开尔文量仪

开尔文探针表面光电压谱开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种灵敏的表面分析技术。我们的开尔文探针系统包括：□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□超高真空(UHV)开尔文探针；□湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP)ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□2毫米，50微米探针；□功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□表面势和样品形貌3维地图；□探针扫描或样品扫描选配；□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□备用的针尖放大器； 仪器的特色 □分辨率的功函数和表面势，稳定性和数据重现性；□该领域内，拥有好的信噪比；□快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□所有开尔文探针参数的全数字控制；ON非零探测 Off Null detectionHR高度调节模式 Height Regulation modeSM实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signalUC用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parametersDC电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effectsPP平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation ModeSA信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)WA功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reportingDC所有探针及探测参数的数字控制Digital Control of all Probe and Detection ParametersQT针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolutionDE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party softwareOC输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuitFC法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield)RS金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample额外选配项SPV表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware PackageRH相对湿度腔 Relative Humidity ChamberAC控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas InletEDS外部数据示波镜 External Digital OscilloscopeOPT彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical MountsST针尖置换 Replacement TipsGCT镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement TipsXYZ25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 单点开尔文探针系统 (ASKP) KP020系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在KP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比； □ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；目前通过我司购买的的开尔文探针测试系统，目前在南昌航空大学工作正常，运行稳定。。

我们的大范围扫描开尔文探针为用户提供了样品尺寸从5-300mm的完整2D和3D功函数平面图。功函数解析度小于3meV。硬件扫描转换台分辨率低于317.5 nm,扫描开尔文探针提供可靠的、可重复的测量。高性能法拉第和光学外壳保护我们所有的扫描系统以避免快速变化的环境条件,电磁干扰等,以至于为我们的光电效应和表面光电压附加模块提供一个完美的平台。

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。 特点 ● 最高的功函/表面电势分辨率：1-3meV（2mm探针） ● 与压电系统相比采用音圈驱动具有很高的驱动噪声抑制 ● 过零信号检测系统极大的提高了分辨率，信噪比性能无与伦比 ● 测试和扫描时探针尖与样品的高度调节功能可得到稳定的、可靠的和重复的结果 ● 探针参数全部采用数字控制系统参数 ● 2mm and 50μm探针 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台） ● 手动高度控制（25.4mm KP 平移） ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离 ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 软件性能 ● 数字控制所有开尔文探针参数 ● 简单的信号优化设置过程 ● 快速测量模式用于跟踪实时功函变化(1000points/min at ~20meV分辨率) 选件 ● 样品加热器 Sample Heater ● 可升级至扫描系统 ● 可升级至RHC系统 ● 表面光电压模块SPV020 and SPS030 ● 镀金探针

KP 超高真空开尔文探针系统开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)； □ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)； □ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

KP 超高真空开尔文探针系统开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)； □ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)； □ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvinprobe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 主要特点： ● 功函分辨率 3meV ● 扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同） ● 扫描分辨率：317.5nm ● 自动高度调节 应用领域： ● 有机和非有机半导体 ● 金属 ● 薄膜 ● 太阳能电池和有机光伏材料 ● 腐蚀 升级附件： ● 空气光发射系统 ● 表面光电压(QTH or LED) ● SPS表面光电压光谱(400-1000nm) ● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm ● 相对湿度控制和氮气环境箱

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；目前通过我司购买的的开尔文探针测试系统，目前在南昌航空大学工作正常，运行稳定。。

开尔文探针系统Kelvin Probe System 产地：英国型号：SKP5050, KP020, UHVKP020 开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 技术规格：SKP5050系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：- 探针直径：2毫米，50微米(其他尺寸可选配)； - 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；- 针尖到样品表面工作距离：~400纳米；- 表面势和样品形貌3维地图；- 探针扫描或样品扫描选配；- 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；- 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；- 备用的针尖放大器； 仪器特点：- 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；- 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；- 非零专利技术(Off-Null) — 信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(Null-based, LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；- 高度调节专利技术 — 我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；- 该领域内，拥有最好的信噪比；- 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；- 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；- 所有开尔文探针参数的全数字控制； 参考用户：吉林大学，大连理工大学，哈工大，复旦大学，浙江大学，合肥工大，华中科大，湖南大学，华南理工大学，香港科技大学，中科院理化所，中科院纳米中心，中国工程物理研究院等…

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度； □ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 扫描开尔文探针系统 (SKP)：SKP5050系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器； 仪器特色：□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation modeSM实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signalUC用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parametersDC电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effectsPP平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation ModeSA信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)WA功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reportingDC所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection ParametersQT针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolutionDE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party softwareOC输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuitFC法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield)RS金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample额外选配项SPV表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware PackageRH相对湿度腔 Relative Humidity ChamberAC控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas InletEDS外部数据示波镜 External Digital OscilloscopeOPT彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical MountsST针尖置换 Replacement TipsGCT镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement TipsXYZ25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域：吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学； 参考用户：吉林大学、哈工大、大连理工大学、湖南大学、浙江大学、复旦大学、华中科技大学、华南理工大学、合肥工大、中科院纳米中心、中科院理化所、中科院高能所等...

RHC020-气氛控制扫描开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 RHC020 是控制气氛检测样品的理想解决方案，50x50mm样品加热器可将样品温度升至100℃，采用先进的电子和硬件系统即时监测温度和湿度变化，附加表面光伏SPV020及表面光电压谱SPS030模块，可对光敏感样品进行强度或波长可变的激发。 技术参数： ● 2mm和50μm探针 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台） ● 50mmX50mm最大扫描面积 ● 318纳米定位分辨率 ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离● 附加手动高度控制（25.4mm KP 平移） ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 ● 50mmX50mm样品加热器 ● 自动相对湿度控制至1%（10-100%RH）选件 ● 直插型探针支架：2mm-50μm ● 自动温度控制 ● 表面光伏模块SPV020和SPS030

开尔文探针系统Kelvin Probe System 产地：英国型号：SKP5050, KP020, UHVKP020 开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 技术规格：SKP5050系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：- 探针直径：2毫米，50微米(其他尺寸可选配)； - 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；- 针尖到样品表面工作距离：~400纳米；- 表面势和样品形貌3维地图；- 探针扫描或样品扫描选配；- 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；- 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；- 备用的针尖放大器； 仪器特点：- 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；- 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；- 非零专利技术(Off-Null) — 信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(Null-based, LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；- 高度调节专利技术 — 我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；- 该领域内，拥有最好的信噪比；- 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；- 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；- 所有开尔文探针参数的全数字控制； 参考用户：吉林大学，大连理工大学，哈工大，复旦大学，浙江大学，合肥工大，华中科大，湖南大学，华南理工大学，香港科技大学，中科院理化所，中科院纳米中心，中国工程物理研究院等…

UHV-KP020超高真空扫描开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 UHV-KP020 是超高真空室的一个完美补充工具，可靠的和可重复的可轻松获得，包括高质量的线性解码器，使得探针和样品的定位变得简单， 无与伦比的跟踪系统在测试过程中始终将探针和样品恒定的分开。对于薄膜研究，亚单层范围检测是很平常的；也可选购SPV020或SPS030表面光电压模块用于光敏材料研究。 技术参数： ● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探针） ● 用户自定针尺寸（2-10mm） ● 用户自定探针长度（法兰到样品） ● DN40（2.75' ' 安装端口）-其他可选 ● 50mm手动平移器（100mm可选） ● 真空度2X10-11mbar ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离 ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 选件： ● 电动平移器 ● UHVSKP ● 表面光电压模块SPV020和SPS030

KP Technology继续支持材料进步，使我们的客户能够提高他们的科学能力并加强他们的研究。我们提供一系列专用的开尔文探头系统，专为各种环境中的应用而开发，从环境和受控气氛到超高真空。针尖材料/直径2 mm 不锈钢针尖功函数解析1 - 3 meV样品扫描50 x 50 毫米相对湿度控制自动： 20 - 80%大气控制氧气 1%光学系统彩色摄像机示波器用于实时信号的数字 TFT 示波器测试样品金和铝样品试验板基底面900 x 600 毫米提供控制带有专用软件的电脑检测系统Off-null with parasitic capacity rejection

UHV-KP020超高真空扫描开尔文探针开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统UHV-KP020 是超高真空室的一个完美补充工具，可靠的和可重复的可轻松获得，包括高质量的线性解码器，使得探针和样品的定位变得简单， 无与伦比的跟踪系统在测试过程中始终将探针和样品恒定的分开。对于薄膜研究，亚单层范围检测是很平常的；也可选购SPV020或SPS030表面光电压模块用于光敏材料研究。 技术参数：● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探针）● 用户自定针尺寸（2-10mm）● 用户自定探针长度（法兰到样品）● DN40（2.75''安装端口）-其他可选● 50mm手动平移器（100mm可选）● 真空度2X10-11mbar● 跟踪系统自动控制样品和探针距离● 过零信号检测系统抑制寄生电容选件：● 电动平移器● UHVSKP● 表面光电压模块SPV020和SPS030

技术参数：在大气环境下：扫描隧道显微镜/ 原子力显微镜(接触 +半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/力谱线/粘附力成像/磁力显微镜/静电力显 微镜/扫描电容显微镜/开尔文探针显微镜/扩展电阻成像/纳米压痕/刻蚀: 原子力显微镜(电压+力)/压电力模式/超声原子力/外加磁场/温度控制/气氛控制等功能。在液体环境下：原子力显微镜(接触+半接触+非接触)/横向力显微镜/相位成像/力调制/粘附力成像/力谱/刻蚀:测量头部：AFM和SPM可选配液相模式和纳米压痕测量头 扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描最大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度15mm。针尖扫描：样品无限制 XY样品定位装置：移动范围5×5um，精度5um 扫描范围：90×90×9um（带传感器/闭环控制），可选配低电压模式实现原子级分辨XY方向非线性度：≤0.5%（带传感器/闭环控制） Z方向噪音水平（带宽1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.04nm，最大0.06nm）光学显微系统：配备高数值孔径物镜后，分辨率可由3um提升至1um样品温度控制：室温~300℃

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪产品包括龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪等。二次元影像测量仪用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量，可应用于应用于机械、电子、仪表、塑料、科研、品管等行业，可从视频捕捉卡上捕捉图像，快速测量待测物之尺寸，自动标注尺寸，操作简单方便。我司生产的二次元影像测量仪可根据客户的需要定制仪器制作，下面以二次元影像测量仪中的龙门式影像测量仪为主要介绍龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪这款产品的特色所在：1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、X、Y向采用空气轴承，花岗石导向，可长时间工作也保证了机械系统的精确稳定；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5.光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。 龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪600*500技术参数测量行程：600× 500× 150 玻璃载物尺寸及承重：650× 550mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1300× 1400× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪700*600技术参数测量行程：700× 600× 150玻璃载物尺寸及承重：750× 650 mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1400× 1500× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪900*600技术参数测量行程：900× 600× 150玻璃载物尺寸及承重：950× 650mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1450× 1700× 1800相关类产品：龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪中的手动影像测量仪于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等。二次元影像测量仪|手动影像测量仪用途 ： 仪器适用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量。二次元影像测量仪|手动影像测量仪特征 ： 1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、采用高精度滚动导轨，提高机器稳定性，长时间工作也能保持精度；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5、光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。手动影像测量仪|二次元影像测量仪技术参数 ： 手动影像测量仪2010测量行程(X.Y.Z)：200× 100× 150mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪3020测量行程(X.Y.Z)：300× 200× 150mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪4030测量行程(X.Y.Z)：400× 300× 200mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪5040测量行程(X.Y.Z)：500× 400× 200mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英）

体积重量测量仪-茂宏BC测量仪体积重量测量仪-上海茂宏电子科技有限公司推荐 随着人力成本的不断增长对企业发展的影响越来越大，经济学者认为未来中国人力成本将会持续加速的上涨。人难招、人力成本高将会是大势所趋。这种情况下企业应及时改变运作思路，企业可通过人员的调整和现代化物流仓储的实施推广，以更少的人力完成更高的效率。相应地，也就降低了员工的人力成本外，更加提高了工作的时效性和科学性。　　货物商品的体积/重量数据对于物流/商超零售/电商/医药/是非常重量的。一方面，客户和物流企业之间的物流费用结算要对重量/体积的准确计量 企业内部数据优化管理。另一方面，及时准确的获取货物的重量/体积/条码数据对于物流企业的流程优化和决策过程也是有很重量的意义。但传统企业往往使用普通台秤或者平台秤对货物的重量进行计量，而需要测量体积的场合则一般使用皮尺等工具手工测量。在传统的方式下，货物的计量过程由手工完成，效率比较低下 计量结果也很容易引起贸易双方的争议 在将手工所测得的数据人工输入系统的过程中，也难免会发生因人为因素而产生的数据偏差.从而对之后一系列的货物配载，运费结算等等多个环节引起不必要的麻烦。　　早些年90年代以来，在世界范围内，以UPS,FEDEX,DHL,TNT为代表的国际快递公司率先开始采用先进的体积测量系统来对托运货物进行快速准确的计量，并实时传送至其物流数据库中。 可以智能测量长宽高外形尺寸的仪器我们俗称为体积重量测量仪，在国外该类仪器已经有40年之久的使用经验。因为其售价非常高昂，所以早些年国内的用户基本上就是跨国企业或者国内行业里的大佬企业，但这些年在该设备国内的认识度也是越发的提高。 国外设备原理一般采用的都是超声波、红外光栅、激光等传统传感器，其主要优点不但测量准确，而且数值稳定误差小，经过40年的不断升级完善，现如今已经属于非常成熟的产品了。这些年国内也涌现出一大批供应商，主要采用视觉拍照外加辅助等原理，其优点便是成本及入行门槛较低，但是在测量误差精度和性能稳定性方面以及受环境色彩的局限性和进口同类仪器相比还是存在一定的差距。 现我司推荐一款同样采用超声波传感技术的国产体积测量设备，其可以快速准确的测量出纸箱等规则物体的外形尺寸，并且能将误差控制在1-2m内，精度及性能参照进口同类仪器，但售价却是非常的国产化。 我司产品经理自2008年从事体积重量测量仪领域已有10年多的从业经验，有6年进口体积测量仪的销售经验，亲眼目睹当进口设备首次登入国内参加行业内展会上的冷清无人问津，到这两年一步步走到现如今的认知程度，对不同行业不同市场及不同客户使用案例还是比较了解。如有兴趣笔者也很乐意分享经典客户案例及使用场景介绍供大家学习参考。上海茂宏电子科技有限公司经销批发各类标准砝码、电子秤、测力仪、拉力计、电子天平、取样器、对色灯箱、色差仪、桶装秤、包装秤、体积重量测量仪以及自动化设备等产品畅销市场，积累了众多新老客户与消费者；公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。上海茂宏电子科技有限公司主营的铸铁砝码、无磁不锈钢砝码等品种齐全、价格合理。公司实力雄厚，重信用、守合同、保证产品质量，以多品种经营特色和薄利多销的原则，赢得了广大客户的信任与支持。体积重量测量仪-茂宏BC测量仪

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪中的全自动影像测量仪于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等。全自动影像测量仪用途： 仪器适用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量。全自动影像测量仪特征 1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、采用高精度滚动导轨，提高机器稳定性，长时间工作也能保持精度；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5、光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。全自动影像测量仪技术参数 项 目 自动型2010 自动型3020 自动型4030 自动型5040 测量行程(X.Y.Z) 200× 100× 150mm 300× 200× 150 mm 400× 300× 200 mm 500× 400× 300 mm 大理石台面 506× 326 mm 玻璃台面 360× 260 mm 玻璃载物台承重 25KG 25KG 30KG 30KG 物镜工作距离 90mm 物镜放大倍率 0.7X&mdash 4.5X 总放大倍率 25X&mdash 225X 机台底坐和立柱材料 天然花岗石 X、Y线性精度 3+L/200&mu m (L为被测长度) 光栅尺分辨率 0.001mm 重复测量精度 &le ± 0.003mm 整机尺寸（mm） 650× 485× 939 820× 580× 1100 710× 930× 1000 1000× 1100× 1180 整机重量 约 150KG~650KG 应用软件 ASIDA VMA3.00.01测量软件（简、繁、英） 数据输出格式 DXF、EXCEL、WORD 系统平台 WindowsXP Pro PC要求 P4 2.4G处理器， 512M内存，64M独立显卡，80G硬盘 电源要求 室内220伏特电源即可，用户可自备1000W功率的ups 电源

产品概述土壤水分测量仪又名非接触式土壤水分测量仪、土壤墒情测量仪，是一款以介电常数检测原理为基础的传感器。能够针对不同土层的土壤水分含量进行动态观测，而且是进行快速、准确、全面地观测，让人们实现对土壤的高度感知。土壤水分测量仪采用分层设点的观测结构，地面配置一个温度观测点，地下土壤每隔10cm配置一个土壤温湿测点，观测相对应范围内的土壤温湿度。注：可定制长度1米，多土壤温湿测点设备技术参数◇土壤湿度 测量范围：干土—饱和土 测量精度：±3% 分辨率：0.1%◇土壤温度 测量范围：-30℃～70℃ 测量精度：±0.3℃ 分辨率：0.1℃◇记录间隔：30分～24小时（可调）◇输出方式：4G◇存储容量：云端存储◇数据查看：Web网页系统平台远程查看◇供电方式：太阳能电池板+锂电池组合供电◇防护外壳：U-PVC◇防护等级：IP67◇工作环境：-20℃～85℃◇结构外观：集成管式（柱式）◇尺　　寸：外径6cm　　高78.2cm产品特色◇集成一体化将物联网通讯终端、数据存储和处理单元、高性能电池和主传感器在一个PVC管中集成。◇各项数据“码”上知道通过手机微信扫描设备（测量仪）的二维码，即可快速浏览与查询数据。◇高频探测波发射的高频探测波，可以穿透塑料管感知土壤环境。◇与土壤无直接接触不会受土壤中盐离子的影响，化肥、农药、灌溉等农业活动不会影响测量结果，数据准确。◇避免电极接触土壤传感器的电极没有直接与土壤接触，避免电力对土壤及土壤中的植物的干扰。适用范围土壤水分测量仪凭借着其特有的准确性、实用性、便捷性、耐久性等特点，适用于农事指导、园林灌溉、科学研究、地质灾害、墒情监测等领域。

产品种类与特点：浮标式气动量仪：直观易读，非接触测量，适合多种尺寸测量，如长度、内径、外径等。电子式气动量仪：数字化显示，高精度，便于与自动化设备集成，提升生产效率。指针式气动量仪：结构简单，成本低，适合对精度要求不高的快速测量场景。品牌与品质：推荐知名品牌如德国马尔（Mahr）、国内知名品牌如东精测控等，这些品牌在市场上享有良好声誉，产品质量可靠。强调产品经过严格的质量控制和检测，确保测量结果的准确性和稳定性。应用场景与解决方案：根据不同行业的测量需求，提供定制化的解决方案。例如，在汽车制造行业，可以推荐高精度电子式气动量仪用于发动机部件的尺寸检测；在航空航天领域，可以推荐高稳定性的浮标式气动量仪用于精密零部件的测量。强调气动量仪在提高生产效率、降低人力成本、确保产品质量方面的优势。售后服务与支持：提供全面的售前咨询和售后服务，包括产品选型、安装调试、技术培训等。强调快速响应客户需求的能力，以及长期的技术支持和产品升级服务。价格与性价比：提供具有竞争力的价格方案，同时强调产品的高性价比。例如，可以指出某些型号的气动量仪虽然价格稍高，但其高精度和长寿命能够为用户带来长期的成本节约。

测量器具（也称计量器具）是测量仪器和测量工具的总称。通常把没有传动放大系统的测量工具成为量具，如游标卡尺、直角尺和量规等；把具有传动放大系统的测量器具成为量仪，如机械式比较仪、测量仪、投影仪和影像测量仪。接下来妙机小编就和大家浅谈一下量具、量仪和三次元测量仪的相关知识。　　按照结构和工作原理划分，计量器具又分为机械式、光学式、气动式、电动式、光电式计量器具。　　光电式计量器具是利用光学方法放大或瞄准，通过光电元件再转换为电量急性检测，以实现几何量测量的计量器具，如光电显微镜、光电测长仪等，三次元测量仪器也是属于这一类。　　三次元测量仪是现代光电技术发展的结晶，在量具量仪等诸多计量器具的种类之中，三次元测量仪因为自动化的坐标测量方式使得综合测量在精益制造领域得以施展。配合ＯＧＰ的SmartPorfile综合测量评价软件,更可以跨越不同量仪的测量方式的限制而达到产品尺寸的全方位评价。　　综合上三次元测量仪厂家小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技采用创新性的SIC（SysteminCase）设计理念，将全自动测量仪常用的各种电路模块整合在一个盒子里，解决了过去板卡组件的系统繁杂，接线复杂，性能低下，故障率高的问题，使得全自动测量仪功能强大，结构简洁，高效可靠，易于接线和维护，从而率先推出龙门式全自动影像测量仪、一体式影像测量仪等高端重磅级测量设备，在全国乃至全球处于领先水平。

妙机三坐标测量仪和影像测量仪都以先进的测量技术而得以广泛应用，虽然两者都是通过对产品的尺寸、角度和位置等形位公差进行测量的，但这两种测量仪有着本质的区别，接下来妙机小编为大家介绍一下三坐标测量仪与影像测量仪的不同之处。　　1、测量方式不同。妙机三坐标测量仪是使用测头接触工件的，通过接触的方式获取点的坐标。而影像测量仪是通过对光学镜头获取的图像进行测量的，不用接触，只需要全程使用摄像功能就可以完成测量。　　2、测量工件类型不同。虽然妙机三坐标测量仪的测量精度比影像测量仪高，但其主要是通过与工件接触的方式进行测量的，无法很好的测量小薄软等类型的工件。影像测量仪虽然可以通过非接触的形式测量小薄软等类型的工件，但对一些需要进行三维测量或测量精度要求高的工件来说，却有些力不从心。　　3、测量维度不同。妙机三坐标测量仪是根据所取点的三维坐标值来进行测量的，空间内的每一个点都有唯一的坐标值，测量精度很高。而影像测量仪是通过光学影像技术获取工件的二维影像，然后再进行精密的测量，是在二维平面上进行测量的。　　上述文章就是东莞三坐标测量仪厂商的小编和大家说的内容，大家都清楚了吗？在这边我们也就不和大家多说啦，大家若是对测量产品有所需要或者感兴趣的话，都可以随时联系我们，也可以关注一下妙机科技的。妙机科技公司不断引进先进的生产技术和质量保证，在日趋激烈的市场竞争中不断发展壮大。

铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪产品用途：菲希尔铜厚测量仪属于一款手持式设备，用于非破坏性的测量多种基材上的，包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。适用于测量：测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20ZN）钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头ESD2.4）钢铁上的电镀镍层（探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ） 铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪产品特点：测量印刷线路板上覆铜板，即使在阻焊剂下的厚度。测量印刷线路板上通孔内的铜壁厚度。测量锌，铜，铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点，使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。测量钢或铁部件上的电镀镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率。铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪检测探头：特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080

广东正业生产的长臂板厚测量仪，专用于PCB板行业的，用于检测覆铜层压板和多层板压层后的厚度测量，以及其它板材厚度的测量。 长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪用途： 主要用于覆铜层压板和多层板压层后的厚度测量，以及其它板材厚度的测量。长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪特点:● 喉深大，能对大型板材中间部位的厚度进行测量● 板厚测量范围大，测量精度高● 能进行mm/inch公制、英制单位切换● 测量数据液晶屏幕显示，非常直观● 能任意位置&ldquo 置零&rdquo ● 桌面为电木板，不会划伤被测板的表面● 性能稳定可靠、操作简单、使用方便长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪技术规格:外形:宽mm900× 深mm× 990高× mm1150喉深（mm）:530板厚测量范围（mm）:0～25测量行程（mm）:25桌面尺寸（mm）:900× 870测量精度（mm）:0.003额定电压/额定功率:220V～50Hz/100W重量（Kg）:120

英国普洛帝分析测试集团推出一代PULUODY/普洛帝系列PQ-2A自动铁量仪，它采用了多种专利技术和精准算法，具有非常高的灵敏度、准确性和重复性，在几秒钟内就可以测量出各种油样中的铁磁性金属磨粒的准确含量，测量结果直接以实际浓度值表示，极大方便了用户对数据的解读和分析。PULUODY/普洛帝系列PQ-2A自动铁量仪代表了铁含量测量的最高水平和发展方向，科学应用PULUODY/普洛帝铁量仪可以有效防止昂贵的停机检修和额外的机械损失，为用户节省大量的维修费用并带来持续的效益。测量原理：PULUODY/普洛帝系列PQ-2A自动铁量仪内置有一个灵敏的电磁线圈和专利技术的特殊传感器。当样品放入磁场中时，油液中的铁屑颗粒会引起磁场信号强度的变化，电磁感应强度的大小与样品中铁屑含量的多少成正比而且具有很好的相关性。因此传感器将信号增强的程度精确记录后，系统的处理器利用先进的算法就可以将其解算为以毫克每克或ppm值表示的实际浓度值。产品特点： 测量精度：由于仪器具有很高的信噪比，并且采用了很多先进而独特的措施来有效去除油液的基体，非铁磁及非金属颗粒，以及温度等对测量读数的干扰，因此仪器对油液中铁屑含量的最低检测限可以达到1ppm，远远超过其它类型的铁含量检测仪器，而且拥有很高的测量重复性，因而可以更早期发现设备的异常磨损。测量速度：仪器从进样到生成测量数据只需要几秒钟的时间，因此可以轻松应对大样品量的情况。 操作模块：仪器操作异常简单，只需要几分钟就可以轻松掌握，无需专业培训。环境要求：仪器结构紧凑，尺寸小巧，坚固抗振，适宜在任何恶劣的现场环境进行快速检测。适用样品：可以分析各种矿物油，合成油，液压油，齿轮油及润滑脂类样品中的铁屑含量。产品应用：目前PULUODY/普洛帝系列PQ-2A自动铁量仪已在各国的国防、航天、船舶、电力、石化、冶金、矿业、公路运输等领域获得了广泛应用。安全环保：PULUODY/普洛帝自动PQ-2A铁量仪无需样品处理，也不需要任何清洗溶剂，因此使用安全环保，对用户不会造成任何健康损害性能参数：测量灵敏度：最低到0.1毫克\克最大浓度范围：30,000毫克\克铁屑尺寸：大于5微米样品量：每次2~5ml工作温度：0到55度供电：220V±15% 50Hz或便携电源普洛帝-油液检测专家 !润滑油铁量仪、润滑油量铁仪、润滑油铁浓度检测、液压油监测设备、颗粒计数器、润滑油监测设备、车用油监测设备、润滑脂检测设备、油液水分、粘度、密度传感器，专注测控 用心服务普洛帝(简称：PULUODY)是全球最大的油液颗粒监测技术提供者，1970年7月由PULUODY本人创立于英国诺福克，致力于向人们提供“精准、可信赖”的颗粒监测技术。普洛帝颗粒监测技术延续并持续创新了40余年，现已成为油液颗粒监测技术的领导者。PULUODY ANDLYSIS & TESTING GROUP LTD.拥有中国区颗粒检测技术的所有权，陕西普洛帝测控技术有限公司为其授权执行方。

一、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪产品简介：小麦育种研究中，小麦表型参数至关重要，小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。二、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪应用广泛：1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期：3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。4、千粒重测量时期： 室内考种时期。5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。三、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数：测量范围和误差：1、小麦亩穗数测量误差： ≤±5%。2、麦穗形态测量范围： 5——20cm。穗长误差： ±2%。小穗数误差： ≤ 3个。3、小麦夹角测量范围： 0-180°。作物粗： 0-5.2cm。夹角测量误差： +5%。4、作物茎粗测量误差： ±1%。5、千粒重测量误差： ±2%。6、株高测量范围： 0.1-1.1m。测量误差： ±1%。1.1 小麦亩穗数测量仪1.1简介小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据，可多点快速取样，数据批量分析，且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成，穗数是小麦产量重要构成要素之一，快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。1.2外形尺寸1、小麦亩穗数740mm*740*(620——1500)mm2、标定杆可上下伸缩调节高度3、背光板尺寸： 47cm*35cm*0.8cm4、图像分辨率：1600*7205、摄像头：1300W像素1.3测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%，修正后可达100%。1.4适用范围1、麦穗检测合适时期：小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重2.小麦株高测量仪2.2.1简介小麦株高测量仪用于测量小麦的株高。在小麦不同时期测量株高的标准不同。小麦株高一般是指植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。幼苗期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。2.苗期：伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。3.拔节期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。4.灌浆期：从植株基部（或分蘖节处）量到穗顶（不包括芒）的距离则为株高。2.2.2技术参数测量杆高度：375mm+375mm+350mm测量精度： 1mm测量范围： 10——1100mm外壳材质： 铝合金软件系统： Android2.2.3小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪功能特点1、仪器带有数据管理云平台和APP,可通过电脑网页或手机查看数据。由测量杆，手机，识别APP软件组成。2、手机对准测量杆上的刻度，拍照自动识别刻度数据实时传输到手机。3、测量杆带有水平仪，使测量过程更规范，更准确。4、完善识别内容：自动识别结果中显示识别的高度数据，手动录入作物数据（如：品种、生育期等）完善作物信息。首页界面上可显示所有测量结果。5、可根据检测日期，种类，测量人，区组名称进行测量结果查询。6、数据分析管理：分析结果可查看，可将图片和数据excel导出。7、数据上传：自动在wifi/4G网络链接正常下上传至云平台，实现管理、查看、分析数据。平台数据可下载、分析、打印。3.小麦夹角茎粗测量仪3.1仪器简介小麦夹角茎粗测量仪可快速测定和分析小麦夹角、茎粗等作物性状参数，方便开展科学研究和育种分析。也适用于水稻、油菜等作物品种。3.2小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数1、支撑材料：不锈钢2、支架材料：黑色塑料3、背景材质：白色树脂4、测量范围：作物夹角：0——180°；作物茎粗：0——6cm5、测量误差：作物夹角±1°；作物茎粗：±1mm3.3功能特点1、超轻便手持式设计，方便田间和室内测量使用；2、大屏幕彩色手触摸屏，安卓系统，1300万像素+200万像素双摄；3、测量速度快，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理；4、手动修正功能强大，手动触摸屏幕进行修正，使结果更准；5、手机和作物之间可以进行自由距离设置，适合多种植物的测量，适应性强；6、压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响；7、环境适应性广，无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据；8、自动调节白平衡，不受天气、光照等环境条件的影响；9、数据查看多样化：拍照分析后即可查看测量结果，可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式，并可分享至微信、QQ和钉钉；10、自动生成数据列表：测量时间，图片，作物夹角、作物茎粗等信息，节约数据整理时间；11、作物夹角适用的作物：水稻、小麦、油菜；作物茎粗对各种作物的茎粗都能测量。4.麦穗形态测量仪4.1仪器简介麦穗形态测量仪也叫麦穗形态测定仪，基于机器视觉技术，利用手机摄像头获取麦穗的图像，利用图像处理算法现场分析，获取麦穗形态参数，AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术，自动计算出小麦的穗长。麦穗形态测量仪一次测定，可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标，主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域，4.2技术参数外形尺寸： 460*320*10mmEVA背板尺寸： 420*295*2mm底板材料： 黑色双面细磨砂亚克力测量范围： 5——20cm测量误差： ±2%图像分辨率： 1600*7204.3功能特点1、超轻便手持式设计： 方便室内和室外测量使用 2、大屏幕彩色手触摸屏： 安卓系统，1300万像素 3、多穗同时测量： 麦形态测量仪一次可以测量10个麦穗长度：4、测量速度快： 拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理 5、比例尺自动标定： 对倾斜拍照的图片可自动进行图片矫正，提高测量的精确度。6、适应性广： 无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量麦穗形态。7、自动调节白平衡： 不受天气、光照等环境条件的影响 8、存储容量大： 50G存储数据,可看历史记录，相对生长速率等。9、数据查看多样化： 拍照分析后即可滑动查看结果，也可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式10、自动生成数据列表： 测量时间，图片，GPS位置信息，穗长等信息，节约数据整理时间。小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪配置清单1、十字标定钢管 *42、伸缩杆 *13、地钉+转接器 *14、麦穗背板装置 *15、小麦夹角手持装置 *16、小麦株高标定杆 *17、小麦株高伸缩架 *18、可调光背光板 *19、超大彩色屏手机（已安装软件） *110、航空箱 *111、使用说明书 *1