电阻四量仪

名称：四探针电阻测量仪图片：品牌：KLA 集团旗下品牌 Filmetreics型号：R50用途：金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测。优势 :1)接触式四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)2) 100mm Z行程，高精度控制 3)导体和半导体薄膜电阻，10个数量级范围适用 4)测试点自定义编辑，包括矩形、线性、极坐标 以及自定义配置 5)200mm XY电动平台 6)RSMapper软件灵活易用 7)兼容KLA所有电阻测试探针应用市场：1）半导体 2）化合物半导体 3）先进封装4）平板和VR显示 5）印刷电路 6）穿戴设备 7）导电材料8）太阳能

四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。能便携全自动测量导线、棒材电阻率、电导率等参数。应用电流–电压降四端子测量法、单片机技术及自动检测技术。其性能完全符合GB/T3048.2及GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于冶金、电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C方阻计算和测试原理如下：　　直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：　　当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C工作原理图　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C步骤及流程　　1. 开启电源，预热5分钟.　　2. 装配好探头和测试平台.　　3. 设定所需参数.　　4. 测量样品　　5. 导出数据.　　优点描述：　　1. 自动量程　　2. 准确稳定性.　　3. 双电组合测试方法　　4. 标准电阻校准仪器　　5. PC软件运行　　6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.　　7. 可显示5位数字.　　8. 中、英文界面四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C性能特点1. 体积小巧、重量轻。2. 全中文菜单操作，操作简单方便。3. 测量速度快，数据精确稳定。4. 具有自动放电和放电指示功能，减少误操作，保证设备及人员安全。

非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪EddyCus TF Series，这款非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪可以非接触式实时测量，对导电薄膜和金属方块电阻精确测量，表征已被隐藏和封装的导电层，并把测量数据保存和导出。 可用于方块电阻，方阻测量。非接触式方块电阻方阻测量替代四探针传统测量非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪主要测试对象：镀膜建筑玻璃，如LowE显示器，触摸屏和平板显示器OLED和LED智能玻璃石墨烯层光伏晶圆和电池半导体晶片金属化层和晶圆金属化电池电极导电涂布纸和导电纺织品非接触式单点方阻测试仪EddyCus TF Lab 2020SREddyCus TF Lab 2020SR是非接触式单点薄层电阻测量系统。该装置包含一个涡流传感器组，感应弱电流到导电薄膜和材料。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪试样中的感应电流产生与测量对象的片电阻相关的电磁场。电涡流技术不依赖于表面特征或形貌。此外，非接触式单点方阻测试仪不需要如已知的2或4点探针测试(2PP, 4PP)或霍尔效应或范德波测量一样进行任何形式的充分的样品接触或备样。非接触式单点方阻测试仪既不需要设置测试结构，也不受表面粗糙度或非导电封装或钝化层的影响。此外，测量不会对被测薄膜产生物理影响。涡流仪器不存在机械磨损，使用寿命长。它的独立性与接触质量和它的高速允许实现高重复性和准确性，有利于在研发和测试实验室的各种薄膜的系统质量保证。EddyCus工具可以由具有各种数据记录和导出功能的SURAGUS软件驱动，也可以由SURAGUS软件开发套件驱动的客户软件驱动。非接触式单点方阻测试仪软件和设备控制：非常用户友好的软件直观的触摸显示导航实时测量板材电阻和层厚软件辅助手动映射选项各种数据保存和导出选项非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪产品规格表Measurement technologyNon-contact eddy current sensorsubstratesFoils, glass, wafer, etc.Substrate area8 inch / 204 mm x 204 mm (open on three sides)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement range of metal films (e.g. copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance (cf. our calculator))Device dimensions (w/h/d)11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mmWeight10 kgFurther available featuresSheet resistance measurement / metal thickness monitor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 20001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.3% 0.5% 0.3%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistanc非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map 2530SREddyCus TF Map 2530SR是一种非接触式薄层电阻映射系统。该设备配备了一个运动的涡流传感器，每次扫描可测量高达90000 (300 x 300)测量点的方块电阻。由于这种技术不需要与标本进行物理接触，该设备可以在飞行运动中进行测量。此外，非接触式单点方阻测试仪具有很高的准确性，因为它是独立于任何接触质量。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪样品中测量点的高密度确保了没有遗漏任何效果或缺陷。此外，综合分析功能支持生产和研发实验室中各种薄膜的系统质量保证。产品规格：Measurement technologyNon-contact eddy current sensorSubstratesWafer, glass, foils etc.Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 15 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement of metal films (e.g. aluminum, copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance ())Scanning pitch1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm (other upon request)Measurement points per time (square shaped samples)100 measurement points in 0.5 minutes10,000 measurement points in 3 minutesScanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1 to 10 minutes (1 – 10 mm pitch)12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 6 minutes (2.5 – 25 mm pitch)Device dimensions (w/h/d)31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mmWeight90 kgFurther available featuresMetal thickness imaging, anisotropy and sheet resistance sensor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 2,0001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.5% 1% 0.5%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistance便携式方块电阻测试仪EddyCus TF便携式1010SR专用于工业环境中的接触片电阻测量。它使各种行业的手工质量保证成为可能。Measurement technologyEddy current sensorMeasurement modeRealtime at constant distance / contactSubstratesGlass, foils etc.Substrate sizesFlat samples 150 mm x 150 mm (6 inch x 6 inch)Curved editions are available for several applications (windshields etc.)Measurement spot / high sensitivity zone40 mm diameter (1.6 inch)PowerLithium ion battery up to 20 hSheet resistance range (five setups available)Type very low: 0.001 – 0.1 Ohm/sqType low: 0.04 – 0.1 Ohm/sqType standard: 0.3 – 30 Ohm/sqType high: 0.3 – 50 Ohm/sqType very high: 0.3 – 100 Ohm/sqThickness measurement of thin films (e.g. copper)Additional feature, available range is 5 nm – 500 µ m (in accordance with sheet resistance)Emissivity rangeAdditional feature, available range is 0.003 – 0.5Accuracy (for planar solid surfaces, e.g. glass)0.001 – 50 Ohm/sq: 3%50 – 100 Ohm/sq: 5%DISPlay2.8 inch colored touch screenDevice dimensions (w/h/d)3.5” x 7” x 1.9” / 87 mm x 178 mm x 48 mmWeight340 gInterfacesBluetooth (optional) + data center更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

ZST系列高绝缘电阻测量仪-高阻计一、性能特点及用途介绍： ZST系列体积表面电阻率测试仪是我公司生产的便携式数字显示高阻测量仪表，该仪表符合国家标准GB/T1410-2006固体绝缘材料体积表面电阻率试验方法、GB/T 31838.1.2.3-2019固体绝缘材料介电和电阻特性、GBT2439-2001硫化橡胶或热塑性橡胶导电性能和耗散性能电阻率的测定、GBT1692-2008 硫化橡胶绝缘电阻率的测定、GBT10064-2006 测定固体绝缘材料绝缘电阻的实验方法、GB/T3048.5电线电缆电性能试验方法 绝缘电阻试验 中对检测仪表的各项要求，是测试绝缘材料、光伏材料、电线电缆以及其他电工制品绝缘电阻的理想设备。多年来已有数千台仪表用于国内外绝缘材料厂、电线电缆厂、防静电产品生产厂、标准计量部门、电力部门以及军工、科研单位，并被国家电线电缆检测中心及国家防静电检测中心选用，作为产品型式试验专用设备。与同类产品相比有以下几个特点：（1）采3 1/2 位数字显示，桥式测量电路，测量准确度高，读数方便、准确。（2）采便携式结构，体积小重量轻使用方便。（3）由电池供电，仪表可以工作于对地悬浮状态, 彻底解决了电线电缆测试中水箱接地引起的高压短路问题, 既提高了抗干扰能力又免去了电源线牵挂，适合生产现场测量成盘电缆，在固定场合也可用外接稳压电源供电。（4）内置定时器，自动读数锁定，在测试电线电缆绝缘电阻等规定测量时间的情况下，使用尤其方便。二、基本参数：型号/参数ZST-121ZST-122*电阻测量（Ω）10—2×10170—2×1019电阻基本误差±1%电流测量（A）—10-16—2×10-4电流基本误差±1%额定电压（V）100， 250， 500，100010，25，50，100，250，500，1000电压误差±2%显示3 1/2位大屏带背光数字显示*测量定时功能 1-7min自动读数锁定*误操作报警功能—有*防滤波干扰功能有*电 源DC8.5—12.5V ( 1号电池8节 ) 或外接电源内置可充电电池外形尺寸（mm）280×240×105( l×b×h) 320×290×115( l×b×h)质量（重量）3KG使用环境温度：0-40℃，相对湿度＜80%三、配置清单： 序号/型号ZST-121ZST-1221主机一台2屏蔽箱+固体电极一套3测量导线一套4说明书+合格证一份5电源线一根专用充电器一个以下可选配1XGQ-2000高温恒温箱（RT-300℃）2ZST-F防静电材料重锤电极3ZST-Y液体三电极四、 计量证书：

体积表面电阻率测量仪 型号： LST-212一、LST-212橡胶薄膜电阻率测试仪电阻率直接测试符合标准及适用范围： 体积表面电阻率测量仪 完全符合国家标准GB1410－2016固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257绝缘材料的直流电阻或电导试验方法等标准要求。本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流。 二、LST-212橡胶薄膜电阻率测试仪电阻率直接测试技术指标序号 项目参数1电阻测量范围1×104Ω～1×1018Ω2电流测量范围2×10-4A～1×10-16A3显示方式数字液晶显示 触摸屏4内置测试电压10V、50V、100V、250V、500V、1000V5基本准确度1%6使用环境温度：0℃～40℃，相对湿度80%7供电形式AC 220V，50HZ，功耗约5W8仪器尺寸285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm9质量约10KG10体积小、重量轻、准确度高电阻、电流、电阻率、电压显示，性能好稳定、读数方便11售后承诺中航鼎力所有仪器均保修一年，终身服务 三、LST-212橡胶薄膜电阻率测试仪电阻率直接测试标准配置：序号配置单位数量1测试仪器台12电极箱台13电源线条14测量线条35使用说明书份1

TB-300智能金属箔电阻率测量仪 TB-300智能金属箔电阻率测量仪是我公司推出的专利产品， 国内外唯一能便携全自动测量金属导线、 箔电阻率、电导率等参数高性能检测仪器。应用电流 – 电压降四端子测 量法、先进的电子技术、单片机技术及自动检测技术设计的高新产品。其性能完全符合 GB/T3048.2及 GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于金属箔、金属薄带、电池极 耳等新能源领域及电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。TB-300型仪器主要特点 用于测量金属箔、金属薄带及线材的电导率、电阻率、米电阻及电机、变压器等直流电阻。集先进电子技术、单片机技术、自动检测技术于一体、自动化功能强，操作简单； 仅按一次键， 所有测量数值即可获得， 无需任何计算， 适合于连续、快速、准确检测； 电池供电设计，体积小，容易携带，适用于现场及野外使用；大屏幕， 大字体， 可同时显示电阻率、电导率、电阻等测量值及温度， 测试电流、温 度补偿系数等辅助参数，非常直观；一机多用，拥有3种测量界面， 既导体电阻率、电导率测量界面， 金属箔电阻率测量 界面；每次测量， 具有自动选定恒流电流， 自动电流换向， 自动零点校正， 克服热电压到线 电阻引起的误差， 保证每次测量值的精确性；仪器自带环境温度传感器及内设有多种材料温度系数供选择，完成温度自动补偿；可选配系列校准电阻，搭配相关软件，方便地实现仪器自动校准；独特的携带式四端子测试夹具， 适用于对不同材料， 不同规格的线材或棒材快速测量； 内置有数据存储器， 可记录保存1000组测量数据及测量参数， 连接上位计机生成完整 报告。 TB-300A 型主要技术参数参数值 项目名称电阻率电导率电阻测量范围0.01μΩm ～2.5μΩm0.4MS/m～100MS/m 0.69%IACS～172%IACS0.1μΩ～150Ω分辨率－4 10－6μΩm0.01～0.001%IACS0.1μΩ（ I=1A）精度±0.25%±0.25%100μΩ ～ 150Ω ： ±0.15%温度测量－10℃～＋55℃ 精度±0.2℃(0℃～＋40℃)仪器内部 恒流电流16μA 档～1A 档（依据测量要求仪器自动选择）测试夹具配 TBJ-300（300mm） 便携测试夹具 测量条形金属箔和金属薄带自动温度 补偿测量值自动矫正为20℃时数值测量项目质量电阻率ρm、导体电阻率 ρv、电导率 σ、电阻 R打印输出 数据日期、时间、温度修正系数 α 、规格、 金属箔和线材的各项测量数值正常工作 环境温度0℃～＋40℃ 相对湿度0～80%显示大屏幕液晶，可同时显示多项测量参数，带背光供电7Ah/7.4V 充电锂电池。电池单独供电，平均工作时间超过15小时内部存储 器可保存1000组测量数据PC 机 通 讯方式RS232串口重量主机： 2.2Kg 便携测试夹具： 1Kg主机尺寸285(W)*158(H)*120(D)主机外壳抗冲击工程塑料包装及防 护内装主机、测试架、充电器、通讯电缆、校正电阻、操作手册、微型打 印机

2439防静电体积电阻率测量仪中华人民共和国国家标准硫化橡胶或热塑性橡胶导电性能和GB/T 2439-2001耗散性能电阻率的测定idt 1SO 1853:1998代替GB/T 2439-1981(1989)Conducting and dissipative rubbers , vulcanized orthermoplastic-Measurement of resistivity警告:使用本标准的人员应熟悉正规实验室操作规程。本标准无意涉及因使用本标准可能出现的所有安全问题。制定相应的安全和健康制度并确保符合国家法规是使用者的责任。1范围本标准规定了对于含有炭黑或电离物质的导电性能或耗散性能的硫化橡胶和热塑性橡胶经特殊制备的试样在实验室对其体积电阻率的测定。在橡胶配料中掺入电离物质也可以使混炼胶具有抗静电性能。本标准适用于电阻率低于10°Ω.m的物质。2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T 2941-1991橡胶试样环境调节和试验的标准温度、湿度及时间(eqv[SO 471:1983)3试验装置试验电路图见图1.3.1电源电源采用最小对地电阻为10"Ω,并且在试样内消耗的功率不大于1W的直流电源。3.2测量电流仪表测量电流仪表的示值误差不大于±5%。注，使用静电计(3.5)可以由通过已知电阻的电压降的测量计算出非常小的电流。2439防静电体积电阻率测量仪1-试片 2一电流电极13-绝缘垫:电阻至少10Ω,4一电位计(静电计):5-电压电极:6一可调式直流电压图1试验电路图3.3试样夹具和电流电极试样夹具包含一个约10mm厚,用以安装测量电极的聚苯乙烯板(见图1),电流电极应为长约5 mm的洁净金属,并用合适的接线夹子或夹紧装置,连接在试样的整个宽度范围上。电流电极之间的距离应为50 mm±1 mm或100 mm±1mm,它们之间的电阻应大于10Ω.3.4 电压电极的构成在10mm宽的试样上能施加接触压力约0.65N或在20mm宽的试样上能施加接触压力约1.3N的接触压力(见图2)。电压电极间的电阻应大于10Ω.。R0.51-聚苯乙烯:2-不锈钢 3一试样宽至少10mm:4-(10 mm~20 mm)±2%图2电压电极3.5静电计具有大于10"Ω的输人电阻。附录A(提示的附录)中给出了这种仪表的参考资料。3.6绝缘板绝缘板的电阻率大于10Ω.m。3.7恒温箱恒温箱能够使温度控制在70℃±1C,1632439防静电体积电阻率测量仪GB/T 2439--20014试样4.1试样为条状的硫化橡胶或热塑性橡胶,宽10mm±0.5 mm 或20 mm±0.5mm,长最小为70mm,厚度为2mm.4mm或示3mm,厚度均勾度的公差为±5%，42试样可用刀片或冲模裁切,但必须注意尽量使变形减少到最低程度,因为变形会影响电阻值。4.3试样表面必须请洁、平滑,无腿纹、气泡和杂质等缺陷,表面不允许抛光和打磨。4.4对比试验症使用相同尺寸的试样。5试样的数量为三个相同规格的试样。6程序6.1 根GB/T2941规定,硫化或模压后的试释停放时间不少于16h,然后将试样放在夹具上,在试样的两晚夹上电流电极,在70℃±1℃的恒温箱中放置2h,62 将带试样的夹具从恒温箱中取出,根据GB/T2941规定,在标准试验室温度和型度下调节不少于16b,试样不要移动。6-3将电压电极放在试样上,保持两个电压电视之间的距离为10mm~20mm,确保刀刃与电流方向成直角,电压电极任一刃口与电流电极距离都不小于20mm，测量电压电毁两刃口之间的距离,测量润差不大于±2%，通电1min后,用静电计测定电压电极两刃口之间的稳定电压，6.4在同一试样上重复尽3步骤两次,每测量一次,移动一次电压电极,以测定整个试样长度上电压分布的情况。6-5 用同样的方法测试另外两个试样。7试验结果取每个试样的三个电阻测试值的算术平均值,并按式(1)计算电阻率户.单位:n.m.式中 V一-测量电压,V，W一-试样宽度,m1p--试样厚度.m:p一-电压电极之间的距离.mI----测量电流.A.取三个试样的电阻率的中位数表示试验结果。B试验报告试验报告必须包括以下内容:a)试验依据的标准 b)试样的详细说明。1)试样及其来源的详细描述 2)如果已知的话,应该包括藏合组分及加工条件，3)试样的尺寸:e)试验的详细说明，1)试验过程中的温度和湿度条件 1642439防静电体积电阻率测量仪1　测量范围：10-9Ω.m～1011Ω.m (世界上超宽测量范围，达20个数量级）,几乎可以测量从金属导体到所有静电导体材料及静电消电等全部材料。2　准确度：1%～5%3　静电计(静电电压表)：100mV～±200V，输入电阻≥1014Ω(100TΩ)，0.5～2%4　皮安电流表：1×10-15A (1fA), 0.5～3%5 数字可调电压源：1%6　测试屏蔽箱（送标准四电极）(注：不同的标准有不同的电极，可以免费送符合国家标准的一套四电极。7 绝缘板　≥100TΩ.m (1014Ω.m)8 电流电极距离：100mm2439防静电体积电阻率测量仪 1、测量范围：DC±200mV—±200V,采用电阻分压或电容分压可扩大测量范围。 2、准确度：±（0.5％读数＋2字） 3、输入阻抗：1×1014Ω（100TΩ） 4、漂 移：时间漂移：24小时小于0.5% 温漂小于0.05%/℃ 5、电源：220VAC、50HZ 10W 6、质量：2KG 7、尺寸：220mm×230mm×80mm 8、测量原理：本仪表采用极高输入阻抗的高性能集成电路做输入级，输入阻抗大于 1×1014Ω

电阻率测量仪钻井液电阻率测量仪主要用于测试各种液体的电阻率或导电性能，也可为液体矿化度分析，对水的纯度进行鉴别提供参考。仪器主要由测试仪器箱、电阻池、电源适配器和温度传感器等组成。通过测量标准长度的电阻池、两端电阻及液体温度，经过精密电路分析，通过单片机内部运算，最终由显示器直接显示。特点仪器也可进行液体矿化度分析；测值精度高、重复误差小；安全可靠、操作简便；测试数据准确。 参数 序号项目参数1工作电源AC（220V±11）V 50Hz2工作环境温度18℃～26℃3测量温度范围10～50℃，精度在±1℃以内4标准温度设置15～35℃，步进值为1℃5测量范围0.01～10Ωm6测量不确定度～5.0Ωm在±3%以内，其它在±5%以内7净重/毛重1.74kg/2.24kg8外形尺寸250×170×120（mm）9包装尺寸（纸箱）330×270×220（mm）

四探针电阻率方块电阻测试仪便于查看的显示/直观的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示；操作易学，直观使用；基本设置操作简单，方阻、电阻、电阻率、电导率和分选结果；多种参数同时显示。精度高：电阻基本准确度： 0.05％；方阻基本准确度：3%；电阻率基本准确度：3%整机测量最大相对误差：≤±3%；整机测量标准不确定度：≤±3%四位半显示读数；八量程自动或手动测试；6. 测量范围宽： 电阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；7. 正反向电流源修正测量电阻误差8. 恒流源：电流量程分为： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六档；仪器配有恒流源开关可有效保护被测件，即先让探针头压触在被测材料上，后开恒流源开关，避免接触瞬间打火。为了提高工作效率，如探针带电压触单晶对材料及测量并无影响时，恒流源开关可一直处于开的状态。9. 可配合多种探头进行测试；也可配合多种测试台进行测试。10. 校正功能：可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。11. 厚度可预设，自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。12. 自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。13. 双电测测试模式，测量精度高、稳定性好.14. 具备温度补偿功能，修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。15. 比较器判断灯直接显示，勿需查看屏幕，作业效率得以提高。3档分选功能：超上限，合格，超下限，可对被测件进行HI/LOW判断，可直接在LCD使用标志显示；也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。16. 测试模式：可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。17. 丰富的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制。U盘可记录测试数据18. 软件功能（选配）：软件可记录、保存、各点的测试数据；可供用户对数据进行各种数据分析。标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。四探针电阻率方块电阻测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。四探针电阻率方块电阻测试仪电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。四探针电阻率方块电阻测试仪规格型号 300c电阻10-7～2×107Ω2.电阻率范围10-8～2×108Ω-cm3.电导率5×10-8～108s/cm4.测试电流范围1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA5.测量电压量程 测量电压量程：2mV 20mV 200mV 2V测量精度:±（0.1%读数）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV6.电流精度±0.1%读数7.电阻精度≤0.3% 8.显示读数 液晶显示：电阻值、电阻率、电导率值、温度、单位自动换算、横截面、高度、电流、电压等9.测试方式四端测量法10.测量装置（治具）选购1.标准方体和圆柱体测量装置：测试行程：L70mm*W：60mm2.定制治具11.工作电源 AC 220V±10%.50Hz功 耗：30WH12. 主机外形尺寸约330mm*350mm*120mm 13.净重量约6kgNet14.标配外选购 1.标准校准电阻1-5个；2.PC软件一套；3.电脑和打印机依据客户要求配置；4.计量证书1份四探针电阻率方块电阻测试仪定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1所给出的某一合适值，测量并记录所得数据，所有测试数据至少应取三位有效数字。改变电流方向，测量、记录数据。关断电流，抢起探针装置，对仲裁测量，探针间距为1.59

高低温绝缘电阻率测试仪GEST-121T产品概述：本仪器是一台通用高绝缘电阻率测试仪器，可以适用于不同试样类型（片材/棒材/块体等）的绝缘材料电阻率测试。同时可以配套不同的试验套装，可以实现对不同高低温、真空及气氛环境下测试，满足客户多种测试需求，方便用户进行后期的拓展和延伸。本测量系统操作使用方便，电阻测量精度高，温度采集准确。适用客户：适用于计量院、第三方检测机构、科研院所、生产企业研发、质量品管检测等用户。本仪器全套试验测控系统主要由以下四部分组成：★高低温试验台★全自动绝缘电阻率测量仪★配套专用测试电极★电阻率试验控制系统一、高低温试验台-GDW-250高低温试验台是通用试验设备，可以独立加热，也可以根据用户的需求，配备不同的测试工装和夹具，通过和不同的测试主机配套使用，可以用于高低温绝缘电阻率、高低温导体电阻率、高低温介电性能测试。二、全自动绝缘电阻率测量仪-GEST-121A： 产品概述本仪器主要用于测试绝缘材料的绝缘电阻、体积电阻及表面电阻值，本仪器是一台通用试验仪器，通过选配不同的测试电极，可以满足和测试所有不同类型的绝缘材料，如：粉末、片材、薄膜和液体溶液等。本仪器测试量程比较款，最高可以到1018Ω，几乎可以满足于市场上所有的绝缘材料的测试。材料类型：适用于橡胶、塑料、薄膜、块体等绝缘材料及粉体、液体、固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。技术参数1 电阻测量范围 0.01×104Ω ～1×1018Ω2 电流测量范围为 2×10-4A～1×10-16A3 显 示 方 式 触摸屏显示4 内置测试电压 10V 、50V、100V、250、500、1000V5 测量精度 ≥1×1010，精度：5%-10%≤1×1010，精度：1%6 供电电压 220V/50HZ7 仪器功率 100W8 外形尺寸 长宽高=300mm*300mm*150mm9 仪器重量 约30KG三、售后服务1.质保一年终身维护，软件免费升级2.提供全套操作培训使用视频，包括：如何连线、放置试样、设置参数、试验流程等全套操作培训视频。3.提供远程视频指导和电话指导服务4.客户反馈问题在24小时内给予反馈，48小时给予解决，解决不了负责提供上门服务。5.设备到货后，按照装箱单与技术协议规定的供货明细，清点设备和随机提供的技术资料 按装调试完成后对操作人员做系统的操作维护及保养等注意事项。

仪器简介：土壤电阻多点图象测量仪可以测量深达25米的土壤电阻。本型号设计主要用于浅层地下水调查、考古调查与地质调查及地质绘图等研究工作.SYSCAL Kid Switch-24型土壤电阻多点图像测量仪包括24个电极，两条线索（每条12个电 极）分别连接到主机上。具软件控制自动测量功能。 全新的用户界面受到用户的普遍好评。您只需要选择电极排列类型，输入电极间隔并执行测量启动就可以完成测量了。取样完成后移动线索到下一个测量地点，并再次启动测量非常方便。数据下载后，选择不同的廓线数据进行合并产生最后的数据文件，最后利用图像软件进行最后的分析。调查非常方便，一个人足以完成所有的工作。每条线有12个输出，每个电极的间隔可以是1米、2米或是3米。一条带有3米间隔的线索40米 长，重量为2.5Kg。技术参数：LCD显示：4行20个字节 键区：6个功能键 操作温度范围：-10~+50℃ 内置可充电电池：12V，6.5Ah 内存：可测量1400个位置，带全部读数：自然电位、电压、电流、电阻 大小尺寸：23× 18× 23cm 重量：4.8kg 发射器： 自动电流设定 输出电压：可达200V 输出电流：可达500mA 输出功率：可达25W 可选外置12V电池输入 循环时间：0.5s，1s，2s 接收器： 电阻计算 自动量程 SP补偿包括线性漂移 数字叠加消除噪声 输入电压：保护可达220V 范围：-2.5V~+2.5V 输入阻抗：22M&Omega 电阻测量范围：10-3~10+5 &Omega . m 准确度：1%

机器是双系统控制模式，可电脑控制，也可以触摸屏控制。 数据处理：测试数据可显示测试点的 X, Y 坐标，电流电压范围，电阻，电阻率等。 图谱功能画面：制图软件可根据样品形状，测量点数量和位置，测量点的方阻值绘出2D, 3D MAP图. 控制系统：机器是双系统控制模式，可电脑控制，也可以触摸屏控制 有伺服电机，高精度走位，探头压力传感器，设有多重压力感应保护机制。测量区域封闭无尘空间，减少污染。 机器参数1．方阻测量范围：1x10E-6ohm/sq~5x10E6ohm/sq2．四探针探头测量金属类型：铝 / 钛 / 镍钒 / 金/ 铜 等金属3．四探针探头测量金属厚度：100A～10μm4．四探针系统电流量程：1μA , 10μA , 100μA ,1mA , 10mA , 50mA , 500mA 七档5．四探针标准晶圆方阻重复性：1，≤±0.1%（同点静态测量）2，≤±0.2% （动态多点测量）6．四探针标准晶圆测量精度：≤±1%（典型晶圆）7．量测区域：以探针头的中心到晶圆的边缘距离3mm8．测试图形： 1，极地图形（在对位晶圆的notch) 2，矩形图形（无效边缘排除以外进行选择） 3，直线扫描（可以是直径，半径或沿直径的点到点，最小距离0.1mm) 4，用户自定义（使用模板） 9．测量图形表示：可以为轮廓图，3D图，water上显示的数据图数据表示10．探针自清洁功能：陶瓷片清洁11．所有设备测量的数据文件可以被导入到Excel，Word文档，工作站等，数据图形可以合并

四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪（自动测试台+带软件） 型号：KDK-KDY-1四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量份（简称：主机）、测试架及四探针头组成。本仪器的特点是主机配置双数字表，在测量电阻率的同时，另块数字表（以分之几的度）适时监测程的电流变化，免除了测量电流/测量电阻率的转换，更及时掌控测量电流。主机还提供度为0.05%的恒流源，使测量电流度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些箔层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，地保护箔膜。“小游移四探针头”，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器，测量硅片时可自动行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。2、主机能数（1）测量范围：可测电阻率：0.0001～19000Ω?cm可测方块电阻：0.001～1900Ω?□（2）恒流源：输出电流：DC 0.001～100mA 五档连续可调量程：0.001～0.01mA0.01～0.10mA0.10～1.0mA1.0～10mA10～100mA恒流度：各档均低于±0.05%（3）直流数字电压表：测量范围：0～199.99mV灵敏度：10μV基本误差：±（0.004%读数+0.01%满度）输出电源：≥1000ΩM（4）供电电源：AC 220V±10% 50/60 Hz 率：12W（5）使用环境：温度：23±2℃ 相对湿度：≤65%无较强的电场干扰，无强光直接照射（6）重量、体积：主机重量：7.5kg体积：365×380×160（单位：mm 长度×宽度×度）备注：等测量时（测电阻率），度3%电气测量时（测电阻），度在0.3%以内 备注：仪器包括：主机台；测试架（包括台面）个；四探针头1个；软件

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

四探针低电阻率测试仪技术参数：1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力：200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具：内径10mm；高：25mm；加压方式：手动液压加压/自动加压方式（选购）11.电源：220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸：330mm*350mm*120mm13.净重量：约6kg14.标配外选购：1）.标四探针低电阻率测试仪本标准修改采用SEMIMF84-1105《硅片电阻率测定四探针法》和SEMIMF397-1106《硅棒电阻率测定两探针法》。本标准与SEMIMF84-1105和SEMI MF 397-1106相比,主要变化如下:--中厚度修正系数F(W/S)表格范围增加 一按中文格式分直排四探针法、直流两探针法进行编排。本标准代替GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》和GB/T 1552-1995《硅、锗单品电阻率测定直排四探针法》。本标准与GB/T 1551-1995和GB/T 1552-1995相比，主要有如下变化:一一删除了锗单晶测定的相关内容 一用文字描述代替了原标准GB/T 1551-1995和GB/T1552-1995中的若干记录测试数据的表格 --修改了直排四探针法中计算公式 --补充了干扰因素。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出。本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会归口。本标准起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所。本标准主要起草人:李静、何秀坤、张继荣、段曙光。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:--GB1552-1979、GB1551--1979、GB5251--1985、GB5253-1985、GB 6615-1986 GB/T 1551-1995、GB/T1552--1995。四探针低电阻率测试仪1范围本方法规定了用直排四探针法测量硅单晶电阻率的方法.本方法适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍的硅单晶体电阻率以及测量直径大于探针间距10倍、厚度小于探针间距4倍的硅单晶圆片的电阻率。本方法可测定的硅单晶电阻率范围为1X10-Ω・ cm~3X10' Ω.cm.2环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。3干扰因素3.1光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流，因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要排列成一直线的四根探针垂直地压在距离边缘6mm以上的平坦试样表面上,将直流电流I在两外探针间通入试样,测量内侧两探针间所产生的电势差V,根据测得的电流和电势差值,按式(1)计算电阻率。对圆片试样还应根据几何修正因子进行计算。测量示意图见图1.p=2xs￥..…………--…(1)式中:一电阻率,单位为欧姆厘米(Ωcm) V-测得的电势差,单位为毫伏(mV) I一通入的电流,单位为毫安(mA) S一探针间距,单位为厘米(cm).四探针低电阻率测试仪直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.5.2电学测量装置由下列几部分组成。5.2.1任何满足7.1.6要求的电路均可用来进行电学测量。推荐电路(见图2)包括下述几部分。电位选择开关恒流源标准电阻数字电压表0.001mA一100mA电流选择开关探针装置圈2推荐电路图5.2.2恒流源,电流范围为10-'A~10-*A,纹波系数不大于士0.1%,稳定度优于士0.05%。5.2.3电流换向开关。5.2.4标准电阻,0.01 0~100000Ω.0.05级.5.2.5双刀双掷电位选择开关,图2推荐电路需要这一开关来选择测量标准电阻或试样上电势差。5.2.6数字电压表,可用来测量以毫伏为单位的电势差或者连同电流源一起校准到能直接读出电压-电流比值。测量满量程为0.2mV~50mV,分辨率为±0.05%(3&half 位有效数字),输入阻抗大于10°倍试样电阻率。如试样电阻率仅限定在某一数值范围内,一个较小满量程范围就足够了。5.3样品架/台,用于固定试样的合适夹具。5.4散热器,用一直径至少为100 mm,厚为38 mm的铜块来支撑圆片试样和起散热器作用(图3)。它应包括一个容纳温度计的小孔,使温度计能放置在离试样10mm范围内的散热器中心区。散热器上放一片10 μm~25μm厚的云母片,使试样和散热器电绝缘。在云母片和铜块间、温度计孔中填充矿物油活动有机硅散热以减少热阻。散热器安放应能使探针尖端阵列中心在试样中心的1mm以内。散热四探针低电阻率测试仪GB/T 1551-2009器应与电学测量装置的接地端相连接。为了迅速对准试样中心,可在散热器表面加工一个与铜块同心的浅圆环。一样品云母片38mm温度计100mm图3带有样品、云母片和温度计的散热器5.5 研磨或喷砂设备,用以提供平坦的试样表面。研磨设备应能将圆片试样研磨到厚度变化不大于试样中心处厚度值的±1.0%，5.6机械或电子厚度测量仪,能测量试样不同位置的厚度,精度优于±1.0%。5.7千分尺或游标卡尺,分辨率优于士0.05 mm。5.8微移动机构,能以0.05 mm~0.10mm增量使探针装置或硅表面以垂直于探针尖端连线方向并平行于硅表面移动。5.9 工具显微镜,分辨率为1μm。5.10显微镜至少放大400倍。5.11温度计或其他测温仪器0℃~40℃,分度值为0.1℃。5.12欧姆计,能指示大于10°Ω绝缘电阻。5.13超声波清洗器,具有适当频率(18 kHz~45 kHz)和功率。5.14化学实验室器具(如塑料烧杯、量筒、处理和清洗酸及其蒸气所需的设备等)。6试样制备6.1 试样用W14#(粒径为10μm)金刚砂研磨上下表面,保证无机械损伤、无沾污物。6.2在不包括参考面或参考缺口的圆周上测量直径3次,计算试样的平均直径D。试样直径应大于10倍平均探针间距S,直径变化不大于D的D/5S%,记下D值。6.3在试样上测量9个点的厚度(见图4)。要求各测量点厚度与试样中心点厚度的偏差不大于士1.0%,记下试样的中心厚度W.

冠测全自动绝缘电阻率测试仪GEST-121A本仪器主要用于测试绝缘材料的绝缘电阻、体积电阻及表面电阻值，本仪器是一台通用试验仪器，只要不超过主机的测试量程，都可以测试，配备不同的电极，适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定本仪器既可测量高电阻，又可测微电流。采用了美国Intel公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。是目前国内测量范围最，准确度高的数字超高阻测量仪。

双电测电四探针方阻电阻率测试仪环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。干扰因素光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流，因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净，不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。4.3.4人员资格本仪器为精密仪器，必须由训练合格的人员使用和操作。4.3.5安全守则操作人员必须随时给予教育和训练，使其了解各种操作规则的重要性，并依安全规则操作。圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.双电测电四探针方阻电阻率测试仪技术参数：1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力：200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具：内径10mm；高：25mm；加压方式：手动液压加压/自动加压方式11.电源：220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸：330mm*350mm*120mm双电测电四探针方阻电阻率测试仪安全要点● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。● 万一发生问题，请立即关闭电源并及时处理故障原因。双电测电四探针方阻电阻率测试仪衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等，这些金属饰物很容易造成意外的感电。4.3.7医学规定绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。4.4测试安全程序规定 一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。双电测电四探针方阻电阻率测试仪操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④_x0001_ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。

覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm， 方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可

GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，运输工具杆塔组立和架线设备，金属抱杆许用轴压大于100kN（容许吊重大于30kN），金属抱杆许用轴压不大于100kN（容许吊重不大于30kN）大型牵引机280kn，大型张力机180kn（4*4.5kn），中型牵引机80kn中型张力机60kn，绝缘油、气施工设备，真空滤油机净油能力6000L/H真空度小于60pa干燥空气发生器，露点小于-40度，参考流量2m3/min，SF6气体回收装置抽气速率大于等于40m3/h，SF6气体抽真空充气装置抽气速率≥45L/s，真空泵大于等于4000m3/h，线路维修施工设备，双钩15~20kN，卡线器，紧线器10~15kN，起重滑车20~50kN，放线滑车，机动绞磨机50kN，手扶绞磨机50kN，电动绞磨机50kN，放线架60kN，手动液压机240kN，断线器，油压分离式穿孔工具0~120mm，导线压接机1000-1250kN，导线压接机2000kn，导线压接机600kN，液压压接钳160kN，液压压接钳600kN，电缆压接钳200-300mm2，电缆压接钳90-200mm2，电缆压接钳16-90mm2，液压弯排机适用排宽度50-125mm，厚度5-12mm，电焊机≥400A，测量、试验及动力设备，GPS或红外线测距仪，水准仪，经纬仪，全站仪，游标卡尺，接地电阻测试仪，绝缘电阻测试仪，钳型电流表，发电机3kw8kw12kw，电缆引线器160m，电缆引线器100m，电缆输送机5kn，电缆牵引机3kn有毒、易燃、易爆气体检测仪数字式真空计0-1000pa，线缆轻质切刀，线缆软质切刀，力矩扳手，电缆剥皮工具，介质损耗测试仪，高压发生设备，直流高压发生器DC:300kV/5mA，DC:250kV/5mA，DC:200kV/3mA，DC:120kV/2mA，DC:60kV/2mA，AC：10kVA/100kV，AC：6kVA-10kVA/50kV，AC：5kVA/50kV，变频串联谐振试验成套装置4000kVA/800kV /5A 30~300Hz，2000kVA/400kV /5A 30~300Hz，500kVA/200kV /2.5A 30~300Hz，75kVA/75kV/1A 30~300Hz局部放电成套装置400kw以上，频率大于100hz电源，感应耐压试验装置15kVA/600V 150Hz电气测量仪器高压介质损耗测试仪抗干扰变频，回路电阻测试仪DC:≥100A互感器伏安特性测试仪500V/5A，地网接地电阻测试仪，电容电感测试仪三相同时测量，测量用电流互感器0.2级，变压器直流电阻测试仪DC：≤1A，变压器变比测试仪数字式，变压器有载分接开关特性测试仪I≥1A，变压器综合参数测试仪AC：500V/60A断路器特性测试仪氧化锌避雷器阻性电流测试仪，单相继电保护测试仪两相电流、两相电压，大电流发生器500A/5V，雷击计数器动作测试仪，绝缘电阻测试仪DC：0~5000V 200G（MΩ）短路电流≥3mA。电缆识别仪，油、气试验仪器，色谱仪，闭口闪点仪酸值测定仪，PH测定仪，绝缘油介电强度测试仪，常用仪器仪表，兆欧表DC：5000V，兆欧表DC：2500V，兆欧表DC: 500V，万用表单臂电桥，双臂电桥，数字式双钳相位伏安表,测量电流小于50m，相序表，钳型电流表，直流稳压稳流电源220V/110V/5A，电流互感器二次回路负载测试仪20V/5A，三相调压器15kVA。承办一级、二级、三级、四级、五级电力承装承修承试资质升级。

ST2258C型多功能数字式电阻率、薄膜方阻测试仪简介一、结构特征 二、概述 2.1基本功能和依据标准：ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2仪器成套组成：由ST2258C四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。2.3优势特征：1：本测试仪特赠设测试结果自动分类功能，可分类10类。2：可定制USB通讯接口，便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。3：8档位超宽量程。 同行一般为五到六档位。4:仪器小型化、手动/自动一体化。5:仪器操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便而且免除模拟定位器的不稳定。2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1配高耐磨的碳化钨探针探头，如ST2253-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如ST2558B-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜， 如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。3配专用箔上涂层探头，如ST2558B-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。。2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。 2.6适用范围：仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试三、基本技术参数 1.测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）电 阻：10.0×10-6～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6～ 0.01×103Ω）电 阻 率：10.0×10-6～ 200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103 Ω-cm（1.0×10-6～ 20.00×103Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103Ω-cm）方块电阻：50.0×10-6～ 900.0×103Ω/□ 分辨率5.0×10-6～ 0.5×103 Ω/□（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□ 分辨率0.5×10-6～ 0.1×103 Ω/□）2.材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)直 径： SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限长(高)度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.测量方位: 轴向、径向均可3.3量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00测试电流0.1μA1.0μA10μA100μA1.0mA10mA100mA1.0A常规量程kΩ-cm/□kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□基本误差±2%FSB±4LSB±1.5%FSB±4LSB±0.5%FSB±2LSB±1.0%FSB±4LSB3.4四探针探头（选配其一或加配全部）(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调3.5.电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：3.6.外形尺寸、重量：主 机： 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）， 净 重：≤2.5kg

ATD-312型智能体积表面电阻率测试仪一、产品特点：ATI-212材料电阻率测试仪（电阻率测定仪）能测试体积电阻率和表面电阻率实现目前市场测量量程宽，支持触摸屏设置及显示，支持微型打印机，同时支持USB与电脑通讯，配备电脑软件，实时显示测量曲线，支持历史数据存储，并支持同类材料实验结果对比分析。 二、适用标准：GB/T1410-2006、 ASTM D257-99 、 GB/T2439-2001、GB/T10581-2006、 GB/T1692-2008、GB/T 12703.4-2010、 GB/T10064-2006。 三、适用材料： 橡胶、塑料、聚酯薄膜、胶片、硅胶、光伏组件、汽车零部件、复合材料、陶瓷、玻璃、云母、树脂等固体绝缘材料。配备不同电极还可测试液体、粉末材料。 四、技术参数：型号LST-121ATI-212ATD-312 显示方式液晶显示触摸屏智能触摸屏仪器电压10V、25V、100V、250V、500V、1000V仪器电阻0.01×104Ω～1×1018Ω仪器电流2×10-4Ａ～1×10-16Ａ厚度输入无有仪器精度1≤%仪器屏幕显示电压、电阻、电流电压、电阻、电流、电阻率支持微型打印机，同时支持USB与电脑通讯，配备电脑软件，实时显示测量曲线，支持历史数据存储可测试项目体积电阻、表面电阻体积电阻率、表面电阻率主机尺寸300*170*120mm360*350*170mm屏蔽箱尺寸200*200*100mm测试方法三电极法电极尺寸下电极100mm、环形电极80mm、圆柱电极50mm屏蔽箱+电极重量5KG主机重量3KG5KG10KG供电形式AC220V，50HZ，功耗约5W以下为此仪器的标准：固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法1、范围本标准规定了固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的试验方法。这些试验方法包括对固体绝缘 材料体积电阻和表面电阻的测定程序及体积电阻率和表面电阻率的计算方法。体积电阻和表面电阻的试验都受到下列因素影响：施加电压的大小和时间；电极的性质和尺寸；在 试样处理和测试过程中周围大气条件和试样的温度、温度。2、规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。 凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的*新版本。 凡是不注日期的引用文件，其*新版本适用于本标准。GB/T 10064-2006 测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法（IEC 60167:1964,IDT)GB/T 10580-2003固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件。EC 60212:1971,IDT)IEC 60260: 1968 非注入式恒定相对温度的试验箱3、定义下列定义适用于本标准。3.1体积电阻 volume resistance在试样两相对表面上放置的两电极间所加直流电压与流过这两个电极之间的稳态电流之商，不包 括沿试样表面的电流，在两电极上可能形成的极化忽略不计。注：除非另有规定，体积电阻是在电化一分钟后测定。3.2体积电阻率 volume resistivity 在绝缘材料里面的直流电场强度和稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。注：体积电阻率的SI单位是。 ＇ m。 实际上也使用。? cm 这一单位。3.3表面电阻 surface resistance 在试样的其表面上的两电极间所加电压与在规定的电化时间里流过两电极间的电流之商，在两电 极上可能形成的极化忽略不计。注1：除非另有规定，表面电阻是在电化一分钟后测定。注2：通常电流主要流过试样的一个表面层，但也包括流过试样体积内的成分。3.4表面电阻率 surface resistivity 在绝缘材料的表面层里的直流电场强度与线电流密度之商，即单位面积内的表面电阻。 面积的大 小是不重要的。注：表面电阻率的SI单位是0。 实际上有时也用 “欧每平方单位”来表示。3.5电极electrodes 电极是具有一定形状、尺寸和结构的与被测试样相接触的导体。注：绝缘电阻是加在与试样相接触的两电极之间的直流电压与通过两电极的总电流之商。绝缘电阻取决于试样的表面电阻和体积电阻（见GB/T10064一一2006）。

老鼠发情周期测量仪（Rat Vaginal Estrous Cycle Monitor）主要是为了获得大鼠、小鼠在发情交配周期的精确信息而开发的设备。通过测量大鼠、小鼠阴道黏膜上皮细胞层的电阻抗数据，来判断老鼠的发情交配周期。阴道黏膜上皮细胞层的电阻抗是通过插入阴道的探针以1千赫兹（1Khz）的频率来测量的，该设备的测量范围是：0-19.9kohm（千欧姆）。老鼠在发情周期阶段的阻抗明显升高，与其他阶段发情周期相比，阻抗达到3千欧姆（3kohm）时被认为是发情前期阶段。 P为发情前期 EIV变化(老鼠发情周期中)，EIV显示了发情前期的高值，和发情期的周期性变化常规测定方法（阴道涂片法）是比较麻烦的，还需要操作人员有一定的技巧，并且浪费时间和人力。大鼠阴道阻抗检测仪是一个可靠的，省时省力的设备，操作简单，初学者也很容易掌握使用。 型号：MK-12 鼠孕期测量仪的主要特点： 测定大小鼠发情前期阶段的好方法； 强大的工具，提高繁殖效率； 重复性好，测量效率高； 操作简单； 电池供电，使用方便；MP-35A 规格： 控制：面板电源按钮开关 数据输出：LCD屏幕显示 电源：2AA镍氢电池，可充电 电池寿命：30小时 探针接口：插孔式 声音等级： 70 dB (A) 测量范围：0-19.9KOhm 精度：±1% ±1 digit 校准：自动 测量频率：1KHZ 重量： 0.2kg 尺寸：10(w)x14(d)x3(h)cm 探针尺寸（大鼠）：55mm x 4.5mm OD 探针尺寸（小鼠）：50mm x 3.5mm OD请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

产品简介 Instec的ALCT-HR1高电阻率测试仪，电阻率量程可达到 10^16Ωcm，可用于液晶等高阻样品的电阻率测试。可增加样品温控功能来测试材料的温度依赖数据，且可扩展为8通道设备，实现同时测量8个样品。功能特点 通用电阻率测量仪电阻率测试范围可达 10^16 Ωcm默认单通道、可扩展至8通道上位机控制软件WinLC，连接电脑使用可选样品温控功能，以实现温度依赖测试可做功能改动定制，详询上海恒商技术参数 输出电压0 to ±100 V输出更新率500 kHz输出分辨率16 bit输入分辨率16 bit输入采样率2 MHz电流测量范围0.1pA~ 10 nA电流传感器电阻100MΩ ,1GΩ, 10GΩ, 100GΩ电流分辨率100 pA电阻率测量范围可达到 10^16Ωcm通道数默认1，可选2, 4, 8WinLC WinLC为ALCT的专用WIndows操作与分析软件。根据ALCT设备的型号不同来解锁软件的对应功能界面。界面友好，测量方便快捷准确，测试结果保存方便，生成的文件可用常用软件打开

ST2722-SZ型四探针法粉体粉末电阻率测试仪产品信息名称：ST2722-SZ型四探针法粉末电阻率测试仪品牌：苏州晶格产品特点 ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。 四探针法测试台设计符合符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线，” 原厂专利产品，行业粉末电阻率标准测试方式。产品特写图 操作-加料准备 操作-加料完毕 操作-调节料杯容量控制加料量 读取-电阻率值和测试压强条件参数 二、概述 2.1基本功能和依据标准： ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四探针法电阻率测试仪与自动化粉末压片机相组合，测试粉末“电阻率-压强”特性曲线的集成化、智能化测量仪器。四探针法符合新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。2.2仪器成套组成：整套仪器有ST2722电阻率测试仪主机和SZ或SD型粉末压片机两大部分以及配套的电脑软件组成。 主机是整个系统电气控制显示主要部分，主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力、厚度显示单元、与PC机通讯单元等组成。压片机压片机由粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。是粉末压片成型装置，用来装夹粉末（含高分子粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片）和自动压力检测、高度检测。（以下简称压片机）。2.3优势特征： 1)测试仪设计，符合国标和行业规范，获国家专利。专利号：ZL201220082173.9 ST2722-SZ四探针法设计符合***新GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。2)同步式连续多点测试，高效快捷、准确度高、重复性好。一次装料，电阻率、压强、高度同步式连续多点测试，可快速绘制粉末“电阻率-压强”曲线。行业推荐粉末电阻率标准测试方式。可避免传统异步式的先压片脱模后再四探针测试的缺项：误差大，重复性差，直至散块不能成形无法测试的问题。3)带智能化电脑软件.可以保存、查询、统计分析数据和打印报告。4）USB通讯接口，通用性好、方便快捷。优于RS232或485方式，这些端口一般电脑都难配了！5）8档位超宽量程。同行一般为五到六档位。6）可脱电脑单机操作,小型化、手动/自动一体化。操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数码键盘输入。7）可拓展功能：压片机可独立当普通压片机用，电阻率测试仪也可以增配四探针测试台、探头拓展为普通四探针测试仪或电池极片电阻率测试仪。2.6适用范围： 本仪器具有操作简便高效、测量精度高、稳定性好、重复性好，一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。三、技术参数3.1.电阻率测量范围、分辨率电 阻 率：10.0×10-6～ k×200.0×103Ω-cm 分辨率1.0×10-6～ 0.1×103Ω-cm,k=1～103.2.电阻率量程划分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.00量程KΩ-cmΩ-cmmΩ-cm基本误差±2%读数±4字±1.5%读数±4字±0.5%读数±2字±0.5%读数±4字3.3.数字电压表：⑴量程：10mV ～ 100 mV，自动⑵显示: 4位有效数字，显示999.9，小数点、单位自动显示3.4.数控恒流源8档宽量程电流输出：系统自动步进调整，直流电流0.1μA，1.0μA，10μA，100μA，1.0mA,10mA,100mA,1.0A共8档可调。3.5.粉末测试台部分参数：（1）试样成份：成份不限，但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。（2）试样粒度：推荐以40目以下—60目以上（标准筛网），一般其他粒度也可！（3）料杯容积：截面：S=1.0cm2 高度：0～20mm可调,（4）自动高度测试单元，测量误差：±0.02mm。 四位有效显示数00.00～20.00mm，分别率±0.02mm。（5）自动压强测试单元，标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa。 压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调。四位有效显示数00.00～20.00MPa，分别率±0.01 MPa。（6）、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。3.6.配套PC软件1 USB高速通讯接口。2带数据库方式存储数据，便于历史查询和第三方软件拓展共享。3自动生成excel形式的图表结合的测试报告,包含电阻率-压强曲线图形和详细测试数据。4带测试报告预览、编辑、打印功能。3.7.测试仪外形与重量前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm重 量=10Kg3.8.电源：功 耗：10W输入:220V±10% 50Hz3.9.本仪器工作条件为：温 度： 0-40℃相对湿度： ≥60%工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源。

Signatone四点探针与电阻率测试设备 Signatone 公司生产制造的QuadPro 制程发展电阻率测量系统包含了手动和自动的测量系统。手动系统包含一个滚珠轴承的四点探针机台，为因应使用的需要，手动机台往后可以升级增加自动机台的功能．自动机台系统是由计算机控制马达带动的，在测量100毫米、125 毫米、150 毫米、200 毫米、300 毫米的待测样品时，可设定自动测量9、25、49、或121 个测试点．系统使用四点探针，双架构测试方式，并整合了目前最佳的测量仪表可达到在1mΩ/□至2MΩ/□间小于1% 的误差．系统的准确度(Accuracy)与校准(Calibration)可追朔至美国国家标准局(NIST)。其它特点：平均电阻率(Resitivity)、电阻率标准差(Standard Deviation)、平均片电阻(Sheet Resistance)、片电阻标准差电阻温度系数(TCR, Temperature Coefficient of Resistance)使用自动温度控制器与温控待测样品载台(选用)及仪表测量电阻温度系数测量结果可以用二维(2D)或三维(3D)方式图形表示采用双架构测试方式(Dual Configuration)以达到最佳的系统准确性(Accuracy)与重复性(Repeatability)待测样品大小可由10 毫米到300 毫米在每个待测样品可上可自动测量高达49个可追朔至美国国家标准局的测试点QuadPro Automatic System (自动系统)自动的QuadPro 系统包括计算器、歩进马达控制单元、机台本体、200 毫米或者300 毫米隔离的待测样品载台(Isolated Chuck)。系统软件的设计让使用者可针对测量需求选择在每个待测样品上测量1、5、9、25 或者49 个自动测试点，并可自动绘图显示测量结果。使用者并可设定测试点在待测样品上的分布为方型或圆性。为提升测量数据的准确性与统计的有效性，软件可定义待测样品边缘的测量数据是否被采用。在测量开始时，系统软件自动搜集阻值范围，并据以作最佳的仪表设定。系统采用的双架构测试方式可消除因四点探针头结构误差所产生的测量误差，以提升系统测量的重复性和准确度。系统软件会控制并纪录每个测量点的位置与测量值，测量的结果如片电阻、电阻率和V /I(电压/电流)可在同一个测量结果的表格中表示。在完成全部测试点测量时，系统会用等高线图展示测量结果，此等高线图可在二维图与三维图间轻易的切换观看．电阻率与片电阻的平均值及标准差都会显示在等高线图上 QuadPro TCR Option (电阻温度系数测量选用项)电阻温度系数量测选用项整合了待测样品温度控制、仪表控制与温度系数运算的能力以完成电阻温度系数量测的功能。Signatone 提供了多种温度范围的温控待测样品载台系统供使用者选用。使用者可依测量需要设定开始温度、截止温度与在每个温度点停留多少时间后在开始量测。温度与量测得到的电阻值会存在同一个表格或图表内，以方便后续的分析使用。一般最常被采用的温控待测样品载台系统为室温至350°C。但是除了350°C 温控待测样品载台系统之外，Signatone 也提供低至-55°C 与高至600°C 的温控待测样品载台系统。一般QuadPro 的系统架构包括一台吉时利(Keithley)的2400 仪表(Source Measurement Meter)。吉时利2400 可测量的电阻范围为1mΩ至2MΩ。若使用者要测量更高电阻的材料，QuadPro 的系统架构将包括安捷伦(Agilent)的4156 参数分析仪，并采用隔离式的三轴系统架构，如此架构的QuodPro 系统的电阻测量范围为100mΩ 至10GΩ。为达到最佳的量测准确度，QuadPro 采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Four Point Probe Head (四点探针头)Signatone 提供了两大系列的四点探针头供使用者选用；SP4 系列和HT4系列．SP4 系列四点探针头是被大多数应用所采用的四点探针头，它是由直线排列的塑钢探针所组成．SP4 系列四点探针头提供了下列选项以适应各种应用：探针间距：0.040、0.050、0.0625 英寸探针针压：45、85、180 克探针材质：碳化钨(Tungsten Carbide)、锇(Osmium)探针半径：0.0016、0.005、0.010 英寸HT4 系列四点探针头表面看起来与SP4 系列四点探针头类似，但是HT4系列四点探针头适用陶瓷做的，故适用于高温与高电阻的测量，HT4 系列四点探针头可工作至650oC，而且HT4 系列四点探针头的耐高温同轴接线设计使其可测量的电阻值高达10GΩ．探针间距：0.050、0.0625 英寸探针针压：180 克探针材质：碳化钨(Tungsten Carbide)、锇(Osmium)探针半径：0.0016、0.005、0.010 英寸QuadPro Test & Calibration (测试与校准)Pro4-440N configuration (系统架构)电压与电流(V/I)的量测结果会记录在软件内．系统采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Pro4-440N 系统的标准范围是1mΩ/□至800KΩ/□．Pro4 Manual Four-Point Probe with Computerized Measurement System(Pro4 手动四点探针台与测量软件)Signatone 自1968 年就已经开始提供业界四点探针电阻率量测系统，其中的Pro4 系列手动四点探针台提供了简易且方便量测片电阻率(Sheet Resistivity)与体电阻率(Bulk Resistivity)的有效方法。使用者只要手动下针并操作软件上的量测按键，软件会自动控制吉时利仪表做最佳的电流设定并得到准确的量测。Pro4-440N configuration (系统架构)电压与电流(V/I)的量测结果会记录在软件内．系统采用了美国ASTM 标准F84-99 测试方法的双架构测试方式以补偿因为四点探针头间距可能不精确或量测接近导电层边缘而造成的量测误差．Signatone 同时也提供准确度可追朔至美国国家标准局(NIST)的校准片，适当的使用校准片和QuadPro 提供的校准程序，可确保系统的准确性优于1%．Pro4-440N 系统的标准范围是1mΩ/□至800KΩ/□．Pro4 Software (软件)使用者只需输入待测样品的大小、形状、待测样品边缘不包括部分的大小与测量点数，Pro4 软件会控制系统的测量、测量资料的撷取、显示、打印与资料的输出(Export)，使用者可设定要显示的参数(如电阻、片电阻或电压/电流)，也可以定义良品/不良品(Pass/Fail)的条件．测量点会在软件上以图样标示出来，同时提醒使用者将探针移至待测点．测量结束，测量数据的平均值、标准差、最大值与最小值会被标示出来，同时可打印测量数据含良品/不良品的报表．Pro4-4400 configuration (系统架构) Pro4-4400 系统与Pro4-440N 相同，但是不含计算器．使用者需自备计算器，计算器需含窗口软件与一个RS-232 接口．Pro4 用于测量芯片或其它材料的电阻率或片电阻． Pro4 使用双架构测试方式和自动设定仪表以保证测量的准确性．系统包括手动四点探针台、二个四点探针头、吉时利仪表(Keithley 2400)与软件． Pro4-4000 configuration (系统架构) Pro4-4000 不包括计算器与仪表，但是包含软件．使用者需自备计算器与吉时利仪表(Keithley 2400)系统包括手动四点探针台、二个四点探针头与软件．Manual Four-Point Probes (手动四点探针台)Signatone 生产各式电阻率测量设备，包括简易型四点探针台与四点探针头． S-302-4右图是四吋的四点探针台，可测量大至四吋的芯片，含四吋铁氟龙(Teflon)待测样品载台。四点探针台也有6"、8”与12”的． Four Point Probe Heads (四点探针头)除了四点探针台之外，Signatone 也生产四点探针头。SP4 系列四点探针头是设计给在室温使用的。HT4 系列四点探针头是设计给在高温使用的。一般四点探针头是由四支直线排列的探针组成，但是Signatone 也提供不同排列方式的订制探针头，例如四支针成矩形排列．

工作原理 ： 根据欧姆定律，被测电阻R等于施加电压V除以通过的电流I。即R=V/I传统的仪器的工作原理是测量电压V固定，通过测量流过被测物体的电流I以标定电阻的刻度来读出电阻值。从上式可以看出，由于电流I是与电阻成反比，而不是成正比，所以电阻的显示值是非线性的，即电阻无穷大时，电流为零，即表头的零位处是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时，其电压V也会有些变化，所以普通的高阻计的精度是很难提高的。BEST-121体积、表面电阻率测定仪是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I，通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算，然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值，即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化，其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流Ｉ的变化而变，所以, 即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大，其测量精度很高。从理论上讲其误差可以做到零。而实际误差可以做到千分之几或万分之几。?主要特点 u 电阻测量范围 1×104Ω ～1×1018 Ω；u 电流测量范围 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；u 体积小、重量轻、准确度高；u 独特的被测电阻、和流过电阻的电流双显示，使操作测量更加方便；u 性能稳定、读数方便；u 既能测电阻又能测电流；u 测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；u 使用操作简便，在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果，免去要乘以一个系数的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。BEST- 121型高绝缘电阻测量仪用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻；与恒温水浴配套后，还能测量不同温度下的塑料电线电缆（无屏蔽层）的绝缘电阻，该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点，仪器的最高量程 1018Ω电阻值（测试电压为 1000V）。本仪表贯彻 Q/TPGG 7-2008 高绝缘电阻测量仪企业标准。2 规格及技术特性及使用条件BEST- 121型高绝缘电阻测量仪用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻；与恒温水浴配套后，还能测量不同温度下的塑料电线电缆（无屏蔽层）的绝缘电阻，该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点，仪器的最高量程 1018Ω电阻值（测试电压为 1000V）。本仪表贯彻 Q/TPGG 7-2008 高绝缘电阻测量仪企业标准。2 规格及技术特性及使用条件2.1 规格和主要技术参数2 使用条件①环境温度： 0～40℃ ②相对温度：≤70% ③供电电流：交流 220V±10%50Hz2.3 仪器可连续工作 8 小时2.4 消耗功率：约 10W2.5 外形尺寸：长宽深 355mm×320mm×145mm2.6 重量：约 6kg(主机)①直流高压电流输出 10，50，100，500，1000V 五档②根据试样的电阻值及直流高压值选择合适的量程倍率。③高输入阻抗直流放大器（输入阻抗1015Ω）④指示仪表，指示被测绝缘电阻。⑤电源供给仪器各部分工作电源。安全注意事项4.1 使用前务必详阅此说明书，并遵照指示步骤，依次操作。4.2 请勿使用非原厂提供之附件，以免发生危险。4.3 进行测试时，本仪器测量端高压输出端上有直流高压输出，严禁人体接触 ，以免触电。4.4 为避免测试棒本身绝缘泄漏造成误差，接仪器测量端输入的测试棒应尽可 能悬空，不与外界物体相碰。4.5 当被测物绝缘电阻值高，且测量出现指针不稳现象时，可将仪器测量线屏 蔽端夹子接上。 例如：对电缆测缆芯与缆壳的绝缘时，除将被测物两 端分 别接于输入端与高压 端，再将电缆壳 ，芯之间的内层绝缘物接仪器 “G”，以消 除因 表面漏电而 引起的测量误差。也可用加屏蔽盒的方法， 即将被测物置于金属屏蔽盒内，接上测量线。

R54电阻率测量仪 高级薄膜电阻率测绘系统Filmetrics R54是KLA薄膜电阻和导电率测绘系统的新产品。R54是代表了KLA超过45年的电阻测量技术的新作。自从1975年我们第一台电阻率测试仪问世以来，KLA公司系列产品已经改变了导电薄膜得薄膜电阻和厚度的测量方式。从半导体制造到实现可穿戴技术所需的柔性电子产品，薄膜电阻监控对于任何使用导电薄膜的行业都至关重要。R54在功能上针对金属薄膜均匀性测绘、离子注入表征和退火特性、薄膜厚度和电阻率测量以及非接触式薄膜厚度测量进行了优化。系统优势测试点自定义编辑,包括矩形、线性、极坐标以及自定义配置可选最多可容纳300毫米圆形或A4（210mm*297mm）样品导体和半导体薄膜电阻，10个数量级范围适用接触式四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)配置封闭系统便于测量光敏或者环境敏感样品15mm 最大样品高度高精度 X-Y 平台业内最小的 EC 探头尺寸应用市场半导体先进封装平板和VR显示穿戴设备化合物半导体太阳能印刷电路导电材料R54规格参数R54应用RsMapper软件:测量自动化地图模式生成器，内置的地图模式生成器使您轻松生成需要测量的斑点图案样品的相关区域，从而节省了数据采集期间的时间。这只是您可以使用的一些参数。进行调整以自定义地图的属性:圆形或正方形地图径向或矩形图案中心或边缘排除点密度

产品名称：德国 ERICHSEN 仪力信515 型油漆电阻计＊安全指引本仪器是按当今最新标准及安全规范生产，但若不遵照下列指引，仍有机会在使用过程中引致使用者或第三者的生命及四肢受损。亦可能损坏仪器或其他物件。只可使用本说明书中指定的电池作电源。在没有ERICHSEN GMBH & CO KG 书面证可之前，切勿在仪器上作出任何可能影响安全的改动，添加或转换。打开仪器之前，确保电源已切断。在未获生产商/供应商授权的情况下拆开或改装仪器而引起的损坏，责任全归用户。在清洁器之前，请先取出电池。绝不能容许任何液体进入仪器。请勿使用擦洗性或溶解塑料的清洁剂。使用仪器之前，请先小心阅读使用说明及确保遵行。仪器只能在其设计的范围内使用。技术数据电 源：9V碱性电池1个 油漆电阻测量仪 主机，仪器上有两个按钮：测量讯号：45V 电阻计515 ON/OFF：开关键测量范围：100K&Omega -15M&Omega 用于检测电泳漆及静电喷漆的特性 START：测量键精 度：0.1-0.5 M&Omega =± 3% 订货号：0118.01.31 --首先，按下开关键约1秒，启动仪器 0.5-0.5 M&Omega =± 1% --把探头放入待测得容积或油漆中，液 --面至小孔，请勿让液体盖过小孔。 5.0-10.0 M&Omega =± 2% 供货范围： --按测量键测量 10.0-20.0 M&Omega =± 3% 515型基本仪器包括 --仪器会自动选择最佳量程 --主机 --读数为兆欧(M&Omega ) 外形尺寸： --Ransbyrg版探头 主机：100＊200＊30mm --携带箱 保养及维护 探头 ：长：230mm --说明书 若电池电力不足，显示屏上会显示 直径：42mm (Batt Low),请更换电池。 液晶显示 仪器描述及操作方法 须定期小心清洁探头，尽量不要仪器资料 515型电阻计，包括主机及探头。 使用强力溶剂。名称/型号 在进行测量之前，须先把探头连接到 测量电阻的各种不同系统对照表NESAGSTRATONSAMESVLSTATIC HURSANTRANSBURGMegaohmsMegaohmsMegaohmsKiloohms 0.20.60.0490.51.50.2220.72.10.331130.4441.51.50.6661.750.774260.888391.21314121.617551522196182.42637212.83068243.23509273.63941030443810.330.94.145011334.448112364.852512.537.5554713395.256914425.66131545665616486.470016.7506.773117516.874418547.278818.254.67.380019577.683120608875 ＊ 随仪器奉送RANSBURG版的探头。

操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，压强 配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。