平面度检测

一、产品介绍：平面波动量仪是检测局部平面度高效、方便的检测工具。 可配置不同精度的检测表（千分表、电感测微仪）以适应不同检测精度的要求。平面波动量仪是检测局部平面度度高效、方便的检测工具，该产品可选配不同精度的检测仪表（如：千分表、电感测微仪），以适应不同检测精度的要求。二、技术参数：长度宽度高度净重毛重250(mm) 50(mm)不带表头60（mm）2.5(kg)3.5(kg)带表头100（mm）

精准精度3um，测量结果即真值，无需任何补偿。Z轴可以自动对焦，适应不同厚度产品。产能一天可以测量20000片。快速测量全部影像尺寸0.3秒/片专检平面度、高度、厚度、轮廓度。1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。* 精度3um； * 一天可以测量20000片； * 测量全部影像尺寸0.3秒/片； * 专检平面度、高度、厚度、轮廓度等

精准精度3um，测量结果即真值，无需任何补偿。Z轴可以自动对焦，适应不同厚度产品。产能一天可以测量20000片。快速测量全部影像尺寸0.3秒/片专检平面度、高度、厚度、轮廓度。1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。

标注：、购买前务必与我司确认*终价格。店铺产品所有报价均为未税单价（可议价），店铺标注价格不作为*终成交单价，如果购买数量较多的话可以找客服沟通确认*终单价！！！济南千斗公司主要代理经营日本小野/日置/欧姆龙/图技/大菱/DKK/拓普康/佐藤/京都电子密度计/妙德压力传感器/鹤贺机电/强力脱磁器/东京精密测针等品牌，产品一手货源，价格极具优势，欢迎咨询洽谈。我公司是韩国东都位移传感器/测量仪，东山光栅尺的授权代理商，愿与贵方建立长期稳定合作关系，双赢共进。 DONG-DO韩国东都ML-40PT平面度在线检测仪测量仪一．DONG-DO韩国东都ML-40PT测量仪特性：1配合位移传感器使用，1~32通道多种选择2可测量高度/厚度/内径/外径/平面度/锥度/圆度/跳动度等3多种计算模式：+，-，x，/，avg,max,min,M-m4可通过直方图直观判断测量状况5接口形式：可编程控制器接口/RS232C通信接口/I/O接口6具有断电记忆/可选SD卡存储器/参数备份功能7高精密度/高可靠性/支持升级二．DONG-DO韩国东都ML-40PT测量仪详细参数1显示：7"彩色液晶显示屏2分辨率：1/1000mm or 1/100(1/10000mm)3输入通道：1-32通道可选择；4数据通信：RS232C/RS485 5输入功率：AC100~220V 50HZ/60HZ6兼容探头：兼容东都DP-S4系列，DP-10系列，DP-25位移传感器7尺寸：360X290X140mm韩国东都位移传感器可应用于机械零部件及其电子部品的精度检测，在自动化行业应用非常广泛，对于汽车零部件如轴类/盘类等及手机外壳屏幕等的各种参数如：圆度、同心度、平行度、平面度、锥度等几何要素检测非常灵活，配套MP系列显示仪表功能强大多界面显示，曲线、柱形图、时时显示、公差判断、数据输出等都可以轻松实现，通过INPUT接口也可以实现远程控制。 DONGD-DO位移传感器在同类产品中具有价格低廉、稳定性好、精度高的特点。可以替代其他昂贵品牌的产品， 产品种类丰富量程1mm~45mm都可以选择。

* 精度3um； * 一天可以测量20000片； * 测量全部影像尺寸0.3秒/片； * 专检平面度、高度、厚度、轮廓度等1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。

CSI-Z010节育器平面度测试仪供应节育器平面度测试仪：采用5.7英寸（320×240）液晶触控显示屏，中文菜单显示。公称规格、试验载荷、打印、测试、上行、下行、时间、标定。由键盘控制液晶显示屏上的菜单，自动记录变形量数据，平均值、值、小值等；自动输出数据报告，机载打印测试数据。执行标准：节育器平面度测试仪完全符合GB11234-2006《宫腔形宫内节育器》项下5.3.3条款的规定。技术参数：变形量范围：0.001～12.5mm 误差范围为±O.002mm移 动 距 离：0～20mm水平面误差:±O.001mm可测试各种节育器的平面度净重：10.5kg 外形尺寸：400×290×275（mm)

广东天行测量技术有限公司是一家高新科技企业,公司拥有多项高新技术产品、专利技术和软件版权。是一家有着多年影像、激光、快速检测设备的生产、研发经验的中国智造型企业。我们多年深入用户一线,切实际的了解用户行业真实需求,提出多种更适合用户自身的测量和检测解决方案,以满足客户日益提高的品质需求.因为专业，所以更好T-KING认为如果一个软件什么都可以干,那意味着什么都不好用. T-KING软件以其专业的特性,期待为用户提供专业的软件。细节决定成败一个好软件与差软件的最大差别不是功能上的差别,而是在实现功能的过程中细节的差别,T-KING认为: 如果能够减少用户的一次鼠标点击,一次键盘输入,这种努力都值得付出。好软件,用户造T-KING不认为一群只懂计算机的开发人员能够设计出好软件,好软件的真正设计者只能是我们的广大用户,所以我们一直努力缩短与用户的距离,我们渴望用户对T-KING的赞誉,同时更希望用户对T-KING的苛刻责难,T-KING认为正是这些精益求精的用户,才是推动T-KING成长的最大动力。

中图仪器SJ6000国产单频激光干涉仪集光、机、电、计算机等技术于一体，产品采用进口高性能氦氖激光器，它利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000国产单频激光干涉仪可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。工作原理激光干涉仪利用激光光束的干涉原理来测量物体的形状和表面的高度差异。其原理是基于两束相干光在空间交叉的地方发生干涉，形成干涉条纹，通过测量干涉条纹的变化来推断被测量物体的参数。测量原理激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数；位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品特点 精度高SJ6000激光干涉仪以干涉技术为核心，其光波可直接对米进行定义。采用激光双纵模热稳频技术，可实现高精度、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出；采用高精度环境补偿模块，可实现激光波长和材料的自动补偿；干涉镜与主机分离设计，避免干涉镜受热影响，保证干涉光路稳定可靠。功能广（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。软件强（1）友好的人机界面；（2）丰富的应用功能模块；（3）向导式的操作流程；（4）简洁化的记录管理；（5）支持中文、英文和俄文界面；（6）支持企业专属模板定制。 SJ6000国产激光干涉仪直线导轨平行度平台平面度数控机床线性测量非接触式、高精度的特点使其适用于各种复杂的运动系统，不仅仅局限于运动导轨，还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能，减少维护成本和停机时间，为制造业提供了一种精密的测量检测方式。部分技术指标主机稳频精度：0.05ppm动态采集频率：50 kHz预热时间：≤ 6分钟工作温度范围：(0~40)℃存储温度范围：(-20~70)℃环境湿度：(0~95)%RH 环境补偿单元空气温度传感器：±0.1℃ (0~40)℃，分辨力0.01℃材料温度传感器：±0.1℃ (0~55)℃，分辨力0.01℃空气湿度传感器：±6%RH (0~95)%RH大气压力传感器：±0.1kPa (65~115)kPa线性测量距离：(0~80)m (无需远距离线性附件)角度测量范围：±10°平面度测量范围：±1.5mm直线度测量范围：±3mm垂直度测量范围：±3/M mm/m 便携箱尺寸：613*460*230mm标准配置重量：18kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

产品简介中图仪器SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪基于白光干涉原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

平面CT 平面CT专业用于检测和分析板状结构器件内部质量与结构情况，适用PCB板，BGA、SMT，集成芯片等器件和加工工艺的质量评定与分析。重构出扫描区三维断层图像，实现对板状器件缺陷的空间定位，以及逆向生成电路板CAD设计。该产品技术已获得国家发明专利。检测对象印刷电路板，电子与机械，模块，机电，组件和插头，半导体封装与互连，微系统，传感器，执行器，MEMS和MOEMS主要技术参数●管电压：160kV或225kV●管类型：开放式微焦点射线管●靶：透射式●靶材：钨靶●JIMA分辨率：最佳可达0.5μm●扫描方式：锥扫●探测器：数字平板探测器

1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。测量范围（mm)X :400 Y :300 Y :100工作台(mm)工作台面: 560*460 玻璃台面 :460*360 承重kg :30 测量系统 CCD :1200万彩色相机SONY芯 激光 :30-225X 视频放大倍率 :10.6－1.6mm/75-85mm 工作距离:90mm~250mm 光栅尺分辨率 :海德汉0.0001mm 线性精度(μm) :X/Y精度≤2+L/200 Z轴≤3+L/200um外形尺寸（mm) :925*900*1850mm仪器重量(kg): 500 照明 :LED表面光及下光源,亮度可调 电源 :220V±10%(AC) 50HZ 保修期 :1年

1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。

1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0001mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。

产品介绍：DZDR-S是南京大展检测仪器生产一款瞬态平面热源法导热仪，采用一体化的机型设计，小巧轻便，同时测量速度快，一键计算导热系数，准确度高等优势。测试范围：DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定。测试方法：瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个新的水平。性能优势：1.直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间； 2.不会和静态法一样受到接触热阻的影响；3.无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可；4对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；5.探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算；6.样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；7.探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；8.主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；9.仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；10.智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁。技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

*平面平晶是以光波干涉原理为基础，利用平面平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件，例如，平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。 平面平晶的技术参数 平面直径d(mm) 平面平晶基本参数 1级 价格 2级 d范围内 2/3d范围内 d范围内 2/3d范围内30 0.03 ---- 275 0.1 0.0545 325 60 375 80 0.05 0.03 575 100 1125 150 5000 200 0.08 0.05 9200 0.12 0.06250 0.1 0.05 18400 0.15 0.08300 0.15 0.09 55000 0.2 0.1

中图仪器WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建。它采用的高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术 （1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。 WD4000可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

性能指标上综合了传统GEM与GMX探测器的优势；能量下限降至3keV 分辨率优异 中低能段效率显著提升采用超薄可靠接触极；在常温下保存不会损害探测器性能严格保证效率、分辨率、峰形与峰康比等完整指标以晶体尺寸定义其型号，同一型号的探测器采用相同的晶体结构和尺寸，从而保证了相当一致的效率曲线 优化平面型： GEM-S 型号晶体尺寸(mm)能量分辨率-FWHM(≤keV)峰形(≤)峰康比（≥）效率（≥）端窗直径(mm)直径厚度@5.9keV@122keV@1.33MeVFW.1M/FWHMFW.02M/FWHMGEM-S502050200.350.651.81.92.628 10%70GEM-S582558250.400.681.81.92.73515%70GEM-S702570250.450.701.92.02.84020%83GEM-S703070300.500.721.92.02.84634%83GEM-S853085300.500.721.92.02.95550%95GEM-S903090300.500.752.12.03.06260%108GEM-S943094300.560.782.12.03.06565%108

产品简介中图仪器SuperVieW3D表面粗糙度轮廓检测仪基于白光干涉原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域 SuperVieW3D表面粗糙度轮廓检测仪可对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施 在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperVieW3D表面粗糙度轮廓检测仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标 型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

水平面灼热丝燃烧试验机产品功能特点 1.符合人机工程学的操作设计，试验通过触摸屏操作完成，自动化程度高，可存储以往试验结果，可调阅以往试验数据；2.伺服电机驱动式样架可控自动升降；3.本生灯可进退调节；4.1.5mm不锈钢钢板箱体；5.2扇钢化耐热玻璃门双角度观察测试, 双（带锁）方便实用6.高压自动点火，耐久燃烧；7.点火源可自动倾斜45度；8.火焰高度通过调节阀进行调节；9.试样架可以上下及前后进行移动；10.配备两种试样夹。11.火焰测量标尺；12.自动化程度高，实验数据准、易操作；13.箱体尺寸：宽835×深400×高815mm14.材质：1.5mm不锈钢15.箱体底部为平置自然通风口，通风口由5cm*5cm方格通风口组成(真正1.5mm厚钢板通风口,高50mm)保持气流平整通过16.做工细致，真正无焊点工艺17.触摸显示屏：水平面灼热丝燃烧试验机a. 尺寸：7寸 有效显示尺寸 长15.5cm 宽8.6cm；b. 分辨率：800*480c. 通讯接口 RS232、3.3V CMOS或TTL、串口方式d. 储存容量:1Ge. 采用纯硬件FPGA驱动显示，“零”启动时间，上电即可运行f. 采用M3+FPGA架构，M3负责指令解析，FPGA专注TFT显示，g. 主控制器均采用低能耗处理器，自动进入节能模式水平面灼热丝燃烧试验机水平面灼热丝燃烧试验机水平面灼热丝燃烧试验机相关技术参数 1. 环境温度：15℃～25℃；2. 相对湿度：≤85％；3. 供电电压和功率：220V 50HZ 100W；4. 气源：纯度不低于95%的商用丙烷 ，普通试验也可用液化石油气代替（注：气源和链接头用户自备）；5. 本生灯对式样施加火焰时间15s6.单片机控制，数字显示。7.烧器孔径为Φ0.17mm、本生灯火焰长度20mm±1mm，燃烧器可倾斜45°。8.对试样施加火焰(1s-99 s)±0.5s，可任意调节,精度±0.2s。9.可燃气源：纯度95%以上的丙烷。（注：气源和链接头用户自备）适用标准： ISO11925-2:2002 E《建筑材料可燃性试验方法》5.多功能复合气体分析仪，多种气体检测仪 型号ZRX-17698内置微型抽气泵，配铝合金采样手柄，实现远程采样实验室、环境监测、烟草行业、制药行业等满足不同行业对气体检测的要求可12种不同气体同时检测多款不同传感器任意组合支持PM2.5粉尘粒子传感器、温湿度传感器等具有数据存储功能，可以存储数据120000组

CORES回流焊模拟器平面度测定、回流焊观测、翘曲测量仪

CORES回流焊模拟器平面度测定、回流焊观测、翘曲测量仪

WD4000无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000无图晶圆表面形貌粗糙度2D3D检测机集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台 （1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000晶圆检测机采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。广东天行测量技术有限公司是一家高新科技企业,公司拥有多项高新技术产品、专利技术和软件版权。是一家有着多年影像、激光、快速检测设备的生产、研发经验的中国智造型企业。我们多年深入用户一线,切实际的了解用户行业真实需求,提出多种更适合用户自身的测量和检测解决方案,以满足客户日益提高的品质需求.

产品介绍： DZDR-S 导热系数测试仪是采用了瞬态平面热源法，仪器由南京大展检测仪器研发、生产，采用了一体化的机型设计，能够实现一键测量，同时进口芯片，测量速度快5~160s出结果，操作简单。测量范围: DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪测试样品种类较多，包括：金属、陶瓷、合金、矿石、聚合物、复合材料、纸、泡沫和玻璃钢面板复合板材等。测试方法介绍： DZDR-S 瞬态平面热源法导热仪可用于各种不同类型、不同形态材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。在研究材料时能够快速准确的测量导热系数，为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了极大的方便，可以选配有粉末测试容器、液体杯。优势特点：1、直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间；2、主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理能力，计算结果更加准确；3、探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；4、智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁；5、仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定；5、强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。测试步骤：技术参数：测试范围0.0001—300W/(m*K)测量温度范围室温—130℃探头直径一号探头7.5mm；二号探头15mm；三号探头50mm精度±3%重复性误差≤3%测量时间5~160秒电源AC 220V整机功率＜500w测试样品功率P 一号探头功率0；二号探头功率0样品规格一号探头所测样品（≥15*15*3.75mm）二号探头所测样品 (≥30*30*7.5mm)三号探头所测样品 (≥50*50*7.5mm)（选配，也可以定制其他规格）定制粉末测试容器一套

SuperViewW广东光学3D轮廓仪表面粗糙度检测仪器基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW广东光学3D轮廓仪表面粗糙度检测仪器以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1广东光学3D轮廓仪表面粗糙度检测仪器的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。性能特色1、高精度、高重复性 1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

产品介绍 ATS-DRS-T瞬态平面导热系数测定仪是利用瞬态平面热源技术（TPS）开发的导热系数测试仪,可用于各种不同类型材料的热传导性能的测试。瞬态平面热源法是研究热传导性能方法中新型的一种，它使测量技术达到了一个全新的水平。在研究材料时能够快速准确的测量热导率，为企业质量监控、材料生产以及实验室研究提供了极大的方便。该仪器操作方便，方法简单易懂，不会对被测样品造成损坏。 上海埃提森仪器科技有限公司基于瑞典Chalmer理工大学的Silas Gustafsson教授在热线法的基础上所发展起来的瞬态平面热源法研发了此产品。它测定材料热物性的原理是基于无限大介质中阶跃加热的圆盘形热源产生的瞬态温度响应。利用热阻性材料做成一个平面的探头，同时作为热源和温度传感器。合金的热阻系数与温度和电阻的关系呈线性关系，即通过了解电阻的变化可以知道热量的损失，从而反映了样品的导热性能。 该方法的探头即是采用导电合金经刻蚀处理后形成的连续双螺旋结构薄片，外层为双层的绝缘保护层，厚度很薄，它令探头具有一定的机械强度并保持与样品之间的电绝缘性。在测试过程中，探头被放置于样品中间进行测试。电流通过探头时，产生一定的温度上升，产生的热量同时向探头两侧的样品进行扩散，热扩散的速度依赖于材料的热传导特性。通过记录温度与探头的响应时间，由数学模型可以直接得到导热系数。 检测方式特点ATS-DRS-T瞬态平面导热系数测定仪所使用的瞬态平面热源法相比较于激光法，热线法，保护平板法都有优势。首先在于适用材料的范围上瞬态平面热源法可检测固体、液体、粉末、颗粒、胶体等。其次在于样品制作上只需要保持平整即可，对于尺寸的要求极低。同时检测时间也在5-160S左右，相比较平板法的数个小时来说优势明显。 目前国家也在积极修改各行业产品导热系数的检测方式，逐步替代多年前的保护平板法。已修改完成GB∕T 32064-2015 建筑用材料导热系数和热扩散系数瞬态平面热源测试法。相信不久的将来，瞬态平面热源法这一更简单快捷的导热系数检测方式会出现在越来越多的国标中。而上海埃提森仪器科技有限公司的ATS-DRS-T瞬态平面导热系数测定仪也会积极更新，不断优化，让更多客户可以使用上优质便捷的设备。 产品特点 1、仪器参考标准：ISO 22007-2 20082、测试范围广泛，测试性能稳定，在国内同类仪器中，处于较高水平； 3、直接测量，测试时间5-160s左右可设置，能快速准确的测出导热系数，节约了大量的时间； 4、不会和静态法一样受到接触热阻的影响；5、无须特别的样品制备，对样品形状并无特殊要求，块状固体只需相对平滑的样品表面并且满足长宽至少为探头直径的两倍即可； 6、对样品实行无损检测，意味着样品可以重复使用；7、探头采用双螺旋线的结构进行设计，结合专属数学模型，利用核心算法对探头上采集的数据进行分析计算； 8、样品台的结构设计巧妙，操作方便，适合放置不同厚度的样品，同时简洁美观；9、探头上的数据采集使用了进口的数据采集芯片，该芯片的高分辨率，能使测试结果更加准确可靠；10、主机的控制系统使用了ARM微处理器，运算速度比传统的微处理器快，提高了系统的分析处理 能力，计算结果更加精确； 11、仪器可用于块状固体、膏状固体、颗粒状固体、胶体、液体、粉末、涂层、薄膜、保温材料等热物性参数的测定； 12、智能化的人机界面，彩色液晶屏显示，触摸屏控制，操作方便简洁； 13、强大的数据处理能力。高度自动化的计算机数据通讯和报告处理系统。 售后服务按相关标准和技术要求验收，客户另加技术要求逐项认可。 上海埃提森仪器科技有限公司负责设备的运输及安装指导。客户负责设备的现场起吊、搬运等工作。 调试在客户公司内，在有被培训人员在场情况下，进行调试。上海埃提森仪器科技有限公司免费提供2-3人系统的现场操作培训和简单设备维修培训，以及任何时候的电话咨询。 质保时间整机质保期为最终验收后一年。在质保期内由于机器品质而发生的故障停机，正常情况下，上海埃提森仪器科技有限公司应免费修复。但试验设备因需方人为损坏，机器零配件费用则由需方承担。一年质保期后，由上海埃提森仪器科技有限公司负责售后服务。每年每季度埃提森技术中心都有专职人员进行电话回访，提供坚强的技术保障。

概 况：岩体平面相似模型试验系统此系统包括模型试验台架、伺服加载控制系统、数据测量及采集分析系统。该系统可以开展水电站引水隧洞和地下厂房、跨海隧道、石油和核废料存储、深部采矿和大型地下空间开发等重大工程中的复杂问题的研究。是科研单位、高校以及生产应用单位进行相关研究和检测的设备。产品特点：采用多缸加载或多头缸均布加载，载荷均布性好；加载缸顶部和各接触面安装聚四氟乙烯减摩板，降低岩土试件试验中移动所产生的摩擦，保证试验结果的准确性；前后大板预留可拆卸窗口，以便开挖；前后大板上预留有试件干燥孔，以便模型材料的快速干燥；软件模块允许用户将测试数据转换成适用于用户的真实信息，提供所有的数显和绘图报告形成功能，能满足现代结构实验室的各种需求；主要参数：

1.大理石结构，稳定可靠。2.台湾精密线性导轨和研磨级滚珠螺杆，配松下伺服电机，闭环控制，精度更好。3.自动变倍镜头，改变倍率无需重选比例尺。4.德国海德汉光栅尺，分辨率0.0005mm.。5.日本欧姆龙激光。6.大倍定倍测量画面。7.高品质光学系统和高分辨率相机，画面更清晰。8.四环八区LED环形表面冷光源、轮廓光源及同轴光源，亮度可调。9.鼠标、手柄操作，简单易用。10.自主研发全自动CNC测量系统，界面友好，功能强大。11.可提供多规格，根据要求个性化定制。

ACC-TCBZPM009陶瓷标准平面符合标准：JJF 1951-2021 基于结构光扫描的光学三维测量系统校准规范1、外型尺寸：450*80*25mm2、表面平面度≤1um3、材料：哑光陶瓷