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能量扩谱仪

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能量扩谱仪相关的论坛

  • 能量色散X荧光光谱仪是什么仪器

    [size=16px]  能量色散X荧光光谱仪是什么仪器  能量色散X荧光光谱仪(EDXRF)是一种用于分析材料中元素组成的非破坏性分析仪器。它利用X射线照射待测样品,激发样品中的原子或分子,然后测量由这些原子或分子发射出的X射线能量和强度,从而确定样品中各元素的种类和含量。  这种仪器的主要特点包括:  非破坏性:不会对样品造成损伤。  灵敏度高:能够检测到极低浓度的元素。  分析速度快:可以在几秒钟内完成一次分析。  具有广泛的适用范围:可以应用于地质、矿物、环保、材料科学等领域。  在实际应用中,能量色散X射线荧光光谱仪常常与计算机相结合,可以通过软件对数据进行处理和分析,以提供的结果。同时,该仪器也可以配备多种附件,如高压电源、样品架等,以满足不同的实验需求。  此外,能量色散X荧光光谱仪还适用于材料科学和考古学领域,例如用于陶瓷及原料化学组成的检测。  请注意,具体的仪器性能和应用领域可能会因设备型号、生产厂家等因素而有所差异。因此,在使用能量色散X荧光光谱仪时,应参考设备的使用说明书和相关标准,以确保测试结果的准确性和可靠性。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403060952348590_3596_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]

  • 【讨论】偏振能量色散型X射线荧光光谱仪

    对这类仪器我有两个问题,请专家给解释一下,谢谢!1、偏振能量色散型X射线荧光光谱仪中使用偏振光的特点(包括优点和缺点)是什么?2、这种偏振光是指光源是偏振光还是产生的荧光是偏振光?

  • 能量色散X荧光光谱仪是什么仪器

    能量色散X荧光光谱仪是什么仪器

    [size=16px][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][color=#05073b]能量色散X荧光光谱仪是什么仪器[/color][/font]能量色散X荧光光谱仪是一种用于化学和物理领域的分析仪器。它的工作原理是利用小功率X射线管激发被测样品,并产生X荧光。探测器对X荧光进行检测,然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。这种仪器具有高效端窗发射X-光管、数字高压电源系统、Si(Li)电制冷探测器、全数字脉冲处理器等技术指标,可优化不同能量段元素的采谱条件,提高痕量元素检出能力。此外,能量色散型X射线荧光光谱仪具有5位置滤光片自动切换功能,以保证分析精度,并对各种样品进行快速准确的分析,包括大样品、小样品、金属碎屑、线材、棒材、管道、容器、焊缝等。设备检测元素范围为镁Mg – 铀U,校准程序可同时对35种元素进行回归计算。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/02/202402040948224614_1966_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]

  • 【讨论】能量色散光谱仪

    我在该论坛看到好多关于X 荧光光谱仪的知识,我自己也是做能量色散X射线荧光光谱仪这方面的,里面有点知识还不懂,希望里面的朋友们帮我解析一下: 我在看杨明太老师的一本书时候,看到能量色散谱仪的性能测试中有一项是能量线性测试,我想问一下能量线性测试反映仪器的什么性能或者技术指标?谢谢了, 这两天急用!

  • 能量型荧光光谱仪哪个品牌好

    分析含量为10~50%铝中间合金,用什么品牌的荧光光谱仪好?波长型和能量型哪一个更合适?能量型荧光光谱仪哪个品牌的口碑好些?预算最好不超过100W

  • 激光闪光法标准测试规范:不同脉冲加热能量下热扩散系数测试的外推法

    激光闪光法标准测试规范:不同脉冲加热能量下热扩散系数测试的外推法

    [color=#cc0000]摘要:本文介绍了一种闪光法热扩散系数测试规范——闪光能量外推法,即在样品恒温阶段采用一系列不同大小的闪光脉冲加热能量进行测试,然后将相应的热扩散系数测试结果外推至零加热能量,由此准确得到与试验参数(样品厚度和加热能量)无关的热扩散系数准确值。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][color=#cc0000]1.问题的提出[/color] 在采用闪光法测量材料热扩散系数过程中,诸如样品厚度和闪光脉冲加热能量这些试验参数的选择,使得测试人员最常面临的困惑就是试验参数选择合理性和测试结果的准确性,这种现象在实际测试中主要表现在以下几个方面: (1)对于相同材料和厚度的样品,设置不同闪光脉冲加热能量,往往会得到不同测试结果,无法判断加热能量参数选择的合理性和测试结果的准确性。 (2)对于未知材料,无法确定合理的样品厚度,往往造成不同样品厚度测试的热扩散系数有明显偏差。 (3)对于相同材料和厚度的样品,不同实验室采用不同型号闪光法仪器,经常会得出不同的测试结果,有时相互之间的偏差还很大。 (4)对于相同材料和厚度的样品,不同实验室采用相同型号闪光法仪器,也常会得出不同的测试结果。 总之,由于存在以上困惑,这就需要开发出一种闪光法测试规范来准确测量热扩散系数,而最终得到的热扩散系数与闪光法仪器的试验参数无关。也就是说,希望采用任何正常的闪光法设备和任意试验参数,都可以测量得到准确的热扩散系数。 本文将介绍一种闪光法热扩散系数测试规范——闪光能量外推法,即在样品恒温阶段采用一系列不同大小的闪光脉冲加热能量进行测试,然后将相应的热扩散系数测试结果外推至零加热能量,由此准确得到与试验参数(样品厚度和加热能量)无关的热扩散系数准确值。[color=#cc0000]2.外推法的基本原理[/color] 众所周知,闪光法测试中,根据温升曲线计算得到的热扩散系数取决于测试条件,如脉冲加热能量和样品厚度。图 2-1显示了温升曲线和热扩散系数随温度的变化曲线。[align=center][img=,690,341]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201616538529_4916_3384_3.png!w690x341.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图 2-1 (a)温升曲线和(b)在Tbase附近温度对热扩散系数的依赖关系[/color][/align] 当在规定温度Tbase(脉冲加热前保持恒定)下进行激光测量时,样品温度会升高Tmax。热扩散系数是一种依赖于温度的物理性能,因此,样品背面温升曲线反映了测量过程中起始温度Tbase和最高温度Tmax之间热扩散系数的温度相关性,即闪光法热扩散系数测量结果是样品温度升高后的等效热扩散系数,而不是起始温度Tbase时样品的固有热扩散系数,由此所带来的误差就是等效热扩散系数与固有热扩散系数之间的差值,此差值就是常见闪光法热扩散系数测量误差的主要来源。 从图 2-1可以看出,当样品背面温升ΔT较大时,如果材料样品的热扩散系数对温度非常敏感,则等效热扩散系数与固有热扩散系数之间的差值将会较大。另外,较大ΔT可能会样品背温红外辐射器信号带来非线性影响,也会增大测量值偏差。 由此可见,由于背面温升ΔT的存在,对于某一样品厚度和加热能量下测试得到是等效热扩散系数,此等效热扩散系数取决于样品厚度、脉冲加热能量、脉冲光吸收率和样品体积热容。从理论上讲,背面温升ΔT越小,所测试的等效热扩散系数就越接近于固有热扩散系数。但在实际测试过程中,往往会选择较大的脉冲加热能量来获得漂亮的背面温升曲线,以提高背温信号的信噪比。由此可见,脉冲加热能量的大小与热扩散系数准确测量是一对矛盾。 为了解决上述试验参数对测量结果带来的影响,日本国家计量研究所(NMIJ)的Akoshima等人开发了一种外推法热扩散系数测试规范[1]。外推法的基本原理是在恒定温度Tbase下,假设样品厚度、脉冲光吸收率和样品体积热容不随温度发生改变,通过改变脉冲加热能量(即改变背面温升ΔT大小)测试得到一系列相应的等效热扩散系数。如图 2-2所示,以背面温升ΔT为横坐标、等效热扩散系数测量值为纵坐标,建立起等效热扩散系数与背面温升的线性函数关系,最终用此线性函数外推得到脉冲加热能量为零时的等效热扩散系数,由此认为此外推得到的热扩散系数即为样品材料在温度Tbase时的固有热扩散系数。[align=center][img=,690,402]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201617142109_5211_3384_3.png!w690x402.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图 2-2 不同加热能量时的等效热扩散系数测量结果和外推法示意图[/color][/align] 由此可见,通过外推法可以得到样品材料固有的热扩散系数,而且所得到的热扩散系数与样品厚度和脉冲加热能量无关,这样就可以在实际测试中消除了测试参数对热扩散系数测量结果的影响。[color=#cc0000]3.外推法的验证[/color] 为了全面验证外推法在闪光法热扩散系数测试中的有效性,日本国家计量研究所(NMIJ)和法国国家计量和测试实验室(LNE)开展了专门的比对测试研究[2],并计划将外推法补充到闪光法热扩散系数标准测试方法中。 对比测试选择了四种材料,分别是IG-110各项同性石墨、Armco铁、YSZ陶瓷和氮化硅,如图 3-1所示。这四种材料基本覆盖了10E-4~10E-6㎡/s范围的热扩散系数,并在脉冲光和探测光的透过性上非常有代表性,从而也代表了不同样品表面吸热涂层和遮光涂层的处理方式。[align=center][img=,690,161]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201617320094_8341_3384_3.png!w690x161.jpg[/img][/align][align=center][color=#cc0000]图 3-1 外推法对比测试样品:从左到右的IG-110石墨、Armco铁、3YSZ和氮化硅 [/color][/align] 两个实验室分别在室温下分别对不同样品厚度的上述四种材料进行了测试,每种厚度样品采用不同脉冲加热能量测试表观热扩散系数,结果如图 3-2~图 3-5所示。然后针对每种厚度样品的表观热扩散系数测试结果计算获得零脉冲能量外推值。每个样品的外推值以及每个实验室的平均值和标准偏差如表 3-1所示。[align=center][color=#cc0000][img=,690,255]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201617457894_7515_3384_3.png!w690x255.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#cc0000]图 3-2 两实验室分别在室温下对不同厚度IG-110石墨样品采用不同脉冲加热能量测试得到的测试值和外推值,符号表示测试值,线条表示线性回归函数[/color][/align][align=center][color=#cc0000][img=,690,256]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201618077493_2590_3384_3.png!w690x256.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#cc0000]图 3-3 两实验室分别在室温下对不同厚度Armco铁样品采用不同脉冲加热能量测试得到的测试值和外推值,符号表示测试值,线条表示线性回归函数[/color][/align][align=center][color=#cc0000][img=,690,253]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201618183304_8193_3384_3.png!w690x253.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#cc0000]图 3-4 两实验室分别在室温下对不同厚度3YSZ样品采用不同脉冲加热能量测试得到的测试值和外推值,样品表面带金和/或石墨涂层[/color][/align][align=center][color=#cc0000][img=,690,260]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201618287874_3031_3384_3.png!w690x260.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#cc0000]图 3-5 两实验室分别在室温下对不同厚度Si3N4样品采用不同脉冲加热能量测试得到的测试值和外推值,样品表面带金和/或石墨涂层 [/color][/align][align=center][color=#cc0000]表 3-1 两实验室对比测试四种材料的固有热扩散系数,根据室温下不同厚度样品测量的表观热扩散系数值的平均值进行估算(LNE 296K,NMIJ 298K)[/color][/align][align=center][img=,690,793]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201618432974_4190_3384_3.png!w690x793.jpg[/img][/align] 在各向同性石墨的情况下(其显示出室温附近热扩散系数的强温度依赖性),从具有最大温升的温升曲线计算的表观热扩散系数比使用外推法估计的固有值小3%。由于NMIJ和LNE估计热扩散系数测量的典型不确定度约为2~3%,因此这种误差就非常明显。结果表明,外推法有助于获得固有热扩散系数,同时避免测量过程中由于样品温度变化造成的偏差。通过对两种半透明性材料(3YSZ和Si3N4)的测试对比,也证明了外推法有助于检测热扩散系数的估计值是否正确,并具有识别材料任何潜在半透明效应的功能。 通过上述NMIJ和LNE这两个国家计量机构对四种固体材料进行的热扩散系数测量,验证了外推法测试技术的有效性和准确性。尽管两实验室使用了不同的测试设备和不同的温升曲线分析方法,但两实验室测量的热扩散系数依然显示出很好的一致性。由此可以确认,结合了外推法的闪光法热扩散系数测量,在10E-4~10E-6㎡/s范围内的热扩散系数测试可以不受测量条件、仪器、分析方法和实验室的影响。[color=#cc0000]4.总结[/color] 热扩散系数是材料固有的特性,据此,热扩散率不取决于测量条件、形状和尺寸。然而众所周知,闪光法热扩散系数测试经常受到这些因素的影响,因此外推法的出现为解决上述问题提出了一个很好的解决方案。 自2005年外推法提出以来,在国际度量衡委员会(CIPM)温度测量咨询委员会第9工作组(CCT-WG9)组织的实验室间热扩散系数对比框架内,一直采用外推法这一试验规程进行所有的对比测试[3]。经过多年的验证试验和实际测试,证明了外推法主要有以下特点和优势: (1)外推法是一种通用性方法。在采用外推法测试材料热扩散系数过程中,尽管不同实验室和不同测试设备采用不同脉冲加热能量和不同数据处理方法会得到不同的外推斜率,反映了与测量仪器和所用评估方法相关的测量条件,但对应于固有热扩散系数的截距值与斜率无关。 (2)外推法对热扩散系数随温度变化敏感的材料更有效。从上述石墨与金属材料的对比测试可以看出,Armco铁的外推斜率要小于IG-110石墨外推斜率,石墨材料热扩散系数在对温度变化敏感的范围内,外推法对于更能显著提高测量的准确性。 (3)有助于识别潜在的材料半透明效应。采用外推法测量时,如果材料完全不透明则会得到与样品厚度无关的相同的外推值,反之则会看出明显的厚度变化所带来的半透明效应。这种功能在识别未知材料的潜在半透明性中非常有用。 (4)由于使用外推法只需在不同脉冲加热能量下进行测量,与样品厚度和数据处理方法无关,加上目前闪光法测试设备自动化程度很高,可以自动按照设定程序改变脉冲加热能量进行连续测量,因此只需选定一种厚度样品就可以快速准确的测定热扩散系数,既能保证测量准确性又能提高测试效率。另外,通过外推法还可以在大的信噪比下进行测量,解决了信噪比与测量精度的矛盾。[color=#cc0000]5.参考文献[/color][align=left](1) M. Akoshima, T. Baba, in Proceedings of Thermal Conductivity 28/Thermal Expansion 16, ed. by R.B. Dinwiddie, M.A. White, L. McElroy (DEStech Publications, Lancaster, 2006), p. 497–506[/align][align=left](2)Akoshima M, Hay B, Neda M, et al. Experimental verification to obtain intrinsic thermal diffusivity by laser-flash method[J]. International Journal of Thermophysics, 2013, 34(5): 778-791.[/align][align=left](3)Akoshima M, Hay B, Zhang J, et al. International comparison on thermal-diffusivity measurements for iron and isotropic graphite using the laser flash method in CCT-WG9[J]. International Journal of Thermophysics, 2013, 34(5): 763-777.[/align][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • 能量色散X荧光光谱仪-知识汇总内容

    原理&方法01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线管02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 工作原理03 RoHS检测仪维修 --- 更换探头03 RoHS检测仪维修03 RoHS检测仪结构介绍 1800法律法规01 环保指令汇总 02 欧盟WEEE指令2002/96/EC 欧盟REACH法规指令 EC 1907/2006 欧盟ELV指令2000/53/EEC 欧盟包装物和废弃包装物指令94/62/EC 欧盟新电池指令2006/66/EC 欧盟Eup指令2005/32/EC 欧盟镉指令91/338/EEC 欧盟镍指令94/27/EC 欧盟偶氮染料指令2002/61/EC 欧盟邻苯二甲酸盐指令2005/84/EC 挪威PoHS 文献资料01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 六种有害成分的存在形式及其替代方法02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X荧光光谱仪是什么?03 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS培训-手机产品04 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 术语05 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 元素之间干扰06 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 物料分类与拆分07 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS1.0,2.0指令区别08 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线分析仪(电子版书籍)09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 辐射小知识10 RoHS检测仪器---欧盟RoHS指令豁免条款11 RoHS检测仪器---卤素简介12 中国RoHS与欧盟RoHS之比较表资料目录为:第一章 简单原理第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理第三章 X射线的激发第四章 波长色散分光计和晶体性质第五章 探测器和电路第六章 能量色散第七章 分析的精密度和准确度……内容持续更新中……09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 各國玩具重金屬要求對照表

  • 请问俄歇谱仪的能量分辨率具体怎么理解?

    看了一个PPT,能量分辨率是这么定义的:通常给的分辨率啥的都是FWHM,实际谱峰和理想谱峰相比有一定展宽,这是由仪器聚集性能和出口缝处有一定宽度有关系。请问FWHM是半峰宽的意思吗?聚集性能和出口缝是什么意思呢?另外还有一句话,谱仪的能量分辨率由CMA决定,通常CMA的分辨率小于5%,E一般为1000—2000eV,所以“”得它”E约为5—10eV。请问能量分辨率是一个百分比是什么意思呢?后面的E又是什么意思?

  • 【讨论】红外光谱仪能量降低的原因

    红外光谱仪上周做样时本底能量在70%左右,今天突然降到50%左右,不知道是哪里出了问题。扫描一下能量在4600左右,实验室温度大约25度左右,湿度小于35%。请各位高手指点。

  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的比较

    虽然波长色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(WD-XRF)X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪,它们产生信号的方法相同,最后得到的波谱或者能谱也极为相似,但由于采集数据的方式不同,ED-XRF(波谱)与ED-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。  (一)原理区别  X-射线荧光光谱法,是用X-射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同,故仪器结构也不同。  (二)结构区别  波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X-射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X-射线管的效率极低,只有1%的电功率转化为X-射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X-射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成,与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点,使能量色散型荧光光仪具有如下优点:  ①仪器结构简单,省略了晶体的精密运动装置,也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低,一般在100W以下,不需要昂贵的高压发生器和冷却系统,空气冷却即可,节省电力。  ②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近,X-射线的利用率很高,不需要光学聚集,在累积整个光谱时,对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感,对样品形状也无特殊要求。  ③在能量色散谱仪中,样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器,这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱(包括背景)的基础,也能清楚地表明背景和干扰线。因此,半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。  ④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度,而不是峰顶强度。因此,减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响,提高净计数的统计精度,可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素,而不是按特定谱线分析特定元素。因此,见笑了偶然错误判断某元素的可能性。(选自网络,侵删)

  • 原子吸收光谱仪能量波动大

    原子吸收光谱仪测定样品时,基线不稳定,吸光度波动较大,是由啥原因引起的?主要是因为能量不稳定,波动较大。那么能量不稳定的原因有哪些呢?1、电压不稳定(一般有稳压电源,不会出现这种情况)2、空心阴极灯长时间没有使用,发射能力大大减弱(这就是空心阴极灯长时间不使用拿出来烧一段时间的原因吧)3、空心阴极灯使用时间太长,考虑更换空心阴极灯。还有哪些因素导致能量不稳定?欢迎讨论!

  • 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 工作原理

    能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 工作原理

    前面我们说过EDXRF的--x射线管的工作原理,这里写写XRF仪器的工作原理: X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上.样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束.再经过准直器的准直进入半导体探测器,探测器本身具有能量分辨能力,可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后入运算装置,由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比,因此可以得到定时、定量分析的能量谱图。 工作原理图如下:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503201412_539002_1617349_3.png 其它更多知识汇总请见--- 【原创】能量色散X荧光光谱仪-知识汇总内容

  • 能量色散荧光光谱仪特点讨论

    目前由于ROHS/WEEE指令的原因,很多电子电气产品生产企业购买了许多能量色散荧光光谱仪,仅我知道的型号就有日本的精工、岛津、HORIBA,热电公司QUANT、帕纳克公司MINIPAL4等,只看仪器标称的指标好像所有的样品都能进行分析,但我觉得这里面误差很难控制,所以非常希望已经购买相关检测设备并有使用经验的人员提供应用新的,也为后续购买相关检测设备的公司提供参考。

  • ice3500 光谱仪谱线处需找能量失败

    前几天(这边连续下雨湿度大)出现过一次在谱线处需找能量失败,通过空调除湿后,波长能找到了,可是今天,湿度60%,波长还是找不到,不是全波段,cu、cr的波长改小0.2,能找到波长,可是zn和ni还是出现对话框。。。什么原因?

  • 关于近红外光谱仪探测器最小可测能量的计算

    最近在看光谱仪方面的书籍,初学,有一个问题想问问大家: 每一种探测器都有照度上限,入射通量超过照度上限,会工作不稳定,寿命缩短,但是它也有一个最小的可测能量,如果入射辐射强度地狱最小可测能量,那也就不能输出有效的信号光电流,这个最小可测能量要怎么计算呢? 这个最小可测能量应该是由暗电流决定的。但是如何计算我一头雾水。。。 希望有好心人能详细解答一下。

  • 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X荧光光谱仪是什么?

    X荧光光谱仪(XRF测试仪)由激发源(X射线管)、高压电源、探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。工作原理 X光管发射的X射线,经过滤光片后,X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱,然后经准直器变成平行光束,照射在样品上.样品受到激发,随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束.再经过准直器的准直进入半导体探测器,探测器本身具有能量分辨能力,可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光,探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置,由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比,因此可以得到定性、定量分析的能量谱图。注:X射线荧光(X Ray Fluorescence)是一种电磁波,是原子内层电子受到激发,在跃迁的时候,产生的一种电磁辐射。lXRF:X射线荧光(XRayFluorescence) 通常把照射在物质上的X射线的原级X射线和照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光。 X射线,激发被测物料,受激发的物料中不同元素发出的特征波长的X射线和能量差。 X射线荧光光谱仪有两种基本类型: 波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)更多相关文献: 请点击

  • 【转帖】能量色散X荧光光谱仪原理

    当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。 它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X 射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线:由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。 同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量ΔE释放出来,且ΔE=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Kα 射线,同样还可以产生Kβ射线 ,L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现,荧光X射线的波长λ与元素的原子 序数Z有关,其数学关系如下: λ=K(Z-s)-2   这就是莫斯莱定律,式中K和S是常数,因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以 进行元素定量分析。 X射线的产生 利用X射线管(图2),施加高电压以加速电子,使其冲撞金属阳极(对阴极)从而产生X射线。从设计上分为横窗型(side window type)和纵窗型(end window type)两种X射线管,都是设计成能够把X射线均匀得照射在样品表面的结构。 X射线窗口,一般使用的是铍箔。阴极(也叫做:靶材)则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼(Mo)、铬(Cr)等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。 如何利用荧光X射线进行定量分析 在包含某种元素1的样品中,照射一次X射线,就会产生元素1的荧光X射线,不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素A的含量的变化而改变。元素1的含量多,荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点,如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度,就可以推算出样品中元素A的含量。 利用荧光X射线进行定量分析的时候,大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法(经验系数法)。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品,寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系,以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线,从而得到浓度值。 另一个方法是理论演算的基础参数法(FP法)。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提,利用计算的各个荧光X射线强度的理论值,推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。 NBS-GSC法也称作理论Alpha系数法。它是基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线荧光强度的。基于此再计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强效应。它与经验系数法不同,这些校正系数是从“理论”上取得的,而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样,只要少数标样来校准仪器因子。

  • 二级质谱碰撞能量的选择

    有一个问题想跟大家讨论一下。我们实验室有一台varian 1200 的MS/MS. 在设定二级质谱参数时,有两个选项可以调节,从而改善方法。一个是反应室氩气的气压(单位是mTorr),一个是在方法里面改变碰撞能量 (单位是eV). 我理解氩气气压高但是不一定碰撞能量强。但是氩气气压高的话通过一级质谱的离子发生碰撞的几率就大,从而更有可能被打成碎片。这个跟提高碰撞能量感觉上有相似的效果。所以我想知道有没有哪位大侠有更好的理解。谢谢!

  • 《能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范》是否有统一规范

    今天有看到一篇信息,摘录如下:“省计量院《能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范》通过审定 文章来源:福建省计量科学研究院 更新时间:2011-10-8 14:35:09 9月27日,省计量院《能量色散X射线荧光光谱仪校准规范》通过审定。由此建立的能量色散X射线荧光光谱仪计量校准方法,具有较强的实用性和可操作性。能量色散X射线荧光光谱仪是公认的RoHs(关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令)筛选检测首选仪器,可以检测出RoHs法案中规定的所有物质,具有检测速度快、分辨率高、可实现无损检测、无需专门人员等特点。但该仪器相关技术指标没有国家规程,缺乏统一的技术规范。省计量院根据该仪器的计量性能和实际检测要求,制定了能量色散X射线荧光光谱仪的计量校准方法。该规程的运用,将有效提升能量色散X射线荧光光谱仪的检测质量,并保障该行业的健康发展,具有较好的社会及经济效益。”目前有关能量色散X光射线荧光光谱仪计量校准规范是不是没有一个统一的标准? 那大家公司一年一次或两次的校准都是依据哪个规范进行的呢?http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/emyc1010.gif

  • 【讨论】红外光谱仪的增益设置 及 干涉图能量范围

    各位朋友红外光谱中,大家怎么设置增益值的?有什么标准?还有我们的nicolet 6700,新仪器刚用4个月。增益设为1时,空光路干涉图能量6.67 加金刚石的单反射附件后1.04 加ZnSn多反射附件后0.74我们老板认为太低,我初做红外时间不久,没什么感念不知大家的仪器能量数值是多少,给个参考还有大家有什么评论。我问仪器工程师,他说正常,可我们老板听说也是红外的专家,呵呵

  • 已公布!天然气计量方式将变为能量计量!

    [b]已公布!天然气计量方式将变为能量计量![/b]转自:计量资讯速递[color=#333333] 从科学公平计量的角度看,天然气计量采用能量计量比体积计量更加合理,有利于准确计量、体现公平、减少结算纠纷和天然气行业的健康发展。[/color][color=#333333][color=#333333] 近年来,我国油气行业快速发展,社会各方对深化油气领域市场化改革的意愿日益强烈、对公平开放的诉求越来越多。同时,我国正在全力推动天然气产、供、储、销体系建设工作,天然气管网设施互联互通和公平开放被提升到了更加重要的位置。[/color][/color][color=#333333][color=#333333] 8月3日,国家发改委就《油气管网设施公平开放监管办法》(以下简称《办法》)公开征求意见,标志着油气管网设施向第三方开放进入快车道。此次发布的《办法》,在天然气计量方式上有了新的突破,首次规定了天然气使用热值的新计量方式即能量计量方式。   天然气作为一种重要的清洁能源,已广泛应用于国民生产和生活的各个领域。目前,在世界能源消费结构中,天然气消费占能源消耗总量的比例也不断提高,伴随着天然气贸易的持续扩大,对天然气计量方式的要求也不断提高。[/color][/color][color=#000000] 当前,天然气计量方式主要包括体积计量、质量计量和能量计量三种。国际天然气贸易和欧美等发达国家多采用能量计量方式,而我国目前仍以体积计量方式为主,用到的计量仪表包括孔板流量计、涡轮流量计、超声波流量计、腰轮流量计、涡街流量计、旋进旋涡流量计等。[/color] 然而,天然气作为用于燃烧的能源,其价值在于其提供的热量。但是天然气是一种多组分混合气体,由于产地来源不同,各组分及含量也存在差异,这使得不同来源的同样体积和质量的天然气,其燃烧产生的能量也不同。因此,从科学公平计量的角度看,天然气计量采用能量计量比体积计量更加合理,有利于准确计量、体现公平、减少结算纠纷和天然气行业的健康发展。   天然气能量计量己成为目前国际上天然气贸易和消费计量与结算的发展趋势,发达国家于20世纪90年代建立了较为完善的天然气贸易计量法规、标准和检测方法。其中,美国是世界上实施天然气能量计量最早的国家。1980年以前使用体积计量,1980年起开始采用能量计量,计价单位为美元/MMBtu。   天然气能量计量是在体积测量的基础上,再测量天然气发热量,用天然气单位体积的热量乘以天然气体积,以获得流经封闭管道横截面的天然气总能量。 随着天然气在能源消费结构中的比例不断上升,国际能源署署长法提赫比罗尔说:“在未来5年里,全球天然气市场将被三大结构性转变重塑。中国将在未来两至三年内成为全球最大的天然气进口国”。因此,我国将持续扩大天然气国际贸易,计量方式必须接轨国际,才能在同一个平台上展开对话。  2009年8月1日,GB/T 22723-2008《天然气能量的测定》国家标准正式实施,标志着我国天然气能量计量有了标准可依,尤其是对我国天然气计量方式与国际接轨提供了技术支持。   目前我国推行天然气能量计量的基础条件已基本具备,为此《办法》中,明确提出了天然气能量计量要求。相关单位企业应积极开展天然气能量计量配套技术研究,引进消化国外先进的在线[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url]和流量计算机,按照我国的标准发展适用我国的能量计量系统。

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