扫描颗粒计

百特扫描图像粒度粒形分析系统BT-1700（洁净度分析系统）是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫做粒度粒形分析系统；用在洁净度分析时叫做洁净度分析系统。BT-1700性能独特之处有以下四点，一是显微镜具有自动载物台，能自动拍摄不同位置的颗粒图像；二是具有自动对焦功能，保证所拍摄的每一幅图像中的颗粒都是最清晰的；三是具有相邻视场无缝拍摄功能，并能把这些连续的小图像无缝合成一幅大图像，就像是一次拍摄的放大了几百倍甚至上千倍的照片一样；四是根据不同物质的颗粒对光的吸收个反射特性不同这一特征，通过分析每一个颗粒的图像亮度来判断所测粉体材料中两种物质的含量。通过这四个独特功能，使BT-1700在做粒度粒形分析和洁净度分析过程中完全不用人工操作，拍摄图像、位置移动、合成图像、数据分析都自动完成，并且图像清晰、速度快、结果准确。同时具有分析物质含量的功能。在粒度粒形分析中，BT-1700能把载玻片上的每一个颗粒一次全部分析完。得出的粒度信息包括每一个颗粒的粒径、最大颗粒，中位径，粒度分布数据和曲线等；得出的粒形信息包括每一个颗粒的球形度和长径比等粒形参数，以及球形度和长径比分布数据和曲线。在清洁度分析中，通过BT-1700对相邻视场无缝拍摄功能和无缝合成一幅大图像功能，能将最大直径为50mm的滤膜的每一个细小环节全部展现出来，得到了一幅滤膜（连同滤膜上的颗粒）被放大几百倍了的图像。通过软件对图像进行分析，计算出每一个颗粒的直径，在按清洁度标准进行分级并计算出每一个粒级的颗粒占总量的百分比，从而得出所分析的对象的洁净度等级。BT-1700通常配一台具有透射和反射功能的常规显微镜，配一个百特自主研发的自动载物台，配一套图像分析与处理软件。如果他配金相显微镜等特殊显微镜，还会有更多的功能。基本性能指标测试范围1-10000μm放大倍数160/200/400/800/1600倍重复性误差≤1%（国标样D50偏差）准确性误差≤1%（国标样D50偏差）颗粒识别速度≥10000个/分钟进口高速CCD120帧/秒扫描范围直径为55mm测量时间≤10分钟漏检率≤3%（10微米以上颗粒无漏检）金属颗粒识别准确率90%纤维颗粒识别准确率92%应用领域● 磨料：如碳化硅、刚玉、金刚石、石榴石等。● 电池材料：球形石墨粉等。● 金属粉：如球形铝粉、铅锡合金粉、其他雾化金属粉。● 非金属粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。● 针状粉：如硅灰石等。● 其他：如科研、教学等。突出特点● 洁净度分析：可分析粒度分布、颗粒数等，符合ISO16232、NAS1638标准，是精密机械制造等领域洁净度分析首选仪器。● 金属和纤维颗粒识别技术：如果样品中有金属颗粒或纤维颗粒，系统能自动识别出来，并给出含量等量化指标。● 自动测试技术：点击自动测试按钮，系统将自动寻找原点，自动拍摄、自动合成全景图像、自动分析每个颗粒、自动显示结果。● 无缝合成全景图像：精确控制的电动平台移动扫描拍摄局部图像，最后将每个局部图像合成全景图像，实现无缝连接，并对全景图像进行粒度、粒形分析，保证了颗粒的代表性。

大气颗粒物监测激光雷达采用波长532nm线偏振激光对大气颗粒物进行遥感探测。雷达通过对532nm垂直和水平偏振信号的探测，解析大气消光系数、退偏振比廓线、边界层高度、光学厚度等参数，进而可获取大气颗粒物时空分布特征、污染层时空变化、颗粒物输送和沉降等信息。该产品获得中国气象局颁发的《气象专用技术装备使用许可证》。 功能特点：采用振镜扫描，避免雷达主体光机及探测器电子学系统振动；扫描振镜具备自动除尘、除湿、除雪功能，可适用于各种天气状况；采用单脉冲能量毫焦级固体激光器，重度污染条件下，具有较好的探测能力；系统拥有GIS地理信息系统，可图形化显示扫描区域颗粒物分布情况，排查污染排放源；系统具有停电自动关机，来电自动开机功能；激光器使用寿命长，可达16000小时； 产品应用：垂直扫描探测——反演距地面10km以内气溶胶颗粒物的空间分布信息以及时空演变特征。区域点源/面源扫描——开展对烟囱、锅炉、化工厂、电厂、水泥厂、交通主干道等重要的点源（含高架源）、线源进行定点定位扫描，主要获取源排放污染的强度。区域污染物分布扫描——实现对工业园区、居民生活区、厂区等敏感地带进行定量评估。走航监测扫描——采用“驻车扫描”或“走航定向观测”的工作方式，对区域上空污染团的输入、过境、沉降过程进行实时、在线、连续扫描监测，分析污染物的类型、强度以及演变过程。

颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1 产品概述 粒子扫描系统 MP-C1（彩色摄影机）是专为塑料聚合物工业开发的，也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模生产时，产品质量是决定性因数。材料无缺陷不仅是一个美学问题，在多数情况下还是一个绝对的品质要求。对于聚合物工业公司来看，生产出最高质量的产品意味着超越他人的高竞争力与高效率。运用当今最新的科技发展成果，我们设计出简单易用的，建立在光学记录和处理基础上的自动质量控制系统。他更加快捷准确并节约劳动力。为了发现并消除生产某种缺陷的原因。必须要掌握最精确的第一手资料。这就是需要准确和持续地获得关于特定缺陷的颜色，尺寸，出现频率等方面的详细资料。MP-C1 可以检测透明和不透明粒子，由 3-CCD 彩色摄影机获得的影像由图形处理器通过特定的软件加以处理和评估。此软件提供了多种层面的调节选项，使得用户可以完全可以按单独的要求进行系统配置。对于污点和异物颗粒（同纯净无污染材料颜色不同）的检测。可以通过教学工具对色度差异进行分级。检查过程可以经由显示器观察，可见的缺陷被标记出并标注索引，特别重要的图形可储存。测验结果可以通过多种图表和表格表示，并有彩色打印机打印。数据，软件的调整，检测时间和持续时间均易获得，可方便日后评估和长期评估。此系统可通过现成的软件界面被集成到任何内部数据处理系统中，例如经由以太网。该系统也易于维护，其中含一个全自动的自清洁单元，它可以在不同的可调节的间隔清洁粒子进料器和光学检测舱。1，产品的引文完全自动化快捷的粒子扫描系统 MP-C1（彩色摄影机），可以对实验室产品颗粒进行质量检测以及生产线产品质量的流程控制。 2，设备说明20 微米到 200 微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理出 2 公斤甚至到 60 公斤重的透明和不透明的粒子，当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料。以下是摄像机的规格与处理量比较（20um: 1-3kg/h；40um：2-6kg/h；60um：6-12kg/h等）。你们可以针对配置规格来选者贵公司所需要得摄影机。针对 MP-C1这一款的粒子扫描系统，我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在 40 微米的标准开始，在测试 80 微米，然后120 微米到最后 200 微米等10个规格(客户也可以自定义）。根据测量结果我们得到以下一组数据，并作为技术参数。 3，仪器的组成部分-机械的共鸣感应装置-摄像机等的配置：USB 3 CMOS resolution：1600x1200，60f/s；-像素尺寸：pixel size 4.5um；-光学配置：Color calibration module；-PC控制电脑的模拟器，硬件设备:SDD SanDisk UltraII SDSSDHII-120G-G25；HDD Western Digital Blue WD10EZEX 1TB Motherboard Gigabyte GA-Z97X-UD3H GB DDR3-RAM处理器Processor：Intel Core i7 i7-4790K Quad Core 4x4.0 GHZ 电源：Coolermaster G750M 750W - 软件操作系统：Windows& (or higher). Powered by Mishell@- 整套电路的连接 - 17 寸大的显示屏（辐射小），监控器设备- 键盘，鼠标- 各种硬件软件的解读文件 主要的技术资料 芯片彩色摄影机设定摄影机的像素： 1600x1200像素,60f/s, Pixel size 4.5um检测精度： 20um起光学尺寸： USB 3 CMOS 影像传送率： 60f/s功率的消耗量： 18W适宜的工作环境温度： 15到 40 oC设备尺寸： 50 x 60 x 50cm重量： 32kg灯光的配件 ： LED 强光源 常规下的理论 当选定分辨率在 20 微米的标准摄影机，可以准确快捷的获取生产流程中微粒的影像，从而计算出产品的总质量（杂物分类统计）。对于这种规格的摄影机而言每小时检测出的总处理量可达到 2 公斤到 60 公斤不等 。同时也取决于产品本身的材料和规格性能。带有图像处理器的高效率的瞬时捕捉实时图像处理电脑的尺寸： 19 寸长 4HE主体部分的尺寸： 500*600*500* mm3 (长*宽*高)电压/功率： 约在 230V/110V 380VA重量： 约在 32公斤 颗粒杂质和形状扫描仪二合一：现场安装调试图：

颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1产品视频参考：Morphious V1 （MP-V1）颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器 系统采用一个料斗将被测试的样品归集到测试振动台上，以便将这些小颗粒分散并做自由落体运动。当它们做自由落体时，使用CCD摄像机捕捉这些小颗粒的细节（形态测量）。 结合专业的分析软件将品控的质量关键点 Critical to Quality(CTQ)参数展示在操作员面前。用户可自行定义各种各样的标准，用以区分特殊定义的颗粒特性。系统可运行检测的吞吐量大约为50Kg/h。这意味着将有大量的数据需要运算分析处理。数据将被存贮在特定的数据库中，且易于被调用和检索。用户可定义各种各样的相关参数处方，用以对相应的产品进行质量控制。系统可提供无限的图形化可能性来表征颗粒的质量。检测到各种瑕疵，它们的分布和数量可以通过一张二维正态分布图展现。这个处理过程有助于将各种不同缺陷分类呈现出来（如外形凸起的，聚集在一起的，含有污物的，片状的，碎片状的，破损的），如造粒工序中遇到的情况（如颗粒相互粘连，两粒合并，三粒合并等）挤出熔体不佳情况（如鱼纹，细粉等），部分降温过程中出现的空洞（如面条状，空心状，狗骨头状，细末，细粉等。如下图中所列出的实例所示：）分布图显示了颗粒的一致性状况。相对于早起陈旧的筛选方法，它能展现更多的细节，以供生产者能直观地进行产品质量控制，并快速建立起工艺改进方案，改善颗粒的一致性。运行性能 采用模块化结构 可扩展性，易于适配级升级 定制界面 Windows操作界面易于依据客户定制 最佳的照明技术 采用特殊的照明技术，从而避免在颗粒检测分析过程中出现的各种色差问题 实时图像画面 迅速地运算评估，分析以及采用多种不同的格式反应监测结果：以大小划分的表格视图，时间演化趋势，Mosaic图片，柱状图，分布图等 表格视图 依据形状，大小、直径，延伸率，圆度，粗糙度，以及/或凸面度来展现Mosaic图片视图 连续不断地显示变化的实时图片 展示图形特点 展示依据大小、形状等设定重新分布的图形 时间演化 Time evolution 展示依据时间演化设定重新分布的图形特征 同步处理 检测系统和扩展仪表相互联通交换处理信息 外部扩展应用接口 报警接口，数字补偿功能等 开放的数据库 以协议化生成的数据可轻松便捷完整地转化为通用的数据格式（MS Access，Excel等） 技术资料 摄像机： CCD线性扫描传感器4096 Pixel 160 MHz光源： 具备白色光谱的高频同步荧光灯 电源功率：32W主机： 工控机Intel®Core™ 2 Duo，采用最新的主流硬件配置软件： Windows XP 操作系统，定制图像处理软件系统接口： Ethernet 10/100 M Base T,USB,RS 485，RS,232,数字&模拟1/0,Fieldbus通信协议： MODBUS RTU,MODBUS TCP/IP,OPC,SQL，文件转换（定制），可将PROFIBUS转换为其他现场总线系统远程控制： 最大扩展100m，远程协助、维修诊断尺寸大小： 100×50×50cm(l,w,h)处理量： Up to 50Kg/h电源电压： 230V AC/115V AC,50/60 Hz运行温度： 10-40℃

一、仪器名称：颗粒沉降扫描仪二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-PFS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro公司的颗粒沉降扫描仪用于检测超净间环境中的颗粒度及颗粒沉降速率，该设备可以提供秒级颗粒沉降速率连续监测，最小可监测颗粒尺寸为0.5μm，该设备具有连续快速检测、兼容工业和科研环境、具有易于操作、高分辨检测（数量、位置、尺寸）、检测重复性好等特点。 四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数测量速度秒级连续表面颗粒沉降监测；数据输出颗粒增量水平监测；颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；操作操作简单；测量范围最小可检测0.5μm大小PSL颗粒基座直径50mm标准晶圆直径25mm适用范围真空和大气环境产品尺寸（长*宽*高）405mm*183mm209mm六、应用案例

冠测仪器颗粒图像扫描其它物性测试ZKFT1600ZKFT-1600图像颗粒分析仪包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。 ZKFT-1600直观、形象、准确特点，它是将微米级以上的颗粒放大几十、数百乃至上千倍，将整个颗粒形状显示在人们的眼前，使人一目了然。它不仅能看到颗粒，还能通过“尺子”来量每一个颗粒的大小，并通过图像处理技术得到所有颗粒的直径，进而得到粒度分布、平均长径比以及长径比分布等。ZKFT-1600为粉体材料的科研、生产和应用领域增添了一种直观、简便、准确的粒度粒形测试手段。

某些应用对材料的纯净度要求很高，如超高压电缆料或光学用途的树脂原料，传统肉眼人工检测的方式无法进行大量可重复的样品测试，OCS的PS800C正是迎合了这种需求而开发出的针对树脂粒子中的杂质和污染物的高速扫描及分拣系统，依材料不同，最大处理量可达1000公斤/小时。PS800C用于对透明和半透明粒子进行杂质检测和分析，尤其适用于高透明度粒子。树脂粒子在自由落体状态下通过2台3-CCD彩色线扫描摄像机和光源系统，可以检测出不纯物、异物以及色差粒子。PS800C的另一个重要功能是确定不同颜色塑料粒子的混合比例，对于色母粒或共混改性厂家而言这是个基本需求。功能s 污染/杂质检测 s 污染粒子分拣s 混合物的浓度检测

SP-BS-1908 型杂质黑点检测仪 用途Application按相关国家标准分析树脂片或颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比数。This equipment evaluates the number and size of blackspot,as well as the ratio of blackspot in beads,for resin sheet or pelletin accordance with relevant industry standard or code.适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。Applicable for inspection and analysis for transparent or semitransparent or even opaque materials,such as PP,PE,PVC,PPS，etc.也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。Also can be used to detect and analyze black spots or defects of inner quality in transparent film. 技术指标Specifications1. 测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。2. 最小检测目标： 0.1mm3. 检测精度： 小于0.035mm4. 检测面积：不小于200×200mm5. 器皿大小：200mm×200mm 净面积，用于颗粒黑点检测。6. 放大倍数：20 倍7. 光密度:不小于6000 流明8. 光源要求: 24V/60W9. 供电电源：220V,50HZ10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm) 仪器功能特点1. 测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。 SP-BS-1908 型 黑点检测仪Detects the size and quantity of blackspot,as well as the ratio of BS in beads.2. 可提供黑点、损坏颗粒，以及膜片质地纹路的分布图谱。Provides mapping of blackspots or inner quality,as well as the defected bead.3. 黑点或膜片质地分布可放大和缩小。Ability to zoom in and out to view blackspot or striation in sample. Showing in detail the texture shape of it.4. 被测目标可分类计数和统计。Counting and classification of the targets being measured.5. 按适用的标准自动生成检测报告。Automatically generates Inspection Report based on different standard or code.6. 报告和图谱可打印可储存。Report and Mapping is printable or can be saved.7. 进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。Sample feeding direction is same as the moving direction of display on the computer screen with friendly interface design.8. 颗粒以透明器皿为载体，批次检测。Bead is inspected by using transparent tray in batch.9. 透明薄膜直接平铺在检测平台上进行检测，无需对薄膜作黑化或贴纸处理。Transparent film is directly spread on the inspection platform for detecting,without any pretreatment by blackening or paperback stick process. 仪器的配置☆ SP-BS-1908M 杂质黑点检测仪Type of SP-BS-1908 Blackspot Detector. ☆ 标准板Standard Plate for Calibration.☆ 透明器皿 (测颗粒用) Transparent tray （ be used for bead inspection）☆电脑工作站Working Station of Computer.☆ 应用软件 Application Software.

法国泰克利斯(TECLIS)高温泡沫分析仪(泡沫扫描仪) FOAMSCAN HTMP设计用于表征通过多孔介质将气 体注入液体而产生的泡沫的特性，如起泡性和稳定性，泡沫尺寸和分布等。温度最高可达120°C，压力最高可达8bar。— 注入气体类型：空气，氮气，氧气，二氧化碳......— 测量泡沫体积、液体体积、液体分数— 最高温度120℃（选配加热循环器），最大压力8bar— 配备三壁圆柱形玻璃管，用于温度和压力控制— 配备自动清洗系统— 配有流量计，流量范围100-5000ml/mn— 配备CCD摄像机(USB2, 744x480, 76fps)， 2.9/8.2mm焦距— 配有保护罩，避免测量时的光污染， 并保护仪器不受灰尘影响 法国泰克利斯(TECLIS)高温泡沫分析仪(泡沫扫描仪) FOAMSCAN HTMP配备带电极的三壁圆柱形玻璃管：— 泡沫特性测量，最高温度 120°C，最大压力8bar— 测量管内泡沫的温度由PT100传感器检测— 测量泡沫体积、液体体积、液体分数— 不能与异丙醇、甲醇、二甲苯、苯、癸烷、己烷、萘等溶剂一起使用仪器构造及工作原理： FOAMSCAN泡沫分析仪采用鼓气法生成泡沫：软件控制气体流量，将气体注入到液体中，产生泡沫，通过CCD照相机实时跟踪分析泡沫图像得到真实的泡沫体积，液体体积等，结果可以保存为照片或录像。FOAMSCAN HTMP的特点：1、采用光学泡沫检测系统，结果准确可靠2、提供三层夹套泡沫样品管，确保整个测试过程的安全3、温度范围：室温~120℃4、全自动测量，清洗功能（可选）FOAMSCAN软件：— 测量参数、数据采集、存储、分析和显示100%由软件控制— 控制和监测实验参数：气体流速、压力、时间— 实时测量和显示：温度，泡沫体积(通过图像分析)和液体体积或液体分数(通过电极的电导率)— 计算：液体分数(排水)，泡沫密度/稳定性，气泡大小和分布分析— 泡沫形成过程中的计算：发泡能力，Bikerman指数— 自发泡停止后计算：发泡能力、Bikerman指数、膨胀系数、电导、泡沫最大密度、泡沫稳定指数— 数据保存(图和数值)，现有文件的调用，结果的比较— 数据输出（如.EXCEL）FOAMSCAN HTMP直接测量获取的数据：|| 泡沫体积|| 液体体积|| 泡沫含水量|| 气体流量|| 温度|| 压力|| 泡沫电导 FOAMSCAN HTMP通过数据计算获取的数据：|| 气体体积|| 起泡能力|| 泡沫稳定性|| 泡沫中液体稳定性|| 泡沫密度 技术规格：气体流量范围：500 ml/min 1000 ml/min 5000 ml/min （可根据应用选择不同量程流量/实际流速取决于温度和压力的设定条件)气体类型：空气、氮气、氧气，二氧化碳等最高工作温度：120℃最高工作压力：8bar 应用：|| 石油与天然气气体|| 压力和温度下泡沫的影响|| 表面活性剂在困难条件下产生泡沫的效率 (EOR)|| 压力下气体饱和的液体：啤酒、苏打水、香槟|| 剃须泡沫和加压泡沫

Pharmascan 治疗药物粒度分析扫描仪在未开启的容器内部进行颗粒表征的解决方案● 快速分析● 透明粒子检测● 相对粒子计数● 浊度分析● 疫苗佐剂表征● 质量控制Pharmascan 治疗药物粒度分析扫描仪容器和孔板成像：● 任何透明容器● 适用于6孔至1536孔的孔板● 粒子可视化● 粒子计数● 聚合研究● 浊度测量● 冻干饼的可视化● 人血浆中的药物聚集研究

大气颗粒物监测激光雷达（3D微脉冲系列）可以捕获颗粒物跨界传输的高度、强度和种类；采用“云台”扫描方式，可以 探测区域污染物水平分布特征；通过搭载移动平台，采用“垂直扫观测和扫描观测”交替的方式，能够对空气自动站（国控点或市控点）异常值进行快速溯源，有效保障国控点或市控点的数据考核。该产品已获得中国气象局颁发的《气象专用技术装备使用许可证》。产品特点：1、零盲区：双望远镜设计，兼顾远、近场信号，真正实现零盲区探测；2、智溯源：一体化同步影像系统，气象信息、位置信息及图像信息协同展示；3、全天候：主机外壳采用碳纤维材质、全密封一体化设计，整机IP66防护等级，支持沙尘雨雪等恶劣天气下全天候自动观测；4、多场景：高集成、便携式，满足室内外、车载、船载、组网等多种应用场景。典型应用：1、探测大气气溶胶的垂直及水平分布特征；2、支撑沙尘等极端天气传输过程分析，提前预警；3、清晰掌握边界层、云等气象要素垂直分布和时空演变特征；4、激光雷达组网联用分析，增强区域污染防控及气象服务保障能力。

简介该产品通过大气颗粒物监测激光雷达分析粒子的消光特性和偏振特性，从而分辨颗粒物的时空分布并实现沙尘、云、局地污染物的识别。实现非球形粒子（扬沙、沙尘暴监测）与球形粒子（二次颗粒物）的定性识别。通过不同放置方式，可用于区分污染物来源及分布。垂直放置时，可用于判断是否有外源性污染输入，水平扫描时，可精准定位污染排放源的具体位置，从而达到准确溯源区域内污染排放源的目的。产品特点● “双波长三通道设计”，探测粒径可达纳米量级，有效判别颗粒物种类和来源；　　● 毫焦级激光光源设计，单脉冲能量高，重污染天气下可保证10km的探测高度。

SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪&bull 仪器简介 扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，固定式由DMA+CPC5.414组成检测系统，移动式由DMA+CPC5.403组成检测系统，用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失，根据实验需求不同，有两种长度的电极。DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，切割头将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数.&bull 仪器应用&bull 基础气溶胶研究&bull 吸入和暴露研究&bull 环境和气候研究&bull NP增长&bull 凝结及迁移率研究&bull 过滤检测&bull 发动机排放研究&bull 工作场所检测&bull 类型类型型号总高度mm电极长度mm3.0L/min鞘气时粒径范围 nm20L/min鞘气时粒径范围L-DMA55-90049235011-11104.2-247M-DMA55-340230885.4-3582.1-103&bull 性能参数&bull 粒径范围5.4 ~ 358 nm (M-DMA)；11 ~ 1110 nm (L-DMA)&bull 粒径分辨率标准44通道，可优化为255通道，对数间隔&bull 气体流速样品气：0.3 L/min；鞘气体：3.0 L/min&bull 工作流体：1-丁醇，超级纯 液体除去：微泵连续&bull 通讯方式RS-232、ASCII存储卡&bull 环境温度10~35℃&bull 环境湿度0~95%&bull 压力环境压力±50mbar&bull 电源85-264VAC/47-440Hz

U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪适用于高气溶胶浓度的Palas 通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两种版本。 U-SMPS带有短分类柱（1700型），特别适合2-400 nm范围内的极高精度粒度分布测量。Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器（DEMC），也称为差动迁移率分析仪（DMA）]，根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后，在下游的Charme 气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是，这种方法需要很高的成本。因此，其适用性被限制于高气溶胶浓度（例如，燃烧过程或颗粒发生器的下游）。可以通过物理参数直接追溯每时间单位（流量）的电荷测量值。其结果是，此方法主要用作凝结粒子计数器（例如UF-CPC）校准期间的参考。U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描，或者在多达128个尺寸通道中执行扫描，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（丰富的统计和平均值计算）和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并在内部组装。U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪优点2至400 nm粒径分布连续和快速扫描的测量原理高分辨率，多达128个分类器/衰减适用于高达10^8颗粒/立方厘米的浓度通用连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器图形显示测量值直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI集成数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪应用领域过滤测试气溶胶研究吸入实验工作场所测量

PLD-MPCS系列显微镜颗粒分析系统是应用在汽车零部件、航空航天、液压润滑行业颗粒度检测的专业性分析测试仪器，具有专业性强，分析性能优异、标准模块多、测量项目全等功能，测定结果可追溯等优势。普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌；辨别颗粒材料性质分析粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径分布等；直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；正偏光显微测试可以准确判别颗粒的金属非金属特性；避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；现实NAS、ISO等国际标准方法的认可；属于科研级别的新型的粒度测试手段；系统组成该系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括：正置式偏振光光学显微镜数字500万级别以上的CCD摄像头全自动0.1微米级别的载物台图像处理与分析软件电脑和打印机等部分组成；将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；显示器及打印机输出分析结果；系统优点检测颗粒≥1um自动测量并计算出单个颗粒的面积、宽度、内切圆、分布、数量、大小、平均长径比以及长径分布等尺寸高精度XYZ三轴自动扫描台，可执行自动聚焦功能高分辨率专用数字采集系统500万级别以上CCD摄像头单张滤膜检测及5μm以上颗粒的扫描时间和评价时间最小1分钟自动调节光强、自动聚焦、多视场自动扫描、自动采集图像、自动颗粒统计分析自动辨别金属颗粒、非金属颗粒自动查询最大颗粒的粒径和数量在硬件支持条件下软件终身免费升级服务测试部件发动机及传动系统 (阀体，凸轮轴，曲轴，变速箱， 车轮等部件)液压元件 (ABS，ESP，转向系统等部件)油路供给系统 (阀体，管件，管路零部件等) 电子组件应用场合更加广泛，航空、航天、航海、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车、制造等领域进行固体颗粒污染度检测。 执行标准ISO 16232显微分析法确定微粒粒度和计数ISO 4406Hydraulic fluid power -- Fluids -- Method for coding the level of contamination by solid particlesGME7061 GM EUROPE ENGINEERING STANDARDSGMW 16037-2017 测定发动机和变速器部件清洁度的试验方法VOLVO STD107 Cleanliness of components and systemsVDA19 Technical cleanliness in assemblyJB/T 7858-95液压元件清洁度评定方法JB/T 6418-92分离机械清洁度测定方法JB/T 10223-2001工程机械液力变矩清洁度检测方法及指标JB/T 6002-1992涡轮增压器清洁度限值及测定方法JB/T 7661-2004柴油机油泵油嘴产品清洁度限值及测定方法JB 4072.3—85汽车清洁度工作导则　人、物和环境JB/T 6014－2000柴油机高压油管组件技术条件GB/T 3821-2005中小功率内燃机清洁度检测方法JB/T 5243-2005(代替JB/T 5243-1991)收获机械传动箱清洁度测定方法JB/T 7316-2005(代替JB/T 7316-1994)谷物联合收割机液压系统试验方法JB/T 9774-2005(代替JB/T 9774-1999)中小功率内燃机清洁度检测限值JB/T 6014-2000柴油机高压油管组件技术条件JB/T 8122-1999柴油机柴油滤清器试验方法DL 432-92油中颗粒污染度测量方法GB/T 20110- 2006液压传动零件和元件的清洁度与污染物的收集、分析和数据报告JB/T 9739.1-2000汽车起重机和轮胎起重机用平衡阀GB/T 10079-1988全封闭活塞式制冷压缩机GB/T 13342一92船用往复式液压缸通用技术条件QCn 29034-1991中华人民共和国汽车行业标准汽车燃油箱技术JB/T 9058-1999制冷设备清洁度测定方法EQ153汽车零件及总成清洁度检查方法EQY-11 汽车零件清洁度测定方法JB4072 汽车清洁度工作导则16233——康明斯B系列发动机零部件的清洁度检查方法参数阐述型号：PLD-MPCS2.0~10.0仪器性能：测试范围: 1-500μm系统放大倍数：40～l000X倍zui大分辨率：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：300万像素标尺刻度：0.1μm分析项目：粒度分布、长径分布、圆形度分布等自动分割速度： 1秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 2000、Windows XP接口方式：RS232或USB方式

产品简介：药典不溶性微粒显微镜计数系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；符合中国药典规范附录0903不溶性微粒检查法第二法(显微计数法)。该系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统，该系统包括光学显微镜、数字 CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成；不仅可以观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。产品优势：测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；专业软件控制分析过程，手动对焦，手动光强（颗粒清洁度测试必须人为干预进行），自动扫描，自动摄入，自动分析；专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接，数字化显微镜分析系统；R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；显示器及打印机输出分析结果；直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；现实NAS、ISO等国际标准方法的认可；提供“OIL17服务星”签约式服务； 应用范围：医药行业：溶液型注射液、注射用无菌粉末、注射用浓溶液、供静脉注射用无菌原料药、滴眼液、疫苗、注射用水、医药包材、输液器具等的大小及数量检测；输液终端过滤器滤除效果及其他微粒污染滤除率检测等；水行业：水溶液、回注水、污水、自来水、纯净水、高纯水、电子级水、超纯水等液体进行固体颗粒污染度检测或不溶性微粒的检测；电子半导体行业：CMP Slurry，石墨、芯片，晶圆加工等微粒检测；特殊化工行业：墨水&喷墨、纳米材料、化工染料、润滑剂、清洗剂、有机液等微粒检测；石化行业：航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、工程机械、液压系统等领域；其他行业：过滤产品，清洁度方面，食品饮料，化妆品等微粒检测。执行标准：GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法美国药典USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27；欧洲药典EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0；英国药典BP2013、BP2012、2010、2009；日本药典JP16、JP15、JP14；印度药典IP2010版；WHO国际药典IntPh第五版；中国药典2015&2020版；GB8368输液器具；ISO21510；ISO11171等。0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率满足510多个标准要求。可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。技术参数：订制要求：各类液体检测要求；测试范围: 1μm-500μm放大倍数：40X～l000X倍分辨：0.1μm显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）重复性误差： 5%（不包含样品制备因素造成的误差）数字摄像头(CCD)：300万像素标尺刻度：0.1μm分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度： 1秒分割成功率： 93%软件运行环境：Windows 2000、Windows XP接口方式：RS232或USB方式精 确 度：±3% 典型值；重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；分 辨 率：95%（按中国药典2020版校准）；10% （按美国药典、ISO21501校准）鉴定机构：西北计量测试中心（民品）售后服务：普洛帝服务中心/普研检测。

产品简介室内宽范围气溶胶光谱仪组合两种粒子计数和分类技术:扫描迁移率粒度仪(SMPS+C用于纳米颗粒的丁醇缩合粒子计数器便携式光学气溶胶光谱仪(11-D)为尘埃颗粒。该系统可用于精确和高分辨率测量整个粒度范围从5 nm到35 μm的31个尺寸通道，用于11-D和用户可选择SMPS+C的通道数。该系统操作简单，适用于各种场合气溶胶的研究。测量原理DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，喷嘴将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的鞘气与样气气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数。仪器特征实时监测整个粒径范围在低浓度和高浓度下，CPC和OPC具有高精度极好的计数统计和再现性低扩散损耗自检所有光学和气动元件为高质量标准仪器参数安全，防止数据丢失应用监测超细颗粒和粉尘N气溶胶科学N工作场所监控

Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪 行业需求塑料原材料（树脂、粉末）中如果夹杂不同的颜色，可能会对下游客户带来伤害，现在越来越多的下游加工用户对上游供应商提出产品外观的需求，比如黄色指数、黑点、黑斑粒、色粒、大小粒、拖尾、连粒等都必须达到一定的要求。 对于一些高端客户或透明的、白色的产品客户来说，原料里的杂色多少将非常影响生产工艺和最终产品的品质。把这些瑕疵挑出来，分析原因，优化工艺，并在生产环节中增添相关设备来剔除瑕疵，是高品质用户的一致需求。 在全球最新光学、影像学和图形分析数学模型的基础上，我们的产品生来就具备了先进性，自动化和准确性成为了基础，更简单的操作和更多的功能成为了客户选择的原因。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪描述 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪是对粉末或粒子进行检测分析后统计杂色和异形数量级分布的系统，从大量的产品中实时检测不同颜色及形状的杂质，同时通过报告的形式向用户提供各种杂质尺寸和颜色信息等。 一套Calpas系统可以检测的项目包括： 1、粉末（例：PVC）中的杂质； 2、粒子（例：PP、PE、ABS）中的杂质，包括黑点、异色； 3、粉末和粒子外的纤维杂质，外来杂质； 4、高透或高反射粒子（例：PC/PMMA）中的黑点、异色、凝胶点等； 5、粒子自身的尺寸和形状。 Calpas杂质扫描检测仪组成主要包括：高性能高速相机（CCD或用户指定）；照明强度可调的粒子专用4光源阴影辅助照明系统（产品的透明度不同，粒径不同，光源照明有多种选择）；进料速度可调的三维振动进料系统；可同时分析杂质颜色尺寸以及粒子自身尺寸及形状的分析软件。 该系统还可选配杂质自动分拣装置，进料轨道自动清洁装置，整机防尘装置等，如用户有特殊应用需求，可进行量身定做，一切以满足用户检测需求为最终目的。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪操作简便，软件界面友好，一键式全自动操作即可自动进料、检测、生成检测报告，软件可安装于普通家用电脑，检测过程噪音小，速度快，重复性高，配备Calpas标准板用来对仪器检测尺寸数据定期校准。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪的主要特点：1. 一台机同时测量黑点、杂色、异形等各种功能；2. 样品平铺滚动经过，非常快速；3. 能自定义多种杂质并命名；4. 高性能的高速相机；5. 照明亮度可调；6. 噪音低；7. 可调节产品供给速度和供给量的自动产品供给装置；8. 对检测出的杂质进行实时分析，自动登入杂质画面储存窗口，分析各种杂质信息。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪产品性能：1. 高速图像分析：500g粉末/3分钟；1kg颗粒/2分钟。2. 测量范围：50~30,000μm，用户自定义可分不同尺寸等级。3. 照明：根据阁下样品特点选择不同的照明条件，比如中心LED照明（粉末产品），方形LED照明（粒子产品），特殊照明（高透粒子）等，照明强度可手动调节。4. 进料系统：三维进料系统，可通过调节振动幅度及进料高度来调节进料速度。5. 报告：自动生成产品检测报告，显示杂质粒子异形、异色以及瑕疵点尺寸信息，杂质图片。6. 性能：STD＜1%（粉末）；STD＜5%（颗粒） ISO14484

Powdershape是一个用于表征粉末以及各种颗粒样品的图像分析系统,专门为质量检测所开发。它具有众多独有特点、简单的用户界面、以及从样品准备到获得打印报告的快速分析测量过程。测量范围 2.5 µ m to 3 cm.Powdershape有六种配置型号:Powdershape MF (middle format) &ndash 具有较大的样品接触面和高分辨率Powdershape MF包括一个中等性能的扫描仪，一台笔记本电脑和Powdershape图像分析软件。 可以测量20 µ m-5mm粒径范围的样品Powdershape Aqua - 用于液体中颗粒的形状和大小表征Powdershape Aqua 包括一个运送专门为液体样品的设计的样品皿的样品输送器，一个专门A4扫描仪、一台笔记本电脑和Powdershape图像分析软件。 可以测量30 µ m-3cm粒径范围的样品.Powdershape Automatic &ndash 采用自动进样器将样品输送到扫描仪。（样品进样器：瑞士专利） Powdershape Automatic包括一个专门A4扫描仪、一个自动样品输送器、一台笔记本电脑和Powdershape图像分析软件。可以测量30 µ m-3cm粒径范围的样品（最大20cm碎片）Powdershape Standard &ndash 样品用手动方式进样Powdershape Standard一个专门A4扫描仪、一台笔记本电脑和Powdershape图像分析软件。可以测量20 µ m-3cm粒径范围的样品. （最大20cm碎片） Powdershape LightPowdershape Light 包括一个高分辨率的薄膜扫描仪（透射模式）、一个数字显微镜、一个笔记本电脑和Powdershape Light软件。可以测量2.5 µ m-1mm粒径范围的样品. Powdershape粉末颗粒图像分析仪的主要用途(样品)为：粉末细粒颗粒药品(粉粒)沙子团聚物作物谷粒Powdershape粉末颗粒图像分析仪的主要分析参数为：颗粒大小最大尺寸最小尺寸椭圆度凸起度颜色 分析测量快速方便、报告一键生成样品准备简单迅速（干湿均可）结果一致性和重现性高极高的性价比是质量检验的一种可靠而快速的工业化方法 如下您可看到Powdershape系统分析的不同颗粒样品的图像结果沙子沙子样品.应用: 沙子颗粒的尺寸分布参数: 粒度沙子粒度分布图.WC-Co 钨钴合金WC-Co 样品.应用: 碳化钨-钴复合粉 颗粒粒度分布参数: 粒度WC-Co 粒度分布纳米颗粒纳米颗粒样品.应用:纳米颗粒粒度分布参数: 粒度纳米颗粒粒度分布柱状图.高长径比颗粒(石膏)石膏样品.应用: 高长径比颗粒的粒度分布和长度参数: 厚度, 长度, 长径比 (计算) 石膏颗粒的直径柱状图.石膏颗粒长度柱状图SEM扫描电镜获取的高长径比颗粒SEM 棒状样品.应用: 高长径比颗粒的尺寸分布和长度参数: 直径, 长度, 长径比 (计算) 棒状样品的直径柱状图.棒状样品的长度柱状图.

仪器简介：PIP9.1型颗粒图像处理仪是用显微镜放大颗粒，然后通过数字摄像机和计算机数字图像处理技术分析颗粒大小和形貌的仪器，能给出不同等效原理（如等面积圆、等效短径等）的粒度分布，能直接观察颗粒分散状况、粉体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等，并增加了详细的圆度分析功能，是其他粒度测试方法的非常有用的辅助工具，是我国现行金刚石微粉粒度测量标准的推荐仪器。适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。 PIP9.1型比PIP8.1型最主要的进步是增加了圆度分布的测量功能，其次是实现了自动调焦、自动扫描视场功能。技术参数：PIP9.1型颗粒图像处理仪 1. 测试范围：0.5-3000&mu m 2. 重复性误差：3% 3. 输出项目：粒度分布表、粒度分布曲线、圆度分布表、圆度分布曲线、平均粒径、中位径、边界粒径、比表面积、平均圆度、圆度范围、分段平均圆度、典型颗粒图形等主要特点：PIP9.1型颗粒图像处理仪 1. 采用日本进口的奥林巴斯生物显微镜，配以130万像素CMOS图像传感器，图像分辨率极大提高。 2. 自动扫描视场，避免重复扫描或遗漏扫描，取样代表性强。 3. 自动调整视场照度，自动对焦，省却人工调整步骤，降低了操作强度，减少了人为因素对结果的影响。 4. 采用USB2.0数据接口，与微机的兼容性更强。 5. 可保存单颗颗粒图像。 6. 详细的圆度分析功能。

MetraSCAN 3D可帮助操作人员更好地管理生产过程，更快速地满足制造业对质量控制 (QC) 的更高要求，同时丝毫不会影响生产效率。MetraSCAN 3D 光学 CMM 的测量范围可以扩展，测量速度惊人，且对复杂材料的数据采集能力令人惊叹，是市场上极为全面的计量级 3D 扫描仪。它还配备可配对兼容的探测系统供用户选择。在车间环境中实现真正的质量控制。功能特点新增功能：精度提高 1.5 倍采用多条激光十字线，速度提高 12 倍重量减轻 25%可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围大范围增加设计结实耐用，确保车间硬件使用的可靠性具有多功能按钮，与软件交互更为简便TRUACCURACY计量级测量：有极高的精度和分辨率，更有较高的重复性及可追踪认证动态参考：通过光学反射器创建一个“锁定”到部件本身的参照系，用户因而可以在测量过程中随意移动对象有极高的体积精度可精确测量多种部件尺寸现场校准步骤简便，精度不受时间影响TRUPORTABILITY无需固定设置：测量过程中可随时自由移动部件和系统多功能 3D 扫描：可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围更宽广并易于扩展自动对齐：借助光学反射器可实现重复检测而无需重新对齐新增 HandyPROBE Next，有多种探测功能可供用户选择具有多功能按钮，与软件交互更为简便学习周期短，操作直观速度市场上扫描速度快的 3D 扫描仪：比上一代产品快 12 倍测量速度在所有激光扫描仪中位居前列自动网格输出：即用型文件，采集完成后立即可用快速的工作流集成：从物理对象到设计或检测工作流的快捷途径TRUSIMPLICITY便于在车间环境中使用轻质：重量在 1.38 kg 以下便携式 CMM：可轻松进入部件所在的任何位置无臂式光学扫描系统 应用：检测和质量控制件至 CAD 分析首件和供应商质量检测针对 3D 模型与原始部件或生产工具的一致性评估针对制成部件与原始部件的一致性评估对齐工具认证多点测量与 MetraSCAN 3D 结合使用时，可实现全自由形态检测并生成高密度色图。逆向工程几何实体的逆向工程（球面、柱面、平面）与 MetraSCAN 3D 光学 CMM 扫描仪结合使用时，可对混合部件（几何与自由形态）执行更快更精确的逆向工程合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

颗粒清洁度检测仪产品简介 德国RJL（安捷莱）实验室开发了用于颗粒提取后清洁度分析的创新方法。我们为您的实际应用订制专业务实的解决方案。该颗粒清洁度检测仪特别适用于汽车行业金属零部件的清洁度分析。能在3分钟内完成对滤膜上粒子大小的分析。颗粒清洁度检测仪应用领域： 在汽车制造领域，大量零部件在图纸上对清洁度有详细要求，并且要求对残留物颗粒进行全面分析和判定。 以下为汽车需要使用滤膜分析法进行检测的一些零部件： 发动机及传动系统 (阀体，凸轮轴，曲轴，变速箱， 车轮等部件)、液压元件 (ABS，ESP，转向系统等部件)、油路供给系统 (阀体，管件，管路零部件等)、电子组件。 对于汽轮机、航空、半导体、数据存储、医疗设备、通讯、精密仪表，大型工矿设备的磨损监测等同样适用。残留污染物典型外观测量范围符合标准 ISO-16232，ISO-4406，VDA-19等，具体的粒子的提取方法和必须用到的测量设备标准指引欢迎致电【400-680-8138】垂询。颗粒清洁度检测仪产品特点： 1、分析效率更高，创新的扫描法对整片滤膜上的颗粒进行分析，而非传统显微镜法的逐格取像后的合成、再分析，排除了合成的误差，并且把测试时间缩短到了3分钟内。 2、无需专业人员操作，简单3步可全自动完成测试； 3、符合ISO16232、VDA19 标准。产品配置MicroQuick 1001CA颗粒清洁度分析仪 高分辨率扫描仪(测试滤膜上颗粒的数量、尺寸大小、形状和光泽度)，平板反射扫描仪调制解调器，包括Windows计算机、用于颗粒分析和后期修正的软件，自动编译出检测报告的MicroReporterMicroReporter Series 4配套软件 该软件能够在Microsoft Excel中自动生成清洁度报告，颗粒图像库会显示最大的十个粒子，而且配有方便用户编辑的报告模板，符合VDA-19和ISO-16232标准。配套软件报告MicroMag微型显微镜(可选件) 微型显微镜可放大观察单个粒子，滤膜安装在滑动端口，且该微型显微镜的放大倍数可达200倍。MicroStandard标准滤膜(标准配置已包含此配件) 光刻微粒子标准滤膜—用于检查扫描仪的测量能力，包含用于自动校正的软件滤膜固定框(标准配置已包含此配件) 这是一个用于直接扫描滤膜的适配器，滤膜使用固定框装在一个6x6的载玻片上并置于扫描仪玻璃板，使之或更好地贴合扫描系统。行业用户案例

Micro CT-片剂、胶囊、肠溶颗粒三维结构扫描仪-布鲁克显微CT 德国布鲁克3D-XRM micro CT-SKYSCAN1272可用于药物研发、生产、检验和缺陷等分析，比如测定药片的孔隙率、微裂隙、药片力学性质、活性成分分布、包衣厚度，以及医疗器械的包装和封装完整性的检测。利用micro CT的无损、显微放大、可提供三维图像的优点，我们相信其在片剂开发和医疗器械的质量控制有着广泛的应用，可提高片剂开发和生产医疗器械的效率，可以帮助缩短研发的周期，节省大量时间和资金。 仪器介绍： 高分辨率桌面100 kV， 最大X射线能量- 10W高分辨率16 MP CCD 探测器(5000 x 2600 px)最小像素尺寸：0.35微米扫描直径70毫米(3 x 偏移相机)自动滤波器变换器 典型样品片剂、胶囊 制药 片剂分析（Tablet Analysis） • 孔隙和裂缝（Pores and cracks）• 包衣厚度（Coating thickness）• 有效成分分布（Distribution of active ingredients） 两种片剂内部微裂隙分析分辨率3 μm 肠溶颗粒（ Enteric Coated Granule ）• 肠溶衣（ an enteric coating ）是一种聚合物屏障，用于口服药物，以防止其在胃环境中溶解或解体• 包衣均匀非常重要，尤其是最外层• 用SKYSCAN 1272扫描样品• 50 kV，不加滤光片• 像素尺寸：0.45μm • 很容易区分三层结构（ The three layer structure ）和核心结构（ core structure ） 了解更多应用方向，请致电束蕴仪器（上海）有限公司~ Micro CT-片剂、胶囊、肠溶颗粒三维结构扫描仪-布鲁克显微CT

扫描电迁移率粒径谱仪 U-SMPS 气溶胶检测产品介绍：扫描电迁移率粒径谱仪 U-SMPS 气溶胶检通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道最多执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC列）之前经过调节。可选的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂（例如Kr 85）来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类机尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理然后，气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是，在此处应避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有ji高的质量。鞘空气是干燥的、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶的体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数，从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端具有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中，电压和电场连续变化。结果，迁移率变化的粒子离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如缩合粒子计数器）连续进行测量。在实际条件下，经过测试的软件为组合数据（电压、粒子数等）并获得粒度分布提供特殊的处理功能。3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈，我们已设计良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制，并可以显示测量数据和参数。此外，软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。产品优点：&bull 粒径分布从8 nm到1.2 μm&bull 连续和快速扫描的测量原理&bull 高分辨率，最多128个大小类/衰减&bull 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度&bull 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器&bull 图形显示测量值&bull 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI&bull 集成数据记录仪&bull 支持多种接口和远程访问&bull 低维护&bull 功能可靠&bull 减少您的运营费用应用领域：过滤测试；气溶胶研究；环境与气候研究；吸入实验；室内和工作场所测量规格参数：接口USB, LAN, WLAN, AUX, RS-232 (CPC only)测量范围（尺寸）8 – 1,200 nm尺寸通道高达256（128 /衰减）测量范围（浓度数值）0 – 108 个颗粒/立方厘米用户界面触摸屏，800&bull 480像素，7英寸（17.78厘米）数据记录仪存储4 GB软件PDAnalyze调整范围（电压）1 – 10.000 V(上下扫描 mö gich奇)体积流量（鞘空气）2.5 – 14升/分钟安装条件+10 – +30°C（其他按需提供，控制单元）气溶胶体积流量0,5 – 3升/分钟

集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪适用于8 ? 1200 nm的各种应用 图1：U-SMPS 2050X / 2100X / 2200X Palas 通用扫描迁移率粒径谱仪（U-SMPS）可提供两种版本。长分类柱（2050X / 2100X / 2200X 型号）可以确定 8 至 1200 nm 的粒径分布。该系列已经集成了 X 射线源作为中和器（参见图 1），代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。PalasU-SMPS 系统包括一个分类器 [ 在 ISO15900 中定义为电迁移率分级器（DEMC），也称为微分迁移率分析仪（DMA）]，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如 UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的 UF-CPC 型号可在各种浓度范围内实现更佳的单颗粒计数。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为 U-SMPS 的颗粒分布。U-SMPS 使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短 30 秒之内执行，并且每十进制多达 64 个尺寸通道。在扫描期间，DEMC 分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估（各种统计和平均值），以及导出功能。U-SMPS 通常作为独立设备运行，但也可以连接到计算机或使用各种接口（USB， LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接网络。 PalasU-SMPS 支持 DMA，CPC 和其他制造商的气溶胶静电计。 U-SMPS 对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要，尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并且必须内部组装。 图 2 给出了U-SMPS 的工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC）之前先经过调节。 选配的干燥器（例如硅胶，Na?on）可以去除颗粒中的水分。 双极中和剂（XRC 049）用于确保气溶胶电荷分布符合预定。 在 DEMC 的入口处需要一个撞击器以去除大于分类器尺寸范围的颗粒。 图 2：扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理。气溶胶通过 DEMC 柱的进样口导入，沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流，确保层流。电极的表面必须极其光滑和精准。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气（通常为空气），比气溶胶的体积大，且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率，从而决定尺寸分类器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电，末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会通过顶部小缝隙离开 DEMC。在操作中，电压产生的电场持续变化，使得不同迁移率的颗粒离开 DEMC，并由纳米粒子计数器（例如冷凝粒子计数器）连续测量计数（例如 PalasUF-CPC）。方便实用的软件提供多数据信息（如电压，粒子数等）并取得粒度分布数据，如图 3 所示。 图 3：PalasDNP3000 颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布。基于客户反馈优化过的用户界面和软件可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。 此外，通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络连接，该软件可以实现数据管理功能。 测量数据有多种形式显示和评估。 可用的系统：下面的文档介绍了 DEMC 和 Palas 提供的计数器的各种组合。其他制造商提供的大多数 DMA，CPC和气溶胶静电计都可以用作 U-SMPS 系统的组件。 优点：粒径分布范围为 8nm 至 1.2μm连续快速扫描测量原理高分辨率，最多 128 个尺寸通道 / 十进制适用于最高 108 颗粒 / cm3 的浓度跟其他制造商的 DMA 和纳米颗粒计数器通用图形显示测量结果7 英寸触摸屏和 GUI 直观操作内置数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用 应用领域：过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量 生产厂家：德国Palas

MFI 微流成像颗粒分析系统蛋白质药物（单抗、双抗、融合蛋白、ADC等等）易于形成可见或亚可见（在显微镜下可见）的聚集体，从而影响治疗效果，这种聚集体会损害注射药物的疗效。因此准确地检测和表征这种聚集非常重要。 MFI 微流成像颗粒分析系统将数字显微技术、微流体和图像处理技术整合成一个全自动分析颗粒或细胞的仪器。当样品流过检测区时，MFI会捕捉样品的镜像，镜像中的每个颗粒将被分析，生成关于颗粒的数量、尺寸、透明度、形态等方面的数据。也能用于实时分析颗粒的动态过程。形态分析软件还可用于分析特殊形态的颗粒，或者用于分离一些亚颗粒群体。符合美国FDA对定性和定量亚可见聚集体和颗粒的最新要求。询价或了解更多请拨打电话：021-52293200，接通后请直接按：631或 扫描下方二维码 询价或了解更多请拨打电话：021-52293200，接通后请直接按：631或 扫描下方二维码

低温强磁场原子力/磁力/扫描霍尔显微镜 - attoAFM/attoMFM/attoSHPM系统 纳米尺度下的磁学图像对于研究磁性材料和超导样品是非常重要的，利用attocube公司attoAFM/attoMFM/atoSHPM系统，科学家可以在无以伦比的空间分辨率（20nm）和磁场敏感性下分析样品磁性，工作温度从低温、强磁场到室温。attoAFM/attoMFM/attoSHPM采用模块化的设计。利用标配的控制器和样品扫描台，用户仅需要更换扫描头和对应的光学部件即可实现不同功能之间的切换。低温强磁场磁力显微镜 - attoMFM I系统 attoMFM I采用紧凑设计，其主要用于低温和低温环境中。在扫描时，探针是固定的，而进行样品扫描。样品与探针之间的磁力梯度由光纤干涉的模式，通过测量共振频率或相位变化而确定。 在实验过程中，样品和探针保持一定的距离，典型值为10-100nm。工作在共振频率模式时，PLL用于激发微悬臂，进行闭环扫描，实现高的空间分辨率（10.7nm，如下图）。attoMFM I特点与技术优势+ 工作模式：MFM、接触式/半接触式/非接触模式AFM、导电AFM、EFM+ 可升到SHPM、共聚焦显微镜、SNOM和STM+ 5X5X5mm粗定位范围，4K+ 30umX30um扫描范围，4K+ MFM高空间分辨率：好于11nm+ 变温范围：mK - 373K+ 兼容强磁场：可达15Tesla+ 兼容1"和2"孔径的磁体与恒温器，如Quantum Design-PPMS系统 + 其紧凑和可靠MFM扫描头设计+ 闭环式扫描模式+ 外置CCD，用于检测低温环境中样品的位置 + 用于超导体的vortex分布与定扎测量+ 磁性颗粒的局域场测量+ 磁化率和磁滞回线测量+ 超导、磁畴、材料科学研究attoMFM I技术参数+ 样品定位范围：5 X 5 X 5mm，4K+ 样品位移步长：0.05 -3um @ 300K， 10 -500nm @ 4K+ 扫描范围：40X40 um @300K；30X30 um @4K+ 磁场强度： 0 -15Tesla (取决于磁体）+ 变温范围：mK - 300K （取决于恒温器）+ 工作真空环境：1X10-6mbar - 1bar（He交换气氛） + MFM侧向分辨率：好于20nm+ RMS z-noise水平（4K）：0.05nm+ z bit分辨率（全范围内）：7.6pm+ z bit分辨率（扫描范围内）：0.12pm低温强磁场扫描霍尔显微镜- attoSHPM系统 attoSHPM采用紧凑设计，其主要用于低温和低温环境中。其探针是采用MBE生长的GaAs/AlGaAs霍尔传感器。局域测量通过霍尔探针在样品表面进行扫描而实现，将测得的霍尔电压进行转换，即可计算出局域磁场强度。attoSHPM特点与技术优势+ 可升到MFM、接触式/半接触式/非接触模式AFM、导电AFM、EFM、共聚焦显微镜、SNOM和STM+ 5X5X5mm粗定位范围，4K+ 30umX30um扫描范围，4K+ 变温范围：mK - 373K+ 兼容强磁场：可达15Tesla+ 兼容1"和2"孔径的磁体与恒温器，如Quantum Design-PPMS系统 + 其紧凑和可靠SHPM扫描头设计+ 定量和非破坏性磁性测量，mK温度+ 闭环式扫描模式 + 用于超导体的vortex分布与定扎测量+ 磁性颗粒的局域场测量+ 磁化率和磁滞回线测量+ 超导、磁畴、材料科学研究attoSHPM技术参数+ 利用STM原理/音叉模式探测样品与探针之间的距离+ 样品定位范围：5 X 5 X 5mm，4K+ 样品位移步长：0.05 -3um @ 300K， 10 -500nm @ 4K+ 扫描范围：40X40 um @300K；30X30 um @4K+ 磁场强度： 0 -15Tesla (取决于磁体）+ 变温范围：mK - 300K （取决于恒温器）+ 工作真空环境：1X10-6mbar - 1bar（He交换气氛） + SHPM探针：MBE生长的GaAs/AlGaAs异质结+ 分辨率：250nm超高分辨 + z bit分辨率，300K ：0.065nm，4.3um扫描范围+ 侧向（xy）bit分辨率，4K：0.18nm，12um扫描范围+ z bit分辨率，4K：0.030nm，2um扫描范围应用案例：PPMS-MFM vortex测量高分辨磁畴测量315mK下vortex测量300mK下SHPM测量AFM在脉冲管制冷机中使用300mK-9T下AFM/STM测量

集成X射线电离功能的通用扫描电迁移率粒径谱仪适用于8-1200 nm的各种应用PALAS设备U-SMPS 2050X/ 2100 X / 2200 XPALAS设备U-SMPS通用扫描电迁移率粒径谱仪Palas@通用扫描电迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X/2100X / 220O型号)可以确定8至1200 nm的粒径分布。该系列已经集成了X射线源作为中和器（参见图1)，代替放射性中和器（例如使用Kr-85〉，优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。PalasRU-SMPS系统包括一个分级器[在ISO15900中定义为电迁移率分级器(DEMC)，也称为微分迁移率分析仪(DMA)]，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。冷凝颗粒计数器（例如UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC型号可在各种浓度范围内实现很好的单颗粒计数。Palas使用了由Wiedensohler教授〈(IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为U-SMPS的颗粒分布。U-SMPS使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短30秒之内执行，并且每十进制多达128个尺寸通道。在扫描期间，DEMC分级器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值)，以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以连接到计算机或使用各种接口(USB，LAN，WLAN，RS-232/485)连接网络。PalasRU-SMPS支持DMA，CPC和其他制造商的气溶胶静电计。U-SMPS对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要，尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并且必须内部组装。图2∶给出了U-SMPS的工作原理:气溶胶在进入分级器（DEMC)之前先经过调节。选配的干燥器（例如硅胶，Nafion)可以去除颗粒中的水分。双极中和剂(RC 049)用于确保气溶胶电荷分布符合预定。在DEMC的入口处需要一个撞击器以去除大于分级器尺寸范围的颗粒。气溶胶通过DEMC柱的进样口导入，沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流，确保层流。电极的表面必须极其光滑和准确。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气(通常为空气)，比气溶胶的体积大，且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率，从而决定尺寸分级器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电，末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会通过顶部小缝隙离开DEMCo在操作中，电压产生的电场持续变化，使得不同迁移率的颗粒离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如冷凝粒子计数器）连续测量计数（例如Palas R UF-CPC)。方便实用的软件提供多数据信息（如电压，粒子数等）并取得粒径分布数据，如图3所示。基于客户反馈优化过的用户界面和软件可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。此外，通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络连接，该软件可以实现数据管理功能。测量数据有多种形式显示和评估。优点：粒径分布范围为8nm至1.2um7英寸触摸屏和GUI直观操作连续快速扫描测量原理内置数据记录仪高分辨率，zui多128个尺寸通道/十进制支持多种接口和远程访问适用于zui高108颗粒/cm3的浓度低维护跟其他制造商的DMA和纳米颗粒计数器通用功能可靠图形显示测量结果减少您的运营费用数据表参数说明描述接口USB,LAN, AUX, RS-232(CPC)测量范围(尺寸)8-1,200nm尺寸通道zui多256个(128个/十进制)测量范围(数量浓度)0- 108颗粒/cm3用户界面触摸屏，800x480分辨率，7”数据存储4GB软件PDAnalyze调节范围（电压)1-10,000 V(上行和下行)体积流量（鞘气)2.5-14L/分钟安装条件10-30°C中和器XRC 049气溶胶体积流量0.5-3L/分钟应用领域过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量

U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如PalasUF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。应用领域过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量优点：粒径分布从8 nm到1.2 μm连续和快速扫描的测量原理高分辨率，多达128个大小类/衰减适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器图形显示测量值直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI集成数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用

Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如Palas UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。特点：U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪，适合各种应用（8–1200nm）• 粒径分布从8 nm到1.2 μm• 连续和快速扫描的测量原理• 高分辨率，多达128个大小类/衰减• 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度• 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器• 图形显示测量值• 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI• 集成数据记录仪• 支持多种接口和远程访问• 低维护• 功能可靠• 减少您的运营费用 *请联系Palas了解更多信息。