高精度测厚仪

薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

高精度薄膜测厚仪TY-CH50高精度纸张测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。测试原理：测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。适用范围：测厚仪适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。薄膜：用于薄膜、薄片、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。铝箔：对金属箔片、硬片等硬质材料厚度测量。纸张：用于各种纸张、纸板材料厚度测试。硅片：接触式测试原理有效的检测出硅片上每个点的厚度值。技术特征：●彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；●测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 ●配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能 ●严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 ●配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；●测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；●配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；●系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务。设备指标:规 格参 数测量范围0-5mm(可根据需要定做合适夹具)测量压力17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）测量精度±0.5um分辨率0.1um精度0.5级接触面积50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：纸张需定制测量速度10c/min (可调)外形尺寸450mm×340mm×390mm电源AC220V 50Hz净重30kg执行标准：GB/T 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T 451.3-2002纸和纸板厚度的测定GB/T 6547-1998瓦楞纸板厚度的测定法ISO 4593-1993塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度ISO 534-2011纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定ISO 3034-2011瓦楞纸板--单张厚度的测定ASTM D374-1999固体电工绝缘材料厚度的试验方法ASTM D1777-1996（2007） 纺织材料厚度试验方法JIS K6250-1997硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则JIS K6783-1994农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜JIS Z1702-1994包装用聚乙烯薄膜BS 3983-1989纸、纸板的厚度和层积紧度或单页紧度的测定方法BS 4817瓦楞纤维纸板厚度的测定方法TAPPI T411 纸、纸板、复合纸板厚度测定配置：标准配置：测厚仪主机、标准量块、微型打印机选用配置：测试软件、通信电缆、配重砝码、自动进样器

1.产品概述TC5500高精度超声波测厚仪的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料 分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。该机可实现0.01mm高分辨力,背光显示适合在光线不好的环境中进行测量。2.产品用途 TC5500高精度超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。此仪器可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工冶金、造船、航空、航天等各个领域。3.功能特点■ 适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何 超声波的良导体的厚度■ 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用■ 具有探头零点校准、两点校准功能可对系统误差进行自动修正■ 已知厚度可以反测声速，以提高测量精度■ 具有合状态提示功能■ 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用■ 有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量■ 具有自动休眠、自动关机等节电功能小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环 境，抗振动、冲击和电磁干扰4.技术参数型号TC5500超声波高精度测厚仪显示128*64LCD带LED背光调节测量范围0.75～300mm（钢）分辨率0.1mm /0.01mm可选测量单位公制与英制可选择测量精度 显示分辨率0.01mm显示分辨率0.1mm备注10.0mm以下±0.05mm±0.1mmH为标准厚度快的实际值10-100mm±(0.5%H+0.05)mm100mm以上±(1%H+0.1)mm高温探头±(1%H+0.1)mm管材±(1%H+0.1)mm声速调节1000~9999 m/s存储数据500组数据；5个文件（每个文件100组数据）探头频率2M 5M 7M 高温电源5号干电池（2节）操作时间100小时（不开背光）外形尺寸152mm×76mm×33mm重量238g左右标准配置：TC5500主机、探头5P10、耦合剂、5号碱性电池2节、仪器箱、说明书、质保卡和合格证。

高精度测厚仪_薄膜厚度测量仪_接触式测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。高精度测厚仪_薄膜厚度测量仪_接触式测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪仪器名称：CHY-02测厚仪制造商：山东泉科瑞达仪器设备有限公司仪器品牌：泉科瑞达包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪是一种高精度的测量设备，主要用于测量塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度。以下是对接触式包装薄膜厚度测量仪的详细介绍：包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪产品特征高精度测量：采用机械接触式测量原理，通过精密的位移传感器测量薄膜材料的厚度。自动升降测头：在测试过程中，测量头自动升降，减少人为因素造成的误差。操作简便：配备大液晶屏显示，操作界面直观，支持手动和自动两种测量模式。数据管理：实时显示测量结果，包括最大值、最小值、平均值和标准偏差，方便数据分析。系统标定：配置标准量块用于系统标定，确保测试精度和数据一致性。打印功能：系统支持数据实时显示、自动统计和打印，方便获取测试结果。包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪技术参数测试范围：0～2mm（标配），可选配0～6mm或0～12mm的测量范围。分辨率：0.1μm，确保极高的测量精度。测量压力：17.5±1 kPa（薄膜），50±1 kPa（纸张），适应不同材料的测量需求。接触面积：50mm² （薄膜），200mm² （纸张），可根据测试材料选择。电源：AC 220V 50Hz，符合多数实验室的电源要求。外形尺寸：设备体积适中，便于实验室内安置。净重：大约26kg，便于移动和携带。执行标准该仪器符合多项国家和国际标准，如GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等。包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪应用领域广泛应用于塑料薄膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度测量，适用于包装材料生产过程中的质量控制、研发与技术创新等领域。仪器配置标准配置通常包括主机、微型打印机、标准量块等。可选配件包括专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码等。

高精度薄膜片材测厚仪 厚度测量仪 仪器简介：行业标准中关于薄膜、片材、铝箔铜箔片等厚度的测量采用的接触式测量方式，济南赛成科技根据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等标准研发的CHY-CA薄膜测厚仪即为该测量方式。CHY-CA仪器采用进口优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。赛成 CHY-CA高精度薄膜、片材测厚仪 性能特点： （1）严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制?（2）测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差?支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。（3）实时显示测量结果的大小极限值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断?（4）系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪测试标准ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 应用领域基础应用：薄膜、薄片、隔膜 、纸张、纸板 、箔片、硅片 、金属片 、纺织材料 、固体电绝缘体 、无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 技术指标测试范围： 0～2 mm（常规）0～6 mm；10 mm（可选）分辨率 ：0.1 μm测量速度 ：10 次/min （可调）测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距 ：0～1000 mm进样速度 ：0.1～99.9 mm/s电 源 ：AC 220V 50Hz外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)净重 ：32 kg

高精度薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器高精度薄膜测厚仪此为广告

质子交换膜厚度测量仪 0.1um炭薄膜测厚仪 高精度测厚仪质子交换膜厚度测量仪采用机械接触式测量原理，通过高精度的位移传感器和科学的结构设计，实现对质子交换膜厚度的快速、准确测量。该仪器适用于多种材料的厚度测量，包括但不限于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等，特别适用于质子交换膜这种高精度要求的材料。质子交换膜厚度测量仪 0.1um炭薄膜测厚仪 高精度测厚仪主要特点高精度测量：采用国际品牌高精度位移传感器，实现高分辨率（如0.1um）的厚度测量，确保测量结果的准确性。稳定性与重复性：通过稳固性结构设计及高精测控控制技术，实现接触式厚度测量的稳定性和高重复性。多功能操作：支持手动、自动测试功能，可单点、多点（如5点）校验，满足不同测量需求。智能化界面：配备触控屏操作界面，支持多种数值、平均值以及标准偏差等分析数据的显示，方便用户进行判断和记录。数据管理与安全：支持多级用户权限管理，测试数据历史记录可查询，确保数据的安全性和可追溯性。质子交换膜厚度测量仪 0.1um炭薄膜测厚仪 高精度测厚仪技术参数参数名称参数值/描述测量范围根据具体型号而定，如适用于0.01mm至数毫米范围分辨率0.1um（高精度位移传感器）测量精度高精度，具体数值需参考产品说明书重复性高重复性，确保多次测量结果的一致性显示屏7寸大触控屏，专业测控软件支持连接方式标准接口，可连接电脑进行数据传输和综合分析适用材料质子交换膜、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等附加功能支持多级用户权限管理、数据历史记录查询等质子交换膜厚度测量仪 0.1um炭薄膜测厚仪 高精度测厚仪应用领域接触式质子交换膜厚度测量仪广泛应用于燃料电池、化工、材料科学、电子电器等领域，特别是在质子交换膜燃料电池的研发和生产过程中，为评估质子交换膜的性能和安全性提供了重要依据。注意事项 在使用前，请确保仪器已按照说明书进行正确安装和校准。测量过程中，应注意保持测量环境的稳定，避免温度、湿度等外部因素对测量结果的影响。定期对仪器进行维护和保养，以确保其长期稳定运行和测量精度。

C640高精度测厚仪 塑料薄膜测厚仪 无纺布厚度检测仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。Labthink，致力于通过包装检测技术提升和尖端检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。如需报价敬请电话咨询济南兰光！设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。C640高精度测厚仪 塑料薄膜测厚仪 无纺布厚度检测仪测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定C640高精度测厚仪 塑料薄膜测厚仪 无纺布厚度检测仪技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)净重：26kg

TY--CHY 高精度超声波测厚仪（天研）是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。　　产品定义　　TY--CHY 高精度超声波测厚仪（天研）是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量　　TY--CHY 高精度超声波测厚仪（天研）主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分，由发射电路产生的高压冲击波激励探头，产生超声发射脉冲波，脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收，通过单片机计数处理后，经液晶显示器显示厚度数值，它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。　　TY--CHY 高精度超声波测厚仪（天研）相关应用　　由于超声波处理方便，并有良好的指向性，超声技术测量金属，非金属材料的厚度，既快又准确，无污染，尤其是在只许可一个侧面可按触的场合，更能显示其优越性，广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况，因此对冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验，对设备安全运行及现代化管理起着主要的作用。超声清洗与仪器仅是超声技术应用的一部分，还有很多领域都可以应用到超声技术。比如超声波雾化、超声波焊接、超声波钻孔、超声波研磨、超声波液位计、超声波物位计、超声波抛光、超声波清洗机、超声马达等等。超声波技术将在各行各业得到越来越广泛的应用。　TY--CHY 高精度超声波测厚仪（天研）使用技巧　　一般测量　　1、在一点处用探头进行两次测厚，在两次测量中探头的分割面要互为90°，取较小值为被测工件厚度值。　　2、30mm 多点测量法：当测量值不稳定时，以一个测定点为中心，在直径约为30mm 的圆内进行多次测量，取最小值为被测工件厚度值　　精确测量法在规定的测量点周围增加测量数目，厚度变化用等厚线表示。　　连续测量法用单点测量法沿指-定路线连续测量，间隔不大于5mm。　　网格测量法在指-定区域划上网格，按点测厚记录。此方法在高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。

D0011高精度数显测厚仪，厚度是纸张、纸板及混合纸板的一个重要参数，而厚度的一致性对于结构用途也十分重要。 此测试仪适用于研究工作、质量控制、产品设计，以及来料规格的证明。此设备用于测量纸张，塑胶，薄纸和其他帘布材料的厚度。测头能自动上下进行测量，得到*的测量结果，测头部分为2个平坦的圆形压头，样品可放置于2个测头之间，测量时测头的压力可根据需要设定为2kpa、20kpa、50kpa、100kp等，易于进行*测量。应用:? 纸类? 塑料类产品特点:? 压力: 2kPa? 测量范围: 0 -12mm? 底座直径: 55mm? 压头直径: 35.7mm? 速度: 1 ± 0.1mm/ sec ? 精度: 0.001mm? 预留连接RS232 选配件:? 20kPa测试压力? 50kPa测试压力? 100kPa 测试压力? 其他特殊要求压力电气连接:?220/240 VAC @ 50 HZ or110 VAC @ 60 HZ(可根据客户要求定制)外形尺寸:? H: 270mm ? W: 250mm ? D: 300mm? Weight: 18.5kg参考标准:纸张: ? AS1301.426s ? BS 7387 ? ISO 534: 1988 ? TAPPI T 411 ? ASTM D645瓦楞板: ? ISO 3034 ? FEFCO No.3 ? SCAN P31

CEM DT-157/157H集磁性和非磁性自动转换测量于一体，是CEM设计、研发和推出的高精度、快速反应、多功能的涂镀层测厚仪，带蓝牙和智能APP，准确、快速等测量质量。

高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix产品简介：高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix 高精度厚度测厚仪PTT-03A普创paratronix

中图仪器NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点。NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。测量过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。典型应用NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。仪器结构单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

【产品介绍】DRK203C高精度机械接触式薄膜测厚仪（GB/T 6672）适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、箔片、硅片等各种材料的厚度*测量。【产品特点】1. 接触式测量2. 测头自动升降3. 自动测量模式4. 数据实时显示、自动统计、打印5. 显示*大值、*小值、平均值和统计偏差6. 标准接触面积、标定压强7. 标准量块标定测量参数8. 数据分析功能【技术参数】1. 测量范围：0～3mm2. 分辨率：0.1μm 精度：1级3. 测量速度：5次/min（可调）；测头移动速度：3mm/s（可调）4. 接触面积：28mm (直径6mm） 非标可定制【标准配置】DRK203C高精度机械接触式薄膜测厚仪：主机、微型打印机、标准量块一件【依据标准】GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777.注：因技术进步更改资料，恕不另行通知，产品以后期实物为准。薄膜测厚仪产品关键词：测厚仪，薄膜测厚仪，机械接触式薄膜测厚仪。

济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪 济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪适用包装塑料薄膜、纸张、电容BOPP薄膜、金属铝箔、太阳能电池硅片等硬质和软质材料厚度测量。采用全自动测试模式，可连续测量也可单点测量模式，测试分辨率高达0.0001mm。测试原理采用接触式测试，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差★微电脑控制、大液晶显示★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果★测厚仪自动保存 多100组测试结果，查看并打印★标准量块标定,方便用户快速标定设备GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817测量范围：0～2mm（常规）分 辨 率：0.1μm测量速度：10次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)净 重：30kg标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器

B2 高精度超声波测厚仪（捷克诺顿）适用范围：该设备设计用于测量各类金属和非金属材料制成的（板材、储罐、管子、管道、桥梁、金属压力容器、输送设备和其它结构、包括高度腐蚀、有结垢等）产品的厚度，以确定其在制造或运行过程中的厚度和腐蚀状态，被广泛应用于能源、化工、管道、机械工程、造船、运输等领域。优势特点：1、高灵敏度，简单易操作；2、具有探头自动识别功能；3、可以手动或自动调整增益；4、彩色液晶显示屏；基本技术参数：测量厚度范围（对于钢）0.5-200mm声速范围1000-9999 m/s测量分辨率0.1mm；0.01mm可选测量精度0.5mm-99.99mm范围内：±（0.005T+0.05）mm；100.0mm-200.0mm范围内：±（0.005T+0.1）mm；增益调整方式手动或自动数据存储最多500次测量值探头识别自动通讯可通过软件将数据传输至计算机显示屏2.4寸TFT彩色液晶显示屏（分辨率：320×240）电源内置可充电锂电池 3.7V工作温度范围-10…+50℃外观尺寸120×57×20mm仪器重量150g*测量厚度范围取决于所检测材料的声学特性和探头的类型。交付组件：带探头的仪器主机（探头数量和型号由客户选择）、充电器、mini-USB—USB A型数据线缆（用于连接计算机）、软件光盘（用于传输数据至计算机并处理测量结果）、使用说明书、防震仪器箱。可选配的B2测厚仪探头双晶探头5A10检测对象：测量金属罐体、容器、大直径管道的壁厚。技术特点：工作频率：5MHz；测厚范围（对于钢）：1.0至200.0mm；接触面尺寸：Φ10mm；探头外形尺寸：Φ18×26mm；工作温度范围： -10至+60℃；注：采用新型复合材料制作，具有较高的耐磨性，并且与粗糙表面接触良好。双晶探头10A6检测对象：测量管道的厚度，半径较小的容器的弯曲区域。技术特点：工作频率：10MHz；测厚范围（对于钢）：0.6至20mm；接触面尺寸：Φ6mm；探头外形尺寸：Φ14×26mm；工作温度范围：-10至+60℃；注：采用新型复合材料制作，具有较高的耐磨性，并且与粗糙表面接触良好。双晶探头2.5A12检测对象：在制造、运行和维修过程中测量金属和非金属产品的残余壁厚。技术特点：工作频率：2.5MHz；测厚范围（对于钢）：3.0至200.0mm；接触面尺寸：Φ15mm；探头外形尺寸：Φ22×45mm；工作温度范围：-10至+60℃；注：在粗糙或锈蚀非常严重的工件表面具有良好的透声性。小尺寸双晶探头10A4检测对象：测量壁厚较薄的管材和金属板材的厚度。技术特点：工作频率：10MHz；测厚范围（对于钢）：0.5至10mm；接触面尺寸：Φ4.5mm；探头外形尺寸：Φ9×11mm；工作温度范围：-10至+60℃；注：可用于狭小、难以进入的位置的厚度检测（飞机的纵梁，小直径的管道等）。双晶高温探头5T12检测对象：用于测量高温零部件的厚度。技术特点：工作频率：5MHz；测厚范围（对于钢）：1.0至100.0mm；接触面尺寸：Φ14mm；探头外形尺寸：Φ26×48mm；工作温度范围：-10至+250℃。

薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪是一种专门用于测量薄膜、薄片等材料厚度的仪器，广泛应用于塑料薄膜、纸张、金属箔、硅片、电池电极等材料的厚度检测。测试原理通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。测量头在一定压力下接触薄膜表面，传感器读取测量头的位移变化，从而得出薄膜的厚度值。薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪产品特征严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择可选系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果5寸触摸屏操控，方便用户进行试验操作和数据查看标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据薄膜薄片厚度测量仪 GB/T 6672接触式测厚仪 高精度膜厚测试仪技术参数菜单式界面: PVC操作面板分 辨 率: 0.1μm测量范围: 0～2mm；0～6mm，12mm（可选）测量速度: 10次/min（可调）测量压力: 17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积: 50mm² （薄膜）；200mm² （纸张）电 源: AC 220V 50Hz外形尺寸: 300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)净 重: 33kg执行标准: GB 6672、GB/T 451.3-2002等仪器配置: 主机、微型打印机、标准量块等测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

B6-C 高精度超声波测厚仪（捷克诺顿）适用范围：测量各类金属及其合金制品的厚度，可穿透保护涂层对基材厚度进行测量，涂层的厚度值一并显示。测量各类非金属产品（塑料、陶瓷、橡胶、玻璃和其它）的厚度，以及任何超声波良导体材料的厚度测量。优势特点：1、2.4寸TFT彩色液晶显示屏（分辨率：320×240）；2、A扫描模式下，以图形的方式显示多次底波反射信号；3、带有B扫描测量模式；4、可穿透保护涂层对金属基材进行测厚（在E-E-E模式和P-E-Ct模式下）；5、可测量保护涂层厚度（在P-E-Ct模式下）；6、具有探头自动识别功能；7、仪器内置29种不同材料的标准声速值，方便随时调用；8、涂层声速值单独设定，确保不同的涂层材料，其厚度测量值准确（默认是油漆声速）。基本技术参数：测量厚度范围（对于钢）双晶探头：0.5-300mm；单晶探头（带延迟块）：0.25-10mm；可穿透涂层的双晶探头（用于厚度≤2.0mm的保护涂层下的金属测量）：0.25-100mm；声速范围1000-9999 m/s测量分辨率0.1mm；0.01mm可选测量精度0.25mm-10.0mm范围内：±（0.005T+0.05）mm；10.0mm-300.0mm范围内：±（0.01T+0.1）mm；电源内置可充电锂电池 3.7V工作温度范围-20…+50℃连续工作时间不少于8小时外观尺寸120×57×20mm仪器重量150g*测量厚度范围取决于所检测材料的声学特性和探头的类型。**可穿透涂层厚度范围取决于涂层材料的声学特性。交付组件：带探头的仪器主机（探头数量和型号由客户选择）、充电器、mini-USB—USB A型数据线缆（用于连接计算机）、软件光盘（用于传输数据至计算机并处理测量结果）、使用说明书（中英文各一份）、防震仪器箱。可选配的B6-C测厚仪探头双晶探头5A10检测对象：测量金属罐体、容器、大直径管道的壁厚。技术特点：工作频率：5MHz；测厚范围（对于钢）：1.0至200.0mm；可穿透油漆层对基材进行测厚（仅适用于平面工件，油漆层最大厚度≤0.5毫米）；接触面尺寸：Φ10mm；探头外形尺寸：Φ18×26mm；工作温度范围： -10至+60℃；注：采用新型复合材料制作，具有较高的耐磨性，并且与粗糙表面接触良好。双晶探头10A6检测对象：测量管道的厚度，半径较小的容器的弯曲区域。技术特点：工作频率：10MHz；测厚范围（对于钢）：0.6至20mm；接触面尺寸：Φ6mm；探头外形尺寸：Φ14×26mm；工作温度范围：-10至+60℃；注：采用新型复合材料制作，具有较高的耐磨性，并且与粗糙表面接触良好。双晶探头2.5A12检测对象：在制造、运行和维修过程中测量金属和非金属产品的残余壁厚。技术特点：工作频率：2.5MHz；测厚范围（对于钢）：3.0至200.0mm；接触面尺寸：Φ15mm；探头外形尺寸：Φ22×45mm；工作温度范围：-10至+60℃；注：在粗糙或锈蚀非常严重的工件表面具有良好的透声性。小尺寸双晶探头10A4检测对象：测量壁厚较薄的管材和金属板材的厚度。技术特点：工作频率：10MHz；测厚范围（对于钢）：0.5至10mm；接触面尺寸：Φ4.5mm；探头外形尺寸：Φ9×11mm；工作温度范围：-10至+60℃；注：可用于狭小、难以进入的位置的厚度检测（飞机的纵梁，小直径的管道等）。双晶高温探头5T12检测对象：用于测量高温零部件的厚度。技术特点：工作频率：5MHz；测厚范围（对于钢）：1.0至100.0mm；接触面尺寸：Φ14mm；探头外形尺寸：Φ26×48mm；工作温度范围：-10至+250℃。可穿透涂层的测厚探头双晶探头5E10检测对象：测量金属罐体、容器、大直径管道的壁厚，可直接测得基材的厚度值并忽略涂层厚度，也可同时显示出基材和涂层的厚度值（在P-E-Ct模式下）。技术特点：工作频率：5MHz；测厚范围（对于钢）：1.5至300.0mm（在P-E和P-E-Ct模式下）；1.0至20.0mm（在E-E-E模式下）；最大可穿透涂层厚度为2.0mm（在E-E-E模式下）；最大可穿透涂层厚度为1.0mm（在P-E-Ct模式下）；接触面尺寸：Φ12mm；探头外形尺寸：Φ25×47mm；工作温度范围：-1至+60℃。双晶探头10E6检测对象：测量管道的厚度，半径较小的容器的弯曲区域，可直接测得基材的厚度值并忽略涂层厚度，也可同时显示出基材和涂层的厚度值（在P-E-Ct模式下）。技术特点：工作频率：10MHz；测厚范围（对于钢）：0.6至50.0mm（在P-E模式下）；0.6至10.0mm（在E-E模式下，最大可穿透涂层厚度为1.0mm）；0.6至25.0mm（在P-E-Ct模式下，最大可穿透涂层厚度为0.5mm）；接触面尺寸：Φ8mm；探头外形尺寸：Φ25×47mm；工作温度范围：-10至+60℃。带延迟块的探头15P6DL检测对象：推荐用于非常薄的材料的厚度测量。技术特点：工作频率：15MHz；测厚范围（对于钢）：0.25至10.0m；穿透涂层时的测厚范围：0.25至10.0mm（最大可穿透涂层厚度为2mm）；接触面尺寸：Φ7.4mm，探头外形尺寸：Φ14×25.5mm；注：可用于狭小、难以进入的位置的厚度检测（飞机的纵梁，小直径的管道等）。带保护膜的单晶探头P111-S5C（用于E-E-E模式）检测对象：在E-E-E模式下，用来测量金属和非金属产品的残余壁厚，可直接测得基材的厚度值并忽略涂层厚度。技术特点：工作频率：5MHz；测厚范围（对于钢）：1.0至200.0mm；接触面尺寸：Φ16mm；探头外形尺寸：Φ26×46mm；工作温度范围：-10至+60℃；保护膜：聚氨酯膜；注：在粗糙或锈蚀非常严重的工件表面具有良好的透声性,可穿透涂层对基材进行测厚。带保护膜的单晶探头P111-S2C（用于E-E-E模式）检测对象：在E-E-E模式下，用来测量金属和非金属产品的残余壁厚，可直接测得基材的厚度值并忽略涂层厚度。技术特点：工作频率：2.25MHz；测厚范围（对于钢）：2.0至150.0mm；接触面尺寸：Φ16mm；探头外形尺寸：Φ26×46mm；工作温度范围：-10至+60℃；保护膜：聚氨酯膜；注：在粗糙或锈蚀非常严重的工件表面具有良好的透声性,可穿透涂层对基材进行测厚。

仪器介绍：广州标际所生产的高端测厚仪，测厚仪，薄膜测厚仪适用于包装薄膜，片材等的氧气透过率的检测。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪，操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜，纸张等直接测量或比较测量。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪产品特点测量精确，运行可靠，测量分辨率高达0.1微米；支持手动、自动双重测量模式；可单点测试也可多点测试自动进样间距、测量点数可调；液晶显示，可微机打印测试结果；测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值 可连接计算机,专业软件支持（可选）。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪技术参数测量范围：0~5mm分 辨 率：0.1&mu m进样间距：0~1000mm测量点数：0~10点

普创-高精度硅片厚度检测仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-高精度硅片厚度检测仪-PTT-03A 普创-高精度硅片厚度检测仪-PTT-03A

产品概述：TC4500涂覆层测厚仪为磁性和涡流两用覆层测厚仪,不仅可以用来测量钢铁等磁性基体,还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层,可自动识别测量基体,自动转换。操作单,携带方便,性价比高,适合各种复杂的测量环境，深受广大用户所喜爱。升级“专业工业模式"，硬件和算法全面优化提优，带来更高的精准度，可以与APP实时互动及分享检测数据。功能特点：● 专业工业分析模式● TC4500涂覆层测厚仪全中文菜单● 自动识别金属底材● 自动选择测量方法——磁性法或电涡流法● 蓝牙连接功能● 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警●两种开/关机方式：手动开/关机方式和自动开/关机方式●电池电压指示：低电压提示技术参数：型号参数适用场合磁性基体上的非磁性涂层无磁性但导电基体上的绝缘涂层测量范围0-2000μm(1000μm=1mm)读数分辨率0.1μm (0-99.9μm范围)；1μm（100-2000μm范围）最小测量面积10*10mm最薄基体厚度0.4mm最少曲面直径凸:5mm；凹：5mm使用环境温度-20～50℃；湿度10-85%RH测量误差1-1000μm：±(2%H+1μm)；1000μm：±(5%H+1μm)标准配置TC4500主机（一体探头）、Fe/NFe基体、标准片、仪器箱、质保卡和合格证。

AG-500 智能型超声波测厚仪，采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理， 可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和 压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件 作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多个领域

普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A 普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A 普创-高精度土工布厚度检测仪-PTT-03A

纸张测厚仪随着科技的不断发展，纸张、纸板和印刷纸的厚度测量变得越来越重要。厚度是这些材料的重要质量指标之一，它对产品的质量、使用性能和寿命都有着重要的影响。机械接触式测厚仪是一种常见的厚度测量仪器，它具有高精度、高稳定性和易于操作等优点，被广泛应用于纸张、纸板和印刷纸的厚度测量。 纸张、纸板和印刷纸的厚度对产品的质量和性能有着重要的影响。为了控制产品质量和提高生产效率，需要采用高精度的厚度测量仪器对生产过程中的纸张、纸板和印刷纸进行实时检测。 纸张测厚仪是专门用于测量纸张厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种纸张的厚度，包括印刷纸、涂布纸、防伪纸等。在操作过程中，需要注意保持测量头的清洁，避免影响测量结果。 纸板测厚仪是专门用于测量纸板厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种纸板的厚度，包括普通纸板、瓦楞纸板、蜂窝纸板等。在操作过程中，需要注意调整测量头的压力，以保证测量的精度。 印刷纸测厚仪是专门用于测量印刷纸厚度的仪器。它采用机械接触式测量原理，可以测量各种印刷纸的厚度，包括铜版纸、胶版纸、新闻纸等。在操作过程中，需要注意保持印刷纸的平整度，避免影响测量结果。 机械接触式测厚仪是一种高精度的厚度测量仪器，适用于纸张、纸板和印刷纸等材料的厚度测量。在操作过程中，需要注意保持测量头的清洁、调整测量头的压力和保持被测材料的平整度等细节问题，以保证测量的精度和稳定性。通过使用高精度的测厚仪对纸张、纸板和印刷纸进行厚度测量，可以有效地控制产品质量和提高生产效率。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 纸张测厚仪此为广告

BTG-01壁厚测厚仪是PET饮料瓶、罐头瓶、玻璃瓶、铝罐等包装容器理想测量仪器；适用于纹路复杂的包装容器壁厚、底厚的精确测量。具有方便、耐用、精度高、价格低廉等优势。广泛应用于玻璃瓶、塑料瓶生产企业及医药、保健品、化妆品、饮料、酒类生产企业。产品特征：● 适用于玻璃瓶、矿泉水瓶等纹路复杂的试样● 瓶底、瓶壁厚度测试一机完成● 超标准高精度表头● 机械式设计简单耐用● 大、小试样灵活可测● 液晶数字显示技术参数● 测量范围：0-12.7mm（其他厚度可定制）● 分 辨 率：0.001mm● 试样直径：5-210mm● 试样高度：≤300mm● 外观尺寸：350mm*80mm*430mm● 重量：6.5kg产品标准 ：QB/T2665-2004 QBT 2357-1998 QBT 1868-2004标配一套测量头其他供应：密封试验仪、摩擦系数仪、瓶盖扭矩仪、安瓿瓶折断力测试仪、胶塞穿刺力测试仪、活塞滑动性能测试仪、铝塑组合盖开启力测试仪、拉伸强度测试仪、壁厚测厚仪、垂直轴偏差测试仪、圆跳动测试仪、薄膜穿刺力测试仪、注射针穿刺力测试仪等。

ZY-GT025激光测厚仪高效、便捷、高精度在盖板玻璃行业，测量盖板玻璃厚度的常用工具是千分尺。千分尺的缺点主要表现在效率低，而且可能划伤盖板玻璃，不能满足批量检测的要求。随着行业内对盖板玻璃厚度检测要求的逐渐提高，盖板玻璃生产厂家希望找到一种高效、便捷、高精度的无损测量方式，ZY-GT025激光测厚仪应运而生。ZY-GT025激光测厚仪采用激光测量方式，对盖板玻璃没有损伤。测量响应速度快，操作简单，精度高。另外，这款仪器采用锂电池供电，设计人性化，适用于多种应用场合。技术参数1. 光源类型：红色半导体激光2. 激光波长：650nm（可见光）3. 厚度测量范围：0.15~3mm4. 厚度测量精度：±0.002mm5. 读数方式：LED数显或者电脑软件显示6. 读数分辨率：0.1/0.01/0.001/0.0001/0.00001mm7. 供电方式：可充电锂电池供电（DC 24V）8. 重量：约8kg9. 尺寸：约300mm(H)×220mm(W)×325mm(D)配置清单1. 激光测厚仪主机1台2. 充电器1个3. 数据线1根4. 测试电脑1台（含测试软件1套），可选