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球面干涉仪

仪器信息网球面干涉仪专题为您提供2024年最新球面干涉仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括球面干涉仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的球面干涉仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合球面干涉仪相关的耗材配件、试剂标物,还有球面干涉仪相关的最新资讯、资料,以及球面干涉仪相关的解决方案。

球面干涉仪相关的耗材

  • 全光纤麦克尔逊干涉仪MFI
    全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍:量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪(Fiber Michelson Interferometer)不但可以用来作为精密的测试测量仪器,还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器(参见 PZ1光纤拉伸器产品资料),内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计,用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米,我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪,请联系我们的销售人员.产品参数:参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度(无延迟)m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060(或指定)SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用:激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举:1. 激光器相位/频率噪声测试(1)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上,作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出, 数字信号输出通过PC进行后续处理,模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试(2)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置(Quadrature Bias)。输出光信号由光接收机接收处理,输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟(3)输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈,延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50: 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50: 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50: 1550nm光纤迈克逊干涉仪
  • 850nm VCSEL激光器_干涉仪激光器
    852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测,VSEL激光器拥有价格低廉,线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐
  • 中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)
    总览法布里-珀罗干涉仪(英文:Fabry–Pérot interferometer),是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时,它也被称作法布里-珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗)标准具因为平板反射率高,多光束等倾斜干涉条纹极窄,所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学,和研究波长非常靠近的谱线,诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移,原子移动引起的谱线多普勒位移,和谱线内部的结构形状;也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计;在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行,可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱(纵模、横模)成分. 技术参数产品特点 适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数 技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um,中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda;近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50;近红外60-40管壳铜 精细度(FSR)0.012cm-1实验测试: 测试步骤:1,安装1532nm激光器,连接电源,USB线2,激光器输出连接到光纤准直器 3,用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4,用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5,打开激光器,打开信号发生器(三角波调制,频率1KHZ,电压幅值500mW)6,激光器发出的光通过标准具,打在探测器光敏面上,通过调整标准具的角度,在示波器上查看调制波形测试结果:
  • 2.5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场,25直径视场目镜 (mm) 10视场,20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 50倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场,25直径视场目镜 (mm) 0.5视场,20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 10倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场,25直径视场目镜 (mm) 2.5视场,20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。
  • 消球差透镜
    消球差透镜在单色光条件下使用,通过消除彗形像差和球面像差得到最小焦点尺寸。 消球差透镜优秀得衍射限制性能,应用在理想的非线性光学,激光束扩展和准直,干涉仪,材料处理和光纤耦合。消球差透镜波段266nm-1550nm,通光孔径大于90%。其中,LAI波段780nm-1550 nm,表面质量60-40,可以通过简单调整后焦点位置,校正球面像差,彗形像差,散光和球面色差,使其能在各种波长下使用。LAPQ波段266nm-1064nm,表面质量10-5,透镜材料UVFS,通过消除像差可以得到最小的焦点尺寸。
  • 5倍 尼康 显微镜 白光干涉镜头
    5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率:5X数字孔径 NA:0.13 焦深(μm):16.2视场, 1/2" 传感器:1.28 x 0.96mm视场, 2/3" 传感器:1.76 x 1.32mm 视场,20直径视场目镜 (mm) :2.2视场,25直径视场目镜 (mm) :5.00焦距 FL (mm):40.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):2.1重量 (g):280.00 工作距离 (mm):9.3 RoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动,欢迎来电咨询。
  • 100倍 尼康 显微镜 干涉镜头
    50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm 视场,20直径视场目镜 (mm) :0.2视场,25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0 Regulatory ComplianceRoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪,表面轮廓仪,白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号:MicroXAM系列,Newview7000系列,Newview8000系列,Wyko各型号,Contour Elite系列,ContourGT系列,Talysurf系列,SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后,发现市场不够大,或者发现放大倍数不够用,都可以联系我们,以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计,市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备,90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司,B公司,Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动,欢迎来电咨询。
  • 表面形貌仪配件
    表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪,它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外,具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度(Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量,还可以测量张量和应力(简单); *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸,对于小于0.5' ' 的晶圆或样品,可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度; *克服常见干涉仪在粗糙表面(油漆)表现不足的问题; *非接触式测量
  • 离轴抛物面镜
    离轴抛物面镜TYDEX的核心技术优势: TYDEX 镜面的制造工艺和传统工艺是不同的,它致力于为航空/防卫应用提供大批量的更廉价的镜片。传统的OAPs制造工艺是通过挖切磨制, 即从大的轴对称抛物面 (母镜)进行挖切一部分下来进行抛光。显然,这种整体加工、分体割切成型的面镜磨制方案耗时长,低产量是加工成本昂贵,同时在焦距和离轴距离的组合选择上有很多制约。另一项传统的方法是抛光盘技术,主要缺点是材料局限性、表面平整度和加工精度受很大限制。我们的OAP 工艺 采用的是电脑控制的点位修正抛光工艺,结合了常用的抛光手段的优点(表面光滑而且可以使用普通玻璃)和大抛光盘技术的优点(无需对整个抛物母镜进行抛光),又称为主动抛光盘技术。这是一种根据需要将抛光盘面实时地主动变形成偏轴非球面来磨制大口径非球面度高精度天文镜面的磨制技术。非球面表面的曲率不 仅各点不一致,而且同一点的径向与切向曲率也不相同。 每个研磨周期后,我们都用大型干涉仪对整个OAP镜进行测量,然后把 相关的信息反馈到计算机中,将修正过的抛光参数输入抛光机的控制单元。我们称这个工艺为润饰工艺,俄罗斯的工厂专门划出了10,000平方英尺用于这个工 艺的制造,而且有一批非常耐心而有经验的工程师一次又一次的测量和重复许多个润饰周期,直到镜面趋于完美。精确的镜面、有竞争力的价格! 应用:光收集,照明,成像,大直径天文镜面、巨型天文光学/红外望远镜的分块子镜、 Dall-Kirkham和望远镜设计主要参数:询价离轴镜需提供的参数:Focal Length焦距,必须提供;Final Diameter外径,请提供尺寸和公差,也可由厂家推荐; Clear Aperture有效口径,请提供 ; Off Axis Distance离轴距离,用户或者提供光轴到镜子边缘的距离,或者提供光轴到镜子中心的距离,请注明清楚。 Surface Accuracy通常为λ/10 P-V,可以高达 λ/45 P-V Wavelength of Test 633nm Scratch/Dig (maximum)通常优于60/40,要求20/10可以达到 Chamfer 0.050 " x 45 degrees倒角Material:材料 Zerodur Coating:镀膜 关于俄罗斯Tydex公司: Tydex公司位于俄罗斯圣彼得堡,是世界上Golay Cell的唯一的原产商。Tydex公司还生产离轴抛物面镜,大口径天文光学器件等产品。
  • 可选的干涉滤光片 B0094404
    可选的干涉滤光片本品用于341型旋光仪。建议由服务工程师进行安装。订货信息:波长部件编号302 nmB0094404325 nmB2100154405 nmB0062666
  • 光栅及球面、非球面等光学元件 光栅
    岛津光学,在高精度光学技术和半导体制造的沿用中,积累了丰富的精细加工和精密组装技术,不仅可提供光栅、球面/非球面镜、特殊镜片及偏光镜等各种光学元件外,还?可提高分析检测、临床及图像打印的性能要求。岛津制作所成立百年(1875年成立)以来,岛津光学一直致力于技术研发与积累、确保全球范围内始终如一的高质量和可靠性的产品与服务,岛津是您可信赖的伙伴,我们期待您的咨询。 ?
  • 滨松MEMS-FTIR微型光谱仪C12606
    MEMS-FTIR(傅里叶转换红外光谱)光谱仪是一个紧凑的,低成本的傅里叶转换红外光谱仪,一个迈克尔逊干涉仪以及红外探测器都打包在一个小小的光谱仪中。通过USB连接到电脑上能够进行光谱测量以及吸光度测量。滨松MEMS-FTIR光谱仪能够广泛的应用于环境分析、食品分析、医疗等领域。MEMS干涉仪SEM图像:详细参数:
  • 平凸球面镜
    平凸球面镜主要起聚光和准直光路的作用。当聚焦光在凸面处入射,且透镜在无限共轭比处使用时,能代替best-form lens,使得球面像差最小,更加经济实惠。离轴使用时能减少球面像差和近零慧差。透镜材料是N-BK7或熔融石英,不同型号的产品适用波段从193nm到1600nm,覆盖紫外到近红外。平凸球面镜支持客户定制镀增透膜,部分型号对连续激光和脉冲激光有较高的损伤阈值,窄带脉冲激光:15 J/cm2, 20 nsec, 20 Hz @ 1064 nm,宽带脉冲激光: 10 J/cm2, 20 nsec, 20 Hz @ 1064 nm,连续激光:1 MW/cm2 @ 1064 nm。
  • 非球面TPX透镜 非球面太赫兹透镜
    上海屹持光电技术有限公司提供不同规格的非球面TPX透镜 非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距10mmTPX-D25.4-f10 • Asperic (elliptic) TPX lens • Focal length: 10 mm• Free aperture diameter: 20 mm• F* number: 0.5• Refractive index: 1.45 at 1 THz• Numerical aperture NA: 0.64• Central lens thickness: 11.2 mm• Material: TPX (Polymethylpentene) • Spatial resolution at 1 THz: 0.3 mm 非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距15mmTPX-D25.4-f15 • Lens diameter: 25.4 mm• Focal length: 15.0 mm• Free aperture diameter: 23.4 mm• Refractive index: 1.45 at 1 THz• Numerical aperture NA: 0.59• Central lens thickness: 8.0 mm• Edge thickness: 1.6 mm• Material: TPX (Polymethylpentene) • Shape: plano-convex (aspheric)非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距25mm TPX-D25.4-f25• Lens diameter: 25.4 mm• Focal length: 25.0 mm• Free aperture diameter: 22.4 mm• Refractive index: 1.45 at 1 THz• Numerical aperture NA: 0.38• Central lens thickness: 8.0 mm• Edge thickness: 3.1 mm• Material: TPX (Polymethylpentene) • Shape: plano-convex (aspheric)非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距32.5mmTPX-D25.4-f32.5• Lens diameter: 25.4 mm• Focal length: 32.5 mm• Free aperture diameter: 22.0 mm• Refractive index: 1.45 at 1 THz• Numerical aperture NA: 0.3• Central lens thickness: 8.0 mm• Edge thickness: 4.2 mm• Material: TPX (Polymethylpentene) • Shape: plano-convex (aspheric)非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距50mmTPX-D25.4-f50• Lens diameter: 25.4 mm• Focal length:50.0 mm• Free aperture diameter: 22.4 mm• Refractive index: 1.45 at 1 THz• Numerical aperture NA: 0.21• Central lens thickness: 7.0 mm• Edge thickness: 4.4 mm• Material: TPX (Polymethylpentene) • Shape: plano-convex (aspheric)其他规格的非球面TPX透镜非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距67mm TPX-D25.4-f67 非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距100mm TPX-D25.4-f100非球面TPX透镜,直径1英寸,焦距150mm TPX-D25.4-f150非球面TPX透镜,直径2英寸,焦距35mm TPX-D50.8-f35非球面TPX透镜,直径2英寸,焦距65mm TPX-D50.8-f65非球面TPX透镜,直径2英寸,焦距100mm TPX-D50.8-f100非球面TPX透镜,直径2英寸,焦距200mm TPX-D50.8-f200 更多太赫兹元件相关产品 太赫兹透镜 太赫兹偏振片 HDPE 太赫兹线栅偏振片 太赫兹衰减片 太赫兹波片 太赫兹分束镜 太赫兹光谱分光镜 太赫兹棱镜 太赫兹窗片 太赫兹滤波片 太赫兹衰减全反射测试模块
  • SPIP三维图像处理软件
    SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向,不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品,SPIP是可视化、修正,分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构,在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司,目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包,可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用,主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件:多年来,SPIP扫描探针图像处理软件,已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包,提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手,使用SPIP图像处理软件,您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于,包括半导体物理,化学,生物学检验,计量,纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括: 扫描探针显微镜(SPM),原子力显微镜(AFM),扫描隧道显微镜(STM) 扫描电子显微镜(SEM),透射电子显微镜(TEM) 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜(AFM),扫描探针显微镜(SPM),干涉仪(Profilers,),共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。
  • 金属涂层中性密度滤光片
    中性密度滤光片 镀有金属涂层覆盖范围从紫外到红外标准尺寸为12.5mm、25mm和50mm 通光率具体参见各个型号主要用于宽带光谱的衰减器、作为光平衡应用的部分反射器和用作中性分束器金属涂层中性密度滤光片 OD值为阻挡效率,其计算公式如下:金属涂层中性密度滤光片能在宽波长范围内实现均匀衰减。Andover拥有定制的、最先进的设备,包括自动化涂层,玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛,包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪,用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层,包括医疗仪器仪表,荧光研究,机器视觉,农业成像,地面和天文观测,电信,军事和民用监视系统以及防御瞄准系统
  • 标准带通滤光片
    Andover拥有定制的、最先进的设备,包括自动化涂层,玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛,包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪,用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层,包括医疗仪器仪表,荧光研究,机器视觉,农业成像,地面和天文观测,电信,军事和民用监视系统以及防御瞄准系统 带通滤光片Andover提供不同类型的带通滤光片,包括标准带通滤光片、高透过率带通滤波片、定制带通滤光片、硬涂层窄带滤光片和硬涂层宽带滤光片。 标准带通滤光片波长范围从194nm-2400,覆盖范围从紫外到红外。 标准带通滤光片通过带宽从1.5nm-300nm,滤波等级OD4,镜片标准尺寸12.5mm、25mm和50mm。
  • 非球面镜 Janos
    Janos公司是世界领先的先进红外光学元件和附件的供应商。拥有光学机械设计能力,制造和涂料上的自动化设备,以及广泛的测量能力,能够提供在红外光谱方面的高精度的光学解决方案。通过美军用规格MIL-STD认证。Janos还可以根据您的具体要求定制光学镜片Janos非球面镜 特点: Al 6061-T6材料 焦距公差± 1% 直径25.4mm,50.8mm,76.2mm,101.6mm可选 镀金膜,不镀膜可选 底部有安装孔 安装底座可选
  • 非球面玻璃聚光器
    非球面玻璃聚光器用于低成本的正透过率采购应用。在低f值,高通量的情况下应用,降低像差。不推荐成像、聚焦和或高功率下应用。波段400-700nm,镀氟化镁增透膜。表面质量80-50。CVI提供由N-BK7,UV级熔融石英,准分子级熔融石英,CaF2和N-SF11等材料构成,直径范围为2.5至76mm,焦距为3mm至10m的透镜。 透镜支持各种镀膜,包括增透膜、高反膜等。镜片的面形精度达到λ/10,能减少波前失真,使散射最小。包括平凸透镜、双凸透镜、平凹透镜、双凹透镜
  • 非球面透镜
    非球面透镜筱晓光子供应非球面透镜,采用玻璃复制混合成型法,具有很高的性价比。比对抛光、全模压成型的玻璃非球面透镜具有成本优势;比对塑料非球面透镜具有品质优势。该系列非球面透镜用以消除光学像差和色差,是中高端光学仪器及系统的理想配件。非球面透镜应用广泛,包括:半导体激光器,生物医疗、激光投影、条码扫描器、光数据存储、工程仪器。TypeF/mmD/mmNA/mmCA/mmSD/mmRMS/wavesAC40940.0010.000.119.038.200.040AC40727.008.000.116.025.500.040AC40523.008.000.096.021.400.030AC40022.006.000.114.820.800.020AC40420.608.000.177.018.800.040AC40319.008.000.166.0 17.500.030AC04419.005.200.114.417.100.025AC06814.90 8.000.206.213.400.030AC07214.808.000.216.413.300.040AC41514.8012.000.329.511.800.040AC21011.006.000.204.49.600.020AC21210.907.200.306.69.700.020AC30210.004.500.193.88.600.030AC41410.0010.000.448.77.600.040AC0508.906.500.254.67.600.025AC0528.906.500.305.47.600.030AC3257.906.500.304.86.500.040AC3227.504.000.192.86.100.035AC3207.486.500.304.56.070.040AC3556.25 6.500.354.44.800.040AC3236.003.000.151.84.600.040AC2604.606.000.53 4.92.900.060AC2564.345.500.514.42.300.050AC331 3.304.000.453.02.300.045AC3333.304.000.453.02.300.045AC3323.304.000.433.02.470.040AC2962.994.000.472.81.600.040AC2972.994.000.553.31.600.055AC5501.802.400.331.21.130.030AC5310.781.630.831.30.1460.050ObjectivesAO534*4.002.300.201.73.100.050AO540**3.303.700.453.02.100.050AO510*3.002.800.201.41.600.030AO533*2.432.300.301.61.300.050AO564***1.182.100.1/0.41.24Oid7.840.050*designed for 1350nm**for 405nm***for 1300nm
  • 多功能纳米压痕仪配件
    多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量,精确给出硬度,弹性模量,杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计,可广泛集成原子力显微镜,光学显微镜,激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器,为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪,它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量(杨氏模量),负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度,弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌,采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块,实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能,具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块,能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像,并能够全自动测量,可以批量处理分析测量结果。
  • 960MC荧光分光光度计
    960MC荧光分光光度计 唐海红 13120400643 特点: 1. 发射单色仪采用1200L/mm凹面光栅,大孔径非球面反射镜,灵敏度特别高。 2. 采用 150w大功率汞灯,激发能量强。 3. 用光源监控技术,测量结果稳定。 4. 高性能的光电倍增管,可获得最佳信号噪声比。 5. 有自诊断功能,工作可靠。 性能指标: EX波长选择范围: 250-700nm EX波长范围: 200-800nm 波长准确度: EM ± 2nm 波长重现性: EM ± 1nm 灵敏度: 蒸馏水喇曼峰S/N&ge 50,响应时间2秒 测定方法: a.波长扫描 b.定量分析 光谱处理功能: 连续扫描测定 图谱打印输出 定量测定: 样品定量分析 时间扫描 绘制标准曲线(1-3次) 浓度直读 自动测定S/N比及稳定性,自动背景扣除 定量分析打印输出 选配件 光源: 150W氙灯 干涉滤光片(汞灯光源): 254;313;405;436;546nm 干涉滤光片(氙灯光源): 250-700nm间任选
  • 横向剪切波前分析仪
    所属类别:? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌:法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上,即4波横向剪切干涉技术。(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上,这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下,其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧,结合了传统的剪切干涉的优势,安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术(基于改善后的哈特曼衍射遮挡板)。SID4是测量光束特性的必要工具,在光学测量方面有着许多应用。波长范围:350-1100nm分辨率高(160*120)消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单,Firewire IEEE 1394结构紧凑,体积小:可用笔记本电脑控制操作简单,Firewire IEEE 1394结构紧凑,体积小:可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图,保证了高精度测量,可用于对各种光学器件的测量,如透镜,物镜,球面镜,微透镜特征测量等波长范围:400-1000nm高性能的相机,信噪比高实时测量,立即给出整个物体表面的信息(120000个测量点)曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量(例如印刷、半导体等等)和表面检测(半导体晶片检测…)。高分辨率(250*250)通光孔径大(8.0mm*8.0mm)覆盖紫外光谱灵敏度高(0.5um)优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围(1.5um-1.6um)的高分辨率波前传感器。用于光学测量,SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率(160*120)绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量:SID4 DWIR是测量红外物体特性(热成像和安全视觉)或红外透镜(CO2激光器)的理想工具,输出结果包括MTF,PSF,像差,表面质量和透镜焦距。光束测量:(CO2激光器,红外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数:像差,M2,光强分布,光束特性等)高分辨率(96*72)可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量,无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件,其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库(软件二次开发工具包),客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学,选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的,利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比:
  • 光纤拉伸器PZ1
    光纤拉伸器PZ1产品介绍:量青光电代理的美国Optiphase公司的PZ1型小封装光纤拉伸器是一种低成本的光纤盘绕压电陶瓷换能器(Piezo-electric)器件,作为一种性能出色的低成本相位调制器。在众多传感领域有非常重要的应用,典型的应用例如开环解调,干涉型传感器模拟,干涉仪系统的相位调制等等。PZ1型光纤拉伸器标准产品采用SMF-28e光纤或者Panda型偏振保持光纤,超高的性能价格比超过所有其他已知的竞争产品。坚固小巧的封装使得PZ1光纤拉伸器能够容易被集成到小尺寸的系统中,多种输出方式和连接器的选择方便用户使用。公司同时提供针对不同客户应用的定制型产品,例如特殊的封装要求,光纤类型,输出连接器方式,以及频率响应范围等等,请联系我们的销售人员获取更多的信息。产品应用:光纤干涉仪光纤激光器光纤传感干涉型光纤传感器光纤相位调制器产品特点:高性能封装小巧坚固可以定制订货信息:PZ1-STD:900um松套,不带连接器; PZ1-STD-FC/PC:900um松套带FC/PC连接器;PZ1-STD-FC/APC:900um松套带FC/APC连接器PZT-PM-1.5:保偏光纤拉伸器,900um松套不带连接器PZ1-PM-1.5-FC/PC:保偏光纤拉伸器,900um松套带FC/PC连接器PZ1-PM-1.5-FC/APC: 保偏光纤拉伸器,900um松套带FC/APC连接器可提供的订制产品:(1)更小的封装尺寸或者结构;(2)其它工作波长的单模光纤;(3)其它工作波长保偏光纤;(4)更宽的工作频率范围;(5)不同的连接器类型等等。
  • 960CRT荧光分光光度计
    960CRT荧光分光光度计 唐海红 13120400643 简单介绍 ●荧光分光光度计光谱处理功能:连续扫描测定:1-4阶导数光谱;计算峰面积;波峰检索;图谱运算;图谱窗口处理;图谱保存及调出;图谱打印输出●荧光分光光度计定量测定:样品定量分析;时间扫描;绘制标准曲线(1-3次);浓度直读;自动测定S/N及稳定性;自动背景扣除;定量分析打印输出 荧光分光光度计的详细介绍 荧光分光光度计共同特点: ●发射单色仪采用1200L/nm凹面光栅。大孔径非球面反射镜,灵敏度特别高 ●采用1500W大功率汞灯,激发能量强 ●采用光源监控技术,测量结果稳定 ●高性能的光电倍增管,可获得最佳信号噪声比 ●具有自诊断功能,工作可靠 ●EM带宽小于10nm 960CRT荧光分光光度计型特点: ●配置Windows95计算机工作站,仪器故障率小,可靠性强 ●工作站采用中文对话视窗,操作方便 ●利用鼠标可舒服地进行扫描测定;定量分析;运算;制表和记录等系列操作 ●可方便地选择联机或脱机工作方式 选配件: ●光源:150W氘灯 ●干涉滤光片(汞灯光源):254nm、313nm、405nm、436nm、546nm ●干涉滤光片(氘灯光源):250nm~700nm间任选 主要技术指标: 960MC/CRT荧光分光光度计型: ●EX波长选择范围:365nm(干涉滤光片) ●EM波长范围:200nm~800nm ●波长准确度:EM± 2nm ●波长重现性:EM± 1nm ●信噪比:蒸馏水喇曼峰S/N &ge 比50,响应时间2s ●测定方法:a.波长扫描 b.时间扫描 c.定量分析 960CRT型荧光分光光度计(配计算机) ●光谱处理功能: 连续扫描测定:1-4阶导数光谱;计算峰面积;波峰检索;图谱运算;图谱窗口处理;图谱保存及调出;图谱打印输出 ●定量测定: 样品定量分析;时间扫描;绘制标准曲线(1-3次);浓度直读;自动测定S/N及稳定性;自动背景扣除;定量分析打印输出
  • 傅里叶变换光谱仪
    紧凑型(世界上最小的傅立叶变换红外光谱)● 独立的便携式系统● 100px-1高分辩率● Peltier冷却MCT探测器, 5000-830 厘米-1 (2 to 12 mm)● 嵌入式 DSP● USB 连接以太网● 性价比高 第三代Arcoptix 傅里叶变换红外光谱模块融入了鲁棒,紧凑的设计特性。固体基准激光器及其密封的自我补偿干涉仪将新一代傅里叶变换红外光谱的维护工作量降到最低。帕尔帖冷却MCT探测器保证了光谱仪的高灵敏度。 这些模块由带有一个有嵌入式数字信号处理器的内置微处理器来运行一个独立的操作系统。计算机通过以太网使用一个TCP / IP协议或USB接口是可靠的。 傅里叶变换红外光谱模块可集成适当的测量模块,如漫反射,衰减全反射,透射或怀特池。总之,紧凑,鲁棒的和高性价比的解决方案,可以体现在几乎所有的应用上 。● 紧凑型(世界上最小的傅立叶变换红外光谱)● 独立的便携式系统● 100px-1高分辩率● Peltier冷却MCT探测器, 5000-830 厘米-1 (2 to 12 mm)● 嵌入式 DSP● USB 连接以太网● 性价比高 Models of theFTIR-Rocket:The FTIR-Rocket spectrometers offers several configurations with standardtwo stage TE cooled IR photovolataic (Hg,Te, Cd)Zn detectors. Therefore, we supply a a choice of 2 standard instruments. On request we can fit the detector toyour needs.
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