微压痕仪

多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

德国仪力信Erichsen硬度仪263型原理 用带有固定头形状的负荷在物体材料上面压一定的时间，压痕经过一段时间的恢复后通过显微镜测量压痕的长度，通过长度测量其硬度 德国仪力信Erichsen硬度仪263型应用范围 1.被测覆层必须平整光滑干净，而且底材平整并能承受住测试仪的压力 2.覆层的厚度必须超过压痕深度10微米以上 3.如果作比较，则样品必须一样，试验的其他条件也要一样 德国仪力信Erichsen硬度仪263型技术参数 尺 寸100 x 50 x 40 mm 净 重1 kg 显微镜 尺 寸100 x 30 x 10 mm 净 重0.2 kg

与菲希尔纳米压痕仪系列相配的专用维氏压头（四棱锥，面向角136°），天然金刚石材质，用于进行纳米压痕测试。压头附带DKD证书。

孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

轶诺|硬度计配件|夹持钳轶诺提供各种规格的夹具和夹持钳可供选择，用于支撑和夹持各种不规则的试样。高端进口硬度计-轶诺硬度计轶诺INNOVATEST 手动或自动硬度测试仪器（通常被称为硬度计），适用于广泛的试样测试及应用。富有创新性的机械、软件和硬件科技为质保、实验室或机器人在线测试提供先进的解决方案。INNOVATEST硬度计涵盖维氏、洛氏、布氏、努氏、布洛维硬度计等硬度计，产品均符合ISO和ASTM标准。在ISO 17025标准实验室中，您可放心使用检定和认证后的INNOVATEST硬度计。INNOVATEST多功能硬度计涵盖超广的试验力范围和测试方法，为用户提供了拥有一台硬度计便实现全标尺测试的便捷、友好的用户体验。IMPRESSIONS&trade 硬度测试与工作流程控制软件提供了近乎无穷尽的功能。先进的压痕扫描算法应用了先进的现代化AI（人工智能）技术。硬度计附件如硬度试块和压头均带有可追溯性证书。INNOVATEST硬度测试专家以及遍布全球的经销商欢迎您的垂询，如您有特殊的定制需求，我们的工程师将高效地提供适合您的解决方案。 位于荷兰的总部是我们卓越的研发与生产中心，而位于德国、波兰、美国、日本和中国的销售与服务分公司与我们遍布全球的经销商一起，旨在为全球客户提供卓越的服务和质保体系。无论您需要的是全自动硬度计，硬度测试仪器或者是应用于车间的简单硬度测试解决方案，在Innovatest，您正与全球的硬度测试专家对话。

Kleindiek超精密测力系统配件FMS-LS是显微操作器的一个配件，用于测量纳米压痕和超微力测量。Kleindiek超精密测力系统配件FMS-LS特点Force measurement system调节器连接附件，调节器显示力反馈，并且在扬声器上播放材料的谐振频率。由具有集成吸管夹持器的力传感器，具有前置放大器和扬声器的控制模块，PC软件，电源，和操作者的手册组成。Kleindiek超精密测力系统配件FMS-LS应用测量细胞，杨氏模量，微机电系统（MEMS）的弹簧常数和共振频率的弹性参数纳米压痕Kleindiek超精密测力系统配件FMS-LS规格分辨率：亚μN测力范围：最高可达10毫米输出：+/-10 V

硬度计配件/镶嵌样品夹持台样品夹持器，用于1个、4个、6个等多个样品直径50mm/2"高端进口硬度计-轶诺硬度计轶诺INNOVATEST 手动或自动硬度测试仪器（通常被称为硬度计），适用于广泛的试样测试及应用。富有创新性的机械、软件和硬件科技为质保、实验室或机器人在线测试提供先进的解决方案。INNOVATEST硬度计涵盖维氏、洛氏、布氏、努氏、布洛维硬度计等硬度计，产品均符合ISO和ASTM标准。在ISO 17025标准实验室中，您可放心使用检定和认证后的INNOVATEST硬度计。INNOVATEST多功能硬度计涵盖超广的试验力范围和测试方法，为用户提供了拥有一台硬度计便实现全标尺测试的便捷、友好的用户体验。IMPRESSIONS&trade 硬度测试与工作流程控制软件提供了近乎无穷尽的功能。先进的压痕扫描算法应用了先进的现代化AI（人工智能）技术。硬度计附件如硬度试块和压头均带有可追溯性证书。INNOVATEST硬度测试专家以及遍布全球的经销商欢迎您的垂询，如您有特殊的定制需求，我们的工程师将高效地提供适合您的解决方案。位于荷兰的总部是我们卓越的研发与生产中心，而位于德国、波兰、美国、日本和中国的销售与服务分公司与我们遍布全球的经销商一起，旨在为全球客户提供卓越的服务和质保体系。无论您需要的是全自动硬度计，硬度测试仪器或者是应用于车间的简单硬度测试解决方案，在Innovatest，您正与全球的硬度测试专家对话。

轶诺|硬度计配件|压头INNOVATEST所有压头符合ISO和ASTM国际标准要求，由 ISO 17025 RvA 认可的实验室进行校准，其校准器具可追溯到德国Braunschweig物理技术国家计量院. RvA、UKAS DaKKS、COFRAC 是 ILAC 的签署方.高端进口硬度计-轶诺硬度计轶诺INNOVATEST 手动或自动硬度测试仪器（通常被称为硬度计），适用于广泛的试样测试及应用。富有创新性的机械、软件和硬件科技为质保、实验室或机器人在线测试提供先进的解决方案。INNOVATEST硬度计涵盖维氏、洛氏、布氏、努氏、布洛维硬度计等硬度计，产品均符合ISO和ASTM标准。在ISO 17025标准实验室中，您可放心使用检定和认证后的INNOVATEST硬度计。INNOVATEST多功能硬度计涵盖超广的试验力范围和测试方法，为用户提供了拥有一台硬度计便实现全标尺测试的便捷、友好的用户体验。IMPRESSIONS&trade 硬度测试与工作流程控制软件提供了近乎无穷尽的功能。先进的压痕扫描算法应用了先进的现代化AI（人工智能）技术。硬度计附件如硬度试块和压头均带有可追溯性证书。INNOVATEST硬度测试专家以及遍布全球的经销商欢迎您的垂询，如您有特殊的定制需求，我们的工程师将高效地提供适合您的解决方案。位于荷兰的总部是我们卓越的研发与生产中心，而位于德国、波兰、美国、日本和中国的销售与服务分公司与我们遍布全球的经销商一起，旨在为全球客户提供卓越的服务和质保体系。无论您需要的是全自动硬度计，硬度测试仪器或者是应用于车间的简单硬度测试解决方案，在Innovatest，您正与全球的硬度测试专家对话。

将这些浓缩柱用于高纯水分析中的通用阴离子浓缩。 将 Thermo Scientific™ Dionex™ IonPac™ TAC-LP1 痕量阴离子浓缩柱用于低反压操作（2mL/min 时 60 psi），将 Thermo Scientific™ Dionex™ IonPac™ TAC-ULP1 痕量阴离子浓缩柱用于超低压操作（2mL/min 时 30 psi）。描述将水分析的检测限降低 2-5 个数量级Dionex IonPac 和阴离子浓缩柱主要为高纯水分析而设计。 浓缩柱可以从已测得体积的水性样品基质中保留阴离子，从而浓缩分析物，并将检测限降低 2-5 个数量级。其规格适用于低反压和超低反压操作25.0μeq/柱容量低死体积 (~145μL)推荐用于氢氧化物、碳酸盐/碳酸氢盐和硼酸盐淋洗液，带或不带溶剂兼容 Dionex AS、AS-DV、AS-AP、AS-HV 自动进样器、加压瓶、注射器和单活塞样品传送泵（Dionex AXP 辅助泵）Dionex™ IonPac™ TAC-ULP1 超低压痕量阴离子浓缩柱 推荐用作您进行高纯水分析的通用型阴离子浓缩柱超低反压操作（30 psi at 2mL/min)单一规格 (5x23mm)Dionex™ IonPac™ TAC-LP1 痕量阴离子浓缩柱 低反压操作（60 psi at 2mL/min)单一规格 (4x35mm)产品规格 - Search Display Family Umbrella Brand Thermo Scientific™ 适用于 SP10 AutoNeutralization Module 色谱柱化学特性 Hydroxide, Carbonate/Bicarbonate, or Borate 交联 6%DVB 直径（公制） 4mm 疏水性 Very Low 流速 1.0to3.0mL/min. 最大压力 3000psi 流动相兼容性 Hydroxide, carbonate/bicarbonate, or borate eluents 1-100% HPLC solvents 粒径 18μm 色谱柱容量 25μeq 溶剂 1-100% HPLC solvents 长度（公制） 35mm 技术. Anion Concentrator 空隙容积（公制） 145μL 物品描述 TAC-LP1

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020

轶诺|硬度计配件|物镜INNOVATEST 轶诺提供各种规格、长工作距离的物镜，倍数有2.5x, 5x, 10x, 20x, 40x, 60x, 100x等。 高端进口硬度计-轶诺硬度计轶诺INNOVATEST 手动或自动硬度测试仪器（通常被称为硬度计），适用于广泛的试样测试及应用。富有创新性的机械、软件和硬件科技为质保、实验室或机器人在线测试提供先进的解决方案。INNOVATEST硬度计涵盖维氏、洛氏、布氏、努氏、布洛维硬度计等硬度计，产品均符合ISO和ASTM标准。在ISO 17025标准实验室中，您可放心使用检定和认证后的INNOVATEST硬度计。INNOVATEST多功能硬度计涵盖超广的试验力范围和测试方法，为用户提供了拥有一台硬度计便实现全标尺测试的便捷、友好的用户体验。IMPRESSIONS&trade 硬度测试与工作流程控制软件提供了近乎无穷尽的功能。先进的压痕扫描算法应用了先进的现代化AI（人工智能）技术。硬度计附件如硬度试块和压头均带有可追溯性证书。INNOVATEST硬度测试专家以及遍布全球的经销商欢迎您的垂询，如您有特殊的定制需求，我们的工程师将高效地提供适合您的解决方案。位于荷兰的总部是我们卓越的研发与生产中心，而位于德国、波兰、美国、日本和中国的销售与服务分公司与我们遍布全球的经销商一起，旨在为全球客户提供卓越的服务和质保体系。无论您需要的是全自动硬度计，硬度测试仪器或者是应用于车间的简单硬度测试解决方案，在Innovatest，您正与全球的硬度测试专家对话。

TCC-ULP1 Ultralow Pressure Trace Cation Concentrator ColumnThe IonPac® TCC-ULP1 Trace Cation Concentrator Column is a pellicular cation-exchange concentrator column with moderately low void volume (approximately 145 μL). It is designed primarily for high purity water analysis. The column strips ions from a measured volume of aqueous sample matrix, concentrating the analyte species, thereby lowering detection limits.The TCC-ULP1 Ultralow Pressure Trace Cation Concentrator Column is a general purpose, ultralow-pressure concentrator for use with syringe or autosampler loading (AS40, AS50, or AS autosamplers) and with single-piston sample delivery pumps including the DXP-1 and DQP. The TCC-ULP1 can be used with sulfuric acid, methanesulfonic acid, and hydrochloric acid eluents.Note: The TCC-ULP1 is recommended for use with carboxylated columns such as the IonPac CS12, CS12A, CS14, CS15, CS16, CS17, and CS18 columns.IonPac® TCC-ULP1 Ultralow Pressure Trace Cation Concentrator Column SpecificationsFunctional Group Characteristics:Ion-Exchange Group: Fully functionalized with carboxylic acidHydrophobicity: Very LowMobile Phase Compatibility:Monovalent eluents (sulfuric acid, methanesulfonic acid, or hydrochloric acid).0–100% HPLC solvents.Dimensions:IonPac TCC-ULP1 Trace Cation Concentrator Column: 5 × 23 mmSubstrate Characteristics:Bead Diameter: 20 μmCrosslinking (%DVB): 55%Capacity:260 μeq (5 × 23 mm concentrator column)Void Volume:145 μLAccessoriesTCC-ULP1 Ultralow Pressure Trace Cation Concentrator (5 x 23 mm)063783

将这些浓缩柱用于高纯水分析中的通用阴离子浓缩。 将 Thermo Scientific™ Dionex™ IonPac™ TAC-LP1 痕量阴离子浓缩柱用于低反压操作（2mL/min 时 60 psi），将 Thermo Scientific™ Dionex™ IonPac™ TAC-ULP1 痕量阴离子浓缩柱用于超低压操作（2mL/min 时 30 psi）。描述将水分析的检测限降低 2-5 个数量级Dionex IonPac 和阴离子浓缩柱主要为高纯水分析而设计。 浓缩柱可以从已测得体积的水性样品基质中保留阴离子，从而浓缩分析物，并将检测限降低 2-5 个数量级。其规格适用于低反压和超低反压操作25.0μeq/柱容量低死体积 (~145μL)推荐用于氢氧化物、碳酸盐/碳酸氢盐和硼酸盐淋洗液，带或不带溶剂兼容 Dionex AS、AS-DV、AS-AP、AS-HV 自动进样器、加压瓶、注射器和单活塞样品传送泵（Dionex AXP 辅助泵）Dionex™ IonPac™ TAC-ULP1 超低压痕量阴离子浓缩柱 推荐用作您进行高纯水分析的通用型阴离子浓缩柱超低反压操作（30 psi at 2mL/min)单一规格 (5x23mm)Dionex™ IonPac™ TAC-LP1 痕量阴离子浓缩柱 低反压操作（60 psi at 2mL/min)单一规格 (4x35mm)产品规格 - Search Display Family Umbrella Brand Thermo Scientific™ 适用于 AS40, AS50, AS Autosampler 色谱柱化学特性 Hydroxide, Carbonate/Bicarbonate, or Borate 交联 6%DVB 直径（公制） 5mm 疏水性 Very Low 流速 1.0to3.0mL/min. 流动相兼容性 Hydroxide, carbonate/bicarbonate, or borate eluents 1-100% HPLC solvents粒径 18μm 色谱柱容量 25μeq 溶剂 1-100% HPLC solvents 长度（公制） 23mm 技术. Anion Concentrator 空隙容积（公制） 145μL 物品描述 TAC-ULP1

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020

TCC-LP1 Low-Pressure Trace Cation Concentrator ColumnThe IonPac® TCC-LP1 Trace Cation Concentrator Column is a pellicular cation-exchange concentrator with moderately low void volume (approximately 145 μL). The TCC-LP1 is designed primarily for high-purity water analysis. The TCC-LP1 strips ions from a measured volume of aqueous sample matrix, concentrating the analyte species and lowering detection limits.The TCC-LP1 is a general purpose, very low-pressure concentrator for use with syringe or autosampler loading. It is also designed for use as the concentrator column in the SP10 AutoNeutralization module for cations. The TCC-LP1 can be used with sulfuric acid, methanesulfonic acid, and hydrochloric acid eluents.Note: The TCC-LP1 is recommended for use with carboxylated columns such as the CS12, CS12A, CS14, CS15, CS16, CS17, and CS18.IonPac TCC-LP1 Low-Pressure Trace Cation Concentrator Column SpecificationsDimensions4 × 35 mmMobile phase compatibilityMonovalent eluents (sulfuric acid, methanesulfonic acid, or hydrochloric acid).0–100% HPLC solvents.Substrate characteristicsBead Diameter: 20 μmCross-Linking (%DVB): 55%Functional group characteristicsIon-Exchange Group: Fully functionalized with carboxylic acidHydrophobicity: Very LowCapacity260 μeq (4 × 35 mm concentrator column)Note: Rated for use with 4-mm cation-exchange columns. Use 2-mm guard columns as concentrator columns for 2-mm chromatography if low void volume is required.Void volume145 μLAccessoriesIonPac TCC-LP1 Low Pressure Cation Concentrator046027

TCC-XLP1 Extremely Low Pressure Trace Cation Concentrator ColumnThe IonPac® TCC-XLP1 Extremely-Low Pressure Trace Cation Concentrator Column is a pellicular cation-exchange concentrator with moderately low void volume. The column is designed primarily for high purity water analysis. It strips ions from a measured volume of aqueous sample matrix, concentrating the analyte species and lowering detection limits.The IonPac TCC-XLP1 is compatible with a syringe or autosampler (AS40, AS50 or AS Autosamplers) and with singlepiston sample delivery pumps including the DXP-1 and DQP. It is recommended for use with carboxylated columns such as the IonPac CS12, CS12A, CS14, CS15, CS16, CS17, and CS18. The column is used with sulfuric acid, methanesulfonic acid, and hydrochloric acid eluents.IonPac® TCC-XLP1 Extremely Low Pressure Trace Cation Concentrator Column SpecificationsMobile Phase Compatibility:Monovalent eluents (sulfuric acid, methanesulfonic acid, or hydrochloric acid), 0–100% HPLC solvents.Dimensions:IonPac TCC-XLP1 Trace Cation Concentrator Column: 6 × 16 mmSubstrate Characteristics:Bead Diameter: 20 μmCrosslinking (%DVB): 55%Functional Group Characteristics:Ion-Exchange Group: Fully functionalized with carboxylic acid.Hydrophobicity: Very LowCapacity:260 μeq (6 × 16 mm concentrator column)Void Volume:145 μLAccessoriesTCC-XLP1 Extremely Low Pressure Trace Cation Concentrator (6 x 16 mm)063889

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。