反射式量仪

请问反射式衍射光栅的色散原理是什么？谢谢

反射式X射线管（侧窗型）又采用正高压工作，也有采用负高压工作，这两种方式各有什么利弊？其阳极倾斜的角度好像有一个范围，是多少？为什么要限制在此范围内？

[font=Calibri]PIN[font=宋体]二极管开关是最常用的开关二极管，通常由三个引脚组成，其中两个引脚用于控制电流开关，另一个引脚用作电路的接地装置。[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关的优点在于其速度快、低阻抗、灵敏度高等优点，可以在高频下快速控制电路，从而使[/font][/font][font=宋体]电源[/font][font=Calibri][font=宋体]电路的响应速度更快。[/font][/font][font=Calibri][font=宋体]反射型[/font]PIN[font=宋体]二极管开关是指具有至少一个反射表面的[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关。光学设备中的[/font][/font][url=https://www.leadwaytk.com/article/5271.html]MITEQ[/url][font=Calibri][font=宋体]反射式[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关具有转向光路、缩减仪器体积、改变图像的正反关系等等。[/font][/font]

[b]一、产品概述[/b] 品牌与制造商：该产品由德国MAXOS品牌生产，该品牌以其高品质的玻璃视镜和液位计产品而知名，广泛应用于化工、制药、食品等工业领域。 型号与标准：DIN 7081-10是该产品的标准型号，遵循DIN 7081国际标准，确保产品的质量和性能符合行业要求。 特殊硬化处理：该视镜经过特殊硬化处理，提高了抗压强度和抗冲击性能，延长了使用寿命，使其能够在恶劣的工作环境中保持稳定的性能。 反射式设计：反射式长视镜具有特定的光学设计，能够反射光线，提供清晰的观察视野，特别适用于需要观察内部情况但光线条件不佳的环境。 [b]二、产品特性[/b] [list=1][*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]材质[/font]：采用高硼硅酸盐玻璃制成，这种材料具有优异的化学耐蚀性、热稳定性和机械强度，能够抵抗温度变化和化学腐蚀。 [*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]透光率与清晰度[/font]：高透光率和良好的清晰度使得观察者可以清晰地看到容器内部的介质情况。 [*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]耐高温与耐高压[/font]：耐高温性能使得该视镜能够在高达一定温度（如280℃）的环境中稳定工作；耐高压性能则确保其在高压容器中的安全性。 [*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]规格与尺寸[/font]：具体尺寸因型号而异，但DIN 7081系列通常提供多种规格和尺寸以满足不同工业应用的需求。 [/list] [b]三、应用领域[/b] 德国MAXOS DIN 7081-10特殊硬化处理反射式长视镜广泛应用于以下领域： [list][*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]化工[/font]：用于观察反应釜、储罐等化工设备内部的介质情况。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]制药[/font]：在制药过程中监控药液、气体等介质的流动和状态。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]食品[/font]：食品加工和储存过程中，观察食品原料和成品的状况。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]石油[/font]：在石油开采、加工和储存过程中，监测油品的流动和状态。[/list] [b]四、选购建议[/b] 在选购德国MAXOS DIN 7081-10特殊硬化处理反射式长视镜时，建议考虑以下因素： [list][*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]工作环境[/font]：包括介质的性质（如温度、压力、腐蚀性）、容器的尺寸和形状等。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]观察需求[/font]：确定所需的观察距离和角度，以及是否需要特殊的观察效果（如反射或透明）。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]安全性能[/font]：考虑视镜的抗压强度、抗冲击性能和耐温性能，以确保在恶劣的工作环境中也能保持稳定的性能。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]成本效益[/font]：根据预算和实际需求选择合适的规格和型号，以实现最佳的成本效益。[/list] 请注意，由于产品规格和价格可能随市场变化而变动，建议在购买前与供应商或制造商直接联系以获取最准确的信息。

各位老师，这种类型的光路有见过吗？全反射类型。[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201831308676_2882_4104625_3.png[/img]

如题，在线检测的采集器精确固定在样品上方，距离样品1-2厘米的位置。被测样品会平稳的运动，一分钟在10米到1000米之间的速度运动。采集的样品是直径为4厘米左右的圆形区域。光源呈45度照射到样品。反射光0度从光纤准直镜接收到光谱仪。高速取样在电脑显示色彩空间数据。样品不动的情况下保证数值的重复性误差很精确原理只能是这样来采集光谱。其他的办法实在是找不到了。看起来这种方法好实现。但是会存在很多很多问题。1.光源，传统的卤素灯光源能量很稳定，但是用在非接触测量时候会出现能量不够，长时间工作灯的寿命降低。一般都是几千个小时。在线检测用一般一开都是N月。2.校正，校正的前提是保证光源在绝对稳定状态下才能有效的校正白板反射数值。卤素灯排除后就实在没办法让光谱仪长时间使用而校正的问题。3.色彩数据，这个数据一般不会和实验室做对比，但是用什么方法来准确反映出颜色偏向也是个难题如果用闪光式的脉冲氙灯来做光源的话。由于氙灯的特性。每次闪光的能量又不能控制。实在是找不到别的有效的办法来代替光源。如果使用氙灯的话。能量值能稳定的控制在很精确。伴随光谱仪还有采集时间和时序的问题。种种问题。实在得不到有效解决。但是也真实的见过真有这种类型的测色仪。他们是如何做到的

分光计是用来把光源激发出来的复合光展开成光谱的一种仪器，这种仪器的主要作用使复合光色散。使之成为各种不同波长的光叫做光的色散或叫分光。有棱镜和光栅二种，以棱镜为色散元件做成的分光仪，有水晶、玻璃、萤石等多种分光仪。以光栅为色散元件的分光仪又有平面衍射光栅或凹面衍射光栅分光仪之分。由于光栅刻划技术和复制技术进一步的提高，光栅已广泛应用于光电直读光谱仪中。光栅与棱镜比较具有一系列优点。首先棱镜的工作光谱区受到材料透过率的限制；在小于120nm真空紫外区和大于50微米的远红外区是不能采用的，而光栅不受材料透过率的限制，它可以在整个光谱区中应用。 光栅的角色率几乎与波长无关，光栅角色散在第一级光谱中比棱镜大，不过在紫外250nm时石英角色散比光栅角色率大。光栅的分辨率比棱镜大；由于光栅具有上述优点将更进一步得到应用。

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我想测量絮体结构的一些变化特性，请教目前国内有哪些单位有聚焦光束反射这种仪器的啊

ICP工作时反射功率，您注意过吗？一般像我们选择ICP功率在1200W,那么此时仪器存在反射功率，那么反射功率多大了，大了小了影响怎么样？为什么有存在反射功率说法？

密度计是印刷厂常用的原稿测量仪器。是测量黑白原稿的灰度值和测量连续调或网点值的光电测量仪器。密度计分为透射式密度计和反射式密度计两种。透射式密度计适于测量透明原稿，反射式密度计适于测量实地原稿。密度计的测量范围是0—2.5，数字越大，黑度越高。 密度计 测量的基本原理是，衡量感光材料曝光和显影后的变黑程度即黑度 密度计。在制版时，感光材料上的溴化银，受到光照作用，显影后还原成金属银，形成一定的阻光度。黑度大的，密度高；黑度小的，密度低。带有滤光片的测量计，还可以测量彩色原稿的彩色密度。其测量原理与上述基本原理相近。 　　在物理实验中使用的密度计，是一种测量液体密度的仪器。它是根据物体浮在液体中所受的浮力等于重力的原理制造与工作的。密度计是一根粗细不均匀的密封玻璃管，管的下部装有少量密度较大的铅丸或水银。使用时将密度计竖直地放入待测的液体中，待密度计平稳后，从它的刻度处读出待测液体的密度。 　　常用密度计有两种，一种测密度比纯水大的液体密度，叫重表；另一种测密度比纯水小的液体，叫轻表。

基本概念： 物位是指物料相对于某一基准的位量，是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量，其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计，测量液位的仪表称为液位计，测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况，液位测量占有相当大的比例，故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表，其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类：物位测量方法很多，测量范围较广，可从儿毫米到几十米，甚至更高，且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此，工业上所采用的物位测量仪友种类繁多，技其工作原理可分为：(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理，通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度，是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力，测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理，利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位，且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化，进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同，可分为电容式、电阻式和电感式3种，其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种，其中气介式可测液位和料位；液介式可测液位和液—液相界面；固介式只能测液位，比如：防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计，可测液位和料位，： (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时．被吸收而减弱，其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外，还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表，以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型，且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种．前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等，后者比较简单价廉，主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100，带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100，光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零，也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解：反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪？如果能这样理解，且不是反射仪可以用光泽仪来替代？学得很肤浅，请大家不吝赐教！

各位老师，我把固体粉末抹在BaSO4白板上做紫外漫反射光谱时，发现固体粉末的漫反射谱在近红外区的反射率竟然达到130％！！而在可见区和紫外区却是正常的低于100％，而我事先已经用BaSO4白板做了基线校正，BaSO4白板的反射率为100％。而且我做其它样品时都是正常的，为什么做这个样品却在近红外的反射率达到130％？？急盼各位老师给我指点迷津！！万分感谢！！

[font=宋体]在实际应用中，尽管光学计量仪器多种多样，但它们的光学原理却[color=blue]都基于四种基本原[/color][/font][font=宋体][color=blue]理[/color][/font][font=宋体]，它们是：[color=blue]望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。[/color][/font][font=宋体]基于应用不同的光学原理，光学计量仪器可分为[color=blue]：自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。[/color][/font][font=宋体]望远系统主要性能是视角放大率，在观察时用来扩大眼睛对远处物体的视角，用以观察物体。在测量时常被用来产生平行光以进行各种用途的测量，应用此原理的光学计量仪器有：自准直光管、测角仪、立[/font]([font=宋体]卧[/font])[font=宋体]式光学计等。[/font][font=宋体]显微系统的主要性能是较高的放大率。它与放大镜相比，有较高的放大率和分辨本领。可清楚地观察和分辨微小物体和物体的细小部位。应用此原理的光学计量仪器有：工具显微镜、光学分度头、测长仪、测长机、双管显微镜等；[/font][font=宋体]投影系统的主要性能：是较高的、准确的横向放大率。[/font][font=宋体]被测量的形状复杂、细小的物体或物体表面缺陷等经强投射光或强反射光照射，再经投影物镜放大成像在影屏上后进行测量。应用此原理的光学计量仪器有：大、中、小型投影仪、专用的公差带投影仪等。[/font][font=宋体]光干涉系统主要性能是有很高的检测精度。它是以光波波长作：“尺子”，实现了对表面粗糙度、长度微小变化等几何量的高精度测量。应用此原理的光学计量仪器有平面平晶等厚干涉仪、接触式干涉仪、干涉显微镜等。[/font]

在线水份测量仪简介：（在线、非接触、实时测量固态物料的含水率） 在烟草、木材（纤维板、刨花板）、化工（洗涤剂、肥皂粉、化肥）、造纸、化纤、粮食（油菜籽、谷物）、饲料、茶叶、食品（面粉、淀粉、奶粉、大豆粉）、冶金（烧结料、石英沙、水泥）等工业部门的生产过程中，需要快速而连续地在线测定和控制固体物料的含水量，物料水分是一个十分普遍而又相当重要的监测和控制参数之一。例如，在烟草生产过程中，烟丝或烟叶含水量是最重要的一个工艺参数，在线连续测定和控制烟丝或烟叶的含水量，对于提高卷烟成品的质量，降低能耗和提高生产效率均有显著的经济效益。 “数字化在线水份测量仪”将传感器和数字信号处理两部分集成在一起，使用发光二级管数字面板直接显示固体物料的百分比含水量。利用光谱吸收原理制成的水份仪，与其它测定水份的仪器相比较，它具有如下特点：1、非接触测定，对传送线没有影响，对操作也不带来麻烦。2、可连续测定行进中的和静止的物料含水量，特别适用于在线监测。3、既可独立测定水份，也可输出信号，可供记录，并可组成自动反馈控制系统。4、仪器采用密封结构，能在粉尘较大的环境下工作，安装简单，使用方便。5、采用数字电路进行信号处理，可长期稳定地工作。 技术特性水份测试范围： 0∽50%1、安 全 性 ： 绝缘电阻500MΩ2、精 确 度 ： ±0.2%3、重 复 性 ： ±0.1% 4、稳 定 性 ： 每180天校准一次5、使用温度范围： 0∽+40℃6、阻 尼 ： 采样次数用户可自调7、输 出 信 号 ： RS485 8、电 源 ： 220V±10% 50Hz9、功 耗 ： 50W工作原理水份仪的工作原理是基于比耳—朗伯定律，即光线经过固体物料反射后的强度与固体物料中的水份浓度之间存在着一定的关系，水分子吸收的能量随着水份浓度含量的增加而增加，而从固体物料反射的光辐射能量则随着吸收的增加而减少。水份仪可在化验室中测定固体物料的含水量（静态测量），也可用在车间在线测定固体物料的含水量（动态测量）。

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

我只稍微了解“衰减全反射红外ATR－IR”的原理；而对于“反射红外”的理解是，做液体样品时，将液体滴到金属片（如金片）上，利用金属片为反射面，测得液体样品的红外信号。高手能否比较下两种方法的异同，特别是做水溶液样品，哪种效果会好些。还有，将液体直接滴到KBr片上做透射红外与上面两者比较呢？谢谢啦另外，什么叫“结帖”，怎么结帖啊，呵呵

反射率仪的测试波长是多少？ c84-III型反射率测试仪，天津世博伟业化玻仪器有限公司，射出的是绿光。谁知道测试波长是多少？请给出答案的出处，例：XX国家标准。谢谢！

各位老师好，小弟在网上看到这样一个光路，但是自己模拟一直实现不了，想问下哪位老师有见过这种，谢谢[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201800424515_4764_4104625_3.png[/img]

在做微波合成时，当真空度大于约100帕时，反应瓶内出现白光，应该是微波反射，但是我里面又没有金属物质，而且当我不抽真空，在常压下反应时却又不发白光了。而且更奇怪的是，我今年上半年做时，并没发生这种情况，只是这一两个月才发生此情况，在此期间，微波仪坏过一次，但是只是门坏了啊，磁控管根本没碰过，请问这么怪异的事该如何解释呢？？？以前发射微波时，磁控管根本没声音，但是用了这大半年，每当发射微波时，总是听见呜呜的声响，一停止发射，也就没声了，请问这种情况的话，是正常的吗？

经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图：红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R，1=R+T+A。理论计算R=（1-n）^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗？是反射角为多少的时候测量的？垂直入射的时候吗？看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题，反射光谱是怎么测量的，测得的数据就是反射率吗？补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

我发生器功率选择１０００时，仪器稳定状态下反射功率是３０左右，我看书上写的是低于１０，reflected power高了会怎么样，我能不能理解成就是浪费点能源？对测量有影响吗？

脉冲反射式超声波探伤仪是目前应用的最为广泛。一般在均匀的材料中，缺陷的存在将造成材料的不连续，这种不连续往往又造成声阻抗的不一致，由反射定理我们知道，超声波在两种不同声阻抗的介质的交界面上将会发生反射，反射回来的能量的大小与交界面两边介质声阻抗的差异和交界面的取向、大小有关。脉冲反射式超声波探伤仪就是根据这个原理设计的。 脉冲反射式超声波探伤仪大部分是A扫描方式的，所谓A扫描显示方式即显示器的横坐标是超声波在被检测材料中的传播时间或者传播距离，纵坐标是超声波反射波的幅值。譬如，在一个钢工件中存在一个缺陷，由于这个缺陷的存在，造成了缺陷和钢材料之间形成了一个不同介质之间的交界面，交界面之间的声阻抗不同，当发射的超声波遇到这个界面之后，就会发生反射，反射回来的能量又被探头接收到，在显示屏幕中横坐标的一定的位置就会显示出来一个反射波的波形，横坐标的这个位置就是缺陷在被检测材料中的深度。这个反射波的高度和形状因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性质。

[font=宋体][font=宋体]漫反射测量，需要注意探测器和光源，一般采用[/font][font=Times New Roman]4[/font][/font][font='Times New Roman']5[/font][font=宋体]度角度的排列，在这种排列方式下，光源和探测器可以组合采集到较丰富的光谱信息；由于漫反射的光线散射特性，往往需要进行很多次的重复扫描以提高采样精度。[/font]

我是新手，我做出的薄膜的反射谱为什么跟透射谱是一样的？连纵坐标的数值都是一样的，请问是什么原因？是设置的问题还是其它？麻烦哪位大虾告诉我一下，十分感谢。我的薄膜是在玻璃基片上，与玻璃基片一起测量。仪器型号是cintra 10e。是不是固体的反射必须用积分球才能测啊？