电子数粒仪

仪器用途SLY-E高精度电子自动数粒仪是一台具备称重功能的电子自动数粒仪产品，可以自动数粒及自动称重，适用于大粒长种子、大粒圆种子、中粒长种子、中粒圆种子、小粒长种子、小粒圆种子等不同颗粒种子。功能特点超大触摸屏设计：7寸彩色触摸屏，增强用户人机交互体验 数粒盘速度可调：高精度电子自动数粒仪具有无极调速功能，数粒速度快慢可调精准计数：出料通道可调节，只对所选量级的颗粒计数，避免杂质等干扰高精度称重：内置高精度重力传感器，可自动称重、自动数粒、自动计算千粒重自动减速，数粒更精准：在接近设定籽粒数量后进行减速精数，提高数粒精度数据自动记录：对所测数据可进行自动记录和保存，随时查看历史数据数据导出：支持USB数据导出技术参数种子长度：1-23mm计数误差：±2‰计数速度：≥1000粒/3分钟（以芝麻为例）震动噪音：≤80dB计数容量：1~99999粒称重范围：0~1000g称重精度：±0.2g整机尺寸：长525mm*宽372mm*高351mm仪器重量：27.5kg外接电源：220VAC/50Hz和110VAC/60Hz兼容功率：220V/AC20W，110V/AC14W工作环境：环境温度：-10℃~50℃；相对湿度：＜85%

数显电子折断力仪安瓿折断力测试仪主要应用于精确测量安瓿瓶颈与瓶身分开所需要的折断力,执行GB2637、YBB00332002标准中对安瓿瓶药品包装的折断力试验的测试要求。适用于研究机构、制药企业、检验检疫等机构。 工作原理将试样装夹在两个夹头之间,两夹头做相对运动,通过特殊夹头将安瓿瓶颈与平身分开,通过仪器测试此过程中的力值变化与位移变化.从而得出相应力值数据. 技术特征结构紧凑、精巧、人性化结构设计大液晶、电脑软件双操作系统丝杠传动系统速度随意调节,位移准确.可进行微型打印机、办公打印机双打印系统人性化夹具，可以任意变换夹具 技术参数1、 测量范围： 0-300N （其他量程可定制）2、 测量误差：±1%3、 分辨率：0.01N4、 测量速度： 10mm/min（1-500mm/min无极变速）5、 速度精度：±2%精度6、 支架距离：1、2、3、5、10、20、25ML（根据客户规格配备） 7、 机器尺寸： 46cm（L）×30cm（W） ×38cm（H） ；8、 机器重量：18Kg9、 使用电源：220V,50HZ； 标准GB2637、YBB00332002安瓿折断力测试仪配置标准配置：主机、微型打印机、折断力夹具、测试软件、通信电缆数显电子折断力仪此为广告

仪器介绍SLY-D数粒仪是一款电子自动数粒仪，适用于水稻、小麦、玉米、油菜、芝麻、花卉、蔬菜等种子自动数粒，应用范围广，数粒准确，快速。 功能特点1、超大触摸屏设计：7寸彩色触摸屏，智能化动感画面，增强用户人机交互体验。2、预值设置，满值自停：当计数达到预设粒数时，数粒盘会自动停止工作，也可循环批量数粒。3、数据记录：对所测数据可进行自动记录和保存，包含品种名称、测量粒数、计数时间和测试时间等。4、数据导出：支持U盘对数据进行Excel导出。 技术参数种子长度：1－23mm计数误差：±2‰（档位速度和种子振动中脱落的皮屑会影响计数精度）计数速度：≥1000粒/3分钟（以芝麻为例）震动噪音：≤80dB计数容量：1～99999仪器尺寸：长370mm*宽365mm*高315mm仪器重量：19.5kg外接电源：220VAC/50Hz和110 VAC/60Hz兼容功率：220V/AC 15W，110V/AC 15W

品牌：Elionix型号：ELS-F125/F100/HS50电子束曝光，电子束直写，电子束光刻用途：利用电子束在抗蚀剂上书写纳米级图案，通过ELB设备曝光和显影，可用于加工sub-10nm的精细结构。一、简介ELS-F125是Elionix推出的世界上最早的加速电压高达125KV的电子束曝光系统之一，其可加工线宽下限为5nm的精细图形。(以下参数基于ELS-F125)ELS-F125具有以下优点：l 超高书写精度- 5 nm 线宽精度 @ 125 kV- 1.7 nm 电子束直径&邻近效应最小化 @ 125 kVl 高通量、均匀性好- 超大视野书写:500um视场下10 nm线宽- 高束流下电子束直径依然很小，高通量而不影响分辨率，2 nm 电子束直径@ 1 nAl 界面用户友好基于Windows系统的CAD和SEM界面:-简单易用的图案设计功能-易于控制的电子束条件二、主要功能l 主要应用纳米器件的微结构集成光学器件，如光栅，光子晶体等NEMS结构，复杂精细结构光刻掩模板，压印模板l 技术能力型号ELS-F125ELS-F100ELS-HS50电子枪ZrO/W 热场发射枪ZrO/W 热场发射枪ZrO/W 热场发射枪加速电压125 kV, 75 kV, 25 kV100 kV, 50 kV, 25 kV50 kV, 20 kV最小束流直径Φ 1.7 nm (@ 125 kV)Φ 1.8 nm (@ 100 kV)Φ 2.8nm (@ 50 kV,1 nA)最小线宽5 nm or less (@125 kV)6 nm or less (@100 kV)20 nm (@ 50 kV, 2 nA)电子束束流5 pA to 100 nA20 pA to 100 nA1 nA to 1 μA视场范围Max. 3,000 μm ｘ 3,000 μmMax. 3,000 μm ｘ 3,000 μmMax. 3,000 μm ｘ 3,000 μmMin. 100 μm ｘ 100 μmMin. 100 μm ｘ 100 μmMin. 100 μm ｘ 100 μm束流定位Max. 1,000,000 ｘ 1,000,000 (20bit DAC)Max. 1,000,000 ｘ 1,000,000 (20bit DAC)Max. 1,000,000 ｘ 1,000,000 (20bit DAC)束流定位分辨率Min. 0.1 nmMin. 0.1 nmMin. 0.1 nm大样品尺寸8" wafer or 7" square mask8" wafer or 7" square mask8" wafer or 7" square mask三、应用

品牌：Elionix型号：ELS-F125/F100/HS50关键词标签：电子束曝光，电子束直写简短描述：（40字）：利用电子束在抗蚀剂上书写纳米级图案，通过ELB设备曝光和显影，可用于加工sub-10nm的精细结构。一、简介ELS-F125是Elionix推出的世界上最早的加速电压高达125KV的电子束曝光系统之一，其可加工线宽下限为5nm的精细图形。(以下参数基于ELS-F125)ELS-F125具有以下优点：l 超高书写精度- 5 nm 线宽精度 @ 125 kV- 1.7 nm 电子束直径&邻近效应最小化 @ 125 kVl 高通量、均匀性好- 超大视野书写:500um视场下10 nm线宽- 高束流下电子束直径依然很小，高通量而不影响分辨率，2 nm 电子束直径@ 1 nAl 界面用户友好基于Windows系统的CAD和SEM界面:-简单易用的图案设计功能-易于控制的电子束条件二、主要功能l 主要应用纳米器件的微结构集成光学器件，如光栅，光子晶体等NEMS结构，复杂精细结构光刻掩模板，压印模板l 技术能力型号ELS-F125ELS-F100ELS-HS50电子枪ZrO/W 热场发射枪ZrO/W 热场发射枪ZrO/W 热场发射枪加速电压125 kV, 75 kV, 25 kV100 kV, 50 kV, 25 kV50 kV, 20 kV最小束流直径Φ 1.7 nm (@ 125 kV)Φ 1.8 nm (@ 100 kV)Φ 2.8nm (@ 50 kV,1 nA)最小线宽5 nm or less (@125 kV)6 nm or less (@100 kV)20 nm (@ 50 kV, 2 nA)电子束束流5 pA to 100 nA20 pA to 100 nA1 nA to 1 μA视场范围Max. 3,000 μm ｘ 3,000 μmMax. 3,000 μm ｘ 3,000 μmMax. 3,000 μm ｘ 3,000 μmMin. 100 μm ｘ 100 μmMin. 100 μm ｘ 100 μmMin. 100 μm ｘ 100 μm束流定位Max. 1,000,000 ｘ 1,000,000 (20bit DAC)Max. 1,000,000 ｘ 1,000,000 (20bit DAC)Max. 1,000,000 ｘ 1,000,000 (20bit DAC)束流定位分辨率Min. 0.1 nmMin. 0.1 nmMin. 0.1 nm大样品尺寸8" wafer or 7" square mask8" wafer or 7" square mask8" wafer or 7" square mask三、应用

机台型号：ZB-302型 电子数显橡胶塑料密度计一.概述ZB-302型电子数显橡胶塑料密度计，使用水当介质，仅二个步骤，即可显示密度值。与传统密度计相比，本机无需人工计算，更方便、更快速、更省时。显著的特点是：测量准确、操作简便、稳定耐用。本机采用一体注塑成形测量架；一体注塑成形透明水槽，专业、方便、防腐蚀、耐摔、耐破；水中吊线采用0.5mm不锈钢材料，不弯不变形、与吊栏垂直不碰触水槽。 主要针对：橡胶、塑胶、电线电缆、电工电器、体育器材、轮胎、玻璃制品、硬质合金、新材料研究实验室。依据：ASTM D792、 ASTM D297、 GB/T1033、GB/T2951、 GB/T3850、 GB/T533、 HG4-1468、 JIS K6268、 ISO 2781、ISO 1183等标准规范。二.技术参数：1. 型 号：ZB-302 2. 密度解析：0.001 g/cm3 3. 称重上限：300g 4. 称重下限：0.01g 5. 测量种类：任何固体形态之密度----橡胶制品、塑胶制品、金属制品、塑料颗粒、薄膜、浮体、粉末、密封圈、发泡体、粘稠体、紧固件、管材、板材等类似产品。三.特点：1.快速测试，更有效率，更适合现场快速多次测试 2. PVC颗粒、EVA发泡体、PE薄膜、碳酸钙粉末、硫化后橡胶、密封圈…等类似产品皆能快速测量 3. 测量准确、操作简便顺畅、耐用、经济 4.全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能 5.具有实际水温补偿功能 6.使用水作介质，也可使用其它液体介质 7.采用一体成形大容量测量配件（尺寸：长15.3 ×宽10.7 ×高8.0cm），水槽防腐蚀、耐摔、耐破。

电子束束闸用于开关扫描电镜电子束（打开和关闭电子束），这种功能主要需要用于电子束光刻，有时EDX、CL或EBIC也需要使用。许多SEM都有一个内置的电子束开关，通过用扫描线圈使电子束关闭。虽然这种方法适用于某些应用，但它通常在数毫秒内完成开关，如果需要更快的关闭速度，应该安装一个单独的电场型束闸。DEBEN PCD型电子束闸适配与场发射扫描、钨灯丝扫描和六硼化镧扫描电镜，为其提供高速关闭电镜束，脉冲开关电子束以及其他形式的电子束控制。n 电子束光刻n 阴极荧光n EBIC/电压对比n EDXn 电子声学显微镜 n 集成法拉第杯n 50nS开关频率n 电动插入n 5V TTL输入n RS-232遥控 n 1MHz最大频率n 可用于JEOL和Hitachi SEMs束闸安装与电镜镜筒PCD端口（物镜光栏对面）30kV电压下具有50ns的开关速度。集成一个法拉第杯在束闸前端，具备测量电子束束流强度的能力。如果您需要一个更加精确的电流数据，束闸的尾部具有一个BNC接口，允许外接皮安表读取。束闸极板由钴金涂层的磷青铜制成，以确保在插入板时不影响扫描电镜的正常运行。极板可以伸到电子束光路中使用，在不使用时缩回。极板的长度和间距是一个开关效率最佳的设计，可适用的电镜电压范围1kV~30kV。

全自动谷物数粒仪,种子数粒仪,AIDEX精密种子计数器（颗粒计数器）数粒计数器AIDEX精密种子计数器可用于各类种子的计数如:花，草，蔬菜，玉米，稻谷，大豆，小麦等的计数，是种子、颗粒计数的精密仪器设备，可用于育种实验室，也可作为成套生产设备，减少人工强度。也设备也可用于所有颗粒计数领域或电子器件的计数。可计量进料盘颗粒的总数，也可用于给定数量的分包装。說明: 精密種子計數器測定種類： 水稻種子、糙米、白米等種子、亦可計數電子零件 計數顯示：數位顯示，5位數。 計數對象：水稻種子、糙米、白米 供料方式：電磁供料器 使用電源：110V~230V 迴轉盤迴轉器：可變速式容器數目：10個 直徑60㎜，高90㎜ 操作方式：可自動、手動變換運轉 外觀尺寸：160(H)，380(W)，330(D)㎜ 供料器 處理能力：1.0公升以上 尺寸：160(H)，170(W)，230(D)㎜ 處理速度：600粒以上/分鐘 可設定計數所需個數，計數完成後自動停止 可進行至少10回合連續計數(Turntable)

日本Elionix 微细加式电子束曝光电子束直写机ELS-F125/F100/HS50 ELS-F125是Elionix推出的世界上首台加速电压达125KV的电子束曝光系统，其可加工线宽下限为5nm的精细图形。(以下参数基于ELS-F125) ELS-F125具有以下优点： l 。超高书写精度- 5 nm 线宽精度 @125 kV- 1.7 nm 电子束直径&邻近效应小化 @125 kV 2. 大通量、均匀性好- 宽视野书写:500um视场下10 nm线宽- 高束流下电子束直径依然很小，大通量而不影响分辨率，2 nm电子束直径@1 nA 3. 界面用户友好基于Windows系统的CAD和SEM界面:-简单易用的图案设计功能-易于控制的电子束条件 二、主要功能 2.1 主要应用纳米器件的微结构集成光学器件，如光栅，光子晶体等NEMS结构，复杂精细结构光刻掩模板，压印模板 2.2 技术能力 三、应用

产品介绍 瓶壁厚度测试仪是 PET 饮料瓶、罐头瓶、玻璃瓶、铝罐等包装容器理想测量仪器 适用于纹路复杂的包装容器壁厚、底厚的精确测量。具有方便、耐用、精度高、价格低廉等优势。广泛应用于玻璃瓶、塑料瓶/桶生产企业及药品、保健品、化妆品、饮料、食用油、酒类生产企业。 产品特征：1. 可针对异形试样定制测量杆2. 适用于玻璃瓶、矿泉水瓶等纹路复杂的试样 3. 瓶底、瓶壁厚度测试一机完成 4. 超标准高精度表头 5. 机械式设计简单耐用 6. 大、小试样灵活可测 7. 液晶数字显示产品标准GB2637-1995、GB/T2639-2008、YBB00332002 技术参数 1.测量范围 : 0-10mm2.分 度 值:0.001mm3.样品直径 : 10-120mm （其他尺寸可定制）4.样品高度:10-290mm（其他尺寸可定制）5.配置：主机、触摸屏、微型打印机普创-电子数显瓶壁厚测试仪-BT-02 普创-电子数显瓶壁厚测试仪-BT-02

电子数显橡塑胶密度测试仪DH-300------数显、测量精准、操作简便、稳定耐用电子数显橡塑胶密度测试仪适用于：橡胶制品、轮胎、高分子、复合材料、鞋材、密封件产业、新材料研究验室依据：ASTM D297、GB/T533、ISO2781、DIN53516、GB/9867…等标准。DH-300可快速测量橡胶的密度，使用水当测量介质，只需二个步骤，即可显示密度，测量精密度千分之一。与传统比重计相比，本机采用一体注塑成形测量配件，一体成形透明水槽，防腐蚀、耐摔、不易破；水中吊线采用0.5mm不锈钢材料，不弯不变形，与吊栏垂直不碰触水槽。DH-300测量精准、操作方便、稳定耐用、不易坏等特点。理论基础：橡胶：密度本身是橡胶材料的基本特性之一，由于制造产品的不同，添加高分子配方和硫化程度也跟随着不同。而密度又和硬度、拉力强度、延伸性、耐磨性、变形歪曲量、反弹性、浸油膨胀…互有影响。所以除了本身的特性外，加硫前后其密度、体积将伴随着加硫之多寡和硫化的程度而有所改变，其物理性质也会有所不同。故橡胶在加硫前后必须量测密度值。在橡胶的网状结构中﹐硫磺交联键的密度﹐决定着橡胶的硫化程度。油封：目的就是防止漏油现象出现。油封产品的制造厂会量测油封产品浸泡重油前的体积和浸泡重油后的体积。其目地是检测油封产品的体积膨胀率详细技术参数：1. 密度解析：0.001 g/cm32. 最大称重：300g3. 最小称重：0.005g/0.01g4. 测量范围：0.001—99.999g/cm3主要特点功能：1.各种橡胶制品、硫化后产品、O形密封圈、塑胶制品、颗粒、粉末、金属 …皆能快速测量2.测量精度高、操作简便、舒适、耐用、经济3.全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能4.具有实际水温设定功能5.针对不同特性产品，可使用不同比较介质，本机默认使用水作溶液介质6.采用一体成形大容量测量配件，一体成形透明水槽、防腐蚀、耐摔、不易破7.配置专用防风防尘罩，组合方便、坚固8.含RS-232C通信接口，方便连接PC与打印机，可选购DE-40打印机打印测量数据标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥100G砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件一套、⑨测浮体配件一套、⑩电源变压器一个电子数显橡塑胶密度测试仪测量步骤：①将产品放入测量台，测空气中重量，按ENTER键记忆。②将产品放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示密度值。

电子数显橡塑胶密度仪DH-300测量步骤：①将产品放入测量台，测空气中重量，按ENTER键记忆。②将产品放入水中测水中重量，按ENTER键记忆，显示密度值。电子数显橡塑胶密度仪DH-300------数显、测量精准、操作简便、稳定耐用电子数显橡塑胶密度仪适用于：橡胶制品、轮胎、高分子、复合材料、鞋材、密封件产业、新材料研究验室依据：ASTM D297、GB/T533、ISO2781、DIN53516、GB/9867…等标准。DH-300可快速测量橡胶的密度，使用水当测量介质，只需二个步骤，即可显示密度，测量精密度千分之一。与传统比重计相比，本机采用一体注塑成形测量配件，一体成形透明水槽，防腐蚀、耐摔、不易破；水中吊线采用0.5mm不锈钢材料，不弯不变形，与吊栏垂直不碰触水槽。DH-300测量精准、操作方便、稳定耐用、不易坏等特点。理论基础：橡胶：密度本身是橡胶材料的基本特性之一，由于制造产品的不同，添加高分子配方和硫化程度也跟随着不同。而密度又和硬度、拉力强度、延伸性、耐磨性、变形歪曲量、反弹性、浸油膨胀…互有影响。所以除了本身的特性外，加硫前后其密度、体积将伴随着加硫之多寡和硫化的程度而有所改变，其物理性质也会有所不同。故橡胶在加硫前后必须量测密度值。在橡胶的网状结构中﹐硫磺交联键的密度﹐决定着橡胶的硫化程度。油封：目的就是防止漏油现象出现。油封产品的制造厂会量测油封产品浸泡重油前的体积和浸泡重油后的体积。其目地是检测油封产品的体积膨胀率详细技术参数：1. 密度解析：0.001 g/cm32. 最大称重：300g3. 最小称重：0.005g/0.01g4. 测量范围：0.001—99.999g/cm3主要特点功能：1.各种橡胶制品、硫化后产品、O形密封圈、塑胶制品、颗粒、粉末、金属 …皆能快速测量2.测量精度高、操作简便、舒适、耐用、经济3.全自动零点跟踪、蜂鸣器报警、超载报警功能4.具有实际水温设定功能5.针对不同特性产品，可使用不同比较介质，本机默认使用水作溶液介质6.采用一体成形大容量测量配件，一体成形透明水槽、防腐蚀、耐摔、不易破7.配置专用防风防尘罩，组合方便、坚固8.含RS-232C通信接口，方便连接PC与打印机，可选购DE-40打印机打印测量数据标准附件：①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤温度计、⑥100G砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件一套、⑨测浮体配件一套、⑩电源变压器一个

来因科技自动数粒仪_粮食数粒仪适用于玉米、水稻、小麦、黄豆、芝麻、蔬菜等各种农作物种子、瓜菜种子的计数，还可以用于微小工件、珍珠、药粒等物品的快速准确计数。除具备传统数粒仪的数粒功能外还具备自动旋转分样（12个转杯）、自动称重、自动打印记录功能。一、来因科技自动数粒仪_粮食数粒仪功能特点1、外观设计：蓝白彩相间搭配，简洁大方，机构内部空间排布合理，能够将识读和操作部分以更合理的角度位置呈现给用户，人机交互合理。2、模块化设计：根据用户的不同需求不同进行模块功能调整，实现精准的功能输出。3、智能化程序设定：分样型自动数粒仪以数粒为核心，功能覆盖全面，程序设定后，从料仓到转盘全自动大批量分样数粒，减少人工时间。4、无需组装：智能化结构设计，无需组装，接线即可投入使用5、超大触摸屏设计：7寸彩色触摸屏（可定制10.1寸触摸屏），增强用户人机交互体验。6、自定义品种：可以在设置页面自定义需要数粒的品种名称，振动速度、减速速度、灵敏度等。7、自动平均分样、自定义分样：可设置料杯数量和籽粒数量，对每个料杯进行平均分样、自定义分样。8、预值设置、满值自停：当数粒达到所设杯数和粒数时，转盘会自动停止工作。9、旋转多工位设计：当前料杯计数完成后，会自动跳转到下一料杯，可在装袋放置过程中不间断落料，提升工作效率。10、暂停功能：允许在数粒过程中暂停，并在恢复后继续数粒或重新开始。11、来因科技自动数粒仪_粮食数粒仪内置减速程序：在每个料杯接近设定籽粒数量后会自动进行减速精数，防止物料惯性过冲影响精度。12、数粒盘速度可调：分样型自动数粒仪具有无极调速功能，数粒速度快慢可调。13、蜂鸣报警提示：每杯数粒完成滴一声，全部数粒完成长鸣一声，故障时滴滴6声。方便用户时时感知仪器运行的状态。14、灵敏度可调：可以调节灵敏度，适应各种大小形状的种子，提高精确度。15、自动称重：当前料杯计数完成后自动称重并自动计算千粒重，无需外接电子天平16、数粒时间：记录并保存每一杯数粒达到预设值所用时间；17、状态显示：显示仪器当前工作状态：未启动、数粒中、暂停、数粒完成等。18、数据记录：对所测数据可进行自动记录和保存，包含品种名称、测量粒数及重量、千粒重、计数时间和测试时间等。19、数据打印：内嵌热敏不干胶打印机，自动打印数据。打印出的标签数据，可直接粘贴到种子包装袋上。20、历史数据查看：可以在本地查看历史记录，支持翻页，页面跳转功能。21、数据删除：支持历史数据一键删除功能。22、数据导出：支持USB数据一键导出。23、内置中英文双语显示，一键切换，无缝对接。二、来因科技自动数粒仪_粮食数粒仪技术参数种子长度：0.5-23mm计数速度：最大速度1000——2000粒/分钟(计数速度取决于种子颗粒的几何形状和尺寸)计数容量：1——9999粒预置自停：1——9999当中任意数值，置0000不计数运行模式：高速计数完成前自动转为慢速，计数完成后停止计数误差：±2‰数粒盘速度：0-99；灵敏度：0-10；料杯数量：12杯杯子尺寸：60×80mm(H)仪器尺寸和重量：主 机580(W)×390(D)×336(H),24kg接料机360(W)×390(D)×197(H),12kg连续工作时间：≥8小时震动噪音：≤80dB工作环境：环境温度：-10℃——50℃；相对湿度：＜85%电 源：AC/220V 50Hz出口规格：AC100V、110V、200V、240V，50/60Hz来因科技自动数粒仪_粮食数粒仪配置清单：数粒仪、旋转分样接料机（带称重功能）、料杯12个、电源线、落料口2个（一大一小）、标签打印纸6卷、说明书、合格证

电子触觉测试仪也叫做电子测痛仪，用于对大鼠、小鼠足部进行轻触，来测量老鼠的机械痛阈值或触觉阈值。老鼠感觉到爪子被刺激时，会做出缩足反应。电子触觉测试仪使用测试探针对老鼠足底进行触觉刺激，力度由小到大逐渐增加力度，通过判断老鼠的缩足反应，来采集和分析老鼠的触觉阈值。用于测试触觉灵敏度的经典仪器是Semmes-Weinstein纤毛机械刺激丝套装。但是Semmes-Weinstein纤毛机械刺激丝的方法非常耗时耗力，一个测试实验需要使用多个不同纤维丝进行多次和反复足底刺激。电子触觉测试仪可用来替代传统的Semmes-Weinstein（Von Frey Hairs）纤毛机械刺激针，可直接测得动物的机械痛阈和触觉阈测量，不需要进行反复的测试和繁杂的计算。设备轻巧易用，测量精确。电子触觉测试仪相比传统方法的优势特点： 使用电子触觉测试仪进行一个测试实验，只需要进行一次足底刺激即可得到准确的结果； 数据可直接用于统计分析，能够节省很多的精力和时间； 测量精度高，测试力度能够读取到1000g以内的具体数值，精度可达0.1g； 不需要进行繁杂的统计和计算； 使用一个标准直径的刚性探针进行测试，能够避免不同力度纤维丝具有不同的直径而产生的触觉误差； 能够避免因为反复多次的测试对动物耐受力的影响，减小测试误差；型号：38450产品特点： 测试探针被固定在测试手柄上，通过测试探针自下而上对老鼠足底的刺激，老鼠会在刺激达到最大耐受力度时抬脚躲避，此时可通过脚踏开关来判断测试结果； 测试主机会显示和记录测试结果，包括最大测试力度和动物反应时间； 实验人员可根据本次测试老鼠的活动情况，接受或者拒绝本次测试结果； 被接受的测试结果会记录在主机中，可传到电脑进行统计； 为了方便测试，测试手柄端部采用了棱镜式设计，方便进行定位和瞄准； 设备中包含有助于稳定探针加力速率的软件工具； 主要参数： 最大适用力度：1000g 分辨率：0.1g 自动记录动物反应 辅助用户控制探针的加力速率 采用棱镜设计，有助于定位目标电子触觉测试仪中使用的金属探针与经典的动态足底测试仪 Aesthe-siometer 37450 中使用的金属探针相同，可以对两种仪器的结果进行一致性比较。 带棱镜式设计的手柄，在进行“接触式刺激”大鼠和小鼠测试探针细节小鼠测试探针细节测试手柄的主要特色：具备有效的峰值检测器，自动捕捉和记录测试过程中施加的最大力度值；具备可靠的自动检测动物反应功能；具备辅助稳定探针加力速率的功能；数据监测和存储：测试主机具有存储和查看功能；可将数据导出到电脑进行数据统计和分析；可导出Excel或文本格式；软件中可查看施加的力（红线）、所需的目标力率（蓝线）和峰值检测基本配置：带棱镜和刺激传感器的测试手柄，测试主机，脚踏板、软件和USB电缆。选配：测试支架大鼠、小鼠测试笼参考文献：【1】Pain Relieving and Neuroprotective Effects of Non-opioid Compound, DDD-028, in the Rat Model of Paclitaxel-Induced NeuropathyL Micheli, R Rajagopalan, E Lucarini, A Toti, C Parisio… - … , 2021 - Springer【2】Dexpramipexole blocks Nav1. 8 sodium channels and provides analgesia in multiple nociceptive and neuropathic pain modelsM Urru, M Muzzi, E Coppi, G Ranieri, D Buonvicino… - Pain, 2020 - journals.lww.com【3】The Anti-Arthritic Efficacy of Khellin Loaded in Ascorbyl Decanoate Nanovesicles after an Intra-Articular AdministrationG Vanti, L Di Cesare Mannelli, L Micheli, L Cinci… - Pharmaceutics, 2021 - mdpi.com【4】Key role of gut microbiota in anhedonia-like phenotype in rodents with neuropathic painC Yang, X Fang, G Zhan, N Huang, S Li, J Bi… - Translational … , 2019 - nature.com【5】Ameliorative effect of imperatorin in chemically induced fibromyalgia: role of NMDA/NFkB mediated downstream signalingA Kaur, L Singh, N Singh, MS Bhatti, R Bhatti - Biochemical pharmacology, 2019 - Elsevier敬请关注玉研仪器微信号：请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

主要用于测量多种水果（苹果、猕猴桃、柑橘、蓝莓、梨）、各种馅料、固体原液酸奶等的硬度，以及各种食品（面包、面团、丸子等）的硬度，化妆品（乳液、面霜、香皂、日化品等）的硬度。创佳CYHD-1电子硬度计果实馅料食品糕点化妆品面霜乳液香皂硬度仪与以往手持机械式硬度计相比，测量精度高，校准方便，保证测量结果的准确性。精确控制插入深度，减少人为因素的影响。采用RS232串口通信，可用电脑进行控制，可以将测量过程中的数据发回电脑，生成硬度—深度曲线。

电子束光刻系统EBL (E-Beam Lithography)电子束直写系统 、 电子束曝光系统纳米光刻技术在微纳电子器件制作中起着关键作用,而电子束光刻在纳米光刻技术制作的方法之一。 技术参数：1.最小线宽：小于10nm（8nm available) 2.加速电压：5-50kV 3.电子束直径：小于2nm 4.套刻精度：20nm(mean+2σ) 5.拼接精度：20nm(mean+2σ) 6.加工晶圆尺寸：4-8英寸(standard)，12英寸(option) 7.描电镜分辨率：小于2nm主要特点：1.采用高亮度和高稳定性的TFE电子枪 2.出色的电子束偏转控制技术 3.采用场尺寸调制技术，电子束定位分辨率（address size)可达0.0012nm 4.采用轴对称图形书写技术，图形偏角分辨率可达0.01mrad 5.应用领域广泛，如微纳器件加工，Si/GaAs 兼容工艺，研究用掩膜制造，纳 米加工（例如单电子器件、量子器件制作等），高频电子器件中的混合光刻（Mix & Match），图形线宽和图形位移测量等。

一、MC009-WDS-100数显式电子万能试验机产品用途： 数显式电子万能试验机适用于金属、非金属材料的各项力学性能指标的测试 单片机系统能记录抗拉强度、延伸率等常规数据,对试验过程的控制和数据采集符合相应金属、非金属材料国家标准的要求.执行标准为GB/T228-2002、GB/T7314-87等.二、MC009-WDS-100数显式电子万能试验机产品性能特点：1、自动清零:试验开始后,测量系统自动清零2、自动换档:根据负荷大小自动切换到适当的量程,以确保测量数据的准确性3、批量试验:相同规格的试样,一次设定可自动完成同一批次的试验4、自动打印:试验结束后,可自动打印检测结果(用户可选择)5、实时显示:试验力和试验力峰值可实时显示6、限位保护:具有程控和机械两种限位保护7、过载保护:当负荷超过最大值的2&mdash 10%,自动停机 .三、MC009-WDS-100数显式电子万能试验机技术参数：1、试验力分档：1、2、5、10四档2、最大试验力:100kN（10吨）3、测量范围：2%-100%（可选0.4%-100%)4、速度比1：500005、横梁位移测量：分辨率&le 0.01mm6、横梁移动速度：&le 500mm无极调速7、拉伸试验空间：700mm8、压缩试验空间：800mm9、宽度试验空间：400mm10、夹具形式： ①拉伸夹具：平钳口：一付；或圆钳口：一付； ②压缩附具：一套11、整机电源：220V12、工作环境：室温～35º C13、整机形式：门式四. MC009-WDS-100数显式电子万能试验机可选配附件:①螺纹试样拉伸附具 ②编制带拉伸附具③绳类拉伸附具 ④线材拉伸附具⑤硬质钢丝拉伸附具 ⑥橡胶拉伸附具⑦剥离试验附具 ⑧剪切试验附具⑨人造板试验附具 ⑩其他拉伸附具、⑾打印机可选配

详细内容一. 简介 ZY系列数显电子拉力机是用来试验材料拉伸、剥离、撕裂、H抽出等力学性能的仪器。广泛应用于橡胶、塑料、纺织、化工、钢丝、胶管带、电线电缆、塑胶、管材等行业，是一种高精度、经济实用型的仪器。传动部分采用变频调速，运行平稳、性能稳定、技术先进、精度高。二.本机特点： a.变频调速，精度高，无噪音，运行平稳，其寿命是普通直流调速的5-10倍； b、 力值数据清晰直观； c、进口集成电路及控制元件； d、夹具的返回均由电传动控制； e、传感器测力精度高；三.技术指标及规格： a、 执行标准：GB/T16491-2008 b、 拉伸速度：无级调速0~150mm/min c、 夹持器最大行程：800mm d、 电压：~380V±10% 50Hz 三相四线电源 e、 力值显示：液晶显示实际力值位 f、 质量：300 kg g、 功率：2.2KW

全自动分样数粒仪 全自动下料分料数粒仪适用于玉米、水稻、小麦、黄豆、芝麻、蔬菜等各种农作物种子、瓜菜种子的计数，还可以用于微小工件、珍珠、药粒等物品的快速准确计数。除具备传统数粒仪的数粒功能外，还配置了自动下料机，可以自动储料下料；除此之外还具备自动旋转分样（12个转杯）、自动称重、自动打印记录功能。一、全自动分样数粒仪 全自动下料分料数粒仪功能特点1、外观设计：蓝白彩相间搭配，简洁大方，机构内部空间排布合理，能够将识读和操作部分以更合理的角度位置呈现给用户，人机交互合理。2、模块化设计：根据用户的不同需求不同进行模块功能调整，实现精准的功能输出。3、智能化程序设定：分样型自动数粒仪以数粒为核心，功能覆盖全面，程序设定后，从料仓到转盘全自动大批量分样数粒，减少人工时间。4、无需组装：智能化结构设计，无需组装，接线即可投入使用5、超大触摸屏设计：7寸彩色触摸屏（可定制10.1寸触摸屏），增强用户人机交互体验。6、自定义品种：可以在设置页面自定义需要数粒的品种名称，振动速度、减速速度、灵敏度等。7、自动平均分样、自定义分样：可设置料杯数量和籽粒数量，对每个料杯进行平均分样、自定义分样。8、预值设置、满值自停：当数粒达到所设杯数和粒数时，转盘会自动停止工作。9、旋转多工位设计：当前料杯计数完成后，会自动跳转到下一料杯，可在装袋放置过程中不间断落料，提升工作效率。10、暂停功能：允许在数粒过程中暂停，并在恢复后继续数粒或重新开始。11、全自动分样数粒仪 全自动下料分料数粒仪内置减速程序：在每个料杯接近设定籽粒数量后会自动进行减速精数，防止物料惯性过冲影响精度。12、数粒盘速度可调：分样型自动数粒仪具有无极调速功能，数粒速度快慢可调。13、蜂鸣报警提示：每杯数粒完成滴一声，全部数粒完成长鸣一声，故障时滴滴6声。方便用户时时感知仪器运行的状态。14、同步下料机功能：振动盘启动工作时，联动的下料机开始供料；当振动盘停止工作时，下料机同步停止供料，确保下料与计数过程的高度协调一致。15、灵敏度可调：可以调节灵敏度，适应各种大小形状的种子，提高精确度。16、自动称重：当前料杯计数完成后自动称重并自动计算千粒重，无需外接电子天平17、数粒时间：记录并保存每一杯数粒达到预设值所用时间；18、状态显示：显示仪器当前工作状态：未启动、数粒中、暂停、数粒完成等。19、数据记录：对所测数据可进行自动记录和保存，包含品种名称、测量粒数及重量、千粒重、计数时间和测试时间等。20、数据打印：内嵌热敏不干胶打印机，自动打印数据。打印出的标签数据，可直接粘贴到种子包装袋上。21、历史数据查看：可以在本地查看历史记录，支持翻页，页面跳转功能。22、数据删除：支持历史数据一键删除功能。23、数据导出：支持USB数据一键导出。24、内置中英文双语显示，一键切换，无缝对接。二、全自动分样数粒仪 全自动下料分料数粒仪技术参数种子长度：0.5-23mm计数速度：最大速度1000——2000粒/分钟(计数速度取决于种子颗粒的几何形状和尺寸)计数容量：1——9999粒预置自停：1——9999当中任意数值，置0000不计数运行模式：高速计数完成前自动转为慢速，计数完成后停止计数误差：±2‰数粒盘速度：0-99；灵敏度：0-10；料杯数量：12杯杯子尺寸：60×80mm(H)仪器尺寸和重量：主 机580(W)×390(D)×336(H),24kg接料机360(W)×390(D)×197(H),12kg下料机140(W)×260(D)×180(H),5kg连续工作时间：≥8小时震动噪音：≤80dB工作环境：环境温度：-10℃——50℃；相对湿度：＜85%电 源：AC/220V 50Hz出口规格：AC100V、110V、200V、240V，50/60Hz全自动分样数粒仪 全自动下料分料数粒仪配置清单：自动下料机、数粒仪、旋转分样接料机（带称重功能）、料杯12个、电源线、落料口2个（一大一小）、标签打印纸6卷、说明书、合格证

全自动谷物数粒仪,种子数粒仪,AIDEX精密种子计数器AIDEX精密种子计数器可用于各类种子的计数如:花，草，蔬菜，玉米，稻谷，大豆，小麦等的计数，是种子、颗粒计数的精密仪器设备，可用于育种实验室，也可作为成套生产设备，减少人工强度。也设备也可用于所有颗粒计数领域或电子器件的计数。可计量进料盘颗粒的总数，也可用于给定数量的分包装。說明: 精密種子計數器測定種類： 水稻種子、糙米、白米等種子、亦可計數電子零件採用長型光幕感測器，每一個種子落下時，會產生一個波紋種子投入圓形轉盤後，種子會因振動而自動整列，成螺旋狀上昇 可調整感度 規格: 計數顯示：數位顯示，5位數。 計數對象：水稻種子、糙米、白米 供料方式：電磁供料器 使用電源：110V~230V 迴轉盤迴轉器：可變速式容器數目：10個 直徑60㎜，高90㎜ 操作方式：可自動、手動變換運轉 外觀尺寸：160(H)，380(W)，330(D)㎜ 供料器 處理能力：1.0公升以上 尺寸：160(H)，170(W)，230(D)㎜ 處理速度：600粒以上/分鐘 可設定計數所需個數，計數完成後自動停止 可進行至少10回合連續計數(Turntable)

SC-A型高精度超快千粒重仪、种子自动考种分析仪SC-A型高精度超快千粒重仪、种子数粒仪用于对表面基本光滑的各类种粒进行高通量的高精度千粒重自动分析，以及被当作种子净度工作台。可用作其它颗粒物的高精度千粒重分析和粒形均值分析。广泛使用于种子考种和品种选育相关的研究部门，提高工作效率。SC-A型高精度超快千粒重仪、种子数粒仪系统性能参数：1．千粒重分析原理：电子天平称出的重量(g)/核心系统智能数出的粒数×1000=千粒重（g/1000粒）。将种粒散放在暗视野成像盘上，该成像盘置于带RS232通讯线的电子天平上，1秒钟稳定后，即将重量数据送至电脑中分析系统对应的重量栏，同时自动拍照分析出视区内的种粒数量，算出该样品的千粒重值。整个千粒重分析过程耗时小于9秒钟。使得整个千粒重分析过程简化为仅2步：拍照、称重打印。注：深暗色或花色种粒的千粒重分析，需采用背光照明超薄灯箱工作台板来成像，再将种粒倒入电子天平容器内，1秒稳定时间后自动分析取得千粒重。2．主要性能指标：可自动分析的种粒大小：1~20mm（对于小于1mm的种籽，需加配扫描仪来成像）。可自动标定尺寸，自动测量种粒的平均长、平均宽、长宽比、平均面积、平均周长参数。单次分析样品的最大量：豆类或玉米80～150g、小麦40g、光棉籽35g、稻谷25g、油菜籽20g、烟草包衣种16g、毛棉籽15g。千粒重分析速度：1200~20000粒/分钟（测量全过程耗时小于9秒）。适用种粒类型：表面基本光滑的各类种粒。数粒分析误差：玉米、小麦、油菜籽、粳米、小米、黄豆、红豆、绿豆、豇豆、蚕豆、白芸豆、大麦、南瓜籽、花生籽等近似圆形种粒≤±0.1%。稻谷实粒、籼米、甜瓜籽等细长形种粒≤±0.4%。极个别数粒经监视修正后可达完全正确。可接入条码枪来自动刷入样品编号，千粒重分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表，分析图像标记结果可保存。3．仪器规格与配置：带RS232通讯线的220g量程1mg精度电子天平1台、500万像素种粒成像装置1台、背光照明超薄灯箱工作台板1个、透明成像板1个、软件光盘1张（含使用操作手册）、及软件锁1只。（电脑需另配，4G内存，Windows 7或10环境）。仪器总尺寸、总重量：宽×深×高约40cm×35cm×40cm，～5kg。

一、电子拉力机数显拉力机试验机概述电子拉力试验机采用微电脑触屏控制，滚珠丝杠传动，液晶触摸屏显示，带有曲线显示，带有打印机直接打印试验数据。广泛应用于防水材料、涂料、粘结剂、砂浆、腻子、橡胶、塑料、电线电缆、纺织物等非金属材料及金属丝、金属箔、金属板材和金属棒的拉伸、压缩、弯曲、剪切、撕裂、剥离等多项物理力学性能试验。，也可做其他零部件的力学性能试验。软件能够完成最大力、最大变形、抗拉强度、断裂延伸率、最大力总延伸率、屈服点延伸率、断后伸长率、上下屈服强度、弹性模量、屈服点力、扯断伸长率、屈服点伸长率、断裂拉伸强度、屈服点拉伸应力、定伸应力、定力伸长率（根据用户指定定力水平）等参数的计算和实时显示，其中，定伸强度的水平值和定力水平值可以在试样参数界面，按照客户实际使用的要求输入到软件相关位置。可以计算的参数还包括抗压强度、上下压缩屈服强度、压缩弹性模量、弯曲强度、弯曲弹性模量、平均弯曲力、平均剥离力、剥离强度、最大剥离力、最小剥离力、撕裂强度、平均剪切力、剪切强度、剪切模量等力学物理性能相关参数。二、电子拉力机数显拉力机试验机技术参数1、最大试验力：5000N2、示值准确度：1%3、最小分辨率：0.02%4、拉伸速度：2mm/min－500mm/min5、机械加荷电子显示6、拉伸长度：800（900）mm自动数显7、采用变频器，变频调速电机，8、功率：1.1千瓦电压：220V9、外型尺寸：600*450*1580mm

Electron Beam Lithography System(EBL)电子束光刻系统 应用领域广泛，如微纳器件加工，Si/GaAs 兼容工艺，研究用掩膜制造，纳米加工（例如单电子器件、量子器件制作等），高频电子器件中的混合光刻（Mix & Match），图形线宽和图形位移测量等。电子束光刻最小线宽可达 8nm，最小束斑直径 2nm，套刻精度20nm(mean+2σ)，拼接精度 20nm(mean+2σ)。 技术参数： 1.最小线宽：小10nm（8nm available) 2.加速电压：5-50kV3. 电 子 束 直 径 ： 小 于 2nm 4.套刻精度：20nm(mean+2σ) 5.拼接精度：20nm(mean+2σ) 6.加工晶圆尺寸：4-8 英寸(standard)，12 英寸(option)7.描电镜分辨率：小于 2nm

详细内容ZY系列数显电子拉力机（0-10KN） ZY系列数显电子拉力机是用来试验材料拉伸、剥离、撕裂、H抽出等力学性能的仪器。广泛应用于橡胶、塑料、纺织、化工、钢丝、胶管带、电线电缆、塑胶、管材等行业，是一种高精度、经济实用型的仪器。传动部分采用变频调速，运行平稳、性能稳定、技术先进、精度高。拉力机由主机、调速系力统，数据采集处理、传感器及电气连锁等部分组成。主机包括机身、传动机构、测系统。数据处理由微电脑处理器处理。本机采用变频调速器来改变拉伸速度，速度值直接读出。电机通过V带—蜗杆—丝杆传动使下夹持器（夹具）移动，从而实现试样的拉伸变化。主机头装有拉力传感器，其上端与主机顶部横梁的连接盘相连，下端与上夹持器连接，传感器只受垂直拉力，不受扭力或测向力影响，以保证测力精度，试样夹在上下夹持器之间，试验过程中试样受力情况通过力传感器变为电信号输入进微电脑采集控制系统。试验结束后，自动处理，自动计算，显示结果。本试验测控系统是专为电子万能试验机配套设计的集测量、控制于一体的测控仪表。可进行拉伸、压缩、弯曲、剪切、撕裂、剥离等试验。 本系统采用的最新的32位ARM技术，加以24位高精度AD和大容量内存，具有测量精度高、响应快捷又稳定，控制速度快而准确。并采用点阵图形液晶显示器，使试验结果以直观的文字、图形方式进行显示、保存及打印（选配微型热敏打印机）；用户操作采用了汉字显示的多层菜单结构，功能强大，操作方便，并且加入了对操作的容错处理和故障自动查找、提示功能，如传感器、AD值、单位、零点、校准值；标距、额定变形、校准值；以及是否自动判断裂，自动返回起始点等参数。可计算最大力、屈服力、平均剥离力、最大变形等试验参数。可与PC相连，可选配上位机软件。实时显示力－位移、力－时间、位移－时间、应力－应变等曲线，自动计算最大力、屈服力、平均力、最大变形、屈服点、弹性模量等参数，并具有灵活的报表编辑和打印功能。 本机传感器的量程为2500N（假定），做试验时应预计好材料的最大力值，切不可超量程使用。本机特点：a. 变频调速，精度高，无噪音，运行平稳，其寿命是普通直流调速的5-10倍；b. 力值数据清晰直观；c. 进口集成电路及控制元件；d. 夹具的返回均由电传动控制；e. 传感器测力精度高；主要规格及技术参数1. 执行标准：GB/T16491-20082. 测力： 分辨率： 1/250000； 连同小数点共6位，小数点浮动。 精度： 0.3%以上（一般可达到0.02%FS） 测量范围： 1 N ～ 2000 kN任意 3. 数字大变形/位移（连同小数点共5位，小数点浮动） 光电编码器： 分辨率：最高达 1um ； 响应频率 40 kHz ； 范 围：0～ 2000 mm 任意设置； 精度：仪表系统无误差 解码方式：4相解码； 引伸计（选配）： 分辨力：1/100000 采样频率50次/秒精度：示值的±0.1%4. 采集速率： 100次/S5. 速度控制： 0.01mm/min～500mm/min； 精度：示值±1% 以内控制方式： 脉冲(适用于带脉冲输入的伺服控制器,步进电机控制器) 电压（适用于交流变频控制器6. 使用条件：电源：～220 ±10% V / 50 Hz；温度:10 °C -- 35 °C；湿度:30 % -- 85 %；仪表保险丝：1A 仪表功率：15W7、拉伸速度：无级调速0~500mm/min8、夹持器最大行程：800mm9. 钳口自动（手动）归位功能；10. 可用多种限位开关，力值过载保护功能可设定；11. 定速度、定伸率、定荷重、定速率及定位移等多种测试控制方法。12. 本仪器的速度控制，仅需标定位移和位移方向，就自动控制运行的速度。13. 可选配上位机软件。14. 故障自检、提示功能：存储器、AD芯片、内存芯片、CPU程序、上限位保护、下限位保护等故障，力传感器未接或过载、力传感器未标定。15. 试验数据更正功能。拉力试验机/数显拉力机/电子拉力机

1.产品概述：eLINE Plus -专为多种原位纳米加工技术的最宽带宽应用而设计，超越了经典的电子束光刻(EBL)。2.产品优势：世界上专业EBL系统中最小的波束尺寸（ 1.6 nm）EBL抗蚀剂的线宽小于5nm使用电子束诱导沉积（EBID）技术演示了亚7纳米线新的eLINE Plus被设计为最通用的多重技术纳米光刻系统，用于所有科学学科的广泛应用ELINEPlus公司的先进光刻基础设施使超高分辨率和大面积纳米制造成为可能，并统一了电子束光刻、纳米工程和超高分辨率成像的世界。专业和无损的EBL：保证优越的系统规格和世界上最小的光束尺寸与全球应用支持基础设施相结合，使eLINE Plus成为努力有效地建立纳米制造新前沿的学术机构的理想解决方案。3. 产品参数：最小线宽≤8nm 光栅周期≤40nm50KV加速电压下，写场可在0.5μm~500μm的范围内连续可调肖特基热场发射电子束源，最高加速电压≥50kv，束电流范围至少为50pA~40nA，最大束电流≥40nA图像发生器扫描频率≥50MHz，20bit分辨率，最小步距为0.5nm通用样品架可承载散片，4inch以下的衬底，4inch专用晶圆专用样品架，6inch专用晶圆专用样品架，多样品专用样品架拼接精度：100μm写场下，拼接精度≤20nm【mean】+3sigma500μm写场下，拼接精度≤30nm【mean】+3sigma套刻精度：100μm写场下，拼接精度≤20nm【mean】+3sigma500μm写场下，拼接精度≤25nm【mean】+3sigma束电流稳定性＜0.2%/h 束位置稳定性＜120nm/8h

1 产品概述: 电子束光刻（E-beam Lithography，简称EBL或EBD）设备，是在电子显微镜基础上发展起来的一种用于微电路研究和制造的曝光技术。它作为半导体微电子制造及纳米科技的关键设备，主要通过高能量电子束与光刻胶的相互作用，实现高精度的曝光和图形制作。电子束光刻设备主要包括电子光学系统、图形发生器系统、真空系统以及高精度运动系统等核心组件。2 设备用途：电子束光刻设备具有广泛的应用领域，主要包括：半导体制造：用于制作光刻掩模版，是半导体芯片制造中不可或缺的一部分。特别是在EUV光刻机掩模版的制作上，目前只能依赖于电子束光刻技术。纳米科学技术研究：由于电子束光刻具有极高的分辨率，它能够制造出微米甚至亚微米级别的精细结构，因此在纳米科技领域有着广泛的应用。集成电路制造：在集成电路的制造过程中，电子束光刻技术用于制作高精度、高密度的芯片结构，提高芯片的性能和可靠性。3 设备特点电子束光刻设备具有以下显著特点：高分辨率：相比于传统光刻技术，电子束光刻技术可以实现更高的分辨率，能够制造出更精细的图案和结构。高精度：电子束光刻设备具有极高的制造精度，能够满足微纳加工领域对精度的严格要求。灵活性：电子束光刻技术可以灵活曝光任意图形，适应不同形状和尺寸的加工需求。高速度：现代电子束光刻设备已经实现了高速、连续的加工过程，大大提高了生产效率。真空环境：设备中的真空系统提供了稳定的真空环境，消除了空气对加工过程的干扰，保证了设备的稳定性和生产效率。 4 技术参数和特点：电子枪ZrO/W热场发射型加速电压50 kV 光束电流1 nA ～ 800 nA小光束直径D 2.8 nm标准写场大小1000 μm□ 小/大写场大小小 100 μm大（选项）3000 μm扫描频率大 400 MHz发射间距小 0.2 nm大试样尺寸8” 晶片 / 12” 晶片大绘图区域200 mm x 200 mm / 300 mm x 300 mm输送机构单自动加载器机器人装载机Softwareelms&bull 束流调整功能&bull 曝光文件功能 &bull 图案数据转换功能&bull 帐户管理功能&bull Python脚本

数显拉力试验机天研电子拉力试验机可测试橡、塑料、皮革、金属、尼龙线、织物、纸及航空、包装、建筑、石化、电工、车辆……等等材料之拉伸、压缩、剪力、粘接力、剥离、撕裂…等等试验，为质量管制、进料检验、物性试验、力学研究、材料开发之基本设备。本机之设计符合：GB、ASTM、DIN、JIS、BS等标准一. 数显拉力试验机天研电子拉力试验机技术参数:1.感应方式: 荷重元（东日定制）2.容量：100kg（按需选择，常规有10kg 20kg 50kg 100kg 200kg可选）3.分解度及精度:1/250,000, ±1%4.位移分解度:0.1mm+-1%5.单位切换: kgf, gf, lbf, N , kN, MPA,PA等6.有效宽度:120mm7.最大行程(不含夹具): 400mm 8.步进电机控制器: 测试速度可由触摸屏自由控制5~300mm/min 丝杆东日定制9.测试模式可供选择如下:1.拉伸 2.压缩 3.剥离10.显示模式:液晶显示器显示11.机台基本配备:(1).可上下限行程保护设定(2).滚珠丝杆壹组(3).紧急停止开关 (4).测试状态系统超载自动停机保护14,出厂标配： 1.标准拉力机1台 拉伸夹具1套2 .附说明书，15.机台电压:1∮,AC 220V,10A

日本Elionix 超高精密电子束光刻系统 ELS-F150ELS-F150 Ultra High Precision Electron Beam Lithography System World's highest acceleration voltage electron beam lithography system 世界上加速电压最高的电子束光刻系统 The ELS-F150 is the world's first 150 kV electron beam lithography system. Expanding upon the ELSF125 base system, the ELS-F150 enables single digit nanoscale device fabrication for advanced research. ELS-F150是世界上第一个150千伏电子束光刻系统。在ELS-F125基础上展开系统，ELS-F150支持单位纳米级用于高级研究的设备制造。 Main Applications:主要应用领域- Quantum dots for quantum computing-量子点用于量子计算- Resolution and edge roughness testing for EUV resist EvaluationEUV抗蚀剂的分辨率和边缘粗糙度测试评估 - 10 nm master fabrication and material evaluation for nanoimprint lithography 10nm母版制作和材料评估纳米压印光刻 - T-gate pattern on thick resist for HEMT devices- HEMT器件厚抗蚀胶上的T-型栅极图案 - Nano gap patterning for bionano sensors- 用于生物传感器的纳米间隙模式 - Fresnel Zone Plate (FZP) for X-ray gratings- x射线光栅的菲涅耳带板(FZP) Key Product Features 关键产品特性 - 4 nm linewidth guaranteed at 150 kV- 4纳米线宽保证在150千伏- 1.5 nm beam diameter and minimum proximity effect at 150 kV- -1.5纳米束直径和最小接近效应在150千伏- Wider process margin than 125 kV makes it easier to fabricate advanced nanodevices- -比125千伏更宽的工艺裕度使制造先进的纳米器件更容易- Single cassette auto-loader as default, supports up to 6 slot multi-cassette auto-loader (option)-默认单盒自动加载，最多支持6槽多盒自动加载(可选) High Throughput and Uniformity高通量和均匀性 - Superior fine line writing:-卓越的细线条书写: 3 nm line width at 50 nm pitch using commercially available resist3nm线宽，50 nm间距，使用商用抗蚀剂 User-friendly Interface友好的用户界面 [CAD and SEM interfaces on Windows]CAD和SEM界面在Windows上 - Easy pattern design function- -简单的图案设计功能 - Easy control of beam condition- -易于控制电子束的条件 Specification规格

青岛奥得森电子有限公司成立于二零零四年，是一家集研发、生产、销售三强合一且技术实力雄厚的优秀企业，专注生产DEG系列电子水平仪及相关产品，其产品各项技术指标均达到了国际优良水平，拥有多项产品知识产权，所生产的DEG系列电子水平仪测量系统可用于直线度、平面度、垂直度和机器几何形状进行精密测量并打印出检测结果。还可以与其他仪器连接，以拓展其应用空间。是各个生产计量单位、厂家工程师、技术员的得力助手。DEG-系列电子水平仪于二零二一年底升级改型完毕，改变提升四项功能，为使用者带来更便捷高效的全新体验

Helios 5 FX 双电子束 能够引领失效分析突破至更高的技术层面 新一代 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 具有 Helios DualBeam 显微镜产品系列领先业界的高性能电子显微镜成像和分析性能。它经过精心设计，可满足材料科学研究人员和工程师对各种聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 的需求 - 即使是最具挑战性的样品。Helios 5 DualBeam 重新定义了 高分辨率成像的标准：高材料对比度、快速、简单和精确的高质量S/TEM样品制备和APT样品制备，以及高质量的亚表面和 3D 表征。新一代 Helios 5 DualBeam 在 Helios DualBeam 系列成熟功能的基础上改进优化，旨在确保系统于手动或自动工作流程下的最佳运行状态。这些改进包括： ● 更易于使用：Helios 5 DualBeam 是不同经验用户最易使用的 DualBeam。操作员培训可以从几个月缩短到几天，系统设计可帮助所有操作员在各种高级应用程序上实现一致、可重复的结果。● 提高了生产率：Helios 5 DualBeam 和 Thermo Scientific AutoTEM 5 软件的高级自动化功能、增强的稳固性和稳定性允许无人照看甚至夜间操作，显著提高了样品制备通量。● 缩短出结果的时间：Helios 5 DualBeam 现在包括新调整图像方法 FLASH。对于传统的显微镜来说，每次操作员需要获取图像时，必须通过迭代对中仔细调整显微镜。使用 Helios 5 DualBeam 时，通过屏幕上的简单手势即可激活 FLASH，从而自动调整这些参数。自动调整可以显着提高通量、数据质量并简化高质量图像的采集。 Thermo Scientific Helios 5 DualBeam 是行业领先的 Helios DualBeam 系列的第五代产品之一。本款产品经精心设计，可满足科学家和工程师的需求，它将具有极高分辨率成像和高材料对比度的创新性 Elstar 电子柱与可进行快速、简单、精确的高质量样品制备的出色的 Thermo Scientific Tomahawk 离子柱加以结合。除了先进的电子和离子光学系统，Helios 5 DualBeam 还采用了一套最先进的技术，能够实现简单、一致的高分辨率 (S)/TEM 和原子探针断层扫描 (APT) 样品制备，还能够为最具挑战性的样品提供高质量的亚表面和 3D 表征。 Helois 5 双光束平台持续为最先进的半导体的失效分析实验室、工艺开发实验室和流程控制实验室提供样品成像、分析和S/TEM样品制备的应用服务。 核心产品优势 ● 高性能的Elstar电子束镜筒结合UC+单色器的技术， 实现了亚纳米级的SEM和S/TEM图像分辨率● 杰出的低kV Phoenix离子束性能使TEM样品制备时可以达到只有亚纳米级的损伤● 可以通过多达5个集成束内和透镜下探测器获得清晰的、精细的、免费的对比图像● MultiChem气体输送系统为在双光束平台下电子和离子束诱导沉积和刻蚀提供了最先进的技术支持。● EasyLift EX 纳米操 作手能够精确的、定点的制备超薄TEM薄片，同时提高 了用户的信任度和产量● STEM 4 探测器在TEM薄片样品上提供了出色的分辨率和对比度● 来自Thermo Fisher Scientific 在双光束应用内失效分析领域内的世界级的专业知识的支持 图1. TEM 样品制备使用了ThermoScientific的iFAST自动 化软件包，并用EasyLift的纳米机械臂完成了提取。图2. 14纳米SRAM逆变器减薄 到15纳米的HRSTEM光场图像 展示了与金属栅练级的nFET和pFET的结构 Helios 5 DualBeam的主要特点 高质量样品制备使用高通量 Thermo Scientific Tomahawk 离子镜筒或具有无人可比低电压性能的 Thermo Scientific Phoenix 离子镜筒为 S/TEM 和 APT 分析制备自定义样品。 全自动使用可选配的 AutoTEM 5 软件进行快速、简单、 全自动、无人值守的多现场原位和非原位 TEM 样品制备以及交叉切片。 以最短时间获得纳米级信息使用一流的 Thermo Scientific Elstar 电子镜筒为任何经验水平的用户提供 Thermo Scientific SmartAlign 和 FLASH 技术支持。 新一代 UC+ 单色器技术凭借具有更高电流的新一代 UC+ 单色器技术，可以在低能量下实现亚纳米性能，从而显示最细致的细节信息。 完整的样品信息可通过多达 6 个集成在色谱柱内和透镜下的集成检测器获得清晰、精确且无电荷的对比度。 3D 分析使用可选配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 软件通过精确靶向目标区域而获得高质量、多模式的亚表面和 3D 信息。 快速纳米原型设计对临界尺寸小于 10 nm 的复杂结构进行快速、准确、精确的铣削和沉积。 精确的样品导航在 150-mm 压电载物台的高稳定性和准确性或 110-mm 载物台的灵活性以及腔室内 Thermo Scientific Nav-Cam 摄像机的支持下根据具体应用需求进行定制。 无伪影成像基于集成的样品清洁度管理和专用成像模式，例如 DCFI 和 SmartScan 模式。 STEM 成像Thermo Scientific Helios 5 FX 的配置具有独特的原位 3&angst 分辨率 STEM 功能，可提供高高效的工作流程。 电镜设备的规格 适用于半导体行业的 Helios 5 DualBeam 规格Helios 5 CXHelios 5 HPHelios 5 UXHelios 5 HXHelios 5 FX工作准备和 XHR SEM 成像最终样品制备（TEM 片层、APT）埃米级 STEM 成像和样品制备SEM分辨率20 eV – 30 keV20 eV – 30 keV着陆能量0.6 nm @ 15 keV1.0 nm @ 1 keV0.6 nm @ 2 keV0.7 nm @ 1 keV 1.0 nm @ 500 eVSTEM分辨率 @ 30 keV0.7 nm0.6 nm0.3 nmFIB 制备工艺最大物料去除率65 nA100 nA65 nA最佳最终抛光2 kV500 VTEM 样品制备样品厚度50 nm15 nm7 nm自动化 否是是样品处理行程110 x 110 x 65 mm110 x 110 x 65 mm150 x 150 x 10 mm100 x 100 x 20 mm100 x 100 x 20 mm+ 5 轴 (S)TEM 计算机阶段加载锁手动快速加载器自动手动快速加载器自动自动 + 自动插入/拔出 STEM 杆 用于材料科学的 Helios 5 DualBeam 的规格 Helios 5 CX Helios 5 UC Helios 5 UX 离子光学系统具有出色的高电流性能的 Tomahawk HT 离子柱具有卓越高电流和低电压性能的 Phoenix 离子镜筒离子束电流范围1 pA – 100 nA1 pA – 65 nA加速电压范围500 V – 30 kV500 V – 30 kV最大水平射野宽度在光束重合点处为 0.9 mm在光束重合点处为 0.7 mm最小离子源寿命1,000 小时1,000 小时两级差速抽气飞行时间 (TOF) 校正15 位置光阑条两级差速抽气飞行时间 (TOF) 校正15 位置光阑条电子光学系统Elstar 超高分辨率场发射 SEM 镜筒Elstar 极高分辨率场发射 SEM 镜筒磁性浸没物镜磁性浸没物镜可提供稳定的高分辨率分析电流的高稳定性肖特基场发射枪可提供稳定的高分辨率分析电流的高稳定性肖特基场发射枪电子束分辨率最佳工作距离 (WD) 下30 kV (STEM) 时 0.6 nm15 kV 时 0.6 nm1 kV 时 1.0 nm1 kV（射束减速*）时为 0.9 nm30 kV (STEM) 时 0.6 nm1 kV 时 0.7 nm500 V (ICD) 时 1.0 nm重合点上15 kV 时 0.6 nm1 kV（射束减速*和 DBS*）时为 1.5 nm15 kV 时 0.6 nm1 kV 时 1.2 nm电子束参数空间电子束电流范围0.8 pA 至 176 nA0.8 pA 至 100 nA加速电压范围200 V – 30 kV350 V – 30 kV着陆能量范围20 eV – 30 keV20 eV – 30 keV最大水平射野宽度4 mm WD 时 2.3 mm4 mm WD 时 2.3 mm检测器Elstar 镜筒内 SE/BSE 检测器（TLD-SE、TLD-BSE）Elstar 色谱柱内 SE/BSE 检测器 (ICD)*Elstar 色谱柱内 BSE 检测器 (MD)*Everhart-Thornley SE 检测器 (ETD)查看样品/色谱柱的 IR 摄像机用于二级离子 (SI) 和二级电子 (SE) 的高性能腔室内电子和离子检测器 (ICE)*用于样品导航的 Thermo Scientific 腔室内 Nav-Cam 摄像机*可伸缩、低电压、高对比度、定向、固态反向散射电子检测器 (DBS)*带 BF/DF/HAADF 分段的可伸缩 STEM 3+ 检测器*集成的等离子束电流测量载物台和样品载物台灵活的 5 轴电动载物台高精度五轴电动载物台，配有压电驱动的 XYR 轴XY 范围110 mm150 mmZ 范围65 mm10 mm旋转360°（无限）360°（无限）倾斜范围-15° 至 +90°-10° 至 +60°最大样品高度与共心点间距 85 mm与共心点间距 55 mm最大样品重量500 g，任何载物台位置上0° 倾斜下最高 5 千克（适用某些限制）500 g（包括样品架）最大样品尺寸完全旋转时 110 mm（也可以是更大的样品，但旋转有限）完全旋转时 150 mm（也可以是更大的样品，但旋转有限）计算中心旋转和倾斜计算中心旋转和倾斜* 可选配，取决于配置 Helios 5 DualBeam的应用 采用电镜进行过程控制现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜和TEM透射电镜工具结合专用的自动 化软件，为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。 质量控制和故障分析质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜和光谱工具，使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。 基础材料研究越来越小的规模研究新型材料，以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。 半导体探索和开发先进的电子显微镜、聚焦离子束和相关半导体分析技术可用于识别制造高性能半导体器件的可行解决方案和设计方法。 良率提升和计量我们为缺陷分析、计量学和工艺控制提供先进的分析功能，旨在帮助提高生产率并改善一系列半导体应用和设备的产量。 半导体故障分析越来越复杂的半导体器件结构导致更 多隐藏故障引起的缺陷的位置。我们的新一代半导体分析工作流程可帮助您定位和表征影响量产、性能和可靠性的细微的电子问题。 物理和化学表征持续的消费者需求推动了创建更小型、更快和更便宜的电子设备。它们的生产依赖高效的仪器和工作流程，可对多种半导体和显示设备进行电子显微镜成像、分析和表征。 电源半导体设备分析电源设备让定位故障面临独特的挑战，主要是由于电源设备结构和布局。我们的电源设备分析工具和工作流程可在工作条件下快速实现故障定位并提供精确、高通量的分析，以便表征材料、接口和设备结构。 显示设备故障分析不断发展的显示技术旨在提高显示质量和光转换效率，以支持不同行业领域的应用，同时继续降低生产成本。我们的过程计量、故障分析和研发解 决方案帮助显示公司解决这些挑战。