反射涂料仪

1400℃碳化硅耐火涂料634-SIC能够降低组件的氧化，提供一个坚硬的表面和耐热循环性能。 产品型号1400℃碳化硅耐火涂料634-SIC技术参数1、湿膜覆盖：850ft22、固化温度：200°F-800°F3、工作温度：1400℃

天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

适用领域QBB型涂料比重杯适用于测定各种涂料及辅助材料、油料等液体的比重，容积分为37ml、50ml和100ml三种。产品介绍密度杯为圆柱型，大开口，方便倒入﹑倒出及清洗。密度杯紧密的不锈钢盖有一个向上的斜坡至顶部中央的小孔，使多余的样品材料可溢出而不产生气泡，这样可增加精度。密度杯由铝合金制成，使用公制单位，密度杯可盛规定量的液体。以下提供三种不同尺寸的密度杯。符合标准GB/T6750-1986 色漆和清漆密度的测定主要技术指标 100ml体积的ISO标准尺寸；50ml的特定体积；37ml体积的GB标准尺寸保证误差在1mg (0.001%)之内。测试在23°C±2°C进行，符合ISO标准。操作步骤 - 称重并记录清洁的密度杯的重量 - 调节密度杯和测试液的温度（20°C±0.5°C/68°F±1.0°F） - 将样品装入密度杯 - 无倾斜地盖上盖子，避免空气气泡 - 用吸水的布吸去溢出的液体 - 称量装满液体的密度杯型号对照表型号容积材质137ml不锈钢250ml不锈钢3100ml不锈钢 比重杯测密度的计算方法p = （m2 - m1）/ Vm2=杯和式样总重（g）m1=空杯重（g）V =杯的容积（mL）

适用领域涂料测试马口铁板可用于附着力、硬度、冲击、柔韧性、弯曲、干燥时间测定时，作为漆膜制备的载体。符合标准GB∕T 2520-2017 冷轧电镀锡钢板及钢带技术参数镀锡量：E4硬度等级：T52厚度：0.28mm每包数量：100片规格尺寸120*50*0.28mm（约1.6kg/包）150*70*0.28mm（约3kg/包）200*100*0.28mm（约5kg/包）

别名：建筑涂料透水性试验装置（漏斗）、卡斯通管

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途 专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

高斯反射镜是一种可变反射率反射镜,也是一种梯度反射率镜,Gaussian mirror, 这种高斯反射镜可以有效改善激光光束质量。高斯反射镜和变反射率镜的反射率是位置的函数，镜片反射率随着镜片上位置不同而不同。高斯反射镜能够在不稳腔中提供更加的激光模式，控制实现基模振荡而消除高阶模。高斯反射镜和梯度反射率镜能够改善输出激光的光束质量，特别是在低放大倍率情况下这种光束质量的改变更为明显。高斯反射镜提供的锥形反射率分布可以减少光场分布中的振荡，从而减少高功率激光应用中的光学损伤。高斯反射镜和变反射率镜典型的反射率分布是镜片中心的反射率最大，反射率从镜片中心到边缘依次按函数关系减低。 高斯反射镜和梯度反射率镜参数变反射率镜材料：熔炉石英，UVFS或BK7梯度反射率镜类型：平/平镜片, PCV, PCX高斯反射镜直径：19.05mm +0.0, -0.15 mm变反射率镜厚度：6 mm +/-0.1 mm梯度反射率镜平整度：&lambda /10高斯反射镜光洁度：20-10 scratch & dig变反射率镜平行度：10 arc sec梯度反射率镜净孔径：90%变反射率镜镀膜损伤阈值：10 J/cm2 @ 1064 nm for 10 ns pulses高斯反射镜,变反射率镜,梯度反射率镜询问服务：请直接在如下的询问栏里填写您的要求，然后复制后Email给我们，您会收到及时的报价回复。 Material 材料 Dimensions, mm尺寸 Thickness, mm厚度 Type类型PCXPCVFlat/FlatMeniscus Radius of Curvature, mm 曲率半径 Center wavelength, nm 中心波长 Wedge 倒角 Ro, % 中心反射率 Wm, mm Gaussian order, k 高斯级数 Quantity

BR-M5-30低镜面漫反射吸收板BR-M5-30 低镜面漫反射吸收板（低镜面反射率白板，反射参考板，标准铝镜）是一个标准的中性滤光片。可用来测量感光底层、光涂层、机加金属、半导体材料等材料的反射率。BR-M5-30感光底层直径为30mm，安置在一个坚硬的40×12mm大小的蓝色阳极氧化铝盒内并拧上盖作为保护。参数规格BR-M5-30外部尺寸(mm)40×12（厚度）内部尺寸(mm)30×5（厚度）重量(g)30光谱范围(nm)250 ~ 2000外壳材质铝 反射率5% 使用须知? 使用光谱仪时，BR-M5-30波段范围限于200～1100 nm? 用BR-M5-30将低反射率基准设为～5%? 中性滤光片的材料虽耐用，实际使用时请用户备加小心，以确保标准面不被破坏。? 清理BR-M5-30表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，并用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。该法操作简单，溶剂能均匀挥发后，确保镜头表面不遗留拖尾或污点。

30°镜面反射附件特点 30°固定入射角 便捷的水平样品台(20.8mm 小孔总直径) 适用于粉末样品 适用于色散光及高光强FT-IR 最小对齐网格30°镜面反射附件镜面反射是通过检测光滑或平坦样品表面类似镜面的反射光的一种无损分析技术。当入射光和反射光角度相同时认为是镜面反射。反射光强度和入射光角度、样品折射率、表面粗糙程度及样品吸光能力相关。固定角镜面反射附件P/N GS19820提供固定的30°角射向固体表面的入射光以得到任何平坦样品表面上的光谱信息。(此方法不能用于液体或凝胶的分析)固体样品由附件顶部的小孔加入。入射光由一片固定的镜片反射到样品表面，通过镜面反射到镜片上，最后到达检测器。使用参比镜片(推荐)收集参比光谱随后得到样品的光谱。我们提供两种不同直径的小孔塞(5/10mm)减小样品表面的研究面积。样品在小孔塞及样品室大小的限制下保持平整，适宜集中研究。应用： 表面涂层分析(光学高分子材料) 缺陷及杂质局部分析 易碎样品订购信息GS19820 30°角镜面反射附件包含以下配件：光学元件，镜面反射镜片，样品小孔塞(直径5/10mm)

STAN-SSL 低镜面反射率标准是一个中性滤光片标准。可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率。 STAN-SSL感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSL限于200-1100 nm。 用 STAN-SSL将低反射率基准设为~4%。 虽然中性滤光片的材料很耐用，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。 清理STAN-SSL 表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 STAN-HOLDER 标准反射支架 STAN-HOLDER 反射比标准固定器是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射图 技术指标 基底尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射材料: 黑色玻璃 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

STD-M 标准铝镜 标准反射镜是用于反射率测量的标准镜面反射参考物。复享科技的STD-M标准反射镜采用高反的Al材料热蒸发而成，能够提供紫外-可见-近红外（200-2500 nm）宽光谱谱段大于95%的高反射率。高反射率表面复享标准高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。 250nm-800nm 波长处反射率为~85%-90%。800-2500nm 反射率为~85%-98%。3、外壳铝材料，蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。典型图片STD-M 标准反射镜反射率图谱更多信息访问：http://www.ideaoptics.com产品性能产品参数 项目 值波段：200-2500 nm外壳：镜面的熔融石英镀膜；高稳定性外壳铝材料；蓝色阳极氧化铝壳并拧上盖过为保护； 镜面表面有保护膜铝镜表面为镜面反射，镜面的熔融石英镀膜防止铝镜表面氧化。使用注意事项*设置高反射率基准时可使用STD-M *STD-M铝膜由一层熔融石英镀膜保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表面，以避免污染和破坏。清理 STD-M表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头 的表面。然后单向在镜面拖动，之后自然晾干即可。一般不需擦拭。 溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 *裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STD-M时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。更多促销信息：http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=STD-M产品特点 1、镜面的熔融石英镀膜放置轻微刮擦，耐高温，性能稳定，避免铝和空气氧化；2、高反射率铝镜； 直径： 内径30 mm，外径40 mm；重量：33.5 g反射率：250-800 nm，80%-90%；800-2500 nm，85%-98%；

德国Hellma公司成立于1922年，是全球最著名的比色皿供应商与光学元件供应商，1995年荣获TUV Sudwest的DIN EN ISO 9001质保认证。为了确保优越品质，Hellma采用出自著名的德国Heraeus公司的SUPRASIL高级石英为原材料,每一件比色皿都经过了严格的质量审查。 Hellma一直为PE、Shimadzu、Jasco等全球各大仪器厂商提供OEM比色皿，Hellma比色皿完全适用于各厂牌各种型号光谱仪的需要！反射比色皿，用于反射分析，多种规格可选。反射比色皿692.091-OG/692-BF规格： 目录外径尺寸 H×D （mm）内径尺寸H×D ( mm)容量（ µ L）产品号备注692.091-OG25 x 3423 x 31.612000692-091-12无盖692.103-BF30 x 5027.5 x 4532000692-103-23无盖692.104-BF40.5 x 6039 x 55.673000692-104-23无盖 反射比色皿其它规格咨询请与我们联系！！各规格比色皿现货特惠促销！！！

型号规格：P042-1000品牌：PIKEEasiDiff&trade 漫反射附件是一款完全胜任常规测试、产品质量分析的产品。采用基座安装，适用于Varian、Shimadzu、Bruker、PE等公司的红外光谱仪。反射镜采用整体材料加工而成。千分尺精确微调样品杯的位置和优化调整的红外光路，使TM漫反射附件具有很好的光通量和信噪比。我们还提供镀金高级漫反射附件、近红外漫反射附件、仓外大样品漫反射附件、可加热漫反射附件和自动测量多样品漫反射附件。

1. 产品简介WR-D97-100漫反射白板（漫反射标准参考板，漫反射标准参照板，标准白板，漫反射标准板）材质为改性PTFE，为朗伯特性漫反射表面；外壳材料为阳极氧化铝；具有可水洗、高反射率和稳定性好的特性，可在室外环境下应用。2. 产品外观 3. 产品特点? 维护简单： PTFE材质，可水洗；表面损伤，可修复；? 高反射率： 漫反射高，可见段≥97%；? 高稳定性: 长时间使用，反射率不下降。4. 产品参数产品参数WR-D97-100WR-D97-100-STD保护壳材质金属铝盒金属铝盒外壳直径120mm120mm内部直径100mm100mm厚度20mm20mm波段范围250-2500nm250-2500nm 漫反射率≥92%@250-350nm≥96%@350-1700nm≥92%@1700-2500nm≥92%@250-350nm≥96%@350-1700nm≥92%@1700-2500nm计量证书无有备注： 尺寸公差为 ±0.1mm5. 反射光谱图

我们提供的部分反射镜系原装欧洲进口，不仅能够有效分离激光，而且还能适合高功率激光使用。这种高功率部分反射镜在规定的入射角而言，能够在单波长或宽波段上提供：按照用户要求比例的反射率和透射率。孚光精仪公司专卖进口部分反射镜,高功率部分反射镜,激光部分反射镜,Partial reflecting mirrors，最大的进口光学器件提供商！激光部分反射镜主要指标：基片尺寸公差：+0/-0.1mm基片波前畸变：基片表面质量：20/10 SD 40/20SD(曲面）镀膜粘附性和耐久性：Per MIL-C-675A净孔径： 90%激光损伤阈值:5-6J/cm2 for 10 ns pulses @1064nm The measured transmission curve for PR coating (R = 10% @ 1000-1070 nm 垂询格式： 如下是镜片的标准参数格式，请阁下仿照如下格式把您对镜片及其镀膜的要求发邮件给我们，我们会及时回复报价。 Substrate material 基片材料 CaF2, FS, ZnSe, UVFS, IRFSShape 形状Rectangular Round （方形还是圆形）Dimensions 尺寸 mm Thickness 厚度 mm Type 类型Other Flat/Flat Plano-Concave Plano-Convex Radius of Curvature (ROC) 曲率半径（对曲面镜而言） for curved substrates only eg ROC1=-50mm ROC2=+1000mm Surface figure L/4 L L/2 L/8 Surface quality 表面质量20/10 40/20 60/40 Parallelism error 平行误差10arcsec 1arcmin 3arcmin Wedge No wedge 30arcmin 1deg 2deg 3deg Coatings on Side1 S1面镀膜例如. PR(R=80+/-2%)@1064nmCoatings on Side2 S2 面镀膜例如. AR(R0,2%)@1064nmAngle of incidence (AOI) 入射角Comments 评论订购数量

STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层，光涂层，机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率，在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH，STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准（NIST号为NIST38060S, s/n 99G16）250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书，一个做为波长函数的反射率值数据表，和一张磁盘，磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 STAN-SSH感光底层直径为1.25" ，安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时，STAN-SSH限于200-1100 nm 设置高反射率基准时可使用STAN-SSH 虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着，用户还是应该在使用时备加小心，以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面，以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确，溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 裸露的金属层非常干净精密，不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏，用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心，以延长它的使用寿命。 STAN-HOLDER 反射比标准固定器 STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件，使用方便。 STAN-SSL镜面反射 技术指标 底层尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物: 镜面的熔融石英，带有保护外套 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)

FTIR单反射ATR附件专为固体样品，凝胶，液体样品的红外光谱分析而设计单次反射ATR。单反射ATR附件和红外吞吐量组合是样品标识的最佳方案，并且可以用于质量控制等应用。 根据特定的采样要求，我们的FTIR单反射ATR附件可以放入4种不同折射率的晶体。我们为低压或高压应用提供几个易于更换夹具，为受控制的压力提供带LCD读数的数字钳。根据客户的需求，我们给温控应用提供加热晶体板，给有毒材料提供密封固定钳，给高挥发性液体提供液体保持器和盖子。 FTIR单反射ATR附件特点 ?硒化锌，钻石，锗，硅晶板 ?高压，数字高压和测微样品夹具 ?易于更换的夹具和晶板 ?单或多反射晶板可用 FTIR单反射ATR附件技术规格入射角 45度 压力装置 旋转，连续可变压力 最大压力 10, 000 psi 晶体表面尺寸 1.8 mm 温度范围 环境温度至55或最高至120 oC 精度 +/- 0.5% 温度控制 数字与个人计算机控制 工作电压 2.5 A/24 VDC/50 W 尺寸（宽×深×高） 104 x 103 x 210 mm

Stage-RTL-T型平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与海洋光学的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量 Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGE-RTL-T型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离）完成反射测量； 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量；或使用两个光纤进行样品传输的测量。 STAGE-RTL-T型平台规格 尺寸(底座): 206.3 mm 尺寸 (样品区): 直径152.4 mm(样品架) 重: 4,500 g 高: 立杆可调至 400 mm

总览扫描镜用于激光材料加工，使激光束在工件上快速灵活地移动。 它们的背面通常被磨成片状。 由于这种特殊的设计，它们非常薄且轻，以实现方向的快速改变。扫描镜是 LAYERTEC 产品系列的重要组成部分。 为此目的开发的层设计提供了高性能稳定性和必要的反射角不变性。 尤其是金属基镜与介电层的组合可增加功率激光器的反射率，从而允许在加工区域区域直接成像。LAYERTEC 激光反射扫描镜 (用于材料加工),LAYERTEC 激光反射扫描镜 (用于材料加工)通用参数扫描镜按型号9条型号规格正/背面形状及涂层涂层参数Turning Mirror 103512Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRu(22.5°,355nm)99%Scanning Mirror 100490Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRs,p(0-45°,420-670nm)99.9%Turning Mirror 168353Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRs,p(0-45°,420-670nm)99.9%Scanning Mirror 111448Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRs,p(0-45°,470-490nm)99.8%Scanning Mirror 100542Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRs,p(0-45°,532nm)99.9%Turning Mirror 107010Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2)HRs,p(0-45°,633nm)99.95%HR(0°,580-745nm)99.95%HRs,p(45°,545-660nm)99.95%Scanning Mirror 126680Corning 7980 2F or equal&emptyv = 25  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRs,p(22.5-45°,960-1090nm)99.9%Scanning Mirror 112673Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 3.05  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRu(0-45°,1064nm)99.8%Scanning Mirror 100482Corning 7980 2F or equal&emptyv = 12.7  mmt = 6.35  mmFront&ensp Side (S2)planeRear&ensp Side (S1)planeFront&ensp Side (S2) HRu(0-45°,1064nm)99.8%扫描镜 按涂层波长共7条类型波长范围R(反射率)T(透射率)D(群延迟色散)入射角偏振规格种类HR355  nm  99  %22.5°unpol.1HR420  -  670  nm  99.9  %0  -  45°s,p-Pol.2HR470  -  490  nm  99.8  %0  -  45°s,p-Pol.1HR 532  nm  99.9  %0  -  45°s,p-Pol.1HRHRHR633  nm580  -  745  nm545  -  660  nm  99.95  %  99.95  %  99.95  %0  -  45°0°45°s,p-Pol.unpol.s,p-Pol.1HR960  -  1090  nm  99.9  %22.5  -  45°s,p-Pol.1HR1064  nm  99.8  %0  -  45°unpol.2公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机

型号规格：通用型品牌：PIKEUpIR&trade 漫反射附件是一款设计独特的仓外大样品漫反射附件产品。可以直接测量超大样品。测量平台位于仓外，大尺寸样品可直接置于样品台上。适用于Varian、Shimadzu、Bruker 、PE等公司的红外光谱仪。分中红外和近红外两种配置，可不取出样品，直接测量样品瓶中的样品。反射镜采用整体材料加工而成。精确设计的部件位置和优化调整的红外光路，使UpIRTM漫反射附件具有很好的光通量和信噪比。我们还提供镀金高级漫反射附件、近红外漫反射附件、可加热漫反射附件和自动测量多样品漫反射附件。

型号规格：TL011-1000品牌：PIKE30度Spec&trade 镜反射附件适用于用镜反射法测量薄膜样品。样品仅简单地铺在附件样品罩上，即可快速得到红外光谱。30度角镜反射附件包括3/8",1/4"和3/16"样品罩。得到的高质量光谱即可用于分析涂层结构又可用于测量涂层厚度。光路设计简单有效，光通量大。通用型设计，可直接用于Bruker、thermo、PE、Varian、Shimadzu以及国产红外光谱仪上。

SA-Stage-C 单点反射支架SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达80mm。规格 SA-Stage-C尺寸：Φ 150mm×厚10mm高度：垂直可调高度80mm材质：铝合金表面处理：亚光发黑适配产品： QR系列反射光纤用途：专为反射光纤测量而设计，能有效固定光纤探头，防止因抖动等人为因素影响检测效果。

漫反射光纤探头产品简介：德国art photonics公司提供多种特殊设计荧光探头，采用分叉或多通道分叉光纤束结构，具有“照明”管脚通道，将光从光源照射到样品，“收集”管脚，把反射光收集进分光计，光谱仪。区别于传统探头“6环绕1”的光纤束结构，art photonics探头采用“7环绕1”和“9环绕1”的设计。因为采用结构，收集反射信号和背散射信号要比传统的高得多。对于特殊的应用场景，可提供7 + 12设计:7根随机照明光纤和12根随机收集光纤。所有荧光探头的发光光纤都采用金属涂层光纤，使得发光光纤之间的串音干扰会被抑制，信噪比远高于采用聚合物涂层荧光探针。 荧光光纤探针可有两根、三根或四根光纤等光纤分叉管脚设计，采用圆对圆(R/R)或圆对线(R/L)结构。产品应用：实时反应监控 / 过程分析技术(PAT) / 结晶监控与筛选 / 特性分析 / 生物制药 / 生物燃料开发与生产产品特点：* 7+1, 9+1设计；* 金属涂层光纤抑制光纤相互间串音干扰；* 兼容所有光谱仪，分光计； * 探头直径尺寸薄至0.5mm；* 可定制各种探头, 光纤束结构产品示意图：产品技术参数：9+1 结构探头类型（9+1）100/50(9+1) 200/100探头光纤束9根环绕照明光纤-50/55/70P1根铝涂层收集光纤-100/110/140ALNA = 0.22 ± 0.029根环绕照明光纤-100/110/125P1根铝涂层收集光纤-200/220/270ALNA = 0.22 ± 0.02探头直径0.5—0.9 mm0.9—1.2 mm探头长度2.5-100 mm探头材料不锈钢、钛+PEEK组成保护套金属涂层PVC+Kevlar增强管、?3.2毫米连接头SMA 905(可提供FC/PC或ST)总长：两根腿长2m(可达20m)0.5m分叉Y型分叉，1.5m长度工作温度20℃至80℃(采用PEEK套管:-70℃-200℃)弯曲半径120mm长时间压力10bar（可定制）

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹棱镜THz ATR PrismsDownload THz Prisms Datasheet (PDF, 33 KB)我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。 由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数 材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5 Prisms are manufactured upon request. For price quotation and delivery please fill in our Request form.The finished parts of different dimensions are available from stock and supplied within a week.

产品介绍黑色聚烯烃塑料片是GB/T 9780-2013《建筑涂料涂层耐沾污性试验方法》标准里指定的试验底材，同时它也即将替代建筑涂料耐洗刷性测定所用的无石棉水泥加压板。洗刷仪专用塑料片，严格的控制着每批的产品的品质，保证了试验数据的重现性和可比性。适用标准GB/T 9780-2013建筑涂料涂层耐沾污性试验方法技术参数尺寸：432mm×165mm×（0.25±0.02）mm。光泽(60°)：8.0±0.5；反射率Y：（3.5±0.5）%；三刺激值L×a*×b*：(26.5±1)×(-0.5±0.1)×(-0.8±0.1)发货规格每箱1000片。

WR-D97系列 漫反射白板WR系列漫反射白板采用PTFE制成，其表面为朗伯漫反射表面。WR系列外壳材料为阳极氧化铝，具有防水、稳定性好的特性，在深紫外线应用下也没问题。? 在250-1500nm波长范围，反射率大于97%；? 在800-2200nm波长范围，反射率大于95%。WR系列的反射面直径分别为30mm、50mm、100mm。反射材料封装在一个小盒内，并有带螺纹的盖子以作保护。产品特点稳 定：中性好，对各波长都有同样的高光谱反射比；平整均匀的反射表面，各点的反射比相同实 用：优质的金属保护外壳，减少漫反射白板边缘损耗绝 配：高密度反射探头的最佳搭档，随时随地校正反射精准度规 格WR-30-DWR-30-D-STD保护壳材质金属铝盒金属铝盒外壳直径(mm)4040内部直径(mm)3030厚度(mm)1717波段范围(nm)350~2000350~2000反射率97%97%校准文件——CNAS