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透射测量

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透射测量相关的资讯

  • 玻璃行业中的透射与反射色彩质量测量—色差仪
    玻璃作为一种常见的材料,广泛应用于建筑、汽车、家具等领域。在玻璃行业中,透射和反射是两个重要的性质。透射涉及玻璃对可见光的透明程度和色彩表现,而反射关乎玻璃表面镀膜的效果。本文将介绍如何使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪来监控色彩质量和测量玻璃镀膜的反射率。透射是玻璃行业中最重要的光学性质之一,它决定了玻璃对可见光的透明程度和色彩表现。当光穿过玻璃时,会受到折射现象的影响。折射是光在从一种介质传播到另一种介质时改变方向的现象。这种折射现象使得玻璃能够将光有效地传播到玻璃的另一侧,使我们能够透过玻璃看到外面的世界。在玻璃行业中,透射率是一个重要的参数。透射率定义为通过玻璃的光强与入射光强的比值。透射率越高,玻璃对光的透明度就越好。而对于特定波长的光,其透过玻璃的能量与光谱分布有关,因此,不同类型的玻璃可能对不同波长的光具有不同的透射率。透射率的测量通常使用分光光度计来完成。在线ERX55分光光度仪是高精度的测量仪器,可以用于测量透明薄膜的色彩、可见光透射和雾度,持续监控色彩质量。通过持续监控透明薄膜的色彩质量,生产厂家可以确保产品的一致性和稳定性。反射是另一个在玻璃行业中需要关注的光学现象。反射率是一个指标,用于衡量光线在物体表面反射的程度。在玻璃制造过程中,常常会在玻璃表面进行涂层处理,这些涂层能够改变玻璃的反射性能。通过合理设计涂层,可以实现特定的反射率,使玻璃在特定波长范围内表现出所需的特殊光学效果,如防紫外线、隐私保护等。玻璃作为非散射性物体,在传统的直接照明测量设备中无法准确提供色彩数据。为解决这一问题,ColorXRAG3色度分析仪成为了一种重要工具。该设备具备宽波长范围(330nm到1,000nm)和高光学分辨率(1nm),可在实验室中安装在支架上,对放置在样品支架上的玻璃板进行测量。同时,它也可用于在线测量,安装在玻璃板上方的横梁用于测量低辐射玻璃,或安装在玻璃板下方用于测量遮阳镀膜。ColorXRAG3色度分析仪具有紧凑型设计,可从距离玻璃板10mm处捕获非散射性样品的光谱数据和色彩反射值,甚至能鉴定多银层镀膜。该仪器采用氙气闪光灯,同时采用+15°:-15°、+45°:-45°和+60°:-60°三种光学结构,每秒进行一次测量,以实现全方位的色彩数据获取。其中,±15°的测量值与传统实验室测量的积分球光学结构结果相同,而±45°和±60°的测量值则可以显示不同观察角度下的色彩变化。ColorXRAG3色度分析仪的应用为玻璃行业提供了一种高效、准确的色彩测量解决方案,使生产厂家能够更好地控制透射与反射性能,提高产品质量,并满足不同市场需求,推动玻璃行业的持续发展。透射和反射是玻璃行业中非常重要的光学现象。透射性能决定了玻璃的透明度和色彩表现,而反射率则与玻璃表面的涂层处理密切相关。使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪,可以对玻璃产品的透射性能和反射性能进行精确测量和监控,从而保证玻璃产品的质量和性能达到预期要求。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌,总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。
  • 透射与反射测量技术关键工具及颜色测量方法
    在现代科学研究和工业应用中,精确的物质性质测量是至关重要的。特别是在材料科学、光学工程以及生物医学领域,透射测量与反射测量技术的应用日益增多,它们在各自的领域内发挥着不可替代的作用。透射测量是指测量光线通过物质后的强度变化,以此来分析物质的特性;而反射测量则是基于光线打到物质表面后反射回来的光强变化进行分析。这两种测量技术虽然操作原理不同,但都旨在通过光与物质的相互作用来揭示物质的内在属性。一、透射测量与反射测量的比较分析透射式和反射式分光光度计均能利用光源的闪烁特性,覆盖360至750纳米范围内的全部波长光线进行照射。通过对透射光或反射光的测量,这些设备能够创建出色彩的量化图谱(即色彩“指纹”)。在反射光谱中,主要波长决定了颜色的属性。紫色、靛蓝及蓝色属于短波段,波长介于400至550纳米之间;绿色处于中波段,波长在550至600纳米;而黄色、橙色及红色表示长波段光。对于光亮增白剂(OBA)和荧光剂这类特殊物质,它们的反射率甚至可以超过100%。反射式分光光度仪通过照射光源至样本表面并记录以10纳米步长测得的反射光比例,以此来分析颜色。这种方法适用于完全不透明的物质,通过反射光的量化,可以准确测量其色彩。而配备透射功能的分光光度仪则是通过让光穿透样本,使用对面的探测器来捕获透过的光。这一过程中,探测器会测量透射光的波长及其强度,并把它们转换成平均透射率的百分比,以量化样本的特性。尽管反射模式能够用于分析半透明表面,但准确了解样本的透明度是必须的,因为这直接关系到最终数据的准确性。二、样品确实不允许光线穿透吗?测量透射率与评估不透明度并不总是等同的,因为不透明度涉及两个方面:是否能遮挡视线穿过的表面或基质,以及材料允许光线通过的程度。通常,您可能会认为您的手是不透光的,从某种角度来看,这是正确的。然而,当您把手电筒紧贴手掌并开启时,会发现光线能够从手的另一侧透射出来。半透明与透明材质的本质区别半透明材料允许光线穿透,却不允许清晰的视线通过。举个例子,经过蚀刻处理的浴室塑料门便是半透明的。相比之下,透明材料,如普通的玻璃板,可以让人从一侧清楚地观察到另一侧的物体。三、实际应用及解决方案考虑到涂料,当其涂布于墙面时,其不透明性足以覆盖下层材料,阻止透视效果。但要准确评估涂料的不透明度,我们需采用对比度分析法。一旦应用于基底,涂料通常表现出高不透明度,使得Ci7500台式色差仪成为其测量的理想工具。至于塑料,虽然肉眼看来我们可能无法通过塑料样本看穿,但它们可能具备一定的光透过性。比如,外观不透明的塑料瓶,在未经测试前其真实透光性难以判断。以过氧化氢瓶为例,其内容物若暴露于阳光下会迅速分解,因此这类瓶子通常呈棕色,以屏蔽阳光。然而,置于强烈光源下,这些瓶子是能透光的。鉴于成本考虑,过氧化氢瓶的制造尽量保持不透明。在纺织品的应用上,选择分光光度仪时需考虑具体的使用场景。美国纺织化学师与印染师协会(AATCC)推荐将样品折叠至四层以确保不透明度的测量。这一方法对于测量厚实的织物如灯芯绒裤或棉质卷料足够有效,但对于透明或薄的半透明尼龙材料,采用其他量化技术可能更为合适。请记住,在测量特定允许一定光线透过的纺织品时,按照ASTM的203%遮光测试标准,必须使用具备透射功能的分光光度仪进行测量。Ci7600台式分光光度仪、Ci7800台式分光色差仪和Ci7860台式色差仪均支持透射和反射模式测量,它们为需要同时评估不透明与半透明样本的应用场景提供了理想解决方案。这些设备能够执行三种主要测量方式:①直接透射测量:针对完全透明的样本设计,如塑料拉链袋和清晰的玻璃板。②全透射测量:适合那些允许光线穿透但视线模糊的半透明样本,比如橙汁、洗涤液以及2升容量的塑料瓶。③雾度测量:针对那些能够散射光线的半透明样本,如汽车尾灯的塑料覆盖件,这类样本散射红色光线,而不直接显露灯泡和灯丝。若您的需求仅限于测量完全不透明的表面,Ci7500台式色差仪或许更符合您的需求。然而,如果您的主要测量对象为不透明表面,偶尔也需测量一些允许光线透过的物体,那么具备透射测量功能的设备,如Ci7600台式测色仪或更高端的型号,将是更合适的选择。四、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息,请关注官方微信公众号:爱色丽彩通
  • 电池电解液液体透射测量工具—台式色差仪
    随着科技的飞速发展,电池已经成为我们日常生活中不可或缺的能量储存好帮手!从我们的便携式电子设备,到那些酷炫的电动交通工具,都要靠电池的支持才能动起来。没错,电池可是真正的能量源头呢!然而,要说到电池的性能和稳定性,可真得多亏了电解液,它是电池的核心组件之一!电解液主要由溶剂、导电盐和添加剂组成。溶剂通常是有机溶剂,例如碳酸酯、碳酸酰、醚类等,导电盐则是决定电池电导率的关键因素。添加剂的加入可以调节电解液的性质,如粘度、化学稳定性等,以提高电池的性能。有了优秀的电解液,电池的表现就会更稳定、更强劲。这样一来,我们的电子设备就能续航更久,电动交通工具也能跑得更远。所以说,不管是充电还是输出电能,电解液功不可没啊!然而,电解液的透射性质有时候可能会遇到一些问题哦!比如,如果电解液的透明性不够好,光线就可能被挡住,影响电池内部的能量传输效率,让电池性能变差。另外,电解液对特定波长的光线吸收过多,可能引起化学反应,导致电池不稳定。而且,电解液中溶质的浓度变化也会影响光线透射的特性。那么,我们要如何解决这个透射相关的问题呢?这就需要依靠Ci7x00系列的Ci7800台式分光色差仪与Ci7860精密色差仪来帮忙!这两款仪器可谓是我们的得力助手!Ci7800台式分光色差仪,可以简单快速地测量电解液的透射率,看看它有没有足够的透明性,保证光线能顺利穿过,让电池能高效传导能量。Ci7800色彩色差仪支持多达5个反射孔径和4个透射孔径,可通过不同位置的端口来测量各种样品的色彩与外观。这项功能使得它在许多领域中都得到了广泛应用。此外,Ci7800还支持多达3个UV滤光镜来控制纺织品、塑料、油漆、涂料和纸张中的荧光增白剂。设备内置数码相机具有预览和主动目标定位功能,可保证测量区域的准确定位,并能捕获图像以备日后检索。同时,它还能检测样品上的污点、划痕或缺陷,并提供随附的测量数据以备审计,为质量控制提供了有效支持。如果我们想要更深入的了解电解液的光学特性,这时候Ci7860精密色差仪就派上用场了!它不仅可以测量透射率,还能给我们提供更多数据,包括吸收特性和反射率等等。这样一来,我们就能全方位地了解电解液的性质,发现其中的问题,进而针对性地优化电解液的配方。Ci7860精密色差仪广泛应用于多个工业领域,包括纸张、纺织物、塑料、颜料、汽车以及屏幕色彩校正等。它为这些行业提供了可靠的色彩测量和管理解决方案,帮助企业提高产品质量,降低生产成本,增强市场竞争力。有了这两款色差仪,我们可以轻松解决电解液透射相关的问题!通过优化电解液的性能,我们就能让电池表现得更稳定、更强劲,让我们的电子设备续航更久,电动交通工具跑得更远,让我们的生活更便利、更美好。同时,这些仪器的应用也推动着科技的不断发展,让能源领域取得了更大的进步。随着技术的不断创新和仪器的不断完善,相信电池的未来会变得更加出色!“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌,总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。
  • 【标准解读】透射电镜图像法测量多相体系中纳米颗粒粒径
    透射电子显微镜(TEM)具有原子水平的分辨能力,它不仅可以在观察样品微观形态,还可以对所观察区域的内部结构进行表征,成为纳米技术研究与发展不可或缺的工具。特别是TEM配合图像分析技术对多相体系中纳米颗粒粒度进行分析具有一定的优势。本文将对已实施的GB/T 42208-2022 《纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法》进行解读。多相体系是指体系内部不均匀的体系,在物理化学中也称为非均相体系、混相体系或者复相体系。而纳米颗粒受尺寸限制往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性,这可能关系到后续产品的性能和安全性,因此对多相体系中纳米颗粒的评价尤为重要。透射电镜能作为最直观、准确的设备能够对样品内部进行评价,在多相体系中的纳米颗粒粒径表征中不可或缺。本标准从很大程度上完善和补充国内现有标准的不足,给出较为完整的多相体系中纳米颗粒粒径分析评价方法,不仅对于多相体系中纳米颗粒的粒径这种需要探讨体系内部的颗粒测量给出了方案,而且对于不同TEM的颗粒测量结果一致性评判具有重要的参考价值。本文件适用于固相多相体系中的粒径测量。考虑到多相体系的多样性,胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件.一、背景纳米材料由于表面效应、量子尺寸效应、体积效应和量子隧道效应等,使材料表现出传统固体不具有的化学、电学、磁学、光学等特异性能。同时,受到尺寸的限制,纳米材料单独使用的场合有限,往往存在于材料基体中,形成多相体系来增加整个材料特性。但是由于纳米颗粒粒径较小、比表面积较大、表面能较大,极易团聚,致使其在多相体系中很难表征和评价。研究多相体系中纳米颗粒的粒度测量,对优化材料结构,改善材料的性能有着极大的促进作用,对推动纳米材料的应用和发展具有重要的意义。多相体系中纳米颗粒不同于单一的纳米颗粒,它对检测方法、样品处理及样品制备都有较高的要求。扫描电子显微镜和原子力显微镜由于成像原理的问题,不利于多相体系中纳米颗粒的测量。因此在本标准发布之前,国内该内容处于空白,本标准聚焦透射电镜的成像原理,对样品制备、图像获取、图像分析、结果表示、测量不确定度等技术内容给出了充分的、系统的说明。二、规范性引用文件和参考资料本标准在制定过程中,在符合GB/T1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写》国家标准编写要求的基础上,充分参照了现行相关国家标准中的相关术语及技术内容的表述,包括颗粒系统术语、纳米材料术语、微束分析、粒度分析、纳米技术等各个专业领域;同时,在规范表达上,也充分征求了行业专家、资深从业者、用户的意见和建议,力求做到专业、通俗、易懂。 三、制定过程本标准涉及的领域较为专业,因此集合了国内相关领域的一批权威代表性机构合作完成。牵头单位为国家纳米科学中心,主要参加单位包括国标(北京)检验认证有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所(北京市理化分析测试中心)、深圳市德方纳米科技股份有限公司、中国计量大学、北京粉体技术协会等。对于标准中的重要技术内容,如实验步骤、不同多相体系样品的制备方法、图像获取方式、图像分析、数据处理等均进行了实验验证,确定了标准中相关技术的操作可行性。四、适用范围本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。胶体和生物组织中的纳米颗粒,只要样品制备满足透射电子显微镜观察的要求,也适用本文件。 五、主要内容本标准描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法的全流程,包含了标准所涉及的术语和定义,TEM的成像原理,不同类型样品的制备方法,详尽的实验步骤,结果表示以及测量不确定度的来源,并在附录中针对不同的样品类型给出了实用案例。术语及定义:即包括了纳米颗粒、分散的术语定义,还包括了TEM中明场相、暗场像、扫描透射电子显微图像和高角环形暗场像等几种成像方式的定义。一般原理:利用透射电镜图像评估纳米颗粒在多相体系中的粒径测量,主要基于透射电子显微镜中电子束穿透样品成像的原理,并对图像进行处理,通常需要借助粒径分析软件进行粒径测量,以避免人为因素的干扰。样品制备:纳米颗粒在多相体系中的分散,由于多相体系材料不同,样品制备方法不同,系统的介绍了纳米复合材料的制备、多相固态金属材料的制备以及多相生物材料的制备方法,这包含了超薄切片技术、离子减薄技术、生物染色技术等。实验步骤:包含了装样、仪器准备、图像获取的全过程。需要注意的是根据多相体系材料及其中纳米颗粒的种类和状态的不同,在测试过程中要明确选用明场、暗场、高角环形暗场等合适的成像技术,并保证有足够清晰度和对比度的透射图像,能够准确识别到图像中的纳米颗粒。除此之外,为了使拍摄所得的图像中包含有足够的样品数量进行粒径测量,需要在不同的位置多次拍摄。具体的过程,本标准在附录A中以镍基高温合金多相体系中纳米颗粒为例,给出了详细过程。粒径测量:多相体系中的纳米颗粒的透射电子显微镜图像通常存在背景亮度不均匀、分散相边界与图像背景灰度差小的特点,因此需要图像处理将样品图像从背景中区分出来。总体目标是将数字显微照片从灰度图像转化为由离散颗粒和背景组成的二值化图像。重点采用阈值算法进行单个颗粒的测量。同时,颗粒粒径测量时测量颗粒数量对测量不确定的影响较大,因此需要确认最少测量颗粒数,这也取决于实际的测量需求。在结果表示方面,实验室可以根据实际需求,只评价纳米颗粒粒径的大小,也可以以纳米颗粒的分布范围为评价目标。在标准的附录中给出了两种分布范围方式。不确定度:对多相体系中纳米颗粒的粒径测量的测量不确定度主要来源包含了样品均匀性、样品制备、图像处理和测量所需的颗粒数不足等。在上述基础上,给出了测量报告的信息及内容。本文作者:常怀秋 高级工程师;国家纳米科学中心 技术发展部Email:changhq@nanoctr.c
  • 中科院物理所研制出原位透射电镜测量仪器
    最近,中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室SF1组研制出新的原位透射电镜测量装置,实现了纳米管/纳米线场效应晶体管器件单元在透射电镜中的原位表征。在确定器件材料结构的同时,原位测量电输运性质。他们将这种方法运用到双壁碳纳米管研究上,在实验上直接获得了双壁碳纳米管电输运性质与手性指数的对应关系,相关结果发表在J. Am. Chem. Soc. 131, 62 (2009) 上,这项研究对双壁纳米管基本物性的理解和未来应用均具有重要意义。   双壁碳纳米管由两个单壁碳纳米管套构而成,为纳米光电功能复合材料提供了理想的结构组元,也是研究纳米管层间原子相互作用的最简单材料体系。纳米管的电子结构唯一地决定于表征其原子结构的手性指数(n, m),在实验上测量纳米管物理性质与手性指数的一对一关系,从本征结构出发理解碳纳米管的特殊性质是一个基本的科学问题。该研究小组的博士生刘开辉、副研究员王文龙、工程师许智、研究员白雪冬和王恩哥等人用微加工工艺制作特殊衬底并构造双壁纳米管场效应晶体管,做到器件电输运测量与透射电镜表征相兼容,成功测得了手性依赖的纳米管电输运性质。双壁碳纳米管每一层可能是金属性的(M),也可能是半导体性的(S),根据两者的组合方式有四种类型的双壁碳纳米管,即M/M, M/S, S/S和S/M。他们系统研究了四种组合情况下的双壁纳米管,实现纳米管输运性质与手性指数的直接对应。并且,通过对同一种类型纳米管(S/M)做大量器件样品的研究,证明了层间距是影响双壁纳米管输运性质的主要因素。他们还采用较大电流脉冲烧蚀纳米管的外壁,将探测深入到纳米管内壁,实现了双壁纳米管的逐层测量。实现单个纳米结构单元/材料微区的结构分析与原位性质测量,建立性质与结构的一对一关系,是纳米科学和低维材料物理研究的重要课题。   自2002年以来, SF1组与Q01组和美国佐治亚理工学院王中林教授合作,将扫描探针技术与透射电镜技术结合,研发原位透射电镜实验仪器,开展纳米操纵和纳米测量研究,在单根纳米管/纳米线的操纵和测量方面已经取得了系列进展(申请仪器和方法的发明专利5项,发表多篇论文如APL 87, 163106 (2005) APL 88, 133107 (2006) APL 89, 221908 (2006) APL 92, 213105 (2008) 等)。   该工作得到国家自然科学基金委、国家科技部和中科院的资助。
  • 130万!中国科学院上海应用物理研究所透射电镜原位高温力学测量杆
    项目编号:STC22A076项目名称:中国科学院上海应用物理研究所透射电镜原位高温力学测量杆预算金额:130.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):130.0000000 万元(人民币)采购需求:透射电镜原位高温力学测量杆可以实现在外场环境下原位动态研究的材料塑性变形机制、断裂行为、辐照后合金的力学行为、微纳乃至原子尺度下的辐照缺陷运动、相变等微观机理研究。有助于进一步提升熔盐堆材料的评估研究能力。本次项目招标的透射电镜原位高温力学测量杆能够实现在高温下进行原位力学实验,并且可以双轴倾转。合同履行期限:交货期:自合同签订后4个月内。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 光伏材料的角度分辨反射/透射分析
    光学镀膜材料在太阳能行业应用广泛:由化学气相沉降法生成的氧化锌涂层,自然形成金字塔形表面质地,在薄膜太阳能电池领域被用于散射太阳光。将不同折射系数的高分子材料排列组成的全息滤光镜,将太阳光在空间上分成不同颜色的色带(棱镜一样),将不同响应波长的光伏电池调到每个波长的焦距处,从而形成一种新型的多结太阳能电池。位于硅太阳能电池前部的纳米圆柱形硅涂层起米氏散射的作用,因此增加了在更宽入射角范围和偏振情况下的光被太阳能电池的吸收。曲面型光电模块的渲染和原理图。3M可见镜膜能够使模块在可见光区表现为镜像,而在近红外光区变为黑色。对于所有的光学涂层——特别是那些非垂直角度接收阳光或者阳光入射的涂层,表征波长、角度和偏振测定的反射和入射就尤为关键。PerkinElmer公司的自动化反射/透射附件ARTA,可以测定任何入射角度、检测角度、S和P偏振光在250-2500nm的范围内的谱图,从而告诉我们:所有的入射光都去哪儿啦?装备了ARTA的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计样品3M可见光镜膜:吸收紫外光,反射可见光,透过红外光。仪器PerkinElmer公司的LAMBDA 1050+紫外/可见/近红外分光光度计。150mm积分球,Spectralon涂层积分球包含硅和InGaAs检测器,检测样品200-2500nm的范围内的总透射谱和总反射谱。装备了150mm积分球的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计ARTA,配备PMT和InGaAs检测器的积分球(60mm),能在水平面上围绕样品旋转340°,进行角度分辨测量。3M薄膜固定在ARTA样品支架上的照片实验结果用150mm积分球附件测量的3M薄膜的总反射和总透射谱图。薄膜在750nm附近具有预期的突变,在此处有将近100%的可见光反射率和约90%的红外光透射率。3M薄膜对于s(左图)和p(右图)偏振光的角度分辨反射谱图。对于所有的偏振情况,直至50˚的范围内反射到透射的转变都很急剧,但是有轻微的蓝移。对于入射角在约50˚以上的情况,s偏振光的转换终止,并且薄膜开始失去对光谱的分光功能。这种情况的一个明显后果就是在冬天或者纬度高于30˚的区域的夏季月份,曲面型光电镜片的工作效率都很低。更多详情,请扫描二维码下载完整应用报告。
  • FEI推出3款透射电镜新产品
    2013年8月1日,FEI宣布推出三款专门满足特殊的应用和行业需求的透射电镜(TEM)新品。这三款新产品将为半导体制造和科研提供高效率和有效的特定应用程序。它们是专门用于先进的半导体制造业设的Metrios&trade TEM,为材料和生命科学研究提供高速成像分析的Talos&trade TEM ,以及提供原子量级材料特性研究Titan&trade Themis&trade TEM。   &ldquo 加上这三个新产品,在过去一年中,我们已经推出了6款TEM新产品,这是前所未有的&rdquo 。FEI公司执行副总裁兼首席营运官Benjamin Loh说道。&ldquo 所有6款新产品都是为专门的应用工作流程而设计制造,它们将为科研和工业细分市场的用户提供了信息,如:材料科学,化学,生命科学,半导体制造等领域。我们的目标是完全改变TEM的世界,从而让我们的客户能够改变他们的世界。&rdquo   Metrios&trade TEM系统,致力于为需要开发和控制晶片制造工艺的半导体制造商提供快速,精确的测量。透射电镜基本操作和测量程序广泛的自动化,最大限度地减少对操作人员培训的要求。其先进的自动化计量提供比手工操作更高的精度。Metrios&trade TEM的设计,相比其他电镜,将为客户提供更好的分析通量和较低的成本。   Talos TEM结合高分辨率,高通量的TEM快速成像,以及精确定量的能量色散X-射线(EDX)分析,提供先进的分析性能。新的TEM采用了FEI目前亮度最高的电子源和最新的EDX检测技术,可实现对低浓度和轻元素的高效分析,并拥有FEI独家的3D EDS X射线断层成像技术。在较低的加速电压下,允许使用能量较低的电子束,以减少对样品的损伤。Talos平台是完全数字化的,允许远程操作,并且它可以增加用于特定应用程序的检测器或动态实验的样品架。Talos平台自动化程度高并易于使用,非常适合于个人研究室以及多人操作的实验室。   Titan Themis TEM增强了FEI在原子级成像分析方面的领导地位。研究人员使用高分辨率像差校正TEM来研究大尺寸材料的物理性质以及原子尺度之间的组成和结构的关系。Titan Themis平台可直接测量物理属性,如磁场,纳米尺度,以及下降到原子尺度时的电场。从样品定位到最终数据采集整个流程均实现了自动化,提高结果的重复性和再现性,从而使用户以更少的时间和精力获取更有信心的结论。(编译:秦丽娟)
  • 武汉大学科研公共服务条件平台透射电镜顺利通过验收
    平台透射电镜顺利通过验收11月19日上午,科研公共服务条件平台组织召开设备技术验收会议,对200kV场发射透射电子显微镜JEM-F200、200kV六硼化镧透射电子显微镜JEM-2100Plus以及相关附件纳米等离子清洗仪、氩离子抛光仪、透射电镜原位力电测量系统进行了技术验收。来自于武汉理工大学、华中科技大学以及我校的5位专家组成了验收评审专家组,武汉大学实验室与设备管理处副处长吴红波主持验收会,经过会议专家推举,由吴劲松教授任专家组组长。受疫情防控影响,验收会采取了线上线下相结合的方式。吴红波代表学校对参加会议的各位领导、专家表示热烈欢迎。王建波对项目的整体情况做了简要介绍。日本电子严雪部长、上海微纳衡潘总经理、泽优科技许智总经理先后致辞,纷纷表示非常珍惜和武汉大学的合作机会,将一如既往地为武汉大学的科研发展、人才培养提供支持,同时对售后服务进行了承诺。会上,验收专家组依次听取了厂家工程师和平台李雷博士分别对安装调试和技术指标达标情况的报告、使用情况的报告,审阅了技术服务协议、性能指标等材料。听取报告后,验收组专家就主机的实验室环境、标样、超级能谱等问题,配件的抛光面积、耗时、电脉冲以及耗材费用等问题进行了质询。质询环节后,验收组专家们实地考察了两台透射电镜以及配件的运行情况,李雷老师认真解答了专家提出的问题。经过报告、质询和讨论,验收专家组一致认为,两台透射电镜以及配件符合合同规定;设备运行正常,各项技术性能指标达到采购要求;经过培训,平台机组人员掌握操作规程及方法。与会专家一致同意通过验收。Core Facility of Wuhan University撰稿:仲 秋拍摄:仲 秋审核:王建波
  • 850万!高分辨率场发射透射电子显微镜设备采购安装
    1、项目编号:JNSMX公标【2022】01号2、项目名称:高分辨率场发射透射电子显微镜设备采购安装3、预算金额:850万元4、最高限价:850万元5、采购需求:高分辨率场发射透射电子显微的采购、安装、调试及售后服务等,主要用途:精确测量碳纳米材料的厚度与层数;获得碳纳米材料的结晶度信息;获得碳纳米材料催化剂的相关信息,包括催化剂的纳米形貌、元素组成、元素分布、晶体分布等。本项目共一个标段(详见采购需求)。6、合同履行期限:合同签订后8个月内将所有仪器、设备送至采购人指定地点,并安装调试到位至验收合格。7、本项目不接受联合体投标。8、本项目接受进口产品。
  • 以“太行”之名,挺起透射电镜产业的中华脊梁——我国首台国产商业场发射透射电镜诞生
    1月20日,由生物岛实验室领衔研制,拥有自主知识产权的首台国产商业场发射透射电子显微镜TH-F120“太行”在广州发布。这标志着我国已掌握透射电镜用的电子枪等核心技术,并具备量产透射电镜整机产品的能力。  透射电镜技术跨越多个学科、工程技术复杂、攻关难度大。经过三年多努力,中国科学家们完成了我国首台100%自主知识产权的120千伏场发射透射电镜的整机研制,实现了0.2nm分辨率的成像能力,达到了产品化的水平。  “这对于我国摆脱进口依赖、实现高水平科技自立自强具有重大意义。”中国科学院院士、生物岛实验室主任徐涛介绍,这将打破国内透射电镜100%依赖进口的局面,场发射透射电子显微镜将为我国在材料科学、生命科学、半导体工业等前沿科学及工业领域的高质量发展提供有力支撑。  以“太行”之名,挺起透射电镜产业的中华脊梁  如果说光学显微镜揭开了细胞的秘密,那么透射电子显微镜则把纳米级的微观世界展示在人类眼前。1933年,世界上第一台透射电镜诞生,为科学研究提供更强有力的武器,也因此被誉为高端科学仪器皇冠上的“明珠”。  透射电镜具有极高的行业垄断性与技术门槛。行业数据显示,此前,我国透射电镜100%依赖进口,国产化尚属空白。2022年,我国进口透射电镜约300台,进口总额超30亿元,预计2022年至2028年期间,年复合增长率超5.8%。  生物岛实验室生物电子显微镜技术研发创新中心研究员孙飞早在2016年便带领团队联合中国科学院生物物理研究所启动了预研工作。  “我们通过广泛交流,集合了有志于从事国产电镜自主研制的科学家和工程师,涵盖了电子光学、机械、自动化控制、软件等相关领域。”孙飞介绍,其中既有来自国内外学界的科研人才,也有在产业界深耕扫描电子显微镜多年的领军人物,“大家都抱有同样的愿景,就是造出我们国家自己的透射电镜。”  2020年,这支来自全国各地甚至海外的队伍集结在广州的生物岛实验室组展开技术攻关。团队成立三年多以来,在国家自然科学基金委、科技部、广东省科技厅、广州市科技局的大力支持下,相关研发工作接连取得重大突破——先后成功研制120千伏场发射电子枪、120千伏低纹波高压电源、400万像素和1600万像素棱镜耦合CMOS电子探测相机、100万杂合像素直接电子探测相机等透射电镜核心关键部件。  据悉,电子枪是透射电镜的“光源”,其作用是发射高能电子束照射到样品上,是透射电镜最为核心的部件之一。“将原有的30千伏场发射电子枪提升为120千伏,要解决电子源发射稳定性、高压真空打火等问题。经过不断的摸索,我们突破国外相关技术壁垒,去年成功实现120kV场发射电子枪的稳定量产。”孙飞说到。如今,生物岛实验室是我国唯一有能力量产该透射电镜核心部件的单位。  孙飞直言,更大的困难在于如何将各个研制成功的部件组合起来实现联调,真正拿到高分辨率图像。“拿到分辨率优于0.2nm图像的那天,我们非常激动,我国终于突破这一关键技术。”  为了进一步推动透射电镜的产业化,生物岛实验室与国内领先的科学仪器公司国仪量子联合成立了广州慧炬科技有限公司,致力于将透射电镜技术商业化应用。  “我们成功走到今天,得益于生物岛实验室作为新型研发机构的特殊体制机制,保证了研发队伍的稳定。同体制内外并行发力,与产业界的紧密合作。同时,国家部委项目的支持,保证了项目研制的可持续性。”孙飞说。  此次广州慧炬科技有限公司推出的首款透射电镜新品TH-F120,取名源自中华名山“太行”,寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。  向“珠穆朗玛”进发,将推出更高千伏电镜透视更厚材料  广州慧炬科技有限公司总经理曹峰正在推进“太行”的商业化应用。他介绍,场发射透射电镜在高端科研、产业发展应用广泛、意义重大。在生命科学研究领域,它可以看到蛋白质的生物结构;用在集成电路领域,可以实现半导体的缺陷检测;用在新材料领域,可开展锂电池的研发等等。  曹峰表示,“太行”是拥有原子级分辨率的显微放大设备,信息分辨率达0.2nm,可以呈现大多数晶体的排列结构。广州日报记者现场看到,“太行”能清晰呈现小鼠大脑中的髓鞘组织、小鼠肝脏细胞的里的线粒体。“它是多个技术的复合体。我们必须在每个环节都做到极致,才能保证设备整体达到超高分辨率。”曹峰说。  尽管“太行”是该公司推出的“入门级”产品,现已具备多项先进性能——一是自主研制的高亮度场发射电子枪,相比于同级进口产品的热发射电子枪,亮度更高,发射稳定性和相干性更优,匹配自主研制的电磁透镜系统,针对120kV成像平台特别优化电子光学设计,可为用户带来更佳的图像衬度和分辨率;二是自主研制的高稳定性低纹波高压电源,实现了高压自动控制,保证电子枪稳定发射;三是标配自主研制的高像素CMOS相机,在低电子剂量的工况下仍可呈现丰富的样品细节;四是以人机分离为设计理念,匹配高度自动化的控制系统,使图像采集工作更加舒适高效;五是预设充足的拓展接口和整机升级空间,满足用户需求迭代,有效延长整机使用年限。  曹峰透露,团队明年计划研制出200千伏场发射透射电镜。“电压虽然看起来只是增加了80千伏,但研制难度却是指数级增加,设备的稳定性、防护性都需要进一步探索。”  曹峰表示,电压越高意味着电子能量越高,就越能穿透更厚的样品。目前120千伏的电镜,可以穿透大约50纳米厚度的材料。但是对于常见的100纳米的材料,还需要200甚至300千伏的电镜。  在未来数年,该公司计划推出场发射透射电镜系列EM -F200“峨眉”、KL -F300“昆仑”,冷冻透射电镜系列YL -F100C“玉龙”、TGL -F200C“唐古拉”、 ZMLM -F300C“珠穆朗玛”,热发射透射电镜系列QL -T120“秦岭”、DX -LaB120“丹霞”。“我们的透射电镜产品取名均源自中华名山,代表慧炬立足中国、放眼世界,助力科研工作者勇攀高峰、不断突破。”曹峰说。  此次“太行”的发布,是生物岛实验室“二次创业”,向成果转化专业机构成功转型的缩影。作为广州市首批省实验室之一,生物岛实验室不断培养高价值专利,与本地头部企业共建联合实验室、技术产业转化中心,累计孵化企业12家,其中4家估值已经超亿元。通过技术作价、配比投入等方式撬动社会资本近1.5亿元,助力科研成果高效率转化,赋能产业科技创新,为广州高质量发展作出突出贡献。
  • 光学薄膜透射反射性能检测方法进展
    随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用PerkinElmer紫外可见近红外光谱仪配置可变角度测试附件,直接测试样品不同角度下绝对反射率、透射率曲线,无需参比镜校准,操作简单方便,测试结果更加准确。附件为变角度绝对反射、变角度透射率测试附件,如下图所示,检测器和样品台均可以360度旋转,通过样品台和检测器配合旋转,测试不同角度下透射和反射信号。PerkinElmer Lambda1050+ 光谱仪自动可变角附件光路图图1 仪器外观图固定布局 工具条上设置固定宽高背景可以设置被包含可以完美对齐背景图和文字以及制作自己的模板下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。样品变角度透射测试采用自动可变角附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据,自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线,一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试,无需多次操作,测试曲线如下图所示。图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据样品变角度透射/反射曲线测试同一个样品,可以通过软件设置一次性测试得到样品透射和反射率曲线,如下图所示,该样品在可见波长下反射率大于99.5%,透射率低于0.5%,可同时表征高透和减反性能。图3 样品45度透射和反射曲线测试NIST标准铝镜10度反射率曲线测试采用自动可变角附件测试NIST标准铝镜10度下反射率曲线,如下图所示,黑色曲线为自动可变角附件测试曲线,红色为NIST标准值曲线,发现两条测试曲线完全重合,进一步证明测试系统的可靠性,可以准确测试样品的光学数据。图4 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试(红色为NIST标准曲线)样品变角度全波长反射曲线测试(200-2500nm)软件设置不同的测试角度和偏振方向,自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线,如下图所示,200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比,尤其是在紫外区(200-400nm),可以完成各波长范围的反射性能测试。图5 样品全波段(200-2500nm)变角度反射率测试不同膜系设计的镀膜样品性能验证
  • 透射电镜主流厂商大揭秘
    p   作者:汪玉玲 /p p   本文仅代表作者个人观点 /p p   如今的透射电子显微镜市场主流厂商包括日本电子,日立和FEI。除了上述三家之外,德国的蔡司(Zeiss)公司也在电子光学仪器领域占有一席之地。本文带你全面了解透射电镜厂商的前世今生。 /p p    span style=" background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) " strong 1 你不知道的日本电子株式会社JEOL /strong /span /p p   首先介绍一下老大哥日本电子株式会社JEOL。 /p p   提起日本电子,大家应该都不陌生,目前在我国各大科研院所都不难看到JEOL电镜的影子。日本电子株式会社是一家世界顶级的科学仪器生产制造商。能在这么多的仪器制造商中鹤立鸡群室有原因的,日本电子有着非常丰富且高端的产品线,生产的都是技术含量非常高的科技产品,电子显微镜,核磁共振,质谱仪,X射线光电子能谱,俄歇电子能谱等。是世界上有且仅有的一家企业可以同时生产这些高端仪器产品的企业。 /p p    strong 透射电子显微镜 /strong /p p   日本电子生产透射电子显微镜的历史算得上是非常悠久,它的前身是1949年5月在东京成立的日本电子光学实验室有限公司,成立同年就推出了第一代透射电子显微镜—JEM-1透射电子显微镜,见下图。 /p center p style=" text-align:center" img style=" width: 500px height: 334px " title=" " alt=" " src=" http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/65d5174298474dea9d7f6baf29abeb8c.jpeg" height=" 334" hspace=" 0" border=" 0" vspace=" 0" width=" 500" / /p /center p style=" text-align: center " strong JEM-1透射电子显微镜 /strong /p p    strong 你知道吗? /strong /p p   其实,我们国家也在同时期开始了透射电镜的研发工作,算起来起步并不算晚,但是由于之后一些年的各种历史原因,不得不中断了。现在,日本已经是毫无疑问的电镜生产大国,而我们国家的电镜发展却只有个别在国家资助下的小规模研究(之后的文章会有专项介绍),这么重要的科研设备掌握在别人的手里,为长远考虑,国产电镜的发展必须跟上才行。 /p p   1961年该公司正式改名为日本电子株式会社(JEOL Ltd.),日本电子是在二战后开始透射电镜研发,并且是以电子显微镜起家的。六十余年的技术沉淀让它的电镜产品不断的发展壮大,逐渐得形成了它的品牌影响力,成为了全球市场市场上的领头羊。 /p p   2009年,日本电子成立六十周年庆,推出了当时世界上分辨率最高的商业化球差校正透射电镜JEM-ARM200F,透射模式分辨率达0.19nm,STEM-HAADF的分辨率可达0.078nm,这款产品大获成功,开启了球差校正的新时代。如下图, /p p    /p center img alt=" " src=" http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/1a4762c278d74239aa3a94f4b48213bc.jpeg" height=" 287" width=" 249" / /center p   第一台JEM- ARM200F安装在德州大学圣安东尼奥分校University of Texas at San Antonio,2010年1月安装结束,二月初就获得了惊人的实验结果。该仪器展示了JEOL实打实的超级稳定性和超高分辨率。2010年,西安交通大学也购入了中国首台该型号的电镜,也是中国大陆第一台STEM球差校正透射电镜。之后,上海交通大学,武汉大学,东北大学,中国科技大学,中科院大连化物所,中科院物理所,神华集团低碳清洁能源研究所等也陆续上马。目前,中国大陆已经有十几台该型号电镜,相信前方大批的高能科研成果也正在路上…… /p p   2014年,日本电子再次引领潮流,发布了终极分辨率的大杀器——新一代球差校正透射电镜JEM-ARM300F,也称为GRAND ARM,这是一款300kV原子分辨级透射电子显微镜,是JEM-ARM200F的升级版,采用了日本电子独自研发的十二级像差校正器,分布率达到 0.05nm,STEM-HAADF的分辨率可达0.063nm,日本电子再一次把商业化的透射电镜推向了一个新的极限,巩固了自己在电子显微镜领域的世界领先地位。 /p p    strong 日本电子的成功的原因 /strong /p p   1. 研发与制造技术的长期积累。一台JEM-ARM300F有三万多个零配件,最佳的电子显微镜表现能力要求每一个零件都能做到百分之百。 /p p   2. 销售和售后服务保障。日本电子有较为成熟的销售和售后服务渠道,可以保证高品质的维修配件的流通速度和高素质的产品服务工程师。 /p p   3. 电镜专业人才培养。日本电子虽然是一家仪器制造商,但是却在一直通过各种活动对青年科研人员提供资助,例如,风户研究基金会,早在1969年就成立了,目的就是鼓励和推广电子显微镜领域的学习和研究。 /p p   随着我国科技的逐步发展,中国的电镜市场已经越来越大,成为了全球第一大市场,但是中国所使用的透射电子显微镜却全部都是进口的,这种现象应该引起我们所有电镜小工匠们的深思。 /p p    span style=" background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) " strong 2 关于FEI的那些“小事儿” /strong /span /p p   接下来介绍JEOL在透射电镜领域最有力的竞争者——FEI。FEI是一家美国的高科技公司,是为全球纳米技术团体提供解决方案的创新者和领先供应商, “TOOLS FOR NANOTECH”,生产的产品主要面向半导体、数据存储、结构生物学、材料和工业领域。 /p p    strong FEI的透射电镜历史 /strong /p p   1971 /p p   FEI公司成立于1971年,仅从年份上上看,似乎它起步要比JEOL要晚很多,但是FEI生产透射电子显微镜的历史可不是从1971年开始的。要知道美国的FEI公司开始并不是做透射电子显微镜的,最初它只致力于提供高纯,单一取向晶体作为场发射材料。 /p p   1997 /p p   事情发生在1997年,香港回归了,这一年,除了这件大事还发生了一件小事:FEI和荷兰的飞利浦电子集团电子光学公司(PEO)宣布合并其全球业务,飞利浦电子集团成为了FEI的最大股东。由此FEI开始了电镜产业领袖之路。 /p p   1949 /p p   在透射电镜的商业化历史上,1949年有着重要的意义。飞利浦电子光学公司在这一年向世界推出了全球第一台商用透射电子显微镜 “EM100”,要知道JEOL的第一台JEM-1也是在1949年推出的。可以说,飞利浦电子光学公司一直是举世公认的电镜产业领袖之一。 /p p   2009 /p p   FEI公司最新发布第二代球差校正电镜Titan G2 60-300透射电镜,这是Titan系列电镜中一项革命性产品。FEI Titan系列产品是FEI的明星系列,自2005年推出,包括有Titan G2 60-300,Titan3 G2 60-300,Titan Krios和Titan ETEM (环境透射电镜)。该系列产品以其具有突破性的稳定优异的性能获得了商业上的巨大成功。 /p p   Titan G2 60-300它的STEM分辨率可达0.08nm,Titan3 G2 60-300可达0.07nm,它是世界上唯一能够同时实现亚埃分辨率及分析型机靴(S-TWIN)的透射电镜,而且是世界上唯一的300kV Cs球差校正透射电镜。 /p p   在我国,该系列的电镜普及率也是相当高的,清华大学,浙江大学,中科院金属所,重庆大学,西安交通大学,中南大学,东南大学,深圳大学,广西大学等科研院所及高校,都装备了该系列的球差校正透射电镜,随着国内科学技术的进一步发展,相信越来越多的镜子会在这片土地上生根发芽,开花结果。 /p p    strong 你知道吗? /strong /p p   美国总统奥巴马曾经在西海岸技术巡视时去Intel,在他们的TEM实验室里亲自经历了一把,他说:“我看到了一些原子。”从图片上就可以看到,他使用的就是正是FEI Titan系列的球差透射电镜。 /p p   2016:FEI出嫁了! /p p   与JEOL不同,FEI公司的发展历经多次的收购与合并,通过这样的强强联合,使自己的实力越来越强大。 /p p   1996年:收购美国ElectronScan公司及其“环境扫描(ESEM)”技术 收购位于捷克布尔诺的Delmi公司 /p p   1997年:FEI和飞利浦电子光学合并其全球业务 /p p   1999年:新的FEI购并美国Micrion公司 /p p   2002年:FEI收购Atomika (SIMS二次离子质谱仪) /p p   2003年:FEI收购Emispec (ESVision) /p p   2016年:FEI 正式出嫁。在2016年5月27日,赛默飞以交易最终金额为42亿美元的聘礼迎娶了电镜制造商FEI公司,这笔交易应该会在2017年年初完成,完成后,FEI将成为赛默飞旗下分析仪器业务中的一员。赛默飞是生命科学领域的领导者,FEI的电子分析技术的加入将与赛默飞的质谱技术结合。相信赛默飞也将利用公司的全球规模和商业化运作进一步推广FEI的产品。 /p p   未来的透射电子显微镜领域,可以预见FEI将在生物领域大放异彩,只是不知道那时候它家的产品该姓什么?赛默飞还是FEI?毕竟都是嫁出去的人了嘛!*(^_^)/* /p p    strong span style=" background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) " 3 无所不能的HITACHI——日立 /span /strong /p p   接下来主要来谈一下三家主要的透射电镜供应商的最后一家——日立HITACHI。如果说JEOL和FEI算是比较专一型的企业的话,那么Hitachi就是比较博爱了。 /p p   HITACHI /p p   日立是日本的一家超级大国企,可以说它本身就是一个完整的工业体系,涉及的产业从核电站,铁路,军工,到家电,医疗,物流,通信,金融以及各种黑科技(^_?)☆,可以说是无所不做。他的总员工数约32万人,在日本是继丰田汽车之后的第二大的企业。 /p p    strong 日立的历史 /strong /p p   日立的前身是久原矿业日立矿山附属的机械修理厂,1910日立制作所正式成立。在1920年,改组成名为日立制作所株式会社。同样,在之后的第一次世界大战及二次世界大战,给日立提供了很好的发展机会,生产各种军舰,坦克,发了战争财。到1944年,日立已经发展起来了,拥有了11家工厂。 /p center img alt=" " src=" http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/fa3c45af7ced427d93e998728a129f11.jpeg" height=" 300" width=" 444" / /center p style=" text-align: center " strong 日立树—日立集团的统一品牌形象 /strong /p p    strong 你知道吗? /strong /p p   日立树位于夏威夷瓦胡岛,树龄120年,属于雨树,日立每年支付40万美元用于维持该树的摄影资格。日立树含义有几种说法,一般认为是日立有像大树一样广阔的事业群,不过,现在也有人解读为日立把非营利业务放置在巨大的树荫下藏起来。 /p p    strong 日立高新技术 /strong /p p   如上所说,日立的产业和产品十分丰富,子公司也非常多。而日立的电子显微镜部门属于日立高新技术公司。 /p p   2001 /p p   日立高新于2001 年由日立制作所旗下的测量仪器集团、半导体制造设备集团及贸易集团Nissei Sangyo公司合并而成,日立制作所持有日立高新52%的股份。虽说“日立高新”只有十几年的历史,但是其实体则于1947年就已经存在了。现在的日立高新主要提供电子显微镜、全自动生化分析仪、通用分析仪器、半导体元器件检测设备等尖端技术产品,从近两年的市场表现来看,可以说日立高新还是相当成功的。 /p p   2012 /p p   从FEI的发展历史可以看到,并购是一个扩充核心业务、增强企业竞争力的重要策略。然而对于日本企业来说,并购并不多见。但是2012年日立高新的一个并购项目相当成功,2012年5月日立高新收购精工电子旗下全资子公司精工电子纳米科技,成立了日立高新技术科学。精工电子以光、电子线、X射线、热分析为核心技术,特别是它的聚焦离子束技术有很好的历史和评价。同年,日立高新就推出了实时三维结构分析聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)新品NX9000。 /p p    strong 你知道吗? /strong /p p   日立高新科学仪器营业本部本部长Okada Tsutomu曾说过,尽管日立高新的分析产品有很多,其他仪器的销售台数比电镜多很多,但是销售额却远赶不上电镜业务!可以看出,电镜业务的利润有多大,但是没办法,我们做不出来嘛!!! /p p   日立透射电子显微镜 /p p   目前,日立高新在扫描电镜技术方面积累颇丰,成果也十分显著,但相比较来说,日立在透射电镜尤其是高端透射电镜技术方面却稍逊一筹。 /p p   2015:球差校正透射电镜 /p p   日立推出了一款球差校正透射电镜HF5000,虽然比其他两家企业稍晚一点,但是,这也标志着日立在电镜方面的水平和实力。这台球差校正电镜采用了日立高新经过考验而被认可的冷场发射电子枪技术,达到了亚埃级的空间分辨率(0.1 nm或更低)。另外,它的镜筒和样品台经过了重新的设计。该产品的推出使得日立高新形成了120kV、200kV、300kV全系列的透射电镜产品。 /p center img alt=" " src=" http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/f71329b25fb3443482c4b6a5adba9477.jpeg" height=" 465" width=" 574" / /center p   环境透射电镜 /p p   另一台比较成熟的商用电镜是日立原位环境透射电镜,可以通过特制样品台施加外场刺激,同时进行实时观察。三款环境透射平台分别为H-9500ETEM、HF- 3300ETEM/STEM/SEM,以及HF-3300S Cs-corrected ETEM / STEM / SEM。在我国,浙江大学、西安交通大学、北京化工大学都安装了该系列电镜。 /p p    /p center img alt=" " src=" http://5b0988e595225.cdn.sohucs.com/images/20180105/cd78ef2556b24502beb2733bb5af5d2a.jpeg" height=" 359" width=" 505" / /center p   有人说:中国工业想要比过日本要先比过日立!确实,作为一个有完整工业体系的超级大公司,确实有很多值得学习的地方,中国工业还有很长的路要走。 /p p    strong span style=" background-color: rgb(112, 48, 160) color: rgb(255, 255, 255) " 4 光学“大咖”——卡尔 蔡司 /span /strong /p p   世界上能生产透射电子显微镜的厂家并不多,除了上述三家之外,德国的蔡司(Zeiss)公司也在电子光学仪器领域占有一席之地。 /p p   蔡司公司是一家老牌光学仪器公司,蔡司的历史相比于其他几家公司的历史都来得悠久。公司名称起源于创始人,德国光学家卡尔· 蔡司(Carl Zaiss),上图为蔡司商标的演变。最后一个大家一定很熟悉,在各种镜头,金相显微镜,扫描电镜上面你会经常见到。 /p p    strong 蔡司的历史 /strong /p p   1846年,卡尔· 蔡司创立了一家精密机械及光学仪器车间,自此开始了蔡司的创奇时代。蔡司凭借其在光学领域的卓越品质,成功的经营了一个世纪,到二战以后,由于政治原因,德国被迫分裂,蔡司公司也被迫一分为二,之后,东德的产品冠名为Carl Zeiss Jena,西德产品冠名为Carl Zeiss,但东、西蔡在设计上都秉承了蔡司的优质传统。正所谓分久必合,到1990年,两个公司又重新重组成一个公司,总部设在奥伯考亨,东西合璧一直到今天,蔡司公司仍然是光学领域的执牛耳者。 /p p    strong 你知道吗? /strong /p p   蔡司公司还是一个非知名的军工企业。二战中德国的狙击枪,最先进的主站坦克 “豹”2A6,德国214型潜艇,性能超凡,他们都装备了蔡司公司的光学设备。因此,在战争年代,各国把光学工业列为战略工业,制造光学玻璃的原材料石英矿成为了战略物资,光学玻璃产业在军事领域的意义不亚于航天技术。 /p p    strong 蔡司——光学领域 /strong /p p   在光学领域,蔡司是毫无疑问的独孤求败。一百多年来,蔡司光学显微镜在各行各业都展现了其强大的魅力。十九世纪末,Robert Koch博士利用蔡司显微镜发现杆菌是导致结核病的原因。1911年,挪威探险家首次踏上南极大陆,他当时用的就是蔡司的望远镜。可以说在医学,生理学,物理学,化学,军事,天文学等多个领域,都不难找到蔡司显微镜的影子。 /p p   strong  蔡司——电子光学领域 /strong /p p   蔡司公司在电子光学领域却并不像它在光学领域如此出色。虽然蔡司公司有很悠久的历史,但是其在电子光学领域要晚于其他几家制造商,蔡司电子光学的前身为LEO(里奥),在透射电镜领域有60多年的经验。蔡司的光学技术是有口皆碑的,它的电子束技术也并不差。在1949年,就制成了世界上第一台静电式透射电镜,1992年制成了第一台带有成像滤波器的透射电镜,2003年制成了第一台具有Loehler照明的200KV场发射透射电镜及第一台具有镜筒内校正Omega能量滤波器的场发射透射电镜。 /p p   目前,蔡司主要的一款透射电镜为LIBRA能量过滤式透射电子显微镜,(libra是天秤座的意思,不知道蔡司为什么以星座来命名他的产品,知道的可以留言给小编哦!)该电镜配备了独特的OMEGA二阶校正能量过滤器和Koehler库勒照明系统。该款电镜有两种配置:LIBRA 200 CS TEM以能量过滤型200KV LIBRA TEM为基础,做了物镜透镜的球差校正。通过使用校正器,可以采集分辨率0.7A的图像。 LIBRA 200 STEM具有为聚光镜配备的校正器,可以用于在扫描模式下对分辨率远远低于1A和极高分辨率下样品化学分析的成像,尤其是EELS。校正后聚光镜允许探针尺寸减小到1A,同时增大强度。此外,独特的单色仪把能量扩散减小到0.15eV。这对于材料科学的基础研究尤其有利(尤其是纳米颗粒的化学分析)。 /p p   蔡司的透射电镜普及率比另外几家较少,国外哈佛大学,德国马普研究所,国内的重庆大学等也装备了该系列蔡司透射电子显微镜。 /p p   透射电镜自发明之日起已经有八十多年的历史了,它的发明对人类的科技工作的贡献不容小觑,但是能成功的进行商业化生产的公司却不多,电镜生产之繁琐复杂可见一斑。除了上述四家公司之外,国内外还有许多企业在朝着这个方向努力,我们也期待电镜国产化的那一天。 /p
  • CIF发布CIF透射电镜样品杆清洗机新品
    CIF透射电镜样品杆清洗机CIF透射电镜(TEM)样品杆清洗机采用双等离子清洗源设计,自动切换,一机多用,清洗快速高效。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤,同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏用途。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 快速高效低损伤 技术参数产品型号CIF-TEM真空泵Agilent 、IDP-3涡轮式真空干泵入口压力1.0个大气压(0psig),出口压力1.4个大气压(6.5psig)抽速60L/min,极限真空3.3 x 10-1 mbarKF16入口接口等离子电源13.56MHz等离子射频电源,射频功率5-100W可调两种等离子体清洗源,原位等离子源和远程等离子源,自动匹配器清洗室清洗室尺寸(长X宽X高)150X150X150mm清洗数量可同时清洗3支TEM样品杆适配品牌THERMO FISHER(FEI)、日立HITACHI、捷欧路JEOL气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器(MFC),精确测量自动控制气体流量,不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计, 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制,中英文互动操作界面电源220V,50/60Hz,300W质量保证二年质保,终身维护创新点:CIF透射电镜(TEM)样品杆清洗机采用双等离子清洗源设计,自动切换,一机多用,清洗快速高效、低等离子体轰击损伤,同时可实现常规等离子清洗。核心部件采用国际一流品牌,保证设备优异的质量和稳定性。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏用途。 CIF透射电镜样品杆清洗机
  • 世界上最小的超小型透射电镜进入中国生命科院研究领域
    LVEM5超小型透射电镜落户北京大学三医院 近日,LVEM5超小型透射电镜在北京大学三医院(北医三院)安装完成,将助力北医三院的医学研究和临床诊断。 北京大学三医院是国内医院之一,始建于1958年,是集医疗、教学、科研和预防保健为一体的高水平、现代化的三等医院。同时,依托于北京大学医学部(原北京医科大学),北医三院拥有强大的基础医学科研能力,是国内的医学研究机构。 此次,北医三院购置LVEM5超小型透射电镜,主要是希望借助LVEM5低电压和便捷快速的特点,更好的满足医疗和科研的要求:1. LVEM5是目前的低电压透射电镜。传统透射电镜的加速电压一般高达100kV,而LVEM5仅需5kV。这一特性是使得LVEM5可以不经重金属染色,直接观察生物样品,从而避免了因重金属染色带来的样品扭曲,反应出样品真实的形貌。这对于医学研究尤为重要。2. LVEM5是目前的小型透射电镜,其体积与普通光学显微镜相仿,可以放置在普通写字台,且维护和使用都异常简便。这让LVEM5非常适合于非电镜专业的研究人员使用,对样品进行快速检测。更多关于LVEM5产品信息,请参见QUANTUM量子科学仪器公司中文网站及英文网站: http://www.qd-china.com/products2.aspx?id=241关于Quantum Design InternationalQuantum Design International是的科研设备制造商和仪器分销商,于1982年创建于美国加州圣迭戈。公司生产的 SQUID 磁学测量系统 (MPMS) 和材料综合物理性质测量系统 (PPMS) 已经成为公认的测量平台,广泛的分布于上几乎所有材料、物理、化学、纳米等研究领域的实验室。同时美国 Quantum Design 公司还利用自己遍布的专业营销和售后队伍打造一个代理分销网络,与其他的设备制造商合作,为其提供遍布全球的专业产品销售和售后服务网络。2007年,Quantum Design International并购了欧洲大的仪器分销商LOT公司,现已成为著名的科学仪器领域的跨国公司。目前公司拥有分布于英国、美国、法国、德国、巴西、印度,日本和中国等地区的数十个分公司和办事处,业务遍及全球一百多个和地区。 中国地区是Quantum Design International公司活跃的市场,公司在北京、上海和广州设有分公司或办事处。几十年来,公司与中国的科研和教育领域的合作有成效,为中国的科研进步提供了可靠的先进设备以及高效优质的售后服务。
  • 中科院固体所举办透射电镜实验技术讲座与交流座谈会
    p   11月18日下午,固体所在三号楼221会议室举办了透射电镜实验技术讲座与交流座谈会,会议由七室主任吴兵研究员主持,来自固体所各研究室的二十余位老师和研究生参加交流座谈。 /p p   透射电镜在材料微结构分析方面有着广泛的应用,随着科学的进步,透射电镜的实验技术也在不断发展。为促进科研人员及研究生对透射电镜及相关实验技术的进一步了解,七室负责电镜设备的老师向与会人员做了有关 a href=" http://www.instrument.com.cn/zc/1139.html" target=" _blank" title=" " style=" color: rgb(0, 112, 192) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " 透射电镜 /span /a (TEM)及扫描透射电镜(STEM)技术介绍。随后,与会人员就“电镜中磁性材料的测量、测试载网的选择、样品尺寸及厚度方面的要求、样品分散剂”等方面问题向老师提问,老师一一给与解答。会上大家还围绕新近购置的透射电镜的功能和应用展开了交流和讨论。 /p p   此次座谈会不仅使科研人员对透射电镜等设备的操作和维护有了更深层次地认识,也让七室设备管理人员了解到科研人员对设备使用的需求和建议,以便进一步提高服务水平。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201511/noimg/6f7d9e2e-36fc-4b7e-87ec-6fc1aa9b5f6a.jpg" title=" 座谈会现场.jpg" / /p p style=" text-align: center " 座谈会现场 /p
  • 我国首台国产场发射透射电镜发布
    1月20日,由生物岛实验室领衔研制,拥有自主知识产权的首台国产场发射透射电子显微镜在广州发布。这标志着我国已掌握透射电镜用的场发射电子枪等核心技术,并具备量产透射电镜整机产品的能力,将为我国在材料科学、生命科学、半导体工业等前沿科学及工业领域的高质量发展提供有力支撑。中国科学院院士、生物岛实验室主任徐涛联合中国科学院生物物理研究所研究员孙飞在2016年启动透射电镜有关研究,并于2020年在生物岛实验室组建起一支体系完整的透射电镜研制工程技术团队。团队成立三年多以来,相关研发工作接连取得重大突破。研发团队介绍,此次推出的首款场发射透射电镜新品TH-F120,取名源自中华名山“太行”,寓意它将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。该场发射透射电镜利用被加速到120千电子伏特的高能电子与被观测样品中的原子发生相互作用,检测透射电子携带的样品信号转化为显微放大的图像,可以用来观察材料样品中的原子排列结构、细胞组织样品的精细超微结构、病毒和生物大分子复合体的精细结构,是科学家研究微观世界的重要仪器。研发团队表示,该电镜拥有自主研制的高亮度场发射电子枪,相比于同级进口产品的热发射电子枪,亮度更高,发射稳定性和相干性更优,匹配自主研制的电磁透镜系统,针对120kV成像平台特别优化电子光学设计,可带来更佳的图像衬度和分辨率。生物岛实验室是广东省首批省实验室之一。自成立至今,生物岛实验室优化整合力量,加快成果转化、产业孵化和创新体系建设,不断培养高价值专利,与本地头部企业共建联合实验室、技术产业转化中心,累计孵化企业12家。发布会现场详细信息,请关注仪器信息网后续报道。
  • 蓝菲光学成功交付上海市质检院定制摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统
    2019年11月蓝菲光学成功交付上海质检定制摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统。光谱透射率及色贡献指数是衡量摄影镜头质量优劣的重要指标。摄影镜头的光谱透射比特性直接影响彩色摄影的色再现质量,ISO规定了以用对数透射比为基础的色贡献指数来描述照相镜头的色再现性(ISO 6728-1983)。我们知道照相镜头是由多片透镜组成的,其设计是由全世界多个厂商共同协作的,不同厂商根据其设计方案,则选用不同的透镜玻璃。照相机的色贡献指数是由整个镜头的综合光谱透过率决定的。从某种意义上讲,用于照相镜头的每一块透镜玻璃都应该测量其色贡献指数,并且测试值符合标准要求。上海市质量监督检验技术研究院,是国家市场监督管理总局批准设立的,经上海市人民政府依法设置的非营利性公益科研类政府实验室,是国家级产品质量监督检验研究院。是集产品质量检验检测、计量校准、体系与产品认证、标准化服务、培训与咨询为一体的全国最具有综合竞争力的检测院所之一。上海市质检院针对采购检测仪器具有很高的产品要求,在产品质量、性能、售后服务等一系列考察后,选定蓝菲光学定制生产镜头色贡献指数检测系统。蓝菲光学定制生产的镜头色贡献指数检测系统基于积分球的光谱透射率测试系统,来获取镜头的光谱透射比。待测镜头最大尺寸128mm(D)*366mm(L), 待测镜头重量5kg以内。镜头透过率范围一般在4%-98%。硬件系统由积分球,光谱仪,准直光源,夹具和暗室组成。系统符合JBT8248.1-1999 照相镜头光谱透射比的测量方法和JBT8251-1999 照相镜头的色贡献指数国标。蓝菲光学高漫反射涂料很受行业认可,该测试系统积分球内部使用Spectraflect® 涂料在紫外-可见光-近红外光谱区内漫反射率高达98%。积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射,挡板采用最小化设计,使得探测器能够最大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部,使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。蓝菲光学的光谱仪光谱范围350-1100nm,该光谱仪内置的电制冷、薄型背照式CCD探测器可高效地抑制杂散光。所使用的准直光源均匀性>90%,光斑大小可调,配套软件显示光谱透射比和色贡献指数,光谱间隔为10nm,此外允许我们自定义光谱及对软件二次开发,方便实用。图1 上海质检定制摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统图图2 摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统软件界面蓝菲光学定制的摄影镜头光谱透射率及色贡献指数检测系统设计灵活,可依照标准定制,适用于各类镜头透过率和色贡献指数测试。
  • 嘉兴学院单一采购透射电镜 赛默飞1500万元中标
    p    strong 仪器信息网讯 /strong 嘉兴学院分析测试中心日前发布公共服务平台建设项目(二期)单一来源公示,采购200KV场发射透射电子显微镜、场发射扫描电子显微镜、聚焦离子束和电子束系统各一套,赛默飞世尔以1500万元中标,供应商为浙江省科学器材进出口有限责任公司。 /p p    strong 一、 采购人名称 /strong : 嘉兴学院(含平湖师范) /p p    strong 二、 单一来源编号 /strong : singleSource2020021183265695 /p p    strong 三、 采购项目名称 /strong : 分析测试中心公共服务平台建设项目(二期) /p p    strong 四、 采购组织类型 /strong : 分散采购-分散委托集采 /p p    strong 五、 采购项目概况 /strong : /p p style=" text-align: center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/32ada1fb-f862-4e38-89d5-f2191dffffe4.jpg" title=" 2020-02-27_212748.jpg" alt=" 2020-02-27_212748.jpg" / /p p    strong 六、 拟采用的采购方式 /strong : 单一来源 /p p    strong 七、 申请理由: /strong /p p   透射电镜(TEM)是材料科学中十分重要的分析工具。可以进行样品的形貌分析,结构分析和成分分析。形貌分析可以获得非晶材料的质厚衬度像、多晶材料的衍射衬度像和单晶薄膜的相位衬度像(原子像)。结构分析可以进行电子衍射、原子位错、孪晶类型、晶界结构等研究。成分分析可对小到纳米尺度的微区或晶粒的成分进行测量。该设备是探索物质表观特性及微观本质的强有力工具。 /p p   分析测试中心作为校级公共服务平台,不仅服务于全校师生,同时为嘉兴地区的科研院所和生产企业提供技术支持。本项目仪器设备主要用于校内外的科研工作,对仪器设备的性能、功能要求高,需要具有高灵敏度、高分辨率、快速高效的特点,并具备磁性样品直接观察并实时测试磁力线分布状况、TEM/ STEM /EDS快速三维重构的功能。此外,由于透射电镜对制样要求非常高,人工制样不仅操作繁琐、十分耗时,而且操作人员的制样技术严重影响透射电镜的测试结果,因此需要具备为透射电镜进行全自动制样功能。 目前场发射透射电子显微镜(TEM)生产商只有美国赛默飞世尔科技(并购美国FEI品牌)和日本电子两家,而满足我校采购需求的仅美国赛默飞世尔科技一家(代理商:浙江省科学器材进出口有限责任公司)。 /p p   赛默飞世尔的TalosF200X是目前在无球差校正技术的同类型场发射透射电镜中性能最优异的产品:1)专利独特的4探头STEM设计可以同时快速采集来自不同角度的电子信号,4个对称分布的无窗SDD检测器的能谱仪系统,具有极高的灵敏度,每秒可收集高达105幅能谱图,其Mapping的采集时间可缩短一半以上。EDS Mapping的分辨率可达500x500 像素 2)因为检测器是无窗设计,对于轻元素的灵敏度比常规有窗能谱仪检测器提高1倍以上 3)独特的微分相位衬度技术(DPC)可实现对磁性样品的直接观察,并实时测试磁力线分布状况 4)三维重构功能的应用,不但实现TEM模式和STEM模式的三维成像,配合4探头的能谱仪系统还可实现三维EDS成像。另外,美国赛默飞世尔公司的Helios 5 CX聚焦离子束和电子束系统,其离子束分辨率30kV下2.5nm,电子束分辨率30kV下STEM 0.6nm、1kV下1.0nm,具备为透射电镜进行全自动制样功能、自动切割和三维重构功能。 /p p   由于本项目仪器设备主要用于我校科研工作并服务嘉兴地区的科研单位,对仪器设备的性能、功能要求高,符合我校需求的只有美国赛默飞世尔科技公司的TalosF200X场发射透射电子显微镜及其配套的制样和初筛系统,因此计划单一来源采购美国赛默飞世尔科技公司的TalosF200X场发射透射电子显微镜及其配套的制样和初筛系统(Helios 5 CX聚焦离子束和电子束系统和场发射扫描电子显微镜)。 /p p    strong 八、 拟定供应商: /strong /p p   1、拟定供应商名称 /p p   浙江省科学器材进出口有限责任公司 /p p   2、拟定供应商地址 /p p   浙江 /p p    strong 九、 论证专业人员信息及意见: /strong /p p strong /strong /p p style=" text-align: center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/b13f829d-a4f7-41fa-8600-60af2bcc4f66.jpg" title=" 2020-02-27_212758.jpg" alt=" 2020-02-27_212758.jpg" / /p p   专业人员对供应商因专利、专有技术等原因具有唯一性的具体论证意见: 无球差校正的200kV场发射透射电子显微镜目前无国产设备,国外生产商只有美国赛默飞世尔科技和日本电子两家,不适合公开招标采购方式。根据用户调研,符合采购需求的只有美国赛默飞世尔科技公司一家。美国赛默飞世尔科技公司的Talos F200X场发射透射电子显微镜和Helios 5 CX聚焦离子束和电子束系统具有独特技术领先优势,符合用户需求,建议单一来源采购美国赛默飞世尔科技公司的TalosF200X场发射透射电子显微镜及其配套的制样和初筛系统(Helios 5 CX聚焦离子束和电子束系统和场发射扫描电子显微镜)。 /p
  • 蓝菲光学推出UV-2000S紫外线透射率分析仪
    蓝菲光学 (Labsphere) 作为 UV-2000S紫外线透射率分析仪的制造商,开发出一套新的软件规范,使防晒产品能够根据最新的全球体外测试标准而形成自身特色。这项功能比美国食品药物管理局(FDA)发布体外防晒产品测试最终条例还抢先了一步。   蓝菲光学的 UV-2000S 紫外线透射率分析仪是专为快速测量防晒产品的光谱透射率而设计,特别适合SPF50及以上高防护指数、以及 UVA/UVB 防护指数的产品。其系统应用软件能自动将检测数据转换为防晒系数(SPF)、UVA 与 UVB 的比率、临界波长(欧洲化妆品协会 COLIPA 2009)、Boot 星等标示、UVA I/UV 比率 (FDA 推荐的规则) 和 UVA-PF (COLIPA 方法)。   无论是裸基材还是产品基片,用户都能基于这一平台对测试数据进行浏览、存档、重新打开和导出操作,并支持不断发展的地区性方法。蓝菲光学还计划将提议的修改整合到欧盟委员会(COLIPA)指导方针、FDA 专著中,并随着相关监管部门发布测试结果,蓝菲光学也计划在发布的软件中增加新的 ISO 标准。用户近期购买的 UV-2000S提供了最新发布的软件,当前用户可以订购更新内容对软件升级。   FDA 建议的规则和新推出的 ISO 及 COLIPA 标准也将要求使用设备将防晒产品进行特定日光辐射耐光性测试。蓝菲光学已经与美国 Q-Lab 公司 (www.q-lab.com)结为市场合作伙伴,该公司是风化和日光老化测试设备方面世界级的领先企业。所有在六个月内购买蓝菲光学 UV2000S和 Q-Lab 公司 Q-Sun 氙灯稳定性测试仪的客户将可以同时享受两种产品的特价。
  • Science:透射电镜新突破!电子叠层衍射成像实现晶格振动原子分辨率极限
    透射电子显微镜(TEM)在物理、化学、结构生物学和材料科学等领域的微纳结构研究中发挥着重要作用。电子显微镜像差校正光学的进展极大地提高了成像系统的质量,将空间分辨率提高到了低于50pm的水平。然而,在实际样品中,只有在极端条件下才能达到这个分辨率极限,其中一个主要的障碍是,在比单层更厚的样品中,多电子散射是不可避免的(由于电子束与原子静电势之间的强库仑相互作用)。多次散射改变了样品内部的光束形状,并导致探测器平面上复杂的光强分布。当对厚度超过几十个原子的样品进行成像时,样品的对比度与厚度之间存在非线性甚至非单调的依赖关系,这阻碍了通过相位对比成像方式直接确定样品的结构。定量结构图像解释通常依赖于密集的图像模拟和建模。直接修正样品势需要解决多重散射的非线性反函数问题。尽管已经通过不同的方法对晶体样品的不同布拉格光束进行相位调整(其中大部分是基于布洛赫波理论),但对于具有大晶胞或非周期结构的一般样品来说,这些方法变得极其困难,因为需要确定大量未知的结构因子。Ptychography(叠层衍射成像)是另一种相位修正方法,可以追溯到20世纪60年代Hoppe的工作。现代成熟的装置使用多重强度测量——通常是通过小探针扫描广大的样品收集的一系列衍射图案。这种方法已广泛应用于可见光成像和X射线成像领域。直到最近,电子叠层衍射成像技术还受到样品厚度和电子显微镜中探测器性能的限制。二维(2D)材料和直接电子探测器的发展引起了更广泛的新兴趣。用于薄样品(如2D材料)的电子叠层衍射成像已达到透镜衍射极限的2.5倍的成像分辨率,降至39μm阿贝分辨率。然而,这种超分辨率方法只能可靠地应用于小于几纳米的样品,而较厚样品的分辨率与传统方法的分辨率没有实质性差异。对于许多大块材料来说,这样的薄样品实际上很难实现,这使得目前的应用局限于类2D系统(例如扭曲的双层)。对于比探针聚焦深度更厚的样品,多层叠层衍射成像方法提出了使用多个切片来表示样品的多层成像。所有切片的结构可以分别恢复。目前,利用可见光成像或X射线成像都成功地演示了多层叠层衍射成像。然而,由于实验上的挑战,只有少数的多层电子叠层衍射成像证据的报道,并且这些报道在分辨率或稳定性方面受到限制。透射电子显微镜使用波长为几皮米的电子,有可能以原子的固有尺寸最终确定的固体中的单个原子成像。然而,由于透镜像差和电子在样品中的多次散射,图像分辨率降低了3到10倍。康奈尔大学研究人员通过逆向解决多次散射问题,并利用电子叠层衍射成像技术克服电子探针像差,证明了厚样品中不到20皮米的仪器(图像)模糊以及线性相位响应;原子柱的测量宽度受到原子热涨落的限制,新的研究方法也能够在所有三维亚纳米尺度的精度从单一的投影测量定位嵌入原子的掺杂原子。相关研究工作以“Electron ptychography achieves atomic-resolution limits set by lattice vibrations”为题发表在《Science》上。图1 多层电子叠层衍射成像原理图2 PrScO3的多层电子叠层衍射重建图3 多层电子叠层衍射成像的空间分辨率和测量精度图4 多层电子叠层衍射的深度切片
  • 1850万!中国科学院金属研究所场发射透射电子显微镜、广角X射线散射仪等采购项目
    一、项目基本情况1.项目编号:OITC-G230311156项目名称:中国科学院金属研究所场发射透射电子显微镜采购项目预算金额:850.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):850.0000000 万元(人民币)采购需求:包号设备名称数量简要用途交货期预算交货地点是否允许采购进口产品1场发射透射电子显微镜1套本系统主要用于各种材料高分辨快速成像和化学分析,系统由电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。合同生效后18个月850万元中国科学院金属研究所是 投标人可对其中一个包或多个包进行投标,须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得转包、分包,评标、授标以包为单位。合同履行期限:合同生效后18个月内交货。本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号:23CNIC-031692-009项目名称:中国科学院金属研究所广角X射线散射仪采购项目预算金额:700.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):700.0000000 万元(人民币)采购需求:名称:广角X射线散射仪数量:1套简要技术要求:本设备用于在温度(普冷区)、应力、磁场等复杂环境下精准测量金属、塑晶、磁性等材料的X射线衍射谱;可在温度(深冷区)、压力等环境下测试材料X射线原子对分布函数。用以研究材料多尺度应力分配、压力诱导分子有序度变化等材料科学共性问题。★微焦斑转靶最大额定输出功率:不低于800 W★ 微焦斑转靶额定管电压:不低于50 kV★微焦斑转靶额定管电流:不低于16 mA(50 kV下)★无液氦分体式超低振动设计,不消耗液氦★ 温度范围:10 K-350 K★ 温度稳定性:≤100 mK合同履行期限:合同生效后8个月本项目( 不接受 )联合体投标。3.项目编号:23CNIC-031692-008项目名称:中国科学院金属研究所高温微动磨损试验机采购项目预算金额:300.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):300.0000000 万元(人民币)采购需求:名称:高温微动磨损试验机数量:1套简要技术要求:本设备用于各种材料、涂层和薄膜在高温环境下的摩擦磨损性能测试,可为各种材料和各种涂层以及薄膜的研究提供有效手段,符合国家及相关国际标准,接触形式包括点、线、面三种。★高载荷模块:3—2500N, 加载控制精度:±1%,分辨率:0.1N★行程:0.01—5mm ,位移控制精度:优于10um,重现性:0.3%位移传感器:分辨率:2 μm,响应时间: 10 s★频率:1—500Hz 合同履行期限:合同生效后6个月本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2023年07月04日 至 2023年07月11日,每天上午9:30至11:30,下午13:30至16:30。(北京时间,法定节假日除外)地点:北京市西城区北三环中路25号英斯泰克大厦5层方式:电话联系购买售价:¥600.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。(一)1.采购人信息名 称:中国科学院金属研究所     地址:辽宁省沈阳市沈河区文化路72号        联系方式:佟老师 024-23971066      2.采购代理机构信息名 称:中国仪器进出口集团有限公司            地 址:北京市西城区北三环中路25号英斯泰克大厦            联系方式:唐经理 010-60961220/18612037725 陶经理010-60961520/18618131338            3.项目联系方式项目联系人:陶经理电 话:  010-60961520(二)1.采购人信息名 称:中国科学院金属研究所     地址:沈阳市沈河区文化路72号        联系方式:佟老师;024-23971066      2.采购代理机构信息名 称:东方国际招标有限责任公司            地 址:北京市海淀区丹棱街1号互联网金融中心20层            联系方式:王军、郭宇涵、李雯;010-68290508、010-68290599            3.项目联系方式项目联系人:佟老师电 话:  024-23971066
  • 关于举办“透射电镜分析技术”培训通知
    近年来电子显微领域的技术发展突飞猛进,硬件和软件的新技术和新功能不断的推出。透射电镜越来越受到科研人员的重视,用途日益广泛。现在透射电镜已广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、化学化工、生命科学、转化医学、半导体材料与器件、地质勘探、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。为适应广大分析技术工作者的需求,进一步提高透射电镜用户的应用和研究水平,推动显微分析应用的进一步发展,上海交通大学分析测试中心特举办“ATP 004透射电镜分析技术”培训班,NTC授权单位培训机构上海交通大学分析测试中心承办并负责相关会务工作。 现将有关事项通知如下:一、 培训目标:了解透射电镜的基本结构与原理;了解透射电镜检测/校准项目及相关要求;掌握国家标准中透射电镜的检测方法。(一)通过学习理论知识,观摩实际操作,排查仪器故障,调谐最佳机器运转状态。(二)面对应急问题,学员可理论联系实际,查找故障原因,进行仪器自检及修复。二、 时间地点:培训时间:2023年10月16日-10月18日 上海(时间安排:授课2天,考核1天)三、 课程大纲:时间内容10月16日上午透射电镜的发展、成像原理、基本结构10月16日下午透射电镜的样品制备、像衬度、基本操作及维护10月17日全天透射电镜实操培训及答疑10月18日全天考核四、 主讲专家:主讲专家来自上海交通大学分析测试中心,熟悉NTC/ATP 004 透射电镜分析技术大纲要求,具有NTC教师资格,长期从事透射电镜技术研究的专家。五、 授课方式:(一) 讲座课程;(二) 仪器操作;六、 培训费用:(一)培训费及考核费:每人3000元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费),食宿可统一安排费,费用自理。(二)本校费用:每人1500 元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费;必须携带学生证)。七、 颁发证书: 本证书由国家科技部、国家认监委共同推动成立的全国分析检测人员能力培训委员会经过严格考核后统一发放,证书有以下作用:具备承担相关分析检测岗位工作的能力证明;各类认证认可活动中人员的技术能力证明、该能力证书可作为实验室资质认定、国际实验室认可的技术能力证明;大型仪器共用共享中人员的技术能力证明。 考核合格者将由发放相应技术或标准的《分析检测人员技术能力证书》。考核成绩可在全国分析检测人员能力培训委员会(NTC)网站上查询(https://www.cstmedu.com/)。八、 报名方式:(一)请详细填写报名回执表(附件1)和全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表(附件2),邮件反馈。(二) 注:请学员带一寸彩照2张(背面注明姓名)、身份证复印件一张,有学生证的学员携带学生证复印件。(三) 报名截止时间是10月10日16:00前。(四) 如报名人数不足6人取消本次培训。 九、 联系方式联系人:吴霞(报名相关事宜)、郭新秋(技术咨询)电话:021-34208496-6102(吴霞)、021-34208496-6205(郭新秋)E-mail:iac_office@sjtu.edu.cn官方网址:iac.sjtu.edu.cn
  • 赛默飞透射电镜助力超导理论研究
    2023年2月22日,清华大学朱静院士团队联合复旦大学车仁超教授和北京大学李源副教授在《自然》杂志上发表了题为” Topological spin texture in the pseudogap phase of a high-Tc superconductor” [1] 的文章。该研究工作采用赛默飞透射电子显微镜(TEM)首次在赝能隙态YBa2Cu3O6.5材料中发现了拓扑磁涡旋结构的存在。该拓扑磁涡旋结构的发现在实空间微观尺度上给赝能隙态下的时间反演对称性破缺提供了的直接图像证据,并且发现该拓扑磁涡旋结构在电荷密度波态时被破坏,进入到超导态时又重新出现,这一发现对揭示高温超导的微观机理具有重大的意义,而先进的透射电子显微镜在这一发现上更是功不可没。朱静院士,车仁超教授等人深耕于超导材料研究领域,洛伦兹低温原位透射电镜研究领域,电子显微学研究领域多年,取得了一系列重要研究成果。在本研究中,研究团队利用复旦大学电子显微镜实验室新安装的Spectra 300透射电子显微镜开展低温洛伦兹样品测试,获得了此次重大发现。2021年,赛默飞上海纳米港(Shanghai NanoPort, Thermo Fisher Scientific)有幸参与其中部分实验工作,在创建冷冻实验环境和原位数据采集方面积极地配合支持。本文将主要介绍两种电子显微学技术——洛伦兹透射电镜(LTEM)和积分差分相位衬度(iDPC)在该工作中起到的关键作用。洛伦兹透射电镜(LTEM)正常TEM光路下,物镜处于开启状态,样品在物镜上下极靴中间处于~2T的强磁场中,样品本征的磁结构会被物镜的强磁场破坏。为了在无磁环境下观察样品本征的磁结构,赛默飞场发射透射电镜Talos和球差校正透射电镜Spectra都可以通过关闭物镜电流使样品处于零磁场环境,再由位于物镜下极靴内部的洛伦兹磁透镜实现对样品微观本征磁结构的观察。LTEM成像模式主要有两种:Fresnel成像模式和Foucault成像模式。Fresnel成像模式是通过改变图像的离焦量实现对磁畴或畴壁的观察。其图像主要特点是欠焦和过焦条件下磁畴畴壁的衬度是相反的,而正焦图像则没有磁衬度。Foucault成像是通过遮挡或者保留后焦面上与磁畴相关的衍射信号来实现(类似于暗场像), 适用于观测不同磁化取向的磁畴。图1a-c分别为该文章中赝能隙态YBa2Cu3O6.5样品的正焦、过焦以及欠焦下的Fresnel图像,离焦量为±1.08 mm。其反转的衬度特点,切实证明了该样品中存在拓扑学特征的畴结构。此外,赛默飞透射电镜上的洛伦兹功能不仅可以实现无磁环境,还可以很方便地通过改变物镜电流来改变磁场,用于原位研究磁结构随磁场强度的变化。在本研究中,作者通过改变物镜电流对样品施加外磁场影响,拓扑学特征消失,进一步证明了该效应是由磁学特性引起的。作者通过使用强度传递方程(Transport of Intensity Equation, TIE)的相位重构技术[2],对LTEM图像进行数据处理得到拓扑磁涡旋结构的磁场方向和相对强度分布(图1d-e, i-l)。图1m-n是由LTEM结果推测出来的两种可能的磁涡旋结构示意图。该文章中LTEM实验分别在赛默飞Spectra300,Themis和Titan机台进行了重复验证,均观察到拓扑磁涡旋结构。图1 (a-c)LTEM Fresnel模式下赝能隙态YBa2Cu3O6.5样品的正焦、过焦、欠焦图像(离焦量为±1.08 mm),样品处于300 K,零磁场环境,标尺为500 nm;(d-e)为通过TIE算法得到的磁场和磁场强度图像;(f-j)为红色方框对应的剪裁放大图像;(k-l)为单个磁涡旋结构的磁场和磁场强度图;(m-n)为两种可能的拓扑磁涡旋结构示意图[1]除了常规的LTEM成像外,赛默飞球差校正透射电镜Spectra系列可以通过物镜球差校正器对LTEM光轴进行像差校正。像差校正洛伦兹模式下可以得到优于1nm的信息分辨率,从而帮助科研工作者观察到更小的磁结构。积分差分相位衬度(iDPC)球差校正透射电镜的超高空间分辨率提供了关于拓扑自旋结构的出现与局域晶体结构之间关系的更多信息。铜基超导材料中氧原子的掺杂或缺失对材料性能具有重要的影响,直接观察到氧原子的占位对深入揭示材料微观结构与性能之间的关系具有重大的意义。然而,广泛使用的扫描透射电镜(STEM)的高角环形暗场(HAADF)图像,因其主要接收高角卢瑟福散射信号,导致轻重元素无法同时成像,C、N、O等轻原子无法观察到。STEM环形明场(ABF)像虽然能观察到轻元素,但ABF图像无法直接解读,而且存在对样品厚度要求高、图像信噪比不佳等问题。为了解决以上问题,赛默飞提出并发展了积分差分相位衬度(iDPC)技术。iDPC这一全新STEM成像模式的出现,大大提高了透射电子显微镜捕获原子的能力。iDPC技术具有能实现轻重原子同时成像,能实现低电子剂量,高分辨和高信噪比成像,图像衬度易解读等优点[3]。目前,iDPC技术已成为材料表征领域技术热点,在表征轻元素占位、二维材料、电子束敏感材料、超导体等领域具有重要的应用。iDPC成像技术现已完全集成在赛默飞球差校正电镜Spectra和场发射电镜Talos上,能实现iDPC图像的在线采集和显示。图2 (a) YBa2Cu3O6.0, (b) YBa2Cu3O6.5和(c) YBa2Cu3O6.9的原子分辨率iDPC图像[1]图2为YBa2Cu3O6.0、YBa2Cu3O6.5和YBa2Cu3O6.9的高分辨iDPC图像,可以清楚的观察到氧原子的位置,随着氧掺杂含量的不同,Cu-O链上的氧占位逐渐增加。值得注意的是赝能隙态YBa2Cu3O6.5的Cu-O链上出现了氧富集和氧缺失的有序排列。作者认为这种氧的有序排列有利于拓扑磁涡旋结构沿c轴自由排列,是观察磁涡旋结构的最佳区域。作者认为现阶段不能完全排除氧填充链激发磁性的可能。赛默飞将致力于相关电子显微学技术的研发与应用,为材料的电、磁学性能研究提供更强大的助力。作者:刘建参考文献[1] Zechao Wang, Ke Pei, Liting Yang, Chendi Yang, Guanyu Chen, Xuebing Zhao, Chao Wang, Zhengwang Liu, Yuan Li, Renchao Che & Jing Zhu. Topological spin texture in the pseudogap phase of a high-Tc superconductor. Nature (2023). https://doi.org/10.1038/s41586-023-05731-3[2] M. Beleggia, M.A. Schofield, V.V. Volkov, Y. Zhu. On the transport of intensity technique for phase retrieval. Ultramicroscopy 102 (2004) 37–49.[3] Ivan Lazi&cacute , Eric G.T. Bosch and Sorin Lazar. Phase contrast STEM for thin samples: Integrated differential phase contrast. Ultramicroscopy 160, 265-280 (2016).
  • 日立透射电镜HT7700高级应用培训班成功举行
    2016年11月22日至25日,日立公司透射电子显微镜HT7700高级应用培训在中国科技大学和南方科技大学成功举办。日立高新全球应用中心(和山)工程师给用户讲解了HT7700的软件中各种功能的使用,各类样品最佳拍摄条件。此外,和山还给中国科技大学重点介绍了HT7700选区衍射及测量校准功能,给南方科技大学重点介绍自动抓拍,自动拼图功能和三维重构功能。 通过这次培训用户更加深入地了解了HT7700的各种功能,熟练掌握了各类样品拍摄技巧。中国科技大学南方科技大学关于日立120kV透射电子显微镜HT7700:该产品更多信息请关注: http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C138548.htm 关于日立高新技术公司:日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域的核心技术。更多信息敬请关注日立高新官方网站:http://www.hitachi-hightech.com/cn/
  • 日本电子推出透射电镜用制样设备
    日本电子推出透射电镜用最简单的制样设备 透射电镜的样品制备非常关键,但却非常麻烦,且需要很好的经验,对于一些例如含有软硬兼有成分的样品,几乎无法制备。针对这种情况,日本电子株式会社开发出了一步到位式离子制样仪EM-09010IS,它使用氩离子切割样品,实际上就是一台超小型的FIB。EM-09010IS的出现对于透射电镜的样品制备可以说是革命性的进步。从制备步骤来讲,只需将样品简单切薄,就可立即装入;从操作性上来讲,没有透射电镜样品制备经验的人也可以得到完美的薄区,从使用上来讲,对于软硬混合的样品,得心应手,还不会给脆性样品带来应力破坏;另外,由于切割角度可以随意调整,还可以为EBSD和AEM提供完美的样品制备;从运行成本来讲,EM-09010IS用的氩源比FIB用的镓源便宜的多。北京工业大学张泽院士领导的研究小组已经安装了一台该设备。目前EM-09010IS只提供给日本电子株式会社透射电镜的用户,详情请咨询日本电子株式会社各地办事处。
  • OPTON微观世界|第33期 扫描电镜新技术——同轴透射菊池衍射(TKD)技术的应用
    引 言扫描电镜中的被散射电子衍射技术(EBSD)在确定材料结构、晶粒尺寸、物相组成以及晶体取向甚至是应力状态标定都有一定的涉及。通过电子衍射技术的进一步发展,Keller与Geiss基于EBSD技术相同的硬件与软件,通过改变样品台的倾角,使得荧光闪烁体信号接收器在样品下方接收透射电子衍射信号,从而代替原先的背散射信号。这种新技术称为Transmission Kikuchi diffraction(TKD),由于它的信号接收方式特点也被称为t-EBSD。由于接收信号的方式由被散射电子信号转为透射电子信号,其分辨率得到了明显的提升,由原来的EBSD技术的几十纳米(20-30nm平行于电子束的方向,80-90nm垂直于电子束的方向)提高到了TKD技术的10纳米。由于电子束与材料交互作用体积的减少,分辨率提高,使得分析超细晶材料以及其中的纳米颗粒的到了实现。为了改善电子衍射信号接收能力,一种新型的电子束-样品-接收器(on-axis TKD)共轴TKD式的几何设计在法国洛林大学(Université de Lorraine)与布鲁克公司联合组装使用,这个新装置不仅可以接收菊池花样还可以接收衍射点的信息。虽然此时TKD的说法已经不能十分贴切的描述实际情况,应该改为扫描电镜中的透射衍射(Transmission Diffraction )更为合理。由于传统上TKD缩写已经被普遍接受,所以我们在本文中以共轴透射菊池衍射(on-axis TKD)来表述此种新方法。这种新型的接受方法比传统的非共轴TKD(off-axis TKD)方法得到更高的信号强度。同时,共轴TKD方法由于其接收信号的对称性,可以使得原先非共轴TKD方法得到的扭曲的信号得以矫正。本文的主要目的是揭示透射衍射花样随着不同试验条件、样品参数(电子束入射强度、样品与探测器的距离、样品的厚度、样品的原子序数)的变化规律。帮助试验人员选择衍射花样中的合适的衍射数据(点、线、带),以及相应的设置电镜与样品的参数。最后在实际的纳米材料中采用TKD技术对样品进行纳米尺度的分析研究。试验方法所有的试验都是基于ZEISS Supra 40型号与ZEISS Gemini SEM进行的,配备的设备是Bruker e-Flash1000摄像机,对应的探测器型号是Bruker OPTIMUS。如图1所示,传统的TKD系统与on-asix TKD系统的探头接收方向并不相同。图2表示了FIB制样方法获得的楔形单晶Si薄片式样,样品厚度在25nm到1μm之间,用于后续的试验检测。图1 (a)同轴式透射菊池衍射(on-axis TKD);(b)传统非同轴透射菊池衍射(off-axis TKD);(c)电子背散射衍射(EBSD)图2 实验用的FIB砌削的楔形Si单晶样品的SEM图像电子束入射能量、样品厚度以及原子序数对TKD衬度的影响1衍射衬度的种类在同轴TKD技术中,收集到的衍射花样衬度不仅仅受到显微镜参数的影响,对于不同的观察样品其衍射花样衬度也会有所不同。目前,样品的厚度与入射电子的加速电压是日常应用过程中最基本的影响因素,样品的密度与原子序数也是重要的影响参数,但是目前无法对其进行系统的分析。同时,信号接受探测器的摆放角度、与样品的测试距离也是在实际操作中影响信号接受质量的因素之一。我们可以把衍射花样分为两类:衍射斑点与菊池花样。菊池花样有三种不同的衬度:线衬度、亮带衬度、暗带衬度。2菊池线与菊池带菊池线的形成原因在于,如果样品足够厚,那么将会产生大量以各种不同方向运动的散射电子;也就是说,电子与样品发生非相干散射。这些电子与晶体平面作用发生布拉格衍射。菊池线的形成有两个阶段,一是由于声子散射形成的点状的非连续的发射源,如图3(A)所示。第二是由于这些散射后的电子将相对于面hkl以θB运动(如图3B所示),从而与这些特定晶面发生布拉格衍射。因为散射电子沿各个方向运动,衍射书将位于两个圆锥中的一个内(如图3C)。换言之,因为入射k矢量有一定的范围,而不是单一确定的k矢量,所以观察到的衍射电子的圆锥而不是确定的衍射束。考虑与hkl晶面成θB角度方向的所有矢量所构成的圆锥,称之为Kossel圆锥,并且圆锥角(90-θB)非常小。由于荧光屏/探测器是平面并且几乎垂直于入射束,Kossel圆锥将以抛物线形式出现。如果考虑近光轴区域,这些抛物线看上去就像两条平行线。有时把这两条菊池线和他们之间的区域称为“菊池带”。图3(A)样品在某一点处所有电子散射的示意图(B)部分散射电子以布拉格角θB 入射特定hkl晶面而发生衍射(C)这些圆锥与Ewald球相交,由于θB很小,在衍射花样上产生了近似直线的抛物线。3布拉格衍射斑点与TEM中的衍射斑点形成原理相似,TKD中衍射斑点是由于低角弹性散射形成的,低角弹性散射是连续的,然而在高角范围内,随着与原子核的相互作用,散射分布并非连续,这也就解释了为何衍射斑点只能在低散射角度的区域才能够观察到。图4显示了单晶Si样品中,随着厚度变化引起的衍射信息变化,在样品较薄的区域我们可以看出衍射斑点的信息,随着样品厚度的增加,衍射斑点信息消失。菊池花样在样品时很薄的区域,衬度模糊,而在样品厚度很大时,衬度表现的较弱,其它阶段花样都比较清晰。图5中可以看出,随着入射电子能量的降低,衍射斑点也逐渐消失。由此,可以认为衍射斑点的强度在样品厚度一定的前提下,可以认为是入射电子能量的函数。图4 单晶Si在不同厚度下共轴透射菊池衍射(on-axis TKD)产生的透射衍射花样 (a)43nm (b)45nm (c)48nm (d)52nm (e)65nm (f)100nm (g)200nm (h)300nm (i)1000nm 加速电压E=15keV,探测器样品距离DD=29.5mm,光阑尺寸60μm,束流强度2nA,图像捕获时间(a-h)200ms×30images (i)990ms×30images随着加速入射电子的加速电压的变化,透射菊池衍射花样的变化,可以看出,与图4中的变化规律相似。可以看出入射电子能量与样品厚度在对花样的衬度影响方面扮演着同样的角色。但是其原理并不完全一样,随着入射电子加速电压的降低,菊池带的宽度逐渐变窄。图6所示,基于等离子体与声子的自由程的模型计算了出现衍射斑点的情况下,样品厚度与电子入射能量的关系,可以看出入射电子的能量是产生电子衍射斑点的样品厚度的函数。图5 单晶Si在不同加速电压下共轴透射菊池衍射(on-axis TKD)产生的透射衍射花样 加速电压(a)30keV (b) 25keV (c)20keV (d)15keV (e)10keV (f)7keV;样品厚度d=150nm,探测器样品距离DD=29.5mm,光阑尺寸60μm,束流强度2nA,图像捕获时间(a-h)200ms×30images (i)990ms×30images图6 Si、Ti两种材料随着电子入射能量以及样品厚度变化为变量的布拉格衍射斑点显示示意图实际样品测试纳米材料由于其优异的力学、光学以及催化性能,在材料研究领域中已经成为新的研究热点。其中纳米金属材料由于其优异的力学性能已经得到了广泛的研究,特别是纳米孪晶铜材料,是最早研究的纳米金属材料之一,但是由于其晶粒尺寸小于100nm,其孪晶片层只有十几个甚至几纳米(图7),使得以往的结构研究手段多采用透射电镜(TEM)的方法。但是由于TEM难以对大量晶粒的取向进行统计分析,这就需要用到扫描电镜的EBSD技术,介于传统的EBSD技术的分辨率的局限,一直少有纳米级别的分析。那么有了TKD的新型技术,就可以对纳米级别的材料进行细致的分析。图7 纳米孪晶铜的TEM观察由于纳米孪晶的制备方法多采用电沉积的方法,得到薄膜形式的材料。所以在生长厚度方向上由于厚度较薄(约20nm),本次实验是用金(Au)薄膜样品进行观察,采用的是场发射扫描电镜Zeiss Merlin Compact 以及Bruker OPTIMUS 同轴TKD探测器进行观察。结果如图8所示,可以看出片层结构的分布,经过进一步的分析,可以看出片层结构之间的界面角度为60度,可以确定为[111]112纳米孪晶,并且通过测量可以确定片层宽度仅有2nm。基于共轴TKD技术,让以往在SEM中难以完成的纳米结构的织构组织分析成为可能。并且对纳米尺度材料的性能提升提供了进一步的实验支持。图8 a)纳米金颗粒的孪晶结构PQ图与IPFZ叠加显示;(b)(a)图中线段处角度分布图小 结1.共轴式透射菊池衍射技术可以在衍射花样中获得更加广泛的衍射信息:布拉格衍射斑点、菊池线以及菊池带。2.随着样品厚度的增加,衍射斑点、菊池线、菊池带依次产生。在样品较薄的状态下,菊池带呈现明亮的带状,随着样品后的增加,深色衬度在在带中出现并缓缓变暗,直至带状衬度明锐显现。3.样品厚度与入射电子能量可以作为相关联的变量,影响着衍射信息的衬度;减小样品厚度相当于增加入射电子能量。也就是说要得到特定的衍射衬度,可以调整样品的厚度与调整入射电子束的能量这两种方法是等价的。4.基于等离子体与声子的自由程的模型计算了出现衍射斑点的情况下,样品厚度与电子入射能量的关系。可以看出这二者呈线性关系,且根据元素的不同样品厚度与入射电子能量的比值的常数也有所差别。5.采用共轴TKD技术测试了金纳米颗粒的纳米片层结构,并且分辨出了2nm尺度的孪晶片层结构。
  • 175nm-50000nm变角度透射反射光学性能检测方法进展
    随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用珀金埃尔默紫外/可见/近红外光谱仪和Spectrum 3红外傅里叶变换红外光谱仪,配置TAMS等可变角度测试附件,测试样品不同角度下绝对反射率、透射率数据,实现175nm-50000nm透射率、反射率等光学性能的精确表征。TAMS附件为变角度绝对反射、变角度透射测试附件,如下图所示,检测器和样品台均可以360度旋转,通过样品台和检测器配合旋转,测试不同角度下透射和反射信号。 Lambda系列分光光度计 TAMS变角度透射反射附件光路图图1 仪器外观图以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。01样品变角度透射测试采用TAMS附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据,自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线,一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试,测试曲线如下图所示。 图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据(点击查看大图)TAMS附件配套不同的偏振组件,可以自动测试样品不同波长下偏振信号,如下图测试石英样品在45度下偏振P光和S光反射数据: 图3 样品紫外波段P光和S光偏振测试(点击查看大图)02样品变角度透射/反射曲线测试通过软件设置,可一次性测试得到样品透射和反射率曲线,如下图,该样品在可见波长下反射率大于99.5%,透射率低于0.5%,可同时表征高透和减反性能。 图4 样品45度透射和反射曲线测试(点击查看大图)03NIST标准铝镜10度反射率曲线测试测试NIST标准铝镜10度下反射率数据,如下图所示,黑色曲线为TAMS测试曲线,红色为NIST标准值曲线,两条测试曲线完全重合,进一步证明测试系统的可靠性,可以准确测试样品的光学数据。 图5 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试(红色为NIST标准曲线)04样品变角度全波长反射曲线测试(200-2500nm)软件设置不同的测试角度和偏振方向,自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线,如下图所示,200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比,尤其是在紫外区(200-400nm),可以完成各波长范围的反射性能测试。 图6 样品全波段(200-2500nm)变角度反射率测试(点击查看大图)05不同膜系设计的镀膜样品性能验证测试样品600-1400nm下45度反射率曲线,该样品在1200nm以上属于高反射率,反射率大于99.5%,同时需要关注600-1200nm范围各个吸收峰情况,该波段下吸收峰非常尖锐,同时吸收峰较多,需要仪器具备高分辨率,从而准确测试出每一个尖锐吸收峰信号。 图7 膜系设计验证样品45度反射率测试(点击查看大图)06双向散射分布函数(BSDF)测试除了测试常规变角度透射和反射曲线外,TAMS附件可以自动测试样品不同角度下透射和反射率信号,可以得出样品不同角度下的透射分布函数(BTDF)和反射分布函数(BRDF)信号,最终得到双向散射分布函数(BSDF)。采用该附件可方便测试样品双向散射分布函数(BSDF)、双向反射分布函数(BRDF)、双向透射分布函数(BTDF)等光学参数测试,测试结果如下图所示: 图8 BRDF和BTDF测试(点击查看大图)如下图所示,测试样品不同波长下BSDF分布函数曲线(BRDF + BTDF),从而可以得出样品随不同角度下透射和反射信号变化情况。 图9 样品不同波长下BSDF(BRDF+BTDF)测试(点击查看大图)07窄带滤光片测试Lambda系列光谱仪为双样品仓设计,TAMS附件可与标准检测器、积分球检测器自由更换。对于窄带滤光片样品,即需要准确测设带通区域的透过率、半峰宽,也需要准确测试截止区吸光度值(OD值),可直接切换标准检测器进行检测。 图10 用于激光雷达的镀膜镜片透射和OD值测试数据(点击查看大图)08红外波段区变角透射反射测试珀金埃尔默傅里叶变换红外光谱仪,可广泛应用于上述红外材料光学性能测试,可测试样品在不同波段下红外透光率以及反射率,搭配变角透射及变角反射附件,可以实现不同角度下透射率及反射率测试,如下图为红外波段透射和反射测试曲线: 图11 用于Spectrum 3傅里叶红外的TAMS附件 图12 红外TAMS附件测试样品红外波段不同角度透射数据Summary综上,采用Lambda系列紫外/可见/近红外分光光度计以及傅里叶红外光谱仪,搭配TAMS、标准检测器、积分球等多种采样附件,可以组合出完备的材料光学性能测试平台,满足光学镀膜测试的多样化需求,更加准确便捷的得到样品的光学检测数据。 关注我们
  • 见证历史!我国首台商业场发射透射电子显微镜在广州全球首发!
    仪器信息网讯 2024年1月20日上午,正值寓意“寒去春来”的大寒节气, 由生物岛实验室科研团队领衔研制,拥有自主知识产权的国产首台商业场发射透射电子显微镜太行 TH-F120在广州面向全球用户发布!发布会现场发布会邀请中国科学院饶子和院士、中国科学院隋森芳院士、中国科学院徐涛院士,广东省科学技术厅、广州市市场监督管理局、黄浦区科技局、黄浦区市场监管局、中国科学院生物物理研究所、中国科学院广州生物医药与健康研究院、生物岛实验室等相关领导,以及国内知名电镜专家等五十余位代表出席。仪器信息网作为受邀行业媒体,共同见证这一历史时刻。太行 TH F120历经三年研制成功, 由生物岛实验室与国仪量子共同成立的慧炬科技承接转化,目前已具备量产条件。TH F120的问世将打破国内透射电镜100%依赖进口的局面, 是中国电子显微技术的重大突破。作为极难攻克的“卡脖子”高端科学仪器代表,TH F120是生物岛实验室与国仪量子强强联合的成果,也呈现了尖端仪器技术从科学端研制、成果转化,到商业端产业化的典范。而本次发布会 “研发成果汇报”、“新品发布会”两个环节的设置,相得益彰,是相互尊重,更是传承。环节一: 生物岛实验室研发成果汇报生物岛实验室科研与成果转化部部长李中华主持会议中国科学院院士、广州实验室常务副主任、生物岛实验室主任徐涛开场致辞徐涛院士首先代表生物岛实验室向莅临本次活动的各位领导和专家们表示热烈欢迎,向一直关心支持生物岛实验室发展的各界朋友表示衷心感谢。他讲到,1933年,世界上第一台透射电镜诞生,如今,电镜已成为现代科学研究不可或缺的研究工具,在半导体、材料科学、生命科学等战略性领域的科研活动中起到至关重要的作用,被誉为高端科学仪器“皇冠上的明珠”。透射电镜技术跨越多个学科,工程技术复杂,攻关难度大,被列为我国受限制的35项关键技术之一。为解决卡脖子问题,在生物物理所的大力支持下,孙飞研究员带领团队早在2016年就启动了预研工作。之后在生物岛实验室组建了完整的研发团队体系,在国家自然科学基金委、广东省科技厅的大力支持下,经过三年多的不懈努力,先后成功研制120kV场发射电子枪、120kV低纹波高压电源、400万像素和1600万像素CMOS电子探测相机,以及100万杂合像素直接电子探测相机等透射电镜核心关键部件。在此基础上,才有了今天发布的国内首台100%自主知识产权的120kV场发射透射电镜,实现0.2纳米分辨率的成像能力,达到产品化水平。这对于我国摆脱进口依赖,实现高水平科技自立自强具有重大意义。作为团队的一员,徐涛院士见证了整个项目艰难的研发过程,借此发布会的机会,对实验室电镜研发团队不惧困难挑战、勇于投身科研实践的责任担当表达了崇高的敬意。最后,徐涛院士表示,科学仪器研制是一场马拉松,虽然目前取得了一些成绩,但仍然存在许多受制于人的短板弱项。未来,生物岛实验室将继续坚持四个面向,在省市科技部门的指导下,坚定不移的在科技创新的道路上大步迈进,为广东省大湾区的生物医药产业高质量发展、加快构建先进生产力贡献力量。实现科技自立自强,道阻且长,然行则将至;行而不叕,则未来可期!中国科学院院士、清华大学教授饶子和致辞饶子和院士表示,正如徐涛院士所言,透射电镜为推动科学技术进步做出了重要贡献,但核心技术一直被国外垄断,面临卡脖子风险,如今能与大家一同见证国内首台自主知识产权的场发射透射电镜成果发布会,可谓振奋人心。饶子和院士的研究方向长期聚焦在生物领域。推动生物领域向前发展,一个很关键的方面,便是新技术、新方法、新仪器、新手段的不断革新。生物结构学的发展随着蛋白晶体学技术、同步辐射技术、核磁共振技术、冷冻电镜技术、人工智能技术的突破而不断升华,仪器设备技术的发展对推动生命科学的发展至关重要。上世纪五六十年代以来,生物物理所一直是我国在生物电镜方面的研究基地之一,饶子和院士在担任所长期间也十分重视电镜中心的建设。饶子和院士回顾了孙飞研究员加盟生物物理所的往事,以及孙飞研究员在科研工作中展现出的优越的数理基础和对方法技术出众的敏感优势。最后,饶子和院士对在徐涛院士领导下,孙飞研究员带领团队能够取得这样的突破性成果表示祝贺,并对参与TH F120研制的科学家和工程师队伍给予最热烈的掌声,期待生物岛实验室的透射电镜能取得更加辉煌的成就,也期待在不久的将来,科学家能够用上我们自己研究的100kV、200kV、300kV冷冻电镜,促进我国生命科学和生物医学不断发展。生物岛实验室研发成果汇报:120kV场发射透射电子显微镜研制汇报人:广州生物岛实验室 /中国科学院生物物理研究所研究员孙飞冷冻电镜技术为生物分子结构研究带来革命性进展,主流厂商为赛默飞和日本电子,垄断全球市场。作为另一种专业化电镜,体电子显微镜技术是解析细胞谱系的重要工具。而透射电镜是冷冻电镜和体电子显微镜技术的基础,其由电子的发射、加速、成像和探测等基本单元系统构成,对应主要核心部件包括电子枪、电子探测相机等。同时,100kV场发射冷冻透射电镜是透射电镜发展的新方向,并将成为主流,用于大多数生物大分子结构解析。孙飞研究员分享了生物岛实验室基于以上背景开展的系列研究成果。其一,是120kV场发射冷冻透射电镜核心部件的研制。依托广东省重点领域研发计划项目,先后完成120kV场发射电子枪研制、120kV低纹波高压电源研制、电子探测相机研制,完成所有项目验收考核指标,并利用研制的核心部件完成对商业电镜Talos L 120C的关键部件替换,达到预期效果。其二,是100kV高通量高分辨率场发射冷冻透射电镜的研制。依托广东省重点领域研发计划项目,针对我国生命医学领域研究对冷冻电镜高度依赖进口的现状,突破100kV场发射电子枪、超高稳定高压发生器、平行光照明、恒定功率物镜、低加速电压下高性能高灵敏度探测相机等关键技术,研制场发射冷冻电子透射显微镜智能控制系统和高通量自动化数据收集软件,开展基于自主研发技术的工程化和产业化。电镜主机硬件搭建完成,已经能够进行成像,自研和国产部件比例高于90%。其三,是细胞图谱超微结构高通量分析系统研制,研发针对细胞谱系研究需求的高通量、超分辨、双模态 (光学+电镜) 显微成像系统,实现在1个月左右对1mm3尺度的生物组织样品的细胞超微结构图谱高通量分析的能力。研发成果转化便是本次发布的120kV场发射透射电镜。未来,团队将进一步开展100kV高通量高分辨率场发射冷冻电镜以及120kV高通量场发射体透射电镜的研制工作。突破“卡脖子”技术,国产首台场发射透射电镜发布仪式合影环节二:慧炬科技120kV场发射透射电镜产品发布会慧炬科技总经理曹峰致辞曹峰介绍道,慧炬科技成立于2022年11月,是由生物岛实验室和国仪量子共同出资成立,专注于透射电镜以及相关关键技术的研发与制造。融合了生物岛实验室透射电镜技术和国仪量子在科学仪器产业化方面的强大能力,慧炬科技有信心成为透射电镜研发领域的领导企业,让中国科学家用上国产的、世界领先的透射电镜。关于“慧炬”的释义,曹峰讲到,这源于透射电镜中电子束的“汇聚”,取其音义,“慧炬”又蕴含了“智慧聚集”、期待成为透射电镜领域的“火炬手”、带领电镜技术继续向前的寓意。曹峰表示,本次发布的透射电镜新品,凝聚了慧炬科技团队几年来的心血与汗水,承载着慧炬科技的梦想和理想,也寄托了慧炬科技“承鸿鹄之志,造大国电镜”的决心,相信在团队的努力下,在生物岛实验室以及广东省科技厅等各级政府的支持下,慧炬科技一定能够将透射电镜进行产业化,为我国科学和产业界的高质量发展提供强大助力。广州开发区管委会二级巡视员、生物岛实验室主任助理杨寿桃致辞杨寿桃主任表示,生物岛实验室与国仪量子合作共同成立慧炬科技,实现了场发射透射电镜科研成果的转化,推出商业化产品。TH F120完成了从科学研究到技术开发,再到市场推广的三级跳,为我国高端科学仪器市场注入新活力,是实验室发展历史上一个重要里程碑。生物岛实验室2021年完成了创建国家实验室的战略目标任务后,迅速响应政府号召,转型为专注成果转化和产业孵化,截至目前,已经孵化了12家创新型企业,其中4家企业估值过亿元。未来,生物岛实验室将继续紧盯成果转化与产业孵化,围绕产业链布局创新链,以满足重大产业化需求为己任,充分发挥国家战略科技力量的引领作用,协同推出更多原创性的科技成果,打通从科技强到产业强,再到经济强、国家强的通道,为广东省在生物医药领域提升科技自立自强能力贡献力量。国仪量子董事长贺羽致辞贺羽讲到,慧炬科技今天的发布成果源于徐涛院士、孙飞研究员等科学家不懈的努力和探索,在此谨代表国仪量子对徐涛院士团队致以崇高的敬意,对慧炬科技团队取得的成果表示热烈祝贺。本次慧炬科技发布国产首台量产场发射透射电镜,对中国电子显微事业与高端科学仪器国产化的发展而言都具有重要意义,相信慧炬科技一定能在透射电镜领域取得更加辉煌的成就,和国仪量子一起彻底打破高端电镜卡脖子的局面,为国家科技自立自强作出更大贡献。成立7年来,国仪量子陆续研制并发布了多款人无我有,人有我优的高端科学仪器,已经交付至全球数千家客户,并且在德国、美国、新加坡等发达国家完成了海外交付。截至目前,实现了量子精密测量仪器全球市占率领先,顺磁共振谱仪国内市占率第一,电子显微镜年成交量近200台等突出成绩。国仪量子很荣幸能够与生物岛实验室合作成立慧炬科技,共同研制填补国内空白的透射电镜。未来国仪量子将继续发挥自身在工程化、市场开拓等方面的优势,全力支持慧炬科技的产品研发和产业化,共同为客户提供更高品质的产品和服务。中国科学院院士、清华大学/南方科技大学教授隋森芳致辞隋森芳院士表示,很荣幸与大家一起见证我国首台场发射透射电子显微镜研制成功。当前,我国冷冻电镜技术应用研究在国际上已经具有领先地位,孙飞研究员这种新技术新方法研究在国际上也可圈可点。然而,由于冷冻电镜硬件装备不能自主研制,我国在冷冻电镜技术方法领域的创新受到了很大限制。很高兴看到生物岛实验室联合生物物理研究所在冷冻电镜研制方面的持续发力,多年成绩显著,抓住冷冻电镜技术领域国际前沿,率先选择100kV场发射冷冻电镜这一新赛道发力。首先成功研制了120kV场发射透射电镜,成像分辨率可以达到两个埃,并通过慧炬科技完成了工程化和产品化。这一重要时刻,是令我国冷冻电镜领域乃至整个电镜领域相关科技工作者兴奋的时刻,可以预见,该电镜设备成功投入市场将极大地推动我国冷冻电镜应用研究进步。相信在不久的将来,生物岛实验室和慧炬科技能够进一步完成专业化的100kV高通量场发射冷冻电镜,为我国高端科学仪器的自主研制事业作出重要贡献。此外,隋森芳院士强调,希望慧炬科技能够坚持下去,不断优化仪器的性能和稳定性,不断面向用户,提升仪器的易用性,虚心接受用户的反馈,不断实现仪器的迭代,最终在市场上赢得广大用户的认可和尊重。最后,隋森芳院士祝愿科研人员再接再厉,取得更大的成绩,祝愿我国高端电子显微镜自主研发事业蓬勃发展。中国科学院物理研究所/松山湖材料实验室研究员、中国电子显微镜学会副理事长、粤港澳大湾区电镜联盟理事长马秀良致辞马秀良研究员代表粤港澳大湾区显微科学技术联盟向由徐涛院士、孙飞研究员领衔的国产首台场发射透射电镜成功研发表示热烈祝贺。国际上透射电镜的研制始于上世纪30年代初的德国。上世纪50年代到70年代,我国科学家、工程技术人员也曾为研发透射电镜付出了不懈的努力,并在当时的条件下取得一定进展,只是由于复杂历史原因没有得到传承和延续。到改革开放初期,我国高考恢复以及国际上材料科学的广泛兴起,激发了国内青年学子对掌握知识的广泛渴望,对探索未知的热情空前高涨。时至今日,历经几代人,这种高涨的热情还在持续。以1980年成立的中国电子显微学会为例,每年一届的全国电子显微学学术年会,参会规模从当时的几十人,到现在已经达到3000多人。电镜已经成为科学家探索微观世界的重要手段,是材料科学、生命科学、半导体等领域不可或缺的高端科学仪器。从数量讲,我国已经成为透射电镜的最大市场,但过去四十多年里,我们对透射电镜几乎完全依赖进口,所以本次透射电镜成功研制的重大意义不言而喻。马秀良研究员表示,相信在120kV场发射透射电镜成功研制的基础上,在材料科学领域常用的200kV、300kV场发射透射电镜的成功研制也指日可待,这也势必会带动我国高端制造业的发展。学术报告:生物医学电镜自主研制之路报告人:中国科学院生物物理研究所/广州生物岛实验室研究员、广州慧炬科技首席科学家孙飞研究员孙飞研究员为大家分享了120kV透射电镜成功研制背后的心路历程。2016年8月,以生物物理研究所为主办单位,召集了国内各方有志于国产电镜装备研制事业的专家学者、企业家、政府领导,在西安交通大学召开了针对我国开展电镜装备研制必要性和可行性的研讨会议。至此,新时代下,我国电镜自主研制再出发。先后完成电镜相关研发项目和成果,包括光电融合超分辨生物显微成像系统、生物大分子跨尺度结构研究前沿技术、生物超快冷冻电子显微镜、冷冻电镜样品制备技术、冷冻聚焦离子束减薄技术、冷冻电镜图像处理技术等。在这些研发项目历程中也逐渐组建起以孙飞、曹峰、季刚、金亮、卢志钢、姚一帆等为代表的体系化工程技术队伍。随后电镜关键技术从装备研发的30kV开始,成功研制了针对病理组织切片样品的高通量扫描透射电子显微镜SmartView。接着再到120kV透射电镜关键部件的突破,最终实现向整机研制的进发。最后结合数年转化历程,针对我国高端科学仪器自主研制的战略出路分享了自己的几点看法。整机揭幕:饶子和院士、 隋森芳院士揭幕,专家代表共同见证广州慧炬科技产品发布讲解讲解人:广州慧炬科技有限公司总经理曹峰【命名】:作为慧炬科技首款透射电镜产品,同时也是我国国首台正式发布的商业场发射透射电镜,TH-F120取名源自中华名山“太行”(TH) ,寓意TH-F120将如太行山一样成为中国透射电镜产业的脊梁。产品参数如下:【设计理念】:越级体验(将场发射电子枪、高自动化模组等越级配置集成至120kV平台,入门即高配);高效操作(所有控制高度集成至PC端,全中文软件交互界面一目了然,提升操作效率);模块设计(每一个模块自成一体,可以独立升级或替换,为用户打造与众不同的科研利器提供便利);拓展丰富(预设充足的附件加装接口以及整机升级空间,满足用户使用新需求,有效应对多样的应用场)。现场展示产品:120kV场发射电子枪(左),120kV低纹波高压电源(右)【产品特点】:肖特基场发射电子枪;高像素CMOS相机;平行束/会聚束自适应切换照明系统;四轴高精度样品台;对称式极靴、恒功率物镜 (高衬度/高分辨模式可选);全中文软件交互界面。高稳定低纹波高压电源(HJ-HT120,新品):加速电压输出-10kV~-120kV;高压电源加速电压稳定性冷冻透射电镜系列: “珠穆朗玛”ZMLM-F300C“唐古拉”TGL-F200C,"玉龙”YL-F100C;热发射透射电镜系列: “秦岭”QL-T120,“丹霞”DX-LaB120。【慧炬科技透射电镜产品路线四年计划】:2024年(120kV 透射电镜、100kV 冷冻电镜);2025年(200kV 透射电镜、200kV 冷冻电镜);2026年(200kV 球差电镜、300kV 透射电镜);2027年(300kV 球差、新型透射电镜)。实验室参观、TH F120真机演示合影留念
  • 武汉大学采购JEOL全系列透射电镜
    近期,武汉大学打包采购了三台JEOL透射电镜,包括球差校正透射电镜JEM-ARM200F一台,场发射透射电镜JEM-2100F一台,120kV透射电镜JEM-1400Plus一台。 武汉大学是国家教育部直属重点综合性大学,中国最著名的名牌大学之一,是国家“985工程 ”和“211工程 ”重点建设高校。老一辈电镜专家王仁卉先生在全国乃至世界都有很大的知名度,电镜水平很高。2002年武汉大学曾经引进过JEOL生产的欧米伽能量过滤场发射透射电镜JEM-2010FEF,在没有球差校正技术的年代,代表了当时电镜的最高水平。甚至很多国外知名学者都慕名前来参观该仪器,为武汉大学增添了不少光彩,而武汉大学使用该仪器也发表了很多高水平的文章。十年后,武汉大学再次引进世界上最先进的球差校正透射电镜JEM-ARM200F,必将使武大的电镜水平更上一层楼。 JEM-2100F是日本电子的常规场发射透射电镜,以其良好的性能被称为世界标准。JEM-1400Plus是目前世界最新的120kV透射电镜,特别适用于生命科学研究。 JEOL是全世界最大的电子光学供应商,生产各种类型的电子显微镜。要了解电镜详细性能,请咨询捷欧路(北京)科贸有限公司及各地分公司。
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