反射系定仪

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

Roadvista便携式定角度逆反射系数测试仪美国RoadVista 公司为了标志的现场测试，专门研发出922型手持式标志逆反射测试仪，它被设计用于测试道路标志与其他材料的逆反射系数（RA）。RoadVista 922 是一款手持式标志逆反射测试仪，用于在现场或试验室使用。它被设计为测量标志和其他材料的回射 (RA)。零误差满足MUTCD和交通标志等，后向反射率要求的手段。用户友好的922标配内置GPS、蓝牙、条形码阅读器、Pelican™ 携带容器、两个充电电池、数据集成软件，和专业的客户服务。触摸屏界面的设计充分考虑了现场操作员，使他们能够迅速地得到所有记录的符号信息。布局简单而直观的使运营商能够通过快速滚动的迹象，新增或调整的意见，或者检查GPS卫星连接，同时花费更少的时间。产品特征可以测试所有类型的逆反射材料，并且只需1 次测试符合 ASTM, CIE 和DIN 规范利用 annular geometry 技术，针对微晶类型（Micro-prismatic）的材料，不再需要测试2 次再取平均值双重观测角 0.2°与0.5°，可同时测量国际标准的亮度修正探头，与国际标准的“A”光源仅需要一个参考标准（标准配置内含），不需要任何修正系数内置充电电池液晶（LCD）触摸屏显示与控制内置 GPS 全球定位系统内置条形码读取器USB 计算机接口自动计算数据的平均值内置存储器，存储超过 4500 组测试数据系统携带箱可选带 IrDA 遥控的延长控制杆符合标准随着922可供选择的三种变化，仪器完全符合ASTM E1709与ASTM E2540、EN 12899-1、DIN 67520 和 EN ISO 20471。我们的亮度过滤器配合是无法比拟的，并允许使用不带校正因子的单一白色参考标准对其他颜色的极其精确测量。

7530自动反射调节仪 UGO公司最新型号的自动反射调节器可用于多种逃避实验，根据不同的反射条件设置可以进行穿梭实验、定时实验、冲突实验、十字穿梭实验等。包括可编程记录器、活动笼、电子刺激器。刺激方式可选择声音、光、电击等，刺激的延迟时间、持续时间、暂停时间和强度可调。通过选配的打印机打印结果或通过软件连接到计算机进行记录分析。 【订货信息】 产品型号 产品描述 产地 7530 自动反射调节仪(大鼠) UGO/ITALY 7530-M 自动反射调节仪(小鼠) UGO/ITALY

品牌：久滨型号：JB-106名称：逆反射系数测量仪一、产品概述：　　JB-106型逆反射系数测量仪（逆反射测量仪、反光标识检测仪），是依据国家相关标准研制开发的测量仪器，该仪器的特点是固定角度即观察角为0.2°，入射角-4°，在此几何条件下，测量各种逆反光材料值，这一测量值也是表征这类逆反射材料的关键数据。二、符合标准： 符合GB/T26377-2010,JJG059-2004，GB23254-2009。三、优势及特点： 仪器采用精密设计的光学传感系统，配以32位单片微机作为数据处理核心，采用彩色液晶屏作为显示器件，汉字提示，清晰直观，简单易用。测试数据可以存储、查询。 仪器内部自带可更换充电电池，使用方便。仪器还可选配打印机及WIFI功能。四、测量原理： 在一定几何条件下，在单位光照下，反光材料在单位面积上产生的亮度值。采用逆反射系数来表示，单位：cd/lx/m2。五、技术指标：1.测量范围：0～1999 cd/lx/m22.不确定度：5%3.观察角：0.2°4.入射角：-4°5.光源：暖白光LED光源6.接受器：V（λ）校正7.适用环境温度：-10°～ 40°8.相对湿度：80%9.外形尺寸：200x155x59 mm10.电源：9V/800mAh锂离子充电电池（可更换）

仪器简介：ZF-3紫外透射反射分析仪简介： 使用说明： （一）、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央，开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源，调节反射紫外灯架高度与角度，使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近，则萤光越强。 （二）、拍摄样品照片 （1）打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯，利用白炽灯照明，调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 （2）开启透射紫外灯电源，进行拍摄，应根据不同的样品确定不同的曝光时间，以清晰满意的底片。 （三）注意：如使用时不用暗箱，必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品： ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪（手提式紫外分析仪） ZF-6型三用紫外分析仪（台灯式ZF-1三用紫外分析仪） ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪（暗箱式三用紫外分析仪） ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪（暗箱式四用紫外分析仪） ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数：ZF-3紫外透射反射分析仪的技术参数： 1、电源：AC220V± 10%50HZ 2、功率透射：48W 64W 反射24W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射：ZF-3 200× 150mm 反射200× 80mm主要特点：ZF-3紫外透射反射分析仪的主要特点： ZF系列紫外射反射分析仪（配暗箱）是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小，是紫外分析仪的更新换代产品，它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察，可检测蛋白质，核甘酸等，在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量，对薄层分析，各种同功酶，纸层分析进行观察分析和摄影，并可作为PCR技术的专用仪器。 ZF-3型紫外透射反射分析仪装有一组透射紫外光源和二组反射紫外光源，分别供观察、分析和摄影用。 紫外透射分四组，供用户选择：一组254nm；二组302nm；三组365nm；四组白炽灯；紫外反射有二组；一组254nm；二组365nm。

仪器简介：ZF-2紫外透射反射分析仪简介： 使用说明： （一）、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央，开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源，调节反射紫外灯架高度与角度，使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近，则萤光越强。 （二）、拍摄样品照片 （1）打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯，利用白炽灯照明，调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 （2）开启透射紫外灯电源，进行拍摄，应根据不同的样品确定不同的曝光时间，以清晰满意的底片。 （三）注意：如使用时不用暗箱，必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品： ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪（手提式紫外分析仪） ZF-6型三用紫外分析仪（台灯式ZF-1三用紫外分析仪） ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪（暗箱式三用紫外分析仪） ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪（暗箱式四用紫外分析仪） ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数：ZF-2紫外透射反射分析仪的技术参数： 1、电源：AC220V± 10%50HZ 2、功率透射：64W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射：200× 150mm 4、外型尺寸 350× 260× 360 5、波长：302nm不锈钢面板，（配暗箱，附数码相机机架装置端口）。 主要特点：ZF-2紫外透射反射分析仪的主要特点： ZF系列紫外射反射分析仪（配暗箱）是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小，是紫外分析仪的更新换代产品，它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察，可检测蛋白质，核甘酸等，在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量，对薄层分析，各种同功酶，纸层分析进行观察分析和摄影，并可作为PCR技术的专用仪器。 本仪器装有一组透射紫外光源供观察、分析和摄影用。并专门设计了一只暗箱，用户不需要暗室，即可对样品进行观察分析，暗箱上备有专门的相机安装装置，暗箱观察室上装有防紫外线玻璃，它滤去95%以上的紫外线。

仪器简介：RQ反射仪 　 　 Order N.O. 订货号 PACK 包装/测定次数 品名 1.16970.0001 1set RQflex 反射仪 1.16955.0001 1set RQflex 加强型反射仪 RQ反射仪测试条 　 　 Order N.O. 订货号 PACK 包装/测定次数 品名 1.16894.0001 50 pH测试条 1.16895.0001 50 pH测试条 1.16996.0001 50 pH测试条 1.16892.0001 50 氨氮测试条 1.16899.0001 50 氨氮测试条 1.16977.0001 50 氨氮测试条 1.16722.0001 50 白葡萄酒中亚硫酸根测试条 1.16980.0001 50 定影池测试条 1.16993.0001 50 钙测试条 1.16988.0001 50 铬测试条 1.16990.0001 50 钴测试条 1.16731.0001 50 过氧化物测试条 1.16974.0001 50 过氧化物测试条 1.16975.0001 50 过乙酸测试条 1.16976.0001 50 过乙酸测试条 1.16989.0001 50 甲醛测试条 1.16992.0001 50 钾测试条 1.16123.0001 50 碱性磷酸酶测试条 1.16721.0001 50 酒石酸测试条 1.16981.0001 50 抗坏血酸测试条( 维生素C) 1.16730.0001 50 空白条 1.16978.0001 50 磷酸根测试条 1.16994.0001 50 铝测试条 1.16991.0001 50 锰测试条 1.16979.0001 50 钼测试条 1.16985.0001 50 镍测试条 1.16121.0001 50 牛奶中过氧化酶测试条 1.16120.0001 50 牛奶中尿素测试条 1.16720.0001 50 葡萄糖测试条 1.16998.0001 50 铅测试条 1.16898.0001 50 润滑油pH测试条 1.16126.0001 50 碳酸根硬度测试条 1.16982.0001 50 铁测试条 1.16983.0001 50 铁测试条 1.16984.0001 50 铜测试条 1.16971.0001 50 硝酸根测试条 1.16995.0001 50 硝酸根测试条 1.16987.0001 50 亚硫酸根测试条 1.16732.0001 50 亚硝酸根测试条 1.16973.0001 50 亚硝酸根测试条 1.16896.0001 50 余氯测试条 1.05851.0001 50 脂酶测试条 1.16136.0001 50 总糖测试条 1.16997.0001 50 总硬度测试条 RQ反射仪加强型配套试剂 　 　 1.17940.0001 100 余氯,总氯测试试剂 1.17941.0001 100 亚硝酸根测试试剂 1.17942.0001 100 磷酸根测试试剂 1.17943.0001 100 氰根测试试剂 1.17944.0001 100 氯根测试试剂 1.17945.0001 100 钾测试试剂技术参数：RQ反射仪采用独特的反射光测试原理进行测试，入射光被带颜色的测试条吸收；通过测量被吸收的光的强度，被分析物的浓度被计算出来。 RQ反射仪有两种类型可供客户来选择： 1，基本型反射仪和加强型反射仪主要特点：测试系统由RQ系列反射仪，条行码和RQ反射试纸条组成． 仪器 仪器采用独特的反射光测试原理，条行码自动识别技术，避免操作误差 无须对仪器进行校正 仪器的双光束检测，同时进行两次测量，增加了分析测试的准确性 携带方便，操作简单，结果快速可靠，尤其适合现场分析 在农业平衡施肥，食品安全检测，葡萄酒酿造，环保等领域得到了广泛运用，并获得全球众多奖项。 有了默克RQ反射仪，从此您就不必等待许多天，用复杂的大型机器来对土壤植株样品进行分析测试，在田间地头，通过简单的几个按键，插入试纸条，几分钟您可以完成对土壤植株样本的测试并得到准确的数据！即使您从来没有使用过分析仪器，您依然可以自如的操作并得到准确的结果！

SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。

顶部调整反射镜调整架/镜架适用于紧凑空间。它们可让您轻松从顶端进行翻转/倾斜调整，无需担心遮挡光束。调节时不会遮挡光束降低了激光所造成的相关损伤的风险非常适用于激光腔型材更薄，可安装于狭小的空间内有关更多信息，请参阅Newport 官网。

Newport的工业级顶部调节式反射镜调整架是专门为“Set and forget”的OEM应用而设计的。 它们均具有工业级应用所需的关键特征：1）狭小和紧凑的几何形状，可用于有限的空间； 2）六角键（无旋钮）调节器，可节省空间并防止干预。3）额外的刚性弹簧，可以抵抗冲击和振动引起的错位。4）可选的锁定功能，能增加长期稳定性。能节省空间的纤薄外形设计定位孔前部或后部装载通过定位螺钉或扣环进行光学安装可锁定的致动器有关更多信息，请参阅Newport 官网。

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

反射高能电子衍射仪（Reflection High-Energy Electron Diffraction）是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10～30KeV的单能电子掠射到晶体表面，通过衍射斑点获得薄膜厚度，组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。　　R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪，以便于操作者使用的人性化设计，稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压，束流强度，聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理，能实现极低放气率◆经久耐用，稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令 　　低电流反射高能电子衍射仪（Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction）是利用微通道板技术，大幅减少对样品损伤的同时，并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤（相当于普通RHEED的1/500-1/2800）◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令

SSR-ER太阳光谱反射率仪 SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。 采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。 默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。 应用领域： 航空领域：热控制涂层 控制领域：镀膜、涂层 太阳能领域：吸收涂层、反射涂层、镜面和反射镜 技术参数： 定制测量头：标配测量头用来测量平面样品材料，可定制测量头用来测量曲面材料样品，如13mm直径圆柱面。 手柄：便于测量使用 12V便携供电套装：可连续测量5个小时的12V电池、充电器、运输箱 分辨率：LCD显示反射比、吸收比和透射比精确至0.001 重复性：±0.003 准确性：±0.002 漂移：5分钟预热，漂移小于每小时±1%或者读数+0.003 温度：电子组件最高操作温度60℃，测量头最高50℃ 湿度：最大80% 标准体：提供漫反射和镜面反射标准体，经过NBS定标 测量端口：1英寸直径，最小样品直径1.1英寸， 光源：插拔式可换钨丝灯 供电：100-240VAC通用电源 线缆：标配长度1.5m，可选长度10m 重量：测量头0.9kg，电子模块1.8kg，透射率附件4.5kg 透射率测量附件：SSR-T透射率测量附件可以和SSR-R反射测量头兼容进行样品太阳辐射透射率测量，透射率测量角度从法线方向至60°可调，采用漫反射光源 照明并测量。 SSR-T和SSR-R安装示意图如下： 订货指南： SSR-ER 太阳光谱反射率仪：包括电子模块SSR-E ，反射率测量头SSR-R，2个白瓷体，1个镜面标准体，黑体，6’信号电缆，卤素光源，光谱性能标准，通用电源，电源线和运输箱 SSR-ER-12V 太阳光谱反射率仪：包括电子模块SSR-E ，具有手柄的反射率测量头SSR-ER，可实现5个小时连续测量的12v电池和充电器，2个白瓷体，1个镜面标准体，黑体，6’信号电缆，卤素光源，光谱性能标准，通用电源，电源线和运输箱 可选项： SSR-T 透射率测量附件 产地：美国

我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。

1. 产品概述RM 1000 和 RM 2000 光谱反射仪可测量表面光滑或粗糙的平面或弯曲样品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert软件计算单膜或层叠的厚度、消光系数和折射率。厚度分别为 2 nm 和 50 μm （RM 2000） 或 100 μm （RM 1000） 的单片、层叠和基板可以在 UV-VIS-NIR 光谱范围内进行分析。2. 主要功能与优势突破折光率测量的限SENTECH反射仪通过样品的高度和倾斜调整以及光学布局的高光导率，具有精密的单光束反射率测量功能，允许对n和k进行可重复的测量，在粗糙表面上进行测量，以及对非常薄的薄膜进行厚度测量。紫外到近红外光谱范围RM1000 410 纳米 – 1000 纳米RM2000 200 纳米 – 1000 纳米高分辨率映射RM 1000 和 RM 2000 反射仪可选配 x-y 成像台和成像软件以及用于小光斑尺寸的物镜。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 和 RM 2000 代表我们的反射仪。桌面设备包括高度稳定的光源、带有自动准直望远镜和显微镜的反射光学器件、摄像机、高度和倾斜度可调的样品平台、光谱光度计和电源。它可以选配 x-y 成像台和成像软件，以及用于第二种光斑尺寸的物镜。除了薄膜厚度和光学常数外，薄膜的组成（例如氮化镓上的AlGaN，硅上的SiGe），增透膜（例如在纹理硅太阳能电池上，紫外线敏感的GaN器件）以及小型医疗支架上的涂层都可以通过我们的反射仪进行测量。这些反射仪支持微电子、微系统技术、光电子、玻璃涂层、平板技术、生命科学、生物技术等域的应用。用于我们的反射仪 RM 1000 / 2000 的综合性、以配方为导向的 SENTECH FTPadv EXPERT 软件包括测量设置、数据采集、建模、拟合和报告。已经内置了一个包含预定义、客户验证和即用型应用程序的广泛数据库。“自动建模”选项允许从光谱库中自动选择样本模型。基于SENTECH在椭圆偏振光谱方面的业知识，庞大的材料库和各种色散模型使我们的光谱反射仪能够分析几乎所有的材料和薄膜。操作员可以很容易地使用新的光学数据更新数据库。SENTECH通过椭圆偏振光谱法测量具有未知光学特性的新材料，为客户提供支持。

隔热材料太阳光反射比、近红外光反射比测试系统（JP-TL2800）适用标准：GB/T25261-2018《建筑用反射隔热材料》；JG/T235-2014《建筑反射隔热涂料》；GB_T 25968-2010 材料太阳透射比、太阳吸收比试验方法。主要特点 ：1.强劲的仪器性能：极其优良的光学系统，先进的电子学系统，高水准的机械系统，保证了0.010%T的超低杂散光，高精度PID温度控制及24位电压数字采样。2.稳定可靠的品质：双光束动态反馈比例记录测光系统保证了基线稳定性，氘灯、光电倍增管等关键器件均用进口件，保证仪器的稳定可靠和长寿命。3.精准的测量：采用进口优质全息光栅，进一步降低仪器的杂散光，使仪器分析更加准确。4.轻松高效的人机对话：基于Windows环境设计的JP系列智能型建筑涂料太阳光反射比、吸收比、半球发射率、等效热阻中文操作软件，提供了丰富的仪器控制和操作功能，简单易用，灵活高效，轻松满足使用者的分析需求。5.优异的可扩展性：反射光学积分球可选专用附件，使仪器的应用范围大大扩展。6.设备维护简单方便：独特的插座式钨灯和氘灯，换灯时免去光学调试，使设备仪器调试、维护更加简单方便，真空压力机进行油液的检测。7.日志记录功能：自动记录用户的操作；日志文件采用更为可靠的数据库格式保存；管理员可对日志进行分类查阅和其他处理。8.采用综合的光学及半球发射一体装置测试系统，性价比高，便于测试。9.质量控制功能：可根据用户的设置对测量数据进行监控；超出控制范围的数据系统将会显示提示信息、进行颜色标记或自动重新测量。10.报告输出功能：可实现与其他系统共享数据的功能；可将测量结果保存为Microsoft Word格式、Microsoft Excel格式、文本文件格式；可对报告格式进行个性化的设置；可提前预览结果报告的打印效果。技术参数：

反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架，可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头，并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆，可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统，用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式，配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备，包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器；一个反射和传送的样品盒；一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求，我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合，我们开发了增强型的STAGE-RM平台，透反射样品支架是常用的光谱测量附件，与反射探头共用可实现反射光谱测量，与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜，型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件，例如光源，光谱仪，光纤，积分球等，可以联系韵翔光电。

1. 产品概述FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。2. 主要功能与优势n、k 和厚度的测量该软件包设计用于 R（λ） 和 T（λ） 测量的高分析。多层分析可以测量单层薄膜和层叠的每一层的薄膜厚度和折射率。大量的色散模型集成色散模型用于描述所有常见材料的光学特性。通过使用快速拟合算法改变模型参数，将计算出的光谱调整为测量的光谱。3. 灵活性和模块化 SENTECH FTPadv Expert 软件包用于光谱数据的高分析，根据反射和透射测量结果确定薄膜厚度、折射率和消光系数。它扩展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探头的标准软件包，适用于更复杂的应用，包括光学特性未知或不稳定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上测量单个透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系数。该软件允许分析复杂的层堆栈，并且可以确定堆栈的每一层的参数。我们的FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。该软件包包括一个大型且可扩展的材料库，该库基于表格材料文件以及参数化色散模型。FTPadv Expert 软件可选用于膜厚探头 FTPadv，以及反射仪 RM 1000 和 RM 2000 软件包的一部分。

光谱反射仪（SR）系列是一款相对较低成本和操作简单的工具。SR 系列特征：简单易操作 最佳系统性能基于先进的光学设计 基于阵列的探测器系统保证快速测量 测量薄膜厚度和折射率可达5层 允许在毫秒内获得反射、透射和吸收光谱 可用于实时或在线厚度，折射率的监测 系统具有全面的光学常数数据库 先进的TFprobe软件允许用户使用NK表、分散或有效介质近似（EMA）每个单独的膜。 可升级到MSP（显微分光光度计）系统，SRM映射系统，多通道系统，大点的直接测量图案或功能结构 适用于多种不同厚度的基材 各种附件可用于特殊配置，如运行曲线测量曲面 2D和3D输出图形和用户友好的数据管理接口光谱反射仪型号：SR100SR300SR500

品牌: 闻奕光电 货号: FT-RT 颜色分类: FT-RT-30 FT-IS50-30（不含积分球和光纤） 装修及施工内容: wyopticsFT系列 反射与透射支架台FT-RT 系列平台是一种新型采样系统，适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。此平台与闻奕光电的光谱仪和光源有多种组合方式，配合进行反射和传输测量FT-RT 型平台使用非常广泛：可以将探头放置在样品上或样品下（从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离）完成反射测量； 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量；或使用两个光纤进行样品传输的测量。采用30cm长的滑台（可以定制其他长度），本产品包含3个准直镜，可以加载TA接头或者SMA905接头的光纤，用于液体/固体样品的透射/吸收，荧光与散射测量以及漫反射测量。 FT-RT-30 型平台规格工程规格 FT-RT-30底座尺寸150.0 mm直径样品区域尺寸80 mm直径重量 1.6 kg横杆高度可调节至300毫米（可定制长度）组成部分样品盘，横杆，适配器，准直透镜（2）和光阱准直透镜波长185-2500 nm台体材料阳极氧化铝积分球适配器（可选）FT-ISxx-30，用于连接30毫米或50毫米的ISP系列积分球

光纤反射测试支架 上海闻奕光电的反射型光学测量台是光学多角度反射率光谱测量的一个经典案例，本公司主要针对科研、工业检测、食品安全、医疗美容等领域有较为丰富的经验。 上海闻奕光电科技有限公司生产的反射型光学反射率测试平台具有中心稳，多方向控制光纤入射和出射角度的特点。广泛用于需要非固定角度测量。 闻奕光电的反射是光谱测量的基本手段。实现反射光谱测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 闻奕光电利用这些配置丰富的设备，就可以搭建各种常见的光谱测量系统。反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。本产品也可以用来固定光纤探头和光源，具有非常好的灵活性和实用性。更多详细信息：

■ 产品说明稳态热反射测试法将基于雷射热反射的技术（TDTR、FDTR）与稳态热传导技术结合再一起，进行快速、小尺度的稳态量测。宽广的热传导係数测试范围从0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能测试小至几百微米的样品。透过光纤组件和雷射的系统提供便利的使用，可选配的FDTR测量模组量测迳向、横向的热传导，以及材料边界热阻抗。搭配自动平台最大可以做到100mm的热传导分佈图。SSTR-F是由维吉尼亚大学ExSiTE 实验室Professor Patrick Hopkins 开发。For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019) https://doi.org/10.1063/1.5056182

spectralon目标板特点：耐用，可水洗不同反射率不受恶劣环境影响应用：背光照明环境测试目标板激光目标板光学反射器遥感目标板模拟靶标 Spectralon目标板的漫反射特性使其在较广范围的光照条件下能保持恒定对比度，故Spectralon目标板完全适合要求长期暴露在严苛环境条件下的实验室及野外应用。 标准的Spectralon目标板尺寸为是24平方英寸，它有白色或灰色两种材质，并被装在表面粗糙的阳极处理铝框中。它有白色或灰色两种材质，并被装在表面粗糙的阳极处理铝框中。每一份Spectralon目标板，我们附带提供在250~2500nm的波长范围内每隔50 nm的校准数据。所有校准数据可溯源至美国国家标准与技术研究院（NIST）。所有目标板都具有良好的热稳定性和化学稳定性且易于清洁。我们还能定制具有各种不同反射比值、面积最大达3*3m的目标板。 Spectralon对比目标板完全适合下列应用：摄像机、光密度计的校准，传输介质的对比度传递，以及在野外条件下的成像系统测试。这类具有化学惰性的目标板耐用、耐洗，它们由并排装在同一个阳极处理铝框上的白色漫反射面板（反射比为99%）和深灰色漫反射面板（反射比为10%）组成。 Spectralon多级目标板由并排安装的四块板组成，这四块板的反射比值分别为99%、50%、25%和12%，且每块面板与相邻面板之间的光密度差值和对比度相同。订货信息和规格Spectralon漫反射目标板型号 料号 漫反射率 尺寸inch 安装尺寸 (L x W x H inches)SRT-02-020 AA-00823-900 2% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-02-050 AA-00821-900 2% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-02-100 AA-00822-900 2% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-05-020 AA-00823-800 5% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-05-050 AA-00821-800 5% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-05-100 AA-00822-800 5% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-10-020 AA-00823-700 10% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-10-050 AA-00821-700 10% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-10-100 AA-00822-700 10% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-20-020 AA-00823-600 20% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-20-050 AA-00821-600 20% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-20-100 AA-00822-600 20% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-40-020 AA-00823-500 40% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-40-050 AA-00821-500 40% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-40-100 AA-00822-500 40% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-50-020 AA-00823-400 50% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-50-050 AA-00821-400 50% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-50-100 AA-00822-400 50% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-50-120 AA-00827-400 50% 12 x 12 12.25 x 12.25 x 0.65SRT-50-180 AA-00826-400 50% 18 x 18 18.25 x 18.25 x 0.65SRT-50-240 AA-00837-400 50% 24 x 24 24.25 x 24.25 x 0.65SRT-60-020 AA-00823-300 60% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-60-050 AA-00821-300 60% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-60-100 AA-00822-300 60% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-75-020 AA-00823-200 75% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-75-050 AA-00821-200 75% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-75-100 AA-00822-200 75% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-75-120 AA-00827-200 75% 12 x 12 12.25 x 12.25 x 0.65SRT-75-180 AA-00826-200 75% 18 x 18 18.25 x 18.25 x 0.65SRT-75-240 AA-00837-200 75% 24 x 24 24.25 x 24.25 x 0.65SRT-80-020 AA-00823-100 80% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-80-050 AA-00821-100 80% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-80-100 AA-00822-100 80% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-99-020 AA-00823-000 99% 2 x 2 2.25 x 2.25 x 0.65SRT-99-050 AA-00821-000 99% 5 x 5 5.25 x 5.25 x 0.65SRT-99-100 AA-00822-000 99% 10 x 10 10.25 x 10.25 x 0.65SRT-99-120 AA-00827-000 99% 12 x 12 12.25 x 12.25 x 0.65SRT-99-180 AA-00826-000 99% 18 x 18 18.25 x 18.25 x 0.65SRT-99-240 AA-00837-000 99% 24 x 24 24.25 x 24.25 x 0.65

LED5000 HDI照明器能有效地阻隔环境光线并为反射最小的要求苛刻的表面提供照明。该产品基于圆顶照明器的概念，通过圆顶形状产生非常均匀一致的光线。圆顶（Leica FlexiDome）的机械设计灵活，使用硅橡胶，让您可以很容易地取拿样本。您可以节省大量的时间，因为样本可以在聚焦状态下进行校正。高度漫射的低对比度照明优化了动态范围，因此可以出色地适应于关键图像采集，如LAS蒙太奇或Leica StereoExplorer应用程序。您的优势Leica FlexiDome即使在聚焦状态也能保证自由取拿样本。这样就简化了样本的重新定位，同时节省了大量的时间。结果更好且可重复动态范围的优化往往使新的信息可见。这样通常会使数字图像处理结果得到改善。高度漫射照明间接的、均匀的光线照亮反射最小的高难度表面。

漫反射涂料-Spectraflect Spectraflect涂料采用硫酸钡及专有配方配制而成，采用这种涂料制成的表面具有近乎完美的漫反射特性。Spectraflect在紫外-可见-近红外光谱区内通常被用作反射涂料，且在300至2400 nm的波长范围内最为有效， 其在可见区域内的反射率通常可达96%-98%。Spectraflect在100° C左右的温度下具有热稳定性。其损伤阈值为1.7 J/cm2。它可通过喷涂的方式被轻松涂覆在任何基板上，Labsphere向客户提供喷涂服务，并在大型或复杂的项目中进行现场喷涂。 应用光学元器件积分球反射灯罩涂层光谱漫反射板等产品特点： 高反射比高朗伯特性光学性能稳定无毒

一、标线逆反射系数测量仪BX-II产品简介：逆反射标线测量仪是测量反光标线光学性能的专用仪器。标准GB/T16311-2004《道路交通标线质量要求和检测方法》，交通行业标准JT/T280-2004《路面标线涂料》都对反光标线夜间可见度的光学性能规定了技术指标，逆反射标线测量仪为控制施工质量提供了测量仪器。二、标线逆反射系数测量仪BX-II技术参数：◆测量范围： 0～1999 (单位：cd/lx/m² ) ◆确定度： 5% ◆观察角： 1.05° ◆入射角： 88.76° ◆光源色温： A光源 色温2856K ◆接受器： V&fnof 校正 ◆适用环境溫度： -20°～ 50° ◆一次充电连续工作时间： 10小时◆外形尺寸：780X420X180mm◆重量：10kg三、标线逆反射系数测量仪详细描述：反光标线亮度，国际上用逆反射系数来表示，单位mcd/lx/m2。其物理意义是：在单位光照条件下，单位面积上产生的亮度值。将仪器置于被测标线的上面，该仪器以数字的形式显示出逆反射系数值，它反映了行车条件下司机对标线反光亮度的客观评价。该仪器由测量主机、电源、充电器、标准板组成。四、标线逆反射系数测量仪产品特点：◆能分白天、夜间、野外、室内，全天候测量； ◆仪器操作简单，以直观的数字显示出逆反射系数值； ◆仪器配备一套标准板，采用数据传递方式进行标定，准确度高； ◆测量几何条件为观察角1.05°，入射角88.76°，符合**标准《道路交通标准质量要求和检测方法》； ◆仪器体积小，重量轻，携带方便

1. 产品概要SENTECH RM 1000 QC反射仪设计用于快速简单地测量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工业生产过程中的质量控制。该工具涵盖 20 nm 至 50 μm 的膜厚范围，可用于 100 μm 的测试图案。2. 主要功能与优势半自动桌面质量控制SENTECH RM 1000 QC是一款光学反射仪，用于对图案化基板上的薄膜和散装材料进行质量控制。它是小规模和大规模生产中随机抽样、工具鉴定和统计过程控制 （SPC） 的理想选择。通过手动晶圆处理对图案化晶圆进行质量控制SENTECH RM 1000 QC 易于手动装载。然后，对于图案化的 200 mm 晶圆，模式识别、映射测量、分析以及报告结果和统计信息都自动化。集成到实验室和晶圆厂环境中SENTECH RM 1000 QC 可选择通过 SECS/GEM 集成到制造执行系统中。3. 灵活性和模块化SENTECH RM 1000 QC 光谱反射仪提供法向入射的反射率光谱，SENTECH SpectraRay/4 软件分析的参数包括薄膜厚度、吸收、成分、能隙、颜色和光谱带宽。模式识别用于测量结构化样本。该工具的操作流程其简单，只需放置晶圆，启动自动化过程，工具就会返回准确的模式识别、测量和映射，以及精确、可重复的统计结果。SpectraRay/4 是用于 SENTECH RM 1000 QC 的综合光谱椭偏仪软件。它包括两种操作模式：配方模式和交互模式。配方模式允许轻松执行常规应用程序。交互模式通过交互式图形用户界面引导椭圆测量。

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射 波段区间 335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间10秒/次；90秒预热 光源 VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

仪器简介：微型化NIR/MIR光谱分析仪 微反射镜光谱仪装置，类似于传统的扫描光谱仪，跟衍射光栅相结合的扫描微反射镜是必要的组成元件。通过周期性地散射复色光，分解光谱为单个探测器所探测。光可以直接或通过光纤耦合来测量，样品固定方便。探测器根据应用可以进行热制冷。低噪声的前置放大器允许大动态范围的高精度测量。经USB或RS-485接口，可以跟PC相连接，采集数据可进一步分析处理。技术参数：指标： 参数 NIR MIR 波长范围 0.6-1.7um 0.9-2.1um 2.5-5um 5-10um 光谱精度 9nm 12nm 30nm 50nm 信噪比 7000:1 1000:1 500:1 500:1 波长准确度 0.5nm 2nm 基本测量时间 4ms 4ms 外观尺寸 107× 66× 80mm 107× 110× 80mm 电源 9-18V/18-36V主要特点：特点： 快速高效地测量 紧凑、便携 抗振、重量轻

美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统是专业为逆反射材料光度测试和反射材料光度测试而设计的材料光度测试系统,为反光材料提供完整的逆反射测试方案,广泛用于汽车照明和光源,反光测试和逆反射材料研发检测.反光材料光度测试系统940D可以与Gamma Scientific公司的flexoptometer联合使用,测量红色和白色频闪式防撞灯的有效强度（流明/米2每秒）和发光强度（新烛光二）,也可以用于路障指示灯或其他警示灯的光度测量。反光材料光度测试系统940D还可以配置伽玛科学该光谱仪系统进行夜间的颜色测量反射镜和空间的颜色测量汽车照明和光源。反光材料光度测试系统940D软件是Windows 7兼容的软件,工作人员能够在几分钟内完成高精度的测量。简化的后向反射测量通过默认的测量序列符合ASTM e809程序A和B，反光材料。或利用SAE配置测量光源如大灯、尾灯、消息和警告灯和LED。单、向量和矩阵的测量容易编程数据采集宏序列文件是可能的。美国RoadVista 940D反光材料光度测试系统特征提供完整、准确的反射测量三轴仪6.5弧秒（0.0018度）的决议符合标准观察Angle Positioner（OAP）3弧秒（0.0008度）符合ASTM和建议用光校正硅探测器感光，F1′＜2%稳定和均匀