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纳辨测量仪

仪器信息网纳辨测量仪专题为您提供2024年最新纳辨测量仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括纳辨测量仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的纳辨测量仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合纳辨测量仪相关的耗材配件、试剂标物,还有纳辨测量仪相关的最新资讯、资料,以及纳辨测量仪相关的解决方案。

纳辨测量仪相关的仪器

  • 泰科纳自动影像测量仪,是代替原有手动测量机型的一款全自动化测量机型,可以实现产品的批量全检。全自动对焦功能和全自动变倍远心镜头,不但能够提高测量效率,也避免测量过程中的人为因素带来的测量误差。可以离线编程,实现测量程序存储和调用。泰科纳自动影像测量仪搭载1:6.5高分辨率光学系统,可全面确保精密工件的二维尺寸进行准确测量。可高效测量各种精密零件的轮廓和表面形状尺寸,如点、线、圆、弧、矩形、槽形、环形、开曲线、闭曲线、圆柱、圆锥、球、平面,也能测量曲线的周长、面积、直径等。同时可以进行平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同心度、直线度、平面度、孔深等适用于高精度产品检测。广泛应用于:航空航天、汽车电子、手机零部件等行业。测量机的核心测量组件是激光测径。激光发射器发射的激光通过旋转和一组透镜处理,形成一个激光面扫描工件,工件放置在激光束面内,在测量区域位置的被测物遮挡激光束并将阴影投射至接收器,计算被遮挡光束的阴影时间,被测物的外径即可被精确计算出来。
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  • SuperViewW中图高精度纳米量级白光干涉测量仪以白光干涉技术原理,对各种精密器件表面进行纳米级测量。它通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。SuperViewW中图高精度纳米量级白光干涉测量仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数,针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,SuperView W1的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量; 5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。应用领域SuperViewW中图高精度纳米量级白光干涉测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 中图仪器NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。工作过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面,测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号,数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。结构主要组成部分1、测量系统(1)单拱龙门式设计,结构稳定性好,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响,提高了测量精度。(2)线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。(3)传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调,以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台(1)精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台,可以对样品的位置以及角度进行调节,三维位置均可以调节,利于样品调整。(2)超高直线度导轨,有效避免运动中的细微抖动,提高扫描精度,真是反映工件微小形貌。 3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机,即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上,使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响,使实验数据更加准确。NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料;2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数; 3)翘曲与形状:能够测量样品表面的2D形状或翘曲,如在半导体晶圆制造过程中,因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化,或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1)自定义测量模式:支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式;2)导航图智能测量模式:支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机,可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示,进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率,结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰,确保仪器具有良好的测量精度及重复性;2.超微力恒力传感器 1-50mg可调,以适应硬质或软质样品表面,采用超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的接触式测量;3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。典型应用在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度,具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景,NS200台阶仪提供如下便捷功能:1)结合了360°旋转台的全电动载物台,能够快速定位到测量标志位;2)对于批量样件,提供自定义多区域测量功能,实现一键多点位测量;3)提供SPC统计分析功能,直观分析测量数值变化趋势;
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  • SDW-18C纳升级光学接触角测量仪产品介绍: SDW-18C纳升级光学接触角测量仪固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃(包括塑料或金属等固体)表面润湿性研究等。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域,接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。技术参数:整体参数型号SDW-18C名称纳升级光学接触角测量仪类型纳升型机身材质航空铝输入电源220V 50-60Hz功率10W仪器尺寸约655mm(W)*180mm(L)* 500mm(H)仪器重量约15KG样品平台系统左右X移动手动:行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动:行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动:行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整,摄像头水平调整(配送专业级XY水平仪)样品台尺寸130*150mm(可定制)可放置最大样品200(W)*∞(L)*30(H)mm样品台材质航空铝注射系统注液移动行程Y行程:40mm Z行程:35mm,精度0.1mm(针头对中及液滴转移)滴样控制移动行程:60mm,精度:0.01mm滴样方式自动滴液精度0.001ul加液方式直接罐装微量进样器非接触喷射式针头50u喷嘴采集系统相机日本SONY高速工业级芯片(Onsemi行曝光)镜头0.7x-4.5x传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280×1024焦距±2.5mm可调图像拍摄方法单张、间隔、连续拍摄间隔时间500-3600000ms视频录制方式录像、回播、合成清晰度测量全自动软件对焦最大拍摄速度80帧/s光源系统光源美国进口工业级白色冷光源(有效避免因光源散发热量蒸发液滴)组合方式采用日本进口石英扩散膜使得亮度更均匀,液滴轮廓更清晰使用寿命5万小时以上亮度调节PWM无极调节+软件调节亮度识别自动识别亮度保证最佳亮度光源波长400~760nm功率1W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法等测量软件CA V2.0静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法(static contact angle)自动拟合法(ms级别一键全自动拟合,不存在人工误差)、三点拟合、五点拟合、自动测量(包括圆拟合法/斜圆拟合法(Circle method/ Oblique Circle)、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)、B-Snake拟合法、凹凸面测量等动态接触角测量(Dynamic contact angle)前进角(Advancing angle),后退角(receding angle),滞后角(hysteresis angle)(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°<θ<180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法,OWRK法,Zisman法,EOS法,Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法(软件中预装37种液体数据库,可自行建立液体性能参数)数据可直接调入用于表面能估算,液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位mJ/m² 表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01 mN/m测量范围0.1mN/m-2000mN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 mN/m单位mN/m
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  • 德国业纳轴类光学测量系统 Opticline CS业纳,轴类光学测量机,轮廓仪,圆度仪,CS, Jenoptik 已开发出新一代的光学测量系统,使生产过程中的质量控制更加容易更近距离测量:Opticline 测量系统专为用于恶劣的生产环境而设计。这些测量系统非常坚固耐用,而且不受外界影响。它们还可以提供集成的自动监测,确保获得系统可用性。尺寸测量(长度和直径、半径和角度)螺纹测量(尺寸、形状)形状测量(直线度、圆度、圆柱度)轮廓形状(自由形状、公差范围、凸轮形状)位置测量 (径向跳动和轴向跳动、直线度、对称性和平行度、同心度和同轴度)精密:得益于量规重复性和重现性的提升以及摄像系统的优化,测量分辨率极高且非常精密。快速:在数秒之内精密、全自动地探测工件。不依赖于操作员:操作员无法对测量结果施加负面影响。 灵活:由于夹紧装置之间的支撑,测量仪的基本原理确保了的灵活性。所需的设置时间非常短,即使对于频繁更换的工件而言也是如此。 坚固耐用,几乎无磨损:已经过优化,适合在生产中使用;具有的系统可用性。高效:可减少成本、浪费和材料消耗。客户定制:如有必要,可修改测量系统以满足您的集成要求。易于使用:基于人体工学研究结果的易用操作,包括可轻松进入装载区,以及使用挡光板进行安全快捷的装载。评估软件易于理解:操作简单直观,所需的培训量非常少。应用汽车工业:测量涡轮增压器、发动机气门、活塞、凸轮轴、曲轴、齿轮轴和驱动轴。车削和研磨部件生产商:测量轴状(主要是轴对称)工件。医疗技术:测量植入物、骨钉和旋转仪器。业务范围涵盖针对各种测量任务的不同解决方案。我们将根据要求,与您共同确定测量方案并配置合适的系统。此外,我们还将考虑所有重要因素,例如所需的自动化程度或者与生产过程的整合。业纳的 Opticline CS 标准机系列,是专为满足车削轴类工件的测量要求而设计的。这款机器可以直接用在生产现场,或精密测量室。甚至是在极端恶劣的工业生产环境中(如震动,油污等),它依然可以正常运行。Opticline CS系统所自带的SPC统计功能,可以实现生产进程的高度实时监控,并允许必要时的快速介入。这样可以持续保证生产车削工件的高质量稳定性。 这套测量系统的操作方便,因此测量结果不受操作人员因素影响,并具备分析功能的定制性和拓展性。行业应用 :车削的轴类件 其它轴类工件产品优势 :1用于生产现场的坚固设计2便捷,快速,柔性的测量3可用户自定义的测量结果4设备自身监控的机械设计5自动化的测量6操作和编程简单便捷7测量数据准确可靠技术参数表:Waveline –粗糙度和轮廓测量技术测量粗糙度、轮廓度、表面形貌或螺旋纹路的便携移动式粗糙度测量仪及手动或自动表面测量仪;粗糙度和轮廓度组合测量系统;缸孔表面目检及个性化测量方案。Formline –形状测量技术测量形状、位置和转矩的 CNC 控制系统、形状和粗糙度组合测量仪、气缸孔形状测量系统、主轴测量机、以及工件专用解决方案。Opticline –轴类件光学测量技术用于测量轴类件尺寸、形状、位置度和几何元素的光学测量系统;联机到生产线上进行SPC站、离线(工序后)或自动测量;或根据工件实际需求的个性化测量方案。Visionline –光学表面检查与轮廓测量光学内、外表面自动检查系统,测定气缸孔结构元素的光学测量系统,以及适用于全套部件检测的创新多传感器设备。Movoline –在线测量技术带控制的数字测量头,可选配接触式测量附件,用于在机床内进行直径、位置和长度的在线测量,用以控制机床的加工过程。Gageline –尺寸测量技术用于工序前测量、在线测量和工序后测量的测量系统;接触式、气动或光学测量原理;手动或自动测量装置;最终测量机以及个性化的在线测量系统;光学表面检测仪。Serviceline –全球范围内的技术服务我们的测量技术服务有助于客户利用其测量系统,确保其可用性,发挥其性能。
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  • C12562 纳米膜厚测量仪系列C12562型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。光学膜厚测量仪系列可以测量薄至10nm的薄膜,而可测范围达到10nm到1100μm,因此可用来测量多种目标。此外,该测量仪可达到100Hz的高速测量,因此可进行快速移动的产品线进行测量。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息!特性可测量10nm薄膜缩短测量周期(频率高达100Hz)增强型外部触发(适合高速测量)涵盖宽波长范围(400 nm到1100 nm)软件增加了简化测量功能可进行双面分析不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制参数型号C12562-02可测膜厚范围(玻璃)10 nm to 100 μm*1测量可重复性(玻璃)0.02 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源卤素灯测量波长400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间3 ms/点*5光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C, Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗80W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间
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  • ELT-400暴露级别测量仪纳达公司推出的一种全新的暴露级别测量仪,用于测量工作车间与公共场所的磁场强度。德国Narda纳达 ELT400暴露级别测量仪产品简介:德国Narda的是电磁辐射领域的知名品牌,它是一家德国的高技术公司,在电磁辐射分析领域拥有多项自己技术,同时针对市场推出了多款功能强大的电磁辐射分析产品。ELT-400暴露级别测量仪纳达公司推出的一种全新的暴露级别测量仪,用于测量工作车间与公共场所的磁场强度。ELT-400暴露级别测量仪主要是为保障从事工业、保险业以及服务性行业内人士的健康而设计的,它可以简单而准确的在低频和中等频率范围内,对任何要求的级别进行测量,使用时就像在工作场所使用声级计评估噪声一样简单。ELT-400暴露级别测量仪的主要目的是很大简化评估过程,无论是简单或复杂的场强环境,利用计权暴露 (EXPOSURE STD) 模式 , 测试设备都可以通过简单可靠的磁场测量来达到新的标准。传统工程师用频谱分析仪或者其他仪器进行测量非常耗时并且很易出现错误,结果也是陈旧的。而如果使用ELT-400,就不再需要有关评估过程的细节知识或者场强的波形及频率了,就此得出的数据是可靠的,而且在使用过程中的速度和简易性也比传统的测量方法有了很大的改善和提高。ELT-400暴露级别测量仪开创了一个全新的电磁辐射环境暴露级别测量方式,符合欧洲及国际标准,提供100 cm2和 3 cm2两种外置式高灵敏的全向三维磁场探头选择,可现场快速更换探头。直接进行磁场测量及自动磁场暴露级别评估的设计有助于测量者快速、准确确定测量环境的暴露风险。ELT-400暴露级别测量仪的显示部分为一个带背光功能的单色高清屏,可同时显示多种测量信息,配合简单组合的操作键,即使是初次操作者,都可以在短时间内快速掌握各种操作技巧。轻巧、坚固的设计可以防尘、防震,符合人体工程学的外观结构也有助于操作者的使用,可以很好的满足测量人员携带至现场测量的需要。德国Narda纳达 ELT400暴露级别测量仪产品特点:可直接对磁场暴露进行评估对于各种波形可自动进行暴露评估消除了基于FFT 进行评估中存在的过高估计问题超宽频率范围 (1Hz ~ 400kHz)超宽测量范围 ( 可以达到 80mT, 由型号决定 )满足 IEC 62233, EN 62233, EN 50366 : 2003 and A12006 国际标准,提供100 cm2和 3 cm2 两种规格的各向同性探头选择三轴模拟信号输出德国Narda纳达 ELT400暴露级别测量仪产品应用:ELT-400 是一种全新的暴露级别测量仪,适合现场快速、准确测量,主要应用如下:生产领域ELT-400 对制造业中使用的各种不同类型的机械设 备都是有帮助的。例如感应加热机、熔化与淬水设备。 同时,由于仪器具有超低频率限值和大功率接收能力, 大多数磁力搅拌器也可以被测量。生产领域中使用的机械设备存在非正弦信号是很普 遍的,因此经常会有一些特殊的需要,例如在工业应用 中使用的 50/60Hz 的电阻焊接设备 ( 脉冲波 ,相角控制 ) 及新近出现的中等频率配电系统。普通环境在公共场所中,各种电子监控系统存在着复杂的 磁场。多数电磁式与磁条自动感应门都在 ELT-400 的 频率范围内工作。EMC 试验室家用电器或其他电子设备所产生的磁场正越来越 多的被人们关注。一些新的标准,如 EN50366,就规 定了如何检查这类产品。ELT-400 这种理想的测试设备可以让您知道如何达到相关标准。优点在于,可以让 设备美的与频率范围相匹配并执行所标明的转移函数。
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  • C11627-01 纳米膜厚测量仪系列 C11627-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。因其将光源、分光光度计和数据分析单元集成为一个单元,所以其配置紧凑,仅由一个主单元和光纤组成。此仪器设计紧凑,节省空间,适合安装进用户的系统中,可进行多种目标的测量。此外,该仪器为无参照物测量,因此省略了烦人的参照物测量,可长时间稳定地进行高速、高准确度测量。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息!特性无参照物工作尺寸紧凑,节省空间高速、高准确度不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制参数型号C11627-01可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 50 μm*1测量可重复性(玻璃)0.02 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源LED测量波长420 nm to 720 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*5光纤接口形状FC外部控制功能RS-232C,Ethernet电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗70W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间
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  • C10178-01 纳米膜厚测量仪系列 C10178-01型光学膜厚测量仪是一款利用光谱相干度量学工作的非接触型膜厚测量系统。通过光谱相干,可快速、高灵敏度、高准确度地测量膜厚。由于使用我公司的光子多通道分析仪(PMA)为探测器,在测量多种滤光片、镀膜等的膜厚的同时,还可以测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等多种项目。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息!特性高速、高准确度实时测量映射功能不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制与特定附件配合,可测量量子收益、反射率、透射率以及吸收系数等。参数型号C10178-01测量模型标准型(通用测量)可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 50 μm*1测量可重复性(玻璃)0.01 nm*2 *3测量准确度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源卤素灯测量波长400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距离10 mm*3可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析,光学常数分析测量时间19 ms/点*5光纤接口形状φ12套筒型外部控制功能RS-232C, 通过PIPE或Ethernet进行内部软件数据传输接口USB2.0电源AC100 V to 120 V/ AC200 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗250W*1:以 SiO2折射率1.5来转换*2:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*3:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*4:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*5:连续数据采集时间不包括分析时间
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  • 德国业纳轴类光学测量仪-在线测量系统Opticline 系列光学测量系统:适用于自动化应用Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统可满足极高的自动化要求。它们以重复精度提供工件的精密测量数据。业纳专为自动化应用环境设计了 Opticline CA、AMV 和 WMS 系列光学测量系统。通过智能硬件和软件接口,可以将这些系统灵活无缝地集成到您的自动化生产过程中。我们的系统提供高精密且可靠的测量结果– 即使在恶劣的生产环境下长期操作后,也可以做到这一点。轴测量系统的测量周期只有几秒,令人印象深刻。这意味着您可以高效检测生产,并减少浪费。这些系统采用多种设计,因此可以水平或垂直装载。我们还针对特别大型和重型的轴提供了特殊的测量系统。如有必要,我们可以针对您的具体需求量身定制我们的系统。我们的测量和评估软件具有全面的功能,并且提供了用于控制校正值的额外选项,还可以轻松集成在制造过程中。该程序易于理解且易于操作。优点1精密、快速:高测量精度;操作员对结果没有影响。该测量系统可以集成到加工过程中。2符合人体工学且安全:可以自动装载;即使是重型的工件也可以轻松处理。3坚固耐用,几乎无磨损:已经过优化,适合在生产中使用。4高效:可减少浪费和材料消耗。5客户定制:可设计水平和垂直系统,外壳和机柜可根据项目定制,可根据您的工件和测量任务定制系统。6易于理解的操作软件:培训易于理解,操作直观。应用汽车工业:测量涡轮增压器、发动机气门、活塞、凸轮轴、曲轴、齿轮轴和驱动轴。车削和研磨部件生产商:测量轴状(主要是轴对称)工件。医疗技术:测量植入物、骨钉和旋转仪器。
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  • 中图仪器SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪利用光学干涉原理,具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像; 11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。 结果组成1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等;2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等;3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;4、薄膜和厚膜的台阶高度测量;5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量;6、微电子表面分析和MEMS表征。主要应用领域1、用于太阳能电池测量;2、用于半导体晶圆测量;3、用于镀膜玻璃的平整度(Flatness)测量;4、用于机械部件的计量;5、用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量。应用领域案例部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 货期:现货品牌:北斗仪器型号:CA200P产地:广东东莞名称:纳升级光学接触角测量仪 接触角(Contact angle)是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线,此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ,是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。设备采用全自动进液装置,性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求,目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。测量方法 固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃(包括塑料或金属等固体)表面润湿性研究等。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域,接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。ASTM D 1173/评价表面活性剂发泡性能的标准测试方法(罗氏泡沫分析法)ASTM 5725 / 用自动接触角测试仪测试片状材料表面润湿性和吸收性的标准方法ASTM 724 / 纸表面润湿性的标准方法(接触角法)ASTM C 813 / 用接触角测量法测试玻璃疏水污物的标准方法ASTM D 971 / 用环法测试油对水的界面张力的标准方法ASTM D 1331 / 表面活性剂溶液表面张力和界面张力的标准测试方法ASTM D 1417 / 测试合成橡胶胶乳的标准方法ASTM D 1590 / 水表面张力的标准测试方法DIN 53914 / 表面活性剂测试 – 测定表面张力DIN 55660 / 色漆和清漆 - 润湿性评价DIN EN 14210 / 表面活性剂 – 用镫法或环法测定表面活性剂溶液的表面张力DIN EN 14370 / 表面活性剂 - 表面张力的测定DIN 14272 / 泡沫化合物德标 - 适用于消防用低膨胀水性成膜泡沫化合物ISO 1409 / 塑料/橡胶-聚合物分散体和橡胶胶乳(天然和合成)-表面张力的环法测定ISO 4311/阴离子和非离子表面活性剂-临界胶束浓度的测定ISO 6295 / 油水界面张力的测定ISO 6889 / 表面活性剂 – 用拉膜法测定界面张力ISO 304 / 表面活性剂 - 用拉膜法测定表面张力Amtsblatt EU L251/37 / 表面张力OECD 115 / 化学品测试准则- 水溶液的表面张力设备整体参数型号CA200N名称纳升级光学接触角测量仪类型纳升型机身材质航空铝输入电源220V 50-60Hz功率10W仪器尺寸约655mm(W)*180mm(L)* 500mm(H)仪器重量约15KG样品平台系统左右X移动手动:行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动:行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动:行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整,摄像头水平调整(配送专业级XY水平仪)样品台尺寸130*150mm(可定制)可放置最大样品200(W)*∞(L)*30(H)mm样品台材质航空铝注射系统注液移动行程Y行程:40mm Z行程:35mm,精度0.1mm(针头对中及液滴转移)滴样控制移动行程:60mm,精度:0.01mm滴样方式自动滴液精度0.001ul加液方式直接罐装微量进样器非接触喷射式采集系统针头50u喷嘴相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)镜头0.7x-4.5x传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280×1024焦距±2.5mm可调图像拍摄方法单张、间隔、连续拍摄间隔时间500-3600000ms视频录制方式录像、回播、合成清晰度测量全自动软件对焦光源系统最大拍摄速度80帧/s光源美国进口工业级白色冷光源(有效避免因光源散发热量蒸发液滴)组合方式采用日本进口石英扩散膜使得亮度更均匀,液滴轮廓更清晰使用寿命5万小时以上亮度调节PWM无极调节+软件调节亮度识别通过北斗独家算法自动识别亮度保证最佳亮度光源波长400~760nm功率1W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法等测量软件CA V2.0静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法(static contact angle)自动拟合法(ms级别一键全自动拟合,不存在人工误差)、三点拟合、五点拟合、自动测量(包括圆拟合法/斜圆拟合法(Circle method/ Oblique Circle)、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)、B-Snake拟合法、凹凸面测量等动态接触角测量(Dynamic contact angle)前进角(Advancing angle),后退角(receding angle),滞后角(hysteresis angle)(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°<θ<180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法,OWRK法,Zisman法,EOS法,Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法(软件中预装37种液体数据库,可自行建立液体性能参数)数据可直接调入用于表面能估算,液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表界面张力表面能单位mJ/m² 测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01 mN/m测量范围0.1mN/m-2000mN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 mN/m单位mN/m众所皆知,软件是一台仪器的灵魂所在,组成系统的硬件虽为测量提供了基础,但只有在软件的支持下,才能完美地实现硬件的功能,充分发挥其潜力,使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用,经过多年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合,已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统(行业内极少),在对以后软件升级,新标准更换的时候起到一个很大的优势。本款产品所操控的软件已经获得国家版权局登记证书,仿冒必究。软件主界面图版权声明:广东北斗精密仪器有限公司拥有光学静动态接触角分析测量仪CA V1.2.1软件的所有知识产权,本计算机程序受版本法/著作权法和国际公约保护,未经书面授权擅自传播本程序部分或者全部可能遭受严厉的民事刑事制裁,并将在法律允许的范围内受到最大可能的起诉测试报告1.精细机械:系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理,所有的其它主要组件也都是由铝合金,不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2.精密定位:系统所有的线性移动单元,包括三维样品台(xy-轴),(Z-轴)注射器/针头的移动调节,均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动,确保传动平稳、轻松和精细。3.配置齐全的进样器与针头选择:提供数十种不同规格的进样器供使用者选择,如不同规格(25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….),不同材质(气密玻璃进样器/塑料进样器),不同品牌(Hamilton/boli….)以满足不同客户需求。提供各种规格(10-34#)以及不同材质(不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头)以及特殊针头(弯曲针头),可用于常规接触角测量,也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4.成像系统:采用了行曝光(Rolling Shutter)高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴,即使是非常小的液滴。5.领 先 的 软 件 平 台 :软 件 是 整 个 测 量 系 统 的 灵 魂 和大 脑 。 CA V1.2.1软件 为用户 提 供 了 范 围 广 泛 的功 能 和 特 性 ,而 且 其 中 的 许 多 项目 在 这 一 领 域 均是 出类拔萃 。作 为 一 光 学 方 法 ,测 量 的 精 度 取 决于 成 像 的 质 量 和 后 着 的 处 理 、 分析 和 计 算 方 法 。 其 中 采 用 的 亚 像 素 ( sub-pixel) 液 滴 坐标 检 测 ,自 动 液 /固 /流 -三 相 接 触 线 识 别 , 液 滴 全 轮 廓 分析 ,和 基 于 连 续 信 息 反 馈 的 液 滴 监 视 功能 等构成了 软 件 的 核 心 组 件 , 而且 这 一 切 又 都 能 实 时 完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能,分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6.软件自动生成报告,其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7.基线自动倾斜功能,可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。8.分级管理系统,权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。9.具备双边接触角测量快速拟合功能,更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况;10.动态拍摄、视频快速测试数据,可以连续性记录测试接触角的变化,再由软件自动批量拟合;11.具备历史数据库功能,记录每一次的测试结果,可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个2.连续变倍光学系统 1个3.手动加样系统 1套4.手动CCD倾斜系统 1套5.表界面分析测量系统应用软件 1套6.说明书纸质一份及说明书电子版 1份7.保修卡及合格证1份8.喷嘴1个9.进样筒1个10.电源线及数据线1条11.XY专用水平仪1个配置清单物料名称数量规格描述主机框架1高强度进口欧标航空铝合金结构搭配模块化设计相机1USB2.0接口, SONY 1/1.8" MT9M001 Rolling shutter CMOS,分辨率H1280×V1024,帧率80fps镜头1对焦距离90mm,0.7×时视场13.71~18.28mm,4.5×时视场2.13~2.84mm光源1日本CCS工业级深度定制单波长LED轮廓冷光源,120个密集光源点,配合美国进口柔光板与均光板,亮度连续可调,24V安全电压支撑脚1铝合金+减震胶垫结构,配合减震系统,可调节机台水平与防震效果俯仰调整滑台1螺杆控制,调整范围±1°滴液驱动模块1德国进口压电陶瓷重复定位精度±0.001μl滴液升降模块1旋钮驱动,丝杆转动,XY移动行程50mm,重复定位精度±1mm样品台升降滑台1齿轮齿条控制,移动行程40mm,分辨率0.1mm样品台平移滑台1齿轮齿条控制,移动行程X30×Y50mm,分辨率0.1mm固定件和连接件1AL6061铝合金数控加工而成,表面烤漆处理控制器1微机控制系统,发送指令控制滴液系统电气控制单元1集成了包括电路、电位器、开关、电源等测量软件1包括接触角测量、表面张力测量、表面能估算和润湿性分析耗材1喷嘴,撞针电脑(选配)1如下配置(电脑为选配件 客户可以自配)物料名称品牌物料名称品牌CPU英特尔i3处理器鼠标键盘力拓主板 英特尔 H61主板机箱金和田内存华硕8G DDR3 1600电源长城硬盘七彩虹 250G显示器HUYINIUDA 19寸
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  • SDW-18CN纳升级光学接触角测量仪产品介绍: SDW-18CN纳升级光学接触角测量仪固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃(包括塑料或金属等固体)表面润湿性研究等。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域,接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。技术参数:设备整体参数型号SDW-18CN名称纳升级光学接触角测量仪类型纳升型机身材质航空铝输入电源220V 50-60Hz功率10W仪器尺寸约655mm(W)*180mm(L)* 500mm(H)仪器重量约15KG样品平台系统左右X移动手动:行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动:行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动:行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整,摄像头水平调整(配送专业级XY水平仪)样品台尺寸130*150mm(可定制)可放置最大样品200(W)*∞(L)*30(H)mm样品台材质航空铝注射系统注液移动行程Y行程:40mm Z行程:35mm,精度0.1mm(针头对中及液滴转移)滴样控制移动行程:60mm,精度:0.01mm滴样方式自动滴液精度0.001ul加液方式直接罐装微量进样器非接触喷射式针头50u喷嘴采集系统相机日本SONY高速工业级芯片(Onsemi行曝光)镜头0.7x-4.5x传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280×1024焦距±2.5mm可调图像拍摄方法单张、间隔、连续拍摄间隔时间500-3600000ms视频录制方式录像、回播、合成清晰度测量全自动软件对焦最大拍摄速度80帧/s光源系统光源美国进口工业级白色冷光源(有效避免因光源散发热量蒸发液滴)组合方式采用日本进口石英扩散膜使得亮度更均匀,液滴轮廓更清晰使用寿命5万小时以上亮度调节PWM无极调节+软件调节亮度识别算法自动识别亮度保证最佳亮度光源波长400~760nm功率1W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法等测量软件CA V2.0静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法(static contact angle)自动拟合法(ms级别一键全自动拟合,不存在人工误差)、三点拟合、五点拟合、自动测量(包括圆拟合法/斜圆拟合法(Circle method/ Oblique Circle)、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)、B-Snake拟合法、凹凸面测量等动态接触角测量(Dynamic contact angle)前进角(Advancing angle),后退角(receding angle),滞后角(hysteresis angle)(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°<θ<180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法,OWRK法,Zisman法,EOS法,Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法(软件中预装37种液体数据库,可自行建立液体性能参数)数据可直接调入用于表面能估算,液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位mJ/m² 表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01 mN/m测量范围0.1mN/m-2000mN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 mN/m单位mN/m作业方法:
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  • 中图仪器NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪用于测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数,是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。工作原理测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面,测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号,数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能 1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料;2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数;3)翘曲与形状:能够测量样品表面的2D形状或翘曲,如在半导体晶圆制造过程中,因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化,或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1)自定义测量模式:支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式;2)导航图智能测量模式:支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机,可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示,进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。 性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率,结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰,确保仪器具有良好的测量精度及重复性;2.超微力恒力传感器1-50mg可调,以适应硬质或软质样品表面,采用超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的接触式测量;3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度,具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景,NS200台阶仪提供如下便捷功能:1)结合了360°旋转台的全电动载物台,能够快速定位到测量标志位;2)对于批量样件,提供自定义多区域测量功能,实现一键多点位测量;3)提供SPC统计分析功能,直观分析测量数值变化趋势;部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动,360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB 空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 仪器简介: 德国Klocke Nanotechnik公司生产的纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。系统拥有5个自由度,可以根据样品设定测量路径,测量范围达到厘米级甚至更大。现已广泛应用于超精密机械加工、MEMS器件、半导体微电子加工、光学、分子生物学和精密工程。 技术参数:设备主要参数: 测量范围: X = 10, 20 or 50 mm Y = 10, 20 or 50 mm Z = 10 or 20 mm 采用花岗岩基底,XY方向行程扩展为: 100 x 100 mm2 or 350 x 350 mm2 测量特性: 运动分辨率: 1 nm 针尖分辨率: 0.5 nm 水平与竖直方向均配有操纵传感器 线形轮廓测量 样品内部与外部轮廓测量 坐标测量功能 测量用探针: 针尖型金属丝, 尖端半径 100 nm 钩型金属丝, 尖端半径 100 nm 圆形针尖, 直径 0.12-0.3 mm 金刚石针尖, 如用于表面压痕 软件: 针尖自动校准与逼近 2D 和 3D 图形功能 分析软件 自动化模块选项(序列发生器) 可选择的配置: 小型花岗岩平台式3D-Nanofinger 便携式3D-Nanofinger 3D-Nanofinger 模块,如集成到CNC机床内部 适合电镜中安装的3D-Nanofinger 模块 可安装到多功能检测工作台中 附件: 纳米精度自动旋转平台 摄像机 图形识别系统主要特点:1.纳米精度测量,而且是三维方向都可保持统一的精度。 2.测量量程跨越纳米到厘米,甚至分米级。 3.多功能多参数测量设备,可以涵盖三坐标、轮廓仪、形貌仪、粗糙度仪等的功能。 4.用户可以设定测量路径,这样就能沿着样品形状进行测量。适合复杂轮廓测试。 5.配合多种不同功能的探针,可以完成一般轮廓仪无法进行的结构测量。特别是结构内部。 6.用户可以根据需要灵活设置测量方法,可以进行大面积精确测量,也可以先进行大面积低精测量,然后对特定感兴趣的区域进行高精测量,以节省时间。 7.整个过程非接触的,间距可以保持在可以设定为几个纳米。适合各种固态样品测量,对材料性质没有特别要求和限制。 8.布局灵活,根据用户测试要求组成合适的系统。平台可以任意组合,探头也以改变安装方向。 9.如果和微加工设备组合,可以实现在线测量。
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  • 谐波法微纳材料热物性测量仪器(3Ω热物性测试仪)姓名:田工(Allen)电话:(微信同号)邮箱:传统测试方法无法满足新型微纳尺度材料热物性的精确测量要求。谐波法微纳材料热物性测量系统可以实现几乎所有类型微纳材料的热物性测量,包括:单根纤维、纳米薄膜、纳米线阵列、功能流体、纳米粉体、纳米界面等。谐波法微纳材料热物性测量仪器(3Ω热物性测试仪)产品特点利用导热绝缘薄膜封装纳米金属带技术,增加传感器的重复利用性,采用四线法进行测量,消除导线自身热阻带来的测量影响。系统测量误差 8.9 %。单个纤维热物性测量各项异性 热物性测量-65℃ - 200 ℃ 外场选项多种材料测试兼容谐波法微纳材料热物性测量仪器(3Ω热物性测试仪)可以实现多种材料的热导率、热扩散率、吸热系数、接触热阻的现场测试已提供服务单位• 航天某研究所-碳纤维热导率测量• 北京某大学-碳纳米管纤维热导率测量• 华南某大学-碲化铋纤维热导率测量• 山东某能源研究所-碳纤维热导率测量• 北京某高新技术有限公司-涂层材料热导率测量• 中科院某所-苝/六氟磷酸盐晶体纤维热导率测量• 中山某大学• 英国某大学
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  • C11295 多点纳米膜厚测量仪 C11295型多点纳米膜厚测量系统使用光谱相干测量学,用以测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制。C11295可进行实时多点测量,也可以在膜厚测量中同时测量反射率(透射率)、目标颜色以及暂时变化。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息! 特性多达15点同时测量无参照物工作通过光强波动校正功能实现长时间稳定测量提醒及警报功能(通过或失败)反射(透射)和光谱测量高速、高准确度实时测量不整平薄膜精确测量分析光学常数(n,k)可外部控制参数型号C11295-XX*1可测膜厚范围(玻璃)20 nm to 100 μm*2测量可重复性(玻璃)0.02 nm*3 *4测量准确度(玻璃)±0.4 %*4 *5光源氙灯测量波长320 nm to 1000 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*4工作距离10 mm*4可测层数最多10层分析FFT 分析,拟合分析测量时间19 ms/点*7光纤接口形状SMA测量点数2~15外部控制功能Ethernet接口USB 2.0(主单元与电脑接口)RS-232C(光源与电脑接口)电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗约330W(2通道)~450W(15通道)*1:-XX,表示测点数*2:以 SiO2折射率1.5来转换*3:测量400 nm 厚SiO2 薄膜的标准偏差*4:取决于所使用的光学系统或物镜的放大率*5:可保证的测量范围列在VLSI标准测量保证书中*6:卤素灯型为C11295-XXH*7:连续数据采集时间不包括分析时间
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  • SM-6声纳水深水温测量仪采用声呐技术,SM-6测深仪发出300瓦的声纳脉冲,每秒4次,采用超韧ABS塑料作为外壳,而且还采用了电感开关技术(IST)。 IST采用一系列磁铁来管理用户命令,测深仪的外壳设计没有开关孔。在电池和传感器盖上都配有双密封,可测量深度高达90m,同时也可以测量大气和水温。适合水域作业时迅速掌握大概的水深和水温情况。技术参数:1.测量深度:0.8m-90m;2.LCD液晶数据显示;3.操作温度范围 -18℃至71℃;4.声纳频率: 200kHz;5.波束宽度: 20度;6.精度: 量程的1/10(由于水面干扰因素较多,深度越大,越精准);7.单位切换: 长按开关进入单位切换模式,短按开关切换两种单位模式8.可测量大气温度/水温;9.电池类型: 9v碱性电池;10.磁性开关,隔绝水分进入;11.可漂浮设计,落水不易丢;12.尺寸:250*50mm13.重量:250克。
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  • 特纳公司的C-sense 是一款紧凑、质轻的用于测量水体CO2气体分压的小巧型传感器(红外CO2分析仪)。可以适应多种严苛的使用环境,例如天然水体环境、油水混合环境等。特别值得提及的是特纳 水下二氧化碳测量仪 C-sense传感器具有抵抗油脂侵蚀、温度补偿以及无红外光学扩散等特点。特纳 水下二氧化碳测量仪 C-sense是一款设计用来监测pCO2 的低功耗、经济价位的设备(比较传统的pCO2传感器)特纳 水下二氧化碳测量仪 C-sense的PCO2数据来自美国夏威夷的Kaneohe湾,详实的数据反映出了沿岸浅谈的珊瑚礁的生长情况 特纳 C-sense数据稳定性时间信息仪器亮点:1, 1000ppm,2000ppm,4000ppm三种量程范围(机身可同时容纳三种量程探头)2, 高精度,精确度满量程的3%3, 水下600工作深度4, 输出解析简单:4针模拟信号输出5, 体积小巧:125px x 507.5px;0.5 kg6, 低功耗:6-12V DC, 80mA @ 6VDC 应用范围:水质监测水产养殖废水监测海水近岸监测碳收集及储存监测生物燃料生产 特纳 水下二氧化碳测量仪 C-sense 物理参数:体积:20.3 x 5 cm重量:0.43 kg 工作环境:水体温度:-2 to 35℃空气温度:-20 to 50℃深度:600m 电学规格:模拟信号输出:0-5V DC输入电压:6-12V DC功耗:80mA @ 6 VDC (100mA 暖机状态)防污染附着铜罩
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  • 中图仪器SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪以白光干涉技术为原理,获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范围两大优点,适用于从超光滑到粗糙、平面到弧面等各种表面类型,让3D测量变得简单。SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。产品功能(1)SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能; (5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。产品特点参数测量:粗糙度、微观轮廓尺寸、角度、面积、体积,一网打尽;环境噪声检测:实时监测,纳米波动,也无可藏匿;双重防撞保护:软件ZSTOP和Z向硬件传感器,让“以卵击石"也能安然无恙;自动拼接:3轴光栅闭环反馈,让3D拼接“天衣无缝";双重振动隔离:气浮隔振,吸音隔振,任你“地动山摇,我自岿然不动"。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例: SuperViewW1白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 货期:15天 品牌:北斗仪器 型号:CA200N产地:广东东莞 名称:自动型纳升级光学接触角测量仪 接触角(Contact angle)是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线,此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ,是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。北斗接触角测量仪CA200N采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。北斗接触角测量仪CA200N采用全自动进液装置,性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求,目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。测量方法 固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃(包括塑料或金属等固体)表面润湿性研究等。北斗接触角测量仪CA200N在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域,接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。ASTM D 1173/评价表面活性剂发泡性能的标准测试方法(罗氏泡沫分析法)ASTM 5725 / 用自动接触角测试仪测试片状材料表面润湿性和吸收性的标准方法ASTM 724 / 纸表面润湿性的标准方法(接触角法)ASTM C 813 / 用接触角测量法测试玻璃疏水污物的标准方法ASTM D 971 / 用环法测试油对水的界面张力的标准方法ASTM D 1331 / 表面活性剂溶液表面张力和界面张力的标准测试方法ASTM D 1417 / 测试合成橡胶胶乳的标准方法ASTM D 1590/ 水表面张力的标准测试方法DIN 53914 / 表面活性剂测试 – 测定表面张力DIN 55660 / 色漆和清漆 - 润湿性评价DIN EN 14210 / 表面活性剂 – 用镫法或环法测定表面活性剂溶液的表面张力DIN EN 14370 / 表面活性剂 - 表面张力的测定DIN 14272 / 泡沫化合物德标 - 适用于消防用低膨胀水性成膜泡沫化合物ISO 1409 / 塑料/橡胶-聚合物分散体和橡胶胶乳(天然和合成)-表面张力的环法测定ISO 4311/阴离子和非离子表面活性剂-临界胶束浓度的测定ISO 6295 / 油水界面张力的测定ISO 6889 / 表面活性剂 – 用拉膜法测定界面张力ISO 304 / 表面活性剂 - 用拉膜法测定表面张力Amtsblatt EU L251/37 / 表面张力OECD 115 / 化学品测试准则- 水溶液的表面张力型号CA200N自动型纳升级光学接触角测量仪 三维平台左右X移动手动:行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动:行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动:行程40mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整,摄像头水平调整(配送专业级XY水平仪)样品台尺寸120*150mm(可定制)可放置最大样品200(W)*∞(L)*50(H)mm样品台材质铝合金进液系统微量进样器XY移动行程:100mm,精度0.1mm(针头对中及液滴转移)进液控制移动行程:70mm,精度:0.001mm滴液控制模式自动,精度:0.001ul加液方式直接罐装微量进样器非接触喷射式针头50u尖嘴喷头一个成像系统镜头Subpixel级别0.7-4.5远心轮廓深度定制镜头相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280× 1024镜头控制仰视角度:±10度,精度:1度调焦移动行程:0-10mm,精度1mm。帧率80帧/s(可选配全局曝光高速400帧/s的相机)光源系统组合方式采用石英扩散膜与均光板使得亮度更均匀,液滴轮廓更清晰 光源采用进口CCS工业级蓝色冷光源(有效避免因光源散发热量蒸发液滴),使用寿命可达5万小时以上亮度调节PWM数字调节光源波长460-465nm功率10W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法、前进角、后退角、滚动角、薄膜法等测量软件CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法(static contact angle)自动拟合法(ms级别一键全自动拟合,不存在人工误差)、三点拟合、五点拟合、自动测量(包括圆拟合法/斜圆拟合法(Circle method/ Oblique Circle)、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse))、凹凸面测量等动态接触角测量(Dynamic contact angle)前进角(Advancing angle),后退角(receding angle),滞后角(hysteresis angle),滚动角(选配)(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°<θ<180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法,OWRK法,Zisman法,EOS法,Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法(软件中预装37种液体数据库,可自行建立液体性能参数)数据可直接调入用于表面能估算,液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位MN/m其他机架型材欧标160输入电源220V 50-60Hz仪器尺寸约640mm(W)*180mm(L)* 530mm(H)仪器重量约30KG表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01MN/m测量范围0.1MN/m-2000MN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 MN/m单位MN/m配件选配件纸片夹具、温控平台(高温、低温、高低温、湿度)、旋转台(滚动角)、蠕动泵等。设备选配件众所皆知,软件是一台仪器的灵魂所在,组成系统的硬件虽为测量提供了基础,但只有在软件的支持下,才能完美地实现硬件的功能,充分发挥其潜力,使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用,经过多年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合,已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统(行业内极少),在对以后软件升级,新标准更换的时候起到一个很大的优势。本款产品所操控的软件已经获得国家版权局登记证书,仿冒必究。软件主界面图版权声明:广东北斗精密仪器有限公司拥有光学静动态接触角分析测量仪CA V1.2.1软件的所有知识产权,本计算机程序受版本法/著作权法和国际公约保护,未经书面授权擅自传播本程序部分或者全部可能遭受严厉的民事刑事制裁,并将在法律允许的范围内受到最大可能的起诉测试报告1.精细机械:系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理,所有的其它主要组件也都是由铝合金,不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2.精密定位:系统所有的线性移动单元,包括三维样品台(xy-轴),(Z-轴)注射器/针头的移动调节,均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动,确保传动平稳、轻松和精细。3.配置齐全的进样器与针头选择:提供数十种不同规格的进样器供使用者选择,如不同规格(25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….),不同材质(气密玻璃进样器/塑料进样器),不同品牌(Hamilton/boli….)以满足不同客户需求。提供各种规格(10-34#)以及不同材质(不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头)以及特殊针头(弯曲针头),可用于常规接触角测量,也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4.成像系统:采用了行曝光(Rolling Shutter)高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴,即使是非常小的液滴。5.领 先 的 软 件 平 台 :软 件 是 整 个 测 量 系 统 的 灵 魂 和大 脑 。 CA V1.2.1软件 为用户 提 供 了 范 围 广 泛 的功 能 和 特 性 ,而 且 其 中 的 许 多 项目 在 这 一 领 域 均是 出类拔萃 。作 为 一 光 学 方 法 ,测 量 的 精 度 取 决于 成 像 的 质 量 和 后 着 的 处 理 、 分析 和 计 算 方 法 。 其 中 采 用 的 亚 像 素 ( sub-pixel) 液 滴 坐标 检 测 ,自 动 液 /固 /流 -三 相 接 触 线 识 别 , 液 滴 全 轮 廓 分析 ,和 基 于 连 续 信 息 反 馈 的 液 滴 监 视 功能 等构成了 软 件 的 核 心 组 件 , 而且 这 一 切 又 都 能 实 时 完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能,分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6.北斗接触角测量仪CA200N软件自动生成报告,其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7.基线自动倾斜功能,可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。8.分级管理系统,权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。9.北斗接触角测量仪CA200N具备双边接触角测量快速拟合功能,更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况;10.动态拍摄、视频快速测试数据,可以连续性记录测试接触角的变化,再由软件自动批量拟合;11.北斗接触角测量仪CA200N具备历史数据库功能,记录每一次的测试结果,可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个 2.手动加样系统 1套3.表界面分析测量系统应用软件 1套4.说明书纸质一份及说明书电子版 1份5.保修卡及合格证1份6.亲水进样针20个 7.500ul进样器1个8.数据线1条9.XY专用水平仪1个配置清单物料名称数量规格描述主机框架1高强度进口欧标航空铝合金结构搭配模块化设计相机1USB2.0接口, SONY 1/1.8" MT9M001 Rolling shutter CMOS,分辨率H1280×V1024,帧率80fps镜头1对焦距离90mm,0.7×时视场13.71~18.28mm,4.5×时视场2.13~2.84mm光源1日本CCS工业级深度定制单波长LED轮廓冷光源,120个密集光源点,配合美国进口柔光板与均光板,亮度连续可调,24V安全电压支撑脚1铝合金+减震胶垫结构,配合减震系统,可调节机台水平与防震效果俯仰调整滑台1螺杆控制,调整范围±1°滴液驱动模块1德国进口压电陶瓷重复定位精度±0.001μl滴液升降模块1旋钮驱动,丝杆转动,XY移动行程50mm,重复定位精度±1mm样品台升降滑台1齿轮齿条控制,移动行程40mm,分辨率0.1mm样品台平移滑台1齿轮齿条控制,移动行程X30×Y50mm,分辨率0.1mm固定件和连接件1AL6061铝合金数控加工而成,表面烤漆处理控制器1微机控制系统,发送指令控制滴液系统电气控制单元1集成了包括电路、电位器、开关、电源等测量软件1包括接触角测量、表面张力测量、表面能估算和润湿性分析耗材1喷嘴,撞针电脑(选配)1如下配置联想或者戴尔i3系列笔记本一台(电脑为选配件 客户可以自配)
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  • Hommel霍梅尔 德国业纳 JENOPTIK 圆度测量仪 F355/F455 使用 F435 和 F455 形状测量仪,您可以精确测定工件的圆度、圆柱度和平整度。测量系统会使用 CNC 控制的三个测量轴自动对准部件并检查形状和位置公差。因此,所需的工作量比传统设备少得多。该软件支持直观操作您的测量系统。 探臂是以磁力连接的,因此您可以简单快捷地更换它。此连接还可防止探头和探臂遭到冲击损坏。借助新一代的 FT1.1 探头,您不仅可以测量形状,而且还可以在单个周期中测量 扭纹和粗糙度,从而节省您的时间和资金。 借助可选的电动旋转和倾斜模块 (MDS) 模块,可在不中断 CNC 运行的情况下进入最难接近的探测位置。形状测量仪以紧凑型台式仪器的形式提供,或集成在符合人体工学的测量站中。 优点最少工作量:自动对准和测量工件。灵活:可选的粗糙度、波度和扭纹检查。新式的探头:安全快捷地更换探臂。功能强大的软件:测定所有形状和位置公差。 应用汽车工业:测量工件的形状、粗糙度、扭纹和波度。
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  • 美国National Risograph12通道酵母活性产气测量仪酵母活性产气测量仪自从1987年以来,Risograph已成为一个测量酵母活性和产气能力的工业标准仪器。这个计算机化的仪器具有12个通道,使用简便,紧凑高效,适用于研发和质量控制,能提供评测产气能力的真实量化和重复性强的数据信息。 酵母活性产气测量仪技术参数 1 到12通道可以同时测量。 特别适用于AACC测定酵母活性和产气能力的方法89-01。 建议的最佳样品量为50克,但10-300克均可。 所有硬件被包含在一个壳体里面。 内置微处理器含有一个精准的采样时钟和输出缓冲器,保证可靠性和精确度。 可用于配料质量保证、新配方开发、冷藏冷冻对起发的影响、以及新方法和标准的选择和研发。 RisoSmart软件给出发酵能力电子数表和曲线,使用户容易分析和报告结果。
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  • WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数,同时生成Mapping图;2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像,显示2D剖面图和3D立体彩色视图,高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数;3、基于白光干涉图的光谱分析仪,通过数值七点相移算法计算,达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度,实现膜厚测量功能;4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉,由此计算出两表面间的距离(即厚度),可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度,包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。应用领域可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块:厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等;2、显微形貌测量模块:粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能;纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能;滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能;提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等;粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数;结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术(1)采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。(2)搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘,晶圆规格最大可支持至12寸。(3)采用Mapping跟随技术,可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术(1)采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法,Z向分辨率高可到0.1nm;(2)隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声,获得高测量重复性。(3)机器视觉技术检测图像Mark点,虚拟夹具摆正样品,可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台(1)大行程龙门结构(400x400x75mm),移动速度500mm/s。(2)高精度花岗岩基座和横梁,整体结构稳定、可靠。 (3)关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动,搭配分辨率0.1μm的光栅系统,保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧(1)集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。(2)具备双重防撞设计,避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。(3)具备电动物镜切换功能,让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量,将晶圆上下面的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV),有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像,用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片,细磨硅片粗糙度集中在5nm附近,以25次测量数据计算重复性为0.046987nm,测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 爪肿测量仪 400-860-5168转1674
    爪肿测量仪 仪器简介: 爪肿测量仪计用于测量抗肿药物的效果.爪肿测量仪使用方法简单,将肿胀的大鼠爪放入仪器的水槽中,导致水平面上升,爪肿测量仪测量出水平面上升引起的水压力变化值,该压力变化值对应伸入水中肿胀大鼠爪的体积;爪肿测量仪 的详细介绍 产品品牌:意大利UGO产品型号:37140 爪肿测量仪设计用于风湿关节炎、水肿、药理作用等研究,精确测量啮齿类动物肢体的肿胀情况。自上世纪60年代起,已经有超过1000篇的引文。该仪器是大、小鼠炎症水肿测量的理想工具,其测量分辨率是0.01ml。 爪肿测量仪整套仪器包含一个脚踏开关,用于记录读数,从而使得操作人员可以全神贯注于将动物的爪侵没于测量水杯中。液晶屏实时显示实验数据,通过相应软件可方便的将实验数据导入电脑。爪肿测量仪使用方法简单,将肿胀的大鼠爪放入仪器的水槽中,导致水平面上升,爪肿测量仪测量出水平面上升引起的水压力变化值,该压力变化值对应伸入水中肿胀大鼠爪的体积;对大鼠服用抗肿胀药物,大鼠的爪相应消肿,将消肿的大鼠爪放入水槽中,导致水平面上升,爪肿测量仪测量出水平面上升引起的水压力变化值,该压力变化值对应伸入水中消肿大鼠爪的体积,根据两次水压力变化值即体积的差值评估得出抗肿胀药物的效果。特征 脚踏记录实验数据超过1000引文多测量水杯可选优点 免手持操作 绝大多数应用开在参考文献中查到 可用于大、小鼠实验规格参数:测量水杯直径:1.3 cm (小鼠), 1.8 2.5 & 3.5 cm (大鼠)读数分别率:0.01ml与电脑连接:串行接口或USB接口软件:包含在标配中参考文献: et alia: “A2A Adenosine Receptors Are Differentially Modulated by Pharmacological Treatments in Rheumatoid Arthritis Patients and Their Stimulation Ameliorates Adjuvant-Induced Arthritis in Rats” PLoS ONE 8(1): e54195, 2013§ T. Bertaim et alia: “Dose and Administration Schedule Effect of Tiludronate on Joint Damage in the Model of Complete Freund Adjuvant Induced Monoarthritis in Rats” Open Journal of Rheumatology and Autoimmune Diseases 3: 18-25, 2013§ E. Borbély et alia: “Role of Tachykinin 1 and 4 Gene-Derived Neuropeptides and the Neurokinin 1Receptor in Adjuvant-Induced Chronic Arthritis of the Mouse” PLoS ONE 8(4): e61684,2013 ......§ R. Korhonen et alia: “Attenuation of TNF production and experimentally induced inflammation by PDE4 inhibitor rolipram is mediated by MAPK phosphatase-1” Br. J. Pharmacol. 169 (7):1525-1536, 2013 § A. Finlay et alia: “Sphingosine 1-Phosphate Mediates Hyperalgesia via a Neutrophil-Dependent Mechanism” PLoS ONE 8(1): e55255, 2013..... § D. Piomelli et alia:” Anandamide suppresses pain initiation through a peripheral endocannabinoid mechanism”. Nature NSC, 2010§ L.H. Santos et alia: "Anti-Inflammatory, antinociceptive and Ulcerogenic Activity of a Zinc-Diclofenac Complex in Rats" Brazil. J. Med. Biol. Res. 37: 1205-1213, 2004 § D.W. Li et alia: "Antiinflammatory Activity of a α-Hederin methyl Ester from the Alkaline Hydrolysate of the Butanol Fraction of Kalopanax Pictus Bark Extract" Biol. Pharm. Bull. 26 (4): 429-433, 2003 § A. Rotelli et alia: “Comparative Study of Flavonoids in Experimental Models of Inflammation” Pharmacol. Research 48: 601-606, 2003 § H. Machelska et alia: "Opioid Control of Inflammatory Pain Regulated by Intercellular Adhesion Molecule-1" J. Neuroscience 22 (13), 5588-5596, 2002 § W. Binder & J. Walker: "Effect of the Peripherally Selective Κ-Opioid Agonist, Asimadoline, on Adjuvant Arthritis" Br. J. Pharmacol. 124: 647-654, 1998 §F. Vincenzi
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  • 产品描述testo 480 高品质便携式多功能测量仪,一机多能,适用于测量分析并记录通风空调系统的相关参数。 为暖通空调行业的系统优化专家、技术服务提供商和工程师提供完备的整体方案支持,如办公环境,住宅楼宇的空调通风系统安装及调试等。同时,testo 480 多功能测量仪也可快速可靠的检测生产及加工过程中相关产品质量的重要参数。 testo 480 多功能测量仪优势一览testo 480 多功能测量仪带内置高精度压力传感器,适用于皮托管测量,也可进行过滤器及洁净室监测。另外还有其他多种高品质探头可供选配以测量以下多种参数: 风速及风量 (也可测量通风柜) 温度/湿度 压力 (差压及绝压) CO2/CO 光照度 PMV/PPD舒适度评估 WBGT热指数 紊流度testo 480 数字式多功能测量仪可选更多探头和附件,如德图红外打印机,可以现场输出打印测量值并可随身携带。 高端科技,专为暖通空调行业而设计testo 480 多功能测量仪专为提高您的工作效率而设计。该高品质便携式多功能测量仪一机多能,适用于所有通风及空调系统的相关参数测量及长期监测。配备超大容量内存,可存储6千万组测量数据,以及内置标准测量程序,引导实现专业测量。 管道风口栅格测量程序,符合EN 12599法规 紊流度测量程序(舒适度评估),符合EN 12599法规 PMV/PPD 测量程序(舒适度评估),符合ISO 7730标准 WBGT热指数测量程序,符合ISO 7243标准 testo EasyClimate 专业分析管理软件testo EasyClimate 软件帮助您实现通过USB数据线将测量数据传输至电脑进行分析、管理、存档及评估。软件还配有特别开发的报告生成模块,用户可以方便生成测量报告,也可根据客户要求进行定制自己的报告模板。 智能校准及数字式记忆探头可供选配的数字式记忆探头提供高精度的测量结果。与此同时,在校准过程中出现的偏差均可直接存储于数字式探头内。客户使用多功能测量仪时,探头会自动补偿校准偏差,实现数据的“零误差”显示。智能探头还能自动提醒校准时间,确保您的仪器测量数据始终精准。 testo 480 多功能测量仪内置高精度压力传感器,量程-100 ~ +100 hPa以及另外3个数字式记忆探头插口和2个热电偶 (K型)插口。请注意:产品描述中所提及的各种探头及附件都需另行订购。产品包含testo 480 多功能测量仪,内置差压传感器,testo EasyClimate分析软件,电源,USB电缆和出厂报告。技术数据Pt100测量范围-100 ~ +400 °C分辨率0.01 °C Type K (NiCr-Ni)测量范围-200 ~ +1370 °C测量精度±(0.3 °C + 0.1 %测量值)分辨率0.1 °C 电容式湿度传感器湿度测量范围0 ~ 100 %RH分辨率0.1 %RH 叶轮风速测量范围0.6 ~ +50 m/s (16 mm叶轮风速探头)0.1 ~ +15 m/s (100 mm叶轮风速探头)分辨率0.1 m/s (16 mm叶轮风速探头)0.01 m/s (100 mm叶轮风速探头) 热线测量范围0 ~ +20 m/s分辨率0.01 m/s CO?测量测量范围0 ~ 10000 ppm CO?分辨率1 ppm CO? 舒适度测量范围0 ~ +5 m/s分辨率0.01 m/s 压阻式压力传感器测量范围-100 ~ +100 hPa测量精度±(0.3 Pa + 1 %测量值) (0 ~ +25 hPa)±(0.1 hPa + 1.5 %测量值) (+25.001 ~ +100 hPa)分辨率0.001 hPa 光照度-硅光电二极管测量范围0 ~ 100000 Lux分辨率1 Lux Absolute Pressure (internal sensor and external probe)测量范围700 ~ 1100 hPa精度±3 hPa分辨力0.1 hPa 技术参数重量435 g操作温度0 ~ +40 °C防护等级IP30可连接的探头2 x K型热电偶, 1 x 内置差压, 3 x 数字探头EU-/EG-法规2004/108/EG电池使用时间17小时 (主机,不带探头,50%的显示亮度)显示屏特性彩色图形显示电源连接电源可实现长期测量和电池充电数据传送USB界面或SD卡存储量60,000,000 个测量值存放温度-20 ~ +60 °C
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  • Jenoptik,德国业纳形状测量仪,F435和F455仪会自动以高的可靠性检查您的工件,从而确保您的产出始终具有高品质。使用 F435 和 F455 形状测量仪,您可以精确测定工件的圆度、圆柱度和平整度。测量系统会使用 CNC 控制的三个测量轴自动对准部件并检查形状和位置公差。因此,所需的工作量比传统设备少得多。该软件支持直观操作您的测量系统。探臂是以磁力连接的,因此您可以简单快捷地更换它。此连接还可防止探头和探臂遭到冲击损坏。借助新一代的 FT1.1 探头,您不仅可以测量形状,而且还可以在单个周期中测量 扭纹和粗糙度,从而节省您的时间和资金。借助可选的电动旋转和倾斜模块 (MDS) 模块,可在不中断 CNC 运行的情况下进入最难接近的探测位置。形状测量仪以紧凑型台式仪器的形式提供,或集成在符合人体工学的测量站中。优点最少工作量:自动对准和测量工件。灵活:可选的粗糙度、波度和扭纹检查。新式的探头:安全快捷地更换探臂。功能强大的软件:测定所有形状和位置公差。应用汽车工业:测量工件的形状、粗糙度、扭纹和波度。
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  • 操作简便,省时省力 现场直接取样,2ml样品量,数秒内即可得到结果 结果自动温度修正,无需查表 结果可选择多种单位显示,满足不同国家标准需求 即使在较低测量温度和酒精浓度也可达到0.2% v/v的准确度 0-100% v/v测量范围,适用于白酒生产的所有阶段 设计坚固,经久耐用 外壳防溅,另配测量池橡胶保护套,可经受日常操作中的碰撞 独特的测量池连接技术,在测量池不幸破裂的情况下可进行更换 根据 U 型管振荡原理高准确度地测量密度,以此获取酒精浓度。安东帕是这项技术的市场领导者,拥有50多年的经验,安东帕生产的数字酒精测量仪是行业的标准仪器,被广泛用于各大型酿酒厂、政府机构和手工酿酒厂等。技术规格Snap 41Snap 51已获得的专利专利 AT516421 (B1)、EP3015847 (B1)–测量范围酒精:0 %v/v 至 100 %v/v温度:5 °C 至 30 °C(41 °F 至 86 °F)(自动温度补偿)酒精:0 %v/v 至 100 %v/v温度:0 °C 至 40 °C(32 °F 至 104 °F)(自动温度补偿)准确度酒精:0.2 %v/v温度:0.2 °C (0.4 °F)酒精:0.1 %v/v温度:0.1 °C (0.2 °F)重复性标准偏差*酒精:0.1 %v/v温度:0.1 °C (0.2 °F)酒精:0.05 %v/v温度:0.05 °C (0.1 °F)再现性标准偏差*酒精:0.15 %v/v酒精:0.07 %v/v分辨率酒精:0.01 %v/v温度:0.1 °C (0.1 °F)酒精:0.01 %v/v温度:0.01 °C (0.01 °F)环境温度0 °C 至 35 °C(32 °F 至 95 °F)-10 °C 至 +50 °C(14 °F 至 122 °F)测量原理U型管振荡技术U型管振荡技术支持的测量单位酒精浓度以体积百分比 (%v/v)(校正至 20 °C 或 15 °C)或标准酒精度 (Proof) 表示酒精浓度以 %v/v(在20 °C 或 15 °C时)或 °Proof 表示密度糖/浸出物浓度以 °Brix 或 °Plato 表示十个可编程自定义测量单位内存–1024 个测量结果、250 个样品 ID、 30 种测量方法电源三节 1.5 V LR06 AA 碱性电池三节 1.5 V LR06 AA 碱性电池样品量2 mL2 mL尺寸245 mm x 103 mm x 126 mm (9.6 in x 4 in x 5 in)468 mm x 108 mm x 119 mm (18.4 in x 4.3 in x 4.7 in)重量660 g(23.3 盎司)860 g(30.3 盎司)接口Bluetooth(仅用于软件更新)Bluetooth(数据传输至 PC 或打印机)、 RFID(样品识别)防护等级IP54IP54可选配件腕带,操作面板橡胶防护壳,运输手提箱腕带、操作面板橡胶防护壳、便携式 Bluetooth 打印机、Bluetooth USB 适配器
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  • 全自动型影像测量仪 400-860-5168转5905
    泰科纳全自动型影像测量仪,是代替原有手动测量机型的一款全自动化测量机型,可以实现产品的批量全检。全自动对焦功能和全自动变倍远心镜头,不但能够提高测量效率,也避免测量过程中的人为因素带来的测量误差。可以离线编程,实现测量程序存储和调用。泰科纳全自动型影像测量仪搭载1:6.5高分辨率光学系统,可全面确保精密工件的二维尺寸进行准确测量。可高效测量各种精密零件的轮廓和表面形状尺寸,如点、线、圆、弧、矩形、槽形、环形、开曲线、闭曲线、圆柱、圆锥、球、平面,也能测量曲线的周长、面积、直径等。同时可以进行平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同心度、直线度、平面度、孔深等适用于高精度产品检测。广泛应用于:航空航天、汽车电子、手机零部件等行业。面对闪测仪与影像仪的抉择,关键在于明确需求。若追求高效、快速的批量测量,闪测仪无疑是理想之选;而若项目对测量精度有高要求,影像仪则能胜任。两者各有优势,如果您还不知道如何抉择,不妨联系泰科纳技术,为您推荐最合适的机型以及样件试测服务,让选择不再迷茫。
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  • 超灵敏测量仪器 400-860-5168转4585
    世界各地的科学家和研究人员都依赖吉时利电表、皮安表和纳伏表,超越传统数字万用表的功能,进行小信号测量。吉时利电表和皮安表提供了低电流和高电阻测量,吉时利纳伏表则测量低电压。选择您的专用小信号仪器为了帮助您根据应用选择相应的专用小信号测量仪器,下面列出了常用的选型标准,包括根据要求确定正确的专用小信号测量仪器的实用小贴士。分辨率分辨率指仪表所能达到的精细程度。知道了仪表的分辨率,就可以确定是否可能看到信号中小的变化。我们使用“位数”和"个数"描述仪表的分辨率。6位半万用表可以显示从0到9的6个完整位,及一个“半”位,只能显示一个1或留作空白。6位半仪表将显示高达1999999个数的分辨率。精度精度是在特定工作条件下发生的可以允许的最大误差。换句话说,它指明了DMM 显示的测量与被测信号实际值的接近程度。精度通常用读数的百分比表示。读数的1%的精度表示如果显示的读数是100V,那么电压实际值可能在99V -101V之间的任何地方。低电流/高电阻测量低电流/高电阻测量评估材料或元器件的安装质量。一般来说,会施加高达500V或1000V的电压,测量得到的电流,其可能会在几皮安(10E-12A)或更低的范围内。对这些测量数字万用表似乎是合适的仪器。但如果电流低于1uA或电阻高于10MΩ,那么正确的解决方案是电表或皮安表。低电压/低电阻测量低电阴/低电乐测量评估材料或元器的传导或接触质量。一般来说,会施加低于100mA 最低1uA的电流,测量得到的电压,其可能会在几微伏,甚至几纳伏的范围内。对低电压,应选择纳伏表或低噪声万用表。对低电阻,纳伏表/电流源组合或开关/万用表是正确的解决方案。
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