反射透量仪

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途 专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

透射反射探头是最新的单程透射探头和双程透射反射光纤探头，与任何光谱仪和光度计兼容使用，透射反射探头用于工业和实验室的反应监测。透射反射探头功能应用 可以在从紫外到中红外光谱范围内使用， 用于液体中的远距离透射光谱。灵活强大，可应用在恶劣环境下的工业应用，如反应监测，PAT，结晶生成和筛选， 用于生物制药分析和生物燃料的开发和生产。

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪，它采用德国高灵敏度光学水分传感器，非常适合测量粉末，颗粒，浆料,糊状物，膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品，测量速度快，测量精度高，测量可靠性强，全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品，具有德国专利的光学水分传感器清洗技术，完全清洁光学传感器探头，解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构，超级耐用无需耗材，使用成本低无需样品准备，直接测量，节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理：近红外反射测量范围：0-90%水分含量测量精度：+/-0.1%测量时间：2秒测量距离：10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸：高达10cm光源：红外LED光源收集器：光电二极管工作温度要求：5-45摄氏度工作电力要求：24VDC， 0.2A，信号输出：0...10V或4...20mA外壳材料：IP65外形尺寸：300x200x160mm重量：2.8kg

Stage-RTL-T型平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与海洋光学的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量 Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGE-RTL-T型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离）完成反射测量； 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量；或使用两个光纤进行样品传输的测量。 STAGE-RTL-T型平台规格 尺寸(底座): 206.3 mm 尺寸 (样品区): 直径152.4 mm(样品架) 重: 4,500 g 高: 立杆可调至 400 mm

透射反射式光纤探头产品简介：FlexiSpec® 产品线包括最新一代的单通道和双通道的光纤探针兼容所有光谱仪和光度仪。单通道和双通道的光纤探针兼容所有的可自动清洗的过程接口，可实时监控实验室，实验工厂和全自动的工艺控制。产品应用：实时反应监测 / 实验在线分析（PAT）/ 结晶过程的监测 / 特性分析 / 生物制药分析 / 生物燃料的开发与生产产品特点：* 在液体中长距离传输在线光谱；* 紫外、可见至中红外光谱透过率高；* 恶劣工业环境工作稳定；* 使用光谱仪/自动化控制接口兼容产品示意图：产品技术参数：UV-Vis石英红外 Vis-NIR硫系玻璃CIR间隙直径,mm2 5 10 20 2 5 10 2 5 10 2 5 10 0.05 – 2.0 温度范围≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 100°C最小弯曲半径120 mm 探头类型透射半透反射式光谱范围,μm0,2 – 1,3 0,4 – 2,2 0,2 -1,30,4 – 2,2 1,6 – 5,5 光纤类型石英紫外 UV-Vis石英红外 Vis-NIR石英紫外 130 mm总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *轴长230mm (其它选项: 50 – 500mm) *轴直径12mm轴材料SS, Hastelloy C22保护管材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA FC/PC ST兼容工艺接口Ceramat-FOS或SensoGate-FOS*直径可以根据客户要求定制

多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪： 1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用； 2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点： × 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径； * 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池； × 同时测量多个晶圆或太阳能电池； × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力； * 对晶圆表面进行图像分析； * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆； * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数： × 翘曲度测量范围：1-20微米； * 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间； * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）； * 光源：根据用户的应用而配备不同光源； * 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

NIRS 透射反射器皿，光学平面订货号: 6.7401.000对液体进行光谱测量的光学平面透射反射器皿。可与下列设备组合使用：NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

透反射偏光显微镜配件是进口高级透反射偏振光显微镜，具有入射光和透射光照明系统，提供40X-1000X的放大倍率，特别适合实验室科研等高级应用。 透反射偏光显微镜配件特点 具有4x,10x,40x,100x物镜配置，放大40-1000倍。 可添加相机组成显微成像系统。 偏光器可旋转，0位置可调。 * 样品载物台：360度可旋转可定心样品台，170mm直径，分辨率6' ,45度检查杆， * 日光滤光片45mm直径，防尘，2个12V/100W备用长寿命灯泡 透反射偏光显微镜配件配置 Strain-Free ICO2 PLAN objectives infinity corrected 5x/0.12, WD 15.5mm, CC - 10x/0.25, WD10.0mm, CC – 20x/0.4, WD 4.30mm, CC 0 50x/0.75, WD 0.32mm, CC 0 100x/0.8, WD 2.00mm, CC 0 40x/0.65, WD 0.54mm, CC 0.17 100x/1.25, WD 0.13mm, CC 0.17 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括透反射偏光显微镜在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于透反射偏光显微镜价格等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！

P-TIP 光纤探头 更加丰富的反射、透射、固体荧光、液体荧光、吸收光纤探头 P-TIP是复享仪器的光纤探头系列产品，涵盖了反射、透射、固体荧光、液体荧光和吸收等多种光纤探头。 对于光谱测量，选择合适的光纤探头和选择合适的光谱仪、光源以及光纤同等重要。由于光纤探头的复杂性，我们提供各种光纤探头的试用。在您选择好合适的产品再行购买。欢迎致电复享仪器400免费电话。 P-TIP-0045漫反射荧光光谱探头 在 P-TIP-0045漫反射光纤探头中，我们安装了两片高品质的滤光片，一片安装于激发光路，用于消除激发光源除主峰外的杂峰，另一片安装于收集光路，用 于滤除荧光辐射光谱中的激发光成分。因此，P-TIP-0045探头除了可以测量漫反射光谱，还可以检测固体表面的荧光光谱。更多信息访问：http://wwww.ideaoptics.com

用于液体样品的 NIRS 透射反射包订货号: 6.7400.010NIRS Liquid Sample Kit Transflection 可为下列设备扩展增加液体透射测量的功能：NIRS DS2500 Analyzer（订货号：2.922.0010）NIRS XDS MasterLab Analyzer（订货号：2.921.1310）NIRS XDS MultiVial Analyzer（订货号：2.921.1120）NIRS XDS RapidContent Analyzer（订货号：2.921.1110）NIRS XDS RapidContent Analyzer - Solids（订货号：2.921.1210）

漫反射光纤探头产品简介：德国art photonics公司提供多种特殊设计荧光探头，采用分叉或多通道分叉光纤束结构，具有“照明”管脚通道，将光从光源照射到样品，“收集”管脚，把反射光收集进分光计，光谱仪。区别于传统探头“6环绕1”的光纤束结构，art photonics探头采用“7环绕1”和“9环绕1”的设计。因为采用结构，收集反射信号和背散射信号要比传统的高得多。对于特殊的应用场景，可提供7 + 12设计:7根随机照明光纤和12根随机收集光纤。所有荧光探头的发光光纤都采用金属涂层光纤，使得发光光纤之间的串音干扰会被抑制，信噪比远高于采用聚合物涂层荧光探针。 荧光光纤探针可有两根、三根或四根光纤等光纤分叉管脚设计，采用圆对圆(R/R)或圆对线(R/L)结构。产品应用：实时反应监控 / 过程分析技术(PAT) / 结晶监控与筛选 / 特性分析 / 生物制药 / 生物燃料开发与生产产品特点：* 7+1, 9+1设计；* 金属涂层光纤抑制光纤相互间串音干扰；* 兼容所有光谱仪，分光计； * 探头直径尺寸薄至0.5mm；* 可定制各种探头, 光纤束结构产品示意图：产品技术参数：9+1 结构探头类型（9+1）100/50(9+1) 200/100探头光纤束9根环绕照明光纤-50/55/70P1根铝涂层收集光纤-100/110/140ALNA = 0.22 ± 0.029根环绕照明光纤-100/110/125P1根铝涂层收集光纤-200/220/270ALNA = 0.22 ± 0.02探头直径0.5—0.9 mm0.9—1.2 mm探头长度2.5-100 mm探头材料不锈钢、钛+PEEK组成保护套金属涂层PVC+Kevlar增强管、?3.2毫米连接头SMA 905(可提供FC/PC或ST)总长：两根腿长2m(可达20m)0.5m分叉Y型分叉，1.5m长度工作温度20℃至80℃(采用PEEK套管:-70℃-200℃)弯曲半径120mm长时间压力10bar（可定制）

气室透反射式光纤探头产品简介：FlexiSpec® 系列包括可以用于任何光谱仪、光度计的新一代传输红外光纤探头。气体传输光纤探头的设计是基于一个分叉的光纤束。由于气体的准直光束设计，使得双通低的中红外衰减（或多通）气室需要增加光路长度10–40cm。本设计是由准直物镜和反射镜单元的平均来实现的。产品应用： 实时反应监测 / 特性分析 / 废气监测 / 溶剂蒸发监测 / 相关石油气监测产品特点：* 在液体中在线传输光谱；* 近红外/中红外光谱段透过率高；* 灵活稳定的工业应用；* 兼容各种光谱仪产品技术参数：探针类型双通道气相传输传输范围0,5 – 2,2μm1,6 – 5,5μm3 – 18μm光纤类型SiO2硫化物光纤CIR银化物光纤PIR温度范围-50°C +200°C-50°C +90°C-50°C +140°C灵敏度1ppm根据不同的光路，光谱仪性能，测试气体总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *传输长度100mm (其它选项: 5 – 200mm) *传输直径25mm轴材料不锈钢, Hastelloy C22保护套材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA **直径可以根据客户要求定制

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

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镜面反射组件（7201#）为FTIR红外光谱仪提供80度的镜面反射角,是理想的红外镜面反射附件.镜面反射组件功能特点镜面反射是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择. 30度的入射角用于测量比较常见的样品, 而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知, 那么比较适合选用, 它的可变角度范围为30-85度, 适合全部镜面反射的分析。这些附件都配有参考镜片,帮助用户获取背景光谱。,这些附件的设计都注意消除杂散光保证最小的能力损失。如果使用线网型偏振片,灵敏度还能进一步提高.本镜面反射组件和红外镜面反射附件仅仅提供80度的镜面反射角,. 30度和可变角度的附件可以另外购买.Specular Reflectance is a technique for analyzing transparent films which usually yield weak spectra by ordinary transmission techniques. Applications include surface coatings on reflecting substrates film thickness measurements by interference fringes and reflectivity coefficient determinations of metals. The application is the determining factor when deciding which angle of incidence should be selected. A 30 degree angle of incidence is normally chosen for more routine samples which have coating thicknesses in the micrometer range.镜面反射组件可选附件: 镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该红外镜面反射附件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 镜面反射附件,镜面反射组件,镜面反射光谱仪,红外光谱镜面反射,货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统镜面反射组件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 红外镜面反射附件由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 红外镜面反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

SA-Stage-C 单点反射支架SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达80mm。规格 SA-Stage-C尺寸：Φ 150mm×厚10mm高度：垂直可调高度80mm材质：铝合金表面处理：亚光发黑适配产品： QR系列反射光纤用途：专为反射光纤测量而设计，能有效固定光纤探头，防止因抖动等人为因素影响检测效果。

UltraScan VIS在CIE推荐的光谱范围（360nm-780nm）内可以测量实色、透明及半透明的固体、液体，这可以确保整个可见光谱，都在三色刺激的计算范围内。它配合D65光源，并结合本身的条件在360nm范围内测量，可测量因紫外线产生荧光的样品。UltraScan PRO 为一款高精度的专业分光测色仪，可用于严谨的科学研究及质检中。它不仅测量反射及透射颜色，同时也可测量光谱反射率、透过率及雾度。它符合CIE, ASTM及USP有关颜色测量的所有规定。它性能稳定、测量精确并符合多项国际标准，因此不论是固体、液体以至透明的样品，都能取得可靠的颜色测量结果。可调反射架测量轴直径为15mm至40mm的瓶胚。预制棒螺纹上方的直径长度至少应为50mm，以完全覆盖端口。适用于：HunterLab UltraScan PRO，UltraScan VIS

IS-25-SBL1英寸漫反射积分球 1 产品简介IS-25-SBL是光谱辐射测量场景常用的配件（高灵敏度积分球；辐射积分球；反射/透射积分球；高均匀度积分球；紫外均匀积分球），采用卜型设计；与光谱仪和光纤组合完成光通量、照度、颜色和色温测量。 2 产品特点? 25mm内径，经济实用；? 朗伯特性漫反射材料，?97%的反射率；? 卜型设计。3 规格参数产品规格IS-25-SBL反射率～97%内胆直径25mm

变角镜面反射附件是一款适合各种镜面反射分析的变角镜面反射附件，变角镜面反射附件是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜，透明薄膜常常发出微弱的光谱。变角镜面反射附件功能特点主要应用是反射衬底上的表面镀膜，薄膜厚度测量，反射系数测量。实际应用决定入射角的选择，30度的入射角用于测量比较常见的样品，而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜，80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知，那么比较适合选用变角镜面反射附件VEEMAXII，它的可变角度范围为30-85度，适合全部镜面反射的分析。配有自动化附件，这些自动化的附件可以协助用户同时或单独编程控制地高精度选择入射角，并配有控制软件采集数据。具有30-85度的可变角度范围, 30度和80度固定角度的附件可以一起订购。变角镜面反射附件可选项变角镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.变角镜面反射附件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

Cary 分光光度计与各种光纤探头兼容，因此您可以在分光光度计的样品室外测量样品。使用探头就不必再将液体倒入样品池，这对于需要快速分析大量样品的质量控制实验室进行定量分析时特别有用。远程测量也完全适用于小体积样品、不能放入样品室的大体积样品、容器中的化学反应、中试测量、有毒或危险样品、无菌环境样品，以及高温或高压条件下的样品。 我们提供浸入式探头和普通探头，用于测量透射、反射和吸收。您也可以购买定制的光纤探头支架和长度以满足实验室的特殊需求。 快速分析 — 与传统蠕动泵附件不同，光纤探头无装液延迟且无需等待气泡逸出。 交叉污染少 — 快速、高效地清洁浸入式探头。样品间的快速冲洗减少了交叉污染。 维护少 — 无需昂贵的流通池且安装后不需要调试。 可更换的探头、防护罩和远程测量开关 适用于多种温度条件的探头（环境温度、85 ℃、150 ℃） 有不锈钢、石英和 Torlon 可供选择 透射、反射和吸收探头 为方便起见，提供探头支架和更长的光纤。 订购详情

单次反射ATR附件是一个高价值低价格预准直矫正的单次衰减全反射附件，与较为高价的单次反射附件相比，该单次反射ATR附件的灵敏度足够定量和定性分析。单次衰减全反射附件特点采用独特的45度ZnSe内部反射元件结合两个镜片用于光束导入到样品中并返回到仪器探测器中。这种设计最大可能地减少能量损失，透过的光能量可达百分之八十五。单次反射ATR附件还具有其它很多特色，它非常方便地从安装机构上装卸、清洗和更换ATR晶体尽管这些安装架都有顶板。这种方便性就可以使得其与其他ATR晶体互换而不需要购买完整的顶盖板.单次反射ATR附件可选FTIR光谱仪反射组件 （PartNo. #9000 ）单次衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 单次衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具. 我们推出的MIRacle 组合型水平单次反射ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单次衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

极端环境衰减全反射附件是全球唯一的为极端环境使用而设计制造的ATR附件，它可以耐受250摄氏度的高温和800帕斯卡高压的测量环境并兼具方便更换清洗ATR晶体的功能。极端环境衰减全反射附件的特点让广大用户随意更换ATR晶体而不必购买安装支架。极端环境衰减全反射附件特点采用独一无二的45度ZnSe单内反射元件，与另外两个光学镜片底座组合而用，用于光束进入样品和返回仪器探测器，ATR附件这种设计最大程度地减少光束能量损失，平均透过率可达百分之八十五以上。ATR附件采用了Kalrez垫片密封，从根本上消除了环氧树脂密封带来的问题。垫片不会与样品发生任何反应，从而避免了光谱曲线出现假峰或能量消退等问题。采用双控制器配置，方便抽样的自主管理和监测。可选方案：1.不带加热和加压功能的液体流动盒（使用平面顶板或液体流经）；2.加热范围为0-200摄氏度的液体盒；3.非加热液体流动盒；4.Ge或ZnS晶体用于衰减全反射,ATR附件,衰减全反射附件。极端环境衰减全反射附件可选FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）ATR附件 该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有附件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR附件配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

IS-RFLT8C-50反射积分球IS-RFLT8C-50是8°反射积分球（高灵敏度积分球；辐射积分球；反射/透射积分球；高均匀度积分球；紫外均匀积分球），采用的是反射测量的8/d的标准，8°角照明，散射接收。在相对于8°角光源对阵的方位上，设置光陷阱或者标准反射片，从而实现漫反射和全反射的测量。IS-RFLT8C-50积分球的特点是紧凑的尺寸和耐用的设计，所有的IS-RFLT8C-50积分球有两个SMA-905接口，光输入端有一个用于在光纤接入积分球之前校正光纤的8°角接口，光输出端口与输入端口成90°角（用于连接光谱仪）。另配有一个圆柱形的吸收盖，内部涂有黑色的吸光材料（用于吸收镜面反色光）。这个嵌入件刚好放入一个与积分球顶部成-8°角的接入孔中。每一个积分球都可与光谱仪一起组合成一个系统，用于测量置于积分球的采样口区域内的平面样品的综合反射率。这些积分球可测量杂色的样品及不透明或者高指向性的样品。产品特点? 光纤光学积分球：测量表面总的整体反射率? 积分球采样口直径：9.6mm? PTFE制造，可见光反射率98%。? 直径可选：38mm、50mm。

BR-M5-30低镜面漫反射吸收板BR-M5-30 低镜面漫反射吸收板（低镜面反射率白板，反射参考板，标准铝镜）是一个标准的中性滤光片。可用来测量感光底层、光涂层、机加金属、半导体材料等材料的反射率。BR-M5-30感光底层直径为30mm，安置在一个坚硬的40×12mm大小的蓝色阳极氧化铝盒内并拧上盖作为保护。参数规格BR-M5-30外部尺寸(mm)40×12（厚度）内部尺寸(mm)30×5（厚度）重量(g)30光谱范围(nm)250 ~ 2000外壳材质铝 反射率5% 使用须知? 使用光谱仪时，BR-M5-30波段范围限于200～1100 nm? 用BR-M5-30将低反射率基准设为～5%? 中性滤光片的材料虽耐用，实际使用时请用户备加小心，以确保标准面不被破坏。? 清理BR-M5-30表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，并用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。该法操作简单，溶剂能均匀挥发后，确保镜头表面不遗留拖尾或污点。

自动漫反射附件专业为漫反射研究而研发设计。配备专业的自动化软件，融合了多操作头旋转样品盘，自动漫反射附件可以提交多达60个样品而实现单样品或多样品中断和背景更新。自动漫反射附件特点非常灵活而且具有直观的用户界面。多操作头能够分别把不同样品载入到系统中，自动漫反射附件还拥有旋转样品盘大大方便多个使用者使用。用户可以方便地选择样品位置而且可以独立地、随机地、同时地编程控制。配备的软件是系统的一部分用于控制硬件的操作并采集数据。该软件在微软Windows操作系统下工作非常顺利而且非常容易地与FTIR软件包连接使用。This accessory was developed in response to demanding diffuse reflectance applications. The automated software accompanying the accessory, incorporates multi-operator sample submission for up to 60 samples with single or multiple sample interrupt and background update. The system is extremely flexible and user interface intuitive. Multiple operators may independently log samples onto the system. The multi-subscriber operation is facilitated through the use of a segmented sample tray. The operator conveniently selects the sample positions which can be programmed independently, simultaneously or randomly. The software is integrated with the accessory and the instrument to control motion and data acquisition. The software smoothly operates in the Microsoft Windows environment and can be easily linked to FTIR instrument software packages. An impressive means to increase lab productivity. The package includes the programmable control unit and software, a 60 position sample mounting tray, 60 sample cups and sample preparation components. 漫反射样品盘,漫反射附件,样品盘,旋转样品盘,自动漫反射,样品盘价格,漫反射样品盘价格可选:自动漫反射附件组成货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000漫反射附件带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统组合型HATR Part No #9110组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 漫反射附件和旋转样品盘提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.