寿命检测仪

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

弗莱贝格的MDPpro（晶圆片/晶锭寿命检测仪）系列主要用于测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查等，其非接触式检测和无损成像（μPCD /MDP(QSS)）的设计完全符合SEMI标准PV9-1110。这也使得该仪器在晶圆切割、炉内监控和材料优化等领域被广泛应用。可以说，MDPpro是晶锭生产商以及晶体炉技术生产商的标准仪器。特性&优势▼u 无接触和无破坏的半导体检测；u 特殊“underneath the surface”寿命测量技术；u 对不可见缺陷的可视化测试具有很高灵敏度；u 自动设置硅錠切割标准；u 空间分辨p/n电导型变换检测；u 多项数据同时自动检测扫描，5幅测量图形同时绘制；u 坚固耐用的设计和易于设置的性能。安装，仅需要电源。 应用实例▼1.日常寿命测量，质量控制和检验高产量：240块/天或720片/天测量速度：对于156x156x400mm标准晶锭，4分钟良品率提升：1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭质量控制：用于过程和材料的质量监控，如单晶硅或多晶硅沾污检测：起源于坩埚和生产设备的金属(Fe)可靠性：模块化和坚固耐用的工业仪器，更高可靠性，运行时间 99%可重复性: 99.5%电阻率：可做面扫描，不需经常校准2. 精密材料研发a.铁浓度测定b.陷阱浓度测定c.硼氧测定d.依赖于注入的测量等

特性灵敏度：对外延工艺监控和不可见缺陷检测，具有可视化测试的高分辨率测量速度：6英寸硅晶圆片，1mm分辨率 ，小于5分钟寿命测试范围: 20纳秒到几十毫秒沾污检测：源自坩埚和生长设备的金属(Fe)污染测量能力：从初始切割的晶圆片到所有工艺加工的样品灵活性：允许外部激光通过触发器，与探测模块耦合可靠性： 模块化和紧凑台式仪器，更高可靠性，正常运行时间 99%重现性： 99.5%电阻率：无需时常校准的电阻率面扫描用于研发或生产监控的灵活检测工具MDPmap是一个紧凑的离线台式检测设备，对生产控制或研发进行无接触电学参数特性检测。可测量参数如载流子寿命、光电导性、电阻率、缺陷信息在稳态或注入范围宽短脉冲励磁(μ-PCD)。自动化的样品识别和参数设置可以方便地适应各种不同的样品，包括在不同的制备阶段，从生长的晶圆片到高达95%的金属化晶圆片的外延片和晶圆片。MDPmap主要优点是其高度的灵活性，它允许集成最多4个激光器，用于从超低注入到高注入，对依赖于注入水平的少子寿命参数测量，或者使用不同的激光波长提取深度信息。包括偏置光设置以及μ-PCD或稳态注入条件选项。可以使用不同的图谱进行客户定义的计算，也可以导出原始数据进一步评估。对于标准计量任务，可用一个预定义的标准，使常规测量只需按一个按钮。

桌面单点测量 低成本的台式寿命测量系统，可在不同的制备阶段表征各种不同的硅样品，没有内置的自动化。可选配手动z轴，用于厚度在156毫米以下的晶锭。结果可视化的标准软件。 MDPspot包括一个额外的电阻率测量选项。电阻率测量仅适用于硅，可用于没有高度调整可能性的晶圆片，也可用于晶锭。须预定义这两个选项之一。 特性 无接触破坏的电子半导体特性μ-PCD测量选项外延片不可见的缺陷和检测的灵敏度的可视化集成多达四个激光器适用于一个广泛的注射水平获取单一瞬态的原始数据以及用于特殊评估目的的图 优势 用于不同制备阶段，从成体到最终器件，多晶硅或单晶硅单点测量载流子寿命的台式装置。 体积小，成本低，使用方便。拥有一个基本的软件，结果可视化。适用于晶圆片到晶锭，易于高度调整。技术参数样品不同的处理步骤，如钝化或扩散后的单晶或多晶硅晶圆、晶锭、电池、晶圆样品尺寸50 x 50 mm2 到12“ 或210 x 210 mm2电阻率0.2 - 103 Ohm cm材质硅晶圆，晶锭，部分或全部加工晶圆，复合半导体和更多其它类型 检测性能载流子寿命尺寸360 x 360 x 520 mm，质量：16 kg电源110/220 V, 50/60 Hz, 3 A其它细节 允许单片调查不同种类的晶圆片有不同的菜单监控材料、工艺质量和稳定性

Mono- and Multi-crystalline wafer lifetime measurement device应用范围：用于精密材料研发的单晶和多晶片的寿命测量 特性●灵敏度：外延片不可见的缺陷和检测的 灵敏度的可视化●测量速度：6英寸硅晶圆片，1mm分辨率 ，小于5分钟●使用寿命: 20纳秒到几毫秒●污染测定：源自炉和设备的金属(Fe)污染●测量能力：从初始切割的晶圆片到完全加工的样品●灵活性：固定测量头允许外部激光与触发器耦合●可靠性： 模块化和紧凑的台式仪器，更高的可靠性和正常运行时间 99%●重现性： 99.5%●电阻率：不需要频繁校准用于研发或生产监控的灵活检测工具 MDPmap是一个紧凑的台式无触点电子特性的离线生产控制或研发的工具。可测量参数如载流子寿命、光电导性、电阻率、缺陷信息在稳态或注入范围宽短脉冲励磁(μ-PCD)。自动化的样品识别和参数设置可以方便地适应各种不同的样品，包括在不同的制备阶段，从生长的晶圆片到高达95%的金属化晶圆片的外延片和晶圆片。。 MDPmap的主要优点是其高度的灵活性，它允许集成最多4个激光器，用于从超低注入到高注入的依赖于注入水平的寿命测量，或者使用不同的激光波长提取深度信息。包括偏置光设施以及μ-PCD或稳态注入条件的选项。可以使用不同的图进行客户定义的计算，也可以导出原始数据进行进一步的评估。对于标准计量任务，可用一个预定义的标准，使常规测量只需按一个按钮。

桌面单点测量低成本的台式少子寿命测量系统，对不同制备阶段的硅材料电学参数进行表征。没有内置自动化。可选配手动z轴，用于厚度在156毫米以下的晶锭。MDPspot可配电阻率测试选项。仅适用于硅，用于晶圆片，也可用于晶锭。 结果可视化的标准软件。特性无接触和非破坏的电学参数测试对外延工艺监控和不可见缺陷检测，具有可视化测试的高分辨率对于不同级别晶圆片，提供不同的菜单选项优势用于不同制备阶段，从成体到最终器件，多晶硅或单晶硅单点测量载流子寿命的台式装置。体积小，成本低，使用方便。拥有一个基本的软件，结果可视化。适用于晶圆片到晶锭，易于高度调整。

根据SEMI标准PV9-1110的非接触式和无损成像(μPCD / MDP(QSS))、光电导性、电阻率和p/n检查。晶圆切割，炉内监控，材料优化等。日常寿命测量，质量控制和检验最佳产量：240块/天或720片/天测量速度：对于156x156x400mm标准晶锭，4分钟良品率提升：1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭质量控制：用于过程和材料的质量监控，如单晶硅或多晶硅沾污检测：起源于坩埚和生产设备的金属(Fe)可靠性：模块化和坚固耐用的工业仪器，更高可靠性，运行时间 99%可重复性: 99.5%电阻率：可做面扫描，不需经常校准精密材料研发铁浓度测定陷阱浓度测定硼氧测定依赖于注入的测量等特性无接触和无破坏的半导体检测特殊“underneath the surface”寿命测量技术对不可见缺陷的可视化测试具有很高灵敏度自动设置硅錠切割标准空间分辨p/n电导型变换检测

Mono- and Multi-crystalline wafer and brick lifetime measurement device应用范围：用于常规质量控制、精密材料研发的单晶和多晶片及晶锭的寿命测量 根据SEMI标准PV9-1110的非接触式和无损成像(μPCD / MDP(QSS))、光电导性、电阻率和p/n检查。晶圆切割，炉内监控，材料优化等。日常寿命测量，质量控制和检验 ◆产量：240块/天或720片/天◆测量速度：对于156x156x400mm标准晶锭，4分钟◆生产改善：1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭◆质量控制：用于过程和材料的质量监控，如单晶硅或多晶硅◆污染测定：起源于炉和设备的金属(Fe)◆可靠性：模块化和坚固耐用的工业仪器，更高的可靠性和运行时间 99%◆可重复性: 99.5%◆电阻率：不需要经常校准精密材料研发铁浓度测定陷阱浓度测定硼氧测定依赖于注入的测量等特性完全无触点无破坏的半导体特性特殊的“表面之下”寿命测量技术不可见缺陷的 灵敏度的可视化自动切割标准定义空间分辨p/n电导型变换检测

产品介绍▼MDPmap是一个紧凑的离线台式检测设备，主要被设计用于生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数。其工作状态为稳态或短脉冲激励下（μ-PCD）。MDPmap自动化的样品识别和参数设置可以使该仪器方便地适应各种不同的样品，包括从生长的晶圆到高达95%的金属化晶圆之间不同制备阶段的各种外延片和晶圆片。MDPmap主要优点是其高度的灵活性，它允许集成多达4个激光器，用于从超低注入到高注入的与注入水平相关的寿命测量，或者通过使用不同的激光波长提取深度信息。设备特点▼灵敏度：对外延工艺监控和不可见缺陷检测，具有可视化测试的较高分辨率测量速度：6英寸硅晶圆片，1mm分辨率 ，小于5分钟寿命测试范围: 20纳秒到几十毫秒沾污检测：源自坩埚和生长设备的金属(Fe)污染测量能力：从初始切割的晶圆片到所有工艺加工的样品灵活性：允许外部激光通过触发器，与探测模块耦合可靠性： 模块化和紧凑台式仪器，更高可靠性，正常运行时间 99%重现性： 99.5%电阻率：无需时常校准的电阻率面扫描Lifetime map of passivated multicrystalline siliconIron contamination map of multicrystalline siliconBor oxygen map of mono siliconTrap density map of mono silicon设备参数▼样品尺寸5mm—300mm（300mm为标配，可根据需求提升至450mm）寿命范围20ns到几毫秒电阻率0.2 - 103 Ohm cm电导类型p/n材质硅晶圆，外延层，部分或完全加工晶圆，化合物半导体等测量属性少数载流子寿命、光电导性激励源可选四种不同波长（355nm—1480nm），默认值为980nm大小680 x 380 x 450 mm, 重量: 65 kg电源100-250V，50/60 Hz, 5A

双工位锁具全套寿命试验机 锁具锁芯开锁闭合寿命试验机专业生产测试锁具的插拔旋转测试 锁具疲劳实验机 锁具旋转测试仪锁具寿命测试机专为检测模拟锁具的锁芯开锁提手手柄使用寿命而设计，，可以适应多种锁具的检测，采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。用户可以根据自己的需要和标准要求，直接在操作屏幕上面输入旋转角度等参数，达到设定次数后机器自动停机。一. 钥匙插拔扭转寿命测试机 钥匙插拔扭转寿命检测仪 钥匙扭转仪工位：二个工位； 四、 锁具疲劳检测设备、专业生产控制方式：触摸屏加PLC程序控制；五、 双工位锁具全套寿命试验机 锁具锁芯开锁闭合寿命试验机专业生产角度：0度到90度之内任意设定；六、 测试次数：0-999999内设定；七、 测试速度：0-60分每秒可调；八、 驱动电机：步进电机；九、 旋转空间：电机旋转中心到平台高度保证100mm以上十、 台面材质：纯铝氧化处理十一、 固定治具：可调式固定治具十二、 导轨：精密进口导轨十三、 工作电源：AC220V、50HZ钥匙插拔扭转寿命测试机 钥匙插拔扭转寿命检测仪 钥匙扭转仪本公司所有产品全为铝制品，所有铝都经氧化外表美观轻巧，经久耐用永不生锈。本公司所有产品全为铝制品，所有铝都经氧化外表美观轻巧，经久耐用永不生锈。来对了，找到真正的和有实力的生产厂家帮您省钱！我们销售的每台仪器设备都是经过严格的检查及出货，产品质量能够得到限度的保障，不会出现以次充好或者销售有瑕疵的产品，购买我们的机器追求的就是超高的性价比，您购买的不光是产品本身，还有针对产品提供的专业服务和质量保障。选择“达标仪器”品牌是您***对的选择！

奥美拉唑溶出检测使用寿命偏短问题解决 适用柱型号：Zafex Acutfex YS-C8供试品溶液： 组分名称 保留时间 峰高 峰面积 理论塔板数 拖尾因子 （min） （mV） （mV*s）奥美拉唑 19.809 40.70 1122594 11686 0.96理论板数按奥美拉唑峰计算不低于2000 奥美拉唑高效液相色谱条件：色谱柱：Acutfex YS-C8 250*4.6mm 5μm流动相：0.01mol/L磷酸氢二钠溶液（用磷酸调节PH至7.6）-乙腈（75：25）检测波长：302nm流速: 1.0ml/min柱温：30℃进样量：20ul仪器：SHIMADZU LC2030plus 奥美拉唑溶出检测使用寿命偏短问题解决 适用柱型号：Zafex Acutfex YS-C8 相关介绍 特点：通用ODS-C18色谱柱 通用型的、耐受高比例水相的十八烷基反相色谱柱填料。其填料是在超高纯度球形硅胶上键合通用性的十八烷基官能团，并进行严格的亲水性端基封尾修饰所得。无论是对碱性化合物还是酸性化合物吸附都较小，使得化合物在色谱柱上具有理想的峰型。 采用标准封端技术，平衡亲水疏水，通用型C18柱；适用于绝大多数反相条件下化合物分析，贡献超高的理论塔板数；偏低的碳载量，出峰快 适用于酸性、中性化合物的分离分析。案例：测定菊花药材色谱柱：Acutfex YS-C18，5μm，4.6×250 mm；流动相：0.1%磷酸水溶液（用磷酸调节pH值至7.0）-乙腈流速：1.0 mL/min；检测波长：348nm；温度：30℃；进样量：10 μL对复杂基质样品具有良好的分离效果 奥美拉唑溶出检测使用寿命偏短问题解决 适用柱型号：Zafex Acutfex YS-C8 完全符合2020年版中国药典测试要求 欢迎老师您来咨询！喆分欢迎您来询价！！ 联系人：刁经理 （微信同步）

灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多处理或自动化系统。在众多的少子寿命测量方法中，MDP（微波检测光电导率）采用改进的少子寿命检测技术，是微波检测光电导衰减法检测仪中常用的仪器之一，少子寿命测试仪原理从载流子输运原理出发，建立广义速率方程和偏微分方程系统。拥有先进的灵敏度和分辨率，很大程度提升在线检测的速度和质量，快速出具少子寿命测试的实验报告。 MDPlinescan被设计成一个易于集成的OEM设备，可以集成到各种自动化检测线。关键的是在传送过程中进行少子寿命扫描。样品通常由测量头下面的传送带或机器人系统携带。应用实例包括从晶砖到晶圆检测，单晶少子寿命测试、多晶少子寿命测试，每块晶圆的测量速度小于一秒。电池生产线上的来料质量检查是经典的通用案例，也用于钝化和扩散后的工艺质量检查，还有许多其他特殊的应用的可能性。易于集成，只需要以太网连接和电源。 MDPlinescan W 包括一个额外的电阻率测量选项。 优点： ◇ 在µ -PCD或稳态激励条件下线扫描少数载流子寿命和电阻率是这个小型设备的重要功能； ◇ OEM设备可以集成到多晶或单晶硅片的生产线上，在不同的制备阶段，直至器件、砖块或晶锭。 ◇ 小巧的尺寸和标准的自动化接口使其易于集成。重点是测量结果的长期可靠性和精确性。 示范性线状扫描图 细节： ◇ 允许单晶圆片调查 ◇ 不同的晶圆级有不同的配方 ◇ 监控物料、工艺质量和稳定性 技术规格: 样品多种尺寸的多晶或单晶晶片，如156mm×156mm、晶砖、电池片等样品尺寸50 x 50 mm² 以上电阻率0.2 - 10³ Ωcm电导类型P,N样品类型硅片、部分或完全加工的硅片、化合物半导体及更多的产品可测量的特性少数载流子寿命硬件接口以太网尺寸规格体积：174 x 107 x 205mm；重量：3公斤电源24 V DC, 2 A

简介：按键寿命试验机适用于手机、电脑、电子词典、蓝牙耳机、车载播放器、遥控器按键、车辆防盗器、传真机按键、MP5、MP4、MP3、按键开关、轻触开关、薄膜按键、橡胶按键、硅胶按键等各类按键进行寿命试验。本机是将产品分别置于对应工位的试验位置上，按键测试杆在一定的试验荷重、速度、行程、次数下模拟人对产品的使用寿命测试。 主要参数：1、试验工位：4个（同时工作）2、荷重砝码：50、100、200、300、500G各四个（可选配）3、试验次数计数器：0~99999999次（可预置，LCD显示）4、试验导通次数计数器：0~99999999次（四工位导通单独计数，测试品损坏自动停止计数）5、试验速度：5~60次/分（旋钮可调，LCD显示）6、测试行程：0~60MM(手动可调)7、试验夹具常规夹持范围：60X80MM(手动可调)8、测试杆固定装置可调范围：0~180MM9、外形尺寸（LxWxH）：550X400X550MM10、机台重量：25KG11、工作电源：AC220V、50Hz 产品特点：1、箱体采用静电喷漆处理，工作台面等采用铝喷砂处理，美观大方，整机设计合理结构紧固、运行稳定、安全、准确；2、根据各类按键产品测试制造，试验夹具、行程可调、应用广泛；3、四组工位同时工作，大大提高测试效率；4、试验速度、次数，人性化设计，操作方便快捷；每个工位有对应的导通计数器，按键失灵，对应计数器会自动停止计数，可设置测试品损坏自动停机，方便及时得知产品相关测试信息

本機概述四工位开关按键寿命试验机 开关按键寿命检测机 本機適用於多種開關或小型成品,作開關或按鍵壽命試驗.具有速度可調,次數設定,並同時四個工位做測試,達到次數後資料保持.。荷重採用載入砝碼方式，保證測量準確度。二、主要技術指標1．供電電壓：220V±10%2．次數範圍：0~999999次3．行程調節:0~5cm左右4.機器重量(約):60kg5.機台尺寸:450*650*700mm

一、插头插座寿命试验机主要介绍： QJ310插头插座寿命试验机是针对线束、端子、插头、插座、胶粘产品、灯座、电子组件等产品的拉脱、剥离开发一款新的换代检测仪器；本机采高精度螺桿、高质烤漆板金封板、超大液晶数控可以动态显示曲线、力值、位移，联接电脑实现微机控制并打印试验报告。二、插头插座寿命试验机技术参数：1、负荷 ：2500N或5000N以内2、荷重元精度 ：0.01%；3. 测试精度： ±0.5%4、试验速度：0.001-300mm/min或5-300mm/min5、试验空间：200mm以上6、电源 ：AC220V，50/60Hz7、外形尺寸 ：600*300*300mm （W*D*H）8、机台重量 ：约40 kg公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用

TPL200皮秒荧光寿命光谱仪是一款结构紧凑、高集成化、 高性能、高性价比的荧光寿命光谱仪。可根据客户需求定 制化自定义功能。可搭配任意激光器使用。时间计时精度50ps bin精度1ps激发光源：选择1：超连续白光脉冲光源，波长430-2400nm全范围可调，采用窄带滤光片选择波长选择2：单波长皮秒激光器 波长根据用户需求选配选择3：可兼容多种用户自有激光器可见光单光子检测器：时间分辨率: 40ps；死时间: 50ns光谱探测范围: 350nm to 900nm探测量子效率: 35%@500nm整体仪器响应时间（IRF）：200ps寿命检测范围：～50ps到ms（时间窗口取决于激光器重频）带通滤光片组（标配5组带通滤光片）USB即插即用；适用溶液和固态薄膜样品数据采集软件：附送荧光寿命分析软件，含单指数、多指数、幂指数等多种数据拟合模型，亦可基于用户需求添加自定义功能

锁体寿命测试仪概述：锁体寿命测试仪专为检测模拟锁具的锁体而使用寿命而设计，可以适应多种锁具的检测，采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。用户可以根据自己的需要和标准要求，直接在操作屏幕上面输入旋转角度寿命次数等参数，达到设定次数后机器自动停机。通过旋转锁体方条带动锁体机械部件运动。一、试验工位：2个锁体测试工位；二、专业生产控制方式：触摸屏加PLC程序控制；三、 测试zui大角度：0度到720度之内任意设定；四、 测试次数：0-999999内设定；五、 测试速度：0-60分每秒可调；六、 旋转空间：电机旋转中心到平台高度保证100mm以上 七、 台面材质：纯铝氧化处理八、 固定治具：可调式固定治具（根据客户产品订做） 九、工作电源：AC220V、50HZ 十、设备能测试寿命至10万次 Delta德尔塔仪器作为智能门锁专业检测设备供应商，所生产的智能门锁设备已经成功应用到多家专业测试机构和知名生产厂家，第三方检测机构例如：贵州省产品质量监督检验院、浙江省家具与五金研究所、广州质量监督检测研究院、广东产品质量监督检验研究院、杭州市质量技术监督检测院，知名企业例如：广东名门锁业、三环锁业、广东樱雪电器、力维智能锁业、深圳凯迪仕等生产厂家品质研发部，深受客户好评。 Delta德尔塔仪器专注于智能门锁符合标准的电气性能、防盗安全性能、耐久性检验、气候环境适应性、机械环境适应性、电磁兼容性、电气安全性、密钥量等等的检测设备的定制和研发。产品有：智能门锁耐用度试验机|智能门锁寿命耐久性试验机|智能门锁疲劳寿命试验机|锁芯耐用度试验机|智能门锁把手耐久试验机|智能门锁综合性能试验机|智能门锁老化试验机|智能门锁静压拉力试验机等仪器设备。

气动式按键寿命试验机 气动式按键寿命试验机箱ＡＰ-9330Ａ用途Purpose:本机适用于手机、电话机、车载器、PDA、蓝牙/免提耳机、汽车遥控器、电视/电脑控制器、MP3/CD等小型消费类电子产品按键作寿命测试。◆气动式按键寿命试验机 气动式按键寿命试验机箱特点Features:★排序/同时打击测试两种模式可切换，可真实模拟手机键盘真实使用状况，采用日本SMC精密气动元件，打击力精准可调，耐久使用； ★采用三菱液晶触摸屏+PLC作程序控制，品质可靠；★可同时测试4组手机（可选），不同治具上下、左右、前后可调满足不同规格之产品实物按键测试；★满足手机正面、侧面按键同时测试要求，配以校力装置，真实反映按键耐打击能力。◆气动式按键寿命试验机 气动式按键寿命试验机箱技术参数Specification:型号MODELAP-9330A-1AP-9330A-3测试手机数量TEST AMOUNT1台（set）3台(set)测试荷重TEST LOAD200gf~1500gf(或指定optional)测试速度TEST SPEED10~60次/min测试次数设定TEST CYCLE1~999999次(cycle)机台尺寸DIMENSION(W×D×H)370×450×570mm100×450×570mm重量WEIGHT35kg65kg气源GAS SOURCE≧0.6MPa电源POWERAC220V 50Hz 3A或指定Depend on the using districts东莞市爱佩试验设备有限公司的售货服务:1.保修一年，终身服务；2.免费在买方现场安装、调试、培训；3.从设备验收后，广东省内8小时内到达现场服务；广东省外2个工作日内，到达现场为用户解决问题。4.质保期内：如属正常操作，造成某部件损坏，供方可免费更换某部件。如果在3个月内出现严重质量问题，我公司可无条件换相同型号的新机。5.质保期后：如属正常操作，某部件、零件损坏，需要更换，只收取成本费。6.可以提供全面的技术培训，对设备维护、零配件供应及其他方面要提供及时完善的售后服务。

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球leader，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。Fluorocube将全新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供 灵活和界面友好的光子计数寿命系统。主要特点：灵敏度高：单光子计数技术准确性好：计时电路无需校正灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽模块化：可以根据需要定制模块配件方便性：全电脑控制，易于操作

QJPLA-5按键寿命测试机应用于开关类的按键寿命次数试验，任意控制和设定；1、规格型号：QJPLA-5 八工位2、测试速度：1-360次/分 （速度任意可调）3、测试压力 ：50g、100g、200g、300g砝码4、上下测试行程：10mm5、测试台尺寸：80*80mm6、测试行程：50mm（可调）7、导电测试功能：按键不导电时自动停机8、冲击运动方式： 上下压缩机构采直线轴承运动，定位精准9、计数器次数： 可设8位数--99999999次自动停机10、测试杆固定装置可调范围：0-150mm11、电压:220V 50HZ按键寿命测试机公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用

DeltaHub——DeltaFlex的关键部件 超短的死时间（10ns）：配合高重复频率的激光光源和高速检测器，可实现无损失的光子计数，达到快速采集数据和准确的分析结果。 超快寿命测试技术：真正实现了荧光寿命动力学测试，采集时间低至1ms（全球同类产品中 快），支持1ms-10,000min无间断寿命动态监测。新型脉冲半导体光源 DeltaFlex配置新型脉冲半导体光源作为荧光和磷光的激发光源（四大类型，百种可选），即插即用，无需校准，而且终身免维护。 其中DeltaDiode光源的重复频率可达100MHz，是超快寿命测试的 选择光源，同时可配置用于磷光测定的SpectraLED光源。与氙闪灯相比，SpectraLED具有265-1275nm宽波长的覆盖范围，以及实用方便、测试速度更快和信号无拖尾的优点。科研级模块化设计 在DeltaFlex系统上无需更换控制器和检测器，即可实现11个数量级（25ps-1s）范围内的荧光寿命测试。系统采用科研级模块化设计，配合全新的F-Link技术，可自动识别各类部件，软件直接接入、附件即插即用，能够无限满足升级需求。尤其是其中采用了行业优先的寿命拟合软件，没有费用开放数十种主流专业拟合功能，可单独于仪器操作。 多种光谱仪可选，配合像差校正光栅，覆盖200-1600nm宽光谱范围，完美实现时间分辨发射谱功能，支持100条发射波长动态连续监测，软件自动获得衰减相关光谱参数。 荧光寿命技术是科研中强有力的工具，可广阔用于物理、化学、材料、信息、生物和医学等领域。主要应用：FRET(Forster共振能量转移)Stern-Volmer猝灭稀土发光时间分辨和磷光各向异性分子互作，蛋白结构变化太阳能材料单线态氧测试光物理技术参数：基于滤光片或单色仪实现波长选择皮秒超快集成化PPD光子检测模块（标配）可升级NIR检测器（~1700nm）综合分析受命拟合软件，开放数十种拟合功能标准液体样品架，加载温度传感器和搅拌装置大尺寸样品仓，配置高效UV级光学部件F-Link即插即用型交互界面主要特点：超宽寿命测试范围25ps-1s 超快测试时间（低至1ms），完美实现动态反应分析超微量样品测试，低至1μL综合分析软件，5指数寿命拟合高稳定性设计，使用维护简单高度自动化，一键测量分析大尺寸样品仓设计，强劲的附件兼容能力高性能荧光、磷光寿命测试功能

耳机扭转寿命试验机 头戴耳机扭转寿命试验仪 适用于各类头戴耳机及头戴耳机钢条产品头环夹力的测试。本机是通过手摇杆设定一定试验行程，将产品两端分别置于夹持装置上，即可通过选配数显/指针推拉力计上显示试验张力值。本机是摸拟打开耳机后放在头上之距离与张力的关系链，是各生产厂家分析耳机张力必备检测设备。本机符合《头戴耳机通用技术标准GB/T14471、GB6832》耳机张力测试要求。 详细参数1、试验工位：一个 2、试验机力值显示：数显示3、大力值：50N 4、数显力值分辨率：0．01N 5、数显力值单位：kg、LB、N可相互转换 6、扩张行程：0-300mm（手摇式可调）7、行程显示：指针指示刻度刚尺 8、机台尺寸：约400×200×400mm

按键寿命试验机可对手机、MP3、电脑、电子词典按键、摇控器按键、硅橡胶按键、硅胶制品等做寿命测试，适用于检测按键开关、轻触开关、薄膜开关等各类按键进行寿命试验。

仪器简介：少子寿命测试仪性能参数： 测量原理 QSSPC（准稳态光电导）少子寿命测量范围 100 ns-10 ms测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq.注入范围：1013-1016cm-3感测器范围 直径40-mm测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm （或更小尺寸）硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m外界环境温度 20° C&ndash 25° C功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器：200W 光源：60W通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz主要特点:　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm　　全自动操作及数据处理　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭　　可以选择测试样品上任意位置　　能提供专利的表面化学钝化处理方法　　对各道工序的样品均可进行质量监控：　　硅棒、切片的出厂、进厂检查　　扩散后的硅片　　表面镀膜后的硅片以及成品电池少子寿命测试仪Best available calibrated measurement of carrier recombination lifetime. Widely used for both monocrystalline and multicrystalline wafers.Product OverviewWCT testers showcase our unique measurement and analysis techniques, including the highly regarded Quasi-Steady-State Photoconductance (QSSPC) lifetime measurement method developed by Sinton Instruments in 1994.The QSSPC technique is ideal for monitoring multicrystalline wafers, dopant diffusions, and low-lifetime samples. This method complements the use of the transient photoconductance technique that is also standard on this instrument.The QSSPC lifetime measurement also yields the implied open-circuit voltage (versus illumination) curve, which is comparable to an I-V curve at each stage of a solar cell process.WCT System CapabilitiesPrimary application:Step-by-step monitoring and optimization of a fabrication process.Other applications:　Sinton Instruments' analysis yields a calibrated carrier injection level for each wafer, so you can interpret lifetime data in a physically precise way. Specific parameters of interest are displayed and logged for each measurement.&bull Monitoring initial material quality&bull Detecting heavy metals contamination during wafer processing&bull Evaluating surface passivation and emitter dopant diffusion&bull Evaluating process-induced shunting using the implied I-V measurementFurther Information技术参数：FAQ:&bull What is the recombination lifetime?&bull How does the solar cell efficiency depend on the lifetime?&bull What determines the lifetime in silicon?&bull How is lifetime measured by the Sinton Instruments tools?&bull How is the data analyzed?&bull Can you measure surface recombination velocity?&bull Does the system measure emitter saturation current density?&bull Can wafers be measured with no surface passivation (&ldquo out of the box&rdquo )?&bull Can any of these instruments do lifetime maps?&bull How do these measurements compare to microwave PCD?&bull What lifetimes can be measured?&bull What is the smallest sample size?&bull How do you measure bulk lifetime on blocks or ingots?&bull At what carrier density should I report the result?&bull Can the lifetime tester be used to detect Fe contamination?&bull How is the instrument calibrated?&bull When should wafers be tested inline?&bull Does the lifetime tester measure the trapping?　Module and Cell Flash Testers frequently asked questions主要特点：常见问题：WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）而WT2000是微波光电导。WCT-120/100准稳态光电导法测少子寿命的原理？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）

一、产品说明：本机适用于按键开关、电脑键盘、导电橡胶按键、金属弹片按键（俗称锅仔）或同类型按键的打击寿命老化试验，采用先进的编程器控制按键寿命试验全过程。同时适用于硅橡胶类按键作疲劳测试；具有速度可调，次数任一设定及同时测试数个产品（每个产品均可多点测试），到达次数或掉电停机后保持数据。另每个按键可以设定不同压力及不同高度。采用先进PLC触膜屏控制，能清晰的显示打击次数及打击力量，每个打击头分开控制,设计更为人性化,能满足客户不同的测试需求!二、主要规格参数：1、测试工位：3个工位2、测试速度：1-360次/分钟 速度可调3、测试压力：大可调100-450g(自重杆：100g 标配砝码：50g、100g、200g)4、测试行程：10mm5、上下行程：60mm6、测试台尺寸：120*120mm7、运动方式：上下压缩机构采直线滑轨运动，定位8、导电测试：按键破坏自动停机装置9、计数器：大可设8位数，99999999次自动停机10、按触警示灯：测头与金属簧片接触警示11、电 压:220V三、主要功能：※可同时测试产品耐久寿命及导通测试；※高速测试,快每秒可达6次,速度均匀,测试完成时间可掌握；※压力可调,配备测力计一台,可精确控制打击力度；※可预设打击次数,到预设值停机功能；※可外接荷重元件及显示器,显示当前打击力度（选购件）；※每个工位独立控制，互不影响；※导通测试一直导通，或者不导通时候自动停机 四、产品结构图:专用测头：五、测试样品:六、触摸屏界面图:七、产品组合：

仪器简介： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）----荧光光谱仪器的全球，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。 荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。 HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。 Fluorocube将新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供灵活和界面友好的光子计数寿命系统。 可选附件 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm） 四位光束控制反射镜（可选） 偏振器 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C) NIR检测器（~1700nm） 固体样品支架 低温附件 低荧光背景滤光片 技术参数： 寿命范围从皮秒至秒 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪) 外循环液体控温样品架 PPD 光子检测模块（标配） 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁） Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源） 综合分析软件 可选偏振器测量自旋相关时间 NanoLED和SpectraLED二管激发光源覆盖全波长范围主要特点： 灵敏度高：单光子计数技术 准确性好：计时电路无需校正 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽 模块化：可以根据需要定制模块配件 方便性：全电脑控制，易于操作 Fluorocube产品系列： FluoroCube NL：滤光片分光系统及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-01-NL：发射单色器及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统 FluoroCube-11-NL：带有激发/发射单色器和二管激发的寿命体系 FluoroCube-10-CF：激发单色器（滤光片检测通道）和闪光灯激发的寿命系统 FluoroCube-11-CF：激发/发射单色器和闪光灯激发（5000U）的寿命系统 PhosphoCube-10-XF：激发单色器（滤光片检测通道）和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统 PhosphoCube-11-XF：激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统注：具体配置、价格请咨询当地销售工程师

精诚工科JC-F800呼吸循环测试仪：对新能源电池产品功能性进行相关检测，适用于新能源动力电池盖板、爆破片等产品压力冲击耐疲劳测试（也叫寿命测试）。JC-F800呼吸循环测试仪自主研发OS 系统，界面更精简，操作简单基于32 位处理器，24 位A/D 转换器，AI 算法测试速度响应快进口压力传感器芯片，自动环境飘移修正进口SMC 原装调压阀和高灵敏传感器，测试数据更准具备强大的物联网功能，可实现远程化管理支持条码扫描和MES 数据交互上传，可追溯历史记录及打印可定做多通道，节省人工提升产能测试模式呼吸循环测试技术参数产品型号JC-F800通 道 数1个（支持多通道）测试量程35~800Kpa（可选）通讯接口RS232/485可选、RJ45网络接口计时量程0~999.9S可设置I/O接口输入6个 输出6个使用气源0.4~0.8Mpa（清洁、干燥的空气）触 摸 屏7寸LCD屏分 辨 率0.1Kpa、1Kpa电 源AC110V~240V 50/60Hz测试精度0.2%F.S测试模式呼吸循环测试测试单位Kpa、Bar、Psi、Mpa使用环境温度-20~60℃ 湿度10~85%RH（不结露）调压方式机械调压/电控调压（可选）仪器重量55kg~60kg数据导出USB仪器体积70×57×32cm深圳精诚工科作为一家专注气密性检测10多年的设备生产厂家，一直以来我们致力于中国智造，支持各行业防水产品的气密性测试仪定制和全自动气密性检测方案供应。

仪器简介：LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪专门为超快荧光寿命的测量而设计。在设计过程中，LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪着重解决了传统光路的构架对待测超快信号的脉冲展宽效应，从而大幅度提高了荧光寿命测量的精度。 LifeSpecII系列超快荧光寿命光谱仪可以搭配不同的激发光源和探测器，以保证用户获得不同的荧光寿命测量范围。技术参数：主要技术指标： - 光学结构: 激发光路与发射光路垂直 - 工作原理: 时间相关单光子探测 - 寿命范围: ~5ps-50us - 光谱带宽: 1nm~40nm - 时间色散: 零（运用双减单色仪） - 光衰减器: 电脑控制连续可调衰减率 - 可选激发光源 皮秒脉冲半导体激光器 (多种波长可选) 皮秒脉冲LEDs (多种波长可选) 皮秒脉冲固体激光器 飞秒脉冲激光器 (可选配多种品牌和型号) - 可选探测器 蓝敏PMT 185~650nm 红敏PMT 185~870nm 带有微通道板PMT 200~850nm 近红外PMT 300nm-1400/1700nm主要特点：主要技术特点： - 荧光寿命测试范围5ps至ms范围（由激发光源与探测器决定） - 采用最先进的时间相关单光子计数技术（TCSPC）进行荧光寿命测量,具有最高的测量精度 - 采用大尺寸样品室，更便于对样品的操作 - 运用独特的光路设计,防止脉冲展宽并消除色散，使短寿命测试结果更加精准 - 光谱测量范围可覆盖紫外-可见-近红外 - 可以与多种高重复频率的飞秒或皮秒脉冲激光器配合使用,提高实验室已有设备的利用率 - 紧凑型一体化设计,占用空间更小 - 便于操作的荧光寿命分析软件 主要测量功能： - 荧光寿命/瞬态光谱测试 - 时间分辨荧光光谱 - 准稳态光谱测试 - 全自动时间分辨各项异性光谱测量（需要电动偏振器选件） - 温度扫描过程中的荧光寿命及时间分辨荧光光谱测量（需选择制冷机或TE制冷样品架选件）

介子寿命测试仪实验装置 &ldquo 赶超&rdquo 的宇宙射线测量&mu 介子的寿命证明相对论时间膨胀测量本地&mu 子通量测量海平面高度&mu 子荷比来源方便，真正的随机数创建模拟&ldquo 介子&rdquo ，并测量他们的一生光电倍增信号处理研究&mu 介子是一种自然的基本粒子。它的发现在1937年由卡尔· 安德森标志着一个激进出发在物理学家的理解物质的积木。虽然这是第一次分配理论的核力量，这是不正确的地方，它现在被理解为粒子轻子家族中的重要成员。我司制成的第一个商业教学仪器的学生，以确定其物理特性。 &mu 介子是产生丰富地在地球大气层的宇宙射线和大气中的空气分子之间的相互作用，和其在海平面的磁通足以为学生的调查。我们的设备，使用常见的核物理和粒子物理实验技术可以测量&mu 介子的寿命。的停止率&mu 子，作为深度的函数，在大气中，可以用作特殊相对论的时间膨胀效应的示范。由于个别放射性粒子的衰减时间是随机分布的，它们是真正的随机数的一个方便的来源。这些可以被用来证明常见的概率分布。 仪器可实现功能：1/测量&mu 子寿命 2/测量本地&mu 子通量3/测量海平面介子电荷比 4/证明相对论时间膨胀5/方便真正的随机数源 6/无障碍学生分析的原始数据 Introduction"Catching" Cosmic RaysMeasure Muon LifetimeDemonstrate Relativistic Time DilationMeasure Local Muon FluxMeasure Sea Level Muon Charge RatioConvenient Source of Genuinely Random NumbersCreate Simulated "Muons" and Measure their LifetimeStudy Processing of Photomultiplier SignalThe muon is one of Nature&rsquo s fundamental particles. Its discovery in 1937 by Carl Anderson marked a radical departure in physicists' understanding of the building blocks of matter. Although it was first assigned a place in theory of nuclear forces which was incorrect, it is now understood to be an important member of the lepton family of particles. TeachSpin, in collaboration with Thomas Coan and Jingbo Ye of Southern Methodist University, has made the first commercial teaching instrument for students to determine some of its physical characteristics.The muon is produced copiously in Earth&rsquo s atmosphere by interactions between cosmic rays and atmospheric air molecules, and its flux at sea level is sufficient for student investigations. The muon&rsquo s lifetime can be measured with our apparatus using experimental techniques common to nuclear and particle physics. The stopping rate of muons, as a function of depth in the atmosphere, can be used as a demonstration of the time dilation effect of special relativity. Since the decay times of individual radioactive particles are randomly distributed, they are a convenient source of genuinely random numbers. These can be used to demonstrate common probability distributions.With this new TeachSpin Apparatus You Can:&bull Measure Muon Lifetime&bull Measure Local Muon flux&bull Measure Sea-level Muon Charge Ratio&bull Demonstrate Relativistic Time Dilation&bull Convenient Source of Genuinely Random Numbers&bull Raw Data Accessible for Student Analysi

QJPLA-5测试按键寿命次数试验机应用于开关类的按键寿命次数试验，任意控制和设定；1、规格型号：QJPLA-5 八工位2、测试速度：1-360次/分 （速度任意可调）3、测试压力：50g、100g、200g、300g砝码4、上下测试行程：10mm5、测试台尺寸：80*80mm6、测试行程：50mm（可调）7、导电测试功能：按键破坏不导电时自动停机8、冲击运动方式： 上下压缩机构采直线轴承运动，定位9、计数器次数： 可设8位数--99999999次自动停机10、测试杆固定装置可调范围：0-150mm11、电压:220V 50HZ测试按键寿命次数试验机公司承诺：1.购机前，我们专门派技术人员为您设计合适的流程和方案2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装3.整机保修一年，产品终身维护4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能长期使用