射俄歇谱仪

俄歇电子能谱基本原理 　　入射电子束和物质作用，可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量，可能以X光的形式放出，即产生特征X射线，也可能又使核外另一电子激发成为自由电子，这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射：特征X射线或俄歇电子。原子序数大的元素，特征X射线的发射几率较大，原子序数小的元素，俄歇电子发射几率较大，当原子序数为33时，两种发射几率大致相等。因此，俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。 　　如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子，L层电子跃迁到K层，释放的能量又将L层的另一个电子激发为俄歇电子，这个俄歇电子就称为KLL俄歇电子。同样，LMM俄歇电子是L层电子被激发，M层电子填充到L层，释放的能量又使另一个M层电子激发所形成的俄歇电子。 　　对于原子序数为Z的原子,俄歇电子的能量可以用下面经验公式计算： EWXY(Z)=EW(Z)-EX(Z)-EY(Z+Δ)-Φ (10.6) 　　式中， EWXY(Z)：原子序数为Z的原子，W空穴被X电子填充得到的俄歇电子Y的能量。 EW(Z)-EX(Z)：X电子填充W空穴时释放的能量。 EY(Z+Δ)：Y电子电离所需的能量。 　　因为Y电子是在已有一个空穴的情况下电离的，因此，该电离能相当于原子序数为Z和Z+1之间的原子的电离能。其中Δ=1/2-1/3。根据式(10.6)和各元素的电子电离能，可以计算出各俄歇电子的能量，制成谱图手册。因此，只要测定出俄歇电子的能量，对照现有的俄歇电子能量图表，即可确定样品表面的成份。 　　由于一次电子束能量远高于原子内层轨道的能量，可以激发出多个内层电子，会产生多种俄歇跃迁，因此,在俄歇电子能谱图上会有多组俄歇峰，虽然使定性分析变得复杂，但依靠多个俄歇峰,会使得定性分析准确度很高，可以进行除氢氦之外的多元素一次定性分析。同时,还可以利用俄歇电子的强度和样品中原子浓度的线性关系,进行元素的半定量分析,俄歇电子能谱法是一种灵敏度很高的表面分析方法。其信息深度为1.0-3.0nm,绝对灵敏可达到10-3单原子层。是一种很有用的分析方法。

光谱仪器中的入射挟漨象 光谱仪器中的入射挟缝通常大家理解为限制杂散光源进入和让光薄 一点通过分光系统(三棱镜.光栅),但对于色散(谱面)的出现.明线暗线的形成等被这挟缝象把这些起因都遮盖了。对于挟缝象来说，分光系统（三棱镜.光栅)对它感应的只是一个不同物质象（上下挟缝片是同一物质象，中间白光源是一个象），这个象通常大家很难理解，对于色散象的出现只理解是来自于白色光里,怱略了另一物质象的存在（挟缝象）。 分光系统若感应的是只有一种物质象（如白色光源......),这样是不能产生色散现象的,因此说明.分光系统(三棱镜.光栅)需感应到有两种不相同的物质,这样才能构成色散出现条件。 色散谱面是不连续的，由于现光谱仪这样安置，巧合的使两组色散谱面连续在一起。色散谱面象应该是一组为红.橙.黄色,另一组谱面为青.兰.紫色, 物质吸收的光源不同，其出现的色散谱面是不同的。如两不相同的物质吸收含有稀薄气体光源（如荧光光源......),在通过分光系统后,则出现的色散谱面是一段一段的(谱面上各单色象),"这是1752苏格兰人梅耳维尔在实验中发现的"。若这两个不同物质吸收的是热辐射光源(如炽热的固体或液体发光),通过分光系统后,则出现的色散谱面是连续的(各单色之间无界格之分的象)。 当两个不同物质象很小（挟缝中间白色光源象在几个MM时），在稀薄气体光源下出现的一段一段的色散谱面象消失了，色散谱面中只出现几条明亮条纹（明线光谱）。若这个很小的不同物质象是在热辐射光源下，色散谱面虽然出现，只是在出现几条明亮条纹的位置上从新出现几条黑色条纹（夫琅和费线）。 对于在两种不同光源下出现的两种不同条纹，当把挟缝口逐渐増大即逐渐缩小，这一过程会发现在稀薄气体光源下出现一段一段的（色散）各单色象相互叠加，从而使谱面中光强逐渐减弱，最后只胜下几个沒被叠加到的象出现，被称为：“明亮光谱”。如这一过程是在热辐射光源下，各单色象相互叠加，在谱面中出几条黑色条纹。 我们现代所说的色散象是由两个不同物质产生的(黑色与白色),由于不相同的物质众多,都可以拼在一起,这样出现的不同色散象也就多(色散谱面各单色不同)。[em09511]

光谱仪器中的入射挟缝通常大家理解为限制杂散光源进入和让光薄 一点通过分光系统(三棱镜.光栅),但对于色散(谱面)的出现.明线暗线的形成等被这挟缝象把这些起因都遮盖了。对于挟缝象来说，分光系统（三棱镜.光栅)对它感应的只是一个不同物质象（上下挟缝片是同一物质象，中间白光源是一个象），这个象通常大家很难理解，对于色散象的出现只理解是来自于白色光里,怱略了另一物质象的存在（挟缝象）。分光系统若感应的是只有一种物质象（如白色光源......),这样是不能产生色散现象的,因此说明.分光系统(三棱镜.光栅)需感应到有两种不相同的物质,这样才能构成色散出现条件。色散谱面是不连续的，由于现光谱仪这样安置，巧合的使两组色散谱面连续在一起。色散谱面象应该是一组为红.橙.黄色,另一组谱面为青.兰.紫色,物质吸收的光源不同，其出现的色散谱面是不同的。如两不相同的物质吸收含有稀薄气体光源（如荧光光源......),在通过分光系统后,则出现的色散谱面是一段一段的(谱面上各单色象),"这是1752苏格兰人梅耳维尔在实验中发现的"。若这两个不同物质吸收的是热辐射光源(如炽热的固体或液体发光),通过分光系统后,则出现的色散谱面是连续的(各单色之间无界格之分的象)。当两个不同物质象很小（挟缝中间白色光源象在几个MM时），在稀薄气体光源下出现的一段一段的色散谱面象消失了，色散谱面中只出现几条明亮条纹（明线光谱）。若这个很小的不同物质象是在热辐射光源下，色散谱面虽然出现，只是在出现几条明亮条纹的位置上从新出现几条黑色条纹（夫琅和费线）。对于在两种不同光源下出现的两种不同条纹，当把挟缝口逐渐増大即逐渐缩小，这一过程会发现在稀薄气体光源下出现一段一段的（色散）各单色象相互叠加，从而使谱面中光强逐渐减弱，最后只胜下几个沒被叠加到的象出现，被称为：“明亮光谱”。如这一过程是在热辐射光源下，各单色象相互叠加，在谱面中出几条黑色条纹。我们现代所说的色散象是由两个不同物质产生的(黑色与白色),由于不相同的物质众多,都可以拼在一起,这样出现的不同色散象也就多(色散谱面各单色不同)。

X射线光谱仪机械手不能初始化是怎么回事呀？Z轴开机时不能升起。设备型号是S4 EXPLORER 厂家 BRUKER， 初始化时错误警报是communication error。

光谱仪器中的入射挟漨象 光谱仪器中的入射挟缝通常大家理解为限制杂散光源进入和让光薄 一点通过分光系统(三棱镜.光栅),但对于色散(谱面)的出现.明线暗线的形成等被这挟缝象把这些起因都遮盖了。对于挟缝象来说，分光系统（三棱镜.光栅)对它感应的只是一个不同物质象（上下挟缝片是同一物质象，中间白光源是一个象），这个象通常大家很难理解，对于色散象的出现只理解是来自于白色光里,怱略了另一物质象的存在（挟缝象）。 分光系统若感应的是只有一种物质象（如白色光源......),这样是不能产生色散现象的,因此说明.分光系统(三棱镜.光栅)需感应到有两种不相同的物质,这样才能构成色散出现条件。 色散谱面是不连续的，由于现光谱仪这样安置，巧合的使两组色散谱面连续在一起。色散谱面象应该是一组为红.橙.黄色,另一组谱面为青.兰.紫色, 物质吸收的光源不同，其出现的色散谱面是不同的。如两不相同的物质吸收含有稀薄气体光源（如荧光光源......),在通过分光系统后,则出现的色散谱面是一段一段的(谱面上各单色象),"这是1752苏格兰人梅耳维尔在实验中发现的"。若这两个不同物质吸收的是热辐射光源(如炽热的固体或液体发光),通过分光系统后,则出现的色散谱面是连续的(各单色之间无界格之分的象)。 当两个不同物质象很小（挟缝中间白色光源象在几个MM时），在稀薄气体光源下出现的一段一段的色散谱面象消失了，色散谱面中只出现几条明亮条纹（明线光谱）。若这个很小的不同物质象是在热辐射光源下，色散谱面虽然出现，只是在出现几条明亮条纹的位置上从新出现几条黑色条纹（夫琅和费线）。 对于在两种不同光源下出现的两种不同条纹，当把挟缝口逐渐増大即逐渐缩小，这一过程会发现在稀薄气体光源下出现一段一段的（色散）各单色象相互叠加，从而使谱面中光强逐渐减弱，最后只胜下几个沒被叠加到的象出现，被称为：“明亮光谱”。如这一过程是在热辐射光源下，各单色象相互叠加，在谱面中出几条黑色条纹。 我们现代所说的色散象是由两个不同物质产生的(黑色与白色),由于不相同的物质众多,都可以拼在一起,这样出现的不同色散象也就多(色散谱面各单色不同)。

我用PE 2100DV发射光谱仪测定金属元素计算检出限时,校准曲线斜率为几十万,甚至几百万,不知为何,请教名位专家校准曲线斜率到底是如何计算?谢谢.

如题：电子能谱XPS与能量散射X-射线光谱仪EDXA有什么区别？得出的结果是不是重复的？对于新材料的表征，有必要二者同时做么？请指导一下。打算用 SEM配备能量散射X-射线光谱仪EDXA进行表征。

公司内部俄歇电子能谱仪培训教材

[size=18px]前几天在重新温习X荧光知识的时候，突然出现了一个名字-俄歇电子，这个名称还就在我的脑子中挥之不去了，当时一时间想不起什么才是俄歇电子，后来在网上查了查，把自己的理解和大家分享一下，大家也看看我说的对不对，欢迎大家交流指教。一说到俄歇电子，我看到有的仪器是以根据俄歇电子能谱，来研究固体表面结构和表面物理化学性质的变化等，所以我就对这一概念就更加好奇了。我查到俄歇电子能谱（Auger Electron Spectronmetry，简称AES）。首先先要明确的就是我理解的一个概念，就是当X射线照射样品时，并非所有产生的空穴都会形成特征X荧光，就是我们之前举例说的跃迁-回迁-释放能量的过程，在这个过程中不是所有空穴都会产生特征X荧光的，我的理解是当X射线照射样品时，如下图（特征X射线产生）：[/size][img=,530,519]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403191439566241_1826_2645693_3.jpg!w530x519.jpg[/img][size=18px]当x射线照射样品后1号电子获得能量跃迁，出现空穴，2号电子进行空穴的填补，并释放特征X荧光，重点来了，在2号去补缺空穴时释放的特征X荧光恰好激发了3号电子，使之形成了新的空穴，这个被激发跃迁的3号电子就是俄歇电子。不知道我这样的理解对不对，请专家指教。同时也请大家帮我看看对不对，一起讨论下！[/size]

[align=center][size=20px]电感耦合等离子体发射光谱（ICP）[/size][/align]我们实验室会做一些土壤样品，主要研究土壤中常量及微量元素对农作物的影响，之前做过全国富硒大米的调查，我们取了不同地区的很多土壤样品，常测的项目钾，钙，钠，镁，铜，锌等元素，这些元素比较适合用ICP来分析，实验室有一台谱育科技的EXPEC6000型的ICP，用了两年下来也没什么大问题，下面来分享一下我的使用经历[align=center][img=,347,260]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206091032520515_7752_2556685_3.jpeg[/img][/align]一．仪器发展现状电感耦合等离子体发射光谱（ICP）产品技术已经非常成熟了，国产品牌和进口品牌性能上没有什么差距，无非就是软件设计及使用体验上各有特点。目前，国产品牌聚光科技，谱育科技，钢研纳克和天瑞等都有全谱直读的相关产品，进口品牌铂金埃尔默，赛默飞世尔和安捷伦等虽然也推出了换代产品，整体性能上没有太大提升，虽然产品宣传都有自己的卖点，但对于我们日常使用来讲，能满足我们检测需求，性价比才是王道二．EXPEC6000产品优点实验室原来就有进口品牌的同类仪器，当初选购时我们做了样品测试比较，EXPEC6000这款产品和我们实验室进口仪器测定的结果没有差异，使用下来，感觉国产的软件更简洁，没有那么多复杂的菜单，逻辑更清晰，新手也能轻松操作。两年使用下来，我们除了换换泵管等耗材，没有什么问题，做土壤样品，盐分比较高，我们又备了根炬管，价格也不贵三．EXPEC6000产品不足我们买的是一款径向观测的型号，一些含量低的元素灵敏度达不到，据说也有双向观测的型号，奈何当初预算不足，所以就没选四．选购建议首先还是明确自己使用需求，日常检测国产品牌完全能够满足，真没必要盯着参数，有的宣传节气，有的宣传进样快，这些都是在一定条件下才成立的，我们日常使用差别没那么夸张，适合自己才是最好的，还有就是自动进样器，样品多的，一定要配上，配上，配上，重要的事情说三遍！！！

请问：能谱型X射线荧光分析仪的放射源FE55、PU238几年更换？

如题：电子能谱XPS与能量散射X-射线光谱仪EDXA有什么区别？得出的结果是不是重复的？对于新材料的表征，有必要二者同时做么？请指导一下

那位大侠能提供一个俄歇电子谱标准谱，谢谢

这是清华大学仪器分析实验有关电子能谱实验的教材。由于很多人对XPS还比较了解，对俄歇电子能谱并不是非常了解。但在材料分析和器件分析，尤其是薄膜材料分析中，俄歇电子能谱具有重要的作用。希望对大家有帮助！朱永法2006.8.19

做炭素微量元素分析，X-荧光光谱仪用下照射的好还是上照射的好？那一家公司的设备好一些？

经常操作ICP-OES，你不得不承认，，一些常见的术语可能有点让你迷糊，比如以下：原子发射线（Atom line）：从原子的激发态跃迁回到基态所产生的发射光谱，一般在元素后标 "I"，如Ba I 553.5离子线（ion line）：从原子的离子态跃迁回到基态所产生的发射光谱，一般在元素后标 "II"，“III”，表示一次电离，二次电离原子的离子谱线，如 Ba II 455.4 nm。离子化干扰（Ionization interference）：由于样品引入等离子体中，如果分析溶液产生电离而增加自由电子，将改变等离子体中的电离平衡而造成干扰。基体效应（Matrix effects）：由分析溶液中被分析物之外的物质造成的干扰。谱线干扰（Spectral interference）：由于不能将分析物的谱线从相邻的干扰物的谱线分开而造成的干扰。您日常中是否有遇到，欢迎分享！

请教一下，XPS谱中的俄歇峰如何扣除？附：材料中含有Fe离子和Co离子，但是Fe在786ev附近有个俄歇峰，对Co的3价峰干扰挺大；同时Co在716ev附近也有个俄歇峰，对Fe三价的卫星峰干扰也挺大。如何扣除这两种俄歇峰的影响，从而只得到光电子的数据呢？谢谢！

《注射剂用胶塞、垫片穿刺落屑测定法 》 YBB00332004注射针：外径0.8mm，斜角大小L型（长型），针头斜角12°±2°。即通常所说8号针头，质量要好。可用一次性使用输液器（GB8368）的穿刺器，即针头。安谱如果有货，请将报价站短，100根价格（或视包装而定），含发票和到深圳运费。

职位：俄歇电子谱仪（AES）应用工程师（1人）工作内容：为用户提供仪器应用支持，帮助新用户做样品测试，对产品做技术讲解。应聘要求：1. 常驻北京，可以承担一定的出差任务（不超过1/3工作日）。2. 喜欢学习，乐于钻研仪器技术。诚实有信，实事求是。3. 具有材料学/化学/化工或相关学科硕士（含）以上学位。有电子光学类仪器的使用经验，熟悉俄歇电子能谱或XPS技术者优先。4. 具有良好的口头表达能力。熟练使用常规办公软件。5. 有耐心，愿意尽心尽力帮助用户解决困难。具有良好的自我管理能力。薪酬待遇：1. 日本电子公司（JEOL）提供完备的社保福利，严格执行法律规定的休假制度。2. 实际薪酬根据应聘人资历面试后确定。有意者请提供简历。联系人：李女士（li.qun@jeol.com.cn）此贴长期有效，直到职位招满。

“日本岛津公司的EDX-720型能量色散型X射线荧光光谱仪”X射线的能量级别是多少？国家标准中关于X射线能量级别的划分在那里有呢？

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]ECD检测器被工程师拆了两次了，返厂清洗，期间他把检测器放在我抽屉里，过两天又寄出去的，我也用手拿过，他说没事，会不会射到我，我还想着备孕呢

http://www.bioon.com/tech/UploadFiles_3081/201109/2011091311060047.jpg2011 年 9 月9日，北京 - 安捷伦科技公司（纽约证交所：A）今日隆重推出4100 微波等离子体原子发射光谱仪（MP-AES），该仪器创造性地使用空气运行进行元素分析。4100MP-AES从根本上改变了科研人员进行元素分析的方式。该光谱仪使用空气即可运行，利用氮气产生等离子体，摒弃了实验室配置危险可燃气体和使用昂贵的气体。4100 MP-AES使用氮气微波等离子体，是所有元素分析实验室的理想选择，对于偏远地区和移动动实验室来说尤为可贵。有了该光谱仪，实验室无需再使用多种气体，也避免了手动运输和操作气瓶，大大提高了实验室的安全性。Newmont 矿业公司内华达州实验室分析开发部的 Bobby Joe Reichel 说道："安捷伦 MP-AES在黄金分析和有色金属分析方面无懈可击。出色的检出限和极宽的校准范围能够快速便捷地分析微量物质，并且无需费时的高浓度样品稀释步骤。"

单位新买了一台X射线荧光光谱仪，采用是电制冷的，准备是作为RoSH的初筛使用，需要买一些什么标准品？大概的价位，以及什么公司？

我所购进一台ICP-OES电感耦合等离子原子发射光谱仪(全谱直读Vista系列，单道Liberty系列)，现找寻相关资料。我的E-MAIL:chongshan@sohu.com