射线水平仪

青岛奥得森电子有限公司成立于二零零四年，是一家集研发、生产、销售三强合一且技术实力雄厚的优秀企业，专注生产DEG系列电子水平仪及相关产品，其产品各项技术指标均达到了国际优良水平，拥有多项产品知识产权，所生产的DEG系列电子水平仪测量系统可用于直线度、平面度、垂直度和机器几何形状进行精密测量并打印出检测结果。还可以与其他仪器连接，以拓展其应用空间。是各个生产计量单位、厂家工程师、技术员的得力助手。DEG-系列电子水平仪于二零二一年底升级改型完毕，改变提升四项功能，为使用者带来更便捷高效的全新体验

仪器简介：API电子水平仪是双轴实时测量的高精度水平仪，是为坐标测量机和数控加工中心的评定而设计的，它可用于三坐标测量机以及加工机床的安装和性能评定。由于采用了双轴系统，可快速测量水平运动工作台的倾斜角、翻转角及水平轴与垂直轴的垂直度。双轴水平仪使实际测量时间比传统方式减少了50%以上。由于采用了先进的&ldquo 液体电子&rdquo 传感技术，水平仪在测量过种中具有很高的精度和一致性。技术参数：1.测量范围：± 800秒（± 5.8毫米/米） 2.分辨率：0.1秒（0.48微米/米） 3.精确度：± 1.0秒或1%显示值（± 4.8微米/米）主要特点：1.测量运动托板的倾斜，翻转及垂直度 2.建立机床基座的精确水平基准 3.使用高精度&ldquo 液体电子传感&rdquo 技术 4.同时测量双轴 5.没有机械运动部件 6.从本质上排除了所有外来误差

一、产品介绍：光栅式数显水平仪检定器是一种测量小角度的精密仪器，主要用于检定框式水平仪和条式水平仪示值的误差。仪器采用精密的光栅传感器，电子细分电路，单片机程序电路及精密的机械传动微调装置和采用稳定系数高的花岗岩特制的工作面、调整结构组成。符合JJG191-2002 水平仪检定器检定规程二、技术参数：1、分 度 值 : 0.0025㎜/m(角度0.5〃)2、回 程 误差: ≤0.3格3、分 度值误差 : ≤标称分度值的4%4、测量 范 围 : ±300＂5、可调工作面的平面度: ≤3.5μm三、原理结构： 水平仪示值检定器采用精密的光栅传感器，电子细分电路，单片机程序电路，预留有计算机接口（可与计算机连接），及精密的机械传动微调装置和采用稳定系数高的花岗岩特制的工作面、调整结构组成。完全符合JJG191-2002 水平仪检定器检定规程。 四、特点： 水平仪示值检定器操作简便、快捷 、稳定性高、高精度的分度值（分度值0.0025㎜/ｍ,显示精确到0.1＇＇）无机械性测试回程误差、无机械磨勋，工作面采用花岗岩永不生锈（无需保养维护）、仪器使用寿命长久，设计结构简单合理便于仪器维护及升级。是目前国内计量检定框式水平仪和条式水平仪先进的检定仪器。广泛用于计量检测部门及企业。

一、概述水平仪零位检定装置是目前校准水平仪零位的小角度精密测量装置,具有准确度高,操作快捷。可校300mm、以内的框式、条式水平仪及对水平泡的零位。水平仪零位检定装置的设计结构简单合理、完全符合标准；JJF1084-2002框式水平仪和条式水平仪校准规范。仪器具有准确度高、稳定性强、操作方便。二、技术参数1、 测量范围： 0—300mm ；2、工作台的平面度： 3.5μm/760×200mm3、标准芯轴素线直线度 ≤1.2μm4、标准芯轴素线平行度： ≤1.4μm5、平行尺的平行度： ≤1.4μm6、平行尺的平面度： ≤1μm7、平行尺安装的垂直度： ≤2"8、标准芯轴安装的垂直度： ≤2"9、体积(760×328×600)mm；10、重量：约 190kg三、结构原理：水平仪零位检定装置采用双位测量的绝对测量方法，取两次测量读数之差的平均值作为零位误差。平行尺与标准芯轴采用优质轴承钢研磨而成,固定架采用稳定铸铁加工与花岗岩平板安装成一体。其结构如图1 所示；图一1、锁紧螺丝 2、锁紧架 3、定位块 4、标准芯轴 5、平行尺 6、V型块 7、花岗岩工作台 8、锁紧螺母 9、力臂架 10、下定位块 11、水平调螺丝 12、垫块

仪器简介：电子水平仪用于检测角度的微量变化或小角度测量，用于直线度、垂直度和平面度的测量。倾角仪用于角度的高精度设置及计量。技术参数：型号Talyvel5TB80TB100Digital测量范围±360度360度±45度分辨率0.1秒0.2秒10秒4秒精度0.2秒5秒10秒30秒读出方式数显目测目测数显

YN-101S型数显式水平仪示值检定仪：是一种测量小角度的精密仪器，可以直接显示分秒角度值，读数直观。主要用于校验各种钳工水平仪、框式水平仪和结构水平器具的示值误差、分度误差、均匀性等技术指标。具有准确度高、稳定性好、数据直观、操作方便的特点。 带与计算机相连的标准RS232串口，选配有水平仪检定软件（按检定规程编制），在检定水平仪时，检定软件根据检测数据自动处理检定结果，并生成检定报告，检定报告可由打印机直接输出。相关参数：测量范围：≥±300″ 数显分度值：0.1″,示值变动性：±0.3″ 综合示值误差：±(0.3+标称分度值的5％) ″ 纵向及横向水准器格值：20″ 可测工件最-大尺寸(当有左右挡块时)：250mm 仪器尺寸与重量：384×150×202 mm(长×宽×高) ，约10 kg

千斗工业品-专注生产检测设备、电子测试设备、理化分析仪器、计量工具、工业控制仪表等日本与韩国工业品一站式代购与销售，如有需要可直接致电咨询。我们公司再日本与韩国设有采购办事处，与多个厂家有业务来往，采购工业品厂家直接供货价格方面有一定优惠。如果您需要的工业品确定是日本或是韩国，就可以向我们千斗工业设备咨询价格。声明关于价格问题请以咨询价格为准，标注价格仅供展示。韩国DONGDO IM-2DT/IM-2DT-H是***数显两轴彩色水平仪特点：分辨率0.001；可以两轴同时显示；尺寸小便于携带与测量；彩色TFT LCD；用于机台水平度调整IM-2DT-H水平仪详细参数：尺寸宽115mm X长65.5mm X宽21mm重量180g分辨率（精度）0.001?响应速度1.0秒工作温度0?45 ℃内置电源和可充电电池（锂离子3.7V）迷你5针USB电缆（随附）*IM-2DT/IM-2DT-H功能1.2D可以同时查看，从而使短时间内的水平设置变得容易2. 彩色LCD增强了视觉功能。3.提供紧凑轻巧的传感器单元。4.可以嵌入各种***系统设备中。5.内置RS232C通讯功能。6.内置锂离子充电电池和用于普通PC的USB端口充电。主按钮-主按钮具有4个功能。1.打开电源：关闭电源后，按此按钮可以打开电源并发出通知声。2.关闭电源：打开电源后，按住此按钮2秒钟可关闭，并发出通知声。3.闪光灯开/关：打开电源后，按此按钮约1秒钟，可发出哔哔声来开/关闪光灯。闪光灯打开时，触摸板不起作用（2021年1月这样功能将会取消）。4.触摸板校准：打开电源后，按住此按钮5秒钟以上即可进入触摸板校准模式。-当触摸板无法正常工作时使用此功能。触控板-测量屏幕的触摸板分为三个区域。触摸每个区域时，将执行以下功能。1.主菜单执行区域：触摸屏幕上的MENU进入主菜单。2.值/相对值更改区域：您可以选择屏幕上显示的X / Y角度作为值/相对值（ABS?REL）。- 值（ABS）：相对于坐标系的X / Y值。坐标系由生产者或用户通过主菜单中的“校准”设置。- 相对值（REL）：在0.00中设置当前状态的X / Y值。3.倾斜方向显示区域：您可以更改倾斜方向的显示方式。（行?水滴显示）操控按键说明：zhujun...2066电源：推键一次，如果电源关闭后的电力是一个声音。关机：按下键约2秒打开电源时。然后关闭电源。在/关闭闪光灯：推键在1秒后接通电源。然后，Flash是/关。触控板不工作的闪光时。触摸屏校准：推键超过5秒。然后在触摸垫的校准模式。这个函数是用来当触控板不工作。的功率应在进入校准模式。每个功能都可以通过触摸的字母选择。兼营：退出主菜单和显示测量屏幕。方式：改变显示模式。设置为平板模式规格。校准：校准*零度。平均数的变化输入行数据平均。显示：改变显示选项，如亮度，供电时间，等。串行：改变RS232C串行输出的方法。保存：保存任何用户改变了，它应该做的。关于：看到了制造商的信息。

瑞士丹青BlueLEVEL系列蓝牙无线传输电子水平仪适用于小角度测量、选配不同测量软件可完成平面度、直线度、垂直度的测量，也可满足机床零部件几何误差的测量。测量范围大，零位调节精确。精度高，稳定性好。

瑞士丹青BlueLEVEL-2D系列新型两维蓝牙水平仪，打破传统水平仪设计理念，将双方向水平仪合成在同一设备内，减小体积，增大使用灵活性，稳定性，可以满足更多种工业测试的需求。

日本坂本电机SEM数字水平仪SELN-121BM 带数据存储功能特征您可以一边看着显示器屏幕一边调整水平仪，就像看着气泡水平仪一样。适用于精密设备、半导体制造设备等的水平调整。通过同时调整两轴，可以减少调整作业所需的工时。角度数据存储功能，可对外输出实时角度数据。由于它是无线的，以前需要两个人完成的任务现在可以由一个人完成。规格数据存储功能： 有传感器尺寸（mm）：75×75×34传感器重量（g）：240（SVS底座）、160（铝底座）机身尺寸：约96×35×145mm线性角度：X方向/±0.3deg，Y方向/±0.3deg显示范围：0.0001deg降幅设定范围：0.0001deg量程切换：0.01/0.001/0.0001测量分辨率：0.0002degOVER显示：0.3deg以上零点重复精度：50ms以下电源：主机/专用AC适配器DC6V（附带）或4节AA电池（另售），传感器部分/锂离子充电电池/3节AAA电池（可用USB电源）机身重量：280g 包装尺寸：380 x 340 x 220 mm 　2 kg

日本坂本电机SAKAMOTO水平仪SELN-001B 特征您可以一边看着显示器屏幕一边调整水平仪，就像看着气泡水平仪一样。适用于精密设备、半导体制造设备等的水平调整。通过同时调整两轴，可以减少调整作业所需的工时。规格数据存储功能: 无传感器尺寸（mm）：Φ50×19传感器重量（g）：70（SVS底座）机身尺寸：约96×35×145mm线性角度：X方向/±0.3deg，Y方向/±0.3deg显示范围：0.0001deg降幅设定范围：0.0001deg量程切换：0.01/0.001/0.0001测量分辨率：0.0002degOVER显示：0.3deg以上零点重复精度：50ms以下电源：主机/专用AC适配器DC6V（附带）或4节AA电池（另售）机身重量：280g符合 RoHS2 (EU)2015/863 包装尺寸：380 x 340 x 220 mm 　2 kg

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

RS2000 系列是Rad Source 专为生物医学研究开发的多用途X射线辐照仪，它已成为了生物学辐照仪的经典，是全球用户数量最大的X射线辐照仪，众多知名的大学、医院、研究所和企业都是RS2000的用户。RS2000 包括RS2000 基本型，以及RS2000pro、RS2000XE、RS2000Lite 等不同配置，主要用于大小鼠等各类实验室动物、细胞、微生物、植物和的辐照，其中RS2000pro 是目前的型号。RS2000 系列生物学辐照仪，采用先进的辐照X射线球管和射线过滤技术，辐照的生物学效应（RBE，包括细胞清除率和DNA 断裂量）都达到甚至超过了传统的铯137 同位素γ射线辐照仪，保证了辐照的效果，这对于生物医学研究至关重要。RS2000 系列采用了专利的RAD+反射体技术，解决了辐照剂量均一性的难题，剂量均一性达到95%以上，并且在动物、植物照射时，垂直方向的剂量均一性也显著提高。 型号：RS2000X 射线辐照仪相对于同位素辐照仪的优势安全：仪器自身完全屏蔽，无需特殊的安装环境和外界防护便捷：可控的开关，只在需要照射的时候开启射线源稳定：没有同位素半衰期的问题，照射剂量稳定精确：剂量精确可控环保：没有环境污染的隐患，无需担心同位素废料的处理审批流程简单：属于三类射线装置，仅需备案，无需环境影响评价报告主要应用领域 免疫学 肿瘤研究 干细胞研究 DNA损伤动物模型 骨髓移植 器官移植 药物研发 放疗研究 辐射消毒病毒 灭活实验 血液辐照 RS2000pro 可以选择不同的球管电压，主要有160KV、225KV、320KV 和350KV。选择不同的球管会同时配置相应电压的高压发生器。 辐照仪的主要特点：高效性： 辐照的生物学效应强，相当甚至超过Cs137 同位素辐照仪RS2000pro 生物学X 射线辐照仪，使用专用的辐照X 射线球管，高功率，高能量，并且采用同类产品中最高的固有过滤的铍窗厚度（4mm），过滤了绝大部分的45KeV 以下的低能X 射线，保证了辐照的生物学效应。相同剂量情况下，其生物学效应相当甚至超过伽马射线（来源于Cs137 同位素辐照仪）。均一性：剂量均一性可达95%以上的辐照仪由于X 射线辐照仪的辐照剂量存在边缘效应，如何提高剂量均一性是辐照仪面临的主要挑战之一。凭借专利的RAD+反射体装置（美国专利#6389099），RS2000pro 在均一性辐照仓内的剂量均一性达到95%以上，使每批次的细胞和小动物接收到更一致的剂量，大幅度地提高实验结果的精确性和重复性。专利反射体装置RAD+RadSource经过多年研发，利用高密度低吸收的碳化硼材料制造出反射体装置RAD+（Reflector，美国专利号：US 6,389,099 B1）。该反射体利用碳化硼对X射线高反射的特性，能将射向外侧的X射线以漫反射的方式反射向样品，补偿样品边缘和下部的照射剂量，因此能有效缓解边缘效应造成的剂量差异，提高样品接受照射的剂量均一性。反射体装置在RS2000pro内形成了一个均一性辐照仓，其中可以容纳一个小动物辐照笼和四块细胞培养板。反射体使RS2000pro的水平方向剂量均一性可达95%以上。反射体还能显著提升射线的穿透力，减少动物体型对于辐照均一性的影响，大幅度地提高实验结果的精确性和重复性。在反射体装置下方，RS2000pro配备了多级交叉过滤铜金属网，可以吸收和消除杂射线，避免对样品进行二次辐射。安全性：运行时外界剂量率不超过0.5uSv /h, 与自然环境本底相当X 射线辐照仪属于射线装置，安全性也是其最关键的性能指标之一。RS2000pro 采用高等级屏蔽铅房，并科学设计，保证运行时距离仪器表面5cm 处的辐射剂量率不超过50uR/h（0.5uSv/h），显著优于中国国家标准（GB18871-2002）规定的医用X 射线设备外界剂量率不超2.5uSv/h 的要求。同时，由于采用了科学合理的铅房设计，RS2000pro 比同类产品重量轻30%以上，降低了安装承重的要求。RS2000pro 同时设置三重安全联锁，分别设置在辐照仓门和Ｘ射线球管处，检测仪器状态，确保安全性，并且具备自动报警功能。系统配备安全钥匙，必须凭钥匙才能启动，便于设备的使用管理和安全管理。RS2000pro 为全屏蔽一体机，高压发生器、高压电缆以及冷却系统都在仪器内部，避免放电等危险因素。另外配备环境剂量监测仪，可实时监测环境剂量率和累计剂量，达到阈值自动报警。软件系统RS2000pro 采用西门子PLC 控制系统进行控制，对辐照过程进行智能操作和监控，稳定性好，抗干扰能力强。RS2000pro 具备时间和剂量双重反馈控制模式，既可设置辐照时间，也可以设置辐照剂量，还可以设置丰富的辐照参数，包括KV(电压)、mA（电流）、样品位置（源距）、过滤片、以及使用反射体等辐照条件。仪器配置有物理“停止”控制键，可随时停止辐照进程；软件系统具有账户管理功能，可以设定任意多个账号，并分别设定权限；可存储任意多辐照程序；系统自动监测X 射线球管状态，智能预热，智能关机，延长其使用寿命。选配件高通量小动物局部辐照器可同时对6只小鼠进行定位局部辐照， 辐照范围连续可调（0.2-3cm），圆弧形设计保证了辐照剂量均一（误差不超过6%）。电动束光仪主要用于对小动物肿瘤或其它组织的局部照射应用，电动调节辐照范围，局部照射范围0.2-6cm，自带激光和可见光指示范围。环境剂量监测仪监测环境剂量，保障安全；既可监测实时环境剂量率，也可显示累计剂量。阈值可自行设定，达到阈值自动报警。高通量分隔式鼠笼可同时辐照14只小鼠，并且动物被分隔，避免相互影响。

瑞士丹青wylerLEVEL Frame系列电子水平仪专为小角度精密测量而设计，四个面均为测量面，水平和左侧垂直为V形工作面，右侧和顶部为平面测量面。

苏州锂影科技有限公司 薄膜X射线衍射仪苏州锂影科技有限公司衍射仪高端个性化定制服01 产品说明 Product Instructions薄膜X射线衍射仪是在浩元DX2700BH衍射仪粉末版仪器的基础上专门针对薄膜样品研发的。薄膜样品一般指通过刮涂、喷涂、旋涂等方法在玻璃、硅片等基底上制备的纳米或微米级膜以及通过吹塑、压片等方法直接得到的微米或毫米级膜。由于厚度较薄，因此在测试前需要对样品的水平性（ω和χ方向）和高度（Z）进行严格的校准，以保证样品恰好处于光路中且与直通光平行，否则将测不到样品的衍射信号。02 技术参数 Technical Parameter 该款仪器配备了锂影科技开发的chi/Z两轴薄膜样品台。配合仪器原有的θs（亦称θ轴或ω轴）、θd轴（亦称2θ轴），可以进行薄膜水平与高度位置的对准，之后进行准确的X射线衍射（XRD）、X射线反射率（XRR）和面外掠入射X射线衍射仪（GIXRD）的测试，得到样品的结晶结构、晶相、微晶尺寸、取向、厚度、密度、粗糙度等信息。同时该仪器还配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。 03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD——用于 LED 和外延层晶圆分析的生产专用高分辨率 X 射线衍射系统 产 品 概 述Bruker’的 JV-QCVelox 是长期运行的 JV-QC 仪器中z新、z先进的 HRXRD。它是化合物半导体行业高分辨率 X 射线衍射的专用质量控制工具。 它适用于表征所有常见的半导体衬底，包括Si、GaAs、InP、GaN 等。测量可以部分或完全自动化运行，用户可自定义的脚本处理日常工作。 VeloMAX&trade 光学器件：通过 10 倍以上的强度改进实现高生产率 JV-QC-Velox 系统的入射光束包括许多标准功能以获得高强度。 晶体选择根据材料进行了优化：在不损失分辨率的情况下，提高了通量并提高了可重复性。在不降低分辨率的情况下，可以实现比以前更快的测量和更高的精度。 这是在 MQW 分析中保持准确的成分值的关键。多层反射镜作为所有 JV-QC-Velox 系统的标准配置对于高镶嵌样品，使用 25 英寸的调节晶体发散角来增强系统（标配）对于传统的 III-V 系统，可以提供更高分辨率的调节晶体 (10”) 来代替 25” 晶体（需要在采购订单上注明）系统的校准可以轻松安全地进行，机柜中没有开梁。检测器级包括许多标准功能，可以增强系统的能力EDRc（增强动态范围）检测器的动态范围 2x107自动衰减器，通过控制软件进行控制。这将系统动态范围增加到超过3x108三轴晶体是获得所需晶体的关键GaN测量的分辨率。电动探测器狭缝允许对系统进行控制分辨率，无需手动更换模块所有探测器级组件都是自动对齐的通过电脑 HRXRD 技术 材料：单晶衬底（例如 Si、GaAs、InP、GaN）和外延层，包括多层结构参数：层厚度、成分和松弛、应变、区域均匀性、失配、掺杂剂水平、错切、层倾斜。直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成自动样品校准、测量、分析和报告由 JV-RADS 软件执行的分析。化合物半导体衬底可实现对称、非对称和斜对称反射 VeloSWAP: 高级样品板运动学样品板：可以快速更换样品板——每个板都可以在几秒钟内移除/更换。 由于运动加载，安装后无需对齐板。 可以提供多个板并互换使用。31 x 2” 运动学样品板，用于大批量测量，以增加板重新加载之间的时间并提高生产力和工具效率。外部条码阅读器可以安装到工具或独立站。JV-QCVelox 配备机器人，可从晶圆盒进行全自动测量2” 至 200 毫米磁带自动检测晶圆盒尺寸任意数量插槽的任意配方组合提高更大晶圆尺寸的生产力无需人工处理晶圆，提高晶圆清洁度 bruker 布鲁克 JV-QCVelox X射线衍射仪 XRD产品规格布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD ——X射线测量满足您的研发需求Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代柔性 X 射线衍射仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装，可以在完全计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换，而无需手动更改配置。 这可确保每次使用佳工具配置，而无需专家设置工具以供使用。&bull 样品的自动校准、测量和分析&bull 测量的自动化程度由用户定义&bull 使用 300 毫米欧拉支架实现高精度样品定位和扫描&bull 全300mm 晶圆水平贴装和映射&bull 由于 100° 倾斜 (Chi) 和无限方位角旋转 (Phi)，可以进行极点图和残余应力测量&bull 根据请求的测量进行智能自动工具对齐和重新配置&bull 行业领先的设备控制和分析软件&bull 使用高分辨率测角仪进行准确和精确的测量&bull 高强度光源和光学元件可实现快速测量&bull 可用的技术和参数范围广泛&bull 由拥有 30 多年经验和庞大的全球安装基础的高分辨率 X 射线衍射领域的专家打造 自动源和检测器阶段&bull 光源光学器件的开发考虑到了易用性和佳性能。 所有系统均标配平行光束多层反射镜，可提供适用于 XRR 和 XRD 测量的高强度光束。&bull 为了启用HRXRD，可以安装一系列晶体光学器件，以涵盖从8” (Ge 004) 到 40” (Ge 111) 的分辨率。 可根据要求提供定制晶体。&bull 它们会自动切换进出光束路径，以便能够在同一自动测量批次中覆盖适用于不同基板类型和不同技术的光束配置。 与其他系统不同，无需手动从系统中移除镜子或晶体，以确保它们不会损坏或错位。 高分辨衍射仪 & X 射线反射率高分辨率 XRD 是第一原理测量，可以确定外延层的厚度、成分、松弛、应变、掺杂剂水平和误切&bull 直接测量多层结构内层的松弛/应变/组成&bull 在需要时将三轴分析仪晶体自动插入和对齐到光束中&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 倒数空间图在几分钟内完成并使用PeakSplit 进行分析&bull 可以使用模拟双轴和三轴衍射扫描&bull JV-RADS分析软件X 射线反射率 (XRR) 是第一原理测量，可以确定薄膜的厚度、密度和粗糙度&bull 第一原理，无损测量&bull XRR 对材料质量不敏感，因此层可以是非晶、多晶或外延层&bull 金属、氮化物、氧化物、有机物、聚合物……&bull 自动样品校准、测量、分析和报告&bull 厚度范围从 1nm 到 1μm，取决于吸收 分析软件JV-DX 系统上使用的分析软件套件以 30 年的 X 射线表征和薄膜计量经验为基础。 基于在 Bede Scientific 的分析软件套件中，JV-DX 分析包包括行业领先的高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD)、X 射线反射率 (XRR) 和 XRD 软件模拟软件。 bruker布鲁克 JV-DX X射线衍射仪 XRD规格售后服务保修期：

为工业化生产、质量控制而设计，浓缩X射线衍射仪生产的先进技术，功能化与小型化台式X射线衍射仪。能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量及晶体结构分析。尤其适用于催化剂、钛白粉、水泥、制药等产品制造行业。 主要技术指标：●运行功率（管电压、管电流）：600W(40kV、15mA)或是1200W(40kV、30mA) 、稳定度:0.005%●X射线管：金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4kW、焦点尺寸：1x10 mm 风冷或是水冷（水流量大于2.5L/min）●测角仪：样品水平θs-θd结构、衍射圆半径150mm●样品测量方式：连续、步进、Omg●角度测量范围：θs/θd联动时-3°-150°●最小步宽：0.0001°●角度重现：0.0005°●角度定位速度：1500°/min●计数器：封闭正比或高速一维半导体计数器●能谱分辨率：小于25%●最大线性计数率：≥5×105CPS（正比）、≥9×107CPS（一维半导体）●计算机：戴尔商用笔记本●仪器控制软件：Windows7操作系统，自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练；控制测角仪连续或步进扫描，同时进行衍射数据采集；对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻峰、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比等。●数据处理软件：物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标样定量分析等功能、全谱图拟合（WPF）、XRD衍射谱图模拟。●散射线防护：铅+铅玻璃防护，光闸窗口与防护装置连锁，散射线计量不大于1μSv/h●仪器综合稳定度：≤1‰●样品一次装载数据：配置换样器，每次最多装载6个样品●仪器外形尺寸：600×410×670（w×d×h）mm

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

一、仪器介绍智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。二、技术参数1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶2、测角仪为水平测角仪3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）4、测角仪配程序式可变狭缝5、自动识别所有光学组件、样品台6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)8、多用途薄膜测试组件9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件10、In-Plane测试组件11、入射端Ka1光学组件12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance三、主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品四、主要的应用有1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

苏州锂影+ 实验室垂直型二维X射线衍射仪 锂影制造 01锂影科技与丹东浩元合作研发垂直型二维X射线衍射仪DX2900V装配了美国XOS公司多毛细管微焦点光源、瑞士Dectris公司的Einger 250K二维阵列探测器、搭载锂影科技团队开发的配套测试软件以及配备锂影科技150mm×150mm XY位置，可水平放置多个样品，满足液体、熔融等特殊状态样品的测试需求，为您提供更安全的测试环境、更精准的测试结果、更便捷的测试体验。同时，结合锂影科技在衍射仪配件定制方面的优势，为该仪器配备了多种测试模块，薄膜样品台、投射样品台、惰性气体保护台（手套箱组装好保持惰性氛围测试）和原位气氛处理台（支持大多数溶剂），可使该衍射仪应用各种材料结构分析的各个领域，真正满足您多种测试需求，完美解决您在科学研究、生产制造中出现的各种问题。垂直型二维X射线衍射仪 产品优势 02 样品可水平放置：可满足测试液体样品、熔融样品等特殊状态下样品的需求，解决特殊样品测试的难题； 配置加热样品台：可测试需加热样品，解决加热样品测试的问题； 配置150mm×150mm XY位置台：可提供更大的移动范围，同时可水平放置多个样品，提供更高效的测试体验； 操作简单易学易用：仪器操作简单，配合锂影团队开发的配套测试软件，适合初学者灵活掌握； 符合人体工程学与安全性优势：安全壳体操作空间大，内部采用可调光LED照明、外部采用安全观测窗口，同时配置X射线感应锁，可观测当前仪器状态，为您提供最高的安全保护； 150mm×150mm XY位置台 加热样品台 三氧化二铝二维衍射图 技术参数 03 1. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA） 2.多毛细管：准直度0.25°，焦斑直径0.5mm，光强10^8ph/s 3. 两轴薄膜样品台：Omega轴范围-10°~10°，精度0.002°；Z轴范围0-15mm，精度0.002mm 4. 二维阵列探测器：512×512像素，每个像素大小75微米 5.可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等 6.薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台，二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M测试效果如下： 聚乙烯二维衍射图 聚丁二烯二维衍射图 锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

inspector多功能射线仪是小的手持式微处理器控制的高灵敏度低水平能检测Χγαβ射线。直接读出射线水平。另外，有可调整的定时器和外部校准键。inspector多功能射线仪采用一支盖革-弥勒计数管来测定αβγ及Χ射线辐射，数字显示，探头为内置式(INSPECTOR)。inspector多功能射线仪检测器具有云母窗口的GM管，窗口有效直径45mmInspector(只有内部GM管)在前面板中心有射线标记标记InspectorEXP(只有外部探头)在仪器外部具有把手，有与Inspector相同的GM管探头。电源一节9V碱性电池.电池寿命200小时应用领域探测和测定表面沾污在操作放射性核素时监测可能存在的放射性暴露量调查环境污染测定惰性气体及其它低能放射性核素建筑装饰材料放射测定

产品简介　　法国Damavan imaging提出时间成像是伽马射线成像的新概念，它利用每个闪烁事件的光和时间分布来精确定位空间（X，Y，Z），时间（T）中的每个闪烁事件以及它的能量（E）。　　这种新的成像概念可以使每个体素大小（1x1x2mm）的闪烁事件提高一个数量级。　　Temporalδ伽马射线成像谱仪是率先使用这个新概念的设备。这款便携式版本的伽马射线成像谱仪带有一个CeBr3头，伽玛射线和可见光成像和主动温度控制。这个版本是专门用于能源300KeV- 2mev探测。Temporalδ伽马射线成像谱仪拥有市面上出色的角度分辨率(6°)和时间分辨率(300ps)。它也非常敏感，可以对自然的无线电元素成像并可以对扩展源进行良好的成像。　 性能特点　　Temporal δ伽马射线成像谱仪由便携式单元包括一个处理单元和一个探测器单元，可选配CZT配件。 　　-检测效率高, 1个校准过的探测器模块，由两个32x32毫米的CeBr3晶体组成 　　-成像能量动态范围宽，探测能量范围可达50KeV - 3MeV，能量分辨率1.5% 　　-高时间分辨率，时间巧合小于300ps 　　-高准确度，角分辨率可达1度 　　-低噪音水平 　　-高灵敏度　应用领域 　　-核废料管理 　　-核设施退役 　　-放射性化学 　　-医院的放射性安全 　　-环境监测、核查和预警 　　-剂量监测和预警 　　-安防、安保、海关、警察　技术参数光学成像视场78×104°degres flat field角分辨率10 degrees(full spectrum)6 degrees (energy gated)灵敏度0.03μR/h in 1hour1kBq @1m in 2 hours3μR/h 1mn闪烁晶体CeBr3时间分辨率300 ps @ 511keV能量分辨率7% @ 662keV能量范围100 keV—3 MeV(能谱分析)400keV-3MeV(辐射成像)电池续航4小时外置电池（重1.2kg）计数率限制1 mSv/h重量3.9kg尺寸21x29x16 cm电源110-220V (mains)工作温度-20°C ~ +50°C通讯方式Ethernet to laptopWifi in 2019　　图3 Temporal δ参数 *不含CZT配件下的参数　应用案例　　Temporalδ提供了一个电子准直的选项，它允许“关闭”一个强光源，只保留图像上的其他光源，因此，即使在强光源附近，也能拍出弱光源的清晰图像。　　下面的图片上,你可以看到一个桶的X射线图像和由Temporal δ对相同的桶进行伽马射线成像效果。　　1332 KeV (60Co)在X光图像上，你可以看到有两个桶，一个小桶在大桶里面。　　在伽玛图像上，所有能量都有3 +1个区域：　　-A中正在扩散的强烈放射源；　　-B处的轮廓揭示了中小桶结构的扩散；　　-C微弱的扩散区域，可能对应于小桶上的玻璃棉（在X射线图像上也可见）；　　-D高能光子散布在环境中的密集部分上　　基于能量1332 KeV的伽马图像显示，右下角（区域A）的强光源对应于60Co。同时也可以在此伽马图像中看到小桶的轮廓，这是在小桶实体上散射了光子。

苏州锂影科技有限公司 薄膜X射线衍射仪（Mini版） 苏州锂影科技有限公司锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 产品说明 Product Instructions薄膜X射线衍射仪（Mini版）是在丹东浩元DX27Mini型号粉末版仪器的基础上专门为薄膜样品研发而成的。薄膜样品一般指通过刮涂、喷涂、旋涂等方法在玻璃、硅片等基底上制备的纳米~微米级膜或通过吹塑、压片等方法直接得到的微米~毫米级膜。由于厚度较薄，因此在测试前需要对样品的水平性（omega和chi方向）和高度（Z）进行严格的校准，以保证样品恰好处于光路中且与直通光平行，否则将测不到样品的衍射信号。 该款仪器配备了锂影科技开发的chi/Z两轴薄膜样品台。配合仪器原有的θs（亦称θ轴或omega轴）、θd轴（亦称2θ轴），可以进行薄膜水平与高度位置的对准，之后进行准确的X射线衍射（XRD）、X射线反射率（XRR）和面外掠入射X射线衍射仪（GIXRD）的测试，得到样品的结晶结构、晶相、微晶尺寸、取向、厚度、密度、粗糙度等信息。同时该仪器还配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。02 技术参数 Technical Parameter1. X射线发生器：2.4kW；2. θ-θ测角仪： θs轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0005°； θd轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0005°；3. chi/Z两轴薄膜样品台： c轴范围-4°~4°，最小步长0.005°，重复精度0.005°； Z轴范围0-15mm，最小步长0.005mm，重复精度0.005mm；4. 封闭正比探测器（可升级为Mythen1D一维阵列探测器）5.可选配多层膜反射镜03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是 4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪，它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶• 2、测角仪为水平测角仪• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）• 4、测角仪配程序式可变狭缝• 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）• 6、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror）（理学专利）• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)• 8、多用途薄膜测试组件• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件• 10、In-Plane 测试组件（理学独有）• 11、入射端 Ka1 光学组件• 12、高速探测器 D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射 X 射线)• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance（专利） • 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld 定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

该产品主要用来提供不同强度的γ射线（单源或者双源），做关于核辐射的相关生物学研究。整个辐照系统分为储源室和照射室。储源室主要储存辐射源，利用气压驱动，实现辐射源高度的调节，从而控制辐射的强度。照射室中的载物台利用双轴定位轨道可以在一定范围内水平和垂直调节，还可以匀速旋转。为了保证实验和使用者的安全，设备共有两层屏蔽层，一层是在包围辐射源，一层包围照射室及储源室。设备中设有紧急停止按钮和安全联锁装置，防止意外事故的发生。大规格的照射室和可变距离的辐射源为辐射项目研究提供了最合适方案辐射源：铯Cs-137 2200 Ci 11 to 35 cGy/min 1200 Ci 6 to 19 cGy/min 450 Ci 2 to 7 cGy/min总体尺寸：820mm wide x 590mm deep x 2000mm tall试验箱尺寸：805mm x 440mm x 650mm tall重量：3190kg调节距离：水平调节距离500mm-800mm 垂直调节距离±250mm

7.5到货库存；日本OBISHI大菱计器水平仪灵敏度 2mm/m 524C小型且高灵敏度的精密水平仪。与一般工作的水平仪具有相同的灵敏度。它可用于多种用途，包括狭窄位置的定心、机器检查、组装和内置机器安装。每种型号都有不同的灵敏度以适应不同的用途。代码号格式尺寸（长×宽×高毫米）灵敏度（毫米/米）质量（克）安装孔径×间距(mm)AS101524A100×20×240.052004.5×90AS1020.1AS201524B80×20×200.51504.5×70AS2022.0AS301524C60×16×180.51203.5×50AS3022.0AS401524D100×20×240.02250梨AS4020.05AS4030.1