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三维光学检测

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三维光学检测相关的论坛

  • 大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    联系人:吕红明联系方式:13812688974qq:9858592441 XTDP三维光学摄影测量系统1.1 系统介绍 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601128_3024107_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601129_3024107_3.png 图:XTDP系统硬件 图:系统软件界面XTDP三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601130_3024107_3.png图:摄影测量原理1.2 系统特色l 国内首个自主研发的工业近景摄影测量系统l 高精度的相机标定算法,适用于多种数码相机l 自主知识产权的核心算法,达到国外先进水平l 测量范围大:可测量0.3m~30m范围的物体l 测量精度高:最高精度可达±0.015mm/ml 测量速度快:拍照方便快速,计算速度快,测量结果三维可视化l 具备CAD数模对比模块,可用于质量检测l 具备静态变形测量模块,可测量工件变形数据l 操作方便:设备不需要事先校正,使用方便,对操作人员无特殊要求l 适应性强:不受环境及测量范围限制,可在车间或工业现场测量l 便携式设计:设备轻便,单人可携带外出开展测量工作1.3 系统功能系统采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据,测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下:(1)基本测量功能:测量幅面:支持几十厘米到几十米的测量幅面测量相机:支持多种单反、工业相机图像计算※相机数目:支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率※相机标定:软件具备相机自标定功能,支持多种相机镜头畸变模型计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式,方便用户灵活操作※标志点类型:支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制※变形测量功能:通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析※数模对比功能:可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对测量结果:包含三维坐标、三维位移等数据,测量结果三维显示显示设置:三维显示可灵活设置,包括颜色,尺寸等,可显示相机三维位置※厚度补偿:具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能多工程测量:系统软件支持多工程计算、显示及分析※多核加速:多核CPU并行运算,提高系统解算速度支持系统:同时支持32位、64位系统(2)变形测量功能:参考模式:基准状态可任意设置,可以是首个状态或者中间状态对齐模式:支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点追踪稳定性分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择测量结果:包含X,Y,Z三维位移分量及总位移E结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置(3)数模对比功能:※数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式※分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择检测结果:包含X,Y,Z三维偏差分量及总偏差E结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置(4)分析报告功能:坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角屏幕截图功能:具备二维图像及三维图像截图功能,截图自动插入报告数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出(5)扩展接口※系统扩展:可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度1.4 技术指标 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量2. ※测量结果三维坐标、三维位移3. 测量幅面支持几十厘米到几十米的测量幅面4. 测量相机支持多种单反、工业相机图像计算5. ※相机数目支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率6. 相机标定软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型7. 测量精度最高±0.015mm/m8. ※标志点类型支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制9. ※静态变形分析通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动10. ※三维数模对比可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示11. ※厚度补偿功能具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能12. ※坐标转换功能321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能13. ※元素创建功能可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素14. ※分析创建功能可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析15. ※多核加

  • 【分享】三维光学测量仪的特征及功能简介

    三维光学测量仪又可称为三维影像测量仪或非接触式光学测量仪,是集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的测量仪器。三维光学测量仪采用非接触式三维测量方式,可进行快速精密的几何尺寸和形位公差的测量,具有了良好的刚性质量比,运动平稳、精确,确保了整机精度更高。 三维光学测量仪采用国际先进的有限元分析技术设计,具有高精度、高性能高速度和高稳定性的特点。使用冷光源系统,可以避免容易变形的工件在测量是因为热变形所产生的误差,并避免了由于碰触引起的变形。三维光学测量仪可高效地检测各种复杂精密零部件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置,全自动地进行微观检测与质量控制;还可自动抓边、自动聚焦的功能使得最大程度减少了人为误差。 三维光学测量仪适用于航空、航天、军工、汽车、模具、电子、机械、仪表、五金、塑胶等行业中的模具、螺丝、金属、配件、橡胶、PCB板、弹簧等以坐标测量为目的一切应用领域适用范围。

  • 汽车工程领域非接触三维光学测量系统技术

    汽车工程领域非接触三维光学测量系统技术

    1-1 系统介绍三维光学非接触式应变位移振动综合测量系统分为三维光学应变测量系统和三维动态变形测量系统两个部分。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607051411_599282_3024107_3.png http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607051411_599283_3024107_3.png 图1 三维应变测量头 图2 动态变形测量头三维光学应变测量系统主要通过数字散斑相关法和双目立体视觉技术结合,追踪物体表面散斑点,实时测量各个变形阶段的散斑图像,通过算法重建三维坐标,最终实现快速、高精度、实时、非接触的三维应变测量。(全场或局部应变)动态变形测量系统基于双目立体视觉技术,采用两个高速摄像机实时采集被测物体变形图像,利用准确识别的标志点(包括编码标志点和非编码标志点)实现立体匹配,重建出物体表面点三维空间坐标,并计算得到物体变形量、三维轨迹姿态等数据。(关键点振动位移)三维光学应变测量系统和动态变形测量系统可以根据实验情况单独使用,也可以合并成综合测量系统使用。1-2与传统方法对比 三维光学测量方法传统测量方法(如位移计、应变片、引伸计等)测量方式非接触式测量,不对被测物体造成干扰与影响。接触式测量,易打滑,不容易固定,试件断裂容易破坏引伸计。测量对象适用于任何材质的对象。测量尺寸范围广,从几毫米到几米。适用于常规尺寸对象测量,特殊材料无法测量,小试样无法测量,大试样需要多贴应变片。测量范围应变测量范围:0.01%~1000%。应变测量范围:应变片通常小于5%,引伸计小于50%。环境要求环境要求低,可在高温、高速、辐射条件下测量。一般适用常规条件测量。测量结果全场多点、多方向测量,同时获得三维坐标、三维位移及应变。单点、单方向测量。三维测量需要多个应变片,效率低。1-3 系统技术参数 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量、数字图像相关法2. 测量结果三维坐标、全场位移及应变3. 测量幅面支持4mm-4m范围的测量幅面,更多测量幅面可定制4. 测量相机支持百万至千万像素相机,支持低速到高速相机,支持千兆网和Camera Link等多种相机接口5. 相机标定支持任意数目相机的同时标定,支持外部图像标定6. 位移测量精度0.01pixel7. 应变测量范围0.01%-1000%8. 应变测量精度0.005%9. 测量模式兼容二维及三维变形测量10. 实时测量采集图像的同时,实时进行全场应变计算11. 多测头同步测量支持多相机组同步测量,相机数目任意扩展,可同步测量多个区域的变形应变12. 动态变形模块具备圆形标志点动态变形测量功能13. 轨迹姿态测量模块具备刚体物体运动轨迹姿态测量功能14. 试验机接口接通后实时同步采集试验机的力、位移等信号15. FLC接口配合杯突试验机进行Nakazima试验,可以测得材料的FLC成形极限曲线16. 显微应变测量配合双目体式显微镜,可实现微小型物体的三维全场变形应变检测17. 64位软件软件采用64位计算,速度更快18. 系统兼容性支持32位和64位Windows操作系统2 系统应用于汽车振动强度实验室2-1 振动强度实验室介绍振动强度试验室,主要开展对汽车整车,总成,零部件,或者材料的强度,耐久性,疲劳特性,以及可靠性等问题的研究,试验,考核,或者评估。三维应变位移振动综合测量系统在振动强度试验室里具备以下的功能:(1)采集相关的振动、位移和变形数据;(2)作为前期信号分析的软件和硬件;(3)进行必要的试验控制和试验后期数据分析系统。2-2 汽车振动测量常规配合使用设备振动模拟实验系统:电动式振动试验台,机械式试验台,电液伺服试验机系统,道路模拟试验台,吊车(一般5~10吨、小型3吨以下、大型10吨以上)等。振动数据采集传统产品:传感器、应变片、放大器等。2-3系统在汽车振动实验室中应用的相关实验采集测量系统:三维应变位移振动综合测量系统。配合使用系统:振动模拟实验系统。实现功能1—耐振性能试验。测试车辆或者零部件系统的减振,耐振性能。模拟振动环境,通过非接触的光学方法,测量振动和位移,从而对车辆的振动性能进行分析。应用包括:发动机振动模态分析,车门振动实验,座椅振动测量分析等。实现功能2—耐久可靠试验。考核车辆和零部件的强度、抗疲劳特性和可靠性指标。应用包括:车身结构强度实验(测量区域振动或者关键点变形),汽车座椅分级加载实验,汽车轮胎受力变形实验等。3 系统应用于汽车材料实验室3-1 汽车材料实验室介绍汽车材料试验室,主要开展对汽车新型材料及相关基础性工作的研究和探索。三维应变位移振动综合测量系统在材料试验室里一般有以下的基本功能:(1)汽车材料常规力学性能方面的测试,得到各种工况下的应变变形;(2)汽车材料焊接的应变变化情况测量;(3)板料成形应变及板料成形极限曲线测量。3-2 汽车材料试验常规配合使用设备力学实验系统:高温蠕变试验机、扭转试验机、疲劳试验机、杯突试验机等。焊接相关设备:焊枪、焊机等。3-3 系统在汽车材料实验室中应用的相关实验采集测量系统:三维应变位移振动综合测量系统。配合使用系统:力学实验系统、焊接相关设备。实现功能1—材料应变变形测量实验。通过对材料进行常规的拉压弯等实验,进行相关材料的力学性能测定。应用包括:金属材料拉伸实验,复合材料大变形测量,碳纤维材料实验等。实现功能2—汽车焊接相关试验。考核汽车相关焊接实验的应变和变形。应用包括:焊接全场应变测量,高温焊接变形测量等。实现功能3—板料成形相关实验。板料成形过程中的全场应变变形测量和板料成形极限曲线(配合杯突试验机)。应用包括:板料成形应变实验、板料成形极限曲线测定实验。4 系统在汽车工程研究方面典型实验案例展示4-

  • 本人做的毕业设计,有关于普通光学显微镜下的三维重构

    本人做的毕业设计,有关于普通光学显微镜下的三维重构

    本人读研究生期间一直做关于铁谱分析,后来发现在光学显微镜下可以重构物体的三维图像,也就一直在这个方向上面做,现在要毕业了,当时觉得这个方向其实非常不错,还想深入做下去,但是初步发现好像国内做这方面的公司不多,大多数都是代理,不知道大家有什么建议。我的qq号5060941,有空可以聊聊。附件中有我编写的软件效果图,下面是论文的摘要,由于论文还没有提交,所以不方便发全文。摘 要铁谱技术是以磨损磨粒分析为基础的故障诊断方法,在铁谱技术中,磨粒图像是反映机械设备内部零部件磨损状况的重要信息载体,磨粒特征分析是监测对象实际状态十分丰富而又有效的方法。磨粒识别是铁谱分析的核心环节,直接关系到磨损状态诊断的正确性。磨粒成分与磨损构件成分相同,正确判断磨粒成分可以确定机械磨损位置,给保养和维修带来极大的方便。磨粒颜色与磨粒组成成分有很大的关联,本文使用主成分分析法在HSI色度空间上判断磨粒颜色,通过磨粒颜色分布确定磨粒组成成分。长期以来,由于三维成像设备性能和成本的限制,磨粒分析一直局限在二维形貌分析上。本文利用光学显微镜聚焦范围有限的特点,以改进拉普拉斯算子作为聚焦评价函数进行磨粒表面高度的测量,提取与聚焦高度相对应的像素点叠合生成能够反映磨粒表面全貌的全景深图像,最后结合磨粒表面高度信息和全景深图像重构出磨粒表面三维形貌图。为了满足计算机实时进行三维重构需求,本文还给出了一种磨粒表面形貌三维重构的快速算法。本文使用DSP、步进电机、CCD摄像头和改装过的光学显微镜设计了进行磨粒三维形貌测量的装置,并编写了基于Visual C++.net的磨粒表面形貌实时分析及三维重构软件。本文的主要研究工作有:1.综合国内外有关文献,对铁谱磨粒分析技术和微观物体的三维测量技术的发展和现状进行综述,结合本课题研究的要求,阐述了本文的主要研究内容。2.应用主成分分析法在HSI色度空间对磨粒的颜色进行了分析,找出一种判断磨粒组成成分的方法。3.分析论述了铁谱图像的数字图像处理技术和微观物体三维测量的原理、方法以及在磨粒测量上的应用。4.使用DSP、步进电机、CCD摄像头、改装的光学显微镜和计算机设计并制作了一套微观物体三维形貌光学测量装置。5.使用VC++ 设计了磨粒表面形貌分析与三维重构软件并使用自行设计制作的微观物体三维形貌光学测量装置对磨粒进行分析并重构出磨粒表面形貌三维图像。关键词:铁谱技术,磨粒,图像处理,三维重构,显微镜[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131645_10117_1163957_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/11/200511131647_10118_1163957_3.jpg[/img]

  • 三维光学分子成像技术及其应用研究

    光学分子成像技术由于其具有灵敏度高,响应速度快,操作方便且能实时直观等优异性能引起广泛关注。穿透性荧光三维成像技术(FLIT)凭借其特有的底部透射荧光成像模式能够精确获取体内荧光标记靶点的深度、体积、细胞

  • waters 2996检测器采集三维数据

    waters 2996检测器采集三维数据,设置的波长范围是210-400nm,基线平稳后进的样,可出来的谱图还是有很多杂峰,像锯齿形,光谱图也没法出来,拉出来的数据显示波长居然有正负一万多·····另外数据处理时在“结果”里总是更新不出,只能看到谱图,却没有峰面积、峰高、含量等具体值。 http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09509.gif流动相是乙腈:水=10:90,样品是茶碱甲醇溶液。。。菜鸟上路,还望各位大侠指点一二啊。。。

  • 光学三维形貌测量技术的分析和应用

    [*][作者]:[font=Archivo, &][size=16px][color=#222222][b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOnWJ5C4coK7weJVg89BVtVqZS2pUhmF6A-yASGomkJsXsiTu-WZpjysmMvcbCtlXuJhAq3eR31muEiNAFkWx1sM259ViWqhcJp1x5gJ6uMexIEZsUvbId07&uniplatform=NZKPT&language=CHS]姜洪喜[/url][/b][/color][/size][/font][*][题名]:[b][b][url=https://iopscience.iop.org/book/mono/978-0-7503-3167-8]光学三维形貌测量技术的分析和应用[/url][/b][/b][list][/list][*][b]【期刊】:CNKI[/b][*][b]【链接】:[url=https://kns.cnki.net/kcms2/article/abstract?v=Xlf5kQqXAOmDw3TF8o5O7V-pyQ0q2lbka6ozM1wVMLXawrytP7tqm2nHHeI2PLzVBZZBQaP7H6iEDDeeB9ruQZmBWt30KXsPrANHBvPB2fm2RZZ1_Bvx7P-ZObEGt9iWe14ymKR_Boo=&uniplatform=NZKPT&language=CHS]光学三维形貌测量技术的分析和应用 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]

  • 成都地区有使用激光共聚焦显微及三维光学轮廓仪的吗?

    成都地区有使用激光共聚焦显微及三维光学轮廓仪的吗?想测量一下激光烧蚀后的深度及形貌。感兴趣的可以用这两种仪器测量一下SPARK-OES烧蚀坑的深度及形貌,分析一下烧蚀形貌的特点。最好 估算一下烧蚀的样品量,与大家分享一下。

  • 【推荐】请问做三维荧光光谱检测食品、水污染时,一般会用谁家的仪器?

    【推荐】请问做三维荧光光谱检测食品、水污染时,一般会用谁家的仪器?

    [font=宋体]三维荧光可以用来检测[font=宋体]天然湖泊、河水、生活用水等中含有多种可溶性有机物,[font=宋体]在紫外区具有较强的荧光,[/font][font=宋体]使用三维荧光可以表征这些可溶性有机物的变化。[/font][/font][/font][font=宋体]不同种类,不同浓度物质的三维荧光信息不同,三维荧光光谱同时表征了发射波长、激发波长、荧光强度三者的关系,信息含量丰富。[/font][font=宋体][/font][font=宋体]请问大家做三维荧光光谱检测食品、水时,一般会用谁家的仪器?[/font][font=宋体][color=#333333] [/color][/font][font=宋体]点击链接 [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/nZhttp://]https://insevent.instrument.com.cn/t/nZ[/url][/font][font=宋体][/font][font=宋体][/font][font=宋体][/font]

  • 【分享】美国泽塔zeta 200 3D光学轮廓仪/三维显微镜

    Zeta 200自动三维测量系统Zeta 200是集多种测量手段于一身的高级表面测量系统。它功能配备齐全,使用方便,是三维测量系统中性能价格比最优的选择。Zeta 200能够自动采集样品上多点的工艺参数,如台阶高度、体积、尺寸及粗糙度等,为您提供监管及优化生产流程所需的数据。· 自动多点、多配方测量样品· 200毫米x200毫米XY轴驱动范围· 粗糙表面成像与分析· 金属栅线形状与尺寸测量· 防反射膜及光刻胶厚度分析· 真空吸盘保证样品定位一致· 本色三维成像· 台阶高度,线与面粗糙度、角度及尺寸测量Zeta 200特色功能1.多点测量 用户可按其所需设置每片样品上的采样点数——少许几点往往适用于快速检测,多点则可用于详细分析。2.大面积成像 Zeta 200可自动按次序对多个视场进行成像,然后由软件拼接成一张大面积的样品表面三维图像。3.自动形貌特征测量 用户可设置操作配方对样品的各种指定形貌特征如尺寸、间距、高度甚至整片样品的弧度等进行自动测量。标准系统配置显微镜系统光源:高亮度白光LED物镜:5x,10x,20x,50x,100x耦合透镜:0.5x自动载物台:200毫米x200毫米XY驱动范围Z轴:30毫米纵向驱动范围数码相机: 1024x768像素,1/3 英寸CCD计算机控制系统处理器:英特尔®酷睿2 双核(最低2.5GHz)随机存储器3GB硬盘驱动器:320GB显示器:22英寸宽屏液晶显示器(1680x1050像素) Zeta 三维测量软件实时视频成像快速数据采集(每处1分钟)三维表面浏览:倾斜,旋转,缩放,过滤•体积计算二维表面分析:特性尺寸,直径,面积图案间距,标准偏差表面粗糙度区域平均台阶高度轮廓测量台阶高度与粗糙度多横截面分析平均值测量标尺倾斜度与表面波度补偿阵列式采样序列自动数据与图像输出用于生产线SPC

  • 目前唯一将高分辨、三维、大视场、彩色、定量和快速六大成像要素集为一体的光学显微成像技术,精彩回放!

    目前唯一将高分辨、三维、大视场、彩色、定量和快速六大成像要素集为一体的光学显微成像技术,精彩回放!

    [size=24px]报告:高速大视场彩色三维显微成像技术及应用 [url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/swxw2021][b]精彩回放[/b][/url][/size]【摘要】 生物体表面色彩的不同色相、饱和度和明度在很大程度上反映了其微观结构和光学性质的不同。以激光共聚焦扫描显微镜为代表的点扫描显微成像技术具有三维层析成像能力,然点扫描显微成像技术的颜色通道十分有限,通常仅有三至四个,不能反映样品的全部色彩信息。研究团队开发了三维多视场成像技术,该技术是目前唯一的将高分辨、三维、大视场、彩色、定量和快速六大成像要素集为一体的光学显微成像技术。最大三维光切片速度100fps@1024×1024pixels。[size=18px][color=#ff0000][b][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/swxw2021/]精彩回放:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/swxw2021/[/url][/b][/color][/size][size=18px][color=#ff0000][/color][/size][size=18px][color=#ff0000][b]====[/b][/color][/size][img=,690,1227]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/08/202108061826440679_4529_2507958_3.jpg!w690x1227.jpg[/img]

  • 【求助】三维荧光的线性范围

    本人新接触三维荧光,文献上标明所检测样品不能超出线性范围,老师要求我自己做线性范围的测量,请教各位高手怎么确定三维荧光的线性范围?

  • 光学投影式三维轮廓测量技术综述

    [*][作者]:[b][url=https://kns.cnki.net/kcms2/author/detail?v=Xlf5kQqXAOlm7l-65OU2lurUkXQXDNnV80swK9r6DI4FW-qMCaOI3BZE4rrkm7O0yKdNrnffasjG8N7d-CSnhfhYoDlEKF9h2DB8TeXPVEpkXvt55_Bp45HyZNWwC-6X&uniplatform=NZKPT&language=CHS][font=&][size=13px][color=#0066cc]郝煜栋[/color][/size][/font][/url][font=&][size=13px][color=#0066cc],[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc][url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/data/author?cmd=authoruri&wd=authoruri%3A%289d9236b7479cd958%29%20author%3A%28%E8%B5%B5%E6%B4%8B%29%20]赵洋[/url][/color][/size][/font][/b][*][题名]:[b][b][url=https://wenku.baidu.com/view/f5a80ae3524de518964b7d76?fr=xueshu_top]光学投影式三维轮廓测量技术综述[/url][/b][/b][*][b]【期刊】:CNKI[/b][*][b][/b][*][b]【链接】:[font=&][size=13px][color=#0066cc][url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/data/author?cmd=authoruri&wd=authoruri%3A%28ce9ccdd90c16785c%29%20author%3A%28%E9%83%9D%E7%85%9C%E6%A0%8B%29%20]郝煜栋[/url][/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc],[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc][url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/data/author?cmd=authoruri&wd=authoruri%3A%289d9236b7479cd958%29%20author%3A%28%E8%B5%B5%E6%B4%8B%29%20]赵洋[/url][/color][/size][/font][url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=64f79c186c042144830ed4dcada7f984&site=xueshu_se]光学投影式三维轮廓测量技术综述 - 百度学术 (baidu.com)[/url][/b][font=&][size=13px][color=#0066cc][url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/data/author?cmd=authoruri&wd=authoruri%3A%28ce9ccdd90c16785c%29%20author%3A%28%E9%83%9D%E7%85%9C%E6%A0%8B%29%20]郝煜栋[/url][/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc],[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc][url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/data/author?cmd=authoruri&wd=authoruri%3A%289d9236b7479cd958%29%20author%3A%28%E8%B5%B5%E6%B4%8B%29%20]赵洋[/url][/color][/size][/font]

  • 2013年3月26日网络会议:三维光学显微镜在动态MEMS表面测量中的应用

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646343_2507958_3.gif三维光学显微镜在动态MEMS表面测量中的应用主讲人:黄鹤 布鲁克公司 应用经理活动时间:2013年3月26日 上午 10:00http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646343_2507958_3.gif1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、参加及审核人数限制:限制报名人数为120人,审核人数100人。3、报名截止时间:2013年3月26日上午10:004、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg5、参与互动:本次讲座采取网络讲堂直播模式,欢迎大家积极发言提问。 *参会期间您还可以将有疑问的数据通过上传的形式给老师予以展示,并寻求解答* 每次会议从提问的用户中随机抽取出一名幸运之星,奖励一个价值150元的耳机。6、环境配置:只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。7、提问时间:现在就可以在此帖提问啦,截至2013年3月25日8、会议进入:2013年3月26日9:30点就可以进入会议室9、开课时间:2013年3月26日10:0010、特别说明:报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程),请注意查收,并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过,请填写完整而正确的信息哦~http://simg.instrument.com.cn/webinar/20110223/images/zb_11.gif注意:由于参会名额有限,如您通过审核,请您珍惜宝贵的学习交流机会,按时参加会议。如您临时有事无法参会,请您进入报名页面请假。无故不参会将会影响您下一次的参会报名。快来参加吧:我要报名》》》快来提问吧:我要提问》》》

  • 三维扫描仪的应用及技术说明

    三维扫描仪的应用及技术说明

    航空航天三维测量技术在航空航天领域有着广泛的应用前景。天远三维公司以其三维数字精密测量及检测设备的准确性和稳定性,为自己赢得了信誉,并有幸参与了国家载人航天工程,对“天宫实验室”、返回舱及轨道舱的模拟实验舱及宇航员宇航服进行了三维数据的采集及建模。详情请见风电水电风电、水电等能源行业在三维测量及检测方面历来遇到的问题不外乎设备体积大、不便于移动,难以快速的现场检测,传统测量及检测手段越来越难以满足日渐提高的生产要求。天远三维公司以其三维数字精密测量及检测设备多样化的技术手段,使空间和时间不再是问题,在保证数据准确的前提下可以在任何地方快速的采集数据。详情请见模具制造模具制造涵盖了机械、汽车、航空、轻工、电子、家电、能源、化工等几乎所有制造领域,近10年来,我国模具工业一直保持着快速发展的态势。未来,国内模具产品将朝着更加精密、复杂,模具尺寸更大、制造周期更短的方面发展。这就要求模具制造技术能够更好的体现信息化、数字化、精细化、高速化、自动化。天远三维公司以其三维数字精密测量及检测设备的多样化,并结合丰富的专业经验,可以满足该领域的各种需求。详情请见文化遗产《文化部“十二五”时期文化改革发展规划》中已经列明了一系列与科技相关的“重点工程”,其中以“文化遗产保护重点工程”的科技含量提升尤为具有“新意”。文化与科技融合正在成为文化产业和文化事业发展的新趋势,文化遗产已经进入数字化保护时代。天远三维公司以其三维数字精密测量及数据管理系统等多样化的技术手段,全面参与了以“龙门石窟数字化工程”为代表的多个文化遗产单位的数字化保护工作,并在该领域继续开拓创新。详情请见服装制鞋随着三维数字化技术的发展,数字化服装(鞋)设计、数字化服装(鞋)结构设计、数字化服装(鞋)定制与三维服装(鞋)CAD技术等问题日益被行业所提及。天远三维公司工业三维扫描仪、人体三维扫描仪可灵活准确地对人体及物体进行三维测量,获得有效数据,建立客观、精确反映人体特征的数据库,方便易查便于比较、分析、应用,加速服装、制鞋企业的数字化进程。详情请见工艺制品工艺制品的设计、制作通常分为两个层次,高端以纯手工、精致著称,低端以简单、低成本机械化而盈利。三维数字化的应用,可将手工精制和低成本机械化生产有机结合。天远三维公司工业级三维扫描仪拥有众多型号,可以满足木雕家具、玩具公仔、珠宝首饰等各种需求。详情请见医疗整形医疗整形领域引入三维数字化技术,可以使治疗或整形的过程更加精准。通过三维测量,对比、分析数据,从而预知结果。不仅可以使医疗工作者提高技术水平、降低工作强度,又可使病患降低治疗风险、提升治疗满意度,从一个侧面减少了医患之间可能产生的矛盾。天远三维公司以其三维数字精密测量及检测设备的多样化,积极开拓该领域的研究方向,并与协和医院整形外科联合组建了“协和――天远三维数字化实验室”。详情请见影视娱乐影视娱乐一直站在三维数字化技术的最前沿,这也是三维数字化技术与大众最近距离的接触,随着新设备、新技术的广泛应用,大众的需求与期待也越来越高了。天远三维公司以其三维数字精密采集设备搭配先进的立体影像拍摄系统,可以为大众带来更真实、更细腻的感官体验。[colo

  • DIC数字散斑全场应变测量系统,可以测得三维应变和三维位移的数据。

    DIC数字散斑全场应变测量系统,可以测得三维应变和三维位移的数据。

    XTDIC三维全场应变测量分析系统,结合数字图像相关技术(DIC)与双目立体视觉技术,通过追踪物体表面的散斑图像,实现变形过程中物体表面的三维坐标、位移及应变的测量,具有便携,速度快,精度高,易操作等特点。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595779_3024107_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021457_595780_3024107_3.png图:系统测量原理及散斑图像追踪过程系统组成:统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成系统应该包含系统测量头(含两台高速工业相机、进口相机镜头,带万向手柄可调节LED光源)、相机同步控制触发控制箱、系统标定板、系统可移动支撑架、动态采集分析软件、载荷加压控制通讯接口、计算机系统等组成。1.1 主要应用XTDIC 三维数字散斑动态变形测量分析系统是实验力学领域中一种重要的测试方法,其主要应用有:在材料力学性能测量方面:DIC已成功应用于各种复杂材料的力学性能测试中。如火箭发动剂固体燃料、橡胶、光纤、压电薄膜、复合材料以及木材、岩石、土方等天然材料的力学性能的检测中。值得注意的是,DIC被广泛应用于破坏力学研究中,包括裂纹尖端应变场测量、裂纹尖端张开位移测量以及高温下裂纹尖端应变场测量等。在细观力学测量方面:借助于扫描电子显微镜(SEM)、扫描隧道电子显微镜(STEM)以及原子力显微镜(AFM),DIC被越来越多地应用于细观力学测量。最近,数字散斑相关方法还被应用于物体表面粗糙度的测量中。在损伤与破坏检测方面:DIC被应用于多种复杂材料,如岩石、炸药材料的破坏检测中。DIC还被应用于一些特殊器件,如陶瓷电容器、电子器件,电子封装的无损检测研究中。在生物力学测量方面:DIC被应用于测量手术复位后肱骨头在内旋转及前屈运动下大小结节的相对位移量,以及颈椎内固定器对人体颈椎运动生物力学性能的影响等。对于大中专院校的研究教学应用,本系统开展各种软组织、金属及复合材料性能测试、力学性能测试分析、有限元分析验证等研究和教学实验,具有大至1000%应变测量范围,并可以实时计算、实现动态全场的应变变形测量。在土木工程的相关研究中,如四点弯试件、半圆弧试件、悬臂梁实验,对应完整实验设计方案,以非接触式的方式提升研究手段,提高研究能力。亦可为学生提供可视化的教学工具,让学生的基础学习课程变得直观和可视,使复杂问题简单化、抽象问题直观化、隐蔽问题可视化。1.2 系统功能(1)基本测量功能:l ※测量幅面:支持几毫米到几米的测量幅面,可以根据需求定制测量幅面。l 测量相机:支持百万至千万像素、低速到高速、千兆网和Camera Link等多种相机接口,控制软件最大支持采集帧率10万 fps。l ※相机标定:支持多个相机(可多于8个)多种测量幅面的标定,支持外部拍摄图像标定。l ※测量模式:三维变形测量,同时支持单相机二维测量。l ※实时计算:采集图像的同时,可以实时进行三维全场应变计算,具备在线和离线两种计算处理模式。l 计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式。l 测量结果:全场三维坐标、位移、应变数据等动态变形数据,应变模式有工程应变、格林应变、真实应变等三种。l 多个检测工程:系统软件支持多个检测工程的计算、显示及分析。l ※支持系统:支持32位、64位windows操作系统,具备64位计算和多线程加速计算功能。(2)分析报告功能l ※18种变形应变计算功能:X、Y、Z、E三维位移;Z值投影;径向距离、径向距离差;径向角、径向角差;应变X、应变Y和应变XY;最大主应变;最小主应变;厚度减薄量;Mises应变;Tresca应变;剪切角。l ※坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能。l ※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥。l ※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角。l 数据平滑功能:均值,中值,高斯滤波等多种平滑功能。l 数据插值功能:自动和手动两种数据插值模式。l 材料性能分析:自动计算材料的弹性模量和泊松比等参数。l 三维截线功能:可对三维测量结果进行直线或圆形截线分析。l 曲线绘制功能:所有测量结果均可以绘制成曲线图。l 成形极限分析功能:可绘制和编辑FLD成形极限曲线。l 视频创建功能:可将测量过程二维图像或者三维测量结果制作成视频并输出保存。l 数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出。(3)采集控制功能l ※采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。l 相机同步控制:多相机外同步触发信号。l ※外部采集通讯接口:支持外部载荷如微电子万能试验机等外部载荷联机采集通讯接口,通过串口通讯或者模拟量实时采集外部的加载力、位移等信号,并与三维全场应变测量数据实现同步,实现应力和应变数据的融合和统一。l 光源控制:可以实现测量过程中不同补光需要的LED光源控制。(4)预留扩展接口:l ※多测头同步检测接口:可以支持1~8个测头的多相机组同步测量,相机数目任意扩展,可以同步测量多个区域的变形应变,适用于不同实验条件需求下的变形应变测量。l ※显微应变测量:配合双目体式显微镜,系统可以实现微小视场的三维全场变形应变检测,并可支持扫描电镜、原子显微镜等显微图像的应变数据计算。l ※大尺寸全方位变形接口:支持摄影测量静态变形系统,实现全方位变形和局部全场应变检测数据的融合和统一。1.3 技术指标 指标名称技术指标1. ※核心技术多相机柔性标定、数字图像相关法2. 测量结果三维坐标、全场位移及应变,可视化显示及测量过程的视频录制输出,测量结果及数据输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出。3. ※测量幅面支持1mm-4m范围的测量幅面,并配备相应编码型标定板标定架,可定制更多测量幅面。4. ※测量相机支持百万至千万像素相机,支持低速到高速相机,支持千兆网和Camera Link等多种相机接口,控制软件最大支持采集帧率10万 fps)5. 相机标定简单快捷,需要可支持任意数目相机的同时标定,支持外部图像标定6. ※位移测量精度0.005像素7. ※应变测量范围0.01%-1000%8. ※应变测量精度0.001%9. 测量模式三维变形测量,可兼容二维测量10. ※实时测量计算采集图像的同时,实时进行全场应变计算11. ※系统控制2采集控制箱可以实现测量头的控制、多个相机的同步触发、多路模拟量和开关量数据采集、输入和输出信号控制。2相机同步控制:多相机外同步触发信号。2外部采

  • 中国科学技术大学等单位成功研制超光谱三维靶向成像仪

    中国科学技术大学刘诚教授牵头,中国科学院合肥物质科学研究院、安徽大学、广东省广州生态环境监测中心站等单位参与,自主研制同时具备多组分污染气体垂直成像、水平成像和污染源靶向成像遥感功能的[b]超光谱三维靶向成像仪[/b],荣获2023年第二届“金燧奖”中国光电仪器品牌榜金奖。该奖项由中国光学工程学会、中国计量科学研究院主办,重点评选出中国自主研发、制造、生产的高端光电仪器。超光谱污染气体三维靶向成像仪的垂直成像遥感功能实现了臭氧及前体物无盲区垂直廓线的同步观测,在臭氧污染敏感性的垂直演化规律识别、污染物高空传输和垂直交换影响研究中广泛应用;水平成像遥感能够将排放热点高值区范围从卫星遥感和地面原位监测的公里级缩小到百米级尺度;排放源成像遥感可将排放责任锁定到米级尺度的污染排口,实现排放通量的动态监测。团队研究成果打破了我国超光谱污染气体地基遥感对欧美核心部件和关键技术的依赖,相关成果发表在Earth-Science Reviews、Remote Sensing of Environment、Science Bulletin、Engineering等国内外期刊上,截至目前已授权发明专利4项,实用新型专利1项。超光谱污染气体三维靶向成像装备被生态环境部卫星环境应用中心、中国气象科学研究院等20余家政府部门和企业用于大气环境立体监测,为中国国际进口博览会、成都大运会等国家重大活动的空[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]量保障提供支撑。[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载[align=right][/align]

  • “反恐神器”——三维成像毫米波安检门

    “反恐神器”——三维成像毫米波安检门

    近日,由中国航天科工三院35所研发的国内首台具备完全自主知识产权的毫米波人体三维成像安检门,在北京首都国际机场T2航站楼顺利完成安装,标志着国内首次由民航主管部门组织的毫米波安检正式试用。  传统的安检手段,如X射线人体成像,会使人体受到高能粒子辐射,具有累积效应,存在健康安全隐患,使用场合受限;而金属探测门、手持扫描仪等只能探测到金属材质物品,对复合材料、陶瓷、塑料、液体等材质的违禁品不能实现有效检测。安保工作遇到新的挑战。  毫米波安检是一种兼顾安检有效性与人体安全性的新型安检途径。凭借小于手机信号的辐射频率,在1—2秒内实现对衣物下、皮肤上所有材质的藏匿物“透视”,令危险分子携带的任何危险品无处遁形。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/09/201509021409_564236_2989334_3.jpg  故事从2010年说起,安检门项目团队充分挖掘35所拥有的雷达毫米波成像技术基础,突破了毫米波三维人体成像关键技术,并将其应用于民品安检设备研 发,实现了对人体无辐射伤害的三维成像。该设备具有强大的物体分析能力和图像处理能力,能揭开被其它物体隐藏的可疑物面纱,可以让操作员快速轻易地辨认出 可疑物品,可适用于多种安全检查站。该系统利用无害的非电离,能在几秒钟内产生清晰的图像。与传统检测设备相比,该设备不仅可以对传统设备无法检测出的液 体、陶瓷、毒品、塑料等非金属物品进行高清晰度成像,同时,物品检测精度极大提高,可以达到毫米级,检测成功率达到85%以上。  在此基础上,研制团队放眼市场,通过多轮的展览和试用,与市场和客户进行零距离的交流沟通,对样机进行不断改进升级,现已实现全部器件国产化、模块化,提高了成像质量,大幅降低了成本。  项目团队通过对关键技术进行进一步的优化改进,实现了完备的隐私保护功能,设备只显示人形影像上的可疑物品,不显示任何涉及被检人员的隐私信息;实现 了目前同类型安检设备中最高的安检通过率,且被检人员与随身物品安检同步进行,实现了目前同类型安检设备中最高的人体安全性能,设备应用的超小功率电磁波 辐射,不会对人产生危害,其辐射功率不及手机电磁波辐射的1%。为做好市场准入,团队邀请国内权威机构进行辐射量检测,结果显示,其辐射量比普通液晶显示 辐射量还低许多。  2012年5月,安检门产品参加北京国际警用装备展;2012年6月,参加新疆安防设备展;2012年9月,参加为期两个月的新疆乌鲁木齐机场试 用;2013年7月,参加第十届北京国际社会公共安全及司法监狱防范技术设备展览会……历次的参展吸引了国内安防管理系统、民航系统、警备系统、司法系统 等多个系统领域的关注。  目前,该团队先后突破多项关键技术,累计申请和获得相关专利近30项,产品已通过国家安全生产检测技术中心的人体辐射安全性检测。安检门项目团队负责人表示,今后将进一步发挥航天技术优势,将其打造成“反恐神器”“火眼金睛”,守护公众出行安全。(来自网络,侵删)

  • 摄影测量进行三维扫描技术

    摄影测量进行三维扫描技术

    航空航天三维测量技术在航空航天领域有着广泛的应用前景。天远三维公司以其三维数字精密测量及检测设备的准确性和稳定性,为自己赢得了信誉,并有幸参与了国家载人航天工程,对“天宫实验室”、返回舱及轨道舱的模拟实验舱及宇航员宇航服进行了三维数据的采集及建模。详情请见风电水电风电、水电等能源行业在三维测量及检测方面历来遇到的问题不外乎设备体积大、不便于移动,难以快速的现场检测,传统测量及检测手段越来越难以满足日渐提高的生产要求。天远三维公司以其三维数字精密测量及检测设备多样化的技术手段,使空间和时间不再是问题,在保证数据准确的前提下可以在任何地方快速的采集数据。详情请见模具制造模具制造涵盖了机械、汽车、航空、轻工、电子、家电、能源、化工等几乎所有制造领域,近10年来,我国模具工业一直保持着快速发展的态势。未来,国内模具产品将朝着更加精密、复杂,模具尺寸更大、制造周期更短的方面发展。这就要求模具制造技术能够更好的体现信息化、数字化、精细化、高速化、自动化。天远三维公司以其三维数字精密测量及检测设备的多样化,并结合丰富的专业经验,可以满足该领域的各种需求http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021201_595757_3113727_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021201_595757_3113727_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021201_595758_3113727_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606021201_595759_3113727_3.png

  • 三维荧光光谱仪的应用

    [align=center][font='宋体'][size=16px]三维荧光光谱仪的应用[/size][/font][/align][font='宋体'][size=16px]三维荧光光谱是激发波长—发射波长—荧光强度三维坐标所表征的矩阵光谱,英文全称:Excitation-Emission-Matrix Spectra(EEMs)。三维荧光光谱(EEMs) 能同时获得激发和发射波长信息,且因污染物种类和含量不同而各异,具有与水样(溶液)一一对应的特点,就像人的指纹具有唯一性一样,所以被称为水的“荧光指纹”。中广测配备HORIBA公司的Aqualog三维荧光光谱仪,可实现液体样品的荧光光谱、吸收光谱及三维荧光光谱的测试,同时还可进行单点动力学测试、样品空白和背景自动扣除、荧光内吸收矫正等功能。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148051748_9255_2862401_3.jpeg[/img][/align][align=left][/align][font='宋体'][size=16px]一、仪器信息[/size][/font][font='宋体'][size=16px]仪器名称:同步吸收-三维荧光光谱仪[/size][/font][font='宋体'][size=16px]英文名称:HORIBA Aqualog Fluorescence Spectrometer[/size][/font][font='宋体'][size=16px]生产制造商:HORIBA公司[/size][/font][font='宋体'][size=16px]型号:HORIBA Aqualog[/size][/font][font='宋体'][size=16px]HORIBA Aqualog 同步吸收—三维荧光光谱仪,全球首台可同时测定紫外-可见吸收光谱与三维扫描荧光的光谱仪器。耦合于origin的专用软件自动修正内吸收效应,扣除瑞利和拉曼散射。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]二、主要技术指标[/size][/font][font='宋体'][size=16px]1.光源:150W氙灯光源,激发范围230-620 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]2.激发带宽:5 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]3.激发波长精度:±1 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]4.波长重复性:±0.5 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]5.发射范围:240-630 nm[/size][/font][font='宋体'][size=16px]6.检测器:TE制冷背照式CCD检测器(荧光) 硅光二极管(吸收)[/size][/font][font='宋体'][size=16px]7.发射积分时间:1 ms (minimum)[/size][/font][font='宋体'][size=16px]8.灵敏度:水拉曼信噪比SNR20000(350ex, 30s 积分时间)[/size][/font][font='宋体'][size=16px]三、应用范围[/size][/font][font='宋体'][size=16px]广泛应用于生物、化学、材料等方向的科研开发,地表水、地下水、自来水、工业园区废水中的有机污染物监测与分析。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]四、服务范围[/size][/font][font='宋体'][size=16px]1.生物领域:酶动力学、蛋白质分析、生物发光。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]2.材料领域:发光材料、电化学发光、量子点、荧光传感材料。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]3.化学领域:反应动力学、化学发光、荧光探针。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]4.环境领域:水体DOM分析、污染物迁移转化分析、水体污染物监测评估。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]5.工业领域:油品鉴定分析、工业废水处理评价。[/size][/font][font='宋体'][size=16px]五、应用案例[/size][/font][font='宋体'][size=16px]1.荧光光谱在用于荧光探针方面的研究应用[/size][/font][font='宋体'][size=16px]荧光光谱是荧光探针研究的有效手段,通过荧光光谱测试可考察探针分子对目标离子的选择性,灵敏度及抗干扰能力。如在小分子荧光探针氟硼二吡咯(BODIPY)应用于溶液及生物体系钯离子的检测研究中,借助荧光光谱方法,实现了在溶液体系及检测试纸上,开发的荧光探针均能对钯离子的荧光信号增强响应(“OFF-ON”),且手持紫外灯下肉眼可查,探针抗干扰性强。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148054076_1318_2862401_3.jpeg[/img][/align][font='宋体'][size=16px]2.荧光光谱用于敏感物质荧光传感检测方面的应用 [/size][/font][font='宋体'][size=16px]基于小分子荧光传感材料的研究中,通过荧光光谱方法及荧光动力学研究能有效评估荧光传感材料对目标物响应性能及光稳定性。如针对小分子硝酸酯类爆炸物季戊四醇四硝酸酯(PETN)的检测研究中,通过荧光光谱方法可得到具有较高选择性的荧光淬灭或增强效果传感检测材料。三维荧光光谱是痕量爆炸物荧光传感检测研究的有力工具。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148054581_9565_2862401_3.jpeg[/img][/align][font='宋体'][size=16px]3.三维荧光光谱法在有机污染物处理过程中的监测应用[/size][/font][font='宋体'][size=16px]三维荧光光谱法可直观实现对有机污染物降解过程中污染物变化的监测。如在对苯胺和二甲苯的降解过程中,三维荧光光谱可以直观地监测反应过程,能够很好地反映废水降解过程中,有机污染物强度,种类变化过程。其测定迅速、简便、灵敏度高,可用于对各类水处理效果的定性分析、评价。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148058933_5515_2862401_3.jpeg[/img][/align][align=left][/align][font='宋体'][size=16px]4.三维荧光光谱在水体DOM分析中的应用[/size][/font][font='宋体'][size=16px]激发-发射矩阵(EEM)荧光光谱结合数据处理算法已被广泛应用于表征水生和陆地系统中的溶解有机物(DOM)。如采用并行因子框架聚类分析(PFFCA)方法,对不同信噪比和非线性结构强度的模拟数据进行分析,PFFCA为复杂合成和天然样品的独特分解提供了一种稳健的方法,这对于理解水系统中DOM的特性具有重要意义。[/size][/font][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310271148059192_8596_2862401_3.jpeg[/img][/align]

  • 【分享】三维显微激光拉曼光谱仪

    【分享】三维显微激光拉曼光谱仪

    三维显微激光拉曼光谱仪三维显微激光拉曼光谱仪装置Nanofinder30  Nanofinder30 三维显微激光拉曼光谱仪装置是日本首创,世界最初的分析装置。它能在亚微米到纳米范围内,测定物质化学状态的三维图像。它由共焦激光显微镜,压电陶瓷平台(或电动扫描器)和光谱仪组成。并能自选追加原子力显微镜和近场表面增强拉曼测定的功能。 最新测量数据[ 变形Si的应力测定]PDF刊登 用二维的平面分析来评价变形Si。空间分辨率130nm, 变形率0.01%(0.1cm偏移)。 半导体/电子材料(异状物,应力,化学组成,物理结构)薄膜/保护膜(DLC,涂料,粘剂)/界面层,液晶内部构造结晶体(单壁碳纳米管,纳米晶体)光波导回路,玻璃,光学结晶等的折射率变化生物学(DNA, 蛋白质, 细胞 组织等) 以亚微米级分辨率和三维图像,能分析物质的化学结合状态空间分辨率200nm(三维共焦点模式),50nm(二维TERS模式)能同时测定光谱图像(拉曼/萤光/光致荧光PL),共焦显微镜图像,扫描探针显微镜图像(AFM/STM)和近场表面增强拉曼图像(SERS)能高速度,高灵敏度地测定样品(灵敏度:与原来之比10倍以上)不需要测定前样品处理,在空气中能进行非破坏测定全自动马达传动系统的作用,测定简单 共焦显微镜模式不能识别结晶缺陷,然而光致荧光(PL)模式却能清楚地测到结晶缺陷 共焦激光显微镜模式的形状测定 光谱窗 560 nm 用光致荧光(PL)模式测到的结晶缺陷的光谱图像(560nm的三维映像) 用AFM和共焦显微拉曼法同时测定CNT,能判定它的特性 (金属,半导体)和纯度。 同时测定单壁碳纳米管(CNT)的原子力显微镜(AFM) 形貌图像和拉曼光谱图像的例子 :拉曼光谱: 激光488nm,功率1.5mW,曝光时间2 sec,物镜100×Oil, NA=1.35, 积分时间100 sec (AFM和拉曼图像测定时) AFM形貌图像(右上)表示了单壁碳纳米管混合物的各种形状结构。图像中用数字1到8来表示其不同形状。数字1-6测得了拉曼光谱(上图所示),判定为半导体CNT。但7-8测不到拉曼光谱,所以不是半导体CNT,而可能是金属CNT(可用He-Ne激光633nm验证)。最上面表示了RBM(173cm-1), G-band(1593cm-1)及D-band(1351cm-1)的拉曼光谱图像 综合激光器和光谱分析系统的长处,坚固耐用的复合设计,卓越的仪器安定性,是纳米技术测定装置中的杰出产品。 ※日本纳米技术2004大奖“评价和测量部门”得奖. ※日本第16届中小企业优秀技术和新产品奖 “优良奖”得奖. 光学器件配置图Nanofinder30 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122565_1634361_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812071751_122566_1634361_3.jpg[/img][~122567~][~122568~]

  • 2013年5月23日网络会议:三维光学显微镜在半导体和LED表面测量中的应用

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646749_2507958_3.gif三维光学显微镜在半导体和LED表面测量中的应用主讲人:黄鹤 布鲁克公司 应用经理活动时间:2013年5月23日 上午 10:00http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646749_2507958_3.gif1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、参加及审核人数限制:限制报名人数为120人,审核人数100人。3、报名截止时间:2013年5月23日上午10:004、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg5、参与互动:本次讲座采取网络讲堂直播模式,欢迎大家积极发言提问。 *参会期间您还可以将有疑问的数据通过上传的形式给老师予以展示,并寻求解答* 每次会议从提问的用户中随机抽取出一名幸运之星,奖励一个价值150元的耳机。6、环境配置:只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。7、提问时间:现在就可以在此帖提问啦,截至2013年5月22日8、会议进入:2013年5月23日9:30点就可以进入会议室9、开课时间:2013年5月23日10:0010、特别说明:报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程),请注意查收,并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过,请填写完整而正确的信息哦~http://simg.instrument.com.cn/webinar/20110223/images/zb_11.gif注意:由于参会名额有限,如您通过审核,请您珍惜宝贵的学习交流机会,按时参加会议。如您临时有事无法参会,请您进入报名页面请假。无故不参会将会影响您下一次的参会报名。快来参加吧:我要报名》》》快来提问吧:我要提问》》》

  • 基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究

    [sup]?[b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】:[b][b][b]陈涨敏[/b][/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】:[/font][b][font=宋体][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki,浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/b][/url][/color][/b][/sup]

  • 混合显微镜可从三维测量生物分子

    中国科技网讯 据每日科学近日报道,最近,美国爱荷华大学与国家能源部艾米实验室科学家合作,将光学显微与原子力显微技术结合起来,开发出一种能对单个生物分子进行三维测量的方法,准确性和精确性都达到纳米级别。最近出版的《纳米快报》上详细介绍了该技术。 现有技术只能从二维平面来测量单个分子,只有X轴和Y轴,新技术称为驻波轴向纳米仪(AWAN),让研究人员能测量Z轴,也就是高度轴,样本也不需要经过传统光学或特殊表面处理。 “这是一种全新类型的测量技术,可以确定分子Z轴方向的位置。” 论文合著者、爱荷华大学物理与天文学副教授珊吉维·西瓦珊卡说,他们承担的研究项目有两个目标:一是研究生物细胞彼此之间怎样粘合,二是开发研究这些细胞的新工具。为此他们开发了新的显微技术。 研究小组用荧光纳米球和DNA单链测试了新式混合显微镜。他们把一台商用原子力显微镜与一台单分子荧光显微镜结合。将原子力显微镜的悬臂针尖放置在一束聚焦激光束上,以产生驻波纹样。 驻波是频率和振幅均相同、振动方向一致、传播方向相反的两列波叠加后形成的波。波在介质中传播时其波形不断向前推进,称为行波;上述两列波叠加后波形并不向前推进,叫做驻波。将一个经处理发光的分子放置于驻波内,当原子力显微镜尖端上下移动时,分子表面相应于它距针尖的距离而起伏发出荧光,由此可以对这一距离进行测量。在实验中,该技术在测量分子时可以准确到1纳米内,测量可多次重复,精确度达到3.7纳米。 西瓦珊卡说,该技术可以通过显微镜来提供高分辨率数据,给医疗研究人员带来便利。还具有商业化潜力,促进单分子生物物理学的研究。(常丽君) 《科技日报》(2012-8-9 二版)

  • 散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b]张彬[/b][/size][/b][font=&]【题名】:[b][b][b]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD201601&filename=1016025795.nh&uniplatform=NZKPT&v=1F6G829sgZAFA4MYvRETNbgdZd9BzVfLcxERQ6aplrCK1Co8JxayeBFNIXRM1blG]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

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