能量扩谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。性能特点超薄窗X光管数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然技术参数产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵应用领域合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

天瑞新型X荧光贵金属分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点，FAST-SDD探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。性能特点三重安全保护模式 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 任意多个可选择的分析和识别模型 高信噪比的电子线路单元 全元素测试专用X荧光分析软件 与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图采用FAST-SDD探测器，分辨率低至125ev，更好的检测铂金中铱和金的含量提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的精确测试精选全球优质组件组件 真空腔在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。真空泵（选配）极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦技术指标测量元素范围：从钠（Na）至铀（U） 测量对象状态：粉末、固体、液体 同时分析元素：30种元素同时分析 元素含量分析范围：1ppm-99.99%能量分辨率为：125ev测量时间：60s-200s（可调） 制冷方式：电制冷，无需任何耗材 环境温度：10℃-30℃ 环境湿度：35%-70%输入电压：AC 110V/220V管压：5kV-50kV管流：50μA-1000μA样品腔尺寸：334×500×80mm外观尺寸：670×533×855 mm重量：80kg标准配置FAST-SDD探测器 数字多道分析器 放大电路、高低压电源、高效X光管 计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配） 软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）应用领域黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。 分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等

HREELS我们的精密倒视LEED光学具有所有特高压结构，不使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。完整的型号和选项，包括低电流(nA, pA) MCP型号。所有光学采用4网格结构的AES兼容。精密结构与4栅格钨光学微型直径1.59厘米的电子枪103度可用视角0.5%能量分辨率可伸缩光学(标准2英寸和高达4英寸的缩回)安装法兰有完整的视口和电子馈线完全兼容特高压(不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘电线)低噪音，高性能俄歇电子与集成锁定放大器MCP版本的pA和nA电流水平全范围的选择，包括低轮廓快门，CCD相机和软件，6英寸和8英寸外径法兰模型主要技术指标：能量分辨率0.7meV,角度分辨率0.08度 （当入射电子能量为7.4eV时，对应的动量分辨率约为0.002A-1）主要功能：高分辨电子能量损失谱（HREELS）可以测量电子的带边结构、声子和表面等离激元等准粒子及其各向异性特征，是探索表面低维体系中新原理、新性质的不可替代的重要方法。本实验室研制的HREELS谱仪将半球形电子能量分析器与新型单色电子源相结合，能够高效率的测得动量、能量二维的电子能量损失谱图。而且本仪器具备和角分辨光电子能谱仪的兼容性，可以同时给出电子能带与声子等准粒子分布的本征数据。新型HREELS谱仪是研究材料表面电子与晶格相互作用、低维纳米结构表面等离激元衰减特性等的强大工具。

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

HREELS我们的精密倒视LEED光学具有所有特高压结构，不使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。完整的型号和选项，包括低电流(nA, pA) MCP型号。所有光学采用4网格结构的AES兼容。精密结构与4栅格钨光学微型直径1.59厘米的电子枪103度可用视角0.5%能量分辨率可伸缩光学(标准2英寸和高达4英寸的缩回)安装法兰有完整的视口和电子馈线完全兼容特高压(不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘电线)低噪音，高性能俄歇电子与集成锁定放大器MCP版本的pA和nA电流水平全范围的选择，包括低轮廓快门，CCD相机和软件，6英寸和8英寸外径法兰模型主要技术指标：能量分辨率0.7meV,角度分辨率0.08度 （当入射电子能量为7.4eV时，对应的动量分辨率约为0.002A-1）主要功能：高分辨电子能量损失谱（HREELS）可以测量电子的带边结构、声子和表面等离激元等准粒子及其各向异性特征，是探索表面低维体系中新原理、新性质的不可替代的重要方法。本实验室研制的HREELS谱仪将半球形电子能量分析器与新型单色电子源相结合，能够高效率的测得动量、能量二维的电子能量损失谱图。而且本仪器具备和角分辨光电子能谱仪的兼容性，可以同时给出电子能带与声子等准粒子分布的本征数据。新型HREELS谱仪是研究材料表面电子与晶格相互作用、低维纳米结构表面等离激元衰减特性等的强大工具。

1.能量色散X荧光光谱仪应用领域： 1.1.ROHS\无卤检测指令 1.2.合金分析领域（特别是轻元素） 锌铝合金成分分析 铝合金成分分析 铜合金牌号判定、成分分析 不锈钢成分分析（抽真空轻元素检测） 铸铁成份分析等 1.3.镀层成分分析 镀层厚度分析 镀层环保检测 1.4.能量色散X荧光光谱仪仪器规格 仪器腔尺寸：400mmX340mmX80mm 仪器外观尺寸：700mmX510mmX336mm 仪器重量：56kg 1.5.工作条件： ●工作温度：15-30℃ ●相对湿度：40%～70% ●电源：AC:220V±5V、 1.6.技术性能及指标: 1.6.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U)； 1.6.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%； 1.6.3.测量时间：100-300秒(可调)； 1.6.4.RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 1.6.7.能量分辨率为129±5电子伏特； 1.6.8.温度适应范围为15℃至30℃； 1.6.9.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）； 1.7.产品特点 1.7.1HM-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰 1.7.2整体结构化设计，仪器美观大方。 1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。 1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。 1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。 1.7.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。 1.7.9独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。 1.7.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。 1.7.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。 1.7.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。 1.7.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。 1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 2.仪器硬件部分主要配置 2.1SDD电制冷探测器: 2.1.1.SDD电制冷探测器；分辨率：145±5e电子伏特 2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。 2.2X射线激发装置: 2.2.1.灯丝电流输出MAX：1mA； 2.2.2.属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时 2.3高压发射装置: 2.3.1.电压输出MAX：50KV； 2.3.2.电压输出MIN:5KV，可控调节 2.3.3.自带电压过载保护 2.4一体化真空系统 2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统； 2.4.2几何抽速：60L/min（50Hz） 2.4.3压力：6.7×10-2Pa 2.5数字多道分析器: 2.5.1.将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件； 2.5.2道数MAX：4096； 2.5.3包含信号增强处理功能； 2.65光路过滤模块 2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确； 2.6.2将准直器与滤光处整合； 2.7准直器自动切换模块 2.7.1多达7种选择，口径分别为8-1＃,8-2＃,8-3＃,8-4＃，6＃,4＃,2＃。 2.8滤光片自动切换模块 2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.9准直器和滤光片的自由组合模块 2.9.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。 2.10工作曲线自动选择模块 2.10.1自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 3.专用软件JPSPEC-FP 3.1.1软件简介 专门针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。 3.1.2功能介绍 ※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调） ※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作

X-123——封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µ m（探测器有效面积/厚度）的探测器得到的55Fe能谱。 包含：1. X射线探头和前置放大器（前放）；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源和PC接口。产品特性：1. 紧凑的一体化设计；2. 易操作；3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；4. 低功耗（2.5W）；5. 重量轻（180克，6.3盎司）；6. USB和RS232通讯支持；7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。应用范围：1. X射线荧光谱仪；2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；3. 流程控制；4. 艺术和考古；5. X-123产品演示。探测器：1. Si-Pin半导体X射线探头；2. 两级热电制冷；3. 面积：6-25mm2；4. 厚度：300-500µ m；5. 多层准直器。典型性能参数：1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；2. 适用能量范围：1-40keV；3. 最大计数率：可达每秒两百万计数。4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。 X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123是该宗旨的集中体现——X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放，带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5，多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。X-123产品介绍： Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个独立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。 该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。 探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。 DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；4. 稳定性和可重复性更好。 DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，最后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：1. 模拟信号预滤波器；2. 模数转换器（ADC）；3. 数字脉冲整形器；4. 脉冲选择逻辑单元；5. 寄存器单元；6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。 系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。 整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。图4. X-123架构和接线图。 X-123参数说明：系统性能能量分辨率在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。可探测能谱范围在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率25%。超过该能量范围则探测效率会有一定下降。最大计数率受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，50%空载时间下推荐的最大计数率如下表。DP5 峰化时间（µ s）2.46.425.6成形时间（µ s）1.02.911.6推荐的最大计数率1.2x1054.6x1041.2x104 探测器和前放探测器类型Si-PIN，SDD或CdTe。探测器面积6 mm2-25 mm2。探测器厚度300 µ m和500 µ m。铍窗厚度1mil(25µ m)或0.2mil(12.5µ m)。准直器多层。热电致冷两级。前放类型AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。脉冲处理器增益结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。粗调增益通过软件可选从1.12到102的共16个对数档： 1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。微调增益从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。最大刻度增益为1时输入脉冲为1000 mV。增益稳定性20 ppm/℃（典型情况）。脉冲形状梯形。峰化时间通过软件可选0.8到102µ s间的24个峰化时间，近似对数间隔，相当于0.4至45 µ s的半高斯成形时间。空载时间总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。脉冲对分辨时间（快通道）120 ns多通道分析器通道数通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。预设值时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。数据传输USB全速2.0 （12Mbps）串口标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）以太网10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）电源标准输入一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；而电流和探测器温差ΔT强相关，300-800mA可变；另外配有交流电源适配器。输入电源范围4 V-6 V（300-200 mA，最大500 mA）。高压电源内置倍增器，可达 400 V。制冷器闭环控制器，温差最大为ΔTmax =85℃。常规参数和工作环境工作温度-20℃到+50℃。保修期1年。典型寿命视实际使用情况，一般为5至10年。仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上；一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。标准检测符合RoHS标准。TUV认证：认证编号：CU 72101153 01；检测于：UL61010-1:2009 R10.08；CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。连线USB标准USB Mini接口RS232标准2.5 mm立体声耳机接口尖端发送数据电脑DB9针脚2（DB25针脚3）环接收数据电脑DB9针脚3（DB25针脚2）套管信号地电脑DB9针脚5（DB25针脚7）以太网标准以太网连接器（RJ-45）电源接口Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。其他线缆 16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。针号名称针号名称1SCA12SCA23SCA34SCA45SCA56SCA67SCA78SCA89AUX_IN_110AUX_OUT_111AUX_IN_212AUX_OUT_213IO214IO315GND16GND 通讯控制接口软件/固件ADMCAX-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。DPP API X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上级软件系统中； 另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。VB示例软件 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 可选配件： 1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µ m）；2. 高通量应用中所需的整套准直器；3. 真空配件；4. OEM应用。图5. X-123探测器加长管配置选项 图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作，参见OEM获取更多信息。图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。图8. 在不同的峰化时间下，能量分辨率和输入计数率（ICR）的关系曲线。图9. 计数率输出效率，输入计数率（ICR）和输出计数率（OCR）的关系曲线。准直器的使用： 为了提高能谱的质量，Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号，进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围，降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内，这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有优点：1. 提高峰本比（P/B）；2. 消除边界效应；3. 消除假尖峰信号。真空应用： X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接，还可选用型号为EXV5/EXV9（5/9英寸长）的探测器真空加长管（如图5）。探测效率曲线：图10（线性坐标）. X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图11（对数坐标）. 考虑各种效应后的收集效率，其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导，而该效应对应了能量的完全沉积，但在超过40keV后，康普顿（Compton）散射效应逐渐显著，不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗（包括保护层）对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定，而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗，可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器；选用特定的探测器，可接收到90%的9到12keV 的光子。传输效率文件：包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件，仅提供基本信息，不能作为定量分析依据。X-123的应用，RoHS/WEEE标准测试： 2006年6月，RoHS/WEEE标准（电子电气设备废弃物和有害物质限制规定）规定了电子设备中某些物质（Cr VI，Pb，Cd，Hg，Br PBB/PBDE）的最高含量标准。通过 X射线荧光分析（XRF），X-123可应用于质量控制环节，检测设备是否符合RoHS/WEEE标准。用户可以快速、准确以及无损地检测特定元素的浓度，而公司可以核实供应商的标准并说明自己的标准。借助这个方便、小巧和易用的探测仪器，X-123向原始设备供应商（OEMs）和最终用户提供了一个强大的 X射线探测系统，它可以直接应用并投放市场。由于所有的连接都已在产品内部做好，用户所需只是+5V直流输入和USB/RS232线缆。 X-123并未因小型化而牺牲性能。根据不同探测器类型和峰化时间，Fe的5.9keV能峰处的能量分辨率（半高全宽）可达145 eV至230 eV。X-123是封装好的一整套 X射线谱仪，是产品快速开发的完美选择，且为原始设备供应商（OEMs）提供了最快的投放市场速度。 图12. RoHS/WEEE应用中能谱示例。采用Si-PIN探测器的X-123 的典型测量结果：图13. 109Cd样品的X射线荧光分析谱图（多元素）。 图14. 109Cd样品中铅的X射线荧光分析谱图。 图15. PC机主板的一些位置得到109Cd样品的 X射线荧光分析谱图。 图 16. 109Cd样品中所含若干元素的 X射线荧光分析谱图。机械部分机械尺寸图17. 装配硬件。图18. 包含装配板和角铁的X-123。图19. X-123装配板尺寸图。图20. X-123所用角铁尺寸。 完整的X射线荧光谱仪（XRF）系统：图21. 完整的XRF系统。图22. 已装配在MP1型底板上的X-123和Mini-X射线管。完整的XRF系统包括：1. X-123 X射线能谱计；2. Mini-X型USB控制X射线管；3. XRF-FP定量分析软件；4. MP1型XRF装配底板。

X-123&mdash &mdash 封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µ m（探测器有效面积/厚度）的探测器得到的55Fe能谱。 包含：1. X射线探头和前置放大器（前放）；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源和PC接口。产品特性：1. 紧凑的一体化设计；2. 易操作；3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；4. 低功耗（2.5W）；5. 重量轻（180克，6.3盎司）；6. USB和RS232通讯支持；7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。应用范围：1. X射线荧光谱仪；2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；3. 流程控制；4. 艺术和考古；5. X-123产品演示。探测器：1. Si-Pin半导体X射线探头；2. 两级热电制冷；3. 面积：6-25mm2；4. 厚度：300-500µ m；5. 多层准直器。典型性能参数：1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；2. 适用能量范围：1-40keV；3. 最大计数率：可达每秒两百万计数。4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。 X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123是该宗旨的集中体现&mdash &mdash X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放，带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5，多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。X-123产品介绍： Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个独立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。 该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。 探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。 DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；4. 稳定性和可重复性更好。 DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，最后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：1. 模拟信号预滤波器；2. 模数转换器（ADC）；3. 数字脉冲整形器；4. 脉冲选择逻辑单元；5. 寄存器单元；6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。 系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。 整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。图4. X-123架构和接线图。 X-123参数说明：系统性能能量分辨率在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。可探测能谱范围在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率25%。超过该能量范围则探测效率会有一定下降。最大计数率受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，50%空载时间下推荐的最大计数率如下表。DP5 峰化时间（µ s）2.46.425.6成形时间（µ s）1.02.911.6推荐的最大计数率1.2x1054.6x1041.2x104 探测器和前放探测器类型Si-PIN，SDD或CdTe。探测器面积6 mm2-25 mm2。探测器厚度300 µ m和500 µ m，点击此处查看效率曲线。铍窗厚度1mil(25µ m)或0.2mil(12.5µ m)，点击此处查看透射曲线。准直器多层，点击此处查看更多信息。热电致冷两级。前放类型AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。脉冲处理器增益结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。粗调增益通过软件可选从1.12到102的共16个对数档： 1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。微调增益从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。最大刻度增益为1时输入脉冲为1000 mV。增益稳定性20 ppm/℃（典型情况）。脉冲形状梯形。峰化时间通过软件可选0.8到102µ s间的24个峰化时间，近似对数间隔，相当于0.4至45 µ s的半高斯成形时间。空载时间总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。脉冲对分辨时间（快通道）120 ns多通道分析器通道数通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。预设值时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。数据传输USB全速2.0 （12Mbps）串口标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）以太网10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）电源标准输入一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；而电流和探测器温差&Delta T强相关，300-800mA可变；另外配有交流电源适配器。输入电源范围4 V-6 V（300-200 mA，最大500 mA）。高压电源内置倍增器，可达 400 V。制冷器闭环控制器，温差最大为&Delta Tmax =85℃。常规参数和工作环境工作温度-20℃到+50℃。保修期1年。典型寿命视实际使用情况，一般为5至10年。仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上；一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。标准检测符合RoHS标准。TUV认证：认证编号：CU 72101153 01；检测于：UL61010-1:2009 R10.08；CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。连线USB标准USB Mini接口RS232标准2.5 mm立体声耳机接口尖端发送数据电脑DB9针脚2（DB25针脚3）环接收数据电脑DB9针脚3（DB25针脚2）套管信号地电脑DB9针脚5（DB25针脚7）以太网标准以太网连接器（RJ-45）电源接口Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。其他线缆 16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。针号名称针号名称1SCA12SCA23SCA34SCA45SCA56SCA67SCA78SCA89AUX_IN_110AUX_OUT_111AUX_IN_212AUX_OUT_213IO214IO315GND16GND 通讯控制接口软件/固件ADMCAX-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。DPP API X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上级软件系统中； 另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。VB示例软件 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 可选配件： 1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µ m）；2. 高通量应用中所需的整套准直器；3. 真空配件；4. OEM应用。图5. X-123探测器加长管配置选项 图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作，参见OEM获取更多信息。图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。图8. 在不同的峰化时间下，能量分辨率和输入计数率（ICR）的关系曲线。图9. 计数率输出效率，输入计数率（ICR）和输出计数率（OCR）的关系曲线。准直器的使用： 为了提高能谱的质量，Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号，进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围，降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内，这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有优点：1. 提高峰本比（P/B）；2. 消除边界效应；3. 消除假尖峰信号。点击这里获取更多信息。真空应用： X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接，还可选用型号为EXV5/EXV9（5/9英寸长）的探测器真空加长管（如图5）。点击这里获得更多真空下应用的信息。探测效率曲线：图10（线性坐标）. X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图11（对数坐标）. 考虑各种效应后的收集效率，其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导，而该效应对应了能量的完全沉积，但在超过40keV后，康普顿（Compton）散射效应逐渐显著，不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗（包括保护层）对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定，而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗，可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器；选用特定的探测器，可接收到90%的9到12keV 的光子。传输效率文件：包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件，仅提供基本信息，不能作为定量分析依据。X-123的应用，RoHS/WEEE标准测试： 2006年6月，RoHS/WEEE标准（电子电气设备废弃物和有害物质限制规定）规定了电子设备中某些物质（Cr VI，Pb，Cd，Hg，Br PBB/PBDE）的最高含量标准。通过 X射线荧光分析（XRF），X-123可应用于质量控制环节，检测设备是否符合RoHS/WEEE标准。用户可以快速、准确以及无损地检测特定元素的浓度，而公司可以核实供应商的标准并说明自己的标准。借助这个方便、小巧和易用的探测仪器，X-123向原始设备供应商（OEMs）和最终用户提供了一个强大的 X射线探测系统，它可以直接应用并投放市场。由于所有的连接都已在产品内部做好，用户所需只是+5V直流输入和USB/RS232线缆。 X-123并未因小型化而牺牲性能。根据不同探测器类型和峰化时间，Fe的5.9keV能峰处的能量分辨率（半高全宽）可达145 eV至230 eV。X-123是封装好的一整套 X射线谱仪，是产品快速开发的完美选择，且为原始设备供应商（OEMs）提供了最快的投放市场速度。 图12. RoHS/WEEE应用中能谱示例。采用Si-PIN探测器的X-123 的典型测量结果：图13. 109Cd样品的X射线荧光分析谱图（多元素）。 图14. 109Cd样品中铅的X射线荧光分析谱图。 图15. PC机主板的一些位置得到109Cd样品的 X射线荧光分析谱图。 图 16. 109Cd样品中所含若干元素的 X射线荧光分析谱图。机械部分机械尺寸图17. 装配硬件。图18. 包含装配板和角铁的X-123。图19. X-123装配板尺寸图。图20. X-123所用角铁尺寸。 完整的X射线荧光谱仪（XRF）系统：图21. 完整的XRF系统。图22. 已装配在MP1型底板上的X-123和Mini-X射线管。完整的XRF系统包括：1. X-123 X射线能谱计；2. Mini-X型USB控制X射线管；3. XRF-FP定量分析软件；4. MP1型XRF装配底板。点击这里获取XRF实验室套装的更多信息。 更多信息请关注AMPTEK英文官方网站：。

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。性能特点超薄窗X光管数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然技术参数产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵应用领域合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

SAGA HP(10Hz) 高能量脉冲灯泵浦YAG激光器SAGA HP激光器是市场上最高效与最紧凑的灯泵浦固体激光器，最高可输出1.8J脉冲能量的5Hz或10Hz 532nm激光。SAGA HP采用高效率扩散耦合的泵浦腔，确保高光束质量、高输出效率。基于非稳腔及VRM可变反射率镜设计的光学谐振腔提高了输出能量密度，在近场输出非常均匀的平顶分布的激光光束。采用紧凑的封装结构可确保优异的短期和长期准直稳定性。在预先定位好的支架处可以拓展二倍频、三倍频和四倍频输出。这些倍频晶体都集成在有温度控制的装配中以获得最佳的长期稳定性能。产品特点高能量绿光型脉冲能量可达1.8J@532nm重复频率5Hz或10Hz超稳定的能量输出优异的光束质量，非常均匀的平顶分布维护简便计算机控制主要应用超快太瓦系统泵浦源材料加工处理系统集成OPO及染料激光器的理想泵浦源参数型号HP高能量型重复频率5Hz或10Hz波长532nm（1064nm、355nm或266nm可选）脉冲能量1.8J脉冲能量稳定性（% rms）1.2脉冲宽度（ns）4~8时间抖动 rms （ns）±1光束直径（mm）~15偏振垂直发散角（mrad）0.2光束指向稳定性（μrad）±50光束空间分布平顶功耗（@10Hz）2.4kW其它图片

（深圳沃客密科技有限公司） UV Power Puck II四通道：美国EIT能量计选PUCK美国EIT能量计四通道覆盖 仪器测试面：（探头位置）美国EIT能量计选PUCK美国EIT能量计四通道覆盖四通道UV测量计标准的功能和优点包括： 容易使用，一键完成ON/OFF和运行操作。四通道UV测量计容易读取数据显示屏，显示4个波段。四通道UV测量计标准EIT四波段: UVA (320-390nm)，UVB (280-320nm) UVC (250-260nm)，UVV (395-445nm) 标准版本 – 10 Watt UVA, UVB, UVV；1 Watt UVC。低功率版本 –100 mW。探头结构图： 美国EIT能量计选PUCK美国EIT能量计四通道覆盖 设置功能 提供用户可选的仪表模式用于数据分析，比较，筛选和操作设定。 数据参考模式 用于比较读数。在系统安装和检修故障的时候非常有用。用户可以将选定UV读数存储为基准线或是参考读数，然后和另一个读数比较。仪表会显示两个读数，并指示读数之间的变化百分比。数据显示为mJ/cm2 ,mW/cm2, 和百分比。 图形模式： 图形模式显示采集到的每个UV波段的UV照度和能量。图形展示为照度随时间而变化。右边显示的图形表示一个灯或是2个灯的固化系统。 用户可选的抽样率 Smooth On Data：和之前的UV Power Puck 版本兼容。 Smooth Off Data：和之前的UV PowerMap兼容超过2000个样本/秒。 测量的单位 测量的单位是用户可选择的，让操作员容易读取。数据将按您的需要显示。选择的单位可以是：mJ/cm2，mW/cm2，J/cm2，W/cm2，uJ/cm2，uW/cm2。 彩色，容易读取的显示屏 可以选择低，中和高强度用于图形显示。 通讯端口 UV能量计和PC/PDA符合串口通讯协议。下载收集的数据到计算机做统计分析和数据记录，以及过程验证。 EIT 波峰曲线示意图：技术规格表显示容易读取，数字，黑色背景 测量范围标准版本：UVA，UVB，UVV -10mW/cm2 to 10W/ m2；UVC -5mW/cm2 to 1W/cm2 低功率版本：UVA，UVB，UVC，UVV：100microW/cm2 to 100mW/cm2测量精度+/- 10%；+/- 5% 典型光谱范围 (UV Power Puck II)四通道连续检测320-390nm (UVA)、280-320nm (UVB)、 250-260nm (UVC),、395-445nm (UVV)空间响应近似余弦 操作温度0-75°C内部温度。允许较短时间的更高外部温度（当温度超过相应的规格，会有警报声提示）操作温度时间规定2分钟DISPLAY模式 (没有按键动作)。EITIM也可以设置没有时间显示。电池两只可更换AAA碱性电池电池寿命大约20小时显示时间尺寸直径117mm x高度12.7mm重量289 克外壳材料铝和不锈钢手提包材料内部聚亚安酯,软,防划尼龙外壳手提包重量260克手提包尺寸274mm宽×89mm高×197mm深美国EIT能量计选PUCK美国EIT能量计四通道覆盖

　　1.合金分析仪应用领域：　　1.1. ROHS\无卤检测指令　　1.2. 合金分析仪领域 (特别是轻元素)　　锌铝合金成分分析　　铝合金成分分析　　铜合金牌号判定、成分分析　　不锈钢成分分析(抽真空轻元素检测)　　铸铁成份分析 等　　1.3. 镀层成分分析　　镀层厚度分析　　镀层环保检测　　1.4. 仪器规格　　仪器腔尺寸：400mmX340mmX80mm　　仪器外观尺寸：700mmX510mmX336mm　　仪器重量：56kg　　1.5. 工作条件：　　● 工作温度：15-30℃　　● 相对湿度：40%～70%　　● 电 源：AC :220V ±5V、　　1.6. 技术性能及指标:　　1.6.1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 　　1.6.2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99% 　　1.6.3. 测量时间：100-300秒(可调) 　　1.6.4. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl)其检测限度达1PPM 　　1.6.7. 能量分辨率为129±5电子伏特 　　1.6.8. 温度适应范围为15℃至30℃ 　　1.6.9. 电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 　　1.7.产品特点　　1.7.1 A550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰　　1.7.2 整体结构化设计，仪器美观大方。　　1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。　　1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统(数字多道)，有效提高峰背比，让测量更精准。　　1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。　　1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。　　1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。　　1.7.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。　　1.7.9机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。　　1.7.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。　　1.7.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。　　1.7.13全自动真空系统,屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。　　1.7.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。　　1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用 同时开盖即解除真空，安全、简单实用。　　2.仪器硬件部分主要配置　　2.1 SDD电制冷探测器:　　2.1.1. SDD电制冷探测器 分辨率：145±5e电子伏特　　2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。　　2.2 X射线激发装置:　　2.2.1. 灯丝电流输出MAX：1mA 　　2.2.2 .属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时　　2.3 高压发射装置:　　2.3.1. 电压输出MAX： 50KV 　　2.3.2. 电压输出MIN: 5KV，可控调节　　2.3.3. 自带电压过载保护　　2.4　一体化真空系统　　2.4.1　具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统 　　2.4.2　几何抽速：60 L/min(50Hz)　　2.4.3　压力：6.7×10-2 Pa　　2.5 数字多道分析器:　　2.5.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件 　　2.5.2 道数MAX： 4096 　　2.5.3 包含信号增强处理功能 　　2.65光路过滤模块　　2.6.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确 　　2.6.2 将准直器与滤光处整合 　　2.7 准直器自动切换模块　　2.7.1 多达7种选择，口径分别为8-1#, 8-2#, 8-3#, 8-4#，6#, 4#, 2#。　　2.8 滤光片自动切换模块　　2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。　　2.9 准直器和滤光片的自由组合模块　　2.9.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。　　2.10 工作曲线自动选择模块　　2.10.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化　　3. 专用软件JPSPEC-FP　　3.1.1软件简介　　专门针对金属材料元素成份检测而开发(含真空控制功能)，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。　　3.1.2功能介绍　　※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒(可调)　　※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作　　※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确　　※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能　　※自动校准仪器　　※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线　　※多种报告形式打印　　※可同时显示多个光谱图　　※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然　　※机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　4. 样品配置　　标准样品用于制作工作曲线　　4.1 样品腔　　开放式大样品腔：610mm×320mm×100mm　　半封闭样品腔(抽真空时)：Φ100mm×h75mm　　4.2 标样　　银校正片　　5. 产品保修及售后服务　　5.1 对客户方操作人员免费进行培训。　　5.2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。(国外客户可协商解决)　　5.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。　　5.4产品终身维修(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等)。　　5.5免费提供软件升级。　　5.6提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析

微谱科技5E-XRF2510高性能能量色散X射线荧光光谱仪5E-XRF2500 X射线荧光光谱仪凭借其紧凑的尺寸，优异的分析性能，超高的测试效率，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：10寸产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确高性能能量色散X射线荧光光谱仪，从灵敏度，分辨率和稳定性体现更高的灵敏度微谱科技5E-XRF2500设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性5E-XRF2500创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。在微区-XRF中设置标准方便快捷的非接触式检测1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点和难以到达的紧角完成检测4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间5、采用CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD）6、采用的探测器技术，能量分辨率140eV（Mn Kα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持高能量分辨率7、高电压50 kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 携带便携1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIO fei常适合移动使用2、测量头的总重量为2.1千克3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于必运输，避免样品收到损害。一、地质科学分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。二、材料科学针对一些材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。三、食品科学植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。四、科学教育和研究可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料。

Epsilon 3XLE 台式能量色散型X射线荧光光谱仪构建在其前代产品的经验和成功的基础之上，采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中元素均具备卓越的分析性能。Epsilon 3XLE 光谱仪依靠各种软件模块是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。Epsilon 3XLE 具有如下特点：通过智能激发和检测设计实现高灵敏度市场领先的轻元素性能确保X射线安全完全的数据可追溯性符合法规全球在线支持高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合：Epsilon 3XLE - 具有改进的和扩展的轻元素功能（C - Am），用于实现更高的样品生产量Epsilon 3XLE 中配备的SDDultra硅漂移探测器甚至可以分析超轻元素，例如碳、氮和氧。Epsilon3XLE 光谱仪可以处理类型广泛的样品，包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片，重量从几毫克到更大的实体样品不等。广泛应用于石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。Epsilon3X 光谱仪配有各种专用行业软件可选：Omnian - 先进的无标样分析软件；针对多种不同类型未知材料样品，实现快速可靠的定量分析。Oil-Trace - 石化行业专用软件；专用于解决对石油和石化进行分析时常面临的挑战的创新软件包。Stratos - 涂层厚度软件；Stratos模块采用的算法可同步确定化学成分和分层材料的厚度。FingerPrint - “指纹识别”软件；采用快速的光谱数据统计分析，可用于更全面的诊断分析的常规成分测定。

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

EDX 8000H (真空型）能量色散X荧光光谱仪 一、技术性能及指标: 1、元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；2、 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；3、测量时间：100-300秒(可调)；4、RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度高达1PPM； 5、能量分辨率为129±5电子伏特；6、温度适应范围为15℃至30℃；7、电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；8、工作条件：工作温度：15-30℃ 、相对湿度：40%～70% 、电 源：AC :220V ±5V。二、产品特点 1、EDX 8000H，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰 2、整体结构化设计，仪器美观大方。 3、采用美国新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 4、采用研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更准确。 5、一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。 6、七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 7、多重防辐射泄露设计。 8、优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。 9、机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 10、多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。 11、专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。 12、本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。 13、全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。14、一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。15、抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 三、仪器硬件部分主要配置 1、SDD电制冷探测器: （1）、SDD电制冷探测器；分辨率：129±5e电子伏特 （2）、放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。2、 X射线激发装置: （1）、 灯丝电流输出：1mA；（2）、属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时3、 高压发射装置: （1）、电压输出： 50kV；（2、）最小5kv可控调节（3、）自带电压过载保护4、一体化真空系统（1）、具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统；（2）、几何抽速：60 L/min（50Hz）（3）、极限压力：6.7×10-2 Pa5、数字多道分析器: （1）、将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；（2）、道数： 4096；（3）、 包含信号增强处理功能；6、光路过滤模块 （1）、 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；（2）、 将准直器与滤光处整合；7、 准直器自动切换模块（1）、多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。8、 滤光片自动切换模块 （1）、五种滤光片的自由选择和切换。9、准直器和滤光片的自由组合模块 （1） 、多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。10、工作曲线自动选择模块 10、 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，自动化和智能化 ，使操作更人性，更方便。 四、 专用软件1、软件简介专门针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。2、功能介绍※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调） ※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作3、软件界面如下图所示： ※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然 ※机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 四、样品配置 标准样品用于制作工作曲线1、 样品腔：（1）开放式大样品腔：610mm×320mm×100×（2）半封闭样品腔（抽真空时）：Φ100mm×h75mm 2、标样 ： 银校正片 五、标准附件低噪音快抽速真空泵※体积小、重量轻、结构简单，易于保养和维修※抽速快，20S即可达到真空测试要求※极限压力可达6.7×10-2Pa※单相AC220V供电，无须外接三相电六、应用领域：1.ROHS\无卤检测指令2.合金分析领域 （特别是轻元素） 锌铝合金成分分析铝合金成分分析 铜合金牌号判定、成分分析 不锈钢成分分析（抽真空轻元素检测） 铸铁成份分析 等3 .镀层成分分析 镀层厚度分析 镀层环保检测4.包装指令检测标准（94/62/EC) CD+PB+Hg+ Cr6 ＜1005.玩具指令检测标准6.矿石成份品目分析七、产品保修及售后服务 1、对客户方操作人员免费进行培训。2、 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）3、正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。4、产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。5、免费提供软件升级。6、提供最有效的技术服务，在接到用户故障信息后，3小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

Spectroscopy AmplifierTK-572A通用能量谱仪放大器单极性输出或双极性输出极零调节基线恢复（自动）内建脉冲堆积拒绝器增益：1-1500连续可调脉冲形状：半高斯形积分非线性：≤±0.05%（2μs成形时间）噪声：5μV(2μs成形时间粗调增益100)增益温度稳定性：≤±0.0075%/℃（0-50℃）DC温度稳定性：≤±50μV/℃（0-50℃）谱展宽：16%FWHM （Co-601.332MeV峰位于多道86%道址处，单极性输出，2μs成形时间）峰位漂移：0.024% （Co-601.332MeV峰位于多道86%道址处，单极性，2μs成形时间）电源需求：+12V/85mA， -12V/30mA，+24V/100mA， -24V/105mA

真空X射线荧光光谱仪A-550能够分析的元素范围从Na到U之间。通过配置了真空测试系统，增加了元素测试范围。同时配备了SDD探测器，对于各元素进行检测，减少元素间干扰。XRF光谱仪在对应不同的领域，又被称为：合金分析仪，矿石分析仪，水泥分析仪，土壤分析仪，贵金属分析仪，镀层分析仪，rohs分析仪等名字。应用领域：1.ROHS\无卤检测指令2.合金分析领域 （特别是轻元素） 锌铝合金成分分析、铝合金成分分析、铜合金牌号判定、成分分析、不锈钢成分分析。3 .镀层成分分析4.包装指令检测标准（94/62/EC) CD+PB+Hg+ Cr6 ＜1005.玩具指令检测标准6.矿石元素含量分析7.土壤及固废元素分析8.煤灰、石灰石、水泥、有色金属分析工作条件：● 工作温度：15-30℃ ● 相对湿度：40%～70% ● 电 源：AC :220V ±5V、技术性能及指标:1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；3. 测量时间：100-300秒(可调)；4. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 5. 能量分辨率为129±5电子伏特；6. 温度适应范围为15℃至30℃；7.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；产品特点1.A-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰2.整体结构化设计，仪器美观大方。3.采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。4.采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。6.七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。7.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。8.优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。9.独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。10.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。11.专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。12.本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。13.独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。14.一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。15.抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 仪器硬件部分主要配置SDD电制冷探测器分辨率：145±5e电子伏特放大电路模块:对样品特征X射线进行探测，把探测采集的信息,进一步放大X射线激发装置: 灯丝电流输出MAX：1mA；属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时高压发射装置:电压输出MAX： 50KV；电压输出MIN: 5KV，可控调节自带电压过载保护一体化真空系统：具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统；几何抽速：60 L/min（50Hz）压力：6.7×10-2 Pa数字多道分析器: 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；道数MAX： 4096；包含信号增强处理功能；光路过滤模块降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；将准直器与滤光处整合；准直器自动切换模块多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。滤光片自动切换模块五种滤光片的自由选择和切换。准直器和滤光片的自由组合模块多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。工作曲线自动选择模块自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化。演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 专用软件针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。功能介绍※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作软件界面如下图所示：※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然※独有的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 样品配置 标准样品用于制作工作曲线样品腔 开放式大样品腔：610mm×320mm×100×半封闭样品腔（抽真空时）：Φ100mm×h75mm 产品保修及售后服务 1 对客户方操作人员免费进行培训。2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。4产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。5免费提供软件升级。6提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可zui大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。ARL Quant’X 荧光能谱仪具有广泛的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析,各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析,各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至百分之百技术参数

微谱科技WEPER XRF2601超大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2601可以精准测试从Mg到U的所有元素。350mm×345mm×85mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。可选配12位样品自动进样系统，提高测试效率。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：台式电脑 产品特点：超大腔体350mm×345mm×85mm超大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。无人值守WEPER XRF2601可选配12位样品自动进样系统，提高了测试效率先进分析技术微谱科技WEPER XRF2601设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

（深圳沃客密科技有限公司） UV Power Puck II四通道：美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计 仪器测试面：（探头位置）美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计四通道UV测量计容易读取数据显示屏，显示4个波段。四通道UV测量计标准EIT四波段: UVA (320-390nm)，UVB (280-320nm) UVC (250-260nm)，UVV (395-445nm) 标准版本 – 10 Watt UVA, UVB, UVV；1 Watt UVC。低功率版本 –100 mW。探头结构图： 美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计 设置功能 提供用户可选的仪表模式用于数据分析，比较，筛选和操作设定。 数据参考模式 用于比较读数。在系统安装和检修故障的时候非常有用。用户可以将选定UV读数存储为基准线或是参考读数，然后和另一个读数比较。仪表会显示两个读数，并指示读数之间的变化百分比。数据显示为mJ/cm2 ,mW/cm2, 和百分比。 图形模式： 图形模式显示采集到的每个UV波段的UV照度和能量。图形展示为照度随时间而变化。右边显示的图形表示一个灯或是2个灯的固化系统。 用户可选的抽样率 Smooth On Data：和之前的UV Power Puck 版本兼容。 Smooth Off Data：和之前的UV PowerMap兼容超过2000个样本/秒。 测量的单位 测量的单位是用户可选择的，让操作员容易读取。数据将按您的需要显示。选择的单位可以是：mJ/cm2，mW/cm2，J/cm2，W/cm2，uJ/cm2，uW/cm2。 彩色，容易读取的显示屏 可以选择低，中和高强度用于图形显示。 通讯端口 UV能量计和PC/PDA符合串口通讯协议。下载收集的数据到计算机做统计分析和数据记录，以及过程验证。 EIT 波峰曲线示意图：技术规格表显示容易读取，数字，黑色背景 测量范围标准版本：UVA，UVB，UVV -10mW/cm2 to 10W/ m2；UVC -5mW/cm2 to 1W/cm2 低功率版本：UVA，UVB，UVC，UVV：100microW/cm2 to 100mW/cm2测量精度+/- 10%；+/- 5% 典型光谱范围 (UV Power Puck II)四通道连续检测320-390nm (UVA)、280-320nm (UVB)、 250-260nm (UVC),、395-445nm (UVV)空间响应近似余弦 操作温度0-75°C内部温度。允许较短时间的更高外部温度（当温度超过相应的规格，会有警报声提示）操作温度时间规定2分钟DISPLAY模式 (没有按键动作)。EITIM也可以设置没有时间显示。电池两只可更换AAA碱性电池电池寿命大约20小时显示时间尺寸直径117mm x高度12.7mm重量289 克外壳材料铝和不锈钢手提包材料内部聚亚安酯,软,防划尼龙外壳手提包重量260克手提包尺寸274mm宽×89mm高×197mm深美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计

Genius IF多元素EDXRF光谱分析仪采用二次靶技术能量色散X射线荧光光谱仪Genius IF Genius IF提供了一种经济高效的元素分析解决方案。该能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪可以对C（6）- Fm（100）范围内的多种元素进行亚ppm级别无损定性及定量元素分析。 高度集成的光谱仪采用复杂独特的设计结合了自定义滤光片和二次靶技术，可放在传统实验室工作台上，适用于多种高端应用领域。 无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）进行定性及定量分析。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测范围C（6）- Fm（100）。X射线源激发性能可达50kV，50W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达亚ppm至100%，其卓越的性能可适用于复杂应用。轻元素探测超薄探窗能够实现对低序元素探测分析的优异性能。二次靶技术及滤光片采用专利几何结构，设计8个二次靶及8个自定义滤光片，可快速准确的测定痕量和微量元素。Analytix专用软件Analytix专用软件优异性能以及易用的GUI能够对项目分析和管理提供最快速直接的反应并得到结果。定量分析算法通过元素间修正进行多元回归分析（6个可用模型）。总计数、净计数拟合及数字滤波强度等工具。 二次靶技术全能型元素分析仪 Genius IF采用专利几何结构，设计8个二次靶并配备直接激发模式下8个自定义滤光片，使得仪器以最优的激发方式检测所有元素。WAG（广角几何）专利技术下的二次靶技术为痕量元素和微量元素的测量提供了最佳的解决方案。 由X射线管激发产生的射线激发二次靶材料（纯金属）的特征K线，进而用于激发待测样品。通过使用二次靶技术，可进一步降低某些元素的检测限。更低的检测限意味着Genius IF能够异于传统EDXRF仪器而适用于更加广泛的用途，成为一款全能型多元素分析仪器。二次靶技术与直接激发模式谱图对比： 图中显示了峰背比提升的效果，其中蓝色轮廓部分代表使用了二次靶技术，而红色区域部分为直接激发模式的图谱。 Genius IF应用领域

仪器简介：Hiden EQP是一台结合质量和能量分析的仪器（Mass and Energy Analyser for Plasma Diagnostics），用于分析等离子过程中阴、阳离子、中性粒子以及自由基。技术参数：应用： 蚀刻 / 沉积作用研究 离子植入 / 激光烧蚀 残余气体分析 / 泄漏检测 等离子体电感耦合，即在操作中遵从电极设定条件 通过视口、接地电极和驱动电极进行分析主要特点： 软件控制的离子汲取光学系统，以使等离子体扰动最小 45°静电扇区分析器，扫描能量增量 0.05 eV / 0.25eV FWHM 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 带差式泵的三级过滤四极杆，质量数范围至2500amu 高灵敏度 / 稳定的脉冲离子计数检测器，有7个数量级的动态范围 可调谐的离子源，用于电子附着选件的表观电势质谱分析 Penning规和互锁装置可提供过压保护 信号选通分辨率1μs，用于研究脉冲等离子体或能量、质量分布随时间的变化 1000eV 选配, 漂浮电压可选至10keV, Faraday 杯用于高密度等离子体 Mu-Metal, Radio-metal 屏蔽可选,高压操作可选 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，控制软件MASsoft