三维光学检测

OMHS系列三维高稳定光学调整架 OMHS 系列是卓立汉光结合长期制造和应用的经验，使用优质材料、采用优化结构、经过精密加工装配而成，具有高稳定性、高灵敏度的系列产品，该系列产品的主要特点：● 均采用高灵敏度细牙螺纹副，在OMRS基础上增加一个螺纹副，可进行三维调整● 产品系列化完善，涵盖从12.7～50.8的多个尺寸● 每个尺寸的调整架，包含多种镜片装卡方式，包括：封闭顶丝式（标准型）、开口顶丝式（-B型）、封闭压圈式（-C型）● 每种调整架，均具有不带锁紧（标准型）和带锁紧（-S型）两种方式选型表（封闭顶丝式）：选型表（开口顶丝式）：选型表（压圈式）：注：压圈式25/25.4及50/50.8不能通用。关联产品：金属膜反射镜介质膜反射镜 连接附件 连接附件应用实例： 锁紧机构 螺纹副锁紧机构采用OMHS结构制作的阵列镜架：

SuperViewW中图仪器三维形貌光学检测轮廓仪基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。SuperViewW中图仪器三维形貌光学检测轮廓仪能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域 针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperViewW中图仪器三维形貌光学检测轮廓仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。SuperViewW光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

3D扫描是指利用光学技术快速捕获物体表面复杂形状，将实物快速实现三维数字化模型的技术。三维扫描仪 采用某种类型的光学投影的，比如激光或结构光，照射在物体的表面，并且通过多个相机成像，利用三角测量法，将拍摄的物体二维图像，转化为三维模型。 三维扫描首先获取物体具有三坐标值的点云，然后将点云三角化为多边形网格的STL文件，如果扫描完整无孔洞的STL模型直接可以用于3D打印。 同时三角网格模型经过进一步处理以开发用于逆向工程，可以得到3D实体模型，用于实际加工，进行在生产。如果产品本身有设计模型，则可以用于和原始设计相比较，进行三维检测。 三维扫描仪器：澳信利用各种设备提供3D扫描服务：Creaform HandyScan 700Creaform MetraScan/PROBECreaform Handscan Black EliteCreaform MaxShot我们的工程师将与客户协商确定每个项目的佳工具。 后期处理软件：青岛澳信使用业内的三维后处理软件、逆向过程软件和三维检测软件，包括三维后处理软件VXelements、Geomagic warp；三维逆向软件VXmodel、Geomagic Design X、Catia、Solidworks三维检测软件Geomagic Control、Geomagic ControlX、Polyworks通过这些强大的软件工具将原始数据集转换为高质量的3D CAD模型，或者在全面的检测报告中将零件扫描与原始设计进行比较。 技术服务方式：您可以发送零件给我们，或者我们上门进行扫描服务。便于邮递的小件，我们建议可以邮寄到我们公司，服务更加优惠。如果要扫描的产品太大或者太重，我们采用的都是完全便携的设备，允许我们的团队前往您需要的地方。不论是办公室，或者生产车间，还是室外我们都可以轻松完成扫描。

产品优势徕科光学推出的网纹辊三维检测仪LK-JCY3D2000集成了超精密聚焦平台、全局快门CMOS、同轴光加多角度体式光光路、三维测量软件、通过USB与电脑三维软件联接即可对版辊网穴进行三维形貌重构、测量与分析。网纹辊三维检测仪LK-JCY3D2000主要应用于凹印制版、陶瓷网纹辊、印花制辊等制版工艺过程中的质量控制。可以实现对化学蚀刻、电子雕刻、激光雕刻等方式加工的图形辊筒上的网穴、线条等图形进行三维数据测量。依靠着科技感和创新感双强的研发力量，可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案；作为专业服务保障团队，具备内核稳定的售后方案，7*24小时响应，提供安装培训 一体化互动，更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务，已积累千万客户，并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为网纹辊三维检测仪LK-JCY3D2000产品图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍仪器主要性能特点：1、一体化设计、设备体积小巧，方便携带、无需外接电源。2、高分辨率光学镜头，可测量1000线以上网纹辊数据。3、高精密电动微聚焦，最小采集图像间隔每步200纳米。4、准确到微米级的长度、角度、面积、平行线等测量功能。5、可将图片及测量数据保存，快速生成PDF检测分析报告。6、特有的防抖设计，减少工厂环境震动带来的测量不稳定性。7、微积分容积测量算法，确保重复测量精度误差控制在5%以内。例图1：多景深融合例图2：剖面曲线绘制例图3：三维建模图像例图4：雕刻熔深、容积、加网线数自动计算应用图例：技术参数感光芯片：彩色200万像素照明光源：同轴光、体式光测量镜头：5X 10X 20X 50X数据接口：USB2.0仪器尺寸：300*123*220mm(长宽高)仪器重量：主机重量约1600克深度量程：3MM测量精度：XY:+/-0.5μm Z:+/-1μm滚筒支架：球形结构版辊直径：100MM~500MM移动平台：XY最大移动范围10MM图像格式：BMP图像尺寸：1280*720像素Z轴精度：200纳米\光栅软件功能：自动连续采集拍摄保存图片三维立体建模剖面结构曲线BCM容积计算涂布克重计算直线距离测量加网角度测量加网线数测量开口面积测量留言或致电我们，获取更多方案。

AutoScan-T42三维检测系统AutoScan-T42自动化三维扫描检测系统，智能自动检测全新升级之作，专为工厂车间自动化质量控制设计，帮助企业实现成本和效率的最佳匹配。整个自动化扫描过程中无需贴点，无接触无损伤，与生产线高效无缝衔接，大幅减少质检作业负担。军工级制造品质，具有强抗干扰性，适应复杂严苛的车间环境，可广泛应用于国防军工、能源、5G、模具制造等领域。一键启动、离线编程、软件高度兼容，无论用户的专业水平如何，都能够操作自如。无缝集成生产线为批量质检场景而生，基于自动光学跟踪测量技术，无需贴点，无需接触即可完成检测，与生产线进度无缝衔接，大幅提升工艺迭代效率。支持多种配置可搭配手持式三维扫描仪、便携式CMM测量光笔、MSCAN摄影测量系统，回转平台，导轨，多光学跟踪与测量，为用户提供个性化应用的解决方案。 精准高效采用纯蓝光和同步追踪光学技术，扫描速率高达1,900,000次测量/秒，精度可达0.025 mm，精度不受机器人、导轨等因素影响，实现高效灵活的自动化制造工艺。军工级品质不易受温度、震动、灰尘等客观因素影响，军工级设计制造品质，超强工业环境适应性。 易用性强一键启动，可手动和自动离线仿真编程，安全可靠，批量自动完成检测并出具检测报告。大大降低了用户使用和操作的难度, 轻松完成自动化路径及扫描测量的任务。

蓝光三维扫描仪是一款高精度光学测量系统，专为工业级三维数字化检测而研发制造，适用于待测物体几何形状的全尺寸三维蓝光三维扫描仪具有工业级高精度和高稳定性，在严苛的环境下仍可提供高精度测量数据。蓝光三维扫描仪，专为工业级三维数字化检测而研发制造，适用于成型部件形状的全域数字化处理，具备高精度的细节测量性能和工业级的稳定性，适用于各种严苛工业环境下的高精度数据测量。-高精度3D测量，适用于高要求的测量任务-专为工业应用设计形成系统的高稳定性与高精度-支持多种自动拼接方式，确保数据拼接精度和测量效率-数字化自适应全色差投影将测量结果直接展示于对象表面-测量完成后，CAD数据偏差以彩色图样显示在物体表面-无论在测量室内或是生产环境下实行测量，都能满足质量检测及逆向工程领域的高要求AutoScan Inspec三维扫描仪是一款轻便易携带的高精度扫描设备。采用结构光3D扫描原理，该设备可实现 ≤10μm 的高精度三维扫描。该设备扫描区域为 100*100*75mm，轴数为 3 轴，相机分辨率为 2x5.0 MP。此外，AutoScan Inspec 三维扫描仪采用蓝光光源，工作温度范围为 10°C~30°C，电源为 DC24V。数据输出格式为 .stl，适用于 Windows 10, 64位 操作系统。 AutoScan Inspec三维扫描仪具有出色的数据细节表现能力和计量级精度，可以满足您高精度扫描的需求。全自动高效扫描功能可以大大提升您的工作效率。智能软件支持让您可以轻松地进行数据处理和编辑，让您的工作更加便捷高效。同时，该设备重量仅为 7.5kg，非常轻便易携带，适合于各种场合的使用。

中图仪器SuperViewW国产白光显微干涉三维形貌检测仪基于白光干涉原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW国产白光显微干涉三维形貌检测仪可应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域SuperViewW国产白光显微干涉三维形貌检测仪对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

Tube Qualify是一款三维光学弯管检测系统，2秒内快速重建弯管三维数字模型，可一次性完成多根弯管的测量，三维光学弯管测量系统，汽车弯管检测，汽车弯管测量。该系统可应用于弯管在线检测，替代人工检测，解决了需要保存大量检具的问题，系统灵活性高，可根据用户使用场景而定制。

中图仪器SuperViewW1三维光学表面轮廓仪纳米级白光3D形貌检测以白光干涉技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）；产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）SuperViewW1三维光学表面轮廓仪纳米级白光3D形貌检测采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperViewW1三维光学表面轮廓仪纳米级白光3D形貌检测可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。 应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。功能• 处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上• 背光查克的早期阶段的过程• 朋友处理透明的晶片• eef——边缘控制能力• 自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习• 弓测量• 预测收益率-晶圆缺陷位置精度 2um技术• sts -表面形貌传感器• 背光 产品 EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查Camtek提供了一个完全自动化的表面检测系统,用于支持大容量生产环境而提供快速检验和计量功能。独特的灵活平台支持市场 苛刻的应用程序,包括独联体、微机电系统、LED, OQC和记忆以及不同的流程步骤。功能• 2D缺陷检验和计量• 垫和调查分析• 2D CD测量• 高吞吐量、灵活设置• 在线和离线分类• 全自动化技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品Eagle-i 的2D表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 三维集成电路Camtek灵活平台利用各种技术解决的复杂步骤3 dic发展和生产的需要。我们完全自动化的2 d和3 d测量和缺陷检测能力覆盖 先进的产业需求解决产业路线图。该系统包括数据分析工具使过程监控和产量的提高。功能• 高容量整片肿块2 d和3 d检查和计量• 层厚度测量• 调整层之间• 覆盖测量• 高分辨率CD测量• 表面相关缺陷检查• TSV CD测量• 通过了检验• 通过揭示/指甲高度和co-planarity测量• RDL检验和计量技术• Camtek独特的白光三角测量传感器• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 光干涉测量技术对3 d 产品 Eagle-APEagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 EagleT-AP为先进的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备Fan-outCamtek先进的校准和诉讼机制结合专用的检验和计量能力解决挑战性的Fan-out的过程。我们的系统支持表面检验能力和独特的计量信息死层之间结合位置对齐数据。系统生成各种报告,增加产量和提高产量。功能• RDL检查和计量• 检查多层晶片• 多种光学设置所有步骤和缺陷类型• 3 d高度和co-planarity测量• 死位置测量技术• Camtek独特的白光三角测量传感器• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 光干涉测量技术对3 d 产品 Eagle-APEagle-AP提供2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查Camtek CMOS图像传感器制造商提供了大量环境系统与不妥协的检测能力。我们的先进解决方案强加的独特挑战CIS应用程序,如像素尺寸小型化和复杂的生产过程,是基于我们长期积累的经验在这个市场。功能• Sub-resolution检测™ • 动态范围扩展器和双照明• 黑场和明亮的场• 先进的低对比度缺陷算法• 细晶片和改造晶片处理• 验证:在线和离线技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器

3D扫描是指利用光学技术快速捕获物体表面复杂形状，将实物快速实现三维数字化模型的技术。三维扫描仪 采用某种类型的光学投影的，比如激光或结构光，照射在物体的表面，并且通过多个相机成像，利用三角测量法，将拍摄的物体二维图像，转化为三维模型。 三维扫描首先获取物体具有三坐标值的点云，然后将点云三角化为多边形网格的STL文件，如果扫描完整无孔洞的STL模型直接可以用于3D打印。 同时三角网格模型经过进一步处理以开发用于逆向工程，可以得到3D实体模型，用于实际加工，进行在生产。如果产品本身有设计模型，则可以用于和原始设计相比较，进行三维检测。 三维扫描仪器：上海澳信利用各种设备提供3D扫描服务：Creaform HandyScan 700Creaform MetraScan/PROBECreaform Handscan Black EliteCreaform MaxShot我们的工程师将与客户协商确定每个项目的工具。 后期处理软件：上海澳信使用业内的三维后处理软件、逆向过程软件和三维检测软件，包括三维后处理软件VXelements、Geomagic warp；三维逆向软件VXmodel、Geomagic Design X、Catia、Solidworks三维检测软件Geomagic Control、Geomagic ControlX、Polyworks通过这些强大的软件工具将原始数据集转换为高质量的3D CAD模型，或者在全面的检测报告中将零件扫描与原始设计进行比较。 技术服务方式：您可以发送零件给我们，或者我们上门进行扫描服务。便于邮递的小件，我们建议可以邮寄到我们公司，服务更加优惠。如果要扫描的产品太大或者太重，我们采用的都是完全便携的设备，允许我们的团队前往您需要的地方。不论是办公室，或者生产车间，还是室外我们都可以轻松完成扫描。合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

Tube Qualify是一款三维光学弯管检测系统，2秒内快速重建弯管三维数字模型，可一次性完成多根弯管的测量，弯管在线检测,弯管扭转角测量,弯管扭转检测。该系统可应用于弯管在线检测，替代人工检测，解决了需要保存大量检具的问题，系统灵活性高，可根据用户使用场景而定制。

工业三维光学扫描技术ATOS-Triple Scan是一种高分辨率光学扫描仪，可快速提供精确的三维测量数据，以优化设计过程、改善工业生产流程。ATOS测量头 这一设备被许多行业领域所采用，用于检测比如钣金件、工模具、涡轮叶片、原型、注塑件以及压铸件等零部件。工业三维光学扫描ATOS Triple Scan的应用自动化三维计量在标准化 ATOS ScanBox测量设备内, ATOS Triple Scan用于部件的全自动测量和检测。ATOS ScanBox是一套由 GOM公司研发的整体光学三维测量系统，应用于生产和制造过程中的质量控制。当ATOS Triple Scan用在ATOS ScanBox第5、6、7和8系时，则可为它附加一台 Plus Box 摄影测量头，以测量更大型的部件或同时测量多个部件。移动式三维计量ATOS Triple Scan可与立柱式或台式支架组合，手动实施测量操作。针对半自动操作模式，提供有包括测量头的纵向线性轴组和固定装置的倾斜旋转装置在内的3轴机动装置以供使用。通过移动式转动台，有利于小型至中型测量物的自动测量。而借助 GOM Touch Probe，则可对光学测量不易接近的区域进行以点为基础的测量。工业三维光学扫描技术ATOS Triple Scan系统将精确的条纹图案投射在物体表面，两台摄像机按照立体摄像原理进行记录。通过一开始的标定流程，已事先校准两台摄像机和投影头的光束路径，所以可由三个不同的射线交点计算三维表面点：左侧摄像机视向/右侧摄像机视向、左侧摄像机视向/投影头光束、右侧摄像机视向/投影头光束。特别是对于反光的表面和凹凸的物体，使用这一原理的优势明显。Triple Scan：三重扫描原理根据三重扫描原理，投影头结合两个相机，实施相关操作。测量过程中，系统将精确的条纹图案投射在物体表面，两台摄像机按照立体摄像原则进行记录。对于反光的表面或者凹凸复杂的物体，使用这一原理，其优势明显。蓝光技术ATOS Triple Scan的投影装置以蓝光技术为基础。由于测量头使用的是细条蓝光，在图像采集过程中，可有效过滤周围环境光干扰。而这种能量十足的光源，又有助于缩短测量时间。ATOS Plus在GOM自动化测量设备里，ATOS测量头可以与 Plus Box 配套工作。后者是一种可直接安装在ATOS系统上的附加式摄影测量头。通过这种组合，可全自动测量参考点标，偏差在3μm到30μm范围以内。这些参考点标构成一个三维体积，ATOS测量头每次测量的详细结果在这个三维体里得以自动转换，这样可保证摄影测量的准确性。虚拟计量室虚拟计量室 (VMR)是ATOS测量间中所有元件的中央控制站以及测量规划软件。在仿真模拟中，它模拟表现出真实测量环境的功能性。通过虚拟计量室，用户可使用相关系统，无需特别掌握专门的机器人编程技能。在虚拟计量室（VMR）内实施相关操作之前，对所有机器人运行进行模拟和检查，以保证安全。参数化检测工业三维光学扫描ATOS Triple Scan分析软件为零部件的全面分析提供了所有必需的工具。利用参数化检测，可对所有操作和评估步骤进行完全跟踪、溯源，掌握它们之间的关联性，由此便于随时修改和调整。

三维光学显微镜布鲁克作为全球三维表面测量与观察业界的ling dao者，提供从微观如MEMS（微机电系统）到宏观如发动机腔体等不同大小样品的快说非接触式分析。如今的三维显微镜已历十代，在原有Wyko专有技术基础上，不断积累创新，来保证面对各种应用环境时精确三维测量所需的高灵敏度和稳定性；而这一挑战往往是其他测量技术或测量系统难以克服的。布鲁克三维光学显微系统在业界一直以zui佳服务和支持著称，在性能稳定性上一贯口碑良好。从研究型实验室到生产型车间和半导体无尘间，数以几千计的系统被广泛使用。作为专门为先进质量控制和研发设计的测量仪器，可用于精密加工制造类应用的监控，在汽车、航空航天、高亮度LED、太阳能、半导体和医疗器械领域，布鲁克总有一款适合您应用和与预算的三维光学显微测量系统。 ContourX-100 3D光学轮廓仪粗糙度测量的精简而经济的台式 ContourX-100光学轮廓仪以zui佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。小尺寸系统采用流线型封装，可提供无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能，并结合了数十年专有的布鲁克白光干涉测量（WLI）创新技术。具有测量功能的台式系统具有业界zui先进的用户友好界面，可直观访问广泛的预编程过滤器库，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦学应用分析。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头，更新的载物台和新的测量模式，以实现更大的灵活性。您不会发现比ContourX-100更有价值的台式设备。 ContourX-100 3D光学轮廓仪轮廓GT-K无与伦比的计量 ContourX-100轮廓仪是非接触表面计量，表征和成像领域超过四十年的专有光学创新和行业ling dao者的结晶。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多种分析。 ContourX-100在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。 轮廓X-100WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。轮廓X-100ContourX-100手动平台。无与伦比的价值和分析 ContourX-100台式机具有成千上万的定制分析功能以及布鲁克简单而强大的VisionXpress™ 和Vision64用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。硬件和软件相结合，可提供对ding 级高通量光学性能的简化访问，完全超越了同类计量技术。 ContourX-200 3D光学轮廓仪用于表面纹理计量的灵活台式 ContourX-200光学轮廓仪将先进的特性，可自定义的选项以及易用性完美融合，可提供yi 流的快速，准确和可重复的非接触式3D表面度量。具有测量功能的小尺寸系统使用较大的FOV 5 MP数码相机和新型电动XY位移台，可提供毫不妥协的2D / 3D高分辨率测量功能。 ContourX-200还配有业界zui先进的操作和分析软件Vision64。新型VisionXpress™ 提供了更易于使用的界面和简化的功能，可访问广泛的预编程滤镜和分析库，用于精密加工的表面，厚膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学应用。 ContourX-200具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，在不限制传统共聚焦显微镜和竞争性标准光学轮廓仪的情况下，提供了布鲁克专有的白光干涉仪（WLI）技术的所有业界公认的优势。 ContourX-200 3D光学轮廓仪轮廓GT-K毫不妥协的yi 流计量 基于ContourX-200光学轮廓仪超过四十年的专有WLI创新，该轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声，高速，高精度和高精度结果。通过使用多个目标和集成的特征识别功能，可以在各种视野内以亚纳米级的垂直分辨率跟踪特征，从而为非常不同的行业中的质量控制和过程监控应用提供了与比例无关的结果。 ContourX-200在从0.05％到100％的反射率的所有表面情况下都非常坚固。 轮廓X-200WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。轮廓X-200ContourX-200电动载物台。zui广泛的应用分析能力 利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，ContourX-200提供了数千种定制分析，以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新相机提供的更大FOV和新型电动XY工作台提供的灵活性，为各种样品和零件提供了更大的灵活性和更高的通量。硬件和软件相结合，可提供对ding 级光学性能的简化访问，完全超越了同类计量功能。 ContourX-500 3D光学轮廓仪用于3D计量的全自动台式 ContourX-500光学轮廓仪是用于快速，非接触式3D表面度量的世界上zui全面的自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的倾斜/倾斜光学头，可以完全编程，以在一定角度范围内测量表面特征，同时zui大程度地减少跟踪误差。具有测量功能的ContourX-500具有无与伦比的Z轴分辨率和精度，并在更小的占地面积下提供了布鲁克白光干涉仪（WLI）落地式机型的所有业界公认的优势。利用业界zui先进的用户界面，ContourX-500可以直观地访问广泛的预编程过滤器和分析库。借助其新的USI通用扫描模式，可以轻松地针对zui广泛的复杂应用定制分析器，从精密加工表面和半导体工艺的QA / QC计量学到眼科和MEMS器件的R＆D表征。 联系我们下载手册 ContourX-500 3D光学轮廓仪轮廓GT-K先进的自动化 布鲁克专有的头部倾斜/倾斜为生产设置和检查提供了无与伦比的用户灵活性。通过将自动倾斜/倾斜功能与显微镜头中的光路相结合，布鲁克将检测点与视线相结合，而与倾斜无关。这样可以减少操作员的干预，提供zui大的可重复性。此功能与自动登台和物镜相结合，使ContourX-500非常适合“按需测量”的工业需求，而且占地面积小。 轮廓X-500传统的俯仰和滚动舞台设计需要操作员进行调整五个运动轴以保持在线的检查点视线进行测量。头部独特的布鲁克提示/倾斜设计在检查点上保持了视线-不论倾斜度如何-都能优化图像采集和zui快的数据记录时间。轮廓X-500WLI为所有目标提供恒定且zui终的垂直分辨率。无与伦比的价值和分析 ContourX-500具有成千上万的自定义分析功能以及布鲁克简单易用但功能强大的VisionXpress™ 和Vision64用户界面，为实验室和工厂车间的生产率进行了优化。这种独特的硬件和软件组合提供了对高可重复性和高通量计量学测量的简化访问，从而超过了同类计量能力。

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 表面检查Camtek提供了一个完全自动化的表面检测系统,用于支持大容量生产环境而提供快速检验和计量功能。独特的灵活平台支持市场最苛刻的应用程序,包括独联体、微机电系统、LED, OQC和记忆以及不同的流程步骤。功能• 2D缺陷检验和计量• 垫和调查分析• 2D CD测量• 高吞吐量、灵活设置• 在线和离线分类• 全自动化技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品Eagle-i先进的2D表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个快的和精确的2 d检查工具在市场上。

布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点：可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头，特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中，每个使用者都可通过高级查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm 的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合，提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括：腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角，导程角的大小、方向，频率，柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度，理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程，并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%，表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性

布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点：可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头，特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中，每个使用者都可通过高级查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm 的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合，提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括：腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角，导程角的大小、方向，频率，柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度，理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程，并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%，表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性

AutoScan-K自动化三维在线检测系统AutoScan-K自动化3D自动化三维在线检测系统，采用机器视觉技术，无接触无损伤。在保证极高准确性的同时，能高效执行在线批量扫描检测任务。24小时不间断工作，帮助企业降低制造成本，缩短产品上市周期，提高收益回报率。配有多种个性化工作模式，AutoScan-K自动化3D自动化三维在线检测系统可充分满足不同工业场景的测量需求。同时基于先进的机器视觉算法，能精准控制机器人的运行轨迹，方便实现高效无人化的批量检测。自动检测全流程无需人工参与，可设定不同产品、扫描路径、测量工艺，自动批量进行三维扫描、对比检测、生成检测报告。个性化模式基于工件特征，个性化选择不同的测量模式；对于不同的检测需求，可对工件进行多角度装夹设定检测路径。 安全可靠 无接触无损检测依托自动光学测量技术，实现真正的无接触无损伤智能化检测，安全可靠，适用于各种车间环境；配备工业级智能转台，高效无死角检测。全尺寸工件精密测量可检测不同尺寸重量及材质的工件，激光线多达45束，高密度扫描，每秒高达1,650,000 次；能在严苛的工业环境中进行精密检测，分辨率高达0.010 mm，体积精度高达0.030 mm/m。 支持二次开发 支持系统二次开发，用户可调用SDK接口对系统进行控制。

多功能 3D 光学共聚焦显微镜（ OPTELICS HYBRID+，三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪 ），高度方向测量精度达0.05nm；系统整合了白光共聚焦+激光共聚焦技术；以双共聚焦光学系统为基础，集6项测试功能于一体，包括白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉测量、垂直白光干涉测量、相差干涉测量、反射分光膜厚测量等功能；通常多台设备才能完成的测量，仅需一台设备即可实现，解决了需要使用多种工具的麻烦，满足在各种测量场景中的测试需求。提供6个测试功能模块，应对多样测量需求满足行业测试规格要求，High精度提供多种测量和分析自动化测量技术，高效测量适用于满足多样场景测试需求 三维光学共聚焦显微镜（三维表面轮廓仪/三维表面形貌仪） 一个平台提供6种测试功能: 1. 白光共聚焦宽视野+High精度测量高清彩色观察 2. 激光共聚焦高倍High 分辨率观察搭载波长405nm的紫色半导体激光，无需前处理，以可媲美电子显微镜的High分辨率，鲜明捕捉纳米级细微构造。3. 微分干涉测量纳米级凹凸观察共聚焦与微分干涉（DIC）相结合，实现细微凹凸形状的可视化。由于焦点深度极低，对于透明样品可以排除其背面的影响仅对表面进行观察。4. 垂直白光干涉测量数毫米宽广视野内的纳米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉波形，通过垂直方向扫描找到干涉光强度高点，得到样品的高度分布数据。原理上，高度分辨率不受物镜放大倍数影响，因此可使用低倍镜快速完成宽视野范围测量。5. 反射分光膜厚测量纳米级透明膜厚测量利用波长切换功能对6个波长的绝对反射率进行测量，光学建模计算得到膜厚。数nm～1μm的单层/多层膜厚可测量。测量区域在共聚焦观察图像上指定，亚微米区域～全视野的数mm区域的平均膜厚均可测量。而且因各个像素(pixel)的膜厚能够计测，所以可以测量膜厚分布。6. 相差干涉测量埃米级形状测量白光通过双光束干涉镜产生的干涉条纹，与从样品反射回的反射光的光程差直接相关。在垂直方向细微移动得到4组干涉图像，通过解析实现高分辨率的高度分布测量。多种波长切换 测量速度快3D 形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）实现了业界快速帧率(15Hz~120Hz)扫描，实现图像拼接、自动测量、自动缺陷检测和快速测量。High精度测量三维形貌测量共聚焦显微镜（HYBRID）高度方向测量精度达0.05nm。提供各种测量，分析和支持功能，具有可用性LM eye是HYBRID的测量和分析软件，提供多种功能，帮助您顺利操作测量和分析功能可以测量和分析参数，包括轮廓，粗糙度和薄膜厚度 测量支持功能HYBRID提供各种测量、分析自动化操作，效率更高LIBRA LIBRA 是一个软件程序，它使用指定的平台执行自动测量。LM 检测 LM Inspect 是一个软件程序，可以自动检测基材上的小颗粒和缺陷。并且支持使用缺陷审查和深度学习进行高精度缺陷分类。其他型号：

三维尺寸及表面缺陷检测仪是一款用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。 可用于测量内/外径，测量线径，测量基本的长度、角度和弧度，毛边缺陷检测，缺口缺陷检测，真圆度检测和圆心距检测。 MatliX是一款简便的用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。MatliX可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。ScrappiX是一款针对圆形及异形件尺寸和表面外观控制的革命性设备。ScrappiX是目前最先进的产品，可以检测工件的所有表面。PhoeniX是我们视觉检测设备中的最新款，可检测圆形和异形件的尺寸和表面外观缺陷。PhoeniX是UTP Vision目前最前沿的产品，通过使用透过玻璃的光学检测手段可控制工件的所有表面外观(可检测工件的最大尺寸为38mm)。

该客户是一家专业从事铸件加工的企业，为进一步提高生产加工效率，客户希望使用先进的测量手段进行测量，并完成CAD数模的创建。测量工件如下图。东莞三维扫描尺寸测量检测服务传统测量手段客户之前一直用三坐标测量机进行测量，但是效率不高， 后来经过朋友介绍，了解到可以通过三维扫描、逆向工程手段得到CAD数模。解决方案我们使用三维扫描仪进行三维数据采集，它的蓝色激光可以更好的采集工件的细节特征，它的测量速度高达130万次每秒，可以更高效的完成数据的采集。扫描数据可以直接用于快速成型和FEA有限元分析，或者结合三维设计软件，完成三维扫描逆向设计，为批量生产提供数据。具体操作1.连接设备，贴定位标点，采集工件表面的三维数据。东莞三维扫描尺寸测量检测服务扫描数据2.根据扫描数据创建CAD模型。手持式三维扫描仪铸件数据采集扫描全尺寸逆向建模方案逆向建模结果3.分析扫描数据和CAD模型的偏差。东莞三维扫描尺寸测量检测服务检测逆向结果手持式三维激光扫描仪可以高效地测量出工件的三维数据，方便我们对成型工件CAD数模的重建，解决了制造业关键的工业设计难题。三维扫描技术大大提升模具生产水平和机械制造水平。三维激光扫描仪的三大特点1、精确性、可靠性、分辨率不论测量安装质量以及用户经验如何， 始终可实现精 确测量，同时提供高分辨率和可追踪结果。以动态参考为特点，扫描仪和部件都可在测量期间移动，且可以确保扫描精确、高质量。? 精度：0.025 mm? 体积精度：0.020 + 0.040 mm/m (0.0008 in + 0.0005 in/ft)SAOMIAO3D,CN? 验收测试依据：VDI/VDE 2634 第3部分ISO 17025 认证实验室? 细节高分辨率2、便携性本手持式 3D 扫描仪是一款独立操作的设备，无需使用三脚架或外部跟踪设备即可操作可装入小型手提箱、随处携带、在任何环境条件下 使用，性能不会受到影响。东莞三维扫描尺寸测量检测服务? 轻量：0.94 kg (2.1 lb)? 自定位和动态参考? 可装入手提箱? 将其带到任何所需的地方3、更快的 3D 扫描流程3D 扫描仪以多条激光十字线和自动网格生成为特点，可实现从安装、扫描到存档的快速工作流。? 直接可用的文件? 高测量速率：高达 1,300,000 次测量/秒? 11条激光十字线，扫描区域广? 快速安装：安装运行可在2分钟内完成嘉绎科技专注三维扫描3D打印，拥有高精度三维扫描仪3D打印机

中图仪器VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜以共聚焦技术为原理，具有很强的纵向深度的分辨能力，能够清晰地展示微小物体的图像形态细节，显示出精细的细节图像。它具有直观测量的特点，能够有效提高工作效率，更加快捷准确地完成日常任务。借助共聚焦显微镜，能有效提高工作效率，实现更准确的操作。应用领域测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜基于光学共轭共焦原理，一般用于略粗糙度的工件表面的微观形貌检测，分析粗糙度、凹坑瑕疵、沟槽等参数。在材料生产检测领域中，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。产品功能1)3D测量功能：设备具备表征微观3D形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能； 不同应用场景下的3D形貌VT6000共聚焦三维光学轮廓显微镜主要应用于半导体、光学膜材、显示行业、超精密加工等诸多领域中的微观形貌和轮廓尺寸检测中，其次是对表面粗糙度、面积、体积等参数的检测中。2)影像测量功能：设备具备二维平面轮廓尺寸的影像测量功能，可进行长度、角度、半径等尺寸测量；影像测量功能界面3)自动拼接功能：设备具备自动拼接功能，能够实现大区域的拼接缝合测量；4)数据处理功能：设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；5)分析工具功能：设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；6)批量分析功能：设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；7)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；8)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；9)镜头安全功能：设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。自设计之初，VT6000便定下了“简单好用"四字方针的目标。1）结构简单：仪器整体由一台轻量化的设备主机和电脑构成，控制单元集成在设备主机之内，亦可采用笔记本电脑驱动，实现了“拎着走"的便携式设计；2）真彩图像：配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现；3）操作便捷：采用全电动化设计，并可无缝衔接位移轴与扫描轴的切换，图像视窗和分析视窗同界面的设计风格，实现了所见即所得的快速检测效果；4）采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防撞设置功能进行了优化，确保共聚焦显微镜在使用高倍物镜仅不到1mm的工作距离时也能应对。部分技术指标 型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

具备高性价比的 ContourX-100 光学轮廓仪为精确的、可重复的、非接触式表面测量树立了新基准。该系统占地面积小，所采用的简化方案融合了布鲁克几十年的白光干涉（WLI）创新技术，具有强大的二维/三维高分辨测量能力。新一代增强功能包括全新的 5MP 摄像头和更新平台，实现更多缝合功能，并新增一个测量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦学应用测量时的便捷性和灵活性。ContourX-100 堪称性价比高的台式系统。 计量能力ContourX-100 轮廓仪是布鲁克40多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域专有光学创新和行业领导力的结晶。该系统利用三维 WLI 和二维成像技术，一次采集可执行多次分析。ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情况下都能发挥稳定性能。 优质的价值和分析ContourX-100 台式可执行数千种自定义分析，并采用布鲁克简单而强大的 VisionXpress 和 Vision64 用户界面，提升了实验室和工厂的生产效率。软硬件的完美结合，实现简便操作下的高效率光学性能，全面超越同类计量技术。

越联仪器提供三维扫描形位公差检测服务cav检测尺寸检测仪，用德国原装进口ATOS 三维扫描仪，精度高；工业级3D扫描仪是非接触便携式高精度3D扫描仪,适用于航空航天、手机配件，汽车、文物文物扫描，大桥建筑等领域。越联逆向工程服务,专业的团队和先进的设备,给你带来更加优质的服务。CAV检测服务服务详情随着科学技术的发展和制造水平的提高，在家电、飞机、汽车，文件，古建筑等零部件中出现了大量的A 级曲面。用户对曲面零件的精度要求也越来越高，而曲面零件形状复杂，用传统的检具检验时难度大，且检测精度不高，尤其在曲面尺寸测量方面不能满足现实对于时间和操作难度的要求。 同时，现代制造行业所使用的材料广泛，常用到一些柔软、易变形的材料，接触式测量检测方式无法操作，需要一种替代性的检测方案。 3D扫描技术进行检测是一种全尺寸检测技术，其基本方法是先对待检部件进行局部或全方位整体扫描，把得到的3D点云与其CAD设计图纸进行比对，生成颜色误差编码图和直观的检测报告。如今，这种三维检测技术得到了越来越广泛的应 用，已逐步为制造业界所接受。 CAV全尺寸检测的方案的关键点是：高精度三维扫描与专业的三维检测软件。

中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理，用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）；SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能； (6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造，是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面，技术最先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌，又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸，诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理，在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。由于采用独特的缝合技术，无论怎样的表面形态、粗糙程度以及样品尺寸，一组m× n图像可以被缝合放大任何倍率，在高分辨率下创造一个大的视场，并获得所有的被测参数。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学，工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。随着微细加工技术的不断进步,微电路、微光学元件、微机械以及其它各种微结构不断出现，对微结构表面形貌测量系统的需求越发迫切, NanoMap-D所具备的双模式组合，结合了白光干涉非接触测量及SPM扫描探针高精度扫描成像于一体，克服了光学测量及扫描探针接触式的局限性，并具有操作方便等优点成功地保证了其在半导体器件，光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域的领先地位。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪经过广泛严格的检测，确保其作为测量仪器的标准性和权威性，并保证设备的各种功能完好，各个部件发挥出色。用NIST标准可以方便快捷地校验系统的精度，所校准用的标样为获得美国国家标准局( NIST) 的计量单位的认可。NanoMap-D配备的软件提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪主要功能及应用:多种测量功能精确定量的面积（空隙率，缺陷密度，磨损轮廓截面积等）、体积（孔深，点蚀，图案化表面，材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等）、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。薄/厚膜材料薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线蚀刻沟槽深度, 光刻胶/软膜亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合，可测量沟槽深度形貌。材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性分析软件可轻易计算40多种的表面参数，包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。表面光滑度和曲率可从测量结果中计算曲率或区域曲率薄膜二维应力测量薄膜应力，能帮助优化工艺，防止破裂和黏附问题表面结构和尺寸分析无论是二维面积中的坡度和光滑度，波纹度和粗糙度，还是三维体积中的峰值数分布和承载比，本仪器都提供相应的多功能的计算分析方法。缺陷分析和评价先进的功能性检测表面特征，表面特征可由用户自定义。一旦检测到甚至细微特征，能在扫描的中心被定位和居中，从而优化缺陷评价和分析。其他仪器选择请点击亿诚恒达官方网站：

固定式蓝光三维扫描仪OptimScan 9M，搭载900万像素相机，可获取物体表面高精细度特征。设备采用窄带蓝光光源，抗干扰性强。模块化镜头设置，可以实现不同测量范围的快速切换，以适应多种高精度测量需求。高性能的硬件模块以及功能强大的三维重建算法，实现了计量级别的检测需求，可满足智能制造、轨道交通、航空航天 、模具行业等领域的应用需求。全新外观全新外观和内部结构设计，保证了内部光学电子部件的稳定性。镜头已依据国际标准IEC 60068-2-6进行了振动测试。蓝光技术采用窄带蓝光光源，在图像采集过程中，可有效过滤周围环境光干扰，获得高品质扫描数据。高精度采用高性能的硬件模块以及功能强大的三维重建算法，实现了计量级检测需求。高分辨率系统搭载900万像素高分辨率相机，可获取高精细特征。多范围快速切换采用可更换镜头的蓝光高速高精密数字型投影模块，配置两组用于精细测量的高分辨率工业镜头，通过快速方便的切换，满足不同范围的测量需求。

IVIS Spectrum顶级小动物活体光学成像系统IVIS Spectrum 小动物活体光学成像技术代表了目前活体光学成像系统的最高水平。系统同时具备二维及三维断层水平的生物发光、荧光、切伦科夫辐射成像功能，能够无创伤地在活体动物水平对疾病的发生发展及治疗、细胞的动态变化、基因的实时表达进行长期观测。基于顶级的硬件配置，系统具备了业内公认最高灵敏度的生物发光及荧光成像性能，并且是目前唯一同时具备生物发光和荧光三维成像性能的系统，因此能够和其它模式的三维影像系统（如MRI、CT 及PET 等）联合使用，将不同模式的三维影像进行融合，实现功能性成像与结构性成像的结合。主要性能 高灵敏度生物发光及荧光成像 3D 断层扫描及重建 精确定量 高通量 高分辨率（达20微米） 28个高效滤光片，覆盖430-850nm全波段– 实现基于多光谱扫描的高品质光谱分离成像– 实现基于光谱分离成像而进行的背景去除及多探针成像 多模式成像及影像融合特点一：全面而先进的荧光成像解决方案荧光反射及透射成像功能大多数活体光学成像系统均采用反射照明而激发体内荧光信号，此方式由于是全身激发，故存在激发光能量分散且全身组织自发背景荧光强的缺陷，因而对体内深层荧光信号的检测效果较差。IVIS Spectrum在具备荧光反射激发模式的基础上，开创性地整合了透射激发模式，即通过光纤将光源能量引至实验动物底部，进而从动物底部进行多点透射激发扫描，在集中激发能量的同时，减少了自发背景荧光的产生，完美地解决了深层荧光成像的问题。长寿命高透光率窄带宽滤光片为了实现最高品质的荧光成像性能，IVIS Spectrum配置了丰富且优质的荧光滤光片，光谱覆盖包括从蓝光至近红外光波段的全部区域，并且，所有滤光片的加工制作均采用最先进的硬涂层技术，在保证高透光率（95%以上）的同时具备长寿命耐损伤品质。 标配10块窄带激发光滤片：415 nm – 760 nm (30 nm 带宽) 标配18块窄带发射光滤片：490 nm – 850 nm (20 nm 带宽)图1. 窄带宽激发光和发射光滤片特点二：灵活可调的成像视野图3. IVIS Spectrum具备灵活的视野调节性能，可以实现从体外单个细胞的高分辨率成像至5只小鼠全身同时成像特点三：业内公认最高灵敏度的生物发光成像基于-90℃ 制冷的CCD 相机、大尺寸高量子效率CCD 芯片及大光圈镜头，IVIS Spectrum 具备了无与伦比的超高生物发光检测灵敏度，可以实现对以萤火虫荧光素酶、海肾荧光素酶、细菌荧光素酶等多种荧光素酶为报告探针的发光信号进行快速准确的成像检测。这种超灵敏的检测能力，使研究者能够在活体动物水平观测到低至个位数级别的细胞信号，进而帮助研究者尽早地对疾病的发生发展进行监测和分析。图4. （上图）在4T1-luc2肿瘤细胞皮下注射当天的活体裸鼠上检测到所注射5个细胞发出的信号，以及之后长期观测的结果；（下图）对左心室注射的MDA-MB-231-luc2肿瘤细胞在活体小鼠体内转移的长期观测。图 5. 长期观测C57BL/6小鼠颅内移植GL261-luc2胶质瘤细胞在体内的发展情况。特点四：强大的荧光成像性能使用IVIS Spectrum，研究者可以实现对荧光蛋白、荧光染料、纳米颗粒、量子点、功能性荧光试剂等荧光类探针进行成像。另外，IVIS Spectrum由于配置了丰富且优质的荧光滤光片，以及业内公认金标准的光谱分离分析算法，因而具备强大的光谱分离成像功能，能够实现组织自发背景荧光的完美去除，有效提高荧光成像的灵敏度和准确性，并满足多探针成像的需求。除了提供高性能仪器，瑞孚迪还为使用者研发出丰富的活体荧光成像配套试剂，以帮助研究者更便捷快速的获取实验数据。而IVIS Spectrum是与这些配套试剂结合使用的最佳选择。图6. 在活体小鼠中，利用IVIS Spectrum及功能性荧光试剂MMPSense 680和ProSense750EX，监测基质金属蛋白酶（MMP）和组织蛋白酶（cathepsin）在4T1-luc2肿瘤细胞发生骨转移过程中的活性。图7. 在右下肢关节炎小鼠模型中，利用IVIS Spectrum观测由VivoTrack680荧光染料标记的巨噬细胞对炎症发生区域的靶向富集。特点五：利用先进的光谱分离技术实现多光谱成像IVIS Spectrum配套的Living Image成像和分析软件内置了功能强大的光谱分离算法，凭借该算法，研究者在基于多光谱成像结果的基础上，可以对不同探针信号的光谱信息进行绘制和拆分，而实现组织自发背景荧光去除及多探针成像。由于软件内置了Imaging Wizard成像及分析向导模块，一步步引导进行图像获取及分析，因此，研究者可以轻松便捷地完成包括上述多光谱分离在内的所有成像及分析操作。结合先进的光谱分离算法及丰富的窄带滤光片，组织自发背景荧光的干扰及多探针成像的困扰将不复存在。图8展示了利用光谱分离功能实现的4种荧光探针同时成像的结果。图8. 利用光谱分离技术对4种荧光探针进行成像。4种探针分别为：肝脏中的VivoTag680、肺中的VivoTag750、肠道中的ICG以及绿色代表的组织自发背景荧光。特点六：3D成像-对光学信号在体内进行精确定量和定位二维成像只能实现对光学信号的相对定位和定量，而三维成像是解决上述问题的唯一途径。IVIS Spectrum利用专利的生物发光和荧光三维成像技术对动物体内的光学信号进行断层扫描，并通过先进的模型算法对成像结果进行三维重建。重建出的三维结果可利用软件进行分析，获得光学信号在体内的深度、发光体积、发光强度、细胞数量、探针浓度等三维定量信息，以及结合数字器官图而显示的器官定位信息（图9、10）。图9. 生物发光三维成像显示GL261-luc2胶质瘤在颅内的定位图 10. 荧光三维成像显示(a)tdTomato标记的P3CM前列腺癌细胞3D成像结果；(b)某750波段染料标记的抗体对P3CM细胞靶向3D成像结果；(c)上述肿瘤及抗体3D成像结果的融合影像特点七：多模式影像融合IVIS Spectrum 是当今最顶尖的活体光学成像系统，不仅是因为具备先进的二维及三维成像功能，而且具备与其它模式活体成像系统联合使用的能力（图 11、12和13），以实现功能性与结构性成像的融合，获取更为全面和准确的研究结果。图11. 利用IVIS Spectrum对生物发光肿瘤MDA-MB-231-luc2进行三维成像（橙色），并与利用Quantum FX microCT对实验小鼠骨架进行三维成像的结果融合。图 12. A)U-87MG-luc2胶质瘤3D光学信号与实验小鼠骨架microCT成像信号融合影像；B)生物发光肺炎链球菌3D光学信号与实验小鼠骨架microCT成像信号融合影像。图 13. 生物发光肿瘤细胞MDA-MB-231-luc-D3H2ln在小鼠体内转移的3D信号与实验小鼠骨架microCT成像信号融合影像。

特点进口工业相机3D视觉检测及逆向设计系统，采用500万像素进口工业相机，扫描精度高达0.005mm；配合先进蓝光光栅扫描技术，有利于避免受外界光线条件的影响，使得精准测量工作变得更轻松。教学资源库教学PPT教学视频资源实训案例模拟赛题（国赛标准）工业案例库（不断更新）企业实践实操机会应用场景覆盖从非接触式三维数据收集到三维检测的系统解决方案。助力：院校检测专业升级助力：智能制造及先进制造专业逆向设计数字化检测实训助力：承接区域企业横向课题及服务助力：科研项目。

中图仪器SuperViewW中图国产自动三维光学轮廓仪是以白光干涉技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量。SuperViewW中图国产自动三维光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量； 2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。 应用领域SuperViewW中图国产自动三维光学轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所中，对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。