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塞贝克测量仪

仪器信息网塞贝克测量仪专题为您提供2024年最新塞贝克测量仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括塞贝克测量仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的塞贝克测量仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合塞贝克测量仪相关的耗材配件、试剂标物,还有塞贝克测量仪相关的最新资讯、资料,以及塞贝克测量仪相关的解决方案。

塞贝克测量仪相关的仪器

  • 技术参数(持续更新中):-温度范围:-125 … 800°C/1100°C -塞贝克系数范围:10 ... 2000μV/K -电导率范围:0.05 ... 150000S/cm -热电偶:Inconel铠装K型热电偶 -样品形状:方形、矩形、圆形、条状 -样品尺寸:圆形 ? 12.7 … 25.4mm;长度 12.7 … 25.4mm;宽度 2.0 … 25.4mm;厚度 100nm … 3mm -真空度:10-2mbar -样品气氛:氧化、还原、惰性用途:SBA458是德国耐驰公司专为热电材料领域开发的塞贝克系数测量仪,可精确测量热电材料的塞贝克系数和电导率。SBA458采用特殊的立式顶部装样结构,在保证测量精度的同时,极大地降低了样品制备要求,测量操作更加简便,可靠性更高。性能:-独特测量模式,支持更多样品尺寸,最高温度可至1100°C。 -立式顶部装样,样品更换方便,样品与传感器接触更可靠,可兼容多种样品形状。 -独特的双加热器系统,可在样品两端交替加热,能够监测到样品不均匀等现象。 -热电偶位置固定,预设接触力,可避免样品或热电偶滑动。热电偶带有护套,防止与样品粘连。 -无需测量热电偶距离,排除潜在误差源,提高测试结果的准确度和重复性。*价格范围仅供参考,实际价格与配置等若干因素有关。如有需要,请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。
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  • 薄膜热电参数测试系统RS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器,采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定,拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。● 测试环境温度范围达到81K~700K。● 采用动态法测 量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。● 真空度≤10Pa● 塞贝克系数测量范围:S≥8uV/K;分辨率≤±7● 采用四线法测量电阻率。● 卡箍设计,方便进行样品更换,提高效率。● 软件操作简单,智能化可实现全自动模式。
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  • 热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小,单位是V/K。  近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。  为了应对一系列挑战性的应用,Linseis已经开发出LSR-3 Seebeck系数/电阻率测试系统用于分析材料和器件的特性。特点LSR—3测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻(电阻率)可以测量圆柱形或棱柱形的样品,长度6——23毫米利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品通过三种可更换的炉体,测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃样品架的设计保证了极好的测量重复性32位软件可以通过程序实现自动测量测量数据导出测量原理:圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间,下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度,在此温度 下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度,然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以高的温度精度测量每个热电偶上 每条导线电动势dE。 材料的热物理性质以及最终产品的导热优化在各种工业应用领域变得越来越重要。经过几十年的发展,在测量各种固体、粉末和液体热导率和热扩散系数中闪射法已经成为常用的测量方法。 LFA 激光导热系数测试仪采用模块化设计的精密的热扩散系数,热导率和比热的测量仪器。可同时测量6个样品。可通过更换炉体使测量温度范围从-100—1500 ℃。 可以选用多种不同的样品架,适用于固体,液体,熔体和炉渣。紧凑的设计使得硬件和电子元件分离,安装一个外罩后可以适应于核应用。型号LZT-Meter (LSR/LFA)温度范围*-150 - 500 ℃RT - 600/1100/1500 ℃Nd:脉冲源Nd:YAG 激光 25 Joule升温测量InSb / MCT 热扩散系数测量范围0.01 mm2/s - 1000 mm2/s热导率测量范围0.1 W/mk - 2000 W/mK样品直径圆形或者方形:2 - 4 mm;长度:6 - 23 mmφ10, 12.7, 20 mm样品厚度 - 4 mm冷却水需要引线间隔自选接口USB *可更换炉体*价格范围仅供参考,实际价格与配置等若干因素有关。如有需要,请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
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  • SBA 458 是德国耐驰公司专为热电材料领域开发的塞贝克系数测量仪,可精确测量热电材料的塞贝克系数和电导率。SBA 458 采 用特殊的立式顶部装样结构,在保证测量精度的同时,极大地降低了样品制备要求,测量操作更加简便,可靠性更高。 NETZSCH SBA 特性:• 独特测量模式,支持更多样品尺寸,最高温度可至 1100°C• 立式顶部装样,样品更换方便,样品与传感器接触更可靠,可兼容多种样品形状• 独特的双加热器系统,可在样品两端交替加热,能够监测到样 品不均匀等现象• 热电偶位置固定,预设接触力,可避免样品或热电偶滑动。热 电偶带有护套,防止与样品粘连。• 无需测量热电偶距离,排除潜在误差源,提高测试结果的准确度和重复性SBA 458 Nemesis 技术参数• 温度范围:-125 … 800°C/1100°C• 塞贝克系数范围:10 ... 2000μV/K• 电导率范围: 0.05 ... 150000S/cm• 热电偶:Inconel 铠装 K 型热电偶• 样品形状:方形、矩形、圆形、条状• 样品尺寸:圆形 ? 12.7 … 25.4mm 长度 12.7 … 25.4mm 宽度 2.0 … 25.4mm 厚度 100nm … 3mm• 真空度:10-2 mbar • 样品气氛:氧化、还原、惰性SBA 458 - 软件功能 SBA 458 的软件包含测试软件与分析软件两部分,运行于 Windows7 与 Windows10、32 位或 64 位平台下。可以控制测试在设定的温度区间内进行,易于操作和对数据进行处理。测量软件的主要功能有:• 编辑测量参数(可包含任意段的温度步阶)• 室温下的预测试(质量检查)• 按设定温度程序执行测量。• 可同时测试电导率与塞贝克系数,也可选测两者之一。 分析软件的主要功能有:• 塞贝克系数与电阻率曲线查看• 多条曲线比较• 单独查看每个温度点下的质量控制曲线• 删除某些温度点的测试结果• 修改样品尺寸,重新计算电导率• 塞贝克系数与电导率曲线拟合,导入 LFA 的热导率数据,最终计算 ZT 值• 各类数据与图谱的导出
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  • 塞贝克效应测量系统SB1000数字塞贝克效应控制器在设计时考虑到用户和易用性,使用低温系统(液氮低温恒温器)或瞬态信号技术的热级系统,集成到真空环境中,为80 K - 700 K宽温度范围内的塞贝克系数测量提供了可靠的平台。以上翻译结果来自有道神经网络翻译(YNMT) 通用场景应用程序热电动势测量温度依赖导电样本提供的信息大部分航空公司的标志,电荷传导机制与合适的理论模型,材料的能带结构的信息。的知识塞贝克系数是一个关键因素优化热电材料和找到正确的应用程序。灵敏度高,结构变化使热电动势测量一个优秀的技术结构研究阶段条件对给定材料的电荷传输性质。特性高精度的塞贝克系数测量高信噪比和快速数据采集差分测量算法宽温度范围(80 K - 700 K)统计数据分析实时热电压瞬态测量用户友好的、自动测量设置典型变量温度塞贝克效应测量系统(SMS)一个典型变量温度塞贝克效应测量系统包括:DC600可编程温度控制器和SB1000塞贝克效应测量控制器液氮低温恒温器和集成放大电路到真空环境中聚酰亚胺薄膜(80 K - 400 K)或陶瓷(200 K - 700 K)样品安装阶段真空泵和真空配件用两个探针或四个探针测量技术测量电导率的四个焊接针Dell Optiplex 3000 Tower desktop com
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  • 塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3 ——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻 塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。 设备特点:◆ 拥有温度控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;◆ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;◆ 欧姆接触自动检测功能(V-I图);◆ 可以用适配器来测量薄膜;◆ 可定制高阻型。 参数配置:型号ZEM-3M8ZEM-3M10温度范围50-800℃50-1000℃样品大小方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL加热方式红外加热气氛高纯氦气(99.999%) 样品温差 MAX.50℃ 测量方式电脑全自动测量工作原理图: 设备结构: 样品腔部分: 应用方向:对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。可选功能: 薄膜测量选件 2. 低温选件(温度范围-100℃到200℃)3. 高阻选件(高到10MΩ)测试数据烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果发表文章1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945 2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810 5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.用户单位清华大学中国科学技术大学上海交通大学复旦大学南方科技大学武汉理工大学中国科学院上海硅酸盐研究所中国科学院大连化学物理研究所......附:热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备
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  • 美国MMR塞贝克效应系统 热电材料的研究在能量保存和能源替代方面有着重要的作用, 而热电系数是热电材料的主要参数之一. 通过研究不同温度下的热电系数并配合理论模型可得到载流子类型和能带结构信息等. 主要应用于能源效率, 替代能源, 汽车和燃料消耗等研究. 美国MMR塞贝克效应系统主要参数: 待测样品与参考样品增益不匹配度: 0.1%样品长度:2~10mm电压分辨率:50nV最多可重复测量次数: 128 (自动取平均值)温度:70~730K;80~580K;70~580K;80~730K;室温~730K(可选) 美国MMR塞贝克效应系统优势: 比较法测量,测量更准确温度连续可调,从低温到高温腔体体积小,可伸入到磁场 可增加霍尔效应测量模块
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  • MMR SB100 变温塞贝克热电效应测试仪器 塞贝克热电效应测量系统允许用户可以通过从70 K到400 K温度范围内自动测量塞贝克效应在金属,半导体和其他电子导电样品的热电效应,也可从200K到730K。样品安装很简单,可实现样品的快速更换。该塞贝克系统兼容不同的计算机通过IEEE - 488(GPIA)或RS - 232接口。可编程塞贝克的混合测量系统包括了SB - 100可编程控制器塞贝克的K - 20可编程温度控制器,塞贝克热阶段和配件,计算机(PC),和MMR提供的软件. 塞贝克热电系统包括两个热电偶对。一对是形成了铜路口和已知的塞贝克电动势的参考。另一对是形成了铜路口及材料的塞贝克电动势。该系统采用更复杂的参数测量技术,能更精确,高重复性。 特征工作温度:70K至730K2个16bit A / D转换器分辨率:50nV测试精度:0.1%最小加热器步长:0.1mw自动读取:高达128软件支持所有测量样品长度:“2mm10mm电源输入:110V,60Hz和220V,50Hz
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  • 热功率、热电势、或塞贝克系数描述的都是材料在一定温差条件下产生感应热电电压的大小,单位是V/K。  近年来直接将热能转化成电能的方法引起人们的广泛兴趣。通过热电装置收集热发动机和燃烧系统余热并转换成电能可以节省数十亿美元。  为了应对一系列挑战性的应用,Linseis已经开发出LSR-3 Seebeck系数/电阻率测试系统用于分析材料和器件的特性。特点LSR—3测试系统可以同时测量塞贝克系数和电阻(电阻率)可以测量圆柱形或棱柱形的样品,长度6——23毫米利用独特的测量适配器可以测量线状和薄片状样品通过三种可更换的炉体,测量温度范围可以覆盖-100到1500 ℃样品架的设计保证了极好的测量重复性先进的32位软件可以通过程序实现自动测量测量数据导出测量原理:圆柱形或棱柱形的试样垂直放置的两个电极之间,下部电极块包含一个加热器。整个测量装置放置在炉体中。将整个炉体和样品加热到特定的温度,在此温度下利用电极块中的二级加热器建立一组温度梯度,然后两个接触热电偶测量温度梯度T1和T2。独特的热电偶接触机制保证了以高的温度精度测量每个热电偶上每条导线电动势dE。 四端法测量电阻,样品两端通入恒定电流(I),测量样品电压的变化,可以测量出电阻系数。温度范围*-100°C——500°C RT —— 800/1100/1500°C 测试方法Seebeck系数: 静态直流法电阻: 四端法气氛惰性、还原性、氧化性气氛, 真空样品尺寸直径或方形:2 —— 4 mm 长度:6 mm——23 mm引线间隔4, 6, 8 mm冷却水需要* 可更换炉体
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  • 电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备,该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜(PSM II)在代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。产品特点:+ 可以测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。+ 的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。+ 采用锁相技术,精度超过大型测试设备。+ 快速测量、方便使用,可测块体和薄膜。主要技术参数: + 位置定位精度:单向 0.05 μm;双向 1 μm+ 大扫描区域:100 mm × 100 mm 典型值+ 局部测量精度:5 μm(与该区域的热传导有关)+ 信号测量精度:100 nV(采用高精度数字电压表)+ 测量结果重复性:重复性误差优于3%+ 塞贝克系数测量误差: 3% (半导体); 5% (金属)+ 电导率测量误差: 4%+ 测量速度:测量一个点的时间4-20秒应用领域:1、热电材料,超导材料,燃料电池,导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量2、测量功能梯度材料的梯度3、观察材料退化效应4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移5、固体电介质材料中的传导损耗6、阴材料的电导率损耗7、GMR 材料峰值温度的降低,电阻率的变化8、样品的质量监控系统组成部分+ 三矢量轴定位平台及其控制器+ 定位操纵杆+ 加热、测温探针+ 力学接触探测系统+ 模拟多路器+ 数字电压表+ 锁相放大器+ 摄像探测系统+ 带有专用控制软件和数据接口的计算机+ 样品台与样品夹具样品夹具加热测温探针部分测试数据1、塞贝克系数测量Bi2Te2.85Se0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布(数据来源,PANCO实验室)2、接触电阻测量存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针位置的变化,可以得到样品界面处的接触电阻。接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到,图中ΔR正比于接触电阻。(数据来源,PANCO实验室)全球部分用户名单:Beijing University of TechnologyCorning CompanyKorea Research Institute of Standards and ScienceShanghai Institute of Ceramics, CASGermany Air Force Research LabSimens Company Gwangju Institute of Science and Technology Hamburg University Munich University
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  • 塞贝克效应测试仪 400-860-5168转2623
    Seebeck Measurement System塞贝克效应测试仪Thermoelectric MeasurementsspecificationØ Small Sample SizesØ 2 mm to 10 m lengthØ 1 to 2 mm wide and highØ Specifications:Ø Resolution: 50nVØ Minimum step of power to heater to determine temp difference: 0.1 mWØ Max thermal range measured: +/- 3mVØ Internal standard to ensure error correction in measurementsØ ControllersØ Rack mountableØ GPIB OptionsØ USB ConnectionsØ Software for control and analysis providedØ Can be used with LabView ****
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  • 塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-Cryo(超低温版)测试参数:电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数温度范围:4K-300K(-269℃—室温)低温技术:低温制冷机作冷源,无需消耗液氮/液氦概 述:本系统采用低温制冷机作冷源,无需使用液氮/液氦,实现固体材料低温区(4K-300K -269℃—室温)的电学性能(电导率/电阻率,热电势率/塞贝克Seebeck系数)和可选热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等)测量单元。系统设计思想 在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上,集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平台分离设计,测试样品更换过程变得快捷、方便。基本系统硬件结构包括:样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境,以及测量相关的软硬件控制中心。样品室样品室连接在样品架组件上,通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空状态,样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件,再通过测试平台把冷量传递给样品,使样品降温。样品测量采用样品托的方式。温度控制采用制冷机直接冷却样品的方式,通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响,又保证了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温度控制。温控范围:4.0K-300K连续控温;温度稳定性:±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。全球甄选一流供货商,保证系统品质达到最高!CTA系统硬件组成:美国吉时利 Keithley(数据采集系统)德国 W.HALDENWANGER (高温陶瓷系统)英国摩根Morgan(高温特种材料)美国通用电气GE(光波加热元件)瑞典康泰尔 Kanthal (加热元件)美国精量电子 MEAS(传感器)日本IKO (精密轴承)日本住友Sumitomo (低温制冷机系统)塞贝克系数测量单元电阻率测量单元技术参数电阻率测量单元测量范围:10 μS/m~10 S/m测量精度:优于1%样品尺寸:长:4~20mm;宽:1~3mm;高:1~3mm塞贝克系数测量单元测量范围:1μV/K~1V/K测量精度:优于6%样品尺寸:长:5~20 mm;宽:2~3 mm;高:2~3 mm
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  • 物理特性薄膜表征系统,高度集成且易于使用的测量平台。 薄膜的物理性质不同于大块材料,因为由于尺寸较小和高纵横比使寄生表面效应更强! 增强表面散射的影响(a)附加边界散射(b)超薄层的量子约束(c) LINSEIS薄膜物性分析仪是表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统,使用正在申请专利的测量系统设计,可提供高质量的结果。 组件 基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片,以及提供所需环境条件的测量室。 根据应用,该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用。 测量通常在UHV下进行,并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170°C和280°C之间。 预制测量芯片 该芯片将用于热导率测量的3 ω技术与用于测量电阻率和霍尔系数的4点Van-der-Pauw技术相结合。 赛贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量。 为了便于样品制备,可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模。 该配置允许几乎同时表征通过PVD(例如热蒸发,溅射,MBE),CVD(例如ALD),旋涂,滴铸或喷墨打印制备的样品。 该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性。所有测量都采用相同(平面内)方向,并且具有很高的可比性。 基本测量单元 : 测量室,真空泵,带加热器的支架,电子颊侧装置,集成锁相放大器,3w方法分析软件,计算机和应用软件。可测以下物理参数: • λ - 热传导系数 (稳态法/平面内方向) • ρ - 电阻率 • σ - 电导率 • S - 赛贝克系数 • ε – 发射率 • Cp - 比热容 磁测量单元 可根据需求选择集成式电磁铁,可测物理参数如下: • AH - 霍尔常数 • μ –迁移率 • n -载流子浓度 薄膜材料性能有别于块体材料之处 - 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如:边界散射和量子限域效应 *价格范围仅供参考,实际价格与配置等若干因素有关。如有需要,请拨打电话咨询(021-50550642;010-62237791)。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
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  • BSTY-02 杯身挺度测试仪 纸杯纸碗纸盒杯身强度测量仪BSTY-02 杯身挺度测试仪 纸杯纸碗纸盒杯身强度测量仪适用于各种容量杯的杯身挺度测量,是理想的纸杯杯身挺度测量仪器,用户只需将试样放置于夹具位置,纸杯杯身挺度测试仪将自动自动完成整个测试过程,操作简便更能避免人为误差,已成为国家质检中心、纸杯厂、食品厂家等单位的常备检测仪器。一、基本信息品名杯身挺度测试仪型号BSTY-02品牌泉科瑞达产地山东.济南二、基本应用功能适用范围内的箱、纸碗、 纸杯包装容器的挺度测试。三、BSTY-02 杯身挺度测试仪 纸杯纸碗纸盒杯身强度测量仪测试原理把试样杯放在挺度测定仪的活动台架上,使传感器测头刚好垂直接触到杯的侧壁,调节活动台架使测头与杯底的垂直距离约为杯高的三分之二处,向前移动一定距离后仪器自动录纸杯挺度值. 四 、BSTY-02 杯身挺度测试仪 纸杯纸碗纸盒杯身强度测量仪产品特征微电脑处理系统,4.5寸触摸液晶显示进口品牌传感系统,保证测试数据精准双头式纸杯杯身挺度测试结构设计,精密传动模式,测试数据更精确系统自动判断起始试验状态,自动化程度高全自动电子测试仪器,使用方便,测试范围更宽挺度仪采用实验过程一键化操作,避免人为误差微电脑系统自动判断起始试验状态配备微型打印机,方便快速输出数据五、BSTY-02 杯身挺度测试仪 纸杯纸碗纸盒杯身强度测量仪技术参数指标参数测量范围0~20N(30N或其它量程可选)纸杯口径30~150mm(大口径纸板纸碗托盘需要定做)分辨率0.01N示值精度±1%测试速度50±2.5mm/min(1-180连续可调)变形量9.5± 0.5mm(施力距离)可测纸杯高度15~140mm(可调)外形尺寸 620mmX300mmX360mm电源220V,50Hz重量45kg六、参考标准GB/T 27590、QB/T 2294-1997、JJG157-1995注:部分标准执行需要订制(加购)专用工装。七、配置标准配置:主机、标配测试工装、微型打印机选购件:非标工装订制,加购WAN接口连接电脑。备注:微型打印机为热敏式.
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  • 产品描述:能显示和打印测试结果标准内置打印机快速、准确的测量结果,重复性好独立使用或结合电脑使用电热冷却器(无需冰或水)标示时间和日期一次性的廉价塑料样品杯适用于QA/QC、生产线和实验室被遍及全世界的糖果制造厂使用TRICOR Model 225巧克力调温测量仪外形简洁,测量精确度高、重复性好、无污染、成本低且易于操作。是一款极佳的多功能检测仪器,适用于现场、生产线及实验室。操作时使用者只需将装入巧克力的样品杯放入仪器中,几分钟之内就能显示并打印CTU(巧克力调温单位Chocolate Temper Unit)值。使用调温测量仪控制巧克力的调温可以保证巧克力具有稳定的品质,最佳流动性,快速凝固,高光泽,脱模性和抗裂性。使用225巧克力调温测量仪可以帮助厂家在因巧克力调温不合格而导致出品率和保质期减少前采取纠正措施。自1981年TRICOR公司推出第一台配有电热冷却器的巧克力调温测量仪以来,225巧克力调温测量仪的所有特性都得到了广泛的证实。特别设计的电热冷却系统,能保持样品尺寸不变,探针的深度和插入时的温度不变,排除了其他调温测量仪器的误差来源。显示屏能提示用户所有必需的操作。在完成一次调温测试后,显示屏能提供表明巧克力CTU的数值。测试结果和调温曲线的硬拷贝件能通过一台可选的远程打印机打印出来。TRICOR可选调温测量仪数据获取软件(TMDAS© )同样可以打印以及储存和分析测试结果和调温曲线。用于装巧克力样品的一次性低成本的塑料样品杯能保证样品原来尺寸和清洁度。TRICOR公司作为全球性的调温测量仪供应商,还提供在线的和不在线的调温测量系统。规格和特点:尺寸:20.3H x 34.3W x 33D cm (8H x 13.5W x 13D 英寸)重量:6.4kg(14磅)功率:115/220V ac,50/60 Hz,1.7/0.85 A样品测试时间:5分钟(标准)样品体积:11.0ml(0.38oz)样品稳定时间:30秒巧克力调温单位(CTU)重复性:± 1.0 CTU冷却器温度稳定性:± 0.06℃探针加热温度精度:± 0.6℃温度测量感量:± 0.006℃温度测量范围:15-29℃(标准)调温曲线温度范围:15-29℃(标准)操作环境温度:10-38℃自检:开机后自动自检显示屏:LCD(液晶),2行x24字节内置打印机,包括:测试结果、CTU显示值和斜率操作手册包括:操作提示、整个步骤的使用说明可选功能:打印-绘图:通过远程打印机打印测试数据并绘制调温曲线;可调的样品测试时间:转换选择:3、3.5、4、4.5&hellip &hellip 9.5、9.55分钟;使用程序温度范围:15-46℃和58-116° F;数据管理包:调温测量仪数据获取软件(TMDAS© )是一个适用于Windows的编程软件,用户可以将测试操作转由电脑控制以便今后的使用和分析。TMDAS© 创制的文件能被转换到许多常用的数据表和数据库文档上。
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  • 高精度可定制影像测量仪采用高精度光学成像技术和计算机数字处理技术,支持线激光3D扫描成像,可实现3D扫描成像和空间测量。能够快速、准确地获取三维物体表面形态信息,并进行精密的尺寸、角度等多项测量数据的分析和处理。VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量,无缝连接2D/3D混合测量。软件测量功能1.量测工具:扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量: 点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征:交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差:直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系:仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系;图像配准坐标系;可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具:R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台,稳定性好,精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统,超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测,实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量,进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像,可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量,无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源,支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量,测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能,发挥综合优势。 可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光,适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降,更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量,批量更快1.程序匹配工件坐标系,自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入,坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行批量测量。操作简单,轻松无忧1.具备大幅面导航相机,快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能,轻松无忧。3.高精度可定制影像测量仪一体化操作界面,任何人都能轻松设定和测量。高精度可定制影像测量仪可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。高度测量配备(1)触发式测头;(2)点激光(激光同轴位移计);(3)三角激光三种传感器配置,能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪,也就是我们说的复合式影像测量仪,在需要测量高度的地方,用探针取元素(点或者面),然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能,测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置,点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量,平面度测量,针对镜面和光滑斜面均可测量;或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能,测量得出高度,这样的测量方法可以减少人为误差,不管是谁来测量,都可以测得同样的数值,非常简单方便。平面度测量在测量平面度时,可以将待测物放置在影像仪的工作台上,使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异,并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较,可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是,影像仪在测量平面度时,需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法,以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量部分技术规格型号 Novator432 行程范围X(mm) 400Y(mm) 300Z(mm) 200图像传感器高清彩色工业摄像机 显示器24英寸 LCD显示器(1920×1080)镜头13.3X电动连续变倍放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X 3D扫描成像测量 Z向测量范围5mm扫描宽度30mm扫描速度10~80mm/s支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(kg)650承重(kg)25恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 广东正业是生产影像测量仪厂家,所生产的影像测量仪包括:二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪产品包括龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪等。二次元影像测量仪用于以二维测量为主,包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等,增加探针可实现三维测量,可应用于应用于机械、电子、仪表、塑料、科研、品管等行业,可从视频捕捉卡上捕捉图像,快速测量待测物之尺寸,自动标注尺寸,操作简单方便。我司生产的二次元影像测量仪可根据客户的需要定制仪器制作,下面以二次元影像测量仪中的龙门式影像测量仪为主要介绍龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪这款产品的特色所在:1、采用天然花岗石底坐和立柱,稳定性强,硬度高,不易变形;2、X、Y向采用空气轴承,花岗石导向,可长时间工作也保证了机械系统的精确稳定;3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动;4、环形LED冷光源,使用寿命长,测量时不会产生热变形;5.光学系统品质优良,影像明亮清晰,图像还原性好;6、三轴采用日本松下伺服电机传动。 龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪600*500技术参数测量行程:600× 500× 150 玻璃载物尺寸及承重:650× 550mm;30KG物镜工作距离:90mm物镜放大倍率:0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)目镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)龙门式结构,机台底坐和立柱材料:天然花岗石光栅尺分辨率:&le 0.001mm线性精度:3+L/200(L为被测长度)重复测量精度:&le ± 0.003mm整机尺寸(mm):1300× 1400× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪700*600技术参数测量行程:700× 600× 150玻璃载物尺寸及承重:750× 650 mm;30KG物镜工作距离:90mm物镜放大倍率:0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)目镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)龙门式结构,机台底坐和立柱材料:天然花岗石光栅尺分辨率:&le 0.001mm线性精度:3+L/200(L为被测长度)重复测量精度:&le ± 0.003mm整机尺寸(mm):1400× 1500× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪900*600技术参数测量行程:900× 600× 150玻璃载物尺寸及承重:950× 650mm;30KG物镜工作距离:90mm物镜放大倍率:0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)目镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)龙门式结构,机台底坐和立柱材料:天然花岗石光栅尺分辨率:&le 0.001mm线性精度:3+L/200(L为被测长度)重复测量精度:&le ± 0.003mm整机尺寸(mm):1450× 1700× 1800相关类产品:龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪
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  • 泰科纳自动影像测量仪,是代替原有手动测量机型的一款全自动化测量机型,可以实现产品的批量全检。全自动对焦功能和全自动变倍远心镜头,不但能够提高测量效率,也避免测量过程中的人为因素带来的测量误差。可以离线编程,实现测量程序存储和调用。泰科纳自动影像测量仪搭载1:6.5高分辨率光学系统,可全面确保精密工件的二维尺寸进行准确测量。可高效测量各种精密零件的轮廓和表面形状尺寸,如点、线、圆、弧、矩形、槽形、环形、开曲线、闭曲线、圆柱、圆锥、球、平面,也能测量曲线的周长、面积、直径等。同时可以进行平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同心度、直线度、平面度、孔深等适用于高精度产品检测。广泛应用于:航空航天、汽车电子、手机零部件等行业。测量机的核心测量组件是激光测径。激光发射器发射的激光通过旋转和一组透镜处理,形成一个激光面扫描工件,工件放置在激光束面内,在测量区域位置的被测物遮挡激光束并将阴影投射至接收器,计算被遮挡光束的阴影时间,被测物的外径即可被精确计算出来。
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  • 申贝科学仪器氡子体测量仪RPM2200产品简介:&bull SARAD RPM2200 氡子体测量仪在收集子体的同时,子体的分离和活性确定也同步进行,可选配多种测试探头。大屏幕触摸屏操作,即时显示测量数值&bull RPM2200氡钍子体测量仪是SARAD*新推出的*高灵敏度大流量氡钍子体测量仪。该款是外置探头,可实现徒手快速更换滤膜&bull 仪器中央处理器监控内置薄膜泵的工作状态,维持吸气流量与预设值恒定通过加固型微孔滤膜。针对滤膜被击穿堵塞等意外情况,仪器利用内置探头感应滤膜上的持续压差,即时自动识别&bull 仪器所配置的探测头,我们使用*面积为400mm2,光屏蔽的半导体Si探头&bull 结合特殊微孔滤膜,提供高精度的能谱分辨率,从而实现了单个子体的辨识&bull 不同于以往,仪器采用连续测量方式,也*是说在收集子体的同时,子体的辨识分离以及其活性的确定也同步进行。从而输出氡/钍子体其各自的等效当量浓度(EEC)以及阿尔法潜能浓度(PAEC)&bull 由于钍子体Po-212其较长的半衰期,所以通过滤膜所收集的活性并不能直接得出钍子体浓度(响应时间为40小时)&bull 为了提供一个有效的时间分辨率,例如:为了表示*的过程,Po-212的活性过程我们采取了对其进行积分的处理&bull 即时的测量值可由大屏幕触摸屏操作显示。所有的测量数据,包括每个测量周期的完整阿尔法能谱,都被存储于1块2GB的存储卡上,可通过USB连线PC进行下载读取&bull 支持连接GSM-GPRS调制解调器或者ZigBee模块进行远程无线的数据传输与仪器控制&bull 用户还可以选择加装外置探测器与RPM2200进行连接,用于确定现场Gamma剂量率。仪器内置更多输入输出端口,用于连接更多用户自定探测器。说明文档内列表部分范例应用&bull 随仪器附带设置软件以及数据处理软件,便携式手提箱可选 技术参数:子体探头固定于RPM2200前面板探头400mm2离子注入式半导体探头Alpha能谱范围V滤膜网状加强型滤膜, d=25,4mm, 1μm孔径滤膜击穿,污染预警徒手更换滤膜,无需工具泵薄膜泵流量*大3l/min,流量可准确设定调控。测量范围0…1 MBq/m3(EEC)灵敏度约1000 cpm/(kBq/m3) (EEC)响应时间120 min测量/分析分别确定氡与钍的EEC与PAEC完全存储每个周期的能谱以及测量值钍的测量值,通过计算Po-212其时间曲线的积分获得,从而在时间分辨率上表现更为优异Gamma-探测器(可选)经由导线连接至RPM2200前面板探头一体化设计探测器,内置光电倍增管与偏压闪烁晶体2“x 2“能量范围10keV–2MeV分辨率9% (Cs-137)测量/分析测量剂量率,2种确定核素的净放射性,完全存储每笔数据的能谱以及时间曲线探测器尺寸直径60mm,长度260mm5米长连线(可选10米)附加探测器内置或者外接于仪器前面板标准配件流量计0…4 l/min,准确度±5%气象学相关(可选)相对湿度0…*,准确度±2%温度-20…40°C,准确度±0.5°C大气压800…1200mbar,准确度0,5% MW气体分析(可选)CO, CO2, CH4,可燃性气体,不同测量范围水质分析(可选)pH值,氧化还原电位,导电性等过程监测(可选)压力,压差,流量,流速等常规测量可同时驱动所有探头,按照各自预设的测量方案进行测量测量时间方案存储16个预设测量时间方案,每个方案*多细分64个步骤(自定义循环次数,或者自动无限循环)单个测量区间可选范围1秒至数周数据存储2 GByte闪存卡控制/显示6 x 9cm触摸屏数据接口:USB, RS232供电部分内置12V充电电池,直流稳压电源可选外接12V汽车电源或者太阳能供电系统尺寸/重量235mm x 140mm x 255mm / kg软件平台dVISION:仪器控制与数据传输,图形化管理,数据整理dCONFIG:对系统进行设置,新建/修改测量程序方案(亦可通过GPRS,GSM,ZigBee-WLAN)扩展功能内置快速接线柱:预留8组模拟量输入,3组计数器输入,2个状态量输入,6组开关量输出,定时器,PID自控单元/模拟量输出
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  • 申贝科学仪器 伸缩杆式x、γ剂量率测量仪REN500T可用来监测X、γ辐射剂量率。用于各种γ辐射场或环境γ辐射的监测工作。仪器配有伸缩长杆,可用于测量人员不易到达或有较强放射性存在的场所,为使用人员提供有效保护。此外通过配套的RenRiRate剂量率管理软件可将存储的数据读出后分析。 伸缩杆式x、γ剂量率测量仪REN500T采用双GM管,适用于环保部门、疾控、冶金、石油化工、化工、卫生防疫、进出口商检、核工业场所对放射源进行监控、搜寻和测量。 伸缩杆式x、γ剂量率测量仪REN500T 标配的RenRiRate辐射剂量管理软件 功能特点1、实时测量,显示、存储测量数据。2、宽测量范围和能量范围。3、全中文菜单式操作界面。4、数字式LCD液晶显示,高亮背光功能。5、内置2000条剂量率储存数据,可随时查看,断电不丢失。6、USB数据接口,可将数据上传到计算机。7、剂量率阈值报警功能。8、阻塞报警、探测器故障报警功能。9、电池电量实时显示。10、标配:RenRiRate软件11、适合远距离辐射监控、搜寻和测量技术规格1、测量范围:高量程版:0.1μSv/h~10 Sv/h 低量程版:0.1μSv/h~100m Sv/h 2、探 测 器: 双GM管探测器3、能量范围:30keV~7MeV 4、相对误差:≤±20%5、过载特性:<200 Sv/h6、探头与主机通讯方式:默认有线方式(可选无线方式)7、标配长杆伸缩范围: 1.2米 - 5米8、测量时间:1~120秒可编程设置9、报 警 阈: 0.25、2.5、10、20(μSv/h)或自行设置10、通讯:USB通讯接口,仪器可存储2000条数据,并可导出到RenriRate软件11、RenriRate辐射剂量管理软件提供文字表格、曲线图形显示12、使用环境:温度-20℃~+50℃、相对湿度(在35℃温度下)≤90%13、电源:4节标准5号电池或充电电池 14、标准配置重量:约1.2 kg15、定制选择:可定制最长10米伸缩杆
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  • 广东正业是生产影像测量仪厂家,所生产的影像测量仪包括:二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪中的手动影像测量仪于以二维测量为主,包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等。二次元影像测量仪|手动影像测量仪用途 : 仪器适用于以二维测量为主,包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等,增加探针可实现三维测量。二次元影像测量仪|手动影像测量仪特征 : 1、采用天然花岗石底坐和立柱,稳定性强,硬度高,不易变形;2、采用高精度滚动导轨,提高机器稳定性,长时间工作也能保持精度;3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动;4、环形LED冷光源,使用寿命长,测量时不会产生热变形;5、光学系统品质优良,影像明亮清晰,图像还原性好;6、三轴采用日本松下伺服电机传动。手动影像测量仪|二次元影像测量仪技术参数 : 手动影像测量仪2010测量行程(X.Y.Z):200× 100× 150mm玻璃载物台承重:25KG物镜工作距离:90mm物镜放大倍率:0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X(手动型5040)目镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)光栅尺分辨率:0.001mmX、Y线性精度:3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度:&le ± 0.003mm应用软件:ASIDA VMM3.0D测量软件(简、繁、英) 手动影像测量仪3020测量行程(X.Y.Z):300× 200× 150mm玻璃载物台承重:25KG物镜工作距离:90mm物镜放大倍率:0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X(手动型5040)目镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)光栅尺分辨率:0.001mmX、Y线性精度:3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度:&le ± 0.003mm应用软件:ASIDA VMM3.0D测量软件(简、繁、英) 手动影像测量仪4030测量行程(X.Y.Z):400× 300× 200mm玻璃载物台承重:25KG物镜工作距离:90mm物镜放大倍率:0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X(手动型5040)目镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)光栅尺分辨率:0.001mmX、Y线性精度:3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度:&le ± 0.003mm应用软件:ASIDA VMM3.0D测量软件(简、繁、英) 手动影像测量仪5040测量行程(X.Y.Z):500× 400× 200mm玻璃载物台承重:25KG物镜工作距离:90mm物镜放大倍率:0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X(手动型5040)目镜放大倍率:0.5X(可选配1X,2X)光栅尺分辨率:0.001mmX、Y线性精度:3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度:&le ± 0.003mm应用软件:ASIDA VMM3.0D测量软件(简、繁、英)
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  • 产品综述:卧式和立式一键式测量仪在功能上基本是一样的,由于结构的不同, 所以在某些应用场合,卧式的优势更突出。 1.特别适用于圆柱类的易竖着放置,不易平着放置的物体测量,如螺栓、气门导管、喷油喷嘴、火花塞等,测量该类物体直接竖着放置载物台即可测量,如果是用立式的一键测仪测,平着放置是不水平的,必须备置相应的夹具,夹具本身就存在误差,每次测量都必须用夹具卡住被测物,所以即耗人耗时,又影响测量精度。2.载物台较宽,被测物前后左右放置均可以,不影响测量精度。3.可以多层放置,放更多的被测物,不浪费视野。 产品功能:主要用于测量圆柱、圆锥等旋转曲面产品,如精密微型轴、火花塞、紧固件等。产品特点:? 大视野整体成像,一键测量;? 超大景深,无需调焦;? 无需夹具定位工件,可任意摆放;? 操作简便,只需按一键即可实现单/多待测件测量;? 高精度,还原真实尺寸;? 内置spc数据统计分析;? excel格式报表输出;? 快速,10倍于传统测量仪器;? 消除人为误差。
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  • 申贝科学仪器α、β表面沾污测量仪RJ39α、β表面沾污测量仪RJ39适用于α、β辐射表面污染检测。RJ39采用双闪探测器,具有较高的探测效率;能同时测量α、β、γ,并自动区分α、β/γ检测结果,是环境试验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原材料运输、存储和商检等领域进行α、β表面污染检测的理想仪器。主要用于对放射监测有较高要求的场合,如环保监测(核安全)、放射卫生监测(疾控、核医学)、国土安全监测(出入境、海关)、公共安全监测(公安)、核电站、实验室以及核技术应用等场合。 特 点 l 计数器阻塞报警提示与保护功能l 可对α、βγ分开测量l 内置大容量锂电池,实时显示电池容量l 探测器采用双闪晶体,灵敏度高,响应速度快l 背景灯功能,方便在夜间和光线不足的环境中使用l 大尺寸点阵液晶显示,测量结果显示清晰、直观;l 触摸式按键,操作轻松、方便l 符合国家标准的各种报警阈值可供选择,也可自行定义l 4GB大容量存储可储存10万组数据供随时查看,数据打印,可与上位机进行通讯(配分析软件)l 主机与探头连接电缆可扩展到1.5公里,也可进行无线对接l 主机内置GM探测器,实时监测操作人员周围环境l 整机防水效果IP65
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  • 一、土壤紧实度测量仪器简介本设备是一种由手持式采集仪和紧实度传感器所组成的一套土壤墒情监测系统。同时具备操作简便,携带方便,检测迅速可靠等优点,在领域中可谓独树一帜。手持式采集仪可根据用户需要出厂配置GPS、GPRS数据上传等功能,设备中的数据也可以通过USB数据线连接电脑,并将历史数据导出到电脑中进行数据分析。土壤紧实度又叫土壤硬度或土壤坚实度或土壤穿透阻力。一般用金属柱塞或探针压入土壤时的阻力表示(单位为Pa)。土壤紧实度是指土壤抵抗外力的压实和破碎的能力,是土壤性质的其中一个方面。另外,土壤物理性包括土壤质地、结构、孔隙性等,涉及到土壤的坚实度、塑性、通透性、排水、蓄水能力、根系穿透的难易等。土壤紧实度由土壤抗剪力、压缩力和摩擦力等构成。是土壤强度的一个合成指标。金属柱塞或探针压入土壤时分动载和静载两种方法,不同方法的测定值不同,但有联系。柱塞的形状有锥体、平头、圆球及楔子等,这些对测定值也有影响。对同一种方法的测定值,主要决定于土壤质地、容重和含水量。其中含水量的影响最大。土壤紧实度可预测土壤承载量、耕性和根系伸展的阻力。土壤紧实度的大小可影响作物根系的穿孔和生长,是一个重要的土壤物理特性指标,用于评价土壤耕性。紧实的土壤可阻止水分的入渗,降低化肥的利用率,影响植物根系生长,导致作物减产。二、土壤紧实度测量仪功能特点1、ARM Cortex-M3架构处理器,Android系统。2、标准Type-c充电,可直接使用手机充电器为设备进行充电。3、连续检测。4、检测结果可上传。5、检测结果可导出Excel表格,连接电脑进行查看。6、检测结果存储容量500万条。7、支持Wi-Fi,检测结果直接传至监管平台。8、3.5寸彩色触摸屏,提供更好的用户体验。9、自带GPS定位功能,数据采集时显示采集点地理坐标。三、土壤紧实度测量仪基本参数量程0~100kg综合精度0.1 %F∙ S密封等级IP66工作温度-20 ~﹢70℃材质不锈钢传感器尺寸φ29*39.5mm外接电源:DC 5V /2A额定功率3W电池容量6000mAh(待机10h)四、土壤紧实度测量仪配置清单USB线公对公线(1M)提手120mm、铝合金连接杆Φ12mm*200mm探针Φ12mm*300mm铝合金箱300mm*350mm*11mm重量3.2kg说明书1份合格证/保修卡各1份土壤紧实度测量仪
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  • 圆跳动测量仪_轴偏差测量仪ZPY-A圆跳动测量仪,也叫垂直轴偏差测定仪,适用于安瓿瓶圆跳动数值、西林瓶垂直轴偏差检测.依据标准 YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等国家药监局标准设计制造。是制药企业、药检机构不可或缺仪器。产品特点◎ 千分显示精度,高于标准要求◎ 测量范围广,适用范围宽◎ 三爪自定心卡盘准确定位,测试更加准确◎ 测试支架灵活,高度可自由调整圆跳动测量仪_轴偏差测量仪测试原理 将瓶底加持固定在水平板的旋转盘上,使瓶口与千分表接触,旋转360°读取Z大值和Z小值,二者之差的1/2即为垂直轴偏差数值。仪器巧妙利用了四爪自定心卡盘同心度高的特点,配合一套可以自由调节高度和方位的高自由度的支架,可以满足各类玻璃瓶检测。 应用领域圆跳动测试:适用于玻璃安瓿瓶圆跳动测试。垂直轴偏差测试:适用于玻璃管制药瓶、玻璃模制药瓶、玻璃管制注射剂瓶、玻璃模制注射剂瓶、口服液体瓶、化妆品用玻璃瓶等垂直轴偏差测试。适用于玻璃输液瓶、啤酒瓶、白酒瓶、红酒瓶等玻璃容器垂直轴偏差测试。适用于矿泉水塑料瓶、碳酸饮料塑料瓶等塑料容器瓶垂直轴偏差测试。技术参数样品直径:5mm -190mm仪器量程:0-12.7mm/0.5″分 度 值:0.001mm/0.00005″可测高度:≤350mm尺 寸:230mmX170mmX400mm(长宽高)重 量:7.5KG 测试标准该仪器符合标准:YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》、YBB00332003-2015 《钠钙玻璃管制注射剂瓶》、YBB00032004-2015 《钠钙玻璃管制口服液体瓶》、GB/T 8452-2008《玻璃瓶罐垂直轴偏差试验方法》 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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  • TQC贝克涂布器 400-860-5168转2826
    贝克涂布器圆柱形贝克涂布器有4个涂漆面,可以涂出4种预设厚度的漆膜。产品材质为高级不锈钢,保证涂膜器不受涂料或清洗剂中的酸性物质或碱性物质的侵蚀。 贝克涂布器产品简介圆柱形贝克涂布器有4个涂漆面,可以涂出4种预设厚度的漆膜。贝克涂布器贝克涂布器的涂布宽度为60mm(2.4英寸)和80mm(3.15英寸),适用于很多不同产品在平板或平稳的固体基板上的涂布。涂布器材质为高级不锈钢,能够保证涂布器不受涂料或清洗剂中的酸性物质或碱性物质的侵蚀。
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  • 广东正业是生产影像测量仪厂家,所生产的影像测量仪包括:二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪中的全自动影像测量仪于以二维测量为主,包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等。全自动影像测量仪用途: 仪器适用于以二维测量为主,包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等,增加探针可实现三维测量。全自动影像测量仪特征 1、采用天然花岗石底坐和立柱,稳定性强,硬度高,不易变形;2、采用高精度滚动导轨,提高机器稳定性,长时间工作也能保持精度;3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动;4、环形LED冷光源,使用寿命长,测量时不会产生热变形;5、光学系统品质优良,影像明亮清晰,图像还原性好;6、三轴采用日本松下伺服电机传动。全自动影像测量仪技术参数 项 目 自动型2010 自动型3020 自动型4030 自动型5040 测量行程(X.Y.Z) 200× 100× 150mm 300× 200× 150 mm 400× 300× 200 mm 500× 400× 300 mm 大理石台面 506× 326 mm 玻璃台面 360× 260 mm 玻璃载物台承重 25KG 25KG 30KG 30KG 物镜工作距离 90mm 物镜放大倍率 0.7X&mdash 4.5X 总放大倍率 25X&mdash 225X 机台底坐和立柱材料 天然花岗石 X、Y线性精度 3+L/200&mu m (L为被测长度) 光栅尺分辨率 0.001mm 重复测量精度 &le ± 0.003mm 整机尺寸(mm) 650× 485× 939 820× 580× 1100 710× 930× 1000 1000× 1100× 1180 整机重量 约 150KG~650KG 应用软件 ASIDA VMA3.00.01测量软件(简、繁、英) 数据输出格式 DXF、EXCEL、WORD 系统平台 WindowsXP Pro PC要求 P4 2.4G处理器, 512M内存,64M独立显卡,80G硬盘 电源要求 室内220伏特电源即可,用户可自备1000W功率的ups 电源
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  • NVE系列光学影像测量仪工作台采用大理石桌面,性能更加稳定,调光板程控设计方便操作,并新配有21寸液晶显示器,采用定格卡位镜头,结合软件在固定倍率下无需校正;在软件方面,采用半自动测量软件,功能更加强大,性价比高。 产品特点 1、花岗石工作台和立柱,机构永不变形。 2、镜头:定格卡位镜头,结合软件在固定倍率下无需线性校正。 3、随机附有自行研发的多用途校正片,不但可以进行教学演练还可以进行精度校正。 4、半自动测量软件。 技术参数  具体型号NVE300(X/Y/Z轴)量测行程(mm)300*200*200全机尺寸(mm)1000*600*1650机身材料高精度花岗石CCD45万像素彩色Z轴线性精度**(3+L/150)μm、(3+L/200)μm(需加装探针模块)X,Y轴线性精度*(3+L/200)μm、(2.5+L/200)μm、(2+L/200)μm光学尺解析度*1 μm 、0.5μm、0.1 μm重复精度≤2μm镜头带卡位可连续变倍镜头放大倍率Step Zoom光学放大率:0.7--4.5X,影像放大率:28--180X光源底光与表面光均为LED冷光源,亮度可以连续可调操作方式手动机台承重30Kg测量输出结果格式WORD、EXCEL、TXT或CAD电源供给AC220V温度湿度要求温度:19°--24°,湿度:45%--75%保修期1年备注:*行首项为标配,后项均为选配;**行均为选配三、软件功能与应用范围 (一)、软件的主要功能:1、适用于WIN7 64位系统。 可切换成中文繁体、简体或英文图形化界面。2、对焦指示器功能:对不同试块的几何尺寸、轮廓及位置误差等的工序和终检检测时由计算机准确计算判定每次的对焦面,以保证变换焦距时测量高度或槽深测量精确度及重复性,提供彩色高画质影像。3、自动寻边功能:可设定感应灵敏度,避免人为视觉误差。4、LED可调可选择上下双光源:为测量工件需要提供宽广多变的灯源选择系统。5、半自动编程功能:作SPC分析功能时,按客户要求设定程序半自动循环测量出产品尺寸。6、坐标系转换:(X,Y)笛卡尔坐标与极坐标(R,θ)系可根据实际需要选择。可即时转换量测值之基本单位mm、inch。7、坐标变换:以测量要素为基准,实现坐标系平移、旋转等变换,建立工件坐标系。并将所有已测量的数据库中的数据自动的变换。工件坐标系统可存储与调用。8、几何元素测量及评定:点、直线、圆、椭圆、弧等基本几何元素的测量及评定。9、点、直线、圆、椭圆、弧的手动测量功能。10、点、直线、圆、椭圆、弧自动寻边功能,尽可能的减小人为误差。11、复合几何元素测量及评定:点(找线中点、线与线交点、线与圆交点、圆与圆交点、点到圆的两个切点及两个非相交圆外切线交点);距离(点到线距离、线与线距离、线到圆心距离、非相交圆的两圆心距);角度:(线与线的夹角);角平分线(如平行可来求对称线)。12、形状误差评定:同心度、直线度、真圆度。13、位置误差评定:平行度、垂直度、倾斜度、位置度。14、测平面图形形心。15、理论几何要素特征值编辑功能。(如圆,默认情况下有半径、圆心坐标、大半径、小半径、平均半径、面积、周长、同心(轴)度、真圆度输出,根据需要选择输出内容)。16、辅助工具功能。框选窗口(局部放大功能)、最适合化窗口、框选删除、显示资料群组编号、显示十字线、切换坐标系等。17、对产品可以清晰的拍照,影像可以JPG或BMP的图片格式输出。18、图形及测量结果可直接输入WORD、EXCEL或CAD,方便打印报表。可对工件进行精确二维抄数,并可将抄数资料输出DXF图档,对其进行比对、设计修改等。 (二)、使用范围:机械、航空、兵工、汽车、电子、电器、模具、光学、五金、塑胶、PCB板等行业的中的箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面等的精密测量行业等。 四、环境要求及保养注意事项 (一)环境要求: 1、电源 :220V±10%2、温度:为了使本量测仪在良好状况下可达到测量的精度标准。环境的温度应该保持在20℃±2℃,包括2℃/8hrs的温度梯度。在不良的环境条件下,精度标准可能无法达到。请不要在此外的环境温度下去调整机器精度。否则,无法确保本量测仪在20℃时的精度。3、湿度:湿度对测量精度没有直接不利的影响。然而,高湿度会使重要的机械表面生锈,阻碍平滑的轴向移动。环境湿度应该保持在55%至65%之间。4、振动:如果光学影像测量仪受到额外的周围振动,测量的精度将会变低。当频率小于10Hz,周围振动的振幅不应该超过2μm(峰-峰差值);当频率在10Hz到50Hz之间,则加速度不应超过0.4Gal。如果振动超过这些限制,应该采用防振措施(例如安装振动阻尼器)。5、灰尘:精密的光学影像测量仪构成组件(例如光学尺),必须保证无灰尘。虽然防尘罩以防护影像测量仪免于灰尘,然而量测仪仍应定期清洁。 (二)保养注意事项: 1、请勿将仪器置放于周边灰尘太多,振动太大,温度变化极大等不良之场所。2、投影幕镜面或计算机银幕沾上灰尘或油渍,请用干净棉纸擦拭,请勿用手触摸或以布沾水、油来擦拭。3、机身外壳:机身外壳遭污染时,并不会影响量测精度,但污染可能扩散至线性滑轨或量测平台等对量测精度有影响机身的其它部份,一但机身外壳遭污染时,请以软布擦拭。4、线性滑轨:线性滑轨为各种运动的基准,请定期涂覆黄油(三个月一次)。5、量测平台:在装卸工件时请小心勿伤及玻璃平台,因为它是量测之参考面,有时量测平台会附着水气及油雾层,请利用清洁剂清除污垢。6、光学尺:各轴之光学尺装有防尘盖和装在灰尘不易到达的地方,若计数产生误差请与本司联络。 五、验收标准及售后服务: (一)验收交接:1、在用户现场调试后的测量机验收方法,依据《中华人民共和国国家计量技术规范JJF1318-2011坐标测量机校准规范》执行。2、以检定纪录、装箱单和合同为准,双方交接、验收。3、验收合格,双方代表在验收报告上签字。若有异议,协商解决。遗留问题可签署备忘录,以便服务解决。 (二)售后服务: 1、在卖方网站免费提供相关软件的升级。2、卖方在收到买方调试或维修信息后,3小时内回复乙方,48小时内上门调试维修。3、在保质期内,卖方负责给买方的操作人员进行免费操作使用及日常维护之教育训练,并且免费进行货物的安装调试。4、保质期内,卖方负责免费维修货物各方面的存在的问题,如果维修未果则包换产生问题的货物零配件或软件,确保买方所购货物能达到条款三的要求。5、以上条款只在正常操作的原则下方为有效,人为不当操作或天然灾害造成之损坏不在保期保质范围之内。6、保质期是从验收合格之日起一年内有效。
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  • 接触角测量仪 400-860-5168转0490
    JC2000E型接触角测量仪 众所周知,纳米材料科学与工程已经成为世界性的研究热点,在研究纳米材料的表面改性时,往往要涉及润湿接触角这个概念。所谓接触角是指在一固体水平平面上滴一液滴,固体表面上的固-液-气三相交界点处,其气-液界面和固-液界面两切线把液相夹在其中时所成的角。JC2000E型接触角测量仪主要用于测量液体对固体的接触角,即液体对固体的浸润性,也可测量外相为液体的接触角。该仪器能测量各种液体对各种材料的接触角, 例如块状材料、纤维材料、纺织材料等,粉末样品在压片后也可测量。JC2000E型接触角测量仪标配组件1、usb制式数字CCD摄像头 1个2、连续变倍光学系统 1个 3、手动可控旋钮式进样系统 1个4、手动CCD倾角平台 1个5、影像分析测量系统应用软件 1个6、说明书及操作手册电子版 1份7、50微升微量进样器 1支8、100微升微量进样器 1支9、抛弃型进样器 2支 JC2000E型接触角测量仪系统参数1、接触角测量范围:0~180度2、接触角测量分辨率:0.01度3、表面张力测量范围(悬滴法):0.01~2000mN/m(毫牛顿/米)4、样品台控制a)前后移动 手动,行程50mmb)左右移动 手动,行程30mm c)上下移动 手动,行程50mmd)水平调整 水平脚调整平台水平e)样品台尺寸 100mm×100mm,样品尺寸(长×宽×高)≤100mm×∞×25mm5、进样器控制a)手动可控旋钮式进样系统6、CCD光学系统a)光学放大 0.7~4.5×连续变倍(仅变倍参数,内置还有放大后置镜)图像放大率:50~318piexl/mmb)CCD参数 标配USB3.0制式大恒数字相机7、CCD控制a)光源 LED可调单色冷光源b)镜头前后调整 手动,行程10mm,精度0.1mmc)镜头左右调整 手动,行程10mm,精度0.1mmd)镜头俯视调整 手动倾角平台8、POWEREACHV2.11版影像采集分析专用软件a)测量方式:半角量角法、半角量高法、自动测量法(圆拟合、椭圆拟合、杨-拉普拉斯)、五点拟合法b)动态视频测量 自动触发 c)间隔存储 软件自由设定间隔时间1~3600秒 d)动态接触角 前进角和后退角e)左右角对比 计算左右角并取平均值f)表面自由能:ziman一液法、EOS平衡法、owens二液法、Wu氏二液法、louis酸碱三液法等多种方法可供选择g)曲面校正 凹凸面接触角测量h)软件升级 免费升级 综上所述:JC2000E的功能已经很完整强大,主要包括:1、测量对象:液固之间的接触角、固体表面自由能、液体表面张力(悬滴法)2、测量方式:瞬间冻结图像、自动连续拍摄(间隔1秒~3600秒)、高速摄影(每秒54帧)3、软件强大:平面/凹凸面均可测量、多点曲线拟合、静态接触角/前进角/后退角。 JC2000E型接触角测量仪含税价格:RMB 33800.00,价格不含配套计算机,含仪器主机、实验操作软件、标配组件、大陆地区免费上门安装调试培训、一年保修服务,软件免费升级。 JC2000E型接触角测量仪配套计算机:JC2000E型接触角测量仪,必须有配套计算机方能使用,如选择由供方提供配套计算机,需向供方另付4000元/台,品牌计算机原厂三年上门保修。如用户自配或利用原有计算机,要求:一个空的USB3.0接口。笔记本、台式机、一体机均可。32位或64位均可。WIN7/10系统均可。附:上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位,广泛采用国内外有关专家的新科技成果,着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所,而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业,以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司,及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位,产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器,拥有其软、硬件自主知识产权,能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”,体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。
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  • 一、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪产品简介:小麦育种研究中,小麦表型参数至关重要,小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量,可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体,一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。二、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪应用广泛:1、小麦亩穗数检测合适时期: 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。2、麦穗形态测量的时期:室内考种时期:3、小麦夹角测量时期:抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。4、千粒重测量时期: 室内考种时期。5、小麦株高测量时期: 各个生育时期。三、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数:测量范围和误差:1、小麦亩穗数测量误差: ≤±5%。2、麦穗形态测量范围: 5——20cm。穗长误差: ±2%。小穗数误差: ≤ 3个。3、小麦夹角测量范围: 0-180°。作物粗: 0-5.2cm。夹角测量误差: +5%。4、作物茎粗测量误差: ±1%。5、千粒重测量误差: ±2%。6、株高测量范围: 0.1-1.1m。测量误差: ±1%。1.1 小麦亩穗数测量仪1.1简介小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统,采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据,可多点快速取样,数据批量分析,且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标,为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成,穗数是小麦产量重要构成要素之一,快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。1.2外形尺寸1、小麦亩穗数740mm*740*(620——1500)mm2、标定杆可上下伸缩调节高度3、背光板尺寸: 47cm*35cm*0.8cm4、图像分辨率:1600*7205、摄像头:1300W像素1.3测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%,修正后可达100%。1.4适用范围1、麦穗检测合适时期:小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重2.小麦株高测量仪2.2.1简介小麦株高测量仪用于测量小麦的株高。在小麦不同时期测量株高的标准不同。小麦株高一般是指植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。幼苗期:(1)伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);(2)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。2.苗期:伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);真茎高度:各节间的总长为真茎高度(或长度);(3)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。3.拔节期:(1)伪茎高度:植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部(即叶耳处)的距离为伪茎高度(或长度);(2)真茎高度:各节间的总长为真茎高度(或长度);(3)植株全长:植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。4.灌浆期:从植株基部(或分蘖节处)量到穗顶(不包括芒)的距离则为株高。2.2.2技术参数测量杆高度:375mm+375mm+350mm测量精度: 1mm测量范围: 10——1100mm外壳材质: 铝合金软件系统: Android2.2.3小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪功能特点1、仪器带有数据管理云平台和APP,可通过电脑网页或手机查看数据。由测量杆,手机,识别APP软件组成。2、手机对准测量杆上的刻度,拍照自动识别刻度数据实时传输到手机。3、测量杆带有水平仪,使测量过程更规范,更准确。4、完善识别内容:自动识别结果中显示识别的高度数据,手动录入作物数据(如:品种、生育期等)完善作物信息。首页界面上可显示所有测量结果。5、可根据检测日期,种类,测量人,区组名称进行测量结果查询。6、数据分析管理:分析结果可查看,可将图片和数据excel导出。7、数据上传:自动在wifi/4G网络链接正常下上传至云平台,实现管理、查看、分析数据。平台数据可下载、分析、打印。3.小麦夹角茎粗测量仪3.1仪器简介小麦夹角茎粗测量仪可快速测定和分析小麦夹角、茎粗等作物性状参数,方便开展科学研究和育种分析。也适用于水稻、油菜等作物品种。3.2小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数1、支撑材料:不锈钢2、支架材料:黑色塑料3、背景材质:白色树脂4、测量范围:作物夹角:0——180°;作物茎粗:0——6cm5、测量误差:作物夹角±1°;作物茎粗:±1mm3.3功能特点1、超轻便手持式设计,方便田间和室内测量使用;2、大屏幕彩色手触摸屏,安卓系统,1300万像素+200万像素双摄;3、测量速度快,拍照3秒即出结果,可先拍照后批量处理;4、手动修正功能强大,手动触摸屏幕进行修正,使结果更准;5、手机和作物之间可以进行自由距离设置,适合多种植物的测量,适应性强;6、压板和转轴柄一体式连接,方便固定作物茎部,减少风吹草动对作物角度拍摄的影响;7、环境适应性广,无需做遮光处理,可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据;8、自动调节白平衡,不受天气、光照等环境条件的影响;9、数据查看多样化:拍照分析后即可查看测量结果,可在历史记录中查看数据报表,可导成Excel格式,并可分享至微信、QQ和钉钉;10、自动生成数据列表:测量时间,图片,作物夹角、作物茎粗等信息,节约数据整理时间;11、作物夹角适用的作物:水稻、小麦、油菜;作物茎粗对各种作物的茎粗都能测量。4.麦穗形态测量仪4.1仪器简介麦穗形态测量仪也叫麦穗形态测定仪,基于机器视觉技术,利用手机摄像头获取麦穗的图像,利用图像处理算法现场分析,获取麦穗形态参数,AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术,自动计算出小麦的穗长。麦穗形态测量仪一次测定,可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标,主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域,4.2技术参数外形尺寸: 460*320*10mmEVA背板尺寸: 420*295*2mm底板材料: 黑色双面细磨砂亚克力测量范围: 5——20cm测量误差: ±2%图像分辨率: 1600*7204.3功能特点1、超轻便手持式设计: 方便室内和室外测量使用 2、大屏幕彩色手触摸屏: 安卓系统,1300万像素 3、多穗同时测量: 麦形态测量仪一次可以测量10个麦穗长度:4、测量速度快: 拍照3秒即出结果,可先拍照后批量处理 5、比例尺自动标定: 对倾斜拍照的图片可自动进行图片矫正,提高测量的精确度。6、适应性广: 无需做遮光处理,可以在离体或活体情况下测量麦穗形态。7、自动调节白平衡: 不受天气、光照等环境条件的影响 8、存储容量大: 50G存储数据,可看历史记录,相对生长速率等。9、数据查看多样化: 拍照分析后即可滑动查看结果,也可在历史记录中查看数据报表,可导成Excel格式10、自动生成数据列表: 测量时间,图片,GPS位置信息,穗长等信息,节约数据整理时间。小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪配置清单1、十字标定钢管 *42、伸缩杆 *13、地钉+转接器 *14、麦穗背板装置 *15、小麦夹角手持装置 *16、小麦株高标定杆 *17、小麦株高伸缩架 *18、可调光背光板 *19、超大彩色屏手机(已安装软件) *110、航空箱 *111、使用说明书 *1
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