。Zeta-388还可以量化包括透镜在内的结构高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-388能够测量在生产过程中，包含多个工艺层的半导体或化合物半导体等器件期间所产生的应力。 使用应力卡盘将样品支撑在中性位置并精确测量样品翘曲。然后通过应用Stoney方程，利用诸如薄膜沉积工艺的形状变化来计算应力。 Zeta-388采用用户定义的间隔，并沿着样品直径采集样品表面的高度，然后将数据汇总并绘制样品形状轮廓，并以此测量2D应力。自动缺陷检查Zeta-388的自动光学检测（AOI）功能可以快速检测样品、区分不同的缺陷类型，并绘制样品的缺陷密度分布。Zeta-388结合了3D测量功能，可以提供2D检测系统无法获得的缺陷信息，从而可以更快找到缺陷根源。缺陷复检Zeta-388的缺陷复查功能采用检测设备的KLARF文件，并将平台移动到缺陷位置。 用户可以使用高质量的显微镜对缺陷进行检测或者对其高度、厚度或纹理等形貌进行测量。 这提供了2D缺陷检测系统无法获得的额外的缺陷细节。 Zeta-388还可以对缺陷做划线标记，从而更容易在如SEM复检设备等视野有限的设备中找到这些缺陷。LED图案化蓝宝石基板（PSS)Zeta-388光学轮廓仪可以对图案化蓝宝石基板进行量测和检测。该系统结合了ZDot功能、样品透射照明和自定义算法，可快速量化PSS凸块的高度、宽度和间距。Zeta-388还可在图案化前后用于测量光刻胶，让蓝宝石在蚀刻之前能够进行样品返工。PSS基板的自动缺陷检测可以快速识别关键缺陷，例如PSS凸块缺失、凸块桥接、撕裂和污染。Zeta-388还配有一个自动晶圆机械传送系统，以减少人为干预和手动样品传送所引起的污染。半导体和复合半导体封装Zeta-388支持晶圆级芯片级封装（WLCSP）和扇出晶圆级封装（FOWLP）的量测要求。关键的应用技术是该系统能够在干光刻胶薄膜完好无损的情况下对镀铜的高度做出测量。这是透过透明的光刻胶对种子层进行测量，通过测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜柱和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括再分布线（RDL），凸块下金属化（UBM）高度和纹理、光刻胶开口关键尺寸（CD）、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。 还可以测量金属触点的共面性以确定凸块高度是否满足最 终的器件封装连接要求。激光烧蚀Zeta-388可以测量在激光表面处理后对半导体、LED、微流体器件、PCB等引起的形貌变化。激光已在半导体、LED和生物医学设备等行业中被用于精密尺度微加工和表面处理。对于半导体工业，测量晶圆ID标记的高度和宽度至关重要，这确保其在多个不同的工艺步骤中可以被成功读取。微流体Zeta-388能够测量由硅、玻璃和高分子等材料制成的微流体装置。该系统可以对通道、井和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理进行量化。Zeta-388还可以在透明顶盖板密封后对最 终设备进行测量 – 对折射率的变化进行补偿并且对使用盖板引起的的应力变化进行量化。生物技术Zeta-388非常适用于生物技术应用，可以针对各种样品表面的纳米级到毫米级特征为其提供非接触式测量。Zeta-388可以用于测量生物技术设备中的深井深度之类的高纵横比台阶。此外，利用其高数值孔径物镜和分辨反射率极低样品的能力，该系统还可以测量药物输送的微针阵列结构。产品优势Zeta-388支持3D量测和成像功能，并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统，可实现全自动测量。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、低拥有成本，以及SECS / GEM通信，适用于研发及生产环境。

产品描述Zeta-300光学轮廓仪是一种非接触式3D表面形貌测量系统。 Zeta-300继承了Zeta-20的功能，并增加了隔离选项以及处理更大样品的灵活性。 该系统采用获得专 利的ZDot&trade 技术和Multi-Mode (多模式)光学系统，可以对各种不同的样品进行测量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的纹理，以及纳米至毫米级别的台阶高度。Zeta-300的配置灵活并易于使用，并集合了六种不同的光学量测技术。ZDot&trade 测量模式可同时收集高分辨率3D扫描和True Color无限远焦距图像。其他3D测量技术包括白光干涉测量、Nomarski干涉对比显微镜和剪切干涉测量。ZDot或集成宽带反射计都可以对薄膜厚度进行测量。Zeta-300也是一种高端显微镜，可用于样品复检或自动缺陷检测。 Zeta-300通过提供全面的台阶高度、粗糙度和薄膜厚度的测量以及缺陷检测功能，适用于研发及生产环境。主要功能采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件的简单易用的光学轮廓仪，具有广泛的应用可用于样品复检或缺陷检测的高质量显微镜ZDot：同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像ZXI：白光干涉测量技术，适用于z向分辨率高的广域测量ZIC：干涉对比度，适用于亚纳米级别粗糙度的表面并提供其3D定量数据ZSI：剪切干涉测量技术提供z向高分辨率图像ZFT：使用集成宽带反射计测量膜厚度和反射率AOI：自动光学检测，并对样品上的缺陷进行量化生产能力：通过测序和图案识别实现全自动测量主要应用台阶高度：纳米到毫米级别的3D台阶高度纹理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波纹度外形：3D翘曲和形状应力：2D薄膜应力薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度缺陷检测：捕获大于1μm的缺陷缺陷复检：采用KLARF文件作为导航以测量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置工业应用LED：发光二极管和PSS（图案化蓝宝石基板）半导体和化合物半导体半导体 WLCSP（晶圆级芯片级封装）半导体FOWLP（扇出晶圆级封装）PCB和柔性PCBMEMS（微机电系统）医疗设备和微流体设备数据存储大学，研究实验室和研究所还有更多：请与我们联系以满足您的要求应用台阶高度Zeta-300可以提供纳米级到毫米级的3D非接触式台阶高度测量。ZDot和Multi-Mode（多模式）光学器件提供了一系列测量台阶高度的方法。主要的测量技术是ZDot，可以快速测量从几十纳米到几毫米的台阶高度。ZXI干涉测量技术可以在大范围面积上对台阶高度进行纳米级到毫米级的测量。ZSI剪切干涉测量技术可用于测量小于80nm的台阶高度。薄膜厚度Zeta-300可以利用ZDot或ZFT测量技术对透明薄膜进行厚度测量。ZDot适用于测量大于10μm的透明薄膜，例如在折射率较高的基板上涂覆的光阻或微流体器件层。ZFT则采用集成宽带反射仪适用于测量30nm至100μm的薄膜。 这既适用于单层薄膜也适用于多层薄膜堆叠，用户可以输入薄膜属性或者采用模型针对色谱进行匹配。纹理：粗糙度和波纹度Zeta-300可以对3D纹理进行测量，并对样品的粗糙度和波纹度进行量化。ZDot可测量从几十纳米到非常粗糙表面的粗糙度。ZSI和干涉测量技术可以测量从埃级到微米级的光滑表面。软件过滤功能将测量值分离为粗糙度和波纹度部分，并计算诸如均方根（RMS）粗糙度之类的参数。 Nomarski干涉对比度显微镜可以通过发现斜率的微小变化对非常精细的表面细节进行可视化。外形：翘曲和形状Zeta-300可以测量表面的2D和3D的形状或翘曲。这包括对晶圆翘曲的测量，例如半导体或化合物半导体器件生产中的多层沉积期间由于层与层的不匹配是导致这种翘曲的原因。Zeta-300还可以量化包括透镜在内的结构高度和曲率半径。应力：薄膜应力Zeta-300能够测量在生产过程中，包含多个工艺层的半导体或化合物半导体等器件期间所产生的应力。 使用应力卡盘将样品支撑在中性位置并精确测量样品翘曲。然后通过应用Stoney方程，利用诸如薄膜沉积工艺的形状变化来计算应力。 Zeta-300采用用户定义的间隔，并沿着样品直径采集样品表面的高度，然后将数据汇总并绘制样品形状轮廓，并以此测量2D应力。自动缺陷检查Zeta-300的自动光学检测（AOI）功能可以快速检测样品、区分不同的缺陷类型，并绘制样品的缺陷密度分布。Zeta-300结合了3D测量功能，可以提供2D检测系统无法获得的缺陷信息，从而可以更快找到缺陷根源。缺陷复检Zeta-300的缺陷复查功能采用检测设备的KLARF文件，并将平台移动到缺陷位置。用户可以使用高质量的显微镜对缺陷进行检测或者对其高度、厚度或纹理等形貌进行测量。 这提供了2D缺陷检测系统无法获得的额外的缺陷细节。Zeta-20还可以对缺陷做划线标记，从而更容易在如SEM复检设备等视野有限的设备中找到这些缺陷。LED图案化蓝宝石基板（PSS）Zeta-300光学轮廓仪可以对图案化蓝宝石基板进行量测和检测。该系统结合了ZDot功能、样品透射照明和自定义算法，可快速量化PSS凸块的高度、宽度和间距。Zeta-300还可在图案化前后用于测量光刻胶，让蓝宝石在蚀刻之前能够进行样品返工。PSS基板的自动缺陷检测可以快速识别关键缺陷，例如PSS凸块缺失、凸块桥接、撕裂和污染。半导体和复合半导体封装Zeta-300支持晶圆级芯片级封装（WLCSP）和扇出晶圆级封装（FOWLP）的量测要求。关键的应用技术是该系统能够在干光刻胶薄膜完好无损的情况下对镀铜的高度做出测量。这是透过透明的光刻胶对种子层进行测量，通过测量铜柱的高度、光刻胶的厚度以及铜柱和光刻胶的相对高度差来实现的。其他应用包括再分布线（RDL），凸块下金属化（UBM）高度和纹理、光刻胶开口关键尺寸（CD）、光刻胶厚度和聚酰亚胺厚度的测量。还可以测量金属触点的共面性以确定凸块高度是否满足最 终的器件封装连接要求。印刷电路板（PCB）和柔性PCBZeta-300的动态范围很大，这使得该系统无需改变配置就可以对表面粗糙度和台阶高度进行从纳米级到毫米级的测量。 它可以测量像铜之类的高反射率薄膜以及PCB上常见的透明薄膜。 Zeta-300支持针对盲孔（的高度和宽度）、线迹和热棒，以及表面粗糙度等关键尺寸的测量。激光烧蚀Zeta-300可以测量在激光表面处理后对半导体、LED、微流体器件、PCB等引起的形貌变化。激光已在半导体、LED和生物医学设备等行业中被用于精密尺度微加工和表面处理。对于半导体工业，测量晶圆ID标记的高度和宽度至关重要，这确保其在多个不同的工艺步骤中可以被成功读取。微流体Zeta-300能够测量由硅、玻璃和高分子等材料制成的微流体装置。该系统可以对通道、井和控制结构的高度、宽度、边缘轮廓和纹理进行量化。Zeta-300还可以在透明顶盖板密封后对最 终设备进行测量 – 对折射率的变化进行补偿并且对使用盖板引起的的应力变化进行量化。生物技术Zeta-300非常适用于生物技术应用，可以针对各种样品表面的纳米级到毫米级特征为其提供非接触式测量。Zeta-300可以用于测量生物技术设备中的深井深度之类的高纵横比台阶。此外，利用其高数值孔径物镜和分辨反射率极低样品的能力，该系统还可以测量药物输送的微针阵列结构。产品优势Zeta-300支持3D量测和成像的功能，并提供整合隔离工作台和灵活的配置，可用于处理更大的样品。该系统采用ZDot&trade 技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Zeta-300具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本，适用于研发及生产环境。

定制聚合物光学器件-CNC加工 GS塑料光学在提供由专业聚合物制成的定制 CNC 加工光学元件或窗口方面有着悠久的历史。我们的团队将使用我们的 CNC 加工定制型材以满足您的特定需求。对于某些类型的平面窗口和平视镜，使用低内应力铸造材料并将其加工成适当的边缘几何形状是良好的解决方案。我们的团队为您提供定制 CNC 加工光学器件方面的专业知识，以及金刚石车削和成型镜片、反射镜和窗口。 部分定制光学市场医用光学 腹腔镜和关节镜等医疗器械可以使用聚合物单透镜和双联透镜制造，有时与传统的玻璃元件结合使用以校正光学像差。聚合物光学器件可用于医疗设备的非成像应用。机器视觉 客运或车队、自动化仓储、自动化生产设施、机器人或条形码阅读器都使用“机器视觉”。这可能采用实际的相机成像系统、“飞行时间”系统(如激光雷达)或基于激光雷达的同步定位和测绘(SLAM)或类似技术的形式。防御 夜视设备中的成像系统是国防应用光学元件的一个很好的例子。由于模制光学器件的复杂性，可以设计和制造包含尽可能少光学元件的轻量可穿戴夜视设备。成像 聚合物光学器件的广泛应用广泛，例如数码相机、PC 外围设备、视频会议摄像头和移动成像。生物识别安全系统、烟雾探测器光学系统、自动冲洗阀系统和实验室设备都受益于精密聚合物光学器件。 定制光学器件材料光学塑料材料的选择有几个因素驱动，光学性能只是其中之一。设计人员还应该了解不同光学聚合物的机械性能，以及各种环境条件如何影响系统性能。成本和可制造性问题是其重要因素。塑料光学需要仔细考虑热塑性树脂的所有性能及其与目标应用和系统性能要求的相容性。 下表列出了通常用于光学器件的热塑性塑料： PMMA（丙烯酸） 常用的光学塑料之一。丙烯酸聚合物非常坚硬，具有很好的机械稳定性。丙烯酸也因其在光谱的可见部分具有非常好的清晰度和优异的透射特性而闻名。然而，它的工作温度很低。 聚苯乙烯 通常比丙烯酸便宜这种材料也倾向于吸收深蓝色光谱中的一些物质。聚苯乙烯的抗紫外线能力低于丙烯酸，并且比丙烯酸更容易被刮伤。聚苯乙烯透镜与适当的丙烯酸透镜配合使用，可以提供有效的消色差 解决方案。高污染是模制聚苯乙烯光学元件的潜在问题。聚碳酸酯 以其高的抗冲击性和在广泛温度范围（-137°C 至 124°C）下工作的能力而闻名。由于其高延展性，聚碳酸酯光学元件不容易加工。树脂比丙烯酸更贵。环烯烃聚合物（COP） 一类具有低自然应力双折射特性和相对较高热变形温度的塑料树脂。Zeonex 日本 Zeon 公司开发的一种树脂，吸水率低，不到 0.01%（相比之下，聚碳酸酯为 0.2%，聚甲基丙烯酸甲酯为 0.3%）。 聚酯（OKP） 一种用于光学的特殊聚酯，具有高折射率、低的双折射率和高流动性。它比用于光学成型的其他热塑性塑料要昂贵得多。更多关于材料的机械性能以及光学性能，请下载附件文档查看。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

VT6000系列中图仪器3D光学测量共聚焦显微镜是基于光学共轭共焦原理，结合精密纵向扫描，以在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析的精密光学仪器，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。VT6000系列中图仪器3D光学测量共聚焦显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。功能特点1、测量模式多样单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能 Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。不同应用场景下的3D形貌VT6000系列中图仪器3D光学测量共聚焦显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜以共聚焦技术为原理，具有很强的纵向深度的分辨能力，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。应用领域测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜基于光学共轭共焦原理，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。在材料生产检测领域中，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能； 不同应用场景下的3D形貌VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；影像测量功能界面3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。自设计之初，VT6000便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标 型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

标准与定制聚合物光学器件-注塑成型镜片成型和模制光学器件我们的工程师与您密切合作，了解应用，评估公差，确定需要制定的质量指标，并构建一个能够始终如一地将光学元件交付给印刷的模具。聚合物与玻璃相比的优势注塑聚合体光学与玻璃光学器件相比，具有许多优势，如下所述：低成本的热塑性塑料，如PMMA（丙烯酸）、环烯烃聚合物“COP”（如Zeonex）、聚碳酸酯、聚酯（如OKP-4）和聚苯乙烯。注塑流程提供大规模的经济效益。具有成本效益的能力，可生产复杂形状（非球面和自由曲面光学元件）。直接在光学元件上安装功能。虽然塑料光学无法在每种应用中使用，设计人员都将通过在非常适合其使用的应用中，使用精心设计的塑料光学器件来获得竞争优势。降低材料成本一般来说，用于定制注塑成型的热塑性塑料比玻璃便宜。 热塑性材料的体积非常大，其颗粒形式是直接注入成型机的形式。与玻璃光学器件不同，热塑性塑料在注塑成型的成型光学器件之前，不会预先成型。规模效益这种树脂不仅比玻璃便宜，而且注塑聚合物光学元件所需的循环时间比使用研磨和抛光技术生产光学元件所需的循环时间要短得多。此外，通常可以制造多腔模具，以在每个成型周期中生产多个镜片。 需要大量零件并具有商业公差的项目是多腔模具的良好候选者。复杂形状可以将非球面添加到光学系统中，以校正某些几何像差，例如球面像差。 此外，根据其与系统孔径光阑或瞳孔的距离，非球面表面会影响彗差、球面像差、散光和畸变。 在光学模具嵌件上可以创建复杂的形状，并在注塑过程中以出色的精度多次复制。此外，自由曲面光学器件的使用正变得越来越流行，特别是在AR/VR和HUD应用中。如果可以优化设计以允许使用注塑成型塑料，则可以大大降低生产自由曲面光学器件的成本。当涉及到光学元件的定制注塑成型时，无论表面类型如何，都使用科学的模具加工技术来开发稳健且可重复的成型周期。 当需要测量零件时，差异就出现了，因为球面很容易用干涉仪测量，但非球面表面需要全息零校正器的额外费用。 非球面和自由曲面光学器件通常使用接触式轮廓仪或坐标测量机 （CMM） 进行测量。 由于这些专业仪器，选择具有适当设备的光学成型商至关重要，并且需要计量专业知识。结合光学和机械特性聚合物光学器件可以很容易地将光学表面与机械安装基准相结合。 在这样做的过程中，光学设计人员正在利用制造业定制注塑成型的方法。 通过添加法兰、凸耳或其他结构等安装特征，设计人员可以减少装配中的组件数量并简化装配过程，并减少 BOM 上的零件数量。聚合物与玻璃的缺点光谱透射：大多数聚合物仅适用于可见光或近红外范围恒定使用温度水平：低于玻璃，一般低于120°C高折射率温度依赖性 （dn/dt）：大约是玻璃的 20 倍高热膨胀系数 （dl/dt）：几乎是玻璃的 10 倍折射率范围窄，可用材料的阿贝数更多关于材料的机械性能以及光学性能，请下载附件文档查看。注塑成型的塑料光学透镜库存标准产品目录，请点击数据单下载，选择标准品。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

仪器简介：功能 ◆ 形貌(TTV,BOW,Warp) 应用◆ 汽车工业 ◆ 半导体加工◆ 精密光学 ◆ MEMS ◆ 钢铁工业 ◆ 造纸业◆ 生物学 ◆ 纳米技术◆ 模具加工 ◆ 材料分析技术参数：作为光学表面测量仪器的专业生产厂商，德国FRT公司拥有世界先进的纳米测量技术和专利。 其设备内部可选的不同的功能模块可以高精度非接触量测表面的平坦度、翘曲形变。 FRT与强大的伙伴合作,在表面测量领域处于绝对先锋。主要特点：◆ 非接触式光学量测，被测零件无痕无损坏； ◆ 客户化定制； ◆ 多达25种不同功能的测量传感器，提供灵活的配置选择； ◆ 纳米高精度测量； ◆ 测量速度快； ◆ 可测量大口径和大尺寸零件。

TX-600型张力仪技术指标及主要特点：张力测量范围：表面及界面张力1´ 10-5 &ndash 100mN/m；读数范围：0-6mm（提供2mm及6mm高纯度石英样品管）； 读数测量精度0.001mm； 转速控制范围1000-10000r/min（高速同步电机传动）； 转速控制精度：0.1%； 温度显示范围：0-100° C （内置加热RT+5° C至80° C或外接浴控温）； 温度检测方式：半导体集成温度传感器替代PT100； 仪器观测舱可自动调节水平；双CCD机构，实现自动标定；屏幕快捷图像观测窗口：12个频闪光与常亮光可自动转换； 计算机与单机实时设定工作温度和转速； 列表生成张力变化曲线，图像与数据库实时连接；视频光学系统6.5倍光学变焦，两倍视频软件变焦； 视频检测系统分辩率：768´ 576像素；视频采集速率：30帧/秒； 视频传输速率：150兆/秒； RS-232串口（测试数据）；VIDEO RCA接口（视频采集）； 220V / 50 Hz ± 10%或110V / 60Hz ± 10% 。

中图仪器VT6000超分辨率转盘共聚焦显微镜光学系统以共聚焦技术为原理，结合精密纵向扫描等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，是实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。VT6000超分辨率转盘共聚焦显微镜光学系统应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能； 6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。不同应用场景下的3D形貌主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。3D形貌图片：影像测量功能界面应用案例1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。VT6000超分辨率转盘共聚焦显微镜光学系统可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。3、其他 部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量重复性(1σ)12nm显示分辨率0.5nm宽度测量重复性(1σ)40nm显示分辨率1nmXY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。 如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

多功能 3D 光学共聚焦显微镜（ OPTELICS HYBRID+，三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪 ），高度方向测量精度达0.05nm；系统整合了白光共聚焦+激光共聚焦技术；以双共聚焦光学系统为基础，集6项测试功能于一体，包括白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉测量、垂直白光干涉测量、相差干涉测量、反射分光膜厚测量等功能；通常多台设备才能完成的测量，仅需一台设备即可实现，解决了需要使用多种工具的麻烦，满足在各种测量场景中的测试需求。提供6个测试功能模块，应对多样测量需求满足行业测试规格要求，High精度提供多种测量和分析自动化测量技术，高效测量适用于满足多样场景测试需求 三维光学共聚焦显微镜（三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪） 一个平台提供6种测试功能: 1. 白光共聚焦宽视野+High精度测量高清彩色观察 2. 激光共聚焦高倍High 分辨率观察搭载波长405nm的紫色半导体激光，无需前处理，以可媲美电子显微镜的High分辨率，鲜明捕捉纳米级细微构造。3. 微分干涉测量纳米级凹凸观察共聚焦与微分干涉（DIC）相结合，实现细微凹凸形状的可视化。由于焦点深度极低，对于透明样品可以排除其背面的影响仅对表面进行观察。4. 垂直白光干涉测量数毫米宽广视野内的纳米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉波形，通过垂直方向扫描找到干涉光强度高点，得到样品的高度分布数据。原理上，高度分辨率不受物镜放大倍数影响，因此可使用低倍镜快速完成宽视野范围测量。5. 反射分光膜厚测量纳米级透明膜厚测量利用波长切换功能对6个波长的绝对反射率进行测量，光学建模计算得到膜厚。数nm～1μm的单层/多层膜厚可测量。测量区域在共聚焦观察图像上指定，亚微米区域～全视野的数mm区域的平均膜厚均可测量。而且因各个像素(pixel)的膜厚能够计测，所以可以测量膜厚分布。6. 相差干涉测量埃米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉条纹，与从样品反射回的反射光的光程差直接相关。在垂直方向细微移动得到4组干涉图像，通过解析实现高分辨率的高度分布测量。多种波长切换 测量速度快3D 形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）实现了业界快速帧率(15Hz~120Hz)扫描，实现图像拼接、自动测量、自动缺陷检测和快速测量。High精度测量三维形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）高度方向测量精度达0.05nm。提供各种测量，分析和支持功能，具有可用性LM eye是HYBRID的测量和分析软件，提供多种功能，帮助您顺利操作测量和分析功能可以测量和分析参数，包括轮廓，粗糙度和薄膜厚度 测量支持功能HYBRID提供各种测量、分析自动化操作，效率更高LIBRA LIBRA 是一个软件程序，它使用指定的平台执行自动测量。LM 检测 LM Inspect 是一个软件程序，可以自动检测基材上的小颗粒和缺陷。并且支持使用缺陷审查和深度学习进行高精度缺陷分类。其他型号：

STELLARIS 5 Cryo是一个共聚焦光学显微镜系统，可以帮助您针对感兴趣的区域进行定位以辅助冷冻电子断层扫描(CryoET)。STELLARIS 5 Cryo为您提供可靠的目标定位精准度, 同时还能提供您可以信赖的卓越性能，并提高实验效率。我们的冷冻电子断层扫描工作流程解决方案我们提供专用的Coral Cryo三维冷冻电子断层扫描工作流程解决方案，可确保样本活性、进行质量检查，重要的是确保三维目标定位机制精准可靠。STELLARIS 5 Cryo包含冷冻台和传送梭，旨在配合先进的CryoET目标定位软件(LAS X Coral Cryo)，以及适用于冷冻聚焦离子束(FIB)或真空冷冻传送(VCT)载物台的各种无缝集成和传送选项。通过无缝衔接的样本制备工作流程提高工作效率。使用LIGHTNING可从样本中获得丰富的信息 Power HyD探测器系列、优化的光束路径与 白光激光器 (WLL)相结合，使您能够获得更准确、可靠的数据。运用独特的LIGHTNING检测理念，尽可能地从您的玻璃化冷冻样本中提取信息，获得对科学问题的深入解答。 这是一个自适应的信息提取过程，可以呈现图像信息中原本不可见的精细结构和细节。因此，您可以电镜显微成像工作流程的后续步骤中更精准地定位感兴趣的结构LAS X Coral Cryo：基于插值的三维目标定位，在x和y方向对切片进行多层扫描(z-stack)。这些标记可在所有相关窗口中交互式移动。可靠的靶向精准度对于相关的工作流程，至关重要的是检索冷冻光学显微镜下识别的确切靶点坐标，因为荧光信号在随后的电子显微镜步骤中不可见。因此，具有获取开放格式坐标的STELLARIS 5 Cryo显微镜中进行目标定位，以提高系统的互操作性。易于使用的LAS X Coral Cryo软件模块可满足这些需求，它具有基于插值的创新性三维目标定位功能，能够在纳米尺度上精准定位开放格式的坐标标记。不同的标记类型提供不同的功能，还可用于标志、薄片和荧光珠标记。HeLa细胞显示Hoechst（蓝色，细胞核），Mitotracker Green（绿色，线粒体）、Bodipy（红色，脂滴）、荧光珠（品红色，1微米），反射（白色）。比例尺10微米：细胞由德国海德堡欧洲分子生物学实验室Mahamid团队的Ievgeniia Zagoriy提供您可以信赖的性能在冷冻电子显微镜中，必须在整个工作流程中监测冰层厚度，而且越早检查和评估越好。如果冰层太厚，会在打磨阶段造成问题，而如果冰层太薄，又可能会影响样本的稳定性。STELLARIS 5 Cryo提供了两种冰层检查模式：快速摄像概览和共聚焦反射模式，以三维方式确定冰层厚度。 开发Cryo CLEM物镜HC PL APO 50x/0.90是为了满足冷冻光学显微成像的特定需要，为您提供超分辨率的优势，同时又不需要浸液。用TauSense成像工具检查矽藻。光谱带500-640纳米的光谱强度图像。TauContrast - 显示光子平均到达时间的查询表；蓝色表示到达时间较短，黄色（趋于红色）表示到达时间较长。呈现不同的结构。TauSeparation - 两个寿命组分被分离，组分1刻出叶绿体的自发荧光，平均到达时间0.1ns；组分2显示干净的LifeAct-GFP信号，平均到达时间2.7ns。样本由德国德累斯顿工业大学B CUBE分子生物工程中心的Nicole Poulsen提供。发现更多奥秘的潜力我们在STELLARIS 5 Cryo内采用独有的TauSense技术，使您能够从每个样本中提取额外的一层信息，提升您所做研究工作的科学影响力。除了光谱颜色信息外，还可以观察光子的平均到达时间。这些信息可以用来发现隐藏的组分，只需了解不同的荧光寿命即可(TauContrast)。由于冷冻工作流程（如Coral Cryo）中的深部温度，荧光团的发射和激发窗口趋于一致。由于平均光子到达时间不同，TauSense使您可以将重叠的荧光团分离。共聚焦光学显微镜STELLARIS 5 Cryo提高实验效率在所有冷冻工作流程中，一旦样本被玻璃化，就需要将样本保持在完全除湿和极低温条件下。我们创新性的冷冻显微成像套件配备冷冻台和传送梭，可以确保安全、直观地进行样本装载和直接传送，同时始终保持标本的安全冷冻条件。冷冻台使您能够在稳定的冷冻条件下进行光学显微成像，同时通过保持气态氮对周围空气的恒定轻度过压，允许所有必要的运动以实现超分辨率的三维成像。为了使样本在装载过程中更加安全，可选择在装载过程中使用一个承载传送梭的盖盒，以确保在所有条件下安全装载，从而提供额外的过程控制并延长安全装载时间窗。

TX-500C型旋转滴表/界面张力仪已销售多年，成为石油石化行业中三次采油领域测量表面及界面张力的首选和必备仪器，得到了用户的好评。该仪器可广泛地应用于表面活性济、感光材料、涂料、油料、洗涤剂、乳状液、农药等有关的界面科学领域。张力仪，采用计算机控制系统控制测量。仪器的转速和温度可便捷设定（可在主机上或计算机上设定），视频光学系统可由计算机控制左右移动追踪液滴采集图像，屏幕有12个快捷图像观测窗口，极大地提高了测量的准确性，基本消除了人为读值的误差，大大降低了操作人员的工作强度。TX-500C型张力仪技术指标及主要特点：l 张力测量范围：表面及界面张力1×10-6—100mN/m；l 读数范围：0-6mm（提供2mm及6mm高纯度石英样品管）l 读数测量精度：0.001mm；l 转速控制范围：1000-10000r/min（高速同步电机转动）；l 转速控制精度：≤0.1%；l 温度显示范围：0-100℃（内置加热RT+5℃至80℃或外接浴控温）；l 温度精度：±0.1℃；l 屏幕快捷图像观测窗口：12个l 频闪光与常亮光可自动转换；l 计算机与单机实时设定工作温度和转速；l 列表生成张力变化曲线，图像与数据库实时连接显示，可定时拍照；l 视频光学系统6.5倍光学变焦，两倍视频软件变焦；l 4倍压缩检测功能l 视频检测系统分辩率：768×576像素；l 视频采集速率：30帧/秒；l 视频传输速率：150兆/秒；l 图像采集方式：图像采集卡；l RS-232串口/COM接口/USB（测量数据）；VIDEO RCA接口（视频采集）；l 220V/50Hz±10%或110V/60Hz±10%。

激光聚焦物镜 通常，工业激光的应用需要比最佳形式单线透镜和标准显微镜物镜更高程度的像差校正。在更大的光圈、多个波长或更宽的视场上进行校正，都可能需要使用激光聚焦物镜。我们具有各种各样的标准设计以及定制选项，以满足许多苛刻的应用。 特点：◆达到衍射极限的性能◆空气间隔高伤害阈值◆消色差和消色差设计◆理想的紫外准分子和高功率YAG激光器◆透过率大于97% 应用：◆激光微加工◆激光划片◆激光光切除◆光学/激光显微光刻法 光学部件40多年来，Special Optics制造了精密的机械支架和定位器，旨在提供激光束扩展器和聚焦目标的精确定位。我们选择的精密机械是对特种光学系列高性能激光束扩展器的极大补充。这些螺纹适配器与50-25和50-51系列光束扩展器兼容，可用于将光束扩展器直接安装到激光器或其他螺纹光学元件上。v型块安装是稳定的不可调节的安装，用于50和52系列扩展器。直径在25 - 45mm之间建议使用型号60-16-25，直径在46 - 80mm之间建议使用型号60-16-26。波片偏振特性：◆空气间隔设计◆损伤阈值(500mw /cm2)◆最小插入损耗 零波片或多波片是由两个取向的石英晶体片构成的，因此光轴是正交的。所有特殊光学零阶波片都是空气间隔设计，由两块水晶石英组成。我们的大规模生产使我们能够匹配波片的一半，因此可以在248-1600nm范围内组装任何波长的延迟板。消色差波片类似于零阶波片，但不是用晶体石英片设计的，而是由一块晶体石英和一块氟化镁(MgF2)组成。由于不同的波长依赖值由于波长变化而发生的位移将获得补偿。因为水晶石英和MgF2都有正双折射，消色差波片对对准很敏感，建议只用于准直光束。消色差波片采用空气间隔设计，比零波片或多个波片提供更宽的带宽，比聚合物波片提供更高的损伤阈值。 规格：◆AR涂层:每表面反射率 0.05%◆材料:石英◆并行度: 1 Arc Second◆延迟公差:+/- 0.005 Waves◆波前畸变:1/8 Wave 可定制的显微镜物镜Special Optics是高分辨显微镜物镜的领先设计和制造商。这些精密光学用于生命科学，量子物理，超冷原子和物理研究领域以及工业应用。除了预先设计的镜头外，还接受定制设计的镜头。 我们专注于设计和制造定制的显微镜物镜能很好的服务于科学研究以及工业制造，他们复杂的应用的需求对于市面上现成的显微镜来说是达不到的。我们的设计0.3mm至55mm的工作距离，覆盖从可见光(390-750nm)到近红外(700-1400nm)的波长，并且可以适应高湿度，油和真空环境，外壳为不锈钢，聚醚酰亚胺和钛。 所有的镜头设计都可以根据您的应用进行定制。◆特殊镜片的例子:◆高透射率(~ 350nm)用于激光显微解剖◆特殊物镜膜片钳应用于重要的脑切片，允许使用惰性浸入物镜测量单个离子通道◆红外优化多光子物镜成像深层神经元组织切片◆水、甘油、油和多次浸泡物镜，对样品介质具有正确的折射率，对较厚的样品具有无像差成像

中图仪器VT6000高分辨率显微镜共聚焦光学测量系统以转盘共聚焦光学系统为基础，基于光学共轭共焦原理，结合高稳定性结构设计和3D重建算法，共同组成高精度测量系统。能在样品表面进行快速点扫描并逐层获取不同高度处清晰焦点并重建出3D真彩图像，从而进行分析。一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；功能特点1、测量模式多样VT6000高分辨率显微镜共聚焦光学测量系统单区域、多区域、拼接、自动测量等多种测量模式可选择，适应多种现场应用环境；2、双重防撞保护功能Z轴上装有防撞机械电子传感器、软件ZSTOP防撞保护功能，双重保护；3、分析功能丰富3D：表面粗糙度、平整度、孔洞体积、几何曲面、纹理方向、PSD等分析；2D：剖面粗糙度、几何轮廓测量、频率、孔洞体积、Abbott参数等分析。VT6000高分辨率显微镜共聚焦光学测量系统在材料生产检测领域中，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程； 4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。双重防撞保护措施除软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，保护仪器，降低人为操作风险。部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

仪器简介：TX500系列旋转滴表（界）面张力仪已在中国销售了400多台，成为石化行业三次采油领域测量表面及界面张力的首选和主力机型；并广泛的应用于感光材料、涂料、油料、洗涤剂、乳状液、农药等有关的界面科学领域。技术参数：TX-500C主要特点及技术指标： 1.张力测量范围：表面及界面张力1×10-6 –100mN/m； 2.读数范围：0-6mm（提供2mm及6mm高纯度石英样品管）； 3.读数测量精度0.001mm； 4.转速控制范围1000-10000r/min（高速同步电机传动）； 5.转速控制精度：0.1%； 6.温度显示范围：0-100℃（内置加热RT+5℃至80℃或外接浴控温0-100℃）； 7.温度显示精度：±0.1℃； 8.可截取图像计算界面张力，屏幕快捷窗口显示12张最近拍摄图片，列表生成张力变化曲线\实时与数据库连接；9.频闪光与常亮光可自动转换； 10.计算机与单机实时设定工作温度和转速； 11.列表生成张力变化曲线；12.视频光学系统6.5倍光学变焦，两倍视频软件变焦； 13.视频检测系统分辩率：768×576像素；14.视频采集速率：30帧/秒； 15.视频传输速率：150兆/秒； 16.一个软件可控制多台主机17.RS-232串口（测试数据）；VIDEO RCA接口（视频采集）；18.220V/50Hz±10% 或 110V/60Hz±10%。主要特点：TX-500C型张力测量系统，中央控制系统可控制8-16个测量观察窗，观察窗的转速和温度可控制，视频光学系统由计算机控制左右移动追踪液滴采集图像，并可定时存储液滴图像并计算界面张力值、绘制时间与界面张力的曲线，极大地提高了测量准确性和不同观察窗口间的一致性，可完全消除人为的读值误差，大大降低科研人员的工作强度。 TX-500C型张力测量系统可以对大量的样品同时进行测量，快速获得测量数据，是单台机型测量方式不能比拟的。

Sartorius赛多利斯微量天平CPA 这三种微量天平型号是新赛多利斯CP系列机电一体化的亮点。型号 CPA26P：具有从量程5g，可读性2µ g到最大量程21g的可调量程，是称量USP-规定的5 到 10 mg最小允许样品量的理想微量天平。大圆盘秤盘（直径：50mm)可便利的放置样品。型号 CPA2P：这是称量最小样品量的入门级天平，并且具有无与伦比的性价比。CPA2P-F双量程天平是为称量直径小于120mm的滤膜而特别设计的。特殊的防风罩设计确保在称量最小样品量时也符合人体工程学程序，并且玻璃防风门允许环境的亮光照亮秤盘。不锈钢工作区域区域和高质量的金属表面使清洁微量天平更加容易。 Monolithic称重传感器；在同类性能级别中很独特内置电机驱动校准砝码确保只需按一下键即可获得最高的精确性isoCAL校准/调整功能；使规则容易执行，全自动校准和调整来确保天平始终保持高精确性高质量的防风罩开启和关闭顺畅具有突出的可读性和大的显示数字（16mm)的高对比度显示

多标距测量光学引伸计纵向标距范围10-150mm，基于200mm FOV横向标距范围1.5-120mm，基于140mm FOV*● 非接触式的数字化设计，支持自动化的标距标记。● 分辨率为0.5 µ m (1.9685039e-5 inch), 满足 ISO 9513 0.5级，ASTM E83 B1级。● 根据材料不同，有多种标记选择：点、环、线、斑，包括材料边缘跟踪和表面跟踪。● 可提供模拟和或串行数字格式的输出数据。

一、简介SCI-500C旋转滴超低界面张力仪为北京环球恒达科技有限公司专业界面张力仪，是基于创新性的可拔插式样品管、整体铝合金块加热系统等技术的经典型旋转滴超低界面张力仪，具有主机独立运行以及软件双重控制功能，操作方便，可分析低至10-6mN/m界面张力值，分析动态界面张力值以及振荡滴、粘弹系数、界面流变、膨胀性质等，可广泛应用于日化用品、油田三采、微乳、表面活性剂等行业。二、货物组件1、仪器主机1台； 2、工业级CCD摄像系统 1套； 3、RS-232串口线2根/USB数据线1根、电源线1根； 4、注射器用针头长10cm 5支、内径2mm、4mm一端开口样品管各5支、离心管密封用堵头 5个、主机旋转轴压帽2个、仪器校验标样管1支；5、品牌台式电脑：CPU i5，21寸液晶显示器，内存4G，硬盘500G，预装win XP或win7系统（必须与此设备配套），激光打印机，配备电脑桌椅。配备电脑桌椅。三、技术参数1. 张力测量范围：表面及界面张力1×10-6–100mN/m；2. 读数范围：0-6mm（提供2mm及6mm高纯度石英样品管）；3. 读数测量精度0.001mm；4. 转速控制范围1000-10000r/min（高速同步电机传动）；5. 转速控制精度：0.1%；6. 温度显示范围：0-100℃（内置加热RT+5℃至90℃或外接浴控温0-100℃）；7. 温度显示精度：±0.1℃；8. 可截取图像计算界面张力，屏幕快捷窗口显示12张最近拍摄图片，列表生成张力变化曲线\实时与数据库连接；9. 频闪光与常亮光可自动转换；10. 计算机与单机实时设定工作温度和转速；11. 列表生成张力变化曲线；12. 视频光学系统6.5倍光学变焦，两倍视频软件变焦；13. 视频检测系统分辩率：768×576像素；14. 视频采集速率：60帧/秒；15. 视频传输速率：300兆/秒；16. 一个软件可控制多台主机17. RS-232串口（测试数据）；USB 3.0接口（视频采集）；18. 220V/50Hz±10% 或 110V/60Hz±10%

【温馨提示】因不同产品的储存特性，产品介绍参数及价格仅供参考，详情可咨询客服旺旺！供应厂家深圳市鸿奕设备有限公司，专业供应：文物字画恒温恒湿柜，电子芯片恒温恒湿柜，照片档案恒温恒湿柜，博物馆恒温恒湿展柜。【产品介绍】恒温恒湿储存柜是目前国内功能性储存设备的一款产品。恒温恒湿储存顾名思义，可恒温恒湿的一种储存柜，即恒温恒湿可理解为可加温可制冷，可加湿可抽湿。温湿度环境储存设备，无非加温储存设备，制冷储存设q备，加湿储存设备，抽湿储存设备，这四类功能性储存设备就目前行业里有的设备是氮气柜，电子干燥箱，冰箱，恒温储存柜，恒湿储存柜，根据储存不同类型产品，当然有很多不同的名称，但按照功能算，就以上五种，而且是单功能性储存柜。有过了解温度湿度的朋友应该都知道，温度湿度是相互作用影响的，尤其是温度对湿度的作用。在炎热的夏天中午，气温约35℃，人们并不感到潮湿，因此时离水汽饱和气压还很远，物体中的水分还能够继续蒸发。而在较冷的秋天，大约15℃左右，人们却会感到潮湿，因这时的水汽压已经达到过饱和，水分不但不能蒸发，而且还要凝结成水。空气中实际所含水蒸汽密度和同温度下饱和水蒸汽密度的百分比值，叫做空气的“相对湿度”。而在温度和湿度同时作用工作的情况下，如何的协调，如果的控制是，如果克服外界环境温湿度值，克服储存产品储存特性等都是恒温恒湿储存柜的技术难题。从功能性来说，冰箱是最简易的恒温恒湿储存柜，自带的恒温、储存功能，加温制冷造成的湿度波动也就是恒湿，当然这种单靠控温来达到控湿的办法温湿度的湿度波动控制范围就不受控。深圳鸿奕生产的恒温恒湿储存柜，温度湿度不仅是调控范围，控制范围，温湿度波动范围，制冷抽湿技术都据全国领先水平。【产品展示】图片仅供参考，请以实物为准 【产品技术参数】型 号：HY-500HWS 尺 寸：外尺寸(W*D*H)：1020*590*1960 mm 内尺寸(W*D*H)：920*480*1195 mm 电 压：AC220V±10% 50Hz 峰值功率：1550W 均 值：200W箱体工作环境温度范围：0℃—35℃ 箱体工作环境湿度范围：0—80%RH 柜体综合控湿度可调：30%—80%RH 柜体综合控温度可调：15℃—30℃湿度控制范围：±2%温度控制范围：±1℃湿度波动范围：±8% 温度波动范围：±2℃温度测量精度误差：±0.5℃湿度测量精度误差：±4.5%材 质：家电板材料门式样：双门采用5mm大面积双层钢化玻璃层 板：3块可调搁板，合理分配柜体内空间（注：底层隔板离地板高度60mm，不宜直接在箱体底层放置物品)脚 轮：四组脚轮干燥剂：双系统，可以再生使用次数大于10万次。【柜体结构】1．柜体外壳与内胆之间用聚氨脂高压发泡填充一次成型、具有耐温、绝热、阻燃；柜门框架采用永磁密封橡胶带；2．显示控制模块：进口瑞士原装数字式传感器sht10采集数据，温度控制测量精确，抗干扰能力强；3．蓝屏白字LCD液晶显示，MPU智能程序控制。电脑储存记忆、暂停后不会丢失设置参确保再启动后设备自动回复正常运行，控制面板上的功能键可随意设定温度参数； 【温度控制方式】1．除湿系统：鸿奕（干燥剂除湿）除湿-再生四系统交替执行干燥气体内外循环方式保证箱内的干燥度恒定；除湿系统是恒温恒湿存储柜的核心系统，它采用鸿奕技术-拥有一项国家发明技术和多项结构新型技术；内含除湿一系统，除湿二系统，再生一系统，再生系统；各系统在微电脑控制系统统一指挥下，协调而又不间断的将干燥空气注入到箱体内，从而保证箱体的内环境被控制在客户设定的要求内。2．加湿系统：品牌超声波加湿器。【主要配件】1．降温系统：冷 煤：R134A环保型压缩机：全胜压缩机电控系统：鸿奕-电脑智能单片微机控制冷凌器，蒸发器：铜管； 品牌——技术2．升温系统：加 温：PTC恒温半导体探 头：瑞士进口原装电子探头SHT10，年漂移量小于3‰3．除湿系统：鸿奕（干燥剂除湿）除湿—再生四系统交替执行干燥气体内外循环方式保证箱内的干燥度恒定。【性能特点】该设备具有极强的控温、控湿能力，相对湿度可以在30%RH到60%RH范围内任意设定，覆盖了几乎所有精密配件、各种光电仪表、仪器和光学仪器、光电器件、微电脑芯片等所需要特定环境温湿度的产品；在精确控温控湿的效果方面，是目前国内首屈一指应用面最为广泛的一款产品。除此以外，控温控湿柜还有许多独特的性能特点：1．高温发热件隔离式安装，不会对周围物品或工作人员产生伤害；2．采用微电脑控制自动识别箱内环境湿度，智能跟踪所设定的湿度值，精度达到仪器级标准；3．采用蓝屏白字的LCD显示屏，视觉美观高档，显示清晰易读；4．控制柜内各系统的工作状态，在显示屏上一览无余，非常便于对系统的维护保养；5．各系统还设置手动操作状态，便于客户灵活处理控湿方式；6．各系统模块式安装设计，便于根据客户的特殊要求灵活改变设计，达到客户各种特别的性能参数值，同时也方便维护和保养；7．对水分子有极大的亲和力特点：除湿剂材料采用化学稳定性强，有较高的吸附能力和足够的机械强度，具有较高的热稳定性，它能反复加热再生，再生次数达到10万次以上；8．该设备隔热、隔磁、防尘、平衡状态功率小、和长寿命等功能，并具有环保、节能、无污染等；9．安全可靠、耗电低：该设备内设有漏电保护及强电短路保护，使用安全可靠；除湿、加湿、降温、加温等各功能直观显示，一旦通电达到设定要求的湿度、温度，整个系统便进入微功耗维持区；10．适用性强：该设备可使用空间大，可根据所储存的物品的温湿度要求来调整设置值；柜体内的层板可以根据存储物的大小来适当调整。该设备有较强的通用性和实用性，控制自动方便。 厂方公司名称：深圳市鸿奕设备有限公司厂方销售经理： 陈经理厂方企鹅： （鸿奕设备）厂方公司地址：深圳市宝安区西乡黄麻布金岗山第二工业区12栋

单标距测量光学引伸计纵向10-150mm标距范围，基于200mm FOV非接触式的数字化设计，支持自动化的标距标记分辨率为0.5μm（1.9685039e-5英寸），满足ISO 9513 0.2级和ASTM E83 B1级根据材料不同，有多种标记选择：点、环、线、斑，包括材料边缘跟踪和表面跟踪可提供模拟和或串行数字格式的输出数据外形美观尺寸小 20cm*7cm*25cm

sCMOS相机，210万像素，密封冷却型无风扇，半导体制冷外壳尺寸：4.29英寸x4.13英寸x4.12英寸(109.0 mm x 104.8 mm x 104.8 mm)兼容60 mm笼式系统出厂时已安装标准C-Mount(1.000"-32)螺纹转接件附带USB 3.0电缆和AC-DC电源CC215MU密封冷却型Quantalux相机的大型外部散热器内具有半导体制冷室，可主动冷却传感器并减少暗散粒噪声。本相机推荐用于需要曝光时间大于500 ms的弱光应用。对于需要曝光时间小于500 ms的亮光应用，一般被动冷却CS2100M-USB相机就足够了。本相机具有一个黑白2/3英寸制式的sCMOS传感器，传感器的大致位置与相机外壳的四个侧面上的前侧1/4"-20安装孔对齐。相机前端的可拆卸C-mount转接件可夹持一个透明保护窗口片，保护窗口片镀有用于400-700 nm范围的增透膜，窗口片可用最厚为0.079英寸(2.0 mm)的Ø 1英寸(Ø 25 mm)光学元件代替。请注意，拆卸透明窗口片时，灰尘和碎屑可能会积聚在密封室的玻璃盖上。清洁盖子时必须小心，以免刮伤或损坏玻璃。C-Mount(1.000"-32)转接件已在厂装好，具有固定的法兰焦距，可即时兼容多种显微镜、机器视觉相机镜头和C-mount延长管。相机可以通过外壳正面的四个4-40安装孔安装至我们的60 mm笼式系统，相机侧面的1/4"-20螺孔可用于安装我们的英制Ø 1英寸底座式或柱式接杆。灵活的安装选项使这款相机兼容商用显微镜并可集成到自搭建的成像系统。sCMOS相机，210万像素，密封冷却型 CC215MU

Edmund矩形高精度非球面透镜#4178 正方形和长方形的尺寸从 5 x 5mm 起非球面形状误差 RMS 为 0.25μm是集成到对空间敏感的激光系统的理想选择Edmund矩形高精度非球面透镜#4178是TECHSPEC 高精度非球面透镜的裁切版本. 这些非球面透镜经过CNC抛光，达到 0.25μm RMS非球面面形误差，然后再切成方形或矩形尺寸。这些透镜的精密非球面面形误差使它们在需要球面像差校正的高要求成像或激光系统中更具优势。TECHSPEC 矩形高精度非球面透镜具有节省空间的外形，是集成到医疗设备、生命科学仪器和工业激光系统的理想选择。如果您的应用需要将TECHSPEC 非球面透镜 进行裁切以满足特定的尺寸要求，请联系我们。Edmund矩形高精度非球面透镜#4178 矩形高精度非球面透镜#4178 光学仪器

sCMOS相机，210万像素，被动冷却型无风扇，被动热管理紧凑外壳：2.77英寸 x 2.38英寸 x 1.88英寸(70.4 mm x 60.3 mm x 47.6 mm)兼容30 mm笼式系统SM1螺纹(1.035"-40)孔径，能够兼容标准C-Mount(1.000"-32)的转接件附带USB 3.0电缆CS2100M-USB Quantalux相机采用紧凑型设计，可为传感器提供被动热管理，无需冷却风扇或半导体制冷片即可减少暗电流。对于要求曝光时间短(小于500 ms)的亮光应用，一般的被动冷却CS2100M-USB相机就足够了。对于需要曝光时间大于500 ms的弱光应用，我们强烈建议使用TE冷却CC215MU相机。2/3英寸制式、黑白sCMOS传感器的位置由相机机身顶部的刻线指示。随附的透明窗口片(镀有400-700 nm增透膜)可以取下并用另一个Ø 1英寸(Ø 25 mm)光学元件代替。使用C-mount转接件时，最大光学厚度为0.050英寸(1.270 mm)；否则，最大光学厚度为0.173英寸(4.4 mm)。请注意，拆卸透明窗口片时，灰尘和碎屑可能会积聚在传感器面板上。清洁此面板时必须小心，以免损坏传感器。C-Mount(1.000"-32)转接件已在厂装好，具有可调节法兰焦距±1.5 mm，开箱即用，可兼容多种显微镜、机器视觉相机镜头和C-mount延长管。我们还提供更换用的C-Mount转接件SM1A10A，下方有售。拆卸此转接件会露出SM1(1.035"-40)螺纹，用于安装Ø 1英寸透镜套筒或SM1螺纹转接件。外壳前端的四个4-40的螺孔用于连接我们的30 mm笼式系统。外壳相对面的两个1/4"-20螺孔兼容英制Ø 1/2英寸接杆和多种标准三脚架。灵活的安装选项和紧凑的外型尺寸使这款相机非常适合集成到自搭建的成像系统以及基于商用显微镜的成像系统中。应用荧光显微可见光/近红外成像量子点自发荧光材料检验多光谱成像Thorlabs sCMOS相机，CS2100M-USB

FRT光学表面量测仪器 The MicroProf- Series适用于三维表面计量、研究系统和生产；涉及非接触式无损测量、粗糙度、轮廓、形貌和薄膜厚度等测试方式。 适用于硅片Si、化合物(GaAs, InP, SiC, GaN)样片的整体厚度检测及TTV/BOW/Warp翘曲等几何参数检测，该设备可以兼容透明片和不透明片。FRT Microprof系列设备是针对半导体行业的样片厚度及TTV/BOW/Warp翘曲检测的设备方案。该设备利用白光的光源，上下双探头的设计，测试时样片放置在上下两个探头的中间位置，一次测试可以快速的提供样片厚度及几何参数相关的所有信息：厚度，TTV,Bow,Warp,TIR,LTV等。同时该设备可以搭载红外IR的探头，该探头可以穿透Si/GaAs等材料，监控背面减薄制程前后Si片或者GaAs片的厚度。FRT Microprof系列设备以其精准的测量能力，非接触的测量方式，快速的测试速度，上下双探头符合SEMI标准的测试方式，使得该设备在半导体，MEMS，在化合物外延领域拥有很高的市场占有率。 传感器技术创造了最大的灵活性： 在现代3D表面计量中，FRT的MicroProf被确立为标准测量工具。它可用于快速、高效和直观地执行各种测量任务。MicroProf已在半导体、微电子、医疗和汽车行业使用多年。地形、台阶高度、粗糙度、层厚和其他参数可以非接触式、非破坏性地测量。随着FRT开发的多传感器技术，不同的光学测量方法可以组合在一个工具中。根据要求，MicroProf能够快速测量整个样品的概览以及高分辨率的细节测量——这是通过点、线、表面和层厚传感器以及扫描力显微镜的组合实现的。测量范围可以从米到亚纳米不等。使用FRT软件，测量任务可以手动或全自动单独配置和实施。MicroProf是一种高精度测量工具，可以灵活改装，也节省了空间。 从上下两面扫描样品，使用TTV选项，可以进行双面样品测试。在相同的测量过程中可以测量样品的上侧和下侧，也可以确定样品厚度。可以输出总厚度变化（TTV）和其他表面参数，如粗糙度、弯曲、翘曲，两个表面的平整度或两侧的平行度。TTV选项可以轻松改装。 MicroProf100FRT MicroProf100是通用表面计量工具，可快速轻松地确定形貌、薄膜厚度和样品厚度。作为紧凑型台式设备，MicroProf 100是MicroProf多传感器家族中最小的成员，它提供了其较大兄弟的全部灵活性。它基于我们经过验证的SurfaceSens技术，将不同的光学测量方法（否则只能在单独的解决方案中找到）合并到一个通用且节省空间的设备中。此外，FRT MicroProf 100可以配备TTV选项，用于双面样品检查。这允许您同时测量样品的顶部和底部，并在相同的测量过程中确定样品厚度。由于其模块化设计，该计量工具可以根据您的特定应用进行定制。除了可以添加的各种传感器外，软件还可以单独配置，测量任务可以手动或自动执行。

光学模具代加工厂家东莞市晶欧光学科技有限公司主营光学模仁精车代加工，是代加工非球面光学模仁粗车、代加工TV入子精车外观。主营：手机模仁粗车代加工、车载模仁粗车代加工、安防模仁粗车代加工、TV,VR,精车代加工，粗车代加工、高效的出货率，完善的品质管控、可加工材料：镍，铜，铝，金，银。现位居与东莞厚街、客户遍布全国，产品更是出于日、韩、等地区，更是对出口产品的品质观念更上了一个台阶。公司有着超高精度单点金刚石车床，加工设备有：海普超精，ULC-100、UPX-200。可加工粗车、外径、精车外观，加工精度可达0.2um以内，面粗糙度3nm以内。基于对光学行业市场竞争态势的深刻理解和把握，东莞市晶欧光学科技有限公司把握客户需求趋向，帮助光学行业各个龙头企业完成产品量产，以在产品工艺加工、生产领域的技术为企业竞争力，围绕品牌打造全过程，优化资源配置，形成修模试模解决方案，建立起自己在光学行业代加工领域的竞争优势。帮助企业解决机台不足的困难！苹果、华为、三星、、等关联客户有效解决产能问题。欢迎各界朋友莅临参观、指导和业务洽谈。

产品介绍标准型光学仪器架是常用的平台配套产品，用来放置各种仪器设备以节省空间，并且不影响平台抗震性；配置双排五孔插座及照明光源，满足实验需要；配置漏电保护模块，安全系数高；底部带底轮及地脚，可移动可固定。谱量光电自主硏发的标准型光学仪器架优于市场上常规仪器架，产品结构合理，稳定性高，可根据用户需求尺寸等。技术优势标准型光学仪器架配有漏电保护模块 充分利用光学平台上方空间，独立放置，不影响平台隔振性能配置双排五孔插座及照明电源，使用方便底部带底轮地脚，可移动可固定示意图选型表标准型光学仪器架_Sheet1.jpg" alt="标准型光学仪器架_Sheet1.jpg" style="max-width:800px max-height:300% width:533px height:714px " width="533" height="714"各种需求均可定制。产品应用可以独立放置，可以充分利用光学平台上方空间，放置示波器、各种控制器，实验装置等；搭配暗室遮光罩，可为光学平台提供暗室遮光功能。交付案例

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国THORLABS CMOS小型科研级相机（890万像素，密封冷却型）Kiralux产品型号：CC895MU产品介绍 CC895MU密封冷却型Kiralux相机的大型外部散热器内具有半导体制冷室，可主动冷却传感器并减少暗散粒噪声。与被动冷却的CS895MU相机相比，这样可优化暗电流性能10倍，并且可在更长曝光时间下提高性能。我们建议将此相机用于需要曝光时间大于500 ms的弱光应用。对于需要曝光时间小于500 ms的亮光应用，一般被动冷却CS895MU相机就足够了。本相机具有一个黑白2/3英寸制式的CMOS传感器，传感器的大致位置与相机外壳的四个侧面上的前侧1/4"-20安装孔对齐。相机前端的可拆卸C-mount转接件可夹持一个透明保护窗口片，保护窗口片镀有用于400-700 nm范围的增透膜，窗口片可用厚为0.079英寸(2.0 mm)的Ø 1英寸(Ø 25 mm)光学元件代替。请注意，拆卸透明窗口片时，灰尘和碎屑可能会积聚在密封室的玻璃盖上。清洁盖子时须小心，以免刮伤或损坏玻璃。 C-Mount(1.000"-32)转接件已在厂装好，具有固定的法兰焦距，可即时兼容多种显微镜、机器视觉相机镜头和C-mount延长管。相机可以通过外壳正面的四个4-40安装孔安装至我们的60 mm笼式系统，相机侧面的1/4"-20螺孔可用于安装我们的英制Ø 1英寸底座式或柱式接杆。灵活的安装选项使这款相机兼容商用显微镜并可集成到自搭建的成像系统。 性能特点 l 帧率：max.20.8 fps (全传感器)l 读出噪声： 2.5 e- RMSl 无风扇，半导体制冷l 出厂时已安装兼容标准C-Mount(1.000"-32)螺纹的转接件天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

【温馨提示】因不同产品的储存特性，产品介绍参数及价格仅供参考，详情可咨询客服旺旺！供应厂家深圳市鸿奕设备有限公司，专业供应：文物字画恒温恒湿柜，电子芯片恒温恒湿柜，照片档案恒温恒湿柜，博物馆恒温恒湿展柜。【产品介绍】恒温恒湿储存柜是目前国内功能性储存设备的一款产品。恒温恒湿储存顾名思义，可恒温恒湿的一种储存柜，即恒温恒湿可理解为可加温可制冷，可加湿可抽湿。温湿度环境储存设备，无非加温储存设备，制冷储存设备，加湿储存设备，抽湿储存设备，这四类功能性储存设备就目前行业里有的设备是氮气柜，电子干燥箱，冰箱，恒温储存柜，恒湿储存柜，根据储存不同类型产品，当然有很多不同的名称，但按照功能算，就以上五种，而且是单功能性储存柜。有过了解温度湿度的朋友应该都知道，温度湿度是相互作用影响的，尤其是温度对湿度的作用。在炎热的夏天中午，气温约35℃，人们并不感到潮湿，因此时离水汽饱和气压还很远，物体中的水分还能够继续蒸发。而在较冷的秋天，大约15℃左右，人们却会感到潮湿，因这时的水汽压已经达到过饱和，水分不但不能蒸发，而且还要凝结成水。空气中实际所含水蒸汽密度和同温度下饱和水蒸汽密度的百分比值，叫做空气的“相对湿度”。而在温度和湿度同时作用工作的情况下，如何的协调，如果的控制是，如果克服外界环境温湿度值，克服储存产品储存特性等都是恒温恒湿储存柜的技术难题。从功能性来说，冰箱是最简易的恒温恒湿储存柜，自带的恒温、储存功能，加温制冷造成的湿度波动也就是恒湿，当然这种单靠控温来达到控湿的办法温湿度的湿度波动控制范围就不受控。深圳鸿奕生产的恒温恒湿储存柜，温度湿度不仅是调控范围，控制范围，温湿度波动范围，制冷抽湿技术都据全国领先水平。【产品展示】图片仅供参考，请以实物为准 【产品技术参数】HY-240HWS恒温恒湿柜：型 号：HY-240HWS 尺 寸：外尺寸(W*D*H)：830*605*1550 mm 内尺寸(W*D*H)：710*500*750 mm 电 压：AC220V±10% 50Hz 峰值功率：1500W 均 值：200W箱体工作环境温度范围：0℃—35℃ 箱体工作环境湿度范围：0—80%RH 柜体综合控湿度可调：30%—80%RH 柜体综合控温度可调：15℃—30℃湿度控制范围：±2%温度控制范围：±1℃湿度波动范围：±8% 温度波动范围：±2℃温度测量精度误差：±0.5℃湿度测量精度误差：±4.5%材 质：整体外形不锈钢板材料门式样：双门采用5mm大面积双层钢化玻璃层 板：2块可调搁板，合理分配柜体内空间（注：底层隔板离地板高度60mm，不宜直接在箱体底层放置物品)脚 轮：四组脚轮干燥剂：双系统，可以再生使用次数大于10万次【柜体结构】1．柜体外壳与内胆之间用聚氨脂高压发泡填充一次成型、具有耐温、绝热、阻燃；柜门框架采用永磁密封橡胶带；2．显示控制模块：进口瑞士原装数字式传感器sht10采集数据，温度控制测量精确，抗干扰能力强；3．蓝屏白字LCD液晶显示，MPU智能程序控制。电脑储存记忆、暂停后不会丢失设置参确保再启动后设备自动回复正常运行，控制面板上的功能键可随意设定温度参数； 【温度控制方式】1．除湿系统：鸿奕（干燥剂除湿）除湿-再生四系统交替执行干燥气体内外循环方式保证箱内的干燥度恒定；除湿系统是恒温恒湿存储柜的核心系统，它采用鸿奕技术-拥有一项国家发明技术和多项结构新型技术；内含除湿一系统，除湿二系统，再生一系统，再生系统；各系统在微电脑控制系统统一指挥下，协调而又不间断的将干燥空气注入到箱体内，从而保证箱体的内环境被控制在客户设定的要求内。2．加湿系统：品牌超声波加湿器。【主要配件】1．降温系统：冷 煤：R134A环保型压缩机：丹佛斯压缩机电控系统：鸿奕-电脑智能单片微机控制冷凌器，蒸发器：全铜管； 品牌——技术2．升温系统：加 温：PTC恒温半导体探 头：瑞士进口原装电子探头SHT10，年漂移量小于3‰3．除湿系统：鸿奕（干燥剂除湿）除湿—再生四系统交替执行干燥气体内外循环方式保证箱内的干燥度恒定。 【性能特点】该设备具有极强的控温、控湿能力，相对湿度可以在30%RH到60%RH范围内任意设定，覆盖了几乎所有精密配件、各种光电仪表、仪器和光学仪器、光电器件、微电脑芯片等所需要特定环境温湿度的产品；在精确控温控湿的效果方面，是目前国内首屈一指应用面最为广泛的一款产品。除此以外，控温控湿柜还有许多独特的性能特点：1．高温发热件隔离式安装，不会对周围物品或工作人员产生伤害；2．采用微电脑控制自动识别箱内环境湿度，智能跟踪所设定的湿度值，精度达到仪器级标准；3．采用蓝屏白字的LCD显示屏，视觉美观高档，显示清晰易读；4．控制柜内各系统的工作状态，在显示屏上一览无余，非常便于对系统的维护保养；5．各系统还设置手动操作状态，便于客户灵活处理控湿方式；6．各系统模块式安装设计，便于根据客户的特殊要求灵活改变设计，达到客户各种特别的性能参数值，同时也方便维护和保养；7．对水分子有极大的亲和力特点：除湿剂材料采用化学稳定性强，有较高的吸附能力和足够的机械强度，具有较高的热稳定性，它能反复加热再生，再生次数达到10万次以上；8．该设备隔热、隔磁、防尘、平衡状态功率小、和长寿命等功能，并具有环保、节能、无污染等；9．安全可靠、耗电低：该设备内设有漏电保护及强电短路保护，使用安全可靠；除湿、加湿、降温、加温等各功能直观显示，一旦通电达到设定要求的湿度、温度，整个系统便进入微功耗维持区；10．适用性强：该设备可使用空间大，可根据所储存的物品的温湿度要求来调整设置值；柜体内的层板可以根据存储物的大小来适当调整。该设备有较强的通用性和实用性，控制自动方便。 厂方公司名称：深圳市鸿奕设备有限公司厂方销售经理： 陈经理厂方企鹅： （鸿奕设备）厂方公司地址：深圳市宝安区西乡黄麻布金岗山第二工业区12栋

高功率氙灯光源MAX-400D的输出频谱Asahi Spectra*新的氙灯光源产品型号MAX-400D，带有双400W灯的大功率氙气光源，波长范围400-700nm，与MAX-350的氙灯光源相比，功率增大了400%。特点●在可见波长光范围内可以高功率输出●操作简单●可调光强度●光纤照明灵活●无需光轴对准●可安装滤光片*选件●RS-485遥控器 应用高亮光源适用于以下应用●高速相机●相机传感器评估●影像处理系统●带高速摄像头的显微镜●背光照明 配件二合一光纤●MAX-400D的输出光通过光导传递到所需的方向。准直透镜●每个准直透镜均设计为与光导一起使用，以提供均匀的照明。光学滤镜●我们提供各种各样的光学滤波器。●可用滤镜-尺寸：50x50mm /厚度：小于6mm规格ModelMAX-400D波长范围400-700nm（配备超冷过滤器YSC0750）输入电压AC100-240V±10% 50/60Hz光源功率小于 1360VA (AC100-240V, 50/60Hz)灯源类型氙气灯 400W (VIS) x 2 个灯电压，电流14.3V 28A(DC) *代表值灯电压，电流稳流系统照明时间500h *在我们的条件下，交货后不到1年光轴对准筒式（无对齐）冷却方式强制风冷功能快门；光照强度控制（手动）*假设*大光照强度为*，可以降低到30%左右；滤光片轮（直径50mm。或50x50mm，t6mm）；用灯计时表（单位：小时）；远程控制RS-485安全项目安装备用熔断器，过流保护；灯熄灭，警告灯亮；灯异常/顶盖打开；冷却风扇问题/温度异常；推荐使用环境温度10 - 35 deg C； 湿度20 - 80%*避免冷凝；外形尺寸390(W) x 341(D) x 292(H)mm重量19.8kg

产品名称：微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格品牌：奥地利Tecsense产品型号：TecControl 简单介绍：微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格是具有优势的，作为奥地最新科技的代表TecControl氧分析仪采用光学氧传感器可测量ppm级别的微量氧，它的最重要的特点是可以测量腐蚀性气氛下的微量氧含量，如氯气中的微量氧，HCL，氨气中的微量氧含量，精度可达ppb级别，微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格相对领先，同时还可以测量液体中的溶解氧，光学TecControl代表了下一代氧分析仪的未来。详细介绍：微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格是具有优势的，作为奥地利最新科技的代表TecControl氧分析仪采用光学氧传感器可测量ppm级别的微量氧，它的最重要的特点是可以测量腐蚀性气氛下的微量氧含量，如氯气中的微量氧，HCL，氨气中的微量氧含量，精度可达ppb级别，微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格相对领先，同时还可以测量液体中的溶解氧，光学TecControl代表了下一代氧分析仪的未来。微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格信息请致电英肖仪器微量氧分析仪TecSense氧分析仪TecControl的技术参数：Trace sensor Trace sensor for fluids: 微量氧传感器对于液体的：(微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格)? Range:测试范围0,001 mg/L - 2 (5) mg/L ? Accuracy: 精度± 0.003mg/L, ±2,5 ppb ? Resolution:分辨率0.001 mg/L, 1 ppbTrace sensor for gas:微量氧传感器对于气体的：(微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格)? Range:测量范围：0-10 ／100/1000/10000ppm - 2(5) Vol% ? Accuracy:精度：± 3 ppm, ± 0,0003 Vol%(10ppm-2%)，在0-10ppm内精度为± 0.3ppm? Resolution:分辨率：1,0 ppm , 0.0001 Vol% T90=0.1SADimensions尺寸: ?90 x 50mmSensor rod:传感器直径 ?12 x 30 – 250mmMaterial: St.材料 1.4404 or TeflonHousing取样池: Aluminium anodized or St. 1.4404Data interface接口: Standard RS232, option RS485Power supply电源: 12V – 24VOptional accessories 可选附件(see data sheet):– TecInterface数据接口: O2 data – 4-20mA and digital (RS 232 /RS 485 a.s.o.)– TecDisplay显示器: O2 data & display unit (4-20mA, RS 232 a.s.o.)更多有关微量氧分析仪TecSense氧分析仪价格信息请致电英肖仪器仪表（上海）有限公司获取