能量荧光仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得超高灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。2.轻松操作，自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。性能特点超薄窗X光管数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然技术参数产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵应用领域合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

天瑞新型X荧光贵金属分析仪EDX 3600继承了天瑞仪器EDX系列的准确、快速、无损、直观及环保五大特点，FAST-SDD探测器，可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果完全符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。性能特点三重安全保护模式 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 任意多个可选择的分析和识别模型 高信噪比的电子线路单元 全元素测试专用X荧光分析软件 与传统仪器相比，新增加的抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的版图采用FAST-SDD探测器，分辨率低至125ev，更好的检测铂金中铱和金的含量提供多种准直器，直径小达0.2mm，轻松实现精小部位的精确测试精选全球优质组件组件 真空腔在分析低含量的轻元素时，必须使用真空泵设备把空气抽出，使内部在真空状态下对轻元素进行分析。真空泵（选配）极限真空：6×10-2 帕转速：1400 转/分 抽率：1 升/秒 功率：0.25 千瓦技术指标测量元素范围：从钠（Na）至铀（U） 测量对象状态：粉末、固体、液体 同时分析元素：30种元素同时分析 元素含量分析范围：1ppm-99.99%能量分辨率为：125ev测量时间：60s-200s（可调） 制冷方式：电制冷，无需任何耗材 环境温度：10℃-30℃ 环境湿度：35%-70%输入电压：AC 110V/220V管压：5kV-50kV管流：50μA-1000μA样品腔尺寸：334×500×80mm外观尺寸：670×533×855 mm重量：80kg标准配置FAST-SDD探测器 数字多道分析器 放大电路、高低压电源、高效X光管 计算机、打印机、真空泵（选配）、稳压电源（选配） 软件：贵金属分析软件（标配）、镀层分析软件（选配）、有害元素分析软件（选配）应用领域黄金、铂金、银等贵金属的成分检测。可广泛应用于珠宝首饰中轻元素的检测。 分析元素:金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱、钠、镁、铝、硅、磷、硫等

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大屏幕触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业产品特点配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。轻松操作，自动便捷一体机式设计、一键测试功能、全匹配智能分析模式确保样品检测一个动作完成。多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析，满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为&ldquo 国家重点新产品&rdquo ，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 适用范围 钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析； 耐火材料：各类样品成份分析； 有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析； 质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。 型号：CIT-3000SM 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测； 高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作； 样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂； 腔内环境：空气或真空； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 全中文Windows应用软件，操作简单。 技术指标 分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 分析范围：1ppm-99.99% 同时分析：20多种元素同时分析 能量范围：1-30keV 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 探测器的分辨率：150ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 仪器配置 仪器主机一台 控制面板 进口电制冷半导体探测器 X光管（1KV-40KV） 高压电源 计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（高分辨率SDD）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。 另外，近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS2.0应对手段。 追求省时省力，高速筛选分折降低运行成本、减少日常维护量配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的 筛选分析功能配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义 深入浅出利用［筛选分析］画面、操作简单方便从主成分判定到条件选择全部实现自动处理 配备所有必备功能标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能超大样品室，可直接测试大型样品 配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能 尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化，可进行RoHS法规5元素+氯元素（选配）的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到得到结果只需要（根据样品）约1分钟。不仅可进行高速筛选分析，同时维持了高可信性的分析水平EDX-LE标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统。 具体货期&价格请与客服咨询为准！谢谢

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

X-123——封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µ m（探测器有效面积/厚度）的探测器得到的55Fe能谱。 包含：1. X射线探头和前置放大器（前放）；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源和PC接口。产品特性：1. 紧凑的一体化设计；2. 易操作；3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；4. 低功耗（2.5W）；5. 重量轻（180克，6.3盎司）；6. USB和RS232通讯支持；7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。应用范围：1. X射线荧光谱仪；2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；3. 流程控制；4. 艺术和考古；5. X-123产品演示。探测器：1. Si-Pin半导体X射线探头；2. 两级热电制冷；3. 面积：6-25mm2；4. 厚度：300-500µ m；5. 多层准直器。典型性能参数：1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；2. 适用能量范围：1-40keV；3. 最大计数率：可达每秒两百万计数。4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。 X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123是该宗旨的集中体现——X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放，带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5，多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。X-123产品介绍： Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个独立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。 该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。 探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。 DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；4. 稳定性和可重复性更好。 DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，最后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：1. 模拟信号预滤波器；2. 模数转换器（ADC）；3. 数字脉冲整形器；4. 脉冲选择逻辑单元；5. 寄存器单元；6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。 系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。 整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。图4. X-123架构和接线图。 X-123参数说明：系统性能能量分辨率在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。可探测能谱范围在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率25%。超过该能量范围则探测效率会有一定下降。最大计数率受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，50%空载时间下推荐的最大计数率如下表。DP5 峰化时间（µ s）2.46.425.6成形时间（µ s）1.02.911.6推荐的最大计数率1.2x1054.6x1041.2x104 探测器和前放探测器类型Si-PIN，SDD或CdTe。探测器面积6 mm2-25 mm2。探测器厚度300 µ m和500 µ m。铍窗厚度1mil(25µ m)或0.2mil(12.5µ m)。准直器多层。热电致冷两级。前放类型AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。脉冲处理器增益结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。粗调增益通过软件可选从1.12到102的共16个对数档： 1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。微调增益从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。最大刻度增益为1时输入脉冲为1000 mV。增益稳定性20 ppm/℃（典型情况）。脉冲形状梯形。峰化时间通过软件可选0.8到102µ s间的24个峰化时间，近似对数间隔，相当于0.4至45 µ s的半高斯成形时间。空载时间总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。脉冲对分辨时间（快通道）120 ns多通道分析器通道数通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。预设值时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。数据传输USB全速2.0 （12Mbps）串口标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）以太网10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）电源标准输入一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；而电流和探测器温差ΔT强相关，300-800mA可变；另外配有交流电源适配器。输入电源范围4 V-6 V（300-200 mA，最大500 mA）。高压电源内置倍增器，可达 400 V。制冷器闭环控制器，温差最大为ΔTmax =85℃。常规参数和工作环境工作温度-20℃到+50℃。保修期1年。典型寿命视实际使用情况，一般为5至10年。仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上；一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。标准检测符合RoHS标准。TUV认证：认证编号：CU 72101153 01；检测于：UL61010-1:2009 R10.08；CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。连线USB标准USB Mini接口RS232标准2.5 mm立体声耳机接口尖端发送数据电脑DB9针脚2（DB25针脚3）环接收数据电脑DB9针脚3（DB25针脚2）套管信号地电脑DB9针脚5（DB25针脚7）以太网标准以太网连接器（RJ-45）电源接口Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。其他线缆 16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。针号名称针号名称1SCA12SCA23SCA34SCA45SCA56SCA67SCA78SCA89AUX_IN_110AUX_OUT_111AUX_IN_212AUX_OUT_213IO214IO315GND16GND 通讯控制接口软件/固件ADMCAX-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。DPP API X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上级软件系统中； 另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。VB示例软件 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 可选配件： 1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µ m）；2. 高通量应用中所需的整套准直器；3. 真空配件；4. OEM应用。图5. X-123探测器加长管配置选项 图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作，参见OEM获取更多信息。图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。图8. 在不同的峰化时间下，能量分辨率和输入计数率（ICR）的关系曲线。图9. 计数率输出效率，输入计数率（ICR）和输出计数率（OCR）的关系曲线。准直器的使用： 为了提高能谱的质量，Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号，进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围，降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内，这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有优点：1. 提高峰本比（P/B）；2. 消除边界效应；3. 消除假尖峰信号。真空应用： X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接，还可选用型号为EXV5/EXV9（5/9英寸长）的探测器真空加长管（如图5）。探测效率曲线：图10（线性坐标）. X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图11（对数坐标）. 考虑各种效应后的收集效率，其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导，而该效应对应了能量的完全沉积，但在超过40keV后，康普顿（Compton）散射效应逐渐显著，不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗（包括保护层）对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定，而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗，可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器；选用特定的探测器，可接收到90%的9到12keV 的光子。传输效率文件：包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件，仅提供基本信息，不能作为定量分析依据。X-123的应用，RoHS/WEEE标准测试： 2006年6月，RoHS/WEEE标准（电子电气设备废弃物和有害物质限制规定）规定了电子设备中某些物质（Cr VI，Pb，Cd，Hg，Br PBB/PBDE）的最高含量标准。通过 X射线荧光分析（XRF），X-123可应用于质量控制环节，检测设备是否符合RoHS/WEEE标准。用户可以快速、准确以及无损地检测特定元素的浓度，而公司可以核实供应商的标准并说明自己的标准。借助这个方便、小巧和易用的探测仪器，X-123向原始设备供应商（OEMs）和最终用户提供了一个强大的 X射线探测系统，它可以直接应用并投放市场。由于所有的连接都已在产品内部做好，用户所需只是+5V直流输入和USB/RS232线缆。 X-123并未因小型化而牺牲性能。根据不同探测器类型和峰化时间，Fe的5.9keV能峰处的能量分辨率（半高全宽）可达145 eV至230 eV。X-123是封装好的一整套 X射线谱仪，是产品快速开发的完美选择，且为原始设备供应商（OEMs）提供了最快的投放市场速度。 图12. RoHS/WEEE应用中能谱示例。采用Si-PIN探测器的X-123 的典型测量结果：图13. 109Cd样品的X射线荧光分析谱图（多元素）。 图14. 109Cd样品中铅的X射线荧光分析谱图。 图15. PC机主板的一些位置得到109Cd样品的 X射线荧光分析谱图。 图 16. 109Cd样品中所含若干元素的 X射线荧光分析谱图。机械部分机械尺寸图17. 装配硬件。图18. 包含装配板和角铁的X-123。图19. X-123装配板尺寸图。图20. X-123所用角铁尺寸。 完整的X射线荧光谱仪（XRF）系统：图21. 完整的XRF系统。图22. 已装配在MP1型底板上的X-123和Mini-X射线管。完整的XRF系统包括：1. X-123 X射线能谱计；2. Mini-X型USB控制X射线管；3. XRF-FP定量分析软件；4. MP1型XRF装配底板。

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

美国XOS Petra 4294 X荧光硫含量分析仪，采用高分辨率 X 射线荧光 (HDXRF) 技术，适用于检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物，以及煤炭等固体样品。Petra 4294采用创新的进样系统，该系统可将意外溢出的液体引至滴盘并远离重要部件，避免频繁维护。仪器符合ASTM D4294、GB/T 17040、GB/T 17606、ISO 8754 和 IP 336 标准方法。 产品特点：l 采用HDXRF高分辨率能量色散X荧光技术，超低背景l 检测下限（LOD）可达2.6 ppm @ 600 sl 简易样品制备及仪器操作过程，检测速度快l 检测过程中样品杯垂直放置，如遇意外泄漏，可直接落入积油盘，不会进入仪器l 无需样品损耗或转化，无需消耗气体及高温操作l 超低维护量，较少的校准频率l 体积小巧，可放置于任何实验室，即插即用l 分析器内无运动部件l 可选带二维码样品杯，仪器可直接扫码记录信息l 可升级自动进样装置 符合标准：ASTM D4294-16 能量色散X射线荧光光谱法测定石油及石油产品中的硫GB/T 17040 -2019 石油和石油产品中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法GB/T 17606 -2009 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法 技术参数：l 检测下限可达2.6 ppm @ 600 sl 有效测量范围：2.6 ppm – 10 wt%l 样品用量：不大于10 mLl 分析过程只需电源，无需燃烧和气体消耗l 具有多校准曲线存储功能，可实现对不同样品的测量l 测量时间：30 – 900秒，可自由设定 应用领域：石化产品如，车用汽油、柴油、调和用馏分油、喷气燃料、煤油、生物柴油、生物柴油调和燃料、乙醇汽油、石脑油、渣油、润滑油、原油、催化剂等。适用于石化企业，地炼、质检部门、第三方检测等行业。

微谱科技5E-XRF2510高性能能量色散X射线荧光光谱仪5E-XRF2500 X射线荧光光谱仪凭借其紧凑的尺寸，优异的分析性能，超高的测试效率，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：10寸产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确高性能能量色散X射线荧光光谱仪，从灵敏度，分辨率和稳定性体现更高的灵敏度微谱科技5E-XRF2500设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性5E-XRF2500创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点 （注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

全新推出SPECTROSCOUT型便携式能量色散X射线荧光仪，集顶级实验室分析仪SPECTRO XEPOS及优异的手持式分析仪SPECTRO xSORT之大成，它可在野外为您迅速提供可靠的实验室级的实验数据。实现这一切所需的成本低到令人咂舌。SPECTROSCOUT型仪器的元素分析范围宽Na-U, 在各个含量段均显示出优异的性能。仪器易于收放，可在野外迅速展开工作，且可提供极佳的分析精度，是现场分析的理想选择。所有操作均可方便地通过一体化的触屏实现，预设分析应用软件包。独特的iCAL设计可在5分钟用单样品实现仪器标准化。仪器重量轻，体积小，易于携带。同时可选装摄像系统，准确地调整样品的分析位置，并可同时储存图像及结果。1.集台式和手持式X荧光分析仪之大成，能在现场提供真正实验室级别的数据，堪称“便携式实验室”。2.与同级仪器相比具有极佳的性能价格比，价格却只有实验室设备的一半。比如：地质勘探现场使用且提供实验室级的地矿样品数据，无需把样品送回实验室，投资回报率极高。3.仪器设计得小巧紧凑，大样品室，高功率X光管，一体化处理器及高出能电池。4.体积小（270mmX306mmX306mm)，方便在钻井平台及狭窄空间，拥挤的车间等场合放置和工作。5.仪器重12.75公斤，便于携带及运输现场检测，实验室级的分析数据。6.以优异的性能应对各个含量相关元素，分析含量范围覆盖微量及常量，分析速度快,3-10分钟。7.无论主次痕量元素均可提供高精度的测量结果。8.可在任何时间，任何地点检测土壤重金属及有害元素，地质及矿物样品品分析，页岩气钻探，珠宝，贵金属，冶炼厂，润滑油中的磨损金属，及车、船用燃料中总硫, 总氯及铝, 硅等含量。适合于检测机构，贵金属，环保，地质，码头、矿山、舰船、台架试验及其他重型机械等使用场合。9.续航时间长，连续分析可达5个小时10.检出限低，部分元素可达1ppm以下11.一体化计算机及触屏，简单易用，分析结果实时显示，便于查看12.可外接计算机系统13.硅漂移检测器SDD,Rh靶，最大50kV

产品说明、技术参数及配置 这是先达公司为实现现场多元素快速分析，在台式荧光分析仪基础上专门开发的一款便携式X荧光多元素分析仪器。采用进口的高分辨率电制冷半导体探测器、以进口微型X光管为激发源，在国内首次采用了&ldquo 多参量自动分类&rdquo 专利技术，具有模式识别功能，可以对复杂类型样品自动分类和进行多元素精确分析。能直接分析块状、粉状样品。体积小，重量轻，内置锂电池，章上电脑操作，带蓝牙和GPS功能，一台设备相当于一个流动化验室，不仅适用而且很时尚，是真正的户外检测专家。 适用范围 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）现场快速检测。 型号：CIT-3000SMP 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 激发源采用进口x光管，无放射源，环保、安全可靠； 采用进口半导体电制冷探测器，分辨率高，分析元素多，一次性可以分析20种元素； 软件具有模式识别功能，对不同类样品可以自动分类，自动选择分析模式，一键式操作，准确可靠； 采用品牌PDA，中文操作系统，可以在PDA内进行数据编辑，海量存储器，工作时间长。一次充电可全负荷工作8小时，带有导航系统，适合野外等条件操作； 带蓝牙功能，可以实现遥控测量，方便实用； 装有红绿指示灯，绿灯表示电源已打开，红灯表示有射线，使用安全可靠； 可以直接分析块状、粉状样品，也可压片测量； 仪器一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高； 全中文应用软件，操作简单，测量时间短。 技术指标 采用1024道多道分析器 分析元素：S-U等 采用Si(Li)半导体探测器，能量分辨率高：优于150eV(55Fe) 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析范围：0.001%-99.99% 最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br&le 1ppm, Pb&le 2ppm； 测量范围：2-30kev 测量时间：200秒 整机功耗：4W 仪器重量：1.75Kg 仪器配置 品牌PDA（带有GPS和蓝牙功能） 内置大容量锂离子电池 进口一体化封装微型X光管 进口电制冷半导体探测器 便携式充电器

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统，提高各项分析性能高性能半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得超高灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。2.轻松操作，自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护，安全可靠软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂（选配）配备水平多关节机械手，85位自动进样系统，可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂，有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观；碰撞即停的设置，使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本，通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。性能特点超薄窗X光管数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然技术参数产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵应用领域合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

CIT-3000SME能量色散X荧光分析仪，是先达公司推出的适合粉末样品检测的全元素分析仪器，2003年被科技部、质监总局、税务总局等五部位联合批准为国家重点新产品，是国家十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外半导体电制冷探测器进行探测，2048道数字化多道脉冲分析技术对X射线光谱进行精细分析，一次性可以完成30多种元素的快速、准确分析。一、产品型号和适用范围1.1 产品名称：能量色散X荧光分析仪1.2 规格型号：CIT-3000SME1.3 数量：壹套1.4适用范围 钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、钛精矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析。 耐火材料：各类样品成份分析。 有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析。 质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。二、工作环境要求2.1 环境温度要求：15℃-30℃(建议有空调的环境使用)2.2 环境相对湿度：70%2.3 工作电源：交流220V2.4 周围不能有强电磁干扰。三、性能特点3.1采用数字化多道脉冲分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；3.2采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，Be(铍)窗厚50um，靶材Ag(银靶)，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率；3.3采用SDD半导体探测器，分辨率高，达到130ev，无需液氮制冷，使用方便，可以一次性完成对多种元素的探测；3.4高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，精度高，无故障操作；3.5样品种类：粉状；3.6腔内环境：空气或真空；3.7真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围；3.8 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成；3.9可一次性实现30多种元素的快速、无损、准确分析；3.10自动寻峰，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定；3.11专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件；3.12全中文Windows应用软件，操作简单；3.13融合了一系列光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、精准的背景扣除方法、自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等；3.14 XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论&alpha 系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性；3.15可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求；4.16数据管理设有用户密码，加强测试数据的严肃性及质量品控的可靠性。四、公司及产品优势4.1产品特点精准、快速、无损、直观、环保；精准：测试结果可以接近湿化学方法测试；快速：分析样品中的几十个元素只需几分钟；无损：不会破坏被分析样品的物理和化学特性；直观：分析结果以图表方式直接呈现；环保：不会对环境产生污染破坏； 4.2技术研发优势拥有国内X荧光领域学者、教授多人的研发团队（教授5人（博士生导师，均享受国家津贴) .博士6人；硕士8人），各学科技术人才的完美结合，几十年的技术沉淀和研发经验，还有国家重大科研项目支撑，充分利用地学核技术重点实验室资源优势，以四川省地学核技术重点实验室为技术依托，拥有雄厚的核技术科研能力和先进的科研平台及权威的科研成果；保证了公司的产品技术始终能处于国内领先的水平； 4.3硬件优势4.2.1整机配件优势.我公司仪器的大部分配件均采用军品级和工业级应用的配件，远远高于实验室应用；.可适应在工业现场恶劣环境中使用，可以昼夜连续工作，故障率极低；4.2.2机械结构优势：尽量少的使用机械部件，确保提高系统的可靠性及稳定性，最大程度的减少维护成本支出 4.2.3制样机优势：由国内一流厂商定制，可对固体、粉末或其他软材料样品进行均匀制样，有效保障测量结果的一致性 4.2.4真空测试系统优势专利设计的真空测试系统，使样品腔真空度高达到10-2Pa，严格保证了轻元素（Na、Mg、Al、Si、S、P等）的检测要求，并自动切换到常规元素的分析模式，真正实现了对所有元素（Na-U）分析； 4.4软件优势4.3.1可根据客户需求进行扩展性设计，适合多种物料的分析测试；4.3.2开放式数据接口，谱文件可输出并自动保存功能；4.3.3全开放式软件平台设计，软件界面简洁明了，操作方便；4.3.4采用自动寻峰、自动稳谱，S标样测量等保证了仪器的长期稳定性和短期稳定性；4.3.5测试报告可按客户要求定制生成EXCEL、PDF格式文档，便于保存；4.3.6软件有中、英文两种版本，可满足国内外广大客户的需要； 4.5自动化程度高分析软件傻瓜式操作，样品测试平台自动旋转、自动升降、自动抽放气、自动切换滤片和准直器、自动保存分析数据，用户只需更换测试样品和点击鼠标，纷繁复杂的分析过程便在2分钟内轻松完成； 4.6专业化设计产品架构专业设计师设计，专门用来测试粉状样品，针对性强，仪器外观大气、内部结构紧凑、色彩搭配合理、符合大众的欣赏美学； 4.7产品美誉国内核技术领域知名学者、成都理工大学权威教授十多年研究成果转化，先后获得四川省科技进步一等奖和中国高校科技进步2等奖，产品荣获国家重点新产品称号，在国内拥有千家用户，得到广泛好评； 4.8市场优势攀钢、鞍钢、本钢、马钢、安阳钢铁公司、云钢、首钢、吉钢等大型钢铁企业长期使用我公司产品进行生产品质控制；全国各省市500多家质检系统选购公司产品作为质检仪器 进出口检疫检验部门选用我公司产品用于出口产品品质检测 全国多所高等科研院所选用我公司产品用于科学研究或教学；国内大型生产制造企业中山达进(PCB)、生益科技(中国最大覆铜板厂)、大洋橡塑(塑胶)、创维(整机)、立邦漆(涂料油漆)、东莞柳川(线材线缆)等大型上市公司都有使用我们仪器测试卤素/RoHS等，国际许多大型跨国公司Foxconn等我们也是他们合格供应商。承接中石油每年20~30台的XRF设备定向采购任务 4.9服务优势先达公司拥有一只技术过硬、服务优质的专业化的服务团队，具有本科以上的学历、三年以上的工作经验，追求高效优质的服务，让客户满意、放心、安心！ 4.10安全性能三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），X光管激发，全面确保操作人员人身安全与意外操作带来的辐射伤害，该设备获得国家环保局安全管理豁免。 4.11散热系统高效三维散热系统，大幅度提供仪器的可靠性、稳定性；五、技术指标5.1分析元素：Na-U等.5.2分析范围：1ppm-99.99%.5.4校正方式：采用S标样校准数据.5.5同时分析：26种元素同时分析.5.6能量范围：1-50keV.5.7测量时间：1-3分钟可以完成全部待测元素的含量分析.5.8 进口电制冷半导体探测器的分辨率：100ev.5.9管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A.5.10仪器的分析精度：标准偏差 0.08%.5.11分析误差：优于国家标准要求.5.12辐射剂量：25msv/h.5.13仪器重量：65Kg；仪器尺寸： 650(W)*600(D)*730(H)mm

EDX-6000D 测金仪能量色散X荧光光谱仪黄金检测专家Simply the Best准确：精准测量千足金万足金和K金快速分析: 最快10秒出结果无损：测量完全不会破坏样品无需每天重复标定，快速分析，简单易用一次分析所有贵重金属元素金，银，铂，钯，铑杂质及有害元素测量包括镍，铜，锌，铅，铱等极高的性价比EDX6000D 贵金属XRF分析仪-黄金检测专家考虑到当前黄金的高价值，对黄金的纯度的控制比以往任何时候都更为关键。无论您是购买黄金，出售或生产珠宝，制造金属还是回收废金属，都需要一种快速而可信赖方法来确定样品含金量，以进行质量控制和定价。EDX6000D结合目前最先进的XRF能量色散光谱技术和FP（基本参数法）软件，为用户提供了一种高效，准确的分析方法。应用领域：1、首饰加工厂 2、金银珠宝首饰店3、贵金属冶炼厂 4、质量检验部门 5分析测试中心 6、典当行检测对象： 黄金、铂金、钯金、K金、K白金等产品特点 ：快速无损直观操作简单快速区分真假贵金属快速区分千足金，万足金高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位黄金珠宝首饰检测专家EDX6000D仪器参数仪器外观尺寸: 380*372*362（mm）样品腔：310*280*60（mm）仪器重量: 30Kg元素分析范围：K19-U92钾到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷Si-Pin多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Au初始化标样交流净化稳压电源戒指样品夹黄金标样USB数据线电源线测试薄膜仪器出厂和标定报告保修卡测试谱图18K黄金XRF光谱可定制化测试报告连续稳定性测试报告Au96%黄金样品及时而专业的售后服务 对客户方操作人员进行技术培训现场安装、调试、验收服务产品终身维修免费提供软件升级提供最高效的技术服务，在接到用户故障信息后，8小时内响应，如有需要，48小时内工程师上门维修和排除故障

微谱科技WEPER XRF2800便携式能量色散X荧光光谱仪WEPER XRF2800 是一款基于X射线荧光原理的现场元素分析利器，是微谱科技在深耕XRF技术多年的最新力作。便携式X荧光光谱仪体积小、重量轻、性能稳定、灵敏度高、操作灵活、外形美观，可轻松应对复杂、恶劣的野外环境，随时随地对样品中的元素进行定性和半定量分析。广泛应用于场地调查、土壤初筛、油品、现场监控、现场污染物筛查等领域基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：7寸 产品特点： 体积小，超级便携230mm×230mm×290mm迷你尺寸，随时随地都可为您提供测试服务超长续航大容量电池，续航时间6-8小时；可额外配置大容量手提式充电器，让您操作无忧出数快，30+元素一键即测，10 s左右即可得到稳定测量值，可同时分析30多种土壤金属元素，还可根据客户需求定制增加检测元素一体化X光管，性能优异采用高性能微型X射线管，搭配智能多位滤光片，针对重点元素进行了特别优化，达到最优异的检测效果更高的分辨率WEPER XRF2800采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至125eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析其他应用WEPER XRF2800打破了实验室环境条件的限制，无需真空和氦气条件就可以分析样品中的Mg、Al、Si、P、S等轻元素。可实现现场采样及现场分析矿石品味、进行矿石评估、岩心检测、绘制矿石分布图等。是地质勘探、矿山开采现场检测的得力助手。WEPER XRF2800可以实现快速、准确分析土壤中Pb、As、Cu、Ni、Zn、Cr等重金属，能够及时对厂区、矿区、重工业区周边环境进行监测，从而有效进行控制排放和污染治理。同时还可以对土壤中的营养元素进行监测，提高农作物的质量和产量，实现智能耕作。WEPER XRF2800可为海关检测假冒伪劣的材料和产品，用于进出口管控，识别冲突矿物，验证金、银、铂、钯金属的纯度，用于进口征税。还可用于珠宝贵金属的识别以及汽车三元催化剂的回收检测。