探针式连接器

手动多功能微型探针台是一款手动多功能探针台，可用于4' ' 晶圆或4“x6.5”印刷电路板。为用户提供了价格低廉而功能强大的选择。手动多功能微型探针台特点它的重量轻，非常灵活多用，非常方便用户转移或携带出去实验，可手动从前部操作，没有阻挡物，用户可以增加显微镜方便探针定位。磁性安装面方便定位手动多功能微型探针台应用可用于晶圆测量，也可用于毫米波，微波测量，差分探针，单探针，RF的PCB测量师，汽车以及手持式测量。可以用在实验，办公室，还可以用在其它地方。可以为用户定制用于特别应用，比如多孔连接器，PCBA等手动多功能微型探针台参数尺寸：22x9x 8英寸重量：4.5Kg

Raman拉曼光纤探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处，从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键，您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易，还具有许多额外功能，如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种，适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件，适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针，工作距离7.5mm 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针，5m L1320030 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线5m，带触发器手柄， 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针，20m L1320031 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线20m，带触发器手柄, 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管，适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针，3长50mm，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号，并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071

Raman拉曼光纤探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处，从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键，您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易，还具有许多额外功能，如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种，适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件，适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针，工作距离7.5mm 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针，5m L1320030 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线5m，带触发器手柄， 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针，20m L1320031 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线20m，带触发器手柄, 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管，适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针，3长50mm，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号，并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071

Raman拉曼光纤探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处，从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键，您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易，还具有许多额外功能，如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种，适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件，适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针，工作距离7.5mm 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针，5m L1320030 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线5m，带触发器手柄， 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针，20m L1320031 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线20m，带触发器手柄, 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管，适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针，3长50mm，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号，并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071

Raman拉曼光纤探针的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处，从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键，您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易，还具有许多额外功能，如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种，适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件，适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针，工作距离7.5mm 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针，5m L1320030 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线5m，带触发器手柄， 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针，20m L1320031 不锈钢探针，工作距离7.5mm, 布线20m，带触发器手柄, 含7.5mm活动触头，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管，适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针，3长50mm，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针，用于非接触和浸液条件下，能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi，的环境下工作 布线5M，光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号，并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071

真空型热电偶多路插针式连接器 一、简介 在各种真空腔体内所进行的各种温度信号测量，都需要采用温度传感器并将温度信号传送到真空腔体外的测试仪表中。特别是对于热电偶类型的温度测量，热电偶线需要直接或通过补偿导线贯穿真空腔连接到真空腔体外的测温仪表上，在热电偶测温回路中不能存在其他类型的金属，除非采用冰点参考端子，否则会给温度测量带来较大误差。 依阳公司出品的热电偶连接器是专门针对真空容器内部温度测量使用的热电偶温度信号连接器，针对不同的热电偶类型采用了相配套的热电合金材料作为插针和插口，整个连接器可以进行真空密封处理，既保证了温度测量的准确性又不影响真空腔体的真空度，可以直接安装在真空法兰上使用。 二、指标 （1）五种热电金属插头和插口可分别连接J、K、T、E和N型热电偶。 （2）每路热电偶插针式连接器对应相应的热电偶正极合金和负极合金。 （3）长期工作温度：-55℃至100℃。 （4）真空密封性：优于1Pa 三、特点 （1）连接器插针和插口由不同热电偶合金制成以配合相应的热电偶温度传感器。 （2）连接器为直插式压接型式连接方式，避免焊接而带来其他金属材料的影响。可根据用户需要定制压接好热电偶引线的连接器。 （3）可以定制各种规格和型状的连接器壳体、接触件和底壳以配合不同形式的真空腔法兰安装形式。 （4）可按照用户设计要求进行单件和小批量定制。

全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针 ——从此形貌探测无需激光 SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年，公司的主要业务是制造和销售硅基压电阻式自感应AFM探针。这种全压电式悬臂，在AFM、纳米、力测量等传感应用领域都有全新的应用。我们的多学科团队由物理、商业和金融、半导体和微电子学、电子工程和生物科学等领域的专家组成。除了我们自己的团队之外，我们还与著名高校：University of Tampere (UTA)，école Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) 许多的研究团队合作，密切接触前沿研究和开发。自感应悬臂探针安装了一个全压电电阻式的惠特斯通电桥，两个可变电阻在悬臂上，两个在晶片上可以直接测量悬臂的信号，从而避免了光学技术对空间要求。这种悬臂式芯片被连接在一个小的PCB上，带有一个小的连接器，用于快速和高度可重复的悬臂交换。传感器信号是通过一个小型的前置放大器PCB来读出和放大的。这使得与各种仪器，如SEM，TEM和许多其他测量系统的简单无缝集成。这种自感的悬臂可以满足各种共振频率和弹性系数的要求。SCL提供了PRS(Piezo-Resistive Sensing)不可加热的悬臂AFM探针和PRSA(Piezo-Resistive Sensing & Active)可加热的悬臂AFM探针。我们建议用塑料镊子更换裸悬臂AFM探针，用钢镊子来更换固定在PCB板上的悬臂AFM探针。 常规自感应悬臂梁探针（针材质Si） Self-Sensing Cantilevers with Silicon Tip 左图展示的是标准的SCL自感应悬臂探针的，半径小于15纳米。正常情况下，悬臂探针会预先安装特制的PCB板（CL-PCB）上，在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求，我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本，可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表： PRSA-L300-F50/60/80-Si-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针（中频为50 kHz或80 kHz），频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时（PRSA-L300-CHP）时，使用的频率范围是未知的，因为这些参数不能在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w) l = 305 μm, w = 110 μm灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.PRSA-L300-F50-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L70-F900-Si-PCB/CHP PRS-L70-F900-Si-PCB/CHP针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w)l = 70...85 μm, w = 30 μm灵敏度Sensitivity (s)3 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.共振频率Resonant frequency (fR)500...1300 kHz刚度Stiffness (k)35...400 N/m 自感应悬臂梁（不含针）Self-Sensing Cantilever without Tip (Tipless) 这是一种特殊类型的SCL的自感应悬臂，没有探针针，可将自己设计制造的针粘在其上或者直接粘上样品，满足个性化的需求。这种无探针的悬臂尤其适用于扭矩磁力仪、力感测力、气体特性测量，以及更多的应用。正常情况下，悬臂探针会预先安装特制的PCB板（CL-PCB）上，在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求，我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本，可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表： PRSA-L300-F50/60/80-TL-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针（中频为50 kHz或80 kHz），频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时（PRSA-L300-CHP）时，使用的频率范围是未知的，因为这些参数无法在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 300 μm, w = 110灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针的安装PRSA-L300-F50-TL-PCB 共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L100-F400-TL-PCB/CHP PRS-L100-F400-TL-PCB/CHP 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 100 μm, w = 48 μm灵敏度Sensitivity (s)1...3 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 250...550 kHz刚度Stiffness (k)k = 14...170 N/m PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 450 μm, w = 100 μm灵敏度Sensitivity (s)1...2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 14...48 kHz刚度Stiffness (k)k = 0.5...24 N/m 自感应基础套件（DYI必备） Self-Sensing Starter-Kit自感悬臂探针的每个应用中没有激光扰度探测，无法直接用于普通AFM设备里，需要我们提供的自感应基础套件。该基础套件为您提供了所有基本但必要的配置，可以立即开始使用自感应悬臂（探针）。自感应基础套件包含以下内容： ★ 低噪声悬臂信号前置放大器（下图-2) ★ 连接前置放大器到悬臂和后加工设备（锁定放大器，AFM控制器等）的电缆。(1 + 3) ★ 10个自我感觉的悬臂（4)

微定位器,探针微定位器由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售！孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询！探针微定位器适合各种探针和探针台的定位器。探针台定位器行程：12x12x12mm 线性运动探针微定位器尺寸：90x130x90mm (WxDxH) 探针台定位器重量：1kg 探针微定位器主要特色： 探针台定位器亚微米内部回路探针 探针微定位器线性运动探针台定位器choice of Triaxial/Coaxial Tip Holder 微定位器四个方向（东西南北）RF探针定位器探针微定位器DC 到40---120GHz探针台定位器多接触楔 DCto 40-67GHz 探针微定位器标定衬底带软件探针微定位器5度连线，不需要ELBOW连接头探针台定位器30度E-Z探针倾斜探针微定位器可维修探针台探针微定位器钨尖可选探针台定位器无后冲移动探针台定位器附件探针微定位器triaxial tip holder /coaxial tip holder探针台定位器Magnet, vacuum& Locking screw based探针微定位器Soft probing tilting mechanism探针台定位器RF Theta Mechanism探针微定位器Semi-Rigid Cables探针台定位器Active Probes探针微定位器Ultrasonic Cutter探针台定位器Low current/capacitance ProbesHigh Voltage Probes微定位器和欧洲进口的探针微定位器,适合各种探针和探针台的定位器.

用途：直接测量植物茎流量来确定植物的水分消耗（蒸腾）。4针型SF-L探针。大于20cm直径的树木建议使用4针型探针，其两根辅助针可以抵消树干温度差异造成的误差。2针型SF-G探针传感器用来测量直径7-20cm的树干，它没有辅助针用来抵消树干本身温度造成的误差。 技术参数 型号茎杆直径针长输入电压典型能耗SF-G7033mm，43mm，63mm（可定制不同长度）3.18VDC0.26WSF-L150 产地：德国

四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件，我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上，稳定性和一致性十分优秀；无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌，打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数： A，探头主体材料及外形尺寸 B，针尖半径 C，针头的间隔 D，针头的负载 E，针头排列，线型，或者正方形。 F，连接方式： 连接器，或导线联接及长度主要的应用领域： 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

uniqprobe? ：uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层PLATINUMSILICIDE：导电硅化物涂层的非接触式/轻敲模式侧面和针尖为硅化铂（硅化铂反射） SPM探针Advanced TECTM：AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铜涂层

汲取式光纤探针对于过程中的实时在线样品检测和实验室应用特别有用。在一个液态样品不能用比色皿测量的情况下，汲取式光纤探针附件能够测量其吸光度和透过率。反射式光纤探针结合S-3100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。

产品介绍探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；探测线细而柔韧，最大限度减少对集成电路的损坏；可测电流范围1fA-1A 多款针尖直径可选，满足不同应用需求 产品示意图针杆长度38mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

产品简介探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；谱量特有的镀金工艺，保证针体机械属性的同时，进一步优化其导电性能；可测电流范围1fA-1A；多款针尖直径可选，满足不同应用需求；产品示意图针杆长度38mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

产品简介 探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；钨探测线细而柔韧，因此可最大限度地减少对被测样品的损坏；可测电流范围1fA-1A；多款针尖直径可选，满足不同应用需求；产品示意图针杆长度32mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铜涂层

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

探针定位器专业为探针台操作使用而设计的高精度探针台定位器或探针微操作器，它采用高精度铝合金材料制造，具有超高精度和超小公差。探针定位器特点采用表面采用黑色氧化铝工艺处理，具有全寿命润滑能力，免于维护。采用高级不锈钢螺钉，提供超调整分辨率和良好的重复精度。探针定位器参数高度：2英寸底部：2英寸 x 2英寸行程范围XYZ: 0.5英寸分辨率：0.02英寸/轮回

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

POINTPROBE-PLUS? ：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层，xy轴自动校直

AS-90/90A/90plus/91/93plus/S10 取样探针组件订货信息：耐腐蚀产品描述部件编号内径为0.6 mm的火焰取样探针组件* 包括带有FEP管和螺杆接头的取样探针（B3000055）以及毛细管组件（B3000157）B3001770内径为0.6 mm的FIAS取样探针组件 包括带有FEP管和螺杆接头的取样探针（B3000055）以及FIAS毛细管组件（B3000158）B3001771内径为1.0 mm的FIAS标准取样探针组件* 包括带有FEP管和螺杆接头的取样探针（B3001769）以及毛细管组件（B0191060）B3001772*该探针不能用于配有老式取样探针托架的AS-90仪器

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

uniqprobe?，统一质量的SPM探针，有2，3个不同的三角形悬臂，非接触式/轻敲模式/接触模式探针侧面：部分金涂层PLATINUM SILICIDE：硅化物涂层的非接触式SPM探针(非接触式/轻敲模式)探针针尖为硅化铂(硅化铂反射)Advanced TEC?：AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020

AKIYAMA-PROBE：Akiyama探针，动态模式原子力显微镜的自感应自动（自激）探针POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：APOINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：A，探针侧面：铝涂层SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，特殊类型A，SUPERSHARPSILICONTM针尖

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030

SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖HIGH ASPECT RATIO：高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1，探针侧面：铝涂层

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035