镀铬测厚仪

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镀铬测厚仪相关的厂商

  • 公司致力于长度计量仪器,光学仪器、形状类仪器,材料检测仪器,涂装与表面处理检测仪器的销售与维护服务。主要代理德国EPK涂层测厚仪产品,并且我司具有国家许可进出口经营权。本公司有专业销售和技术人员,为客户提供方信守合同便,快捷的售前(演示设备、介绍最新技术)售中(为客户选型、满足客户要求),售后服务(设备维护、保养问题)在客户需要的时候,我们的专业人员能够即来到客户现场,提供急需的服务。 公司宗旨:公司一贯坚持“质量第一,用户至上,优质服务,”的宗旨,凭借着高质量的产品,良好的信誉,优质的服务,产品畅销全国.竭诚与国内外商家双赢合作,共同发展,共创辉煌! 笃挚仪器(上海)有限公司是德国菲希尔Fischer测厚仪,德国Elektrophysik(EPK)公司测厚仪,英国易高测厚仪,英国泰勒Taylor Hobson粗糙度仪、轮廓仪、圆度仪、圆柱度仪等的专业代理商,欢迎来电咨询查看更多规格和配置的更详细介绍。笃挚公司将以优质产品、优势价格、优秀服务,为您提供最具性价比的解决方案。
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  • 深圳微科泰仪器仪表有限公司,为精密测试仪器代理商,服务对象为半导体生产行业,PCB 生产行业及一般电镀行业等,集经营销售、技术支持、售后服务于一体。主力经销美国 Thermo X射线镀层测厚仪、韩国Micro Pioneer X射线镀层测厚仪、日本精工SII X射线镀层测厚仪、美国禾威WALCHEM自动加药控制器、美国SCS离子污染测试仪等国外进口仪器。自公司成立以来,公司本着“诚信经营、客户至上”的宗旨,建立了完善的销售及优质技术服务体系,在行业中赢得了优良的口碑!欢迎您来电洽谈合作产品,我们将竭诚为您服务。期待着能与您携手并进,一起为中国的发展做出自己的努力,共创美好明天!欢迎惠顾~~~~以下是我司代理的部分产品:一、韩国micro pioneer XRF-2000 X射线镀层测厚仪(销售、维修保养服务)二、美国 Thermo XRF、ZXR、LXR、GXR系列X射线镀层测厚仪(销售、维修保养服务)三、日本精工SFT-3200/9100/9200射线镀层测厚仪(销售、维修保养服务)四、进口镀层膜厚标准片(Au、Ni、Ag、Sn、Zn、Cu、Cr)五、美国禾威WALCHEM自动加药控制器1、化学镀镍自动加药控制器 WNI-310/4102、化学镀铜自动加药控制器 WCU-310/4103、电导率检测自动加药控制器 WEC-310/4104、PH/ORP检测自动加药控制器 WPH(ORP)-310/410六、日本KYORITSU水质离子测试包可测定项目(离子浓度):氰化物 / 化学需氧量 / 铬 / 铜 / 镍 / 铁 / 甲醛 / 氟 / 硝酸 / 亚硝酸 / 臭氧 / 酸碱度 / 磷酸 / 硫 / 亚硝酸 / 银 / 铝 / 砷 / 硼 / 钙 / 氯 / 二氧化碳 / 二氧化矽 / 锌 / 镁 / 锰 / 氨 / 过氧化氢等。七、美国OMEGA 600SMD离子污染测试仪八、美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品九、台湾milum PCB表铜、孔铜测厚仪 1、mm610手持式PCB孔铜测厚仪2、mm125 手持式PCB铜箔检测仪3、mm805桌上型双功能孔面铜厚测厚仪
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  • 深圳市西捷特工业设备有限公司地处深圳市宝安区,是一家专业从事设计、生产、销售工业设备、仓储物流设备,交通运输搬运设备,物流周转设备的公司。自成立以来就秉承“质量第一,技术领先,诚信经营,服务用户”的理念,依托一支技术精湛的专业设计队伍的优势,为客户提供完整的物流、作业空间规划及储存方式等解决方案。 公司的每个环节与制作工艺均按ISO9001 : 2000标准严格执行。使产品具备专业化、柔性化、合理化、单元化、通用化、系统化的特点,以确保我们在产品开发和技术上始终保持领先。 我们始终以客户需求为导向,吸收了国内外先进、科学的物流规划与管理理念,以节约空间、提高效率、创造利润、降低物流成本、提高客户服务水平为经营宗旨,开发了仓储设备、工位器具、物流容器、搬运设备等四大系列的产品,为现代化企业的生产和管理提供全方位的存储需求,提供最经济、最有效的解决方案和优质服务,信守合同”的宗旨,凭借着高质量的产品,良好的信誉,优质的服务,产品畅销全国近三十多个省、市、自治区。西捷特竭诚与国内外商家双赢合作,共同发展,共创辉煌。公司主营产品有:工作台;防潮柜;防爆柜;防泄漏托盘;气瓶柜;文件柜; 药品柜;零件柜;鞋柜;货架;模具架;物料架;镀铬架;仓储笼;工位器具;不锈钢产品;登高车等;静音手推车等
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镀铬测厚仪相关的仪器

  • 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间:60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源:交流 220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确,维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确 ● 一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化 ● 七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计,辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术,保证 X 射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器;分辨率:149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出:1mA2.2.2 属于半损耗型部件,使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出: 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数: 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择,口径分别为 8-1#, 8-2#, 8-3#, 4#,2#, 1#, 0.5# 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化 操作得更轻松,使操作更人性,更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围:从硫(S)到铀(U)3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.7 配置小孔准直器,测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】
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  • 膜厚仪EDX-8000T 型XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪Simply The Best垂直光路设计,专为镀层厚度分析而设计高分辨率硅针检测器 (Si-pin) ,适合于多元素镀层的高灵敏度分析,比起传统的封气正比计数器,Si-pin探测器具有更佳分辨率、更低的背景噪声(最高 S/N 比)长期稳定性以及更长的使用寿命工业级高清样品观测系统,精确的点位测量功能有助于提高测量精度易于使用,新型用户界面专为非XRF专家用户设计。直观而整洁,只需点击鼠标即可进行正确的分析背景介绍人们在同腐蚀作斗争中,采取了许多行之有效的措施,电镀就是其中的重要手段之一,电镀能提高金属零件在使用环境中的抗蚀性能;装饰零件的外表,使其光亮美观;提高零件的工作性能,如硬度,耐磨,导电性,电磁性、耐热性,钎焊性及其他特殊性能。英飞思开发的EDX8000T 镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是测试速度快:检测时间快,数秒内可完成检测,可在短时间内进行大量样品测试测试再现性佳:不会因不同人员测试同一样品产生手法差异分析结果异同,相较湿式化学分析较受前处理因素同时分析多元素:一次检测电镀液内的所有金属成分,无元素检测限制。非破坏性检测:样品内若有贵重成分,检测完成后均可回收无复杂样品前处理:不需专业实验室与操作人员及复杂的前处理检测浓度弹性:标准液可根据被测溶液浓度灵活调整,无固定浓度要求膜厚仪EDX8000T 应用场景测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品钢上锌等防腐涂层贵金属成分分析,贵金属镀层,如金基上的铑材料分析分析硬质材料涂层,例如 CrN、TiN 或 TiCN可拓展增加RoHS有害元素分析功能,电镀液离子浓度分析膜厚仪EDX8000T产品特点超大样品腔一键测试,一键打印报告与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据,兼容LIMS数据库经久耐用,在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长膜厚仪EDX8000T 可分析的常见镀层材料可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用:如可检测铁镀镍、铜镀镍、铁镀铬、铜镀锡、铜镀金、铜镀银等单镀层的厚度和元素成分多涂镀层应用:如Ni/Cu/Fe铁镀铜镀镍,Au/Ni/Cu铜镀镍镀金,Sn/Ni/Cu铜镀镍镀锡等合金镀层应用:如ZnNi/Fe铁镀镍锌合金, ZnAl/Ni/Cu铜镀镍镀铝锌合金等技术参数仪器外观尺寸:400mm*500mm*350mm仪器重量: 34KG镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)成分分析范围:硫S(16)- 铀U(92)可分析含量范围:1ppm- 99.99%涂镀层最低检出限:0.005μm,可同时分析5层以上镀层成分分析含量范围:5ppm-99.99%探测器:高分辨率铍窗电制冷Si-Pin Detector 多道分析器:4096道DPP analyzerX光管:50W高功率光管准直器:标配Φ0.5mm,选配Φ0.2mm滤光片:3种可切换可选配纯元素标样,镀层校准片电压:220ACV 50/60HZ环境温度:-10°C到35°C
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  • 概述云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪主要功能● 可使用各种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)进行测量;● 三种校准方法:一点校准、二点校准、基本校准;● 显示分辨率:0.1μm (1250um以下,1250um以上是1um); ● 最小测量面积:最小测量面积:10*8mm;● 最小曲率:凸5mm,凹25mm;● 设有四个统计功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)● 设五个统计量,存储800个数据。技术参数项目LT100-3使用环境温度0~40℃电源5V电池外型尺寸150×80×30mm重量300g测量范围F1、N1、F1/90F1、N1,0-1250μm。F1/90,0-1250umF400、N4000-400umF3/N30-3000umF100-10000um测量误差F1、N1、F1/90(2%H+1)二点校准精度1%F400、N400(2%H+0.7)二点校准精度1%F10(2%H+10)二点校准精度1%标准配置1、主机 1台2、探头(F1或N1) 1支3、基体 1块4、标准片 5片5、5V碱性电池 2节6、使用说明书 1本可选配1、其他型号探头 选配2、打印机 1台3、通讯电缆 1条4、软件光碟 1张探头参数探头F400F1F1/90F10N400N1测量原理磁性涡流测量范围(μm)0~4000~15000~12500~10mm0~4000~1500测量精度μm一点校准±(1~3%H+0.7)±(3%H+1)±(3%H+10)±(3%H+1)±(3%H+1.5)二点校准±(1~3%H+0.7)±(1~3%H+1)±(1~3%H+10)±(1~3%H+1)±(1~3%H+1.5)低限分辨率0.10.110.10.1最小曲率半径(mm)(凸)11.5平直101.53最小面积直径(mm)¢ 3¢ 7¢ 40¢ 4¢ 5基本临界厚度(mm)0.20.520.30.3探头选择参考基体与覆盖层有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m磁性金属如 铁、钢 等被测面积的直径大于30mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mm被测面积的直径小于30mmF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ m有色金属如铜 、铝 、黄铜 、锌 、锡 等被测面积的直径大于5mmN1 型测头 0~1500µ m仅用于铜上镀铬N1 型测头 0~40µ m非金属基体塑料、印刷线路被测面积的直径大于7mm--CN02 型测头10~200µ m
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镀铬测厚仪相关的资讯

  • 欧盟团队攻克免用六价铬塑料镀铬难题
    镀铬塑料的高质量表面光洁度可以与金属表面向媲美,其重量轻、易加工和用途广的特性,促使镀铬塑料被广泛地应用于汽车工业,以及各种工业生产和日常生活产品之中。在典型的镀铬塑料加工过程中,需要使用六价铬(Hexavalent Chromium)对塑料部件表面进行预处理,以增加铬与塑料之间的粘合度。六价铬材料属于危险的化学物质,对人体具有强烈的致癌作用。因此,找到替代六价铬材料的镀铬塑料加工工艺,成为各国科技人员研究攻关的课题。   由欧盟第七研发框架计划(FP7)资助支持的ECOSAM 研发项目团队,利用一种新的塑料聚合物大分子自身聚合纳米技术(Molecular Self-Assembly Nano Technology),不使用六价铬材料,而开发出直接完成镀铬塑料的新工艺。新工艺不仅保证镀铬塑料表面的稳定性、安全性及粘附力,减少原工艺过程中产生的大量化学废弃物排放 而且排除六价铬致癌物材料的使用,保障了劳动者、加工者和消费者的健康,具有重要的环境和安全效益。同时新工艺降低了对昂贵的钯催化剂的使用量和减少了加工工艺程序,从而使塑料镀铬的加工生产成本整体下降了50%。   镀铬塑料的新工艺具有广阔的应用前景,其商业化将让经营者、劳动者、消费者,以及生态环境和经济社会广泛受益。
  • GE检测控制技术推出高性能新型测厚仪
    近日,GE检测控制技术推出的新型测厚仪DMS Go是一款高端测厚仪,既简单易用,又能在一系列可选择的格式下提供准确、全面的厚度检测数据。它具有创新的操纵杆控制技术、全方面的可见性、高分辨率的色彩显示功能。DMS Go 结构稳健、防水防尘、重量轻,可以被广泛用于厚度检测。并且,由于具有内置温度补偿算法,可以在600°F的高温下仍然保持测量稳定性。十分适用于石油、天然气和电力行业的腐蚀检测。   正如GE的产品经理 Francois de Fromont 所说,“ DMS Go代表了测厚仪器方面的重大进步,因为它不仅具备了我们的DMS2测厚仪所有的高级性能,还具有更强大的数据管理功能,新颖的人性化工程学设计,高性能、操作简单的优势。采用零交点波形测试,以确保较高的测量稳定性和可靠性,其自动获取控制功能确保了极佳的检测概率。这种新型仪器和我们便携式探伤仪USM Go 可以使用相同的操作平台,该平台已经被广泛应用,并得到广大用户认可。事实上,这种设计原理的一大好处是通过一次简单的软件升级,使测厚仪作为便携式探伤仪使用。”   DMS Go的数据记录和数据管理功能通常是由普遍使用的UltraMATE文档编制程序实现的,然而本仪器也可以使用GE软件开发工具包与第三方软件程序相对接。强大的机载数据记录器具有15万的读数容量,可以将A扫描、B扫描和微栅格(MicroGRID)作为厚度读数的附件进行存储。它还支持6种不同的文件格式,便于与用户数据管理和质量控制系统集成。通过高容量的可移动SD卡进行数据传送,使用USB端口与PC连接。通过可选的应用软件,包括TopCOAT技术和A-V测量模式,可以同时测量涂层和金属厚度,无需校准试块即可使用未知声速在部件上测量厚度。   新型测厚仪的软件可升级性,使得它还能用作便携式探伤仪,这给用户带来很重要的便利。现在无损检测人员只需携带一个仪器,用户只需购买一台仪器,就能进行准确、可靠的厚度测量和缺陷检测。这种多功能性也同样适用于USM Go探伤仪,现有用户可以很容易升级他们的设备,将高质量的厚度测量能力加到现有设备上。用户可以在启动仪器的时候选择仪器升级所需的操作方式,这种设计原理另一个优势就是可以显著减少对操作者培训次数。
  • 喜爱72DL PLUS超声波测厚仪的8个理由
    72DL PLUS™ 超声波测厚仪,一款能够测量超薄和多层材料的高频高速仪器。这款便携式、易于操作的仪器可以解决各行业的广泛性的棘手的厚度测量应用,比如汽车、航空航天、制造和发电等行业。为了帮助您熟悉,本文将探讨我们在您的检测工作流程中采用72DL PLUS测厚仪的主要原因。精密测厚:如何开始与如何进行更高的频率使您能够测量更薄的测试材料。过去,大多数精密超声波测厚仪的最大频率限于为20 MHz左右,最小测量厚度仅为0.005英寸(0.127 mm)左右。现在,72DL PLUS测厚仪驱动频率高达125 MHz,您可以进行超过传统超声波测厚仪最小厚度能力的测量,最小测量厚度为0.001英寸(0.025 mm)或更薄。72DL PLUS测厚仪的高速(高达2 kHz测量速率和60 Hz屏幕刷新)足以优化您的测量工作流程,无论您使用的是高频或低频的探头。这个能力结合用户友好的界面,使72DL PLUS测厚仪成为支持不同频率的大厚度范围测量的利器。以下是推荐采用72DL PLUS测厚仪的八个原因:测量比以往更薄的材料使用72DL PLUS测厚仪,基于应用,可以测量单层材料低至约0.0005英寸(0.0127 mm)。例如,您可以测量低至0.008英寸(0.20 mm)单层钢片和约0.0005英寸(0.0127 mm)单层塑料膜。要注意的是,最小厚度测量能力取决于探头频率、探头类型和待测试材料。一次显示多达6层的厚度激活多层测量软件选项,72DL PLUS测厚仪可以测量一系列多层材料,包括油漆、塑料、金属和涂层。它甚至具有同时显示多达六层厚度的能力,比38DL PLUS ™ 多出两层测量能力。高速厚度测量高速厚度测量对于时间敏感应用(如涡轮叶片测量)非常重要。作为一款测量速度高达2 kHz的高速仪器,极大地提高了生产车间的周转率。通过5种多功能测量视图监测厚度变化虽然我们的手持式测厚仪的屏幕较小,但72DL PLUS测厚仪采用全彩7英寸的触摸屏,具有高可视性。仪器支持五种不同测量视图—A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势线和缩放,以帮助发现和跟踪厚度变化。简易设置简化厚度测量该测厚仪简化了日常厚度测量的仪器设置过程,无需在每次测量之前手动选择和调整设置。只需进入启动屏幕上的“我的应用”菜单,菜单将引导您完成创建应用程序的每个步骤。或者,您可以使用PC接口应用程序从电脑创建应用程序。易于收集、回顾和管理厚度数据内置数据记录和机载文件管理实现了高效的厚度数据采集和处理,而电脑端的PC界面应用程序支持交互工具,便于查看和管理多个设备和部件的数据。通过无线进行连接,仪器可以支持连接到‘云’端,实现工业4.0实践。它能够连接到奥林巴斯科学事业云™ (OSC),助您访问基于云的免费的的功能。工业环境中的更耐用与我们所有的测厚仪一样,该仪器的设计目标是在恶劣的工业环境中延长运行时间。它具有较好的坚固性(MIL-STD-810G),做好意外跌落或冲击的防护,并可抵抗灰尘和湿气(设计符合IP65)。该仪器可在高温和寒冷气候下进行可靠测量,工作温度范围广(–10°C至50°C或14°F至122°F)。兼容各种探头于不同厚度应用72DL PLUS测厚仪与标准频率(0.2–30 MHz)和高频(20–125 MHz)探头兼容。为了支持超薄材料测量的应用,我们扩大了高频探头的产品线。M2102(75 MHz)和M2104(125 MHz)是耐用的接触式探头,可实现非常小的频率衰减和理想的检测范围。其它探头解决方案,包括改进的给水耦合装置,均在开发中,以支持客户的特定需求。OLYMPUS现有的用于超薄材料测量的高频探头的一部分。从左到右:B126给水耦合装置和M2104探头

镀铬测厚仪相关的方案

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  • 高精度涂层测厚仪的测量原理

    [url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器,具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下,希望可以帮助到大家。  磁感应测量原理  采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。  电涡流测量原理  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。  采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。  迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料(如钢、铁、合金和硬磁性钢)等物体表面上的非磁性覆盖层厚度(如:油漆、塑料,陶瓷,橡胶,铜,锌、铝、铬、铜等)。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)。

  • 涂层测厚仪如何分类

    对材料表面保护、装饰形成的覆盖层如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。  覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化我国出口商品和涉外项目中对覆层厚度有了明确的要求。  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测测量手段繁琐速度慢多适用于抽样检验。  X射线和β射线法是无接触无损测量但装置复杂昂贵测量范围较小。因有放射源使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。  随着技术的日益进步特别是近年来引入微机技术后采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米精度可达到1%有了大幅度的提高。它适用范围广量程宽、操作简便且价廉是工业和科研使用最广泛的测厚仪器[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]。  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材检测速度快能使大量的检测工作经济地进行。  一、磁吸力测量原理及测厚仪  永久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪只要覆层与基材的导磁率之差足够大就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢接力簧标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后将测量簧在其后逐渐拉长拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。  这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源测量前无须校准价格也较低很适合车间做现场质量控制。  二、磁感应测量原理  采用磁感应原理时利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小来表示其覆层厚度。覆层越厚则磁阻越大磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头测量感应电动势的大小仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um允许误差达1%量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层瓷、搪瓷防护层塑料、橡胶覆层包括镍铬在内的各种有色金属电镀层以及化工石油待业的各种防腐涂层。  三、电涡流测量原理  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场测头靠近导体时就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近则涡流愈大反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较主要区别是测头不同信号的频率不同信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um允许误差1%,量程10mm的高水平。  采用电涡流原理的测厚仪原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性通过校准同样也可测量但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

镀铬测厚仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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