射线析谱仪

Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪（XPS）是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台，ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术，打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置，带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身，操作便捷，快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合，实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术，使得XPI成像分辨率达1um，所得数据无探测器背底特征，无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm～900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点，确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合，用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度，确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具，可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统，可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件，包括： 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS）X射线衍射仪行业领军品牌仪器功能：X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。核心优势：最高光通量产品：光子通量高于1000000光子/秒/ev，采谱效率数倍于其他产品，获得和同步辐射一样的数据质量；优异的稳定性：光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移50meV 1%探测极限： 高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量1%时依旧获得高质量EXAFS数据产品应用：新能源：燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。催化： 纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低的元素的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学：广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。

产品简介hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。主要参数核心元件X射线光管光源von Hamos HAPG 光谱仪光子计数，像素化X射线探测器能量范围5-12keV样品浓度低至 数个质量百分比样品安装多样品转轮占地尺寸2.0m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能EXAFS 模式XANES 模式光谱分辨能力1800*4000*（*整个能量范围内不变）能量带宽1000eV300eV采集时间3分**8分钟**（**归一化分析物浓度）主要应用化学形态分析和浓度比复合物研究催化剂分析短程有序和键长确定测量结果Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。产品规格能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试）获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV分光谱仪艙安装位置：EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧）FE-SEM的WDS接口（正面左后侧）分光谱仪尺寸　W 168mm×D 348mm ×H 683mm* 从接口包括CCD的距离分光谱仪重量　25kg适用机型EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F

仪器简介：BH1324B型微机多道X谱仪，是以BH1224型多道分析器卡为基础而改进 的新产品。它集高压、放大器和多道分析器卡为一体，通过RS-232串口电缆 与计算机连接，多道分析器本身受计算机制约的因素减少，为用户选择各种档 次、不同机型的计算机提供方便。配套的PHA18采集软件，在Win98操作系统 下运行。 　　该谱仪可测量X射线，供从事有关放射元素工作单位进行安全监督检查分 析。被测得的X射线以谱的形式在计算机上显示出来，通过软件进行分析。 　　该产品严格按照ISO9001质量体系进行质量控制。技术参数：1、系统的能量分辨率：＜65%（对239Pu） 2、系统的能量线性：≤±1%（60Kev～2.0Mev） 3、系统稳定性：≤±1%（8h）主要特点：工作环境 1、环境温度：+5℃～+35℃ 2、环境湿度：≤80%（30℃） 3、电源：交流220V±22V，50Hz±1Hz 成套设备 1、一体化多道分析器（含高压、放大器） 2、φ40×1mmX射线探头 3、通用γ谱仿真软件（PHA18） 4、计算机：当前市场的流行配置，标准配置为联想开天4600系列（可按户要求更换） 5、打印机：喷墨打印机Canon S100SP（可按用户要求更换）

产品详情日本JEOL软X射线分析谱仪SXES 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。产品规格： 产品规格 能量分辨率0.3eV（Al-L 光谱图73eV处测试） 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区50-170eV 获取能量范围：衍射光栅JS50XL的能区70-210eV 分光谱仪艙安装位置： EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右侧） FE-SEM的WDS接口（正面左后侧） 分光谱仪尺寸　W 168mm×D 348mm ×H 683mm * 从接口包括CCD的距离 分光谱仪重量　25kg 适用机型 EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200 SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F 产品特点： 软X射线分析谱仪(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。和EDS一样可以并行检测，并且能以0.3eV(费米边处Al-L基准)的极高能量分辨率进行分析，超过了WDS的能量分辨率。 系统简介 最新开发设计的分光系统，不需移动衍射光栅或检测器（CCD）就能同时获取不同能量的谱图。而且由于能量分辨率很高，还可以采集状态分析分布图 SXES、WDS、EDS的比较 各种分光方法中氮化钛样品的谱图 即使在WDS分析中氮化钛的谱峰也發生重叠，需要采取去卷积的数学方法处理。如下图所示，SXES具有很高的能量分辨率。 比较表 锂离子二次电池（LIB）分析实例 能观察到LIB的充电量 充满电后Li-K样品的谱图 说明: 由于理论上的原因，氧化锂的检测很困难 轻元素的测试实例 SXES测试碳素化合物的实例 可以测试金刚石、石墨、聚合物的不同。 各种氮素化合物的测试实例 氮素也可以根据波形分析化学结合状态。 硝酸盐和氮化物的波形完全不同，还能观察到易受电子束损伤的铵盐的独特波形。

Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研发出的一款基于ESCALAB 250Xi产品后，具有可扩展功能、多种分析技术集成化的测试手段。该产品通过无与伦比的灵活性、完备的专业配置选项、直观的软件操作以及硬件配置，带给用户的是领先的的实验结果和生产力。强大的Avantage数据系统提供系统控制、数据采集、数据处理与系统运行报告等一站式服务。入围优秀新品获奖理由：先进的成像探测器设计，用于定量XPI成像： 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成像的需求。空间连续的电阻阳极探测器创新技术，一方面使得XPI成像分辨率达1um，另一方面使得XPI成像得到数据无探测器背底特征，无需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果。 可选配的EDS探测器，实现体相分析技术和表面分析技术的结合： 新设计Xi+系统可选配EDS探测器与俄歇电子枪结合，可实现样品纳米尺度的体相微区元素成分分析，EDS可探测微米深度的元素组成，可以用于材料深度剖析前的元素组成预判。体相敏感的EDS技术和XPS表面分析技术的结合可更直观地用于研究合金等的表面偏析行为。 标配的反射电子能量损失谱REELS分析技术，用于弥补UPS能带分析和XPS元素分析： REELS可以探测材料的能级和带隙结果，并可用于材料中H元素含量的定量。与UPS技术结合可了解完整的价带导带信息，并弥补XPS、AES等技术不能检测H元素含量的缺陷 发展的系列基于Xi+的成熟准原位样品处理、制备、反应系统: 基于Xi+，设计的一系列成熟的ALD、MBE样品制备系统，高温高压催化还原反应系统和样品退火系统，满足不同的科研项目需求。配备为提供最佳 XPS 性能而设计的单色化X射线源，确保ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针有最高的样品测试通量。多技术能力、一系列灵活的样品制备室及样品处理设备，使该仪器在解决任何表面分析问题时都能游刃有余。利用先进的 Avantage 数据采集和处理系统，从测试数据中挖掘尽可能多的信息。ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针的特点：高灵敏度能谱小面积 XPS深度剖析能力角分辨 XPS标配离子散射能谱 (ISS)功能标配反射电子能量损失谱 (REELS)功能标配“样品预处理”室多技术分析的多功能性多个样品制备技术可选全自动无人值守式分析多样品分析单色化X射线源双晶体微聚焦单色器配备一个 500 mm 直径的罗兰圆，使用铝阳极靶样品 X 射线光斑尺寸可选择范围为 200 至 900 μm透镜、分析仪和检测器透镜/分析器/检测器一体化使 ESCALAB 250Xi XPS 能谱仪同时具备成像和小面积 XPS 分析能力的独特性两种类型的检测器可以确保为每种分析提供最佳检测——二维检测器用于成像，基于通道电子倍增器的检测器则用于需要检测高计数率的能谱分析透镜配备了两种电脑控制的光阑组件，一套视场光阑用于控制低至 20 μm 的分析区域，适用于小面积分析；另一套光阑则用于控制透镜的接收角，对于高质量角分辨 XPS 至关重要180° 半球型能量分析器深度剖析数控式 EX06 离子枪是一款高性能的离子源，哪怕在使用低能离子源时也有着很好的性能提供方位角样品旋转多技术能力可配备其他分析技术而不降低 XPS 检测性能使用 EX06 离子枪时透镜组和能量分析仪的电源可反向（确保离子散射能谱 (ISS) 可用）电子枪可加压升至 1000 V，为 REELS 提供优异的离子源技术选项非单色化 X 射线光源的XPS分析AES（俄歇电子能谱）UPS（紫外光电子能谱）真空系统5 mm 厚高导磁 金属分析室，最大程度提高磁屏蔽效率与使用内部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳样品制备系统标配一体化的快速进样室和制备室额外的制备室可选Avantage 数据系统集成了测试分析的所有方面，包括仪器控制、数据采集、数据处理和报告生成允许远程控制，并且可轻松与第三方软件交互（例如 Microsoft Word）管理从样品载入到报告导出的整个分析过程

产品简介　　法国Damavan imaging提出时间成像是伽马射线成像的新概念，它利用每个闪烁事件的光和时间分布来精确定位空间（X，Y，Z），时间（T）中的每个闪烁事件以及它的能量（E）。　　这种新的成像概念可以使每个体素大小（1x1x2mm）的闪烁事件提高一个数量级。　　Temporalδ伽马射线成像谱仪是率先使用这个新概念的设备。这款便携式版本的伽马射线成像谱仪带有一个CeBr3头，伽玛射线和可见光成像和主动温度控制。这个版本是专门用于能源300KeV- 2mev探测。Temporalδ伽马射线成像谱仪拥有市面上出色的角度分辨率(6°)和时间分辨率(300ps)。它也非常敏感，可以对自然的无线电元素成像并可以对扩展源进行良好的成像。　 性能特点　　Temporal δ伽马射线成像谱仪由便携式单元包括一个处理单元和一个探测器单元，可选配CZT配件。 　　-检测效率高, 1个校准过的探测器模块，由两个32x32毫米的CeBr3晶体组成 　　-成像能量动态范围宽，探测能量范围可达50KeV - 3MeV，能量分辨率1.5% 　　-高时间分辨率，时间巧合小于300ps 　　-高准确度，角分辨率可达1度 　　-低噪音水平 　　-高灵敏度　应用领域 　　-核废料管理 　　-核设施退役 　　-放射性化学 　　-医院的放射性安全 　　-环境监测、核查和预警 　　-剂量监测和预警 　　-安防、安保、海关、警察　技术参数光学成像视场78×104°degres flat field角分辨率10 degrees(full spectrum)6 degrees (energy gated)灵敏度0.03μR/h in 1hour1kBq @1m in 2 hours3μR/h 1mn闪烁晶体CeBr3时间分辨率300 ps @ 511keV能量分辨率7% @ 662keV能量范围100 keV—3 MeV(能谱分析)400keV-3MeV(辐射成像)电池续航4小时外置电池（重1.2kg）计数率限制1 mSv/h重量3.9kg尺寸21x29x16 cm电源110-220V (mains)工作温度-20°C ~ +50°C通讯方式Ethernet to laptopWifi in 2019　　图3 Temporal δ参数 *不含CZT配件下的参数　应用案例　　Temporalδ提供了一个电子准直的选项，它允许“关闭”一个强光源，只保留图像上的其他光源，因此，即使在强光源附近，也能拍出弱光源的清晰图像。　　下面的图片上,你可以看到一个桶的X射线图像和由Temporal δ对相同的桶进行伽马射线成像效果。　　1332 KeV (60Co)在X光图像上，你可以看到有两个桶，一个小桶在大桶里面。　　在伽玛图像上，所有能量都有3 +1个区域：　　-A中正在扩散的强烈放射源；　　-B处的轮廓揭示了中小桶结构的扩散；　　-C微弱的扩散区域，可能对应于小桶上的玻璃棉（在X射线图像上也可见）；　　-D高能光子散布在环境中的密集部分上　　基于能量1332 KeV的伽马图像显示，右下角（区域A）的强光源对应于60Co。同时也可以在此伽马图像中看到小桶的轮廓，这是在小桶实体上散射了光子。

X射线衍射分析软件XROCK简介： XROCK衍射分析软件是针对粘土和全岩石油地质工作人员设计，用于对矿物、全岩，粘土，伊利石结晶度和白云石有序度等地质样品的衍射数据进行分析的，满足SYT 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法标准的要求。 在石油及地质行业衍射谱图解释虽然有标准的详细指导仍然比较繁琐，如果是批量样品将是个巨大的工作量。在保证分析质量的前提下如何快速完成任务就需要XROCK分析软件的帮助。xrock基本实现了谱图处理的主要功能。 可以打开几十种谱图文件格式，甚至可以导入未知格式文件，平移缩放，背底，光滑，寻峰，积分，拟合，去除Ka2等功能，有PDF数据库可以物相检索。XRock开发了符合石油地质行业标准SYT 5163-2018的多个功能模块。主要功能： 全岩分析模块 粘土分析模块 伊利石结晶度分析模块 白云石有序度分析模块 快速全谱拟合矿物成分分析模块软件特点： 功能模块严格执行有关标准 软件算法思路清晰 主观见解在软件上自由体现 软件操作自动化辅助 软件操作简单化，用鼠标即可完成 大幅缩减谱图解释时间，消除谱图解释工作量软件安装环境：winXP,win7，win10

XAFS,XAS,台式X射线吸收精细结构谱仪RapidXAFS 2M产品原理RapidXAFS 谱仪是采用罗兰圆结构和高指数面晶体进行单色分光，实现X-射线吸收/发射谱谱测量，是研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。性能特点：Ø 不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究； Ø 不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；Ø 不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等； Ø 对样品无破坏，可进行原位测试； Ø 能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01&angst XAFS谱主要包括两部分: X射线吸收近边结构 (XANES) 和扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 。EXAFS的能量范围大概在吸收边后50 eV到1000 eV， 来源于X 射线激发出来的内层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子单次散射效应的结果。XANES包含了吸收边前约10 eV 至吸收边后约50 eV的范围，其主要来源于X 射线激发出的内壳层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子多重散射效应。产品优势多功能：提供科研级高质量XAFS/XES图谱高性能：1小时内完成1%含量样品测试（CN载体）高光通量：＞2000,000 photons/sec@8Kev配置灵活：可根据客户要求定制样品池，实现高温高压，低温低压，各种气氛条件下对反应过程原位观察简单易用：只需半天培训即可上机操作自主可控：90%部件自主可控，无政策风险低维护成本：无需专人维护、操作、管理等 XAFS/XES数据已成为了顶级期刊的“标配”，致使越来越多课题组需要XAFS测试。秉持着让XAFS/XES走进每个实验室的理念，推出全新的X射线吸/发射收谱仪平台（RapidXAFS 1M）。RapidXAFS 2M 具有如下特点：1.无需同步辐射光源即可提供XAFS测试； 2.台式体积，可放置于实验室内随时使用，极大节省了科研等待时间； 3.实现对催化剂的局域结构、价态分析； 4.实现原位测量（高温高压，低温低压，各种气氛条件下）条件下对反应过程原位观察，堪比高性能版本的静常压光电子能谱；应用领域- 新能源：燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。- 催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低的元素的近邻结构。- 材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。- 生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。- 环境科学：广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。 扫描关注公众号

X射线荧光光谱仪FEDX-M810：一、技术规格：1.分析元素范围：Na(11)-U(92)2.含量分析范围：1ppm-99.999% 3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）5.X射线源靶材：Ag靶6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置：1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%

普析XRD X射线衍射专用冷水机介绍：冰河系列分体式冷水机由室内机和室外机组成。此系列产品的室外机由制冷压缩机、排热风机及冷凝器组成，将制冷产生的热量全部排出到室外，同时主要噪音源也在室外。室内机由水泵、水箱及蒸发器组成，没有热量产生，同时噪音很低。分体式的设计理念大幅度降低了设备的噪声水平，提高了使用舒适度。同时使得设备输出更大制冷功率。普析XRD X射线衍射专用冷水机应用范围：分体机是环境友好型冷水机，适合对环境舒适度、噪音要求比较高的实验室高级设备配套，大型分体机也是工业设备配套的友好伴侣。该系列冷水机在X射线衍射仪、X荧光光谱仪、大型发射电镜、等离子刻蚀等大型实验室设备及真空镀膜机、离子镀膜机、真空炉、工业炉等发热量较大的工业设备配套中取得了很好的效果。普析XRD X射线衍射专用冷水机特点介绍：工业化设计的室外机，体积大、效率高，避免使用塑料件，寿命长；配置有低温压缩机加热、风机调速等功能，可适合南北方不同室外温度的环境；大开口不锈钢室内水箱设计，方便观察水质及水箱清洗，避免水质污染配套设备；出水压力大，可用于对出水压力需求比较高的客户；制冷系统高低压监测，便于用户了解系统运行情况；自带压缩机过热保护、过流保护、高低压力保护、相序/缺相保护。

TableXAFS-500谱仪是由安徽创谱仪器科技有限公司研发设计的X射线吸收精细结构谱仪。系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构光谱测量。可以用于催化、能源电池和材料等研究领域，实现对元素的价态、配位和结构的分析。 TableXAFS-500 在实验室实现线站功能，免去机时申请与等候的烦恼，助您实现“想测就测、随时可测”的XAFS自由。 产品特点：小型化桌面式设计，维护成本低采用大口径晶体，具有更高收光效率和信噪比高精度、高稳定性扫描机构，提高分辨率及数据准确度安全防护联锁，有效避免辐射伤害具有7位样品架，可自动换样，提高测量效率 一键快速测量，单次仅需30min，高效便捷远程数据传输，实时查看实验进程和结果高能谱分辨，获得与同步辐射接近的吸收谱数据数据分析及解读，出具专业的分析报告可增配XAFS荧光测量模式及XES测量模式支持原位测试等扩展功能主要参数能量范围：4.5~ 20 keV（单次扫描范围600eV @ 7~9keV)能量分辨率：0.5 ~ 1.5eV （7~9keV，近边）X射线光源：1.2 kW X射线光管，靶材可订制光通量：500,000~1,000,000 photons/sec @ 9keV单色器晶体：口径100mm，半径500mm球面Si或Ge弯晶探测器：SDD探测器 样品轮：7~16位自动样品轮主要应用领域：新能源：锂电池及其他二次电池材料研究、燃料电池研究、储氢材料研究、光合作用与碳捕获。通过XAFS可获得核心原子在充放电循环及电化学反应过程中的浓度、价态、配位环境及其动态变化。催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等，以及含量极低的金属离子的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究，放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学：广泛用于玻璃、土壤、塑料、煤、铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析，动植物组织等样品分析，重金属污染检测等。应用案例：

布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好。S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，发送给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

仪器简介：Simultix 14是理学公司最新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时最多分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。主要特点：1、 最多可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在最佳状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100

AXIS NOVA X射线光电子能谱仪标准主机包含单色化Al Kα X射线源，可实现大面积XPS分析、小面积XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能。 可提供高的分析灵敏度。 确保高能量分辨XPS分析和高空间分辨的XPS成像。 荷电中和器，完美解决绝缘体XPS分析。技术特点：Axis Nova采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取极高的检测灵敏度，同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器，可以获得极高的XPS谱线能量分辨。在检测器端，Axis Ultra DLD采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代的二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。Axis Nova采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器，完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务，尤其是对于表面凸凹不平的样品（典型的是粉末样品和断口样品），可以获得完美的分析结果。Axis Nova使用与采谱能量分析器同心的球面镜能量分析器，可以获得高空间分辨的平行光电子图像，亦即可以获得元素的不同化学状态的二维分布。Axis Nova采用全自动的大样品台设计，最大样品可达4吋，可以利用进样室的光学显微镜确定分析位置，并在样品自动进入分析室以后实现预设位置上的全自动XPS分析。

产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断，x射线自由电子激光，桌面x射线激光原位X射线发射谱测量

伽马射线成像谱仪产品介绍： 伽马射线成像谱仪是一款快速，便捷，易用的成像谱仪，可用于核电站常规检测及维护，退役反应堆的检测 紧急情况、突发事故和停机期的检测，还可用于环保领域的核源检测等。光谱性能可与低温冷却检测仪相媲美，实现同位素成像。产品特点：快速，便捷，易用的成像谱仪：快速识别和定位主要同位素 实时能谱、识别和成像 在662keV半高宽能量分辨率优于1%能量量程高达3MeV ,涵盖主要同位素使用像素化CZT探测器，成像效率业界领头准确叠加伽马线成像和光学成像点源和分布源成像从开机到使用2分钟20秒内从天然本底中探测并识別同位素轻巧便捷集成测距仪功能气密防水，易于清洁实时剂量计自动生成检测、成像报告附送年检和软件升级技术参数：尺寸24cmx9cmxl8cm(加支架尺寸：37.5cmxl2cmx21cm)重量3.5kg(加支架重量：5kg)电池使用时间 6小时（23°C的环境下） 3小时（在低于一20°C或高于S0°C的环境下）工作电源100—240V , 47-63HZ工作温度一20°C-S0°C储存温度一20oC-60oC异物防护等级IP6S (更换风扇IP67 )三脚架W _20(加强螺纹）3/8" -16 (仅用支架）冷却系统专用外置散热片和风扇能量分辨率Sl.l% FWHM ( 662 keV的半高宽时）光学成像视扬162°横向，122°纵向辐射成像视扬4ti ( 360。）角度精度全4ti角±1°源定位精度（实时处理）角度分辨率~30°FWHM全4n角（实时处理）-2CTFWHM全4n角（后期处理）成像灵敏度探测，R/hrl37Cs用时少于16秒（能谱）定位~3MR/hrl37Cs用时少于90秒能量量程50keV - 3MeV (能谱）250keV-3MeV (成像）探测器晶体体积19.4cm3 CZT ( CdZnTe )最大计数率自然环境下为〇.5rem/hr ( 5mSv/h「）同位素库3573ENDF同位素库启动时间2分钟显示7” 1280x800HD平板电脑通讯连接通过WiFi ,蓝牙或有线连接其他连接以太网RJ45端口TCP/IP 视图能谱、伽马成像、光学成像、复合成像

仪器简介：PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数：硬件： 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化，最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱， 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统（样品室/预抽真空室）。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计，样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能（自动减少X射线光管输出） 减少冷却水量 5L/min（水温30?以下） PR气体流量减少（5mL/min） 省空间 采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX（Scan Quant X），追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定，可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包，设定样品（标准样品、漂移校正样品） CD-ROM（测试条件、校正常数等）、操作手册全盘提供。主要特点：特点： 轻元素（B,C）灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别，实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器(SDD) 结合在一起，能够为客户提供各种质量检验应用。借助 X-MET8000，您可在数秒内得到实验室质检结果，并降低检测成本，缩短检测时间。结构旨在经久耐用X-MET8000 具备 IP54 防护等级（相当于 NEMA3），有着卓越的防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳，且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶，可有效防止受到撞击。采用大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口（Expert 及 Optimum 型号的选购件）和高强度厚 Kapton 窗口（Smart 型号）可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。强大的数据管理功能可存储多达十万个检测结果，包括光谱谱图和样品图像（若配备相机）结果和报告可直接下载到 U 盘，或通过 USB 数据线传到PC 上，也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享；可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式，以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告（无需安装任何软件）。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用，您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。全面的、可自定义的牌号库X-MET8000 内含有最全面的牌号库：预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改，添加新牌号（例如某个厂商或者产地特定牌号），或者创建自己的牌号库（例如特定的焊接材料牌号库）。预装牌号库包括：| 镍合金。| 不锈钢。| 铜合金。| 铝合金。| 钴合金。| 低合金钢。| 工具钢。| 钛合金。| 锆合金。

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

实验内容 1．了解X射线与物质的相互作用，及其在物质中的吸收规律； 2．测量不同能量的X射线在金属铝中的吸收系数； 3．了解元素的特征X射线能量与原子序数的关系。仪器组成 模拟探测器箱、模拟放射源、模拟金属靶、模拟吸收片、多功能数字多道 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)

二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求，畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素：11Na-92U（EDX-720），可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状：最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜：5种自动交换，可以消除背景元素干扰，使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率：Si/Li检测器，145eV.5.检测下限：Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件： 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！ EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点：1、配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路，增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量≤15KG（不含电池）核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

K-Alpha X 射线光电子能谱仪Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪 (XPS)系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。K-Alpha XPS系统是一种完全集成式单色小光斑XPS系统，具备深度剖析能力。 更先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量，使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。K-Alpha XPS系统性能数据分析仪类型 180°双聚焦半球分析仪， 128通道探测器X 射线源类型单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源 X 射线光斑尺寸50-400 µ m（以 5µ m 为单位可调）深度剖析EX06 离子源样品最大面积60x60 mm样品最大厚度20 mm真空系统两个涡轮分子泵，配有自动钛升华泵和机械泵 可选配件ADXPS 样品 支架， 工作 功能 样品 支架， 手套 箱

K-8000手持式合金分析仪 X射线荧光光谱仪 / 不锈钢合金分析仪 / 手持式合金测试仪 / 手持式铝合金检测仪 / 手持式金属检测仪 / 手持式X荧光分析仪 / 手持式金属元素分析仪 / 手持式钢材钢板合金分析仪 / 手持式合金钢分析仪 / 手持式合金分析光谱仪 / 国产手持式光谱仪厂家 / 国产手持式合金分析仪厂家仪器设计特点：1、散热性好：超过2/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低。2、操作简单：仪器设计理念为简单经济原则，硬件方面采用固定高压、免去内部复杂电机和滤光片、外置316校准片等简单设计；软件采用傻瓜式操作界面。真正让客户用最少的成本获得更多的收益。轻轻3次屏幕点击即可做到45秒开机测试、0.8秒出牌号与含量；3、人性化设计：质量轻（1.6kg) 体积小（220mm*150mm*220) 坚固耐用防摔手腕绳；仪器底部电池电量反馈灯；顶部与底部辐射警告闪烁灯；菱形纹路软胶手柄；仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感；显示屏做到整机一体化设计，整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低工业级高分辨率TFT触摸显示彩屏。4、测试数据精准：仪器软件采用成熟先进FP基本参数法，在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析标准库中有500多种标准牌号，能分析的合金高达万种，用户可自定义300种；不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认；产品参数：重量净重1.50kg,上电池后1.65kg尺寸250mm*75mm*270mm(长*宽*高)激发源微型X射线光管与高压电源一体化装置标配:35KV固定高压、钨靶X射线光管、铝滤光片、无电机标配:50KV可变高压、铑靶X射线光管、6组滤光片、瑞士电机检测器标配:SI-PIN检测器(6mm2)，分辨率s190ev选配:SDD检测器(25mm² ) 分辨率≤129ev仪器电源可充电锂电池(7.2V\6600mAh) 标配2个电池1个充电器标准片KMX 316不锈钢校准片数据存储32GB大容量数据存储卡，可存储8万组数据及光谱图数据传输Type-C数据传输测试报告客户自定义格式EXCEL测试报表分析软件K-MAX Ally plus6.0,免费升级迭代软件仪器操作与安全仪器操作与安全操作:无需选择测试曲线开机即可测，一触式“扳机”或点击触摸屏“开始/停止” 安全:“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 仪器外壳采用大面积铝合金框架设计，更好地屏蔽X射线辐射.分析元素范围标配Si-PIN探测器:(29种元素)钛 (Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf)、钽(Ta)、钨 (W)、铅(Pb)、铋(Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼 (Mo)、镉(cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼（Re)、铟 (In)、金 (Au)、银（Ag ）、铂(Pt)、钯(Pd)、钌(Ru)、铑 (Rh)、铱 (lr) 元素 选配SDD探测器:(34种元素)分析元素范围镁(Mg)、铝 (Al)、硅(Si)、硫(S)、磷 (P)、钛(Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁 (Fe) 、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf) 、钽(Ta)、钨(W)、铅(Pb)、铋 (Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、镉(Cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼 (Re)、铟 (ln)、金(Au)、银(Ag)、铂(Pt) 、钯(Pd)、钌(Ru)、铑(Rh) 、铱 (lr)元素

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析