[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702261345_42699_1721900_3.gif[/img]如图,假设模拟的衍射花样是这样.那么真实的衍射花样是什么样?其中比较暗的部分是不是看不到? 还是说很难分辨亮度的差别?另外,如何在众多衍射中找到和模拟衍射花样一致的那个晶带轴.请大家给点经验之谈.多谢/[em61] [em61] [em61]
我是在校学生，昨天用一台TU1901带积分球附件的仪器测量二氧化钛粉末，走基线用的是两个硫酸钡白板，测量用的是0度角测量二氧化钛粉末的反射率，波段是500NM-----200NM，结果在可见区一部分出现了反射率为103%，紫外区300----200NM出现了-4%的反射率，这个值在理论上应该是无法解释的，静态情况下做基线平直度，和波长准确度，都合乎出厂指标，有没有大侠帮我解释下原因处在哪里，是我的样品，亦或其他什么问题？？？？？？？？？
[b][b][font=宋体]概述[/font][/b][/b][font=宋体]稳态太阳光模拟器是一种可以模拟太阳光谱、光强、光照时间等参数的设备，常用于室内环境下对材料、器件、产品等的测试和评估。通常由光源、光学系统、控制系统等组成。[/font][font=宋体]模拟光源可以采用氙灯、汞灯、金属卤化物灯等，这些光源能够发出相近于太阳光谱的光线，以模拟太阳光照射下的环境。光学系统可以对光线进行聚焦、分散、滤波等处理，以达到所需的光强和光谱分布。控制系统可以控制光源的开关、光强、光照时间等参数，以便进行不同条件下的测试和评估。稳态太阳光模拟器[/font][font=宋体][font=宋体]提供一个接近自然日光的环境，不受环境、气候和时间等因素影响实现[/font][font=Calibri]24[/font][font=宋体]小时不间断光照。[/font][/font][img=光降解之太阳光模拟器,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311261121287227_2939_5724447_3.jpg!w690x387.jpg[/img][b][b][font=宋体]设备详情[/font][/b][/b][font=宋体]稳态太阳光模拟器[/font][font=宋体]设备采用氙气灯[/font][font=宋体]作为核心光源[/font][font=宋体][font=宋体]，辐照强度在[/font][font=Calibri]600[/font][font=宋体]～ [/font][font=Calibri]1200W/m[/font][font=宋体]2可调。为了确保有效辐照面积的均匀性，每套灯采用独立的 [/font][font=Calibri]EPS [/font][font=宋体]实时反馈控制，确保灯的恒功率输出能量，单个光源系统可以实时模拟量信号输出至采集器。为达到辐照面积[/font][font=Calibri]1m[/font][font=宋体]×[/font][font=Calibri]1m [/font][font=宋体]设备总共采用 [/font][font=Calibri]4 [/font][font=宋体]组光源。[/font][/font][font=宋体]其他辐照面积可根据用户需求定制生产。[/font][font=Calibri]1) [/font][font=宋体][font=宋体]光源特性：[/font][font=Calibri]1000 [/font][font=宋体]小时光强衰减小于 [/font][font=Calibri]10[/font][font=宋体]％ （采用 [/font][font=Calibri]EPS[/font][font=宋体]）[/font][/font][font=Calibri]2) [/font][font=宋体]排布方式：线性阵列排布，计算机模拟空间分布[/font][font=Calibri]3) [/font][font=宋体][font=宋体]光源寿命：[/font][font=Calibri]1000h+[/font][font=宋体]（更换光源以满足[/font][font=Calibri]3000H[/font][font=宋体]）[/font][/font][font=Calibri]4) [/font][font=宋体][font=宋体]光源质保：[/font][font=Calibri]1000h[/font][/font][font=Calibri]5) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照强度：[/font][font=Calibri]600[/font][font=宋体]～[/font][font=Calibri]1200W/m[/font][font=宋体]2（此范围内可调）[/font][/font][font=Calibri]6) [/font][font=宋体][font=宋体]波段：[/font][font=Calibri]350[/font][font=宋体]～[/font][font=Calibri]1100nm[/font][/font][font=Calibri]7) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照面积：[/font][font=Calibri]1m[/font][font=宋体]×[/font][font=Calibri]1m[/font][/font][font=Calibri]8) [/font][font=宋体][font=宋体]光谱匹配度：[/font][font=Calibri]A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]9) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照度不均匀性：[/font][font=宋体]≤± [/font][font=Calibri]2% A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]10) [/font][font=宋体][font=宋体]不稳定性：[/font][font=Calibri]LTI[/font][font=宋体]≤± [/font][font=Calibri]2% A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]11) [/font][font=宋体][font=宋体]单组灯的功率为：[/font][font=Calibri]1-3kw[/font][/font][img=光降解之太阳光模拟器,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311261122009141_2160_5724447_3.jpg!w690x690.jpg[/img][b][b][font=宋体]应用领域[/font][/b][/b][font=宋体][font=宋体]广泛应用于太阳能电池特性测试、染料敏化电池（[/font][font=Calibri]DSSC[/font][font=宋体]）、钙钛矿电池（[/font][font=Calibri]PSC[/font][font=宋体]）、光电材料特性测试、生物化学相关测试、光学催化降[/font][/font][font=宋体]解加速研究、皮肤化妆用品检测和环境研究等。[/font][b][b][font=宋体]专业术语定义[/font][font=黑体][font=Arial]1[/font][font=黑体]、光谱匹配[/font][/font][/b][/b][font=宋体]光谱匹配度太阳光模拟器的光谱匹配度是指太阳光模拟器的光谱辐照度分布与太阳光的标准光谱分布的匹配程度，一般用太阳光模拟器在每个波长范围内辐射的能量百分比与标准太阳光在同样波长范围内辐射的能量的百分比的比率表示。太阳光标准光谱辐照度分布情况见表。[/font][table][tr][td=3,1][align=center][b][font=宋体]表[/font][/b][font=宋体] [/font][b][font=宋体]1[/font][/b][font=宋体] [/font][b][font=宋体]标准光谱辐照度分布[/font][/b][/align][/td][/tr][tr][td=1,2][align=center][font=宋体][font=宋体]波长范围[/font][font=宋体]/nm[/font][/font][/align][/td][td=2,1][align=center][font=宋体][font=宋体]占有效波段内积分辐照度的百分比[/font][font=宋体]/%[/font][/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]AMO条件[/font][font=宋体][/font][font=宋体](有效波段300 nm~ 1100 nm)[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]AM1.5G条件[/font][font=宋体][/font][font=宋体](有效波段400 nm~ 1100 nm)[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]300～400[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]9.4[/font][/align][/td][td][font=宋体] [/font][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]400～500[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.5[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.4[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]500～600[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.6[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]19.9[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]600～700[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]15.8[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.4[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]700～800[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]12.8[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]14.9[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]800～900[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10.2[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]12.5[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]900～1100[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]14.7[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]15.9[/font][/align][/td][/tr][/table][align=center][font=宋体]标准光谱辐照度分布[/font][/align][b][font=黑体]2、[/font][b][font=黑体]辐照不均匀性[/font][/b][/b][font=宋体]表示太阳模拟器参数的光束在空间上的均匀程度。均匀性不好的模拟器会影响测试的结果，一般情况下导致测试值比实际值偏小。[/font][font=宋体][font=宋体]真实的太阳光在空间分布中是非常均匀的，但人造的光源并并不是。根据[/font][font=Calibri]ASTM[/font][font=宋体]的规定，太阳模拟器辐照不均匀度的计算公式如下：[/font][/font][font=宋体]太阳模拟器辐照不均匀度等级评定标准如下表：[/font][align=center][font=宋体]太阳光模拟器[/font][font=宋体]辐照不均匀[/font][/align][table][tr][td=1,2][align=center][font=宋体]等级[/font][/align][/td][td=1,2][align=center][font=宋体]光谱匹配到所有中指定的间隔[/font][/align][/td][td=1,2][align=center][font=宋体]空间非均匀性辐照度[/font][/align][/td][td=2,1][align=center][font=宋体]时间不稳定性[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]短期不稳定性辐照度[/font][/align][align=center][font=宋体]STI[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]长期不稳定性辐照度[/font][font=宋体]LTI[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]A+[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.875----1.125[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]1%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.25%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]1%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]A[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.75---1.25[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.5%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]B[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.6---1.4[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]5%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]5%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]C[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.4---2.0[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][/tr][/table][b][font=黑体]3、[/font][b][font=黑体]辐照时间不稳定性[/font][/b][/b][font=宋体]表示太阳模拟器光束辐照度在时间上的稳定性。真实的阳光辐照度在一段（短）时间内是非常稳定的，因此太阳模拟器的辐照度也应具有一定的稳定性。辐照稳定度对测试结果的可参考性提供了前提。[/font][font=宋体][font=宋体]等级[/font][font=Calibri] [/font][font=宋体]辐照时间不稳定性[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]A 2%[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]B 5%[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]C 10%[/font][/font]
太阳模拟器作为光源，在某种意义上说，可以等同于太阳光源，可以模拟太阳光照射。太阳模拟器广泛应用于太阳能电池特性测试，光电材料特性测试，生物化学相关测试，光学催化降解加速研究，皮肤化妆用品检测，环境研究等。 随着太阳能光伏产业的蓬勃发展，太阳能模拟器的光谱匹配性能测试也越趋重要。针对大多数采用脉冲氙灯作为光源的设备，最理想的测试状态是采集一个脉冲周期内不同时间点的绝对辐射光谱，进而判断该太阳能模拟器的光谱等级。目前采用微小型的光纤光谱技术是实现太阳能模拟器光谱测量最简单可靠的方法。设备和方法 1、稳态光谱采集 根据IEC60694-9标准要求，太阳模拟器有效光谱范围是400-1100nm，这就需要光谱测试设备可同时采集到400-1100nm范围的绝对光谱数据，并且在整个波段范围内都具有较高的信噪比，以保证测试数据的可靠性。荷兰Avantes公司的AvaSolar光纤光谱仪，采用高信噪比的薄型背照式CCD探测器，其在200-1100nm均具有良好的光谱响应，以确保得到高质量的光谱数据。同时该套系统出厂时就进行了NIST可溯源的绝对辐射标定，可直接得到稳态的模拟器的辐照度光谱信息。 2、 瞬态光谱采集 基于AvaSolar光谱仪特有的快速采集功能，也可应用在瞬态模拟器的光谱检测中。AvaSolar最多可实现每秒钟450幅光谱的采集，不管模拟器的工作模式是单次脉冲、多次频闪，无论脉冲弛豫时间是小到2ms，还是较长的6s，AvaSolar系统均可得到真实可靠的辐照度数据。 3、光谱匹配度太阳模拟器的光谱匹配度是指在6个指定光谱范围内强度积分的百分比。任何与标准光谱的偏离百分比都必须在一定的范围内，这也正是衡量太阳模拟器等级的一项标准。对于A类太阳模拟器，光谱匹配度必须在75% - 125%之间。Ideal Spectral Match Defined by IEC StandardsSpectral MatchSpectral Range (nm) Ideal %400 - 500 18.4500 - 600 19.9600 - 700 18.4700 - 800 14.9800 - 900 12.5900 - 1100 15.9 利用AvaSoft-Solar软件特有的能量积分功能，可得到不同光谱范围内的辐照度总和（单位：µW/cm2），从而帮助判断该太阳能模拟器的光谱等级。如下图所示，同时对上述6个指定光谱范围的辐照强度进行能量积分计算。 4、 模拟器等级判断 AvaSoft-Solar软件可按照IEC60694-9标准上所述要求，根据测试得到的模拟器辐照度光谱数据直接给出模拟器的等级，可给出不同波段范围内的匹配度，以帮助用户更好的判断模拟器的性能。 5、 扩展功能 ⑴紫外老化仪光谱测量 对于设有可靠性试验室的用户来说，紫外老化也是检测光伏产品性能必不可少的环节，这也就需要针对紫外老化仪的光谱及辐照度进行有效的检测。由于AvaSolar主机可覆盖200-1100nm的光谱范围，因此AvaSolar该套系统可以直接用来进行紫外老化仪的光谱检测。 ⑵光伏组件玻璃板透过率测量 AvaSolar光谱仪不但可进行绝对辐照光谱的检测，同时可对光伏组件厂所用的大面积玻璃进行透过率的测量。仅需要在原有AvaSolar系统的基础上额外配置照射光源、积分球及光纤即可。对于工业用大尺寸的玻璃的透过率的检测，需要用户根据不同的现场测试要求自行设计积分
请教各位高手，用什么方法模拟电子衍射图谱及对单胞如何模拟。有这方面的软件吗？哪里有下载的。 非常感谢！！！
你的[color=#DC143C][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url][/color]采用什么样的进样模式?进样量是多少?如 阀程序自动时样；手动阀进样；注射器进样；等等。
随着电镜附件的增加，边缘分析技术越来越多，好像令人眼花缭乱，但是透射电镜本身的一些基本功能还是没有多少人能做好，那么透射电镜的基本操作模式都有哪些？不同的样品能得到什么样的信息呢？比如我前面讲到SAED的几种花样，信息很丰富，而且我讲了那么多，还是没有完全讲完，大家多多补充！！[em05]
海洋光学（www.oceanopticSChina.cn）近日推出一款 RaySphere 光学测量系统，用以测量太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度。RaySphere系统可测量从紫外线到近红外光谱（380-1700nm）的不同光谱范围的绝对辐照度（mW/cm2/nm）。作为一种用于验证已安装的太阳能闪光灯输出的工具，RaySphere 特别适用于太阳光模拟器制造商以及研发实验室。太阳光模拟器的闪光可用于目的为根据光谱反应组合细胞像素的光电制造流程、以及目的为测量最终光电效能的光电制造流程。RaySphere 的系统具有必要的精确度和分辨率，以测量和分析闪光器的性能和稳定性，并通过高级的低频抖动方式触发电子设备为闪光测量计时。RaySphere 的刻度经过公认的认证实验室的确认，以确保精确的探测，并使太阳能闪光灯和太阳光模拟器的评估和资格认证符合由 ASTM 和 IEC（IEC60904-9 2007）等标准制定机构制定的标准。两台热电冷却探测器使太阳能闪光灯的光谱分析（380-1700nm）可复验性高且准确。第二种型号的 RayShere 含有一个冷却探测器，以测量最多 1100nm 的光谱。该系统同时包含高级、高速的电子设备，以及直观、强大的软件界面。极少的测量次数可实现在闪光期间，甚至于闪光间隔期间的完整光谱检测。此外，测量还可以由一个快速反应的发光二极管促发。该二极管可在百万分之一秒内通过增加闪光强度而做出反应。
示波器作为仪表检测设备经常会用到的，例如NPXM-2011P5H智能数显仪和氧化锆氧气含量分析仪等信号显示。示波器分为数字示波器和模拟示波器。数字示波器由于采用了数字处理和计算机控制技术使功能大大增强，而模拟示波器由于新电路、新器件的应用也有很多实用的特色。 模拟示波器的某些特点，是数字示波器所不具备的，特别是如下几点。 （1）操作简单。全部操作都在面板上可以找到，波形反应及时，数字示波器往往要较长处理时间。 （2）垂直分辨率高。连续而且无限级，数字示波器分辨力一般只有8～10位（bit）。 （3）信号能实时捕捉因而更新快。每秒捕捉几十万个波形，数字示波器每秒捕捉几十个波形。 （4）实时带宽和实时显示。连续波形与单次波形的带宽相同，数字示波器的带宽与取样率密切相关，取样率不高时容易出现混淆波形。 模拟示波器显示的是实时的波形，人眼的视觉神经十分灵敏，屏幕波形瞬间变化反映至大脑即可做出判断，细微变化都可感知。这种特点使模拟示波器深受使用者的欢迎。 数字示波器首先在提高取样率上下工夫，从最初取样率等于两倍带宽，提高至五倍甚至十倍，相应对正弦波取样引入的失真也从100%降低至3%甚至1%。带宽IGHz的取样率就是5GHz/s，甚至IOGHz/s。 其次，提高数字示波器的更新率，达到模拟示渡器相同水平，最高可达每秒40万个波形，使观察偶发信号和捕捉毛刺脉冲的能力大为增强。 另外，数字示波器采用多个微处理器加快信号处理能力，从多重菜单的繁琐测量参数调节，改进为简单的旋钮调节，甚至完全自动测量，使用上与模拟示波器同样方便。 数字示波器与模拟示波器一样具有屏幕的余晖方式显示，赋予波形的三维状态，即显示出信号的幅值、时间以及幅值在时间上的分布。具有这种功能的数字示波器称为数字荧光示波器或数字余晖示波器，即数模兼合。因而数字示波器要有模拟功能。 模拟示波器用阴极射线管显示波形，示波管的带宽与模拟示波器的相同，亦即示波管内电子运动速度与信号频率成正比，信号频率越高，电子束扫描的速度越快，示波管屏幕的亮度与电子束的速度成反比，低频波形的亮度高，高频波形的亮度低。 数字示波器缺少余晖显示功能，因为它是数字处理，只有两个状态，非高即低，原则上波形也是“有”和“无”两个显示。但是由于数字示波器已经达到4GH。以上带宽的水平，配合荧光显示特性，总的性能优于模拟存储示波器。 数字荧光示波器（DPO）为示波器系列增加了一种新的类型，能实时显示、存储和分析复杂信号的三维信号信息：幅度、时间和整个时间的幅度分布。 普通数字示波器要观察偶发事件需要使用长时间记录，然后做信号处理，这种办法会漏掉非周期性出现的信号和不能显示出信号的动态特性。数字荧光示波器能够显示复杂波形中的细微差别，以及出现的频繁程度。例如，观察电视信号，既有行扫描、帧扫描、视频信号和伴音信号，还要记录电视信号中的异常现象，都是很重要的。
薄膜模式（掠入射x射线扫描)和常规模式（粉末模式）扫描得到的峰不在一个位置上 乱七八糟的 怎么分析啊？我的样品是单晶硅（100） 上镀的sic薄膜，薄膜模式扫描的时候角度为2度。那位高人给我看下，这两种模式下的峰是不是要放在一起分析呢，找了一下午了， sic90多张卡片都找了一编，头都大了。高手快来替我分析下啊 。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=191803]新建 Microsoft Word 文档.doc[/url][~191822~]
如题，请问怎么模拟出现高阶衍射斑点的衍射花样，或者谁有模拟的程序或者软件，求大神帮忙了
求助各位大佬，油品运动粘度测定时，由于油样太粘稠，用注射器抽取、注射油样进设备时极其困难，该如何解决？
蒸发光散射检测器奥泰3300进样漏液有何，有没有解决办法
关于衍射花样的模拟计算，输入原子坐标，假如需要考虑占位率的问题，大家是怎么处理的？
1、用显微红外透射模式测了一个垫圈烧焦的样品，得到下面这张图，是不是样品透过率低测不出来呢？2、为什么图谱是这么多小的杂峰呢？用反射模式会不会效果好一点？3、透射模式和反射模式设置参数哪里不一样啊？http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/04/201204212352_362713_2378712_3.jpg
请问使用dimond,CaRIne 模拟XRD衍射峰和TEM衍射花样，能发表文章吗？有没有版权的问题？
运动学模拟电子衍射花样的时候，某些点计算出来强度是非常小的（在1 E-7~ -8量级，假如透射斑为1），所以把判断值设高一点那么这个点显然画不出，如果把值设低一点这个点则可以画出来出来。但从空间群图标来看的话，这个点应该是消光的，但是模拟出来强度有个数值只是非常小。这个时候怎么取舍呢？而且实验的衍射结果的话那个点是出现的，由于动力学效应看起来强度是比较强的。大家遇到这种情况怎么处理，请教各位高手了，谢谢！
求CrystalKit软件，或其他能模拟电子衍射的软件。自己用了一下CrystalMaker感觉有一点问题，需要换个软件
[url]http://www.instrument.com.cn/news/20100603/043100.shtml[/url]（[color=#0162f4]赛默飞世尔科技推出新型600W X射线光谱仪[/color]）ECUBLENS, 瑞士(2010年6月1日)-世界服务科学领域的领导者赛默飞世尔科技公司宣布，Thermo Scientific ARL 9900 IntelliPower系列X射线光谱仪有了新成员。新的ARL 9900 IntelliPower 600在600W的功率下运行，可以配备一个游离氧化钙通道，满足水泥工业的大部分分析要求，性能优越，价格合理。 ARL 9900 IntelliPower 600可以配备XRF固定通道，每个通道专门对单个元素进行快速精确的分析。最多可以配备12个固定通道，同时分析水泥工业通常需要检测的元素(或氧化物)，包括测定水泥的矿渣添加物中的硫(或硫化物)。ARL 9900 IntelliPower 600也可以无需任何气体进行操作，分析包括钠在内的所有元素。 另外，ARL 9900 IntelliPower 600可以配备两种Thermo Scientific测角仪—SmartGonio™ 和F45通用测角仪，快速而高度准确的无齿轮测角仪可以程控进行定性和定量分析。其莫尔条纹技术提供了优秀的角度定位和高质量的顺序X射线光谱分析能力。SmartGonio用于分析从氟到铀的所有元素，能够满足大部分水泥实验室的分析要求。F45通用测角仪用于测定更轻的元素，例如碳元素。两种测角仪完全满足非常规元素的分析要求，并可以辅助XRF的所有固定通道。与合适的软件包，例如UniQuant™ 或QuantAS™ 联用，可以实现无标样分析。 游离氧化钙通道是一种专用的紧凑型一体化的X射线衍射系统，整个系统由新型的微处理器控制，为水泥熟料中游离氧化钙的分析提供智能化解决方案，有利于水泥厂进行炉窑控制。另外，它可以用于测定炉渣(GBFS，粒化高炉矿渣)中的游离氧化钙 如果在高功率水平下应用，它可以用于分析原材料中的石英，解决水泥质量控制的难题，也可以监测热料煅烧和石灰石添加过程。因此，游离氧化钙通道可以降低水泥厂的成本，提高整体产品的质量。
X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法摘 要 本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据70多篇文献和一些常见的资料, 作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。 1 前言 作为一种比较成熟的成分分析手段，XRF光谱分析在地质、冶金、环境、化工、材料等领域中应用广泛。它的分析对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得最多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，由于直接分析技术还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是XRF光谱分析中的重要研究课题。 XRF光谱分析粉末样品主要有两种方法：粉末压片法和熔融法。［1,2］对于样品量极少的微量分析，还有一种薄样法，这里拟不介绍。熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点：因样品被熔剂稀释和吸收，使轻元素的测量强度减小；制样复杂，要花费大量时间；成本也较高。粉末压片法的优点是简单、快速、经济，在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍，也常用于痕量元素的分析。从中国理学XRF光谱仪协会和中国菲利浦X射线分析仪器协会的最近两本论文集［3-4］来看，采取粉末压片制样的文章占了很大的比例。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中，粉末压片仍是一种应用很广泛的XRF制样法。 近年来，有关XRF及其应用的综述或评论很多［5-13］，其中包括样品制备方面的内容，还有一些专门介绍制样法的文章［14-15］。本文根据收集到的70多篇文献，从样品制备、方法应用、理论校正等方面阐述粉末压片法的现状与进展。
请教，是否每台仪器的摩尔吸收系数是一定的呢？
太阳辐射自动观测仪器光照度计在对太阳辐射理论和太阳运动理论的研究基础上，采用太阳模拟器技术和多自由度工作台，提出了一种新型多功能气象用太阳辐射自动观测仪器检定系统的总体设计方案，实现了对待检仪表的灵敏度，非线性误差、方位响应误差、余弦响应误差和倾斜响应误差等各项参数的检定。太阳辐射自动观测仪器检定系统主要山太阳模拟器和多维工作台组成。太阳模拟器为检定系统提供均匀稳定的模拟太阳光辐射：多维工作台能够为检定系统提供所需各种功能动作模拟不同的太阳角，两者集成共同实现了对太阳辐射自动观测仪器的标定。[img=太阳辐射自动观测仪器,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211140905147860_9891_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]由于在太阳辐射的测量中，存在太阳辐射自动观测仪器的“热偏移”现象。而对“热偏移”的研究过程中发现，太阳辐射自动观测仪器“热偏移”的大小主要和温度、湿度、风速和净波辐射这些环境因素有关，而太阳辐射自动观测仪器节点可以采集得到环境温度和湿度这些气象要素，风速和净波辐射的值则需要从协调器节点获得。当协调器节点需要向网络设备发送数据时，它会先发送信标帧在通信信道中，太阳辐射自动观测仪器节点在收到信标帧，会根据信标帧进行同步，而协调器节点会在下一个信标帧中指出协调器节点拥有某个传感器节点需要的数据，传感器节点收到信标帧后会向协调器节点的发送请求数据发送的MAC命令帧。太阳辐射自动观测仪器协调器节点在收到命令帧后，会先发送一个确认帧给传感器节点表示已经收到请求，紧接着开始传送数据。传感器节点成功接收数据后再回应一个数据确认帧给协调器节点。[img=太阳辐射自动观测仪器,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211140905378537_6710_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]
粉末衍射仪做出的粉末衍射图谱和玻璃平台载样模式做出的图谱有什么不同？
从文献上看到一个低角度的XRD粉末衍射数据，文章中说，根据该数据可以判断该粉末样品具有“Layered Structures”。现在的问题是：有谁知道怎么通过该数据判断它是层状结构呢？是否有公式或理论在里面呢？有知道的兄弟姐妹们帮帮忙吧。相关的粉末衍射的数据和正文可以在附件中看见。谢谢大家[color=red]【由于该附件或图片违规，已被版主删除】[/color][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=53935]文章正文和粉末衍射数据[/url]
印度一年約有三百至三百三十天是陽光普照的日子，太陽能幾乎無虞缺乏，ZF在多年前就補助鄉村貧戶使用太陽能鍋，免除婦女撿拾柴火的辛苦或燒煤的污染，最近又考慮將補貼貧戶購買燈用煤油的經費，換購太陽能燈使用，不但可免除煤油污染，也省下建設電力輸送系統的大筆費用。印度主管非傳統能源事務部自多年前開始，即大力推廣使用太陽能鍋，鼓勵本土廠商研發生產，同時也補助鄉村貧戶購買，結果成效卓著。據非傳統能源事務部官員表示，印度目前約有四十家小規模的太陽能鍋製造商，總年產量約七萬五千個，預計市場需求量至少可達一千萬個太陽能鍋。據非傳統能源事務部推廣處官員古普塔表示，最受鄉村居民歡迎的太陽能鍋，是由非傳統能源事務部自行研發的，一種由單片太陽能反射板組成的箱型太陽能鍋，使用簡便，適合家庭使用。其次，另有一種可供大眾食堂使用的組合型太陽能鍋系統，可將太陽能熱引導到廚房不同的烹調器皿使用。古普塔說，供一家四至五口使用的家庭用太陽能鍋，ZF補助後的成本約一千盧比（約二十三美元，合新台幣七百元左右），使用年限可達十至二十年，每年可節省三至四桶十六公斤裝的液化石油氣。大型太陽能鍋則需要銜接多個引熱系統，補助後的成本約五萬盧比，但功能不輸一般食堂器皿，一樣具有炒、炸、蒸、煮的功能，一小時內可供應一千多人熱騰騰的飲食。古普塔說，大型太陽能鍋可以產生五百公斤的蒸汽，足以供應五百人兩頓的餐飲。鑑於近年地球溫室氣體排放和空氣污染問題愈趨嚴重，以及國際油價高漲壓力，印度非傳統能源事務部也開始認真考慮進一步的因應對策，計劃將原用來補貼鄉村貧戶購買燈用煤油的部分經費，改以購買太陽能燈後交給貧戶使用，一來可以達到減碳和降低空氣污染的目標，二來可以減少居民感染呼吸器官疾病的機率，更可以減輕ZF採購油源的負擔。印度石油需求，有百分之七十以上仰賴進口。據古普塔表示，印度這項計畫已在最近送交總理府能源協調委員會審議，將在與全國各省地方ZF磋商後定案。古普塔表示，長期以來，環保團體就呼籲ZF當局廢除煤油補貼政策，改採親環保的替代能源，此外，地方居民也普遍歡迎這項計畫，因煤油容易引發黑煙污染，並造成使用者感染呼吸道疾病。
注射器的类型和设计以及使用和保养关系到重复进样而得到一致的分析结果.下面是在实验中对于选择进样器,进样器的保养,维护和故障的解决的心得。针式进样器的使用及维护（5－500uL）1.根据样品的体积选择进样器为保证精确度，每次进样的体积都不应小于进样器总体积的10%。2.进样器的使用• 在使用前检查进样器，检查针筒是否有裂缝及针尖是否是毛口• 排除进样器中残留的样品，用溶剂洗涤进样器5～20次，并弃去前2～3次的废液。• 排除进样器中的气泡，把针头浸没于溶剂中，反复的抽排样品。当排除样品时，进样器中的气泡能随着管的垂直变化而改变。 • 使用进样器时，先将进样器吸满液体，再排除液体至所需进样的体积。3.进样器的清洗• 通常所用的清洗试剂是根据污染物选择的，一般甲醇、二氯甲烷、乙腈和丙酮是常用的。清洗时不能堵塞针头，抽出柱塞，用另一个进样器把清洗溶剂注入，再插入柱塞柔和的把溶剂从针中推出。• 消毒模式：用高压灭菌器消毒时必须把柱塞抽出。用乙撑氧（ethylene oxide）• 不能把整个的进样器都浸泡在溶剂中，这样容易破坏进样器上键合部分的粘着性。清洗外部时用绵纸或薄纸。4.柱塞的维护• 不能用力压柱塞。• 当针头被堵时，不能用力压迫柱塞，因为高压能使得柱筒破裂。• 标准进样器的柱塞时不能相互调换的，每个柱塞都适合相应的进样器上的附着层。• 当进样器干的时候尽量不要抽压柱塞• 清洗柱塞的时候用无毛刺的绵纸，不要弯折。5.针的维护• 中等到高粘性的样品在使用之前应该稀释或选择大的内径的进样针。• 清洗针头时应使用清洗工具，如通管丝或管心针、镊子，表面活性物质用以清洗针壁。• 热清洗，热清洗用以清除针上的有机残留物，特别是对痕量分析、高沸点和粘性物质。热清洗几分钟后，可再使用针头清洗工具。微量注射器的保护 微量注射器使用方便，进样准确，价格低廉，应用广泛。但测定某些易水解、易氧化的样品时，分解物、氧化物常堵塞并腐蚀针头。由于微量注射器针头很细，一旦堵塞，很难清除，应当特别注意。若连续测定多份易分解样品，进样完毕应将针尖立即插入硅橡胶垫内(用仪器上废弃的进样垫圈即可)，隔绝空气、水分，避免分解。测完样品立即以相应溶剂彻底清洗，保护进样器针头。进样时..手不要拿注射器的针头和有样品部位、不要有气泡（吸样时要慢、快速排出再慢吸，反复几次，10ul注射器 金属针头部分体积0.6ul，有气泡也看不到，多吸1-2ul把注射器针尖朝上气泡上走到顶部再推动针杆排除气泡，（指10ul注射器，带芯子注射器平感觉）进样速度要快（但不易特快），每次进样保持相同速度，针尖到汽化室中部开始注射样品。很多做色谱分析工作的新手常常会把注射器的针头和注射器杆弄弯，原因是：1.进样口拧的太紧，室温下拧的太紧当汽化室温度升高时硅胶密封垫膨胀后会更紧，这时注射器很难扎进去。2.位置找不好针扎在进样口金属部位。3.注射器杆弯是进样时用力太猛，进口色谱带一个进样器架，用进样器架进样就不会把注射器杆弄弯。4.因为注射器内壁有污染，注射时将针杆推弯。注射器用一段时间就会发现针管内靠近顶部有一小段黑的东西，这时吸样注射感到吃力。清洗方法将针杆拔出，注入一点水，将针杆插到有污染的位置反复推拉，一次不行再注入水直到将污染物弄掉，这时你会看到注射器内的水变的浑浊，将针杆拔出用滤纸擦一下，再用酒精洗几次。分析的样品为溶剂溶解的固体样时，进完样要及时用溶剂洗注射器使用微量进样器时一般要吸取进样量的三倍，然后再慢慢推到所需进样量，再抽入部分空气，防止针头内的样品先被汽化造成二次进样；另外刚开始洗针时新手经常会把针整个拔出来，再恢复原样可不容易，我就曾经被里面的小细铁丝扎伤过，有了血的教训，呵呵！
请问大侠，有什么软件可以模拟孪晶电子衍射啊
求一个X射线荧光光谱模拟软件或者用什么软件可以模拟出来都行！lixinweiwill@163.com 十分感谢 例如：选用不同阳极靶材的X光管，可选择不同元素，最后得到荧光谱图
[size=16px][color=#339999]摘要：针对X射线窗口膜材料机械性能测试中对真空度和高压压力的准确控制需要，本文提出了相应的解决方案。解决方案中采用了薄膜电容真空计、压力传感器、电动针阀、压力调节阀和真空压力PID控制器，与真空泵和高压气源配合，可在膜材料样品两侧形成准确的真空压差、微压差和高压压差，由此为窗口膜材料的杨氏模量、破裂压力和压力循环测试提供所需的真空压力环境。控制器自带的计算机软件可独立进行上述真空压力控制操作，并可显示和存储整个控制过程中的多个参数随时间变化曲线。[/color][/size][align=center][size=16px][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/size][/align][size=18px][color=#339999][b]1. 问题的提出[/b][/color][/size][size=16px] 窗口膜是X射线探测器的核心组件之一，其具有真空密封、透过X射线的功能。窗口膜的机械强度和透过X射线能力是决定X射线探测器性能的重要因素。图1所示为X射线探测器结构示意图。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=01.X射线探测器及其透射窗口,650,241]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304130946305619_2340_3221506_3.jpg!w690x256.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图1 X射线探测器及其机构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 探测传感器的稳定及可靠运行需要金属外壳密封，外壳顶部的探测端需要集成化的高透过率窗口，此窗口在保证X射线高透射的前提下，还能保证传感器处于高真空环境。高真空环境下工作，传感器可以有效地被冷却到适宜的工作温度，同时能避免了空气对传感器表面污染。因此，端窗膜至少需要承受一个大气压的压力差，这要求膜具有高的机械强度和稳定性。目前常见的窗口膜材料主要有：铍膜、聚合物膜、金刚石膜、氮化硅膜和石墨化碳膜。[/size][size=16px] 为了测试评价窗口薄膜材料的机械强度和稳定性，需要在X光探测器内外真空压力的模拟环境下，测试膜材料的杨氏模量和爆裂强度，并进行多次压力循环考核试验。图2所示为薄膜材料机械性能测试时的真空压力环境示意图。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=02.窗口膜机械性能测试真空压力分布示意图,500,171]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304130946532094_6847_3221506_3.jpg!w690x236.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图2 窗口膜性能测试时的真空压力环境示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 在图2所示测试环境中，薄膜样品片固定在一个金属盘上，金属盘上有一已知直径的小孔。将金属盘固定在真空室上，使样品膜的顶面暴露在大气或正压环境中，底面暴露在真空室的可变压力下，通过控制加载的正压和真空度，可在膜样品量程形成一定的压差。膜样品在不同条件下存在三种状态：无压差自然状态、微压差延展状态和高压耐压状态，三种状态如图3所示。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=03.窗口膜压差变形示意图,500,166]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304130947126106_6551_3221506_3.jpg!w690x230.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图3 窗口膜压差变形示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 在不同的压差状态下，需要对X射线窗口膜材料进行以下三项机械性能测试：[/size][size=16px] （1）在微压差状态下，控制膜顶面上的压力为一个标准大气压，膜的底面为变真空状态，使用浅焦平面显微镜物镜或非接触激光位移探测器等装置测量不同真空度下膜样品中心偏差，根据压差和中心偏差所建立的函数，可以测量得到窗口膜的杨氏模量。[/size][size=16px] （2）机械性能测试的另一个重要指标是薄膜的破裂压力，此时需要将膜样品底面的真空控制为一个大气压，而膜样品顶面压力控制为线性变化高压正压。[/size][size=16px] （3）为了考核膜窗口材料的稳定性，还需要进行压力循环测试，即膜样品两侧压差经历循环变化（10000次，绝压101~103kPa）的考核试验。[/size][size=16px] 由此可以看出，在窗口膜机械性能测试中，需要在膜的两侧形成准确的真空压力及其动态变化控制，为此本文提出以下真空压力控制解决方案。[/size][size=16px] 在图2所示测试环境中，薄膜样品片固定在一个金属盘上，金属盘上有一已知直径的小孔。将金属盘固定在真空室上，使样品膜的顶面暴露在大气或正压环境中，底面暴露在真空室的可变压力下，通过控制加载的正压和真空度，可在膜样品量程形成一定的压差。膜样品在不同条件下存在三种状态：无压差自然状态、微压差延展状态和高压耐压状态，三种状态如图3所示。在不同的压差状态下，需要对X射线窗口膜材料进行以下三项机械性能测试：[/size][size=16px] （1）在微压差状态下，控制膜顶面上的压力为一个标准大气压，膜的底面为变真空状态，使用浅焦平面显微镜物镜或非接触激光位移探测器等装置测量不同真空度下膜样品中心偏差，根据压差和中心偏差所建立的函数，可以测量得到窗口膜的杨氏模量。[/size][size=16px] （2）机械性能测试的另一个重要指标是薄膜的破裂压力，此时需要将膜样品底面的真空控制为一个大气压，而膜样品顶面压力控制为线性变化高压正压。[/size][size=16px] （3）为了考核膜窗口材料的稳定性，还需要进行压力循环测试，即膜样品两侧压差经历循环变化（10000次，绝压101~103kPa）的考核试验。[/size][size=16px] 由此可以看出，在窗口膜机械性能测试中，需要在膜的两侧形成准确的真空压力及其动态变化控制，为此本文提出以下真空压力控制解决方案。[/size][size=18px][color=#339999][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 根据上述X射线探测器窗口膜材料机械性能测试对真空压力的要求，所设计的真空压力控制系统结构如图4所示。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=04.X射线探测器窗口膜机械性能测量装置真空压力控制系统结构示意图,690,236]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304130947316561_3586_3221506_3.jpg!w690x236.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图4 真空压力控制系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 在图4所示的真空压力控制系统中，采用了分体法兰对接密封结构，即顶部和底部法兰通过对接方式将被测窗口膜样品密封夹持在中间位置。其中，顶部法兰提供样品膜上方的高压空间，底部法兰提供样品膜下方的真空空间，并分别配置相应的真空和压力控制装置。通过真空压力控制装置可以精确控制膜样品两侧的压差，为膜样品的机械性能测量提供所需真空压力环境。[/size][size=16px] 真空压力控制系统包括两部分内容：[/size][size=16px] （1）底部法兰真空控制装置：在膜样品下方提供准确可控的真空环境，真空度变化控制范围为绝对压力10~760Torr。采用绝对压力1000Torr量程的薄膜电容真空计测量膜样品下方的真空度，两个电动针阀分别调节进气和排气流量，真空泵进行抽气。真空压力PID控制器采集真空计信号，并根据设定值进行PID比较计算后输出控制信号，由此来自动调节电动针阀使真空度快速达到设定值。[/size][size=16px] （2）顶部法兰高压控制装置：在膜样品上方提供准确可控的高压环境，高压变化控制范围为表压0~1MPa。采用1MPa量程的压力计测量膜样品上方气压，压力调节阀输出所需气压，高压气瓶提供高压气源。真空压力PID控制器采集压力计信号，并根据设定值进行PID比较计算后输出控制信号，由此来自动调节压力调节阀使气压快速达到设定值。[/size][size=16px] 图4所示的真空压力控制系统，可完成窗口膜机械性能测试中的以下三项压差变化控制：[/size][size=16px] （1）杨氏模量的微压差控制：顶部法兰膜样品上方空间保持常压，对底部法兰膜样品下方的空间进行真空度控制，由此在膜样品两侧形成微压差，使膜样品产生变形以提供变形量测量。[/size][size=16px] （2）破裂高压控制：底部法兰膜样品下方空间保持常压，对顶部法兰膜样品上方的空间进行线性高压控制，控制压力从常压开始按照设定速率进行线性升压，并同时记录压力变化曲线。一旦压力升到一定高压产生破裂，则压力测量值会产生突变，由此得到破裂压力值。[/size][size=16px] （3）压力循环控制：关闭进气针阀和全开排气针阀，使底部法兰膜样品下方空间的真空度达到真空泵的抽取极限（如绝对压力1Pa）。然后对顶部法兰膜样片上方空间进行压力交变控制，控制器通过可编程的设定压力程序，使得压力在绝对压力101~103kPa之间周期性交替变化，周期数值可任意设定，如一万次等。[/size][size=18px][color=#339999][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 通过上述真空压力控制解决方案，可实现各种X射线探测器窗口材料机械性能测试中的真空压力准确控制，解决方案具有如下特点：[/size][size=16px] （1）为窗口膜材料多个机械性能参数测试提供相应真空度和高压的准确控制。[/size][size=16px] （2）真空压力控制的整个过程全部自动化，真空压力按照测试要求所输入的设定值进行全自动控制，且具有很高的测量和控制精度。[/size][size=16px] （3）所采用的电动针阀和压力调节阀都具有很高的响应速度，有效缩短了压差稳定时间。[/size][size=16px] （4）真空压力PID控制器配备有相应的计算机软件，通过计算机软件就可独立完成真空压力控制，其中包括参数设置、控制运行、以及控制参数及其随时间变化曲线的自动显示和存储。[/size][align=center][size=16px][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/size][/align]
模拟示波器与数字示波器 一、模拟和数字，各有千秋 廿世纪四十年代是电子示波器兴起的时代，雷达和电视的开发需要性能良好的波形观察工具，带宽100MHz的同步示波器开发成功，这是近代示波器的基础。五十年代半导体和电子计算机的问世，促进电子示波器的带宽达到100MHz。六十年代美国、日本、英国、法国在电子示波器开发方面各有不同的贡献，出现带宽6GHz的取样示波器、带宽6GHz的多功能插件式示波器标志着当时科学技术的高水平，为测试数字电路又增添逻辑示波器和数字波形记录器。模拟示波器从此没有更大的进展，开始让位于数字示波器，英国和法国甚至退出示波器市场，技术以美国领先，中低档产品由日本生产。 模拟示波器要提高带宽，需要示波管、垂直放大和水平扫描全面推进。数字示波器要改善带宽只需要提高前端的A/D转换器的性能，对示波管和扫描电路没有特殊要求。加上数字示波管能充分利用记忆、存储和处理，以及多种触发和超前触发能力。廿世纪八十年代数字示波器异军突起，成果累累，大有全面取代模拟示波器之势，模拟示波器的确从前台退到后台。 但是模拟示波器的某些特点，却是数字示波器所不具备的： 操作简单——全部操作都在面板上，波形反应及时，数字示波器往往要较长处理时间。 垂直分辨率高——连续而且无限级，数字示波器分辨率一般只有8位至10位。 数据更新快——每秒捕捉几十万波形，数字示波器每秒捕捉几十个波形。 实时带宽和实时显示——连续波形与单次波形的带宽相同，数字示波器的带宽与取样率密切相关，取样率不高时需借助内插计算，容易出现混淆波形。 简而言之，模拟示波器为工程技术人员提供眼见为实的波形，在规定的带宽内可非常放心进行测试。人类五官中眼睛视觉十分灵敏，屏幕波形瞬间反映至大脑作出判断，微细变化都可感知。因此，模拟示波器深受使用者的欢迎。二、数字示波器独领风骚 八十年代的数字示波器处在转型阶段，还有不少地方要改进，美国的TEK公司和HP公司都对数字示波器的发展作出贡献。它们后来甚至停产模拟示波器，并且只生产性能好的数字示波器。进入九十年代，数字示波器除了提高带宽到1GHz以上，更重要的是它的全面性能超越模拟示波器。出现所谓数字示波器模拟化的现象，换句话说，尽量吸收模拟示波器的优点，使数字示波器更好用。 数字示波器首先在取样率上提高，从最初取样率等于两倍带宽，提高至五倍甚至十倍，相应对正弦波取样引入的失真也从100%降低至3%甚至1%。带宽1GHz的取样率就是5GHz，甚至10GHz。 其次，提高数字示波器的更新率，达到模拟示波器相同的水平，最高可达每秒40万个波形，对观察偶发信号和捕捉毛刺脉冲就方便多了。 再次，采用多处理器加快信号处理能力，从多重菜单的烦琐测量参数调节，改进为简单的旋钮调节，甚至完全自动测量，使用上与模拟示波器同样方便。 最后，数字示波器与模拟示波器一样具有屏幕的余辉方式显示，赋于波形的三维状态，即显示出信号的幅值、时间以及幅值在时间上的分布。具有这种功能的数字示波器称为数字荧光示波器或数字余辉示波器。三、数字示波器要有模拟功能 模拟示波器用阴极射线示波管显示波形，示波管的带宽与模拟示波器的相同，亦即示波管内的电子运动速度与信号频率成正比，信号频率越高电子速度越快，示波管屏幕的亮度与 电子束的速度成反比，低频波形的高度高，高频波形的高度低。利用荧光屏的亮度或灰度容易获得信号的第三维信息，如用屏幕垂直轴表示幅度，水平轴表示时间，则屏幕亮度可表示信号幅度随时间分布的变化。这种与时间有关的荧光余辉（灰度定标）效应对观察混合波形和偶发波形十分有效。模拟存储示波器就是这种专用示波器的代表产品，最高的性能达到800MHz带宽，可记录到1ns左右的快速瞬变偶发事件。 数字示波器缺少余辉显示功能，因为它是数字处理，只有两个状态，非高即低，原则上波形也是“有”和“无”两个显示。为达到模拟示波器那样的多层次亮度变化，必需采用专用图像处理芯片，例如TEK公司采用DPX型处理器芯片，具有数据采集、图像处理和存储等多项功能，DPX芯片由130万个晶体管组成，采用0.65um的CMOS工艺，并行流水结构，取样率2GS/s。它既是数据采集芯片，同时也是光栅扫描器，模拟示波管屏幕荧光体的发光特性，用16级亮度分级，将波形存储在500*200像素的LCD单色或彩色显示屏上，每0.33秒更新一次。由于模拟存储示波器只能依靠照相底片记录波形，对数据保存并不十分方便。例如用红色表示出现机率最高的波形，兰色表示出现机率最低的波形，达到一目了然。由于数字示波器已经达到1GHz带宽的水平，配合荧光显示特性，总的性能优于模拟存储示波器。四、数字荧光示器 去年著名电子示波器制造商TEK公司首先推出数字荧光示波器两种系列TDS500（单色）和TDS700（彩色），具有500MHz-2GHz带宽，取样率最高2GHz，最多4通道输入，属于中高档数字示波器，价位在10,000美元以上。今年生产一种TDS3000系列数字荧光示波器，起价只3,000美元，带宽500MHz ,取样率最高5GS/s，受到用户的欢迎。另一家专门生产数字示波器的LeCroy公司，今年也推出一种数字余辉示波器，名称虽有别于数字荧光示波器，它们的功能实际上是相同的。Waverunner系列的带宽500MHz，取样率500MS/s，最多4通道输入，起价5,999美元。以下较详细介绍这两种系列数字示波器的特点: 普通数字示波器要观察偶发事件需要使用长时间记录，然后作信号处理，这种办法会漏掉非周期性出现的信号和不能显示信号的动态特性。数字荧光示波器能够显示复杂波形中的微细差别，以及出现的频繁程度。例如观察电视信号，既有行扫描、帧扫描、视频信号和伴音信号，还要记录电视信号中的异常现象，对于专业人员和维修人员都是同样重要的。 TEK公司的TDS3000数字荧光示波器提供多种测试模块，可以从前面板右上角插入四种模块。例如触发模块可作逻辑状态、逻辑图形触发，以及脉冲参数（上升、下降边，宽度、周期等）；电视模块专用于多种制式的（NTCS、PAL和SECAM）波形记录；快速傅里叶变换（FFT）模块可快速显示信号的频率成分和频谱分布，既可分析脉冲响应，亦可分析谐波分布，并且识别和定位噪声和干扰来源。 TDS3000系列示波器是便携式的，重量不到7磅，可由电池供电，特别适于现场使用。 LeCroy公司的Waverunner系列数字余辉示波器的余辉时间常数是可以改变的，因此在使用上与模拟存储示波器非常相似。它的抖动和定时分析（JTA）软件包可对屏幕显示的信号作定量分析，例如，经过数字处理后可在脉冲抖动的波形下面划出亮线，亮线长度表示抖动范围，最亮部分表示最常出现的抖动区。积累波形数目达10万个，结果可绘制成直方图。 Waverunner示波器还有两种测试用软件包：数字和测量软件包，波形分析软件包。前者可自动测量和分析40种常用参数（如脉冲上升、下降时间，最大、最小值，偏差值等），预测某种参数的趋势（如测量IC的传输延时的变动范围）。后者包括FFT分析，最多可达10(6)点的记录长度；高分辨率方式；包络方式；模板测试；合格/不合格测试等。各种测试结果均利用彩色显示器的不同颜色不同亮度表示结果，真正让使用者的视觉获得迅速的反应，充分发挥余辉灰度的三维效应。
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