扫描射线光仪

DDCOM 用于超快速晶体取向测量用于晶体取向测量的台式 X射线衍射仪 (DDCOM) 是一种用于自动测定各种晶体取向的工具。超快速扫描方法速度是Theta扫描方法的 200 倍以3D形式自动评估完整晶格取向在10秒内测定整个晶体取向高效的质量控制工作流程用于标准研究和工业工作流程晶体取向的方位设置和标记预编程的立方晶体参数先进便捷的软件精度高，可达（1/100）°结构紧凑、用户友好、性价比高样品处理方便，操作简单采用风冷 X射线光管（无需水冷），能耗和运行成本低控制切割、研磨和抛光单晶的完整晶格取向适用于不同尺寸和重量的各种独特材料，例如：2-12“的晶圆和重达20kg的铸锭

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。 咨询或索取详细产品资料，请联系越联仪器工作人员。 广东越联仪器有限公司---德国蔡司一级代理商。产品：工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！C9750 的相关产品搜索X射线线阵扫描相机 C9750-20TCN产品型号：C9750-20TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10TCN产品型号：C9750-10TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN产品型号：C9750-10FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-05FCN产品型号：C9750-05FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCD产品型号：C9750-27FCD，产品名称：C型X射线线阵相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCC产品型号：C9750-27FCC，产品名称：C型X射线线阵相机

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特性--在线检测，检测宽度达221 mm--高分辨率、高灵敏度： 4608 (H)×128 (V)--读出速度快，2×2拼接下约为36.8 m/min--12位数字输出，高信噪比--Camera Link 接口（基本配置）--+15V单电源工作--实时暗电流/阴影校正功能--针对简易安装校准的帧读出模式 原理时间延迟积分(Time Delay Integration)扫描技术用于通过帧转移设备对移动物体获得持续的视频图像。通过控制一群线性阵列组合对物体的运动进行同步。这样，当图像从一行移动至下一行时，积累起来的电荷也随之移动，相比于线扫描相机能够在更弱的光强下提供更高的分辨率。应用--PCB检测--电池检测--表面贴装器件检测--高分辨率非脱机无损检测测量示例BGA的空洞检测传统方式的BGA空洞检查需要拍摄详细的切片图像，并需要使用大型的三维CT设备。使用三维CT的检测方式，由于零部件会受到大量辐射，因此会出现一些IC零部件被损坏的可能性。使用TDI相机的检测方式，X射线的照射范围将局限在扇形的狭窄区域，只要被测物体在此区域高速移动即可完成检测，从而大幅降低对于电路板的辐射量。由于具有卓越的信噪比性能，即使在低能量的照射下也能分辨出有无空洞。通过缩小X射线的照射区域，减少从检测设备中泄漏的辐射量，这将有利于设备本身的小型化。焊锡背面的焊缝检测如果在印刷电路板零部件的背面焊接中出现焊接不良，如稍有震动焊接处将会脱落从而引起接触不良。由于传统的检测方式为X射线透射的方式，因此只能在离线的状态下进行检测。通过TDI检测方式就能取得高速高灵敏度的一维分析数据，并且只要在所获取的一维数据中设定阈值就能实现在线状态的不良检测。一维数据可通过软件编辑把不同亮度信息显示为三维图像。锂离子电池检测使用2D传感器时，由于在X射线辐射的边缘处图像的畸变，无法准确进行尺寸的测量。长度长的样品需要放置在X射线源的中央，因此每次采集都需要重新放置样品。X射线TDI相机通过采用线扫描方式实现了无畸变的图像采集，因此无需重置样品，可以对长度长的物体进行连续不间断地检测。规格表型号C12200-321闪烁体FOS（闪烁体型光学纤维面板）推荐使用范围约25 kV~ 90 kVX射线容限130 kV，80 μA (max.)像素数4608 (H)×128 (V)有效像素数4608 (H)×110 (V)像素尺寸48 μm×48 μmX射线敏感区域221 mm (H)×6 mm (V)CCD像素时钟5.0 MHzTDI线速率Max.8.0 kHz (23.04 m/min)TDI线速率控制外部模式或内部模式A/D转换器12位外部控制接口Camera Link基本配置像素时钟40.0 MHz(Camera Link)A/D增益0 dB~ 14 dB (64 阶)*2电源DC+15 V(±1 V)功耗最大40W外形尺寸图（单位：mm）像素之间的死区C12200-321在芯片之间有死区。死区对X射线图像的影响取决于测量条件诸如X射线放大倍率和X射线源焦点尺寸。

多量程X射线纳米CTSkyScan 2211多量程X射线纳米CT系统可涵盖范围最广样品的对象尺寸和空间分辨率。它可为油气勘探、复合材料、燃料电池、电子组装等许多应用带来独一无二的材料三维成像和精确建模机会。技术规范：X射线源：20…190kV，4/10/25 W，亚微米焦点尺寸，5档滤线器；开放（泵送）X射线源（带双级电子光学器件）；靶材—钨（标准）；铜、钼、银（可选）X射线探测器： 300万像素CMOS平板探测器 1920×1536像素 1100万像素冷却式CCD探测器 4032×2670像素重建图像格式：平板：1920×1920×1160像素（中心位置）3776×3776×1160像素（两个偏移位置） CCD：4032×4032×2272像素（中心位置）8000×8000×2272像素（两个偏移位置）重建速度：1分12秒：针对600次投影进行2K×2K×1K重建 11分：针对1319次投影进行4K×4K×2K重建样品对象定位：直接驱动空气轴承带集成式微定位平台 使用压电式驱动器（5.5毫米行程）细节探测能力：100纳米扫描容积： 最大直径204毫米，长度200毫米，重量25千克辐射安全：在距离仪器表面10厘米的任何一点上＜0.5 μSv/h （在190 keV、4 W条件下于目标上测得）电源：100-130V或200-240 V AC，50-60 Hz， 2.5 kW + 1.5 kW（压缩机）（65 A峰值电流）系统随附闭环水冷器和无油空压机及必要的粒子过滤器和干燥机

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产品介绍：X射线相衬微米CT系统和传统的X射线吸收成像相比，X射线相位衬度成像能够为轻元素样品提供高得多的衬度，特别适合用于对软组织和轻元素构成的样品进行成像。目前，主要的5类相衬成像方式中，大部分对光源的相干性要求很高， 只能依赖同步辐射光源。由于同步辐射源占地面积大， 初期建设和日常使用及维护成本太高，现阶段还无法满足临床上日常检查的需求，世界上很多从事相衬成像方法研究的小组都在致力于将相衬成像技术推广到临床上。目前己经普遍使用的微焦点源或者是传统的X光管，从数值模拟和实验结果来看，在进行微焦点源同轴相衬成像实验时，会遇到曝光时间长、光源相干性差、X光能量选择性受限等问题。相衬成像是吸收（传统）成像的补充。使用传统的X射线成像技术，由于低原子序数材料对X射线吸收较弱，自然会导致图像对比度低。在这种情况下，X射线相位变化的灵敏度会高得多。 inCiTe&trade 3D X射线显微CT通过X射线的自由空间传播直接实现相衬成像，将物体引起的X射线相位变化转化为探测器处的X射线强度变化。X射线相衬成像大大提高了对X射线弱吸收材料的成像衬度。inCiTe&trade 3D X射线显微CT是一款商用的扫描仪，搭载了KA Imaging Inc. 独家开发的高分辨率非晶硒(a-Se) X 射线探测器—BrillianSe&trade 。 BrillianSe&trade X射线探测器具有高空间分辨率和高探测效率，可在便携的台式系统中实现快速相衬成像和传统微米CT产品特点更快的扫描时间大的样品尺寸和视场同轴相衬成像法，效率更高参数典型应用无损检测增材制造电子工业农学地质学临床医学标本射线照相低密度材料的衬度增强1. 钛植入物样品 下图展示了对骨头样品中矫形钛植入物的成像效果，相位衬度提高了多孔骨结构（骨小梁）的可见度。2.生物样品 inCiTe&trade 3D X射线显微CT可以为生物组织提供高衬度，就像下图老鼠的膝关节。 低密度材料的衬度增强使用探测器在几秒钟的曝光时间后，快速获得凯夫拉复合材料样品的相衬图像。我们可以在下图（左图）看到单个纤维，在下图（右图）看到纤维分层。样品在这里被放大了4倍。 轻骨料混凝土样品

便携式X射线高清摄影系统产品介绍： 便携式X射线高清摄影系统是全屏蔽、精巧便携的机身，以及创新的使用方式，快捷的拍摄流程，随时随地，即拍即阅，必将为无损检测和科学研究带来全新价值。产品特点：精巧便携 设备尺寸32(长) x 32 (宽) x 44 (高) cm，精巧轻便，可置于桌面使用，亦可轻松外携拍摄全屏蔽防护 距离设备外壳10cm处的辐射为本底值，在使用过程中无需屏蔽防护。高清影像 搭载微焦点光机、高性能探测器、智能影像算法，让被摄物品纤毫毕现无线操作 支持无线远程操作，PC和平板随意切换，自由便捷.垂直滑动门 创新du特的垂直滑动门，支持任意位置悬停，拍摄大尺寸物品亦可顺畅完成一键智能拍摄 实时视频观察物品摆位，一键完成拍摄；X射线视频影像，让细节逐帧呈现应用行业：植物与种子影像可清晰展示植物的纹理、脉络、结构状貌，助力植物学、园艺学，农业、木业等领域的研究。动物与昆虫影像可生动展现蜥蜴、昆虫、鱼类等动物的骨骼、组织结构、内部器官，为相关研究提供重要的科学依据。PCB影像可用于检查PCB的焊点、元件连接和内部结构等，以确保其质量和可靠性。电池影像可清晰呈现电池内部构造和形态，确保其性能和安全，在电池研究、制造等领域具有广泛的应用。3D打印影像可直观展示复杂3D打印物品的纹理细节和内部结构，用于研究打印材料、打印技术，及进行打印质量控制。行业应用

NAOMI-CT-纳奥美光学是世界知名的桌面型X射线三维扫描系统的制造商，总部位于日本长野市,拥有28个事业所及5个海外分部,面向全球用户提供高性价比的三维扫描、二维成像、缺陷检测、无损探伤等的数字化解决方案。NAOMI-CT纳奥美X射线三维扫描探伤系统广泛应用于铝压铸件、树脂、塑料制品、容器、橡胶制品、加工食品、糖果、水果、化妆品、文具、玩具、鞋子、生物、骨骼、文物、工艺品等领域。

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！该C型X射线线阵扫描相机是为满足轮胎检测的需求而设计的。它基于滨松公司C9750系列线阵扫描相机，轮胎旋转一周后，该相机便可提供在水平方向上无缺口（小于1像素）的3456像素分辨率的图像。该相机灵敏度高，强度动态范围宽，具有快速而出色的探测率，可以可靠地用于轮胎检测。C9750 的相关产品搜索X射线线阵扫描相机 C9750-20TCN产品型号：C9750-20TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10TCN产品型号：C9750-10TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN产品型号：C9750-10FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-05FCN产品型号：C9750-05FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCD产品型号：C9750-27FCD，产品名称：C型X射线线阵相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCC产品型号：C9750-27FCC，产品名称：C型X射线线阵相机

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！C10800 的相关产品搜索双能X射线线阵相机 C10800-08FCM产品型号：C10800-08FCM，产品名称：双能X射线线阵相机双能X射线线阵相机 C10800-04ECM产品型号：C10800-04ECM，产品名称：双能X射线线阵相机双能X射线线阵相机 C10800-04ECH产品型号：C10800-04ECH，产品名称：双能X射线线阵相机特性--从多能图像数据中提取目标材料--12位数字输出--高分辨率、宽动态范围--良好的能量分离精度，双能图像对准好应用--高准确度的食品检测--复合物质检测及分类--毒品探测，药品质量控制--安防--矿物源分类——稀有金属分类--废品分类回收原理配置

仪器简介：2006年12月一推出，立刻受到高校科研单位欢迎。国内用户有 南京大学分析中心 上海师范大学 天津46所技术参数：3、仪器主机功能与附件功能 3.1 单色化XPS，Al K&alpha ，包括： 大面积XPS、小面积XPS、成像XPS、深度剖析XPS和角分辨XPS。 3.2 双阳极XPS，Mg/Al K&alpha 3.3 紫外光电子能谱，UPS 3.4 高压反应室 3.5 分析室样品冷/热台 4、仪器主要部件 4.1 超高真空分析室 180度半球能量分析器， 电子透镜传输系统， １６多通道电子检测器 分子泵，离子泵，钛升华泵 　　　单色化XPS （AlK&alpha ）系统，含内循环水冷却装置， XPS成像系统， 双阳极XPS系统，冷却循环水和单色化系统共用 紫外光源， 荷电中和系统，用于绝缘样品或导电性差的样品的荷电补偿， 5轴样品台， 标准样品托　２个 Recessed样品托　1个 氩离子枪，用于深度剖析， 热双灯丝离子规， 闭路电视显微彩色摄像系统和SXI成像系统， 分析室和进样室都有独立光纤照明系统， 可观察视窗，视窗直径10cm左右, 样品热/冷台,温度可监测。 4.2 样品进样室 机械泵，分子泵 热双灯丝离子规, 可观察视窗，视窗直径10cm左右。 空气压缩机一台，国内采购 4.3 石英高压反应池 程序控温系统 真空监测系统 真空泵系统 进出气系统,参考南京大学用户设计建议。 压力 一个大气压 全石英底座 密封材料 Byton O-ring 最高温度 600度 远红外线加热控温系统 单独石英反应器冷却系统 4 样品磁耦合传输系统 4.5 真空烘烤系统 4.6 主机系统集成，减震装置。 4.7 计算机系统，含数据采集和数据处理软件包。 4.8 与以上所有系统相关联的电子学控制柜。 5、仪器主要技术参数与要求 5.1 仪器主机功能，单色化Al K&alpha 5.1.1 大面积XPS Ag3d5/2，1400umx100um, FWHM&le 1.00eV时，灵敏度&ge 1,000,000 cps。 Ag3d5/2，1400umx100um, FWHM&le 0.60eV时，灵敏度&ge 250,000 cps。 5.1.2 小面积XPS，最小分析面积&le 10&mu m ，性能指标应达到： Ag3d5/2，20&mu m， FWHM&le 0.60eV时，灵敏度&ge 15,000 cps。 Ag3d5/2，10&mu m， FWHM&le 0.60eV时，灵敏度&ge 4,000 cps。 Ag3d5/2，10&mu m， FWHM&le 1.00eV时，灵敏度&ge 12,000 cps。 Typical value for 100um and 20um at 75degree and 45degree 75degree Ag3d5/2，20&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 99kcps Ag3d5/2，100&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 47kcps 45degree Ag3d5/2，20&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 50kcps Ag3d5/2，100&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 27kcps 5.1.3 成像XPS 单色化X射线扫描成像，最佳空间分辨率&le 10 &mu m。 5.1.4 深度剖析XPS 聚焦扫描氩离子枪，当working distance为30 mm时.聚焦氩离子束斑&le 150&mu m，当 working distance为60mm时候，聚焦氩离子束斑&le 300&mu m束流密度&ge 0.5 mA/cm2。 5.2 仪器附件功能 5.2.1 双阳极XPS，MgK&alpha ，Ag3d5/2，FWHM&le 1.40eV时，灵敏度&ge 1,000,000 cps。 5.2.2 紫外光电子能谱（UPS） (a) 光源：He紫外光源，HeI:HeII=3:1 (b) 性能指标：分辨率（Ag费米边）&le 120 meV时，灵敏度（Ag4d）&ge 2,000,000 cps。 (c) 最小步长：5meV 5.2.3 高压反应室 (a) 材质：石英 (b) 内胆内压强：&ge 760Torr (c) 最高温度，&ge 600℃ (d) 气体混合仓附计量装置，包括压力表、流量计和针阀等。 5.2.4 分析室样品冷/热台，温度：170 K&ndash 600 K，温度可检测，加热PID控制。 5.3 仪器主要部件参数与要求： 5.3.1 能量分析器 (a) 类型：半球能量分析器 (b) XPS能量范围： 0&ndash 1600 eV（25 meV） UPS ：0～320 eV（5 meV） 5.3.2 超高真空分析室 (a) SUS材质内表面经过特殊处理 (b) 真空：小于6.7× 10-10 mbar 5.3.3 样品进样室 (a) 材质：非磁性不锈钢材料 (b) 真空：小于6.7× 10-9 mba 5.3.4 深度剖析氩离子枪 100eV&ndash 5keV，连续可调，扫描型。 5.3.5 荷电中和系统：双枪中和系统。 5.3.6 样品控制台 (a) 轴向：5轴， (b) 移动：各向移动距离必须与样品台尺寸相匹配，步进步长小于1&mu m， (c) 倾斜：0&ndash 90° 5.3.7 计算机系统 (a) Pentium IV，CPU主频3.0GHz左右； (b) 内存2G, 硬盘250 G； (c) ２个DVD/CD-RW Combo光盘驱动器, (d) 22" 液晶平板显示器； (e) 4个USB2.0接口； (f) 100M以上以太网接口，用于数据传输； (g) 预装Windows XP正版软件； ( h ) 预装仪器操作软件和数据分析软件（含最新的XPS数据库），附安装软件光盘；主要特点：1.世界上独一无二扫描微聚焦X-射线source2..世界上独一无二扫描微聚焦X-射线产生的2次电子成像SXI像和XPS成像，可以帮助客户找到肉眼看不见的微观缺陷。3。可以给出10um XPS sensitivity.其他公司不能。20um 的XPS sensitivity是其他公司同类产品的1倍以上。

仪器简介：软X射线光栅光谱仪 该系列的软X射线光栅光谱仪是McPherson公司最富盛名的产品，此类产品在全世界同步加速器以及核聚变研究方面的应用，已经成就了光谱测试领域的传奇，获得了一流科研院所用户的一致认可。 在这些光谱仪中，主要采用了掠入射光路设计，部分型号为经典的平场光谱仪。除主机外，还提供实验所需的周边附件，从而可以根据不同的实验需求，构成完整的测量系统。技术参数：波长范围光谱分辨率焦距长度 产品型号扫描功能多道检测功能光路设计1nm to 310nm0.018nm 1000mm248/310G有 有Grazing Incidence1nm to 90nm0.015nm1500mm 252/315有 有Grazing Incidence 1nm to 254nm 0.008nm2200mm247有 有Grazing Incidence1nm to 240nm 0.006nm3000mm249 有 有 Grazing Incidence1nm to 70nm0.002nm 10600mm 262无 有 Grazing Incidence1nm to 15nm0.007nm 70000mm 264有 无Grazing Incidence10nm to 170nm 0.05nm292mm251无有Flat Field Toroidal 1nm to 20nm0.02nm5649mm251MX无有Flat Field50nm to 320nm 0.1nm320mm343有 无 Toroidal

Octane SDD系列探测器能够以前所未有的速度采集高质量EDS数据。以前，由于高计数率会带来数据质量的损失，SDD技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在，由于Octane系列的面世，用户可以高速采集高质量数据，最大限度地发挥他们的材料分析能力。????Octane SDD探测器型号Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。Octane Pro — 最适合氧化物、半导体和B-N-C的分析，这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。Octane Plus — 为广泛的应用提供卓越的性能和价值，包括材料科学、金属、聚合物，EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。Octane Super — 最适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。Octane Ultra — 用于4-D分析，例如原位检测和反应特性，此类应用需要最大化X射线的收集。特点和好处先进的内置FET谱仪设计Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率所有计数率下保证数据质量在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析最先进的脉冲处理器最高的输入计数到存储数据转换效率。以极短时间采集面分布图，提高用户工作效率。TEAM™ 智能软件最优化用户分析时间，获得最佳的样品数据 智能诊断和智能采集最优化采集和分析条件。智能脉冲堆积校正最大限度地减少了高计数率采集的影响，使SDD技术得到最大限度的应用。??结论Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界最稳定的分辨率，针对不同的应用进行设计，使用户可以有更多的时间探索材料，更好地认知材料????

真空紫外 ～ 软X射线光谱仪总览 McPherson可提供掠入射极紫外光谱仪,C-T，S-N，正入射，平场掠入射，掠入射C-T等多种结构的光谱仪，满足不同的应用，覆盖红外 - 可见 - 紫外 - 真空紫外 - 极紫外 - 软X射线全波段。大多数光谱仪可以和Andor 真空紫外CCD相机配合使用，成为该波段的摄谱仪。同时，McPherson提供范围极为宽广的VUV - XUV 光源、真空内光学器件、真空快门、真空狭缝等等，并可组建完整的真空紫外光谱系统。 波长范围(nm)分辨率(nm)焦距(mm)型号结构扫描功能CCD/MCP适配成像超高真空（选项）30 - 2,2000.1200234/302像差矫正S-N●●●30 - 1,2000.05500235S-N●●●105 - 20,0000.04670207VC-T●●●●30 - 1,2000.0151,000205自动聚焦正入射●●●●30 - 1,2000.0251,000231S-N●●●105 - 20,0000.011,330209VC-T●●●●30 - 2500.0053,0002253自动聚焦正入射●●●●30 - 2500.0026,650265离面正入射●●●●1 - 3100.0181,000248/310罗兰圆掠入射●●●1 - 800.025,650251MX平场变栅距光栅掠入射●●8 - 1200.08800OP-XCT离面掠入射C-T●●●●8 - 1200.12,000XCT掠入射 C-T●●●●10 - 1700.05292251平场轮胎面光栅掠入射●●●离面掠入射C-T结构光谱仪234/302 S-N 结构光谱仪 XUV空心阴极光源真空紫外光谱测试系统

小型机载伽马射线光谱仪简介：D230A是一种轻型伽马射线光谱仪，专为小载荷无人机设计。研发的目的就是使其重量最小化而灵敏度最大化。D230A的主要应用是机载伽马射线。两种探测器的光谱分别积累和保存，扫描速率从1秒到1分钟可调。此外，在监测过程中，两种探测器最终形成的是一个互补的综合光谱。D230A是由位于前面板卡槽里的一个小型锂电池供电。充满电的电池可维持至少4小时的操作，并可快速更换。技术参数:探测器： 两个BGO晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)，双碱阴PMT， 灵敏度2x160cps/MBq/m (Cs- 137)。 最大分辨率11.5%FWHM (661 keV)。 或两个NaI/T晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)， 双碱阴PMT，最大分辨率 8% FWHM (661 keV).光谱仪：全数字2x1024通道，40Mhz 数字信号处理器，线性能量校正，反堆积，200 ns分辨率，每个检测器的最大吞吐 量为250 000 cps采样率：用户可选择最小每秒1次。每个光谱同时储存在单独的数据文件和总累积光谱中。能量范围：25 keV - 3000 keV显示：LCD 2 x 20个字符控制器：单按键操作数据存储：最小2x 20000个样本，包括GPS坐标的全光谱。 稳定光谱和系统消息日志。内存大小可扩展GPS：导航至-162 dBm和-148 dBm冷启动，精度2米通信：数据传输，远程控制和诊断:USB 2.0电源：可充电锂离子电池7.2V/2200 mAh （在20摄氏度下最少可工作4小时），外部充电器和电池组尺寸：145 mm x 78 mm x 260 mm重量：3.5 kg（2个BGO）环境：操作温度范围-10oC 到 +50oC IP-40级，无防尘、防水。

多量程X射线纳米CTSkyScan 2211多量程X射线纳米CT系统可涵盖范围很大样品的对象尺寸和空间分辨率。它可为油气勘探、复合材料、燃料电池、电子组装等许多应用带来的材料三维成像和精确建模机会。技术规范：X射线源：20… 190kV，4/10/25 W，亚微米焦点尺寸，5档滤线器；开放（泵送）X射线源（带双级电子光学器件）；靶材—钨（标准）；铜、钼、银（可选）X射线探测器： 300万像素CMOS平板探测器 1920×1536像素 1100万像素冷却式CCD探测器 4032×2670像素重建图像格式：平板：1920×1920×1160像素（中心位置）3776×3776×1160像素（两个偏移位置） CCD：4032×4032×2272像素（中心位置）8000×8000×2272像素（两个偏移位置）重建速度：1分12秒：针对600次投影进行2K×2K×1K重建 11分：针对1319次投影进行4K×4K×2K重建样品对象定位：直接驱动空气轴承带集成式微定位平台 使用压电式驱动器（5.5毫米行程）细节探测能力：100纳米扫描容积： 直径204毫米，长度200毫米，重量25千克辐射安全：在距离仪器表面10厘米的任何一点上＜0.5 μSv/h （在190 keV、4 W条件下于目标上测得）电源：100-130V或200-240 V AC，50-60 Hz， 2.5 kW + 1.5 kW（压缩机）（65 A峰值电流）系统随附闭环水冷器和无油空压机及必要的粒子过滤器和干燥机。

仪器简介：XRD-DSC是同时得到温度变化过程中的XRD物相变化信息及DSC差值扫描热量信息的产品。 这类产品是理学公司独有的衍射仪和差热分析仪的组合产品。主要特点：可对固体反応過程进行方便分析。包括，各種有機、無機化合物的相变化；融解、結晶化、脱水及其它化学反応的变化。 2. 可对熱分析中测试困难的，如物相转换及化学变化过程中，生成物的有無、最終生成物結晶性的確認，进行测量。 3. 可在X線衍射测量的同时，测量化学変化的温度、吸熱/放热的区別及热量。 4. 选件包括，低温、水蒸汽气氛装置。*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

RIZIKOS是一款划时代的闪光CR成像系统，使用传统的存储磷光板在普通CR扫描仪的一小部分时间内捕捉高质量图像。这个系统是最小的，最快成像以及最轻便的CR系统之一。当完全操作时，RIZIKOS会在几秒钟内生成x射线图像。完整的系统可以放在一个小型战术背包中，重量只有10公斤(XR150)。

岛津X射线衍射仪XRD－6100 采用θ/2θ扫描方式,岛津特有的全聚焦弯晶后单色器，具有世界最高的X射线衍射效率，达到50%以上；独立的X射线光管控制系统,提高光管使用寿命的同时,也降低了操作人员接触X射线辐照的几率，达到本质安全防护等级；该机型整体配置技术成熟,稳定性较高,维护费用最低。

DR平板X射线检测便携式高清X射线检测系统产地：山东威海 型号：GDX-50/75-01GDX-50/75-02GDX-50/75-03产品介绍：超薄便携式X光机是一款轻便的、电池供电的X射线成像系统，专门为满足安检排爆工作组现场作业需要而设计。 超薄成像板仅1.5cm厚，可在狭小的空间内不移动可疑物体，便可以进行安全检查。超薄便携式X光机的图像成像面积为430×350mm，足够使操作者一次性扫描可疑的包裹。应用范围、场景：警务人员以及军事战地人员在安检、排爆、侦查等现场，对可疑物进行透视观察，排除危险物品，增加执法人员的工作效率，降低执法人员的危险系数；法医尸检，检查尸体中是否有异物，便于取出肌肉里的异物时明确方位等；工业部门的无损检测，如耐张线夹、铝铸件，集成块、高压包等；保安部门、海关、有点部门的安全检查等。

安赛斯（中国）有限公司--国际先进检测设备优质供应商。产品标签：X射线检测系统，X光机，微焦点X射线检测系统 工业领域对产品小型化以及高品质高可靠性的不断追求，促进了对高分辨率检测工具的需求。在产品设计和产品质量检测的时候，检测出微米级、纳米级缺陷的需求越来越多，要求也越来越高。 Y.Cheetah微焦点X射线检测系统，是我司最新推出的满足各种检测需求的最新一代系统，它能为客户带来最大的投资收益。智能化的“一键解决”方案带来运动控制系统设计观念革新性的变革。使它成为当前最快和最好性能的微焦点X射线系统。 它采用平台式检测设计，各种模块都可以即插即用、用户可以根据其现在或将来的检测需求，选择合适的功能模块。Y.Cheetah不但能够用于快速2D检测，同时可以升级到3D（μCt）断层扫描。 最新Y.FGUI， Y.Cougar和Y.Cheetah系列控制软件，除了操作简单直观的特点，还集成了缺陷标注及自动报告生成功能。 了解更多的产品资料及报价，请登录安赛斯（中国）有限公司官网，或联系安赛斯工作人员，我公司可提供测试服务。如需了解产品的详细参数及实时的产品报价，您可以登录安赛斯（中国）有限公司官网400 8816 976产品介绍：名称：用于2D与CT检验的多用途X射线系统型号：Y.Cheetah产地：德国应用：主要用于检测电子线路板，半导体产品、微电子元件及电路板焊接器件、铸件等的看不见部分的焊接或铸造缺陷检测、多层绑定芯片的内部看不见的缺陷检测。 产品特点：l 检测快速与简单l 一键操作n 已开发Y.Cheetah X射线检测解决方案，以满足电子和汽车行业、军事项目、飞机制造、电信和医疗技术行业、飞机制造、电信和医疗技术最广泛的检测要求。可快速简单调整，以符合新检验规范。n 可通过简单的一键操作迅速激活先进的技术功能。n 放大+技术：X射线辐射强度保持不变，从而保持最佳的灰度分辨率 - 独立于放大倍率。不必要设置和校准射线管或探测器。n 动力驱动技术：在动力驱动模式下，管和探测器轴以恒定几何放大倍率在相反方向同步移动。n 由于减少焦点至探测器的距离（FDD），在最短的时间内提供高品质的X射线图像。n 通过使用最先进的FeinFocus微焦点X射线管，Y.Cheetah可在很短时间内获得清晰图像。n 独有的计算机快速断层扫描Y.QuickScan的Ultrafast Y.QuickScan也可作为备选。.产品标签：X射线检测系统，X光机，微焦点X射线检测系统咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah

D-Power粉末X射线衍射仪，以卓越的精度与灵活性，树立高质量衍射数据采集新标杆。搭载前沿的的光路系统、高精度测角仪和单光子计数探测器，结合多样化的样品环境，无论是科研探索还是工艺监控，D-POWER 能一站式满足广泛的测试需求，提供可靠的数据研究。技术指标：X射线光源光管3 kW陶瓷X光管靶材Cu（最常用）、Mo、Co、Cr、Fe等焦斑长细焦斑： 0.4×12 mm；点焦斑：0.4×1.2 mmX射线发生器最大输出功率4 kW（高频高压发生器）光管电压/电流2 ~ 60 kV，1 kV /step/2 ~ 80 mA，1 mA/step测角仪结构立式测角仪θ/θ结构扫描半径标准245 mm（225 mm-355 mm连续可调）最小步进0.0001°扫描范围-110° ~ 160°（2θ）扫描速度0.0012° ~ 120 °/min角度重现性0.0001°角度误差≤±0.01°探测器一维阵列探测器最大线性计数：1X106CPS无噪声；能谱分辨率：能量分辨率（rms）{ev}678±5工作方式：PLC自动控制积分、微分方式转换；PLC自动进行PHA，死时间较正仪器规格尺寸980 mm×1268 mm×1888 mm重量680 kg电源单相AC220-230 V±10%，50/60 Hz，40A其他最大水压：0.7 MPa 冷却水耗：3.5 L/min应用领域：1、医药：医药结构分析、配方研究、晶型鉴定、品质检测以及药物交互作用研究2、电池：研究电池材料的晶体结构和性能，分析环境污染物的组成和结构3、半导体：半导体晶体生长研究以及应力和应变分析以及材料相变4、地质：地质研究和勘探、岩石成分的分析和鉴定以及地层的分析和研究5、建筑：矿物鉴定、质量控制以及混凝土助剂和添加剂分析6、食品：晶体结构分析、成分鉴定、质量控制、结构性分析和新产品研究

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。技术指标：1、 可选微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同时可选针对高压实验的高能液态金属In光源（24 kev），X 射线光源具有聚焦后样品处光斑小，光通量大和波长短等特点。2、 大面积、单光子计数探测器提高衍射数据分辨率，获得更多的衍射峰数量，提高晶体结构的分辨率。配备CdTe单光子计数型探测器，大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、 采用在同步辐射实验装置上所使用的先进旋转中心定位法，在此基础上进行优化。利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。液态金属In靶E1型X射线光源参数高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 ×107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μmFWHM通量1.0 ×106 ph/s发散度2 mrad位移台参数XY轴重复定位精度±0.2 μm；行程±10 mm；Z轴重复定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm；Ф 轴重复定位精度≤0.002°；行程±135°；X1Y1重复定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm；应用领域：1、高压下的结构相变、状态方程、弹性、织构等研究2、涉及的材料包括高温超导体、纳米材料、超硬材料、矿物、大块金属玻璃、半导体、各种功能材料等3、应用领域包括物理、化学、地球/行星科学、材料等

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。

德国Feinfocus X光检测设备 Feinfocus作为高分辨率X光检测设备研发、设计和制造系统供应商，是1982年最早成立于德国的系统供应商；现有超过2800台Feinfocus的X射线设备在全球范围内被投入使用。Feinfocus拥有目前世界上最先进的X射线设计理念和制造技术，Open Tube专利技术，原厂设计的更全面、更多功能的操作平台，整个系统完全是德国原厂制造 微焦、纳焦的发明者，拥有多项专利多。多年来Feinfocus的产品广泛用于PCBA、Semi、Package、后段封装和非破损性检测(NDT)等领域的检测设备。Feinfocus以领先检测技术、丰富经验、客户为先的应用为用户提供及时技术支持。通过双赢联手:1）2004年，Feinfocus并入瑞士COMET集团，成为COMET的一个事业部；2）2006年，另一家工业X射线制造商YXLON International也并入COMET集团；3）2007年，YXLON和Feinfocus合并为YXLON International GmbH，成为COMET的一个成员，是航空、汽车、工业和电子领域最大的X光管和系统供应商；4）YXLON在中国上海、北京有办事处性能特点 Capability Features -平台化设计，实现产品客户订制化-使用開放式X射线管&平板数字探测器，領先業界的清晰图像提供者-射线管的靶功率高达10瓦，几何放大倍数达2000倍，应用范围更广-独有的样品旋转及倾斜模块，是失效分析的强有力工具-专利的TXI技术，确保任何时候检测图像质量稳定-专利的AIM技术，确保观测检测位置处于图像中心-全新FGUI軟件可提供CNC自動檢測，全自动完成BGA检测与Void检测-设备可直接升级到CT--3维断层扫描系统，节约成本-独有1分钟快速CT扫描技术，是您实验室失效分析的最强大助手-独有的高功率靶，靶功率达7瓦时不散焦，标准检测分辨率＜1.0μm带来前所未有的CT效果体验！！电脑断层扫描（CT）提供了一个独特的、非破坏性和三维视图进入检验项目，例如孔隙度的检测，比较对CAD数据，几何测量和逆向工程。全新水平CT发布！多用途高分辨率CT系统！配备190KV最高分辨率穿透射线管或225KV水冷折射式FeinFocus射线管最大扫描样品尺寸Φ300X500mm最大FDD1200mm,马达驱动快速整体CT预览和感兴趣区域细节扫描Opt.+/-30otilt可选+/-30o倾斜测量和高精度工具包Yxlon FF35 CT系统结合了多功能性的精度。凭借其巨大的检查信封它提供了一个广泛的工业CT的应用程序。用途：CT扫描和螺旋扫描缺陷和材料分析装配监测三维测量R&D实验室和失效分析过程控制，批量扫描满足各行业要求：汽车航天电子医疗器械Yxlon FF20 CT系统使得能够达到最佳的检查结果的最高分辨率。该CT系统非常适合检测小型电子元件。用途：R&D实验室和失效分析过程控制小批量检测三维测量满足各行业要求：半导体封装材料与生物微型系统，MEMS和MOEMS医疗

为工业化生产、质量控制而设计，浓缩X射线衍射仪生产的先进技术，功能化与小型化台式X射线衍射仪。能够精确地对金属和非金属样品进行定性分析、定量及晶体结构分析。尤其适用于催化剂、钛白粉、水泥、制药等产品制造行业。 主要技术指标：●运行功率（管电压、管电流）：600W(40kV、15mA)或是1200W(40kV、30mA) 、稳定度:0.005%●X射线管：金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4kW、焦点尺寸：1x10 mm 风冷或是水冷（水流量大于2.5L/min）●测角仪：样品水平θs-θd结构、衍射圆半径150mm●样品测量方式：连续、步进、Omg●角度测量范围：θs/θd联动时-3°-150°●最小步宽：0.0001°●角度重现：0.0005°●角度定位速度：1500°/min●计数器：封闭正比或高速一维半导体计数器●能谱分辨率：小于25%●最大线性计数率：≥5×105CPS（正比）、≥9×107CPS（一维半导体）●计算机：戴尔商用笔记本●仪器控制软件：Windows7操作系统，自动控制X射线发生器的管电压、管电流、光闸及射线管老化训练；控制测角仪连续或步进扫描，同时进行衍射数据采集；对衍射数据进行常规处理：自动寻峰、手动寻峰、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、谱图对比等。●数据处理软件：物相定性、定量分析、Kα1、α2剥离、全谱图拟合、选峰拟合、半高宽和晶粒尺寸计算、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化、多重绘图、3D绘图、衍射数据校准、背景扣除、无标样定量分析等功能、全谱图拟合（WPF）、XRD衍射谱图模拟。●散射线防护：铅+铅玻璃防护，光闸窗口与防护装置连锁，散射线计量不大于1μSv/h●仪器综合稳定度：≤1‰●样品一次装载数据：配置换样器，每次最多装载6个样品●仪器外形尺寸：600×410×670（w×d×h）mm

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。应用范围：定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）薄膜分析X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。应力和织构（择优取向）分析。材料研究XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件，可为您带来优异的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：定性相分析和结构测定微米应变和微晶尺寸分析应力和织构分析粒度和粒度分布测定使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析倒易空间扫描筛选和大区域扫描涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异：孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）对最/大300 mm的样品进行扫描安装和扫描重量不超过5kg的样品自动化接口微焦源IμS配备了MONTEL光学器件的IμS微焦源可提供高/强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。毫米大小的光束：高亮度和低背景绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。UMC样品台D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有全新的样品扫描和重量容纳能力：可对重达5 kg的样品进行扫描大区域映射：最/大300mm的样品支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。多模EIGER2 R检测器EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。先进的传感器设计，包括第二代性的EIGER：最/大尺寸为75 x 75mm2的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。全景光学器件和附件，视野开阔。0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics获得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何用于毛细管，GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：电动狭缝：用于高通量测量分光晶体：用于高分辨率测量使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。