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三态位量仪

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三态位量仪相关的仪器

  • HARKE-PV35是我公司在今年3月份新开发的产品,产品实现了多点位测量、并可设置点位位置、自动旋转、自动测量、自动回位等一系列产品项目的全自动测量仪,HARKE-PV35采用比以往其它产品更大的载物台,更是许多用户的不二选择。方便应用于较大测试样品的测量。 HKCA-PV35接触角测定仪产品参数 l 样品台尺寸(mm):100*100l 接触角测量范围:0-180°l 接触角显示精度:±0.01°l 接触角测量精度:±0.1°l 界面张力测定方法:悬滴法l 表面/界面张力测量范围:0-1000mN/ml 光学系统:0.7X-0.5X高清晰卡位变倍镜头l 视频系统:USB3.0摄像机+PC软控40帧/秒(可选100帧/秒、300帧/秒、1000帧/秒或更高)l 仪器外形尺寸(mm):160*710(可伸缩扩展)l 仪器重量:35kgl 测量软件:HKCA35l 电源:220V/3A/50Hzl 测量温度:室温(高温、恒温、恒温可选定)l 测量方法:自动圆环法、自动椭圆法l 电动定位精度:±0.1mml 注射系统器移动行程:60mm HKCA-PV35接触角测定仪基本功能l 自动液滴零时刻识别l 自动液滴形成l 实时动态采集l 实时动态结果显示l 实时动态曲线生成l 预设测量数量l 自动着滴控制l 三态组合l 极座标旋转体系,园晶多点测量 HKCA-PV35接触角测定仪可附加选项l 表/界面张力(悬滴法)l 动态接触角(扩张收缩法)前进角、后退角l 固体表面自由能l 多通道系统
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  • 移动桥式三坐标测量机是一种多用途的几何量测量仪器它采用移动桥式结构,工作台及导轨全部使用优质泰山青花岗岩材料,具有精度稳定性高,受外部环境影响相对较小的优点。主要测量中小型机械零部件的形状和位置误差,适合于计量室和生产现场使用。可广泛应用航天、兵器制造、汽车、发动机、机床、工模具、电子及其它需要复杂空间几何测量的行业。采用精密斜梁技术,结构稳定、紧凑,提供更好的刚性比。封闭式对称布局的自洁式预载荷高精度空气轴承,结合整体式导轨,提供更稳固的结构。关键部件采用航空铝合金压铸成型,经高温固溶加自然时效处理,保证了设备的长期稳定性。设备采用多重防护措施,从机械、电气、人机交互全方位提供保护。三坐标测量机的机械部件有多种,我们需要日常保养的是传动系统和气路系统的部件,保养的频率应该根据测量机所处的环境决定。一般在环境比较好的精测间中的测量机,推荐每三个月进行一次常规保养,而如果使用环境中灰尘比较多,测量间的温度湿度不能完全满足测量机使用环境要求,建议每月进行一次常规保养,对测量机的常规保养,三坐标测量机的组成比较复杂,主要有机械部件、电气控制部件、计算机系统组成。平时我们在使用三坐标测量机测量工件的同时,也要注意机器的保养,以延长机器的使用寿命。台硕仪器 三坐标测量仪 影像测量仪
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  • VME系列为我公司研发的一款经济型2.5D全自动光学影像测量仪,一体式设计,搭配我司自主研发的全自动测量系统,操作更加人性化,三轴全自动伺服控制系统,大大提高了测量效率,整机大理石结构让运行更加稳定。产品特点丨Product feature1. 外形设计美观、简洁、大方。2. 00级天然花岗岩底座、立柱、工作台,刚性强,形变小,从而保证精度稳定。3. 高清数字相机成像范围更大,检测效率更高。4. 新版CNC软件,功能强大,界面简洁,操作简单易学,稳定性强。产品参数丨Product parameters
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  • 中图仪器W系列白光干涉微观三维形貌测量仪基于白光干涉原理,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。W系列白光干涉微观三维形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。典型结果表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等)几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)自动拼接测量针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器W系列白光干涉微观三维形貌测量仪的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理,用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等);SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能; (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪以白光干涉技术为原理,获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范围两大优点,适用于从超光滑到粗糙、平面到弧面等各种表面类型,让3D测量变得简单。SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸,典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。产品功能(1)SuperViewW1白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能; (5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。产品特点参数测量:粗糙度、微观轮廓尺寸、角度、面积、体积,一网打尽;环境噪声检测:实时监测,纳米波动,也无可藏匿;双重防撞保护:软件ZSTOP和Z向硬件传感器,让“以卵击石"也能安然无恙;自动拼接:3轴光栅闭环反馈,让3D拼接“天衣无缝";双重振动隔离:气浮隔振,吸音隔振,任你“地动山摇,我自岿然不动"。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例: SuperViewW1白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • VMQ全自动影像仪系列是我司生产研发的一款2.5D经济型三轴全自动光学影像测量仪,X/Y/Z轴采用全闭环伺服控制系统,保证仪器的定位精度及测量精度。 配置自动测量软体,针对大批量产品测量可作编程检测,可对产品数据进行公差管制,自动输出报告,大大提高测量效率。产品特点丨Product feature 高精密花岗石底座和弧形立柱。 外形设计美观,功能设计更为人性化。 高清数字相机成像范围更大,检测效率更高。 采用全闭环控制器系统。 低噪声,定位准确,运行更平稳。新版CNC软件,功能强大,界面简洁,操作简单易学,稳定性强。产品参数丨Product parameters
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  • SuperViewW中图仪器三维微观形貌几何尺寸光学轮廓测量仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等,以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像; 11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。应用领域SuperViewW中图仪器三维微观形貌几何尺寸光学轮廓测量仪对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 SuperViewW中图仪器三维微观形貌几何尺寸光学轮廓测量仪应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。广泛应用于如纳米材料、航空航天、半导体等各类精密工件表面质量高要求的领域中,特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SLInfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产,操作原理是国际新型的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小景深和垂直扫描相结合。系 统InfiniteFocus SL是一款经济型、用于实验室研究和生产控制的光学三维表面形貌测量仪。InfiniteFocus SL除可以测量形貌及微观结构的表面外,还可以测量部件的粗糙度。完美的机身框架和智能的光源使InfiniteFocus SL的测量更快速,更容易。优 势InfiniteFocus SL测量速度快、稳定性强,而且经济实惠。超过33mm的超长工作距离及50X50mm测量范围使它拥有了极宽的应用范围,测量可以在几秒钟内完成。应 用应用范围从刀具工业的刃口测量到质量保证及微观结构的表面刃口测量。InfiniteFocus SL应用于汽车、航天、模具、刀具、机械加工等制造企业。 InfiniteFocus SL光学三维刀具测量仪的部分技术参数:位移范围(X/Y):50mm×50mm(自动调节)位移范围(Z):130mm(26mm自动调节)最佳垂直分辨率:20nm最大扫描高度:25mm最大操作距离:17.5(5×物镜)最大扩展视野范围:2500mm2最大单一方向测量范围:50mm最小测量半径:2μm最小测量楔角:20°最小测量粗糙度(Ra):80nm最小测量粗糙度(Sa):50nm
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  • 三坐标测量仪是由测量仪主机、控制系统、测头测座系统、以及计算机几部分构成的。我们每次开机时都要打开的长方体的控制柜,就是三坐标测量仪的控制系统。下面妙机就来介绍一下测量生产的三坐标测量仪控制系统的主要功能:  1.控制和驱动三坐标测量仪的运动,对三轴同步、速度、加速度的控制,使三坐标测量仪的各轴能准确,平稳的移动。  2.在测头触发后,对传送过来的触发信号进行数据采集,对光栅读数进行处理。  3.采集温度数据,对三坐标测量仪由于温度偏离而产生的误差进行补偿。  4.对三坐标测量仪的工作状态进行检测,当发生异常现象是,采取保护措施。  5.根据补偿文件,对三坐标测量仪进行21项误差补偿,保证测量精度。  以上为东莞三坐标测量仪生产厂家给大家讲解的内容,希望能帮助到大家,如有意向想要购买或者想了解更多关于这方面的知识的朋友们,欢迎关注妙机科技网站或者致电联系,我们妙机科技公司是一家致力于生产、销售为一体的测量厂家,值得信赖!
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  • 三维扫描测量仪-FLEX-3A(德国OTTO)3D扫描仪、非接触式3D扫描仪、三维尺寸光学测量仪、三维扫描仪、三维光学扫瞄测量仪OTTO Vision Technology GmbH-我们与合作伙伴在精密光学,机械工程和图像处理硬件方面保持密切合作,以此为基础开发复杂的测试和分类系统以及复杂的测量系统,目前已在大约2,000个工业应用中使用。FLEX-3A:光学3D扫描仪用于自动检查由于具有自动化功能,FLEX-3A系列的3D扫描仪适用于首样品和原型测量以及生产中的自动样品控制。封闭式外壳概念,长期稳定的系统校准以及数据采集,计算和评估的完全自动化,确保了在生产条件下过程稳定的使用。两个标准集成电动轴可以补充其他轴和运动顺序。 ①?小型测量场,物体场尺寸为20 mm③?模块化测量场变化⑤?无需注册标记的多幅图像记录⑦?数据采集 和评估自动化⑨?电动模块化扩展FLEX-3A / 12M(2)相机分辨率:1200万像素(4)尺寸(宽x深x高):855毫米x 854毫米x 930毫米(6)作业系统:Windows 10(8)可选配振动隔离台 (1)可用的测量范围:20mm x 15mm至230mm x 172mm(3)测量点距离:8μm至90μm(5)重量:约145公斤(7)电源:230V / 50Hz / 5A
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  • WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数,同时生成Mapping图;2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像,显示2D剖面图和3D立体彩色视图,高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数;3、基于白光干涉图的光谱分析仪,通过数值七点相移算法计算,达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度,实现膜厚测量功能;4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉,由此计算出两表面间的距离(即厚度),可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度,包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。应用领域可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块:厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等;2、显微形貌测量模块:粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能;纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能;滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能;提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等;粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数;结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术(1)采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。(2)搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘,晶圆规格最大可支持至12寸。(3)采用Mapping跟随技术,可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术(1)采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法,Z向分辨率高可到0.1nm;(2)隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声,获得高测量重复性。(3)机器视觉技术检测图像Mark点,虚拟夹具摆正样品,可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台(1)大行程龙门结构(400x400x75mm),移动速度500mm/s。(2)高精度花岗岩基座和横梁,整体结构稳定、可靠。 (3)关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动,搭配分辨率0.1μm的光栅系统,保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧(1)集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。(2)具备双重防撞设计,避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。(3)具备电动物镜切换功能,让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量,将晶圆上下面的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV),有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像,用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片,细磨硅片粗糙度集中在5nm附近,以25次测量数据计算重复性为0.046987nm,测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器Mars国产三坐标三次元测量仪采用的测量技术和精密的传感器,结合精密的机械结构和温度补偿系统,精度高、重复性优。在连续生产过程中,中图仪器三坐标测量机在连续测量过程中能够提供一致的结果,通过确保每次测量的准确性,帮助企业减少材料浪费和相关成本。高精度:精密制造的核心1、精密的光栅系统:采用高分辨率金属光栅尺,确保机器在使用过程中具有高精度和长时间的稳定性。2、高精度测头:接触式或非接触式测头均经过精确校准,以捕捉细微的几何特征。3、测量分析软件:PowerDMIS三坐标测量软件是中图仪器自主研发,拥有自主可控的核心技术。该软件支持DMIS与I++标准协议,并通过了德国PTB最小二乘法和最小区域法的双认证。高重复性:持续稳定的质量保障1、稳定的机械结构:关键部件一体铸造成型,结构紧凑、重量轻、强度高,运行更为快速平稳。2、精确的控制系统:全闭环直流伺服电机驱动控制技术,具有优异的伺服跟随控制能力;微秒级速度前瞻轨迹规划算法,实现高效平滑运动和高空间运动重复性。3、校准和维护:定期的校准和专业维护确保设备长期保持最佳状态。 Mars国产三坐标三次元测量仪支持触发探测系统,能够对各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测。可用于机械制造、汽车工业、电子工业、航空航天工业以及计量检测等领域。主要特点1.三轴均采用低热膨胀系数的花岗岩导轨,机器具有良好的温度适应性,抗时效变形能力。2.环抱式气浮布局,使机器在高效稳定运行的同时保持高精度。3.关键部件一体铸造成型,重量轻,强度高,提升机器精度及运动平稳性。4.Z轴采用柔性平衡系统,降低摩擦阻力,提高Z轴运动精度。5.采用高精度、高分辨光栅尺,确保机器高精度和长时间稳定。6.高刚性传动方式,保证机器传动的平稳性和刚性。7.开放式的工作台面,具备良好的承载能力,以及开阔的测量视野。8.气压检测安全装置,时刻监测Z轴不因断气而下坠,确保测座测头使用安全。多种型号和配置的设备,满足客户的不同需求。设备操作简便,具有高速和高精度的测量功能,能够帮助客户有效提高工作效率和产品质量。还提供完善的售后服务,保障客户的设备操作顺利,降低客户的使用成本。国产化品牌本地化生产和供应链管理降低了生产和运营成本,使产品价格更具竞争力,而且性能同样可靠,提供了高性价比的选择。由于不同行业和领域的测量需求各不相同,国产三坐标测量机功能的研发和应用也可以根据具体情况进行定制和改进,国产品牌也能够更快地响应客户需求,提供及时的售后服务。Mars国产三坐标三次元测量仪更经济的价格获得高性能的测量设备,同时减少长期的维护和运营开支。
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  • 在连续生产过程中,高重复性的三坐标测量机在连续测量过程中能够提供一致的结果,通过确保每次测量的准确性,帮助企业减少材料浪费和相关成本。中图仪器Mars精密三次元三坐标测量仪器采用的测量技术和精密的传感器,结合精密的机械结构和温度补偿系统,精度高、重复性优。不管是复杂的三维形状还是细微的尺寸差异,每一次测量都能达到微米级精度,实现对产品质量的严格把控。高精度:精密制造的核心1、精密的光栅系统:采用高分辨率金属光栅尺,确保机器在使用过程中具有高精度和长时间的稳定性。2、高精度测头:接触式或非接触式测头均经过精确校准,以捕捉细微的几何特征。3、测量分析软件:PowerDMIS三坐标测量软件是中图仪器自主研发,拥有自主可控的核心技术。该软件支持DMIS与I++标准协议,并通过了德国PTB最小二乘法和最小区域法的双认证。高重复性:持续稳定的质量保障1、稳定的机械结构:关键部件一体铸造成型,结构紧凑、重量轻、强度高,运行更为快速平稳。2、精确的控制系统:全闭环直流伺服电机驱动控制技术,具有优异的伺服跟随控制能力;微秒级速度前瞻轨迹规划算法,实现高效平滑运动和高空间运动重复性。3、校准和维护:定期的校准和专业维护确保设备长期保持最佳状态。精密三次元三坐标测量仪器支持触发探测系统,能够对各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测。可用于机械制造、汽车工业、电子工业、航空航天工业以及计量检测等领域,是现代工业检测和质量控制的检测设备。主要特点1.三轴均采用低热膨胀系数的花岗岩导轨,机器具有良好的温度适应性,抗时效变形能力。2.环抱式气浮布局,使机器在高效稳定运行的同时保持高精度。3.关键部件一体铸造成型,重量轻,强度高,提升机器精度及运动平稳性。4.Z轴采用柔性平衡系统,降低摩擦阻力,提高Z轴运动精度。5.精密三次元三坐标测量仪器采用高精度、高分辨光栅尺,确保机器高精度和长时间稳定。6.高刚性传动方式,保证机器传动的平稳性和刚性。7.开放式的工作台面,具备良好的承载能力,以及开阔的测量视野。8.气压检测安全装置,时刻监测Z轴不因断气而下坠,确保测座测头使用安全。 由于不同行业和领域的测量需求各不相同,国产三坐标测量机功能的研发和应用也可以根据具体情况进行定制和改进,国产品牌也能够更快地响应客户需求,提供及时的售后服务。测控部分测控部分的配置可以根据需求进行选择不同的型号和品牌。1、控制器中图Alpha系列控制器,是中图自主研发的三坐标控制器,可以匹配中图自己研发的测头测座系统和主机系统。性能特点:全闭环直流伺服电机驱动控制技术,具有优异的伺服跟随控制能力;固态电子开关设计,无大功率继电器,具有更小的体积和冲击电流,更高的可靠性;同步PWM控制技术和共模抑制设计,环路响应快,驱动效率高,发热低;微秒级速度前瞻轨迹规划算法,实现高效平滑运动和高空间运动重复性;控制器符合I++标准,能兼容市面上的主流测量软件。 2、测座ACH100T全自动旋转测座为中图仪器自主研发的自动旋转测座,可实现测头在A 轴和B 轴以7.5 度为增量移动,该测座具有720个可重复定位空间位置,可配置长达300mm 加长杆。精度超进口测座。性能特点:测座能实现A角度0-105°,B角度-180°-﹢180°的运动;测座采用精密的6点定位,实现测座的高定位精度;关键零部件采用复合材料、高强度材料;测座通过动态防撞、静态防撞设计,确保测座的使用安全。3、测头CP100T触发测头为中图仪器自主研发的机械式触发测头,可以在空间5个方向进行触发受力,经过长时间的反复对比测试,性能优于同类型进口测头。精度高,稳定性好。4、测量软件Power DMIS测量软件是中图仪器自主研发的三坐标测量分析软件,拥有自主可控的核心技术。该软件支持DMIS与I++标准协议,并通过了德国PTB认证。
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  • 仪器简介: 德国Klocke Nanotechnik公司生产的纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。系统拥有5个自由度,可以根据样品设定测量路径,测量范围达到厘米级甚至更大。现已广泛应用于超精密机械加工、MEMS器件、半导体微电子加工、光学、分子生物学和精密工程。 技术参数:设备主要参数: 测量范围: X = 10, 20 or 50 mm Y = 10, 20 or 50 mm Z = 10 or 20 mm 采用花岗岩基底,XY方向行程扩展为: 100 x 100 mm2 or 350 x 350 mm2 测量特性: 运动分辨率: 1 nm 针尖分辨率: 0.5 nm 水平与竖直方向均配有操纵传感器 线形轮廓测量 样品内部与外部轮廓测量 坐标测量功能 测量用探针: 针尖型金属丝, 尖端半径 100 nm 钩型金属丝, 尖端半径 100 nm 圆形针尖, 直径 0.12-0.3 mm 金刚石针尖, 如用于表面压痕 软件: 针尖自动校准与逼近 2D 和 3D 图形功能 分析软件 自动化模块选项(序列发生器) 可选择的配置: 小型花岗岩平台式3D-Nanofinger 便携式3D-Nanofinger 3D-Nanofinger 模块,如集成到CNC机床内部 适合电镜中安装的3D-Nanofinger 模块 可安装到多功能检测工作台中 附件: 纳米精度自动旋转平台 摄像机 图形识别系统主要特点:1.纳米精度测量,而且是三维方向都可保持统一的精度。 2.测量量程跨越纳米到厘米,甚至分米级。 3.多功能多参数测量设备,可以涵盖三坐标、轮廓仪、形貌仪、粗糙度仪等的功能。 4.用户可以设定测量路径,这样就能沿着样品形状进行测量。适合复杂轮廓测试。 5.配合多种不同功能的探针,可以完成一般轮廓仪无法进行的结构测量。特别是结构内部。 6.用户可以根据需要灵活设置测量方法,可以进行大面积精确测量,也可以先进行大面积低精测量,然后对特定感兴趣的区域进行高精测量,以节省时间。 7.整个过程非接触的,间距可以保持在可以设定为几个纳米。适合各种固态样品测量,对材料性质没有特别要求和限制。 8.布局灵活,根据用户测试要求组成合适的系统。平台可以任意组合,探头也以改变安装方向。 9.如果和微加工设备组合,可以实现在线测量。
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  • OGP® 出品的SmartScope® Flash CNC 500影像测量仪给您的生产检测带来不可评估的价值和高精度的测量保障。为了获得测量的稳定性,该影像测量仪在桥式支撑结构上安装了一套性能卓越的光学系统,并可将多种传感器配置在一个系统中,如接触式探针,Feather Probe™ 羽毛探针,激光传感器及 Rainbow Probe™ 彩虹激光扫描器,拓展测量性能和加大测量范围。 自动校准的变焦镜 专利的12:1 AccuCentricTM变焦镜在每次放大倍率变更后都会自动进行校准,确保在整个测量过程中维持很好的精度。 定位精度 影像测量仪由直流伺服马达驱动的精密机械轴承操控XYZ平台,加上坚固的桥式架构,保证了测量平台移动的快速流畅与高效。即使当平台快速移动时仍可保证测量时具备很好的定位精度。 多功能的照明系统 OGP影像测量仪所独有的照明技术具有程控能力,可显示复杂的工件影像,包括棱镜形或圆柱形工件。LED绿光轮廓灯与TTL同轴白光灯,甚至是可编程的专利SmartRing™ LED环光,都为OGP SmartScope CNC 500的标准配置。 可延伸的测量行程 SmartScope Flash CNC 500可配置加长的Y轴和/或Z轴行程以配合大工件或夹具的安放。 易用的测量软件 OGP Meausre-X® 测量软件利用“指向-点击”工具简化了复杂的测量过程,并提供了一套通用的多功能测量软件包。SmartScope Flash CNC 500影像测量仪也可以使用MeasureMind® 3D多元传感测量软件,实现真正的三维影像测量。标准配置■测量范围(XYZ):500x 450x 200 mm■测量系统尺寸(LWH):114 x 120 x 153 cm,960kg(木箱包装尺寸和重量请联系OGP)■光栅尺分辨率:0.5μm■马达驱动:直流伺服马达驱动,四轴操纵杆控制((X, Y, Z, 变焦)■工作台:有夹具孔的镀镍平台,可拆卸平板玻璃,,65kg承载力■变焦镜:专利的12:1 AccuCentric® 自动校准变焦镜, 校准位置可高达25个■摄像机:1/2″ 高分辨率彩色CCD,768x 494象素阵列■照明:平台下LED背光(绿光), 同轴LED表面光(白光),??专利的8扇区 SmartRing™ LED环光(白光)■影像处理:10:1次象素分辨率,256灰色级■电力要求: 115/230vac,50/60Hz,1Ф , 700W■额定温度: 18-22℃ + 1℃/小时,30-80%湿度(无冷凝水),振动0.001克,低于15HZ■操作环镜: 15-30℃■测量软件: Measure-X® ■电脑配置: 双核处理器@ 2.8 GHz,2GB随机存储器,160GB硬盘(最低配置),DVD/RW光盘驱动器,平行及串行接口,USB2.0接口,主板集成10/100网卡■操作系统: Microsoft® WindowsTM 7■保修期:1年
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  • OGP® 已经售出两千多台 SmartScope® FlashTM CNC200影像测量系统,是市场上非常受欢迎的影像测量仪和多元传感测量系统之一。该系统创新紧凑的设计满足了不同工业领域制造商的影像快速测量需求。 SmartScope Flash CNC200是台式设计中具效益的多功能影像测量仪。擅长视频三维测量的同时,还可选用TTL激光或接触式探针,将其配置成高性价比的多元传感测量系统。■创新的机械设计。独特的“升降桥”结构设计,使整个系统外型相比其他类似行程的机型更为紧凑。■精密的光学。高品质的12:1变焦镜在其整个聚焦范围内保持了优异的光学性能。这一专利的AccuCentricTM变焦镜在每次放大倍率改变后都会重新进行校准,确保系统一直维持最佳精度。■多功能的照明系统。获得专利的轮廓照明技术采用了LED阵列组成的平台下背光,当平台移动时光学系统依据程序设定自动打开关闭和调整。其中,TTL同轴LED表面光以及专利的SmartRing™ 环光,都是Flash CNC的标准配置。■功能强大的测量软件。Flash CNC 200影像测量仪拥有强健而又便于操作的 Measure-X® 测量软件。也可选用MeasureMind® 3D多元传感测量软件,实现完整的三维测量功能。标准配置■ 测量范围(XYZ):200x 200x 150 mm■ 测量系统尺寸(LWH):76 x 60 x 73 cm,100kg■ 木箱包装尺寸(LWH):94 x 87 x 90 cm,149kg■ XYZ光栅尺分辨率:0.5μm■ 马达驱动:直流伺服马达驱动,四轴操纵杆控制((X, Y, Z, 变焦)■ 工作台: 平台带有夹具孔, 镀硬膜层且阳极氧化,,可拆卸平板玻璃,,16kg承载力■变焦镜:专利的12:1 AccuCentric® 自动校准变焦镜, 校准位置可高达25个■摄像机:1/2″ 高分辨率彩色CCD,768x 494象素阵列■照明: OGP专利所有,与数字光圈相匹配的LED背光, LED同轴表面光,专利的8扇区8环SmartRing™ LED环光■影像处理:10:1次象素分辨率,256灰色级■电力要求: 115/230vac,50/60Hz,1Ф , 500W■额定温度:18-22℃ + 1℃/小时,30-80%湿度(无冷凝水),振动0.001克,低于15HZ■操作环境:15-30℃■测量软件:OGP Measure-X® ■保修期:1年
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  • 三座标测量仪 400-860-5168转6117
    三座标测量仪主要用于机械、汽车、航空、军工、家具、工具原型、机器等中小型配件、模具等行业中的箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面等的测量。还可用于电子、五金、塑胶等行业中,可以对工件的尺寸、形状和形位公差进行精密检测,从而完成零件检测、外形测量、过程控制等任务,是现代工业检测和质量控制的检测设备。Mars系列三座标测量仪支持触发探测系统,能够对各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测。多种型号和配置的设备,满足客户的不同需求。设备操作简便,具有高速和高精度的测量功能,能够帮助客户有效提高工作效率和产品质量。还提供完善的售后服务,保障客户的设备操作顺利,降低客户的使用成本。主要特点1.三轴均采用低热膨胀系数的花岗岩导轨,机器具有良好的温度适应性,抗时效变形能力。2.环抱式气浮布局,使机器在高效稳定运行的同时保持高精度。3.关键部件一体铸造成型,重量轻,强度高,提升机器精度及运动平稳性。4.Z轴采用柔性平衡系统,降低摩擦阻力,提高Z轴运动精度。5.采用高精度、高分辨光栅尺,确保机器高精度和长时间稳定。6.高刚性传动方式,保证机器传动的平稳性和刚性。7.开放式的工作台面,具备良好的承载能力,以及开阔的测量视野。 8.气压检测安全装置,时刻监测Z轴不因断气而下坠,确保测座测头使用安全。测控部分测控部分的配置可以根据需求进行选择不同的型号和品牌。1、控制器中图Alpha系列控制器,是中图自主研发的三坐标控制器,可以匹配中图自己研发的测头测座系统和主机系统。性能特点:全闭环直流伺服电机驱动控制技术,具有优异的伺服跟随控制能力;固态电子开关设计,无大功率继电器,具有更小的体积和冲击电流,更高的可靠性;同步PWM控制技术和共模抑制设计,环路响应快,驱动效率高,发热低;微秒级速度前瞻轨迹规划算法,实现高效平滑运动和高空间运动重复性;控制器符合I++标准,能兼容市面上的主流测量软件。 2、测座 ACH100T全自动旋转测座为中图仪器自主研发的自动旋转测座,可实现测头在A 轴和B 轴以7.5 度为增量移动,该测座具有720个可重复定位空间位置,可配置长达300mm 加长杆。精度超进口测座。性能特点:测座能实现A角度0-105°,B角度-180°-﹢180°的运动;测座采用精密的6点定位,实现测座的高定位精度;关键零部件采用复合材料、高强度材料;测座通过动态防撞、静态防撞设计,确保测座的使用安全。3、测头 CP100T触发测头为中图仪器自主研发的机械式触发测头,可以在空间5个方向进行触发受力,经过长时间的反复对比测试,性能优于同类型进口测头。精度高,稳定性好。4、测量软件 Power DMIS测量软件是中图仪器自主研发的三坐标测量分析软件,拥有自主可控的核心技术。该软件支持DMIS与I++标准协议,并通过了德国PTB认证。主要特点:(1)中图三座标测量仪界面简洁友好,互动性强。各功能模块易识别和理解,用户可以快速上手;(2)机型库、测头系统、I++插件、DMIS转化功能,提高软件的兼容性和适配性,并得以丰富各种应用场景;(3)概要程序模式消除掉冗长的DMIS代码显示,大大降低对用户编程技能的要求,参数化视图交互功能实现所设即所测;(4)创建元素提供多种测量和构造方法,用户可以按需设置,既增加测量应用场景,又通过丰富的视图工具快捷设置视图显示;(5)提供路径显示和碰撞检测,利于直观形象的查看设备运动路径,保证安全高效测量;(6)数据中心提供丰富多样的数据管理功能,可实现数据的本地化管理,也可按客户需求导入数据库,适用于各类企业和行业。
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  • 中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器,主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。应用领域针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,SuperView W的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。 中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 复合式三坐标测量仪是在影像测量仪的基础上发展起来的智能检测技术,那么他都作用效果呢?今天妙机小编就和大家分享一下。  影像测量仪使用本身的硬件将所能捕捉到的图像通过数据线传输到电脑的数据采集卡中,之后由软件在电脑显示器上成像,由操作员用鼠标在电脑上进行快速的测量。因工件大小不同,工作台可以选择不同行程。光源亮度可调,可以在各种光线条件下选择最合适的光源亮度,通过影像分析的方式测量产品的三维尺寸。但是对于产品隐藏部分的产品特征面光学无法到达的部分、对于自由型面的产品特征该如何评价呢?  OGP影像测量仪厂家的解决方案就是在三维光学测量仪器基础上加装激光、探针、转台等传感器,通过接触和非接触的方式进行一个坐标系下的综合测量,这形成了复合式三坐标测量仪。  这种复合式三坐标测量仪通过不同的测量传感器捕捉产品的特征面、线及特征,在一个坐标系下进行综合分析,生成所需的测量参数和报告,极大地提升了检测效率和评价手段。  综合上影像测量仪厂家小编给大家讲的知识,相信大家对这方面的资讯已经非常了解,如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解,我们将竭诚为您服务。妙机科技采用创新性的SIC(SysteminCase)设计理念,将全自动测量仪常用的各种电路模块整合在一个盒子里,解决了过去板卡组件的系统繁杂,接线复杂,性能低下,故障率高的问题,使得全自动测量仪功能强大,结构简洁,高效可靠,易于接线和维护,从而率先推出龙门式全自动影像测量仪、一体式影像测量仪等高端重磅级测量设备,在全国乃至全球处于领先水平。
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  • 中图仪器NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。工作过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面,测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号,数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。结构主要组成部分1、测量系统(1)单拱龙门式设计,结构稳定性好,而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响,提高了测量精度。(2)线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。(3)传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调,以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台(1)精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台,可以对样品的位置以及角度进行调节,三维位置均可以调节,利于样品调整。(2)超高直线度导轨,有效避免运动中的细微抖动,提高扫描精度,真是反映工件微小形貌。 3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机,即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上,使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响,使实验数据更加准确。NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料;2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数; 3)翘曲与形状:能够测量样品表面的2D形状或翘曲,如在半导体晶圆制造过程中,因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化,或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1)自定义测量模式:支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式;2)导航图智能测量模式:支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机,可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示,进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率,结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰,确保仪器具有良好的测量精度及重复性;2.超微力恒力传感器 1-50mg可调,以适应硬质或软质样品表面,采用超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的接触式测量;3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。典型应用在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度,具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景,NS200台阶仪提供如下便捷功能:1)结合了360°旋转台的全电动载物台,能够快速定位到测量标志位;2)对于批量样件,提供自定义多区域测量功能,实现一键多点位测量;3)提供SPC统计分析功能,直观分析测量数值变化趋势;
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  • LT-12净空测量仪是我公司新开发的超远距离免棱镜全站仪,可以用于机场或雷达站周围建筑物三维坐标的测量。该产品在国际上率先采用1.57波长人眼安全激光,免棱镜测程达到12公里,测距精度优于1米,测距时间小于1秒,测量的坐标数据直接存储到内存中;可通过U盘将数据复制到电脑,本测量仪采用Windows mobile。LT-12净空测量仪集成了GPS定位功能和全站仪测角、测距功能,不受地域和时间限制,不依靠控制网,没有作业半径限制,是全天候、无盲区、智能型的测量系统。技术参数角度测量:水平角范围:0~360°垂直角范围:-45°-+90°水平角精度:2″(2秒=0.0005°)垂直角精度:2″(2秒=0.0005°)最小读数:1″/5″可选测角方法:绝对编码,动态测量角度补偿方式:电子补偿角度补偿范围:±3′(补偿范围内仪器自动消除仪器不平对角度的影响)采点速度:1点/3秒非合作目标距离测量:测程:12000米测距精度:1米测距激光波长:1.57波长测距激光类型:1级人眼安全激光(最安全等级)数据存储/通讯:可扩展内存:标配8G内存,可扩充至32G数据接口:U盘,蓝牙,Wifi,3G上网及语音通话功能(选配)数据格式:文本格式/CSV格式望远镜:放大倍数:16倍物镜口径:23mm视场:2°30′(100m处视场4.4m)调焦范围:2.5m至无穷远显示屏:显示屏:3.5寸电阻式彩色触摸屏,640×480像素,亮度可调节操作系统:Windows Mobile:6.5主频:800HZ激光对电器:类型:红色激光点对中精度:1.5m处对中精度1.5mm电池:类型:12V可充电锂电池1800mA操作时间:双电池在打开激光条件下可工作8小时以上物理指标:整机重量:5.3kg体积:170×160×330mm环境指标:工作温度范围:-30℃到+60℃,极地耐低温型-40℃到+60℃(可定制)防尘/防水:IP55,防雨防尘湿度:95%,无冷凝软件功能:后方交会法:有站点测量法:有角度定向法:有原始坐标输出:有原始坐标数据输出,便于用户验证检查,数据兼容性好智能测量导航:有产品特征1.可选配大范围倾角补偿器。2.可选配3G上网卡实施将测量数据发回办公室。3.LT-12净空测量仪系统从GPS获取绝对坐标,无需做控制网或控制点,使作业更简单。4.可选配高精度GPS进行定位定向,结合全站仪数据采集功能,实现全站仪、GPS测量数据共享。
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  • HYXJ-5手推式全自动站台限界检测小车 行走式站台限界测量仪 数显站台限界测量尺 HYXJ-5手推式全自动站台限界检测小车是一种采用区别于激光点及激光雷达的电子传感器系统、激光成像系统、计算机处理系统等进行全断面式限界检测的仪器。采用手推式动态检测小车的测量方式,由人工推着在轨道上行走,仪器自动测量所有限界数据(水平限界、高度限界、站台轮廓、风雨棚高度、水平超高等),曲线段自动计算和测量。软件系统实时完成限界检测、数据采集、数据分析处理和显示及超限判断,生成检测报表。其操作简单快捷、测量精度高、测量数据全面并实时显示、检测小车动态测量,提高了检测效率及节省人力成本。功能特点1.满足《铁路建筑实际限界测量和数据格式》(TB/T 3308-2013)标准、《铁路桥隧建筑物修理规则》、Q/CR904-2022 数字式站台限界测量仪、JJG(铁道)197-2022 铁路建筑限界测量装置、JJF(CR)042-2021 站台限界测量仪及站段的数据处理格式要求。2.设备采用以“图像+线性”主动扫描成像测量、脉冲触发测量、全时感知测量及低阻力控制为特征的全自动两级触发测量系统。不同于激光雷达,无旋转光电元件,可靠性高,数据稳定;不同于激光点,只能简简单单的测量站台帽的某个点,而不是一个面。3.设备在0.5秒内全断面式自动扫描站台整个轮廓面(一个面的数据点数可达上千点)并自动提取特征点:人员推着检测小车前行,仪器自动完成测量(测量过程不需手动操作)并实时显示和保存站台、风雨棚、轨道、超限等级等数据、图像及站台的所有图像,曲线段自动测量,自动校正。4.设备从识别到测量出数据不超过0.5秒,全断面无时延测量,速度更快。5.具备一键录入、自动识别及完成的功能。实时现场数据和图像显示,操作简便,全中文界面。可输出标准限界报告,也可根据用户自定义格式输出。6.结构特点:设备整体采用完全一体化结构,无需拼装,探头不产生振动偏移,杜绝产生机械误差,盖板展开可立即使用,设备使用前后都无需组装、拆卸任何部件;检测小车采用航空铝材,强度高,重量轻,携带方便;设备可在不调转机体的情况下转换推行方向;走行轮材质具有良好的绝缘性能,防止短接轨道电路。7.仪器系统应具备故障自诊断功能。技术参数站台面与钢轨顶面垂直高度测量范围:350-1350mm,精度:0-2mm站台侧面到轨道中心水平距离测量范围:900-2000mm,精度:-3.0-0mm风雨棚测量范围:0.2-10m,精度:±2mm轨道超高:精度±1mm,自动校正轨距:精度±0.5mm识别及测量时间:<1s,全断面、无时延对向精度:<5‰兼容电动、AI形态处理、手持式和外置双控模式断点熔接:两种方式可选,自动导入、计算点位模式:双基准,一键调整调控方式:双向11位两控可调测量稳定性:全时感知,反向功能≤1‰,≤2%RMS,IRS微调系统,双置3XLimW及自调节适配装置,AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统:全断面扫描式动态测量(非激光雷达、非激光点方式,不需人工识别及手动调整);手推式检测小车,实时自动或定点测量,内置标准站台限界数据并可编辑、修改、录入,界面实时动态测量及显示数据、波形图、图像及二坐标图、超限分级、报警等且测量数据自动和标准数据实时对比,自动保存全部完整原始记录,生成EXCEL报表,并可根据每个段原有的数据模板进行打印工作方式:连续/TTL,≤1kHz控制系统:笔记本电脑(三防平板电脑可选)主机工作时间:≥4小时工作温度:-20℃~60℃尺寸:1620x400x230mm重量:≤13kg
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  • 中图仪器SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪能以3D非接触方式,测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等)。SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等,提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品功能 (1)SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperView W的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标 型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • SuperViewW白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪基于白光干涉技术原理,结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统SuperViewW白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperViewW白光干涉摩擦磨损三维形貌快速精准高效测量仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。SuperViewW白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 仪器简介:是二维表面粗糙度测量仪、三维表面粗糙度测量仪和轮廓形状测量仪最高水平的组合,一体化的合理的测量仪器状解析记录模式三种功能,技术参数:二维粗糙度:测量参数:Ra、Rq、Ry、Rmax、Rt、Rz、Rz5、Rz3、R3z、R3zmax、RzmaxD、RzD、Sk、Ku、Pc、HSC、PPI、Rpm、Sl、Sm、S、Rp、Rv、 a、 q、 a、 q、 a、 q、K、tp、BC、ADC、FFT、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、WcA、WCM、WEA、WEM、真直度、离差、坐标放大倍率:竖直50 ~500,000 水平1~5000测量范围:竖直 600 m 水平100mm评价长度:0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80mm / 任意(0.2mm以上) /  C x1, x2, x3, x4, x5自动水平调整:最小二乘法, 二点法, R曲线修正, 二次曲线修正,辅助功能:自由画面设计记录, 图表模版, 平均处理, 统计处理, 去除缺陷后测量, 再计算,探测器登记,留言记录, 自动灵敏度校正, 公制/英制变换, 自动测量, 去除处理, 轮廓图放大缩小。三维粗糙度分析项目:平面图、等高线图 / 微分浓淡图 / 标高表示图鸟瞰图(水平, 俯角可变): 扫描图 / 细格图 / 等高线图 / 微分浓淡图三维分析值: SRp / SRv / SRmax / SRa / SGr / SSr / SRe / SRq / SRsK / S a / S a / Spc / 标高粒子分析: 山(或谷)粒子的密度, 平均面积, 平均体积, 平均直径图形: FFT/ BC测量范围:Z 600 m X 100mm Y 100mm辅助功能:分析和数据采集同时进行 / 部分选取 / 水平调整 / 三维数据的任意方向的二维分析传送速度:0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2mm/S高速移动速度5, 10mm/S以及手动截止值:粗糙度  C 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8 mm,无截止,起伏fl 0.8, 2.5, 8, 25mm, fh 0.08, 0.25, 0.8, 2.5mm过滤方式:高斯型, 2CR, 特殊高斯型探测器上下移动:探测器上下移动范围250mm, 自动下降/上升精度 0.2 m/100mm以内(使用制动时)真直度测量精度:0.2 m / 100mm探测器:触针: R2m金刚石, 测量力0.7mN 制动: R40(测量方向) R2 m 蓝宝石轮廓形状测量分析项目对中 : 原点移动, 旋转, 反转, 移动要素分析: 点, 线, 圆, 山, 谷, 交点, 中点, 接点 / 定标器量: 座标差, 距离, 交角测量范围:竖直50mm 水平100mm传送速度:0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.2 mm / S 高速移动速度2, 10mm/S 以及手动辅助功能:自由画面设计记录, 图表模版, 宏观功能, 轮廓放大缩小, 数字式圆弧修正, 防止过载 震动器, 上下正反两方向测量 探测器上下移动范围:200mm真直度测量精度:1 m / 100mm探测器:R25 m 10~30mN超硬, 追踪角度: 上攀77度, 下移87度尺寸/ 质量、测量部600  395  593mm / 80Kg 计算部900  600  520mm / 30Kg电源:AC 100V 800VA 50/60Hz主要特点:三维粗糙度测量 数据采集和分析同时进行数据的采集和以前采集的数据的分析可以同时进行. 能节约测量时间.三维粗糙的形状记录能改变鸟瞰图的视角、高低并进行记录.对于平面图能得到浓淡图和等高线图, 当然, 可以取出感兴趣的部分放大或记录.三维粗糙度参数能进行面平均算术平均粗糙度SRa等各种三维粗糙度参数, ”山” , “谷” 粒子的平均面积、平均体积等的分析. 二维粗糙度测量 参数能对应于ISO、JIS、DIN、ANSI、BS等国际标准和各国的新旧标准进行测量自动测量功能从探测器的测量到数据图表的打印一连串的动作都能自动进行.去除处理可以避开测量形状中伤痕等不适和的部分,指定计算的区域进行分析.轮廓形状测量 多断面形状分析能对多到32个断面的数据同时处理. 而且, 能对n次分开测量的数据合在一起进行分析. 对中调整备有必要的充分对中的功能, 而且能进行极细微的调整.宏观功能利用很强的宏观功能,可以使同一类测量物体的测量、分析和打印变得很简单. 操作的宏观化是除了通常的操作外只要增加单键操作就可以了,使整个测量简单化.公差判定对于半径、距离、角度等的分析数据, 每次都要设定公差,并能进行对错的判断.二维粗糙度、轮廓形状测量的共同特点 数据图表能自由的对数据图表进行画面设计, 可以自由选择画面设计的数据, 其中, 有各种测量的数据, 名称等原始数据, 公司标记等图形数据, 进行画面设计, 作成图表.
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  • 妙机三坐标测量仪和影像测量仪都以先进的测量技术而得以广泛应用,虽然两者都是通过对产品的尺寸、角度和位置等形位公差进行测量的,但这两种测量仪有着本质的区别,接下来妙机小编为大家介绍一下三坐标测量仪与影像测量仪的不同之处。  1、测量方式不同。妙机三坐标测量仪是使用测头接触工件的,通过接触的方式获取点的坐标。而影像测量仪是通过对光学镜头获取的图像进行测量的,不用接触,只需要全程使用摄像功能就可以完成测量。  2、测量工件类型不同。虽然妙机三坐标测量仪的测量精度比影像测量仪高,但其主要是通过与工件接触的方式进行测量的,无法很好的测量小薄软等类型的工件。影像测量仪虽然可以通过非接触的形式测量小薄软等类型的工件,但对一些需要进行三维测量或测量精度要求高的工件来说,却有些力不从心。  3、测量维度不同。妙机三坐标测量仪是根据所取点的三维坐标值来进行测量的,空间内的每一个点都有唯一的坐标值,测量精度很高。而影像测量仪是通过光学影像技术获取工件的二维影像,然后再进行精密的测量,是在二维平面上进行测量的。  上述文章就是东莞三坐标测量仪厂商的小编和大家说的内容,大家都清楚了吗?在这边我们也就不和大家多说啦,大家若是对测量产品有所需要或者感兴趣的话,都可以随时联系我们,也可以关注一下妙机科技的。妙机科技公司不断引进先进的生产技术和质量保证,在日趋激烈的市场竞争中不断发展壮大。
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  • 测量器具(也称计量器具)是测量仪器和测量工具的总称。通常把没有传动放大系统的测量工具成为量具,如游标卡尺、直角尺和量规等;把具有传动放大系统的测量器具成为量仪,如机械式比较仪、测量仪、投影仪和影像测量仪。接下来妙机小编就和大家浅谈一下量具、量仪和三次元测量仪的相关知识。  按照结构和工作原理划分,计量器具又分为机械式、光学式、气动式、电动式、光电式计量器具。  光电式计量器具是利用光学方法放大或瞄准,通过光电元件再转换为电量急性检测,以实现几何量测量的计量器具,如光电显微镜、光电测长仪等,三次元测量仪器也是属于这一类。  三次元测量仪是现代光电技术发展的结晶,在量具量仪等诸多计量器具的种类之中,三次元测量仪因为自动化的坐标测量方式使得综合测量在精益制造领域得以施展。配合OGP的SmartPorfile综合测量评价软件,更可以跨越不同量仪的测量方式的限制而达到产品尺寸的全方位评价。  综合上三次元测量仪厂家小编给大家讲的知识,相信大家对这方面的资讯已经非常了解,如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解,我们将竭诚为您服务。妙机科技采用创新性的SIC(SysteminCase)设计理念,将全自动测量仪常用的各种电路模块整合在一个盒子里,解决了过去板卡组件的系统繁杂,接线复杂,性能低下,故障率高的问题,使得全自动测量仪功能强大,结构简洁,高效可靠,易于接线和维护,从而率先推出龙门式全自动影像测量仪、一体式影像测量仪等高端重磅级测量设备,在全国乃至全球处于领先水平。
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  • 精确、快速、便携应用领域:金属,复合材料,织物等材质表面的划痕,裂纹,磨损,刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析;铆接,焊接,接缝等阶差和凹凸量的三维检测;三维面粗糙度测量分析;划窝孔,槽深,圆弧,倒角等几何尺寸测量; 测量原理:德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪,用于现场表面质量特性的检测,具有测量速度快,测量准确,便携性等优点。 仪器特点:便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数;三维测量表面划痕缺陷,通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位;专业的划痕测量分析软件,多种滤波方式:包含了多项式滤波,高斯滤波,均值滤波等,有效消除曲面轮廓,倾斜,噪音信号,毛刺,灰尘等因素对测量结果的影响;大倾角光路设计,以及蓝光LED光源,测量不受高反光曲面的影响;SDK软件包,开放仪器接口,可二次开发;仪器附件 测量范围X/Y/Z:13X8X5 mm测量示值误差: (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力:1um聚焦距离: 107mm测量扫描时间: 3秒;扫描点云:36万点/幅使用环境温度:5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源
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  • 中图仪器Mars高精度高效率三坐标测量仪采用的测量技术和精密的传感器,结合精密的机械结构和温度补偿系统,精度高、重复性优。不管是复杂的三维形状还是细微的尺寸差异,每一次测量都能达到微米级精度,实现对产品质量的严格把控。高精度:精密制造的核心1、精密的光栅系统:采用高分辨率金属光栅尺,确保机器在使用过程中具有高精度和长时间的稳定性。2、高精度测头:接触式或非接触式测头均经过精确校准,以捕捉细微的几何特征。3、测量分析软件:PowerDMIS三坐标测量软件是中图仪器自主研发,拥有自主可控的核心技术。该软件支持DMIS与I++标准协议,并通过了德国PTB最小二乘法和最小区域法的双认证。高重复性:持续稳定的质量保障1、稳定的机械结构:关键部件一体铸造成型,结构紧凑、重量轻、强度高,运行更为快速平稳。2、精确的控制系统:全闭环直流伺服电机驱动控制技术,具有优异的伺服跟随控制能力;微秒级速度前瞻轨迹规划算法,实现高效平滑运动和高空间运动重复性。3、校准和维护:定期的校准和专业维护确保设备长期保持最佳状态。 Mars高精度高效率三坐标测量仪支持触发探测系统,能够对各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测。支持中图Power DMIS、Rational DMIS、ARCOCAD等测量软件,支持中图Alpha系列控制器、Pantec控制器、雷尼绍UCC控制器等;可用于机械制造、汽车工业、电子工业、航空航天工业以及计量检测等领域,是现代工业检测和质量控制的检测设备。主要特点1.三轴均采用低热膨胀系数的花岗岩导轨,机器具有良好的温度适应性,抗时效变形能力。2.环抱式气浮布局,使机器在高效稳定运行的同时保持高精度。3.关键部件一体铸造成型,重量轻,强度高,提升机器精度及运动平稳性。4.Z轴采用柔性平衡系统,降低摩擦阻力,提高Z轴运动精度。5.采用高精度、高分辨光栅尺,确保机器高精度和长时间稳定。6.高刚性传动方式,保证机器传动的平稳性和刚性。7.开放式的工作台面,具备良好的承载能力,以及开阔的测量视野。8.气压检测安全装置,时刻监测Z轴不因断气而下坠,确保测座测头使用安全。测控部分测控部分的配置可以根据需求进行选择不同的型号和品牌。1、控制器中图Alpha系列控制器,是中图自主研发的三坐标控制器,可以匹配中图自己研发的测头测座系统和主机系统。性能特点:全闭环直流伺服电机驱动控制技术,具有优异的伺服跟随控制能力;固态电子开关设计,无大功率继电器,具有更小的体积和冲击电流,更高的可靠性;同步PWM控制技术和共模抑制设计,环路响应快,驱动效率高,发热低;微秒级速度前瞻轨迹规划算法,实现高效平滑运动和高空间运动重复性;控制器符合I++标准,能兼容市面上的主流测量软件。2、测座 ACH100T全自动旋转测座为中图仪器自主研发的自动旋转测座,可实现测头在A 轴和B 轴以7.5 度为增量移动,该测座具有720个可重复定位空间位置,可配置长达300mm 加长杆。精度超进口测座。性能特点:测座能实现A角度0-105°,B角度-180°-﹢180°的运动;测座采用精密的6点定位,实现测座的高定位精度;关键零部件采用复合材料、高强度材料;测座通过动态防撞、静态防撞设计,确保测座的使用安全。3、测头 CP100T触发测头为中图仪器自主研发的机械式触发测头,可以在空间5个方向进行触发受力,经过长时间的反复对比测试,性能优于同类型进口测头。精度高,稳定性好。4、测量软件Power DMIS测量软件是中图仪器自主研发的三坐标测量分析软件,拥有自主可控的核心技术。该软件支持DMIS与I++标准协议,并通过了德国PTB认证。国产化品牌:创新与成本效益的平衡国产化品牌的三坐标测量机在打破国外技术垄断的同时,本地化生产和供应链管理降低了生产和运营成本,使产品价格更具竞争力,而且性能同样可靠,提供了高性价比的选择。由于不同行业和领域的测量需求各不相同,国产三坐标测量机功能的研发和应用也可以根据具体情况进行定制和改进,国产品牌也能够更快地响应客户需求,提供及时的售后服务。Mars高精度高效率三坐标测量仪以更经济的价格获得高性能的测量设备,同时减少长期的维护和运营开支。
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