二向色镜

[ 产品简介 ]蔡司研究级倒置显微镜Axio Observer结合了V型光路设计和自动化组件，能够保证测量结果的精确性，可靠性以及可重复性。人机工程学的设计能使您的实验分析和测试工作更加简便舒适，是实验室材料研究的显微分析解决方案。灵活开放的蔡司研究级倒置显微镜Axio Observer，同样适用于对活体标本细胞和固定样标本进行要求严苛复杂的多模态成像，满足您对显微图像质量的高要求。Axio Observer配置灵活，预留多个接口，具备丰富的扩展功能。结合细胞培养装置，为您提供活细胞研究的完美平台，可以精确获取活细胞的信息，并可根据实验需求选择不同的电动以及自动化程度，让科研更轻松。在Axio Observer上搭载全新蔡司人工智能样品识别系统，省去了耗时的手动调整步骤，直接访问所有样本区域，从而比以往更快地开始实验，将成像时间从几分钟缩短到几秒钟，大大提高实验效率。[ 产品特点 ]&bull IC2S 色差反差双重校正光学系统&bull 复消色差荧光光路，荧光光陷阱技术&bull 高效率”V”型光路设计，光程最短&bull Z轴精度最高10nm&bull 高灵活性和高稳定性&bull 人工智能样品自动识别系统&bull 样品放置空间大&bull 人机工程学的设计，操作舒适，工作效率高[ 应用领域 ] &bull 生物学 &bull 医学和兽医学 &bull 微生物学&bull 植物学&bull 航天航空&bull 汽车行业&bull 金属原材料&bull 医疗器械&bull 机械加工老鼠细胞（蛋白用Alexa 488染色，细胞核用DAPI染色），荧光皮质神经元进行DNA、微管和微管相关蛋白染色，Z堆栈，荧光芯片表面局部，50X物镜，反射暗场

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Flu-TS系列短波通二向色镜分束片-分色片特点：■离子束溅射工艺生产，硬质膜层，膜层稳定致密，使用寿命长■透过率、反射率高、接受定制，价格经济■应用角度45°，可替代semrock、chroma等同类产品■适用荧光成像系统、光谱成像系统、科研实验等产品选型-Flu-TS系列短波通二向色镜分束片-点击型号查看光谱曲线型号透过应用波长透过率反射应用波长反射率25.2 x 35.6x1mm备注Flu-TS400320-380nm＞85%425-480nm＞95%CALLFlu-TS425380-405nm＞85%440-700nm＞90%CALLFlu-TS450320-425nm＞85%470-550nm＞95%CALLFlu-TS490380-470nm＞85%510-750nm＞90%CALLFlu-TS500330-480nm＞85%520-600nm＞95%CALLFlu-TS500Z1390-490nm＞85%520-800nm＞90%CALLFlu-TS550400-530nm＞85%580-700nm＞95%CALLFlu-TS550Z1380-530nm＞85%570-800nm＞90%CALLFlu-TS570380-550nm＞85%590-800nm＞90%CALLFlu-TS600470-590nm＞85%625-800nm＞90%CALLFlu-TS640580-620nm＞85%660-800nm＞90%CALLFlu-TS650400-630nm＞85%680-800nm＞95%CALLFlu-TS650Z1400-630nm＞85%690-900nm＞90%CALLFlu-TS700400-685nm＞85%730-900nm＞95%CALLFlu-TS750400-720nm＞85%800-950nm＞95%CALLFlu-TS750Z1400-735nm＞85%770-1000nm＞90%CALLFlu-TS800400-770nm＞85%850-1000nm＞95%CALLFlu-TS800Z1400-785nm＞85%825-1050nm＞90%CALLFlu-TS850400-820nm＞85%915-1050nm＞95%CALLFlu-TS900470-860nm＞85%965-1100nm＞95%CALLFlu-TS950500-910nm＞85%1000-1200nm＞95%CALLFlu-TS950Z1500-900nm＞85%995-1300nm＞90%CALLFlu-TS1000520-950nm＞85%1060-1300nm＞95%CALLFlu-TS1000Z1520-980nm＞85%1030-1350nm＞90%CALLFlu-TS1050550-1000nm＞85%1100-1350nm＞95%CALLFlu-TS1100800-1100nm＞85%1275-1500nm＞90%CALLFlu-TS12001000-1180nm＞85%1265-1500nm＞90%CALLFlu-TS1100580-1060nm＞85%1160-1450nm＞95%CALLFlu-TS1150600-1100nm＞85%1210-1450nm＞95%CALLFlu-TS1200650-1160nm＞85%1300-1550nm＞95%CALL更多定制信息及参数请致电咨询Flu-TL系列长波通二向色镜分束片-分色片 特点：■离子束溅射工艺生产，硬质膜层，膜层稳定致密，使用寿命长■透过率、反射率高、接受定制，价格经济■应用角度45°，可替代semrock、chroma等同类产品■适用荧光成像系统、光谱成像系统、科研实验等产品选型-Flu-TL系列长波通二向色镜分束片-点击型号查看光谱曲线型号透过应用波长透过率反射应用波长反射率25.2 x 35.6x1mm备注Flu-TL400420-1200nm＞85%350-370nm＞90%CALLFlu-TL410420-850nm＞90%325-400nm＞97%CALLFlu-TL425440-800nm＞85%380-410nm＞90%CALLFlu-TL435445-850nm＞90%325-420nm＞97%CALLFlu-TL450470-1000nm＞85%350-430nm＞90%CALLFlu-TL460470-600nm＞90%410-450nm＞97%CALLFlu-TL480490-850nm＞90%350-470nm＞97%CALLFlu-TL490510-800nm＞85%380-470nm＞90%CALLFlu-TL496505-725nm＞90%435-485nm＞97%CALLFlu-TL500520-1000nm＞85%350-480nm＞90%CALLFlu-TL505515-700nm＞90%440-500nm＞97%CALLFlu-TL510520-850nm＞90%350-490nm＞97%CALLFlu-TL515520-790nm＞85%380-490nm＞90%CALLFlu-TL515N520-850nm＞90%350-510nm＞97%CALLFlu-TL520530-700nm＞90%480-510nm＞97%CALLFlu-TL550575-1200nm＞85%415-515nm＞90%CALLFlu-TL550R570-750nm＞85%380-530nm＞90%CALLFlu-TL550K560-850nm＞90%350-545nm＞97%CALLFlu-TL560570-700nm＞90%490-555nm＞97%CALLFlu-TL565585-800nm＞85%390-550nm＞90%CALLFlu-TL590600-750nm＞90%520-585nm＞97%CALLFlu-TL600625-1100nm＞85%460-570nm＞90%CALLFlu-TL600Z615-950nm＞90%350-595nm＞97%CALLFlu-TL605620-780nn＞85%470-590nm＞90%CALLFlu-TL635645-800nm＞90%400-625nm＞97%CALLFlu-TL640660-700nm＞85%580-620nm＞90%CALLFlu-TL650L675-1200nm＞85%495-610nm＞90%CALLFlu-TL650685-1000nm＞85%400-635nm＞90%CALLFlu-TL660670-785nm＞90%580-655nm＞97%CALLFlu-TL685695-800nm＞90%590-675nm＞97%CALLFlu-TL700730-1200nm＞85%535-660nm＞90%CALLFlu-TL735750-1000nm＞90%450-725nm＞97%CALLFlu-TL750780-1200nm＞85%570- 710nm＞90%CALLFlu-TL760770-1000nm＞90%450-740nm＞97%CALLFlu-TL800830-1300nm＞85%600-755nm＞90%CALLFlu-TL800L1815-1100nm＞90%450-790nm＞97%CALLFlu-TL800K2825-1000nm＞85%400-780nm＞90%CALLFlu-TL850880-1500nm＞85%635-800nm＞90%CALLFlu-TL900940-1550nm＞85%675-850nm＞90%CALLFlu-TL900SZ1930-1200nm＞85%400-870nm＞90%CALLFlu-TL950985-1550nm＞85%720-900nm＞90%CALLFlu-TL950E990-1550nm＞85%425-900nm＞90%CALLFlu-TL10001040-1550nm＞85%760-950nm＞90%CALLFlu-TL1000E1020-1550nm＞85%525-980nm＞90%CALLFlu-TL10501090-1550nm＞85%790-1000nm＞90%CALLFlu-TL11001140-1550nm＞85%830-1050nm＞90%CALLFlu-TL11501195-1550nm＞85%780-1100nm＞90%CALLFlu-TL11851270-1600nm＞85%750-1100 nm＞90%CALLFlu-TL12001250-1600nm＞85%950-1165nm＞90%CALLFlu-TL15001560-2000 nm＞85%1000-1445nm＞90%CALL更多定制信息及参数请致电咨询

产品说明二向色镜（或分光镜）可将一束光在特定角度下，分为透射光和反射光。长波通二向色镜的透射波段和反射波段通过起始波长分开，这种二向色镜在短于起始波长的波段具有高反性能，在长于起始波长的波段具有高透性能。多波段二向色镜具有两个或以上透射波段和反射波段，通过截止波长和起始波长分开。它在短于截止波长和长于起始波长的波段具有高透性能，而在截止波长和起始波长之间的波段具有高反性能。TVS-DB系列优质长波通二向色镜有多种起始波长可供选择，范围从400到5000 nm，也可定制大角度二向色镜，如45±6°。产品应用光谱成像、机器视觉、酶标仪器荧光显微镜系统、拉曼成像、超分辨成像投影光引擎系统、激光灯、光学仪器分束视频眼镜等传感器系统产品优势高反射和透射波段：提供反射率平均大于97%、透过率平均大于93%高陡度：10%~90%过渡区小于12 nm高面型参数：优于1/4 λ可承受高激光功率和高工作温度满足更大角度范围分光要求定制化：可根据用户需求定制不同波长范围和角度的二向色镜技术参数主要参数TVS-DB-562-STVS-DB-1050-S定制化材质JGS1JGS1D263T、K9、熔融石英等入射角45°45°0~45°边缘波长562±3 nm1505±3 nm350~2200 nm半波宽可定制透过率569~950 nm≥93%125~1750 nm≥95%可定制截止带宽350~555 nm410~750 nm300~2200 nm截止深度T＜1%T＜1%可定制过渡带陡度≤12 nm（90%-10%）可定制尺寸25.6*35.2*1.05 mm120*120*1.95 mm可定制表面质量60/4060/4060/40、40/20通光孔径＞90%＞90%可定制平行度＜1分＜1分＜1分倒角≤0.5≤0.5≤0.5产品性能

二向色分光滤光片，可用于透射长于起始波长，或短于截止波长的波长。分为长波通型滤光片，和短波通型滤光片。二向色分光片可用于荧光激发光谱分析，光束分离，以及光束组合等场合。 产品名称尺寸中心波长CWL透射带材料二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:370~400nm 透射带:440~1200nmΦ12.5mm425nm440~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:370~430nm 透射带:465~1200nmΦ12.5mm450nm465~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:370~480nm 透射带:515~1200nmΦ12.5mm500nm515~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:385~520nm 透射带:565~1200nmΦ12.5mm550nm565~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:460~570nm 透射带:620~1200nmΦ12.5mm600nm620~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:495~615nm 透射带:670~1200nmΦ12.5mm650nm670~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:535~665nm 透射带:720~1200nmΦ12.5mm700nm720~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:565~715nm 透射带:770~1200nmΦ12.5mm750nm770~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:600~760nm 透射带:820~1200nmΦ12.5mm800nm820~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ12.5mm 反射带:635~810nm 透射带:870~1200nmΦ12.5mm850nm870~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:370~400nm 透射带:440~1200nm12.5x17.5mm425nm440~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:370~430nm 透射带:465~1200nm12.5x17.5mm450nm465~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:370~480nm 透射带:515~1200nm12.5x17.5mm500nm515~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:385~520nm 透射带:565~1200nm12.5x17.5mm550nm565~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:460~570nm 透射带:620~1200nm12.5x17.5mm600nm620~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:495~615nm 透射带:670~1200nm12.5x17.5mm650nm670~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:535~665nm 透射带:720~1200nm12.5x17.5mm700nm720~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:565~715nm 透射带:770~1200nm12.5x17.5mm750nm770~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:600~760nm 透射带:820~1200nm12.5x17.5mm800nm820~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 12.5x17.5mm 反射带:635~810nm 透射带:870~1200nm12.5x17.5mm850nm870~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:370~400nm 透射带:440~1200nmΦ25mm425nm440~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:370~430nm 透射带:465~1200nmΦ25mm450nm465~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:370~480nm 透射带:515~1200nmΦ25mm500nm515~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:385~520nm 透射带:565~1200nmΦ25mm550nm565~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:460~570nm 透射带:620~1200nmΦ25mm600nm620~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:495~615nm 透射带:670~1200nmΦ25mm650nm670~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:535~665nm 透射带:720~1200nmΦ25mm700nm720~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:565~715nm 透射带:770~1200nmΦ25mm750nm770~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:600~760nm 透射带:820~1200nmΦ25mm800nm820~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 Φ25mm 反射带:635~810nm 透射带:870~1200nmΦ25mm850nm870~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:370~400nm 透射带:440~1200nm25x36mm425nm440~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:370~430nm 透射带:465~1200nm25x36mm450nm465~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:370~480nm 透射带:515~1200nm25x36mm500nm515~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:385~520nm 透射带:565~1200nm25x36mm550nm565~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:460~570nm 透射带:620~1200nm25x36mm600nm620~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:495~615nm 透射带:670~1200nm25x36mm650nm670~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:535~665nm 透射带:720~1200nm25x36mm700nm720~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:565~715nm 透射带:770~1200nm25x36mm750nm770~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:600~760nm 透射带:820~1200nm25x36mm800nm820~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-长波通 25x36mm 反射带:635~810nm 透射带:870~1200nm25x36mm850nm870~1200nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:470~545nm 透射带:370~430nmΦ12.5mm450nm370~430nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:520~610nm 透射带:370~480nmΦ12.5mm500nm370~480nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:575~725nm 透射带:400~530nmΦ12.5mm550nm400~530nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:625~795nm 透射带:400~580nmΦ12.5mm600nm400~580nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:675~850nm 透射带:400~630nmΦ12.5mm650nm400~630nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:725~900nm 透射带:400~680nmΦ12.5mm700nm400~680nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:800~990nm 透射带:400~725nmΦ12.5mm750nm400~725nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:850~1050nm 透射带:400~775nmΦ12.5mm800nm400~775nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ12.5mm 反射带:910~1110nm 透射带:400~820nmΦ12.5mm850nm400~820nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:470~545nm 透射带:370~430nm12.5x17.5mm450nm370~430nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:520~610nm 透射带:370~480nm12.5x17.5mm500nm370~480nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:575~725nm 透射带:400~530nm12.5x17.5mm550nm400~530nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:625~795nm 透射带:400~580nm12.5x17.5mm600nm400~580nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:675~850nm 透射带:400~630nm12.5x17.5mm650nm400~630nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:725~900nm 透射带:400~680nm12.5x17.5mm700nm400~680nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:800~990nm 透射带:400~725nm12.5x17.5mm750nm400~725nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:850~1050nm 透射带:400~775nm12.5x17.5mm800nm400~775nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 12.5x17.5mm 反射带:910~1110nm 透射带:400~820nm12.5x17.5mm850nm400~820nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:470~545nm 透射带:370~430nmΦ25mm450nm370~430nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:520~610nm 透射带:370~480nmΦ25mm500nm370~480nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:575~725nm 透射带:400~530nmΦ25mm550nm400~530nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:625~795nm 透射带:400~580nmΦ25mm600nm400~580nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:675~850nm 透射带:400~630nmΦ25mm650nm400~630nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:725~900nm 透射带:400~680nmΦ25mm700nm400~680nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:800~990nm 透射带:400~725nmΦ25mm750nm400~725nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:850~1050nm 透射带:400~775nmΦ25mm800nm400~775nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 Φ25mm 反射带:910~1110nm 透射带:400~820nmΦ25mm850nm400~820nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:470~545nm 透射带:370~430nm25x36mm450nm370~430nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:520~610nm 透射带:370~480nm25x36mm500nm370~480nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:575~725nm 透射带:400~530nm25x36mm550nm400~530nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:625~795nm 透射带:400~580nm25x36mm600nm400~580nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:675~850nm 透射带:400~630nm25x36mm650nm400~630nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:725~900nm 透射带:400~680nm25x36mm700nm400~680nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:800~990nm 透射带:400~725nm25x36mm750nm400~725nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:850~1050nm 透射带:400~775nm25x36mm800nm400~775nm光学级浮法玻璃 (B270)二向色滤光片-短波通 25x36mm 反射带:910~1110nm 透射带:400~820nm25x36mm850nm400~820nm光学级浮法玻璃 (B270)

Andover二向色滤光片? 上海尖丰光电技术有限公司代理的美国Andover厂家的二向色性滤光片（颜色分离滤光片），可用于隔离特定范围的可见光谱，少量应用于颜色增补以及影印机中的颜色平衡。 二向色性滤光片在将入射光分为两束或更多的光束中发挥着很大的作用，下面的光谱图反映的光谱曲线是在正入射的情况下得到的，但是在其他应用中，例如颜色的结合中，入射角为45°也是可取的。产品技术参数描述：General SpecificationsSize Tolerance:+0.0mm/-0.25mmThickness:1.0mm ±0.25mmMinimum Clear Aperture:95% of O.D.Substrate Material:Soda Lime GlassFlatness:3 to 5 wave per 25mmParallelism:3 Arc minutes or betterSurface Quality:80/50 Per MIL-O-13830BCoating Quality:40/20 Per MIL-O-13830BHumidity and Abrasion:Per MIL-C-675AMax Operating Temperature:+100°CMechanical:Not mounted in metal holders一、增色滤光片（color additive filtters）红光增色滤波片选型表Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Red additive filter585FD62-25585FD62-50585FD62-50S绿光增色滤波片选型表Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Green additive filter540FD66-25540FD66-50540FD66-50S蓝光增色滤波片选型表Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Blue additive filter505FD64-25505FD64-50505FD64-50S二、减色滤光片（color subtractive filtters）青色减色滤光片Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Cyan subtractive filter590FD24-25590FD24-50590FD24-50S洋红减色滤光片Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Magenta subtractive filter550FD26-25550FD26-50550FD26-50S黄色减色滤光片Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Yellow subtractive filter520FD22-25520FD22-50520FD22-50S三、反射滤光片（reflectible filters:）红色反射滤光片Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Red reflective filter580FD70-25580FD70-50580FD70-50S蓝色反射滤光片Filter type25mm ?50mm ?50mm sq.Blue reflective filter475FD68-25475FD68-50475FD68-50S

二向色分光滤光片（或称为二向色分光镜，通常是基于 45 °入射光束设计） ，通过在光学玻璃基片表面镀制特殊 设计的介质多层膜，从而将入射光束中某部分波段的光 以和入射光垂直 90 ° 的方向反射，而其他波段的光则透 过。根据反射或透过波长范围的不同，二向色分光片也 可以分为长波通型滤光片 (GDMLP)，和短波通型滤光片(GDMSP)。使用者可以根据具体应用场合不同而选用合 适的滤光片。二向色分光片可用于荧光激发光谱分析，光 束分离，以及光束组合等场合。相较于传统介质长波通， 及短波通滤光片而言（通常基于 0 °入射设计） ，二向色分 光滤光片（45°使用设计）对反射及透射波段的空间分离， 使其在各种不同的光学系统及实验室光路中得到广泛应用。

二向色分光滤光片（或称为二向色分光镜，通常是基于 45 °入射光束设计） ，通过在光学玻璃基片表面镀制特殊 设计的介质多层膜，从而将入射光束中某部分波段的光 以和入射光垂直 90 ° 的方向反射，而其他波段的光则透 过。根据反射或透过波长范围的不同，二向色分光片也 可以分为长波通型滤光片 (GDMLP)，和短波通型滤光片(GDMSP)。使用者可以根据具体应用场合不同而选用合 适的滤光片。二向色分光片可用于荧光激发光谱分析，光 束分离，以及光束组合等场合。相较于传统介质长波通， 及短波通滤光片而言（通常基于 0 °入射设计） ，二向色分 光滤光片（45°使用设计）对反射及透射波段的空间分离， 使其在各种不同的光学系统及实验室光路中得到广泛应用。

Quanta&trade 250 真正的多用途扫描电镜研究各种各样的材料，并进行结构和成份表征，是目前对扫描电镜 的主流应用要求。FEI Quanta&trade 系列灵活、通用，足以应对当今人们 广博的研究方向这一挑战。“分析任何样品，得到所有数据”，在 Quanta上可得到表面像和成份像，并可辅以多种附件来确定材料的 性质和元素组成。 当今人们利用扫描电镜研究的材料早已超出单纯的金属和经导电 处理过的样品。Quanta对任何样品都可得到高质量的图像和分析结 果。无论是对现今的或是将来的应用领域，FEI的Quanta 50系列都是 一个高端的、灵活的解决方案。其特点是，具有高真空、低真空和 ESEM&trade 环境真空三种真空模式，适合分析最广泛的样品范围，从传 统的金属材料、断口和抛光断面，到不导电的软物质。 Quanta系列用户界面使用起来十分方便、灵活，有多种功能最大 程度地发挥其使用效率，并且允许采集所有需要的数据。它是电 镜专家设计来给电镜专家使用的仪器，性能远不止“简便易用” 。这些功能有：特有的图像导航功能包括蒙太奇图像导航、鼠标 双击样品台移动、鼠标拖曳放大居中功能以及其它标准的特色 术；SmartSCAN&trade ，一种智能扫描技术，能降低信号噪音，提供更好 的数据；电子束减速模式，一个新的选项，将钨灯丝扫描电镜的低 加速电压性能提高到一个全新的水平；Nav-Cam&trade 彩色图像导航器及 新开发的探测器也大大增加了其灵活性。 更多数据、更多灵活性、更高效率，Quanta系列使您的投资更具价 值。 主要优点 &bull 在各种操作模式下分析导电和不导电样品， 得到二次电子像和背散射电子像 &bull 最大程度降低样品制备要求:低真空/环境真 空技术使得不导电样品和/或含水样品不经导 电处理即可直接成像和分析，样品表面无电 荷累积现象 &bull 专利的“穿过透镜”的压差真空系统，对导 电和不导电样品都可进行EDS/EBSD分析，不 管是在高真空模式或在低真空模式。稳定的 大束流(最大 2 μA)确保能谱及EBSD分析工作 的快速、准确 &bull 电镜可作为一个微观实验室。安装特殊的原 位样品台后，在从- 165 °C到1500 °C温度范围 内，对多种样品保持其原始状态下进行动态 原位分析 &bull 对导电样品，可选用减速模式得到表面和成 份信息 &bull 直观、简便易用的软件，即使电镜新手也能 轻易上手Product Data Quanta&trade 250 Page 2 典型应用: 纳米表征 &bull 金属及合金, 氧化/腐蚀, 断口, 焊点, 抛光断面, 磁性及超导材料 &bull 陶瓷, 复合材料, 塑料 &bull 薄膜/涂层 &bull 地质样品断面, 矿物 &bull 软物质: 聚合物, 药品, 过滤膜, 凝胶, 生物组织, 木材 &bull 颗粒, 多孔材料, 纤维 原位过程分析 &bull 增湿/去湿 &bull 浸润行为/接触角分析 &bull 氧化/腐蚀 &bull 拉伸 (伴随加热或冷却) &bull 结晶/相变 纳米原型制备 &bull 电子束曝光 (EBL) &bull 电子束诱导沉积(EBID) 主要参数 电子光学 &bull 高性能电子光学镜筒，双阳极热发射电子枪 &bull 固定式物镜光阑，使用方便 &bull 45°锥度物镜极靴，及“穿过透镜”的压差真空系统 &bull 加速电压: 200 V - 30 kV &bull 束流:最大2 μA并连续可调 &bull 放大倍数: 13 x – 1,000,000 x 分辨率 &bull 高真空 – 30 kV下3.0 nm (SE) – 30 kV下4.0 nm (BSE) * – 3 kV下8.0 nm (SE) &bull 高真空下减速模式* – 3 kV下 7.0 nm * &bull 低真空 – 30 kV下3.0 nm (SE) – 30 kV下 4.0 nm (BSE) – 3 kV下10 nm (SE) &bull 环境真空 (ESEM) – 30 kV下3.0 nm (SE) 检测器 &bull E-T二次电子探头 &bull 大视场低真空气体二次电子探头 (LFD) &bull 气体二次电子探头 (GSED) &bull 样品室红外CCD相机 &bull 高灵敏度、低电压固体背散射探头* &bull 气体背散射探头* &bull 四分固体背散射探头* &bull 闪烁体型背散射探头/CLD* &bull vCD (低电压高衬度探头)* &bull 电子束流检测器* &bull 分析型气体背散射探头 (GAD)* &bull Nav-Cam&trade – 光学相机彩色成像，用于样品导航* &bull 阴极荧光探测器* &bull 能谱* &bull 波谱* &bull EBSD* 真空系统 &bull 1个 250 l/s 涡轮分子泵, 1个机械泵 &bull 专利的“穿过透镜”的压差真空系统 &bull 电子束在气体区域的行程：10 mm或2 mm &bull 可升级成无油机械泵 &bull 样品室真空度 (高真空模式) 6e-4 Pa &bull 样品室真空度(低真空模式) 10 to 130 Pa &bull 样品室真空度(环境真空模式) 10 to 2600 Pa &bull 典型换样时间: 高真空模式≤ 150秒；低真空及环境真空模式 ≤ 270秒(FEI标准测试程序) 样品室 &bull 左右内径284 mm &bull 10 mm分析工作距离 &bull 8个探测器 / 附件接口 &bull EDS采集角: 35° 样品台 &bull X/Y = 50 mm &bull Z = 50 mm (其中马达驱动25 mm) &bull 手动倾斜：- 15° to + 75° &bull 连续旋转360° &bull 重复精度: 2 μm (X/Y方向) &bull 全对中样品台 *选项样品座 &bull 多样品座 &bull 单样品座 &bull 适用于硅片或其它特殊要求的样品座* 系统控制 &bull 基于Windows XP 操作系统的32位图形用户界面， 键盘，光电鼠标 &bull 1个/2个* 19寸液晶显示器, 分辨率1280 x 1024 &bull 软件驱动的输入/输出共享器* &bull 游戏操纵杆* &bull 多功能控制板* 图像处理器 &bull 最大4096 x 3536像素 &bull 图像文件格式：TIFF (8 or 16 bit), BMP or JPEG &bull 单窗口或四窗口图像显示 &bull 四活动窗口 &bull 实时或静态信号按彩色或按灰度等级混合 &bull 256 帧平均或积分 &bull 数字动画记录 (.avi格式) &bull 直方图及图像测量软件 支持软件 &bull SmartSCAN&trade 智能扫描技术 &bull 蒙太奇图像导航 &bull 软件温度控制 &bull FEI动画生成工具 系统选项 &bull 减速模式 &bull 多功能控制板 &bull 支持计算机 (包括第二个19寸液晶显示器) &bull 软件控制的Peltier冷台 &bull 软件控制的WetSTEM&trade &bull 软件控制的1000 °C热台 &bull 软件控制的1500 °C热台 &bull 游戏操纵杆 &bull 样品电流探测 &bull 远程控制 &bull 视频打印机 &bull 样品座套件 &bull 机械泵隔音罩 &bull 7针或52针电气接口 &bull 静电电子束束闸 &bull 波谱仪接口 &bull 更换成无油机械泵套件 &bull 辅助气体接口 (采用非水气体) 通用第三方附件 &bull 能谱仪 &bull 波谱仪 &bull EBSD &bull 冷台 &bull 阴极荧光谱仪 &bull 样品电流探测器 &bull 纳米机械手 &bull CAD导航 &bull 电子探针台 软件选项 &bull 远程控制/观察软件 &bull 图像分析软件 &bull 基于Web的数据库软件 &bull 高度分布/粗糙度测量软件 支持文档 &bull 在线帮助 &bull 入门培训CD &bull RAPID&trade (远程诊断软件) &bull 免费连接到FEI用户群在线资源库 &bull 免费加入FEI环境扫描用户俱乐部 安装要求 (更多的数据请参考“预安装手册”) &bull 电源: 电压 230 V (+ 6 %, - 10 %), 频率 50 or 60 Hz (+/- 1 %) &bull 耗电量: 电镜基本系统 3.0 kVA &bull 接地: 0.1 Ω(欧洲标准) &bull 场地环境: 工作温度 15 °C - 25 °C； 相对湿度 80 % (无冷凝)；残余交流磁场 100 nT(非同步频率，水平X/Y方向), 300 nT (同步频率，水平X/Y方向) &bull 门宽: 90 cm &bull 重量: 主机重量约450 kg &bull 干燥氮气(推荐使用): 0.7 - 0.8 bar, 放气时最大流速 10 l/min &bull 噪音: 68 dBC (需场地测试确定) &bull 振动 (需场地测试确定) &bull 减振台可选 节能措施 &bull Energy Star认证的显示器和工作站 &bull 无需冷却水和空压机 *选项

产品介绍项目描述SE分辨率3.0nm (30kV)，高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式BSE分辨率4.0nm (30kV)，低真空模式放大倍率x5 ~ x300,000加速电压0.3 ~ 30 kV低真空范围6 ~ 270 Pazui大样品尺寸直径200mm样品台I型 II型X0 ~ 80mm 0 ~ 100mmY 0 ~ 40mm 0 ~ 50mmZ5 ~ 35mm 5 ~ 65mmR360o 360oT-20o~ +90o -20o ~ +90oT-20o~ +90o -20o ~ +90ozui大样品高度35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)驱动类型手动 五轴马达驱动灯丝预对中钨灯丝物镜光栏可移动式4孔物镜光栏枪偏压 固定比例偏压、手动偏压和自动4偏检测器二次电子检测器 高灵敏度半导体背散射电子检测器分析位置WD=10mm, TOA=35o控制鼠标、键盘，手动旋钮自动调校自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦 消像散、自动亮度对比度 详细说明1. S-3400N具有强大的自动功能，包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、 自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等。2. 在3kV低加速电压时保证有10nm的分辨率。3. 新型5分割高灵敏半导体式背散射探头。4. S-3400N II型具有五轴马达台，倾斜角度可达-20度~+90度，样品zui高可达80mm。5. 分析样品仓可以同时安装EDX ， WDX 及EBSD。6. 真空系统使用涡轮分子泵，洁净、高效

产品介绍项目描述SE分辨率3.0nm (30kV)，高真空模式 / 10nm (3kV), 高真空模式BSE分辨率4.0nm (30kV)，低真空模式放大倍率x5 ~ x300,000加速电压0.3 ~ 30 kV低真空范围6 ~ 270 Pazui大样品尺寸直径200mm样品台I型 II型X0 ~ 80mm 0 ~ 100mmY 0 ~ 40mm 0 ~ 50mmZ5 ~ 35mm 5 ~ 65mmR360o 360oT-20o~ +90o -20o ~ +90oT-20o~ +90o -20o ~ +90ozui大样品高度35mm (WD=10mm) 80mm (WD=10mm)驱动类型手动 五轴马达驱动灯丝预对中钨灯丝物镜光栏可移动式4孔物镜光栏枪偏压 固定比例偏压、手动偏压和自动4偏检测器二次电子检测器 高灵敏度半导体背散射电子检测器分析位置WD=10mm, TOA=35o控制鼠标、键盘，手动旋钮自动调校自动灯丝饱和、自动4偏压、自动枪对中、自动束流设定、自动合轴、自动聚焦 消像散、自动亮度对比度 详细说明1. S-3400N具有强大的自动功能，包括自动灯丝饱和、4偏压、自动枪对中、自动束流设定、 自动合轴自动聚焦和消像散、自动亮度对比度等。2. 在3kV低加速电压时保证有10nm的分辨率。3. 新型5分割高灵敏半导体式背散射探头。4. S-3400N II型具有五轴马达台，倾斜角度可达-20度~+90度，样品zui高可达80mm。5. 分析样品仓可以同时安装EDX ， WDX 及EBSD。6. 真空系统使用涡轮分子泵，洁净、高效

日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA详细介绍日本电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA型与日本电子公司的元素分析仪（EDS），统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。扫描电镜最基本的功能是对各种固体样品表面进行高分辨形貌观察。大景深图像是扫描电镜观察的特色，应用于生物学、植物学、地质学、冶金学等领域。观察可以是一个样品的表面，也可以是一个切开的面，或是一个断面。冶金学家已兴奋地直接看到原始的或磨损的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶体的生长或腐蚀的缺 陷。它一方面可更直接地检查纸，纺织品，自然的或制备过的木头的细微结构，生物学家可用它研究小的易碎样品的结构。例如：花粉颗粒，硅藻和昆虫。另一方面，它可以拍出与样品表面相应的立体感强的照片。电子束与样品作用区内，还发射与样品物质其他性质有关信号。例如：与样品化学成分分布相关的，背散射电子，特征X射线，俄歇电子，阴极荧光，样品吸收电流等；与样品晶体结构相关的，背散射电子衍射现象的探测；与半导体材料电学性能相关的，二次电子信号、电子束感生电流信号；在观察薄样品时产生的透射电子信号等。目前分别有商品化的探测器和装置可安装在扫描电镜样品分析室，用于探测和定性定量分析样品物质的相关信。操作窗口：直观的操作界面的设计，简明易懂便于迅速掌握操作。支持多用户：单个用户可以根据常用功能设置相应的图标，营造快捷的操作环境。用户登录时，即可加载已注册过的设定。同时显示两幅图像：画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。微细结构测量：适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像，保存在文件中。标准的全对中样品台，能收录三维照片3D Sight（选配件），能够进行平面测量和高度测量，实现立体俯视图。从图像观察到元素分析，配合连贯一条龙分析型扫描电子显微镜配备两台监视 器，一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析（EDS）。一只通用鼠标即可同时控制两台监视 器。大尺寸画面使操作更加简便与舒 适。维护简便：工厂预置中 心灯丝，十分便于更换。因此，可长期保持稳定的高性能。此外，操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。可信赖的真空系统：真空系统使用高性能的扩散泵保证了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件，体现了操作稳定，维护简便的特色。 日本电子扫描电镜JSM-6510A/ JSM-6510LA型的规格保证分辨率3.0nm（30kV）8.0nm（3kV）15nm（1kV）放大倍数5至300,000x加速电压0.5kV至30kV电子枪工厂预对中灯丝聚光镜变焦聚光镜物镜锥形物镜样品台全对中样品台X-Y80mm-40mmZ5mm至48mm旋转360°倾斜－10°至＋90°排气系统（高真空模式）DPx1，RPx1排气系统（低真空模式）DPx1，RPx2日本电子最 大的亮点——方便的导航系统

扫描电镜主要技术参数分辨率二次电子（SE）成像高真空模式：30kV时 1.2nm；1kV时 3.0nm低真空模式：30kV时 1.5nm；3kV时 3.0nmESEMTM环境真空模式：30kV时 1.5nm背散射电子（BSE）成像 30kV时 2.5nm放大倍数高真空模式：12×～1，000，000×低真空模式：12×～1，000，000×加速电压 200V～30Kv样品室内径 379mm 能谱（EDS）主要技术参数能量分辨率（20000CPS）：Mn-Ka≥129eV,C-Ka≥65eV,F-Ka≥70eV，1000CPS～40000CPS时，Mn-Ka谱峰漂移≤1eV，空间分辩达到纳米量级；元素分析范围：Be4～U92；输出最大计数率≥100，000CPS，输入最大计数率≥300，000CPS EBSD主要技术参数EBSD探头EBSD花样分辨率：640×480，信噪比≥65Db，芯片积分时间：80微秒～15分钟最大标定速度≥400帧/秒（准确率优于99%），束流≤2nA仍可以高速采集；在高、低真空和可变真空条件下都可以高速采集。 数据采集系统可对所有对称性（从三斜到立方的所有7个晶系）的晶体材料的EBSD进行自动标定，空间分辨率≤0.05μm EBSD花样自动采集和标定的准确度≥99%，标定速度≥400幅/秒 使用一个软件平台同步采集EBSD和能谱数据，进行花样标定与相鉴定。 EBSD软件EBSD面扫描数据分析，包括取向图、极图与反极图、ODF图等，功能包括：花样质量、相界晶界、晶粒尺寸、欧拉角、共格界面等；具有晶界特征（相界、晶界旋转角、轴角对、共格界面等），离散绘图（极图、反极图、ODF和MDF图、欧拉空间图、强度绘图（花样质量、晶粒尺寸、相和晶体取向）织构分析（计算和绘图）等分析软件。

产品介绍：TESCAN VEGA 第四代钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence&trade 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及所含元素的数据分析工作，使得全新的第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更gao效的分析的解决方案。TESCAN VEGA 采用创新的电子光学设计，确保在需要时即时、无缝地选择成像或分析条件，无需对任何电子光学镜筒内的元件进行机械对中。可以配置真空缓冲节能单元，使用后可显著缩短机械泵的运行时间，从而达到节能、环保的要求。主要特点:完全集成的 TESCAN Essence&trade EDS 分析平台，在 Essence&trade 电镜操控软件的单一窗口中即可实现 SEM 成像和元素成分分析。TESCAN 采用独特的无机械光阑设计，采用实时电子束追踪（In Flight Beam Tracing&trade ）的ZG技术，可帮助用户快速获得电镜合适的成像及分析条件。独特的大视野光路（Wide Field Optics&trade ）设计，zui低至2倍的放大倍数，无需额外的光学导航摄像头即可轻松、精确地实现 SEM 导航。直观、模块化的 Essence&trade 软件设计，不同经验等级的用户均可轻松操作。在样品台及装置的样品运动过程中，Essence&trade 3D 防碰撞模块可以直观的显示安装样品室内的探测器及样品台的位置信息，提供安全性的保护。SingleVac&trade 模式作为标准配置，为观测不导电样品和电子束敏感的样品提供便利的分析利器。可选配的真空缓冲节能单元可显著缩短机械泵的运行时间，提供环保、高经济效益的电子显微镜。模块化分析平台，可选配集成最多种类的探测器和附件（如阴极荧光探测器，水冷背散射电子探测器或拉曼光谱仪等）。大视野设计，实现低倍精确导航利用大视野光路(Wide Field Optics&trade )技术，用户可通过扫描窗口实时观察样品，直接实现感兴趣位置的精确导航。大视野光路技术取代了传统的CCD导航相机，提供无与伦比的大景深，同时也提供样品实际形貌的图像，实现更直观、先进的样品导航过程。在 SEM 观测窗口中，最小2倍的放大倍率保证了大视野无畸变的图像实时观测，可连续放大感兴趣的区域，无需光学导航相机。实时的SEM窗口同样可与预倾斜样品台（如 EBSD 预倾台）配合使用，对于需要倾斜分析的样品，支持扫描倾斜校正，从而实现更精确的导航。自动操作通过一次点击就可以进行自动灯丝加热和电子枪对中。众多的自动程序减少了用户的操作时间，并提供了操作的自动导航与自动化分析。通过内置脚本语言（Python）用户可以进入软件大多数功能，包括电镜控制、样品台导航、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户也可以自定义软件的自动操作。全新的 EssenceTM 电镜控制软件用户界面有各种语言版本。集成的 Essence&trade EDS 能谱软件，轻松快捷地实现从成像切换到元素分析，通过软件一键即可实现所有设置参数的更改。具备快速搜索功能、命令撤消及参数预设等多种功能，帮助用户gao效、快捷地完成分析工作。允许用户设定符合其自身体验水平或特定应用的工作流程。Essence&trade 防碰撞模型软件能够直观的模拟出样品室内情况，有效避免碰撞的发生。内置的自动系统检查。通过局域网或互联网可实现电镜远程诊断。模块化软件体系结构。标准的软件模块包括了：光电联用、测量工具、图像处理、对象区域等。选配软件包括了：颗粒度分析、三维表面重构等。软件：测量软件, 公差测量软件图像处理预设参数直方图及LUTSharkSEM&trade 基础版 (远程控制)3D 防碰撞模型软件对象区域光电联用 定时关机CORAL&trade （用于生命科学的电镜模块）自动拼图软件样品观察TESCAN Flow&trade (离线处理软件)

FusionScope多功能显微镜——创新AFM+SEM原位同步联用技术 在多数情况下，为确认不同参数之间的相关性，样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言，这意味着在实际操作中需要对相同的区域进行对比分析。2022年10月，美国Quantum Design公司重磅推出FusionScope多功能显微镜，将SEM和AFM技术融合在一台设备上。用户不需要将样品从一台显微镜移动到另一台显微镜，也不必使用两个不同的操作系统来分析样品上的同一位置，而是在同一用户界面内、同一位置进行互补性综合量。 FusionScope多功能显微镜提供了带有SEM功能的原子力显微镜的所有优点。它能够实现标准AFM的测量模式，包括接触、动态和FIRE模式（Finite Impulse Response Excitation ）。只需单击按钮，即可在亚纳米分辨率下切换AFM和SEM成像模式，并获取所需的数据。通过更换悬臂，AFM可轻松实现高级工作模式，例如力曲线、导电原子力显微镜（C-AFM）和磁力显微镜（MFM）。FusionScope同时提供EDS能谱仪选件，可以在扫描电镜中对样品进行元素和化学分析，在纳米及微米尺度上收集更准确的数据。结合已有的AFM/SEM，使测量更加多功能化。 FusionScope多功能显微镜优势★ Quantum Design自主研发的AFM和SEM成熟集成方案，自动化程度高，软件/硬件操作简单易用；★ 多种AFM功能与SEM原位联用，极大程度上发挥出两种常用显微镜的技术优势，实现同一时间、同一样品区域和相同条件下的原位共享坐标测量，避免样品转移过程中的污染风险，特别适合环境敏感样品；★ 多通道样品特性成像，并无缝关联到三维形貌图像中。AFM可测量的功能包括有：三维/二维表面形貌成像，力学/机械性能测量、电学测量、磁学测量；SEM配备EDS功能；★ 利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80°AFM与样品台同时旋转。FusionScope多功能显微镜特点简单易用FusionScope硬件和软件经过精心设计，不仅让初学者快速上手，简单易用，同时还可以定制用户界面，提供用户所需要的所有功能。更换样品FusionScope更换样品仅需几分钟，简单快速。共坐标系统利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80° AFM与样品台同时旋转。实时剖面准确展示AFM探针和样品相对位置FusionScope的创新功能之一是剖面成像，即在测量时可以实时观察AFM悬臂的针尖。通过这种剖面工作方式，即使是难以到达的样品区域也可以用AFM探针非常精确地接近，从而测量形状复杂的样品。自感应悬臂 FusionScope中的AFM采用自感应悬臂，无需光学对准即可提供所有悬臂电信号，实现对样品表面进行高质量、低噪音测量。性能优异、简单易用。自感探针可以让电子束大限度地进入悬臂和样品区域，实现AFM和SEM的无缝结合。自感应悬臂功能也十分丰富，可以提供更多测量功能，如电导率、磁性、表面电位、温度及其他样品特征。自感应悬臂采用聚焦电子束诱导沉积（FEBID）工艺制备，针尖半径小于10 nm，保证了高分辨率导电或磁性成像，并具有出色的机械稳定性。任务面板FusionScope任务菜单帮助用户快速识别和执行所需的显微镜操作，并提供简单易用的向导式操作流程，帮助用户减少调整和管理硬件的时间，将更多时间用于收集样品图像和数据分析。 用户界面定制FusionScope提供用户友好型软件界面，以满足用户或实验的需求。软件分为标准模式和高级模式，用户可根据具体需求进行个性化配置。软件支持日志功能和用户注释。数据处理每次实验都可以将数据自动存在在一个"experiment"文件中，确保在不同计算机之间方便进行数据转移和离线处理。在数据处理模块中，集成了第三方数据处理软件(例如用于AFM数据处理的Gwyddion软件)。 FusionScope多功能显微镜参数AFM扫描范围 XY：22 x 22 μm （闭环）扫描范围 Z：15 μm成像噪声：50pm @ 1kHz悬臂探头：自感压阻式测量模式：Contact, Dynamic, FIRE, MFM, C-AFM, …SEM电子源：热场发射加速电压：3.5 kV – 15 kV探头电流：5 pA – 2.5 nA（典型值为300 pA）放大倍数：25X – 200,000X探测器：In-Chamber SE Everhart-Thornley样品最大样品直径：20 mm（12 mm 关联工作模式）最大样品高度：20 mm最大样品重量：500 g对齐方式：全自动 样品腔典型腔室真空：1-10 μTorr抽真空时长：5 min样品托倾斜角度：-10 °至 80°系统用电：200-230 VAC，50/60Hz；单相 15 A尺寸（宽 x 长 x 高）：690 x 835 x 1470 mm重量：330 kg应用领域通过结合SEM和AFM的互补优势，FusionScope打开了通往全新应用可能性的大门！涵盖多个应用领域：材料科学、纳米力学、半导体或太阳能电池行业、生命科学......适用材料：纳米线、2D材料、纳米颗粒、电子元件、半导体、生物样品……半导体表征对于形状复杂的半导体，FusionScope能够通过精准定位到样品的不同位置进行表征，同时得到精确表面形貌。探针定位到电极位置并进行扫描；探针定位到玻璃表面并进行扫描 电极处表面形貌 玻璃处表面形貌使用AFM原子力显微镜分析电子元件或半导体器件 模式：SEM, AFM Topography样品：CPU芯片对于AFM用户来说，纳米结构的精确定位和分析是一项具有挑战性且耗时的工作，近年来晶体管尺寸的减小对质量控制和失效分析也提出了更高的要求。借助FusionScope及其剖面成像功能，用户可以轻松地将悬臂尖端定位至感兴趣的区域，并对样品进行高分辨率 AFM 分析、亚纳米级分辨率3D形貌测量、导电 AFM测量等。(图1) CPU芯片的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 晶体管结构特定区域的AFM图像(图3) 晶体管结构特定区域的SEM图像使用AFM原子力显微镜表征二维材料模式：AFM Topography样品：石墨烯从纳米机电传感器及光学器件的许多应用研究中，二维材料的独立悬浮膜引起科学家的极大兴趣。其表征大多依赖于扫描探针显微镜技术，如原子力显微镜（AFM）。然而，与刚性样品不同，悬浮的2D原子级薄膜是柔性的，在AFM测量过程中会受到机械干扰，这可能导致实验结果的偏差。FusionScope可以通过在实时观测膜变形来规避这些缺点，从而更好地获取AFM数据。(图1) 石墨烯的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 石墨烯膜的关联SEM和AFM图像(图3) 施加低负载的石墨烯的AFM形貌图(图4) 施加高负载的石墨烯的AFM形貌图 使用FusionScope进行原子台阶表征模式：AFM Topography, SEM样品: 热解石墨（HOPG）为了检测样品表面区域的最小变化，需要尽量减少AFM机械和电气噪音的影响，这在高真空系统中尤其具有挑战性。FusionScope性能优异，实现了真正的原子分辨率的AFM测量。 (图1) HOPG的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) HOPG样品三维形貌图(图3) 图2HOPG样品的高度（0.3 nm）纳米力学通过SEM提供的视野，研究者可以实现对特定样品表面的力学性能测试，并且能够清晰地观察探针对样品的压痕过程。无论是想要探究材料的硬度、弹性模量还是断裂韧性，都能在FusionScope中得到答案。探针测量单根硅纳米柱动态过程探针测量单根硅纳米柱快闪图样品的力学曲线 FusionScope可以轻松实现在纳米压痕实验中的力学控制，以静制动，原位视野下轻松测试，可视化呈现纳米压痕。通过设置不同的力测试纳米压痕的效果，得到样品硬度信息。探针在样品表面压痕FusionScope能够快速对具有不规则表面的载药颗粒进行力学测试与动态测量过程。如下样品主要成分为VitaminC，通过扫描电镜可以观察到样品表面崎岖不平，粗糙度较高，在进行力学测试过程中，能够通过SEM观察到一种阶段式下针过程，从而得到分段式力学曲线，二者相辅相成，互为验证。 倾斜样品的力学曲线测量快闪图阶段式力学曲线测试结果材料科学 FusionScope可以针对感兴趣的区域进行结构、机械、电学、磁学和化学性质分析，实现对样品的全方位表征。使用磁力显微镜表征钴层材料的形貌与磁性分布下图所示利用FusionScope对用离子束刻蚀（FIB）加工的钴层进行磁特性表征。这种研究可能涉及测量钴层的磁场强度、磁化曲线、磁畴结构等参数，以便更好地了解钴层材料在磁性方面的性能。Topography & MFM overlayAu纳米线的精准测量通过拓展性配置的机械手，将Au纳米线的位置进行精确校正之后对末端进行3D形貌扫描。自旋体纳米棒表征人工构建的自旋体纳米棒Ni81Fe19，对其形貌进行精准定位扫描，关联AFM与SEM数据结果，同时关联起三种不同结构对应的磁性结果。三种磁性纳米棒的SEM关联AFM形貌表征结果铁镍纳米棒的极化磁性测量以及与AFM形貌的对应。使用MFM磁力显微镜表征磁性相位结构模式：MFM样品：双相不锈钢双相不锈钢是含有奥氏体和铁素体相的混合物，与标准钢相比，具有更高的机械强度和延展性。原位磁力显微镜（In-situ MFM）可以详细分析不同类型的双相不锈钢样品的磁性。使用FusionScope可以轻松观察不锈钢表面的不同相，并且AFM探针很容易定位在两个不同相的晶界处。使用磁性悬臂可以分析不锈钢的磁性并对铁磁区域进行高分辨成像。(图1) AFM探针在双相不锈钢上方的SEM图像。(图2) 双相不锈钢晶界处的SEM图像。(图3) 双相不锈钢晶界处的AFM形貌图。(图4) 双相不锈钢晶界处的MFM图像显示铁磁性和顺磁性相结构。使用EFM静电力显微镜评估材料晶界模式：EFM样品：BaTiO3多晶BaTiO3陶瓷的宏观电子性能由单晶间形成的晶界决定。为了更好地了解BaTiO3的整体电阻，科学家必须能够在纳米尺度表征晶体材料中的电位差。这种表征可以通过静电力显微镜（EFM）完成。FusionScope可以进行原位EFM分析，利用SEM的高分辨率轻松识别晶界，并直接在感兴趣区域进行EFM分析。(图1) 同一区域SEM、AFM和EFM信号的3D综合数据(图2) BaTiO3样品的SEM图像(图3) BaTiO3样品的AFM形貌图(图4) BaTiO3样品的EFM相位图像(+1.5V) 生命科学FusionScope可以准确、轻松地获取生物样品的纳米级形貌，特别是对于难以触及的或非常小的样品区域，实现高精度物性表征，如3D形貌，刚度和粘附力等…使用AFM原子力显微镜表征常规难以测量的样品区域模式：AFM Topography样品：骨骼对难以触及的样品区域，进行SEM/AFM分析非常有挑战，比如骨组织的分析，特别是骨表面的空隙和胶原纤维的详细测量。FusionScope可以对空隙结构进行快速简便的识别和成像。通过SEM的大视野识别空隙，并可将悬臂直接定位在空隙结构上，然后通过AFM实现亚纳米分辨率的空隙和胶原纤维的真实3D形貌。(图1) 骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 空隙结构的SEM图像(图3) 空隙结构的AFM 3D形貌图(图4) 位于空隙结构内的胶原纤维的高分辨率AFM图像使用AFM原子力显微镜表征贝壳表面的硅藻模式：AFM Topography样品：贝壳利用FusionScope显微镜，可以精准定位贝壳表面上的硅藻。在剖面模式下，用户可以轻松地将AFM悬臂尖端定位到选择的硅藻结构上，并进行3D形貌分析。(图1)骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) 贝壳表面硅藻结构的SEM图像(图3) 硅藻表面的AFM 3D形貌图测试数据标准AFM 静态模式（接触模式） 在静态模式或接触模式下，针尖与样品表面连续接触，针尖针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力。当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图像。在接触模式下获得的聚合物表面的AFM图像 动态模式 动态模式，也称为间歇性接触或Tapping模式，悬臂在其谐振频率附近振荡。当探针靠近表面时，探针和样品之间的相互作用导致振荡幅度发生变化。当悬臂扫描样品时，调整高度以保持设定的悬臂振荡幅度，进行AFM成像。左：在动态模式下测量的石墨烯膜的关联SEM和AFM图像；右：单个石墨烯膜的高分辨率AFM形貌图像FIRE模式FIRE模式是一种新型的、间歇性接触AFM技术。FIRE模式基于在高于驱动频率、但低于悬臂共振频率的频域中，对悬臂信号进行检测，得到样品刚性与粘附力信息。 利用FIRE模式测量双组分聚合物样品（聚苯乙烯和聚烯烃弹性体）的AFM形貌图像（左）和刚度（右）C-AFM导电原子力显微镜标准C-AFM导电AFM（C-AFM）通过使用尖锐的导电针尖同时测量样品的形貌和导电特性。左：硅衬底上Au电极结构的SEM图像；中：电极结构的AFM形貌图像；右：电极结构的电导率图 静电力显微镜（EFM） 静电力显微镜（EFM）是一种相位成像技术，通过测量样品衬底电场的成像变化，从而研究表面电位和电荷分布。BaTiO3陶瓷的SEM图像显示出不同的晶界（左）；AFM图像（中）；EFM相位图像（+1.5V偏置电压） 磁力显微镜 磁力显微镜（MFM）是一种相位成像模式，通过使用磁性AFM探针来研究磁性材料的性质。多层Pt/Co/Ta样品的AFM图像（动态模式，左）及相同区域的MFM图像（右）扫描电子显微镜（SEM）使用聚焦电子束，FusionScope可以实现样品表面的高分辨率成像。凭借其高灵敏度的SE模式，FusionScope可以在几纳米级别获得形貌信息。锡球的SEM图像，图像水平场宽度为50 μm（左）；高倍率显微照片显示了左图中破碎锡球的表面细节（右）SEM扫描电镜其他功能包括：★ FusionScope可以从毫米级到纳米级进行扫描，因此易于定位，且具有非常的高分辨率；★ 高度自动化，为用户提供清晰锐利的图像；★ 倾斜度高达80°，轮廓视图显示样品的“侧面”特征；★ 快速分析功能，广泛应用于生物和医学科学、陶瓷、质量控制、失效分析、法医学调查、生命科学和半导体检测等应用领域。

高端圆二色光谱仪 J-1700特点 J-1700专为更苛刻的近红外CD应用而设计。除了增强的远紫外线能力，研究人员探测分子在NIR光谱区域的手性活性现在有能力获得波长高达2500 nm的数据。 InGaAs检测器具有900-2500nm的波长范围，而PMT范围从163-950nm。自动检测器互换允许研究人员获得远紫外和近红外测量，而不必手动切换检测器。将光栅单色仪添加到双棱镜单色仪设置提供低杂散光和高光强度，产生在大光谱范围内具有高信噪比的CD信号。 NIR-CD应用从金属配位络合物的构象和手性研究到纳米材料的调谐手性性质不同。另外，磁性圆二色性（MCD）可以与NIR-CD结合使用以探测发色团的电子结构以及诱导化合物中的手性。规格&bull 自动检测器切换： PMT(紫外-可见), InGaAs (近红外), InSb (选配) &bull 自动光源切换： 150W 或450W 氙灯(紫外-可见) ，150W钨灯 (近红外) &bull 单色器系统自动调整：双棱镜+光栅分光可选附件 帕尔贴温度控制 积分球（漫反射）附件 波长扩展 微量样品池 自动滴定 荧光圆二色 荧光附件 旋光色散附件 停留附件（快速反应动力学） 线二色 高通量圆二色 磁圆二色附件 液相圆二色联用流通池附件

目镜:E-PI10x23 物镜: 5X A-PLAN PH010X APLAN PH120x ACHROPLAN PH240x LD plan-NEOFLUAR PH2聚光镜内置相差环手动载物台和推尺滤光片B ,G ,UV三色荧光模块12v100w卤素灯: HAL100100w220v荧光灯箱: HBO 100 ccd 1x接口荧光电源箱ebq100 相机选配:1. 全新图谱相机:2000w像素，ISPM USB3.0 索尼IMX183芯片。2.全新制冷相机: 索尼IMX183芯片 2000W像素 COMS USB3.0数据传输 图谱软件。

日本JASCO 圆二色光谱仪 J-1500 圆二色光谱仪已经成为生物分子表征，绝对构型和立体化学分析测定的重要的技术之一。自从1961年推出第一台圆二色光谱仪后，JASCO已经设计和制造众多高性能圆二色光谱仪。经过半个多世纪的技术积累，JASCO很自豪地推出了第八代圆二色光谱仪J-1500。仪器性能● 增强型真空紫外区测量 J-1500的创新光学系统允许测量真空紫外区域中的CD光谱至163nm。低于200nm的真空紫外区域对于生物分子是至关重要的，特别是在计算蛋白质二级结构的过程中。● 卓越的杂散光和快速扫描功能● 良好的线性和CD动态范围●同时多通道测试 先进的四通道锁相放大器可同时采集多达四个数据通道，包括CD，吸光度，线性二色性（LD），荧光，荧 光检测CD（FDCD），荧光检测LD（FDLD）和荧光各向异性。可选附件 帕尔贴温度控制 积分球（漫反射）附件 波长扩展 微量样品池 毛细管附件 自动滴定 荧光圆二色 荧光附件 旋光色散附件 停留附件（快速反应动力学） 线二色 高通量圆二色 磁圆二色附件 液相-圆二色联用附件

二手日立S-4300场发射电镜设计具有以下特点：1） 高亮度光源肖特基场发射扫描电子显微镜2） 高探针电流3） 长、短程电子束稳定4） 高分辨率S－4300SE可以与多种附件相结合，如阴J发光（CL），背反射电子衍射图形（EBSP），X－射线能谱（EDX），电子描画(EB)。技术指标二次电子成像分辨率：1.5nm(30kV), 5.0nm(1kV)20x～5,000,000x电子光学:电子枪:ZrO/W 肖特基发射电子源 (内置阳J加热)加速电压:0.5～30 kV (0.1kV/步)透镜系统:2级电磁透镜物镜光阑:4孔光阑，真空外选择和调校,加热自清理薄光阑板.象散校正:电磁象散校正器扫描线圈:2级电磁系统肖特基场发射扫描电子显微镜样品台:(1)标准台X:0～25 mmY:0～25 mmZ:5～ 30 mm 倾斜: -5～+45°(优中心)旋转:360°(连续)样品尺寸:直径120mm (Z大)(2)大样品台X:0～100 mm Y:0～50mmZ:5～35 mm 倾斜: -5～+60°(优中心)旋转:360°(连续)样品尺寸:直径160mm (Z大)(3)大的优中心样品台X:0～100mm Y:0～50 mm Z:5～35 mm倾斜: -5～+75°(优中心) 旋转:360°(连续)样品尺寸:直径160mm (Z大)肖特基场发射扫描电子显微镜图像显示系统:CRT显示语言:100 mmdia. × 17mm HPC操作系统 :(150 mmdia. × 6 mm H 可选)二手日立S-4300场发射电镜操作:显示器:英语（日语）自动调整功能:PC/AT兼容, Windows NT图像过程: 17 或 21 英寸彩色CRT图像储存:自动聚焦,自动象散校正,自动亮度、对比度调节,自动启动,自动摄像图像编辑:文件格式:SEM数据管理软件自动数据显示:640 x 480,1,280 x 960,2,560 x 1,920pixels 具有多种搜索功能的图像数据库.电子图像移动：BMP (TIFF, JPEG)真空系统:加速电压,放大微米标尺,微米值,胶卷号,工作距离,日期,时间,摄像放大倍率,检测器.离子泵:±30 μm (WD = 30 mm)前级泵:气动阀全自动控制涡管泵:~10-7 Pa (电子枪), ~10-4 Pa (样品室)

参数信息Axio Observer系列是蔡司最新一代的研究级电动倒置显微镜，分为三个型号：AxioObserver 3、AxioObserver 5、AxioObserver 7。其可配备明场、相差、微分干涉（DIC）、塑料微分干涉（PlasDIC）、荧光、霍夫曼（Ihmc）、斜照明（Veral）、偏光等多种观察方式。●光学系统：IC2S无限远色差反差双重校正光学系统，能很好的去除非焦平面的杂散光，高分辨率、高反差、高色还原，使拍摄的图像细节更加清晰。●V型光路设计：超短的光路行程，保证了最大的光效率。●新的照明光源：新一代的LED照明技术，使得无论是透射光还是荧光都能保持足够的亮度和超长的寿命，特别是对细胞的光毒性大大的减少。开放及灵活的显微镜应用平台：可选活细胞成像培养系统，Apotome 3的3D 光切技术，可与经典的显微操作和细胞注射，或者更为复杂的激光显微切割相结合，以及使用LSM 880 和Airyscan的超高分辨率成像技术一、产品优势1、研究的灵活性生命科学研究是随成像需求不断变化的动态环境。随着您需求的增加，蔡司倒置显微镜Axio Observer也在逐步跟紧您的步伐。它拥有可与多种技术相结合的接口，从宽场透射光到使用Apotome 3的3D光切技术，以及使用Elyra 7或LSM 980以及Airyscan 2的敏感超高分辨率成像技术。选择理想的活细胞培养组件，享受轻松观察样品带来的精准显微操作体验。Axio Observer含大量的集成组件选项，无论是现在还是以后均可保障其多用性和灵活性。2、工作流程指南当AI Sample Finder自动检测载物台、调焦并寻找样品区域时，成像的简单程度一定会令您惊讶。即便是低对比度样品，您也可以快速获取概览图像，只需点击一下即可访问相关区域。成像时间从几分钟缩短至几秒钟，之后您可以立即开始实验。实验设置期间，Smart Setup（智能设置）和Focus Strategy Wizard（对焦策略向导）会为您提供指导，助您轻松直观地根据应用选择合适的成像模式。使用ZEN Connect，可以轻松将获得的图像与电子显微镜数据和其他模式结合。3、高效实验蔡司倒置显微镜Axio Observer的自动化功能可以显著提高效率。将可快速切换的LED光源或者高功率、经济的白光源与高速滤镜转轮结合使用，可以获得非常高的光谱灵活性和速度。从专业的蔡司Axiocam系列相机或第三方供应商处选择理想的相机：您会时刻获得满意的成像质量和采集速度。Definite Focus 3让复杂实验中焦点漂移的烦恼成为过去。无论是需要将样品定焦进行长期成像还是需要根据样品变换物镜放大倍数，高度组织化系统均可自动完成。二、产品特点1、人工智能样品识别系统----自动样品识别，提高成像效率现如今，显微镜的自动化程度越来越高。然而，为了放置样品，经常需要手动移动某些显微镜部件，如聚光镜。调焦以及载物台中相关区域的识别也需要额外的人工干预。人工智能样品识别系统可自动化完成这些工序，消除了耗时的人工调整操作，将成像时间从几分钟缩短至仅几秒钟。您可以直接查看所有的样品区域，较以往更快地开始实验。人工智能样品识别系统可显著提升工作效率，因为您可以轻松对那些包含样品信息的区域进行成像，同时不会忽略潜在的重要区域。2、Apotome 3----采用结构照明的光学切片为您的荧光样品创建光学切片——无杂散光。利用结构照明，可以简单有效地消除焦平面以外的杂散光，便于完全专注于研究。Apotome 3能够识别放大倍率并将适当的栅格移至光路中。随后，系统会从不同栅格位置的多副图像中计算出光学切片图像。这是一种十分有效的消除非焦平面杂散光的方法，同样适用于比较厚的样品。系统操作非常简便。优质的光学切片——让您获得出色分辨率的高对比度图像。3、Definite Focus 3----密切关注您的目标活细胞的时间序列图像数据获取一直是个难点。多变的环境例如室温影响着显微镜和载物台，可能导致焦点的漂移。Definite Focus 3能够补偿漂移，确保样品时刻处于聚焦位置。有了高准确度和精度的保障，即便在颇具挑战性的长时间、多位点时间序列实验中也能够产生清晰的高对比度图像。

产品描述技术参数1.分辨率:　二次电子:　　高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV　　高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项)　　低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV　　环境真空模式 3.0nm @ 30kV　背散射电子 4.0nm @ 30kV2.样品室压力*高达2600Pa3.加速电压200V ～ 30kV，连续调节4.样品台移动范围　Quanta 250: X=Y=50mm　Quanta 450: X=Y=100mm　Quanta 650: X=Y=150mm主要特点1.FEI ESEM(环境扫描电镜)技术, 可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种样品进行观察和分析。2.所有真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观分析。3.先进的系统结构平台，全数字化系统。4.可同时安装能谱仪、波谱仪和EBSP系统。5.可安装低温冷台、加热台、拉伸台等进行样品的原位、动态观察和分析

目镜10X25物镜 4个:4x 平场无限远物镜10X平场无限远物镜40X 平场无限远物镜100X平场无限远物镜聚光镜B，G，UV三色荧光模块内置滤光片减光片12v100W卤素光源100W汞灯光源 100w变压器1X相机接口物镜选配:10xdic半复物镜，20xdic半复物镜，40xdic半复物镜，100xdic半复物镜。相机选配:1. 全新图谱相机:2000w像素，ISPM USB3.0 索尼IMX183芯片2.全新制冷相机: 索尼IMX183芯片 2000W像素 COMS USB3.0数据传输 图谱软件

S-4300扫描电镜利用电子束与物质相互作用产生的各种信号进行成像，对样品进行形貌和成份分析。主要技术指标：电子枪和高压：冷场发射枪，加速电压0.5-30kV。分辨率：二次电子分辨率：1.5nm（15kV），3.0nm（1kV）；背散射电子分辨率：3.0nm（15kV）。能谱：可鉴定的元素成分： Be-U；分辨率：127eV。　　功能用途：利用二次电子图象、背散射电子图象，可进行生物、化学、矿物、半导体、纳米材料等金相样品、断口样品的表面形貌观察。利用能谱仪进行微区成分分析。

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J-1500型高性能圆二色光谱仪 日本分光株式会社成立于1958年，是在东京教育大学光学研究所开发研制出红外分光光度计的成果后成立为企业的。半个多世纪以来，一直专注于光学分析仪器的研发、制造、推广及销售。J-1100、J-1500型圆二色光谱仪是系列中的新型号，其先进的技术和卓越的性能，再一次证实了日本分光在世界手性光学光谱领域的领导地位。主要应用: * 光学活性化合物的结构测定 * 蛋白质，多肽，核酸的构象研究 * 反应动力学 * 热变性，化学变性研究 * 化合物绝对构型的研究 * 为生物大分子研究，蛋白质二级结构提供圆二色谱等技术参数： * 光谱范围：163?950nm(標準PMT) 400?1250nm(可选PMT) 800?1600nm(可选InGaAs) * 光谱带宽：0.01?16nm * 分 辨 率：0.025nm * 杂 散 光：小于0.0003%(200 nm) * 测量范围：±8000mdeg * 噪 音：0.004mdeg 185nm 0.007mdeg 200nm 0.007mdeg 500nm * 扫描方式：自动响应，连续，步进 * 扫描速度：1~10000nm/min * 耗 氮 量：使用时一般3~5 L/min操作模式及选配附件： * 圆二色谱 CD * 旋光色散谱 ORD * 线二色谱 LD * 圆偏振发光谱 CPL * 荧光圆二色谱 FDCD * 停流圆二色谱 SFCD * 停流吸收/荧光谱 Stopped Fow Abs/Fluorescence * 液相色谱手性检测 LCCD * 磁圆二色谱 MCD * 近红外圆二色谱 NIRCD * 总荧光谱 TF * 扫描荧光谱 SF * 自动滴定 Auto-Titration * 双光束紫外光谱 Double Beam UV

Verios XHR SEMVerios 是 FEI ling先的 XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在jian端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学应用观测敏感的生物样本时，过高的成像电压带来的电子束会损伤样本，从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) zui低可在 1kV 的电子束电压下工作，因而能zui大限度减少样本干扰，同时又不会削弱分辨率和对比度。生物研究人员现在可以处理大量敏感的生物样本，并迅速生成高分辨率图像，从而洞察细胞器的关键功能和过程。Verios XHR SEM you势全新的高对比度检测器 - 对敏感的生物样本进行zui佳成像电子束减速 - 在极低的电压下提供高分辨率成像和高表面灵敏度电子束熄灭装置 - 限制敏感的生物样本的剂量静电扫描 -zui大限度减少图像失真，并改善成像速度，从而进一步提高工作效率和质量Verios 的电子工业应用Verios XHR SEM 推出了全新的检测器硬件，将 SEM 的观测能力进一步拓展至 20 nm 亚纳米量级半导体器件。Verios 可提供zui佳的低电压 SEM 分辨率和材料对比度，能够让半导体工艺控制实验室测量对电子束敏感的材料以及无法使用传统 SEM 仪器成像的极小结构。 Verios 还包括一些易于使用的新功能，能够为 22 nm 技术节点及以下的半导体结构提供zui低的每样本成像和测量成本。Verios 的材料科学应用对材料科学家来说，Verios 可以将亚纳米表征拓展到当下正在开发的全新材料（例如催化剂颗粒、纳米管、孔隙、界面、生物对象和其他纳米量级结构），从而让他们获得重要的新发现。无需转而采用 TEM 或其他成像技术便可获得高分辨率、高对比度图像。Verios 可灵活用于各类研究应用，能够容纳全尺寸晶圆或冶金样本之类的大样本。您可以在高电流模式下执行快速分析，也可以开展精确的原型设计应用，例如电子束感应式材料直接沉积或光刻

品牌：卡尔蔡司型号：Axio Observer A1m制造商：德国卡尔蔡司公司经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比，它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。 总体描述：金相学主要指借助光学（金相）显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其 定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒（亦包括可能存在的亚晶）、非金属夹杂物乃至某 些晶体缺陷（例如位错）的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革，而蔡司长久以来一直致力于金相显微镜的研发与应用，并将金相学的科研水平推向一个又一个高点。 巅峰巨献—Axio Observer 3m， 2015年11月面世。Axio observer 3m是卡尔蔡司成功的Axio Observer A1m机型的完美升级，Axio Observer A1m她将CARLZEISS所特有的高质量成像与优越的机械稳定性完美结合。Axio Observer 3m 无论是成像质量、操作舒适性，还是机械稳定性方面匀改写了世界倒置式研究级显微镜的新标准。每个细节都符合材料领域特殊的光学要求。她以最尖端的光学技术和最完美的制造工艺延续着卡尔?蔡司成功的传奇故事！ 产品特点：1、采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供最锐利的图像。2、6位功能观察转盘，为您提供最高的升级空间。3、6孔明暗场物镜转盘，开创倒置式显微镜最高标准。4、用最少的时间观察到更多的样品：将样品放在载物台上，聚焦一次，就可以查看所有倍数及样品。 技术参数：光学系统：ICCS光学系统 镜体：FEM设计 ，ACR位置编码 1、ICCS物镜：5X 10X 20X 50X 100X 2、目镜：10X3、物镜转盘：研究级6孔明暗场万能物镜转盘 4、光源：12V100W卤素灯，智能化光路管理器，光强自动可调 5、光学附件：目镜测微尺，台尺，各种滤色片，全干涉仪（选配） 6、数字化平台：可配图像分析系统(数码相机、摄像头、图像分析软件) 7、可配热台（用于高温金相分析） 8、可配自动扫描台9、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）

[ 产品简介 ]蔡司研究级倒置显微镜Axio Observer结合了V型光路设计和自动化组件，能够保证测量结果的精确性，可靠性以及可重复性。人机工程学的设计能使您的实验分析和测试工作更加简便舒适，是实验室材料研究的显微分析解决方案。灵活开放的蔡司研究级倒置显微镜Axio Observer，同样适用于对活体标本细胞和固定样标本进行要求严苛复杂的多模态成像，满足您对显微图像质量的高要求。Axio Observer配置灵活，预留多个接口，具备丰富的扩展功能。结合细胞培养装置，为您提供活细胞研究的完美平台，可以精确获取活细胞的信息，并可根据实验需求选择不同的电动以及自动化程度，让科研更轻松。在Axio Observer上搭载全新蔡司人工智能样品识别系统，省去了耗时的手动调整步骤，直接访问所有样本区域，从而比以往更快地开始实验，将成像时间从几分钟缩短到几秒钟，大大提高实验效率。[ 产品特点 ]&bull IC2S 色差反差双重校正光学系统&bull 复消色差荧光光路，荧光光陷阱技术&bull 高效率”V”型光路设计，光程最短&bull Z轴精度最高10nm&bull 高灵活性和高稳定性&bull 人工智能样品自动识别系统&bull 样品放置空间大&bull 人机工程学的设计，操作舒适，工作效率高[ 应用领域 ] &bull 生物学 &bull 医学和兽医学 &bull 微生物学&bull 植物学&bull 航天航空&bull 汽车行业&bull 金属原材料&bull 医疗器械&bull 机械加工老鼠细胞（蛋白用Alexa 488染色，细胞核用DAPI染色），荧光皮质神经元进行DNA、微管和微管相关蛋白染色，Z堆栈，荧光芯片表面局部，50X物镜，反射暗场

一、产品概述：扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）是一种高分辨率的显微镜，利用电子束扫描样品表面以获取其形貌和组成的信息。SEM能够提供详细的三维表面图像，广泛应用于材料科学、电子工程、生物学和地质学等领域。二、设备用途/原理：设备用途EM主要用于材料表面的形貌分析、微观结构观察和成分分析。它在半导体器件的缺陷检测、金属和合金的微观结构研究、以及生物样品的形态观察中发挥着关键作用。SEM还常用于材料的质量控制和研发过程中的性能评估。工作原理SEM的工作原理是将高能电子束聚焦到样品表面，电子束与样品相互作用产生二次电子、反射电子和特征X射线等信号。通过收集这些信号，SEM能够生成样品表面的高分辨率图像。电子束的扫描可通过计算机控制，实现多角度观察和深度信息提取。由于其高分辨率和大景深特性，SEM能够提供丰富的样品表面信息，助力多领域的研究和应用。三、主要技术指标：1. FE-SEM获得的图像分辨率高，信息丰富，样品处理相对简单，并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构，因此被广泛应用于纳米技术 、半导体、电子器件、生命科学、材料等域2. 电子枪种类：冷场发射3. 二次电子图象分辨率：0.6 nm@15kV；0.7nm@1kV4. 放大倍数：20-2,000,000x5. 加速电压：0.5-30kV

FusionScope多功能显微镜——创新AFM+SEM原位同步联用技术（2023 R&D100 Award）在多数情况下，为确认不同参数之间的相关性，样品分析通常使用多种技术手段。对于AFM和SEM成像技术而言，这意味着在实际操作中需要对相同的区域进行对比分析。2022年10月，美国Quantum Design公司重磅推出FusionScope多功能显微镜，将SEM和AFM技术融合在一台设备上。用户不需要将样品从一台显微镜移动到另一台显微镜，也不必使用两个不同的操作系统来分析样品上的同一位置，而是在同一用户界面内、同一位置进行互补性综合量。 FusionScope多功能显微镜提供了带有SEM功能的原子力显微镜的所有优点。它能够实现标准AFM的测量模式，包括接触、动态和FIRE模式（Finite Impulse Response Excitation ）。只需单击按钮，即可在亚纳米分辨率下切换AFM和SEM成像模式，并获取所需的数据。通过更换悬臂，AFM可轻松实现高级工作模式，例如力曲线、导电原子力显微镜（C-AFM）和磁力显微镜（MFM）。FusionScope同时提供EDS能谱仪选件，可以在扫描电镜中对样品进行元素和化学分析，在纳米及微米尺度上收集更准确的数据。结合已有的AFM/SEM，使测量更加多功能化。FusionScope多功能显微镜优势★ Quantum Design自主研发的AFM和SEM成熟集成方案，自动化程度高，软件/硬件操作简单易用；★ 多种AFM功能与SEM原位联用，极大程度上发挥出两种常用显微镜的技术优势，实现同一时间、同一样品区域和相同条件下的原位共享坐标测量，避免样品转移过程中的污染风险，特别适合环境敏感样品；★ 多通道样品特性成像，并无缝关联到三维形貌图像中。AFM可测量的功能包括有：三维/二维表面形貌成像，力学/机械性能测量、电学测量、磁学测量；SEM配备EDS功能；★ 利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80°AFM与样品台同时旋转。FusionScope多功能显微镜特点简单易用FusionScope硬件和软件经过精心设计，不仅让初学者快速上手，简单易用，同时还可以定制用户界面，提供用户所需要的所有功能。更换样品FusionScope更换样品仅需几分钟，简单快速。共坐标系统利用SEM进行实时、快速、精准导航AFM针尖，从而实现AFM对感兴趣区域的精准定位与测量。无需转移样品，原位进行80° AFM与样品台同时旋转。 实时剖面准确展示AFM探针和样品相对位置FusionScope的创新功能之一是剖面成像，即在测量时可以实时观察AFM悬臂的针尖。通过这种剖面工作方式，即使是难以到达的样品区域也可以用AFM探针非常精确地接近，从而测量形状复杂的样品。自感应悬臂FusionScope中的AFM采用自感应悬臂，无需光学对准即可提供所有悬臂电信号，实现对样品表面进行高质量、低噪音测量。性能优异、简单易用。自感探针可以让电子束大限度地进入悬臂和样品区域，实现AFM和SEM的无缝结合。自感应悬臂功能也十分丰富，可以提供更多测量功能，如电导率、磁性、表面电位、温度及其他样品特征。自感应悬臂采用聚焦电子束诱导沉积（FEBID）工艺制备，针尖半径小于10 nm，保证了高分辨率导电或磁性成像，并具有出色的机械稳定性。任务面板FusionScope任务菜单帮助用户快速识别和执行所需的显微镜操作，并提供简单易用的向导式操作流程，帮助用户减少调整和管理硬件的时间，将更多时间用于收集样品图像和数据分析。用户界面定制FusionScope提供用户友好型软件界面，以满足用户或实验的需求。软件分为标准模式和高级模式，用户可根据具体需求进行个性化配置。软件支持日志功能和用户注释。数据处理每次实验都可以将数据自动存在在一个"experiment"文件中，确保在不同计算机之间方便进行数据转移和离线处理。在数据处理模块中，集成了第三方数据处理软件(例如用于AFM数据处理的Gwyddion软件)。 FusionScope多功能显微镜参数AFM扫描范围 XY：22 x 22 μm （闭环）扫描范围 Z：15 μm成像噪声：50pm @ 1kHz悬臂探头：自感压阻式测量模式：Contact, Dynamic, FIRE, MFM, C-AFM, …SEM电子源：热场发射加速电压：3.5 kV – 15 kV探头电流：5 pA – 2.5 nA（典型值为300 pA）放大倍数：25X – 200,000X探测器：In-Chamber SE Everhart-Thornley样品最大样品直径：20 mm（12 mm 关联工作模式）最大样品高度：20 mm最大样品重量：500 g对齐方式：全自动 样品腔典型腔室真空：1-10 μTorr抽真空时长：5 min样品托倾斜角度：-10 °至 80°系统用电：200-230 VAC，50/60Hz；单相 15 A尺寸（宽 x 长 x 高）：690 x 835 x 1470 mm重量：330 kg应用领域通过结合SEM和AFM的互补优势，FusionScope打开了通往全新应用可能性的大门！涵盖多个应用领域：材料科学、纳米力学、半导体或太阳能电池行业、生命科学......适用材料：纳米线、2D材料、纳米颗粒、电子元件、半导体、生物样品…… 半导体表征对于形状复杂的半导体，FusionScope能够通过精准定位到样品的不同位置进行表征，同时得到精确表面形貌。探针定位到电极位置并进行扫描；探针定位到玻璃表面并进行扫描 电极处表面形貌 玻璃处表面形貌使用AFM原子力显微镜分析电子元件或半导体器件 模式：SEM, AFM Topography样品：CPU芯片对于AFM用户来说，纳米结构的精确定位和分析是一项具有挑战性且耗时的工作，近年来晶体管尺寸的减小对质量控制和失效分析也提出了更高的要求。借助FusionScope及其剖面成像功能，用户可以轻松地将悬臂尖端定位至感兴趣的区域，并对样品进行高分辨率 AFM 分析、亚纳米级分辨率3D形貌测量、导电 AFM测量等。(图1) CPU芯片的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 晶体管结构特定区域的AFM图像(图3) 晶体管结构特定区域的SEM图像使用AFM原子力显微镜表征二维材料 模式：AFM Topography样品：石墨烯从纳米机电传感器及光学器件的许多应用研究中，二维材料的独立悬浮膜引起科学家的极大兴趣。其表征大多依赖于扫描探针显微镜技术，如原子力显微镜（AFM）。然而，与刚性样品不同，悬浮的2D原子级薄膜是柔性的，在AFM测量过程中会受到机械干扰，这可能导致实验结果的偏差。FusionScope可以通过在实时观测膜变形来规避这些缺点，从而更好地获取AFM数据。(图1) 石墨烯的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 石墨烯膜的关联SEM和AFM图像(图3) 施加低负载的石墨烯的AFM形貌图(图4) 施加高负载的石墨烯的AFM形貌图 使用FusionScope进行原子台阶表征模式：AFM Topography, SEM样品: 热解石墨（HOPG）为了检测样品表面区域的最小变化，需要尽量减少AFM机械和电气噪音的影响，这在高真空系统中尤其具有挑战性。FusionScope性能优异，实现了真正的原子分辨率的AFM测量。(图1) HOPG的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) HOPG样品三维形貌图(图3) 图2HOPG样品的高度（0.3 nm） 纳米力学通过SEM提供的视野，研究者可以实现对特定样品表面的力学性能测试，并且能够清晰地观察探针对样品的压痕过程。无论是想要探究材料的硬度、弹性模量还是断裂韧性，都能在FusionScope中得到答案。探针测量单根硅纳米柱动态过程 探针测量单根硅纳米柱快闪图样品的力学曲线FusionScope可以轻松实现在纳米压痕实验中的力学控制，以静制动，原位视野下轻松测试，可视化呈现纳米压痕。通过设置不同的力测试纳米压痕的效果，得到样品硬度信息。探针在样品表面压痕FusionScope能够快速对具有不规则表面的载药颗粒进行力学测试与动态测量过程。如下样品主要成分为VitaminC，通过扫描电镜可以观察到样品表面崎岖不平，粗糙度较高，在进行力学测试过程中，能够通过SEM观察到一种阶段式下针过程，从而得到分段式力学曲线，二者相辅相成，互为验证。倾斜样品的力学曲线测量快闪图阶段式力学曲线测试结果材料科学FusionScope可以针对感兴趣的区域进行结构、机械、电学、磁学和化学性质分析，实现对样品的全方位表征。使用磁力显微镜表征钴层材料的形貌与磁性分布下图所示利用FusionScope对用离子束刻蚀（FIB）加工的钴层进行磁特性表征。这种研究可能涉及测量钴层的磁场强度、磁化曲线、磁畴结构等参数，以便更好地了解钴层材料在磁性方面的性能。Topography & MFM overlayAu纳米线的精准测量通过拓展性配置的机械手，将Au纳米线的位置进行精确校正之后对末端进行3D形貌扫描。自旋体纳米棒表征人工构建的自旋体纳米棒Ni81Fe19，对其形貌进行精准定位扫描，关联AFM与SEM数据结果，同时关联起三种不同结构对应的磁性结果。三种磁性纳米棒的SEM关联AFM形貌表征结果 铁镍纳米棒的极化磁性测量以及与AFM形貌的对应。使用MFM磁力显微镜表征磁性相位结构模式：MFM样品：双相不锈钢双相不锈钢是含有奥氏体和铁素体相的混合物，与标准钢相比，具有更高的机械强度和延展性。原位磁力显微镜（In-situ MFM）可以详细分析不同类型的双相不锈钢样品的磁性。使用FusionScope可以轻松观察不锈钢表面的不同相，并且AFM探针很容易定位在两个不同相的晶界处。使用磁性悬臂可以分析不锈钢的磁性并对铁磁区域进行高分辨成像。(图1) AFM探针在双相不锈钢上方的SEM图像。(图2) 双相不锈钢晶界处的SEM图像。(图3) 双相不锈钢晶界处的AFM形貌图。(图4) 双相不锈钢晶界处的MFM图像显示铁磁性和顺磁性相结构。使用EFM静电力显微镜评估材料晶界模式：EFM样品：BaTiO3多晶BaTiO3陶瓷的宏观电子性能由单晶间形成的晶界决定。为了更好地了解BaTiO3的整体电阻，科学家必须能够在纳米尺度表征晶体材料中的电位差。这种表征可以通过静电力显微镜（EFM）完成。FusionScope可以进行原位EFM分析，利用SEM的高分辨率轻松识别晶界，并直接在感兴趣区域进行EFM分析。(图1) 同一区域SEM、AFM和EFM信号的3D综合数据(图2) BaTiO3样品的SEM图像(图3) BaTiO3样品的AFM形貌图(图4) BaTiO3样品的EFM相位图像(+1.5V)生命科学FusionScope可以准确、轻松地获取生物样品的纳米级形貌，特别是对于难以触及的或非常小的样品区域，实现高精度物性表征，如3D形貌，刚度和粘附力等…使用AFM原子力显微镜表征常规难以测量的样品区域模式：AFM Topography样品：骨骼对难以触及的样品区域，进行SEM/AFM分析非常有挑战，比如骨组织的分析，特别是骨表面的空隙和胶原纤维的详细测量。FusionScope可以对空隙结构进行快速简便的识别和成像。通过SEM的大视野识别空隙，并可将悬臂直接定位在空隙结构上，然后通过AFM实现亚纳米分辨率的空隙和胶原纤维的真实3D形貌。(图1) 骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方(图2) 空隙结构的SEM图像 (图3) 空隙结构的AFM 3D形貌图(图4) 位于空隙结构内的胶原纤维的高分辨率AFM图像使用AFM原子力显微镜表征贝壳表面的硅藻模式：AFM Topography样品：贝壳利用FusionScope显微镜，可以精准定位贝壳表面上的硅藻。在剖面模式下，用户可以轻松地将AFM悬臂尖端定位到选择的硅藻结构上，并进行3D形貌分析。(图1)骨骼表面的SEM图像，悬臂位于测试区域上方（剖面成像模式）(图2) 贝壳表面硅藻结构的SEM图像(图3) 硅藻表面的AFM 3D形貌图测试数据标准AFM静态模式（接触模式） 在静态模式或接触模式下，针尖与样品表面连续接触，针尖针尖原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力。当针尖轻轻扫过样品表面时，接触的力量引起悬臂弯曲，进而得到样品的表面图像。在接触模式下获得的聚合物表面的AFM图像动态模式动态模式，也称为间歇性接触或Tapping模式，悬臂在其谐振频率附近振荡。当探针靠近表面时，探针和样品之间的相互作用导致振荡幅度发生变化。当悬臂扫描样品时，调整高度以保持设定的悬臂振荡幅度，进行AFM成像。左：在动态模式下测量的石墨烯膜的关联SEM和AFM图像；右：单个石墨烯膜的高分辨率AFM形貌图像FIRE模式FIRE模式是一种新型的、间歇性接触AFM技术。FIRE模式基于在高于驱动频率、但低于悬臂共振频率的频域中，对悬臂信号进行检测，得到样品刚性与粘附力信息。利用FIRE模式测量双组分聚合物样品（聚苯乙烯和聚烯烃弹性体）的AFM形貌图像（左）和刚度（右）C-AFM导电原子力显微镜标准C-AFM导电AFM（C-AFM）通过使用尖锐的导电针尖同时测量样品的形貌和导电特性。左：硅衬底上Au电极结构的SEM图像；中：电极结构的AFM形貌图像；右：电极结构的电导率图静电力显微镜（EFM）静电力显微镜（EFM）是一种相位成像技术，通过测量样品衬底电场的成像变化，从而研究表面电位和电荷分布。BaTiO3陶瓷的SEM图像显示出不同的晶界（左）；AFM图像（中）；EFM相位图像（+1.5V偏置电压）磁力显微镜磁力显微镜（MFM）是一种相位成像模式，通过使用磁性AFM探针来研究磁性材料的性质。多层Pt/Co/Ta样品的AFM图像（动态模式，左）及相同区域的MFM图像（右）扫描电子显微镜（SEM）使用聚焦电子束，FusionScope可以实现样品表面的高分辨率成像。凭借其高灵敏度的SE模式，FusionScope可以在几纳米级别获得形貌信息。锡球的SEM图像，图像水平场宽度为50 μm（左）；高倍率显微照片显示了左图中破碎锡球的表面细节（右）SEM扫描电镜其他功能包括：★ FusionScope可以从毫米级到纳米级进行扫描，因此易于定位，且具有非常的高分辨率；★ 高度自动化，为用户提供清晰锐利的图像；★ 倾斜度高达80°，轮廓视图显示样品的“侧面”特征；★ 快速分析功能，广泛应用于生物和医学科学、陶瓷、质量控制、失效分析、法医学调查、生命科学和半导体检测等应用领域。