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透射测量

仪器信息网透射测量专题为您提供2024年最新透射测量价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括透射测量参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的透射测量您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合透射测量相关的耗材配件、试剂标物,还有透射测量相关的最新资讯、资料,以及透射测量相关的解决方案。

透射测量相关的仪器

  • 透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成:光源系统+分光系统+样品检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统
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  • 仪器简介:眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统 可测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比。技术参数:■ 可测平光、小于+4m-1,大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围:&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度:U0.015(对Vis、UVA、UVB波段)U0.02(对UVC、NIR波段)■ 复合光源:氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性:R0.01■ 透过率准确度:± 2% (光学系统透过率10%)主要特点:眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统■ 该系统测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比■ 可测平光、小于+4m-1,大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围:&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度:U0.015(对Vis、UVA、UVB波段)U0.02(对UVC、NIR波段)■ 复合光源:氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性:R0.01■ 透过率准确度:± 2% (光学系统透过率10%)■ 样品台及夹持器应能保证被测样品的中心区域位于光轴中心,并沿z方向调节150mm,沿y方向调节150mm,围绕&theta z方向调节角度90° ,围绕&theta y方向调节角度45° ■ 谱仪控制软件和滤光片轮控制软件、输出数据的采集和分析计算软件、测量参数自动保存,并可直接打印
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  • 透射光谱测量系统 400-860-5168转2332
    R2 透射光谱测量系统 透射是光谱测量的基本手段,透射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等部件。对于不同种类的样品,为了获取良好的光谱数据,透射这种基本模式又会演化为更多的形式。复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备。利用这些配置丰富的设备,就可以搭建个性化的光谱测量系统,满足不同的光谱测量需求。 注:以上参数如有差异,以官网为准。
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  • 反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架,可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头,并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆,可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统,用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式,配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备,包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器;一个反射和传送的样品盒;一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求,我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合,我们开发了增强型的STAGE-RM平台,透反射样品支架是常用的光谱测量附件,与反射探头共用可实现反射光谱测量,与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜,型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件,例如光源,光谱仪,光纤,积分球等,可以联系韵翔光电。
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  • RT-V 反射透射测量仪 400-860-5168转4689
    一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪,采用进口氘卤二合一光源,结合高性能分光光谱仪,可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱,并进一步计算获得样品色坐标,以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制,支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源,光谱范围覆盖可见光到近红外范围;■ 支持全光谱范围反射率高精度量测,基于薄膜层上下界面反射光干涉原理,轻松解析单层至多层薄膜特征;三、产品应用 RT系列反射透射测量仪,可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量,并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数
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  • 1 产品简介HRS-300是一款可以直接采集光信号的小型化光谱仪,采样范围涵盖350-1050nm的光谱信号。设备软件使用安卓系统架构,操作简单,反馈迅速,能够对光谱信号进行原始光谱、透射率、反射率等光谱特性测量。同时小型化、集成化的设计赋予仪器便捷性与可操作性,尺寸控制在类似手机大小,不论是实验室、工业现场还是携带至野外使用,HRS-300都可以轻松胜任。大容量的电池设计保证仪器4-6小时的长时间续航。仪器前端是一个SMA905的标准接口,通过接口可直接进行外部光信号采样,或者外接配套的准直镜或小视场角镜头来控制采样的视场角,这样可以对太阳光谱、LED光源等进行采样。也可以外接光源与采样附件来实现反射率、透射率的测量。例如配合我们的 RPB-D0-IS30反射探头,连接光纤即可进行便捷的反射率测量,且适用于布料颜色、叶片光合、水果品质、文物颜料等进行研究。 2 规格参数产品型号HRS-300尺寸180×95×38mm重量800g输入接口Micro USB光谱范围350-1050nm波长分辨率2.0nm激发光源需配置外部光源积分时间1ms-65S采样范围SMA905接口摄像头800万像素触摸屏720×1280分辨率电容屏网络WIFI/蓝牙/GPS工作温度0-40℃工作湿度5-80%#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 可实时采集光谱,得到光信号信号反馈;? 仪器小巧,续航持久,可应用于各种场景;? 附件丰富,可满足不同的检测需求。 4 软件示例 图一 初始界面 图二 参数设置界面 图三 反射率测量 5 应用案例图四 搭建式纺织品布料反射率测量 图五 不同颜色的布料的反射率测试图
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  • BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性,可测参数包括材料的双向透射分布(BTDF)、双向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、总反射(TIR)、总散射(TIS)等,可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析,其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中,用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合,可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试;l 绝对法测试,不受样品的形态、光学性质的约束;l 测试光路及计算方法,完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中,用于辅助光学材料或系统的模拟、设计;l 高精度,高稳定度 ;2 接收光路长,接收立体角小,测量不确定度小2 激光光源,能量高、单色性好、准直度高;2 配备监视探测器,消除光源波动对测量的影响;2 探测器动态范围大,测试准确度高;2 机械转轴转动精度高,角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换,波长覆盖紫外-可见-近红外范围,实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试,适用于有光谱选择性的样品; l 上位机多功能分析软件,提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图,并配有专用于BSDF分布数据查看软件,提供专业的BSDF数据分析;? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光,覆盖可见-近红外范围(特殊可定制)光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用:
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  • FD-LTMS是一种模块化设计的光谱透射测量系统,旨在快速、高效、高精度的分析或监测食品饮料、酒类、染料等需要对组分严格控制的溶液的不同组分的浓度。LTMS目前已被验证并用于铝阳极氧化染料槽浓度的监测,该系统也可用于实验室溶液浓度的快速分析,还可以配合自动流体控制装置实现溶液浓度的实时在线分析/监测,为制程中产品良率改善提供可视化实时建议。测量参数产品优势不同组分浓度可见光波长的透射曲线可见光波长透射率(10nm间隔)可计算色坐标可计算实际浓度与理论浓度偏差 应用领域阳极氧化溶液实验室/在线监测食品饮料/酒类成分分析玻璃或其他透明材料透射率测量 产品优势体积小巧:模块化设计,易于集成光源寿命:专利脉冲LED,250M测量次数加固结构:IP67防水外壳,适用复杂环境 产品参数项目规格波长范围400-700nm探测器1024元素阵列;非对称交叉Czerny-Turner光谱仪输出间隔10nm半波宽6nm光源脉冲LED 寿命250000000次测量样品架10nm通路比色皿;Flow-cell比色皿接口usb2.0操作系统WIN7+, 64bit
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  • 奥谱天成的ATG2200透射光谱&荧光光谱两用测量池款集透射光谱测量与荧光光谱测量于一体的多功能测量池。它采用先进的光学设计和精密的制造工艺,为用户提供了高效、准确的光谱分析解决方案。ATG2200采用了能够覆盖广泛波长范围的LED光源,以满足不同实验对于特定波长光的需求。此外,这款测量池所配备的LED光源还具有快速响应和稳定的输出功率特性。能迅速、稳定地提供所需的光照,确保了光谱数据的准确性和可靠性。ATG2200透射光谱&荧光光谱两用测量池,透射LED、荧光LED可单独开关,用户可以根据需求灵活选择光谱测量方式,大大提高了实验的灵活性和效率。ATG2200的使用寿命长达1000小时,在间歇式工作模式下,工作时间可长达3年以上,具有寿命长、光衰小、输出功率大等特点。ATG2200透射光谱&荧光光谱两用测量池配合奥谱天成生产的光纤光谱仪,可以直接进行比色皿或者滤光片的透射吸收以及荧光光谱测量。产品特点白光LED输出:380-840nm;小体积,低功耗,适合移动式使用;无需预热,即开即稳定;支持间歇式工作方式;能量重复性优于0.1%; 易操作性:设计合理,操作简单便捷;长寿命:1000小时;间歇式工作时,寿命可长达3年以上;光纤或自由空间输出:ATG2200支持自由空间或者光纤输出(SMA905接口),方便与光谱仪、光纤等测量附件相连接;光纤:推荐使用奥谱天成生产的抗紫外石英光纤。产品应用化学分析材料检测生物科学科研实验室 多参数水质分析便携式光谱仪器
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  • 透射电镜原位MEMS低温电学测量系统,关于价格请咨询(微信同号) 透射电镜原位MEMS低温电学测量系统是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。性能指标 透射电子显微镜指标:● 兼容指定型号电镜及极靴; ● 单倾可选高倾角版本;● 可选双倾版本,β角倾转±25°(同时受限于极靴);● 测量电极数可选。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电压输出最大±200 V,最小±100 nV;● 电流测量最大±1.5 A,最小100 fA;● 恒压或者恒流模式;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 低温指标:● 兼容MEMS加热及电学芯片; ● 全温区测量,温度范围:85 K- 380 K;● 控温稳定性:优于±0.1 K;● 温度连续可控。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文: 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。    公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
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  • 优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯,或者卤钨灯,作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一:布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求,计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源,光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球,3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050,波长范围350-1050nm,分辨率最小0.6nm,美国产进口600线光栅4. 搭配电脑,数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置1000ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率应用举例二:高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(下面一条曲线),350-1000nm范围反射率72%, 样品2(上面一条曲线),350-1000nm范围反射率 82%,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率测试二过程,相对于黑板1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置黑板,采集参比光谱3. 移除黑板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(上面一条曲线),350-1000nm范围相对于黑板的反射率, 样品2(下面一条曲线)相对于黑板的反射率,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三:薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物薄膜的光谱
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  • 仪器简介:眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统 可测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比。技术参数:■ 可测平光、小于+4m-1,大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围:&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度:U0.015(对Vis、UVA、UVB波段)U0.02(对UVC、NIR波段)■ 复合光源:氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性:R0.01■ 透过率准确度:± 2% (光学系统透过率10%)主要特点:眼部防护用品光谱和积分透射比测量系统■ 该系统测量防护眼镜、头盔、防护面具等的光谱和积分透射比■ 可测平光、小于+4m-1,大于-4m-1屈光度眼部防护用品■ 测量光谱范围 200~2200nm■ 系统使用光谱透射比范围:&tau (&lambda )=0.1 ~ 0.9■ 透过率测量的系统不确定度:U0.015(对Vis、UVA、UVB波段)U0.02(对UVC、NIR波段)■ 复合光源:氘灯、溴钨灯自动切换■ 透过率重复性:R0.01■ 透过率准确度:± 2% (光学系统透过率10%)■ 样品台及夹持器应能保证被测样品的中心区域位于光轴中心,并沿z方向调节150mm,沿y方向调节150mm,围绕&theta z方向调节角度90° ,围绕&theta y方向调节角度45° ■ 谱仪控制软件和滤光片轮控制软件、输出数据的采集和分析计算软件、测量参数自动保存,并可直接打印
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  • 欢迎来到精确光谱反射率和透射率测量的前沿,我们为您提供设计用于实际分析的灵活创新套件。我们的套件结合了可靠性和易用性,为各行业的研究人员、工程师和专业人士提供强大支持。我们的套件设计灵活可靠,适用于各种应用和环境。无论您身处研究、开发还是质量控制领域,我们的解决方案都能助您实现准确、可重复的光学测量。主要特点:&bull 光纤光源:- 我们的光纤光源提供稳定的宽带和近准直照明,确保样品和参照物之间的结果一致。&bull 光谱仪:- 附带的光谱仪提供高分辨率光谱分析,允许对测试样品进行可见光-近红外(VIS-NIR)表征。&bull 积分球:从我们的反射率和透射率积分球系列中选择,以满足您特定的测量需求:- 单光束反射率积分球:适用于单光束设置下测量反射率特性,为反射分析提供简单性和准确性。- 双光束反射率测量积分球:允许在测试样品和参考标准板光谱反射率之间进行替代误差校正,使用单个参考物即可测量广泛的光谱反射率。- 双光束反射率和透射率测量积分球:专为全面分析而设计,此积分球允许从单个测试台同时测量反射率和透射率,为测试样品与光的相互作用提供完整理解。
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  • 同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片,也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器,满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 部分型号电镜可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距); 力学传感器指标:● 最大载荷100 mN(可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);● 力测量实测噪声优于5nN(0.1 mN最大载荷时);● 力测量实测分辨率优于5 nN(0.1 mN最大载荷时);● 自动测量力-距离曲线,自动保存。 加热指标:● 温度控制范围:室温至1000 ℃;● 温度准确度:优于5%;● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标:● 粗调范围:X方向 1.5 mm,YZ 方向2 mm;● 细调范围:XY 方向20 um,Z 方向 10 um;● 细调分辨率:XY 方向 0.4 nm,Z 方向 0.2 nm。 产品特色 (1)超大力学测量及温度控制范围;(2)多场下的力学研究。以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,详细咨询:
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  • 仪器简介:我们提供所有的透射测量所需要的光学组件。下面列出了一个典型的订单,其中列出了一台HR4000高分辨率光谱仪,配置了新的HC-1复合光栅,该光栅提供了200-1100nm的波长范围。另外,我们建议再选配一个DT-MINI-2氘卤钨灯,加上光纤、准直透镜和一个固定器,用来采样。技术参数: 技术规格尺寸: 148.6 mm x 104.8 mm x 45.1 mm重量: 570 g功耗: 450 mA @ 5 VDC探测器: 3648-像元线性CCD阵列波长范围: 200-1100 nm光学分辨率: ~1.0 nm FWHM光栅: HC-1, 300线/毫米 光栅入射孔径: 25&mu m宽度狭缝消除高阶衍射滤光片: 安装 OFLV-200-1100焦距: f/4, 101 mm动态范围: 2 x 108 (系统) 2000:1对于单次获取数据杂散光: 0.05% at 600 nm 0.10% at 435 nm数据传输速率: 全光谱输入内存USB2.0为4msUSB1.1为18ms操作系统: 使用USB端口:Windows 98/Me/2000/XP, Mac OS X 和 Linux 当 串口:任何32-位Windows操作系统输入/输出: 10个数字化可编程GPIOs*模拟通道: 一个13-位模拟信号输入端口一个9-位模拟信号输出端口* 需要SpectraSuite软件,OmniDriver或者我们的设备驱动来对 GPIO端口进行编程数量 项目 描述1 HR4000 HR4000高分辨率光谱仪,内置HC-1复合光栅 25&mu m狭缝 DET4- 200-1100,探测器带有OFLV消除高阶衍射滤光片以及UV4探 测器升级1 DT-MINI-2 微型氘卤钨组合光源1 74-ACH 可调准直透镜支架 2 74-UV 准直透镜2 P600-1-SR 600&mu m芯径光纤,长度1米主要特点:HR4000可测量的波长范围200-1050nm我们推荐的适合该应用的HR4000光谱仪包含了一个最新的3648像元CCD阵列探测器,专利的HC-1复合光栅以及一个消除高阶衍射滤光片,提供200-1050nm(最佳效率)的测量波长范围,而且光学分辨率优于1.0nm(FWHM)。我们也建议配置25&mu m入射狭缝和一个UV2探测器升级,用来增强探测器在紫外区的响应能力。HR4000跟计算机的接口是USB2.0。宽光谱范围的光源DT-MINI-2氘卤钨组合光源可以在同一光路中结合连续的紫外氘灯光谱和可见近红外的卤钨灯光谱。紧凑的组合光源提供了从~200-2000nm波长范围内连续稳定的输出。可用于多种样品的支架74-ACH可调节准直透镜支架包含了带有多个用于安装准直透镜的螺孔的调节面板。这些面板可以用于测量最大厚度~100mm的样品,这使得74-ACH可以很方便地用于大尺寸样品地透射测量。准直透镜74-UV准直透镜可以拧到74-ACH支架上的螺孔中,用来准直光束。这些透镜有带螺纹的内管,可以跟光纤匹配。当进行准直的时候,光束的发散角是2° 或者更少。内管可以相对于透镜滑动,用来调焦。光纤我们的光纤既可以用来照明,也可以采样。两根600&mu m芯径、1米长的光纤,很容易地将74-ACH支架中的准直透镜跟HR4000光谱仪和光源相连接。
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  • 泽攸科技 PicoFemto系列透射电镜原位测量系统源于中科院物理研究所SF1组(20世纪90年代),围绕原位电学测量样品杆,泽攸科技不断进行产品迭代及功能拓展,已推出电、力、光、热、低温等多种原位功能样品杆,产品覆盖国内原位电镜市场的同时也远销美国、英国、德国及澳大利亚科研市场。PicoFemto 系列透射电子显微镜 原位电学测量样品杆 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。原位电学测量样品杆技术指标 电学测量力学操纵1.包含一个电流电压测试单元;1.探针粗细调方式:全软件操控;2.电流测量范围:1nA-30mA;2.粗调范围:XY方向2.5mm,Z方向1.5mm;3.电流分辨率:100fA;3.细调范围:XY方向18um,Z方向1.5um;4.电压输出范围:±10V,±150V;4.细调分辨率:XY方向0.4nm,Z方向0.04nm;5.软件自动测量:I-V、I-t 原位电学测量样品杆产品选型 原位电学测量样品杆 具有单倾、双倾两个版本,用户可根据实验需求自行选择。泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI(赛默飞)、JEOL(日本电子)、Hitachi(日立)各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号样品杆,同时保证透射电镜原有分辨率。 原位电学测量样品杆国内部分用户典型案例 1、透射电镜内的原位电学实验;2、透射电镜内的原位压缩、拉伸实验。安徽泽攸科技有限公司是原位电学测量样品杆生产厂家,关于原位电学测量样品杆价格请咨询(微信同号)原文: 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。    公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。安徽泽攸科技有限公司为您提供PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台的参数、价格、型号、原理等信息,PicoFemto扫描电镜原位高温拉伸台产地为安徽、品牌为泽攸科技,型号为高温拉伸台,价格为面议,更多相关信息可来电咨询,公司客服电话7*24小时为您服务
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  • PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统,关于价格请咨询(微信同号)同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块,可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。MEMS芯片模块上可以选择加热芯片,也可以选择电学测量芯片。力学测量模块可以选择不同载荷的传感器,满足不同实验需求。 该产品实现了透射电镜中真正意义上的高分辨定量原位高温力学研究。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 部分型号电镜可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25° (同时受限于极靴间距); 力学传感器指标: ● 最大载荷100 mN(可选0.1 mN、1 mN、10 mN、100 mN);● 力测量实测噪声优于5nN(0.1 mN最大载荷时);● 力测量实测分辨率优于5 nN(0.1 mN最大载荷时);● 自动测量力-距离曲线,自动保存。 加热指标:● 温度控制范围:室温至1000 ℃;● 温度准确度:优于5%;● 温度稳定性:优于±0.1 ℃。扫描探针操纵指标:● 粗调范围:X方向 1.5 mm,YZ 方向2 mm;● 细调范围:XY 方向20 um,Z 方向 10 um;● 细调分辨率:XY 方向 0.4 nm,Z 方向 0.2 nm。 产品特色 (1)超大力学测量及温度控制范围;(2)多场下的力学研究。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询(微信同号) 原文:安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
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  • ? PicoFemto透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元,从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;● 电流分辨率:优于100 fA;● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 扫描探针操纵指标:● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。 低温参数指标:● 兼容指定型号透射电镜及极靴;● 全温区结构分辨率优于0.2 nm;● 变温范围为85 K-380 K,温度稳定性优于±0.1 K。 产品特色 (1)温度连续可控,稳定性高;(2)低温下可实现对样品施加应力及电学研究。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,详细咨询:
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  • 透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。性能指标透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;● 电流分辨率:优于100 fA;● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 扫描探针操纵指标:● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。以上就是PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统,详细咨询:
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  • 透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元,从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;● 电流分辨率:优于100 fA;● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 扫描探针操纵指标:● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。 光纤指标:● 光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜;● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色(1)采用双向光纤,可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究;(2)光电一体化解决方案,具有高拓展性;(3)高稳定性,保证电镜原有分辨率。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,详细咨询:
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  • ? 透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器,实现高精度的力学及电学测量。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;● 电流分辨率:优于100 fA;● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 扫描探针操纵指标:● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。 力学传感器指标:● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m;● 载荷分辨率优于5 nN(使用1 N/m悬臂梁时);● 自动测量力-距离曲线,自动保存。 产品特色 (1)可保证电镜原有分辨率,即使在球差内也可以拍到清晰原子像;(2)良好的操纵稳定性,压电陶瓷驱动方式,保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性 ,探针移动平稳,实现高分辨原位观察实验;(3)操作简便,软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元,满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作;(4)力电一体化解决方案,力学和电学配置可满足大部分测试需求。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统,详细咨询电话:
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  • 中国计量科学研究院最新研制的NIM-2型“眼镜片中心透射比标准测量装置”,可对太阳镜、配装眼镜和装成镜、眼镜镜片(包括镀膜镜片、光学玻璃镜片、树脂镜片、驾驶员镜等)眼镜产品的中心透射比进行测量,测量波长范围涵盖了眼科光学领域所关心的中波紫外(UV-B)、长波紫外(UV-A)和可见光波段。该装置的技术指标如下:一. 测量对象1. 普通系列:各类带屈光度的镜片、配装眼镜、装成镜等;2. 太阳镜系列:各类太阳镜、驾驶员镜等;二.测量波长范围Visible:380nm~780nm 可见光UV-A:315nm~380nm 长波紫外UV-B:280nm~315nm 中波紫外三.测量不确定度在280nm~780nm范围内:1%(k=2),并完全满足JJF 1106-2003眼镜产品透射比测量装置校准规范的要求。 四. 参照标准1.ISO 8980-3 毛边镜片—透射比技术规范及测量方法2.GB 10810.3 “眼镜镜片及相关眼镜产品透射比技术规范及测量方法”3.JJF 1106-2003 眼镜产品透射比测量装置校准规范五.测量功能1. 专用自动测试软件:可实现自动测量、绘制透射比曲线、分波段计算、存储数据、打印图谱及数据等多种功能。2.快速自动测量:3分钟内完成单次测量并给出所有测量结果。3.可直接给出透射比曲线图、透射比值以及相对视觉衰减因子Q等参数。4.实现对各种曲面镜片和高屈光度镜片的高精度测量。
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  • PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统,关于价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成光学模块,从而实现在透射电镜中进行原位光电测量或者光谱学表征研究。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;● 电流分辨率:优于100 fA;● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 扫描探针操纵指标:● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。 光纤指标:● 光纤外径250 um,保证电镜系统真空指标;● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜;● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色(1)采用双向光纤,可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究;(2)光电一体化解决方案,具有高拓展性;(3)高稳定性,保证电镜原有分辨率。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文: 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
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  • PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,关于价格请咨询(微信同号) PicoFemto透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元,从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标:● 兼容指定电镜型号及极靴;● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;● 电流分辨率:优于100 fA;● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 扫描探针操纵指标: ● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。 低温参数指标:● 兼容指定型号透射电镜及极靴; ● 全温区结构分辨率优于0.2 nm;● 变温范围为85 K-380 K,温度稳定性优于±0.1 K。 产品特色 (1)温度连续可控,稳定性高;(2)低温下可实现对样品施加应力及电学研究。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文: 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
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  • 反射与透射支架台 FT 400-860-5168转3407
    品牌: 闻奕光电 货号: FT-RT 颜色分类: FT-RT-30 FT-IS50-30(不含积分球和光纤) 装修及施工内容: wyopticsFT系列 反射与透射支架台FT-RT 系列平台是一种新型采样系统,适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。此平台与闻奕光电的光谱仪和光源有多种组合方式,配合进行反射和传输测量FT-RT 型平台使用非常广泛:可以将探头放置在样品上或样品下(从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离)完成反射测量; 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量;或使用两个光纤进行样品传输的测量。采用30cm长的滑台(可以定制其他长度),本产品包含3个准直镜,可以加载TA接头或者SMA905接头的光纤,用于液体/固体样品的透射/吸收,荧光与散射测量以及漫反射测量。 FT-RT-30 型平台规格工程规格 FT-RT-30底座尺寸150.0 mm直径样品区域尺寸80 mm直径重量 1.6 kg横杆高度可调节至300毫米(可定制长度)组成部分样品盘,横杆,适配器,准直透镜(2)和光阱准直透镜波长185-2500 nm台体材料阳极氧化铝积分球适配器(可选)FT-ISxx-30,用于连接30毫米或50毫米的ISP系列积分球
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  • PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统,价格请咨询(微信同号) 透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标配STM-TEM样品杆内集成纳牛力传感器,实现高精度的力学及电学测量。性能指标 透射电镜指标: ● 兼容指定电镜型号及极靴;● 可选双倾版本,双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°(同时受限于极靴间距);● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电流测量范围:1 nA-30 mA,9个量程;● 电流分辨率:优于100 fA;● 电压输出范围:普通模式±10 V,高压模式±150 V;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 扫描探针操纵指标:● 粗调范围:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;● 细调范围:XY方向18 um,Z方向1.5 um;● 细调分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。 力学传感器指标:● 悬臂梁弹性范围1 N/m~100 N/m;● 载荷分辨率优于5 nN(使用1 N/m悬臂梁时); ● 自动测量力-距离曲线,自动保存。 产品特色 (1)可保证电镜原有分辨率,即使在球差内也可以拍到清晰原子像;(2)良好的操纵稳定性,压电陶瓷驱动方式,保证高精度的操纵。样品杆具有很高的稳定性 ,探针移动平稳,实现高分辨原位观察实验;(3)操作简便,软件界面友好易操作。控制器集成电流电压测试单元,满足大多数实验需求。位移粗调和细调全软件操作; (4)力电一体化解决方案,力学和电学配置可满足大部分测试需求。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统的介绍,关于整套系统价格请咨询(微信同号)原文: 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
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  • 可变光程浸入式透射探头浸入部分采用C276哈氏合金不锈钢材料制成,可直接浸入样品中,具有耐高温、耐腐蚀特性。探头开口间隙0.5-10mm可调,光程1-20mm可调。可实时、在线测量样品的吸光度变化,适用样品吸光度原位测量,广泛用于药品生产工艺过程控制(近红外在线分析)、水质污染物浓度监测(紫外吸收在线监测)、生物反应器成分监控等领域。产品简介如海为“液态样品的吸光度或透过率原位/在线测量”量身定做了一款可变光程浸入式透射探头。与基于比色皿的吸光度/透过率测量装置不同,浸入式透射探头可直接浸入样品中,液体从探头前端的开口自由流入。这种方式可实时、在线测量样品的吸光度变化,也适用于不便取样情况下的样品吸光度原位测量,在药品生产工艺过程控制(近红外在线分析)、水质污染物浓度监测(紫外吸收在线监测)、生物反应器成分监控等领域都有诸多应用。 产品特点? 探头开口间隙0.5-10mm可调,光程1-20mm可调;? 耐高温高压;? 可用于吸光度或透射率原位/在线测量;? 可定制法兰:DN15,DN25,DN32等规格。 规格参数规格参数可变光程浸入式透射探头 标准探头棒尺寸长160mm,直径12mm(可定制)光纤芯径600μm波长覆盖范围200-2500nm探头开口间隙0.5-10mm可调光程1-20mm可调光谱仪接口SMA905可定制定制法兰DN15,DN25,DN32等工作压力探头端部10bar@25℃工作温度探头主体:-20°C ~80°C,浸入部分~200℃
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  • PicoFemto透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统,关于价格请咨询(微信同号)透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的微加热芯片和电学测量芯片。微加热芯片可对样品进行可控温度的加热,电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 本系统硬件包括两部分,分别是加热/电学测量控制器、原位MEMS芯片样品杆。软件包括自动控温软件和自动电学测量软件。性能指标透射电子显微镜指标:● 兼容指定型号电镜及极靴;● 单倾可选高倾角版本;● 可选双倾版本,β角倾转±25°(同时受限于极靴); ● 测量电极数可选。 电学测量指标:● 包含一个电流电压测试单元;● 电压输出Z大±200 V,Z小±100 nV;● 电流测量Z大±1.5 A,Z小100 fA; ● 恒压或者恒流模式;● 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。 加热与温控指标:● 温度控制范围:室温到1200 ℃;● 加热功率:Z大30 W;● 控温稳定性:优于±0.1 ℃;● Z大升温速率:1000 ℃/ms。 以上就是泽攸科技对PicoFemto透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统的介绍,关于整套系统价格价格请咨询(微信同号) 原文 安徽泽攸科技有限公司,是一家具有完全自主知识产权的先进装备制造公司。公司集研发、生产和销售业务于一体,向客户提供原位电镜解决方案、扫描电子显微镜等设备,立志成为具有国际先进水平的电子显微镜及附件制造商。   公司有精通机械、光学、超高真空、电子技术、微纳加工技术、软件技术的团队,我们为纳米科学的研究提供的设备。公司团队于20世纪90年代投入电镜及相关附件研发中,现有两个系列核心产品:     (1)PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统;     (2)ZEM15台式扫描电子显微镜。     PicoFemto系列原位TEM/SEM测量系统自问世以来,获得了国内外研究者的高度关注,并且已外销至澳洲、美国、欧洲等地。我们协助用户做出大量研究成果,相关成果发表在Nature及其子刊/JACS/AM/Nano. Lett./Joule/Nano. Energy/APL/Angewandte/Inorg. Chem.等高水平刊物上。 目前在国内使用我公司产品的课题组/实验平台多达八十余个,遍布五十余所大学/研究机构,包括中科院过程所、北京大学、清华大学、浙江大学、中科院硅酸盐研究所、厦门大学、电子科大、苏州大学、西安交通大学、武汉理工大学、上海大学、中科院大连化物所等等。国外用户包括澳洲昆士兰科技大学、英国利物浦大学、美国休斯顿大学、美国莱斯大学等。
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  • 反射/透射率积分球应用领域:材料的反射率/透射率测量不透明物体的反射率测试 浑浊样品的透射率测试颜色属性测试反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 Labsphere的反射/透射率积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。积分球内部涂料有两种选择:Spectraflect涂料,在300 – 2400 nm波长范围内效果较好;Infragold涂料适用于波长0.7 - 20 μm范围。 RT积分球有5个1英寸开口,可容纳样品和9°反射光束,在球的顶部有一个0.5英寸探测器口,镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。 RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架,用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。积分球有5个开口可调节样品,顶部的中心安装平台装有参考光束,积分球底部有一个0.5英寸的探测器端口。 RT积分球和RTC积分球均能做任何几何角度测量。RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构和排出镜面反射9°/d结构;RTC除上述功能外还可测量变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射,挡板采用最小化设计,使得探测器能够非常大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部,使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。RT-060-SF及RT-060-IG反射/透射率测试积分球 Labsphere的RT-060-XX积分球有5个1英寸的开口容纳样品和9°双光束结构结构中参考光束,也包括用于9°单光束结构测量中的端盖。两个1英寸的样品支架用于安装样品和反射/透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口,探测罩用以限制探测器视场范围。镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量,包括非镜面反射测量,前散射和背散射测量,以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,阻挡效应可以最小化,允许有效的积分。为了保证高积分球效率,总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件,由支杆底座和1/4-20支架组成,方便调节积分球的高度。 RTC-060-SF 和 RTC-060-IG反射率透射率积分球增加了中心样品架,方便用户测量反射率与辐射入射角度的关系,一些情况下,还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸、两个1.25英寸的开口。中心样品台安装在积分球的顶部,0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩用于限制探测视场范围。 RTC 系列积分球配件包括四个样品架: 一个中心样品架,两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架,同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸,最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50"x 2"x 0.125”的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器,可以承装液体和粉末,用于测试吸收和散射特性。订购信息及规格
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  • 仪器简介:紫外透射仪:可用于核酸(DNA,RNA)凝胶电泳和蛋白质及同功酶凝胶电泳区带的检测和照像。因此其在生物工程,分子遗传学,分子生物学,生物化学、医药卫生、生物制品、制药厂,科研单位,大专院校等部门具有广泛的用途。 技术参数:紫外线灯: 4X12w 312nm高效U形紫外灯 可选配254nm或 365nm高效U形紫外灯 透紫外滤光片 :200mmX200mm 254nm透光率≮68%, 365nm透光率≮86% 仪器尺寸:300*300*90mm主要特点:ZD 紫外-日光透射仪,既可作紫外透射荧光分析, 又可作日光透射分析. 紫外线灯:3X12w 312nm高效U形紫外灯 可选配254nm或 365nm高效U形紫外灯 透紫外滤光片 :200mmX150mm 254nm透光率≮68%, 365nm透光率≮86% 日光灯:3X12w 380nm-700nm高效U形日光灯 瓷白玻璃片 : 200mmX150mm 仪器尺寸:400*300*90mm
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