透射式测定仪

光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过第一个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。　　　　绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率：对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。　　　　曾经研究过光栅效率与波长、入射角、镀层厚度、镀层材料以及其它因素的关系。所有这些测量都指出，在许多情况下能量损失是非常显著的，并且光栅的效率低于1%，光栅的不同部分可能有明显不同的效率。

公司一直使用紫外-可见光分光光度计可以测定玻璃的光透射(light transmittance)现在急需测定太阳光透射(solar transmittance),请教高手,如何测定?

2005年版药典增补版中对注射剂的渗透压测定进行了强制规定检测，不知道哪家的测定仪器好些？另外就是标签是不是也要跟着更改呢？

最近发现用TU-1800SPC在800-1100nm做近红外透射分析很好用。只要对样品室稍加改动，就可以测定固体样品的近红外透射光谱。这类仪器价格非常低，且又有紫外-可见光谱的功能。希望有这方面经验和兴趣的朋友一起交流交流，提高仪器使用的效率。

如题，X射线衍射仪通常我们都是用反射模式下做的，不知道透射模式的哪些型号可以做呢？另外，我不太理解反射模式和透射模式在本质上有什么区别？透射模式是否可以有一些独特的优势，比如说测什么透射模式能做，而反射模式不能做呢？请高手给解释一下，最好能推荐一些介绍透射模式的参考资料，多谢啦

透射样品掉进样品室（整个样品和铜环），请问高手这个需要开镜筒吗？开镜筒是不是很复杂，一般请透射公司来开镜筒的费用是多少？电镜的型号是Philips CM200 。

厦门大学材料学院电镜实验室因工作需要，招聘透射电子显微镜工程师1人。岗位职责：1. 透射电子显微镜的操作使用、故障诊断与日常维护；2. 用户管理、操作培训和技术服务；3. 承担或协助实验室安排的电镜样品制备和测试分析等工作；4. 完成实验室负责人交办的其它工作。任职条件：1. 熟悉透射电镜的操作与原理，具备透射电镜样品的制备经验；2. 材料科学或凝聚态物理等相关专业背景，硕士以上学历，良好的英语读写和交流能力；3. 有透射电镜操作和维护工作经历，或具备丰富的电镜制样经验者优先考虑；4. 年龄一般不超过35岁。相关待遇： 此为编制内工程师岗位，相关待遇按厦门大学有关规定执行。应聘者请发送个人简历至王老师 mswang@xmu.edu.cn，邮件主题注明“应聘电镜工程师“

厦门大学材料学院电镜实验室因工作需要，招聘透射电子显微镜工程师1人。岗位职责：1. 透射电子显微镜的操作使用、故障诊断与日常维护；2. 用户管理、操作培训和技术服务；3. 承担或协助实验室安排的电镜样品制备和测试分析等工作；4. 完成实验室负责人交办的其它工作。任职条件：1. 熟悉透射电镜的操作与原理，具备透射电镜样品的制备经验；2. 材料科学或凝聚态物理等相关专业背景，硕士以上学历，良好的英语读写和交流能力；3. 有透射电镜操作和维护工作经历，或具备丰富的电镜制样经验者优先考虑；4. 年龄一般不超过35岁。相关待遇： 此为编制内工程师岗位，相关待遇按厦门大学有关规定执行。应聘者请发送个人简历至王老师 mswang@xmu.edu.cn，邮件主题注明“应聘电镜工程师“

请教：高分辨成像时，入射电子束穿过薄晶体形成弱衍射束与透射束，衍射束与透射束相位相差π/2，各位如何解释为什么？衍射束相位是滞后透射束π/2还是超前π/2。在欠焦位置，衍射束光程比透射束多1/4倍波长位置，其相位是否又比透射束超前（增加）π/2？在正焦点位置，教材上好像说，衍射束位相比在从样品出发时的增加π，为什么不是增加2π？好像光束从样品经过透镜聚焦到达像平面（正焦位置）相位不变（即2π的整数倍）。高分辨像最佳欠焦位置的暗点可否解释为原子列位置的透射波与邻近原子间隙位置的衍射波的合成波的强度，亮点为原子间隙位置的透射波与邻近原子位置的衍射波的合成波的强度？透射波与衍射波此时相位相同，合成波振幅大小=透射波与衍射波振幅大小之和。因为原子间隙位置的透射波强而衍射波弱，原子列位置的透射波弱而衍射波强，所以对应原子列位置的合成波强度较弱，形成暗点；而对应于原子列间隙位置的合成波强度较强，形成亮点。

当一束光通过一透明体时其透射比的定义为（　　）用符号（　　）表示。

紫外可见分光光度计作为化学物质定量分析的常用仪器，广泛应用于科研、生产、国防等各个领域。为了保证仪器测量数值的准确可靠，必须依据JJG178-2007《紫外、可见、近红外分光光度计》检定规程进行检定。然而在使用和检定过程中，常遇到仪器透射比示值发生偏差或检定结果有所不同，对此，笔者从以下三个方面对产生偏差的原因进行分析。一、从仪器和样品在光路上分析分光光度计的基本原理是，溶液中的物质在光的照射激发下，具有选择性吸收现象，可对物质进行定性和定量的分析。它符合朗伯-比耳定律:式中:T——透射比；I——透射光强度；I0——入射光强度；A——吸光度；K——吸收系数；C——溶液的浓度；L——溶液的光径长度。而朗伯-比耳定律应用的条件是:一是必须使用单色辐射光；二是吸收发生在均匀的介质；三是吸收过程中，吸收物质互相不发生作用。在实际工作中，吸光度与浓度之间的线性关系常常发生偏离，其主要因素有以下几点:1.仪器的非单色光影响在紫外可见分光光度计中，使用连续光源和单色器分光，得到的不可能是真正的“单色光”。为了保证足够的光强，分光光度计的狭缝必须保持一定的宽度。因此，由出射狭缝照射到被测物质上的光，并不是理论上要求的单色光，而是一个有限宽度的谱带，称为光谱带宽。来自出射狭缝的光，其光谱带宽大于吸收光谱谱带时，照射在样品上的光中就有非吸收光。随着光谱带宽的增大，吸收光谱的分辨力下降，而偏离朗伯-比耳定律。非吸收光愈强，对测定灵敏度的影响就愈严重，并且随着被测样品浓度的增加，非吸收光的影响增大。当吸收很小时，非吸收光的影响可以忽略不计。2.仪器的非平行光影响当入射光与吸收池的光学面不垂直时，使通过样品的实际光程大于吸收池的厚度。但这种情况对测量影响很小，一般可忽略不计。而此时未通过样品的光在比色架上或样品室内发生反射、散射现象，也会导致偏离朗伯-比耳定律。3.样品的散射影响由于样品的不均匀也会引起对朗伯-比耳定律的偏离。当被测样品中含有悬浮物或胶粒等散射质点时，入射光通过样品就会有一部分光因散射而损失掉，使透射光强度减小，实测吸收光度增大，导致偏离朗伯-比耳定律。4.样品的荧光影响某些物质吸收光以后，会辐射出波长与入射光波长不同的荧光，荧光的存在将导致朗伯-比耳定律失效。5.样品的化学因素在被测样品溶液中，被测组分发生离解、缔合、光化等作用，或与溶剂相互作用，就会使被测组分的吸收曲线明显改变(如吸收峰的形状、位置、强度以及精细结构都会发生变化)，导致偏离朗伯-比耳定律。6.仪器的机械因素仪器生产时比色皿架的安装有微小偏差(不影响正常使用)。仪器比色皿架与比色架底板安装有微小偏移，使光束不能完全透过比色皿射入检测器，而射在比色皿以外部位，造成有效光能的损失，使入射的单色光强度发生变化，从而显示的透射比值偏离了标准值。还有的是仪器光门闭合不良导致漏光，而使透射比值发生偏离。二、从检定所用的标准器上分析检定分光光度计透射比值所用的标准物质，有用于检定可见光区的中性滤光片，以及用于检定紫外光区的标准中性滤光片或标准溶液。1.标准中性滤光片用于检定可见光区的中性滤光片。每片滤光片的证书都给出了可见光区3个波长(通常为440nm、546nm、635nm)及相应光谱带宽下的透射比，其相对不确定度为0.5%，其透射比名义值为10%、20%、30%等。用于检定紫外光区的标准中性滤光片，每片滤光片的证书都给出了紫外光区4个波长(通常为235nm、257nm、313nm、350nm)及相应光谱带宽下的透射比，其相对不确定度为0.5%。滤光片本身的结构原因:以上光谱中性滤光片都是经过长期稳定性考核可作为标准物质使用的，这里要提的是这种标准滤光片其本身结构杂散光、波长误差、样品不均匀等所带来的影响在检定时是不予考虑的，但在引起透射比示值偏差的不确定度分析中是要考虑的因素。另外，标准滤光在加工质量上，因其边缘是由金属外壳包装固定，当外壳出现细微变形(不影响正常检定)，这种情况下的透射比示值就可能脱离实际测量值。同时，当标准滤光片的表面有灰尘或其他脏物时，也直接影响示值准确性，因此在实际工作中对光谱中性滤光片应注意保持清洁。滤光片的方向性问题:有些滤光片是有方向性的，所以检定时应按标准滤光片上所指示的方向放置于比色架中，否则也可能引起偏差。2.标准溶液紫外分光光度标准溶液包括一个空白及一个吸光度(透射比)的标准溶液，GBW(E)130066为K2Cr2O7的溶液。当用液体标准物质作为标准器进行检定时，必须使用标准石英吸收池，其两透光面的垂直距离为(10.00+0.002)mm，且两透光面的平面性和平行性均需严格控制。使用时可用同一吸收池作空白与标准的测量，以便得到溶液的净透射比。如果使用不同的吸收池作空白与标准的测量时，应严格控制吸收池的配套。最好对配套误差进行修正。标准溶液的温度也会影响透射比示值，标准溶液的证书也给出了不同温度下标准溶液的透射比值。而检测室内环境的温度与标准溶液的温度并不完全一致，这一偏差也影响了透射比示值的测量准确性。三、从仪器的样品室及人员操作上分析透射比准确度是指仪器透射比示值与透射比约定真值间的一致程度。透射比重复性是指对仪器透射比示值进行多次测量所得结果之间的一致性。在对透射比示值检定时，除了要按JJG178-2008的要求进行检定外，还应注意:1.有的仪器未达到一定预热时间，会造成光电系统不稳定，透射比值会发生漂移，所以要按说明书的要求，对仪器进行必要的预热。2.有些国产设备中上限位器的作用是由底架的弹珠决定的，即使上面的位置对好了，还要注意弹珠的定位手感，这一点十分重要。尤其是在30%挡，最容易拉过一点点，透射比的偏差是很大的，检测时要给予充分考虑。3.有的仪器由于长时间使用后会使光门组件损坏，使光门的闭合不良，用手轻压盖板，仪器示值会发生明显变化，这会造成透射比值的重复性偏差，此时需对光门组件进行调整方可使用或检定。4.对于有方向性的标准滤光片，检定应按方向把标准滤光片放置于样品室比色架上。四、结束语通过上述对影响分光光度计透射比值偏差的各类原因分析，我们知道透射比示值是分光光度计的一项重要技术指标。我们在检定、检修或使用分光光度计的过程中，当透射比示值发生偏差或超标时，应考虑上述因素的影响，以免作出误判或错误的检测结论。而在对分光光度计透射比偏差的不确定度来源分析中也应视情况考虑上述因素的影响。(选自网络)

测试薄膜的透射率是怎么测量的？用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗？我在不同的实验室做薄膜透射率时，有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考，这样可以测出透射率为薄膜的透射率，有的老师告诉我不可以这样做，因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的！

如题分光光度计可以测试薄膜反射率和透射率吗？要光谱反射和透射的，其中透射需要可以测试漫透射材料，求推荐仪器，波长范围为400到1100

这个可是国内第一家哦，耗时2年，终于下来了 单晶硅红外透射比标准物 GBW(E)130413、 标准值 不确定度单位波长（cm-1）(4000)0.537 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(3500)0.538 0.007 红外透射比值波长（cm-1）(3000)0.540 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2500)0.541 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(2000)0.542 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1300)0.519 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(1000)0.500 0.006 红外透射比值波长（cm-1）(500)0.456 0.008 红外透射比值以前还有红外透射比标准物质 GBW(E)130391、不过那是10%的

如题，预购渗透压摩尔测定仪，用以注射液滴眼液的渗透压测定，各位老大有什么好品牌推荐啊，联系方式啊，大概价位啊，不胜感激。

[align=left] 苏州市计量测试院理化检测室新建的渗透压摩尔浓度测定仪检定装置顺利通过江苏省质量技术监督局考核。该计量标准能够开展测量范围为（0~700）mOsmol/kg的渗透压摩尔浓度测定仪的检定、校准工作。截止到11月底，已为苏州及周边地区10余家医药企业的20余台仪器提供了检校服务，满足了相关仪器的溯源需求。[/align][align=left]　　渗透压摩尔浓度测定仪采用冰点下降原理，间接测定溶液的渗透压摩尔浓度，它广泛应用在生物医药行业。人体体液需要保证一定范围的渗透压，在制备注射剂、眼用液体制剂等药物制剂时，必须保证其渗透压；添加了渗透压调节剂的制剂，也应控制其渗透压摩尔浓度。此类仪器的测量精度和稳定性是保证医药产品渗透压准确可靠的必要前提。[/align]

哪位大侠知道?物体的反射与透射到底是什么关系呢能不能从透射计算出反射呢

大家好。单位考虑买一台场发射的透射电镜。要带stem和eels，最好还带能量过滤。请朋友们推荐。基本在jeol和fei之间选。由于没有用过场发射的透射。请大家提供参考意见。还有就是要买哪些附件。比如等离子清洗。低温双倾台。特别请用过的朋友发表高见。因为看厂家的广告不太好判别。如果可能的话，我们可能会到贵单位调研一下。谢谢大家了！

随着电镜附件的增加，边缘分析技术越来越多，好像令人眼花缭乱，但是透射电镜本身的一些基本功能还是没有多少人能做好，那么透射电镜的基本操作模式都有哪些？不同的样品能得到什么样的信息呢？比如我前面讲到SAED的几种花样，信息很丰富，而且我讲了那么多，还是没有完全讲完，大家多多补充！！[em05]

需要透射电镜工程师，哪位老师会或者推荐请联系15062357393

碰到一个客户要求测试布料的UV光还有近红外光反射和透射能力测试，有谁知道哪里可以做这个测试？谢谢！

某人误将参比溶液的透射比调至98%,而不是100%, 在此条件下测得有色溶液的透射比为36%,则该有色溶液的正确透射比应为？

单位有台HRTEM，JEM2100的，六硼化镧灯丝现在准备买一台JEM2100F，就是场发射超高分辨透射电镜，大家都说这个好，发文章也是更倾向于用这个，可是究竟好在哪里呢，目前我只是很浅显的知道，2100F，是把灯丝换成了场发射，分辨率会提高，除此之外还有什么优点呢，更深层次的优势大家都进来说说。还有配上STEM配件，又有哪些特殊用途呢？

请问一下各位行家，场发射透射电镜和普通源透射电镜有什么区别？含有生物样品一般用什么电镜比较合适，要求能够比较清楚地分辨清楚细胞器。

1、透光率(%T)转化为吸光度：吸光度=2-log(%T)2、常用吸光度(A)表示物质对光的吸收程度，其定义为: A=lg(1/T)=lg(I0/It) 则A值越大，表明物质对光吸收越强。T及A都是表示物质对光吸收程度的一种量度，透射比常以百分率表示，称为百分透射比，T％；吸光度A为一个无因次的量，两者可通过上式互相换算。 标准滤光片的透光率转化为吸光度的计算方法如1，但是在以前化学分析的课本中学到的吸光度与透射比的转化方式如2，我想问的是透光率与透射比不是同一个概念吗？怎么计算方法会不一样，已经被弄晕了，希望大家能够多多指教。

近红外透射技术测定糙米和精米的直链淀粉，在育种选育中具有很好的应用并为国际水稻中心IRRI所采用。近红外透射技术具有省时，完全不需样品研磨的优点，因而避免了样品研磨时所产生的灰尘和噪音，实验过程不需任何化学试剂和人工的数据计算等因素，在育种研究中具有很好的应用。

[align=center][size=18px]准确测定MXene二维材料的晶胞参数--反射透射XRD数据同时精修 [/size][/align][align=center][size=16px]Precise measurement of the lattice parameters for MXene 2D materials – Simultaneous refinement to reflection and transmission XRD data[/size][/align][align=center][size=16px]Tony Wang [/size][/align][align=center][size=16px]Central Analytical Research Facility, Queensland University of Technology, Brisbane 4001, Australia [/size][/align] [size=16px]0．摘要 本文介绍了二维材料MXene的基本结构以及透射模式XRD对二维材料层内原子排列周期性的重要性，并运用TOPAS精修软件中的同模型多数据精修功能，通过对反射模式XRD数据和透射模式XRD数据的同时精修，批量准确测定了MXene样品的晶胞参数，解决了当前文献中MXene样品的层内晶胞参数普遍测量困难的问题。 1. 介绍 MXene材料是继石墨烯Graphene之后的二维材料研究热点。其在存能量储（即电池和超级电容器）、EMI屏蔽、析氢反应的催化剂、改善聚合物复合材料机械性能、及在气体和湿度中的应用传感器等许多应用中有广阔的前景。 MXene材料是化学式M[sub]n+1[/sub]X[sub]n[/sub]T或M[sub]1.33[/sub]CT的一系列材料的统称。它们已经是拥有最大成员规模的二维材料。它们主要是通过从具有化学式M[sub]n+1[/sub]AX[sub]n[/sub]的母体MAX相中溶解掉A原子层而获得，其中M代表低原子系数过渡金属，A主要是第13或14号元素，X代表C和（或）N。T表示溶解时附着到MXene表面的各种终端基团。添加-ene后缀是为了突出其二维(2D)性质。 第一个MXene材料是由Naguib和同事于2011年通过溶解纳米层状三元碳化物Ti[sub]3[/sub]AlC[sub]2[/sub]中的Al层而获得的Ti[sub]3[/sub]C[sub]2[/sub]T[sub]z[/sub][sup]1[/sup]。继这一发现之后，人们用类似的方法，使用了除HF之外的不同类型的酸腐蚀不同的三元碳化物、氮化物或碳氮化物（MAX相）的中间原子层，制得了多种MXene材料[sup]2[/sup]。 MXene材料在化学组成上具有显着的可调性。M和X位的不同原子以及空位，都会调节层内原子排列的尺寸，如六方晶胞的a轴长度。类似于其他二维材料, 如可膨胀粘土矿物等, MXene材料也具有层间离子、分子可交换特性。不同尺寸的层间离子或有机分子，乃至不同的T终端基团都会改变MXene材料的层间距，如六方晶胞的c轴长度。 X射线粉末衍射方法是准确测定晶胞参数的常用方法。然而实验室湿法制备的MXene材料经干燥后常为微米级厚度的自支撑薄膜，很难粉碎为常规意义上的粉末。文献中常见的MXene材料的XRD数据均只采用了常规的反射模式XRD数据，所得数据质量低并且全部存在严重的择优取向，从而无法准确测定面内晶胞参数[i]a[/i]。如图1所示，对完全择优取向的二维材料来说反射模式XRD对二维材料堆叠方向的层间距（[i]c[/i]轴长度）敏感，而透射模式XRD对层内的晶面间距（[i]a[/i]或[i]b[/i]轴长度）敏感。[/size] [align=center][img=,690,376]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161521085462_2132_1986542_3.png!w690x376.jpg[/img][/align][align=center]图1. 使用XRD的(a)反射模式和(b)透射模式分别测定MXene二维材料的(a)层间距和(b)层内晶面间距[/align][align=center]Fig.1. Using XRD in (a) reflection and (b) transmission mode to measure (a) interlayer distance and (b) intralayer lattice parameters[/align] [size=16px]本文展示了XRD的批量透射工作模式，在实验室批量测定了大量MXene样品的面内XRD数据，通过TOPAS软件的同模型多数据同时精修功能准确测量了大量的MXene样品的六方晶胞参数[i]a[/i]和[i]c[/i]。[/size] [size=16px] 2. 实验： 反射模式XRD测量方法与常规XRD方法相同，下面只介绍透射模式XRD仪器及光路配置： ? 布鲁克D8 Advance ? 钴靶X光管线聚焦（也可采用铜靶，但角度分辨率会有牺牲） ? 平行光抛物面聚焦镜（也可采用聚焦光双曲面聚焦镜） ? 索拉狭缝2.5度分别位于初级光路和次级光路 ? 自动进样旋转样品台及侧边防散射刀片 ? LynxEye XE-T能量分辨位敏探测器一维扫描模式 透射模式XRD扫描参数： ? Offset Coupled 2Theta/Theta扫描, Omega 90度 ? 2Theta扫描范围5 – 100度，步长0.05度 ? 驻留时间1秒/步, 全谱扫描时间30分钟 ? 样品自转15 转/分 样品制样： ? 若MXene自支撑薄膜强度足够可直接安装于透射样品架上 ? 若MXene自支撑薄膜太薄，可夹在双层Kapton膜中间，再安装再透射样品架上 ? 若使用了Kapton膜，其在透射模式和反射模式下的散射贡献需单独测定 [/size] [size=16px]3. XRD数据分析 3.1. Kapton膜背景的扣除 扣除XRD数据的非样品背景，并不是直接的数据相减，而是对背景数据进行模型拟合，并将拟合所得的背景模型带入到所有样品数据的拟合中。图2为TOPAS软件中使用Peak Phase多峰模型，对Kapton薄膜在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合。[/size] [align=center][img=,690,388]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161558515996_1884_1986542_3.png!w690x388.jpg[/img][/align][align=center]图2. TOPAS中分别对Kapton膜背景在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合[/align][align=center]Fig. 2. Using peaks phase in TOPAS to model Kapton backgrounds in reflection and transmission mode[/align] [size=16px]3.2. MXene样品晶胞参数的精修 在TOPAS中，将两种模式所测数据下的[i]hkl_Is[/i]模型中的晶胞参数用参数名连接成为相同的精修参数。对反射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强0 0 1择优取向矫正，同理对透射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强1 1 0择优取向矫正。精修结果如图3和表1：[/size] [align=center][img=,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161601302894_6250_1986542_3.png!w690x387.jpg[/img][/align][align=center]图3. TOPAS中精修相同的hkl_Is模型同时拟合反射模式和透射模式的XRD数据[/align][align=center]Fig. 3. Lattice parameter refinement of a single hkl_Is model from both reflection and transmission XRD data.[/align] [align=center]表1 本方法所测定的某MXene材料的晶胞参数。 Table 1. Lattice parameters of a MXene material measured using the proposed method [table][tr][td]双数据全谱精修所得的晶胞参数 Refined lattice parameters[/td][td][align=center][i]a[/i] (?)[/align][/td][td][align=center][i]c[/i] (?)[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]MXene 样品sample #13[/align][/td][td][align=center]3.0394(4)*[/align][/td][td][align=center]26.990(15)*[/align][/td][/tr][/table]*括号内数字为数据最后一位的精修误差 * The numbers in brackets stand for refinement error for the last digit place[/align] [size=16px] 4. 结论 当前文献中关于MXene的XRD数据少见全谱精修分析。其原因是常规的反射模式XRD数据无法准确获得二维材料层内原子排列的周期性。本文使用的反射模式XRD数据与透射模式XRD数据的同时精修方法解决了这一难题。本方法除对MXene二维材料有效外，几乎可用于所有二维材料的晶胞参数测定。 5．参考文献 1. Naguib, M., Kurtoglu, M., Presser, V., Lu, J., Niu, J., Heon, M., Hultman, L., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2011). Adv. Mater. 23, 4248-4253. 2. Ghidiu, M., Lukatskaya, M. R., Zhao, M.-Q., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2014). Nature 516, 78-81. [/size] [size=16px]本贴视频: D8 Advance最大90样品位批量透射XRD扫描模式 Video: D8 Advance running in high throughput transmission mode for max. 90 sample positions[/size]

某同学进行吸光光度分析时，误将参比溶液调至90%而不是100%，在此条件下，测得有色溶液的透射比为35%，该有色溶液的正确透射比是多少？A 36.0% B. 34.5% C.38.9% D. 32.1%答案是C，请问这是怎么算出来的？

小弟刚刚接触到透射电镜，在论坛里面也看了很多前辈的经验，同时也下载了很多非常有用的资料。但是自己看了还是有很多不清楚的地方，向各位前辈请教下:(1) 如果XRD相当于X射线对样品绕一点在旋转，TEM是不是电子束入射方向没动，样品不动时衍射花样的结果是同一晶带轴的不同晶面，也就是衍射花样的不同点对应的不同晶面；(2) 形貌观察时踩晶带轴是什么意思，就是观察到的结果是在同一晶向下的结果；(3)试样已知，还需不需要拍摄要三张衍射花样，对应的衍射花样标定的意义是什么；(4) 以后想做些位错的观察，滑移方向如何标定。刚刚接触，看了很多资料还是没弄清楚，也不知道把问题描述清楚没有，感觉到透射电镜博大精深，有很多东西需要学也很想学到些东西，还望各位前辈结合自己的经验提些意见加以指导。谢谢！

[font=宋体]透射测量一般用于液体，需要注意尽量保证光路的准直性，减小散射、反射现象的发生，获得足够高的光谱信噪比。同时对于液体样本，还需要注意环境温度的影响，必要时可增加温度控制装置。同时对于复杂的液体，例如有悬浮颗粒的液体，还需要保证悬浮液体的均匀性，这样获得的光谱信息才具备代表性。[/font]