电极发射仪

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

岛津光电直读光谱仪PDA-8000仪器简介：PDA-8000是岛津公司2010年推出的最新一款光电发射光谱仪，集合了岛津光电发射光谱仪之精华，突出了高灵敏度、高稳定性的特点，尤其在高纯有色金属、钢铁中酸溶铝、夹杂物方面的分析有着独特的技术。性能特点：1）高分辨率分光器最新设计的1米光栅分光室，可以有效减少元素间的分光干扰。同时，为了提高对C、N等元素的分析精度，通过2次或3次等高次线进行分析，分辨率得到有效提高。2）实时能量监控（REM）功能通过增设实时能量监控功能可监视光源能量是否激发成功，激发能量为0.02J-0.6J（可以0.02J为单位步进进行设定）。即时掌握电极和样品间的发光放电是否正常（是否由于样品本身造成放电异常）从而只收集正常放电时的谱峰强度数据。对不正常放电时的脉冲不进行计数，提高分析稳定性。3）定电流放电（CRS）技术为了实现对高纯有色金属微量元素的良好分析，首次使用了定电流放电技术，即电弧放电后段，电流持续保持在10A，放电持续时间最大可达2msec，从而微量元素的灵敏度及稳定性可以得到有效提高。4）强大的软件控制功能（最新设计，操作简单，实现人机对话功能）中/英文分析软件，具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口，简单易懂。软件可以监控仪器各单元运行状态，并在仪器操作界面显示；有自动诊断功能，并提供简单解决方案及操作方法；在线帮助功能，自动校正功能，密码保护功能等。

MEJ 除静电离子棒通常使用在生产机器上，可以短距离电离，且没有移动机器部件干扰电离。Simco-Ion 防静电离子棒的性能与 MEB 型相同，除了 MEJ小的圆形尺寸，使其很容易适应狭小的空间，可以通过机器框架中的孔安装此防静电离子棒。MEJ是一种高效、通用的静电消除器，在许多行业有着广泛的应用。MEJ静电离子棒需要配合一个操作电源使用。 特点工作距离30 mm触摸发射器无电击感当一些发射器引起短路时（例如由于严重的污垢）静电离子棒可继续正常工作圆棒，可通过机架中的孔轻松安装 深圳市荣盛源科技有限公司 ( VSY-Technology Co.,Ltd )，成立于2009年。我们一直专注于电子/工业领域的静电控制，静电接地与在线监测与防护系统、静电驻极设备、除尘洁净设备及IML模内静电贴标的应用设计、研制和销售一体的供应商。二十年来紧跟现代工业生产的步伐并不断学习钻研和累积，非常了解现代各工业领域生产环节上所碰到的相关问题。在IML模内贴标、包装、电子组装、静电驻极等方面的非标设计和解决方案！我们将秉承务实、负责的经营理念为大家提供适合的服务和解决方案！电子应用：静电控制设备、无尘室洁净设备、除静电表面清洁机、净化环境工程解决方案；工业应用：静电控制设备、薄膜/片材表面洁净、印染涂布、纸品印刷除尘洁净系统、覆膜贴合、无纺布静电应用配套设计；包装应用： IML模内静电自动贴标、食品包装非标静电发射器的设计与解决方案；接地检测：人员与设备的静电在线检测和监控；防静电耗材：导电材料、导电毛刷、防静电袋、屏蔽袋。

仪器简介：意大利GNR仪器公司1984年成立于意大利米兰，是一家专业的光谱仪制造商。其创始人Mr. Mario Gungui和Mr. Antonio Nigro，于同年接管了欧洲分析仪器领域非常著名的OPTICA公司。OPTICA公司成立于20世纪四十年代，是光谱仪制造领域先驱。不管是后来成立的OBLF还是斯派克，这些大的光谱仪制造商都或多或少地承接了OPTICA公司的先进技术。GNR公司自成立以来，不断加强研发力量，与很多知名大学建立了良好的合作关系，使GNR拥有一群高水平的专家和先进的技术，为其在国际市场的迅速发展奠定了良好的基础。在随后的二十几年里，GNR公司逐步成长和发展为全球主要的光谱仪制造商之一。GNR现拥有众多型号系列的光谱仪，无论您是生产现场还是实验室应用，都可以找到合适您的一款仪器。 油料光谱分析仪GNR ROTROIL光谱仪符合ASTM D6595-00标准：用旋转盘电极原子发射光谱法测定已用润滑油或已用液压流体中杂质的标准试验方法。 ROTROIL光谱仪符合ASTM标准和DoD JOAP，可用于状况监测以及失效预防过程。典型应用领域包括军队，航空，铁路，远洋船队，公共和私人运输公司，矿山，炼油厂，电厂，油厂，油料回收，制造厂，高校，研究所，教学，实验室，赛车队以及任何需要对润滑油，变速箱油，燃料，液压油和润滑脂就磨损金属，污染物，添加剂和腐蚀性杂质进行元素分析以开展预防性维护并降低成本的领域。 油料光谱分析仪GNR ROTROIL确定用油中的杂质是设备状况监测程序中的关键诊断方法。如果有基准浓度数据供比较，某种磨损金属浓度的增加可看作是早期磨损的预示。污染元素明显增加则预示着润滑液中出现异物，例如会造成磨损或润滑液降解的防冻剂或沙子。该测试方法能识别出元素并确定其浓度，这样就能建立起与时间或距离相关的趋势，同时在出现更严重或灾难性的失效之前能够采取纠正行为。对于舰船的推进系统、传动系统、起重运输设备、可变螺旋桨液压系统的润滑油的元素含量进行检测，从而判断该润滑系统的运行状态，为船舶设备安全运行提供保障。 ROTROIL是用于润滑油及制冷液中磨损金属和污染物同步分析的光电直读光谱仪。可分析测试润滑油、燃料油、液压油及其它液态油类中的各种相关元素。ROTROIL设计紧凑、可移动且便于使用，适用于实验室及现场，可用于诊断及维护。无需载气或样品稀释。 技术参数：主机电源：220V AC / 50Hz能耗：500W体积：86 x 73 x 1125px重量：~85kg光学系统帕邢-龙格法光学装校（全谱）原理：采用ASTM D6595标准，盘棒电极火花直读光谱，带转盘式送样装置，带内置自动削笔器激发源：高重复率交流脉冲电弧光源直接光输出，无需光纤焦距：500 mm自动背景校正预装超过160条分析线，便于未来升级光谱范围：210 ~ 600 nm（190 ~ 800nm）；数据采集系统基于32位AD DSA微处理器的单积分器专利GNR数据采集系统，完全由内置的计算机控制。软件电脑自动校准曲线拟合（基于拉格朗日二次多项插值进行自动曲线拟合,可人工进行设置）校准和分析单位：ppm或%图形显示或打印曲线无上限校准曲线存储量（存储量由硬盘大小决定）用户选择打印输出元素格式及先后顺序自动监测范围：0 ~ 10,000ppm，分辨率：0.01 ~ 1.00ppm可编制不同的测试报告储存及重现样品分析结果（统计数据例如标准偏差、相对标准偏差、平均值、最小/最大值） 主要特点： ü 元素分析范围：Fe、Al、Cr、Ag、Cu、Ni、Pb、Sn、Ca、Mg、Si、Ti、Na、Sb、V、B、Ba、Mo、Zn、P、Cd、Mn、K、Li等24种元素含量，最多可扩充至32中元素。ü 元素测量范围：锌、磷、钡、硅元素0-6000ppm，其他元素0-1000ppm。ü 重复性和准确度: 仪器检测结果的重复性和准确性符合ASTMD6595标准。ü 分析时间：在30秒时间内完成所有元素定量分析，生成数据报告并可打印出分析结果。ü 样品制备: 无需对样品进行预处理，取样后直接上机分析。ü 在Windows操作界面下工作的控制软件，全自动完成实验过程ü 根据同一参考标准，分析软件自动进行重新标定 ü 30秒内自动同步读出结果 ü 该仪器是基于MIL-S-83129A标准设计建造的；结果符合ASTM6595标准及DoD美军联合用油分析计划（Joint Oil Analysis Program, JOAP） ü 软件功能强大，可在简明人机方式下进行完整的系统设置和标定。存储和提取样品分析数据，统计分析数据并打印分析结果。

Max ION防静电离子棒的每个单独发射器都可以电容耦合到高压上。因此，当意外触摸发射器时，您不会有电击。无电感坚固耐用的Max ION防静电离子棒具有强化的外形，可很大限度地减少意外弯曲造成的损害。Max ION背面的滑动插槽使用户能够根据需要定位安装螺栓，从而提高安装灵活性。使用刷子可轻易清洁发射器污垢，您可以轻松地将污染物从两端扫出。 特点工作距离可达400 毫米由于玻璃纤维增强塑料外形，防静电离子棒变形的风险越小触摸发射器无电击感紧凑型尺寸铝合金材质深圳市荣盛源科技有限公司 ( VSY-Technology Co.,Ltd )，成立于2009年。我们一直专注于电子/工业领域的静电控制，静电接地与在线监测与防护系统、静电驻极设备、除尘洁净设备及IML模内静电贴标的应用设计、研制和销售一体的供应商。二十年来紧跟现代工业生产的步伐并不断学习钻研和累积，非常了解现代各工业领域生产环节上所碰到的相关问题。在IML模内贴标、包装、电子组装、静电驻极等方面的非标设计和解决方案！我们将秉承务实、负责的经营理念为大家提供适合的服务和解决方案！电子应用：静电控制设备、无尘室洁净设备、除静电表面清洁机、净化环境工程解决方案；工业应用：静电控制设备、薄膜/片材表面洁净、印染涂布、纸品印刷除尘洁净系统、覆膜贴合、无纺布静电应用配套设计；包装应用： IML模内静电自动贴标、食品包装非标静电发射器的设计与解决方案；接地检测：人员与设备的静电在线检测和监控；防静电耗材：导电材料、导电毛刷、防静电袋、屏蔽袋。

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E5000电弧直读发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析准确度高、稳定性好等优点，E5000发射光谱仪拥有高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计如下： E5000发射光谱仪产品结构设计 ●电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术● Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的常规元素●紧凑的小型台式设计，稳定可靠、易用便捷●防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大●高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供合适的分析方法●多重连锁和监控，确保操作安全可靠●全自动电极激光对准系统●粉末样品直接进样，方便迅速●一键激发，立刻获得分析结果●内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率●软件开放所有高级功能，为客户提供方法开发平台 E5000发射光谱仪全谱测量技术●全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发●基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度- 方便查看谱线及干扰情况- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式●自动谱线去干扰算法- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰●根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保障分析精度- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围 背景扣除 多峰拟合 适配曲线 CCD高速数采系统●防溢出线阵CCD●采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围 Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统● 恒温型全固定光学系统● 全反射式光路● 光室结构紧凑● 一体式固定● 光学器件少，性能稳定● 基于CCD的全谱采集和分析 电弧数控光源●数控光源体积小、效率高●基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节●分析不同含量的元素，选择激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度●可设置及读取不同检测阶段的数据 一键激发及全自动对准电极●样品装载激发一气呵成，方便快捷●多元素同时分析，直接得到最终结果●设计精良的电极挟持旋钮●红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术●水冷电极夹提高检测稳定性 多重连锁和安全保护●可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热●实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒●界面上有关键温度的显示，优先查看仪器的运行情况●排风监控，消除废气影响●特殊的风道设计提高稳定性 分析软件●便捷易用的分析软件- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节 软件界面●强大的多元素分析平台- 便捷的全谱查看- 多元素分析及多谱线选择- 一键激发，直接在软件上得到分析结果- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择●全面智能的软件算法- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法- 处理功能，为客户带来不一样的分析体验 E5000发射光谱仪内置工作曲线及基底扣除● 智能漂移校正技术利用全谱丰富的谱线信息，自动完成仪器校正，使得分析数据更稳定

半球发射率是指热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全辐射体（黑体）的辐射出射度的比值，体现了材料在特定温度下相对黑体的辐射能力。PM-E2半球发射率测定仪测量半球放射率，适合太阳能电池组件，建筑隔热涂料，热控涂层等材料开发，工厂热能有效利用和节能设计。PM-E2半球发射率测定仪测量原理PM-E2半球发射率测量举例PM-E2半球发射率测定仪技术规格系统组成仪器包含积分球测量单元，光源，数据显示的操作单元。校正低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).测定方法 半球发射率εH半球发射率测定范围 0.05～0.95检测器波长范围 0.6～42μm（300K理论黑体总放射能量的95%）测定的不确定性 半球发射率值±0.03测定时间 1～3分基准样品 低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)高半球发射率εH=0.85@293K（Sheldahl制）电源 DC12V1A尺寸规格 操作部分：W145×D82×H32 (mm)测定部分：W125×D60×高74 (mm)重量 操作部分：约200g测定部分：约700g储存环境 温度：10～45℃湿度：50%RH附件 使用手册CD（驱动程序）USB数据线 (Type A－Type B)电源线

仪器简介：与日本冶金行业共同进步的岛津为您提供---光电发射光谱仪 PDA系列岛津多年来向世界提供在金属质量管理中必不可少的光电发射光谱仪，如今又推出了集各项精华于一体的PDA-7000。标准配置岛津独创的时间分解PDA测光法，强有力地支持质量管理分析。· 稳定性提高采用新设计的机身/发光台，使稳定性大幅提高。 · 分析精度提高采用新设计的发光台和适合分析范围的最适合的发光条件，从高含量到微量的元素均可进行高精度分析。 · 钢铁中氮的高灵敏度分析氮的检测下限达5ppm。在炉中分析中，达到了可以代替气体分析仪的水平。 · 标准配备高功能配备一直获得好评的PDA时间分解测光、形态分析处理功能。 · 丰富的产品系列，应对多种用途。&rarr 产品系列的详细内容钢铁、铝、镁、铜、锌、锡、钛、镍、钴等各种固体金属的基体金属、合金中的组成元素、杂质微量元素的定量 ：PDA-7000· 出色的成绩长期以来，与冶金行业共同发展，积累了丰富的技术信息。&rarr 应用实例 ※外观及规格如有变动，恕不另行通知。发射光谱分析：（OES：Optical Emission Spectroscopy） 所谓发射光谱分析是指使用放电等离子体蒸发气化来激发样品中的目标元素，根据得到的元素固有的亮线光谱（原子光谱）的波长进行定性，并根据发光强度进行定量的分析方法。 广义上讲，激发放电（光源）还包括使用ICP（Inductively coupled plasma 电感耦合等离子体）作为激发放电（光源）的ICP发射光谱分析。但发射光谱分析（发光分析）或光电测光式发射光谱分析，是指使用火花放电/直流电弧放电 /辉光放电作为激发放电的发射光谱分析。发射光谱分析中，在固体金属样品和与电极之间发生放电。 岛津的发射光谱分析装置是在氩气氛围中进行火花放电，对火花脉冲的发光进行统计处理，采用可提高测定重现性（精度）的方式（PDA测光方式：Pulse Distribution Analysis）。 发射光谱分析装置可快速测定固体金属样品的元素组成，是在炼铁、铝冶炼工艺管理用中必不可少的手段。其他咨询

ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪产品介绍： ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪是公司经多年技术积累而开发的电感耦合等离子体发射光谱仪，用于测定各种物质（可溶解于盐酸、硝酸、氢氟酸等）中的微量、痕量金属元素或非金属元素的含量，自动化程度高、操作简便、稳定可靠。 ICP-6800SD型电感耦合等离子体发射光谱仪广泛应用于稀土、地质、冶金、化工、环保、临床医药、石油制品、半导体、食品、生物样品、刑事科学、农业研究等各个领域。工作环境：内容 适应范围贮存运输温度 15℃-25℃贮存运输相对湿度 ≤70％大气压 86-106 kPa电源适应能力 220±10v 50-60MHz工作湿度 ≤70％工作温度 15℃-30℃ 技术指标：固态电源技术指标电路类型：电感反馈式自激振荡电路，同轴电缆输出，匹配调谐，功率反馈闭环自动控制工作频率：27.12MHz±0.05%频率稳定性：＜0.1%输出功率：800W—1200W输出功率稳定性：＜0.3%电磁场泄漏辐射强度：距机箱30cm处电场强度E：＜2V/m 进样系统技术指标输出工作线圈内径25mm矩管，三同心型，外径20mm的石英矩管同轴型喷雾器外径6mm双筒形雾室外径34mm 氩气流量计规格和载气压力表规格1.等离子气流量计（100-1000）L/h (1.6-16L/min)2.辅助气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)3.载气流量计（10-100）L/h (0.16-1.66L/min)4.载气稳压阀（0-0.4MPa）5.冷却循环水：水温20-25℃ 流量5L/min 水压0.1MPa 单色器技术指标光路：Czerny-Turner焦距：1000mm光栅规格：离子刻蚀全息光栅，刻线密度3600线/mm(可选用刻线密度2400线/mm)线色散率倒数：0.26nm/mm分辨率：≤0.007nm(3600刻线）. ≤0.015nm(2400刻线）扫描波长范围：3600线/mm扫描波长范围：190—500nm 2400线/mm扫描波长范围：190—800nm步进电机驱动最小步距:0.0006 nm出射狭缝：12μm入射狭缝：10μm 光电转换器技术指标光电倍增管规格：R293或R298光电倍增管负高压：0-1000V稳定性＜0.05% 整机技术指标：扫描波长范围：195nm～500nm（3600L/mm光栅）195nm～800nm（2400L/mm 光栅）重复性：（即短期稳定度）相对标准偏差RSD≤1.5％稳定性：相对标准偏差RSD≤2％

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

阴极发射体 Kimball Physics设计和制造各种高性能电子发射器，以满足客户的各种需求。这些发射器专为高亮度、长寿命或坚固的可靠性而设计，用于Kimball Physics电子枪以及我们客户的高性能仪器和工具。阴极/发射器既有标准产品，也有定制设计，应用包括电子显微镜、光刻、X射线生成、自由电子激光器、电子加速器等。阴极发射体阴极类型： 阴极发射体基座类型：● 六硼化镧（LaB6）高亮度单晶 ● 带有Kovar或钼引脚的高公差陶瓷 LaB6高亮度单晶——标准和保护环 ● 标准陶瓷AEI底座 LaB6用于电子显微镜-适用于大多数系统 ● Compact Kimball Physics CB-104基座● 圆盘阴极 ● 各种显微镜底座 钽（Ta）标准耐火圆盘 ● 阴极也可以安装在客户提供的底座上 用于低温操作的氧化钡（BaO）涂层圆盘 钇（Y2O3）涂层铱盘，可承受较差的真空度阴极发射体选型参考表* electron microscope Bases Available: Zeiss, VG-AEI replacement, VG, Philips, Perkin Elmer/ ETEC, Leica-AEI, JEOL-K, JEOL-GC (JSM, JEOL-E, ISI 2-pin, Hitachi S, ETEC, Electroscan-AEI, Camscan-AEI, Cameca-AEI, BioRad-AEI, Amray, AEI* Configurations Available: Code (Cone angle – microflat size(microns): 60-06, 90-15, 90-20Note- not all combinations are available (Cone angle, microflat dimension, with/without GR and base style, or Disc dimension and base). However, custom options are often available.** Richardson constant (A/m2K2 ) LaB6 = 29, Other materials for reference CeB6 = 3.6★★★ 更多电镜方面产品信息，比如，磁透镜、真空腔等，可咨询上海昊量光电设备有限公司。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

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岛津光电直读光谱仪PDA-8000仪器简介：PDA-8000是岛津公司2010年推出的最新一款光电发射光谱仪，集合了岛津光电发射光谱仪之精华，突出了高灵敏度、高稳定性的特点，尤其在高纯有色金属、钢铁中酸溶铝、夹杂物方面的分析有着独特的技术。性能特点：1）高分辨率分光器最新设计的1米光栅分光室，可以有效减少元素间的分光干扰。同时，为了提高对C、N等元素的分析精度，通过2次或3次等高次线进行分析，分辨率得到有效提高。2）实时能量监控（REM）功能通过增设实时能量监控功能可监视光源能量是否激发成功，激发能量为0.02J-0.6J（可以0.02J为单位步进进行设定）。即时掌握电极和样品间的发光放电是否正常（是否由于样品本身造成放电异常）从而只收集正常放电时的谱峰强度数据。对不正常放电时的脉冲不进行计数，提高分析稳定性。3）定电流放电（CRS）技术为了实现对高纯有色金属微量元素的良好分析，首次使用了定电流放电技术，即电弧放电后段，电流持续保持在10A，放电持续时间最大可达2msec，从而微量元素的灵敏度及稳定性可以得到有效提高。4）强大的软件控制功能（最新设计，操作简单，实现人机对话功能）中/英文分析软件，具有强大的数据处理能力及人性化的对话窗口，简单易懂。软件可以监控仪器各单元运行状态，并在仪器操作界面显示；有自动诊断功能，并提供简单解决方案及操作方法；在线帮助功能，自动校正功能，密码保护功能等。

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

FAI 微光发射显微镜（EMMI）FAI Photo Emmission Microscope咨询请点击导航栏 联系方式，直接联系我们。FAI 微光发射显微镜用于检测半导体内部缺陷引起的微光发射或微热发射来准确定位半导体器件的失效位置。通过使用不同类型的探测器，或者配置双激光扫描系统（SIFT），以及配合相应的检测软件来实现对半导体元器件或芯片电路的微光、微热、光激励诱导失效测试等各种分析手段。FAI的Crystal Vision微光发射显微镜系统对所配置探测器的数量没有限制，可选择配置从一个到我们提供的所有型号的探测器和SIFT激光扫描头。主要功能CCD探测器：波长探测范围 365nm 至 1190nm；带电子半导体制冷器（TEC）的CCD探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂；CCD解析度为1280x1024；像素暗电流0.002 电子/秒；读噪声7 个电子；连续收集信号时间从32毫秒至2小时。InGaAs探测器：波长探测范围 900nm – 1750nm；带电子半导体制冷器（TEC）的InGaAs探测器，可冷却稳定在 -40℃以下，无需使用危险的液氮制冷剂； InGaAs探测器分辨率为320x240，像素点尺寸为30 x 30um，更大的像素点面积可以收集更少的光子，探测灵敏度是普通640x480 InGaAs探测器的4倍；连续收集信号时间从1微秒到60分钟；有效波段范围内量子效率（QE）为 80-85%；灵敏度 NEI 1x1010 ph/cm2/sec；量子效率70 QE 在950-1700nm范围内。 VisGaAs 探测器：波长探测范围 500nm – 1800nm，代表了新技术的VisGaAs 探测器覆盖了可见光-红外光波长检测范围，一个探头就可替代传统的CCD和InGaAs 两个探测器；半导体制冷器（TEC） ，可冷却稳定在 -40℃以下。SIFT(Stimulus Induced Fault Testing)双波长激光扫描头：双激光源654nm和1428nm；通过激光扫描芯片电路，导致失效位置电阻发生变化，通过检测反馈信号的变化，从而检测到失效位置；SIFT扫描不受物镜视野限制，可以一次扫描完整整个检测区域，无需图像拼接，避免图像扭曲；FAI的恒定电流附加反馈回路的技术，不但提高了检测灵敏度，而且避免了检测时电压过高的风险；恒定焦距的定镜扫描，可以将激光点停留在任意指定位置，用于确认失效点。FMI荧光热成像技术：FAI的微热分析技术，热分辨率是千分之一K(1/1000K)，可以室温操作，无需使用危险的液晶溶液。LC液晶热成像技术：FAI的SLC（稳定液晶）液晶热成像技术的热分辨率为百分之一K (1/100 K)。Moire云纹成像：从硅片背面采用“云纹图像成像”的方式来检测失效位置的微热变化。

D and S AERD半球发射率测定仪Emissometer可快速测量各种固体表面的发射率。 半球发射率(hemispherical emittance): 热辐射体在半球方向上的辐射出射度与处于相同温度的全幅射体(黑体)的辐射出射度之比值。 原理: 加热探测器内的热电堆，使探测器和试板之间产生温差。该温差与试板的发射率呈线性关系，通过比较高、低发射率标准板与试板表面温差的大小，得出试板的发射率。ASTM C1371-15(2022) Standard Test Method for Determination of Emittance of Materials Near Room Temperature Using Portable Emissometers.(便携式反射率测定仪常温下材料半球发射率的测定)。GB/T 25261-2018 建筑用反射隔热涂料(半球发射率)。GB/T 31389-2015 建筑外墙及屋面用热反射材料技术条件及评价方法(半球发射率的测定-辐射计法)。GJB 2502.3-2015 航天器热控涂层试验方法 第3部分: 发射率测试(辐射计法(方法2031))。HG/T 4341-2012 金属表面用热反射隔热涂料(半球发射率)。JG/T 235-2014 建筑反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。JG/T 375-2012 金属屋面丙烯酸高弹防水涂料(半球发射率的测定)。JC/T 1040-2020 建筑外表面用热反射隔热涂料(半球发射率的测定-辐射计法)。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 主要特点：1. 发射率数字显示，从0.01～1.00，重复性±0.01。2. 测量时间短(约15秒)。3. 低价格，且操作容易。便携式半球反射率测定仪 D and S AERD 技术参数： 检测器部份:测定波长: 3～30μm。 重复性: ±0.01发射度単位。 输出: 约2.5mV。 响应时间: 约10秒。 电源: AC100～240V。 主机部份:精度: 显示値±0.3%。 环境温度: -10?40℃。 尺寸: 80(W)x152(D)X51(H)mm。 电源: DC9V。 重量: 约370克。京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

产品简介：名称：SAMOS声发射系统品牌/产地：美国型号：应用：SAMOS系统是第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。 详细介绍：SAMOS系统是PAC公司第三代全数字化系统，其核心是并行处理PCI总线的声发射功能卡-PCI-8板，在一块板上具有8个通道的实时声发射特征提取、波形采集及处理的能力。是PAC公司目前集成化更高、价格更低的系统，更适用压力容器检测等工程应用。 SAMOS(PCI-8)系统的主要特性：l 每一PCI-8卡具有8个声发射通道；l PCI总线提供声发射数据与PC机的传输速度可达132MB/S；l 每通道4个高通，4个低通模拟滤波器，可通过软件进行控制来组成13个率波段；l 输入电压范围：±10伏；l 每通道自动带有平方器以获取真实能量及RMS信号；l 16位A/D精度，3MHz采样率；l 每个PCI-8卡的2个外参数的输入更新速度可达10000个数据/S；l 并行的FPGA处理器和ASIC IC新片可提供非常高的性能和更低的成本；l 硬件实现的AE特征采集提供高速传输下的高速特征采集及实时分析；l 实时/同步声发射特征抽取及波形采集/分析；l 方便使用的SMB连接头；l 1KHz-400KHz的带宽；l 内置的波形处理功能、DMA技术及PCI总线结构可较大限度的实时采集/处理及传输所有通道的AE参数及波形数据以满足高水平声发射应用的要求；l 数字信号处理器可达到高精度和可信度的要求；l 可提供Labview/C++驱动开发程序。 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

产品简介：名称：声发射系统主机品牌/产地：美国型号：应用：通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 详细介绍： 通用性的PCI插槽式系统，提供较大的整机性能，方便的一机多系统，增强了用户的自主选择。一般可以插4、6、14块卡，用于PCI-8卡可构成最多32、48、112通道系统；用于PCI-2卡可构成最多8、12、28通道系统。 天候在线监测系统SH-II（SHM） 4通道无线系统1284 USB总线专用声发射仪 单机较大通道（112通道）机箱SAMOS-112 核电专用机柜LPMS 两通道掌上系统 咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数 ET100 便携式红外发射率测量仪 符合标准 ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比 波段 6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

TIR 100-2发射率快速测定仪德国原装进口！简要描述： TIR100-2 是一款紧密型手持式测定仪，用于测量无损的表面的发射率。测量元件,操作界面,控制设备还有输出电路全部集于该手持式测量设备中。该设备的运行只需要一个电源供电，通过一个触摸屏对设备进行操作。 TIR100-2 可以用于涂料的质量控制，也可以用于协助实验室中的多种研发试验。用于玻璃的测量，测量结果与EN 12898的结果相同。涂层材料的发射率测量符合prEN 15976标准。具体功能： 被测目标表面接收100℃半球形黑体辐射出的红外辐射，目标表面反射的红外辐射被接收测出反射率并根据校准值得到发射率。校准值由校准标准得到。测量结果直接显示在触摸屏上。 该设备配套有一个详细的手册，关于设备的原理、测量步骤和精密的测量方法。 典型应用:&bull 镀膜玻璃的质量检测&bull 太阳能集热器涂层的质量检测&bull 箔片涂层的质量检测 &bull 卫星的热涂层的质量检测 技术参数：测量范围发射率 0,020 … 0,980重复精度 (精度): +- 0,005 (lowE)..+-0,01(hiE)波段2,5 µ m - 40 µ m能量最强波段8 µ m黑黑体温度100 °C测量时间5 sec测量光斑ca. 5 mm功率 最大. 130 W at 230 V~/115 V~接口RS232 (可选的输出接口) 尺寸230 mm x 140 mm x 120 mm 重量2,0 kg 校准标准低发射端: 抛光铝高发射端: 黑色遮光罩 参考发射率低发射端标准值 ~ 0,012高发射端标准值 0,96个别校准可参考国家物理实验室校准标注

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射 波段区间 335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间10秒/次；90秒预热 光源 VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪 测量参数 定向半球反射比 (DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 发射率 波段 2个波段：3~5、8~12μm 入射角 20°法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR 源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境： -25~70℃； 操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池