普通测厚仪

仪器简介：测量薄膜或片状材料的厚度均匀性 附件： 台式支座 样品砧 标准测头 可选配重使样品的压力达到要求可选测量V型缺口深度刀头.技术参数：5位LCD数字显示分辨率可至0.001mm精度: 0.002mm测厚范围为12.5mm或25mm手动置零装置 串行输出口用于连接打印机锂电池(3V) , 工作时间4000小时主要特点：测量薄膜或片状材料的厚度均匀性 可测量V型缺口深度.

孔铜测厚仪产品用途：手持式设备，用于非破坏性的测量多种基材上的，包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。孔铜测厚仪适用于测量：测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20ZN）钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头ESD2.4）钢铁上的电镀镍层（探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ）孔铜测厚仪产品特点：手持式仪器，根据相位敏感电涡流法快速、准确地测量镀层厚度，符合DIN EN ISO21968标准可测量印刷电路板上的铜厚度（频率为60KHZ或240KHZ的探头ESD20Cu）可测量印刷电路板中孔铜厚度（探头ESL080）可测量铁、非铁金属或非导电部件上金属涂层的厚度随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter,其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告。孔铜测厚仪技术参数:涡流相位测厚仪 PHASCOPE PMP10手提式镀层测厚仪器，采用相位灵敏测试方法，3个可选择的测试频率特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080下拉式菜单和对话框简化操作大容量：100个应用程式，20，000个测量数据，4，000个数据组3级显示精度自动关机功能密码保护、按键锁定功能自动、连续、外部触发3种特殊测量模式科学、统计、上下限、模拟分析4种显示模式您可能对以下产品也感兴趣：X射线荧光测厚仪，涂层镀层测厚仪菲希尔测厚仪

涂层测厚仪可无损地测量不同基体上的涂层厚度，广泛地应用在工业制造、金属加工、商检等检测领域。麦考特G6 是一款小量程(0-100um)，读值精度在±1um的涂层测厚仪。麦考特G6 可以精确无损地测量钢铁上的涂镀层厚度：- 电镀层、电镀镍层、磷化膜- 油漆、粉末涂层- 塑料、橡胶- 简而言之，可测钢上所有非磁性涂层的厚度产品特点：①.自动测量不会发生误操作 ②.易于掌握并具有极高精度 ③.不用校准、设定、检测简便 ④.不需要电池或其他电源 ⑤.自动报出厚度读值 ⑥.用无损测头，一点测定⑦.金属铠装适于室外频繁操作使用 ⑧.抗机械冲击、耐酸及溶剂腐蚀 ⑨.平衡装置消除地心引力影响，可在任意方向和管内准确测量。技术参数：操作说明：易于操作，测量时只需向前旋动指轮到标尺端部，将测头定在测量区上，松开自锁机构，开始自动测量。MikroTest锁定后，就能直接在标尺上显示出涂层厚度的正确值，单位um或mm。说明：麦考特系列涂层测厚仪均符合DIN EN ISO2178,DIN50982,ASTM B499,E376,D1186,G12,B530,BS5411,ISO2361标准。本系列产品只能用专用的底材和没有空气间隙的标准厚度板的检定，并不能使用普通的塑料标准厚度板检测。

纸张测厚仪随着科技的不断发展，纸张、纸板和印刷纸的厚度测量变得越来越重要。厚度是这些材料的重要质量指标之一，它对产品的质量、使用性能和寿命都有着重要的影响。机械接触式测厚仪是一种常见的厚度测量仪器，它具有高精度、高稳定性和易于操作等优点，被广泛应用于纸张、纸板和印刷纸的厚度测量。 纸张、纸板和印刷纸的厚度对产品的质量和性能有着重要的影响。为了控制产品质量和提高生产效率，需要采用高精度的厚度测量仪器对生产过程中的纸张、纸板和印刷纸进行实时检测。 纸张测厚仪是专门用于测量纸张厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种纸张的厚度，包括印刷纸、涂布纸、防伪纸等。在操作过程中，需要注意保持测量头的清洁，避免影响测量结果。 纸板测厚仪是专门用于测量纸板厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种纸板的厚度，包括普通纸板、瓦楞纸板、蜂窝纸板等。在操作过程中，需要注意调整测量头的压力，以保证测量的精度。 印刷纸测厚仪是专门用于测量印刷纸厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种印刷纸的厚度，包括铜版纸、胶版纸、新闻纸等。在操作过程中，需要注意保持印刷纸的平整度，避免影响测量结果。 机械接触式测厚仪是一种高精度的厚度测量仪器，适用于纸张、纸板和印刷纸等材料的厚度测量。在操作过程中，需要注意保持测量头的清洁、调整测量头的压力和保持被测材料的平整度等细节问题，以保证测量的精度和稳定性。通过使用高精度的测厚仪对纸张、纸板和印刷纸进行厚度测量，可以有效地控制产品质量和提高生产效率。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 纸张测厚仪此为广告

这个适配器是用于SR系列立体定位仪器的普通狨猴。采用燕尾结构，对吸口、眼条进行前后、上下调节。移动平稳，单手调整位置。附件普通狨猴的辅助耳棒尺寸/重量W125 × D52 × H67mm, 220g

PCB面铜测厚仪，菲希尔面铜测厚仪PCB面铜测厚仪产品用途：菲希尔面铜测厚仪采用微电阻方法进行检测，可用于测量线路板上铜层厚度的手持式仪器，它无损、快速、精确并且不会受到背面铜层的影响。特别适用于测量多层或是较薄的板材上的铜厚，因为该测量法保证了两面相对的铜层不会相互影响测量结果。同时还有款可以隔着油墨测量铜箔厚度测厚仪Phascope PMP10PCB面铜测厚仪技术参数：量程：0-120um 精度： 5 - 50 μm: ± 0.5 μm 50 - 80 μm: ≤ 1 % of value 80 μm: ≤ 2 % of value 测试面积：10*15mm

BT-180B金属壳超声波测厚仪一、产品概述BT-180B金属壳超声波测厚仪采用高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后得到减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多个领域。 二、主要功能 主要功能： 1. 适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其它任何超声波的良导体的厚度。2. 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的探头使用。3. 已知厚度可以反测声速，以提高测量精度。4. 具有耦合状态提示功能。5. 有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用。6. 有剩余电量 指示功能，可实时显示电池剩余电量。7. 具有自动休眠、自动关机等节能功能。8. 密封性全铝合金金属外壳，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰 。9. 设有两种关机方式：手动关机和自动关机。10. 采用锂电池供电，续航时间长达200小时（不开背光）。11. 采用国际9芯插座。3、 技术参数 测量范围0.65-600mm（钢中）分 辨 率0.01mm 测量单位公制与英制可选择 示值精度±0.04mm(10mm 时)；（±0.5%H+0.01mm）(10mm时) H 为被测物实际厚度声速范围1000~9999 m/s 显示方法高对比度的段码液晶显示，高亮度 EL 背光存储容量可存储2000个厚度测量数据工作模式具有单点测厚和扫描测厚两种测厚工作模式环境温度操作温度-20~+50°C；存储温度：-30°C~+70°C；相对湿度：≤90%测量周期单点测量时 4 次/秒、扫描模式 10 次/秒管材测量下限Φ20 mm×3.0 mm(5Mhz探头)；Φ15 mm×2.0 mm(7Mhz探头) 示值误差不超过±0.1 mm 校 准4.0 mm（钢） 探头规格Φ6 mm（选配） Φ10 mm（选配） Φ12 mm（选配） 电 源锂电池 操作时间连续操作大于200h（不开背光） 外形尺寸125×71×27 mm（长×宽×高mm） 重 量400g 四、可选探头及参数 名称 型号 频率(MHZ) 探头直径 测量范围 被测物体表面温度 特性描述 图片标准探头 N05 5 10mm 1mm～600mm（钢） -10～60℃ 常温使用（＜60℃） N05/90 粗晶探头 N02 2 12mm 3.0-300.0mm（钢）5.0-40.0mm(铸铁) -10～60℃ 用于铸铁等粗晶材质的测量 微径探头 N07 7 6mm/4mm 0.65mm～260mm（钢） -10～60℃ 用于薄壁及小弧面的测量， 高温探头 HT5 5 14mm 3mm～200mm（钢） -10～400℃ 用于温度小于350℃材料的测量 仪器优势对比超声波测厚仪BT180B优点 同价位其他型号测厚仪 1. 菜单式操作，高亮EL液晶显示，带LED背光 断码EL显示，功耗大，灰暗环境看不清 2. 声速可调，可测量多种材料 低价位的厂家只有5920一种钢的声速 3. 可配多种探头（标配、粗晶、小管径、高温）无需校准，自动识别校准 不能自动识别多种探头 4. 锂电池充电，续航时间长 普通5号电池，续航时间短 5. 可存储2000个厚度测量数据只能存储20~50组数据 6. 内部采用高集成化一块主板，芯片都是原装进口 大多都采用两块线路板，使用的国产器件居多 7.全铝合金金属外壳，防尘防电磁干扰普通塑料外壳，不防干扰材料声速表（以实际为准，列表仅供参考）

??FISCHERSCOPE-MMS PC2 台式涂镀层测厚仪|德国菲希尔台式涂镀层测厚仪正业科技成立于1997年，主要从事精密检测仪器及高端材料的研发，生产及销售，菲希尔产品为代理德国的产品。如需了解更多资讯可以随时联系我司。FISCHERSCOPE MMS PC2涂层测厚仪特点1、MMS PC2涂层测厚仪只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试！2、坚实且极为通用的台式多功能测量系统，具有保存数据和处理测量数据的功能.3、便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏，基于Windows® CE设计。4、众多不同的嵌入式测量模块，可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允5、许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块6、嵌入式模块 BETASCOPE® , SIGMASCOPE® , PHASCOPE® , DUPLEX, NICKELSCOPE® , SR-SCOPE® 和 PERMASCOPE® 采用了各种物理测试原理，详情请直接咨询我司。可连接多达八个测量探头 （可同时检测孔铜，面铜。）各种不同的探头，用于被测样品不同的几何形状和厚度范围随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter，其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告1、FISCHERSCOPE MMS PC2涂层测厚仪典型应用领域2、电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜（PERMASCOPE® 模块）3、纳米涂层（防指纹）、太阳能电池涂层（玻璃上的CdTe镀层）、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层（BETASCOPE® 模块）4、测量线路板上的面铜和孔铜（SIGMASCOPE® 模块）5、测量薄板或多层线路板表面铜层厚度，不会受反面铜层影响（SR-SCOPE® 模块）6、印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度（PERMASCOPE® 模块）7、汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层（PERMASCOPE® 模块）8、汽车行业中活塞表面的含铁涂层（NICKELSCOPE® 模块）9、奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量（PERMASCOPE® 模块）10、非铁磁性金属，如铜、铝、钛的电导率（SIGMASCOPE® 模块）

概述 超薄件穿透测厚仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超薄件穿透测厚仪主要功能● 采用“回波-回波"技术，可以实现超薄件的测量，最小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；还可以穿透表面镀层厚度测量基材厚度；● 增加穿透涂层测量基体厚度功能 ；● 两种测量：模式底波-回波模式满足常规厚工件测量；回波-回波模式满足薄工件测量精度高）；● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；● 可以进行报警设置和差值模式设置；● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位；● 可存储5种不同材料的声速。适用材料适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。基本原理超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。技术参数项目UC730探头类型单晶测量范围普通I-E模式：0.15mm～30mm(钢)穿透E-E模式：0.5mm～10mm(钢)，最大穿透涂层厚度0.5mm测量频率15M、20M 单晶显示分辨率0.01mm、0.001mm声速范围1000-9999m/s显示128*64 LCD显示，LED背光示指误差±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-30mm)，自动关机5分钟无操作后自动关机工作温度-10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃工作电压两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示操作时间碱性电池最长可使用200小时（不使用背光）数据存储500个数值存储功能默认储存声速可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。外形尺寸153mm*67mm*26 mm整机重量220g标准配置主机1台、15M单晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套可选配置数据传输线

智能识别、非接触单独测量金属镀层上的涂层厚度，最终膜厚数据自动不含镀层厚度对于带有含镀层的金属基材，由于普通测厚仪在测量时磁力线受镀层干扰，磁性干膜测厚仪无法精准测量镀层上的涂层厚度。另外受到底材表面粗糙度、测量曲面或边角时磁感线容易变形等因素影响，干膜测厚仪并不能适用于有镀层，或测量曲面、细小部位的涂层厚度；瑞士涂魔师ATO非接触测厚技术可以智能识别并非接触单独测量金属镀层上的涂层厚度，最终膜厚数据自动不含镀层厚度。涂魔师的测量精度不受镀层厚度影响，也不限金属基材和涂层材质，碳纤维、玻璃、陶瓷、橡胶等所有基材也能精准测厚。涂魔师ATO非接触无损测厚典型案例测试情况样品客户提供两种带有镀层的钢板涂层颜色分别为红色和白色测试需求非接触测量油漆干膜厚度，测试数据不能包含镀层厚度；1、面漆膜厚；2、面漆+底漆总膜厚；测试仪器涂魔师Flex非接触膜厚分析仪测试一：白色样品 面漆+底漆总膜厚样品编号干膜数据涂魔师 重复性测试涂魔师与干膜数据差异（客户提供）标准偏差平均值样品 A20 微米0.2200样品 B25微米0.325.30.3二：红色样品 面漆+底漆总膜厚样品编号干膜数据涂魔师 重复性测试涂魔师与干膜数据差异（客户提供）标准偏差平均值样品 A20 微米0.1200样品 B25微米0.125.70.7对比总结在本次测试中，涂魔师对同一个测试点进行重复性测试，可见：1、标准偏差≤0.3微米；2、涂魔师与客户提供的干膜数据差异≤0.7微米；3、从各测试点的平均值来看，涂魔师能识别样品上不同测试点的膜厚差异；与传统金属接触式测厚仪相比，涂魔师非接触膜厚分析仪具有以下优势：1. 在湿膜状态下实时快速精确测出干膜厚度，精度高达0.5微米；2. 高精度测量曲面、弯角、边缘部位膜厚，不受工件表面形状限制，如弹簧、螺钉等；3. 高精度，精度比干膜测厚仪更好；4. 一键快速测试、允许产品摇晃倾斜、测量距离和角度无需严格限制；5. 多种基材材质（玻璃、碳纤维、MDF、橡胶、金属等）和涂层类型（粉末涂料、水性涂料、含金属涂层、润滑油、粘胶剂等）都适用，并且无需更换测量探头，一机通用；6. 提供手持式Flex和在线式Inline等多款机型，满足在生产线上不间断连续测厚，数据实时存档与反馈，有助于提高工件涂装质量；综述传统的干膜测厚仪只能测烘干后涂层厚度，无法测试未干涂层得干膜厚度，涂装工人只能等待漫长的干燥时间才能获得膜厚情况，存在严重的滞后性问题；而涂魔师能在涂料未烘干状态下快速测出干膜膜厚，即使细小部位、边角、曲面等难测区域也能精准测出涂层厚度，为涂装人员提供可靠稳定的膜厚真实数据，避免人为的测量误差。通过对膜厚数据进行采集与分析异常膜厚数据，涂装人员能快速判断是否喷涂设备出现问题，从而提高喷涂工艺稳定性，有效减少涂装质量缺陷，杜绝返工。资料申请和咨询翁开尔公司作为涂魔师中国区总代理商，拥有近80多年的行业服务经验，我们能够在产品应用及选择上给您提供建议，如果您希望获得进一步的技术咨询或产品资料，欢迎与我们联系【400-6808-138】。

概述超薄件穿透测厚仪天研超声波厚度测定仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。主要功能● 采用“回波-回波”技术，可以实现超薄件的测量，最小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；还可以穿透表面镀层厚度测量基材厚度；● 增加穿透涂层测量基体厚度功能 ；● 两种测量：模式底波-回波模式满足常规厚工件测量；回波-回波模式满足薄工件测量精度高）；● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；● 可以进行报警设置和差值模式设置；● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位；● 可存储5种不同材料的声速。适用材料适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。基本原理超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。技术参数项目UC730探头类型单晶测量范围普通I-E模式：0.15mm～30mm(钢)穿透E-E模式：0.5mm～10mm(钢)，最大穿透涂层厚度0.5mm测量频率15M、20M 单晶显示分辨率0.01mm、0.001mm声速范围1000-9999m/s显示128*64 LCD显示，LED背光示指误差±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-30mm)，自动关机5分钟无操作后自动关机工作温度-10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃工作电压两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示操作时间碱性电池最长可使用200小时（不使用背光）数据存储500个数值存储功能默认储存声速可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。外形尺寸153mm*67mm*26 mm整机重量220g标准配置主机1台、15M单晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套可选配置数据传输线

产品介绍：普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01是安瓿瓶、西林瓶理想测量仪器；具有方便、耐用、精度高、价格低廉等优势。广泛 应用于药检质检、制药、科研、药包生产企业。产品特征：● 针对安瓿瓶而设计● 瓶底、瓶壁厚度测试一机完成 ● 超标准高精度表头 ● 机械式设计简单耐用● 大、小试样灵活可测 ● 液晶数字显示 ● 可连接电脑实现3级管理权限及打印（可选）技术参数：试样范围 0-12.7mm（其他厚度可定制） 分辨率 0.001mm 试样直径 ≤100mm 试样高度 ≤130mm 外形尺寸 250mm(L)*80mm(W)*290mm(H) 重量 5kg产品标准：GB2637-1995、GB/T2639-2008、YBB00332002普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01 普创-药用瓶瓶壁厚测厚仪-BTG-01

普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片测厚仪-PTT-03A 普创-硅片测厚仪-PTT-03A

CHY-C2A台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪 铜箔厚度测定仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。CHY-C2A台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪 铜箔厚度测定仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817CHY-C2A台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪 铜箔厚度测定仪技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

产品简介：PTT-02薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池 隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备用途：塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对 材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 重复性 0.4μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)； 接触面积 50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。普创-PTT-02薄膜测厚仪 普创-PTT-02薄膜测厚仪

普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A

HCH-3000E/E型超声波测厚仪一、仪器特点HCH-3000E/E采用了单片机与CPLD综合系统的全新技术，集发射-回波模式与回波-回波模式于一身的智能型超声波测厚仪。具有功耗低、穿透力强、示值稳定、检测精度高、更具人性化的操作界面等特点。其新增加的功能包括：探头识别、分批组管理数据、多种在线测量模式、声速测量等，使仪器更加适合工业现场的工作需求。二、应用范围超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，主要用于测量硬质材料的厚度，如：钢铁、不锈钢、铝、铜、铬合金等金属材料，及塑料、橡胶、陶瓷、玻璃等非金属。该仪器广泛应用于石油、化工、电力、锅炉、冶金、造船、航空、航天等各个领域。三、主要功能1、探头自动识别：可选多种原厂探头，每次开机自动识别探头；根据探头自动调整灵敏度，自动探头零位调整； 也可以手动选择相应的探头作为测量探头。2、工作模式及量程： a、发射-回波模式：标准测量，用于普通的厚度测量。通过选择不同种类的探头，HCH-3000E/E最薄可测量0.8mm，最高上限可达500mm。 b、回波-回波模式：能够穿透涂层直接对基体测厚，无需耗费时间和费用去除涂层后再测量；测厚范围：3.0—20mm。 3、探头零位：自动探头零位调整以满足众多探头在不同的测试条件下的最佳参数设置，能够有效的避免由于探头的磨损或者温度变化等因素对测量结果产生的影响。 4、数据管理：通过分组的方式来管理存储的数据。一共分6组，每组包含100个数据。可以对任意一组数据进行查看、删除、打印以及与电脑进行通信操作。 5、测量模式：包括常规测量、最小值扫描、监控测量和扫描测量四类测量模式。可以在不同的工作现场下给用户提供不同的使用方式，以解决现场的需求。简述如下：a、常规测量 方便用户单次测量，每一次循环测量结束，蜂鸣器响一 下，提示用户当前测量结束。b、最小值扫描该模式为快速测量模式。测量数据时，仪器会自动捕捉到最小的测量值。如果工厂验收以样品的最小厚度值为检验标准的话，那么这种测量模式无疑是最好的选择。c、监控测量在这种模式下用户可以通过设置报警上限值和报警下限值来实时监控工件的厚度是否合格，测量数据一旦超出上下界限，仪器就会显示超限提示符号，并闪烁所测厚度值并伴有蜂鸣声来提示用户。同时，用户还可以进行基数设置，来预定一个标准值，进而时刻监控测量值与标准值的偏差。d、扫描测量该模式为快速测量模式，屏幕右上角有“SCAN”提示符。只要探头耦合，仪器会连续快速测量。6、声速a、通过手动调整的方式来调整不同的声速来适应不同的测量材料。b、仪器本身内置了10种不同材料的声速，用户可根据现场材料选择。若需要细微调整，可进入手动调整中修改。c、仪器还具有反测声速的功能，若工作人员不知所测材料的声速，该功能会提供方便。7、关机：具有自动关机和手动关机两种方式。8、背光：背光开、背光关、自动背光三种方式供用户选择。9、仪器信息：可以查看仪器的软件版本、探头信息以及厂商信息。10、系统初始化：由于误操作或者其他外界原因造成仪器系统紊乱时，允许用户恢复到出厂时的状态。11、欠电指示：在仪器屏幕左上角的位置，显示＂＂表示电池电压欠电，需要及时更换电池以免影响使用；显示＂＂表示电池电压正常。特别提示：仪器中内置已知声速的10种材料分别是：钢、铁、铸铁、铜、铝、铅、铬、锡、玻璃、不锈钢四、技术参数1、测量范围：发射-回波模式，0.8—500mm（根据具体探头）； 回波-回波模式，3.0—20mm（EE-10探头）。2、声速范围：1000~9990m/s3、显示位数：四位数字4、示值精度：0.1mm（测量大于100mm）； 0.01mm（测量小于100mm）。5、测量误差：H10mm， ±0.05； H≥10mm， ±(0.01+H/200)。（H为测量厚度值）6、使用环境：温度：-10℃~60℃；相对湿度小于90%。7、测量方式：手动存储测量8、存储容量：分为6组，每组100个测量点，共有600个测量点9、外形尺寸：146mm*81mm*30mm10、重量：300g(含电池)11、电源：两节五号（AA）电池12、可选探头：PT-08、PT-06、PT-04、PT-10、ZT-12、GT-12、EE-10。五、配置：1、HCH-3000E/E主机 1台2、探头(EE-10) 1支3、耦合剂 1瓶4、1.5V电池 2节5、使用说明书 1份6、保修卡、合格证 1份7、手提箱 1只可选配件： 1、打印机及通讯打印连线 1套 2、微机通讯软件 1盘 3、阶梯试块 1块 4、高温、铸铁、小管径等探头

金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix 金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix

普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A 普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A

普创paratronix测厚仪PTT-03A普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创paratronix测厚仪PTT-03A 普创paratronix测厚仪PTT-03A

金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix 金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix

普通介质流量计特点数字化v 采用多参数变送器解决了数字化、宽量程(流量30：1以上)、温压补偿累积运算、网络传输等问题；v 数字化解决了密度实时补偿问题；v 允许温度、压力的大幅变化；v 允许双向计量。标准化v 变送器内置并执行标准：GB/T 2624；系统设计DB13/T2957-2019；网络连接符合GB/T 19582等；v 规范化克服了诸多干扰因素，使系统精度高且稳定：1%/（10：1范围）；1.5%/（30：1范围）。一体化、免维护v 一体化结构解决了堵、漏、冻、积水和一体化安装的问题；v 允许层流和密度不均状态下使用，对计量无影响；v 允许少量的污物、水和腐蚀杂质；v 耐压力冲击能力可达静压；v 可在线维修；v 寿命长，大于10年。普通介质流量计 技术参数：管道直径一体化孔板、喷嘴：DN35～600节流件材质优选1Cr18Ni9Ti；次选304、316L温度范围环境温度：-25～75℃；介质温度：0～450℃压力范围2.5 MPa、6.4 MPa、10MPa、35MPa流量宽度30：1系统精度±1.0%；实流校准后±0.5%；宽量程：±1.5%；插入式：±2.5%不确定度诸多因素影响，本公司可向您提供有关咨询服务防护等级IP67防爆等级ExiaⅡCT4/T5/T6Ga本安防爆供电电源24V DC夹持件材质A3钢、20#钢（可选）、1Cr18Ni9Ti（可选）法兰标准为保证同心度的要求，采用非标准密封面；法兰、螺栓和金属石墨垫均配套提供直管段长度依据计算书流量范围ReD≥2000(0.2≤β≤0.45)、ReD≥5000(β＞0.45)，详见计算书应用现场：

薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品简介：薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix 薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix

高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix产品简介：高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix 高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix

普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A 普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A

新诺 HCC系列 电涡流式测厚仪 磁阻法超声波测厚仪 产品型号HCC-25产品图片测量范围0～1200μm测量精度±（1~3％H+1μm分辨率1μm*小测量面直径φ10mm电源6F22型9V电池一节外形尺寸160×80×30mm重量约250g使用范围温度0~40℃；相对湿度不大于90％显示：4位LCD显示测量的平均值，*大值，*小值，标准偏差和测量次数，同时指示仪器的工作状态及电池使用情况 产品型号HCC-24产品图片测量范围0μm～1200μm示值误差±(3%H+1）μm H为被测涂层厚度 分辨 率1μm*小测量面的直径φ10 mm 产品型号HCC-18/HCC-18A产品图片测量范围0~2000μm示值误差±5％使用环境温度0℃～40℃*小测量面直径Φ10mm电源6F22 电池一节 外形尺寸172mm×85mm×49mm重量370g自动关机停止测量后，约5分钟自动关机欠电压自动报警当电池电压过低时，量程指示灯闪烁点亮 型号HCC-17/HCC-17Ex（防爆型）产品图片测量范围1.5～200mm（45#钢，以下均同）分辨率0.1mm测量精度±（0.5%H＋0.1）mm（H:被测材料的厚度）声速设置范围1000～9999m/s声速设置范围1000～9999m/s电源消耗约50mw(一节6F22型电池一般可工作100小时)外形尺寸120mm×60mm×26mm质量400g 型号HCC-16P产品图片显示红色发光数码管，三位半数字显示；显示分辨率0.1 mm；厚度值显示保留时间约2 s；厚度测量范围2mm～200mm（45#钢）示值误差±（1%H＋0.1）mm，（H：被测材料的厚度）探头频率5MHz允许环境温度0~40℃声速测量范围100m/s~9990m/s零位校正试块5.0mm功率消耗约0.3W自动关机开机后不进行任何操作，约1分钟自动关机电源五节五号普通电池或镍镉电池电源失压报警电池电压低于6.2V时*低位小数点闪烁外形尺寸160mm×68mm×39mm质量约450g 注：本公司商品信息均来自于厂商提供资料、网页、宣传册等，质量可靠，保证正品！但由于新广告法规定不得出现绝对化和功能性描述用词，以及写有没写号或已过期等情况，我司已在逐步排查和修改完善。也欢迎用户协助反馈，我司将赠送精美小礼品一份。并在此郑重表态：我司所有页面存在的极限词或违禁词全部失效，不接受不妥协以任何形式的“打假名义”进行网络欺诈，请为真正的消费者让路，也请各位职业“打假高手”高抬贵手。

38DL PLUS超声测厚仪： 性能高级、操作简便、坚固耐用、结果可靠38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可有效地适用于几乎各种超声测厚应用，而且与几乎各种双晶探头和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的非常精确的壁厚测量。38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多性能强大又易于使用的测量功能，以及许多专用于某些特定应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以在非常潮湿或暴土扬沙的严酷环境中正常操作。其彩色透反VGA显示屏无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性。测厚仪的键区非常简洁，且符合人体工程学的要求，操作人员使用单手（左手或右手）操控键区，就可以轻松访问仪器的所有功能。主要特性可与双晶探头和单晶探头兼容宽泛的厚度测量范围：0.08毫米到635毫米，具体可测厚度根据材料和所选探头而定使用双晶探头进行腐蚀测厚操作穿透涂层（THRU-COAT）和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料内部氧化层/沉积物软件选项对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量，最多可同时测量4层高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料厚度、声速和渡越时间的测量差分模式和缩减率模式时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可回顾的读数带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态增益技术用于自定义V声程补偿的V声程创建功能设计符合EN15317标准这款测厚仪为何与众不同？38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且其机身坚固耐用，可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场潮湿还是多尘，寒冷还是炎热，明亮或是黑暗，38DL PLUS都可以正常完成检测工作。如果您需要一款在正常情况下，不怕撞击，不怕坠落且坚固耐用的测厚仪器，那么，符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。在恶劣环境中操作的性能袖珍型，仅重0.814公斤坚固耐用，设计符合IP67标准爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。宽泛的操作温度范围带有支架的橡胶保护套彩色透反VGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有非常好的清晰度简便操作的设计理念简洁的键区，只用单手（左手或右手）即可操控仪器操作简便的用户界面，可直接访问所有功能内置和外置microSD存储卡的存储方式USB和RS-232通讯端口可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器可连接计算机或显示器的VGA输出默认/自定义的双晶探头设置默认或自定义的单晶探头设置密码保护功能可以锁住仪器的功能户外显示设置，A扫描模式室内显示设置，B扫描模式38-Link无线通信适配器可选配的38-Link适配器，通过蓝牙（Bluetooth）技术或无线局域网连接方式，可以使操作人员在任何现有的38DL PLUS仪器和其它设备之间传送和接收数据。38-Link适配器具有3种强大的无线通讯能力：与奥林巴斯科学云系统（OSC，Olympus Scientific Cloud）和检测项目管理器（IPM，Inspection ProjectManager）应用程序进行无线通信的能力，可使用户更有效地对检测进行管理并完成其他工作。通过蓝牙技术与奥林巴斯链接移动应用程序或其他相兼容的第三方应用程序进行通信通过蓝牙技术与可选配的Link-Wedge软件进行通信，以直接将厚度读数发送到运行Windows 10的PC机中的激活的Windows应用程序中。*针对不同的地区，无线局域网和蓝牙适配器的提供情况会有所不同。要了解更详细的信息，请与您所在地的奥林巴斯销售代表联系。数据记录器和PC机接口38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。内置存储容量为475000个厚度读数，或20000个带有厚度读数的波形32位字符的文件名称20位字符的ID#（TML#）编码9种文件格式：增量型、序列型、带自定义点的序列型、2维栅格型、带自定义点的2维栅格型、3维栅格型、3维自定义型、锅炉型及手动型每个ID#（TML）编码可最多存储4个注释注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上内置和外置microSD存储卡可以在内置和外置microSD存储卡之间拷贝文件标准USB和RS-232通信单晶和双晶探头设置的双向传输机载统计报告机载DB栅格视图，使用3种可编辑的颜色GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信，可以读取microSD存储卡上的数据，还可以在存储卡上写入信息可将内部文件以与Excel兼容的CSV（以逗号分隔值）格式直接导出到microSD存储卡中GageView基于Windows的GageView接口应用程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据创建数据集和测量总结编辑所存数据显示数据集和测量总结文件，文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值从测厚仪上下载厚度测量总结，或将厚度测量总结上传至测厚仪将测量总结导出到电子表格程序及其它程序中收集屏幕截图打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告升级操作软件下载和上传单晶和双晶探头的设置文件B扫描回顾机载DB栅格视图，使用3种可编辑的颜色标准配置38DL PLUS数字式超声测厚仪，交流电源或电池供电，50 Hz ～ 60 Hz。标准双晶探头的套装充电器/AC适配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）内置数据记录器GageView接口程序试块和耦合剂USB线缆橡胶保护套，带有仪器支架和颈挂带《用户手册》测量功能：穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、最小值/最大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/最小值模式

【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间：60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源：交流 220V±5V（建议配置交流净化稳压电源） 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确，维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确 ● 一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化 ● 七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术，保证 X 射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出：1mA2.2.2 属于半损耗型部件，使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出： 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数： 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 操作得更轻松，使操作更人性，更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.7 配置小孔准直器，测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

1.产品用途：Milum 系列 MM805 是台式测量 PCB 镀孔面铜厚度的双功能测厚仪。2.产品特点：7 寸触控式彩色屏幕，功能键全部显示于画面，只要触摸屏幕即可轻易调整并确认，操作界面轻松上手，量测与统计一目了然 配合孔铜探头 ETP 可做 35mils 以上孔径测量 温度补偿功能，所测数据稳定性高 面铜部分使用探头 SCP-15，它能与蚀刻前、后测量 PCB 面铜镀层厚度，于板厚无关，独特的替换式测针（Tips），共有三种规格可供选择，应用于不同的产品生产线应用：涡电流感应式测量 PCB 孔铜厚度；微电阻式测量 PCB 表面铜厚度99 组应用程序，可分别独立设定孔铜或面铜校正程序组 可分别设定校正因子、补偿值，以符合产品规格与标准可分别设备定规格上、下限，方便计算 Cpk 以及辨别出是否超出所测量范围 测量单位 mil、um、uinch、mm、inch 孔面铜测头均采用独特设计的可替换测针(Tips) 标准片校正 面铜测量时可依制成上测量面积的大小不同宣统适合的测针（W/M/N）测试头采用快速插拔式接头设计 拥有 RS-32、USB 传输接口，可连接计算机做数据传输 可接针式打印机打印输出3.主要功能测量范围 SCP-15:0.01~20.0mils（0.2~500um）ETP:0.04~8.0mils（1.0~200um）最小孔径限制 ETP:0.35mil（0.85mm）以上误差 ±3%（根据标准片）分辨率 SCP-15:0.001mil（＜mil）/0.02mils（＞1mil）ETP:0.01mils（0.25um）PCB 板厚限制 SCP:无/ETP：最小 30mils（0.75mm）记忆容量 20000 笔读值尺寸 （长）280mm/（宽）280mm/(高)120mm输出接口 RS-232/USB/Parallel Port重量 2.4 公斤电源 AC 90-23-V/50~60HZ4.面铜探针规格SCP-15W SCP-15M SCP-15N型号：SCP-15W Tips直径：2cm（±0.1cm）高度：1.8cm（±0.1cm）探针材质：Au/Ni/Cu探针距离：0.7cm型号：SCP-15M Tips直径：2cm（±0.1cm）高度：1.8cm（±0.1cm）探针材质：Au/Ni/Cu探针距离：0.45cm(±0.01cm)型号：SCP-15N Tips直径：2cm（±0.1cm）高度：1.8cm（±0.1cm）探针材质：Au/Ni/Cu探针距离：0.15cm(±0.1cm)

FT-106C普通磨料堆积密度测定仪磨料堆积密度系粒状磨料在自然堆积的情况下，在空气中单位体积内所含磨料的质量，其单位为克/厘米3；与标准中之DMP-1型堆积密度测定仪为同一个产品FT-106C普通磨料堆积密度测定仪一、依据GB/T3603-83普通磨料堆积密度测定方法要求制作，适用于刚玉及碳化硅8~240号粒度磨料堆积密度的测定。FT-106C普通磨料堆积密度测定仪二、技术要求1.漏斗材质：黄铜或不锈钢；锥部高度：82毫米；锥部角度：60~63°；2. 漏斗颈内径：12.7±0.05毫米；漏斗颈长度：12.70.05毫米。3.工艺要求：表面光滑，无加工痕迹。4.漏斗锁闭装置是一个直径为35毫米的橡胶球。用两根弹簧固定在漏斗颈的下端。漏斗颈下端至测量筒口的距离为115±2毫米。5.测量筒材质：黄铜；内径：39±0.1毫米；内部深度：83.7±0.1毫米；容积：约100厘米3.6.刮料板材质：黄铜7.选购天平：称重500g，精确到0.1克8.配置：架台：1套 ；漏 斗： 1只；量 杯 黄铜材质（Φ31mm、25ml）1只 溢料盘不锈钢1只 毛 刷1只 说明书；保修卡；合格证。