工件定量仪

德国BMT 孔和圆柱形工件表面轮廓光学测量仪 本仪器由一测量头和一转向棱镜组成，用于圆柱形工件的非接触测量三维表面轮廓和微观结构测量，适合在研究，开发和生产中使用。测量头设计简单精巧，可以提供最佳的长向和横向分辨率。它相对免维护和方便自动测量的功能使其适合在生产过程使用。适于在很短时间间隔内高精度和定量测量表面粗糙度特征、气孔、划伤、涂层缺陷等，即可在孔内部，也可在小的圆柱工件外表面进行。有自动瞄准功能的测量头安装在一固定位置，而工件或偏光镜移动至与光学轴共线。测量区的长度决定了工件或偏光镜的驱动长度。这种运动是通过用一个单独的提升台实现的。所有部件包括测量头，提升台和数据采集都是由电脑控制的，可以自动进行重复测量。测量数据根据工件直径修正后可以以笛卡儿和极坐标显示，并以用户选定的程序评估。主要用途：◆ 小的圆拄和衬套工件内外表面三维轮廓测量◆ 涂层质量控制◆ 探测识别孔的外表面主要特点：◆ 非接触高精度测量◆ 在生产现场和线上使用◆ 相对免维护◆ 适合产品研究开发的理想仪器◆ 垂向（对被测物而言是径向）分辨率可达1nm ◆ 横向（对被测物而言是轴向）分辨率可达10µ m◆ 结构紧凑、耐用主要优点◆ 快速，非接触精密测量小孔和圆柱形工件的微观结构，粗糙度，加工标记，缺陷，划伤和圆柱形工件的外表面三维特征数据◆ 笛卡儿坐标或者极坐标◆ 测量和评估物体特定表面特征，包括涂层和磨损技术数据：测量孔直径mm5-50垂向驱动长度沿工件轴线 可按用户要求定制测量范围祄约50分辨率祄最大1Y向分辨率祄约1尺寸mm约320 x 320 x 380重量kg约5测量时间s1-20

中图仪器Novator加工件影像尺寸全自动测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快 1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。应用领域中图仪器Novator加工件影像尺寸全自动测量仪可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域。AI影像测量技术AI影像测量技术运用先进的机器视觉和深度学习算法，可快速、准确地自动识别出目标特征，使得测量过程实现智能化、无人化。中图仪器的影像测量AI自动寻边技术，可以大幅提高测量效率，助力企业打造自动化、无人化、智能化生产线。 AI影像测量应用案例1、新能源行业中电池后盖边缘特征测量时，由于边缘台阶落差较小，导致成像有多层边界干扰且对比度低，自动批量测量不能自动抓取目标边缘，因此只能手动测量。中图AI测量可排除多层边界干扰，即使对比度低也能自动识别到目标边缘，测量效率提升4.5倍，同时排除人为误差，测量数据更稳定。2、3C行业手机中框边缘线测量时，由于该边界不规则，且边界干扰较多，传统自动测量，很容易抓偏，也只能使用手动测量。即使不规则有干扰的边界，中图AI自动测量可以排除干扰自动提取到正确位置，进一步提高测量效率。3、金属边边界模糊不清，毛刺过多，边界翘曲不均匀，AI测量可自动过滤毛刺干扰，准确提取边界。4、黑色塑胶件上圆柱特征形态不一、边缘轮廓不清，传统自动测量容易提偏，AI提取则精确稳定。5、塑料薄片边界干扰多，无法自动提取，手动测量费事费力，AI测量可以精准排除边界上的干扰，提取到正确位置。中图AI影像测量效率和精度1、测量效率对比单个工件的单次测量时间由131s缩短至AI测量28s，效率提升4.5倍2、重复性对比重复性大于0.02mm的尺寸占比降低81%，测量数据更稳定，重复性更佳3、人员一致性对比三个不同的操作员分别使用AI测量的数据一致性比手动测量的一致性要好很多

德国BMT WLI-PL 小型气缸及工件测量仪产品特点：&bull 小型气缸内壁、管道、内衬、连杆孔的3D表面轮廓测量；&bull 符合Daimler MBN37800标准；&bull 珩磨结构/等离子涂层的测量和评估；&bull 工作表面的磨损评估；&bull 可作为三坐标测量机的探头；&bull 适用于生产现场。

全自动分液仪微量定量仪快速分液器震荡通用96孔板试剂分装分液站川一仪器全自动微量分液仪（以下简称“分液仪”）是一种配备高精度蠕动泵的分液设备，能够快速、精确、一致的完成自动化分液操作。可广泛应用于疾控筛查、食品检测、动物检疫、生命科学研究等领域。解放实验员双手，在提高效率的同时避免错误。全自动分液仪微量定量仪快速分液器震荡通用96孔板试剂分装分液站主要特征：1、全自动微量分液仪采用精密蠕动泵进行非接触式分液，整机精致小巧；2、分液精度高，可达到96孔板100μl误差1.5%以内，最小分液体积低至5µ L，96孔板100µ L加液时间12s。3、分液强度高低两档可调，适用不同实验需求。4、采用7英寸彩色液晶触摸屏，操作简单，分液方式可选择整版或任意列。5、活动式废液槽，方便废液排放，可连接管路自动回收废液至废液瓶内。 全自动分液仪微量定量仪快速分液器震荡通用96孔板试剂分装分液站技术参数：型号：CYFY-8适用版型：96孔板分液方式：整板或任意列，可设置指定列分液体积分液速度：“高-低” 两档可调分液体积：1~2000µ l分液管路：8通道显示方式：7英寸液晶触摸屏分液精度：100µ l≤1.5%（96孔板）辅助功能：振荡、润洗、回抽、归位功能移液器和分液器有什么区别呢1、手动移液器也称微量移液器，是一种微量液体(ul)级的样品分配工具，以艾本德移液器为例，较为大移液量可达到10ml，其它品牌有些是5ml；手动移液器有单道也有多道（8道、12道、16道 此种很少有客户使用）；手动移液器吸液后只能进行一次定量移液；手动移液器与吸嘴（枪头）配合使用，完成移液。2、电动移液器可以理解为手动移液器的电子产品，功能更多些，与手动移液器较为大的区别在于可进行多次连续分装移液，更、误差小。3、分液器可称为连续等分移液器，耗材是分液管，可进行更多液体的分配，可进行多次连续分装移液。4、助吸器是移液管移液器，与移液管配合使用于细胞培养实验中吸取培养液，也称为大容量移液器。

妙机三坐标测量仪和影像测量仪都以先进的测量技术而得以广泛应用，虽然两者都是通过对产品的尺寸、角度和位置等形位公差进行测量的，但这两种测量仪有着本质的区别，接下来妙机小编为大家介绍一下三坐标测量仪与影像测量仪的不同之处。　　1、测量方式不同。妙机三坐标测量仪是使用测头接触工件的，通过接触的方式获取点的坐标。而影像测量仪是通过对光学镜头获取的图像进行测量的，不用接触，只需要全程使用摄像功能就可以完成测量。　　2、测量工件类型不同。虽然妙机三坐标测量仪的测量精度比影像测量仪高，但其主要是通过与工件接触的方式进行测量的，无法很好的测量小薄软等类型的工件。影像测量仪虽然可以通过非接触的形式测量小薄软等类型的工件，但对一些需要进行三维测量或测量精度要求高的工件来说，却有些力不从心。　　3、测量维度不同。妙机三坐标测量仪是根据所取点的三维坐标值来进行测量的，空间内的每一个点都有唯一的坐标值，测量精度很高。而影像测量仪是通过光学影像技术获取工件的二维影像，然后再进行精密的测量，是在二维平面上进行测量的。　　上述文章就是东莞三坐标测量仪厂商的小编和大家说的内容，大家都清楚了吗？在这边我们也就不和大家多说啦，大家若是对测量产品有所需要或者感兴趣的话，都可以随时联系我们，也可以关注一下妙机科技的。妙机科技公司不断引进先进的生产技术和质量保证，在日趋激烈的市场竞争中不断发展壮大。

中图仪器SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪以白光干涉技术为原理，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪非接触式高精密测量，不会划伤甚至破坏工件：【测量小尺寸样品时】可以测到12mm，也可以测到更小的尺寸，XY载物台标准行程为140*110mm，局部位移精度可达亚微米级别，Z向扫描电机可扫描10mm范围，可测非常微小尺寸的器件；【测量大尺寸样品时】支持拼接功能，将测量的每一个小区域整合拼接成完整的图像，拼接精度在横向上和载物台横向位移精度一致；SuperViewW白光干涉仪具有测量精度高、功能全面、操作便捷、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精密器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。其特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统SuperViewW白光干涉非接触式粗糙度测量仪既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：粗糙度测量案例 硅晶圆粗糙度测量晶圆IC减薄后的粗糙度检测蓝宝石粗糙度测量部分技术指标 型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

SuperViewW中图仪器三维微观形貌几何尺寸光学轮廓测量仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像； 11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域SuperViewW中图仪器三维微观形貌几何尺寸光学轮廓测量仪对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 SuperViewW中图仪器三维微观形貌几何尺寸光学轮廓测量仪应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。广泛应用于如纳米材料、航空航天、半导体等各类精密工件表面质量高要求的领域中，特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

一键测量仪OMQ180系列公司自主研发的：一键式测量仪，快速测量仪，获得客户的高度评价。一键式测量仪软件为公司自主开发，在行业中处于前沿水平。公司期待与您的合作。一键测量仪简介取代了传统 X Y 坐标台运动式测量方式， 开创了快速测量的新理念。通过将远心成像与智能图像处理软件的相结合， 任何繁琐的测量任务， 都变得无比简单。只需把工件放置载物台， 然后轻轻按一键， 工件所有尺寸瞬间完成。一键测量仪产品特点1.准确闪测， 一触即发；2.大口径高景深， 实现全视野范围成像清晰， 无畸变；3.自动图像匹配功能， 测量工件可任意摆放， 无需定位夹具， 无需焦点调节，无需载物台手动操作；4.可实现测量工件多个位置测量， 增加测量尺寸， 也不会多耗费测量时间；5.多个工件可同时一并测量， 无需每个工件单次测量；6.操作简单， 可快速完成所有测量过程， 并输出测量结果；7.2秒内图像聚焦清晰， 重复聚焦一致性高， 零失误；8.测量准确， 测量结果不会因人而异；9.测量过程无需平台运动， 有效防止产品位移造成的测量误差；10.防震台设计， 一体式结构， 保证仪器的刚性；11.人体工程学设计， 让测量员有舒适的测量空间；12.测量结果可自动保存到主机；OMQ180系列一键测量仪技术参数型号OMQ180F（全固定）OMQ180Z（电动调焦）OMQ180X（电动调焦）Z轴移动范围-60mm量程（mm）180*120外部尺寸（mm）800×750×1800重量（kg）280承重（kg）5图像传感器 2000万像素工业相机镜头双远心光学镜头倍率0.07x测量精度（μm）±(3.8+L/50) *以标准块为被测产品最小显示单位（mm）0.001景深（mm）16Z轴工作距离（mm）340mm光源256级程控光源。轮廓光：远心平行光源 。(可选，表面光：环形光源或外接同轴光）图像处理IVT先进图像分析方法，256灰度等级，10:1亚像素处理技术软件IVT-VISION-OneKey工作环境温度：22℃±2℃ 湿度：30～80%振动：＜0.002mm/s，＜15Hz电源220V/50Hz

SAI荧光定量PCR仪1、自带7寸全真彩电容触控屏，无需外接电脑即可编辑、运行、生成导出打印报告一步到位，更方便快捷2、兼容单管和8联管Mini PCR仪 3、采用高级别半导体芯片，新一代半导体升降温技术，变温速率可达每秒8度，使用寿命可达一百万次循环:4、采用独有的采光检测处理技术,提高荧光信号灵敏度和信噪比，获得极佳结果 5、全新风道设计，散热性能更优越 6、分析软件免费升级，支持不同行业的软件定制 7、体积轻巧，方便户外携带实验。SAI-16型SAI-16(单色)SAI-20(双色)247*220*128(mm)230*250*136(mm)320*240*152(mm)2Kg3Kg3.2Kg16x0.2ml单管16x0.2ml,兼容单管和8联管460nm~480nm460nm~480nm+525nm~545nm505nm~525nm505nm~525nm+555nm~575nm高亮度稳态LED+530nm高亮度稳态LEDTEC高性能加热制冷4~99°C最大5°C/s,平均3°C/s最大4°C/s,平均2.8*C/s土0.1"C士0.25°C1s快速采光1.5s快速采光10s双通道同步采光自带7寸Android操作系统,更人性化操作体验,触摸操控自带功时Adrid操作系统,更人性化操作体验,触摸操控绝对定量,相对定量绝对定量,相对定量,熔解曲线(可选)105°C耐高温光纤传导自定义温度运行程序,开放式荧光定量PCR试剂20-120ul18-35°C10~10^10拷贝/反应,且样品间无交叉污染-20°C~55°C0%~85%12V,8A12V,10A96W110W产品特点1.兼容单管、8联管、96整板 PCR仪；2.采用高级别半导体芯片新一代半导体升降温技术变温速率可达每秒8度，使用寿命3.采用独有专利的采光检测处理技术,自动调节荧光本底，提高荧光信号灵敏度和信噪比，获得更佳结果；4,13s四通道快速采光,减少延时误差 5采用免维护的长寿命LED光源,无需更换，独立荧光通道,不同通道之间的串扰更小:

快速成像测量仪一、产品简介快速成像测量仪采用双远心高分辨率光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理。仪器可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精细测量。二、产品优势传统测量仪器如投影仪、影像测量仪、工具显微镜、轮廓仪、游标卡尺、千分尺等，在测量时面临诸多问题，如：测量对象的定位、原点定位费时，批量测量操作时间长，不同测量人员导致测量结果不同，数据统计管理繁杂等。快速成像尺寸测量仪将扫清传统测量仪器在检测方面的难题，其优势为:● 自动匹配同一品类产品一次编程， 长久保存， 测量时自动匹配● 自动测量可与机械手臂进行配合， 实现全自动测量；● 校准简单一个功能校准键， 多角度、全视野校准， 保证测量精度；● 使用简单人性化、智能化的软件设计， 无需用户过多的操作， 易学、易用、易上手；● 测量功能点、线、圆、圆弧、角度、点线距离、线线距离、圆圆距离等二维尺寸测量；● 数据自动保存测量的结果自动保存到电脑， 包括测量日期， 产品的批号等信息；● 轮廓扫描快速扫描轮廓，并导出DXF文件。三、测量软件测量模式分为单工件测量、多工件测量，可实现一键自动搜索已设定测量模板，快速精确地进行批量测量。四、数据导出软件支持EXCEL，BMP，DXF，文档导出，点击导出EXCEL按钮时会自动启动相应程序。导出DXF格式文档需要用AutoCAD等图形软件打开。EXCEL导出设置由于EXCEL表格需求的多样化，软件支持对EXCEL文档的导出设置五、应用领域快速成像尺寸测量仪可用于PCB、SMT、芯片、玻璃、模具、注塑、五金、磁性材料、精密冲压、家电、医疗器械等领域。

产品用途：IN-YG08荧光计，可用于DNA、RNA和蛋白质的高灵敏定量检测 可同时对八个样品进行快速的荧光检测，高精准的检测方式可有效减少测定的变异性,优化的软件设计可以更人性化的贴合研究员的使用习惯，直观的用户界面和快速的检测方式将极大地缩短实验测试时间产品特点：通量高:可同时测量8个样品简单易用:7寸触摸屏可轻松进行工作流程导引检测快速:6秒内即可完成8个样品的检测准确定量：仅需1-20μL样品即可实现很高的准确性灵敏度高：最低检测极限可达0.1pg/μL(dsDNA)用户权限分级：独立账户与密码，确保实验安全试剂计算器：根据需要的样品及标品数量快速生成工作液制备用量，缩短 试剂配制时间样本浓度分析：分析范围计算器显示基于样本体积的核心样本浓度范围，以及扩展的低或高范围，有助于根据样品体积和估计的样品浓度选择合适的分析，以实现最准确的定量NGS工作流计算器：使用摩尔浓度计算器可根据核酸长度及测量浓度转换为摩尔浓度通过标准化计算器可轻松标准化所需质量浓度或摩尔浓度，这取代了在序列库准备过程中用于标准规范化的电子表格计算数据导出灵活：可储存多达20000个程序，U 盘直接导出，也可外接打印机文件格式：可导出CSV、PDF 格式的样品结果开放式试剂应用：适配各种品牌的荧光计试剂盒技术参数：光源单色LED激发滤光片Blue:460±20nmRed:625±20nm发射滤光片Green:525-570nm(45nm)Red:670-725nm(55nm)检测器光电二极管通量8个样品管类型0.2mL PCR管线性r² ≥0.995线性范围4个数量级灵敏度(检测限)1pg/μL(dsDNAHS)检测时间≤6秒/8样输入电源24V 2A电源适配器100-240V@50-60Hz外接接口USB(Type A)×2、USB(Type B)×1、LAN×1显示屏7寸触摸屏仪器尺寸(D×W×H)286mm×161mm×75mm仪器重量2kg数据存储量20000个程序

中图仪器SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪利用光学干涉原理，具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像； 11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。 结果组成1、三维表面结构：粗糙度，波纹度，表面结构，缺陷分析，晶粒分析等；2、二维图像分析：距离，半径，斜坡，格子图，轮廓线等；3、表界面测量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；4、薄膜和厚膜的台阶高度测量；5、划痕形貌，摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量；6、微电子表面分析和MEMS表征。主要应用领域1、用于太阳能电池测量；2、用于半导体晶圆测量；3、用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量；4、用于机械部件的计量；5、用于塑料，金属和其他复合型材料工件的测量。应用领域案例部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

SuperViewW中图高精度纳米量级白光干涉测量仪以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量。它通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。SuperViewW中图高精度纳米量级白光干涉测量仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量； 5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域SuperViewW中图高精度纳米量级白光干涉测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理，用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）；SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能； (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

随着机械、光学和电子产业为主的多门技术学科的相互渗透、相互结合，影像测量行业将迎来改革性的发展。从手机到飞机，影像测量技术渗透在各行各业，影像测量仪按照操作方式分类，分为手动、自动影像测量仪。其中，手动影像测量仪凭其优越的测量性能的特点，受到了越来越多品保人的青睐。台硕检测仪器手动影像测量仪是利用变焦物镜对被测物体进行放大，经过CCD工业摄像装置将图像输入电脑，放大后的被测物体影像传输到测量软件，用以进行非接触、高效检测各种复杂工件的几何量测。 影像测量仪是一种由高解析度CCD彩色镜头、连续变倍物镜、彩色显示器、视频十字线显示器、 精密光栅尺、多功能数据处理器、数据测量软件与高精密工作台结构组成的高精度光学影像测量仪器。手动影像测量仪是影像测量仪一种，3轴采用手动驱动的方式，测量软件为手动取点的精密测量仪器。手动影像测量仪是相对自动影像测量仪而言，自动影像测量仪三轴由马达驱动，能实现自动测量。手动影像测量仪三轴由操作者手动控制测量。缺点是测量速度慢、重复测量精度差；优点是造价低，操作无需编程，对测单个产品比较方便。随着自动控制技术的发展，手动型影像测量仪基本被自动型影像测量仪所取代。用途：适合对冲压件、塑料件、薄膜状、易变形、易损坏以及尺寸小的工件进行非接触式测量，比如橡胶、塑料、小五金、钟表、轻工等行业的工件测量。手动测量仪 台硕仪器 二次元测量仪 全自动测量仪

仪器简介：YL-VMS二次元影像测量仪 产品介绍： 增强型VMS系列光学影像测量仪，是我公司推出的一款增强型2D光学影像测量仪，采用高解析度日本索尼彩色CCD摄像机和美国NAVITAR变焦物镜，采用我公司自主研发的MCINS手动版测量软件，具备基本的点、线、圆、距离、角度等基本测量功能及多坐标功能，能满足基本的二次元测量需求；此外测量数据可输入EXCEL、WORD、TXT中或者将测量图形输出至DXF文档做CAD设计。 性能特点： 1. 花岗石底座，机构永不变形。 2. X、Y、Z轴装有光栅尺，定位精确。 3. 双焦物镜倍率(美国NAVITAR)：0.7~4.5X 4. LED冷光源（表面光和轮廓光）避免工件受热变形。 5. MCINS手动版软件。技术参数：YL-VMS二次元影像测量仪 产品介绍： 增强型VMS系列光学影像测量仪，是我公司推出的一款增强型2D光学影像测量仪，采用高解析度日本索尼彩色CCD摄像机和美国NAVITAR变焦物镜，采用我公司自主研发的MCINS手动版测量软件，具备基本的点、线、圆、距离、角度等基本测量功能及多坐标功能，能满足基本的二次元测量需求；此外测量数据可输入EXCEL、WORD、TXT中或者将测量图形输出至DXF文档做CAD设计。 性能特点： 1. 花岗石底座，机构永不变形。 2. X、Y、Z轴装有光栅尺，定位精确。 3. 双焦物镜倍率(美国NAVITAR)：0.7~4.5X 4. LED冷光源（表面光和轮廓光）避免工件受热变形。 5. MCINS手动版软件。主要特点：YL-VMS二次元影像测量仪 产品介绍： 增强型VMS系列光学影像测量仪，是我公司推出的一款增强型2D光学影像测量仪，采用高解析度日本索尼彩色CCD摄像机和美国NAVITAR变焦物镜，采用我公司自主研发的MCINS手动版测量软件，具备基本的点、线、圆、距离、角度等基本测量功能及多坐标功能，能满足基本的二次元测量需求；此外测量数据可输入EXCEL、WORD、TXT中或者将测量图形输出至DXF文档做CAD设计。 性能特点： 1. 花岗石底座，机构永不变形。 2. X、Y、Z轴装有光栅尺，定位精确。 3. 双焦物镜倍率(美国NAVITAR)：0.7~4.5X 4. LED冷光源（表面光和轮廓光）避免工件受热变形。 5. MCINS手动版软件。

中图仪器SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪以白光干涉技术为原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中，测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量（见附录一）；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能； 7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW白光干涉轮廓形貌粗糙度测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。一体化操作的测量分析软件1）测量与分析同界面操作，无须切换，测量数据自动统计，实现了快速批量测量的功能；2）可视化窗口，便于用户实时观察扫描过程；3）结合自定义分析模板的自动化测量功能，可自动完成多区域的测量与分析过程；4）几何分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析五大功能模块齐全；5）一键分析、多文件分析，自由组合分析项保存为分析模板，批量样品一键分析，并提供数据分析与统计图表功能；6）可测依据ISO/ASME/EUR/GBT等标准的多达300余种2D、3D参数。应用领域案例

中图仪器W系列白光干涉微观三维形貌测量仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。W系列白光干涉微观三维形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。典型结果表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）自动拼接测量针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器W系列白光干涉微观三维形貌测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器SuperViewW白光干涉微观形貌测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。SuperViewW白光干涉微观形貌测量仪广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。 8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。粗糙度测量案例应用领域SuperViewW白光干涉微观形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

二次元测量仪、三次元同时作为两项光学测量仪的新型技术产品，按常理来讲，二次元影像测量仪在应用方面确实比三次元要低些。必竟，三次元是在二次元影像测量仪的基础上进行改良的。但是这样是不是意味着，二次元的市场将要被三次元取代呢？下面妙机专业人士给大家解答一下这个问题。有很多的客户在选购时，也经常问到：我们该买哪一款好呢？在这里，我们妙机二次元测量仪生产商可以很负责任的跟您讲，二次元和三次元都有各自的应用领域。并不一定是二次元能用到的地方，三次元测量仪就一定能用上。在这里我们还是再次澄清一下它们两者之间的区别和用途。通常，在测量体积不太，而且只需二维平面测量的，二次元测量仪厂家建议使用二次元影像测量仪。二次元固名思义，它能解决是二维测量问题。对三维的轮廓扫描是没有办法做得到的。因此通过二次元扫描成影的图像也只能生成CAD图纸。另外，二次元还有一显著特点：它是属于非接触型测量。这跟三次元是本质上的区别。所以二次元在测量平面的工件较适合了。例如：PCB板，手机平板，薄膜等。三次元测量仪主要是用在三维测量领域。主要针对的是立体的工件。并且扫描后的数据可以直接生成三维图纸。它可以对立体工件任何角度，任何部位进行测量。从而迷补了二次元的立体测量的空缺。它主要是用在五金模具，机械零件，自由曲面等领域。所以，我们的客户选购时，要根据他们本公司的需要，适当的选择合适他们的仪器。并不是三次元测量仪的功能多就一定要选。综合上影像测量仪厂家小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技达到高要求生产和测试标准，生产设备齐全先进，目前在国内外占有一定的市场并享有较高的品牌知名度，未来将持续朝更高速、更高精度测量产品方向发展。

泰科纳自动影像测量仪，是代替原有手动测量机型的一款全自动化测量机型，可以实现产品的批量全检。全自动对焦功能和全自动变倍远心镜头，不但能够提高测量效率，也避免测量过程中的人为因素带来的测量误差。可以离线编程，实现测量程序存储和调用。泰科纳自动影像测量仪搭载1:6.5高分辨率光学系统，可全面确保精密工件的二维尺寸进行准确测量。可高效测量各种精密零件的轮廓和表面形状尺寸，如点、线、圆、弧、矩形、槽形、环形、开曲线、闭曲线、圆柱、圆锥、球、平面,也能测量曲线的周长、面积、直径等。同时可以进行平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同心度、直线度、平面度、孔深等适用于高精度产品检测。广泛应用于：航空航天、汽车电子、手机零部件等行业。测量机的核心测量组件是激光测径。激光发射器发射的激光通过旋转和一组透镜处理，形成一个激光面扫描工件，工件放置在激光束面内，在测量区域位置的被测物遮挡激光束并将阴影投射至接收器，计算被遮挡光束的阴影时间，被测物的外径即可被精确计算出来。

二次元测量大约分为三种方式：表面测量，轮廓测量，Z轴测量。那么它们的测量功能分别是什么呢？妙机和你一起分享东莞二次元测量仪的主要测量功能。　　（1）表面测量：　　表面测量可以说是影像测量的主要功能，凡是能看到的物体表面图形尺寸，在表面光源照明下，影像测量仪几乎全都能测量，例如，电路板上的线路铜泊尺寸，IC电路等。当被测物体是黑色塑料，橡胶时，影像测量仪也能轻易测量其尺寸。　　（2）轮廓测量：　　顾名思义就是测量工件的轮廓边缘，对于东莞二次元测量仪生产厂家来说一般采用底部的轮廓光源，需要时也可加表面光做辅助照明，让被测边缘更加清晰，有利于测量。　　（3）Z轴测量：　　当配上高倍物镜，有足够瞄准与定位精度时，影像测量仪就可以做Z轴测量，如测量工件的台阶高度，暗孔深度，测量时使用表面光照明。　　以上资料东莞二次元测量仪厂家的小编介绍到这里就结束了，如有想购买的朋友们欢迎致电咨询，我们随时欢迎你！妙机科技公司将以先进的技术，精细工艺，完善的售后，竭诚为您服务，展现更优质的产品带给大家！

影像测量仪也叫二次元，适用于以二坐标测量为目的的一切领域。以二维平面测量为主，也能作简单三维辅助测量，升级产业为2.5次元。影像测量仪利用光学非接触式测量是小、薄、软、零部件的Z好的测量解决方案，是计量检测不可缺少的精密型实验设备之一。那么轮廓投影仪和影像测量仪的主要区别在于哪些地方？接下来妙机小编和大家简单讲解一下：　　1、工作原理不同　　影像测量仪是通过CCD获取数位图像，利用计算机软件运算，以满足复杂测量需要的精密仪器。　　投影仪是利用光学投影的原理，将被测工作的轮廓或表面投影到观察幕(投影屏)上，作测量的一种测量仪器。　　2、机台结构不同　　影像测量仪：花岗岩石（硬度高，稳定性强，保证精度）　　轮廓投影仪：钣金（受环境影响较大，易生锈等，影响精度）　　3、镜头　　影像测量仪：镜头，连续变倍镜头（20X-120X）　　投影仪：标配单一变倍物镜（固定倍率）　　4、光源　　影像测量仪：LED（冷光源）　　轮廓投影仪：卤素光（热光源，热澎胀原理对机台精度产生影响　　5、显示　　影像测量仪：工件的彩色影像　　轮廓投影仪：工件的单色轮廓　　6、测量　　影像测量仪：十字线产生器，自动寻边　　轮廓投影仪：十字线肉眼观察取点　　以上就是我们影像测量仪厂家的内容介绍了，相信大家对此会有更深入的了解了，如有朋友需要购买的或者想了解更多关于这方面的知识，可以随时联系妙机科技咨询或者关注妙机科技了解更多。广东妙机精密科技股份有限公司（以下简称妙机科技）致力于为高科技领域提供完整的微米、奈米测量解决方案。妙机科技拥有完全自主品牌体系，从研发、生产、销售等关键环节，提供上、中、下游完整的产品供应及售后服务。

中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器，主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。应用领域针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperView W的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。 中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×物镜，光学ZOOM 0.5×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量。它通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域 中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

瑞士丹青OMT公司系列龙门式光学影像测量仪集成了运动、控制、光学和软件四大系统，是一台具有高性能、高品质的全自动影像测量仪。利用光学放大成像，将光学下观测到的物体影像数字化，结合控制软件对工件的几何尺寸进行测量以及绘图，并可将数据表格化以及进行后期处理。适用于机械、电子、电器、模具以及精密五金工件的检测和设计开发。

全自动光学影像测量仪产品概述ZEX-4030 全自动光学影像测量仪结构美观大方，操作简便，结合本公司自主研发的测量软件，可实现准确的工件测量。广泛应用于机械制造、电子、汽车、五金、塑料、模具等行业，可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密检测，从而完成零件检测、外形测量、过程控制等任务。产品特点Ø 具有快速对焦、自动寻边、强大的编程和自动测量功能Ø 采用亚像素细分技术，提高图像边界分辨能力Ø 操纵杆/鼠标操作，方便易用Ø 程控恒流驱动式八区表面冷光源，可适应复杂的工件测量Ø 激光指示器指示测量位置，方便快速定位Ø 在线SPC 数据处理分析，大批量治具测量功能Ø 三轴伺服控制，定位精度高速度快，XY 速度可达 200mm/s，运行平稳Ø 自主开发的嵌入式模块控制系统，将复杂的控制系统集成在仪器内部，稳定性更高Ø 采用花岗石底座，性能稳定，不易变形Ø 选配MCP 简易测头，可做简单三维测量Ø 选配自动变倍可实现多倍率下高效测量规格参数仪器型号ZEX4030玻璃尺寸（mm）460*360运动行程(mm)400*300*200仪器重量(kg)280外形尺寸(mm)960*739*1667Z轴升降行程200mmXYZ数显分辨率0.001mm工作距离92mmXY坐标示值误差(2.5+L/100) μm (L 为被测长度，单位：mm)摄像机1/2彩色CCD变倍镜头倍率0.7X-4.5X物方现场11.3mm-1.7mm视频倍率20X-190X光源系统表面光源与透射光源均用LED，亮度可调

术成OVG一键式测量仪，作为中国一键测量技术的倡导者，取消了传统XY坐标台运动式测量方式，开创了快速测量的新理念。通过将远心成像与智能图像处理软件的完美结合，任何繁琐的测量任务，都变得无比简单。只需把工件放置载物台，然后轻轻按一键，工件所有尺寸瞬间完成。 产品特点：1．大视野整体成像，按一键完成所有测量任务。2. 无需夹具定位工件，可任意摆放。3. 一次可同时测量多个工件。4. 超大景深，无需调焦。5. 自动保存测量结果，SPC统计分析。 立式OVG系列：型号OVG50OVG90OVG100OVG150OVG200测量范围（mm）50X4590X70100X80150X100200X150测量精度（μm）±3±3±5±5±5重复精度（μm）±1±1±1±1.5±2景深（mm）305080100100测量速度（s）≤2图像传感器1000万像素照明系统LED平行光源软件OVG图像测量专用软件工作环境 温度5～35℃,湿度20%～80%（无凝结） 卧式 HVG系列：型号HVG50HVG90HVG100HVG150HVG200测量范围（mm）50X3090X60100X70155X70200X130测量精度（μm）±1±2±3±3±5重复精度（μm）±0.5±0.7±1±1.5±2景深（mm）205080100100测量速度（s）≤1图像传感器1000万像素照明系统LED平行光源软件OVG图像测量专用软件工作环境 温度5～35℃（无凝结）

术成OVG一键式快速测量仪，作为中国一键测量技术的倡导者，取消了传统XY坐标台运动式测量方式，开创了快速测量的新理念。通过将远心成像与智能图像处理软件的完美结合，任何繁琐的测量任务，都变得无比简单。只需把工件放置载物台，然后轻轻按一键，工件所有尺寸瞬间完成。 产品特点：1．大视野整体成像，按一键完成所有测量任务。2. 无需夹具定位工件，可任意摆放。3. 一次可同时测量多个工件。4. 超大景深，无需调焦。5. 自动保存测量结果，SPC统计分析。 立式OVG系列：型号OVG50OVG90OVG100OVG150OVG200测量范围（mm）50X4590X70100X80150X100200X150测量精度（μm）±3±3±5±5±5重复精度（μm）±1±1±1±1.5±2景深（mm）305080100100测量速度（s）≤2图像传感器1000万像素照明系统LED平行光源软件OVG图像测量专用软件工作环境 温度5～35℃,湿度20%～80%（无凝结） 卧式 HVG系列：型号HVG50HVG90HVG100HVG150HVG200测量范围（mm）50X3090X60100X70155X70200X130测量精度（μm）±1±2±3±3±5重复精度（μm）±0.5±0.7±1±1.5±2景深（mm）205080100100测量速度（s）≤1图像传感器1000万像素照明系统LED平行光源软件OVG图像测量专用软件工作环境 温度5～35℃（无凝结）

术成OVG一键式光学测量仪，作为中国一键测量技术的倡导者，取消了传统XY坐标台运动式测量方式，开创了快速测量的新理念。通过将远心成像与智能图像处理软件的完美结合，任何繁琐的测量任务，都变得无比简单。只需把工件放置载物台，然后轻轻按一键，工件所有尺寸瞬间完成。 产品特点：1．大视野整体成像，按一键完成所有测量任务。2. 无需夹具定位工件，可任意摆放。3. 一次可同时测量多个工件。4. 超大景深，无需调焦。5. 自动保存测量结果，SPC统计分析。 立式OVG系列：型号OVG50OVG90OVG100OVG150OVG200测量范围（mm）50X4590X70100X80150X100200X150测量精度（μm）±3±3±5±5±5重复精度（μm）±1±1±1±1.5±2景深（mm）305080100100测量速度（s）≤2图像传感器1000万像素照明系统LED平行光源软件OVG图像测量专用软件工作环境 温度5～35℃,湿度20%～80%（无凝结） 卧式 HVG系列：型号HVG50HVG90HVG100HVG150HVG200测量范围（mm）50X3090X60100X70155X70200X130测量精度（μm）±1±2±3±3±5重复精度（μm）±0.5±0.7±1±1.5±2景深（mm）205080100100测量速度（s）≤1图像传感器1000万像素照明系统LED平行光源软件OVG图像测量专用软件工作环境 温度5～35℃（无凝结）