显微热台

显微镜冷热台系统 可编程温度控制，温度范围宽，从-190℃到600℃（700℃可选）； 温度控制精度高； 更好的温度均匀性及精确度，可对样品室进行双层加热； 可快速控制升、降温速度； 样品的XY移动精度高，分辩率为10微米； 配备观察视窗； 样品室空间大，并可根据要求加不同的增高器；讨论问题之一，该系统采用液氮制冷，液氮冰点-193℃，因此某些仪器厂家标称能达到-193℃，实际是否达不到。讨论问题之二，该设备除美国一家公司生产外，是否有别的公司生产类似产品。

偏光显微镜+热台有何应用？偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器。它在医学上有广泛的用途，如观察齿、骨、头发及活细胞等等的结晶内含物，神经纤维、动物肌肉、植物纤维等的结构细节，分析病变过程。 它也可以观察无机化学中各种盐类的结晶状况。 热台主要指一种用于对试样施加温度的精密仪器。并通过光学显微镜等其它仪器对样品观察或测试。用于显微镜下对样品加热的热台通称为显微镜热台。它是地质、矿产、冶金、石油等部门和相关高校的高分子等专业最常用的专业实验仪器。 偏光显微镜+加上热台系统可供广大用户通过偏光来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，也可以判断熔点，溶剂化物，晶体与非晶等应用......[size=16px]微域光学供应的热台偏光显微镜[/size][size=16px]型号：MXP6000-X4-E3ISP20000KPA[/size][size=14px]参数配置：[/size][table=682][tr][td=1,1,101][font=宋体]型号[/font][/td][td=1,1,581]MXP6000-X4-E3ISP20000KPA[/td][/tr][tr][td=1,1,101][font=宋体]目镜[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]大视野[/font] WF10X([font=宋体]视场数[/font]Φ22mm)[/td][/tr][tr][td=1,5,101][font=宋体]物镜[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]无限远长工作距离平场偏光物镜[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]偏光[/font]POL PL L5X/0.12[/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]偏光[/font]POL PL L10X/0.25[/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]偏光[/font]POL PL L20X/0.40[/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]偏光[/font]POL PL L50X/0.60[/td][/tr][tr][td=1,1,101][font=宋体]目镜筒[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]三目镜[/font],[font=宋体]倾斜[/font]30?,([font=宋体]内置检偏振片[/font],[font=宋体]可进行切换[/font])[/td][/tr][tr][td=1,2,101][font=宋体]落射照明系统[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]高亮超长寿命[/font]LED,[font=宋体]亮度可调[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]内置视场光阑、孔径光阑、滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,101][font=宋体]调焦机构[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]粗微动同轴调焦[/font], [font=宋体]微动格值[/font]:2μm,[font=宋体]带锁紧和限位装置[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,101][font=宋体]转换器[/font] [/td][td=1,1,581][font=宋体]四孔孔[/font]([font=宋体]内向式滚珠内定位[/font])[/td][/tr][tr][td=1,1,101][font=宋体]载物台[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]机械移动式[/font]([font=宋体]尺寸[/font]:210mmX140mm,[font=宋体]移动范围[/font]:75mmX50mm) [/td][/tr][tr][td=1,3,101][font=宋体]透射照明系统[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]阿贝聚光镜[/font] NA.1.25 [font=宋体]可上下升降[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]集光器，卤素灯照明适用[/font]([font=宋体]内置视场光栏[/font])[/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]高亮超长寿命[/font]LED,[font=宋体]亮度可调[/font][/td][/tr][tr][td=1,3][font=宋体]热台[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]温控范围从室温[/font]-300[font=宋体]°Ｃ；精度≤±[/font]0.2%[font=宋体]°Ｃ[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]加热板尺寸Φ[/font]110mm[font=宋体]，加温区域Φ[/font]32mm[/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]模糊逻辑[/font]PID[font=宋体]全电子固态模块，[/font]PTC[font=宋体]发热材料[/font][/td][/tr][tr][td=1,2][font=宋体]相机[/font][/td][td=1,1,581][font=宋体]芯片[/font]SONY 20M/IMX183(C) 1" USB3.0[font=宋体]接口，[/font]2000[font=宋体]万像素，成像接收面积[/font]1[font=宋体]’’全画幅[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]像素大小：[/font]2.4umX2.4um FPS:15@5440x3648 50 @2736x1824 60@1824x1216[/td][/tr][tr][td=1,4][font=宋体]软件[/font][/td][td=1,1,581]Weiscope Wimage[font=宋体]多功能版图像处理软件[/font] [font=宋体]版本[/font]X64,5.0 [font=宋体]兼容[/font]WINXPSP3/7/8/10/VISTA/MAC[/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]图像拍照[/font]/[font=宋体]图像定时自拍[/font]/[font=宋体]视频录制[/font]/[font=宋体]黑白平衡[/font]/[font=宋体]翻转旋转[/font]/ROI/[font=宋体]直方图[/font]/[font=宋体]平场暗场校正[/font]/[font=宋体]几何测量[/font][/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]自动寻边[/font]/[font=宋体]多图实时拼接[/font]/[font=宋体]景深实时融合[/font]/Execel[font=宋体]报告输出[/font]/[font=宋体]测量数据保存再编辑[/font]/[/td][/tr][tr][td=1,1,581][font=宋体]自动计数[/font]/[font=宋体]手动分割[/font]/[font=宋体]结果输出[/font]/[font=宋体]图像自动计数方式选择：分水岭[/font]/[font=宋体]亮暗[/font]/[font=宋体]直方图[/font]/[font=宋体]颜色分割[/font][/td][/tr][tr][td][font=宋体]电脑[/font]/[font=宋体]选配[/font][/td][td=1,1,581]21”HDMI[font=宋体]高清屏幕，固态硬盘，独立显卡，[/font]USB3.0[font=宋体]数据接口，[/font]HDMI[font=宋体]信号接口[/font][font=宋体][/font][/td][/tr][/table]实例拍摄[img=,600,417]http://www.weiscope.com/Kg_Editer/attached/image/20180711/20180711173241_8503.jpg[/img]样品室温状态[img=,600,466]http://www.weiscope.com/Kg_Editer/attached/image/20180711/20180711173241_4113.jpg[/img]加热融化过程[img=,600,425]http://www.weiscope.com/Kg_Editer/attached/image/20180711/20180711173241_2743.jpg[/img]加热过程中晶体逐渐析出[img=,600,400]http://www.weiscope.com/Kg_Editer/attached/image/20180711/20180711173241_2173.jpg[/img]熔点态恒温观测[img=,600,398]http://www.weiscope.com/Kg_Editer/attached/image/20180711/20180711173241_1603.jpg[/img]自动计数[img=,600,360]http://www.weiscope.com/Kg_Editer/attached/image/20180711/20180711173240_9733.jpg[/img]计数结果及excel导出

早先时候，我记的显微硬度计中的光源都是用灯泡的这种。用久了，感觉周围温度会很高，摸着还会烫手。成像的清晰度总体觉得还是挺好的。部分的金相还是可以观察出来。 现在开始用起了LED的光源，都说它好，节能环保，效果又好。真是这样的吗？我上次在我朋友那边看到一台上海厂的，也是LED的，感觉看上去，清晰是会感觉比灯泡的那种好一些，但就是表面的金相看起来感觉不出来了，不知道是不是焦距没调好，还是什么问题。有用过的一起分享下，各位用的情况，分析下到底用冷的还是用热的好？

请问在示热分析法中的DTA、DSC.TG和热载台显微镜扫描法分别有什么特点，适用于什么样的固态形式的分析？对样品处理有要求吗？多谢

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求购荧光体视显微镜一台我的课题主要是对小鼠脑部血管中荧光（eGFP或者Rhodanmine6G）标记的细胞录像，显微镜的大致要求：1. 正置荧光体视显微镜（intravital microscope）显微镜物镜和载物台之间要可以容纳一只小鼠；2. 载物台手动调焦就可以了；3. 黑白CCD相机，这样敏感度会好一些；4. 信号数据被收集后转到电脑或者DVD储存；5. 提供调试和一年维护合同；6. 我人在南京，联系手机：13770612522。其他技术细节欢迎讨论。

10月19日至21日，先进电子显微学及材料研究国际学术研讨会在西安交大召开，来自德国于利希研究中心、美国密西根州立大学、德国亚琛工业大学、加拿大麦克玛斯特大学、日本东京大学、清华大学、北京大学、浙江大学、西安交通大学等国内外30余名专家参会。在19日举行的学术研讨会开幕仪式上，“西安交大国际电介质中心先进电子显微镜平台”正式启用。http://xjtunews.xjtu.edu.cn/kxyj/resource/h000/h71/img201210311531020.jpg先进电子显微学及材料研究国际学术研讨会开幕式 http://xjtunews.xjtu.edu.cn/kxyj/resource/h000/h71/img201210311531021.jpg王建华书会见德国于利希研究中心董事会成员 http://xjtunews.xjtu.edu.cn/kxyj/resource/h000/h71/img201210311531022.jpg 王建华书记、德国于利希研究中心董事会 Schmidt 教授互赠礼品http://xjtunews.xjtu.edu.cn/kxyj/resource/h000/h71/img201210311531023.jpg宾主合影见证先进电子显微镜平台正式启用 19日上午9时，学术研讨会开幕仪式暨先进电子显微镜平台启用仪式在科学馆101举行。王建华书记出席开幕仪式，并在此前会见了来访的德国于利希研究中心董事会成员Schmidt教授一行。卢天健副校长参加会见并主持开幕仪式。中国科学院院士、美国国家工程院外籍院士、西安交大国际电介质中心主席姚熹教授及研究生院、科研院、国际处、重点办、高层办、招标办、曲江校区管理办公室等相关职能部门负责人参加上述活动。 王建华书记、德国于利希研究中心董事会 Schmidt 教授、姚熹院士、中国电镜学会理事长、浙江大学张泽院士先后致辞，对西安交大国际电介质中心先进电子显微镜平台启用表示肯定与期望。上述领导和嘉宾，卢天健副校长，西安交大“千人计划”学者、国际电介质中心主任贾春林教授等一同上台合影见证先进电子显微镜平台的正式启用。随后，汪宏教授主持了由平台负责人贾春林教授和Wolf物理奖获得者、原于利希研究中心微结构研究所所长Urban教授所做的平台启用主题演讲。 在为期两天的研讨会中，举行了23场学术报告，并组织参观了中心平台实验室。http://xjtunews.xjtu.edu.cn/kxyj/resource/h000/h71/img201210311531025.jpg 来宾参观先进电子显微镜平台实验室 http://xjtunews.xjtu.edu.cn/kxyj/resource/h000/h71/img201210311531026.jpg 来宾参观先进电子显微镜平台实验室 http://xjtunews.xjtu.edu.cn/kxyj/resource/h000/h71/img201210311531024.jpg 合影留念先进电子显微镜研究平台位于曲江校区，是西安交大国际电介质中心的重要组成部分，平台的建立是对现有的材料合成及物理性能研究的重要补充，其目的是促进介电研究和最先进的原子结构研究的结合。平台建设于2010年5月破土动工，目前，实验楼已建成并投入使用，其主要设备有：FEI Titan G2物镜球差校正透射电镜、JEOL ARM200F聚光镜球差校正透射电镜、JEOL2100透射电镜、Helios Nanolab 600i双束扫描电镜、FEI Quanta 250 FEG场发射环境扫描电镜及透射电镜样品制样设备等。

显微镜经常性的维护书中介绍有4个方面（１）防潮 如果室内潮湿，光学镜片就容易生霉、生雾。镜片一旦生霉，很难除去。显微镜内部的镜片由于不便擦拭，潮湿对其危害性更大。机械零件受潮后，容易生锈。为了防潮，存放显微镜时，除了选择干燥的房间外，存放地点也应离墙、离地、远离湿源。显微镜箱内应放置１～２袋硅胶作干燥剂。并经常对硅胶进行烘烤。在其颜色变粉红后，应及时烘烤，烘烤后再继续使用。（２）防尘 光学元件表面落入灰尘，不仅影响光线通过，而且经光学系统放大后，会生成很大的污斑，影响观察。灰尘、砂粒落入机械部分，还会增加磨损，引起运动受阻，危害同样很大。因此，必须经常保持显微镜的清洁。（３）防腐蚀 显微镜不能和具有腐蚀性的化学试剂放在一起。如硫酸、盐酸、强碱等。（４）防热 防热的目的主要是为了避免热胀冷缩引起镜片的开胶与脱落对于最后一条，我想咨询下，这个热度是指多少？30度、40度还是更高呢？

1.防潮。如果室内潮湿,光学镜片就容易生霉。2.防尘。光学元件表面落入灰尘,不仅影响光线通过,而且经光学系统放大后,会生成很大的污斑,影响观察.3.防腐蚀 显微镜不能和具有腐蚀性的化学试剂放在一起.还有就是防热，为啥要防热呢？[img]http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif[/img]

我们新购置的正式金相显微镜，但样品需要两端制样，有没有能一端制样的载物台，根倒置的一样方便的，请各位指教。

我想购买一台显微硬度计，主要分析铜、铝、铁。请教大家，显微硬度计使用过程中有何注意事项？

本人为武汉某大学环境生物学实验室研究人员,求购普通生物显微镜与带照相或CCD系统的显微镜各一台.下星期马上购买,请站内联系我.最好有武汉的代理公司!

所里有台原子力显微镜，好像有热平台，但是测试的老师不大会用，有没有人有软件操作的说明

想购买体视显微镜，金相显微镜，扫描电镜各一台，请大家给推荐一款，研究非金属材料，导电性不好，就是金刚石粉末加金属钴的烧结体，立方氮化硼粉末加金属单质铝等和氧化物，碳化物，氮化物的烧结体。请各位高手指点一二。考虑到国内国外仪器差别很大，想买进口品牌。

金相显微镜工作台什么样的好？奥林帕斯GX51型，有摄像头，微机，打印机

求购金相显微镜一台，实验室观察胶体粒子等，要求如下：反射观察模式下，有明暗场观察功能，配明暗场物镜镜头，倍率80或100x三目镜筒，100W卤灯最好。 这样的配置是不是只能选进口四大品牌了？ 国产的金相显微镜有符合要求的吗？

用的是尼高力的红外显微镜，显微平台用遥控杆控制的时候，确定某个检测位置后，检测一段时间仍会发现位置发生偏移。反复调整遥控器的控制速度，但仍不能改善上述问题，请问我的操作有什么问题。谢谢！

想购买体视显微镜，金相显微镜，扫描电镜各一台，请大家给推荐一款，研究非金属材料，导电性不好，就是金刚石粉末加金属钴的烧结体，立方氮化硼粉末加金属单质铝等和氧化物，碳化物，氮化物的烧结体。请各位高手指点一二。考虑到国内国外仪器差别很大，想买进口品牌。

我公司需要购买一台光学显微镜,主要用于汽车零部件的清洁度检查,需要能对过滤后的杂质进行观察,还要对杂质进行分析,必须要对杂质的状况进行统计,比如：5微米以上大小的杂质的数量为多少，100微米以上大小的杂质的数量为多少？不知哪位高手能推荐一台？

请问一下，莱卡显微镜载物台的玻璃是什么材料的。不慎弄坏，不知道哪里能买到，价钱如何？

[align=center][/align][align=center][img=,361,450]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190701/156197148029231.jpg[/img][/align][align=center][b]显微热分布测试系统[/b][/align]LED的诞生是现代生活的一大进步，LED在逐渐成长的过程中，伴随许多失效、故障等问题，然而这些问题的罪魁祸首首指发热问题，LED的发热不均往往会成为LED功能降低甚至失效的原因，为此，金鉴采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造高精智能化的测试体系,整合出一套显微热分布测试系统，价格远低于由国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正应证了“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”这句话。金鉴显微热分布测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清芯片晶道；高低温数显精密控温系统，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。[b]与传统红外热像仪相比，金鉴显微热分布测试系统优点显著：[/b][align=center][img=,715,864]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154647612434531.jpg[/img][/align][color=#666666][/color][color=#666666][/color][align=center][/align][b]应用领域：[/b][color=#666666]芯片电极设计、芯片来料检验、失效分析、灯具热分布测量、灯具灯珠芯片升温热分布动态采集、集成电路失效分析、无损失效分析。[/color][color=#666666][/color][b][/b][color=#666666][b]金鉴显微热分布测试系统特点：[/b][/color][b]1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。[/b]LED芯片是LED产业的最核心器件，芯片温度过高会严重影响LED产品质量； 但芯片及芯片内部的温度分布一直是检测难点；金鉴自研发的显微热分布测试系统可对LED芯片温度进行检测，通过对内部的温度分布分析，改善设计，提高LED产品质量。金线和正负电极的温度分布状况可以为研发人员提供布线设计依据，以及为芯片研发散热系统提供直观的芯片热分布数据。[align=center][img=,500,323]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364372896451.jpg[/img][/align][align=center]芯片热分布图[/align][align=left][b]2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效[/b]LED光源的光热性能受温度的影响较大，脱离实际工作温度所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。而金鉴自主研发的显微热分布测试系统配备有高低温数显精密控温平台，能稳定控制灯珠引脚温度和基板温度，模拟模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。该测试平台还配备有水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题，该系统还可以稳定控制样品台温度维持在0℃-室温，适用于一些需要保持低温工作的器件。[/align][b]3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测[/b]金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可以保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。工程师可以利用显微热分布测试系统记录灯具发热红外视频，分析出在不同的工作时间，灯具温度变化和温度分布情况，在此基础，达到分析评估LED灯具散热效果，寻找异常温度区域，定位关键失效点。（1）手机可直接录制1000帧热像视频，没有电脑也能自动采集数据。（2）自定义采样速率（最快5帧/秒）。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20170822/150338472976931.gif[/img][/align][align=center][b]灯具温升变化图[/b][/align][align=center][img=,666,300]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364376732981.jpg[/img][/align][align=center][b]灯珠芯片温升变化图[/b][/align][b]4.热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。[/b]专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。[align=center][/align][b]5.支持12个点，12个框和3条线的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。[/b][align=center][img=,399,377]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364402379501.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]时间温度曲线： [/b] [align=center][img=,399,256]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364403442621.jpg[/img][/align][b]三维温度图：[/b][align=center] [img=,399,287]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364428040661.jpg[/img] [/align][b]6.手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。[/b][align=center][b] [img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364429058891.jpg[/img][/b][/align]手机可直接录制1000帧热像全辐射视频；温变过程实时捕捉；没有PC也能自动采集数据。[b]7. 定制化的热像分析软件[/b]金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR针对LED产业开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，更适合LED失效分析、研发测试，纠正多种错误测温方式，开发新的应用领域。具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。[align=center][/align][b]案例一：[/b]客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH[align=center][img=,666,200]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180824/153509640881861.jpg[/img][/align]灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。[b]案例二：[/b]某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。[b]对漏电灯珠通电光学显微镜观察：[/b]金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。[align=center][img=,380,176]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364441723001.jpg[/img][/align][b]对漏电灯珠显微红外观察：[/b]使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。[align=center][img=,500,340]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364442845471.jpg[/img][/align][align=center][/align][b]死灯芯片负极金道FIB切割：[/b]根据显微热分布测试系统仪的测试数据，金鉴工程师把芯片失效原因定位到芯片自身结构问题上，因此对死灯灯珠芯片靠近负极电极烧毁位置下方的金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，铝（Al）层与第1层铬（Cr）层结合良好。芯片负极的铝层厚度约为100nm。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364468261691.jpg[/img][/align][b]死灯芯片正极金道FIB切割：[/b]金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180807/153364469315711.jpg[/img][/align][b]案例三[/b]：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。[b]对大尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615185081841.gif[/img][/align][b]对小尺寸的倒装芯片进行观察：[/b]样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。[align=center][img]http://www.gmatg.com/uploads/images/20180117/151615186735561.gif[/img][/align][align=center][/align][b]案例四：分析固晶工艺[/b]1. 某公司灯珠发生死灯，开封后可以观察到外延层烧毁、金道烧毁、电极脱落。[align=center][img=,500,376]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616504555201.png[/img] [/align]进一步对失效品灯珠进行金相切片，可以观察到失效品灯珠芯片与固晶胶存在剥离现象。（备注：固晶胶采用的导热绝缘胶）[align=center][img=,666,248]http://www.gmatg.com/uploads/images/20181230/154616575577541.png[/img] [/align]3. 进一步取固晶胶剥离与未剥离的灯珠芯片，使用金鉴实验室自主研发的热分布测试仪，对固晶胶剥离与未剥离芯片进行热分布测试比对，比对结果如下图所示：[align=center][img=,666,226]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650720866911.png[/img][/align]结果显示：固晶胶剥离灯珠芯片表面温度比未剥离芯片表面温度高约110℃，温度相差极大。分析原因，固晶胶脱落导致热量无法通过灯珠支架顺利传导出去，造成芯片周围环境温度变高，灯珠芯片温度升高。该芯片负极区域发热量大，芯片工作环境温度升高时，芯片负极区容易出现温度过高烧毁。 [b]案例五：判定多芯片灯珠发热情况[/b]客户送测LED灯珠，委托金鉴进行灯珠体检，帮助提升其产品性能和质量。[b]显微热分布测试灯珠芯片热分布：[/b][align=center][img=,666,283]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650721893231.png[/img][/align]从热分布图中我们发现，该灯珠两颗芯片发热量不一致，A芯片表面温度为61.4℃，B芯片表面温度为70.7℃，温度相差9.3℃，这种情况将会严重影响灯珠性能及可靠性。其原因是：LED芯片较小的电压波动会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片热功率出现差异。客户针对此种情况，加强对来料芯片电压分BIN的卡控后，杜绝了该种异常现象，其灯珠性能及可靠性得到大大提高。[b]案例六：显示屏热分布监测[/b]PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！[align=center][img=,666,289]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190103/154650722679251.png[/img][/align][b]案例七：定位电源失效区域[/b]委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。[align=center][img=,666,253]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190107/154682171825381.png[/img][/align][b]案例八：电源失效分析 [/b]委托单位反馈该款电源在使用约一年时间后出现烧毁失效，委托金鉴查找电源失效原因。金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行温度测试，碳膜电阻R9温度高达157.4℃，热敏电阻温度为101.0℃。一般建议碳膜电阻的最佳工作温度为70℃以下，热敏电阻的工作温度在120℃以内，而该电源中碳膜电阻在157.4℃温度下满载工作，因此工程师迅速锁定了该异常点。[align=center][img=,500,348]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190226/155117698126591.png[/img][/align][align=center][/align][align=center][img=,400,158]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126072273961.jpg[/img][/align][align=center][/align][quote][quote]（1）实测尺寸：I=15.84mm；D=5.3mm ； H=22.3mm。[/quote][quote]（2）参照电阻色环可知碳膜电阻R9阻值为68kΩ±5%。[/quote][quote]（3）根据电阻尺寸与额定功率的关系可知，该碳膜电阻R9的额定功率为2W，进而由欧姆定律P=U2/R可推算出其额定电压为369V。[/quote][/quote]由于碳膜电阻R9的实测工作温度为157.4℃，根据如下电力减轻曲线可知，155℃温度下的实际使用功率应为额定功率的5%左右，即0.1W左右，根据欧姆定律P=U2/R推算在155℃温度下可以使用的实际额定电压U=82V。而实际使用碳膜电阻R9的电压为366V，说明碳膜电阻R9处于超负荷使用状态，长期超负荷使用可能导致电阻值出现漂移，进而造成同一回路中的其他器件烧毁，发生电源烧毁失效。[align=center][img=,550,337]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126323736781.png[/img][/align][align=center][/align]对正常电源和烧毁电源中的碳膜电阻进行电阻测试，结果显示：正常电源碳膜电阻阻值为67.5kΩ，烧毁的电源同一回路中的碳膜电阻阻值为88.3kΩ，证实碳膜电阻阻值已出现漂移。[align=center][img=,500,210]http://www.gmatg.com/uploads/images/20190227/155126342955601.png[/img][/align]电阻参数在高温下出现漂移，长期使用会影响电阻的寿命和可靠性，建议委托单位优化电源设计，避免电源器件在高温下长期超负荷使用。

单位欲投资30万求购一台金相显微镜，主要用来看不锈钢和钢铁材料及铜合金的金相。请各位大虾给点建议。多谢！

如题，公司想采购一台带显微镜的红外光谱，不知各位大侠有什么介绍不？暂时还没有定价格，，因此各个价位都要了解一下；谢谢了！

实验室要用显微镜来测MEMS（微机电系统）器件，以前用的是江南的XJZ-6A正置式透反射金相显微镜。现在想要重新买一台进口的、精度高点的做研究实验用。请各位大牛帮忙推荐一下吧？谢谢了~

请教大家金相显微镜那个牌子的好，德国蔡司、徕卡、奥林巴斯，哪个好，他们在大陆的市场那个占有率、售后、价格，想买一台，谢谢

近日，Applied Precision推出了一台高性能的显微镜系统DeltaVision OMX Blaze。这台仪器采用专利的超快速结构照明模块和先进的高速照相机，首次提供了大范围的活细胞3-D超高分辨率荧光图像。因此，这种显微镜能够分辨出的细胞间结构的细节比此前任何光学显微镜都高。DeltaVision OMX Blaze系统突破在于对运动的物体使用结构照明，包括活细胞。此前使用结构照明的商品光学显微镜只能对固定或非移动的样本进行成像。它的图像获取速度让研究人员能够在三维空间内追踪活细胞内的标记蛋白，而分辨率接近分子水平。这意味着使用者可以开始回答新型的研究问题，如细胞中的某些结构如何工作，它们如何相互作用，以及事件持续多长时间。这台仪器的特点包括：超高分辨率，能够对最小1/10微米的物体成像；对比度是传统显微镜的8倍；同时观察两种荧光波长的能力，用于双色图像；以及每秒对样本进行一组15片的3D成像——这是迄今为止在商品显微镜上实现的罕见的高速度。

上个月末，通用电气医疗集团(GE Healthcare)签署了一项协议，收购细胞成像产品制造商Applied Precision，具体收购金额不详。随着这次收购行动，GE Healthcare有望进入快速增长的细胞成像领域。　　总部位于华盛顿西雅图郊外的Applied Precision开发并制造高分辨率以及超高分辨率的显微镜仪器，让研究人员能够以其他类型显微镜无法实现的规模来研究细胞过程。　　一般显微镜所拥有的分辨率能让研究人员观察到200 nm及以上的物体。因此，对于大小在10 nm左右的胰岛素，一般的显微镜是无法看到的。然而，有了超高分辨率显微镜，研究人员就能看到。电镜的分辨率与超高分辨率显微镜相似，但它们不能活体观察细胞，而后者能做到。　　GE Healthcare负责细胞技术的总经理Amr Abid向国外媒体透露，通过在此水平研究细胞功能，研究人员能够对功能异常细胞的机制有了更深入的了解。他举了一些例子，比如利用超高分辨率显微镜来研究HIV病毒如何穿透细胞，这为新药开发提供了信息。　　几个世纪以来，科学家们都是利用光学显微镜对肉眼无法看到的结构进行观测，目前光学显微镜已经成为了实验室必备的实验器材之一，但是随着研究的深入，光学显微镜的分辨率已经无法达到科学家们的要求了。2008年，《Nature》杂志将超高分辨率显微技术评为年度技术。　　Abid估计，如今整个显微镜市场大概在20亿-30亿美元。其中，超高分辨率显微镜占了约20%。Applied Precision和徕卡(Leica)是硬件方面的行业领先者，他们各自的市场份额大约为30%-35%。　　GE目前不提供超高分辨率显微镜，也不曾开发它们。Applied Precision的产品是对GE细胞分析产品线的很好补充。GE也在探索一些方法，将其现有的细胞研究技术与Applied Precision的仪器捆绑起来。　　目前，GE在细胞成像方面的旗舰产品是2009年上市的IN Cell平台。IN Cell Analyzer平台提供了一整套从自动化图像获取到数据的定量和深度分析以及可视化的强大工具，来协助整个高内涵分析过程。前不久，GE推出了最新版本的分析平台——IN Cell 6000。　　据Abid透露，由于Applied Precision在高分辨率以及超高分辨率显微镜方面声名卓著，故GE打算保留其名称。该公司还计划保留全部130名员工，并在技术上继续投资。　　GE还打算加大力度提高Applied Precision在亚太地区(如中国、印度和日本)的知名度，对于超高分辨率显微镜而言，这些区域是一个增长点，然而，Applied Precision目前的份额还很有限。