蚀刻测量仪

线宽测量仪线宽测量仪是一种实现精密检测的光学测量仪器，主要是专为检测印刷电路板内、外层半成品经显影蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度，基本上满足了市面上各种不同厚度的PCB板中的成品和半成品线宽检测。它采用*技术及零配件，并配套界面清晰明了，简单易学的操作软件设备特点：1.红光LED定位，可快速确定测量区域；2.同时配备强度可调环形光源，以便在不同检测板情况下都能呈现清晰画面 3.成像画质清晰，信号传输经过特殊处理，过滤了杂波，抗干扰力强；4.PCB板固定，镜头移动，操作灵活，检测范围大；5.特殊的数据处理方法，在粗略区选情况下具有手动和自动寻边功能，方便操作；6.匠心的鼠标三键式操作，在很大程度上提高工作效率；7.大理石工作台，平整稳固结实并带有自动抗震脚杯；技术参数：项目参数型号ZEX-XK02 台式分辨率0.70~5.20μm/pixel电子放大倍率50×光学放大倍率0.7×至 4×连续可调光源LED 环形光（亮度连续可调）LED 定位光源（红光）CCD高感光度 CCD可测板宽780mm视野范围0.53mm×0.4mm~3.4mm×2.5mm仪器外形尺寸（不含计算机）960×700×1220mm（L×W×H）重量（不含计算机）145kg工作电源220V±10%/50Hz操作温度0℃~40℃

线宽检测仪，PCB线宽检测仪，FPC线宽检测仪，PCB线宽线距测量仪，ASIDA线宽测量仪线宽量测仪用途：爱思达线宽检测仪适用于检测PCB内、外层蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度，也可检测线间距离、孔到边线距离，以及圆孔、盲孔和弧的直径等。并适用于IC晶片、薄膜和LCD等线宽线距的测量。PCB线宽量测仪特点：1、精准：采用可精密调焦装置，以及图像处理、自动寻边和亚像素算法等技术；2、高效： ①红光LED定位； ②自动寻边技术； ③具备SPC统计分析功能。 FPC线宽量测仪技术参数：精准①测量精度：±1μm②分辨率：XK16/XK22为0.70～5.20μm/pixel；XK23为0.4～2.6μm/pixel③总放大倍率：70～450X④光学放大倍率：1.4～9×连续可调对象①板宽：≤760mm②视野范围：0.53×0.4～3.4mm×2.5mm③线宽：≥20μm仪器外形尺寸（不含电脑）XK16XK22XK23135*135*310mm960*700*1280mm960*780*1280mm重量1.52Kg145Kg190Kg为什么选择正业科技线宽检测仪：1、正业科技仪器著名商标，爱思达。2、国精密检测仪器设备领导品牌——爱思达3、荣获75项国家、省市级资质荣誉奖项，108件国家专利技术。4、连续三届获评“中国电子电路行业优秀民族品牌企业”5、连续两届获评”中国锂电产业好产品”荣誉6、西安交通大学、华中科技大学、电子科技大学和广东工业大学等国内著名科研院所开展战略合作。

用途：?动线宽测量仪XK32适?于检测PCB内、外层蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度、也可测量蚀刻线与线之间的距离、孔到边的距离、焊盘、PAD以及圆孔、盲孔直径等；并适?于IC晶?和LCD等线宽线距测量。 特征：1、 ?动定位测量：?持CAM资料导?、??可使?Gbr-RX274X格式?件进??定义测量位置信息编程、?成?动测量程序后可导?软件?动测量；2、 ?动对焦：?动运?时、成像系统?动对焦、保证测量位置清晰准确；3、 ?动切换倍率：采??动变倍镜头、?需??切换、可软件实现在线切换倍率；4、 导航快速定位：具备导航影像定位功能、?便查找测量点；5、 ?动寻边测量：软件可?动抓线寻边、同时测量上下幅线宽、线距、圆直径等；6、 数据统计功能：具备EXCEL数据?动导出功能；7、 SPC统计：具备SPC统计分析功能；8、 采?正业科技?主研发线宽测量软件，?持MES数据库对接：?持SQL数据库对接、实现??信息化。

正业科技全新自动线宽测量仪（XK32A）主要应用于5G高端线路板及普通线路板的内、外层半成品经显影蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度、线距，圆孔（相机视野范围内）检查和分析。 正业科技线宽测量仪研发已超过 10 年线宽系列产品在PCB行业销售已超过 400 台技术过硬！运行稳定！质量可靠！ 第四代“新”升级 通过影像成像系统及光源从上表面垂直于被测板，呈显影像（相机实时拍图）感测，并将图像传送至电脑测量软件，通过软件测量工具分析图像的“线宽/线距/线宽上下幅/圆/金手指线宽等”标准公差值对比，从而判断被测板上的测量值OK或NG。 产品优势 检测实例 技术参数

爱默里生产的便携式流速测量仪。主要是针对固定污染源废气进行手工监测。或者手工比对。进行流速测量的专用便携式设备。其具有质控功能。主要体现在自动识别、自动记录、所测量位置、是否合格、数据是否可用。自证清白： 可以减少流速测量过程中对这个现场测量人员的素质或者是能力的要求大大降低。只要能开机，把烟枪放入烟囱，设备会自动提示摆放位置，前进的时刻和前进的距离，测量完毕数据自动上传并形成报表。如果与能监管部门自动联网的话，可以实现企业自行监测、自证清白的有效法宝。自动确定测量位置： 爱默里便携式流速测量仪自动确定测量位置，可分微观位置和宏观位置。宏观位置主要是指这个需要被测的这个烟囱啊，企业的烟囱位置是一个固定值。测量时啊，仪器开机自动定位，进行测量时数据。烟枪可以自动记录烟枪插入烟囱的距离，烟枪位置摆放位置是否符合国家标准规范要求。每个点位的数据自动进行记录，设备自动剔除每个点位前期无效数据和后期无效数据。三维成像： 手持机进行三维成像，显示每个检测点的数据和未测点的位置。数据可以自动上传到平台服务器，形成报表。

Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪F80-C膜厚测量仪使生产晶片的测量变得简单实惠工艺工程师希望薄膜厚度测量是快速容易的，现在高精度的厚度成像技术让 Filmetrics 可以快速建立配方，并且拥有快速的测试速度，而且价格仅仅是同行业测量设备的小部分。 F80 可以应用在化学机械抛光、化学气相沉积、蚀刻等工艺中，这是晶片追索工艺工程师所期待的。新技术= 低成本与传统的测量工具不同， F80 不需要高精度的移动硬件去找寻微小的测试 pads，相反的，它可以快速的测量每个 pad 附近数以千计点的厚度，然后处理“厚度成像”结果，进而找到正确的厚度。可以替换昂贵的移动硬件，进而节约很高的成本。使用方便因为使用厚度成像技术， F80 不依赖过时的基于视频的图像识别技术，这意味着在 CMP 应用中通常会遇到的前后表面光对照比不同的问题，在 F80 系统中是不存在的。 也意味着配方的建立更自动化和直观，数据可以及时存，从而节省了时间，训练及减少误操作引发的错误。快速因为厚度成像技术， 300 毫米晶片在 F80 上扫描 21 点仅仅只需要 29 秒的时间，非常快速。Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪

用途：自动线宽测量仪XK32适用于检测PCB内、外层蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅跨宽度、也可测量蚀刻线与线之间距离、孔到边线距离、以及圆孔、盲孔直径等；并适用于IC晶片和LCD等线宽线距的测量。 特征：1、自动定位测量：支持用户端导入DXF资料、用户可根据XDF文件自定义测量位置信息、生成自动测量程序后可导入软件进行自动测量；2、自动对焦：自动运行测量时、成像系统自动对焦，保证测量位置清晰准确；3、自动切换倍率：采用自动变倍镜头、无需人工切换、可软件实现在线切换倍率；4、导航定位：具备导航影像定位功能；5、自动寻边：自动测量时可自动抓线、上下幅线宽、线距、圆直径等；6、数据统计功能：具备EXCEL数据存档及统计功能，及自动导出数据。 技术参数：项目规格外形1700mmx2050mmx1600mm镜头0.7~4.5自动变倍镜头光源LED环形光测量尺寸范围≦600mm×650mm导航定位具备ccd导航快速定位功能线宽测量精度1x=3um2x=2um3x=1um4x=1um注：通常使用3x倍率，以标准片认证精度线宽测量范围最小 20um - max 1200um测量窗口视野范围0.7x=3.5mm1x=3.2mm2x=2.2mm3x=1.5mm4x=1.0mm注：视野偏差范围±5%以内运行模式可编程保存后调取程序进行批量自动运行测量测量寻边方式具备手动和自动寻边功能数据统计功能具备EXCEL数据存档及统计功能，及自动导出数据操作温度20℃~40℃相对湿度40%~70%电源3P/AC380+N+PE/50Hz/5kW重量约1750kg(不含电脑）

正业科技全新自动线宽测量仪（XK32A）技术提升，硬件、软件全面升级可用于5G及高端线路板的检测为品质保障、安全使用保驾护航 正业科技全新自动线宽测量仪（XK32A） 正业科技全新自动线宽测量仪（XK32A）主要应用于5G高端线路板及普通线路板的内、外层半成品经显影蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度、线距，圆孔（相机视野范围内）检查和分析。 正业科技线宽测量仪研发已超过 10 年线宽系列产品在PCB行业销售已超过 400 台技术过硬！运行稳定！质量可靠！ 第四代“新”升级 工作原理 通过影像成像系统及光源从上表面垂直于被测板，呈显影像（相机实时拍图）感测，并将图像传送至电脑测量软件，通过软件测量工具分析图像的“线宽/线距/线宽上下幅/圆/金手指线宽等”标准公差值对比，从而判断被测板上的测量值OK或NG。 成像原理 产品优势 检测实例 技术参数

正业科技全新自动线宽测量仪（XK32A）技术提升，硬件、软件全面升级可用于5G及高端线路板的检测为品质保障、安全使用保驾护航 正业科技全新自动线宽测量仪（XK32A） 正业科技全新自动线宽测量仪（XK32A）主要应用于5G高端线路板及普通线路板的内、外层半成品经显影蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度、线距，圆孔（相机视野范围内）检查和分析。 正业科技线宽测量仪研发已超过 10 年线宽系列产品在PCB行业销售已超过 400 台技术过硬！运行稳定！质量可靠！ 第四代“新”升级 工作原理 通过影像成像系统及光源从上表面垂直于被测板，呈显影像（相机实时拍图）感测，并将图像传送至电脑测量软件，通过软件测量工具分析图像的“线宽/线距/线宽上下幅/圆/金手指线宽等”标准公差值对比，从而判断被测板上的测量值OK或NG。 成像原理 产品优势 检测实例 技术参数

用途：?动线宽测量仪XK32适?于检测PCB内、外层蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅宽度、也可测量蚀刻线与线之间的距离、孔到边的距离、焊盘、PAD以及圆孔、盲孔直径等；并适?于IC晶?和LCD等线宽线距测量。 特征：1、 ?动定位测量：?持CAM资料导?、??可使?Gbr-RX274X格式?件进??定义测量位置信息编程、?成?动测量程序后可导?软件?动测量；2、 ?动对焦：?动运?时、成像系统?动对焦、保证测量位置清晰准确；3、 ?动切换倍率：采??动变倍镜头、?需??切换、可软件实现在线切换倍率；4、 导航快速定位：具备导航影像定位功能、?便查找测量点；5、 ?动寻边测量：软件可?动抓线寻边、同时测量上下幅线宽、线距、圆直径等；6、 数据统计功能：具备EXCEL数据?动导出功能；7、 SPC统计：具备SPC统计分析功能；8、 采?正业科技?主研发线宽测量软件，?持MES数据库对接：?持SQL数据库对接、实现??信息化。

厂家介绍：美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：• 通信：光缆加工/熔接、研发• 材料加工：焊接、蚀刻、切割• 消费设备：光学鼠标• 天文• 激光制造与品控• 光谱学• 3D扫描• 粒子检测• LED：室内照明、车头灯• LIDAR：AR、VR• 生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪M2测量仪：Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M2测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。 该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。搭载WinCamD的M2测量仪：M2DU-WCD搭载狭缝式Beam' R2 的M2测量仪：M2DU-BR WinCamD M2 Stage DataRay模块化设计的M2测量系统为用户提供了M2测量的超高灵活性。通过厂家提供的电子表格，用户可以选择理想的M2测量配置：不同参数的相机式或狭缝扫描式的光束质量分析仪、不同焦距的透镜可选、50mm或200 mm长的位移台可选。光束质量分析仪不仅可以在M2平台上用于测量M2值，还可以可拆卸下来单独使用。该系统既可测连续激光，也可测脉冲激光，使用灵活方便。 M2测量系统参数：波长范围190nm - 16um位移台行程50或200mmM2测量范围1-50M2精度±5%M2重复性±2%

产品描述：能显示和打印测试结果标准内置打印机快速、准确的测量结果，重复性好独立使用或结合电脑使用电热冷却器（无需冰或水）标示时间和日期一次性的廉价塑料样品杯适用于QA/QC、生产线和实验室被遍及全世界的糖果制造厂使用TRICOR Model 225巧克力调温测量仪外形简洁，测量精确度高、重复性好、无污染、成本低且易于操作。是一款极佳的多功能检测仪器，适用于现场、生产线及实验室。操作时使用者只需将装入巧克力的样品杯放入仪器中，几分钟之内就能显示并打印CTU（巧克力调温单位Chocolate Temper Unit）值。使用调温测量仪控制巧克力的调温可以保证巧克力具有稳定的品质，最佳流动性，快速凝固，高光泽，脱模性和抗裂性。使用225巧克力调温测量仪可以帮助厂家在因巧克力调温不合格而导致出品率和保质期减少前采取纠正措施。自1981年TRICOR公司推出第一台配有电热冷却器的巧克力调温测量仪以来，225巧克力调温测量仪的所有特性都得到了广泛的证实。特别设计的电热冷却系统，能保持样品尺寸不变，探针的深度和插入时的温度不变，排除了其他调温测量仪器的误差来源。显示屏能提示用户所有必需的操作。在完成一次调温测试后，显示屏能提供表明巧克力CTU的数值。测试结果和调温曲线的硬拷贝件能通过一台可选的远程打印机打印出来。TRICOR可选调温测量仪数据获取软件（TMDAS© ）同样可以打印以及储存和分析测试结果和调温曲线。用于装巧克力样品的一次性低成本的塑料样品杯能保证样品原来尺寸和清洁度。TRICOR公司作为全球性的调温测量仪供应商，还提供在线的和不在线的调温测量系统。规格和特点：尺寸：20.3H x 34.3W x 33D cm (8H x 13.5W x 13D 英寸)重量：6.4kg（14磅）功率：115/220V ac，50/60 Hz，1.7/0.85 A样品测试时间：5分钟（标准）样品体积：11.0ml（0.38oz）样品稳定时间：30秒巧克力调温单位（CTU）重复性：± 1.0 CTU冷却器温度稳定性：± 0.06℃探针加热温度精度：± 0.6℃温度测量感量：± 0.006℃温度测量范围：15-29℃（标准）调温曲线温度范围：15-29℃（标准）操作环境温度：10-38℃自检：开机后自动自检显示屏：LCD（液晶），2行x24字节内置打印机，包括：测试结果、CTU显示值和斜率操作手册包括：操作提示、整个步骤的使用说明可选功能：打印-绘图：通过远程打印机打印测试数据并绘制调温曲线；可调的样品测试时间：转换选择：3、3.5、4、4.5&hellip &hellip 9.5、9.55分钟；使用程序温度范围：15-46℃和58-116° F；数据管理包：调温测量仪数据获取软件（TMDAS© ）是一个适用于Windows的编程软件，用户可以将测试操作转由电脑控制以便今后的使用和分析。TMDAS© 创制的文件能被转换到许多常用的数据表和数据库文档上。

STES 固体径迹蚀刻系统是上海怡星机电设备有限公司推出的一款精 密测量仪器，可实现对环境中的氡累积剂量进行准确的测量。适合环保、高校、核电、研究机构等领域，填补了同类产品中长期缺乏国产仪器的空白。技术特点：1.可实现自动控制自动对焦2.可读取64 片方形CR-39（1cm×1cm）；16 片圆形CR-39（φ2.4cm）3.可读取12cm×12cm 以内自定义的形状和大小CR-394.可读取探测片序列号5.可自定义的轴向移动控制6.图像处理系统：包括图像增强、图像去噪、图像二值化和去除非径迹杂物7.记录每张图片进行进一步分析8.批量分析数以万计视野图片9.以.csv 文件格式导出读取结果，可以Excel 打开10.详细的径迹形态信息11.探测下限：被动收集型氡探测器：9Bq/m3；静电收集型氡探测器：0.6 Bq/m312.重复性好于1%；线性好于3%

加野麦克斯热线式风速测量仪6006Kanomax 6006热式风速仪使用简单，单一按钮即可进行全部的操作Kanomax 6006热式风速仪探头具有互换性，并保持很高的精度Kanomax 6006热式风速仪测试范围广，风速0.01～20m/s,温度—20～70℃内部设有温度补偿回路，在可测试的温度范围内能保持很高的精度（10～40℃）在所有的领域内都能灵活运用，是一种非常难得的热式风速仪加野麦克斯热线式风速测量仪6006技术参数热式风速仪规格型 号Kanomax 6006热式风速仪测 定 对 象常温、常压下的空气流测定范围风速0.01～20.0m/s风温—20～70℃测定精度风速读数的5% m/s风温±1°C显示分辨率风速0.1～9.99m/s:0.01m/s(*小)10.0～20.0m/s:0.1m/s风温0.1°C应答性风速1秒以下（风速在1m/s时90%应答）风温30秒以下（风速在1m/s时90%应答）显 示 功 能（1）电池剩余量（4段）（2）FAST/SLOW（1秒或5秒移动平均）（3）DIP开关更改显示单位（m/s、°C→FPM、°F）（4）显示暂停外 型 尺 寸探头：约φ6.1（φ10.6）×205mm（电缆：φ3.3×约1.5m）本体：约60（宽）×120（长）×34（厚）mm探头温度适用范围0～50°C本体温度适用范围5～40°C保存温度范围-10～50°C重 量约180g(含电池)Kanomax 6006附属品使用说明书Kanomax 6006选择件延长棒(伸缩式：166～909mm)、备用探头 加野麦克斯热线式风速测量仪6006加野麦克斯热线式风速测量仪6006

用途：自动线宽测量仪XK32适用于检测PCB内、外层蚀刻后（上绿油前）线路的上幅及下幅跨宽度、也可测量蚀刻线与线之间距离、孔到边线距离、以及圆孔、盲孔直径等；并适用于IC晶片和LCD等线宽线距的测量。 特征：1、自动定位测量：支持用户端导入DXF资料、用户可根据XDF文件自定义测量位置信息、生成自动测量程序后可导入软件进行自动测量；2、自动对焦：自动运行测量时、成像系统自动对焦，保证测量位置清晰准确；3、自动切换倍率：采用自动变倍镜头、无需人工切换、可软件实现在线切换倍率；4、导航定位：具备导航影像定位功能；5、自动寻边：自动测量时可自动抓线、上下幅线宽、线距、圆直径等；6、数据统计功能：具备EXCEL数据存档及统计功能，及自动导出数据。 技术参数：项目规格外形1700mmx2050mmx1600mm镜头0.7~4.5自动变倍镜头光源LED环形光测量尺寸范围≦600mm×650mm导航定位具备ccd导航快速定位功能线宽测量精度1x=3um2x=2um3x=1um4x=1um注：通常使用3x倍率，以标准片认证精度线宽测量范围最小 20um - 最大 1200um测量窗口视野范围0.7x=3.5mm1x=3.2mm2x=2.2mm3x=1.5mm4x=1.0mm注：视野偏差范围±5%以内运行模式可编程保存后调取程序进行批量自动运行测量测量寻边方式具备手动和自动寻边功能数据统计功能具备EXCEL数据存档及统计功能，及自动导出数据操作温度20℃~40℃相对湿度40%~70%电源3P/AC380+N+PE/50Hz/5kW重量约1750kg(不含电脑）

中图仪器的NS系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；产品特点1.出色的重复性和再现性，满足被测件测量精度要求线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。2.超微力恒力传感器：（1-50）mg可调 测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，提高扫描精度，真实反映工件微小形貌。4.顶视光学导航系统，5MP超高分辨率彩色相机5.全自动XY载物台， Z轴自动升降、360°全自动θ转台6.强大的数据采集和分析系统台阶仪软件包含多个模块，为对不同被测件的高度测量及分析评价提供充分支持。部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

光纤探针爆速测量仪WKFODV-20【简介】： 光纤探针爆速测量仪WKFODV-20是基于石英光纤探针是利用熔石英在受到冲击时会产生光辐射的特性工作的。当冲击波或飞片撞击石英光纤端面时石英光纤会产生一个强烈的光脉冲信号，光纤探针爆速测量仪WKFODV-20通过检测该光脉冲的出现时刻就可以知道冲击波或飞片到达光纤探针的时刻。光纤探针测量系统主要分为有源光纤探针和无源光纤探针两种，可以根据不同的使用环镜选配。光纤探针爆速测量仪WKFODV-20【技术指标】：序号名称参数1通道数20通道（根据用户要求可选定）2响应时间＜5ns3同步性＜10ns4相对测试精度≤1％5信号传输距离≥20m光纤探针爆速测量仪WKFODV-20【特点及用途】： 光纤探针具有受电磁干扰，响应快（可达亚纳秒），抗电磁干扰，可对非金属材料进行直接测量等优点。它可用于爆速测量，测量飞片速度、飞片平整性、样品中冲击波速度和材料高压声速以及测量炸药爆速和爆轰波阵面等，利于水下爆速测量。

加野麦克斯热线式风速测量仪6113日本加野6113智能型热式风速仪，探头具有互换性．即使测试现场出现突发故障，更换相应的本体或探头即可恢复正常工作打印输出，演算同一按键操作，使用简单，方便 风速，风温，压力的测试数据可以同时保存本体设计牢固，更加适合管道内等其他场所的环境测试 采用大型LCD显示，屏幕更加清晰明了 具有标准RS-232C通讯，模拟输出功能（选择件），数据处理简单方便。加野麦克斯热线式风速测量仪6113

蛋壳厚度测量仪Bulader-M20其技术性和操作性比较硬核，简单的操作方式和比较标准的测定参数和值，设备的完善程度和技术程度都是非常的成熟稳定，操作方面也非常简单易懂，可以与计算机进行串联，储存数据，还可以连接打印机打印测定的数据，技术成熟，设施完善，可在任何环境下使用。技术参数：1、工作电流：4.0安；2、输出：RS-232C接口；3、测量温度：20-60度；4、电源：AC 110~240V，50Hz；5、工作湿度：20-80%。蛋壳厚度测量仪Bulader-M20功能性非常的强悍，硬件设备也较为完善，而且设计非常的小巧简单大方，测量方式是一键自动测量方式，体积小，方便外出携带。产品特点：1、内置自动储存器可储存1000条测量信息；2、结果检测，可以随时检测随时的查看结果；3、硬件设施较完善，采用的是4通道双模式操作；4、仪器开机之后，不需要预热就可以进行样品的测定；5、外观设计美观大方，得体周到，箱体简单实用。蛋壳厚度测量仪Bulader-M20设计简单、操作简洁，性能稳定，单手可操作，自动储存测量数据，无需连接其他的设备就能够操作，全自动操作模式方便快捷，可以节省不少的时间和精力，双模式操作校准模式比较简单，一键校准节省时间。

高精度可定制影像测量仪采用高精度光学成像技术和计算机数字处理技术，支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。能够快速、准确地获取三维物体表面形态信息，并进行精密的尺寸、角度等多项测量数据的分析和处理。VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。 可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.高精度可定制影像测量仪一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。高精度可定制影像测量仪可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。高度测量配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量部分技术规格型号 Novator432 行程范围X(mm) 400Y(mm) 300Z(mm) 200图像传感器高清彩色工业摄像机 显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）镜头13.3X电动连续变倍放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X 3D扫描成像测量 Z向测量范围5mm扫描宽度30mm扫描速度10~80mm/s支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(kg)650承重(kg)25恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

WeiMi微米一键式快速影像测量仪、一键式闪测仪，采用智能光学系统、远心光学镜头，大视野、大景深，测量范围更大，一键完成所有尺寸测量，测量速度更快！使用微米一键式快速测量仪，无需定位夹具，产品任意摆放在工作台上，一键启动自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，实现一键式快速、精度高、稳定、全尺寸测量。一键式快速影像测量仪、一键式闪测仪应用范围广泛，可一键测量手机中框、手机玻璃、轴承、密封垫、断路器、齿轮、磁性材料、机械、电子、模具、注塑、精密冲压件、接插件、连接器、印刷电路板等工件的所有尺寸。 广东微米测量技术有限公司工厂总部位于广东省东莞市，服务网点辐射中国华南、华东、华北、西北等地区，以及亚洲、欧洲的多个国家，并与多家知名企业与事业单位保持了良好的合作关系。公司主营产品：二次元影像测量仪,光学影像测量仪,全自动影像测量仪,半自动影像测量仪,CNC影像仪,OMM影像测量仪,一键式快速测量仪,多镜头测量仪,龙门大行程二次元,线宽测量仪,刀具测量仪,CCD定位系统,激光平面度测量仪,自动全检机,激光检测仪,金相显微镜,非标定制测量设备等。我司的技术团队由深入钻研中国影像行业的技术人员组成。公司的硬件设计、生产与软件研发团队紧密配合、相辅相承；软件不断开发出硬件在同行业所不了解的沉睡潜能、硬件被开发出的潜能促使着软件不断升级更新，以满足客户多方面的需求。

TH-6100 颗粒测量仪测定涂料、颜料、印刷墨水、炭黑等的颗粒大小，能够测定0～100μ。在倾斜的水沟盖上放置刮板，较浅的一方拉起样品，根据颗粒大小能够确认细小组织，读取这一点两侧的度数，判定颗粒大小。【规格】 测定范围 0～100 0～50用 TH-6110 0～100用 TH-6120【外形尺寸】 大约180（W）×60（D）×20（H）mm【重量】 大约5kg

三座标测量仪主要用于机械、汽车、航空、军工、家具、工具原型、机器等中小型配件、模具等行业中的箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面等的测量。还可用于电子、五金、塑胶等行业中，可以对工件的尺寸、形状和形位公差进行精密检测，从而完成零件检测、外形测量、过程控制等任务，是现代工业检测和质量控制的检测设备。Mars系列三座标测量仪支持触发探测系统，能够对各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测。多种型号和配置的设备，满足客户的不同需求。设备操作简便，具有高速和高精度的测量功能，能够帮助客户有效提高工作效率和产品质量。还提供完善的售后服务，保障客户的设备操作顺利，降低客户的使用成本。主要特点1.三轴均采用低热膨胀系数的花岗岩导轨，机器具有良好的温度适应性，抗时效变形能力。2.环抱式气浮布局，使机器在高效稳定运行的同时保持高精度。3.关键部件一体铸造成型，重量轻，强度高，提升机器精度及运动平稳性。4.Z轴采用柔性平衡系统，降低摩擦阻力，提高Z轴运动精度。5.采用高精度、高分辨光栅尺，确保机器高精度和长时间稳定。6.高刚性传动方式，保证机器传动的平稳性和刚性。7.开放式的工作台面，具备良好的承载能力，以及开阔的测量视野。 8.气压检测安全装置，时刻监测Z轴不因断气而下坠，确保测座测头使用安全。测控部分测控部分的配置可以根据需求进行选择不同的型号和品牌。1、控制器中图Alpha系列控制器，是中图自主研发的三坐标控制器，可以匹配中图自己研发的测头测座系统和主机系统。性能特点：全闭环直流伺服电机驱动控制技术，具有优异的伺服跟随控制能力；固态电子开关设计，无大功率继电器，具有更小的体积和冲击电流，更高的可靠性；同步PWM控制技术和共模抑制设计，环路响应快，驱动效率高，发热低；微秒级速度前瞻轨迹规划算法，实现高效平滑运动和高空间运动重复性；控制器符合I++标准，能兼容市面上的主流测量软件。 2、测座 ACH100T全自动旋转测座为中图仪器自主研发的自动旋转测座，可实现测头在A 轴和B 轴以7.5 度为增量移动，该测座具有720个可重复定位空间位置，可配置长达300mm 加长杆。精度超进口测座。性能特点：测座能实现A角度0-105°，B角度-180°-﹢180°的运动；测座采用精密的6点定位，实现测座的高定位精度；关键零部件采用复合材料、高强度材料；测座通过动态防撞、静态防撞设计，确保测座的使用安全。3、测头 CP100T触发测头为中图仪器自主研发的机械式触发测头，可以在空间5个方向进行触发受力，经过长时间的反复对比测试，性能优于同类型进口测头。精度高，稳定性好。4、测量软件 Power DMIS测量软件是中图仪器自主研发的三坐标测量分析软件，拥有自主可控的核心技术。该软件支持DMIS与I++标准协议，并通过了德国PTB认证。主要特点：（1）中图三座标测量仪界面简洁友好，互动性强。各功能模块易识别和理解，用户可以快速上手；（2）机型库、测头系统、I++插件、DMIS转化功能，提高软件的兼容性和适配性，并得以丰富各种应用场景；（3）概要程序模式消除掉冗长的DMIS代码显示，大大降低对用户编程技能的要求，参数化视图交互功能实现所设即所测；（4）创建元素提供多种测量和构造方法，用户可以按需设置，既增加测量应用场景，又通过丰富的视图工具快捷设置视图显示；（5）提供路径显示和碰撞检测，利于直观形象的查看设备运动路径，保证安全高效测量；（6）数据中心提供丰富多样的数据管理功能，可实现数据的本地化管理，也可按客户需求导入数据库，适用于各类企业和行业。

一、颗粒硬度测量仪的介绍药品颗粒是指药物与糖粉、糊精、淀粉、乳糖等适宜辅料制成的颗粒状制剂，分为可溶颗粒剂、混悬颗粒剂和泡腾颗粒剂等，主要用于口服，可直接吞服或冲入水中饮服，药物颗粒的硬度可能会影响药物有效成分的溶解性，颗粒的崩解性或许会影响药物的吸收率。研究不同配方样品的硬度和崩解性差异对选择产品的配方和工艺有着指导意义。上海保圣药品颗粒硬度仪TA.XTC-18可以测试不同药品颗粒的硬度和崩解性差别。药品颗粒硬度仪可自主设计测试方法，获得准确数据。支持ASTM、ISO标准方法试验及种非标试验方法，是药品研发科研、材料研究的好助手。不仅仅检测药品颗粒的硬度，还可以检测致密性，以及外力搅拌等工艺是否会导致颗粒药物粉末化等。二、颗粒硬度测量仪的性能特点药品颗粒硬度仪TA.XTC-18用于制药行业专业物性分析仪，可以客观评价药物的力学特性，对力学指标结果给出准确的数量化描述。避免人类感官品评的局限性，可得到不同样品准确、稳定、重复性好的物性参数。通过对药品颗粒分散平铺后，进行下压实验，可以测定药品颗粒的硬度，硬度大，不容易崩解；硬度小，容易崩解，测得的样品硬度可以用来分析药品颗粒的崩解特性，为药品的配方选择和提高吸收利用率提供数据支持。药品颗粒的粘性指样品颗粒与外部产生的粘附性能，通过对药品预处理后进行下压实验，可以测定药品粘性，其可用于分析生产中颗粒是否容易成型和定型，有助于优化配方和工艺。三、颗粒硬度测量仪的技术参数1、应用：测定药品颗粒硬度，确认其崩解特性；测定药品颗粒粘性，分析生产中颗粒是否容易成型和定性产生影响、药物从口腔到食管中的服用体验的影响，从而可以反映药品的整体品质；2、仪器参数：测试结果显示精度：0.01g；位移精度：0.001mm；测试臂移动距离：280mm；检测速度：0.011~25 mm/s；数据采集率：不低于500组/秒，每组4个通道同时读取；3、力量感应元精度：采用高精度力量感应元，可以使用第三方标准砝码进行计量验证和校正，符合ISO 7500 Part1或ASTM E4标准；4、采用高精度力量感应元，0-100kg，可选择500g、1kg、5kg、20kg、30kg、50kg、100kg；5、设备采用三轴滚珠丝杆，结构稳固，不易变型，底部步进电机设计，位移 稳定，无共振，无噪音；6、安全措施：数据可紧急停止、上下极限控制装置、力量感应元过载保护7、结果分析：自动进行曲线的结果分析，用户只需根据自己的需要选择所要结果。同时曲线和结果可以传输到电脑备份。具有一键导出图片、Excel、PDF、原始数据等功能，可同时进行上百组数据的快速分析处理，数据可使用办公软件打开。具有检测数据保密功能；8、售后服务要求:仪器免费保修1年，免费安装调试，免费对采购人技术人员的操作、维修、保养等方面进行视频培训，直至能熟练独立操作，终身维护；9、配置药品颗粒硬度仪主机、TA/2探头、备品配件包、外置软件一套、应用方法库、操作手册。四、颗粒硬度测量仪的使用说明同配方和工艺的颗粒制剂在硬度、崩解性方面具有差异性，而颗粒的崩解性会影响药物的吸收率；药物颗粒的粘性也会对生产中颗粒是否容易成型和定性产生影响，粘性会影响药物从口腔到食管中的服用体验，药品颗粒的粘性的综合作用结果可以反映药品的整体品质。颗粒的硬度与颗粒的崩解性相关，当样品颗粒硬度较大时，颗粒不容易崩解，反之，颗粒硬度较小时，容易崩解。在该实验方法和参数的条件下，所测样品的变异系数较小，测试样品呈现出较好的重复性，说明检测的可靠性非常好。药品颗粒硬度仪所测得的药品颗粒硬度数值可以用来分析药品颗粒的崩解性质，测定药品颗粒的硬度、粘聚性和粘性等指标，为药品的配方选择和提高吸收利用率提供数据支持。

HARKE-PV35是我公司在今年3月份新开发的产品，产品实现了多点位测量、并可设置点位位置、自动旋转、自动测量、自动回位等一系列产品项目的全自动测量仪，HARKE-PV35采用比以往其它产品更大的载物台，更是许多用户的不二选择。方便应用于较大测试样品的测量。 HKCA-PV35接触角测定仪产品参数 l 样品台尺寸（mm）：100*100l 接触角测量范围：0-180°l 接触角显示精度：±0.01°l 接触角测量精度：±0.1°l 界面张力测定方法：悬滴法l 表面/界面张力测量范围：0-1000mN/ml 光学系统：0.7X-0.5X高清晰卡位变倍镜头l 视频系统：USB3.0摄像机+PC软控40帧/秒（可选100帧/秒、300帧/秒、1000帧/秒或更高）l 仪器外形尺寸（mm）:160*710（可伸缩扩展）l 仪器重量：35kgl 测量软件：HKCA35l 电源：220V/3A/50Hzl 测量温度：室温（高温、恒温、恒温可选定）l 测量方法：自动圆环法、自动椭圆法l 电动定位精度：±0.1mml 注射系统器移动行程：60mm HKCA-PV35接触角测定仪基本功能l 自动液滴零时刻识别l 自动液滴形成l 实时动态采集l 实时动态结果显示l 实时动态曲线生成l 预设测量数量l 自动着滴控制l 三态组合l 极座标旋转体系，园晶多点测量 HKCA-PV35接触角测定仪可附加选项l 表/界面张力（悬滴法）l 动态接触角（扩张收缩法）前进角、后退角l 固体表面自由能l 多通道系统

润湿角测量仪是一种测量液体对固体表面粘附润湿程度的仪器，是一种简单、快速、灵敏的方法测量固体表面的润湿性且可间接测量固体表面能与液体表面张力，专业级的高精度注射系统。主要用于测量液体对固体的接触角，即液体对固体的浸润性，也可测量外相为液体的接触角。　　　润湿角测量仪用途：　　　　粉体润湿角测量仪主要用于测量液体对固体的接触角，即液体对固体的浸润性，该仪器能测量各种液体对各种材料的接触角。可测量和计算表面张力/界面张力、CMC、液滴形状尺寸、表面自由能。能测量各种液体对各种材料的接触角,例如块状材料、纤维材料、纺织材料等，粉末样品在压片后也可测量。对石油、印染、医药、喷涂、选矿等行业的科研生产有非常重要的作用。接触角测量仪是一款采用全新的测量软件，特增加了接触角自动测量、曲面测量、基准线辅助和坐标显示等功能。用于测量和分析液体在固体表面的接触角、液体的表面张力、液滴几何尺寸、固体表面能及其组分等，实现对固体表面的亲/疏水性分析、润湿性分析、洁净度检测、处理效果评估，以及液体被竞争、吸附、吸收和铺展等过程分析。广泛应用于化工、医药、食品、电子、印染和喷涂等众多领域的测试与研究。接触角测量仪产品参数l 样品台尺寸：100mm*120mml 接触角测量范围：0-180°l 接触角显示精度：±0.01°l 接触角测量精度：±.1°l 表面/界面张力测量范围：0-1000mN/ml 光学系统：0.7X-5X高清晰卡位变倍镜头l 视频系统：USB3.0摄像机+PC软控30帧/秒（可选100帧/秒、300帧/秒、1000帧/秒或更高）l 仪器外形尺寸：300mm*760mml 镜头移动行程：30mml 仪器重量：30Kgl 测量软件：SPCA1.0l 电源：220V3A50Hzl 测量温度：室温l 测量方法：圆环法、椭圆法、高宽法等8种方法提供l 电运定位精度：±0.1mml 注射系统器移动行程：30m接触角测量仪基本功能l 自动液滴识别+延时l 自动液滴形成l 曲线生成l 自动着滴控制l 手动XY轴移动

中图仪器NS系列国产薄膜台阶高度测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能 NS系列国产薄膜台阶高度测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。NS系列国产薄膜台阶高度测量仪是一种常用的膜厚测量仪器，它是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。如针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器 1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。NS系列台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

泰科纳自动影像测量仪，是代替原有手动测量机型的一款全自动化测量机型，可以实现产品的批量全检。全自动对焦功能和全自动变倍远心镜头，不但能够提高测量效率，也避免测量过程中的人为因素带来的测量误差。可以离线编程，实现测量程序存储和调用。泰科纳自动影像测量仪搭载1:6.5高分辨率光学系统，可全面确保精密工件的二维尺寸进行准确测量。可高效测量各种精密零件的轮廓和表面形状尺寸，如点、线、圆、弧、矩形、槽形、环形、开曲线、闭曲线、圆柱、圆锥、球、平面,也能测量曲线的周长、面积、直径等。同时可以进行平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同心度、直线度、平面度、孔深等适用于高精度产品检测。广泛应用于：航空航天、汽车电子、手机零部件等行业。测量机的核心测量组件是激光测径。激光发射器发射的激光通过旋转和一组透镜处理，形成一个激光面扫描工件，工件放置在激光束面内，在测量区域位置的被测物遮挡激光束并将阴影投射至接收器，计算被遮挡光束的阴影时间，被测物的外径即可被精确计算出来。

描述：包含Ross电极的测量仪套装；产品包括：● 仅电导率仪包括仪表和说明手册● 不含电极的测量仪套装选件包括测量仪、台式电极支架和说明手册● 包含pH/ATC电极的测量仪套装选件包括测量仪、pH/ATC复合电极F13642252，pH4.01、7.00和10.01的缓冲液各475mL、电极存储溶液、台式电极支架和说明手册● 包含Ross*电极的测量仪套装选件包括测量仪、Ross* Ultra* pH复合电极、环氧ATC探针、pH4.01、7.00和10.01的缓冲液各475mL、电极存储溶液、台式电极支架和说明手册特点：● 专业的pH和温度测量汇集于一体，并采用人体工程学设计● 同步显示pH或mV和温度的测量值● 可稳定显示测量数据的明亮LCD显示屏● 方便的内置快速启动向导● 自动或手动校准，校准点为1到5● 自动缓冲识别（ABR），包括DIN和NIST/US缓冲液● 提供GLP相关功能的全部部件● 全球通用的电源适配器● 可存储多达10种受密码保护的方法，包括设置参数和校准；通过网页下载更多方法和软件更新● 200点数据记录仪，可通过可选的RS-232或USB接口附近下载到打印机或计算机● SMART STABILITY* 和SMART AVERAGING* 可自动优化测量数据的准确性、精确性以及响应时间● IP-54防尘和防溅功能● Mini-DIN锁定探针连接器● 先进的运行自测和自我诊断

描述：包含pH/ATC电极的测量仪套装；产品包括：● 仅电导率仪包括仪表和说明手册● 不含电极的测量仪套装选件包括测量仪、台式电极支架和说明手册● 包含pH/ATC电极的测量仪套装选件包括测量仪、pH/ATC复合电极F13642252，pH4.01、7.00和10.01的缓冲液各475mL、电极存储溶液、台式电极支架和说明手册● 包含Ross*电极的测量仪套装选件包括测量仪、Ross* Ultra* pH复合电极、环氧ATC探针、pH4.01、7.00和10.01的缓冲液各475mL、电极存储溶液、台式电极支架和说明手册特点：● 专业的pH和温度测量汇集于一体，并采用人体工程学设计● 同步显示pH或mV和温度的测量值● 可稳定显示测量数据的明亮LCD显示屏● 方便的内置快速启动向导● 自动或手动校准，校准点为1到5● 自动缓冲识别（ABR），包括DIN和NIST/US缓冲液● 提供GLP相关功能的全部部件● 全球通用的电源适配器● 可存储多达10种受密码保护的方法，包括设置参数和校准；通过网页下载更多方法和软件更新● 200点数据记录仪，可通过可选的RS-232或USB接口附近下载到打印机或计算机● SMART STABILITY* 和SMART AVERAGING* 可自动优化测量数据的准确性、精确性以及响应时间● IP-54防尘和防溅功能● Mini-DIN锁定探针连接器● 先进的运行自测和自我诊断