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公司想要仪器用来测试多层软管的厚度,但一般的光学仪器测试的不是特别准。在网上搜索到目前可以非光学系统测试多层薄膜、软管的[color=black][font=宋体]厚度测量仪有:[/font][/color][color=black][font=Arial] X-[/font][/color][color=black][font=宋体]射线测厚仪、[/font][/color][color=black][font=Arial]β-[/font][/color][color=black][font=宋体]射线测厚仪、近红外线测厚仪。想请教下大家哪位熟悉近红外线测厚仪?能否介绍下,最好有相关资料。要求能够[/font][/color][color=black][font=宋体]可测量多层材料每一层的厚度(一般为5层)。若有其他的仪器能够满足要求也可介绍下 谢谢!!如“超声波EVOH阻隔层测量系统”最后谢谢各位!![/font][/color]
基体是陶瓷,陶瓷上有层钼和锰的氧化物层,厚度10UM--50多UM,外层是镍层,厚度是1-10UM,请问用什么仪器可以测两层或多层厚度,暂时我了解了X荧光测厚仪,换有别的仪器可以测量吗
根据测量原理,涂镀层测厚仪一般有以下五种类型: 1.磁性测厚法:适用层磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。 2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。 3.超声波测厚法:目前辆还没有此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。 4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。 5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。 国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。