射线测试仪

仪器简介：SAXSpace（Small & Wide Angle X-Ray Scattering System）是奥地利安东帕公司研制开发的一种小角X-射线散射仪。是一款适用于SAXS,WAXS,GI-SAXS,Bio-SAXS等的模块化纳米结构分析仪。其角度范围为0.03-49nm^-1,对应的尺寸范围为0.13-200nm。在不改变仪器设置的情况下，SAXSpace可以同时测量小角和广角X-射线散射，所测的2&theta 角度最大值为74° ，是真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器。SAXSpace可以测试几乎所有固体和液体样品。SAXSpace应用举例：表面活性剂和两亲性二嵌段共聚物的溶液：胶束尺寸，胶束形状，相行为，囊泡壁的内部结构等。生物材料：蛋白质在溶液中的形状和尺寸，内部结构，聚集状态，分子量等。分散体系：分散颗粒的形状和尺寸分布，分散体系的稳定性，颗粒集结成核现象，聚集状态等。纤维：内部结构，结晶度，取向度等。催化剂：比表面积，颗粒尺寸及分布，结晶度等。乳液：液滴的形状和内部结构，液滴的尺寸分布，不同温度时乳液的稳定性，胶囊试剂的传输动力学等。聚合物和纳米复合物：结晶度，周期性纳米结构，取向度等。液晶：周期性结构的尺寸和形状，取向度等。技术参数：测量范围：0.13 ~ 200 nmX-射线光源：标准：密封管（线聚焦和/或点聚焦），其它光源：可选。光束尺寸：线光源为20 × 0.3 mm2，点光源为0.3 × 0.3 mm2。工作电压：40 kV工作电流：50 mA样品量：固体只需几毫克，液体最少只需7微升。样品温度的可调节范围：-150 ~ 300 ° C，灵敏度为± 0.1 ° C。测试时间：1 ~ 60 min。主要特点：真正的小角与广角X-射线散射同时测量的仪器：0.13 ~ 200 nm。光路可自动进行调整。原位升降温和溶液测试。专业而且完备的数据处理软件。

X射线残余应力测试仪采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。主要技术参数: ★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差 在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。 ★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪 ★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描***小步距：0.01° ２θ扫描每步计数时间：0.1S～20S ψ角范围：0°～ 65° ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调 X射线管电流：3～10mA,连续可调 X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg 简装置总重量：45 kg 供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

仪器简介：适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量；可编程的应用项图标，用于快速应用项选择完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从下至上；3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.视准器组：圆直径为0.1/0.2；正方形0.05X0..05mm；长方形0.03X0.2mm5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）480 mm×375 mm×580 mm，重量大约为45kg；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×460mm）带向上回转箱门；7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行，8.试件查看用标准的彩色摄像机；9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点：FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。XULM使用了高能量的X射线管，即便是测量微小面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上，以保证测量的精确度。

仪器简介：适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量；可编程的应用项图标，用于快速应用项选择完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。可选择的Super WinFTM软件（订货号602-950）提供了以下的附加功能：可随意创建测量应用可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度快速的频谱分析以决定合金成分技术参数：1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从下至上；3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.视准器组：圆直径为0.3；在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形视准器5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大约为45kg；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）240 mm×360 mm×380mm）带向上回转箱门；7.手动X-Y工作台（平面板：360 mm宽×240 mm深），带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.8.试件查看用标准的彩色摄像机；9.测量开始/结束按钮，及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点：FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点，尤其对于测量各种不同几何外形的小工件，例如螺丝、螺母、螺栓或各种各样的电连接器。在绝大多数情况下，被测试工件的表面可直接放置于测量台上，这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合，XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分，可以完美地适应于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

H9002型β射线烟尘(气)测试仪产品简介H9002型β射线烟尘(气)测试仪是一款可用于直接测量固定污染源中颗粒物浓度的仪器，测试仪集S 型皮托管、温度传感器、加热控制、采气管于一体，利用β射线原理直接测量烟尘浓度，同时可测量烟道内的动压、静压、温度、含湿量、流速、风量以及烟尘排放浓度、排放量等。广范适用于固定污染源有组织排放废气中颗粒物浓度的测量，可供环保、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等部门使用。执行标准GB/T 16157 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定污染源废气监测技术规范DB 37/T 3785-2019 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 36/T 1386-2021 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 21/T 3270-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 63/T 1873-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法JJG 680-2007 烟尘采样器检定规程主要特点&bull 采用β射线吸收原理，测量结果不受颗粒物大小形状及其他化学性质的影响,数据准确；&bull 最低检出限是0.1mg/m3，可满足超低工况监测要求；&bull 采用异位法设计，采样工位与测量工位分离，避免关键元器件污染，保证测量精度；&bull 采样管及采样工位采用智能高效全程加热控制；&bull 采样管内壁采用超高光洁加工工艺，最大程度减少颗粒物的吸附；&bull 采样样管快速对接设计，可实现快速拆装，方便运输和使用；&bull 内置式皮托管，前端采用对接式设计，方便拆卸更换；&bull 使用符合国家标准的校准膜片进行校准，数据更加准确；&bull 采用安全稳定的C14放射源，符合国家豁免标准&bull 采用工业平板无线操控，支持蓝牙通信功能和外置蓝牙高速打印机； &bull 配有高负载低噪声大流量旋片式抽气泵，流量可达 100L/min；工作条件&bull 工作电源： AC（220±22）V，（50±1）Hz； &bull 环境温度：（－20～ 50）℃； &bull 环境湿度：（0 ～95）%RH； &bull 适用环境： 非防爆场合； &bull 电源接地线应良好接地； &bull 野外工作时，应有防雨、雪、尘以及日光爆晒等侵袭的措施。技术指标项目参数范围分辨率最大允许误差烟尘浓度（0～50）mg/m30.01mg/m3不超过±20%烟气温度（0～500) ℃0.1℃不超过±3℃取样管加热温度（50～160） ℃1℃不超过±10℃滤带加热温度（50～160） ℃1℃不超过±5℃采样嘴型号φ4.5、φ6、φ7、φ8、φ10、φ12皮托管系数0.84±0.01测孔直径要求≥80mm取样管耐温≤260℃

H9002型β射线烟尘直读测试仪产品简介H9002型β射线烟尘(气)测试仪是一款可用于直接测量固定污染源中颗粒物浓度的仪器，测试仪集S 型皮托管、温度传感器、加热控制、采气管于一体，利用β射线原理直接测量烟尘浓度，同时可测量烟道内的动压、静压、温度、含湿量、流速、风量以及烟尘排放浓度、排放量等。广范适用于固定污染源有组织排放废气中颗粒物浓度的测量，可供环保、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等部门使用。执行标准GB/T 16157 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定污染源废气监测技术规范DB 37/T 3785-2019 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 36/T 1386-2021 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 21/T 3270-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 63/T 1873-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法JJG 680-2007 烟尘采样器检定规程主要特点&bull 采用β射线吸收原理，测量结果不受颗粒物大小形状及其他化学性质的影响,数据准确；&bull 最低检出限是0.1mg/m3，可满足超低工况监测要求；&bull 采用异位法设计，采样工位与测量工位分离，避免关键元器件污染，保证测量精度；&bull 采样管及采样工位采用智能高效全程加热控制；&bull 采样管内壁采用超高光洁加工工艺，最大程度减少颗粒物的吸附；&bull 采样样管快速对接设计，可实现快速拆装，方便运输和使用；&bull 内置式皮托管，前端采用对接式设计，方便拆卸更换；&bull 使用符合国家标准的校准膜片进行校准，数据更加准确；&bull 采用安全稳定的C14放射源，符合国家豁免标准&bull 采用工业平板无线操控，支持蓝牙通信功能和外置蓝牙高速打印机； &bull 配有高负载低噪声大流量旋片式抽气泵，流量可达 100L/min；工作条件&bull 工作电源： AC（220±22）V，（50±1）Hz； &bull 环境温度：（－20～ 50）℃； &bull 环境湿度：（0 ～95）%RH； &bull 适用环境： 非防爆场合； &bull 电源接地线应良好接地； &bull 野外工作时，应有防雨、雪、尘以及日光爆晒等侵袭的措施。技术指标项目参数范围分辨率最大允许误差烟尘浓度（0～50）mg/m30.01mg/m3不超过±20%烟气温度（0～500) ℃0.1℃不超过±3℃取样管加热温度（50～160） ℃1℃不超过±10℃滤带加热温度（50～160） ℃1℃不超过±5℃采样嘴型号φ4.5、φ6、φ7、φ8、φ10、φ12皮托管系数0.84±0.01测孔直径要求≥80mm取样管耐温≤260℃

IBA MagicMax X射线测试仪,MagicMax剂量仪详细介绍：IBA MagicMax X射线测试仪,MagicMax剂量仪是一个强力设备 可应用于所有放射图像模式：放射线照相术，荧光镜检查，乳房X线照相术和CT，先进软件提供快速概览和综合专业细节及报告德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪产品简介a、适用于评价各种X 线机，包括：CT机，拍片机，透视机，脉冲透视，便携X-线机等。a、可一次曝光测量数据包括kVp、PPV、剂量、剂量率、曝光时间、HVL、总滤过。a、随机提供免费数据储存及分析软件，可定制用户报告。德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪产品特点a、具有外置双通道探测器接口，可同时附加第二通道剂量探测器。a、数据传输应用直接有线连接，高速数据传输技术。可真正做到0.1ms探测技术。a、可实时显示剂量及kVp波形，方便分析。波形图最小分辨时间为0.1毫秒。德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪常规X射线机和透视系统部分的量程及精度：a、千伏：40-155 kV / ±2%a、剂量：50nGy-50Gy / ±5%a、剂量率：0.1μGy/s-120mGy/s / ±5% 或±0.02μGy/sa、曝光时间：0.2ms-999.9sa、快速半值层：1.3-10mmAl / ±10%或0.2mma、总滤过：1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪的乳腺机量程及精度a、千伏：20-49 kV / ±1.5% 或 0.7 kVa、剂量：50nGy-50Gya、剂量率：0.4μGy/s-700mGy/sa、曝光时间：0.2ms-999.9sa、快速半值层：0.2-1.2 mm Al根据射线质量/ ±5%a、总滤过：1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)德国IBA MagicMax Universal X射线测试仪CT机部分的量程及精度：a、测量后，分析软件可自动出具报告CTDI值a、量程范围：a、照射量：10nGy – 9999mGya、照射量率：100nGy/s – 120mGy/sa、曝光时间： 1 ms – 199999 sa、有效测量体积： 4.9cm3a、总有效长度: 100 mma、漏射线: +/-4x10 -15Aa、量程范围: 100 kV – 150 kVa、刻度因子（typ.）: ND,K=70mGy*cm/nC(120kV/HWD4.05 mm Al)MagicMax通用万用表?您的高端万用表解决方案能够满足您所有射束验证需求一个强力设备 可应用于所有放射图像模式：放射线照相术，荧光镜检查，乳房X线照相术和CT先进软件提供快速概览和综合专业细节及报告插拔运行系统可实现快速无缝工作流程完全模块化和延展MagicMaX工具照度探头：光输出测量图像增强器和查看盒 电流探针： 非侵入式测量管道电流MagicMaX通用规格高分辨率：最高分辨率可达0.1 mm• 所有模式合为一台设备：21kV – 160kV （完全灵活的探测器，双头端口）高剂量测量动力：5nGy – 50 Gy完全检测我们的完整版 MagicMax Universal Cases: 您的完全解决方案覆盖您所有用于射束验证和图像质量控制需要——一切仅需一次完成。• 您可将射束验证和图像质量检查过程多合一！• 预设解决方案，便捷并易于携带！Multimeter MagicMaX -rad/flu/dent基于USB的系统课用于台式机和笔记本电脑MagicMax-Meter测量软件包含固块微观轨迹多探头XR能够附着额外固块探头测量剂量包括坚固铝制便携箱剂量仪部分根据IEC 61674设计Dosimeter MagicMaX -rad/flu/dent基于USB的系统课用于台式机和笔记本电脑MagicMax-Meter测量软件包含固块剂量探头RQA能够附着额外固块探头同时测量输入输出剂量包括坚固铝制便携箱kV-Meter MagicMaX -rad/flu/dent基于USB的系统课用于台式机和笔记本电脑MagicMax-Meter测量软件包括坚固铝制便携箱包含固块KV探头MagicMaX电流探针结合MagicMax万用表进行非侵入式测量管道电流。利用MagicMax- Meter软件进行综合分析方便选择测量范围优点:多合一设备有效解工作流程便利

X射线残余应力分析仪，应力测定仪，应力测试仪 主要技术参数:采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°；２θ扫描***小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6°X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。衍射几何：聚焦法准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量：10 kg***简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

仪器简介：适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于：单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度 和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标，用于快速产品选择。完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从上至下；3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.标准视准器组：圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm；5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件；8.电机驱动的144mm（5.7〞）X-射线头部（X-射线管，比例接收器及视准器）的Z轴运行；9.试件查看用彩色摄像机10.测量开始/结束按钮，X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点：FISCHERSCOPE XDLM-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器，例如螺丝，螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题XDLM的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别，简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。与WinFTM V.6软件及校样标准块Gold Assay结合，XDLM作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分， 完美地适用于快速，非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。

仪器简介：适用于Windows2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；计算机生成的刻度化的瞄准十字星，并有X-射线光束大小指示器（光束的大小取决于测量的距离，见背面）图形化的用户界面，测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正（DCM方法）范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标，用于快速产品选择。完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。报告生成，数据输出语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数：1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法；2.原始射线从上至下；3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用：50kV，40kV或30kV；4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器，在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器；或直径0.1mm 或直径0.2mm；或0.4X0.4mm方形。5.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）650 mm×570 mm×740 mm（26〞×22〞×29〞），重量大约为105kg（120lbs）；6.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）300 mm×460 mm×500 mm（12〞×18〞×20〞）带向上回转箱门；7.嵌入式固定的测试件支承板，需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。7.从X-射线头部（X-射线管，成比例的反射接收器及视准器）至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离（见背面）必须在定货时明确（标准设定：中间位置）8.试件查看用彩色摄像机9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体主要特点：FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法（距离控制测量）自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。

仪器简介：适用于Windows2000的真Win32位程序带在线帮助功能；频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用；能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化；画中画测试件查看和数据显示，带快速移动焦距功能放大试件图像；十字星瞄准并带度量网格，以及测试点尺寸指示；测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存；XYZ运行编程功能：随机单点，第1点、最后1点及等分的中间点，鼠标左键点选功能，鼠标右键的使用相当于操纵杆；测量模式用于：单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量）能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液；频谱显示可自由选择颜色；并可同时显示前台和背景的频谱以便比较；频谱可储存和打印；可使用定义的文件名进行应用文件的管理（应用文件包含应用名，数据表示方式，打印形式定义，输出模板设定及记事本）；用户可定义的报告编辑器，并自动插入测试工件的显示图像，及一些小的图片，如公司标识，图表，数据排列，字体选择；可以WinWordTM形式保存；单个的应用可连接至任意数量的应用文件（此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤）；使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用；可选择数据进行统计评估；通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出；可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制；可编程的应用项图标，用于快速应用项选择完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估语言：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，中文及日文（需要特殊的Windows版本）；可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能；技术参数：1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为135kg；4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）160 mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；5.原始射线从上至下；6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；7.原生电子过滤器：Ni和Be；8.4个对焦平面用于凹槽，腔体的测量，并可达到90mm；9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成：0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽；在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ（取代组件Ⅰ）有以下组成：0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.3mm(12mil)圆形 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽；在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ（取代组件Ⅰ）有以下组成：0.2mm(8mil) 圆形 0.05x0.05mm(2x2mil) 0.025X0.025mm(2X2mils)方型；0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽；注：当测量PC印板，电脑接插件，引线框架等小工件时，推荐使用视准器组件Ⅰ10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；11.充氙气的比例计数器，频谱处理时，内部采用4096通道的ADC，对外显示为256通道；12.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：型号XDVM-T7.1：X=175mm（7.0〃）， Y=175mm（7.0〃）型号XDVM-T7： X=250mm（10.0〃）， Y=250mm（10.0〃）13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆14.工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；15.电机驱动及高度（Z-轴）可编程的X-射线头部（X-射线管，比例计数器及视准器组件）；Z-轴运行=145mm（5.9〞）；16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率X40/X80，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点：FISCHERSCOPE XDVM-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件，例如螺丝，连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量，并可自动的进行评估报告输出。

仪器简介：WinFTMV6 是一套专门为解决含量分析和镀层测量的软件WinFTMV6可在WindowsTM9X//NT/XP平台上运行；因为透过简单操作及准确的分析结果，所以便能够提升生产力。WinFTMV6还有以下的特色……特大屏幕能提供画中画显示分析结果，光谱及彩色影像图，图像亦可以用JPG格式储存。仪器能同时间分析最多24种不同的元素；根据可检定的元素范围由x ppm到100%，所以原子序号可由氯Cl=17）到铀（Uranium Z=92）。可同时测量23层不同元素镀层的厚度。共有1024频道显示清晰光谱，可随意选用不同颜色及储存光谱图，方便日后加以分析。因为不同受检样本的光谱可以进行比较，所以便快捷和容易地得出两种不同样本含量的分别。快速的频谱分析以决定合金成分。可以随意创建元素分析应用程式。透过预先设入的14种纯元素作为资料库，仪器便可以不需用标准片调校亦能以基本系数（FP）进行分析；如果输入已知的元素更可快捷地得出含量结果。可同时接受最多10种不同含量的标准片来调校仪器，所得出的结果更精确及可信赖。用滑鼠选择已经储存的应用档案后，便可即时进行含量分析。测量样品后，可透过“analysis”功能按键，仪器便会自动侦测内里的元素含量。自带SOFTWARE PDM（Product Data Management产品数据管理）提供了以下的附加功能：通过可定义的文件夹实现产品文件管理（产品文件包括应用，数据呈现方式，打印形式定义，输出模板设置和记事簿）。打印形式可由用户随意设定，例如输出公司标题之类的小图片。包括字体管理以及随意定义页面设置。单个的应用可连接至任何的产品文件（这种连接大大减少了校验和标准化所需的步骤数）。使用条形码标签以及可选择的条形码读入器键盘，可实现产品自动选择。允许仅对选择的数据进行评估。从选择的数据块中进行单组读数的数据输出。FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-u可以透过RS232接口、磁碟片或网络卡将所要的资料汇出到其他电脑进行统计。XYZ运行程序功能：随机的单个点，第一点和最后一点以及距离固定的中间点，列阵点，鼠标左键选点功能，右键可作为控制键。语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文技术参数：1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法，符合技术标准DIN50987，ISO3497和ASTM B568；2.测量箱结构坚固，使用合格的机械和电气部件；3.测量箱外部尺寸：（高×宽×深）720 mm×660 mm×950 mm，重量大约为90kg；4.带槽箱体的内部尺寸：（高×宽×深）140mm×560 mm×530 mm，带向上回转箱门；5.原始射线从上至下；6.高性能的X-射线管，高压及电流设定可调节至最佳的应用，高压设定：50kV，40kV或30kV；阳极电流：连续可调至0.8mA；7.最小测量点: 50×100um8.聚焦范围: 2.5 mm9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用；10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却；内部光谱处理的ADC的通道为4096，压缩为1024个输出通道；；11.快速编程，高精确度，电机带动的XY工作台运行范围：X=250mm， Y=220mm. ；定位精度0.005mm； 工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆工作台面板可自动移出至工件放置位置；定位容易；12.电机驱动及高度（Z-轴）Z-轴运行=95mm；13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看；可选择的双重放大率30-1108倍，带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示；14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择，操纵杆控制X-Y工作台，钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动，LED状态指示灯。主要特点：新型号的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ 是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg 微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。XDVM-µ 可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线XDVM-µ 带WinFTM V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。

全角度X射线应力测定仪 仪器的核心部件：微型X射线管、线阵探测器、超高速、紧凑型六轴机器手，分别来自，美国、瑞士、日本，全球领先的品质得到了完全的保证。一、描述： 以一个X射线管和两个线阵探测器和为核心器件，通过必要的内部支架及外壳组合而成为宝盒。两个探测器的中心线和与入射线夹角分别设为2η，夹角顶点为测试点S。盒内还安装左右两个激光器，两束激光和交汇于S点。另外配以微调升降机构和多段式万向支架，即可用于应力测试。只需使用两束激光对准测试点S，调整宝盒外壳参照平面使之平行于试样测试面，开机后没有测量动作，采集数据几秒至十几秒即可完成测试。 这里2η依据不同待测材料和X射线管的靶材确定。 二、与现有X射线应力设备的比较： 现在所有的X射线应力测试设备都必须有两种运动机构：（1）通过机械扫描测定衍射角2θ的机构；（2）改变Ψ角的机构。测试过程都是在若干个不同的Ψ角分别测定衍射角2θ，然后计算应力。本仪器却没有这样两种机构，无需这两种测量动作。开机直接采集数据，计算应力值，瞬间给出测试结果。 三、技术参数： 1、X线管靶材：Cr（可定制）。 2、X射线管功率：60kv,200uA。 3、高压电源：与X射线管集成。 4、线阵探测器：厚320Um，宽50UM，*4mm*640mm。 5、2θ范围：144°-168°。 6、ψ角：可选择35°、40°、45°。

GR-3100D型低浓度烟尘/气测试仪 产品简介 Product introduction GR-3100D型低浓度烟尘/气测试仪应用皮托管平行等速采样法采集固定污染源排气中的颗粒物，应用过滤称重法测定烟尘质量，应用定电位电解法定性定量测定烟气成份。可应用于各种锅炉、烟道、工业炉窑等固定污染源颗粒物的排放浓度、折算浓度、排放总量的测定及设备除尘脱硫效率的测定；自动测量烟气动压、烟气静压、流速、流量计前压力、流量计前温度、烟气温度、含湿量、O2、SO2、CO、 NO、NO2、H2S、CO2浓度等参数执行标准 Executive standard GB/T 16157-1996 《固定污染源排气中颗粒物和气态污染物采样方法》HJ/T 48-1999 《烟尘采样器技术条件》HJ 57-2017 《固定污染源废气 二氧化硫的测定 定电位电解法》HJ 693-2014 《固定污染源废气 氮氧化物的测定 定电位电解法》 HJ 836-2017 《固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 重量法》 JJG 680-2007 《烟尘采样器检定规程》 JJG 968-2002 《烟气分析仪检定规程》 功能特点 Functional features &bull 7.0寸高亮彩色宽温触摸显示屏，界面美观，人机界面采用触摸屏和按键双操作模式&bull 烟气分析部分可选配紫外差分吸收光谱法（DOAS）或非分散红外法（NDIR）&bull 搭配GR8030型烟尘多功能取样管，可同时实现烟尘滤筒采样、低浓度滤膜采样、烟气取样、油烟采样（选配）、阻容法湿度测量（选配）、工况测量功能&bull 搭配GR-8031型β射线烟尘直读取样管，可实现烟尘浓度的现场直读测量&bull 多功能取样管配有显示屏、可独立进行烟气流速、温度、湿度等工况参数的测量&bull 多功能取样管支持有线和无线双通信模式传输工况参数，减少现场管线连接&bull 采样器主机具有烟尘采样、烟气测量、溶液吸收烟气采样同步运行功能&bull 高性能大流量烟尘采样泵，采样流量可达110L/min，等速跟踪流量40L/min&bull 宽压输入（AC:80~260V），具有过压、过流保护&bull 钛合金材质，耐高温、耐腐蚀，防吸附、重量轻&bull 烟温线、通讯线、取样管电源线、气路连接管四合一，气路连接采用快速接头，使用方便&bull 内置气体交叉干扰自动修正算法，最大限度避免了交叉干扰对测量结果的影响，保证测量精度&bull 采用工业级嵌入式控制设计，抗静电能力强&bull 精确电子流量计控制，实时监测计温、计压，自动调节流量&bull 微电脑控制等速跟踪采样，专有调节方式，响应时间快&bull 仪器内置气流缓冲器，提高采样流量稳定性&bull 具有防倒吸功能，可防止采样结束后采集的烟尘被倒吸入烟道，影响测量数据&bull 内置排水泵，气体过滤及储水装置透明式设计，烟尘、烟气采样具有自动排水功能&bull 实时记录设备工作状态数据，具有采样过程停电记忆功能&bull 具备气密性自动检测功能、故障自检功能，可对仪器功能进行检测并故障报警&bull 设备支持出入库管理操作系统，方便用户管理设备&bull 采用高效粉尘过滤器，提高过滤效率，降低了流量传感器和采样泵系统的故障率&bull 选用大容量存储器数据存储量达10万组，测量数据可通过U盘导出&bull 实时查询检测数据，标配蓝牙高速打印机，可现场打印数据&bull 交直流两用，内置可充电锂电池，电池组设有独立电池仓方便快捷插拔更换。电池自带电量显示&bull 采样过程中断电数据自动保护，来电后继续采样&bull 可选配物联网模块，可拓展联网功能，实现远程数据传输和物联网组网&bull 仪器可选配GPS和北斗卫星定位模块，实现GPS+北斗双定位模式和日期时钟授时功能&bull 可选配通过手机APP查看设备工作状态、可通过手机获取文件和转存数据；&bull 采样文件支持二维码转存，通过软件扫一扫即可实现文件获取并转存

X射线应力测定仪 一、仪器用途: 本仪器依据中华人民共和国标准 GB7704--2008《X射线应力测定方法》，能够在短时间内无损地测定材料表面指定点、指定方向的残余应力（用“ + ”、“ － ”号分别表示拉、压应力）, 并具备测定主应力大小和方向的功能。在构件承载的情况下测得的是残余应力与载荷应力之代数和,即实际存在的应力。适用于各种金属材料经过各种工艺过程（如铸造、锻压、焊接、磨削、车削、喷丸、热处理及各种表面热处理）制成的构件。本系统因功能齐全而适于实验室的试验研究工作，又因轻便灵活而适于现场测量。 各种机械构件在制造时往往会产生残余应力。在制造过程中,适当的残余应力可能成为零件强化的因素,不适当的残余应力则可能导致变形和开裂等工艺缺陷 在加工以后,残余应力将影响构件的静载强度、疲劳强度、抗应力腐蚀能力及形状尺寸的稳定性。 一个构件残余应力状态如何，是设计者、制造者和使用者共同关心的问题。无损地测定残余应力是改进强度设计，提高工艺效果，检验产品质量和进行设备安全分析的必要手段。 为了说明残余应力测试技术的应用场合，于此列举如下事例： 在现代机械工程中，由于焊接技术的进展，使许多巨大金属机构的制造成为可能，但随之而来的问题就包括如何测定并进而控制其残余应力的大小和分布。这是一个绝对不可掉以轻心的问题，它关系到工程的质量、寿命和安全。实际上，对于诸如球罐、塔器、轧辊、铁路、桥梁船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构船舶、海上石油平台、水利水电工程中的大闸门和压力钢管等等大型构件，以及航空、航天、核工业的有关设备，各有关部门都已把测定和控制残余应力的问题提到重要议事日程上来。 为了消除对构件带来不良影响的残余应力，传统的热时效方法还在普遍采用，而后来兴起的振动时效技术也正逐步形成推广应用的热潮。显然，检测构件时效前后，特别是振动时效前后各部位残余应力的变化，对于确定和正确掌握时效工艺是十分必要的。 为了提高某些零件的疲痨强度，材料强度专家们提出采用喷丸、滚压、表面热处理以及表面化学热处理等办法。就其强化机理而言，这里就包括 一个至关重要的因素──残余压应力的作用。因此，无损地测定零件表面残余应力对于确定和正确掌握强化工艺也是十分必要的。 近年来在轴承、轧辊、齿轮、弹簧等等行业已经把残余应力和残余奥氏体含量测定当作必检项目，用以控制产品质量。 机械设备的失效分析表明，应力腐蚀是导致零部件损伤和断裂事故的主要原因之一。其中，因焊接或其它工艺产生的残余拉应力所引起的事故占大多数。因此对于在腐蚀介质中工作的构件，残余应力是正或是负，以及绝对值的大小肯定是不容忽视的参数。 许多零件经过淬火、回火、磨削之后发现了裂纹。为了判定裂纹产生的主要原因，就必须分别研究热处理应力和磨削应力。 为了保证零部件形状尺寸的准确性和稳定性，也必须重视它的残余应力现状和变化趋势。凡要求精密之处，测定关键零部件的残余应力显然是非常重要的。 在各种无损测定残余应力的方法之中，X射线衍射法被公认为最可靠和最实用的。它原理成熟，方法完善，经历了七十余年的进程，在国内外广泛应用于机械工程和材料科学，取得了卓著成果。 X-射线应力测定仪是一种简化和实用化的X射线衍射装置，因而它还有一项重要的功能──测定钢中残余奥氏体含量。由于它适用于各种实体工件，而且能够针对同一点以不同的φ角、Ψ角进行测试,以探测织构的影响，这项功能便具备了重要而独特的用途。 采用TK-360-A型测角仪可以测定各种实体工件的织构。二、测量原理: X射线应力测定仪测量原理基于X射线衍射理论。 当一束具有一定波长λ的X射线照射到多晶体上时，会在一定的角度2θ上接收到反射的X射线强度极大值（即所谓衍射峰），这便是X射线衍射现象（如左图所示）。X射线的波长λ、衍射晶面间距d和衍射角2θ之间遵从著名的布拉格定律： 2d Sinθ＝n λ （n＝1，2，3……） 在已知X射线波长λ的条件下，布拉格定律把宏观上可以测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定的关系。当材料中有应力σ存在时，其晶面间距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化，按照布拉格定律，衍射角2θ也 会相应改变。因此我们有可能通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 关于X射线应力测量原理还可以作如下进一步的解释： 众所周知，对于晶粒不粗大、无织构的多晶材料来说，在一束X光照射范围内便有许许多多个晶粒， 其中必有许多晶粒，其指定的（h k l）晶面平行于试样表面，晶面法线与表面法线夹角ψ为0；也必有许多晶粒，其（h k l）晶面法线与表面法线成任意的ψ。首先，如图A所示，以试样表面某点(o点)法线为轴，将一束适当波长的X光和探测器（计数管）对称地指向该点O，并同步地相向扫描改变入射角和反射角。根据布拉格定律，可以找到平行于试样表面的（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ 。这个由X光束和计数管轴线组成的平面称作扫描平面，衍射晶面的法线必在扫描平面内，并居于X光束和计数管轴线二者角平分线的位置上。让我们记住，此时扫描平面与试样表面垂直，衍射晶面与试样表面平行，ψ＝0（如图B）。然后，扫描平面以图A中直线OY为轴转过一个ψ角（如图C），同样也可以得到（h k l）晶面的衍射峰和对应的衍射角2θ ，这时，衍射晶面法线与试样表面法线夹角为ψ（如图D)。 图A 图 B 图 C 图 D 在无应力状态下，对于同一族晶面（h k l）来说，无论它居何方位，即无论ψ角等于何值，晶面间距d均相等；根据布拉格定律，相应的衍射角2θ也应相等。当有应力存在时，譬如沿图中OX方向存在拉应力，则平行于表面（即ψ＝0）的（h k l）晶面，其间距d会因泊松比的关系而缩小（见图B）；随着ψ角的增大，晶面间距d会因拉应力的作用而增大（见图D）。于是相应的衍射角2θ也将随之改变──按照布拉格定律，d 变小，则2θ变大；d 变大，则2θ变小。显然2θ随ψ角变化的急缓程度与应力σ大小密切相关。对于各向同性的多晶材料，在平面应力状况下，依据布拉格定律和弹性理论可以导出，应力值σ正比于2θ随Sin ψ变化的斜率M，即 σ＝KM ????2θ M＝ —————— ??Sin2 ψ式中K为应力常数， E π K = — ————— Ctgθ0 ———— ? 2（1+μ） 180式中E为杨氏模量，μ为泊松比，θ0为无应力状态的布拉格角。对于指定材料，K值可以从资料中查出或通过实验求出。这样，测定应力的实质问题就变成了选定若干ψ角测定对应的衍射角2θ。 X-350A X射线应力测定仪可以自动完成测量并给出最终结果和某些有价值的物理参数。 X射线应力测定仪三、仪器结构： 本仪器主机由以下五部分组成：PC微机、主控箱、高压电源箱、测角仪及台式支架、PC 微机的最低配置应能支持Windows7/xp。 主控箱内有高压电源控制系统、接口线路和单片机系统、步进电机驱动器、计数放大器，以及1500V、24V、5V电源。 高压电源箱输出15kV～30kV电压，通过高压电揽供给测角仪上的 X 射线管。 测角仪是测量执行机构。仪器的核心部件 X 射线管和 X 射线探测器就装在测角仪上。本仪器的测角仪为θ-θ扫描Ψ测角仪。这是本研究所的专利技术。 X 射线管和 X 射线探测器同步等量相背扫描，二者各前进一个 θ，则衍射角改变 2θ，故名θ-θ扫描。在整个扫描过程中，衍射晶面法线保持不动，准确体现固定Ψ法的几何要求。 将上述θ-θ扫描平面设置在与Ψ平面相垂直的位置上，衍射晶面法线含于θ-θ扫描平面之中，且处在与试样表面垂直的平面里。这样，可以直观地看出，当θ-θ扫描平面沿着Ψ导轨转动时，该平面与试样表面之夹角就是Ψ角——衍射晶面与试样表面法线之夹角。这正是侧倾法的几何布置。所谓Ψ 测角仪，其实质即在于此。 测角仪上采用了圆弧滚动导轨、谐波齿轮等先进机械元件，运动精密而流畅。 台式支架用于支承测角仪。它包含 X、Y、Z 三个平移机构，均采用直线滚动导轨。底座和加长脚上装有螺栓支脚。调整螺栓支脚可以保证测角仪的主轴线与测试点法线重合。调整 Z 向平移机构可以校准测角仪至测试点的距离。调整 X、Y 平移机构则是为了对准选定的测试点，便于连续测定应力在工件表面各点的分布。螺栓支脚下端的球头用于连接电控永磁吸盘。立柱可以旋转360°，在采用了吸盘之后，旋转立柱可以扩大测试范围。四、功能特点： X射线应力测定方法分为同倾法和侧倾法, 侧倾法比同倾法具有无可比拟的优越性；从另一角度分类又分为固定ψ0法和固定ψ法，后者又因原理准确实用效果好而优于前者。更具魅力的是将此二优结合起来，即在侧倾的条件下实施固定ψ法便会产生喜人的新特点──吸收因子恒等于1。这就是说，不论衍射峰是否漫散，它的背底都不会倾斜，峰形基本对称，而且在无织构的情况下峰形及强度不随ψ角的改变而变化（如图所示）。显然这个特点对提高测量精度是十分有利的。所以行家们的共识：侧倾固定ψ法是最理想的测量方法 。然而，除了国产X-350A型以外，迄今国内外尚无以侧倾固定ψ法为主的应力测定仪。在X射线应力测定领域里普遍采用的都是同倾固定ψ 0法。对于使用多功能仪器者来说，虽然在必要时可以实现固定ψ法和侧倾法，但是由于仪器机构和功能的限制，总会伴随诸多困难和麻烦，更难应用于现场测量。新型 X-350A X射线应力测定仪当年便是在这种情况下应运而生的。本仪器以其独创性和先进性获得国家专利(ZL 专利号：98244375.7)。我公司具有θ-θ扫描Ψ测角仪的完全独立的知识产权。其功能特点如下： １、本仪器的测角仪以其独特的构思和巧妙的设计，使得在2θ平面上的X光管和探测器同时等速相对而行,严格满足固定ψ法的几何要素；另外，又使2θ平面与ψ平面相互独立。这样便保证了本系统以侧倾固定ψ法为主，实现理想的测量方法；同时保持结构简洁灵活轻便的特点。2θ扫描范围：120°～170°，在侧倾法的条件下，测定应力既可利用高衍射角又可利用较低衍射角.这样,除适用于铁素体型钢和铸铁材料之外，还为奥氏体不锈钢、铝合金、钛合金、铜合金以及高温合金、硬质合金等材料的应力测定带来方便并可提高测量精度。侧倾固定Ψ法另一特点是对于各种形状的零部件有更好的适应性，特别是对于齿轮的齿根部位。 ２、本仪器θ-θ扫描Ψ测角仪的衍射几何 为聚焦法。如图所示。在 X 射线管和 X 射线探测器以θ-θ方式沿测角仪圆扫描过程中，X 光源点、试样上被照射点和探测器接受点，三者随时同处在一个聚焦圆上，当然，随着扫描过程，聚焦圆的大小是逐步变化的。 ３、测定残余奥氏体含量更为便当。本仪器2θ扫描范围120°～170°， 一次扫描可以得到αFe(211) 、γFe(220)两个完整的衍射峰，无需另外安装延长扫描范围的附件，测试更加方便、快捷、准确。而且可以针对同一测试点取不同的Φ角、角进行测定，以便探测织构的影响。必要时，可以做到残奥含量和残余应力同时测定，亦即一次测量得到残奥含量和残余应力两项数据。这些都是本仪器独有的功能，对于各种实体工件具有极其可贵的实用价值。 ４、支架与测角仪之间可以装备针对同一测试点转Φ角的连接机构，这样即可测定主应力的大小及其方向，测定剪切应力。 ５、应用PC微电脑，Windows 环境操作，界面友好，使用方便。提供侧倾、同倾固定ψ法、摆动法应力测定以主应力计算、残奥测定等专用软件，丰富而实用。自动生成专业而翔实的实验报告；根据用户要求，还可以生成英文版实验报告。 ６、引入交相关法进行数据处理,显著提高定峰和应力测量精度。 ７、为X光管配置高压开关电源，最大功率30KV×10mA，稳定度优于0.1% 。 ８、采用微型激光器校准测试点的位置与方向。 应力测定仪五、主要技术参数:★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。 定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。 仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°； ２θ扫描最小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6° X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。 衍射几何：聚焦法 准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。 测角仪重量：10 kg最简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

H6型β射线颗粒物监测仪（便携式）产品简介： H6型β射线颗粒物监测仪采用β射线，利用低能量14c作为β射线源，根据β射线穿过清洁滤纸和采集有颗粒物的滤纸时的变化量来计算在滤纸上采集到颗粒物的质量，继而求得空气中的颗粒物浓度。 仪器在结构上整体采用钢质材料，能够适应全天候复杂环境，具备电子兼容A级设计，以及IP55防尘、防溅水设计，功能完善、体积小巧、系统集成度高、坚固耐用，可在各种复杂环境下可靠工作。设备带有机箱内部温度控制系统，可工作在外部环境温度为（-20～50）℃，适用范围广。主要特点：&bull 仪器主机：仪器主机面板有触摸屏，实现人机交互功能；&bull 仪器体积小、重量轻、内置采样泵、方便移动、携带、可在户外运行；&bull 安全剂量的β射线作为辐射源。β放射源为14c,半衰期为 5730，性能稳定，符合核安全卫士标准；&bull 切割器：切割器是根据空气动力学原理设计的，用于分离不同直径的颗粒物（PM10和PM2.5)，切割器切割效率的有效流量16.7L/min；&bull 可选配不同的切割头对PM10、PM2.5、TSP浓度进行实时测量；&bull 采用β射线吸收原理直接测量颗粒物的质量；&bull 气路流量采用质量流量计控制，恒流精度高；&bull 监测仪结构紧凑、具备自动校准功能、断纸和数据异常报警功能；&bull 使用动态加热系统（DHS)，消除环境湿度带来的测试影响；&bull 能实现多种样品的采集并测试浓度，通过选择不同的切割器测量空气中TSP、PM10、PM2.5等浓度；&bull 可以实时传输测量过程中的温度、大气压、流量和测量浓度等数据功能；&bull 采样系统采用模块化设计，分为计算采样模块、流量控制模块、动态加热控制模块、数据传输模块，便于后期维护及更换；&bull 可自动连续监测，便于维护，运行成本低；&bull 数据查询可在设备上查询，也可通过U盘导出数据。主要资质：CPA计量器具型式批准证书CCEP环境保护产品认证证书技术参数项目技术指标测量范围（0~10000） μg/m³ 示值误差±15%检测限1ug/m3分辨率0.1ug/m3校准膜重现性≤2%标称值纸带玻璃纤维纸带β射线源C-14,半衰期5730年与参比方法线性回归符合斜率：1±0.15截距：（0±10）μg/m³ 相关系数：≥0.93采样流量16.7L/min，示值误差±2%校准方法标准膜校准USB接口支持U盘数据导出远程数据查询具备DTU模块，可远程查询仪器工作状态和传输实时测量数据数据存储能力30000组数据故障报警实时显示故障报警动态加热（DHS）（0-60）℃可设纸带走纸距离17mm计量前温度-20℃～50℃，示值误差±0.5℃采样流量偏差±2%（以恒流量16.7L/min为基础）大气压检测（30～130）kPa湿度控制（0～99）%RH可设（环境湿度检测，滤膜后湿度检测）工作环境环境温度：-20℃〜 50℃ 相对湿度：不大于80%大气压：86kPa〜 106kPa电源：电压AC220V±22V、频率50Hz±1Hz其他仪器工作时附近不应有剧烈震动的装置或设备，无强电、磁场干扰；防止酸、碱及其他腐蚀性气体或烟雾侵蚀仪器的光学及精密机械零件。仪器尺寸（不包含切割器）长×宽×高（mm）：260×243×343；重量：8.5KG

H9002型β射线烟尘(气)测试仪产品简介H9002型β射线烟尘(气)测试仪是一款可用于直接测量固定污染源中颗粒物浓度的仪器，测试仪集S 型皮托管、温度传感器、加热控制、采气管于一体，利用β射线原理直接测量烟尘浓度，同时可测量烟道内的动压、静压、温度、含湿量、流速、风量以及烟尘排放浓度、排放量等。广范适用于固定污染源有组织排放废气中颗粒物浓度的测量，可供环保、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等部门使用。执行标准GB/T 16157 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定污染源废气监测技术规范DB 37/T 3785-2019 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 36/T 1386-2021 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 21/T 3270-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法DB 63/T 1873-2020 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 β射线法JJG 680-2007 烟尘采样器检定规程主要特点&bull 采用β射线吸收原理，测量结果不受颗粒物大小形状及其他化学性质的影响,数据准确；&bull 最低检出限是0.1mg/m3，可满足超低工况监测要求；&bull 采用异位法设计，采样工位与测量工位分离，避免关键元器件污染，保证测量精度；&bull 采样管及采样工位采用智能高效全程加热控制；&bull 采样管内壁采用超高光洁加工工艺，最大程度减少颗粒物的吸附；&bull 采样样管快速对接设计，可实现快速拆装，方便运输和使用；&bull 内置式皮托管，前端采用对接式设计，方便拆卸更换；&bull 使用符合国家标准的校准膜片进行校准，数据更加准确；&bull 采用安全稳定的C14放射源，符合国家豁免标准&bull 采用工业平板无线操控，支持蓝牙通信功能和外置蓝牙高速打印机； &bull 配有高负载低噪声大流量旋片式抽气泵，流量可达 100L/min；工作条件&bull 工作电源： AC（220±22）V，（50±1）Hz； &bull 环境温度：（－20～ 50）℃； &bull 环境湿度：（0 ～95）%RH； &bull 适用环境： 非防爆场合； &bull 电源接地线应良好接地； &bull 野外工作时，应有防雨、雪、尘以及日光爆晒等侵袭的措施。技术指标项目参数范围分辨率最大允许误差烟尘浓度（0～50）mg/m30.01mg/m3不超过±20%烟气温度（0～500) ℃0.1℃不超过±3℃取样管加热温度（50～160） ℃1℃不超过±10℃滤带加热温度（50～160） ℃1℃不超过±5℃采样嘴型号φ4.5、φ6、φ7、φ8、φ10、φ12皮托管系数0.84±0.01测孔直径要求≥80mm取样管耐温≤260℃

X射线残余应力分析仪，应力测定仪，应力测试仪X射线应力测定仪 主要技术参数:采用最先进的瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°；２θ扫描***小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6°X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。衍射几何：聚焦法准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量：10 kg***简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

XY-8031型β射线烟尘直读采样管产品概述本仪器是采用β射线吸收称重原理，配合烟尘主机针对固定污染源有组织排放气体中的颗粒物浓度进行自动采样和精确测量，具有体积小，测量精度高，便于携带安装等特点。可测定烟道的动压、静压、温度、流速、标干流量、烟尘排放等。广泛应用于环保、检测公司、工矿企业（电厂、钢铁厂、水泥厂、糖厂、造纸厂、冶炼厂、陶瓷厂、锅炉炉窑，以及铝业、镁业、锌业、钛业、硅业、药业，包括化肥、化工、橡胶、材料厂等）、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等领域采用标准GB/T16157-1996固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007固定源废气监测技术规范DB37/T 3785-2019固定污染源废气 颗粒物的测定 β射线法技术特点1) β射线吸收原理，不受颗粒物大小、形状等其他化学性质影响，现场自动测算尘重及排放量2) 采用低活度的14C β射线源，安全可靠3) Z低检查限0.1mg/m3,可满足超低工况监测要求4) 内置湿度检查模块，具有湿度测量功能5) 选配烟气预处理功能，可配合烟尘主机进行尘气同采，测尘的同时进行烟气浓度的测量。6) 采用滤带式采测异工位结构设计，采样与测量过程分离，避免关键元器件污染，保证测量精度7) 钛合金取样管全管路采用智能高效加热控制，气路内壁采用超光洁工艺加工，减少颗粒物损失，保证测量精度8) 滤膜前后双重加热，提升滤膜烘干效率，防治烟气冷凝对测量结果造成影响。9) 可实时测量水平和垂直方向的角度，具有倾斜报警功能 10) 采用惰性材料校准膜校准，测试数据更准确11) 取样管采用独特的对接设计，可实现快速拆装，且可多角度转动，方便运输和使用12) 内置式皮托管，外观简洁，操作便利；皮托管采用模块化设计，方便拆卸，降低维修成本13) 具备滤带用尽前预警和纸带用尽、断裂报警功能14) 采用滤带式设计，一次安装长时间使用，并可实现短期在线监测功能。15) 具备USB接口，可实现USB导出功能。16) 可与GR-3100D型低浓度烟尘/气测试仪搭配使用，实现烟尘浓度直读17) 带有WIFI及蓝牙，实现远程数据传输和物联网组网 技术参数表1 主要技术指标主要指标参数范围分辨率Z大允许误差浓度范围(0～50)mg/m3（可扩展）0.01mg/m3±20%采样流量（0～50）L/min0.1L/min±2.5%含湿量（0～40）% VOL0.01% VOL±2.0%VOL烟气动压（0～2500）Pa0.1Pa±2.0%烟气静压（-35～35）kPa0.01kPa±2.0%烟气全压（-35～35）kPa0.01kPa±2.0%烟气温度（-50～500）℃（可扩展） 0.1℃±3.0℃大气压（30～120）kPa0.01kPa±0.5 kPa校准方式标准膜校准工作电源DC24V 15A外形尺寸323x100x248mm采样管长度 标准1.5m可定制功耗360W

GHK-2200型β射线烟尘直读采样管是采用β射线吸收称重原理，配合烟尘主机针对固定污染源有组织排放气体中的颗粒物浓度进行自动采样和精确测量，具有体积小，测量精度高，便于携带安装等特点。 执行标准 GB/T16157-1996《固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法》 HJ/T397-2007《固定源废气监测技术规范》 DB37/T3785-2019《固定污染源废气颗粒物的测定β射线法》 功能特点 1、β射线吸收原理，不受颗粒物大小、形状等其他化学性质影响，现场自动测算尘重及排放量 2、采用低活度的14Cβ射线源，安全可靠 3、检出限低，可满足超低工况监测要求 4、内置湿度检查模块，具有湿度测量功能 5、选配烟气预处理功能，可配合烟尘主机进行尘气同采，测尘的同时进行烟气浓度的测量 6、采用滤带式采测异工位结构设计，采样与测量过程分离，避免关键元器件污染，保证测量精度 7、钛合金取样管全管路采用智能高效加热控制，气路内壁采用超光洁工艺加工，减少颗粒物损失，保证测量精度 8、滤膜前后双重加热，提升滤膜烘干效率，防治烟气冷凝对测量结果造成影响 9、可实时测量水平和垂直方向的角度，具有倾斜报警功能 10、采用惰性材料校准膜校准，测试数据更准确 11、取样管采用独特的对接设计，可实现快速拆装，且可多角度转动，方便运输和使用 12、内置式皮托管，外观简洁，操作便利；皮托管采用模块化设计，方便拆卸，降低维修成本 13、具备滤带不足预警和纸带用尽、断裂报警功能 14、采用滤带式设计，一次安装长时间使用，并可实现短期在线监测功能 15、具备USB接口，可实现U盘导出功能 16、与低浓度烟尘/气测试仪搭配使用，实现烟尘浓度直读 17、可选配物联网模块，实现远程数据传输和物联网组网

Scandiflash 闪光 X-射线系统覆盖的电压范围从 75 千伏到 1200 千伏。系统同时也包括所有必要的外围设备。使用Scandiflash G 快速增感屏及Kodak T-MAT H 底片。底片的密度是0.7。150型，300型，450型及 450S 型系统用5米同轴电缆连接脉冲发生器与X-射线管。1200型系统管子在脉冲发生器内。X-射线源尺寸可以通过使用不同的阳极而变化。给出的是典型值。 该系统包括一个或多个通道。在预先设定的时间，每个通道提供一张照片，或者用双管装置同步曝光可得到同一时刻的两张照片。为节省成本和简化操作所有通道都连接到同一个控制系统上。系统的通道通常连接同样型号的脉冲发生器。然而，控制系统可操作几个不同型号脉冲发生器。用多个高压电源可用于操作具有不同输出电压的通道。 由被照射对象的类型和性质，决定使用何种型号的系统。很厚和高密度物体需要较高的输出电压。从 X 射线管到图像探测器有很长的距离，通常也需要较高的电压。 高电压脉冲发生器，或称脉冲发生器，在Scandiflash系统使用的改进型的马克思冲击发生器。在这种类型的电路中，电压的倍增是用电容器的并联充电和串联放电来实现的。电容器由平行充电到串联放电是由火花球隙开关来实现。脉冲放电是由在一个火花球隙上加一个高电压的触发脉冲来启动，其余的火花球隙由发生器中瞬态过电压而启动。 特制的低电感电容器，用同轴的方式排列，用来减小输出脉冲的上升时间。电容器的充电电压是可调的，这样就使输出电压连续可调。电容器的设计是模块化的，所有脉冲发生器，除了150型，都使用相同类型的高电压模块。对于不同的峰值输出电压，模块的数目是不同的。 电容器，火花间隙开关和充电网络都装在一个接地的金属罐内。金属罐起到屏蔽作用，而且是同轴性放电，以使外部射频辐射的水平非常低。金属罐内充以高气压，来提高绝缘性和控制固定火花间隙开关的击穿电压。输出电压是通过同时调节模块的充电电压和火花隙开关的气体压力来改变。 控制系统用计算机控制. 电子单元用微处理器控制, 并用网线开关连接到笔记本电脑. 所有的操作参数可以通过笔记本电脑设置和读出。对于较短的距离, 笔记本电脑是通过网线与控制台连接. 某些由于安全的原因或设备的布局,希望远距离遥控, 这样的系统就用光缆连接。基本通道控制系统在短路接触触发时, FXRC 4 将给触发装置提供一个-12 伏电压. 当这个电压被短路时, 时间延迟发生器开始工作。I用脉冲信号触发时, 触发脉冲的辐度5～50 伏. 脉冲可以是正脉冲或负 脉冲. 输入偏置电压从-9 伏到+9 伏. 为了安全触发，脉冲的上升时间应小于 0.5μs。时间间隔测试仪测量触发输入和脉冲发生器输出之间的时间间隔, 时间分辨率为 0.05 μs. 在系统工作后, 测量的时间显示在笔记本电脑上。乾燥空气用于绝缘脉冲发生器中的高压模块. 在不同的脉冲发生器充电电压时, 乾燥空气的压力可改变, 以达到最隹工作状态。 乾燥空气压力可以通过系统软件自动设置, 使用电控制的阀门. 而电传感器用于测量气压. 当笔记本电脑没有连接时, 气压也可从闪光 X 射线通道控制单元的前面板上读出。 离子泵电源离子泵电源给 X 射线管的离子泵提供一个电压. 在离子泵电源内有离子泵保护功能, 以防止离子泵过热. 当笔记本电脑没有连接时, 离子泵电流也可从闪光 X 射线通道控制单元的前面板上读出. 在双管装置时, 在FXRC 4 中也安装一个附加的离子泵电源.对于 1200 千伏系统，离子泵电源由皮拉尼规代替测量真空。 系统监测单元在每个通道中, 有系统监测单元, 跟随着通过系统的脉冲. 信号是从 6 个监测点取得。 在系统工作后,可立即给出所有信息及发现可能的故障。SU 8 型开关单元是一个 8-通道的网线开关单元, 处理笔记本电脑和 FXRC 4 单元之间的信号传输.系统是用连接到控制台上的笔记本电脑或台式机来操作. 笔记本电脑与控制台的电子线路是通过 网线连接.对于距离大于 50 米推荐用光缆. 如系同有多于一个的高压电源, 软件也可以处理, 允许在同一系统中, 不同通道有不同的输出电压.软件将找到和推荐最隹的乾燥空气及绝缘气体压强. 这些压力也可在一定范围内手动调节.下一步是选择触发方式, 也就是脉冲触发或短路触发, 并设置延迟时间. 如选择短路触发,FXRC 4 将给触发传感器一个-12 伏直流电压.当选定所有参量后, 按SET 键. 这样没有按ON 开关, 但高压电源, 延迟时间以及气体压强被设置好. 每个通道的指示器将表明设置己好.当所有通道的设置己好, 按下RESET SYSTEM 键. 软件将对设置做后期检查.这时系统己准备工作. 将高压开关按下 ON. 充电电压充到设定值. 当所有脉冲发生器充好电, 则READY 灯将亮起, 而系统可以触发.脉冲发生器的输出指标将显示该通道是否放电。这些指标也将給出哪个通道自放电。如果一个通道没有触发，该窗口将显示其是否收到触发信号。 时间间隔测试仪是用于测量从触发输入到脉冲发生器的输出之间的时间间隔。在放电后可显示所测量的时间间隔。 通过按复位按钮时，系统可以再次使用相同的设置而工作。软件手动触发包括允许一个或多个通道的手动测试。

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

仪器简介：AL-Y3000型衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。●硬件系统和软件系统的完美结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要●高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果●高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度●程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：●未知样品中一种和多种物相鉴定●混合样品中已知相定量分析●晶体结构解析●非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）●材料表面膜分析●金属材料织构、应力分析技术参数： X射线衍射仪可以分析天然或是人工合成的无机或是有机材料，广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。●基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装●金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率●封闭正比计数器，耐用免维护●硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上●丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要●模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件光学系统转换 不需要拆卸索拉狭缝体，就可以单独更换索拉狭缝结构。由于这一特点，不需要重新调整仪器，就可以实现聚焦光学系统和平行光学系统的转换。 早前聚焦法光学系统和平行光束法光学系统分别需要配置弯曲晶体单色器和平面晶体单色器，光学系统的转换需要对光学系统重新校正。采用本系统只要将单色器的晶体旋转90°、更换狭缝结构，就可以实现光学系统的转换。数据处理软件包括以下功能 基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Ka1、a2剥离、衍射线条指标化等）；●无标准样品快速定量分析●晶粒尺寸测量●晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）●宏观应力测量和微观应力计算；●多重绘图的二维和三维显示；●衍射峰图群聚分析；●衍射数据半峰宽校正曲线；●衍射数据角度偏差校正曲线；●基于Rietveld常规定量分析；●使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析；●使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析； AL-3000型衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有超强的分析能力 高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性极大地提高，实现即插即用。不需要对光路进行校准，只要在软件中选定相应的附件就可以实现特殊目的测量。多功能样品架 随着材料研究的深入，越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。●碾轧板（铝、铁、铜板等）织构测量及评价●金属、陶瓷等材料残余应力测量●薄膜样品晶体优先方位的评价●大分子化合物取向测量●金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析 织构使材料呈现各向异性，利用织构改善和提高材料的性能、充分发挥材料性能的潜力，是材料科学研究的重要工作之一。虽然检测材料织构方法很多，但是最广泛应用的还是X射线衍射技术。

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

DX-2700BH多功能衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

崂应1089K型 β射线烟尘检测器 一、产品概述 本仪器是采用β射线吸收原理，实现固定污染源排气中颗粒物浓度现场监测，可直接读取数据并不受颗粒物大小、形状等其他理化性质影响。不仅测量精度高，而且轻巧便携，可灵活拆卸组装，特别适合超低排放工况使用。二、执行标准GB/T16157-1996 固定污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法HJ/T 397-2007 固定源废气监测技术规范DB37/T 3785-2019 固定污染源废气 颗粒物的测定 β射线法三、产品特点β射线吸收原理，不受颗粒物大小、形状等其他化学性质影响，现场自动测算尘重及排放量采用低活度的14C β射线源，安全可靠最低检出限是0.1mg/m3，可满足超低工况监测要求采用滤带式采测异工位结构设计，采样与测量过程分离，避免关键元器件污染，保证测量精度钛合金取样管全管路采用智能高效加热控制，气路内壁采用超光洁工艺加工，减少颗粒物损失，保证测量精度滤膜前后位双重加热，提升滤膜烘干效率，防止烟气冷凝对测量结果造成影响取样管采用独特的对接设计，可实现快速拆装，且可多角度转动，方便运输和使用内置式皮托管，外观简洁，操作便利；皮托管采用模块化设计，方便拆卸，降低维修成本具备滤带用尽前预警和纸带用尽、断裂报警功能采用滤带式设计，一次安装长时间使用，并可实现短期在线监测功能。使用惰性材料校准膜校准，使数据更加准确。主机模具化设计，小巧轻便，重量约4.1kg内置阻容法湿度传感器，可直测烟气含湿量具备USB接口，可实现U盘程序升级采测流程顺畅，自动完成，工作效率高预留无线数据传输功能，可与无线烟尘采样器连接，简化管路连接多样化搭配组合：①采用崂应3012H-D型 大流量低浓度烟尘/气测试仪（18款）作为动力主机：流量大，负载高，采样/直读双模式。②采用崂应3012H-C型 自动烟尘气测试仪作为动力主机：尊享无线数据传输功能，简化管路连接。仪器内置电子标签，支持仪器出入库管理平台说 明：1、以上内容完全符合国家相关标准的要求，因产品升级或有图片与实机不符， 请以实机为准,本内容仅供参考。