扫描等离射仪

国仪量子场发射扫描电镜SEM4000Pro场发射扫描电子显微镜SEM4000ProSEM4000Pro是一款分析型热场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计，束流最大可达200 nA，在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器，可观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式，以及直观的操作界面，让您的分析工作倍感轻松。产品特点 配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪分辨率高，30kV下优于0.9nm的极限分辨率三级磁透镜设计，束流可调范围大，最大支持 200 nA 的分析束流标配低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器和插入式背散射电子探测器无漏磁物镜设计，可直接观察磁性样品标配的光学导航模式，中文操作软件，让分析工作更轻松应用案例产品参数关键参数高真空分辨率0.9 nm @ 30 kV，SE低真空分辨率2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa加速电压200 V ~ 30 kV放大倍率1 ~ 1,000,000 x电子枪类型肖特基热场发射电子枪样品室真空系统全自动控制低真空模式最大180 Pa摄像头双摄像头（光学导航+样品仓内监控）行程X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mmT: -10°~+70°，R: 360°探测器和扩展标配旁侧二次电子探测器（ETD）低真空二次电子探测器（LVD）插入式背散射电子探测器（BSED）选配能谱仪（EDS）背散射衍射（EBSD）插入式扫描透射探测器（STEM）样品交换仓轨迹球&旋钮控制板软件语言中文操作系统Windows导航光学导航、手势快捷导航自动功能自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

日立高新热场式场发射扫描电镜SU5000--搭载全新用户界面，向所有用户提供高画质图像-- 日立高新技术公司（以下简称：日立高新）8月4日开始发售的肖特基式场发射扫描电子显微镜"SU5000"，搭载了全新的用户界面和"EM Wizard"，无论用户的操作技巧是否娴熟都可以拍出好的照片。 扫描电子显微镜在纳米技术领域、材料领域、医学生物等领域均被广泛使用。但随着近年来仪器性能的大幅提升，以及用户群体的不断扩大，使得用户对不需要任何经验和技术就能得到好照片的需求迅速扩增。而且，由于观察对象的样品的不断多样化，对样品的大小和性质的无制约观察变得尤为重要。 这次新开发的"SU5000"对用户没有任何操作技巧上的要求，通过”EM Wizard“只要选择好观察目的就可以得到好照片。"EM Wizard"以人为本的设计理念使电镜的操作性大幅上升，对于用户来说，再也不用去讨论该用什么条件进行观察，只要按照观察目的选择”表面细节观察“或是”成分分布“等就可以自动将适合的观察条件设置好。除此之外，使用经验丰富的操作人员也可以像往常一样自由的选择观察条件，按照自己的操作习惯进行设置。”EM Wizard“对于初学者或者使用经验尚浅的客户来说，它独有的操作简易性和各种学习工具可以帮助您迅速成长起来；对使用经验丰富的客户来说，开放了丰富的可设置选项，会令您操作起来更加得心应手。这正是"EM Wizard"的价值所在。 另外"SU5000"的寻找视野功能"3D MultiFinder"更是独一无二的。不但可大幅提高做样速度，更使视野再现性得到大大提高。并且，为了能适应各种分析的需求，最大束流可达到200nA。再加上全新设计的背散射电子探头和低真空二次电子探头等，都使该款电镜无论在是观察样品还是分析都具备了超强的功能与强大的扩展性。 日立高新在8月3日至8月7日在美国康涅狄格州举办的"Microscopy & Microanalysis"，9月3日至9月5日在日本千叶县幕张国际展览中心举办的"JASIS 2014"，9月7日至9月12日在捷克举行的"18th International Microscopy Congress"上都做了实机展出。*：肖特基式场发射电子显微镜：高亮度、大束流、超强稳定性汇聚一身肖特基式场发射电子显微镜。分辨率高和可做各种定量定性分析。 肖特基式场发射电子显微镜"SU5000" "EM Wizard"画面样式【主要参数】 电子枪ZrO/W 肖特基式场发射电子枪加速电压0.5~30kV着陆电压0.1~2kV分辨率2.0nm@1kV（*1）、1.2nm@30kV、3.0nm@15kV 低真空模式（*2）放大倍率底片倍率：10~600000倍、显示倍率：18~1000000倍5轴马达台X：0~100mm、Y：0~50mm、Z：3~65mm、T：-20~90°、R：360° *1：减速模式是选配项 *2：低真空模式是选配项 2014年，日立高新技术公司（以下简称：日立高新） 新型肖特基场发射扫描电镜*"SU5000"作为工业用设备荣获由公益财团法人日本设计振兴会颁发的GOOD DESIGN AWARD 2014”(2014年度最佳设计奖)。

百特扫描图像粒度粒形分析系统BT-1700（洁净度分析系统）是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫做粒度粒形分析系统；用在洁净度分析时叫做洁净度分析系统。BT-1700性能独特之处有以下四点，一是显微镜具有自动载物台，能自动拍摄不同位置的颗粒图像；二是具有自动对焦功能，保证所拍摄的每一幅图像中的颗粒都是最清晰的；三是具有相邻视场无缝拍摄功能，并能把这些连续的小图像无缝合成一幅大图像，就像是一次拍摄的放大了几百倍甚至上千倍的照片一样；四是根据不同物质的颗粒对光的吸收个反射特性不同这一特征，通过分析每一个颗粒的图像亮度来判断所测粉体材料中两种物质的含量。通过这四个独特功能，使BT-1700在做粒度粒形分析和洁净度分析过程中完全不用人工操作，拍摄图像、位置移动、合成图像、数据分析都自动完成，并且图像清晰、速度快、结果准确。同时具有分析物质含量的功能。在粒度粒形分析中，BT-1700能把载玻片上的每一个颗粒一次全部分析完。得出的粒度信息包括每一个颗粒的粒径、最大颗粒，中位径，粒度分布数据和曲线等；得出的粒形信息包括每一个颗粒的球形度和长径比等粒形参数，以及球形度和长径比分布数据和曲线。在清洁度分析中，通过BT-1700对相邻视场无缝拍摄功能和无缝合成一幅大图像功能，能将最大直径为50mm的滤膜的每一个细小环节全部展现出来，得到了一幅滤膜（连同滤膜上的颗粒）被放大几百倍了的图像。通过软件对图像进行分析，计算出每一个颗粒的直径，在按清洁度标准进行分级并计算出每一个粒级的颗粒占总量的百分比，从而得出所分析的对象的洁净度等级。BT-1700通常配一台具有透射和反射功能的常规显微镜，配一个百特自主研发的自动载物台，配一套图像分析与处理软件。如果他配金相显微镜等特殊显微镜，还会有更多的功能。基本性能指标测试范围1-10000μm放大倍数160/200/400/800/1600倍重复性误差≤1%（国标样D50偏差）准确性误差≤1%（国标样D50偏差）颗粒识别速度≥10000个/分钟进口高速CCD120帧/秒扫描范围直径为55mm测量时间≤10分钟漏检率≤3%（10微米以上颗粒无漏检）金属颗粒识别准确率90%纤维颗粒识别准确率92%应用领域● 磨料：如碳化硅、刚玉、金刚石、石榴石等。● 电池材料：球形石墨粉等。● 金属粉：如球形铝粉、铅锡合金粉、其他雾化金属粉。● 非金属粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。● 针状粉：如硅灰石等。● 其他：如科研、教学等。突出特点● 洁净度分析：可分析粒度分布、颗粒数等，符合ISO16232、NAS1638标准，是精密机械制造等领域洁净度分析首选仪器。● 金属和纤维颗粒识别技术：如果样品中有金属颗粒或纤维颗粒，系统能自动识别出来，并给出含量等量化指标。● 自动测试技术：点击自动测试按钮，系统将自动寻找原点，自动拍摄、自动合成全景图像、自动分析每个颗粒、自动显示结果。● 无缝合成全景图像：精确控制的电动平台移动扫描拍摄局部图像，最后将每个局部图像合成全景图像，实现无缝连接，并对全景图像进行粒度、粒形分析，保证了颗粒的代表性。

Apero 2-超高分辨场发射扫描电镜【产品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系统，实现灰色区域解析，让您不再忧心显微镜性能，更加专注于研究本身。 Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高质量成像性能，即使是磁性样品或是传统意义上成像非常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像能力，并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平台上引入了SmartAlign（智能对中）技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH（闪调）自动执行精细调节工作，只需移动鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外，Apreo 2 SEM是唯一在10 mm分析工作距离下具有1 nm分辨率的SEM，长工作距离不再意味着低分辨成像，有了Apreo 2 SEM，任何用户都可以自信地得到很好的成像效果。 【特点与应用】 全面解析全面的纳米和亚纳米分辨率性能，适用于纳米颗粒、粉末、催化剂、纳米器件、大块磁性样品等材料； 极佳的灵活性非常灵活的处理范围，样品类型广泛，包括绝缘体、敏感材料和磁性样品，收集最重要的数据； SmartAlign技术使用SmartAlign（智能对中）技术，实现光学系统自动调整，减少维护时间； 先进的自动化先进的自动化用于自动图像微调、撤销、用户向导、Maps成像拼接的FLASH（闪调）技术； 实时定量EDS元素信息触手可及，利用ColorSEM技术，提供实时元素面分布成像定量分析，结果获取更加快速、简便； 长工作距离唯一在长工作距离（10 mm）具有高分辨率的性能(1 nm)和优秀的图像质量的SEM产品参数发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪分辨率： 型号Apero 2 CApero 2 S末级透镜静电复合高真空15kV0.9nm 0.5nm1kV1.0nm0.8nm500V 1.2nm0.8nm加速电压范围：200 V ~ 30 kV 着陆电压范围：200 eV ~ 30 keV探针电流范围：1 pA ~ 50 nA，连续可调（可选配400 nA）最大水平视场宽度：10 mm WD时为3 mm（相当于最低放大倍率29倍）X-Ray工作距离：10 mm，EDS检出角35°样品室：从左至右为 340 mm 宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3 个（其中2个处于180° 对角位置）样品台：五轴优中心全自动马达驱动X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm,T=-15o~90o,R=360o （连续旋转）多用途SEM样品安装载物台，可同时放置 18 个标准样品座（φ12 mm）最大样品尺寸，直径122 mm，可沿X、Y轴完全旋转时最大样品高度，到优中心点间隔为85 mm最大样品承重 5 kg探测器系统：样品室二次电子探测器ETD镜筒内背散射电子探测器T1镜筒内二次电子探测器T2镜筒内二次电子探测器T3（选配）样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度）图像导航彩色光学相机Nav-Cam+&trade 样品室低真空二次电子探测器（选配）可伸缩透镜下背散射探测器（选配）控制系统： 操作系统：Windows 10图像显示：24寸LCD显示器，最高显示分辨率1920×1200支持用户自定义的GUI，可同时实时显示四幅图像软件支持Undo和Redo功能

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。 咨询或索取详细产品资料，请联系越联仪器工作人员。 广东越联仪器有限公司---德国蔡司一级代理商。产品：工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪

德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）工业CT，X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

技术 B-AR-2000-1成像扫描仪是在TLC平板，凝胶和印迹 上分析[18F] FDG纯度，3H和14C的行业“黄金标准”。 该系统可对所有放射性同位素（包括正电子发射体）进行直接数字计数，从而保证重要新陈代谢实验和放射化学纯度测量的定量准确性和重复性。应用PET /核医学：用18F，11C，99mTc，111In等标记的体内SPECT或PET放射性药物化合物的快速，准确结果。放射性药物质量控制和合成 过程控制。药物代谢物分析：使用β（3H，14C），γ或正电子标记的化合物对放射性同 位素的灵活性以及对低活性或高活性产物的手动或自动 峰分析。放射性示踪剂毒理学研究：定量测量14C标记的有机化合物和农药的高灵敏度。脂质生物合成/脂质分析：通过TLC对复杂的脂质，磷脂和糖脂进行1D和2D分析，无需切割，刮擦或转移以获得快速定量结果。放射性标记的报道基因或酶测定： 使用TLC简化分析并提高传统放射性同位素CAT或酶促转化分析的准确性 4-5年的活动范围内呈线性，比X线胶片的线性范围大100 -1000 倍，提供快速可靠的分析。 扫描仪使用充气式比 例计数器，可以检测所有β和γ发射同位素。 整个TLC车道可以在不到一分钟内成像。多个通道可以在一次自动 B-AR-2000-1在运行中进行分析，无需操作员干预。定量生化分离和使用放射性标记化合物的平面样品：可编程扫描和快速更换磁准直器，用于分辨率和灵敏度优化。WinScan软件该系统包括用于仪器控制的WinScan软件，数据分析结果以二维图像的色谱图形式显示。 自动执行峰的定量，并提供显示所用方法的报告，色谱图和每个峰的总活性百分比。 WinScan软件为AR-2000操作和射线色谱分析提供了一个易于使用的界面，包括仪器控制，方法定义和存储，数据采集，定量分析和报告功能。功能包括： 实时数据显示和屏幕分析工具，包括ROI定义，背景扣除，％总色谱活性和Rf值 GLP的自动原始数据存储通过用户可调选择标准自动查找峰值 用户定义的打印或导出报告及相关的采集参数用于质量控制 绘制按比例缩放（1：1）打印选项的平板覆盖规格和型号AR-2000-1 单板TLC成像扫描仪高性能检测器，可拆卸的高分辨率和高灵 敏度准直器，内置自动进样器，自动进样器可自动扫描一个 20 x 20厘米板，最多20个样品通道。 包括校准板，P-10气 体调节器（大部分区域）和WinScan3仪器控制软件。 包含AR-Calib校准软件的一年许可证。

手持式辐射扫描仪910型产品描述：• 符合人体工程学的设计，手感舒适• 带有条形图显示的大LCD • 测量的射线类型：αβγ和x射线• 显示单位齐全：CPS，CPM，Sv / h，rem / h • 累积辐射测量数据• 设计紧凑，抗冲击，易于携带• 历史数据可以上传到PC • 跟踪算法专li实现了高稳定性和快速响应 手持式辐射扫描仪910型技术参数：测量射线种类α、β、γ和Χ射线 （带射线选择滑盖）测量量程辐射剂量率：0.01μSv/h-1000μSv/h，0.001mR/h-100mR/h脉冲剂量率：0-300,000cpm，0-5,000cps辐射剂量累计值：0.001μSv-999Sv灵敏度1μSv/h≥7cps（Cs137）能量响应50keV - 3MeV (能量补偿滑盖板)传感器大型GM管，有效直径45mm，云母窗密度1.5-2.0mg/cm2输出端口USB电脑连接口（专用USB线延长线可选，可延长到100米）本底值稳定度±0.02μSv/h（8小时）响应时间6秒（从本底移动到10μSv/h环境下）显示大屏幕数字LCD，带棒图显示效率Pu239(α源)约40%；Am-241(5.5MeV α)约36%；Sr-90(546KeV，2.3MeV β max)约65%；C-14(156KeV β max)约8%；Bi-210(1.2MeV β max)约64%抗饱和在超过最大读数达100倍的场合，读数保持在满刻度校正可直接调整校正因子报警功能声光报警，可自由设定报警值，缺省设置为5μSv/hr精度±15%存储功能手动或自动存储软件可让数值实时远传到电脑中，进行显示、分析、记录外界电磁波影响可忽略10倍地磁场影响无工作温度-20℃至+60℃存储温度-30℃至+70℃工作湿度90%R.H（非冷凝）工作大气压力75kPa-110kPa重量450克尺寸L300mm；W90mm；H40mm电源3节5号电池，可连续工作30天质量认证CE, ISO9001

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

MiniGita Dual/Single 放射性TLC 薄层扫描仪 MiniGITA Dual/Single 是一种通用的、先进的放射性 TLC薄层扫描系统。一套完整的探测器可以测量几乎所有 的同位素。它是为核医学、SPECT 或 PET 实验室的不同方案而设计的。 具有不同准直器和探测器的双或单探测器方案选择，使您可以调整系统，其作为高端TLC扫描仪，可同时执行多 通道分析（Y 谱仪分析）。这种通用性确保了检测能力和信噪比，分辨率和能 谱分析与薄层扫描一体完美结合。探测器 我们有一个完整的新一代探测器，使用不同的闪烁材料和不同的检测技术。我们提出的系统与完善的 PMT 光电 倍增管以及全新的数字检测技术，确保每个应用的检测能力。MiniGita 还使用了 Elysia 通信协议和一种新型 连接器。只需更改探测器/探测器，系统就会识别探测器的类型和序列号。这将为您的设置提供一个完美的方案， 并增强您的GxP工具。但新的电缆和通信协议提供了更多的通用性，因为它将允许与所有其他测量仪器交换探头， 如TLC或使用 ECP (Elysia 通信协议)的多通道分析仪。新的ECP 还允许对探测器进行高级控制和诊断，以确保更 好的性能和远程诊断。探测器类型 MiniGita OFA(One-Fits-all)探测器 OFA探测器是基于v 型BGO 技术。这种晶体可以检测 SPECT 和PET 同位素。特殊的 v 形提供了分辨率，且仍然具有良好的灵敏度。宽范围的准直器可以使探测器适应大的能量范围。该检测器还具有多通道 功能，适用于基本能谱扫描。 MiniGita PET 探测器 这种探测器是为PET 实验室设计的。闪烁体和数字探测器技术保证了对正电子具有很高的分辨率和灵敏度。高灵敏 度的伽马辐射探测和极高的动态范围，确保了非常低的本底噪声对伽马射线和处理高活度的可能性。这些功能使 探测器成为每个PET 中心选择。 MiniGita 的 New Gen 探测器 新的 Gen 探针是基于 v 型 BGO 探针，确保了对 SPECT 和 PET 同位素的高灵敏度的分辨率。探头采用了动 态范围更大的新型电子器件，可以在不饱和信号的情况下进行更高活度的测量。宽范围的准直器可以使探测器适 应大的能量范围。 MiniGitaMCA 探测器 这是一个标准的 2x2 英寸的 NaI 晶体结合到一个 2 英寸的 PMT。像所有的 miniGita 探测器一样，它使用我们的 ECP，也可以用于 Gabi Nova上的辐射流量检测,大晶体和高质量的 PMT是能谱分析和核素鉴定。技术规格： 探测器支架： 可安装2个探测器/1 个探测器，具有识别功能 准直器： 5、10、15、20 毫米自动识别钨准直器扫描区域： 25 x 200mm 扫描时间：可选择 探测器： miniGita OFA, PET, NewGen，MCA 探测器 能量范围： 30 – 2000 keV计数率 ：0 – 500.000 (OFA, MCA) 0-1.000.000 cps (PET, NewGen)线性： 0 – 600.000 cps r2 = 0.99 (PET, NewGen)通讯： USB2.0 和10/100 以太网物理尺寸： L64xH28xW22 cm

技术MiniScanPRO是一种多功能TLC扫描仪，可以可靠地检测窄条和板上的放射性同位素。该系统适用于68Ga，18F（包括FDG），99mTc和123I放射性药物等的常规质量控制。TLC Scan有两个独立的通道，一个用于TLC，一个用于HPLC应用，每个通道可连接到所有可用的检测器。 装载样品的TLC条放置在台上，该台在固定的放射检测器下移动以记录色谱图。 **个通道可与所有常用HPLC系统结合用于无线电检测。根据核素的不同，**检测器可从多种可互换的闪烁体/光电倍增管检测器中选择，用于测量大多数同位素，包括68Ga，18F，125I，131I，99mTc，90Y，177Lu，64Cu和111In。 多种扫描速度允许探测器测量从10 nCi到100μCi（370 Bq - 3.7 MBq）的各种活动，具体取决于探测器的选择。提供模拟和数字信号，用于将TLC-Scan与现有的色谱数据系统连接。 随附的RaPET色谱软件可用于数据采集和报告生成。应用&bull 含有68Ga，177Lu，90Y，18F，99mTc，123I等的放射性药物的常规质量控制&bull 放射性药物的TLC用γ，高能β和正电子发射体标记用于研发&bull 反应混合物的过程中TLC分析RaPET色谱软件（可选）RaPET色谱软件是一种全面的色谱数据收集和分析软件包。 这个评估软件非常可靠使用方便。 它由一个GMP数据库组成，确保符合GMP标准，并且还遵守21 CFR第11部分。特色和优点&bull 易于使用的系统，具有***灵活性和自动定位系统&bull 使用基于Android的设备通过PC或蓝牙进行控制&bull 与利用MiniScanPRO的模拟输出的现有色谱系统兼容&bull 广泛的探测器可用于各种应用&bull 能够同时为不同的应用或重合模式操作两个探测器 （radioHPLC模式）&bull 可变扫描速度&bull 易于系统设置和维护&bull 所有参数，例如阈值（用于背景，能量窗口，下限和 上限），高电压，积分时间和板长均可访问和修改输入最多两个基于PMT的无线电探测器或最多两个二极管无线电探测器和两个模拟通道输出最多两个模拟速率信号（范围为10 mV，100 mV，1 V，5 V），具有12位分辨率，最多两个TTL脉冲输出探测器MiniScanPRO使用专门配置的基于光电倍增管的探测器来检测高活性和低活性水平的γ，高能正电子或β发射体。 通过完全可变的能量窗口设置减少背景干扰。 以下无线电TLC探测器可供选择：FC-3100 基于NaI / PMT的探测器是一种低能伽马（10 - 60 keV）探测器，主要用于125I。FC-3200 基于NaI / PMT的探测器是用于大多数核医学应用的高能伽马（60-1500keV）探测器。FC-3600 塑料闪烁体/基于PMT的探测器是检测高能β和正电子发射体的理想选择 32P，90Y，18F，11C，13N。 （ 30 keV）技术规格尺寸：356 x 197 x 445 mm（宽x深x高）重量：11.9千克/19.0千克（含MCA）将MiniScanPRO升级到射频HPLC检测系统TLC扫描可同时作为TLC扫描仪和放射-HPLC检测器操作。 二极管和PMT检测器以及任何HPLC系统的任何组合都可以连 接到MiniScanPRO进行放射性HPLC。 通过这种方式，您可以轻松地将MiniScanPRO升级为完整的TLC和HPLC解决方案。

MetraSCAN 3D可帮助操作人员更好地管理生产过程，更快速地满足制造业对质量控制 (QC) 的更高要求，同时丝毫不会影响生产效率。MetraSCAN 3D 光学 CMM 的测量范围可以扩展，测量速度惊人，且对复杂材料的数据采集能力令人惊叹，是市场上极为全面的计量级 3D 扫描仪。它还配备可配对兼容的探测系统供用户选择。在车间环境中实现真正的质量控制。功能特点新增功能：精度提高 1.5 倍采用多条激光十字线，速度提高 12 倍重量减轻 25%可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围大范围增加设计结实耐用，确保车间硬件使用的可靠性具有多功能按钮，与软件交互更为简便TRUACCURACY计量级测量：有极高的精度和分辨率，更有较高的重复性及可追踪认证动态参考：通过光学反射器创建一个“锁定”到部件本身的参照系，用户因而可以在测量过程中随意移动对象有极高的体积精度可精确测量多种部件尺寸现场校准步骤简便，精度不受时间影响TRUPORTABILITY无需固定设置：测量过程中可随时自由移动部件和系统多功能 3D 扫描：可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围更宽广并易于扩展自动对齐：借助光学反射器可实现重复检测而无需重新对齐新增 HandyPROBE Next，有多种探测功能可供用户选择具有多功能按钮，与软件交互更为简便学习周期短，操作直观速度市场上扫描速度快的 3D 扫描仪：比上一代产品快 12 倍测量速度在所有激光扫描仪中位居前列自动网格输出：即用型文件，采集完成后立即可用快速的工作流集成：从物理对象到设计或检测工作流的快捷途径TRUSIMPLICITY便于在车间环境中使用轻质：重量在 1.38 kg 以下便携式 CMM：可轻松进入部件所在的任何位置无臂式光学扫描系统 应用：检测和质量控制件至 CAD 分析首件和供应商质量检测针对 3D 模型与原始部件或生产工具的一致性评估针对制成部件与原始部件的一致性评估对齐工具认证多点测量与 MetraSCAN 3D 结合使用时，可实现全自由形态检测并生成高密度色图。逆向工程几何实体的逆向工程（球面、柱面、平面）与 MetraSCAN 3D 光学 CMM 扫描仪结合使用时，可对混合部件（几何与自由形态）执行更快更精确的逆向工程

MetraSCAN 3D可帮助操作人员更好地管理生产过程，更快速地满足制造业对质量控制 (QC) 的更高要求，同时丝毫不会影响生产效率。MetraSCAN 3D 光学 CMM 的测量范围可以扩展，测量速度惊人，且对复杂材料的数据采集能力令人惊叹，是市场上极为全面的计量级 3D 扫描仪。它还配备可配对兼容的探测系统供用户选择。在车间环境中实现真正的质量控制。功能特点新增功能：精度提高 1.5 倍采用多条激光十字线，速度提高 12 倍重量减轻 25%可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围大范围增加设计结实耐用，确保车间硬件使用的可靠性具有多功能按钮，与软件交互更为简便TRUACCURACY计量级测量：有极高的精度和分辨率，更有较高的重复性及可追踪认证动态参考：通过光学反射器创建一个“锁定”到部件本身的参照系，用户因而可以在测量过程中随意移动对象有极高的体积精度可精确测量多种部件尺寸现场校准步骤简便，精度不受时间影响TRUPORTABILITY无需固定设置：测量过程中可随时自由移动部件和系统多功能 3D 扫描：可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围更宽广并易于扩展自动对齐：借助光学反射器可实现重复检测而无需重新对齐新增 HandyPROBE Next，有多种探测功能可供用户选择具有多功能按钮，与软件交互更为简便学习周期短，操作直观速度市场上最快的 3D 扫描仪：比上一代产品快 12 倍测量速度在所有激光扫描仪中位居前列自动网格输出：即用型文件，采集完成后立即可用快速的工作流集成：从物理对象到设计或检测工作流的快捷途径TRUSIMPLICITY便于在车间环境中使用轻质：重量在 1.38 kg 以下便携式 CMM：可轻松进入部件所在的任何位置无臂式光学扫描系统 应用：检测和质量控制件至 CAD 分析首件和供应商质量检测针对 3D 模型与原始部件或生产工具的一致性评估针对制成部件与原始部件的一致性评估对齐工具认证多点测量与 MetraSCAN 3D 结合使用时，可实现全自由形态检测并生成高密度色图。逆向工程几何实体的逆向工程（球面、柱面、平面）与 MetraSCAN 3D 光学 CMM 扫描仪结合使用时，可对混合部件（几何与自由形态）执行更快更精确的逆向工程

Molecular Vista 散射式扫描近场光学显微镜 ——10nm以下空间分辨可见-红外成像与光谱采集随着近些年对于纳米光子学、表面等离极化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究，扫描近场光学显微镜 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成为研究这些领域的不可或缺的表征手段。虽然扫描近场光学显微镜在散射式模式(s-SNOM)下的空间分辨率有了很大的提升，但是在实际使用上仍然得十分繁杂。在这一背景下，美国Molecular Vista应运而生，推出了全新一代散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM！有别于传统的扫描近场光学显微镜，Vista-SNOM基于专利的光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，通过检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布，无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰，也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外～射频，用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。Vista-SNOM在光诱导力显微镜模式下实测的场强结果与模拟结果高度吻合，同时也具备了s-SNOM模式。这使得科研人员可以将PiFM场强结果与s-SNOM场强结果进行对比分析。s-SNOM 散射式扫描近场光学显微镜案例下图为金铝二聚体分别在480nm和633nm不同偏振方向激发后的场强分布，图a,b的实测场强与图c,d的理论模拟是否吻合，金铝二聚体间隔仅为5nm!摘自“Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018”上面提到拉曼信号的增强主要源于局域表面等离子体共振(LSPR)的电磁场增强，下图为基于银颗粒阵列的表面增强拉曼衬底(SERS)的场强分布，图f的FWHM结果显示光诱导力显微镜实现了3.1nm的空间分辨。摘自“Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018”

TESCAN--场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等），同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用，例如：EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室（LM、XM或GM）提供you xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台，完善的几何设计更适合安装能谱仪（EDS），波谱仪（WDX），电子背散射衍射（EBSD）。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics&trade ）设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”，它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing&trade ），可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术，实时得到立体图像，三维导航维修简单现在保持电镜处在you xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面（包括了EasySEMTM模式）不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理，报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域，等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建，等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows&trade 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 北京亚科电子（山东）欢迎来电咨询 ！

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场发射扫描电镜 MIRA zui新一代的MIRA场发射扫描电镜给用户带来了zui新的技术优点（如改进的高性能电子设备使成像过程更快，快速扫描系统包括了动态与静态图像扭曲补偿，有内置的编程软件等），同时保持着zui高的性价比。MIRA3的设计适用于各种各样的SEM应用及当今研究和产业的需求。大电子束流下的高分辨率有利于分析应用，例如：EBSD、WDX等分析。MIRA3场发射扫描电镜可配置LM、XM或GM三种样品室。所有的MIRA样品室（LM、XM或GM）提供优xiu的5轴马达驱动全计算机化优中心样品台，完善的几何设计更适合安装能谱仪（EDS），波谱仪（WDX），电子背散射衍射（EBSD）。XM和GM样品室适用于大样品的分析。现代电子光路 高亮度肖特基电子枪可获得高分辨率/高电流/低噪音图像 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics™ ）设计提供了多种工作与显示模式 独特的中间镜的作用就如同软件“光阑转换器”，它以电磁方式有效地改变物镜光阑 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™ ），可模拟和优化电子束 可选的In-Beam探头可获得特高分辨率图像 电镜的全自动设置 成像速度快 使用3维电子束技术，实时得到立体图像，三维导航维修简单现在保持电镜处在优xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作设备的特点包括了自动设置和众多自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜的控制、样品台的控制、图像采集、处理与分析。通过脚本语言用户还可以编程其自己的自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 多语言操作界面 多用户界面（包括了EasySEMTM模式）不同账户的权利使常规分析过程更快 图片管理，报告生成 内置的系统检查与系统诊断 网络操作与远程进入/诊断 模块化软件体系结构 标准软件包括了测量、图像处理、对象区域，等模块 可选的软件和包括颗粒度分析标准版/专家版、3维表面重建，等模块MIRA3 GMMIRA3 GM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 XMMIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。MIRA3 LMMIRA3 LM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

简介：MiniScanPRO是一种多功能TLC扫描仪，可以可靠地检测窄条和板上的放射性同位素。 该系统适用于68Ga，18F（ 包括FDG），99mTc和123I放射性药物等的常规质量控制。 TLC Scan有两个独立的通道，一个用于TLC，一个用于HPLC应用，每个通道可连接到所有可用的检测器。 装载样品的TLC条放置在台上，该台在固定的放射检测器下移动以记录色谱图。 第二个通道可与所有常用HPLC系统结合用于无线电检测。 根据核素的不同，最佳检测器可从多种可互换的闪烁体/光电倍增管检测器中选择，用于测量大多数同位素，包括68Ga， 18F， 125I， 131I， 99mTc ， 90Y， 177Lu， 64Cu和111In。 多种扫描速度允许探测器测量从10 nCi到100μCi（370 Bq - 3.7 MBq）的各种活度，具体取决于探测器的选择。 提供模拟和数字信号，用于将TLC-Scan与现有的色谱数据系统连接。 随附的RaPET色谱软件可用于数据采集和报告生成。 应用：含有68Ga，177Lu，90Y，18F，99mTc，123I等的放射性药 物的常规质量控制 放射性药物的TLC用γ，高能β和正电子发射体标记用于研发反应混合物的过程中TLC分析特色和优点：易于使用的系统，具有最大的灵活性和自动定位系统 使用基于Android的设备通过PC或蓝牙进行控制 与利用MiniScanPRO的模拟输出的现有色谱系统兼容 广泛的探测器可用于各种应用 能够同时为不同的应用或重合模式操作两个探测器（radioHPLC模式） 可变扫描速度 易于系统设置和维护 所有参数，例如阈值（用于本底，能量窗口，下限和上限），高电压，积分时间和板长 均可访问和修技术规格： 尺寸：356 x 197 x 445 m（宽x深x高） 重量：11.9千克/19.0千克（含MCA） 可选：TLC-Scan包括多通道分析仪： 作为附加功能，Eckert＆Ziegler提供配备多通道分析 仪（MCA）的 MiniScanPRO和适用于光谱质量的 NaI检测 器，覆盖范围为30-1500 keV。 探测器安装在设备内部，带有额外的铅屏蔽

THz扫描法布里-珀罗干涉仪品牌：Tydex型号：TSFPITHz扫描法布里-珀罗干涉仪(Terahertz scanning Farby-Perot interferometer (TSFPI) )是专门设计用来测试THz波长以及窄带THz辐射强度的仪器。TSFPI有两块半透明平行的Si反射镜组成，其中一个Si镜装在线性电机上，可以通过控制Si镜之间的距离测量相应的THz数据。TSFPI 可以用于以下光源:回旋振荡管 光泵浦亚毫米波激光器 返波管 BWO 自由电子激光器 差频THz产生器 光混频THz产生器 量子级联激光器 p-Ge 激光器 规格参数：SpecificationValueOperational frequency range, THz0,1-15Free spectral range, THz 0,01-1,8Spacing between mirrors, mm0-9,5 Spacing setting accuracy, μm± 1.25 Optical axis height, mm110Free aperture, mm52Dimensions (LxHxW), mm232х151х120Mass, kg5,0

场发射扫描电镜 MIRA MIRA3 XM是一款完全由计算机控制的场发射扫描电子显微镜，可在高真空和低真空模式下操作，其具有突出的光学性能，清晰的数字化图像，成熟、用户界面友好的操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述分析潜力 XM样品室配备有5轴马达驱动的全计算机化优中心样品台，完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD） 优化几何设计的许多接口，更适合安装能谱仪（EDS）、波谱仪（WDX）、电子背散射衍射（EBSD）和其他探头 一流YAG闪烁器式探头 可选各种探头和配件 在涡轮分子泵和无油干式泵的工作下，几分钟就可以达到仪器工作需要的真空，电子枪的真空度由离子泵保持 在低真空模式下可以观测不导电的样品，观测磁性样品的效果非常好 可选样品室大小与镜筒防振方式MIRA3配置MIRA3 XMH大样品室高真空式电镜，配备有可选的马达驱动样品台，适合观测导电的样品。MIRA3 XMU可变真空式SEM，体现了高真空模式和低真空模式的优点。在低真空模式下可以观测不导电的样品，不需要喷金。软件：标配： 测量 图象处理 3维扫描 硬度测量 多图像校准 对象区域 自动关机时间 公差 编程软件 定位 投影面积 EasySEMTM 选配：根据实际配置和需求 配件 二次电子探头（SE），ET型二次电子探头（YAG 闪烁体） 可移动式背散射电子探头（RBSE）*，可移动环行闪烁体类（YAG）具有高灵敏度和原子序数分辨率（0.1Z） 低真空二次电子探头 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择

傅里叶红外被动扫描遥测成像仪基于傅里叶红外变换光谱技术，利用待测气体与遥测背景之间的等效辐射亮温差产生的红外光谱指纹特征信息，实现对多种有毒有害气体的快速扫描定性识别和半定量浓度反演，并实时呈现有毒有害气体在扫描区域的动态分布及扩散趋势，并对超标气体进行光声预警。应用领域：适用于危险性无法判知的情况下，远距离无接触式的对危险空间进行风险评估，获取空间区域内危险气体分布及对应的化学组分的扩散趋势。项目参数测量组分光谱数据库包含300多种组分，挥发有机物（VOCs）、硫化物、氮氧化物、苯系物等工业污染气体，以及沙林（GB）、芥子气（HD）、维埃克斯（VX）等化学毒剂（可按需定制）最大遥测距离3km最低检出限ppm*m量级；以氨气（NH3）为例，1ppm（云团厚度50m，温差2℃，充满视场）噪声等效温差20mk光谱分辨率1cm-1测量波段8~15μm（常规气体），3.5~15μm（高温热烟羽）微光夜视系统分辨率1920×1080，变焦12倍扫描范围水平360°，俯仰-45°～+45°，精度±0.01°探测器制冷方式斯特林制冷机（斯特林制冷工作寿命不小于8000小时）红外光谱视场角10mrad（0.57°，1km处视场直径10m）红外光谱准直系统φ80mm运动中检测3级公路，时速≤30km（选配）工作温度-20℃～+55℃

扫描透射电子计数解决方案（STEM Electron Counting）——具有单电子技术能力的低剂量扫描透射电子计数解决方案扫描透射电子计数是一种广泛应用于材料科学及纳米技术领域的强大技术，主要用于纳米颗粒及晶体缺陷表征、以及原子尺度生物结构成像。该系统具备校准单个电子信号的能力，能够确保获得真实零背景噪音的原始信号，从而提高测量结果的精度和准确性。主要系统部件：1）多分割STEM探测器・ 能够同时实现HAADF、ADF、BF像输出・ 单电子灵敏（60-300keV）・ 带前置放大的PN硅二极管传感器设计・ 电动伸缩控制2）多种探测器设计选择・ 提供多种探头分割及中心孔径选择・ 配备前置放大器优化初始信号强度3）模拟脉冲判别器・ 实现单电子脉冲模拟信号转换为数字信号・ 具有超阈值逻辑的模拟判别器・ 每个通道独立可设置阈值4）turboTEM 脉冲信号判别器・ 基于turboTEM脉冲技术开发・ 基于梯度逻辑技术的数字化判别器・ 通过计数堆积脉冲方式提升计数剂量范围5）LJ DISS6扫描控制器・ 集成探测器控制/脉冲识别/扫描发生器/图像采集多功能与一体专用控制器・ 具备多个数字和模拟信号输入・ 具备多个触发方式和同步接口设计・ 提供软件API及标准源代码的软件6）多通道放大器・ 能够实现每个通道信号独立放大・ 每个信号能够独立调节亮度/对比度等信息・ 满足多分割成像需求的高级输入和增益归一化设计 真正的零背景以及零噪音电子计数解决方案DISS6-探头控制和图像采集软件界面DIPS6-图像处理应用程序

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！C9750 的相关产品搜索X射线线阵扫描相机 C9750-20TCN产品型号：C9750-20TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10TCN产品型号：C9750-10TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN产品型号：C9750-10FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-05FCN产品型号：C9750-05FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCD产品型号：C9750-27FCD，产品名称：C型X射线线阵相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCC产品型号：C9750-27FCC，产品名称：C型X射线线阵相机

MetraSCAN 3D可帮助操作人员更好地管理生产过程，更快速地满足制造业对质量控制 (QC) 的更高要求，同时丝毫不会影响生产效率。MetraSCAN 3D 光学 CMM 的测量范围可以扩展，测量速度惊人，且对复杂材料的数据采集能力令人惊叹，是市场上极为全面的计量级 3D 扫描仪。它还配备可配对兼容的探测系统供用户选择。在车间环境中实现真正的质量控制。功能特点新增功能：精度提高 1.5 倍采用多条激光十字线，速度提高 12 倍重量减轻 25%可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围大范围增加设计结实耐用，确保车间硬件使用的可靠性具有多功能按钮，与软件交互更为简便TRUACCURACY计量级测量：有极高的精度和分辨率，更有较高的重复性及可追踪认证动态参考：通过光学反射器创建一个“锁定”到部件本身的参照系，用户因而可以在测量过程中随意移动对象有极高的体积精度可精确测量多种部件尺寸现场校准步骤简便，精度不受时间影响TRUPORTABILITY无需固定设置：测量过程中可随时自由移动部件和系统多功能 3D 扫描：可扫描任何材料，甚至可扫描黑色、彩色和发亮表面测量范围更宽广并易于扩展自动对齐：借助光学反射器可实现重复检测而无需重新对齐新增 HandyPROBE Next，有多种探测功能可供用户选择具有多功能按钮，与软件交互更为简便学习周期短，操作直观速度市场上扫描速度快的 3D 扫描仪：比上一代产品快 12 倍测量速度在所有激光扫描仪中位居前列自动网格输出：即用型文件，采集完成后立即可用快速的工作流集成：从物理对象到设计或检测工作流的快捷途径TRUSIMPLICITY便于在车间环境中使用轻质：重量在 1.38 kg 以下便携式 CMM：可轻松进入部件所在的任何位置无臂式光学扫描系统 应用：检测和质量控制件至 CAD 分析首件和供应商质量检测针对 3D 模型与原始部件或生产工具的一致性评估针对制成部件与原始部件的一致性评估对齐工具认证多点测量与 MetraSCAN 3D 结合使用时，可实现全自由形态检测并生成高密度色图。逆向工程几何实体的逆向工程（球面、柱面、平面）与 MetraSCAN 3D 光学 CMM 扫描仪结合使用时，可对混合部件（几何与自由形态）执行更快更精确的逆向工程合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

多量程X射线纳米CTSkyScan 2211多量程X射线纳米CT系统可涵盖范围最广样品的对象尺寸和空间分辨率。它可为油气勘探、复合材料、燃料电池、电子组装等许多应用带来独一无二的材料三维成像和精确建模机会。技术规范：X射线源：20…190kV，4/10/25 W，亚微米焦点尺寸，5档滤线器；开放（泵送）X射线源（带双级电子光学器件）；靶材—钨（标准）；铜、钼、银（可选）X射线探测器： 300万像素CMOS平板探测器 1920×1536像素 1100万像素冷却式CCD探测器 4032×2670像素重建图像格式：平板：1920×1920×1160像素（中心位置）3776×3776×1160像素（两个偏移位置） CCD：4032×4032×2272像素（中心位置）8000×8000×2272像素（两个偏移位置）重建速度：1分12秒：针对600次投影进行2K×2K×1K重建 11分：针对1319次投影进行4K×4K×2K重建样品对象定位：直接驱动空气轴承带集成式微定位平台 使用压电式驱动器（5.5毫米行程）细节探测能力：100纳米扫描容积： 最大直径204毫米，长度200毫米，重量25千克辐射安全：在距离仪器表面10厘米的任何一点上＜0.5 μSv/h （在190 keV、4 W条件下于目标上测得）电源：100-130V或200-240 V AC，50-60 Hz， 2.5 kW + 1.5 kW（压缩机）（65 A峰值电流）系统随附闭环水冷器和无油空压机及必要的粒子过滤器和干燥机

秉承飞纳台式扫描电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看不导电样品、完全防震、性能稳定的特点，荷兰飞纳公司推出采用肖特 基场发射电子源，集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体的台式场发射扫描电镜能谱一体机 Phenom Nano G2。 高亮度肖特基场发射电子源，使用户可以轻松获得高分辨率图像。最高放大倍数 100 万倍，分辨率优于 2.5nm肖特基场发射电子源彩色光学显微镜全景导航集成全自动马达样品台内置全自动真空锁，15 秒抽真空无需喷金，直接观察不导电样品无漏磁设计，直接观测磁性样品操作简单，培训 30 分钟即可上手耦合式电子光路设计内置 27 组独立减震单元，完全防震维护成本低飞纳电镜系列产品性能稳定，可以长时间工作，自动化程度高，大量节省了人力成本。飞纳台式场发射扫描电镜的灯丝使用稳定，寿命长，电子光路免维护，后期维护简单。飞纳电镜系列产品加入了硬件防护设计，杜绝人为操作不当引起设备故障；同时，提供终身免费的远程联网检测，实时维护您的电镜。复纳科学仪器（上海）有限公司为您提供飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2的参数、价格、型号、原理等信息，飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2产地为荷兰、品牌为Phenom，型号为Phenom Pharos G2，价格为面议RMB，更多相关信息可来电咨询，公司客服电话7*24小时为您服务

DeskCAT互动CT教学实验系统，便携式光学CT扫描仪，用于成像原理的交互式教学产品简介 DeskCAT ™ 是一种先进的多层光学CT扫描仪专为科研导师在教学环境过程中模拟进行医学成像的原理和过程。 DeskCAT ™ 扫描仪重10公斤，长63厘米，宽23厘米，高33厘米。使用锥形光束几何结构、CMOS摄像头和LED光源。 模型材料是半透明的，当连接到旋转台上时可以旋转360度。 扫描仪连接到计算机（不包括在内）并与DeskCAT™ 软件和实验练习。 互动学习 DeskCAT ™ 软件和幻影是为学生设计的，目的是让他们在教室或实验室环境中轻松学习医学成像的原理，使学生能够在不使用可能有害的x射线的情况下获取、审查和重建CT图像 根据DESKCAT的9个实验简介来详细说明CT教学扫描仪成像原理　9个实验包括:实验 1: 医学影像简介—三维定位，实验 2: 系统的线性，实验 3: 空间分辩率及调制传递函数(MTF)，实验 4: 边缘响应函数、点扩散函数和调制传递函数，实验 5: 对比噪声比，实验 6: 由于探测器失灵/投影图像丢失所致的图像伪影，实验 7: 扇形束与锥形束 CT，实验 8: 双能 CT，实验 9: 发射型 CT 性能特点 安全、方便、便携的多层光学CT扫描仪 操作过程中不使用潜在对人体有害的X射线 获取、回顾和重建3D CT图像 实时进行定量CT扫描 能够模拟成像伪影 动手、直观和交互式软件 影像学原理教学 包括模型、实验练习和软件

仪器简介：XRD-DSC是同时得到温度变化过程中的XRD物相变化信息及DSC差值扫描热量信息的产品。 这类产品是理学公司独有的衍射仪和差热分析仪的组合产品。主要特点：可对固体反応過程进行方便分析。包括，各種有機、無機化合物的相变化；融解、結晶化、脱水及其它化学反応的变化。 2. 可对熱分析中测试困难的，如物相转换及化学变化过程中，生成物的有無、最終生成物結晶性的確認，进行测量。 3. 可在X線衍射测量的同时，测量化学変化的温度、吸熱/放热的区別及热量。 4. 选件包括，低温、水蒸汽气氛装置。*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

一、 仪器用途：　　植物根系扫描仪用于洗根后专业根系分析，还可以用于根盒培养植物的根系表型分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，软件可分析植物根系的形态分析及根系的整体结构分布等，广泛运用于根系形态和构造研究。　　二、 仪器原理：　　植物根系扫描仪利用高质量图形扫描仪获取高分辨率植物根系彩色图像或黑白图像，该扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统，并且在扫面板上预留了双光源校准区域。此外，还配备有不同尺寸的专用、高透明度根系放置盘。扫描时，扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品，这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响，有效地保证了获取的图像质量。　　本软根系分析软件可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。针对获取的图像，利用插入加-密狗解密的软件，对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。　　三、技术指标：　　1、配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。根系反射稿幅面为355.6mm×215.9mm，透扫幅面为320.0mm×203.2mm，最小像素尺寸0.005mm×0.0026 mm。　　2、可分析测量：　　(1)根总长 　　(2)分支频率 　　(3)根平均直径 　　(4)根直径中值 　　(5)最大直径 　　(6)根总面积 　　(7)总投影面积 　　(8)根总体积 　　(9)根尖计数 　　(10)分叉计数 　　(11)交叠计数 　　(12)根直径等级分布参数 　　(13)可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数。　　(14)能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。　　(15)能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数(可不等间距地自定义)。　　(16)能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。　　(17)能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤菌体积在根系中的占比，以客观确定根瘤菌体贡献量。　　(18)大批量的全自动根系分析，批量保存，对各分析结果图可编辑修正。　　(19)能做根系生物量分布的大批量自动化估算。　　(20)向地角分析、水平角分析、主根提取分析特性。　　(21)各分析图像、分布图、结果数据可保存，并输出至Excel表，可输出分析标记图。　　(22)仪器有云平台支持，可将分析数据保存到云端随时随地查看。　　四、图像扑捉系统参数　　扫描元件: 6线交替微透镜CCD　　最大幅面: A4　　接口类型: USB2.0　　光学分辨率(dpi): 6400x9600dpi　　最大分辨率12800×12800dpi　　最小像素尺寸≥0.005mm×0.0026 mm　　扫描光源白色冷阴极荧光灯CCFL、色彩位数48位　　扫描范围216×297mm　　扫描速度反射稿、A4、300dpi：单色11秒，彩色14秒　　胶片扫描、35mm，2400dpi：正片：47秒，负片：44秒　　五、标准配置　　1、植物根系分析系统软件U盘及软件锁1套　　2、光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪1台　　3、根系成像盘3个　　六、其他　　1、本产品需使用电脑，推荐选配：品牌电脑(酷睿i5九代以上CPU / 16G内存/ 21.5”彩显/无线网卡，4个以上USB2.0口，运行环境Windows 10完整专业版或旗舰版)。　　2、可选配A3幅面双光源彩色扫描仪。反射稿扫描幅面305mm × 431.8mm，根系透扫幅面304.8mm × 406.4 mm。