失真度分析仪

引言 　　通信系统中采用的许多算法和技术都是在线性系统的前提下研究和设计的，一定频率的信号通过这些网络后，往往会产生新的频率分量，称之为该网络的线性失真。失真度分析采取的常用方法有基波抑制法和谐波分析法两种。　　基波抑制法通常用在模拟失真度测量仪中，原理是采用具有频率选择性的无源网络(如谐振电桥、双T陷波网络等)抑制基波，由信号总功率和抑制基波后的信号功率计算出失真度。理想的基波抑制器应完全滤除基波，又不衰减任何其他频率。但实际上，基波抑制器对基波衰减抑制只能达到-60 dB～-80 dB，对谐波却损耗0.5 dB～1.0 dB。这种方式的失真度仪的性能主要依赖于硬件设计，调试和校准工作烦琐，一般只能实现固定1个或几个频率的失真度测量，其测量误差随着失真度降低而加大，并且随着器件老化，电路的稳定性和可靠性降低。　　谐波分析法类似于频谱分析，通常是借助数字方式的以FFF(快速傅里叶变换)为基础的算法，或者采用模拟方式的选频测量方法，从而获得基波和各次谐波的功率，计算出失真度。模拟选频方式的失真度分析仪性能高，但硬件电路复杂。数字方式的失真度分析对硬件的设计要求降低，其性能主要决定于A／D转换的精度和数字信号处理算法。仅仅采用FFT来分析失真度是远远不够的，因为测量精度与其运算量、存储空间的大小和测量速度存在明显的矛盾。 针对以上失真度测量方法的不足，本文以数字谐波分析法为基础，提出了基于DFT(离散傅里叶变换)和过零检测法的失真度分析算法，不仅可满足高精度和任意频率的测试需求，还可降低硬件设计复杂度。　　1失真度算法研究　　1.1算法分析　　失真度定义为： http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540898.jpg　　式中：u1，u2，…，uM分别为被测频率的基频、二次谐波、…、M次谐波分量的幅度有效值；E1，E2，…，EM为基频和谐波分量的能量，一般M=5或7。 从失真度定义来分析，要测量信号的失真度，只须设法将被测信号的基波与谐波分离，分别测出它们各自的功率或电压有效值，代入式(1)即可。　　DFT在DSP中通常用于对平稳信号的频谱估计，在应用中，将输入信号截短，得到的行向量X=x(n)与一个相同长度的正弦信号W=w(n)相乘积分，可得到向量X中含有正弦信号W的分量。所以，如果向量W的频率等于失真度测量的各个频率分量和它们的正交分量，则可以计算出输入信号中包含第m次谐波的能量Em： http://www.vihome.com.cn/class/UploadFiles_4704/200909/2009092213540809.jpg　　将式(2)值代人式(1)就可得到失真度值。 　　在工程测量中，被测信号的频率往往未知，而DFT计算时是确定的频率，所以应给W提供准确的频率，而且W的频率预测越准确，能量计算也越精确。　　为了准确找到基频，对采样信号采用过零检测法来测量频率，为避免噪声干扰，设置零幅度带，每通过零幅度带即为过零一次。被测信号频率由fx=N／T得到，T为时间基准，N为T内过零点数。过零检测法测频虽准确度较高，但是在标准的时间基准T中如10 ms、0.1 s、1 s等，由于被测信号与门控信号不可能同步锁定，所以存在固有的±1量化误差。本系统中如果选用1 s做时间基准的话，实时性不够。因此综合考虑实时性、存储量、处理速度之间的关系，选择T=0.1 s作为时间基准。这时±1误差被扩大10倍，为±10 Hz。为解决±1量化误差，使用以过零测频为中心，固定带宽(30 Hz)内最大值能量搜索办法(二分法)寻找基频能量最大值，经过5～7次迭代可得到准确的基频。然后直接使用此基频得到各次谐波的准确频率，并将基频和谐波频率提供给W，使用DFT就可直接估计基频和各高次谐波能量，完成失真度计算。　　1.2仿真结果分析　　使用MATLAB对上述算法进行仿真。设输入信号基频为1 kHz，并在±30 Hz范围内随机变动，信噪比20 dB，采样速率为44×103次采样／s，计算到7次谐波能量，基频能量二分法搜索带宽为30 Hz。最大值搜索时，当能量变化小于0.1％时终止，序列运算长度1 024个采样点，使用平方汉宁(Hanning)窗减少频谱泄漏。按这些条件，对500次具有随机频偏和失真特性的输入信号进行算法仿真。结果如图1所示。　　仿真结果表明，采用上述条件时，频率计算误差控制在1 Hz以下(见图1(a))；失真度误差能控制在1％以下(见图1(b))。如果终止条件更严格，测量精度可以更高。通过仿真还发现，当基频搜索时能量变化小于0.01％时终止，失真度测量误差可小于0.1％(见图1(d))。为使失真度算法更有效率，本系统采用能量变化小于0.1％时终止。　　2数字失真度测量仪硬件结构　　该系统硬件结构如图2所示。测量仪主要由信号调理、低通滤波、数据采集系统、主控制器AVR单片机(Atmega64L)、DSP(数字信号处理器)等模块组成。　　2.1信号调理和低通滤波模块　　信号调理和低通滤波的功能是对信号的幅度进行调理和滤波。信号的输入范围是不定的，小信号信噪比较低，大信号会引起A／D转换器对信号进行限幅而失真，所以采用数控可变增益放大器对信号输出电压范围进行调整，将信号的幅度控制在A／D转换器的满幅度附近。保证A／D转换器采集到的波形数据最大值仅占A／D转换器不失真输入范围的80％。低通滤波为20 kHz低通滤波器，其0.1 dB带宽为18 kHz，能有效滤除高频信号，同时保证较好的带内平坦度。　　2.2数据采集模块　　作为电子测量仪器要得到高精度的测量结果，要求A／D转换器的精度必须足够高。系统采用了TI公司的24 bit工业A／D转换器ADS1271，它可以得到低的漂移、极低的量化噪声。经ADS1271采样后的数据由DOUT引脚串行输出，与TMS320C6713的多通道缓冲串口McBSP直接相连。McBSP可支持字长为24 bit的数据，可直接接收A／D转换器输出的24 bit串行数据，并自动将接收数据中的数据位调整为DSP需要的格式。A／D转换器采样速率为44×103次采样／s。A／D转换器的采样脉冲信号由DSP的定时器提供。　　2.3数据处理模块　　DSP模块以TMS320C6713芯片为核心。该芯片是TI公司推出的一款高性能浮点DSP，内核包含了8个功能单元，采用先进的VLIW(甚长指令字)结构，使得DSP在单周期内能够执行多条指令。在225 MHz的时钟频率下，其最高执行速度可以达到1350×106次浮点运算／s。它还集成了丰富的片内外设单元，本系统主要用到的有HPI、EDMA和定时器。　　主机接口为HPI，外部主机可以直接访问内部的存储器和存储器映像存储器，TMS320C6713的HPI通过EDMA控制器实现对DSP存储空间的访问，本系统中Atmega64L是主机，可以直接配置TMS320C6713的EDMA定时器，节省TMS320C6713的查询周期。ED-MA(增强型直接存储器访问)是C621x／C671x／C64x系列DSP特有的访问方式，其启动可以由内部或外部事件触发，本系统采用外部触发。　　2.4外围设备　　失真度测试系统的控制和结果显示通过标准RS-232接口完成。因此该数字失真度测量仪可以作为一个独立测量模块集合在其他综合测试仪中。　　2.5控制模块　　主控制器使用Atmega64L单片机，完成系统的控制。DSP的处理结果由主控制器通过HPI接口获得，并缓存在内存中；当外部命令读取测试结果时，再通过RS-232接口发送出去。控制模块还完成系统的低功耗控制、DSP运行模式等控制。　　3软件实现　　图3是TMS320C6713芯片的软件流程图。该芯片受Atmega64L控制。Atmega64L根据RS-232接口获得指令，然后根据指令参数来控制仪器的运行。TMS320C6713可执行两种操作：一种是自动测量，首先对采集数据使用过零法粗测频率，然后把粗测频率作为参数传递给失真度测量程序，由失真度计算程序完成测量；另一种是定频测量，把Atmega64L传递来的频率参数直接传递给失真度测量程序完成失真度的测量，而不需要事先测量频率。　　失真度测量程序设有一个入口参数fmiddle，以此参数为中心频率在带宽30 Hz内使用最大值搜索法找寻准确的基频频率并完成失真度计算，返回值是实际测量的基频频率、信号电平、失真度。　　DSP处理完数据后，把测试结果缓存在内存中，单片机根据指令通过HPI接口读取测试结果。　　4性能分析　　测量速度是决定仪器实用性的重要因素。每计算一次失真度，基频能量二分法最大值搜索时一般需要5～7次迭代，每次迭代含3次向量乘法(2次乘法，2次加法)，取10次迭代需要30次向量乘累加操作、生成30个W向量；剩余6次谐波计算需要6个W向量，合计36个W向量。　　W向量的生成如果采用直接调用库函数，运送量太大，而

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=113818]高精度数字失真度测量仪的设计[/url]

在光谱分析仪测定过程中，精密度是重要指标之一，与光谱仪本身、方法设置、分析测试人员水平有关系，没有高精密度的方法，就无法保证数据的准确性。操作者在工作中会经常碰到测试数据波动大，常量分析ESD%大于2%等故障现象。这种现象就是数据精密度差的表现，也就是专业上所说的信号噪声大。上面阐述了等离子炬形成的条件，下面[url=http://www.huaketiancheng.com/][b]原子发射光谱仪[/b][/url]小编从环境因素、光源系统。试样引入系统和光学系统详细分析数据光谱分析仪精密度差产生的原因。　　在环境因素中，环境温度没有在规定范围内时会发生谱峰偏移；排风量不稳定会使“火焰”跳跃。例如，排风口与阵风方向相对或者快速开关实验室推拉门，容易导致排风量忽大忽小。ICP光谱仪巨力振动源（如车间）、强磁场（光电直读光谱仪）接近，会导致数据不稳定。可以采取控制环境因素的办法来保证，它是保证光谱分析仪数据精密度的必要条件之一。　　光谱分析仪开机后，光室温度变化应小于±1°C，若光谱分析仪温度未稳定在该值，光室内光学元素由于受温度影响，各光学元件的相对位移产生变化，导致待分析谱线位置漂移和分析数据失真。因此仪器主要应充分预热，在光室温度稳定在其仪器额定值时才可以进行测定。　　在光源系统中，等离子炬温度也会影响其精密度变化，影响因素有载气流量。载气夜里、频率和输入功率和低点离电位的释放及。载气流量增大，中心部位温度下降；温度随载气气压的降低而增加；频率和输入功率的增大激发温度随之增高；引入低点离电位的释放剂的等离子体，其温度将增加。RF功率不稳定会影响数据精密度，如果RF功率有1%的漂移，元素强度值就能发生1%的变化，其原因是因为氩气不纯或者循环水温度突然发生变化造成的，可以用氩线的稳定性来检测。　　在光谱仪试样引入系统中，首先要检测样品溶液是否均匀，比如容量瓶定容是否摇匀；查看仪器登记记录，检查等离子气的流量和压力、雾化气体的流速和压力及试液提升量等指标是否和上次一致，这是因为气体压力和流量的变化会影响到原子化效率和基态原子的分布导致数据精密度变差；由于仪器长时间进行检测工作，蠕动泵管弹性变差。蠕动泵管的经常挤压部位颜色变暗时，蠕动泵管则需要更换。上节所述进样系统毛细管、泵管、雾化器和中心管发生堵塞或者炬管太脏，会使雾化效率降低导致数据精密度表差，可采用延长冲洗时间，试样盒硝酸溶液（1＋5）间隔进样等两种方式来解决，有机样品用煤油解决。泵夹优化不好，或者泵管泵夹松动，致使进样不均匀导致光谱强度值发生改变，可重新设置泵速，调节泵管，并且经常要给泵柱和轴承上油保持其润滑。　　影响光谱分析仪的其他方面，分析谱线的选择不合适，多数靠近CID边缘20个像素的谱线强度通过较低也会导致数据精密度变差，尽管它们有的谱线没有光谱干扰，但是位于紫外区波长190nm元素谱线以下的建议少用，如果要用，应用99.999%的氩气吹扫检测器8h以上。快门故障或者狭缝积灰导致部分元素数据精密度变差，其特点是长波谱线、短波谱线要么分别变差要么同时变差。此故障可以采取延长积分时间来应急，等待维修人员维护。谱线积分时间不会增加信号的强度，但可以改善精密度与检出限。不过太长的积分时间将影响的分析速度。　　对于用光电倍增管做检测器的光谱分析仪，还应该注意曝光很差也会影响数据的精密度，故障现象可以分为全部元素差和部分元素差。如果发生全部元素差的现象，操作者可以通过一次检查高压电源输出是否稳定，实验灯是否接触不了，高压插头是否没有插牢和积分箱输出控制芯片是否失效。光电倍增管座是否损坏，高压衰减器拔盘开关是否完好以及该元素的积分拨盘是否完好等方面确认故障。

一、什么是功率分析仪有效带宽？　　功率分析仪有效带宽是指功率分析仪能够测量和分析的信号的最高频率。　　周期信号的频谱由幅度谱和相位谱组成。频谱的包络线每隔一个角频率时，通过零点。在某一个零点之后，谐波的幅值将会逐渐减小。通常将包含主要谐波分量的这段频率范围称为被测信号的有效带宽。　　被测信号的有效带宽必须小于功率分析仪的有效带宽，换言之，功率分析仪的有效带宽必须大于被测信号的有效带宽，才不会对被测信号造成明显的衰减或失真。　　功率分析仪测量信号的有效带宽与阶跃响应的上升时间成反比。　　功率分析仪有效带宽是仪器频率特性中的重要指标，具有实际应用意义。在功率分析仪有效带宽内，必须集中了所测信号的绝大部分谐波分量。换句话说，若信号丢失有效带宽以外的谐波成分，不会对信号产生明显影响，这样的测量才会有意义。同样，任何系统也有其有效带宽。当信号通过系统时，信号与系统的有效带宽必须“匹配”。若信号的有效带宽大于系统的有效带宽，则信号通过此系统时，就会损失许多重要成分而产生较大失真；若信号的有效带宽远小于系统的有效带宽，信号可以顺利通过，但对系统资源是巨大浪费。二、什么情况下功率分析仪有效带宽会出现混叠现象？　　当功率分析仪对连续信号进行等间隔采样时，如果不能满足采样定理，即采样频率低于功率分析仪有效带宽的两倍，采样后信号的进行频谱分析时，会出现率就会重叠，即高于采样频率一半的频率成分将被重建成低于采样频率一半的信号。这种频谱的重叠导致的失真称为混叠。这种情况下是功率分析仪有效带宽过宽或采样频率过低导致。只有提高采样频率，使之达到最高信号频率的两倍以上，或降低功率分析仪有效带宽，使其低于采样频率的二分之一，才能用采样样本正确还原信号；　　抗混叠滤波器：是一个低通滤波器，用以在输出电平中把混叠频率分量降低到微不足道的程度。这种滤波器是将信号的高频信号滤去，是对原始信号的一种预处理，使信号达到跟功率分析仪有效带宽“匹配”的要求。三、什么情况下功率分析仪有效带宽可以欠采样？　　有些功率分析仪采用欠采样技术，欠采样是指采样频率低于两倍的功率分析仪有效带宽，违反采样定理。但是，当信号属于较严格周期信号时，对连续多个周期尽心欠采样，而每个周期的采样序列有一个固定的延时。比如说，采样频率为100kHz，采样周期为10nS，第一个周期从0时刻开始采样，而第二个周期5nS（从二分之一采样周期）处开始采样，然后，将两个周期的采样数据合并，就得到了一个周期的200kHz采样频率的采样样本序列。欠采样技术在信号并非严格周期信号时，会有较大的误差。 信号上升时间与宽带有什么关系呢？请看：http://www.vfe.cc/NewsDetail-1819.aspx

要买一台湿度分析仪，看花眼了，不知道买哪家的好？大家有没有好的建议啊？

最近想购买氢气纯度分析仪要求0.9999，氩气纯度分析仪要求0.999，请大家给推荐几个厂家和型号。

? ?湿度，一般在气象学中指的是空气湿度，它是空气中水蒸气的含量。空气中液态或固态的水不算在湿度中。在一定的温度下在一定体积的空气里含有的水汽越少，则空气越干燥；水汽越多，则空气越潮湿。? ? ?如果室内湿度过大，光谱分析仪中的光学元件、光电元件、电子元件等受到潮湿后，易发生锈蚀、霉变等现象导致仪器接触不良、性能下降，甚至报废。潮湿的环境还容易使仪器的绝缘性能变差，产生不安全的因素。例如在光谱分析仪光学系统里光栅因湿度过大容易受潮发毛烧坏出现电容打火、高频发生器使等离子体不容易点燃等现象，严重时还会发生高压电源和高压电路放电击毁元件导致高频发生器损害，如功率管被击穿，输出电路阻抗匹配、网络中的可变电容放电等。? ? ? 湿度太大有时也会对光谱分析仪的传动部分容易生锈而卡死，例如蠕动泵和狭缝弹簧因生锈传动较差；光路系统易产生雾气，对光谱分析仪的光谱透光率影响较大；上述问题直接导致数据精密度变差。如果湿度过低会出现样品易挥发和易产生静电干扰现象（导致室内灰尘过多）导致电路板损害；严重时还会对操作者身体健康带来危险，例如口干舌燥、眼干鼻塞和咽喉肿痛，严重者还会患上各类呼吸道疾病。建议置放光谱分析仪的光谱室湿度最低不要低于45%RH，把湿度控制在（45~70）%为最佳范围。

[font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

频谱分析仪是一种常用的[url=http://www.d117w.com]电子测试测量仪器[/url]，主要用于射频和微波信号的检测，在许多领域有一定的应用。频谱分析仪的功能相对比较强大，初学者在使用光谱仪方面有一些常见的问题需要用户的注意，在使用频谱分析仪测试容易进入一些误区和疑惑。今天的小编向大家介绍[url=http://www.d117w.com/xwzx/cjwt/539.html][b]频谱分析仪使用的常见六大问题[/b][/url]。[align=center][img=频谱分析仪]http://www.d117w.com/uploads/171223/1-1G223145I3913.jpg[/img][/align][b] 频谱分析仪六大常见问题解答[/b]　　Q1：如何设置频谱仪最佳的灵敏度观察微弱信号　　A：首先根据被测小信号的大小设置相应的中心频率、扫宽(span)以及参考电平 然后在频谱分析仪没有出现过载提示的情况下逐步降低衰减值 如果此时被测小信号的信噪比小于15db，就逐步减小rbw，rbw越小，频谱分析仪的底噪越低，灵敏度就越高。　　如果频谱分析仪有预放，打开预放。预放开，可以提高频谱分析仪的噪声系数，从而提高了灵敏度。对于信噪比不高的小信号，可以减少vbw或者采用轨迹平均，平滑噪声，减小波动。　　需要注意的是，频谱仪测量结果是外部输入信号和频谱分析仪内部噪声之和，要使测量结果准确，通常要求信噪比大于20db。　　Q2：分辨率带宽(rbw)是不是越小越好?　　A：rbw越小，频谱分析仪灵敏度就越好，但是，扫描速度会变慢。最好根据实际测试需求设rbw，在灵敏度和速度之间找到平衡点-既保证准确测量信号又可以得到快速的测量速度。　　Q3：平均检波方式(averagetype)如何选择：power?logpower?voltage?　　logpower对数功率平均：又称videoaveraging，这种平均方式具有最低的底噪，适合于低电平连续波信号测试。但对”类噪声“信号会有一定的误差，比如宽带调制信号w-cdma等。　　功率平均：又称rms平均，这种平均方式适合于“类噪声“信号(如：cdma)总功率测量。　　电压平均：这种平均方式适合于观测调幅信号或者脉冲调制信号的上升和下降时间测量。　　Q4：扫描模式的选择：sweep还是fft?　　A：现代频谱仪的扫描模式通常都具有sweep模式和fft模式。通常在比较窄的rbw设置时，fft比sweep更具有速度优势，但在较宽rbw的条件下，sweep模式更快。　　当扫宽小于fft的分析带宽时，fft模式可以测量瞬态信号 在扫宽超出频谱分析仪的fft分析带宽时，如果采用fft扫描模式，工作方式是对信号进行分段处理，段与段之间在时间上存在不连续性，则可能在信号采样间隙时，丢失有用信号，频谱分析就会存在失真。这种类型信号包括：脉冲信号，tdma信号，fsk调制信号等。　　Q5：检波器的选择对测量结果的影响?　　peak检波方式：选取每个bucket中的最大值作为测量值。这种检波方式适合连续波信号及信号搜索测试。　　sample检波方式：这种检波方式通常适用于噪声和“类噪声”信号的测试。　　negpeak检波方式：适合于小信号测试，例如，emc测试。　　normal检波方式：适合于同时观察信号和噪声。　　Q6：跟踪源(tg)的作用是什么?　　A：跟踪源是频谱分析仪上的常见选件之一。当跟踪源输出经被测件的输入端口，而此器件的输出则接到频谱仪的输入端口时，频谱仪以及跟踪源形成了一个完整的自适应扫频测量系统。跟踪源输出的信号的频率能精确地跟踪频谱分析仪的调谐频率。频谱仪配搭跟踪源选件，可以用作简易的标量网络分析，观测被测件的激励响应特性曲线，例如：器件的频率响应、插入损耗等。　　以上给大家解答了一些关于频谱分析仪在使用过程中经常遇到的一些问题，遇到这些问题可以根据频谱分析仪工作原理来分析。通过对于频谱分析仪的常见问题的了解，在对于频谱分析仪的使用可加深了解，能够更快的提高效率。

谁有好一点浊度分析仪厂家，推荐几家撒，我们这边用了一批效果非常的不好。

【题名】：浊度分析仪说明书【全文链接】：http://www.doczj.com/doc/1511763712.html

要检测高纯氮纯度，用氮气分析仪好用吗？好像氮气分析仪原理是用来检测工业氮的， 而且准确可靠否心里很没底。各位帮帮忙好吗？有实际经验的就更好了先谢！

是否可用粒度分析仪分析乳化液的颗粒大小

另外还要特别注意：首先对气候比较湿润地区的用户，必须配置大于50L的除湿机一台，不然光谱分析仪由于受潮难于正常工作。例如在梅雨季节光谱分析仪发生故障的频次比其他季节要高，原因就是空气中的湿度高造成的。其次房间地面应该采用防潮处理，工作房间不应该选择楼底，二楼比较合适，平时地面不应该用湿拖把清扫地面，最好用吸尘器或半干拖布来处理；如果不常用，每天必须通电一次，通过部分电量损失发热出去电子元件上的水分，梅雨季节更要经常开机，利用内部散发的热量来除潮；电器元件受潮后会降低绝缘性能，可用热吹风吹干，禁止贸然使用，否则会击穿电器元件发生短路造成光谱分析仪电路系统被烧毁；对于比较干燥的地区，可以根据室内湿度波动酌情处理，如果常年大部分时间湿度都保持在（55±10）%RH波动，可不配置除湿机。

各位专家，我们公司想采购一台颗粒度分析仪，进行气体颗粒度的分析，但是价格比较贵，听说德国的性价比比较高，不知道有什么比较好的牌子推荐下。谢谢~~~

最近要买一套奥氏气体分析仪主要分析氢气纯度和微量氧含量，现在什么型号好1904还是1903，不知道大家有没有别的更好的方法？请告知下[color=#f10b00]欢迎询问[/color]

哪位大神有激光粒度分析仪操作规程

近期想买台国产的粒度分析仪，对此不熟悉，求推荐！（广告勿入）

请问：是否有可以分析酸性化学镀镍的镀液中镍离子浓度的分析仪、次磷酸钠浓度的分析仪和亚磷酸钠的浓度分析仪？

欧美克激光粒度分析仪操作规程

粒度分析仪，当被测颗粒的某种物理特性或物理行为与某一直径的同质球体（或其组合）最相近时，就是把该球体的直径（或其组合）作为被测颗粒的等效粒径（或粒度分布）。粒度测量实质上是通过把被测颗粒和同一种材料构成的圆球相比较而得出的；不同原理的仪器选不同的物理特性或物理行为作为比较的参考量，例如：沉降仪选用沉降速度、激光粒度仪选用散射光能分布、筛分法选用颗粒能否通过筛孔等等；将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时，有时能找到一个（或一组）在该特性上完全相同的球体（如库尔特计数器），有时则只能找到最相近的球体（如激光粒度仪）。由于理论上可以把“相同”作为“近似”的特例，所以在定义中用“相近”一词，粒度分析仪使定义更有一般性；将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时，有时能找到某一个确定的直径的球与之对应，有时则需一组大小不同的球的组合与之对应才能最相近。

超过2400度的同步热分析仪哪家的做好。近一周就要买了啊( ⊙ o ⊙ )啊！

激光粒度分析仪哪个品牌的好

如题，最近想买台测定气体相对密度分析仪的设备，谁知道那家买啊？

[font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/size][/font]

[font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/size][/font]

[color=#333333] 粉尘粒度分析仪采用斯托克斯原理和比尔定律测定粉尘粒度分布(分散度)。与常规方法相比省去天平称重和显微镜数数等繁杂工作。读数直观，测定结果自动储存，也可由用户根据需要选择，把结果通过显示屏或打印机输出。仪器具有掉电保护功能，可储存40 次粒度分布数据，储存的数据可根据用户意图进行清除。是粉尘实验室使用的理想仪器。[/color][color=#333333]主要技术指标：粉尘粒度分布测定范围：0～150µ m(测定粉尘累积质量筛上分布，粉尘粒度分级为150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1µ m)测定误差：d40µ m时，粉尘粒度分布重复测定误差≤10%，粉尘粒度测量误差(120004a微粒标准物质为试验粉尘)：d50=10～13μm[/color][color=#333333][/color][color=#333333]网上查到的如MD-1型粉尘粒度分析仪的性能如何？[/color]

[font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广，与传统方法相比，测试过程不受温度变化、介质黏度，试样密度及表面状态等诸多因素的影响，只要将待测样品均匀地展现于激光束中，就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一：测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作，电路中的电子元件都有一个关键的技术参数，元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化，温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以，粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示，一般而言，用户在粒度分析仪头一次的开机过程中，关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二：系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三：系统参数设置。技术人员表示，在激光粒度分析仪的主菜单界面，操作人员应用鼠标左键单击“设置”，屏幕上弹出“设置”子菜单，在该栏上输入：样品名称、测试人等项内容，才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四：样品准备。据悉，样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品，选取适当的悬浮液和分散剂，将样品与悬浮液混合，并让样品颗粒在悬浮液中充分分散，而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

请推荐高灵敏度的NOx分析仪,谢谢！浓度范围0-50ppmNOx；NO，NO2分别读数；灵敏度高，原理化学发光法，最好能读到ppb级。谢谢

各位同行： 你们好！ 近期我所准备建酶标分析仪标准，所以我学习了JJG861—2007《酶标分析仪》，并通过从网上获得的该规程的宣贯资料，对酶标分析仪的检定作了些了解。觉得其性能指标灵敏度值得思考。 规程的第5.3.6款给出的灵敏度的检定方法如下：选用450nm波长或仪器特有的专一波长，使用适合量程并经检定合格的A级加样器，在未包被抗源或抗体的微孔酶标板的某一孔中，加入5mg/L的酶标分析仪用灵敏度溶液标准物质，测量吸光度。虽然规程没有直接说，但看得出规程的本意是将测得的分光度除以该酶标分析仪用灵敏度溶液标准物质的浓度5mg/L，则得到该酶标分析仪的灵敏度（L/ mg）。 值得思考的是：按理被测物一定（包括其浓度度和液层厚度一定），则其吸光度就是客观存在的，并不应该由于用来检测的仪器不同而不同。一次难得的机会，使我有幸请教了我们化学计量的权威专家得知：由于酶标分析仪的制造技术水平高低，真的会由于诸如单色光的单色纯度高低等原因，使得对于一定的被测物，会有不同的吸光度。既然是这样，我提出可以用类似于酸度计和电导率仪那样用仪器误差来反映酶标分析仪的综合性能的优劣。而不要用灵敏度该性能指标，因为作为反映灵敏度的指标，我们希望他越大越好。显然，在我们这里绝对不是说测得的吸光度越大越好，而应该是越接近被测的浓度度和液层厚度一定的实际吸光度值越好。而我请教的老师告诉我：在化学计量里，真要用误差反映仪器性能很难，一般不轻意用误差。很显然在这用灵敏度来反映该性能也是不得已而为之。 所以值得思考：用什么性能指标反映酶标分析该性能，且又用什么方法来检测该性能指标更好！