轻元素仪

轻元素由于其外层电子密度低，元素荧光产额低，是XRF难以进行高灵敏度检测的元素范围。北京安科慧生通过单色化激发技术，实现对轻元素的高灵敏度激发与低背景检测，轻松将轻元素（硅、磷、硫、氯等）的检出限降低到1ppm以内，在石油化工、精细化工、环境保护、制药等领域具有广泛的应用前景。 产品特点：? 高灵敏度 世界上最高灵敏度的轻元素X射线荧光光谱仪，硫LLD：0.2ppm，氯LLD：0.1ppm，硅LLD：0.8ppm，同时可以分析元素周期表中从Na到Ti的区间元素，可以扩展分析C、N、O、F等元素；? 选择性激发 采用高通量全聚焦双曲面弯晶技术，将X射线管出射高强靶材特征谱单色化聚焦入射样品，选择性激发样品中轻元素，降低背景干扰，提升峰背比； ? 轻元素分析一体化 一次样品分析即可精确定量车用燃油中硫、氯、硅的含量，无需样品分析在多台仪器进行各个元素含量分析，缩短分析时间、降低人力物力消耗；? 高稳定性 光路固锁系统XFS（X-Ray Fixed System），工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，最大限度的保证了仪器的长期稳定性；? 低维护、低消耗 无需真空保护膜、无需钢瓶气体、无需复杂的仪器维护，只需要消耗样品杯和样品膜；

DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪满足国Ⅴ、国VI对车用汽柴油超低S检测要求超低检测限（300s）： Si: 0.7ppm， P: 0.4ppm，S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm采用 单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体 高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器 合理 kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管 符合标准：GB/T 11140ISO 20884ASTM D2622ASTM D7039ASTM D7220ASTM D7757ASTM D7536ISO 15597ASTM D6481概述DM2400型单色激发能量色散X射线荧光轻元素（Si、P、S、Cl）光谱仪，简称DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪，是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光测硫仪、X荧光多元素分析仪、波长色散X射线荧光多道光谱仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的XRF光谱仪。它采用以下技术和器件，使采用50W光管的能谱仪DM2400具有出色的再现性和稳定性，超低检出限，实已将现代科技发挥到极致。图1. MEDXRF分析技术原理图单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术X射线荧光光谱仪的检出限LOD（limit of detection）是指由基质空白所产生的仪器背景信号标准偏差的3倍值的相应量，即： （1）式中，Rb为背景（本底）计数强度，N为已知浓度为C的低浓度试样的计数强度，T为测量时间。从式（1）可以看出检出限与灵敏度（N-Rb）/C成反比，与背景Rb的平方根成正比。在测量时间一定的情况下要降低检出限，就必须提高灵敏度和（或）降低背景。传统XRF，无论是EDXRF还是WDXRF，无法实现较低检出限的一个主要原因是X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射使得荧光光谱的连续散射背景较高。 单色激发能量色散X射线荧光 (Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) 分析技术，就是采用光学器件将X射线光管出射谱单色化，进而使得荧光光谱的连续散射背景极大地降低，同时尽可能少的降低甚至于可能的话增加所需激发X射线的单色化的线或窄能量带的强度，从而大大降低了检出限。相比传统的EDXRF降低了1至2个数量级，相比大功率（如4kw）的WDXRF也要低得多。图2.样品的XRF光谱图高衍射效率对数螺线旋转点对点聚焦人工单色晶体将X射线光管出射谱单色化的方法很多，有滤波片法，二次靶法和衍射法等。而衍射法中的双曲面衍射晶体DCC（Doubly CurvedCrystals）是单色化最好和效率最高的。衍射必须满足Bragg定律：nλ=2dsinθ （2）也就是说从源出射的射线其波长必须满足（2）式才被衍射，所以其具有极好的单色化。又由于DCC能将点源聚焦，所以有大的收集立体角，从而有极高的效率。另外，聚焦还能使照射到样品的光斑很小，从而使小面积的半导体探测器Si-PIN或SDD可以接受大部分样品较小面中的荧光射线，也就是说DCC还提高了探测效率。图3. 实线为 X 射线管的出射谱 ，红色为经LSDCC单色化的特征X射线入射谱 DCC按其曲面又分为半聚焦（Johann），全聚焦（Johansson）和对数螺线（Logarithmic Spiral）等。其中半聚焦只是部分满足衍射条件，所以经半聚焦DCC单色化的特征X射线入射谱是最差的。全聚焦是完全满足衍射条件且是点对点聚焦的。但全聚焦DCC的制造工艺极其复杂，除弯曲外它必须有一个磨成R曲面的过程，天然晶体如Si，Ge等是很脆的，极不容易磨制，而人工晶体是不可能磨制的，另外天然晶体通常在非常窄的光谱区域中衍射X射线。导致靶材特征X射线只有一部分被衍射，积分衍射率低 DM2400采用的对数螺线旋转双曲面人工晶体DM30L，是集本公司技术精英经2年的刻苦专研研制而成的专利产品。对数螺线DCC也是完全满足衍射条件的，虽然聚焦不是点对点的，而是点对面的，但由于这个面很小，一般只有2mm左右，所以可认为是点对点的。它用的是DM人工晶体，该晶体的积分衍射率是天然晶体的3到10倍，所以该晶体具有极高的效率。另外，它只需弯曲无需磨制和拼接，制造方便。图4. LSDCC点对点聚焦原理图高分辨率(123eV)高计数率(2 Mcps)的SDD探测器X射线探测器的种类有很多，有正比计数管，Si-PIN探测器和硅漂移探测器SDD等。探测器的分辨率以全能峰的半宽度表示，全能峰的净计数与半宽度无关，但其背景计数与半宽度成正比，所以分辨率越高则检出限越低。正比计数管的半宽度是半导体探测器的8倍左右，所以检出限高8的平方根倍左右。Si-PIN的分辨率比SDD的稍差，且其在高计数率下分辨率急剧下降。所以SDD是其中最好的。DM2400采用德国KETEK公司生产的VITUS H20 CUBE(最高级)SDD探测器，其分辨率小于123eV，有效探测面积20mm2，计数率2 Mcps。最佳kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管激发样品的X射线能量越接近所需分析元素的吸收限，其激发效率就越高。DM30L晶体仅衍射X射线管出射谱中的高强度特征X射线，其有靶材发出。所以合理的选用靶材能得到最高的激发效率。DM2400标准型由于可测量Cl以下的元素，所以选择Ag作为靶材。选定靶材后，在X射线光管最大功率一定的情况下，如50W，合理的光管高压（kV）和电流（mA）组合能达到最大的激发效率。由于采用点对点的聚焦，所以必须采用微焦斑的X光管。由于靶材的特征X射线能量很低，所以必须用薄铍窗X射线管。 DM2400采用50W微焦斑薄铍窗X射线管，标准型选用Ag靶，并对kV、mA进行最佳组合。标定用已知含量的7个含Si、P、S、Cl样品对仪器进行标定，得图5的工作曲线。图5. 含Si、P、S、Cl样品工作曲线这些工作曲线的相关系数γ 均大于0.999，表示DM2400光谱仪的线性误差极小。 准确度为了进一步测试分析的准确性，制备了具有不同硫含量的柴油和轻质油的五个样品，每个样品装入两个不同的样品杯中进行S准确度试验：表2. 用五个未知样品测定S分析的准确度结果样品标称值（ppm）1号样品杯（ppm）2号样品杯（ppm）柴油554.914.82柴油333.023.05汽油222.122.00汽油101010.810.2汽油252524.525.2 表2示出了获得的浓度结果（ppm），以及与标称值的比较。这些结果表示在低浓度水平下，用DM2400光谱仪可以实现S的优异的准确度。精确度对三种，每种各装入七个不同样品杯的汽油样品进行S重复性试验：表1. S汽油样品S分析的重复性测试数据样品杯号第1种样品（ppm）第2种样品（ppm）第3种样品（ppm）11.155.3110.3221.084.929.8930.905.0510.1140.934.789.6751.014.889.5161.035.169.9070.975.269.81平均值1.015.059.89标准偏差0.0860.2010.269RSD8.6%4.00%2.69%这些结果表示在低浓度水平下，用DM2400光谱仪可以实现S的优异的重复性。 特点快速同时–所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出含量结果。低检出限–采用先进MEDXRF技术，LSDCC核心技术，达到超低检出限。具极高的重现性和再现性。长期稳定–采用可变增益数字多道,有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便–触摸屏操作。样品直接装入样品杯，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性–一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。高性价比–无需钢瓶气体，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。适用范围适用于炼油厂、检测及认证机构、油库、实验室测量范围从0.5ppm到10%的各种油品(如汽油、柴油、重油、残渣燃料油等)、添加剂、含添加剂润滑油、以及炼化过程中的产品。亦适用于各行各业任何材料中Cl以下元素的同时测量 主要技术指标测量元素Si、P、S、Cl(可选择B～Cl中的任意元素组合)X射线管电压：≤50keV，电流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可选）探测器SDD，有效面积：20mm2，分辨率：≥123eV，计数率：≤2Mcps，入射窗：8μm铍 （AP3.3可选）检测限（300s）Si：0.12ppm，P：0.7ppm，S：0.26ppm，Cl：0.14ppm（标准型，1块LSDCC晶体）Si：0.7ppm，P：0.4ppm，S：0.15ppm，Cl：0.08ppm（增强型，3块LSDCC晶体）测量范围检测限的3倍～9.99%线性误差分析精度测S：满足GB/T 11140，ISO20884，SH/T 0842，ASTMD2622、D7039、D7220等的相关要求。 测Si：满足ASTM D7757，SH/T 0706，SH/T 0058等的相关要求。测Cl：满足ASTM D7536，ISO 15597，SH/T 0161等的相关要求。测P：满足ASTM D6481，SH/T 0296，SH/T 0631等的相关要求。系统分析时间1～999s，推荐值：微量测量为300s，常量测量为60s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤200W测量氛围自充气系统或氦气尺寸及重量540mm×500mm×450mm，35kg注：如用户认为标准型的DM2400不能满足要求，可向本公司提出，本公司可尽可能满足用户的要求。如要求更低的检测限，本公司可将晶体从1块增加到3块以降低检测限为原来的1/1.73。如要求测量F以下原子序数的元素，本公司可为用户选择AP3.3入射窗的SDD。如用户要在高S的基体下测微量Al和Si，本公司可将标准型的Ag靶改为Mo靶，以满足用户要求。

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。图：鉴别萤石与方解石 左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels 右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

DM2500MMEDXRF轻中元素光谱仪（标准型）（水泥行业专用）多单色激发实现高峰背比，使能测元素（B～Zn），其准确度媲美大型波长色散光谱仪标准型针对水泥行业设计。亦或经微改后用于各行各业采用多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF)分析技术对数螺线型双曲面弯晶(LSDCC)实现衍射并作为二次靶高计数率、高分辨率、高透过率(AP3.3窗)SDD探测器电压、电流、靶材完美组合的微焦斑薄铍窗X射线管源符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2500MMEDXRF轻中元素光谱仪，详称DM2500多单色激发能量色散X射线荧光轻中元素（B～Zn）光谱仪，是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光硫钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪、X荧光光谱仪等的基础上研制推出的一种具创新性的XRF光谱仪。它采用多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技术。主要部件，如：单色晶体采用本公司研制的具有本公司专利的对数螺线旋转点对点聚焦锗单色晶体，X射线管采用KeyWay公司生产的50W微焦点大辐射角薄铍窗X射线管，并对其高压、电流、靶材进行最佳组合， X射线探测器采用德国Ketek公司生产的具有高计数率、高能量分辨率、高透过率的常温用SDD半导体X射线探测器。并且采用具有本公司自主知识产权的轻元素专用的光学系统及多种方法组合使用的多个单色激发系统等独有的技术，极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比。它还采用X射线向下照射系统，样品自旋装置，特别适合粉末压片样品，且可根据应用选择真空系统或自充气系统。由此使本光谱仪达到国际领先水平。在与大型波长色散光谱仪的比较试验中，其大部分性能指标接近或达到大型波长色散光谱仪的性能指标，某些甚至超过。其性能指标相比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。且本光谱仪良好的屏蔽防护设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。适用范围DM2500MEDXRF轻中元素光谱仪的标准型是针对水泥行业专门设计制造的，可用于水泥生料、熟料、原料等的含量测量。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。DM2500MEDXRF轻中元素光谱仪除用于水泥行业外，还能用于其他各行各业所有物料的含量测量。其标准型虽然是针对水泥行业专门设计制造的，但只要用户所要求的测量元素在B(5)～Zn(30)的范围内，则大部分情况可直接使用标准型进行测量。如贵用户对某些元素的测量有特殊的要求，则本公司可根据用户的要求更改单色激发系统和或软件系统以满足用户对测量元素的要求。特点快速同时–所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出含量结果。高准确度–采用先进MMEDXRF技术，LSDCC核心技术，根据所要测量的元素来选择单色光的能量及产生单色光的方法，极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，极高的准确度。向下照射–采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。样品自旋–具有样品自旋装置，消除了压片样品中由于特硬物质的存在而不易粉碎造成的样品不均匀性。长期稳定–采用可变增益数字多道，有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便–触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性–一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。高性价比–无需钢瓶气体，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。尖端技术多单色激发能量色散X射线荧光(MMEDXRF)分析技术传统XRF，特别是EDXRF，无法实现超轻元素准确测量的一个主要原因是X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射使得X射线荧光光谱的连续散射背景较高，而原子序数越低的元素荧光产额越低，较低的荧光射线强度将淹没在较高的背景之中。单色激发能量色散X射线荧光(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技术，就是采用光学器件将X射线光管出射谱单色化，进而使得荧光光谱的连续散射背景极大地降低，同时尽可能少的降低甚至于可能的话增加所需激发X射线的单色化的线或窄能量带的强度，从而大大提高所测元素X射线荧光光谱的峰背比，实现超轻元素的准确测量。其原理图如图1。图1.MEDXRF分析技术原理图激发样品的X射线能量越远离所需分析元素的吸收限，其激发效率就越低。这就使得单色激发的光谱仪有一个局限，就是某一个单色能量的激发源只能测定一定原子序数范围内的元素。由于DM2500要求轻中元素都可测量，所以用只有一个单色能量的激发源将使轻元素的激发效率很低从而无法准确测量轻元素，为此2500采用2个单色能量的激发源，分别激发轻元素（Cl以下）和中元素（K-Zn）。故称多单色激发。用于轻元素测量的高衍射效率点对点聚焦的对数螺线旋转双曲面晶体 (LSDCC)将X射线光管出射谱单色化的方法很多，有滤波片法，二次靶法和衍射法等。衍射必须满足Bragg定律：nλ=2dsinθ，所以其具有极好的单色性。而衍射法中的双曲面衍射晶体DCC（Doubly CurvedCrystals）又由于能将点源聚焦，所以有大的收集立体角，从而有极高的效率。另外，聚焦还能使照射到样品的光斑很小，从而使小面积的半导体探测器Si-PIN或SDD可以接受大部分样品较小面中的荧光射线，也就是说DCC还提高了探测效率。由于对数螺线LS（Logarithmic Spiral）DCC有制作方便，可制作较大面积等优点。所以DM2500采用的对数螺线旋转双曲面晶体LSDCC。其点对点聚焦原理图如图2。图2. LSDCC点对点聚焦原理图图3.蓝线为X射线管的出射谱，红色为经锗LSDCC单色化的X射线入射谱由于轻元素荧光产额很低，所以DM2500用以LSDCC实现单色化的高效率单色激发射线来激发轻元素。用于中元素测量的锗二次靶由于中元素荧光产额较高，对激发射线的强度要求不高，所以我们采用了二次靶的方法来实现中能量的单色化。巧的是，能实现轻元素单色化的LSDCC其可选择的晶体材料中有一种是锗晶体，锗的X射线荧光能激发Zn以下所有元素，所以DM2500用锗晶体作为LSDCC的材料同时兼作为二次靶。也就是说DM2500巧妙地用一个光学器件实现了二种方法产生的2个单色能量的激发源。激发源的能谱图如图3。图4为实际测得的水泥生料样品的XRF光谱图。图4.水泥生料样品的XRF光谱图高分辨率(123eV)高计数率(2 Mcps) 高透过率(AP3.3窗)的SDD探测器X射线探测器的种类有很多，其中硅漂移探测器SDD是最好的，其分辨率一般小于140eV，是波长色散的5倍左右。而单色激发能将背景下降一个数量级，所以理论上讲如果没有谱线重叠干扰，则单色激发能量色散的峰背比好于一般的波长色散的。DM2500采用德国KETEK公司生产的VITUS H20LE SDD探测器，其分辨率小于129eV，有效探测面积20mm2，计数率2 Mcps，窗为AP3.3 polymer，最低可测量B Kα（185 eV）。图5. 硅漂移探测器SDD合理kV、mA、靶材组合的微焦斑大辐射角薄铍窗X射线管为准确测量轻元素，LSDCC仅衍射X射线管出射谱中的高强度特征X射线，其有靶材发出，合理的选用靶材能得到最高的激发效率。DM2500标准型由于所测轻元素为Cl以下的元素，所以选择Ag作为靶材。选定靶材后，在X射线光管最大功率一定的情况下，如50W，合理的光管高压（kV）和电流（mA）组合能达到最大的激发效率。由于采用点对点的聚焦，所以必须采用微焦斑的、大辐射角的X光管。由于靶材的特征X射线能量很低，所以必须用薄铍窗X射线管。图6. 微焦斑大辐射角薄铍窗X射线管校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的含量计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度（即原始道计数率），IC为处理后强度（或修正后强度），D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）的系数。用已知含量的11个水泥生料国家标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料国家标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.28630.00459700.9863MgO-0.33670.001903000.9937Al2O3-0.42440.001000700.9983SiO2-3.06720.0006498400.9985SO30.00930.0001101700.9886Cl--0.00760.00002948700.9690K2O-0.32180.003233800.9988CaO11.91950.002291800.9931TiO20.00150.001355900.9903Fe2O3-1.36480.003544000.9984这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99，最小也有0.9690，表示DM2500光谱仪的线性误差极小。重复性对水泥生料国家标准样品中的XS1标样，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）XS11标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3Cl-K2OCaOTiO2Fe2O3标准值0.462.744.1616.710.700.030.7537.610.263.16平均示值0.452.674.1816.860.690.030.7537.750.263.17最大示值0.462.684.1916.900.690.030.7637.820.263.19最小示值0.442.664.1616.800.690.030.7537.690.263.15极差0.020.020.030.10000.010.1300.04示值标准偏差0.0060.00540.00940.0320.0010.0010.0030.0350.0010.0133倍示值标准偏差0.0180.01620.02820.0960.0030.0030.0090.1050.0030.039GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.0050.100.250.050.15DM2500与国标的符合性远优远优远优远优远优远优远优远优远优远优注：粉末压片样品。在X射线源为半功率（25W），测量时间为180s的条件下，连续进行11次测量所得的结果。按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限，从表2可知，用DM2500光谱仪可以实现所有元素远优于国家标准GB/T 176—2017所要求的重复性。主要技术指标测量元素可选择B(5)～Zn(30)中的任意元素X射线管电压：≤50keV，电流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可选）探测器SDD，有效面积：20mm2，分辨率：≥123eV，计数率：≤2Mcps，入射窗：AP3.3测量范围0.01%～99.99%。测量宽度Na2Omax—Na2Omin≤5%，MgOmax—MgOmin≤5%，Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤10%，SO3 max—SO3 min≤5%，Clmax—Clmin≤5%，K2Omax—K2Omin≤5%，CaOmax—CaOmin≤10%，TiO2 max—TiO2 min≤5%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%线性误差Na2O：≤0.03%，MgO：≤0.10%，Al2O3：≤0.14%，SiO2：≤0.14%，Cl-：≤0. 003%，SO3：≤0.10%，K2O：≤0.05%，CaO：≤0.18%，TiO2：≤0.03%，Fe2O3：≤0.10%测量精度S Na2O≤0.01%，SMgO≤0.01%， S Al2O3≤0.02%，SSiO2≤0.05%，S SO3≤0.01%，S Cl≤0.001%，S K2O≤0.003%，SCaO≤0.04%，STi2O≤0.001%，S Fe2O3≤0.02%。系统测量时间1～999s，推荐值为180s测量氛围自充气系统或氦气使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤200W尺寸及重量540mm×500mm×450mm，35kg注：测量技术指标针对水泥生料为对象给出。

简介该产品采用X射线荧光（XRF）法，自动对环境空气中的PM₂ .₅ 进行连续采集、处理、分析，可同时监测铅、铬、镉、砷、铜、锌等30种以上元素成分浓度水平。产品特点● 配有氦气置换系统，检测灵敏度高，特别适用于轻元素的检测；● 双层铅板全封闭防护，确保X射线无泄漏；● 开门自动截断X射线管高压并界面警示；● 6档滤光片可切换，满足不同元素的测量；● 耗材管理系统，及时提醒耗材更换。

DM8000多元素分析仪（波散） 多道同时测量，快速、可靠、准确度高尤其适合工矿企业对多元素测量的要求采用波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术美国进口Varian公司薄铍端窗X射线管Moxtek公司0.6μm超薄聚酯探测器窗符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM8000多元素分析仪（波散）是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用同时式(或称多道式)波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术，所有道同时测量从Na到U的任意十种元素。对大多数元素，其测量范围可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。DM8000多元素分析仪（波散）关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，还具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。由此使本分析仪具有极高的精度和准确度，达到国际先进水平。本分析仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。DM8000多元素分析仪（波散）应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。这是由于该款仪器最初是为水泥行业专门开发的，其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等工矿部门的固体、液体和粉末样品中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度分析。特点快速同时––同时式(或称多道式)，所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––波长色散XRF分析技术，具有能量色散无法企及的极高分辨率，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––样品粉碎压片或熔融，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。长期稳定––有恒温室、流气密度稳定、样品自旋等装置，还有可变增益数字多道，具极好的长期稳定性。高可靠性––固定道使仪器基本没有移动部件，且集成化程度高，环境适应能力强，从而可靠性高。软件强大––有比率或基体效应校正、偏差修正、合格率等统计、率值计算、出错提示等多种功能，还可免费 更新最新版本，根据用户要求增加软件功能。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。高性价比––无需水冷，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。原理其原理如图2所示。X射线管垂直放置，直接向上照射样品，这样可使它们之间的距离尽可能的近，从而达到最大激发效率。样品接受X射线管所发出X射线的照射将产生X射线荧光，其将进入分光室进行分光。一种元素对应一个分光室。X射线荧光经狭缝（如果分光晶体用的是弯晶）或索拉狭缝（如果分光晶体用的是平晶）射向分光晶体，经晶体分光后满足衍射条件布拉格方程的对应该元素的特征X射线荧光再经狭缝或索拉狭缝射向探测器。经探测器探测并经后面的电子线路计数后将得到该元素特征X射线荧光的强度，再经校准方程计算得到元素的浓度。图2 多道 WDXRF分析技术原理图由于其X射线荧光是经晶体按波长来区分的，所以称之为波长色散。其分辨率与探测器无关只与晶体有关，所以有很高的分辨率，相比于能量色散的要高1个数量级。关键部件进口美国Varian公司生产的薄铍端窗X射线管采用美国Varian公司生产的EG-60薄铍端窗X射线管。该X射线管是端窗的，X射线束垂直于靶，焦斑到样品距离极短，从而提高激发效率。其窗用薄铍，靶材用的是铑，所以能高效地探测轻元素。其阴极接地，消除了对高度绝缘的灯丝变压器的需要，也消除了铍窗口的电子轰击和由此产生的加热。其功率为400W，只需用风冷而不需用水冷，由于是多道同时测量，其效果相当于扫描式(或称单道式)的4000W大型X射线管。其外形图见图3。图3 EG-60薄铍端窗X射线管进口美国Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗对于轻元素的测量，比如Na、Mg，探测器的窗是很重要的，其必须足够薄并且足够牢。本仪器采用美国Moxtek公司生产的0.6μm厚的ProLINE系列20窗，其由超薄层聚合物和涂有200埃的铝的电荷耗散层连接到坚固的金属六边形支撑框架上，从而达到低能量x射线的高透射。B（Kα）的分析都是可能的。图4为其外形图。图5是其能量与透射率关系图。图4 Moxtek的超薄聚酯窗图5 ProLINE系列能量与透射率恒温室温度控制精度小于0.1℃波长色散分析仪是个精细的仪器，特别是晶体对机械尺寸的要求极高，当温度有一定的变化而造成尺寸那怕是微小的变化时会造成强度的变化，所以分光室必须恒温。本仪器的恒温室温度控制精度小于0.1℃，并且除分光室外，其他如探测部分及其电子线路等均在恒温室内，从而使仪器不受外界温度的影响。流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa本仪器所用探测器为本公司自己开发生产的流气正比计数管，其所流过的气体的密度必须恒定才能保证探测器的稳定，本仪器流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa。具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。样品若用粉末压片的方法制备的话，如含SiO2，由于其硬度很高，磨得的颗粒大小不一，从而使样片的表面不均匀。所以本仪器设计安装了样品自旋装置以最大程度的消除样品不均匀所产生的测量误差。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个国家水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.12816.7578×10-600.8296MgO-0.22926.0429×10-500.9968Al2O3-0.10961.2584×10-400.9945SiO2-5.11162.1326×10-500.9727SO3-0.22071.1990×10-500.9687K2O0.02677.0202×10-600.9952CaO11.48801.1060×10-500.9980Fe2O3-1.71809.9915×10-600.9967这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99，表示DM8000多元素分析仪（波散）的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）XS1标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3K2OCaOFe2O3标准值0.092.594.2714.430.240.3039.841.96平均示值0.072.514.3114.340.260.2939.951.95最大示值0.072.544.3614.390.270.2939.981.96最小示值0.072.504.2914.290.260.2939.921.94极差00.040.070.10.0100.060.02示值标准偏差0.0010.010.020.020.0020.00140.020.0053倍示值标准偏差0.0030.030.060.060.0060.00420.060.015GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.100.250.15DM8000与国标的符合性远优远优优优远优远优优远优GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM8000多元素分析仪（波散）可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤50keV，电流：≤8.0mA，功率：≤400W探测器超薄窗流气正比计数管可测元素或其氧化物种类从Na到U的任意十种元素或其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。测量范围Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Na2O max—Na2O min≤5%，MgO max—MgO min≤5%，Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，TiO2 max—TiO2 min≤5%，K2O max—K2O min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度SNa2O≤0.01%，SMgO≤0.03%，SAl2O3≤0.04%，SSiO2≤0.04%，SSO3≤0.01%，STiO2≤0.01%，SK2O≤0.01%，SCaO≤0.03%，SFe2O3≤0.02%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：180s恒温室温度36℃±0.1℃使用条件环境温度：15～28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤1.0kW尺寸及重量790mm（W）× 760mm（D）× 1200mm（H），195kg

产品说明、技术参数及配置天瑞仪器在累计数万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种测试需求融于一体的新一代X荧光分析装置-EDX6000C。该仪器配置大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器、超近低损耗测试光路、超薄铍窗牛津光管激发光源、西门子PLC(单杯位、9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统、真空和氦气二合一系统、样品自旋系统、仪器三重安全防护系统(探测器防扎功能、高压钥匙保护、样品盖自锁功能)。仪器单样品腔及多样品腔进样两种模式完美结合,软件配套天瑞最新研发成果XRF成份分析软件4.0版本和RoHS5.0版本全智能版本软件,实现液体、固体一键测试功能,强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。仪器使用运行成本低、提升维护性能的同时,大大提高了便捷性。该产品可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究,从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化工元素分析、医药食品管控、地质矿元素分析、水泥、耐火材料、玻璃等多个行业的元素分析领域。性能优异,卓尔不群大面积石墨烯超薄窗口的电制冷半导体SDD检测器,4096道高速数字处理多道及高功率高管压高压和激发光源与分析光路最佳配合,可获得超高灵敏度。与以往机型相比,元素范围拓展到F元素,元素检测下限可提升5~10倍,检出限低至0.2ppm(轻基体),计数率可提高至300KCPS,可应对高要求的检测需求,提升分析结果的可靠性。智能切换，测试无忧人工智能样品识别系统配合全匹配分析模式,确保样品检测一个动作完成,免去人为选择曲线造成的误差。多重背景模拟功能,帮助去除样品差异带来的偏差。强大的智能算法可自动识别样品材质和自动选择相应曲线,真正的做到多杯位样品智能自动检测。粉末抽真空及液体充氦气测轻元素,软件实现双气路一键切换,彻底解决普通XRF无法在液体测轻元素。多重防护,安全无忧探测器保护装置在仪器测试完后关闭探测器窗口,防止探测器窗口被扎 仪器的防护盖、防护电磁锁与X光管高压联动,测试过程中无法打开样品腔盖,防止误操作打开盖子时瞬时X射线对操作人员的伤害。软件误操作提醒,仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重X射线防护措施确保使用人员安全。自旋进样,无人值守配备西门子PLC(9杯位、12杯位、20杯位)控制多样品腔系统可供选择,12杯位和20杯位可1秒切换成单样品腔体,满足大小样品测试需求。9杯位自旋系统可提高非均一性样品元素测试。多杯位样品腔进样节约50%的设备成本,通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域1、ROHS、ELV、玩具安全、鞋材皮革等有害元素检测分析2、环境土壤、固废、土壤修复等元素测定3、地址矿产分析4、合金(铜、不锈钢等)成分分析5、金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定6、黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测7、石油化工产品含量分析8、水泥、耐火材料、玻璃等建材行业的元素分析领域9、饲料、肥料等有益有害元素测定10、其他无机元素分析行业等等

SciAps X-505 手持式矿石元素分析仪 性能和经济性完美结合 最大激发电压：50kV，最大电流：200uA 测试范围：Mg-U元素，优异的Mg, Al, Si, P, S等轻元素及Sb、Ag等重金属检测能力 SciAps X 全新系列手持式矿石元素分析仪，在设计上实现了完美平衡，为手持式 XRF 树立了全新的性能标杆。设备搭载先进的高性能硬件、高度优化的内部几何结构，超高计数率，分析速度更快、精度更高、体积更小，为用户现场使用即时提供地球化学与矿物学信息。

产品名称：CIT-3000SMQ 水泥全元素分析仪 产品说明、技术参数及配置 在国土资源部&ldquo 水泥行业专用多元素分析仪&rdquo 项目的支持下，先达公司综合了我国大、中型水泥生产的需求和建议，在原有多元素分析仪器的基础上，独立成功开发了国内领先水平的水泥全元素分析仪。该设备采用数字化谱分析技术，可以一次性分析水泥生熟料中的九种元素（Cl、K、Si、Mg、Al、S、P、Ca、Fe），自动计算三率值，可以分析各种原料的元素成分，具有分析速度快、精度高、稳定性好、操作简单、故障率低等显著特点，对水泥企业用来及时控制生产起到了很好的效果。 适用范围 水泥制造企业：原料、生料、熟料、水泥等各种成分分析； 石灰石企业：石灰石各种成分分析。 型号：CIT-3000SMQ 技术指标 分析元素：Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe等 样品用量：10-15克 探测器的分辨率：优于125ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 分析范围：1ppm-99.99%. 能量范围：1-30keV. 同时分析：9种元素同时分析 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 性能特点 台式结构，人性化设计，便于操作，美观大气； l采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； .采用X光管激发样品，一次激发全部九种待测元素； 高压电源：电压 0V-25kV连续可调；电流0-lmA连续可调。数码显示，精度高，无故障操作； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，无需液氮制冷，使用方便。探测器分辨率优于160eV(55Fe)； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和灵敏度； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 水泥企业专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 可一次性实现水泥中九元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 全中文Windows应用软件，操作简单。 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-25KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

SciAps X-550 手持式矿石元素分析仪 高精度要求的解决方案 最大激发电压：50kv 最大电流：500uA 超高计数率，提供更强、更稳定的测试信号，提升测试精度，特别是Mg, Al, Si, P, S等轻元素 SciAps X 全新系列手持式矿石元素分析仪，在设计上实现了完美平衡，为手持式 XRF 树立了全新的性能标杆。设备搭载先进的高性能硬件、高度优化的内部几何结构，超高计数率，分析速度更快、精度更高、体积更小，为用户现场使用即时提供地球化学与矿物学信息。

在同档次中唯一得到广大水泥企业认可的，能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。获得全国首张辐射豁免函，是真正的绿色环保产品。概述DM2100型X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用X光管激发，使仪器能长期使用而不象同位素源激发受源衰减的影响。仪器虽属小型X射线荧光能谱分析仪，但由于采用了国内首创的分谱技术，使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素（如水泥生料中的Al、Si），其测量准确度接近或达到进口大型仪器的水平，而价格只是进口大型仪器的十几分之一，特别适合我国国情。加之能克服化学分析的缺点，节约化学试剂，不污染环境，还可节约劳动力，一旦用上爱不释手。另外能真正实现生料的率值控制，提高水泥熟料的标号，其效益一年为数十万，一般小型水泥企业一年内即可收回投资。DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪现已获得实用新型专利和发明专利各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目，并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。技术参数：1．分析元素或其氧化物种类: Al、Si、S、Ca、Fe或其氧化物。2．分析范围: "控制目标值±2.5%"的范围内，由所标定的曲线决定。3．系统分析时间: 300秒(活时间)。4．分析精度：S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%，S SO3≤0.05%，SCaO≤0.09%，S Fe2O3≤0.05%。5．使用条件: 环境温度：5-40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220±20V，50Hz。6．整机功耗: ≤50W。7．尺寸与重量: 长×宽×高:560×470×150mm 重量:23Kg。主要特点： (1) 多成份同时快速分析,一般几分钟给出SiO2 、Al2 O3 、CaO、Fe2 O3 百分含量结果。(2) 采用国内首创的分谱技术,能真正区分相邻元素,从而准确测量相邻轻元素等。(3) 采用X光管或长寿命同位素源激发,使仪器能长期使用,而不受源衰减的影响。(4) 仪器以大液晶屏显示,操作采用中文菜单方式,操作简便。打印机能打印测量数据。(5) 采用物理分析方法,分析中不接触、不破坏样品,无需化学试剂。(6) 仪器采用一体化设计,集成化程度高,可靠性好,维修方便。(7) 环境适应能力强,长期稳定性好。(8) 一体化的仪器分析系统,可独立使用,也可与配料系统联机使用。(9) 价格功能比低,适合我国国情。(10) 无三废公害,射线防护安全可靠。实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

仪器简介：面对美国CPSIA/HR4040法案、ASTM F963-08标准；欧盟RoHS/WEEE、EN-71法令，各出口型企业纷纷使出浑身解数积极应对，产品品质管控重点在于如何把握“供应商来料”、“生产过程”、“最终出货”三个环节，然而高昂的送检费用与漫长的检测周期让许多企业苦不堪言，原料成本的上涨和生产效率的低下更让众多企业雪上加霜，Thermo Scientific Niton XRF提供一系列的解决方案，为您的企业保驾护航。Thermo Scientific Niton XRF Analyzers问世于1987年，拥有二十多年生产及应用经验，经过无数客户的验证，得到行业的肯定，并且已经成为现场材料分析的检测标准。在航天航空、石油化工、矿产勘测、合金分析、废金属回收、环境分析、消费品制造等领域以及对应CPSIA/HR4040、RoHS/WEEE、EN-71等法令的检测均有广泛应用。*全球第yi台便携式XRF*美国海关及欧盟多国海关均在使用*美国消费品安全委员会（CPSC）及欧洲产品安全实施委员会（PROSAFE）均在使用*全球销量已经突破20000台赛默飞世尔科技（Thermo Fisher Scientific纽约证交所代码：TMO），是全球科学服务领域的专业生厂商。我们致力于帮助客户使世界更健康，更清洁，更安全。公司年销售额超过105亿美元，拥有员工约34，000人，在全球范围内服务超过350，000家客户。主要客户类型包括：医药和生物公司，医院和临床诊断实验室，大学、科研院所和政府机构，以及环境与工业过程控制装备制造商等。公司借助于Thermo Scientific和Fisher Scientific这两个主要的品牌，帮助客户解决在分析化学领域从常规的测试到复杂的研发项目中所遇到的各种挑战。技术参数：重量 ＜1.3kg尺寸 9.60×9.05×3.75英寸 （244×230×95.5mm）激发源 高性能微型X射线管 金靶，50kV/40uA 、银靶，用于选配充氦装置，可分析轻元素探测器 高性能Si PIN 探测器电池 可充电锂离子电池 （可续航使用10个小时）显示器 角度可0～90度调节的高亮度VGA彩色触摸屏标准分析范围 从Ti到U中，28个标准元素：Cl,Br,As,Hg,Cd,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Sn, Hf, Ta, W, Re, Pb, Bi, Se, Sb （非标准元素亦可分析，需根据具体情况协商确定）充氦装置 选购充氦装置可增加对轻元素的分析：Mg、Al、Si、P、Ru数据存储 可存储超过10,000个数据和谱图模式 金属分析模式、塑胶分析模式、全自动分析模式、产品油漆涂层模式数据输入 触摸屏及键盘主要特点：●精度高，接近实验室水平的分析精度●角度可调的VGA彩色触摸屏，用户界面先进、直观，操作方便●简体中文显示●高强度、高密封性设计，防水及抗冲击性好●可实现对现场材料进行完全无损的快速检测●仪器无需外接PDA，抗电脑病毒能力强●仪器一体化程度高，具有防尘防水功能，操作便捷●通过内置USB接口或蓝牙通讯设备，可直接向电脑或网络存储设备传输数据●随机配置NDT软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制●自动存储10,000点以上的分析数据及图谱●XL3t系列不含放射性同位素激励源●具有自动校准、诊断和故障报告功能●可通过Internet实现软件升级●操作简便，即使是非技术人员也可轻松掌握●体积小，重量轻，仅1.3kg●NITON NDT软件可对仪器进行定制，设置用户权限，生成定制报告和打印分析证书，还可以实现对仪器的远程操控●选配充氦装置，仪器可增加S、Mg、Al、Si、P等轻元素的分析●选配3mm小点瞄准模式，满足小面积不同材料之检测需要●选配集成CCD摄像头，可实时对检测区域进行拍照

XL3tXRF元素分析仪应用领域：金属与合金检测玩具与消费品矿井勘探与生产环境分析 产品特征:易于使用:不需要任何专 业培训或是技能独特设计:一站式系统检测,无需任何外部配件重量轻巧:单台仪器*重1.36kg很快的检测速度:瞬间提供检测结果,可使您迅捷从容的做出判定已三度获得R&D100设计大奖，也是*一获得该奖项的手持式XRF分析仪 技术参数:重量:小于1.3kg探测器:高性能GOLDD探测器语言:11种语言选择,包括简体中文/英文操作界面测试范围:S-U超过25种元素（增配轻元素滤光片可测Mg-U)测试模式:电子金属模式、塑料模式、消费品全能模式

性能技术指标　　1.煤灰成份分析仪TY-37673煤中金属元素分析技术指标:　　1.2.工作条件：　　1.2.1、工作温度：15-28℃　　1.2.2、相对湿度：40%～70%　　1.2.3、电源：AC:220V±5V　　1.3.技术性能及指标:　　1.3.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 　　1.3.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99% 　　1.3.3.测量时间：60-200秒(可调) 　　1.3.4.其检测限度*高达1PPM 　　1.3.7.能量分辨率为129±5电子伏特 　　1.3.8.温度适应范围为15℃至28℃ 　　1.3.9.电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 1.4.产品特点　　1.4.1 DHA-37673配备抽真空，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，特别是提高了Na、Mg、Al、Si等轻元素的检出限，精确度提高了，同时在测试Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重复性稳定性有了明显的提高。　　1.42整体结构化设计，仪器美观大方。　　1.4.3采用美国*新型的SDD探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。　　1.4.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高峰背比，让测量更精准。　　1.4.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。　　1.4.6八种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。　　1.4.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品*高级。　　1.4.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。　　1.4.9独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　1.4.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。　　1.4.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。　　1.4.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。　　1.4.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。　　1.4.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。　　1.4.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用 同时开盖即解除真空，安全、简单实用。　　2.仪器硬件部分主要配置　　2.1 SDD电制冷探测器:(*新型探测器)　　2.1.1.SDD电制冷探测器 分辨率：129±5e电子伏特　　2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。　　2.2 X射线激发装置(薄铍窗光管):　　2.2.1.灯丝电流*大输出：1mA 　　2.2.2.属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时　　2.3高压发射装置:　　2.3.1.电压*大输出：50kV 　　2.3.2.*小5kv可控调节　　2.3.3.自带电压过载保护　　2.4一体化真空系统　　2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统 　　2.4.2几何抽速：60 L/min(50Hz)　　2.4.3极限压力：6.7×10-2 Pa　　2.5多道分析器:　　2.5.1将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件 　　2.5.2*大道数：4096 　　2.5.3包含信号增强处理功能 　　2.6光路过滤模块　　2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确 　　2.6.2将准直器与滤光处整合 　　2.7准直器自动切换模块　　多达八种选择，口径分别为8-1#,8-2#,8-3#,6-4#，4-5#,1-6#,0.5-7#,0.2-8#。　　2.8滤光片自动切换模块：七种滤光片的自由选择和切换。　　2.9准直器和滤光片的自由组合模块：多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。　　2.10工作曲线自动选择模块：自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化演绎得更完美，使操作更人性，更方便。　　3.专用成分分析软件　　3.1软件简介　　专门针对矿石检测而开发(含真空控制功能)，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并　　报告显示测量结果。　　3.2功能介绍　　3.2.1、专门应对矿石中SiO2，Al2O3，Fe2O3，MgO，NaO，P2O5，CaO，MnO等化合物的测试，测量时间为60-200秒(可调)　　3.2.2、操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作　　※自动校准仪器　　※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线　　※多种报告形式打印　　※可同时显示多个光谱图　　※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然　　1.样品配置：标准样品用于制作工作曲线　　4.1样品腔　　开放式大样品腔　　半封闭样品腔(抽真空时)　　4.2标样　　标样根据客户需求银校正片　　2.标准附件　　5.1、低噪音快抽速真空　　5.2、体积小、重量轻、结构简单，易于保养和维修　　5.3、抽速快，30S即可达到真空测试要求　　5.4、极限压力可达6.7×10-2Pa　　5.5、单相AC220V供电，无须外接三相电　　3.产品保修及售后服务　　6.1对客户方操作人员免费进行培训。　　6.2安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。　　6.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。　　6.4产品终身维修。　　6.5免费提供软件升级。

n 产品介绍AEMS-300大气元素在线监测系统（大气重金属）利用X射线荧光（XRF）技术，结合β射线吸收法，实现了对大气颗粒物（TSP/PM10/PM2.5/PM1）浓度及其中元素浓度的在线监测。该仪器可广泛应用于常规空气站、路边站、以及车载空气站等场所，同时可与其他大气颗粒物化学成分在线监测设备配套应用，为大气颗粒物在线源解析工作提供技术支撑。n 产品原理AEMS-300大气元素在线监测系统（大气重金属）利用采样系统抽取环境空气，并将空气中的颗粒物富集在采样滤膜上，利用β射线吸收法测量滤膜上的颗粒物含量（CPM，μg/m3），利用XRF技术测量滤膜上颗粒物中的元素含量（CE，ng/m3）,将二者结合，还可推算出颗粒物中元素的占比浓度（μg/g）。n 产品特点ü 颗粒物浓度和其中30多种元素浓度同时监测；ü 可根据用户需求定制元素模型；ü 轻元素和重元素检出限优异；ü 监测过程无人值守，纸带更换周期长。

真空型矿产元素分析仪EDX 9000B矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

产品说明、技术参数及配置 在石油钻井施工中，准确获取岩性资料是录井的重要任务，是及时建立地层剖面准确评价油气层性质和正确预测下部地层岩性的前提，也是指导钻井生产正常运行的最基础的工作。传统录井对岩性的识别主要是通过人的肉眼观察或借助光学仪器观察，获取的资料为定性的描述性资料。由于存在较多人为因素，对同一个样品的岩性判定和特征描述，很可能是千差万别的。这些非标准的、定性的、描述性的资料，既不利于进行横向或区域上对比分析，且精确性和可靠性也有限，已经越来越不能满足对复杂油气藏勘探开发工作发展的需要。同时，许多钻井新技术新工艺的发展，常常造成岩屑细小，甚至呈粉尘状，以观察为手段的岩性识别方法更加难以满足现场需求。随着钻井工艺的发展，需要一种能够准确、定量地解决细碎岩屑岩性识别问题的方法。X射线荧光（X-Ray Fluorescence，简称XRF）分析技术采用X射线照射样品产生特征X射线荧光，通过荧光光谱图定量分析岩屑元素的含量，可以满足地质录井的定量化需求，同时能够有效地解决细碎岩屑的识别问题。鉴于此，四川新先达测控技术有限公司根据石油地质录井生产的实际情况，依据JC/1085-2008标准、《Q/SY1862-2016元素录井技术规范》、《Q/SY 128—2015录井资料采集处理解释规范》生产的CIT-3000SY型石油X荧光元素录井仪，是集当今最新电子技术、计算机技术和核分析方法于一体,具有微机化程度高、人机界面友好、分析精度高、采用多项专利技术,是目前石油地质录井解决以上难题的新技术设备。分析元素：Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、Mn、Fe、Pb、As、Sr等。并能在测量完成后直接计算含量显示出对应测量样品的岩性。技术指标 仪器功能综述：实现岩屑元素含量的准确、快速分析和数据处理。具体技术指标如下：l 输入电压：电压 AC220V±10V，频率：50Hz±5Hz。l 环境温度：0℃-40℃、环境湿度：35%-70%l 采用美国航天技术的SDD半导体探测器计数，配合专门的数字脉冲处理技术，能 量分辨率优于100eV(55Fe)；l 测量对象状态：粉末、固体、液体,同时分析元素：一次性可测几十种元素；l 能量测量范围：1－40KeV；l 测量元素范围：钠（Na）到铀（U）之间的88种元素l 元素含量分析范围：1ppm-99.99%l 检测限：Na≤0.5%；Mg、Al、Si≤0.05%；P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe≤0.001%。l 分析精度：0.03% （含量高于95%以上的样品、21次测试稳定性）；l 重复性：同一样 品在同一条件下连续5次测得的主元素含量值与5次测量的平均值的相对标准偏差不大于5%；l 稳定性：同一样品每间隔30分钟测量一次，5次测得的主元素含量值与5次测量的平均值的相对标准偏差不大于5%l 辐射剂量：25μsV/h。l 高压：0V-50kV；l 管流：1μA-1000μA；l 测量时间：30秒-200秒（时间随样品而调整）l 真空泵：抽气速度＞4L/s；最大真空度＞1×10ˉ2 Pa。真空系统（可防止返油，可稳定高真空，高强度样品腔可维持高真空。）10秒真空度达10ˉ2 Pa，30分钟不漏气，稳定性好。l 仪器额定功率：200W仪器主要特色1）核心价值通过岩屑元素组成的分析识别岩性，通过岩性的组成特征判断层位。2）分析的主要元素Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、In、Sn、W、Pb、Th、U、Ba等3）极高的真空度完美的真空系统，10秒抽气真空度高达10-2Pa，30分钟不漏气，轻元素探测效果提高了70%，保证了Na、Mg、Al、Si极佳的分析效果和理想的重现性能；4）仪器高分辨率FAST-SDD探测器，配合专利技术的数字多道分析技术，仪器的分辨率高达100ev，最大限度的降低了元素之间的干扰，分析更加准确。5）软件操作方便出厂标定好后，长期使用，自带校准曲线样，无需用户标定。性能特点 l 采用X光管激发样品，自动选择激发条件，更能获得最佳的分析结果l 仪器结构：适合粉末样品检测的上照式结构。此结构可避免：粉末样品落灰或垮样污染探测器和光管，导致不便维护、容易损坏，计数率降低。样品可旋转测量，消除样品不均匀得影响。l 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围；l 系统可自动识别谱线，方便地了解样品的组成；l 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析；l 可一次性实现元素的快速、无损、准确分析；l 自动校准，确保仪器长期稳定；l 视频图像实时监控，可随时观察测量状态；l 粉末样品检测，制样简单；l 整体设计合理，性能稳定，运行可靠；l 全中文Windows应用软件，操作简单；l 在软件上可以通过计算测量谱线得到该测量样品与标准岩性的相似度。仪器配置 l 仪器主机一台 l 品牌计算机一台 l 激光打印机一台 l 真空泵一台 l 压片机一台 l 制样模具一套 l 稳压电源一台 l 测试软件一套

聚创 EDXRF技术金属元素X荧光分析仪JC-350X一、产品介绍 能量色散X荧光分析仪利用EDXRF技术，采用X光管产生X射线激发样品，先进的SDD探测器探测元素特征X射线，2048道数字化全谱分析，可以分析包括轻元素在内几十种元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范围广、稳定性好、操作简单等特点。 在铜合金等金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制(QA/QC，该仪器是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的常备仪器。生产者可以控制合金中的元素各成分含量，提高产品性能、减少次品和废品，提高经济效益。 二、主要用途主要用于铜合金、铝合金、锌合金、铸铁等原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值，炉前合金的快速分析和成品分析。三、性能特点☆.采用了美国新型的电致冷硅漂移SDD半导体探测器，具有高分辨率（125eV）和高探测效率 ☆.采用高真空度测样装置，消除了空气对低能X射线的阻挡，满足RoHS或合金检测时对轻元素的准确分析；☆.采用大功率的正高压X光管和高压发生器，提高了对轻重元素的检测下限，实现了对多种元素的同时快速检测分析；☆.自动开盖，无限平台的设计适应多种不同大小规格样品的检测，可以测量固体、 液体、粉末样品；☆.内置彩色CCD摄像头，使用户可以精确定位检测区域及时记录所测样品图像信息；☆.一体化的设计，使得仪器的性能稳定可靠、故障率低；☆.采用USB-CAN适配器与计算机进行通信，使用方便；☆.自动切换的滤片装置有效的降低了光管的散射本底，提高了仪器测量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的测量更准确；☆.先进的全数字化多道谱仪让仪器测量时的数据采集和处理更加快速准确，极大的提高了仪器的稳定性和抗干扰的能力；☆.自带数据库管理系统的全中文测量软件让仪器的测量更加方便，操作更加简单；☆.多重安全的防护设计，使仪器的整机辐射符合国家辐射防护标准，让用户用的放心。 四、技术指标1.分析元素范围：Na-U铜合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；铸铁：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；不锈钢：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；2.元素含量分析范围：0.07ppm～99.9%；3.探测器：电致冷硅漂移SDD半导体探测器（分辨率优于139eV） 4.测量范围：1～45KeV；6.高压：5kV～50kV；7.管流：5μA～1000μA；8.整机额定功率：50W；9.CDD摄像头分辨率：500万像素；10.真空泵额定功率：550W；11.10秒钟真空度可达10-2Pa （高真空区域10-1～10-5Pa） 12.检测时间：120s～300s（时间随样品不同可调整） 13.仪器重量：65Kg；14.仪器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm 聚创 EDXRF技术金属元素X荧光分析仪JC-350X

仪器说明：Innov-X Systems 新推出的移动式X系列矿石分析仪，功能强大，便于携带，是同类分析仪的基准。X系列仪器采用10W，50Kv的射线管，超大探测面的探测器，多种分析模式，6个光束滤波器，是目前市场上功能最强大的移动式分析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探测元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分析.同时也很适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。标配清单：1. X-5000主机1台；2. 用户化Microsoft Windows XP操作系统1套；3. 土壤专用测试软件Soil Beam11套；4. 土壤专用测试软件Soil Beam1套；5. 土壤专用测试软件Soil Beam1套；6. 百分比含量专用测试软件Mining1套；7. 专用地球化学元素测试GeoChem模式1套；8. 数据传输线USB1条；9. 智能接驳座1个；10. 充电系统1套；11. 防水运输胶箱1个；12. U盘(内含用户手册,软件备份,PC软件等)1个；13. 快速操作指南1份；14. 校准证明1张。技术参数：尺寸外形尺寸：328x280x380mm；展开尺寸：328x690x460mm；样品室尺寸：287x145x114mm重量26lbs；11Kg环境要求环境湿度0~95%；环境工作温度-20℃~50℃；亮黄激发源0~50kV多段可选择的电压；200uA探测器SI-PIN；SDD；等不同的探测器可选择冷却系统采用了Peltier恒温冷却系统，探测器在-35℃下工作，保证仪器滤波器6个滤波片可自动切换电压、电流电压15~40kv,电流可达200uA电力要求10~240VAC；50~60Hz, 最小电力100W 主机供电系统10~240VAC；50~60Hz交流电；锂电池组、适配器，适配器DC输出16.4V 3A（可选项)显示器整机一体化设计，工业级高分辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸，分辨率800*600显示器固定方式一体机设计,整机连体构造，可防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率数据显示百分比%和ppm显示元素含量，动态显示，元素可排序数据存储内存504M，硬盘18.6G处理器CPUIntel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz，RAM504M操作系统Microsoft Windows XP ,SP2

DM2100 X荧光多元素分析仪在同档次中真正得到广大水泥企业认可的获全国首张辐射豁免函是真正的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2100 X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在310秒内测出物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度。图1 EDXRF分析技术原理图DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪已获得实用新型专利（专利号：ZL200620040917.5）和发明专利（专利号：200610025556.1）各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目（编号：200607406），并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。图2 2021款面板图DM2100X荧光多元素分析仪的2021款除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、数据储存能力大等优点外，进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM2100X荧光多元素分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用国内首创的分谱技术，能真正区分相邻元素，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。功能强大––有合格率统计、率值计算、出错提示等，还可根据用户要求增加软件功能。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3系数D-2.89-3.460.2713.440.12系数E57.1432.415.7622.032.32系数F00000相关系数γ0.99120.99800.99270.99350.9967这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM2100X荧光多元素分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3标准值1.4610.752.5247.421.30平均示值1.1.3510.642.5047.381.36最大示值1.4710.722.5247.571.39最小示值1.2410.562.4847.281.33极差0.230.160.040.290.06示值标准偏差0.06500.04610.01270.07750.02163倍示值标准偏差0.1950.1380.0380.2330.065GB/T176的重复性限0.200.200.150.250.15DM2500与国标的符合性优优远优优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM2100X荧光多元素分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%， SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.06%，S SO3≤0.02%，SCaO≤0.08%，S Fe2O3≤0.03%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：310s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤150W尺寸及重量560mm（W）× 470mm（D）× 150mm（H），23kg实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

仪器名称型号X射线光电子能谱（XPS）日立 EA6000VX主要技术参数1、快速扫描凭借相当大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量，以及借助相当大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台，实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况，可在2～3分钟内检测出端子部分的铅并确定其位置2、连续多点测量相当多可指定500个测量位置进行连续多点测量。由于采用自动测量方式，因此在测量大量样品是，也可发挥高效率3、高精密重合通过Telecentric Lens系统和高速?9?9高精度XY平台，将元素扫描像和光学成像进行重合对微小部品的中心部分的目标元素也能进行简单观察。相当大250 mm×200 mm上方观察，并且能够实现广域位置相当小误差为100 μm以内的精确定位。 应用范围1、微小部位测量在FT系列中被公认的测量镀膜膜厚仪器就是由EA6000VX。不用说极薄的镀金等膜厚测量，即便是在进行镀膜钟所含的Pb等有害物质分析的膜压测量的同时也可进行膜厚测量。比如也可进行无铅焊锡镀层及引线框架上Sn镀层，无电解Ni镀膜中所含的有害物质的浓度测量2、环境中限制物的测量RoHS等限制物的高灵敏度测量，短时间内测出树脂、金属等中含有的微量环境限制物。对复合样品也可专注到特定部位进行测量 3、轻元素测量通过安装充氦选购项，可以分析钠开始的轻元素。测量中能够独立运转的氦气系统。将使用成本相当大化降低。 仪器特点1、透过扫描机能笔记本、手机等不能透过外包装看到内部构造的产品，无需拆解就可得到不仅仅是基板上的Pb，甚至其他各种元素的扫描图。通过比较X射线照射后得到的元素扫描图像，可以了解关于产品内部部件构造的各种情报2、异物检测EA6000VXEA6000VX通过快速扫描功能可以在几分中内检测出宽广范围（相当大250 mm×200 mm）内含有的几十μm的微小金属异物，并查明其具体位置。也可检测出树脂等有机物内部还有的微小、微量金属异物。3、相对安全、安心的操作性自动接近、防止冲撞功能操作台上样品一旦设定好启动后，自动测量出样品的相当大高度，移动到相当适合的测量高度。即便是复杂形状的样品，操作员也可轻松测量。另外，即便通过操作指南调整了测量高度，由于安装了防止冲撞传感器，因此不会使样品受到损伤。

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光质谱联用元素分析仪是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光质谱联用元素分析仪创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光质谱联用元素分析仪基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光质谱联用元素分析仪还可将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等 （其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光质谱联用元素分析仪的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。硬件特点 ? J200激光质谱联用元素分析仪可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS 系统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的 样品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配置高适连接口，轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设 置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光质谱联用元素分析仪的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的 种类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀（分辨率最小可达 7nm）、夹杂物和微光斑分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光质谱联用元素分析仪采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样 品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动 操作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200 激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200 激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

EDX-9000B XRF Spectrometer能量色散X荧光光谱仪矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

J200 LIBS元素分析系统系统功能J200 LIBS元素分析系统为高灵敏度和高准确性分析而设计，许多元素检测限可达ppm个位数，用于样品基质中多元素定量定性分析。J200实现了从氢元素到钚元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统分析方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。系统设计确保每个激光脉冲的可重复性。J200 LIBS元素分析系统将LIBS技术和ICP-MS相结合，将剥蚀出的样品固体微粒直接送入ICP-MS系统做进一步分析，避免酸解等样品前处理过程带来的二次污染和误差引入。同时，实现ppb级至百分含量的测量范围，还能进行元素空间分布制图（elements mapping)。系统在分析同位素的同时还能进行主量元素分析。工作原理系统采用激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，通过短激光脉冲在样品表面产生高能等离子体，在等离子体反应过程中，发射出具有离散光谱峰的光，收集这些光进行光谱分析。每种元素与LIBS的某一个或多个谱峰对应，通过鉴定不同的光谱峰，可以快速确定样品化学组成；峰强度信息可用于量化样品中元素的含量。随着化学计量软件的发展和激光烧蚀应用基础研究的进步，研究人员正在将LIBS技术应用于各行各业样品基质的定性和定量分析。J200 LIBS元素分析系统基于劳伦斯伯克利实验室30多年激光剥蚀基础理论研究成果，系统分析快速、可靠、准确、环保，可适应从实验室到现场再到生产车间的多种应用环境。检测范围J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品，包括土壤、植物、矿石、生物组织、刑侦材料（玻璃、油墨等）、合金、半导体、绝缘体、塑料、薄涂层和电子材料等等。检测元素种类具体包含：常量元素N, P, K, Ca, Mg, S微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl等化学周期表上大部分元素有机元素C、H、O、N轻元素Li、Be、Na等（ICP-MS难同时测量）同位素（升级与ICP-MS 联用)应用领域常规土壤元素分析、土壤污染检测、刑侦微量物证分析、煤粉组分分析、矿石检测、生物组织分析、农产品分析、合金分析、宝石鉴定、各种材料分析等。可靠硬件优化等离子体光收集。J200 LIBS采用独特的聚光光学设计，将大量的等离子光耦合到检测模块，实现高灵敏度测量。提高分析准确性和可重复性。J200的导航激光和自动传感器相结合，解决样品表面凹凸不平导致剥蚀不均的问题。激光稳定阀使到达样品表面的激光能量稳定一致，系统标配3D全自动操作台。系统可升级与ICP-MS连用，在进行LIBS元素分析的同时，将样品剥蚀颗粒送入ICP-MS系统，实现更多分析。弥补ICP-MS不能测量部分轻元素的不足，也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上多数ICP-MS联用。系统标配固体样品室，还可选择配置气体或液体样品室，通过设置可自动切换光路，实现固、液、气体样品室自动切换。系统硬件采用模块化设计，方便更新。激光器和探测器可根据样品的种类及用户研究进行升级。系统具备两个成像系统。广角成像用于整体观察样品，确定采样区域；另一成像系统用于放大样品选定区域进行采样。激光能量和光斑大小连续可调，激光脉冲稳定一致，实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析（zui小5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。强大软件系统软件能够对所有硬件进行控制。提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。TruLIBS&trade 数据库是等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS&trade 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线；各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒；允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得准确的定性和定量分析结果。具有单变量和多变量校准曲线制定功能。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好；多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的干扰，提高分析准确性。数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能，可以对样品进行快速分类鉴别。系统软件还可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，展示样品的元素空间分布。产地：美国

LEA-500 激光全元素分析仪可在几分钟内分析元素周期表中的所有元素LEA-500 是一款功能强大的现代化仪器，结合了光谱学，激光和软件方面的创新技术，可对样品中的所有化学元素进行测量，以及进行二维、三维元素分布成像和深层分析 通用性(分析不同材料时无需重启仪器) 简便快速的分析(几乎不需要样品制备) 最高的分析灵活性(样品形状和大小的变化可能是无限的) 分析速度快 测量范围广(从 0.1ppm~100%) 高精度测量和稳定性 每个样品分析的成本低，消耗品最少LEA-500 是研究，创建新材料和加工技术的理想工具最广泛应用的最便捷，最有效的分析技术 玻璃，陶瓷，水泥 黑色和有色金属冶金，合金和炉渣 地质行业，矿物，矿石 钾盐和肥料 纯金属中的痕量杂质 塑料和橡胶 建筑材料，粘土、沙子 土壤，环保行业 原材料的提取和加工 化学试剂 药用原料 生物材料 考古文物 半导体行业 农业(食品、饲料、茶叶、植物)快速多元素定性和定量分析 一次同时测量轻元素和重元素 宽浓度范围内的高灵敏度和高精度测量 使用 XYZ 电动位移台和视频成像系统分析样品上的设定点 XY 位移台步进精度为:1um 分析点的尺寸为:50um~1.2mm 可分析杂质和缺陷 可逐层分析 分析深度：1um~100um 涂层和薄膜分析能力 可以 10um 扫描步长绘制样品表面的元素含量分布图 可分析固态和粉末状样品 可分析的最少样品量：50ng 可分析的最大尺寸：75×75×40mm 不需要更改样品的聚合状态 通过初始激光脉冲可清洁样品表面二维元素分布成像LEA-500 是科学研究，创建新材料和加工技术的理想工具仪器的光学设计可以分析小范围不均匀样品中的化学成分，提供元素分布成像和逐层分析。 LEA-500 的独特功能可为每个客户的独特应用提供最佳分析结果：比如：检测地质材料中的化学元素，分析金属合金中杂质含量分布的不均匀性，检测杂质和缺陷的化学成分，分析元素浓度。焊接接缝、建筑建材中有害化学物质的深层浓度分析，石材建筑和玻璃的质量控制等。LEA-500 的独特设计使其成为具有高分析性能和最低检测限的极具吸引力的仪器 双光束光学设计 热稳定结构 光谱范围:175-800 nm 高通量无像差系统，焦距为 500 mm 色散0.5nm/mm(对于3600l/mm光栅)至 1.0 nm / mm(对于 1800 l / mm光栅) 在保护气体的气氛中运行通过以下方式可提供高达 0.01 ppm 的检出限和高重现性: 双脉冲纳秒激光器作为双脉冲的光谱激发源 高能量和空间稳定性 在非常宽的范围内自动控制能量和空间参数新设计的仪器允许在一个激光脉冲中记录大部分可检测元素可靠的设计，创新技术可实现最大的准确性和稳定性，符合最高质量标准。独特的样品室设计，可选装自动进样器 用 100 倍视频摄像机选择分析区域 真空系统可至1mm汞柱 分析系统有气氛保护 电动多位(12 位)样品架 同时加载各种样本并自动切换样本 二维元素分布成像完整的分析软件包，用于校准，评估和报告 全自动测量  只需单击一下即可启动整个分析循环  在分析过程中自动聚焦在样品表面上  样品表面观察，选择任何点或区域进行分析 化学元素分布的三维成像分析 逐层元素分析 光谱数据库

一、产品介绍 能量色散X荧光分析仪利用EDXRF技术，采用X光管产生X射线激发样品，先进的SDD探测器探测元素特征X射线，2048道数字化全谱分析，可以分析包括轻元素在内几十种元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范围广、稳定性好、操作简单等特点。 在铜合金等金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制(QA/QC)是必不可少的，该仪器是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的常备仪器。生产者可以控制合金中的元素各成分含量，提高产品性能、减少次品和废品，提高经济效益。 二、主要用途主要用于铜合金、铝合金、锌合金、铸铁等原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值，炉前合金的快速分析和成品分析。三、性能特点☆.采用了美国新型的电致冷硅漂移SDD半导体探测器，具有高分辨率（125eV）和高探测效率 ☆.采用高真空度测样装置，消除了空气对低能X射线的阻挡，满足RoHS或合金检测时对轻元素的准确分析；☆.采用大功率的正高压X光管和高压发生器，提高了对轻重元素的检测下限，实现了对多种元素的同时快速检测分析；☆.自动开盖，无限平台的设计适应多种不同大小规格样品的检测，可以测量固体、 液体、粉末样品；☆.内置彩色CCD摄像头，使用户可以精确定位检测区域及时记录所测样品图像信息；☆.一体化的设计，使得仪器的性能稳定可靠、故障率低；☆.采用USB-CAN适配器与计算机进行通信，使用方便；☆.自动切换的滤片装置有效的降低了光管的散射本底，提高了仪器测量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的测量更准确；☆.先进的全数字化多道谱仪让仪器测量时的数据采集和处理更加快速准确，极大的提高了仪器的稳定性和抗干扰的能力；☆.自带数据库管理系统的全中文测量软件让仪器的测量更加方便，操作更加简单；☆.多重安全的防护设计，使仪器的整机辐射完全符合国家辐射防护标准，让用户用的放心。 四、技术指标1.分析元素范围：Na-U铜合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；铸铁：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；不锈钢：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；2.元素含量分析范围：0.07ppm～99.9%；3.探测器：电致冷硅漂移SDD半导体探测器（分辨率优于139eV） 4.测量范围：1～45KeV；6.高压：5kV～50kV；7.管流：5μA～1000μA；8.整机额定功率：50W；9.CDD摄像头分辨率：500万像素；10.真空泵额定功率：550W；11.10秒钟真空度可达10-2Pa （高真空区域10-1～10-5Pa） 12.检测时间：120s～300s（时间随样品不同可调整） 13.仪器重量：65Kg；14.仪器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm实测谱图 五、使用特点

EcoChem激光光谱元素分析系统 技术背景： 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级。测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素。 系统功能：快速检测土壤、植物、种质资源、中药材、刑侦材料、矿石、合金、珠宝等样品中的? 常量元素N, P, K, Ca, Mg? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B, Mo, Ni, Cl? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素? 其他：有机元素C、H、O和轻元素 Li、Be、Na等（其他技术很难同时分析） 应用领域： 土壤、植物样品检测中药材元素测量及鉴定种子分类及活力分级检测农产品重金属检测地质矿物分析煤粉组分检测重金属污染检测合金元素分析刑侦微量物证分析宝石鉴定材料组分分析 工作原理： EcoChem激光光谱元素分析系统的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。 技术指标：激光系统：激光能量：200mJ@1064nm，能量输出0-100%可调；（266nm激光可选）光斑质量控制系统重现率：20Hz，脉宽6ns，DI水冷却系统光斑大小：20-200μm连续可调激光光闸：自动双光闸，稳定控制激光能量和LIBS信号激光安全：I级，有激光锁定保护装置检测器：谱宽：190-1040nm具有自动高度调整的功能 操作软件：中文界面，包含NIST和ElementLIBS数据库。可以轻松检测和识别元素周期表上的元素并进行信息标记。软件还同时具备如下功能：软件可针对所有硬件部件（激光器，光谱仪，三维工作台，气路等）进行指令操作，界面友好，操作直观，使用简单；内置多种打样方式选择，包括单点，多点，直线，矩阵点等；具有自动聚焦控制，可快速且方便的识别样品；可对系统内置的双镜头（全景视野和放大视野）进行控制；内置PLS等多种定标计算模型，可快速计算元素含量；内置PCA等多种计算模型，可进行元素分类分析及溯源；可进行元素的分布（mapping）分析；对气路进行精准控制；内置国内常见土壤和植物标准曲线库，方便用户参考和调用。 数据处理中心：专用i7台式电脑及24’显示器 系统应用： 1， 元素识别及定性分析系统可以轻松实现元素的识别并标记，内置专业ElementLIBS元素识别数据库方便元素的快速查找。非金属元素检测金属微量元素的检测 重金属元素的检测2， 元素定量计算系统可以很好的针对土壤和植物或其他多种样品中的各种金属和非金属元素进行定量计算。内置PLS等多种定量计算模型，减少基质中的影响因素，提高分析计算的准确性。PLS多变量定量计算模型 3， 元素分布分析系统可以很好的原位测量植物、作物或其他样品的元素分布，并绘制元素分布热图。 中药材元素分布 植物叶片病变处元素分布分析大豆种子元素分布分析 玉米元素分布分析 4， 物质鉴别及分类溯源不同等级和地域的土壤特性也不相同，系统可以有效地对这些土壤进行分级分类和鉴别，甚至建立我国的土壤特征库。系统内置的PCA主成分分析模型可以针对土壤的分级分类进行测量和评价。 不同土壤分类特征明显 系统通过检测种子的元素光谱特征，组分特征来进行种子分类及鉴定、转基因产品检测、种子活力分级检测等。这是一种新的方法和快速检测手段。玉米种子的分类 不同玉米种子分类特征明显，区分度可达100%

XGT X射线分析显微镜是能量色散型X射线荧光分析仪，可以快速、无损地分析待测样品的元素组成。不仅可以分析10 &mu m的微小区域；还可以自动扫描样品，扫描区域可达10cm X 10cm。没有什么技术可以如此简单的获得如此多的信息。仅仅需要点击感兴趣区域，就可以开始测量。并可以获得光学图像和元素面分布图的完美结合的测量结果。 XGT-7200 X射线分析显微镜单点分析以及自动球面成像 ，双真空管模式，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µ m.XGT-5200 X射线分析显微镜单点分析以及自动成像，正常大气压力下分析，光斑尺寸自1.2 mm 到 10 µ m. 最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7200开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合，为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描；高能量分辨率，高计数率的测量，且无需液氮。 双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换（大气或真空）。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量 所有元素的高灵敏度。 独特的硬件设计确保了XGT-7200操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 µ m和1.2 mm间切换，以保证获得 最佳测量条件，无论是微观到宏观。 与x射线导管同轴的CCD相机，可以迅速、精确地定位感兴趣区域。有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用：电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。 XGT-7200的灵活设计，保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果，无论是分析大区域，还是对微区细节分析，或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。主要特点：专利技术：X射线聚光导管（XGT）1、 世界领先技术：可将X射线全反射聚焦的聚光导管。2、 XGT技术创造了世界上最小的分析用X射线光斑（10µ m）丰富强大的分析功能1、 将光学图像与元素分析完美结合，轻松实现样品中元素的分布分析。2、 提供革命性的10µ m直径X射线束，实现对样品高分辨率的元素分析。3、 利用X射线的穿透性可以无损地对样品内部结构进行观察。4、 提供多种样品图谱采集方式，单点分析，多点分析，X射线透过像，高光谱元素面分布图像5、 完备的数据分析包提供定性分析，定量分析，多层厚度分析，谱图分析，谱图匹配，谱图比较，RGB图像合成等丰富的功能。6、 双真空模式，局部真空模式用于粉末样品，含水样品或生物样品进行分析，全真空模式可以进一步提供轻元素的分析精度。

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

一、工作原理二、产品特性岩屑直接进样，无需粉碎压片快速高效，1.5min完成样品研磨与检测支持最长边小于1.5cm的进样岩石颗粒多种元素同时一键分析Si、Al、Fe、Ca 、Mg、Mn、Na 、 Ti、 Ba、Sr、CI、P、V、Ni、Zr、Th 、U等操作简单，数据自动分析处理省力省心提高效率制样均匀统一泥岩、页岩、石灰岩、砂岩、白云岩石膏、火成岩等直接定性进样岩石范围广支持砂岩、泥页岩白云岩、石灰岩石膏、火成岩制样三、产品参数四、产品亮点全自动磨粉检测二合一自动磨粉压片机与LIBS仪器结，由人工转向自动化，解最劳动力，提高检测效率同时解决人工磨粉庄片带来盐局一盛在不控家格盖的样进性一步提升检测结果的可靠多元素同时分析同时实现多种元素的定性定量分析能够覆盖周期表中的大部分元素轻元素的检测(Z12)可测定C\N\O\L\Be\B等元素弥补XRF技术的短板五、应用领域适用于矿石分析、环境分析、地质勘探、冶金等多个不同领域