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高纯氩谱仪
仪器信息网高纯氩谱仪专题为您提供2024年最新高纯氩谱仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括高纯氩谱仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的高纯氩谱仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合高纯氩谱仪相关的耗材配件、试剂标物,还有高纯氩谱仪相关的最新资讯、资料,以及高纯氩谱仪相关的解决方案。
高纯氩谱仪相关的方案
力扬:牙膏中二甘醇的薄层色谱鉴别
FDA现公布初步检测牙膏中可能含有的二甘醇(DEG)的薄层色谱(TLC)方法。提供这一筛选方法的目的在于给出一种快速和经济的方式来测试大范围的样品。该TLC程序作为替代方法可检测牙膏中0.1%含量的二甘醇。一旦该方法证实牙膏中含有二甘醇,继而可采用GC-MS等方法来进行验证并获得更精确的结果。GC-MS方法现正为FDA实验室所采用,来对FDA调查部门所收集的牙膏样品中所含有的二甘醇进行含量测定。Kenyon等[1]采用薄层色谱法对牙膏中的二甘醇进行定量检测,这种方法可以从牙膏中检出最低0.1%含量的二甘醇。下面是对原方法中的样品制备及展开步骤进行改进后的方法的简单描述。
牙膏中二醇类化合物的气相色谱分析
本应用简报展现了 Agilent J&W DB-Wax 超高惰性气相色谱柱在牙膏中二醇类化合物的分析中的优异惰性性能。与其它的 PEG 固定相气相色谱柱相比,DB-Wax UI 色谱柱耐用性更好,分析结果更加一致。
手持激光诱导光谱仪在高纯铝检测方面的应用
星帆仪器专为高纯铝检测应用定制了特殊的手持激光诱导击穿光谱仪,采用高功率的微型化纳秒激光技术及化学计量学中先进的光谱去噪算法,可以对高纯铝中的微量元素进行精确定量分析,从而可以对高纯铝的纯度做出判别。
ARTUS 10全谱直读光谱仪在高纯金属检测中的应用
阿朗科技ARTUS 10全谱直读光谱仪作为精密尖端的检测设备,在高纯金属分析方面,有着超常的优势。它以超简的前处理要求、稳定的检测性能,超低的检出限、快速的分析速度,解决了各类传统高纯金属检测设备的应用痛点
新型高纯氧分析进样器及其应用方案
在气体分析方法中,气相色谱法是应用最为广泛的技术方法,然而,气体中的氧和氩组份,在气相色谱分离中较难分开,往往是以氧和氩的总和(混合峰)表现出来,所以,在工业氢中氧、氩、氮的测定和电子工业用氧中的微量氩、氮的测定方法中都应用了脱氧柱技术,其中401脱氧剂在脱氧容量、脱氧深度(10-9级)及其可反复活化再生使用等优点,已被各气体分析标准方法中确定选用。但是,401脱氧柱的正常反复应用,必须对其进行100℃、200℃、300℃、400℃、450℃的长时间通氢活化处理,这就给分析工作带来不便,往往需要自己搭建一个气路控制系统和购置一个合适的高温炉来处理,而处理时必须将401脱氧柱从进样系统上拆装,在活化处理后的拆装过程中,难免脱氧剂要接触空气中的高浓度氧,就会造成活化好的脱氧柱的脱氧容量的损失。对于高纯氧分析,脱氧容量的减少,就会缩短活化周期和明显影响分析工作效率。为此,我们研发了新型的高纯氧分析进样器(专利技术)与科创GC8800H型气相色谱仪配套使用,实现了高效率工作分析高纯氧气体中的微量氩和氮。将双脱氧柱改为单脱氧柱,就可方便地实现工业氢中氧、氩、氮的测定。
高纯氩气中微量氮的(PDHID—GC)测定方法
:针对高纯氩气中存在着微量氮难以分析的问题,采用脉冲放电氦离子检测器气相色谱法(简称PDHID—Gc)测定氩气中微量氮。该方法采用六通阀进样,检测器温度250 cI二,高纯氦气做载气,氮浓度在5 p.mo1]mol一50 p~nol/mol时,标准曲线线性良好,测定了氩气中微量氮气体标准物质GBW 06309,结果与标准值基本一致,表明该方法操作简便、准确度高。关键词:气相色谱;氩
离子色谱法测定纯净水中痕量亚硝酸根
通过瑞士万通离子色谱仪建立用离子色谱法测定纯净水中的痕量亚硝酸根的方法。结论:该方法准确度高、精密度好,简便、快速,可直接测定水样中的亚硝酸根,结果满意。
AGC DID氦离子气相色谱分析仪在 He、Ne 提纯工艺中的应用高纯氖分析、高纯氦分析、氖中氦分析
随着社会的发展,特种气体不再是只局限于科研单位的研究对象,而是逐渐走向民用化、产业化,人们对特种气体的需求量也越来越大。而高纯的氦气、氖气作为特种气体中少有的几种惰性气体,不仅科研价值极高,而且应用的领域也越来越广泛。涉及到诸如电子、点光源、激光、超导、光导纤维、低温、等离子体显示器、航天及医疗等诸多领域。在氦气和氖气的提纯工艺中,需要使用到多台仪器设备来对主要的监测点进行监测,然后根据结果适时地调整工艺参数,最终生产出优质的高纯氦气和氖气。在氦气和氖气提纯时,在四个主要的监测点上选用了多台色谱分析仪来完成此项工作,此套设备中所采用的分析仪器均来自于爱尔兰AGC公司。1、粗He/Ne除氮后的N2含量分析2、粗He/Ne除氮系统后的He/Ne/H2/N2含量的分析 3、产品He的纯度分析4、产品Ne的纯度分析,包括氖中氦分析
AGC 600DID氦离子气相色谱仪负压进样高纯砷烷、磷烷分析
本文主要介绍配置DID氦离子化检测器、样品管道采取负压方式进样分析磷烷的原理及方法,一次进样同时检测出高纯磷烷中的微量杂质H2、O2+Ar、N2、CH4、CO、CO2、SiH4、AsH3。并验证方法的可行性。
带有脉冲放电氦离子检测器(PDD)的气相色谱仪在高纯氨气分析中的应用
介绍带有脉冲放电氦离子检测器的气相色谱仪检测高纯气体中的痕量杂质,并通过具体实例对高纯气体中杂质的定量分析时可能遇到的问题进行讨论。关键词 脉冲放电氦离子 高纯氨 痕量杂质 定量分析
Prodigy DC Arc直流电弧光谱仪测定高纯铂铑
高纯铂/铑标准品和样品可用Prodigy DC Arc光谱仪检测。所有样品均分析Ag, Al, As, Au, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Ir, Mg, Mn, Mo, Ni, Pb, Pd, Ru, Sb, Se, Si, Sn, Te, Ti, V, Zn 和Zr等元素。除非特殊情况,结果均以PPM为单位报告。
天美赛里安气相在高纯气体的应用——高纯氢测定
本应用采用456i气相色谱仪多阀系统的PDHID测定高纯气体,符合标准GB/T 40045-2021与GB/T 3634.2的测试要求。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中Mg含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
色谱仪在线高真空负压微量气体进样系统的真空度精密控制解决方案
针对目前大多数气相色谱仪负压进样系统中存在的无法控制微量进样和真空度无法准确控制的问题,本文在发明专利“CN111239308A 一种在线高真空负压气体进样系统及方法”基础上提出了改进的解决方案。解决方案通过采用电容真空计、皮拉尼真空计、电控针阀和双通道真空度控制器组成的控制装置,可实现高真空范围内的任意设定点下的真空度快速和精密控制,使在线负压形式的微量气体进样方法真正能转化为实用的工程化仪器。
气相色谱法测定麦芽糖醇中乙二醇和二甘醇的含量
本文利用岛津Nexis GC-2030气相色谱仪,建立了麦芽糖醇中乙二醇和二甘醇含量的检测方法。本方法采用外标法定量,在5.0-200 μg/mL浓度范围内,乙二醇和二甘醇线性相关系数R均大于0.999,线性关系良好。取浓度为5.0 µg/mL对照品溶液连续进样6针,乙二醇峰面积RSD%为2.59、二甘醇峰面积RSD%为2.56。加标实验中,低、中、高三个加标浓度为15、50和100 μg/g,乙二醇回收率在82.0%~96.7%之间、二甘醇回收率在93.7%~103.8%之间。该方法操作简单,结果准确,分析时间短,可用于麦芽糖醇中乙二醇和二甘醇含量检测。
利曼Prodigy直流电弧光谱仪 (DC Arc) 测定高纯硅中的痕量元素
本文检测样品中的铝、硼、钙、铬、铜、铁、锰、镍、磷、钛和钒等,证明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流电弧光谱仪测定高纯硅中痕量元素的能力。
气相色谱法分析高纯氦气中氖气等微量杂质
本文使用岛津GC-2014气相色谱仪结合甲烷转化炉、FID和PDHID检测器建立了高纯氦气中微量杂质的分析方法。采用两个吹扫六通阀自动进样,超纯氦气做载气表现出良好的重现性和检出限。氖气最低检出限可达0.10μ L/L,其余10种组分最低检出限均可达0.01μ L/L,完全满足GB/T 4844-2011对超纯氦杂质分析的需求。
电化学微氧分析仪在高纯氩中中的应用
原理及特点 微量氧的分析方法主要有比色法、化学电池法、黄磷发光法、浓差电池法和气相色谱法。其中比色法是较早采用的分析方法,它是标准规定的方法,利用铜氨溶液进行比色分析,由于操作复杂,准确度难以保证,并且不能实现自动在线分析,现在已很少采用,不过它还是一种仲裁方法。黄磷发光法是利用氧气与黄磷氧化燃烧进行分析,具有分析速度快,可以连续分析的特点,但该方法采用的黄磷是危险化学品,生成的产物具有腐蚀性,并且检测限低,所以现在已很少采用。在这里主要介绍化学电池法、浓差电池法和气相色谱法。
气相色谱(BID检测器)测定高纯氦气中杂质
本文利用岛津GC-2010 Pro气相色谱仪,结合高灵敏度、通用型BID检测器建立了分析高纯氦气中杂质的方法。该方法采用带隔垫吹扫的六通阀进样,分析高纯氦气中微量H2、O2、N2、CH4、CO、CO2、C2H4、C2H6、C2H2,具有灵敏度高、稳定性强的特点。使用BID检测器方法检出限H2<1.0ppm,其他组分<0.5ppm;重复性好,RSD%≤ 2.0%;使用在线开关阀,连接好标气或者催化反应气,设定方法后,可实现无人值守,快速分析。
高纯绷烷中氢的低温气相色谱分析
高纯硼烷在半导体工艺中是重要的掺杂剂,它的纯度很大程度决定了半导体器件的质量。高纯硼烷的杂质分析一直是电子气的“老大难”。根据半导体工艺的要求,硼烷中的有害杂质主要是指氧、水、一氧化碳、二氧化碳和甲烷等,考虑到提纯方法和制造过程中系统泄漏而造成大气环境中 氧 和 水 对 硼 烷 的 污 染(氧 占 ,!S,水 占!O.S T ,S)。
牙膏中二醇类化合物的气相色谱分析——使用 Agilent J&W DB-WAX 超高惰性毛细管气相色谱柱
本应用简报展现了 Agilent J&W DB-Wax 超高惰性气相色谱柱在牙膏中二醇类化合物的分析中的优异惰性性能。与其它的 PEG 固定相气相色谱柱相比,DB-Wax UI 色谱柱耐 用性更好,分析结果更加一致。
挤牙膏需要多大的力量——牙膏的屈服应力
牙膏,是一种具有粘弹性的日常用品。牙膏具备复杂的结构,其中的各类组分会影响到其流变性能,比如研磨剂可以向牙刷的清洁功能提供支持,水份因子可以防止牙膏边干以及连接剂可以防止牙膏的水组分和固体的相分离。流变在整个牙膏产品研发生产过程中扮演者重要角色,涉及牙膏的灌装,包装以及用户满意程度等各个方面[1]。本文主要关注点是不同牙膏的屈服应力。牙膏的屈服应力直接关系到需要多大的力量将其原始结构破坏进而使其流动。挤压是使牙膏流出的主要方式。因此必须要施加足够的挤压力量并超过牙膏的屈服应力才能完成这个过程。本文选择了两种牙膏来进行相关测试,成人及儿童牙膏,根据文献[2] 的描述来进行相关测试及评估。
离子色谱法检测牙膏中的亚硫酸盐
本方法建立牙膏中亚硫酸盐的抑制型离子色谱电导检测法,灵敏度高,方法简便、快速,检测结果稳定可靠。
挤牙膏需要多大的力量 ——牙膏的屈服应力
牙膏,是一种具有粘弹性的日常用品。牙膏具备复杂的结构,其中的各类组分会影响到其流变性能,比如研磨剂可以向牙刷的清洁功能提供支持,水份因子可以防止牙膏边干以及连接剂可以防止牙膏的水组分和固体的相分离。流变在整个牙膏产品研发生产过程中扮演者重要角色,涉及牙膏的灌装,包装以及用户满意程度等各个方面[1]。本文主要关注点是不同牙膏的屈服应力。牙膏的屈服应力直接关系到需要多大的力量将其原始结构破坏进而使其流动。挤压是使牙膏流出的主要方式。因此必须要施加足够的挤压力量并超过牙膏的屈服应力才能完成这个过程。本文选择了两种牙膏来进行相关测试,成人及儿童牙膏,根据文献[2] 的描述来进行相关测试及评估。
挤牙膏需要多大的力量——牙膏的屈服应力
牙膏,是一种具有粘弹性的日常用品。牙膏具备复杂的结构,其中的各类组分会影响到其流变性能,比如研磨剂可以向牙刷的清洁功能提供支持,水份因子可以防止牙膏边干以及连接剂可以防止牙膏的水组分和固体的相分离。流变在整个牙膏产品研发生产过程中扮演者重要角色,涉及牙膏的灌装,包装以及用户满意程度等各个方面[1]。本文主要关注点是不同牙膏的屈服应力。牙膏的屈服应力直接关系到需要多大的力量将其原始结构破坏进而使其流动。挤压是使牙膏流出的主要方式。因此必须要施加足够的挤压力量并超过牙膏的屈服应力才能完成这个过程。本文选择了两种牙膏来进行相关测试,成人及儿童牙膏,根据文献[2] 的描述来进行相关测试及评估。
光电离质谱法在线分析牙膏中的香精物质
利用直接进样单光子电离飞行时间质谱法,建立了一种简单、快速、准确鉴别牙膏样品中香精成分的方法,并用于模拟刷牙过程中牙膏香精挥发过程的研究。结果表明,通过所含香精物质的种类及其挥发浓度的差异,可以区分不同香型和品牌的牙膏样品;牙膏中所含水分以及人体口腔分泌的水分会影响刷牙过程中香精的挥发量和持续时间。
使用 ICP-MS/MS 直接分析高纯硝酸中的痕量金属杂质
在 MS/MS 模式下运行的 Agilent 8900 ICP-MS/MS 能够提供高纯度硝酸中超痕量元素分析所需的灵敏度、低背景以及对干扰物质的无与伦比的控制。本研究测定了未稀释的高纯 68% HNO3 中亚 ppt 至 ppt 水平的49 种元素。0–40 ppt 之间所有元素的校准曲线都呈线性。高纯 68% HNO3 中的 SEMI 规定元素可在几个 ppt 或亚 ppt 浓度下定量。在持续 6.5 小时的未稀释高纯 68% HNO3 序列中,除P 和 S 之外的所有元素在 30 ppt 加标浓度下的重现性结果为0.4%–5.5% RSD。该结果证明 Agilent 8900 半导体配置 ICP-MS/MS 适用于高纯度半导体级试剂和制程化学品的常规分析。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中杂质元素含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中Ca元素含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
原子发射光谱法测定高纯镍粉中Fe元素含量
高纯镍粉中杂质含量是其质量控制的重点项目之一,本文研究建立了一种快速准确的高纯镍粉中杂质含量分析测试方法。采用王水溶解样品,使用电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定了高纯镍粉中杂质元素Mg、Ca、Fe、Cu 含量。实验确定了以285.213 nm、393.366 nm、259.939 nm、324.752 nm 分别作为Mg、Ca、Fe、Cu 的分析谱线,并对仪器工作条件进行了优化。优化得到最佳仪器工作条件为:射频功率1100 W、雾化气流速0.8 L/min 和观测高度15 mm。实验结果表明:镍基体对待测元素的影响可通过基体匹配的方法克服,各元素的校准曲线线性相关系数均不小于0.999,方法中各元素的检出限为0.0002%~0.0011%。方法应用于镍粉样品中杂质元素含量的测定,结果的相对标准偏差(RSD,n=4)在1.1%~5.7%之间,且测定结果与样品质保书中测定结果相符。
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